Method for measuring the thickness of a varnish layer
Номер патента: WO2023105435A1
Опубликовано: 15-06-2023
Автор(ы): Gwenaël LE NOC, Jean-Pierre LEBACQ, Nathalie LABBE, Pauline LEVERONE, Shu Hui Ham
Принадлежит: ArcelorMittal
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-06-2023
Автор(ы): Gwenaël LE NOC, Jean-Pierre LEBACQ, Nathalie LABBE, Pauline LEVERONE, Shu Hui Ham
Принадлежит: ArcelorMittal
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Apparatus and method for optically measuring by interferometry the thickness of an object
Номер патента: EP2366092A1. Автор: Leonardo Gwin Roberto Phillips. Владелец: Marposs Spa. Дата публикации: 2011-09-21.