Determination method, determination device, exposure device, and program
Номер патента: US11972325B2
Опубликовано: 30-04-2024
Автор(ы): Yosuke OKUDAIRA
Принадлежит: Nikon Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 30-04-2024
Автор(ы): Yosuke OKUDAIRA
Принадлежит: Nikon Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Deterioration determination method and deterioration determination device for industrial x-ray imaging apparatus
Номер патента: US11599990B2. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-03-07.