评估多通道微和/或亚波长光学投影单元的质量的方法和测试系统
Номер патента: CN112525490A
Опубликовано: 19-03-2021
Автор(ы): 伊莎贝尔·阿格林, 卡特琳·辛德勒, 威尔弗里德·诺埃尔, 索菲安妮·图尔诺伊斯, 苏珊娜·韦斯特恩赫费尔
Принадлежит: Suess Microtec Lithography GmbH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-03-2021
Автор(ы): 伊莎贝尔·阿格林, 卡特琳·辛德勒, 威尔弗里德·诺埃尔, 索菲安妮·图尔诺伊斯, 苏珊娜·韦斯特恩赫费尔
Принадлежит: Suess Microtec Lithography GmbH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
TEST METHOD AND SYSTEM FOR ASSESSING THE QUALITY OF A MULTI-CHANNEL SUB-WAVELENGTH OPTICAL PROJECTION AND/OR MICRO-OPTIC PROJECTION UNIT
Номер патента: FR3100331B1. Автор: Wilfried Noell,Susanne Westenhofer,Isabel Agireen,Katrin Schindler,Sophiane Tournois. Владелец: Suess Microtec Lithography GmbH. Дата публикации: 2023-04-21.