Beam measurement reporting for spatially offset beams
Номер патента: US20240015538A1
Опубликовано: 11-01-2024
Автор(ы): Idan Michael Horn, Shay Landis, Yehonatan Dallal
Принадлежит: Qualcomm Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 11-01-2024
Автор(ы): Idan Michael Horn, Shay Landis, Yehonatan Dallal
Принадлежит: Qualcomm Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Beam measurement reporting for spatially offset beams
Номер патента: WO2024010726A1. Автор: Shay Landis,Idan Michael Horn,Yehonatan Dallal. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-01-11.