Memory test systems and memory test methods
Номер патента: US11862278B2
Опубликовано: 02-01-2024
Автор(ы): Dan Lu, Hao He, Yang Wang
Принадлежит: Changxin Memory Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 02-01-2024
Автор(ы): Dan Lu, Hao He, Yang Wang
Принадлежит: Changxin Memory Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Memory test method, memory test apparatus, memory test device, and storage medium
Номер патента: US20240021265A1. Автор: Xiaolei Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-18.