Method for characterizing defect in two-dimensional material and application thereof
Номер патента: WO2020155819A1
Опубликовано: 06-08-2020
Автор(ы): 刘大猛, 刘欢, 王冲, 雒建斌
Принадлежит: 清华大学
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 06-08-2020
Автор(ы): 刘大猛, 刘欢, 王冲, 雒建斌
Принадлежит: 清华大学
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for characterizing defects in two-dimensional material and applications thereof
Номер патента: GB2595177B. Автор: Wang Chong,LIU Huan,Luo Jianbin,LIU DAMENG. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-10-12.