Program and sense operations in a non-volatile memory device
Номер патента: US8379461B2
Опубликовано: 19-02-2013
Автор(ы): Chang Wan Ha
Принадлежит: Micron Technology Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-02-2013
Автор(ы): Chang Wan Ha
Принадлежит: Micron Technology Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and apparatus to prevent high voltage supply degradation for high-voltage latches of a non-volatile memory
Номер патента: US20080056015A1. Автор: Johnny Chan,Jinshu Son. Владелец: Atmel Corp. Дата публикации: 2008-03-06.