Machine learning -based selection of metrics for anomaly detection
Номер патента: US20240028830A1
Опубликовано: 25-01-2024
Автор(ы): Harshad Vasant Kulkarni, Jasmeet Chhabra, Umut Orhan, Vikas DHARIA
Принадлежит: Amazon Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 25-01-2024
Автор(ы): Harshad Vasant Kulkarni, Jasmeet Chhabra, Umut Orhan, Vikas DHARIA
Принадлежит: Amazon Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Machine learning-based selection of metrics for anomaly detection
Номер патента: US11748568B1. Автор: Jasmeet Chhabra,Harshad Vasant Kulkarni,Umut Orhan,Vikas DHARIA. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-05.