Memory test methods and related devices
Номер патента: US11854642B2
Опубликовано: 26-12-2023
Автор(ы): Chuanqi SHI, Heng-Chia Chang, Li Ding
Принадлежит: Changxin Memory Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 26-12-2023
Автор(ы): Chuanqi SHI, Heng-Chia Chang, Li Ding
Принадлежит: Changxin Memory Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Memory testing method and related device
Номер патента: EP3933843A1. Автор: Li Ding,Heng-Chia Chang,Chuanqi SHI. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-01-05.