Method for self-monitoring a microscope system, microscope system, and software for self-monitoring a microscope system
Номер патента: WO2003052694A2
Опубликовано: 26-06-2003
Автор(ы): Franck Olschewski
Принадлежит: Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 26-06-2003
Автор(ы): Franck Olschewski
Принадлежит: Leica Microsystems Heidelberg GmbH
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for self-monitoring a microscope system, microscope system, and software for self-monitoring a microscope system
Номер патента: US7649682B2. Автор: Frank Olschewski. Владелец: Leica Microsystems CMS GmbH. Дата публикации: 2010-01-19.