Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Automatic optical time-domain reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Automatic optical time-domain reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Номер патента: US11923894B2
Опубликовано: 05-03-2024
Автор(ы): Julien BARRIER
Принадлежит: VIAVI SOLUTIONS INC
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Optical time domain testing instrument

Номер патента: US5013907A. Автор: Glenn Bateman. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1991-05-07.

Optical time-domain reflectometer (OTDR)-based high reflective event measurement

Номер патента: US12088336B2. Автор: Benjamin Cuenot. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-09-10.

Optical time-domain reflectometer (otdr)-based high reflective event measurement

Номер патента: US20230283367A1. Автор: Benjamin Cuenot. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-09-07.

Fiber span characterization utilizing paired optical time domain reflectometers

Номер патента: US11885707B2. Автор: Michael J. Cahill,Ian Peter McClean. Владелец: II VI Delaware Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Fiber Span Characterization Utilizing Paired Optical Time Domain Reflectometers

Номер патента: US20240110845A1. Автор: Michael J. Cahill,Ian Peter McClean. Владелец: II VI Delaware Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

System for testing an optical network using optical time-domain reflectometry (OTDR)

Номер патента: US6980287B2. Автор: Xavier Renard,Alexandre Touya. Владелец: Nexans SA. Дата публикации: 2005-12-27.

System for testing an optical network using optical time-domain reflectometry (OTDR)

Номер патента: US20040196664A1. Автор: Xavier Renard,Alexandre Touya. Владелец: Nexans SA. Дата публикации: 2004-10-07.

Automatic Optical Time-Domain Reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Номер патента: US11515938B2. Автор: Julien BARRIER. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2022-11-29.

Zeroing Method And Zeroing Device For Optical Time-Domain Reflectometer

Номер патента: US20160047713A1. Автор: Lu Jianxin,Xu Han,ZHU Meidong,CHEN Jianzhang. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-18.

OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER DEVICE INCLUDING COMBINED TRACE DISPLAY

Номер патента: US20200182742A1. Автор: BONCHE Jean Paul,RECEVEUR Olivier. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2020-06-11.

Optical time-domain reflectometer device including combined trace display

Номер патента: US20180372581A1. Автор: Jean Paul Bonche,Olivier Receveur. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2018-12-27.

Optical time-domain reflectometer device including combined trace display

Номер патента: US10976218B2. Автор: Jean Paul Bonche,Olivier Receveur. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2021-04-13.

Zeroing method and zeroing device for optical time-domain reflectometer

Номер патента: US9726574B2. Автор: Han Xu,Jianxin Lu,Meidong ZHU,Jianzhang Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: WO2017137729A1. Автор: Stephen Desbruslais,Maria Ionescu. Владелец: Neptune Subsea Ip Limited. Дата публикации: 2017-08-17.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: GB201602313D0. Автор: . Владелец: Xtera Communications Ltd. Дата публикации: 2016-03-23.

AUTOMATIC OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)-BASED TESTING OF DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20220140895A1. Автор: BARRIER Julien. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2022-05-05.

Active wavelength converter for use with an optical time-domain reflectometer (OTDR) and method for increasing OTDR supervision distance range

Номер патента: US20060238746A1. Автор: Danilo Dini,Joao Rosolem,José Urso. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Systems and methods for reducing thermal tails on optical time domain reflectometer (otdr) measurements

Номер патента: US20130251363A1. Автор: Daniel M. Joffe,Leif J. Sandstrom. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-09-26.

Multiple front-end device based high speed optical time domain reflectometer acquisition

Номер патента: US20220090984A1. Автор: Andre Champavere. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2022-03-24.

MULTIPLE FRONT-END DEVICE BASED HIGH SPEED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER ACQUISITION

Номер патента: US20210080349A1. Автор: CHAMPAVERE Andre. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2021-03-18.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER, TEST METHOD OF OPTICAL TRANSMISSION LINE, AND TEST SYSTEM OF OPTICAL TRANSMISSION LINE

Номер патента: US20210194577A1. Автор: MATSUMOTO Yuhei,OGUMA Takefumi,SHINYA Kazunori. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2021-06-24.

High Resolution Correlation Optical Time Domain Reflectometer

Номер патента: US20180259422A1. Автор: Pimpinella Richard J.,Castro Jose M.,Kose Bulent,Lane Brett. Владелец: PANDUIT CORP.. Дата публикации: 2018-09-13.

High Resolution Correlation Optical Time Domain Reflectometer

Номер патента: US20190323921A1. Автор: Pimpinella Richard J.,Castro Jose M.,Lane Brett,Kose Bluent. Владелец: PANDUIT CORP.. Дата публикации: 2019-10-24.

Optical time-domain reflectometer system with gain-clamped optical amplifiers

Номер патента: KR100609697B1. Автор: 이동한,김광준,이한협,정희상. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2006-08-08.

Optical time domain-reflectometer and method for same acquiring test signal

Номер патента: CN102577179A. Автор: 杨中文,田玉周. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-11.

Embedded optical time domain reflectometer for optically amplified links

Номер патента: US8792091B2. Автор: Manish Sharma,Ian McClean. Владелец: II VI Inc. Дата публикации: 2014-07-29.

Method and device for detecting optical time domain reflectometer signals

Номер патента: CN102761363A. Автор: 王光军,胡颖新,晁代振. Владелец: Huawei Marine Networks Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-31.

Method and device for analyzing trace data generated by an optical time domain reflectometer

Номер патента: EP2809018B1. Автор: Nicolas Dupuis,Stijn Meersman. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2017-08-16.

Multiple front-end device based high speed optical time domain reflectometer acquisition

Номер патента: US11808660B2. Автор: Andre Champavere. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2023-11-07.

Method for generating probe impulse and coherent optical time domain reflectometer

Номер патента: EP2589948A4. Автор: Zhiyong Feng,Yijia Wei,Shaofeng Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-21.

Method for generating probe impulse and coherent optical time domain reflectometer

Номер патента: EP2589948B1. Автор: Zhiyong Feng,Yijia Wei,Shaofeng Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-24.

Active wavelength converter for use with an optical time-domain reflectrometer (otdr) and method for increasing otdr supervision distance range

Номер патента: US20070188740A2. Автор: Danilo Dini,Joao Rosolem,José Urso. Владелец: Fundacao CPqD Centro de Pesquisa e Desenvolvimento em Telecomunicacoe. Дата публикации: 2007-08-16.

Method and device for detecting optical time domain detection signal

Номер патента: CN102761364A. Автор: 王光军,胡颖新,陈冀兵. Владелец: Huawei Marine Networks Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-31.

Method and device for detecting high dynamic range optical time domain reflection

Номер патента: CN108199767B. Автор: 周琪,张建涛,熊涛,卜勤练,付成鹏,余春平,乐孟辉. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-30.

System for testing an optical network using optical time-domain reflectometryOTDR

Номер патента: KR100945305B1. Автор: 그자비에 르나르,알렉상드르 뚜야. Владелец: 넥쌍. Дата публикации: 2010-03-03.

Optical time domain reflectometry (OTDR) trace analysis in PON systems

Номер патента: US8724102B2. Автор: Patryk Urban. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2014-05-13.

Optical transmission system with coherent optical time domain reflectometry

Номер патента: WO1999012287A1. Автор: Olivier Gautheron,Vincent Letellier. Владелец: ALCATEL. Дата публикации: 1999-03-11.

Optical time domain reflectometer systems and methods using wideband optical signals for suppressing beat noise

Номер патента: US09614616B2. Автор: Leif Sandstrom,Daniel M. Joffe,George Elliott Bekken. Владелец: Adtran Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Signal detection method and optical time domain reflectometer

Номер патента: EP4119914A1. Автор: Chao PAN,Ning DENG,Ziliang LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-18.

Tunable dense wavelength division multiplexing (DWDM) optical time-domain reflectometer (OTDR)-based optical fiber monitoring

Номер патента: US11742941B2. Автор: Jean Ponchon. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-08-29.

Tunable dense wavelength division multiplexing (dwdm) optical time-domain reflectometer (otdr)-based optical fiber monitoring

Номер патента: US20230361869A1. Автор: Jean Ponchon. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-11-09.

Optical time-domain reflectometer (otdr) including channel checker

Номер патента: US20240195497A1. Автор: Vincent Lecoeuche. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Optical time-domain reflectometer (OTDR) including channel checker

Номер патента: US11942986B2. Автор: Vincent Lecoeuche. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-03-26.

Optical time-domain reflectometer, and optical assembly having optical time-domain reflection function

Номер патента: EP3819598A1. Автор: Huafeng Lin,Jingran Kang,Xiaofei Zeng,Yuanmou LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-12.

Optical Time Domain Reflectometer And Optical Subassembly Having Optical Time Domain Reflectometry Function

Номер патента: US20210148786A1. Автор: Huafeng Lin,Jingran Kang,Xiaofei Zeng,Yuanmou LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

System for reporting optical link failures using intelligent small form-factor pluggable optical time domain reflectometer

Номер патента: US20210013961A1. Автор: Timothy William Manning. Владелец: Net2Edge Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

System for reporting optical link failures using intelligent small form-factor pluggable optical time domain reflectometer

Номер патента: EP3764567A1. Автор: Timothy W. Manning. Владелец: Net2Edge Ltd. Дата публикации: 2021-01-13.

Time domain reflectometer display method

Номер патента: CA2393405C. Автор: Keith W. Lanan. Владелец: Utilx Corp. Дата публикации: 2012-07-17.

Optical time domain reflectometer, method of testing optical transmission line, and test system of optical transmission line

Номер патента: US20210328667A1. Автор: Takefumi Oguma,Kazunori Shinya,Yuhei MATSUMOTO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-10-21.

Optical time-domain reflectometer (otdr)-based high reflective event measurement

Номер патента: US20230073872A1. Автор: Benjamin Cuenot. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-03-09.

Optical time-domain reflectometer (OTDR)-based high reflective event measurement

Номер патента: US11646789B2. Автор: Benjamin Cuenot. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-05-09.

High speed bidirectional test of dual-fiber link

Номер патента: US20230344514A1. Автор: Olivier Receveur,Julien BARRIER. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-10-26.

High speed bidirectional test of dual-fiber link

Номер патента: EP4266023A1. Автор: Olivier Receveur,Julien BARRIER. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-10-25.

Optical time domain reflectometer and method thereof for detecting optical fiber

Номер патента: EP3190723A4. Автор: Xiaodong Luo,Ning DENG,Yansui Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-13.

Optical time domain reflectometer systems and methods using wideband optical signals for suppressing beat noise

Номер патента: US20140003821A1. Автор: Leif Sandstrom,Daniel M. Joffe,George Elliott Bekken. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-01-02.

OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER DEVICE INCLUDING COMBINED TRACE DISPLAY

Номер патента: US20180313719A1. Автор: BONCHE Jean Paul,RECEVEUR Olivier. Владелец: Viavi Solutions France SAS. Дата публикации: 2018-11-01.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER USING POLYMER WAVELENGTH TUNABLE LASER

Номер патента: US20160363507A1. Автор: NA Kee-Woon. Владелец: SOLiD. Inc.. Дата публикации: 2016-12-15.

Optical time-domain reflectometer interoperable trunk switch

Номер патента: US20200374001A1. Автор: Archambault Jean-Luc,Chedore Paul. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-26.

Circuit for modulating optical time domain reflectometer test signal, and passive optical network system and device

Номер патента: EP2782269A4. Автор: Degang Zhong,Shengping Li,Zebin Li,Changliang Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-17.

Circuit for modulating optical time domain reflectometer test signal, and passive optical network system and device

Номер патента: WO2013086674A1. Автор: 李泽彬,李胜平,钟德刚,余长亮. Владелец: 华为技术有限公司. Дата публикации: 2013-06-20.

Method and device to configure testing parameters set by using the optic time domain reflectometer (otdr)

Номер патента: RU2628767C2. Автор: Сяоцзин ЦЗИНЬ,Дэчжи ЧЗАН. Владелец: ЗетТиИ Корпорейшн. Дата публикации: 2017-08-22.

Optical time-domain reflectometer interoperable trunk switch

Номер патента: US10250324B1. Автор: Jean-Luc Archambault,Paul CHEDORE. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2019-04-02.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: KR102413204B1. Автор: 변재희. Владелец: (주)승재. Дата публикации: 2022-07-13.

Signal Detection Method and Optical Time-Domain Reflectometer

Номер патента: US20230031468A1. Автор: Chao PAN,Ning DENG,Ziliang LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Signal detection method and optical time domain reflectometer

Номер патента: EP4119914A4. Автор: Chao PAN,Ning DENG,Ziliang LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Signal detection method and optical time domain reflectometer

Номер патента: EP4119914B1. Автор: Chao PAN,Ning DENG,Ziliang LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: US20080030739A1. Автор: Arthur Hartog,Peter Wait. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2008-02-07.

Tunable dense wavelength division multiplexing (DWDM) optical time-domain reflectometer (OTDR)-based optical fiber monitoring

Номер патента: US11271642B1. Автор: Jean Ponchon. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2022-03-08.

MULTI-PATH, SMART OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20220286202A1. Автор: Perry Ricky. Владелец: AT&T Intellectual Property I, L.P.. Дата публикации: 2022-09-08.

Multi-path, smart optical time-domain reflectometer

Номер патента: US11606139B2. Автор: Ricky Perry. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2023-03-14.

Integrated optical time domain reflectometer

Номер патента: US8854609B2. Автор: Joseph F. Ahadian,Charles B. Kuznia,Richard T. Hagan,Ricard J. Pommer. Владелец: Ultra Communications Inc. Дата публикации: 2014-10-07.

Optical data transmission device using optical time domain reflectrometry

Номер патента: CN104350371A. Автор: S·米尔斯曼,M·施特劳布,J·黑曼,R·范基尔斯比尔克,Y·克莱鲍. Владелец: Alcatel Optical Networks Israel Ltd. Дата публикации: 2015-02-11.

Optical data transmission device using optical time domain reflectrometry

Номер патента: KR20150013901A. Автор: 마이클 스트라웁,조에르그 헤만,루디 반컬스빌크,스틴 미어스만,얀닉 클리보우. Владелец: 알까뗄 루슨트. Дата публикации: 2015-02-05.

Optical data transmission device using optical time domain reflectrometry

Номер патента: KR101562159B1. Автор: 마이클 스트라웁,조에르그 헤만,루디 반컬스빌크,스틴 미어스만,얀닉 클리보우. Владелец: 알까뗄 루슨트. Дата публикации: 2015-10-20.

Optical time domain reflector structure and the optical assembly thereof

Номер патента: US20220360326A1. Автор: Shu-Fen Liao,Chin-Tsung Wu. Владелец: EZconn Corp. Дата публикации: 2022-11-10.

Encoding device and method of optical time domain reflectometer

Номер патента: CN112653522A. Автор: 张舒曼,梅建云. Владелец: Chengdu Ludi Shenghua Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Polarized light time domain reflectometer based on time division multiplexing of three polarization states and detection method

Номер патента: CN110768715B. Автор: 吴昊,唐明,王雪峰,赵灿. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-03-31.

Fiber-optic acoustic sensor module apparatus and system using coherent optical time-domain reflectormeter method

Номер патента: KR102292226B1. Автор: 이승민,이병하,이재휘,신준근. Владелец: 광주과학기술원. Дата публикации: 2021-08-23.

Display method for time domain reflectometer metrics

Номер патента: DE60045295D1. Автор: Keith Lanan. Владелец: Utilx Corp. Дата публикации: 2011-01-05.

Optical integrated device and optical time domain reflectometer

Номер патента: US20240248002A1. Автор: Hai-feng LV,Zhong-Sheng Wang. Владелец: MOLEX LLC. Дата публикации: 2024-07-25.

Raman amplifier system and method with integrated optical time domain reflectometer

Номер патента: US09793986B2. Автор: Balakrishnan Sridhar,Jean-Luc Archambault,Jun Bao. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Optical integrated device and optical time domain reflectometer

Номер патента: US11959822B2. Автор: Hai-feng LV,Zhong-Sheng Wang. Владелец: MOLEX LLC. Дата публикации: 2024-04-16.

Raman amplifier system and method with integrated optical time domain reflectometer

Номер патента: US20180019813A1. Автор: Balakrishnan Sridhar,Jean-Luc Archambault,Jun Bao. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2018-01-18.

Method and apparatus for measuring a distributed physical value of an optical device under test

Номер патента: EP3169981A1. Автор: Fabrizio Di Pasquale,Stefano Faralli,Tiziano Nannipieri,Alessandro Signorini,Mohammad TAKI. Владелец: Infibra Tech Srl. Дата публикации: 2017-05-24.

Method and apparatus for measuring a distributed physical value of an optical device under test

Номер патента: US20170205255A1. Автор: Fabrizio Di Pasquale,Stefano Faralli,Tiziano Nannipieri,Alessandro Signorini,Mohammad TAKI. Владелец: Infibra Technologies Srl. Дата публикации: 2017-07-20.

Apparatus enabling use of a reference diode to compare against a device under test in relative amplitude and phase measurements

Номер патента: US09841447B2. Автор: Robert A. Marsland, Jr.,Steven A. Jacobs. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER USING POLYMER WAVELENGTH TUNABLE LASER

Номер патента: US20190056290A1. Автор: NA Kee-Woon. Владелец: SOLiD, INC.. Дата публикации: 2019-02-21.

Utilize the optical time domain reflectometer of polymer Wavelength tunable laser

Номер патента: CN106165315B. Автор: 罗基云. Владелец: SOLID TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2018-10-16.

Optical time domain reflectometer using polymer wavelength tunable laser

Номер патента: US10690567B2. Автор: Kee-Woon NA. Владелец: Solid Inc. Дата публикации: 2020-06-23.

High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Номер патента: US12028107B2. Автор: Julien BARRIER,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-07-02.

High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (otdr)-based testing of device under test

Номер патента: US20220345216A1. Автор: Julien BARRIER,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2022-10-27.

High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (otdr)-based testing of device under test

Номер патента: US20220140894A1. Автор: Julien BARRIER,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2022-05-05.

High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (otdr)-based testing of device under test

Номер патента: US20240022322A1. Автор: Julien BARRIER,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-01-18.

High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Номер патента: US11811449B2. Автор: Julien BARRIER,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-11-07.

High speed bidirectional optical time-domain reflectometer (OTDR)-based testing of device under test

Номер патента: US11811450B2. Автор: Julien BARRIER,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-11-07.

A learning-based method and system for configuring an optical time-domain reflectometer in a gigabit passive optical networks

Номер патента: WO2020070752A1. Автор: Pramod Jhaldiyal,Chandan Dung. Владелец: Centre For Development Of Telematics (C-Dot). Дата публикации: 2020-04-09.

Preventing damage to optical components from optical time domain reflectometers

Номер патента: WO2004084439A1. Автор: Richard Munro Dorward. Владелец: Marconi Uk Intellectual Property Limited. Дата публикации: 2004-09-30.

Reconfigurable Software-Defined Optical Time-Domain Reflectometer for Diagnostics and Sensing

Номер патента: US20240364419A1. Автор: Tao Wei,Zhenyu XU,Thomas Mauldin. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2024-10-31.

Dual wavelenth optical time domain reflectometer systems and methods embedded in a WDM system

Номер патента: US09847831B2. Автор: Jean-Luc Archambault,David W. Boertjes. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and apparatus for compensating for signal error at transmit end of optical time domain reflectometer

Номер патента: US10135524B2. Автор: Xiaodong Luo,Yansui Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-20.

Dual wavelenth optical time domain reflectometer systems and methods embedded in a wdm system

Номер патента: US20180076884A1. Автор: Jean-Luc Archambault,David W. Boertjes. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2018-03-15.

Method and apparatus for performing optical time domain reflectometry on an optical fibre

Номер патента: WO2023031439A1. Автор: Roberto Magri,Davide Sanguinetti. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2023-03-09.

Method and apparatus for performing optical time domain reflectometry on an optical fibre

Номер патента: EP4396973A1. Автор: Roberto Magri,Davide Sanguinetti. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2024-07-10.

Optical fiber time domain reflectometer otdr, test system, test method, and storage medium

Номер патента: US20230275657A1. Автор: Jiantao ZHANG,Tao Xiong,Cuihong Zhang,Zhijun Ye. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Raman amplifier system and method with integrated optical time domain reflectometer

Номер патента: US20180019813A1. Автор: Balakrishnan Sridhar,Jean-Luc Archambault,Jun Bao. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2018-01-18.

RAMAN AMPLIFIER SYSTEM AND METHOD WITH INTEGRATED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20150381274A1. Автор: Bao Jun,SRIDHAR Balakrishnan,Archambault Jean-Luc. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Optical integration device and optical time domain reflectometer

Номер патента: CN113551874A. Автор: 吕海峰,王中生. Владелец: Zhuhai FTZ Oplink Communications Inc. Дата публикации: 2021-10-26.

SYSTEM AND METHOD FOR OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETRY AND DESIGN DATA WIRE TESTING

Номер патента: US20190181949A1. Автор: Courter Brandon M.,NGO NAM V.,FARNER SCOTT C.,DRAY JOSEPH M.. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

Optical network unit three-direction optical assembly with optical time domain signal reflection function

Номер патента: CN102937734A. Автор: 张华�,邹翔,宋琛. Владелец: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-20.

ONU (optical network unit) triplexer optical assembly with optical time domain signal reflection function

Номер патента: CN105278058A. Автор: 张华�,邹翔,宋琛. Владелец: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-27.

Optical time domain reflectometry for multiple spatial mode fibers

Номер патента: US20130315532A1. Автор: Roland Ryf,Chongjin Xie. Владелец: Alcatel Lucent USA Inc. Дата публикации: 2013-11-28.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: CA2058957C. Автор: David Michael Spirit,Lutz Christian Blank. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 1999-05-04.

Optical time domain relectometry with optical amplifier for extended range and/or sensitivity

Номер патента: US5448059A. Автор: David M. Spirit,Lutz C. Blank. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 1995-09-05.

Optical time domain reflectometer (OTDR) data storage and retrieval

Номер патента: US7136156B1. Автор: Joe Quint. Владелец: Sprint Communications Co LP. Дата публикации: 2006-11-14.

Optical time domain reflectometer with improved sidelobe suppression

Номер патента: US5307140A. Автор: Meirion F. Lewis. Владелец: UK Secretary of State for Defence. Дата публикации: 1994-04-26.

Low-complexity brillouin optical time-domain reflectometers using syb-nyquist sampling

Номер патента: WO2018093810A1. Автор: Ezra Ip,Yue-Kai Huang,Fatih Yaman,Shaoliang Zhang,Giovanni Milione. Владелец: NEC LABORATORIES AMERICA, INC. Дата публикации: 2018-05-24.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: US20080106731A1. Автор: Kimiaki Iwasaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2008-05-08.

Optical switching apparatus for optical time domain reflectometers

Номер патента: US5388172A. Автор: Duwayne R. Anderson. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1995-02-07.

Optical time domain reflectometer using a tunable optical source

Номер патента: US5179420A. Автор: Vincent C.-Y. So,Michel Lessard. Владелец: Bell Canada Inc. Дата публикации: 1993-01-12.

Parallel optics based optical time domain reflectometer acquisition

Номер патента: US11808659B2. Автор: Vincent Lecoeuche. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-11-07.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: GB2452361A. Автор: Kamal Kader,Arthur H Hartog. Владелец: Schlumberger Holdings Ltd. Дата публикации: 2009-03-04.

Frequency-scanned optical time domain reflectometry

Номер патента: GB2473788A. Автор: Arthur H Hartog. Владелец: Schlumberger Holdings Ltd. Дата публикации: 2011-03-23.

Suppression of stimulated scattering in optical time domain reflectometry

Номер патента: US5592282A. Автор: Arthur H. Hartog. Владелец: York Ltd. Дата публикации: 1997-01-07.

Optical time-domain reflectometer device including multiple and bi-directional optical testing for fiber analysis

Номер патента: US20200072703A1. Автор: Olivier Receveur,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2020-03-05.

Optical component, built-in optical time domain reflectometer, and optical network device

Номер патента: US20160112121A1. Автор: Zhicheng Ye,Gongzhi LIU. Владелец: Wuhan Huagong Genuine Optics Tech Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-21.

Optical time-domain reflectometer device including multiple and bi-directional optical testing for fiber analysis

Номер патента: US20210181060A1. Автор: Olivier Receveur,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2021-06-17.

Light pulse generator and optical time domain reflectometer using the same

Номер патента: US20110043790A1. Автор: Moritoshi Komamaki. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-02-24.

Apparatus and method for optical time domain reflectometry

Номер патента: US09983358B2. Автор: Kenichiro Takeuchi,Haiguang Lu,Rhaniel PERALTA,Glenn LACHICA,Marlene Gizelle M. BALINOS,Anita L. LUMANTES,Erika Mae A. ENTICO. Владелец: Go Foton Holdings Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Apparatus and method for optical time domain reflectometry

Номер патента: US09846279B2. Автор: Kenichiro Takeuchi,Haiguang Lu,Rhaniel PERALTA,Glenn LACHICA,Marlene Gizelle M. BALINOS,Anita L. LUMANTES,Erika Mae A. ENTICO. Владелец: Go Foton Holdings Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

SYSTEM AND METHOD FOR OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETRY AND DESIGN DATA WIRE TESTING

Номер патента: US20180234174A1. Автор: Courter Brandon M.,NGO NAM V.,DRAY JOSEPH M.,FARNER SCOTT C. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-16.

In-Service Optical Time Domain Reflectometry Utilizing Raman Pump Source

Номер патента: US20150253217A1. Автор: Williams Martin R.,Zahnley Timothy K.,Gurusami Aravanan,Dahl Scott,McClean Ian P.. Владелец: II-VI Incorporated. Дата публикации: 2015-09-10.

Optical time domain reflectometry apparatus and method

Номер патента: JP6619805B2. Автор: ペラルタ，ラニエル,ラチカ，グレン,ルー，ハイグアン,健一郎 武内,バリノス，マリーン・ジゼル・エム,ルマンテス，アニータ・エル,エンティコ，エリカ・マエ・エイ. Владелец: ゴーフォトン・ホールディングス，インコーポレイテッド. Дата публикации: 2019-12-11.

System and method for optical time-domain reflectometry and design data wire testing

Номер патента: US10841004B2. Автор: Nam V. Ngo,Brandon M. Courter,Scott C Farner,Joseph M. Dray. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-11-17.

Apparatus and method for optical time-domain reflectometry

Номер патента: EP3205033A1. Автор: Kenichiro Takeuchi,Haiguang Lu,Rhaniel PERALTA,Glenn LACHICA,Marlene Gizelle M. BALINOS,Anita L. LUMANTES,Erika Mae A. ENTICO. Владелец: Go Foton Holdings Inc. Дата публикации: 2017-08-16.

Optical time domain reflectometry for determining distributed physical properties

Номер патента: WO2006045340A1. Автор: Josef Beller. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2006-05-04.

Optical time domain reflectometry for determining distributed physical properties

Номер патента: EP1807686A1. Автор: Josef Beller. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-07-18.

Optical time-domain reflectometer (otdr) event detection and light power level measurement-based fiber optic link certification

Номер патента: US20240022323A1. Автор: Benoit Morel. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-01-18.

Optical time-domain reflectometer (OTDR) event detection and light power level measurement-based fiber optic link certification

Номер патента: US11838049B2. Автор: Benoit Morel. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2023-12-05.

Supporting structure for optical time domain reflectometer and optical time domain reflectometer

Номер патента: CN107218491B. Автор: 赵阳日. Владелец: Inno Instrument (china) Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Time domain reflectometry testing of a transmission line in a group of similar lines

Номер патента: GB2481135A. Автор: Nelson Hall,Keith W Lanan,Oscar Morel. Владелец: Utilx Corp. Дата публикации: 2011-12-14.

Method for controlling wireless device under test using non-link testing resources

Номер патента: WO2018231389A1. Автор: Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang,Qinghui Luo. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2018-12-20.

TIME-DOMAIN REFLECTOMETER DISTANCE MEASUREMENT FOR DEVICES SHARING A COMMON BUS

Номер патента: US20210105043A1. Автор: Hittel John Paul. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-08.

Automatic fiber end point detection using coherent optical time domain reflectometry

Номер патента: WO2023091620A1. Автор: Ting Wang,Yuheng Chen,Ming-Fang Huang,JUNQIANG Hu,Philip JI. Владелец: NEC Laboratories America, Inc.. Дата публикации: 2023-05-25.

Pluggable Optical Time Domain Reflectometer

Номер патента: US20240068905A1. Автор: Siegfried Fleischer,Ian Peter McClean. Владелец: II VI Delaware Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

A support structure for a device under test allowing rotation

Номер патента: WO2022136727A1. Автор: Pertti Mäkikyrö. Владелец: Verkotan Oy. Дата публикации: 2022-06-30.

A support structure for a device under test allowing rotation

Номер патента: US20240044962A1. Автор: Pertti Mäkikyrö. Владелец: Verkotan Oy. Дата публикации: 2024-02-08.

EMC test bench comprising an item of equipment under test which is intended to be loaded on board an aircraft

Номер патента: US09804217B2. Автор: Remy Salvatge,Cyril Lair. Владелец: SNECMA SAS. Дата публикации: 2017-10-31.

SYSTEM FOR MONITORING CABLES CONNECTIONS USING A TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND A NETWORK DEVICE

Номер патента: US20140376388A1. Автор: Khozyainov Boris A.. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-25.

Optical time domain reflectometer with internal reference reflector

Номер патента: CA2187132C. Автор: Michel Leblanc,Robert Larose,Robert Tremblay. Владелец: Exfo Electro Optical Engineering Inc. Дата публикации: 2005-06-21.

Method of measuring bending loss with an optical time domain reflectometer

Номер патента: US20020140926A1. Автор: Andrew Ingles. Владелец: Fitel USA Corp. Дата публикации: 2002-10-03.

Correlation of Device-Under-Test Orientations and Radio Frequency Measurements

Номер патента: US20200096547A1. Автор: Gerardo Orozco Valdes,Thomas Deckert,Christopher N. White,Karl F. Grosz,Johannes D. H. Lange. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Correlation of device-under-test orientations and radio frequency measurements

Номер патента: WO2020068614A1. Автор: Gerardo Orozco Valdes,Thomas Deckert,Johannes D.H. LANGE,Christopher N. White,Karl F. Grosz. Владелец: National Instruments Corporation. Дата публикации: 2020-04-02.

System and method for parallel measurement of devices under test in an open over the air environment

Номер патента: US20210080490A1. Автор: SHERIF Ahmed,Corbett Rowell,Benoit Derat. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-03-18.

Method for determining test signals for electromagnetic susceptibility testing of a device-under-test

Номер патента: US20240361372A1. Автор: Hendrik Bartko,SiewLeng NG. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-31.

Method for determining test signals for electromagnetic susceptibility testing of a device-under-test

Номер патента: EP4455691A1. Автор: Hendrik Bartko,SiewLeng NG. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-30.

Method of performing a measurement of a device under test

Номер патента: US20210356503A1. Автор: Benoit Derat,Adam Tankielun. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-11-18.

Method of performing a measurement of a device under test

Номер патента: US11680971B2. Автор: Benoit Derat,Adam Tankielun. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-20.

Method and system for performing a measurement of a device under test

Номер патента: EP3910823A1. Автор: Benoit Derat,Adam Tankielun. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-11-17.

Method as well as test system for testing a device under test

Номер патента: US12028117B2. Автор: Alexander Roth,Wolfgang Dressel,Florian Ramian. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-02.

Over-the-air measurement system and method of testing a device under test over-the-air

Номер патента: US20220236310A1. Автор: Corbett Rowell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-28.

Correlation of device-under-test orientations and radio frequency measurements

Номер патента: EP3837562A1. Автор: Gerardo Orozco Valdes,Thomas Deckert,Johannes D.H. LANGE,Christopher N. White,Karl F. Grosz. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2021-06-23.

Anechoic chamber for testing a device under test over-the-air, a system, and a method

Номер патента: US20230221359A1. Автор: Heinz Mellein. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-07-13.

Test arrangement for over-the-air testing an angled device under test that is tilted relative to a surface of a carrier structure

Номер патента: WO2024022627A1. Автор: Yasuyuki Kato,Hiroyuki Mineo,Jose Moreira,Natsuki Shiota,Aritomo Kikuchi,Hiromitsu Takasu. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2024-02-01.

System and method of over-the-air testing of a device under test

Номер патента: US11828801B2. Автор: Hendrik Bartko,Benoit Derat,Mert CELIK. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-28.

System and method of over-the-air testing of a device under test

Номер патента: US20230305056A1. Автор: Hendrik Bartko,Benoit Derat,Mert CELIK. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement system and method for testing a device under test

Номер патента: US11762018B2. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-09-19.

Measurement system and method for testing a device under test

Номер патента: US20190313266A1. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-10-10.

Test arrangement for over-the-air testing an angled device under test in a device-under-test socket

Номер патента: WO2024022625A1. Автор: Yasuyuki Kato,Hiroyuki Mineo,Jose Moreira,Natsuki Shiota,Aritomo Kikuchi,Hiromitsu Takasu. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2024-02-01.

Radio test system and method for testing a device under test

Номер патента: US20180321301A1. Автор: Moritz Harteneck. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-11-08.

Testing system for performing multipaction tests on a device under test as well as a method for testing a device under test

Номер патента: US20180217194A1. Автор: Mahmud NASEEF. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-08-02.

Test arrangement for over-the-air testing an angled device under test using a carrier structure with an opening

Номер патента: WO2024022626A1. Автор: Yasuyuki Kato,Hiroyuki Mineo,Jose Moreira,Natsuki Shiota,Aritomo Kikuchi,Hiromitsu Takasu. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2024-02-01.

Apparatus and method for production testing of devices with wireless capability

Номер патента: WO2019143280A1. Автор: Magnus Franzén,John Kvarnstrand,Erik LUNDIN. Владелец: BLUETEST AB. Дата публикации: 2019-07-25.

System and method for temporal signal measurement of device under test (dut) and method of forming system

Номер патента: US20200096568A1. Автор: Minglei Cui,Harshang Nileshkumar Pandya,Xing ZHU,Arvindbhai Chimanbhai Patel. Владелец: AEM SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2020-03-26.

System and Method for using Pulsed Radio Frequency (RF) Signals and a Modulated Scattering Probe (MSP) to Enable Measurements of Distance to and Planarity of a Surface of a Device under Test (DUT)

Номер патента: US20230258702A1. Автор: Minh-Chau Huynh,Christian Volf Olgaard,Morten Damgaard. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Method for measuring group delay on a device under test, measurement device as well as measurement system

Номер патента: US20180302179A1. Автор: Werner Held,Martin LEIBFRITZ. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-10-18.

Measurement system for measuring an intercept point value of a device-under-test

Номер патента: US20240306018A1. Автор: Matthias RUENGELER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-12.

A measurement system for measuring an intercept point value of a device-under-test

Номер патента: EP4428547A1. Автор: Matthias Dr. Ruengeler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-11.

Automated test equipment component, automated test equipment and method for establishing a coupling with a device under test and with a characterizing device using a first and second antenna

Номер патента: WO2023198296A1. Автор: Jose Moreira. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-10-19.

Measuring device, system and method for measuring a device under test

Номер патента: EP4297300A1. Автор: Florian Pfeiffer,Lucas Tobias Callies,Marius Vierheller. Владелец: Perisens Gmbh. Дата публикации: 2023-12-27.

Over the air (ota) testing of an antenna in package (aip) device in radiating near field using a characterizing device and automated test equipment

Номер патента: US20240061030A1. Автор: Jose Moreira. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Measurement arrangement, measurement setup, measurement system and method for determining a beamforming characteristic of a device under test

Номер патента: US20240201241A1. Автор: Jochen Zaiser,Jose Moreira,Max NEUWEILER,Arimoto KIKUCHI. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Devices and methods for testing of far-field wireless charging

Номер патента: US20230168299A1. Автор: Daniela Raddino,Rania MORSI. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-01.

Determining performance metrics for a device under test using nearfield measurement results

Номер патента: US11747383B2. Автор: Jose Moreira. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

System and method for using pulsed radio frequency (RF) signals and a modulated scattering probe (MSP) to enable measurements of distance to and planarity of a surface of a device under test (DUT)

Номер патента: US11835563B2. Автор: Minh-Chau Huynh,Christian Volf Olgaard,Morten Damgaard. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

System, master test device, a slave test device and method for testing of wireless power transfer equipment having a plurality of wireless power transmitters

Номер патента: EP4038720A1. Автор: Laurens Swaans. Владелец: ELECTDIS AB. Дата публикации: 2022-08-10.

System, master test device, a slave test device and method for testing of wireless power transfer equipment having a plurality of wireless power transmitters

Номер патента: US20230140156A1. Автор: Laurens Swaans. Владелец: ELECTDIS AB. Дата публикации: 2023-05-04.

System, master test device, a slave test device and method for testing of wireless power transfer equipment having a plurality of wireless power transmitters

Номер патента: WO2022136027A1. Автор: Laurens Swaans. Владелец: ELECTDIS AB. Дата публикации: 2022-06-30.

Optical time domain reflector structure and optical assembly

Номер патента: EP4086676A1. Автор: Shu-Fen Liao,Chin-Tsung Wu. Владелец: EZconn Corp. Дата публикации: 2022-11-09.

Amplifier dynamics compensation for brillouin optical time-domain reflectometry

Номер патента: WO2020237035A1. Автор: Ezra Ip,Yue-Kai Huang. Владелец: NEC Laboratories America, Inc.. Дата публикации: 2020-11-26.

Along the optical time domain reflectometer propagated and use the method for the optical time domain reflectometer

Номер патента: CN109357842A. Автор: 伊恩·彼得·麦克林,阿拉瓦南·古鲁萨米,蒂莫西·赞恩利,斯科特·达尔,迪帕克·德维查兰. Владелец: II VI Inc. Дата публикации: 2019-02-19.

SUPPORT STRUCTURE FOR AN OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND AN OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20190017897A1. Автор: ZHAO Yangri. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-17.

Edge propagating optical time domain reflectometer and method of using the same

Номер патента: US09752955B2. Автор: Aravanan Gurusami,Scott Dahl,Ian Peter McClean,Timothy Zahnley,Deepak Devicharan. Владелец: II VI Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Optical time domain reflectometer and method for optical time domain reflectometry

Номер патента: DE69409815T2. Автор: Josef Beller. Владелец: Hewlett Packard GmbH Germany. Дата публикации: 1998-08-13.

Bi-directional multi-pulsewidth optical time-domain reflectometer

Номер патента: US09506838B2. Автор: Stephane Perron,Michel Leclerc,Mario L'Heureux,Eric Thomassin. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Edge Propagating Optical Time Domain Reflectometer And Method Of Using The Same

Номер патента: US20160033359A1. Автор: Devicharan Deepak,McClean Ian Peter,Gurusami Aravanan,Dahl Scott,Zahnley Timothy. Владелец: II-VI Incorporated. Дата публикации: 2016-02-04.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER WITH HIGH RESOLUTION AND HIGH SENSITIVITY

Номер патента: US20150062563A1. Автор: Ahadian Joseph F.,Kuznia Charles B.,Kusumoto Kris. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

BI-DIRECTIONAL MULTI-PULSEWIDTH OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20140198311A1. Автор: Perron Stéphane,"LHeureux Mario",Leclerc Michel,Thomassin Eric. Владелец: EXFO INC.. Дата публикации: 2014-07-17.

Edge Propagating Optical Time Domain Reflectometer And Method Of Using The Same

Номер патента: US20170307472A1. Автор: Aravanan Gurusami,Scott Dahl,Ian Peter McClean,Timothy Zahnley,Deepak Devicharan. Владелец: II VI Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

Optical Time Domain Reflectometer with High Resolution and High Sensitivity

Номер патента: US20180340860A1. Автор: Ahadian Joseph F.,Kuznia Charles B.,Kusumoto Kris. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-29.

Optical cable testing system and testing method based on optical time domain reflectometer

Номер патента: CN105547644A. Автор: 唐权斌. Владелец: Yangtze Optical Fibre and Cable Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-04.

Optical time domain reflectometer with high resolution and high sensitivity

Номер патента: US9964464B2. Автор: Joseph F. Ahadian,Kris Kusumoto,Charles B. Kuznia. Владелец: Ultra Communications Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

Optical time domain reflectometer with heterodyne reception

Номер патента: DE3509336A1. Автор: Reinhard Dr. 2200 Elmshorn Knöchel. Владелец: Philips Patentverwaltung GmbH. Дата публикации: 1986-09-25.

Enhanced Optical Time-Domain Reflectometer Resolution Using Depolarization of Light Source

Номер патента: US20110149271A1. Автор: Sheryl Woodward,Jonathan Nagel,Lynn Nelson. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2011-06-23.

Optical time-domain reflectometers and related methods

Номер патента: US10969302B1. Автор: FANG Xu. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2021-04-06.

Optical time domain reflectometry for hollow core optical fibres

Номер патента: GB202201785D0. Автор: . Владелец: University of Southampton. Дата публикации: 2022-03-30.

CALIBRATION OF OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY OPTICAL LOSS MEASUREMENT IN OPTICAL FIBERS HAVING POTENTIALLY DISSIMILAR LIGHT BACKSCATTERING EFFICIENCIES

Номер патента: US20150002837A1. Автор: Benjamin Seldon David. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

Long-distance polarization and phase-sensitive optical time-domain reflectometry based on random laser amplification

Номер патента: US20140183360A1. Автор: Wang Zinan,Rao Yunjiang,Ran Zengling. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2014-07-03.

USB optical time domain reflection (OTDR) measuring apparatus

Номер патента: TWM250145U. Автор: Shiue-Chiun Shiu. Владелец: Radiantech Inc. Дата публикации: 2004-11-11.

Optical time domain reflectometry system at different wavelengths

Номер патента: US20070091297A1. Автор: Josef Beller. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-04-26.

HIGH SPEED BIDIRECTIONAL OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)-BASED TESTING OF DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20220140894A1. Автор: ROUX Charlène,BARRIER Julien. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2022-05-05.

HIGH SPEED BIDIRECTIONAL OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)-BASED TESTING OF DEVICE UNDER TEST

Номер патента: US20220360327A1. Автор: ROUX Charlène,BARRIER Julien. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2022-11-10.

TUNABLE DENSE WAVELENGTH DIVISION MULTIPLEXING (DWDM) OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)-BASED OPTICAL FIBER MONITORING

Номер патента: US20220149935A1. Автор: PONCHON Jean. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2022-05-12.

Integrated optical time domain reflectometer and optical supervisory network

Номер патента: AU2002221388A1. Автор: Sanjay Kalyanasundaram,Ross Alexander Saunders,Enos Avid Lemus-Tejada,Meng Soo. Владелец: Ceyba Inc. Дата публикации: 2002-06-18.

OSC (Optical Supervising Channel) optical module with OTDR (Optical Time Domain Reflectometer)) function and method for realizing real-time and interruption service detection thereof

Номер патента: CN106452568A. Автор: 谢艺力,曹时立,陈丽容. Владелец: Shenzhen Neo Photonic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-22.

Method for Generating a Probe Pulse and Coherent Optical Time Domain Reflectometer

Номер патента: US20130114954A1. Автор: Feng Zhiyong,Qiu Shaofeng,Wei Yijia. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-05-09.

OPTICAL COMMUNICATION DEVICES HAVING OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETERS

Номер патента: US20130272694A1. Автор: Sandstrom Leif J.. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-17.

SYSTEM FOR REPORTING OPTICAL LINK FAILURES USING INTELLIGENT SMALL FORM-FACTOR PLUGGABLE OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20210013961A1. Автор: Manning Timothy William. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

OPTICAL NETWORK COMMUNICATION SYSTEM WITH EMBEDDED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND METHOD OF OPERATION THEREOF

Номер патента: US20150016816A1. Автор: PIEHLER David. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

Optical Time Domain Reflectometer Implementation Apparatus and System

Номер патента: US20170033863A1. Автор: ZHOU XIAOPING,Chen Cong,Yin Jinrong. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-02.

DUAL WAVELENTH OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER SYSTEMS AND METHODS EMBEDDED IN A WDM SYSTEM

Номер патента: US20180076884A1. Автор: Archambault Jean-Luc,BOERTJES David W.. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR) EVENT DETECTION AND LIGHT POWER LEVEL MEASUREMENT-BASED FIBER OPTIC LINK CERTIFICATION

Номер патента: US20220140896A1. Автор: MOREL Benoit. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2022-05-05.

OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER INTEROPERABLE TRUNK SWITCH

Номер патента: US20190097719A1. Автор: Archambault Jean-Luc,Chedore Paul. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-28.

Optical time-domain reflectometer interoperable trunk switch

Номер патента: US20190173576A1. Автор: Archambault Jean-Luc,Chedore Paul. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

Optical Time Domain Reflectometer and Method for Detecting Optical Fiber by Using the Same

Номер патента: US20170180042A1. Автор: Luo Xiaodong,Deng Ning,HUANG Yansui. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Gigabit Ethernet Analyzer for Optical Time Domain Reflectometer

Номер патента: US20170272151A1. Автор: Giotto Frank,Wertz Raymond,Emery Ross,Indolfi Christopher. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

DUAL WAVELENTH OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER SYSTEMS AND METHODS EMBEDDED IN A WDM SYSTEM

Номер патента: US20170294959A1. Автор: Archambault Jean-Luc,BOERTJES David W.. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-12.

METHOD AND APPARATUS FOR COMPENSATING FOR SIGNAL ERROR AT TRANSMIT END OF OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20170353238A1. Автор: Luo Xiaodong,HUANG Yansui. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-07.

LEARNING-BASED METHOD AND SYSTEM FOR CONFIGURING AN OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER IN A GIGABIT PASSIVE OPTICAL NETWORK

Номер патента: US20220376782A1. Автор: JHALDIYAL Pramod,DUNG Chandan. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-24.

Remote Node Identification System for Optical Fiber Using Optical Time Domain Reflectometer and Remote Node Identification Method thereof, and Device for Remote Node Identification

Номер патента: KR102329808B1. Автор: 조성칠. Владелец: (주)노티스. Дата публикации: 2021-11-23.

Remote Node Identification System for Optical Fiber Using Optical Time Domain Reflectometer and Device for The Same

Номер патента: KR102107639B1. Автор: 조성칠. Владелец: (주)어크로스웨이브즈. Дата публикации: 2020-05-08.

Portable carrying box for optical time domain reflectometer

Номер патента: CN112187348B. Автор: 郭天强. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-27.

Low-cost transceiving system suitable for OTDR (optical time Domain reflectometer) and implementation method

Номер патента: CN114124210A. Автор: 王新,陈妍. Владелец: Wuhan Fusheng Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-01.

Optical time domain reflectometer based on double-sideband chirp pulse modulation

Номер патента: CN113810098B. Автор: 杨军,温坤华,王云才,秦玉文,喻张俊,徐鹏柏,郑梓燊,余鑫峰,叶志耿. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-09-16.

Optical line protection system integrated with optical time domain reflectometer

Номер патента: WO2017197956A1. Автор: 刘中华,梅亮,曹尔慧,蒋小庆,雍博. Владелец: 烽火通信科技股份有限公司. Дата публикации: 2017-11-23.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: CN113014313A. Автор: 阎赟. Владелец: China Mobile Group Shanxi Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-22.

Optical time domain reflectometer implementation apparatus and system

Номер патента: US9998214B2. Автор: Jinrong Yin,Xiaoping Zhou,Cong Chen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Optical time domain reflectometer and its method, more pulsewidth optical cable diagnostic systems and its method

Номер патента: CN108462531A. Автор: 朱天全,鲍胜青,颜小华. Владелец: Beijing OPWILL Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-28.

Optical communication devices having optical time domain reflectometers

Номер патента: WO2013134404A1. Автор: Leif Sandstrom. Владелец: ADTRAN, INC.. Дата публикации: 2013-09-12.

Double-clock phase-error sampling device and sampling method thereof and optical time domain reflectometer

Номер патента: CN113783607A. Автор: 朱华,刘邦,李瑞浔,鲍驰,谢吕才. Владелец: O Net Communications Shenzhen Ltd. Дата публикации: 2021-12-10.

A kind of optical time domain reflectometer and optical fiber test method

Номер патента: CN106130626A. Автор: 富尧,王真真,李浩泉. Владелец: Divine Land Zhejiang Quantum Network Science And Technology Ltd. Дата публикации: 2016-11-16.

Optical time domain reflectometer implementation apparatus and system

Номер патента: EP3119015B1. Автор: Jinrong Yin,Xiaoping Zhou,Cong Chen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-22.

Optimized optical time domain reflectometer

Номер патента: CN106533546A. Автор: 王刚,于海,朱亮,徐敏,王鹤,彭林,鲍兴川,韩海韵,侯战胜,侯功. Владелец: Smart Grid Research Institute of SGCC. Дата публикации: 2017-03-22.

Method and device for improving echo signal of chaotic optical time domain reflectometer

Номер патента: CN110635841B. Автор: 洪鹏达,洪鹏辉,林基远,薛欣,洪宝璇. Владелец: Shenzhen Siheria Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-07-15.

Optical time domain reflectometer for communication optical fiber between 5G base stations and positioning method thereof

Номер патента: CN114389685A. Автор: 马宁,王平,曹江,高原,郭洋,王景,杨思明,王晓楠. Владелец: Research Institute of War of PLA Academy of Military Science. Дата публикации: 2022-04-22.

Preventing damage to optical components from optical time domain reflectometers

Номер патента: CN1762113A. Автор: R·M·多尔沃德. Владелец: Marconi UK Intellectual Property Ltd. Дата публикации: 2006-04-19.

Optical communication devices having optical time domain reflectometers

Номер патента: EP2842244B1. Автор: Leif Sandstrom. Владелец: Adtran Inc. Дата публикации: 2017-10-18.

Correlation optical time domain reflectometry method and system

Номер патента: EP3859997B1. Автор: Michael Eiselt,Mirko Lawin,Florian Azendorf. Владелец: Adtran Networks SE. Дата публикации: 2023-11-22.

Chromatic dispersion optical time domain reflectometry on submarine communication cables using coherent optical transponders

Номер патента: US20240235685A1. Автор: Pierre H. Mertz. Владелец: Infinera Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Network traffic-compatible time domain reflectometer

Номер патента: US09960842B2. Автор: Victor M. Zinevich. Владелец: Arcom Digital LLC. Дата публикации: 2018-05-01.

Network Traffic-Compatible Time Domain Reflectometer

Номер патента: US20170104522A1. Автор: Zinevich Victor M.. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-13.

Correlation Optical Time Domain Reflectometry Method and System

Номер патента: US20210242936A1. Автор: Lawin Mirko,Eiselt Michael,Azendorf Florian. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

Optical Amplifier Assembly And Detection Method For Dynamically Executable Optical Time-Domain Reflection Detection

Номер патента: US20200220316A1. Автор: Liu Fei,YU Zhenyu,CAI Xiao,Fu Chengpeng,Bu Qinlian,Ye Zhijun,LEI Rui,Deng Fuxing. Владелец: ACCELINK TECHNOLOGIES CO., LTD.. Дата публикации: 2020-07-09.

It is a kind of can Dynamic Execution optical time domain reflection detection component and detection method

Номер патента: CN107332101A. Автор: 刘飞,蔡潇,余振宇,卜勤练,付成鹏,叶知隽,邓福星,雷睿. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

It is a kind of can Dynamic Execution optical time domain reflection detection component and detection method

Номер патента: CN107332101B. Автор: 刘飞,蔡潇,余振宇,卜勤练,付成鹏,叶知隽,邓福星,雷睿. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-26.

Passive optical network optical time-domain reflectometry

Номер патента: US20080031624A1. Автор: Alain Granger,Joseph Lee SMITH. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2008-02-07.

Correlation optical time domain reflectometry method and system

Номер патента: US11652544B2. Автор: Michael Eiselt,Mirko Lawin,Florian Azendorf. Владелец: ADVA Optical Networking SE. Дата публикации: 2023-05-16.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: CA2182384C. Автор: David Michael Spirit. Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 2000-06-27.

A kind of method for subsequent processing improving chaos light time domain reflectometer resolution ratio

Номер патента: CN108512594A. Автор: 赵彤,王云才,王龙生,胡志宏,王安帮,贾志伟,郭圆圆. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-09-07.

Coexistence module for accomodating optical time domain reflectometry in optical networks

Номер патента: WO2023081916A1. Автор: Jill Anne MALECHA. Владелец: CommScope Technologies LLC. Дата публикации: 2023-05-11.

Brillouin optical time domain reflectometer with ultra-high spatial resolution based on bipolar differential phase encoding

Номер патента: US11867540B2. Автор: Linghao Cheng,Baiou Guan,Xiangjie Ma,Jinding Zhu. Владелец: Guangdong Brillinnova Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Extinction ratio free phase sensitive optical time domain reflectometry based distributed acoustic sensing system

Номер патента: US11959799B2. Автор: Toygar Akgun,Metin AKTAS. Владелец: Aselsan Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-04-16.

Multi-wavelength time domain reflectometer

Номер патента: US4904864A. Автор: John P. Dakin,David J. Pratt. Владелец: Plessey Overseas Ltd. Дата публикации: 1990-02-27.

Cable loss correction of distance to fault and time domain reflectometer measurements

Номер патента: US6437578B1. Автор: Linley F. Gumm. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2002-08-20.

Electronic device and method for correcting time-domain reflectometers

Номер патента: US20110246112A1. Автор: Shen-Chun Li,Hsien-Chuan Liang,Shou-Kuo Hsu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-06.

Electronic device and method for correcting time-domain reflectometers

Номер патента: US8552739B2. Автор: Shen-Chun Li,Hsien-Chuan Liang,Shou-Kuo Hsu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-08.

Dual time base zero dead zone time domain reflectometer

Номер патента: US5382910A. Автор: Joseph F. Walsh. Владелец: John Fluke Manufacturing Co Inc. Дата публикации: 1995-01-17.

Slow wave time-domain reflectometer point level sensor

Номер патента: US5819582A. Автор: John M. Kelly. Владелец: Individual. Дата публикации: 1998-10-13.

Method for brillouin optical time domain analysis (botda) based dynamic distributed strain sensing

Номер патента: WO2023182938A2. Автор: Hui Dong,Ying Song,Hailiang Zhang,Juanjuan Hu. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-09-28.

Method for brillouin optical time domain analysis (botda) based dynamic distributed strain sensing

Номер патента: WO2023182938A3. Автор: Hui Dong,Ying Song,Hailiang Zhang,Juanjuan Hu. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-11-02.

Methods, systems, and computer readable media for providing for specification or autodiscovery of device under test (DUT) topology information

Номер патента: US09356855B2. Автор: Noah Gintis. Владелец: IXIA. Дата публикации: 2016-05-31.

Measuring and evaluating a test signal generated by a device under test (dut)

Номер патента: EP4049043A1. Автор: Nermin Osmanovic. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2022-08-31.

Tester and method for testing a device under test using relevance scores

Номер патента: US11200156B2. Автор: Jochen Rivoir. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-12-14.

Measuring and evaluating a test signal generated by a device under test (dut)

Номер патента: US20210126748A1. Автор: Nermin Osmanovic. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2021-04-29.

A structure and implementation method for implementing an embedded serial data test loopback, residing directly under the device under test within a printed circuit board

Номер патента: EP3194989A1. Автор: Thomas P. Warwick,James V. Russell. Владелец: R&D Circuits Inc. Дата публикации: 2017-07-26.

Method and apparatus of automatic optical inspection using scanning holography

Номер патента: US11809134B2. Автор: Tae Geun Kim. Владелец: Cubixel Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-07.

System and method of inspecting device under test, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20190137884A1. Автор: Jae-Min Lee,Sung-Won Park,Myung-Ho Jung,Ji-Hoon Kang,Sean PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-05-09.

Automatic optical inspection system and method

Номер патента: US20230351577A1. Автор: Hu-Wei Lin,I-Hsuan Chen,Chien-Lung Chen,Ying-Hao Wang,Chien-Chi Tzeng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Method for extracting spectral information of a substance under test

Номер патента: US12106543B2. Автор: Min Liu,Bin Guo,Jinbiao Huang,Zhe REN,Xingchao YU. Владелец: Shenzhen Hypernano Optics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Optical time domain reflectometer and testing method of optical time domain reflectometer

Номер патента: US20200240872A1. Автор: Taichi Murakami. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Compact Optical Time Domain Reflectometer with Integrated Time Delay Fiber Waveguide

Номер патента: US20210172832A1. Автор: Pons Sean Mitchell. Владелец: OPTICONCEPTS. Дата публикации: 2021-06-10.

Several wavelength optical time domain reflectometer for fiber optics testing, in which measuring time gain is of the order of three to four

Номер патента: FR2817960A1. Автор: Rocha Jean Claude Da. Владелец: Acome S Coop. Дата публикации: 2002-06-14.

METHOD OF IMPROVING PERFORMANCE OF OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)

Номер патента: US20140104599A1. Автор: LEE Jyung-Chan,MYONG Seung-Il,LEE Won-Kyoung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2014-04-17.

PARALLEL OPTICS BASED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER ACQUISITION

Номер патента: US20210063273A1. Автор: LECOEUCHE Vincent. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2021-03-04.

LOW-COMPLEXITY BRILLOUIN OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETERS USING SYB-NYQUIST SAMPLING

Номер патента: US20180136016A1. Автор: Zhang Shaoliang,Yaman Fatih,Huang Yue-Kai,Ip Ezra,Milione Giovanni. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-17.

QUAD OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)

Номер патента: US20160161366A1. Автор: Prescott Scott,Eddy Dale,FLORA Dennis,FANG Jianxun. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-09.

PARALLEL OPTICS BASED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER ACQUISITION

Номер патента: US20210231524A1. Автор: LECOEUCHE Vincent. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC.. Дата публикации: 2021-07-29.

Optical Time-Domain Reflectometer (OTDR) With Integrated, Retractable Launch Cable

Номер патента: US20180292293A1. Автор: Levin Piotr Anatolij. Владелец: LIFODAS, UAB. Дата публикации: 2018-10-11.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER IN A SMALL FORM FACTOR PACKAGE

Номер патента: US20150323420A1. Автор: Ahadian Joseph F.,Kuznia Charles B.,Hagan Richard T.,Pommer Richard J.. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-12.

BI-DIRECTIONAL MULTI-PULSEWIDTH OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20150346054A1. Автор: Perron Stéphane,"LHeureux Mario",Leclerc Michel,Thomassin Eric. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-03.

Optical time domain reflectometer and optical pulse testing method

Номер патента: CN111487034B. Автор: 村上太一. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

Method for finding and measuring optical features using an optical time domain reflectometer

Номер патента: US5442434A. Автор: David D. Liao,Andrew E. Forber. Владелец: Antel Optronics Inc. Дата публикации: 1995-08-15.

Optical time domain reflectometer in a small form factor package

Номер патента: WO2013162903A2. Автор: Joseph F. Ahadian,Richard J. Pommer,Charles B. Kuznia,Richard T. Hagan. Владелец: Ultra Communications, Inc.. Дата публикации: 2013-10-31.

Optical fiber monitor using optical time domain reflectometer and monitoring method

Номер патента: EP0854360A1. Автор: Norio Nakayama,Kiyoshi Iwasaki,Takashi Oshimi,Shigeo Hori. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 1998-07-22.

Quad optical time domain reflectometer (otdr).

Номер патента: MX2011007766A. Автор: Scott Prescott,Jianxun FANG,Dennis Flora,Dale Eddy. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2011-08-12.

Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse

Номер патента: US8237921B2. Автор: Shigeo Hori. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2012-08-07.

Optical time-domain reflectometer (OTDR) with integrated, retractable launch cable

Номер патента: US10605696B2. Автор: Piotr Anatolij Levin. Владелец: Lifodas. Дата публикации: 2020-03-31.

Application of statistical inference to optical time domain reflectometer data

Номер патента: US7256878B1. Автор: Hossein Eslambolchi,John Sinclair Huffman,Michael Asher,Chuck Giddens,Harold Stewart. Владелец: AT&T Corp. Дата публикации: 2007-08-14.

Optical time-domain reflectometer (otdr) with integrated, retractable launch cable

Номер патента: WO2016189352A1. Автор: Piotr Anatolij Levin. Владелец: Uab "Lifodas". Дата публикации: 2016-12-01.

Quad optical time domain reflectometer (otdr)

Номер патента: CA2755573A1. Автор: Scott Prescott,Jianxun FANG,Dennis Flora,Dale Eddy. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2011-06-09.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: JP2895624B2. Автор: ルイス，メイリオン・フランシス. Владелец: IGIRISU. Дата публикации: 1999-05-24.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: GB9211994D0. Автор: . Владелец: UK Secretary of State for Defence. Дата публикации: 1992-09-23.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: EP1126264A4. Автор: Keita Kato,Takashi Sakamoto,Masaki Omori,Kimiaki Iwasaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2004-07-28.

Optical time domain reflectometer with automatic measuring function of optical fiber defects

Номер патента: EP0318043A1. Автор: Takashi Sakamoto,Kazumaro Kitagawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 1989-05-31.

Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse

Номер патента: WO2008004443A1. Автор: Shigeo Hori. Владелец: ANRITSU CORPORATION. Дата публикации: 2008-01-10.

Optical fiber monitor using optical time domain reflectometer and monitoring method

Номер патента: WO1998004895A1. Автор: Norio Nakayama,Kiyoshi Iwasaki,Takashi Oshimi,Shigeo Hori. Владелец: ANRITSU CORPORATION. Дата публикации: 1998-02-05.

Optical fiber monitor using optical time domain reflectometer and monitoring method

Номер патента: EP0854360B1. Автор: Norio Nakayama,Kiyoshi Iwasaki,Takashi Oshimi,Shigeo Hori. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2006-12-27.

Bidirectional optical module and optical time domain reflectometer

Номер патента: US7853104B2. Автор: Shunji Sakai,Yasuaki Tamura,Katsushi Oota,Haruo Shibuya. Владелец: Optohub Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-14.

Optical time domain reflectometer with level adjusting function

Номер патента: EP0313020A2. Автор: Toshiyuki Wakai,Toshiyuki Kashiwabara. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 1989-04-26.

Optical time domain reflectometer and optical pulse testing method

Номер патента: CN111487034A. Автор: 村上太一. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-08-04.

Optical time-domain reflectometer device including multiple and bi-directional optical testing for fiber analysis

Номер патента: EP3617687B1. Автор: Olivier Receveur,Charlène ROUX. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2024-01-24.

In-service optical time domain reflectometry utilizing raman pump source

Номер патента: US09494484B2. Автор: Aravanan Gurusami,Martin R. Williams,Scott Dahl,Timothy K. Zahnley,Ian P. McClean. Владелец: II VI Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

FAST BRILLOUIN OPTICAL TIME DOMAIN ANALYSIS FOR DYNAMIC SENSING

Номер патента: US20140022536A1. Автор: Tur Moshe,Peled Yair. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETRY SIGNAL DETECTION METHOD AND APPARATUS

Номер патента: US20140078506A1. Автор: WANG Guangjun,HU Yingxin,CHAO Daizhen. Владелец: Huawei Marine Networks Co., Ltd.. Дата публикации: 2014-03-20.

SYSTEMS AND METHODS OF PERFORMING REFLECTION AND LOSS ANALYSIS OF OPTICAL-TIME-DOMAIN-REFLECTOMETRY (OTDR) DATA ACQUIRED FOR MONITORING THE STATUS OF PASSIVE OPTICAL NETWORKS

Номер патента: US20140111795A1. Автор: Barnhart Andrew,Gwynn Robert. Владелец: NTest, Inc.. Дата публикации: 2014-04-24.

BIPOLAR CYCLIC CODING FOR BRILLOUIN OPTICAL TIME DOMAIN ANALYSIS

Номер патента: US20210181059A1. Автор: Wang Ting,Li Yaowen,FANG Jian. Владелец: NEC LABORATORIES AMERICA, INC. Дата публикации: 2021-06-17.

METHODS AND SYSTEMS RELATING TO EMBEDDED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY

Номер патента: US20150233785A1. Автор: Liu Yunqu,Leong Kin-Wai. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

METHOD AND SYSTEM FOR AN ULTIMATELY FAST FREQUENCY-SCANNING BRILLOUIN OPTICAL TIME DOMAIN ANALYZER

Номер патента: US20160273998A1. Автор: Tur Moshe,SOVRAN Ido,MOTIL Avi. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

Frequency-scanned optical time domain reflectometry

Номер патента: US20100014071A1. Автор: Arthur H. Hartog. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2010-01-21.

Frequency-scanned optical time domain reflectometry

Номер патента: GB201100730D0. Автор: . Владелец: Schlumberger Holdings Ltd. Дата публикации: 2011-03-02.

Fast brillouin optical time domain analysis for dynamic sensing

Номер патента: US8982340B2. Автор: Moshe Tur,Yair PELED. Владелец: Ramot at Tel Aviv University Ltd. Дата публикации: 2015-03-17.

Chaos light time domain reflectometer and measuring method thereof

Номер патента: CN101226100A. Автор: 王云才,王冰洁,王安帮,贺虎成. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2008-07-23.

Optical time-domain reflectometry.

Номер патента: ES2001244A6. Автор: Martin Peter Gold,Hartog Arthur Harold,Adrisan Philip Leach. Владелец: York Ltd. Дата публикации: 1988-05-01.

Method of evaluating fiber PMD using polarization optical time domain reflectometry

Номер патента: US6946646B2. Автор: Xin Chen,Eric J. Mozdy,Timothy L. Hunt,Nicol A. Heron,Darren A. Stainer. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2005-09-20.

Time domain reflectometer

Номер патента: GB2163315B. Автор: Masafumi Souma. Владелец: Iwatsu Electric Co Ltd. Дата публикации: 1987-11-11.

Optical time-domain reflectometry apparatus

Номер патента: EP0502422B1. Автор: Fumio Wada. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 1996-05-22.

Method of evaluating fiber pmd using polarization optical time domain reflectometry

Номер патента: WO2004045113A3. Автор: Xin Chen,Timothy L Hunt,Nicol A Heron,Eric J Mozdy,Darren A Stainer. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2004-07-08.

System and Method for Optical Time Domain Reflectometry Using Multi-Resolution Code Sequences

Номер патента: US20090027656A1. Автор: Ram M. Engira,Hongbin Zhang,Ralph Brian Jander,Charles Breverman. Владелец: Tyco Telecommunication US Inc. Дата публикации: 2009-01-29.

System and method for optical time domain reflectometry using multi-resolution code sequences

Номер патента: EP2193354A4. Автор: Hongbin Zhang,Charles Breverman,Ralph B Jander,Ram M Engira. Владелец: TYCO ELECTRONICS SUBSEA COMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2014-04-09.

Method and system for an ultimately fast frequency-scanning brillouin optical time domain analyzer

Номер патента: IL244710A0. Автор: Moshe Tur,Ido SOVRAN,Avi Motil. Владелец: Avi Motil. Дата публикации: 2016-07-31.

Time domain reflectometer

Номер патента: WO1988002578A1. Автор: Sadeg Mustafa Faris,Stephen R. Whiteley. Владелец: Hypres, Incorporated. Дата публикации: 1988-04-07.

APPARATUS AND METHOD FOR OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY

Номер патента: US20180045890A1. Автор: Takeuchi Kenichiro,Lu Haiguang,Peralta Rhaniel,Lachica Glenn,Balinos Marlene Gizelle M.,Lumantes Anita L.,Entico Erika Mae A.. Владелец: GO!FOTON HOLDINGS, INC.. Дата публикации: 2018-02-15.

Optical time domain reflectometer and method for measuring an optical cable

Номер патента: KR100796313B1. Автор: 박재홍. Владелец: 재단법인서울대학교산학협력재단. Дата публикации: 2008-01-21.

Automatic optical link calibration with channel holders

Номер патента: EP3738225A1. Автор: Choudhury A. AL SAYEED,Scott Kohlert,David C. Bownass,Dave Atkinson. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2020-11-18.

Systems and methods for tuning and measuring a device under test using machine learning

Номер патента: US20240235669A1. Автор: KAN Tan,John J. Pickerd,Heike Tritschler,Evan Douglas Smith,Williams Fabricio Flores Yepez. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for measuring characteristics of a transmitter unit of a device under test, test system and radio frequency device

Номер патента: US20180175948A1. Автор: Paul Gareth Lloyd. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-06-21.

Test system and method for testing a device under test

Номер патента: US20210175984A1. Автор: Baris GUEZELARSLAN,Dominik Hettich,Bledar Karajani,Adrian CARDALDA-GARCIA,Magdalena Poellmann,Kurt Loupal,Matthias Ruttmann. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-10.

Test system and method for testing a device under test

Номер патента: EP3832911A2. Автор: Baris GUEZELARSLAN,Dominik Hettich,Bledar Karajani,Adrian CARDALDA-GARCIA,Magdalena Poellmann,Kurt Loupal,Matthias Ruttmann. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-09.

Apparatus and method for non-determinative testing using unscripted communications between a network simulator and an equipment under test

Номер патента: US09774407B2. Автор: Michael O'gara,Colin Hudson. Владелец: Keysight Technologies Singapore Holdings Pte Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Determination of optical properties of a device under test in both directions in transmission and in reflection

Номер патента: EP1468262A1. Автор: Peter Thoma,Ralf Stolte,Patrick Ziegler. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-10-20.

Automatic optical link calibration with channel holders

Номер патента: US20210281346A1. Автор: David Atkinson,Choudhury A. AL SAYEED,Scott Kohlert,David C. Bownass. Владелец: Ciena Corp. Дата публикации: 2021-09-09.

Testing of transmitters for communication links by software simulation of reference channel and/or reference receiver

Номер патента: EP1829252B1. Автор: Norman L. Swenson,Paul Voois,Tom Lindsay,Steve Zeng. Владелец: Clariphy Communications Inc. Дата публикации: 2011-10-12.

Online traffic volume monitoring system and method based on phase-sensitive optical time domain reflectometry

Номер патента: US09679478B2. Автор: Huijuan Wu,Hanyu Li,Yunjiang Rao,Ya Qian. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2017-06-13.

QUAD OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)

Номер патента: US20140152979A1. Автор: Prescott Scott,Eddy Dale,FLORA Dennis,FANG Jianxun. Владелец: AFL TELECOMMUNICATIONS LLC. Дата публикации: 2014-06-05.

Optical time domain reflectometer and current voltage converter for use therein

Номер патента: US5123732A. Автор: Michael Fleischer-Reumann,Siegfried Gross. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1992-06-23.

PHASE ANALOG COHERENT DEMODULATION SYSTEM AND METHOD FOR PHASE SENSITIVE OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY

Номер патента: US20200021365A1. Автор: LIU HANGJIE,XIE YIMIN,HU YIBO. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-16.

STATE OF POLARIZATION SENSITIVE COHERENT OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY

Номер патента: US20220303014A1. Автор: Mertz Pierre,Maher Robert,Sun Han Hennry. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

Measurement system and method of measuring a device under test

Номер патента: US20220155369A1. Автор: Sascha Kunisch,Philipp Weigell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-05-19.

Automated testing of digital keys for vehicles

Номер патента: US20240193057A1. Автор: Adam M. Bar-Niv. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-13.

Automated testing of digital keys for vehicles

Номер патента: WO2024123595A1. Автор: Adam M. Bar-Niv. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-06-13.

Temperature control and method for devices under test and image sensor-testing apparatus having the system

Номер патента: US11932498B2. Автор: Chin-Yi Ouyang,Chin-Yuan KUO,Chang-Jyun HE,Yung-Fan CHU. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Measurement system and method of measuring a device under test

Номер патента: US11821948B2. Автор: Sascha Kunisch,Philipp Weigell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-21.

Method for determining a junction temperature of a device under test and method for controlling a junction temperature of a device under test

Номер патента: US20200326366A1. Автор: Choon Leong Lou,Yi Ming Lau. Владелец: STAr Technologies Inc. Дата публикации: 2020-10-15.

Method of verifying integrity of data from a device under test

Номер патента: US20240370588A1. Автор: Kari Vierimaa,Miika NIIRANEN,Antti HUOPANA. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Using an optical interface between a device under test and a test apparatus

Номер патента: US09948927B2. Автор: Rolf H. KUEHNIS,Patrik Eder. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Concept for extracting a signal being exchanged between a device under test and an automatic test equipment

Номер патента: US09568498B2. Автор: Jose Antonio Alves Moreira,Marc Moessinger. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Method for de-embedding a device-under-test

Номер патента: US09841458B2. Автор: Hsiu-Ying Cho. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Circuits and methods of testing a device under test using the same

Номер патента: US09772366B2. Автор: Chi-Feng Huang,Chia-Chung Chen,Victor Chiang Liang,Shuo-Chun Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

System and method for providing test scenario reproduction for a device under test

Номер патента: US10397386B1. Автор: Haoxiang Zhang,Keren He. Владелец: Marvell International Ltd. Дата публикации: 2019-08-27.

Method and apparatus used for testing a device under test

Номер патента: US10877066B2. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-12-29.

System and method for converging current with target current in device under test

Номер патента: US09547035B2. Автор: Masaharu Goto,Katsuhito Iwasaki,Tomonori Ura. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Method and apparatus for testing a security of communication of a device under test

Номер патента: US20180034845A1. Автор: Christian Hof,Stefan Diebenbusch,Christoph NUFER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-01.

Over-the-air measurement system and method of testing a device under test over-the-air

Номер патента: US11782082B2. Автор: Corbett Rowell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-10-10.

Method and apparatus for testing a security of communication of a device under test

Номер патента: US20180034844A1. Автор: Christian Hof,Stefan Diebenbusch,Christoph NUFER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-01.

Over-the-air measurement system and method of testing a device under test over-the-air

Номер патента: EP4033260A1. Автор: Corbett Rowell. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-27.

Method and system for automated testing of web service APIs

Номер патента: US11768759B2. Автор: Ashish Mani Tiwari,Brijendra Sharma. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Method and system for performing user interface verification of a device under test

Номер патента: US20190303275A1. Автор: Selvaraj Thangaraj,Siva Sakthivel Sadasivam. Владелец: HCL Technologies Ltd. Дата публикации: 2019-10-03.

Efficient temperature forcing of semiconductor devices under test

Номер патента: US09736962B2. Автор: Eyal Simhon,Lior YOSEF. Владелец: MD Mechanical Devices Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Two-step interconnect testing of semiconductor dies

Номер патента: US09678142B2. Автор: Erik Jan Marinissen,Julien Ryckaert,Dimitri Linten. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2017-06-13.

Using parametric measurement units as a source of power for a device under test

Номер патента: WO2006066112A2. Автор: Ernest P. Walker,Ronald A. Sartschev. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2006-06-22.

Wave length packing device (variants) and automatic optical telephone exchange

Номер патента: RU2308820C1. Автор: Владимир Моисеевич Дворецкий,Владимир Моисеевич Дворецкий (RU). Владелец: Владимир Моисеевич Дворецкий. Дата публикации: 2007-10-20.

Apparatus and a method for measuring a device current of a device under test

Номер патента: US11821944B2. Автор: Josef-Paul Schaffer,Joost Adriaan Willemen. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-11-21.

System and method for aligning a measurement antenna suitable for radio frequency measurement of an antenna under test

Номер патента: US20210356516A1. Автор: Steffen Neidhardt,Daniel Markert,Corbett Rowell,Josef Schmoeller. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-11-18.

Methods and systems for providing a secondary reference for evaluation of wireless power measuring accuracy, and for evaluating a power measuring accuracy of a wireless power measurement device under test

Номер патента: US11959992B2. Автор: Laurens Swaans,Max Andersson,Arianna Amaya. Владелец: ELECTDIS AB. Дата публикации: 2024-04-16.

Methods and systems for providing a secondary reference for evaluation of wireless power measuring accuracy, and for evaluating a power measuring accuracy of a wireless power measurement device under test

Номер патента: US20230393227A1. Автор: Laurens Swaans,Max Andersson,Arianna Amaya. Владелец: ELECTDIS AB. Дата публикации: 2023-12-07.

Methods and systems for providing a secondary reference for evaluation of wireless power measuring accuracy, and for evaluating a power measuring accuracy of a wireless power measurement device under test

Номер патента: WO2022238498A1. Автор: Laurens Swaans,Max Andersson,Arianna Amaya. Владелец: ELECTDIS AB. Дата публикации: 2022-11-17.

Automated testing of user interfaces requiring a time-based one-time password (totp)

Номер патента: US20240338308A1. Автор: Eyal Jakob,Constantine Adarchenko,Vladyslav Voloshyn. Владелец: MICRO FOCUS LLC. Дата публикации: 2024-10-10.

Circuits and methods of testing a device under test using the same

Номер патента: US20160252558A1. Автор: Chi-Feng Huang,Chia-Chung Chen,Victor Chiang Liang,Shuo-Chun Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Using parametric measurement units as a source of power for a device under test

Номер патента: EP1825280A2. Автор: Ernest P. Walker,Ronald A. Sartschev. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2007-08-29.

System and method for auto-configuration of devices in BIM using bluetooth low energy devices

Номер патента: US09728021B2. Автор: Viswanathan Chatapuram KRISHNAN,Dharmalingam Vediappan,Satheesh Babu Moses. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Set top boxes under test

Номер патента: US09491454B1. Автор: Dinesh Kumar,Samant Kumar,Shivashankar Diddimani,Gunjan Samaiya. Владелец: Contec LLC. Дата публикации: 2016-11-08.

Measurement system for testing a system under test as well as measurement setup

Номер патента: EP3705898A1. Автор: Mahmud NASEEF,Christian Reimer. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-09-09.

Method and system for the testing of an antenna comprising a plurality of radiating elements

Номер патента: CA3056196C. Автор: Luc Duchesne,Nicolas Gross,Ludovic Durand. Владелец: MVG Industries SA. Дата публикации: 2023-09-19.

System under test analysis method to detect deficiencies and/or auto-corrections

Номер патента: US11947434B2. Автор: Raymond Hicks,Ryan Michael Pisani,Thomas James McNeela. Владелец: UncommonX Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

System and method for testing of automated contact center customer response systems

Номер патента: US11863507B2. Автор: Michael MONEGAN,Thomas Fejes. Владелец: Cyara Solutions Pty Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Flash testing of photovoltaic modules with integrated electronics

Номер патента: US9735730B2. Автор: Ravindranath Naiknaware. Владелец: SunPower Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

System and method for testing of automated contact center customer response systems

Номер патента: US20200228476A1. Автор: Michael MONEGAN,Thomas Fejes. Владелец: Cyara Solutions Pty Ltd. Дата публикации: 2020-07-16.

System and method for testing of automated contact center customer response systems

Номер патента: US20220321512A1. Автор: Michael MONEGAN,Thomas Fejes. Владелец: Cyara Solutions Pty Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Control of a user device under wet conditions

Номер патента: US20220353360A1. Автор: Mohamed Ahmed,Raj Kumar,Xin Fan,David Chandler,Kostadin Dimitrov Djordjev,Suhail Jalil,Lennart Karl-Axel Mathe,Masoud Roham,Sandeep Louis D'Souza,Vadim Winebrand,Nathan Felix Altman,Livingstone Song,Syed Fawad AHMAD,Deep BHATIA. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-11-03.

Control of a user device under wet conditions

Номер патента: WO2021045837A1. Автор: Mohamed Ahmed,Raj Kumar,Xin Fan,David Chandler,Kostadin Dimitrov Djordjev,Suhail Jalil,Lennart Karl-Axel Mathe,Masoud Roham,Sandeep Louis D'Souza,Vadim Winebrand,Nathan Felix Altman,Livingstone Song,Syed Fawad AHMAD,Deep BHATIA. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-03-11.

Unused parameters of application under test

Номер патента: US09846781B2. Автор: Sasi Siddharth Muthurajan,Nidhi Govindram Kejriwal,Ronald Joseph Sechman. Владелец: ENTIT SOFTWARE LLC. Дата публикации: 2017-12-19.

Fire source detection method and device under condition of small sample size and storage medium

Номер патента: US20230188671A1. Автор: Yun Feng,Jie Chen,HAITAO Wang,Bing Li,Zhixiang Huang,Zihan Cheng,Jianming LV,Huiyao Wan. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-06-15.

System and method for testing a radar under test

Номер патента: US11899098B2. Автор: Steffen Neidhardt,Yassen Stefanov Mikhailov. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-13.

Control of a user device under wet conditions

Номер патента: US20210067623A1. Автор: Mohamed Ahmed,Raj Kumar,Xin Fan,David Chandler,Kostadin Dimitrov Djordjev,Suhail Jalil,Lennart Karl-Axel Mathe,Masoud Roham,Sandeep Louis D'Souza,Vadim Winebrand,Nathan Felix Altman,Livingstone Song,Syed Fawad AHMAD,Deep BHATIA. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

Testing of passive optical components

Номер патента: US20130229648A1. Автор: David Zhi Chen. Владелец: VERIZON PATENT AND LICENSING INC. Дата публикации: 2013-09-05.

Method for microbeam ion radiation testing of photonic devices

Номер патента: US5406072A. Автор: Edward W. Taylor. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 1995-04-11.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND DISPLAY METHOD OF OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20170160894A1. Автор: MIYAKE Yasuhiro,MURAKAMI Taichi. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

OPTICAL INTEGRATED DEVICE AND OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20210333169A1. Автор: LV Hai-Feng,WANG Zhong-Sheng. Владелец: Molex, LLC. Дата публикации: 2021-10-28.

Based on Bragg grating and the optical fiber sensing system of optical time domain reflectometer

Номер патента: CN104011508B. Автор: S·H·陈,L·塞维纳兹. Владелец: Ecole Polytechnique Federale de Lausanne EPFL. Дата публикации: 2016-11-02.

Fiber sensing system based on a bragg grating and optical time domain reflectometry

Номер патента: US09651418B2. Автор: Luc Thevenaz,Sang Hoon Chin. Владелец: Ecole Polytechnique Federale de Lausanne EPFL. Дата публикации: 2017-05-16.

Method for detection of tunnel excavation by brillouin optical time domain reflectometry

Номер патента: US20120130930A1. Автор: Assaf Klar,Raphael LINKER. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-05-24.

DISTRIBUTED DYNAMIC STRAIN FIBER OPTICS MEASUREMENT BY BRILLOUIN OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETRY

Номер патента: US20190195665A1. Автор: Li Bo,Yan Jize,YU Yifei,SOGA Kenichi,Luo Linqing. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2019-06-27.

Fiber sensing system based on a bragg grating and optical time domain reflectometry

Номер патента: US20140375980A1. Автор: Luc Thevenaz,Sang Hoon Chin. Владелец: Ecole Polytechnique Federale de Lausanne EPFL. Дата публикации: 2014-12-25.

Method and apparatus using polarisation optical time domain reflectometry for security applications

Номер патента: AU2004202903A1. Автор: Francis M Haran. Владелец: Senstar Stellar Corp. Дата публикации: 2005-01-20.

Second order raman assisted optical time-domain reflectometer

Номер патента: MY184938A. Автор: Kok Hann Fong,Ismail Bin Abdan Mohd,Aliff Farhan bin Musa Mohd,Khairi Kharina,Hamzah Zulkifli,Lambak Zainuddin. Владелец: Telekom Malaysia Berhad. Дата публикации: 2021-04-30.

Phase-sensitive optical time-domain reflectometer based on linear frequency-modulation pulse and measurement method of phase-sensitive optical time-domain reflectometer

Номер патента: CN106643832A. Автор: 陈曦,董永康,刘昌霞. Владелец: Anshan Realphotonics Technology Co ltd. Дата публикации: 2017-05-10.

Wireless coupling for rf calibration and testing of wireless transmitters and receivers

Номер патента: WO2015089121A2. Автор: Alexandre Dupuy,Patrick Antoine RADA,Jonathan Neil Bringuier,Richard Olesco,Grant Kumataka. Владелец: DOCKON AG. Дата публикации: 2015-06-18.

INTEGRATED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20130208264A1. Автор: Ahadian Joseph F.,Kuznia Charles B.,Hagan Richard T.,Pommer Richard J.. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-15.

OPTICAL FIBER MECHANICAL BEND STRESS TEST SYSTEM WITH OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20140233019A1. Автор: Chen David Zhi. Владелец: VERIZON PATENT AND LICENSING, INC.. Дата публикации: 2014-08-21.

High-spectral Rayleigh-Brillouin optical time-domain reflectometer capable of simultaneously detecting temperature and stress

Номер патента: CN105890797A. Автор: 夏海云,上官明佳,窦贤康,薛向辉. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2016-08-24.

A kind of Brillouin optical time-domain reflectometer of physical random number modulation

Номер патента: CN109297425A. Автор: 刘昕,王东,高妍,王宇,张建国,张红娟,靳宝全,王云才,白清,田振东,郭凌龙,谷行. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-02-01.

Multiplexing fiber-optic gas sensing system based on weak optical fiber Bragg grating and optical time domain reflectometer

Номер патента: CN107478577A. Автор: 刘庆文,何祖源,樊昕昱,苏坷. Владелец: JIANGSU ZHONGNENG PHOTOELECTRIC TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-15.

Multiple light courcess phase sensitive optical time domain reflectometer and its method

Номер патента: CN108519147A. Автор: 刘航杰,谢怡敏,胡逸波. Владелец: Zhejiang Jacu Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-11.

Brillouin optical time domain reflectometer based on double-sideband modulation

Номер патента: CN114088124A. Автор: 陈浩宇,张宇阳,路元刚,彭楗钦,吴童舒. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2022-02-25.

A kind of adopt Random Laser to amplify polarization and phase sensitive optical time domain reflectometer

Номер патента: CN103152097B. Автор: 饶云江,冉曾令,王子南. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2015-10-21.

Based on position phase optical time domain reflectometer and optical fiber dipulse differential type perturbation detector

Номер патента: CN107860461B. Автор: 杨月,吕月兰. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2019-11-12.

A kind of high spatial resolution Brillouin optical time-domain reflectometer and method of work

Номер патента: CN105444794B. Автор: 张平,袁明,李立功,闫继送,代彬,吴寅初. Владелец: CETC 41 Institute. Дата публикации: 2018-02-06.

Bipolar differential phase encoding ultra-high spatial resolution brillouin optical time domain reflectometer

Номер патента: WO2021134747A1. Автор: 关柏鸥,程凌浩,马祥杰,朱金顶. Владелец: 暨南大学. Дата публикации: 2021-07-08.

Systems and methods for optical time domain reflectometry based distributed acoustic sensing using delayed optical pulses

Номер патента: WO2024121840A1. Автор: Nadav ARBEL,Avishay Eyal,Eran BURSTEIN. Владелец: Ramot at Tel-Aviv University Ltd.. Дата публикации: 2024-06-13.

Method for non-destructive testing of optical fiber strength

Номер патента: RU2758340C1. Автор: Владимир Александрович Бурдин,Антон Владимирович Бурдин,Михаил Викторович Дашков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Поволжский государственный университет телекоммуникаций и информатики". Дата публикации: 2021-10-28.

Test device for electrical testing of an electrical device under test

Номер патента: DE102013010934A1. Автор: Ulrich Gauss,Stefan Treuz,Joachim Neubauer,Jürgen Haap. Владелец: FEINMETALL GMBH. Дата публикации: 2015-01-15.

Brillouin optical time domain scattering system based on optical flight time and self-calibration method

Номер патента: CN114812855A. Автор: 张成先,林宗强,何嘉骥. Владелец: PINGHU BOHUI COMMUNICATION TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-29.

Time-Domain Reflectometer for Testing Coaxial Cables

Номер патента: CA2152831A1. Автор: Stephen M. Ernst,Gordon A. Jensen. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-01-09.

A double reference line calibrate method for calibrating characteristic impedance in time domain of a Time Domain Reflectometer

Номер патента: NL2025865B1. Автор: Wen Hong,CAO YONG,LUO QI,Tu Yang,Chen Changwei. Владелец: Univ Electronic Sci & Tech China. Дата публикации: 2021-04-20.

Responsive pacemaker with time domain reflectometer and method of use

Номер патента: US5251622A. Автор: Jack R. Robson. Владелец: Random Tech Inc. Дата публикации: 1993-10-12.

TIME CORRECTED TIME-DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20170023628A1. Автор: Peeters Weem Jan P.. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

Switched load time-domain reflectometer de-embed probe

Номер патента: US20150084655A1. Автор: KAN Tan,John J. Pickerd. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2015-03-26.

Time-domain reflectometer de-embed probe

Номер патента: US20150084660A1. Автор: Daniel G. Knierim,Barton T. Hickman. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2015-03-26.

EXTINCTION RATIO FREE PHASE SENSITIVE OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY BASED DISTRIBUTED ACOUSTIC SENSING SYSTEM

Номер патента: US20210140814A1. Автор: AKTAS Metin,AKGUN Toygar. Владелец: ASELSAN ELEKTRONIK SANAYI VE TICARET ANONIM SIRKETI. Дата публикации: 2021-05-13.

On-line time domain reflectometer system

Номер патента: US20150160283A1. Автор: William R. Stagi,Nelson Hall. Владелец: Utilx Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

AUTONOMOUSLY POWERED INDUCTIVELY COUPLED TIME DOMAIN REFLECTOMETER SENSOR DEVICE

Номер патента: US20180217195A1. Автор: Folsom Matthew D.,Burkes Klaehn W.. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

AMPLIFIER DYNAMICS COMPENSATION FOR BRILLOUIN OPTICAL TIME-DOMAIN REFLECTOMETRY

Номер патента: US20200370928A1. Автор: Huang Yue-Kai,Ip Ezra. Владелец: NEC LABORATORIES AMERICA, INC. Дата публикации: 2020-11-26.

Two-point synchronous vibration measuring method based on polarization optical time-domain reflection technology

Номер патента: CN105651373A. Автор: 王峰,张旭苹,潘运. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-06-08.

A kind of Brillouin optical time domain analysis system based on Brillouin's phase shift demodulation

Номер патента: CN109974760A. Автор: 张信普,何海军,潘炜,闫连山,李宗雷. Владелец: Ansett Optical Technology Chengdu Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-05.

Switched load time-domain reflectometer de-embed probe

Номер патента: CN104459340A. Автор: J.J.皮克德,K.谭. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2015-03-25.

A kind of water level monitoring device and monitoring method based on plastic optical fiber optical time domain reflection

Номер патента: CN108981855A. Автор: 李慧,朱茜,李涧鸣,包腾飞,高瑾瑾,曹恩华,朱征,刘甲奇. Владелец: Hohai University HHU. Дата публикации: 2018-12-11.

Phase sensitive optical time domain reflection distributed optical fiber sensing system method for rapidly positioning

Номер патента: CN107101658B. Автор: 陈健,张俊杰,李迎春,庞拂飞,王廷云,梅烜玮,吕龙宝,刘奂奂,宋英雄. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-10-11.

Phase sensitive optical time domain reflection fiber sensing system positioning method

Номер патента: CN105466548A. Автор: 庞拂飞,王廷云,张小贝,贺梦婷,梅煊玮. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2016-04-06.

Vibration signal detection method based on phase-sensitive optical time domain reflection system

Номер патента: CN111157097B. Автор: 王东,王宇,张明江,靳宝全,邹捷. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-07-12.

Pre-pumped pulse and Gray code based BOTDA (Brillouin Optical Time Domain Analysis) instrument

Номер патента: CN105675031A. Автор: 陈伟,胡晓阳,孙世林,王建飞,孟洲,孙乔,陈默,涂晓波,陈羽. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY. Дата публикации: 2016-06-15.

Sensing device and method based on super-continuum spectrum Brillouin optical time domain analyzer

Номер патента: CN110375800B. Автор: 王涛,李健,张建忠,吴星亮,张晓程,张明江,乔丽君,李梦文. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-03-02.

Fiber Optic Brillouin OTDA(Optical Time Domain Analysis) Sensor System and the Strain Measurement Method of Large Structures

Номер патента: KR100468612B1. Автор: 최만용,권일범,김치엽,윤선업. Владелец: 주식회사 세기엔지니어링. Дата публикации: 2005-01-27.

Dynamic Brillouin optical time domain analysis system based on pump pulse frequency sweep

Номер патента: CN107764297B. Автор: 朱涛. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2020-06-09.

The distribution type optical fiber sensing equipment and method of single-ended chaos Brillouin optical time domain analysis

Номер патента: CN105784195B. Автор: 刘毅,张建忠,张明涛,张明江,王云才,冯昌坤,李铸平. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-06.

Method for improving disturbance detection signal-to-noise ratio of phase sensitive optical time domain reflection sensing system

Номер патента: CN110608760A. Автор: 余志华,莫代力. Владелец: China University of Geosciences. Дата публикации: 2019-12-24.

Time-domain reflectometer.

Номер патента: NL2002665A1. Автор: Stephen Paul Maslen. Владелец: Radiodetection Ltd. Дата публикации: 2009-09-28.

On-line time domain reflectometer system

Номер патента: AU2010270948B2. Автор: William R. Stagi,Nelson Hall. Владелец: Utilx Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

time domain reflectometer

Номер патента: DE102009014781A1. Автор: Stephen Paul Frome Maslen. Владелец: Radiodetection Ltd. Дата публикации: 2009-10-01.

Time-domain reflectometer for connecting network cable at test end

Номер патента: CN100409020C. Автор: T·K·博利. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2008-08-06.

Two channel-time-domain-reflectometer

Номер патента: JPS6324172A. Автор: アゴストン・アゴストン,ジョン・ビー・レティグ,スタンレー・ピー・カベキス,ジョン・イー・カールソン,アンドリュー・イー・フィンクバイナー. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1988-02-01.

Apparatus and method for improving a time domain reflectometer

Номер патента: US5461318A. Автор: Marshall B. Borchert,Douglas A. Hartzell,Edward J. Thomassen,Lee M. Rezac. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-10-24.

Phase sensitive optical time domain reflection system with improved dynamic strain measurement range

Номер патента: CN110986814A. Автор: 张信普,何海军,潘炜,周银,闫连山. Владелец: Anjie Guangtong Technology Chengdu Co ltd. Дата публикации: 2020-04-10.

Brillouin optical time domain analysis sensing device and non-local effect compensation method

Номер патента: CN111220189B. Автор: 张信普,何海军,刘灿,潘炜,周银,闫连山. Владелец: Anjie Guangtong Technology Chengdu Co ltd. Дата публикации: 2021-04-13.

Carrier-suppressed optical time domain multiplexing

Номер патента: US20030223462A1. Автор: FENG Shi,Xiaoli Fu,Jinghui Li,Tongqing Wang,Genzao Zhang. Владелец: AR card. Дата публикации: 2003-12-04.

PGC-based phase-sensitive optical time domain reflection system and phase demodulation method

Номер патента: CN113091782B. Автор: 刘铭,张建忠,马喆,张明江,王婷玉. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-04-08.

Sensing device and sensing method based on Brillouin optical time domain analysis

Номер патента: CN114088123A. Автор: 张超,陈科新,姜明武,朱晓非. Владелец: Suzhou Guangge Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-25.

On-line time domain reflectometer system

Номер патента: CA2765194A1. Автор: William R. Stagi,Nelson Hall. Владелец: Utilx Corp. Дата публикации: 2011-01-13.

A kind of Brillouin optical time domain analysis instrument

Номер патента: CN110440841A. Автор: 陈姗,宋雷,曹孟辉. Владелец: WUHAN JUFENG TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-12.

Phase sensitive optical time domain reflection distributed optical fiber sensing system accurate positioning method

Номер патента: CN107167168A. Автор: 陈健,张俊杰,李迎春,庞拂飞,王廷云,梅烜玮,吕龙宝,刘奂奂,宋英雄. Владелец: UNIVERSITY OF SHANGHAI FOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-09-15.

Characteristic impedance time domain double reference line calibration method of time domain reflectometer

Номер патента: CN111352060B. Автор: 曹勇,文红,陈长伟,罗奇,涂杨. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2020-10-27.

A kind of phase sensitive optical time domain reflection system of the detection that is concerned with based on double homologous heterodyne

Номер патента: CN106482822A. Автор: 王旭,张瑾,于淼,白杨,崔洪亮,付群健,刘珉含. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2017-03-08.

Time domain reflectometer for testing coaxial cables

Номер патента: DE69527895T2. Автор: Stephen M Ernst,Gordon A Jensen. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2003-04-10.

Dynamic Brillouin optical time domain analysis system based on pumping pulse frequency sweep

Номер патента: CN107764297A. Автор: 朱涛. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2018-03-06.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: GB2416588B. Автор: Arthur Harold Hartog,Peter Collison Wait. Владелец: Sensor Highway Ltd. Дата публикации: 2006-06-21.

Time domain reflectometer

Номер патента: US9429613B1. Автор: Marshall B. Borchert. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-08-30.

Extinction ratio free phase sensitive optical time domain reflectometry based distributed acoustic sensing system

Номер патента: CA3104086C. Автор: Toygar Akgun,Metin AKTAS. Владелец: Aselsan Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2023-08-01.

Extinction ratio free phase sensitive optical time domain reflectometry based distributed acoustic sensing system

Номер патента: EP3833943B1. Автор: Toygar Akgun,Metin AKTA. Владелец: Aselsan Elektronik Sanayi ve Ticaret AS. Дата публикации: 2023-10-04.

Test system and method for testing multiple devices under test simultaneously

Номер патента: US09949154B2. Автор: Thomas Lutz,Franz Obermayr,Jens VOLKMANN. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-04-17.

Test arrangement and test method for a beamsteered wireless device under test

Номер патента: US09991591B1. Автор: Corbett Rowell,Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-06-05.

Error rate test method and test system for testing a device under test

Номер патента: US20210266243A1. Автор: Meik Kottkamp,Niels Petrovic,Bledar Karajani. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-08-26.

Method for testing a device under test, electronic device, and measurement unit

Номер патента: US09955371B1. Автор: Heinz Mellein,Thorsten Hertel,Johannes KOEBELE. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-04-24.

Method of measuring a total radiated power of a device under test as well as test system

Номер патента: US20210258084A1. Автор: Vincent Abadie. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-08-19.

Measurement system and testing method of testing a device under test

Номер патента: US20240142345A1. Автор: Paul Gareth Lloyd. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-02.

Method and apparatus for an accurate determination of a transfer function of a device under test

Номер патента: US20240348345A1. Автор: Andreas LÄGLER,Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-17.

System and method for facilitating comparison of radio frequency (RF) data signals transmitted by a device under test (DUT) and received by a test system

Номер патента: US09325435B2. Автор: Christian Volf Olgaard,Jonathan Barry Hirst,Wing Hung Lee. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2016-04-26.

Method and apparatus for determining the group delay caused by a device under test

Номер патента: EP1515147A1. Автор: Jochen Kraus,Cornelis Jan Kikkert. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2005-03-16.

Testing device and method for testing a device under test with respect to its beamforming behavior

Номер патента: US20180139633A1. Автор: Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-05-17.

Method and measuring apparatus for measuring noise of device under test

Номер патента: US11356185B1. Автор: Liang-Wei Huang,Hsuan-Ting Ho,Kuei-Ying LU,Kai-Yue Lin. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2022-06-07.

Signal generator, method and test system for testing a device under test

Номер патента: US20180152371A1. Автор: Stefan Maier,Adrian CARDALDA-GARCIA. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-05-31.

System and method for confirming radio frequency (rf) signal connectivity with device under test (dut)

Номер патента: US20140256269A1. Автор: Theodoros Kamakaris. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

Method and Device for Structural Fatigue Life Testing of Bearings

Номер патента: US20230266200A1. Автор: He Zhu,Meng Zhang,Xingzheng LI,Keqlang Cao,Yenfeng Chen. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-08-24.

Temperature or strain distribution sensor comprising a coherent receiver to determine a temperature or a strain associated with a device under test

Номер патента: US09983094B2. Автор: Vincent Lecoeuche. Владелец: VIAVI SOLUTIONS INC. Дата публикации: 2018-05-29.

Method and apparatus for obtaining the distance from an optical measurement instrument to an object under test

Номер патента: CA2669336C. Автор: Daniel R. Neal,C. David Baer,Richard James Copland,David Austin Neal. Владелец: AMO Wavefront Sciences LLC. Дата публикации: 2015-08-04.

Method and system for the automatic optical inspection of a tread profile of at least one wheel of a vehicle

Номер патента: US09459092B2. Автор: Marc Luther,Klaudia Nojek. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-10-04.

Measurement arrangement, measurement setup, measurement system and method for determining a beamforming characteristic of a device under test

Номер патента: WO2023025403A1. Автор: Jochen Zaiser,Jose Moreira,Aritomo Kikuchi,Max NEUWEILER. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-03-02.

System and method for testing a device under test (dut) capable of determining relative times of arrival or angles of arrival of multiple radio frequency signals

Номер патента: WO2019147305A1. Автор: Christian Volf Olgaard,Yen-fang Chao. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-01.

Method for dynamic testing of helical compression springs and device for its implementation

Номер патента: RU2705918C1. Автор: Андрей Николаевич Скворцов. Владелец: Андрей Николаевич Скворцов. Дата публикации: 2019-11-12.

Device for pressure test of pipeline

Номер патента: RU2387967C2. Автор: Дэвид Б. ЙОСТ,Брайан Дж. ФИЛДИНГ. Владелец: Эксонмобил Апстрим Рисерч Компани. Дата публикации: 2010-04-27.

System and method for triggering a device under test via RF leakage

Номер патента: US8995513B1. Автор: Craig E. Rupp,Roman R. Sandoval,William G. Reid,Jaffar Shah,Paulo A. Lamas De Anda. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2015-03-31.

Interface system for automatic operation of radiophone and auxiliary devices under mobile office conditions

Номер патента: RU2190938C2. Автор: Томас Джозеф КАРПУС,Патрик Ханс ЛИЛДЖА. Владелец: Эрикссон, Инк.. Дата публикации: 2002-10-10.

Device and system for validation and modification of device state transitions for an aerosol generation device

Номер патента: US12070082B2. Автор: Keith Anderson,Sean Lukan,Robert Logan GARRIS,Jim MARTING,Sean Daugherty,Austin CARPENTER,Spencer MOUGEY. Владелец: RAI Strategic Holdings Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Hydraulic bench for tests of strength hulls of deep-water crafts

Номер патента: RU2734997C1. Автор: Валерий Викторович Лычев,Людмила Николаевна Савина,Максим Юрьевич Гаршин. Владелец: Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-Морского Флота "Военно-морская академия им. Адмирала Флота Советского Союза Н.Г. Кузнецова". Дата публикации: 2020-10-27.

Life cycle testing of swivel joints

Номер патента: US5753799A. Автор: Jayesh Shah. Владелец: Assen Exports Inc. Дата публикации: 1998-05-19.

Testing of radio equipment

Номер патента: US11777617B2. Автор: Kari Vierimaa. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Pull testing inspection tools for wires or other components under test

Номер патента: US20220244150A1. Автор: John A. Cogliandro,Richard M. Pinti,Heather A. Adams. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2022-08-04.

Coupler arrangement for isolation arrangement for gear assembly under test

Номер патента: EP1092136B1. Автор: James C. Juranitch,Robert D. Olschefski. Владелец: Veri Tek Inc. Дата публикации: 2006-02-22.

Coupler arrangement for isolation arrangement for gear assembly under test

Номер патента: EP1092136A1. Автор: James C. Juranitch,Robert D. Olschefski. Владелец: Veri Tek Inc. Дата публикации: 2001-04-18.

Coupler arrangement for isolation arrangement for system under test

Номер патента: US20050081644A1. Автор: James Juranitch,Robert Olschefski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-21.

Isolation and loading arrangement for differential gear system under test

Номер патента: US20030019285A1. Автор: James Juranitch,Robert Olschefski. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Device for vacuum testing of closed systems

Номер патента: US5372031A. Автор: Brice Harmand. Владелец: Harmand; Brice. Дата публикации: 1994-12-13.

Instruction provider and method for providing a sequence of instructions, test processor and method for providing a device under test

Номер патента: US09983967B2. Автор: Kazi Iftekhar AHMED. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

System and method to copy settings of device to another device, in particular, for copying of settings between lamps

Номер патента: RU2537257C2. Автор: МАХТАНИ Паванкумар М. ДАДЛАНИ,ХЕРК Роберт ВАН. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-12-27.

Method for establishing aging model of device and analyzing aging state of device with aging model

Номер патента: US20190065648A1. Автор: Ting-Sheng Huang,Li-Chung Hsu,Min-Chie Jeng,Ke-Wei Su,Cheng Hsiao,Chung-Kai Lin,Juan-Yi Chen,Ya-Chin Liang,Wai-Kit Lee,Yi-Shun Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Carrier based high volume system level testing of devices with pop structures

Номер патента: US20230062440A1. Автор: Karthik Ranganathan,Samer Kabbani,Gregory Cruzan,Gilberto Oseguera,Ira Leventhal. Владелец: Advantest Test Solutions Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

System and method for electrostatic discharge testing of devices under test

Номер патента: US09599649B2. Автор: Kyung Jin Min,Giorgi Muchaidze,Besarion Chikhradze,David J. Pommerenke,Iuri Kalandarishvili. Владелец: Amber Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Analog switch for measuring sources with semiconductor devices under test

Номер патента: RU2751647C1. Автор: Алексей Михайлович Бабец. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ФОРМ". Дата публикации: 2021-07-15.

Customizable tester having testing modules for automated testing of devices

Номер патента: US09678148B2. Автор: Ben Rogel-Favila,James FISHMAN. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Controlling automated testing of devices

Номер патента: US09618574B2. Автор: Padmaja NALLURI,Ben Rogel-Favila,Kirsten ALLISON. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Method and an apparatus for measuring the input threshold level of device under test

Номер патента: US20070063710A1. Автор: Junichi Miyamoto. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2007-03-22.

Supporting automated testing of devices in a test floor system

Номер патента: US09638749B2. Автор: Ben Rogel-Favila,James FISHMAN. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Method and device for early warning of device under test failure during an electromagnetic compatibility test

Номер патента: US20240377447A1. Автор: Hendrik Bartko,Thomas DIER. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-11-14.

Over-the-air testing of multiple mobile radio devices under test

Номер патента: US20230224733A1. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-07-13.

Over-the-air testing of multiple mobile radio devices under test

Номер патента: US12041471B2. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and system for universal calibration of devices under test

Номер патента: US12085468B2. Автор: Michael J. Brown. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Scalable tester for testing multiple devices under test

Номер патента: US12085606B2. Автор: Albert Gaoiran. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-10.

Collaborative testing of devices or subsections within a network

Номер патента: US11792104B2. Автор: Alexander Gogolev,Abdulkadir KARAAGAC. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-10-17.

Unified measurement system for static and dynamic characterization of a device under test

Номер патента: US20240248131A1. Автор: Gregory Sobolewski. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2024-07-25.

Devices under test

Номер патента: US09778313B2. Автор: Min Chen,Vijay Kumar REDDY. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Multi-configurable testing module for automated testing of a device

Номер патента: US09618570B2. Автор: Ben Rogel-Favila,James FISHMAN. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Automated test equipment, device under test, test setup methods using a trigger line

Номер патента: WO2023078572A1. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Markus BÜCKER,Marcus SCHULZE-WESTENHORST,Thomas Glos. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-05-11.

Method of optimizing cabling of at least one device under test and system for performing tests on at least one device under test

Номер патента: US20240353482A1. Автор: Sebastian Engel,Detlef Wiese,Andrew Schaefer,Kristin SCHWARZMUELLER,Victor ARROYO,RuhUllah SHAH. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-24.

Automated test equipment, device under test, test setup methods using a trigger line

Номер патента: US20240369616A1. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Markus BÜCKER,Marcus SCHULZE-WESTENHORST,Thomas Glos. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Automated test equipment, device under test, test setup methods using an acknowledge signaling

Номер патента: US20240369615A1. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Markus BÜCKER,Marcus SCHULZE-WESTENHORST,Thomas Glos. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Damage reduction method and apparatus for destructive testing of power semiconductors

Номер патента: US09759763B2. Автор: Gary Rogers,Rodney E. Schwartz,David Lohr,Steve Clauter,James Baggiore. Владелец: Integrated Tech Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Test circuit for testing a device-under-test by using a voltage-setting unit to pull an end of the device-under-test to a predetermined voltage

Номер патента: US20170292976A1. Автор: Po-Wei Tsou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-10-12.

Test apparatus that tests a device under test and connecting apparatus that connects a first apparatus and a second apparatus

Номер патента: US7728615B2. Автор: Tetsuya Koishi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Automated test equipment, device under test, test setup methods using a measurement request

Номер патента: US20240369617A1. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Markus BÜCKER,Marcus SCHULZE-WESTENHORST,Thomas Glos. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Test circuit for testing a device-under-test by using a voltage-setting unit to pull an end of the device-under-test to a predetermined voltage

Номер патента: US09939463B2. Автор: Po-Wei Tsou. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Method and apparatus for automated surge stress testing of a device under test using voltage and current waveforms

Номер патента: US09874600B2. Автор: Joseph Milton Yehle,James Henry McGee, JR.. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Handler apparatus that conveys a device under test to a test socket and test apparatus that comprises the handler apparatus

Номер патента: US09606170B2. Автор: Tsuyoshi Yamashita,Mitsunori Aizawa,Yuya Yamada,Masataka ONOZAWA,Hiromitsu Horino. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Tester and method for testing a device under test and tester and method for determining a single decision function

Номер патента: US20190377027A1. Автор: Jochen Rivoir. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Feedforward temperature control of device under test

Номер патента: WO2003040740A2. Автор: Maxat Touzelbaev. Владелец: Advanced Micro Devices, Inc.. Дата публикации: 2003-05-15.

Test system and apparatus for over-the-air testing of devices and antenas

Номер патента: US20240077525A1. Автор: Maan Ghanma,Ekta Budhbhatti,Barry Klinger,Robert Causey. Владелец: UL LLC. Дата публикации: 2024-03-07.

Automated compliance testing of a dut with communication interfaces

Номер патента: US20240275711A1. Автор: YI Jin,Kokmeng Wong. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-15.

Automated compliance testing of a dut with communication interfaces

Номер патента: EP4415324A1. Автор: YI Jin,Kokmeng Wong. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-14.

Method of measuring the am/pm conversion of a device under test

Номер патента: US20200110118A1. Автор: Thilo Bednorz,Werner Held,Walter Weiss,Jan-Patrick Schultheis,Martin LEIBFRITZ. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-04-09.

Universal holding apparatus for holding a device under test

Номер патента: US09851377B2. Автор: Rajashekar DURAI,ChunGuan Tay,Sheheen Muhamed,CheeShen Lau,Shiwei Pang. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Systems and methods for simultaneous optical testing of a plurality of devices under test

Номер патента: EP2630508A1. Автор: Kazuki Negishi,Steve Harris,Eric W. Strid,Bryan Bolt. Владелец: CASCADE MICROTECH INC. Дата публикации: 2013-08-28.

Device and methods for reducing peak noise and peak power consumption in semiconductor devices under test

Номер патента: US20200049765A1. Автор: Jong-Tae Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-02-13.

Method for the adjustment of a device under test

Номер патента: US8049513B2. Автор: Achim Lott. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2011-11-01.

Fault test apparatus and method for testing semiconductor device under test using fault excitation function

Номер патента: US7983858B2. Автор: Hiroshi Takahashi,Takashi Aikyo,Michinobu Nakao,Hideo Ohmae,Yuzo Takamatsu,Yoshinobu Higami,Michiaki Emori. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2011-07-19.

Method for the Adjustment of a Device Under Test

Номер патента: US20090278550A1. Автор: Achim Lott. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2009-11-12.

Probe card for fine pitch circuit probe testing of semiconductor integrated circuit devices and methods of forming the same

Номер патента: US20240272200A1. Автор: Yuan-Li Lin,Hsiao Kang LI,I-Tee LEE. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and system for automated test of multi-media user devices

Номер патента: US09836375B2. Автор: Vladzimir Valakh,Vicente Miranda,Darby Racey,Rafael Villanueva. Владелец: Contec LLC. Дата публикации: 2017-12-05.

Method and system for inline calibration of multiple radio frequency signals fed to the same device under test

Номер патента: US20240353460A1. Автор: Bessem BACCOUCHE. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and apparatus for synchronizing a mode locked laser with a device under test

Номер патента: US5854804A. Автор: Mario J. Paniccia,Paul Winer. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 1998-12-29.

Automated test equipment for testing one or more devices under test, method for automated testing of one or more devices under test, and computer program for handling command errors

Номер патента: US11913990B2. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Alan KRECH. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-02-27.

Device and a Method for the Testing of Electronic Equipment with a Spatially Separate Control Unit

Номер патента: US20150024694A1. Автор: Peter Wolanin. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2015-01-22.

Cost-saving scheme for scan testing of 3D stack die

Номер патента: US12099091B2. Автор: Lu Lu,Lifeng Zhang,Ahmet TOKUZ,Qi SHAO,Songgan Zang. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Systems and methods for storing calibration data of a test system for testing a device under test

Номер патента: US12085613B2. Автор: Shoji Kojima. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Leakage testing of integrated circuits using a logarithmic transducer and a voltmeter

Номер патента: US09696376B2. Автор: Ricardo Pablo Mikalo. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Device and a method for the testing of electronic equipment with a spatially separate control unit

Номер патента: US09661512B2. Автор: Peter Wolanin. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-23.

Structure for transmitting signals in an application space between a device under test and test electronics

Номер патента: US09594114B2. Автор: Roger Allen Sinsheimer. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Method for testing a photonic integrated circuit including a device under test

Номер патента: US09453723B1. Автор: Jean-François Carpentier,Patrick Lemaitre. Владелец: STMicroelectronics Crolles 2 SAS. Дата публикации: 2016-09-27.

Thermal conditioning of electronic devices under test based on extensible elements

Номер патента: EP3969921A1. Автор: Fabrizio Scocchetti. Владелец: ELES Semiconductor Equipment SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Probe systems and methods for testing a device under test

Номер патента: US20210132145A1. Автор: Kazuki Negishi. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

Probe systems and methods for testing a device under test

Номер патента: EP4055394A1. Автор: Kazuki Negishi. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2022-09-14.

In-sync digital waveform comparison to determine pass/fail results of a device under test (dut)

Номер патента: EP4062406A1. Автор: Nermin Osmanovic,Deepak Chand JANGID. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2022-09-28.

In-sync digital waveform comparison to determine pass/fail results of a device under test (dut)

Номер патента: US20240163623A1. Автор: Nermin Osmanovic,Deepak Chand JANGID. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Automated test equipments, handlers and methods for testing a device under test using a test-site specific signaling

Номер патента: WO2022029205A1. Автор: Martin Fischer,Matthias Werner. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-10.

Method of obtaining a repeating scheduling pattern and method of conducting a test on a device under test

Номер патента: US20240276264A1. Автор: Francesco Rossetto. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-15.

Automated test equipment, instruction provider for providing a sequence of instructions, method of providing signal to a device under test, method for providing a sequence of instructions and test system

Номер патента: US09857424B2. Автор: Kazi Iftekhar AHMED. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Oil and oil product spills on the water surface detection and monitoring devices under actual conditions testing method and the method implementation system

Номер патента: RU2662470C1. Автор: Павел Александрович Ревель-Муроз,Сергей Николаевич Чужинов,Александр Эдуардович Гончар,Сергей Алексеевич Половков,Владислав Николаевич Слепнёв. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-исследовательский институт трубопроводного транспорта" (ООО "НИИ Транснефть"). Дата публикации: 2018-07-26.

Method and device for testing of a transistor using a network analyzer

Номер патента: WO2002052287A3. Автор: Steven J Laureanti. Владелец: Ericsson Inc. Дата публикации: 2002-12-05.

Noise detection circuit capable of recognizing noise event occurring in device under test, and related system and method for testing device under test

Номер патента: US20200018784A1. Автор: Chung-Chieh Yang,Tse-Hung Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-01-16.

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING AN INFORMATION ABOUT CHARACTERISTICS OF ONE OR MORE DEVICES UNDER TEST, DUTs, USING A STATISTICALLY SIGNIFICANT DISSIMILARITY VALUE

Номер патента: WO2023126079A1. Автор: Jochen Rivoir. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-07-06.

Testing a device under test by sampling its clock and data signal

Номер патента: US20060247881A1. Автор: Bernd Laquai,Joerg-Walter Mohr. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-11-02.

Universal test interface between a device under test and a test head

Номер патента: US20030090259A1. Автор: James Frame. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-05-15.

Universal test interface between a device under test and a test head

Номер патента: US20020130653A1. Автор: James Frame. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-09-19.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: EP3903111A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-11-03.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: WO2020136045A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2020-07-02.

Method and non-transitory computer-readable medium for performing multiple tests on a device under test

Номер патента: US20230184820A1. Автор: Chang-Hung WU,Chien-Hwa SU. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: US12085588B2. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-09-10.

System and method for calibrating a device-under-test interface

Номер патента: WO2024175211A1. Автор: Shoji Kojima. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement device and method for analyzing a device-under-test

Номер патента: US20240319246A1. Автор: Florian Huber,Florian Galler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement device and method for analyzing a device-under-test

Номер патента: EP4435441A1. Автор: Florian Huber,Florian Galler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-09-25.

Carrier based high volume system level testing of devices with pop structures

Номер патента: US20230197185A1. Автор: Karthik Ranganathan,Samer Kabbani,Gregory Cruzan,Gilberto Oseguera,Ira Leventhal. Владелец: Advantest Test Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Improved measurement system for the testing of high-frequency devices

Номер патента: WO2023237546A1. Автор: Riccardo Vettori,Fabio MORGANA. Владелец: TECHNOPROBE S.P.A.. Дата публикации: 2023-12-14.

Automated test equipment, device under test, test setup methods using a measurement request

Номер патента: WO2023078573A1. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Markus BÜCKER,Marcus SCHULZE-WESTENHORST,Thomas Glos. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-05-11.

Automated test equipment, device under test, test setup methods using an acknowledge signaling

Номер патента: WO2023078571A1. Автор: Klaus-Dieter Hilliges,Olaf PÖPPE,Markus BÜCKER,Marcus SCHULZE-WESTENHORST,Thomas Glos. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-05-11.

Method and measurement system for identifying the noise figure of a device under test

Номер патента: US20200132754A1. Автор: Andreas LÄGLER,Florian Ramian. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-04-30.

Method and system for universal calibration of devices under test

Номер патента: EP4196810A1. Автор: Michael J. Brown. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2023-06-21.

Apparatus for testing a device under test separating errors within a received pattern associated with different functional blocks of a device under test or associated with different blocks of one or more bits, method and computer program

Номер патента: WO2023237565A1. Автор: Michael Braun,Frank Hensel,Ulrich Knoch,Nico Müller,Klaus WELCH,Arndt GERLACH. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2023-12-14.

Method and device for testing of a transistor using a network analyzer

Номер патента: WO2002052287A2. Автор: Steven J. Laureanti. Владелец: ERICSSON INC.. Дата публикации: 2002-07-04.

A pusher for use in an automated test equipment and method for mechanically pushing a device under test into a test socket

Номер патента: WO2024056173A1. Автор: Jan Hesselbarth,Jose Moreira. Владелец: UNIVERSITÄT STUTTGART. Дата публикации: 2024-03-21.

System and Method for Locating a Fault on a Device Under Test

Номер патента: US20110078505A1. Автор: Yulong Chen,Hong Guan,Gaile Lin. Владелец: Zoran Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Probe station capable of maintaining stable and accurate contact to device under test

Номер патента: US20240230754A1. Автор: Yi-Kai Chao. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Tuning chart for devices under test

Номер патента: US20030187603A1. Автор: James Bachmann. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2003-10-02.

A test probe and use of a test probe for measuring a waveform applied to a device under test

Номер патента: GB2583058A. Автор: Negri Antoni,Pearson Jonathan. Владелец: Owlstone Ltd. Дата публикации: 2020-10-21.

Measurement system for characterising a device under test

Номер патента: US09651599B2. Автор: Marc Vanden Bossche. Владелец: National Instruments Ireland Resources Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Micro thermal chamber having proximity control temperature management for devices under test

Номер патента: US20050224492A1. Автор: Shambhu Roy. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2005-10-13.

Test and measurement system for analyzing devices under test

Номер патента: US20240004768A1. Автор: Daniel S. Froelich,Sam J. Strickling,Michelle L. Baldwin,Jonathan San,Lin-Yung Chen. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Test and measurement system for analyzing devices under test

Номер патента: US11782809B2. Автор: Daniel S. Froelich,Sam J. Strickling,Michelle L. Baldwin,Jonathan San,Lin-Yung Chen. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

Chip tester, method for providing timing information, test fixture set, apparatus for post-processing propagation delay information, method for post-processing delay information, chip test set up and method for testing devices under test

Номер патента: US20110131000A1. Автор: Michael Daub,Alf Clement,Bernd Laquai. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2011-06-02.

Test system as well as method for testing a device under test

Номер патента: US20200116812A1. Автор: YI Jin,Kok Meng Wong,Johann Tost. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-04-16.

Prober with cooling mechanism for directly cooling a device under test

Номер патента: US20210123971A1. Автор: Andreas Gneupel. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2021-04-29.

Tuning a device under test using parallel pipeline machine learning assistance

Номер патента: US20230314498A1. Автор: John J. Pickerd. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Diagnosis board electrically connected with a test apparatus for testing a device under test

Номер патента: US20090206858A1. Автор: Atsunori Shibuya. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Software programmable verification tool having multiple built-in self-test (BIST) modules for testing and debugging multiple devices under test (DUT)

Номер патента: US20040073840A1. Автор: Esin Terzioglu,Gil Winograd,Zevnep Toros. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2004-04-15.

Testing system and method for testing devices under test

Номер патента: US20240192258A1. Автор: Samuel Reiter. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-06-13.

Method of setting an analyzer for testing a device under test

Номер патента: US20210263088A1. Автор: Werner Held,Jan-Patrick Schultheis. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-08-26.

Method of verifying integrity of data from a device under test

Номер патента: EP4352901A1. Автор: Kari Vierimaa,Miika NIIRANEN,Antti HUOPANA. Владелец: Siemens Industry Software Inc. Дата публикации: 2024-04-17.

Automatic optical measurement method

Номер патента: EP1305602A2. Автор: Naoki Inamoto,Yoshimi Sawamura,Shinji Fujimura,Kunikazu Taguchi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-02.

Insulation resistance monitoring apparatus capable of measuring insulation resistance in consideration of surrounding environment of device under measurement

Номер патента: US20240159815A1. Автор: Masahiro Ozaki,Shohei Yamaguchi,Ryohei Takatani. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Securing a probe to a device under test

Номер патента: US12055578B2. Автор: Julie A. Campbell. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

System and method for testing a device-under-test

Номер патента: US20210349142A1. Автор: Thomas Winkler,Thomas RUSTER,Ryanne LEONG. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-11-11.

Indirect acquisition of a signal from a device under test

Номер патента: US12135353B2. Автор: Sam J. Strickling,David Everett Burgess. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-11-05.

Method of determining and evaluating indication of vortex currents, in particular cracks, in object under test of conductive material

Номер патента: RU2493562C2. Автор: Рольф ВИЛЬКЕНХЕНЕР,Маттиас ЮНГБЛУТ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-09-20.

Environmental test system and method with in-situ temperature sensing of device under test (dut)

Номер патента: MY167932A. Автор: Norbert W Elsdoerfer,James Perlin. Владелец: Temptronic Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Evaluation of an output signal of a device under test

Номер патента: EP1763678A1. Автор: J. Agilent Technologies Deutschland Gmbh RIVOIR. Владелец: Verigy Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2007-03-21.

Fault test apparatus and method for testing semiconductor device under test using fault excitation function

Номер патента: US20090063062A1. Автор: Hiroshi Takahashi,Takashi Aikyo,Michinobu Nakao,Hideo Ohmae,Yuzo Takamatsu,Yoshinobu Higami,Michiaki Emori. Владелец: Semiconductor Technology Academic Research Center. Дата публикации: 2009-03-05.

Test Card for Testing One or More Devices Under Test and Tester

Номер патента: US20130311844A1. Автор: Jens KILIAN. Владелец: Advantest Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2013-11-21.

Test card for testing one or more devices under test and tester

Номер патента: WO2012100830A1. Автор: Jens KILIAN. Владелец: Advantest (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2012-08-02.

Method of verifying integrity of data from a device under test

Номер патента: WO2023026079A1. Автор: Kari Vierimaa,Miika NIIRANEN,Antti HUOPANA. Владелец: Siemens Industry Software Inc.. Дата публикации: 2023-03-02.

Customizable safety enclosure for a device under test

Номер патента: WO2024081750A1. Автор: David Thomas Engquist. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2024-04-18.

Customizable safety enclosure for a device under test

Номер патента: US20240118336A1. Автор: David Thomas Engquist. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Method For Delaying Signal Transmissions From A Device Under Test (DUT) By Transmitting Congestive Communication Channel Signals

Номер патента: US20190190840A1. Автор: CHEN Cao,Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Apparatus, system and method for testing of communication networks

Номер патента: WO2017106009A1. Автор: Andrew P. Caplan,Nathan Klonoski,Richard Canning,Arsalan Mehmood,Kamlesh Lele. Владелец: Dc Mobility Holdings Llc. Дата публикации: 2017-06-22.

System and method for device under test (DUT) validation reuse across multiple platforms

Номер патента: US12078676B1. Автор: Ankit Anand,Pratik Shah,Nimalan Siva,Nikita Goyal. Владелец: Marvell Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Detecting and displaying flaws in a device under test

Номер патента: US09791508B2. Автор: Nathan R. Smith. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-10-17.

Automatic optical inspection method of periodic patterns

Номер патента: US09429527B1. Автор: Mao-Hsiung Hung. Владелец: MING CHUAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-08-30.

Device under test synchronization with automated test equipment check cycle

Номер патента: US20220155370A1. Автор: Anubhav Sinha,Abhijeet SAMUDRA,Ramalingam KOLISETTI,Yongkang Hu. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2022-05-19.

In-sync digital waveform comparison to determine pass/fail results of a device under test (DUT)

Номер патента: US11843921B2. Автор: Nermin Osmanovic,Deepak Chand JANGID. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Damage reduction method and apparatus for destructive testing of power semiconductors

Номер патента: US20130027067A1. Автор: Gary Rogers,Rodney E. Schwartz,David Lohr,Steve Clauter,James Baggiore. Владелец: Integrated Tech Corp. Дата публикации: 2013-01-31.

Production Integrated Circuit Test Handler Using Microcontroller Reading a Thermal Diode of a Device Under Test for Temperature Control

Номер патента: US20120169363A1. Автор: Angelo Sanchez,Joseph Shelton Mayfield,Nolan Riley,Chad Turner. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-07-05.

System and method of measuring capacitance of device-under-test

Номер патента: US20240027504A1. Автор: Ruey-Bin Sheen,Chih-Hsien Chang,Mao-Hsuan Chou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Automated test equipment comprising a device under test loopback and an automated test system with an automated test equipment comprising a device under test loopback

Номер патента: US20240061034A1. Автор: Andreas Hantsch. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Automated test equipment comprising a device under test loopback and an automated test system with an automated test equipment comprising a device under test loopback

Номер патента: US11913987B2. Автор: Andreas Hantsch. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-02-27.

Generic width independent parallel checker for a device under test

Номер патента: US20180164370A1. Автор: Rakesh Malik,Tejinder Kumar,Suchi Prabhu Tandel. Владелец: STMicroelectronics International NV. Дата публикации: 2018-06-14.

Automated Test Equipment for Testing a Device Under Test and Method for Testing a Device Under Test

Номер патента: US20160169962A1. Автор: Bernd Laquai,Heinz Nuessle,Jonas HORST. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2016-06-16.

Automatic test equipment for testing a device under test

Номер патента: US20020125896A1. Автор: Bernhard Roth,Henriette Ossoinig. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-12.

Probe card for device under test

Номер патента: US12044719B2. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus, system and method for testing of communication networks

Номер патента: US20190230538A1. Автор: Andrew P. Caplan,Nathan Klonoski,Richard Canning,Arsalan Mehmood,Kamlesh Lele. Владелец: DC Mobile Design LLC. Дата публикации: 2019-07-25.

Testing of communication networks

Номер патента: IE85627B1. Автор: Jones Fred,Machale Rory,Sloan Joseph. Владелец: Cedarwood Technologies Limited. Дата публикации: 2010-11-10.

Micro device under test carrier

Номер патента: US20230204659A1. Автор: Chun-Lin Wu,Kuo Wei Huang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-06-29.

Device under test (dut) structures in fill regions of product die for voltage contrast (vc) defect detection for improved yield learning

Номер патента: US20240329114A1. Автор: Xiao Wen,Daniel Murray,Manish Sharma,Sairam Subramanian,Amit Paliwal,Dipto THAKURTA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Device under test (dut) structures for voltage contrast (vc) detection of contact opens

Номер патента: US20240329122A1. Автор: Xiao Wen,Sairam Subramanian,Amit Paliwal,Dipto THAKURTA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Device-Under-Test(DUT)-Strukturen in Füllgebieten des Produkt-Die zur Spannungskontrast(VC)-Defektdetektion für das Lernen einer verbesserten Ausbeute

Номер патента: DE102023210205A1. Автор: Xiao Wen,Daniel Murray,Manish Sharma,Sairam Subramanian,Amit Paliwal,Dipto THAKURTA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Efficient temperature forcing of semiconductor devices under test

Номер патента: US09677822B2. Автор: Eyal Simhon,Lior YOSEF. Владелец: MD Mechanical Devices Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Using pattern generators to control flow of data to and from a semiconductor device under test

Номер патента: US8269520B2. Автор: George W. Conner. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2012-09-18.

Method of determining settling time of a device under test

Номер патента: US5162744A. Автор: Harvey W. Koozer. Владелец: National Semiconductor Corp. Дата публикации: 1992-11-10.

Method and measurement instrument for testing a device under test

Номер патента: US11906583B2. Автор: Kevin Guo,Hong Jin Kim. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-02-20.

In-sync digital waveform comparison to determine pass/fail results of a device under test (dut)

Номер патента: US20210152963A1. Автор: Nermin Osmanovic,Deepak Chand JANGID. Владелец: Roku Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

Probe card, method for designing probe card, method for producing tested semiconductor device method for testing unpackaged semiconductor by probe card, device under test and probe system

Номер патента: US20240077519A1. Автор: Hao Wei,Yu-Hao Chen,Yang-Hung Cheng,Jhin-Ying Lyu. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Apparatus and method for determining a response of a device under test to an electrical pulse generated by a pulse generator

Номер патента: US20240019480A1. Автор: Dennis HELMUT,Gerhard Groos. Владелец: Universitaet der Bundeswehr Muenchen. Дата публикации: 2024-01-18.

Testing apparatus for temperature testing of electronic devices

Номер патента: US11828793B2. Автор: Ba Duong Phan,Alireza Daneshgar. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Testing apparatus for temperature testing of electronic devices

Номер патента: US20230060664A1. Автор: Ba Duong Phan,Alireza Daneshgar. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Method for Communicating Test Results From Wireless Device Under Test Using Non-Link Texting Resources

Номер патента: US20180146454A1. Автор: Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang,Qinghui Luo. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2018-05-24.

Shielded socket and carrier for high-volume test of semiconductor devices

Номер патента: US11821913B2. Автор: Yoshiyuki Aoki,Koji Miyauchi,Kotaro Hasegawa,Karthik Ranganathan,Samer Kabbani,Gilberto Oseguera,Amit Kucheriya,Ira Leventhal,Keith SCHAUB. Владелец: Advantest Test Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Test kit for testing a device under test

Номер патента: EP4273559A1. Автор: Shih-Chia Chiu,Chang-Lin Wei,Yi-Chieh Lin,Wun-Jian Lin,Ying-chou Shih,Sheng-wei LEI,Jing-Hui Zhuang,Che-Hsien Huang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2023-11-08.

Probe systems and methods for testing a device under test

Номер патента: WO2021092131A1. Автор: Kazuki Negishi. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2021-05-14.

System and method for deterministic testing of packet error rate in electronic devices

Номер патента: WO2013015875A1. Автор: Christian Volf Olgaard. Владелец: LITEPOINT CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-31.

Method for testing device under test and apparatus using the same

Номер патента: US11320483B2. Автор: Byung Kyu Kim,Byeong Yun KIM. Владелец: Phosphil Inc. Дата публикации: 2022-05-03.

Shielded socket and carrier for high-volume test of semiconductor devices

Номер патента: US20240027492A1. Автор: Yoshiyuki Aoki,Koji Miyauchi,Kotaro Hasegawa,Karthik Ranganathan,Samer Kabbani,Gilberto Oseguera,Amit Kucheriya,Ira Leventhal,Keith SCHAUB. Владелец: Advantest Test Solutions Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Measurement circuit having frequency domain estimation of device under test (dut) model parameters

Номер патента: WO2022115452A1. Автор: David Patrick Magee,Charles Kasimer Sestok,Yevgen Pavlovich Barsukov. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2022-06-02.

Built-in device testing of integrated circuits

Номер патента: US20170343601A1. Автор: Gary W. Maier,Franco Motika,Mary P. Kusko,Phong T. Tran,Robert M. Casatuta. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-11-30.

Thermal conditioning of electronic devices under test based on extensible elements

Номер патента: WO2020234907A1. Автор: Fabrizio Scocchetti. Владелец: Eles Semiconductor Equipment S.P.A.. Дата публикации: 2020-11-26.

Testing apparatus for temperature testing of electronic devices

Номер патента: WO2023027788A1. Автор: Alireza Daneshgar,Ba Doung PHAN. Владелец: WESTERN DIGITAL TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2023-03-02.

Methods and devices for testing a device under test using test site specific thermal control signaling

Номер патента: US20230228805A1. Автор: Martin,Matthias Werner. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Methods and devices for testing a device under test using a bidirectional real-time interface

Номер патента: US20230184822A1. Автор: Martin Fischer,Matthias Werner. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Methods and devices for testing a device under test using multiple signals transmitted via a bidirectional real-time interface

Номер патента: US20230280394A1. Автор: Martin Fischer,Matthias Werner. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Methods and devices for testing a device under test using test site specific control signaling

Номер патента: US20230184823A1. Автор: Martin,Matthias Werner. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Handlers, automated test equipments, and methods for testing a device under test using a test-site specific signaling

Номер патента: WO2022029206A1. Автор: Martin Fischer,Matthias Werner. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-10.

Noise detection circuit capable of recognizing noise event occurring in device under test, and related system and method for testing device under test

Номер патента: US10698018B2. Автор: Chung-Chieh Yang,Tse-Hung Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-06-30.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: PH12021550959A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-11-29.

Vertical probe head with improved contact properties towards a device under test

Номер патента: EP3877768A1. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2021-09-15.

Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using an iterative approach to obtain temperature control instructions

Номер патента: WO2024032917A1. Автор: Natan CHEJANOVSKY. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2024-02-15.

Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using a fitting approach to obtain temperature control instructions

Номер патента: WO2024032916A1. Автор: Natan CHEJANOVSKY,Takatoshi Yoshino,Tse-Kun Chen. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2024-02-15.

Tester and method for calibrating probe card and device under testing (DUT)

Номер патента: US11852657B2. Автор: You-Hsien Lin,Shan ZHANG,wei chou Wang,Yung-Shiuan Chen,Tzu-Chia LIU,Hsin-Hsuan CHEN,Zhenzheng JIANG,Mingxiu ZHONG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Energy feedback device for the warm-up test of a power supply

Номер патента: US20110025367A1. Автор: Yung Han,Chi Chun LI. Владелец: Hero Bear Animation Co Ltd. Дата публикации: 2011-02-03.

Scanner system and method for high-resolution spatial scanning of an electromagnetic field radiated by an electronic device under test

Номер патента: US09880210B2. Автор: Yiping Zhou,Gil Montag,Ruska Patton,Robert XUE. Владелец: EMSCAN CORP. Дата публикации: 2018-01-30.

Capacitive opens testing of low profile components

Номер патента: US09778314B2. Автор: Anthony J. Suto. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Testing of electronic circuits using an active probe integrated circuit

Номер патента: US8928343B2. Автор: Steven Slupsky,Christopher V. Sellathamby,Brian Moore. Владелец: Scanimetrics Inc. Дата публикации: 2015-01-06.

System and method for de-embedding a device under test employing a parametrized netlist

Номер патента: US20090224772A1. Автор: Hongmei Li,Zhenrong Jin,Basanth Jagannathan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-09-10.

Device under test simulation equipment

Номер патента: US20230366922A1. Автор: Bo Yu,Yang Xu,Jun Liu,JUN TANG,Yi HOU,Min NIE,Siqiang Jia,Yongpeng Mu. Владелец: Teradyne Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Apparatus and method for probing device-under-test

Номер патента: US11821942B2. Автор: Chi-Chang Lai,Chuan-Hsiang Sun,bo-you Chen,Hsiou-Yu He,Peiwei Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Apparatus, method and computer software product for testing electronic device-under-test

Номер патента: EP4257994A1. Автор: Tal Klein,Ronny Aboutboul,Erez Glasberg,Yoram Avigdor. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2023-10-11.

Test kit for testing a device under test

Номер патента: US11879934B2. Автор: Chang-Lin Wei,Yi-Chieh Lin,Ying-chou Shih,Sheng-wei LEI,Jing-Hui Zhuang,Chih-Yang Liu,Che-Hsien Huang. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2024-01-23.

Test devices and systems that utilize efficient test algorithms to evaluate devices under test

Номер патента: US20230408554A1. Автор: Junyoung Ko,Jungmin Bak,Changhwi Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-12-21.

Apparatus for probing device-under-test

Номер патента: US20240012046A1. Автор: Chi-Chang Lai,Chuan-Hsiang Sun,bo-you Chen,Hsiou-Yu He,Peiwei Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Tension-based socket gimbal for engaging device under test with thermal array

Номер патента: US20230393188A1. Автор: Paul Ferrari,Karthik Ranganathan,Gregory Cruzan,Gilberto Oseguera,Chee Wah Ho,James Hastings,Joe Koeth. Владелец: Advantest Test Solutions Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Probe station capable of maintaining stable and accurate contact to device under test

Номер патента: US11940486B2. Автор: Yi-Kai Chao. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

System and method for locating a fault on a device under test

Номер патента: US8132052B2. Автор: Yulong Chen,Hong Guan,Gaile Lin. Владелец: CSR Technology Inc. Дата публикации: 2012-03-06.

Stabilizing a voltage at a device under test

Номер патента: US20210132143A1. Автор: Jason A. Messier,Bryce M. Wynn,Anja Deric. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

Methods and devices for testing a device under test using a synchronization signal

Номер патента: US20230266380A1. Автор: Martin Fischer,Matthias Werner. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Automated test equipments, handlers and methods for testing a device under test using a synchronization signaling

Номер патента: WO2022029204A1. Автор: Martin Fischer,Matthias Werner. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-10.

Mechanical testing of sample materials

Номер патента: US20240094103A1. Автор: Daniel P. Satko,Ayman A. Salem,Michelle Harr,Adam Pilchak. Владелец: MRL MATERIALS RESOURCES LLC. Дата публикации: 2024-03-21.

Apparatus for testing input pin leakage current of a device under test

Номер патента: CA1300228C. Автор: Edward Anderson Ostertag. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 1992-05-05.

Indirect acquisition of a signal from a device under test

Номер патента: US20210148975A1. Автор: Sam J. Strickling,David Everett Burgess. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

Arrangement for transient-current testing of a digital electronic CMOS circuit

Номер патента: US6414511B1. Автор: Cornelis M. Hart,Petrus J. M. Janssen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2002-07-02.

Cost-saving scheme for scan testing of 3d stack die

Номер патента: US20240019493A1. Автор: Lu Lu,Lifeng Zhang,Ahmet TOKUZ,Qi SHAO,Songgan Zang. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Over-the-air testing of millimeter wave antenna receiver arrays

Номер патента: US11982699B2. Автор: Martin Obermaier,Vincent Kotzsch,Dirk Plettemeier,Marc Vanden Bossche,Martin Laabs,Thomas Deckert,Johannes Dietmar Herbert Lange. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

Apparatus and method for controlling temperature in a wafer and a device under test using integrated temperature sensitive diode

Номер патента: EP1301838A2. Автор: Douglas S. Olsen,David Stura. Владелец: Temptronic Corp. Дата публикации: 2003-04-16.

Probe systems configured to test a device under test and methods of operating the probe systems

Номер патента: WO2022164489A3. Автор: Martin Schindler,Stefan Kreissig,Torsten Kiel. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2022-11-10.

Probe systems configured to test a device under test and methods of operating the probe systems

Номер патента: WO2022164489A2. Автор: Martin Schindler,Stefan Kreissig,Torsten Kiel. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2022-08-04.

Signal injection technique for measurement and control of source reflection coefficient of a device under test

Номер патента: CA3092166C. Автор: Mauro Marchetti,Michele Squillante. Владелец: Anteverta MW BV. Дата публикации: 2024-04-23.

Apparatus for providing a test signal from a device under test (dut) to a measurement instrument

Номер патента: US20210190830A1. Автор: Ryan Scott,Bogdan Szafraniec,Mike T. Mctigue,Howard Lankford. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

System and method for parallel testing of multiple data packet signal transceivers

Номер патента: US20140169182A1. Автор: MATHEW Philip,Christian Volf Olgaard,Ruizu Wang,Erdem Serkan Erdogan. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2014-06-19.

Oscilloscope and method for testing a device under test

Номер патента: US20200200821A1. Автор: Randy White,Markus Freidhof,Guido Schulze. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-25.

A pusher and a method for pushing a device under test with a single-linearly polarized antenna into a test socket

Номер патента: WO2024056172A1. Автор: Jan Hesselbarth,Jose Moreira. Владелец: UNIVERSITÄT STUTTGART. Дата публикации: 2024-03-21.

Signal injection technique for measurement and control of source reflection coefficient of a device under test

Номер патента: CA3092166A1. Автор: Mauro Marchetti,Michele Squillante. Владелец: Anteverta MW BV. Дата публикации: 2019-09-06.

Instrument for automated testing of displays

Номер патента: US09411013B2. Автор: Anurag Gupta,Evan M. Richards. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2016-08-09.

Method for verification of device for measuring contact potential difference of metal parts of aviation equipment

Номер патента: RU2758272C1. Автор: Владимир Станиславович Олешко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет). Дата публикации: 2021-10-27.

Processor-based measurement method for testing a device under test and measurement apparatus using the same

Номер патента: CN110785669B. Автор: 金秉润,金秉圭. Владелец: Psf Ltd. Дата публикации: 2022-05-17.

Connecting device for connecting an electrical device under test to a test instrument

Номер патента: US11726110B2. Автор: Fang Chen,Xiang-Lin Xiang,Shan-Huai Lan. Владелец: Jabil Circuit Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-08-15.

Vertical probe head having an improved contact with a device under test

Номер патента: US11867723B2. Автор: Stefano Felici. Владелец: Technoprobe SpA. Дата публикации: 2024-01-09.

Detecting and displaying flaws in a device under test

Номер патента: US20170205460A1. Автор: Nathan R. Smith. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-07-20.

Methods and apparatus for thermal testing of antennas

Номер патента: US09891258B2. Автор: Roger C. Esplin,Heath A. Strickland. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2018-02-13.

Device for testing of friction in the cantilever attachment assemblies

Номер патента: RU2715363C1. Автор: Олег Алексеевич Сидоров,Иван Евгеньевич Чертков,Олеся Андреевна Лукьянова,Александр Владимирович Тарасенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный университет путей сообщения". Дата публикации: 2020-02-26.

Socket connector for connection lead of semiconductor device under test with tester

Номер патента: US8174279B2. Автор: Kok Hua Lee,Zi Yi LAM,Wai Khuin Phoon. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2012-05-08.

Method and system for measuring a propagation delay and transmittance of a device under test (DUT)

Номер патента: US10488463B2. Автор: Minglei Cui,Harshang Nileshkumar Pandya. Владелец: InspiRain Technologies Pte Ltd. Дата публикации: 2019-11-26.

Method for maintaining a gap spacing between an optical probe of a probe system and an optical element of a device under test

Номер патента: KR20220070513A. Автор: 조셉 조지 프랑켈. Владелец: 폼팩터, 인크.. Дата публикации: 2022-05-31.

Testing of electronic circuits using an active probe integrated circuit

Номер патента: KR101499047B1. Автор: 브라이언 무어,스티븐 스루프스키,크리스토퍼 브이. 셀라탐비. Владелец: 스캐니메트릭스 인크.. Дата публикации: 2015-03-05.

Tester and method for calibrating probe card and device under testing (dut)

Номер патента: US20210270868A1. Автор: You-Hsien Lin,Shan ZHANG,wei chou Wang,Yung-Shiuan Chen,Tzu-Chia LIU,Hsin-Hsuan CHEN,Zhenzheng JIANG,Mingxiu ZHONG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-09-02.

Measurement system for characterizing a device under test

Номер патента: US11933848B2. Автор: Marc Vanden Bossche. Владелец: National Instruments Ireland Resources Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Method for calibrating and de-embedding, set of devices for de-embedding and vector network analyzer

Номер патента: EP1506428A1. Автор: Lukas F. Tiemeijer. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2005-02-16.

Probe systems for optically probing a device under test and methods of operating the probe systems

Номер патента: US20210096176A1. Автор: Kazuki Negishi,Michael E. Simmons,Joseph George Frankel,Eric Robert CHRISTENSON,Daniel Rishavy. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2021-04-01.

Fixture for a device under test

Номер патента: US20220128610A1. Автор: Markus Herbrig,Corbett Rowell,Benoit Derat,Henry Gropp. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-04-28.

Apparatus and method for controlling the temperature of an electronic device under test

Номер патента: EP1397625A1. Автор: Cynthia M. Barnes,Charles B. Wall. Владелец: Kryotech Inc. Дата публикации: 2004-03-17.

Measurement System for Characterizing a Device Under Test

Номер патента: US20220229110A1. Автор: Marc Vanden Bossche. Владелец: National Instruments Ireland Resources Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Probe card for device under test

Номер патента: US20230251298A1. Автор: Paul Brohlin,Trevor Hubbard. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-08-10.

Measurement system for characterizing a device under test

Номер патента: EP4281791A1. Автор: Marc Vanden Bossche. Владелец: National Instruments Ireland Resources Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Droop compensation for device under test spectroscopy

Номер патента: US11768250B2. Автор: David Patrick Magee,Charles Kasimer Sestok, IV. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Methods of establishing contact between a probe tip of a probe system and a device under test, probe systems that perform the methods, and storage media that directs probe systems to perform the methods

Номер патента: US20240168058A1. Автор: Martin Schindler,Felix Krug. Владелец: Formfactor Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Methods of establishing contact between a probe tip of a probe system and a device under test

Номер патента: WO2024108020A1. Автор: Martin Schindler,Felix Krug. Владелец: FORMFACTOR, INC.. Дата публикации: 2024-05-23.

Digital twin with machine learning waveform generation including parameter control for device under test emulation

Номер патента: WO2023023407A1. Автор: John J. Pickerd,Heike Tritschler,Justin E. Patterson. Владелец: TEKTRONIX, INC.. Дата публикации: 2023-02-23.

Method and system for determining a size of a buffer of a device-under-test

Номер патента: US20240154891A1. Автор: Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-05-09.

System and method for initiating testing of multiple communication devices

Номер патента: TW201347463A. Автор: Christian Volf Olgaard,Rui-Zu Wang. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2013-11-16.

Methods, systems, and computer readable media for testing a network system under test communicating over a secure channel

Номер патента: US12015642B2. Автор: Pradosh Tapan Datta,Debojyoti Roy,Robert Brian Luking,Aymen Chebab. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

An operational test device and method of performing an operational test for a system under test

Номер патента: WO1998026617A3. Автор: Dieter Kreuer,Tiberius Sasin,Steffen Hermanns. Владелец: Ericsson Telefon Ab L M. Дата публикации: 1998-10-01.

Wireless routers under test

Номер патента: US09838295B2. Автор: Dinesh Kumar,Samant Kumar,Shivashankar Diddimani,Gunjan Samaiya,Ina Huh,Jin Ryu. Владелец: Contec LLC. Дата публикации: 2017-12-05.

Testing device for testing an under-test object

Номер патента: US09817030B2. Автор: Pei-Ming Chang. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Latch-up test device and method for testing wafer under test

Номер патента: US09625520B2. Автор: Yao-Wen Chang,Tao-Cheng Lu,Shih-Yu Wang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Multi-phase test point insertion for built-in self test of integrated circuits

Номер патента: US5737340A. Автор: Janusz Rajski,Nagesh Tamarapalli. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 1998-04-07.

System for automatic testing of circuits and systems

Номер патента: US4656632A. Автор: PHILIP Jackson. Владелец: Giordano Associates Inc. Дата публикации: 1987-04-07.

Device for testing of cables

Номер патента: WO2008104505A1. Автор: Per Finander. Владелец: SAAB AB. Дата публикации: 2008-09-04.

On-board testing circuit and method for improving testing of integrated circuits

Номер патента: US20030126526A1. Автор: Robert Totorica,Charles Snodgrass. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-03.

Automatic optical inspection device and method

Номер патента: US20190293566A1. Автор: WEN Xu,Fan Wang,Hongji Zhou,Pengli Zhang,Hailiang LU,Junwei JIA. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-26.

Methods, systems, and computer readable media for testing a system under test using a processing node communications model

Номер патента: US11949566B2. Автор: Winston Wencheng Liu,Matthew R. Bergeron,Dan Mihailescu. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Identifying failure indicating scan test cells of a circuit-under-test

Номер патента: US20170059651A1. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Subhadip Kundu. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

System and method for controlling power sources of motherboards under test through networks

Номер патента: US20050257076A1. Автор: Ge-Xin Zeng,Hung-Yuan Tsai,San Xiao. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-11-17.

Device for the wet-run high-voltage testing of the insulation of electric conductors or cables

Номер патента: GB1024246A. Автор: Rudolf Gessner,Johann Gas,Robert Ney. Владелец: Hackethal Draht Kabel Werke AG. Дата публикации: 1966-03-30.

Improvements in or relating to the electromagnetic testing of materials

Номер патента: GB836723A. Автор: Roy William George Haslett,Eric Lionel Freeman. Владелец: Kelvin Hughes Ltd. Дата публикации: 1960-06-09.

System for the testing of telephone switching systems

Номер патента: CA1164078A. Автор: Charles J. Breidenstein,Charles A. Barbe, III. Владелец: Redcom Laboratories Inc. Дата публикации: 1984-03-20.

Transition fault testing of functionally asynchronous paths in an integrated circuit

Номер патента: US11709203B2. Автор: Sundarrajan Rangachari,Prakash Narayanan,Prashanth Saraf. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2023-07-25.

At-speed test of functional memory interface logic in devices

Номер патента: US20240120016A1. Автор: Lei Wu,Devanathan Varadarajan. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Transistion fault testing of funtionally asynchronous paths in an integrated circuit

Номер патента: US20190204387A1. Автор: Sundarrajan Rangachari,Prakash Narayanan,Prashanth Saraf. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Transistion fault testing of funtionally asynchronous paths in an integrated circuit

Номер патента: US20220196738A1. Автор: Sundarrajan Rangachari,Prakash Narayanan,Prashanth Saraf. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Voice counting of each battery under test

Номер патента: US20150241522A1. Автор: Steven L. Cheek. Владелец: Danaher Shanghai Industrial Instrumentation Technologies R&D Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Methods for associating test data for part under test with end item coordinate system and systems associated therewith

Номер патента: US20240280544A1. Автор: Barry A. Fetzer,Samuel R. Goertz. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-08-22.

Methods for associating test data for part under test with end item coordinate system and systems associated therewith

Номер патента: EP4417970A1. Автор: Barry A. Fetzer,Samuel R. Goertz. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-08-21.

Testing of liquid melts and probes for use in such testing

Номер патента: US4981045A. Автор: Norman D. G. Mountford. Владелец: Innovations Foundation of University of Toronto. Дата публикации: 1991-01-01.

Diffraction device and method for non-destructive testing of internal crystal orientation uniformity of workpiece

Номер патента: US11846595B2. Автор: Lin Zheng,JIN Zhang,YONG Xiao,Changguang He,Zhengkun Peng,Shitao DOU,Lunwu ZHANG,Xianhe FENG. Владелец: 59th Institute Of China Ordnance Industry. Дата публикации: 2023-12-19.

Pull testing inspection tools for wires or other components under test

Номер патента: EP4285088A1. Автор: John A. Cogliandro,Richard M. Pinti,Heather A. Adams. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2023-12-06.

Pull testing inspection tools for wires or other components under test

Номер патента: WO2022164563A1. Автор: John A. Cogliandro,Richard M. Pinti,Heather A. Adams. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2022-08-04.

A multistatic radar system and a method for a spatially resolved detection of an object under test

Номер патента: EP4170383A1. Автор: Gerhard Hamberger,Matthias Beer,Marius BRINKMANN. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-04-26.

Continuous power leveling of a system under test

Номер патента: US09483372B2. Автор: Daniel J. Baker. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Power leveling of a system under test

Номер патента: US09477566B2. Автор: Daniel J. Baker. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and apparatus for nondestructive testing of the mechanical behavior of objects under loading utilizing wave theory of plastic deformation

Номер патента: US5508801A. Автор: Victor Y. Panin,Lev B. Zuev,Pavel V. Makarov,Valery E. Yegorushkin,Vadim V. Gorbatenko,Vladimir I. Danilov. Владелец: Rossiyskiy Materialoveduchesky Centr. Дата публикации: 1996-04-16.

Continuous application and decompression of test patterns to a circuit-under-test

Номер патента: EP1242885A2. Автор: Jerzy Tyszer,Nilanjan Mukherjee,Janusz Rajski,Mark Kassab. Владелец: Mentor Graphics Corp. Дата публикации: 2002-09-25.

Method and apparatus for discharging voltages from a circuit under test

Номер патента: US20060139824A1. Автор: Kevin Wible,Ronald Peiffer,Dayton Norrgard. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2006-06-29.

Apparatus and method for electrically coupling a unit under test with a debugging component

Номер патента: US12092686B2. Автор: Robert Joseph Harvey,Aleksandr Dean Schwerdt,Daniel Roy Ostrander,David Alexander Jachmann,Lynn Charles Berning,Eric Lee Severtson,Curtis Adam Harper. Владелец: Western Digital Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Device and method for electromagnetic acoustic material inspection and/or measuring thickness of object under test, having electroconductive and ferromagnetic components

Номер патента: RU2393468C2. Автор: Михель КРЕНИНГ,Жорж НИКИФОРЕНКО,Андрей БУЛАВИНОВ. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2010-06-27.

Identifying A Signal On A Printed Circuit Board Under Test

Номер патента: US20110279138A1. Автор: Bhyrav M. Mutnury,Nam H. Pham,Terence Rodrigues. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-11-17.

Methods, systems, and computer readable media for testing a system under test using a processing node communications model

Номер патента: US20240080244A1. Автор: Winston Wencheng Liu,Matthew R. Bergeron,Dan Mihailescu. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

System for measuring performance of equipment under test, and method therefor

Номер патента: EP4390410A1. Автор: Kang Wook Kim,Jong Hyuk Lim,Young Bae Jung,Soon Soo Oh. Владелец: NATIONAL RADIO RESEARCH AGENCY. Дата публикации: 2024-06-26.

Method and apparatus for remote control of device

Номер патента: RU2544742C2. Автор: Сунг-Ох ХВАНГ,Дзи-Хие ЛИ,Вук КИМ,Сунг-Дзин ПАРК. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2015-03-20.

Programmable probe fixture and method of connecting units under test with test equipment

Номер патента: CA1038042A. Автор: Robert L. Beck,Peter H. Goebel. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1978-09-05.

Method for automatic search of device in network

Номер патента: RU2286023C2. Автор: Мин ЛИ,Цзиннань ХУАН,С ндун ЛЮ,Сяндун ЛЮ,Юйцзинь ЛО,Дэкуй ЧЖАН,Юаньи ЧЖАН,Чуан МЭН,Шань ЦЗЯН,Вэйфэн ЧЖУАН,Яньпинь ЖЕНЬ. Владелец: Леново(Бейцзин) Лимитед. Дата публикации: 2006-10-20.

Method of measuring refractive index of liquid substance under test

Номер патента: EP4286832A1. Автор: Tomasz Skotnicki,Wojciech Knap,Kamil Stelmaszczyk,Ewelina KARPIERZ-MARCZEWSKA,Valeri MIKHNEV. Владелец: Instytut Wysokich Cisnien of PAN. Дата публикации: 2023-12-06.

Methods, systems, and computer readable media for testing a system under test using congestion control monitoring

Номер патента: US20240129220A1. Автор: Christian Paul Sommers,Razvan Ionut Stan,Lyle Eugene Thompson,Russil Wvong. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Identifying failure indicating scan test cells of a circuit-under-test

Номер патента: US9568550B1. Автор: Rohit Kapur,Parthajit Bhattacharya,Subhadip Kundu. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER (OTDR)-BASED CLASSIFICATION FOR FIBER OPTIC CABLES USING MACHINE LEARNING

Номер патента: US20210089830A1. Автор: Invernizzi Pietro,Sozio Enrico. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

POTDR (polarization optical time domain reflectometer) based optical fiber intrusion recognition algorithm

Номер патента: CN104794839A. Автор: 唐明,曹锋,董晖,王超东. Владелец: WUHAN SHIJI JINQIAO SAFETY TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-22.

Apparatus and Method For Optical Time Domain Reflectometry

Номер патента: US20160097901A1. Автор: Takeuchi Kenichiro,Lu Haiguang,Peralta Rhaniel,Lachica Glenn,Balinos Marlene Gizelle M.,Lumantes Anita L.,Entico Erika Mae A.,Balinos. Владелец: GO!FOTON HOLDINGS, INC.. Дата публикации: 2016-04-07.

Online traffic volume monitoring system and method based on phase-sensitive optical time domain reflectometry

Номер патента: US20160275788A1. Автор: Huijuan Wu,Hanyu Li,Yunjiang Rao,Ya Qian. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2016-09-22.

PRESSURE SENSOR INCLUDING TIME-DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20160283006A1. Автор: Masuda Shinobu,Ezaki Kenichi,Ogura Tetsuyoshi,Noine Keiji. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-29.

Time domain reflectometer touch screen sensor

Номер патента: US20110128257A1. Автор: Kihong (Joshua) Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Time domain reflectometer touch screen sensor

Номер патента: US8736582B2. Автор: Kihong (Joshua) Kim. Владелец: Kihong (Joshua) Kim. Дата публикации: 2014-05-27.

External breakage warning device for cable ducts based on a distributed technology in the optical time domain

Номер патента: DE202021103032U1. Автор: . Владелец: Guangdong Power Grid Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Time domain reflectometer with digitally generated variable width pulse output

Номер патента: US20030058015A1. Автор: Thomas Durston. Владелец: Tempo Research Corp. Дата публикации: 2003-03-27.

Time domain reflectometer with digitally generated variable width pulse output

Номер патента: US6670837B2. Автор: Thomas W Durston. Владелец: Tempo Res Corp. Дата публикации: 2003-12-30.

System for testing device under test using remote data center

Номер патента: US20240220380A1. Автор: Chris R. Jacobsen,Gregory S. Hill,Jared RICHARD. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Protocol independent testing of memory devices using a loopback

Номер патента: EP3824390A1. Автор: Michael B. Danielson,Patrick CARAHER. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-05-26.

Protocol independent testing of memory devices using a loopback

Номер патента: US20200027518A1. Автор: Michael B. Danielson,Patrick CARAHER. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2020-01-23.

Apparatus systems and methods for facilitating testing of a plurality of electronic devices

Номер патента: US09514016B2. Автор: Jon Richardson. Владелец: ECHOSTAR TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2016-12-06.

Automated testing of digital keys for vehicles

Номер патента: US12099425B2. Автор: Adam M. Bar-Niv. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-09-24.

Method and system for direct access memory testing of an integrated circuit

Номер патента: US20050060621A1. Автор: Jonathan Lee,XiaoGang Zhu,Andrew Hwang. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2005-03-17.

Predicting which tests will produce failing results for a set of devices under test based on patterns of an initial set of devices under test

Номер патента: US11921598B2. Автор: Padmanabha KANNAMPALLI. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2024-03-05.

Test controller enabling a snapshot restore and resume operation within a device under test

Номер патента: US20240153572A1. Автор: Eran Moshe,Pavel Teper. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2024-05-09.

Attestation of a device under test

Номер патента: WO2024097476A1. Автор: Amy Sue Christopher,Christopher Altick,Kathleen Jo Frazier. Владелец: BALL AEROSPACE & TECHNOLOGIES CORP.. Дата публикации: 2024-05-10.

Attestation of a device under test

Номер патента: US20240143766A1. Автор: Amy Sue Christopher,Christopher Altick,Kathleen Jo Frazier. Владелец: Ball Aerospace and Technologies Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Method and apparatus for creating reference images for an automated test of software with a graphical user interface

Номер патента: US20170031799A1. Автор: Jonathan GILLASPIE. Владелец: TestPlant Europe Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Methods for live testing of services in a cloud computing environment

Номер патента: WO2022034482A3. Автор: Maria Toeroe,Oussama JEBBAR,Ferhat Khendek. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2022-03-24.

Automated testing of shell scripts

Номер патента: US20170103015A1. Автор: Carsten Ziegeler,Allaert Joachim David Bosschaert,Michael Alexander Marth. Владелец: Adobe Systems Inc. Дата публикации: 2017-04-13.

Method and apparatus for creating reference images for an automated test of software with a graphical user interface

Номер патента: US09804955B2. Автор: Jonathan GILLASPIE. Владелец: TestPlant Europe Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Automated testing of shell scripts

Номер патента: US09710370B2. Автор: Carsten Ziegeler,Allaert Joachim David Bosschaert,Michael Alexander Marth. Владелец: Adobe Systems Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Hybrid modeling for a device under test associated with a two-phase cooling system

Номер патента: US10423735B2. Автор: Timothy Joseph Chainer,Pritish Ranjan PARIDA. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Method and apparatus for protecting sensitive data during automatic testing of hardware

Номер патента: WO1999057567A3. Автор: Leslie Arthur Orlidge,Luis Gude,Stephen Thomas Maio. Владелец: Allied Signal Inc. Дата публикации: 2000-01-27.

Method and apparatus for protecting sensitive data during automatic testing of hardware

Номер патента: WO1999057567A2. Автор: Leslie Arthur Orlidge,Luis Gude,Stephen Thomas Maio. Владелец: Alliedsignal Inc.. Дата публикации: 1999-11-11.

Method and apparatus for an improved automated test of software with a graphical user interface

Номер патента: US09734047B2. Автор: Jonathan GILLASPIE. Владелец: TestPlant Europe Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Performance testing of software applications

Номер патента: US09529701B2. Автор: Nitendra Rajput,Vijay Ekambaram,Vikrant Nandakumar. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Systematic testing of al image recognition

Номер патента: WO2024054533A3. Автор: Mikael Lindvall,Rohan Reddy MEKALA. Владелец: Fraunhofer USA, Inc.. Дата публикации: 2024-04-18.

Performance evaluation for an electronic design under test

Номер патента: US20200272548A1. Автор: Derek Sherlock,Daniel P. Carrington,Timothy Pertuit,Alan Pippin. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2020-08-27.

Exemplary testing of software

Номер патента: US09996454B1. Автор: Scott B. Greer,Rosalind Toy A. Radcliffe,Justin Z. Spadea. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Analyzing behavior of a device under test

Номер патента: US09600385B2. Автор: Aditya Mittal,Shrihari Voniyadka. Владелец: Arrow Devices Pvt Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Methods, systems and computer readable media for performing benchmark reference testing of data center and network equipment

Номер патента: US20150051872A1. Автор: Noah Gintis,Deepesh Arora,Kirit Bhamre. Владелец: IXIA. Дата публикации: 2015-02-19.

Method and system for automated debugging of a device under test

Номер патента: US9928328B1. Автор: Chung-Wah Norris Ip,Nadav Chazan,Yonatan Ashkenazi,Tal Tabakman,Ynon Cohen,Gavriel Leshem. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Method and system for remote testing of application program interfaces

Номер патента: US6523137B1. Автор: Jeffrey D. Stone. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2003-02-18.

Automatic optical inspection system to verify the outer packaging conformity specifications of palletized packages, according to customer requirements

Номер патента: EP4420076A1. Автор: Luís GONZAGA MENDES MAGALHÃES,Toni Daniel NETO MACHADO,Paul RODRIGUES VIEIRA,António José DE FREITAS MAIO,Edgar Emanuel LEITÃO TAVEIRA,João Eduardo QUINTELA ALVES DE SOUSA VARAJÃO,Miguel FREIXO GONÇALVES,Gustavo FRAGA DE CARVALHO NOGUEIRA ROSA,André Filipe ALVES FREITAS,Samuel COELHO MACHADO,Alexandra Filipa ARAÚJO GOMES. Владелец: Bosch Car Multimedia Portugal SA. Дата публикации: 2024-08-28.

Pre-translation testing of bi-directional language display

Номер патента: US09558102B2. Автор: Dale M. Schultz,Roy Hudson. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Performance testing of web application components using image differentiation

Номер патента: US09600400B1. Автор: Kevin R. McDowell. Владелец: Vertafore Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Automatic optical focussing system

Номер патента: CA1084741A. Автор: Gerard E. Van Rosmalen. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1980-09-02.

Method and apparatus for testing a device under test

Номер патента: US20220300604A1. Автор: Alexei Karpov,Geoffrey VAN DEN BERGE,Stefan RABIN,Fabiano ANEMONE,Cederic LAUMEN,Simon GILLET. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Full-automatic Optical Fiber Container

Номер патента: US20140130651A1. Автор: Yangri Zhao. Владелец: DH Infotech Weihai Inc. Дата публикации: 2014-05-15.

Method and apparatus for optimizing environmental temperature for a device under test

Номер патента: AU3886400A. Автор: Robert T. Stewart. Владелец: Sigma Systems Corp. Дата публикации: 2000-10-04.

Method and apparatus for optimizing environmental temperature for a device under test

Номер патента: EP1161712A1. Автор: Robert T. Stewart. Владелец: Sigma Systems Corp. Дата публикации: 2001-12-12.

Method and apparatus for optimizing environmental temperature for a device under test

Номер патента: AU767765B2. Автор: Robert T. Stewart. Владелец: Sigma Systems Corp. Дата публикации: 2003-11-20.

Method and apparatus for optimizing environmental temperature for a device under test

Номер патента: WO2000055703A1. Автор: Robert T. Stewart. Владелец: Sigma Systems Corporation. Дата публикации: 2000-09-21.

System and a method for facilitating testing of plurality of devices using a drone

Номер патента: US09646205B2. Автор: Vishal Chaudhary,Siva Sakthivel Sadasivam,Murali Krishnaan G. Владелец: HCL Technologies Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Data Center Environment Architecture Including System Under Test Component Analysis For Use When Performing Test Automation Orchestration

Номер патента: US20240248821A1. Автор: Vijay Narayana Reddy Halaharvi. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-07-25.

Optical system and method of judging category of under-test object by using such optical system

Номер патента: US20160335828A1. Автор: Jyh-Long Chern,Chih-Ming Yen. Владелец: Everready Precision Ind Corp. Дата публикации: 2016-11-17.

Method for computer-assisted testing of software application components

Номер патента: CA2391125C. Автор: Jeffrey L. Walker,Samer Diab,Adam Slovik. Владелец: TenFold Corp. Дата публикации: 2012-02-07.

Method and system for performing exploratory testing of an application under test (aut)

Номер патента: US20210096980A1. Автор: Melwyn Anthony Dsouza. Владелец: Wipro Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Methods for live testing of services in a could computing environment

Номер патента: US20230325303A1. Автор: Maria Toeroe,Oussama JEBBAR,Ferhat Khendek. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2023-10-12.

Automatic optical inspection using hybrid imaging system

Номер патента: WO2022180625A1. Автор: Gonen Raveh. Владелец: ORBOTECH LTD.. Дата публикации: 2022-09-01.

Automatic Optical Inspection Using Hybrid Imaging System

Номер патента: US20240112325A1. Автор: Gonen Raveh. Владелец: Orbotech Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Model-based testing of a graphical user interface

Номер патента: US20140047276A1. Автор: James Clive Stewart. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

Method and system for debugging a system on chip under test

Номер патента: US09792402B1. Автор: Meir Ovadia,Kalev Alpernas. Владелец: Cadence Design Systems Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Method and apparatus to facilitate testing of garbage collection implementations

Номер патента: US6745213B2. Автор: Mario I. Wolczko,Matthew L. Seidl. Владелец: Sun Microsystems Inc. Дата публикации: 2004-06-01.

Pixel-based automated testing of a navigable simulated environment

Номер патента: US20230418433A1. Автор: Li Zhao,Tao Qin,Guoqing Liu,Adrian Lee BROWN,James Eugene BISCHOFF, JR.,Tieyan LIU. Владелец: Microsoft Technology Licensing LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Pixel-based automated testing of a navigable simulated environment

Номер патента: WO2023245507A1. Автор: Li Zhao,Tao Qin,Guoqing Liu,Adrian Lee BROWN,James Eugene BISCHOFF, JR.,Tieyan LIU. Владелец: Microsoft Technology Licensing, LLC. Дата публикации: 2023-12-28.

Method of, and apparatus for, handling reference images for an automated test of software with a graphical user interface

Номер патента: US20180129586A1. Автор: Jonathan GILLASPIE. Владелец: TestPlant Europe Ltd. Дата публикации: 2018-05-10.

Training a system to recognize scroll bars in an application under test

Номер патента: US11886327B2. Автор: Yunsheng LIU,Gaoyang Zhou,ChengZhe Xu. Владелец: MICRO FOCUS LLC. Дата публикации: 2024-01-30.

Training a system to recognize scroll bars in an application under test

Номер патента: US20230385184A1. Автор: Yunsheng LIU,Gaoyang Zhou,ChengZhe Xu. Владелец: MICRO FOCUS LLC. Дата публикации: 2023-11-30.

Systematic testing of al image recognition

Номер патента: WO2024054533A2. Автор: Mikael Lindvall,Rohan Reddy MEKALA. Владелец: Fraunhofer USA, Inc.. Дата публикации: 2024-03-14.

Method of Determining at least one tolerance band limit value for a technical variable under test and corresponding calculation device

Номер патента: US20230043354A1. Автор: Florian Knicker,Christian Weckbacher,Patric Ralph Stracke,Christian Reuss. Владелец: SANOFI SA. Дата публикации: 2023-02-09.

Systematic testing of ai image recognition

Номер патента: US20240087300A1. Автор: Mikael Lindvall,Rohan Reddy MEKALA. Владелец: Fraunhofer USA Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Method of determining at least one tolerance band limit value for a technical variable under test and corresponding calculation device

Номер патента: EP4073604A1. Автор: Florian Knicker,Christian Weckbacher,Patric Ralph Stracke,Christian Reuss. Владелец: SANOFI SA. Дата публикации: 2022-10-19.

Method of determining at least one tolerance band limit value for a technical variable under test and corresponding calculation device

Номер патента: WO2021115818A1. Автор: Florian Knicker,Christian Weckbacher,Patric Ralph Stracke,Christian Reuss. Владелец: SANOFI. Дата публикации: 2021-06-17.

Directed graph for application under test

Номер патента: US20220012166A1. Автор: Ye Jiang,Douglas Grover,Qian-Ru ZHAI,Zhenbin LIN,Meng-Jie Chen. Владелец: MICRO FOCUS LLC. Дата публикации: 2022-01-13.

Modify execution of application under test so user is power user

Номер патента: US09953169B2. Автор: Matias Madou,Sam Ng Ming Sum. Владелец: ENTIT SOFTWARE LLC. Дата публикации: 2018-04-24.

In-system test of a memory device

Номер патента: US20210027853A1. Автор: Marco Redaelli. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

Scalable simulation and automated testing of mobile videogames

Номер патента: EP3953823A1. Автор: Alejandro S.S. AZAPIAN. Владелец: Warner Bros Entertainment Inc. Дата публикации: 2022-02-16.

Scalable simulation and automated testing of mobile videogames

Номер патента: WO2020210753A1. Автор: Alejandro S.S. AZAPIAN. Владелец: WARNER BROS. ENTERTAINMENT INC.. Дата публикации: 2020-10-15.

Computer-implemented method and system for test automation of an application under test

Номер патента: WO2022066351A1. Автор: Christian Mayer,Thomas Stocker,Gerd Weishaar. Владелец: UiPath, Inc.. Дата публикации: 2022-03-31.

Automated method for installing and configuring a test suite on a unit under test

Номер патента: EP1349075A3. Автор: Shad L. Mutchler,Dennis K. Paulsen,Christopher M. Langdon. Владелец: Gateway Inc. Дата публикации: 2004-01-21.

Systems and methods for dynamically simulating load to an application under test

Номер патента: US20210011828A1. Автор: Ashish S. Shah,Arup K. Khan,Mohammed Valiyullah,Irfan B. Rabban Sab. Владелец: Walmart Apollo LLC. Дата публикации: 2021-01-14.

Computer-implemented method and system for test automation of an application under test

Номер патента: EP4217873A1. Автор: Christian Mayer,Thomas Stocker,Gerd Weishaar. Владелец: UiPath Inc. Дата публикации: 2023-08-02.

System and method for integrating devices for servicing a device-under-service

Номер патента: GB201304557D0. Автор: . Владелец: Snap On Tools Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Method for securing an induction cooking device under a worktop

Номер патента: EP4429407A1. Автор: Randy Feys,Henk Huisseune,Lucas GRUWEZ,Dries SABBE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-11.

Method for securing an induction cooking device under a worktop

Номер патента: AU2024201088A1. Автор: Randy Feys,Henk Huisseune,Lucas GRUWEZ,Dries SABBE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-26.

Method for securing an induction cooking device under a worktop

Номер патента: US20240302053A1. Автор: Randy Feys,Henk Huisseune,Lucas GRUWEZ,Dries SABBE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-12.

Serialized error injection into a function under test

Номер патента: US8645766B2. Автор: Joel L. Masser,Eileen P. Tedesco. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-02-04.

Method for identifying a valuable document under test, a device, and a sorting machine

Номер патента: EP4266273A1. Автор: Andrea Brambilla,Vincent Moulin. Владелец: European Central Bank. Дата публикации: 2023-10-25.

Methods for growing light emitting devices under ultra-violet illumination

Номер патента: US20180122989A1. Автор: Tsutomu Ishikawa,Isaac WILDESON,Erik Charles NELSON,Parijat DEB. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2018-05-03.

Methods For Growing Light Emitting Devices Under Ultra-Violet Illumination

Номер патента: US20200127166A1. Автор: Tsutomu Ishikawa,Isaac WILDESON,Erik Charles NELSON,Parijat DEB. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2020-04-23.

System and method for device under test cooling using digital scroll compressor

Номер патента: SG11201908041YA. Автор: Chuan Weng,Norbert Elsdoerfer. Владелец: Temptronic Corp. Дата публикации: 2019-09-27.

Well jet plant for selective testing of formations

Номер патента: RU2631580C1. Автор: Зиновий Дмитриевич Хоминец,Олег Петрович Андреев,Александр Мирославович Карасевич. Владелец: Александр Мирославович Карасевич. Дата публикации: 2017-09-25.

An apparatus for testing of breathing systems for divers

Номер патента: WO1994007568A1. Автор: Nils Terje Ottestad. Владелец: Ottestad Breathing Systems A/S. Дата публикации: 1994-04-14.

System and method for device under test cooling using digital scroll compressor

Номер патента: EP3619431A1. Автор: Chuan Weng,Norbert Elsdoerfer. Владелец: Temptronic Corp. Дата публикации: 2020-03-11.

System and method for device under test cooling using digital scroll compressor

Номер патента: WO2018204218A1. Автор: Chuan Weng,Norbert Elsdoerfer. Владелец: TEMPTRONIC CORPORATION. Дата публикации: 2018-11-08.

System and method for device under test cooling using digital scroll compressor

Номер патента: US20180313589A1. Автор: Chuan Weng,Norbert Elsdoerfer. Владелец: Temptronic Corp. Дата публикации: 2018-11-01.

System and apparatus having a seal member for sealing of a device under test

Номер патента: US12000487B2. Автор: Christopher Wade Ackerman,Paul Diglio,Craig Yost. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

System and apparatus having a seal member for sealing of a device under test

Номер патента: US20240068572A1. Автор: Christopher Wade Ackerman,Paul Diglio,Craig Yost. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Apparatus and method for controlling the temperature of an electronic device under test

Номер патента: MY137724A. Автор: Charles B Wall,Cynthia M Barnes. Владелец: Delta Design Inc. Дата публикации: 2009-03-31.

Method of use of an air-jet engine or propulsion device under water

Номер патента: RU2661633C1. Автор: Петр Викторович Соловьев. Владелец: Петр Викторович Соловьев. Дата публикации: 2018-07-17.

Pollutant transfer device under unsaturated conditions

Номер патента: LU500825B1. Автор: CHEN Liu,Zhuo Guan,Junfang Cui. Владелец: Inst Of Mountain Hazards And Environment Chinese Academy Of Sciences. Дата публикации: 2022-05-04.

Optical time domain reflectometer

Номер патента: CA2043946C. Автор: Michel Lessard,Vincent Choong So. Владелец: Bell Canada Inc. Дата публикации: 2003-06-17.

USB optical time domain reflector (OTDR)

Номер патента: CN2697623Y. Автор: 徐学群. Владелец: Jieyaoguang Communication Co ltd. Дата публикации: 2005-05-04.

Optical time domain reflectometer based on double acoustic-optical modulators and common-mode rejection method of optical time domain reflectometer

Номер патента: CN103900623A. Автор: 印新达,闫奇众,谢竞. Владелец: Wuhan Ligong Guangke Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-02.

BOTDA (Brillouin Optical Time Domain Analyzer) and POTDR (Polarization Optical Time Domain Reflectometer) combined distributed type optical fiber sensing system

Номер патента: CN102829807B. Автор: 饶云江,彭飞,姜芸,王子南. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2015-07-01.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER USER INTERFACE

Номер патента: US20120200846A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-09.

Optical Transceiver Integrated with Optical Time Domain Reflectometer Monitoring

Номер патента: US20120243863A1. Автор: Yang Yi,Lu Yong,ZHAO Fuqiang. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-27.

Embedded Optical Time Domain Reflectometer for Optically Amplified Links

Номер патента: US20130038865A1. Автор: Sharma Manish,McClean Ian. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-14.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER TEST SIGNAL MODULATION CIRCUIT, AND PASSIVE OPTICAL NETWORK SYSTEM AND APPARATUS USING SAME

Номер патента: US20130148108A1. Автор: Zhong Degang,Li Zebin,Li Shengping,Yu Changliang. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-06-13.

RAMAN AMPLIFIER SYSTEM AND METHOD WITH INTEGRATED OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER

Номер патента: US20140077971A1. Автор: Bao Jun,SRIDHAR Balakrishnan,Archambault Jean-Luc. Владелец: Ciena Corporation. Дата публикации: 2014-03-20.

Novel circular frequency shifting based BOTDR (Brillouin Optical Time Domain Reflectometer) coherent detection device and method

Номер патента: CN104697557A. Автор: 张益昕,张旭苹,王顺,孙振鉷,夏岚. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-06-10.

Signal processing method for simultaneously improving BOTDR (Brillion optical time domain reflectometer) spatial resolution ratio and frequency shift measuring precision

Номер патента: CN102607449A. Автор: 王峰,张旭苹,李密,路元刚,姚雨果. Владелец: NANJING UNIVERSITY (SUZHOU) HIGH-TECH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-07-25.

Multi-wavelength optical time domain reflectometer capable of carrying out optical test

Номер патента: CN216252751U. Автор: 马连升. Владелец: Shandong Guangke Electronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-04-08.

Brillouin optical time domain reflectometer based on multimode optical fiber

Номер патента: CN112683312A. Автор: 李永倩,王健健. Владелец: NORTH CHINA ELECTRIC POWER UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-04-20.

Passive homodyne demodulation device and passive homodyne demodulation method for fai-OTDR (optical time domain reflectometer)

Номер патента: CN103217226A. Автор: 张超,张明江,王云才. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2013-07-24.

Distributed optical fiber fence intrusion detection and location method based on phi-OTDR (Optical Time Domain Reflectometer)

Номер патента: CN102280001B. Автор: 饶云江,李姗姗,吴慧娟,吴庥伟. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2013-01-16.

Method for modulating and superposing optical time domain reflectometer (OTDR) testing signals in data transmission optical signals and OTDR testing method

Номер патента: CN102158280A. Автор: 王健. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-08-17.

Brillouin optical time domain reflectometer for single-photon detection based on edged filter method

Номер патента: CN102620857A. Автор: 胡君辉,张益昕,张旭苹,李存磊. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-08-01.

Peak searching method of Brillouin optical time domain reflectometer (BOTDR) system

Номер патента: CN102445285B. Автор: 刘亮,王媛媛,王文强,张学孟,徐大可,蔡一磊. Владелец: Guodian Nanjing Automation Co Ltd. Дата публикации: 2014-04-02.

Embedded optical time domain reflectometer based on FPGA and wireless communication technique

Номер патента: CN204967820U. Автор: 黄育飞. Владелец: Tianjin Qiance Daoke Science & Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-13.

Optical time domain reflectometer based on bidirectionally-amplified erbium-doped fiber amplifier

Номер патента: CN201550115U. Автор: 王东,邹念育,王一美,王镜清. Владелец: Dalian Polytechnic University. Дата публикации: 2010-08-11.

Optical time-domain reflectometer based on superconducting nanowire single-photon detector

Номер патента: CN203572631U. Автор: 陈健,康琳,赵清源,吴培亨,张蜡宝. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-04-30.

Optical time domain reflectometer with wireless communication function

Номер патента: CN203166921U. Автор: 李楚元. Владелец: Inno Instrument Inc. Дата публикации: 2013-08-28.

Wavelength-scanning type Brillouin optical time-domain reflectometer

Номер патента: CN102607451B. Автор: 王峰,赵晓东,张旭苹,李密,路元刚. Владелец: NANJING UNIVERSITY (SUZHOU) HIGH-TECH INSTITUTE. Дата публикации: 2014-04-09.

High-precision optical time domain reflectometer

Номер патента: CN210578552U. Автор: 秦铭远. Владелец: Shanghai Yuxi Electronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-05-19.

Low-noise anti-interference optical time domain reflectometer with secondary shielding

Номер патента: CN202533243U. Автор: 张海峰. Владелец: Shandong Senter Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-14.

Optical time domain reflectometer with 3G function

Номер патента: CN203261332U. Автор: 李楚元. Владелец: Inno Instrument Inc. Дата публикации: 2013-10-30.

Optical time domain reflectometer with information identification function

Номер патента: CN211151960U. Автор: 白海军,易佳胜. Владелец: Haitai Nike Tianjin Industrial Co ltd. Дата публикации: 2020-07-31.

BOTDR (Brillouin Optical Time Domain Reflectometer) for calibrating optical power of reference light and calibrating method thereof

Номер патента: CN101839698A. Автор: 张旭苹,王金兵,路元刚,李存磊. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2010-09-22.

Optical cable fault diagnosis device for OTDR (optical time Domain reflectometer) identification

Номер патента: CN212785358U. Автор: 张建,刘禹. Владелец: Tianjin Ruitong Communication Service Co ltd. Дата публикации: 2021-03-23.

Brillouin optical time domain reflectometer for single-photon detection based on edged filter method

Номер патента: CN102620857B. Автор: 胡君辉,张益昕,张旭苹,李存磊. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-11-27.

Device for Brillouin optical time domain reflectometer based on optical phase-locked ring

Номер патента: CN102809430B. Автор: 董永康,吕志伟. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2014-09-17.

Super-long distance phase-sensitive optical time domain reflectometer (Phi-OTDR) system

Номер патента: CN102706437A. Автор: 饶云江,王杰,吴慧娟,贾新鸿. Владелец: YANGZHOU SENSING OPTO-ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-03.

Balancing equipment for coherent sharp scattering optical time domain reflectometer

Номер патента: CN210198676U. Автор: 刘欣,Xin Liu. Владелец: Chengde Petroleum College. Дата публикации: 2020-03-27.

Optical time-domain reflectometer

Номер патента: USD804974S1. Автор: Yangri Zhao. Владелец: Inno Instrument (china) Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Method for precisely estimating signal to noise ratio of EOM (Electro-Optic Modulator) pulse modulated BOTDR (Brillouin Optical Time Domain Reflectometer)

Номер патента: CN102607631A. Автор: 赵晓东,张旭苹,路元刚. Владелец: NANJING UNIVERSITY (SUZHOU) HIGH-TECH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-07-25.

Optical time domain reflectometer with information identification function

Номер патента: CN203191192U. Автор: 李楚元. Владелец: Inno Instrument Inc. Дата публикации: 2013-09-11.

Pulse optical signal generation method used for Brillouin optical time domain reflectometer (BOTDR) sensing system

Номер патента: CN104964698A. Автор: 万生鹏,黎燕兵. Владелец: NANCHANG HANGKONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-10-07.

Based on relevant dual-pulse time series technique Brillouin optical time domain analysis instrument and the method utilizing this analyser suppression common-mode noise

Номер патента: CN104019836B. Автор: 董永康,吕志伟,滕雷. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2016-03-30.

Distributed type real-time monitoring system based on optical time domain reflection and fiber bragg gratings

Номер патента: CN203024788U. Автор: 杨帆,张晓磊,张哲民. Владелец: WUHAN KANGPU CHANGQING SOFTWARE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-26.

Wavelength-tunable optical time domain reflector with high dynamic range

Номер патента: TW201101717A. Автор: Sheng-Fu LIN,Fu-Yuan Cai,xiu-rong Zhuang,Shi-Cang Chen,Teng-Zhi Feng. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-01.

Optical time domain reflection (OTDR) apparatus having auxiliary power supply USB

Номер патента: TWM254830U. Автор: Shiue-Chiun Shiu,Tze-Wen Luo. Владелец: Radiantech Inc. Дата публикации: 2005-01-01.

Testing of Optical Cable Using Optical Time Domain Reflectometry

Номер патента: US20120176607A1. Автор: OTT Michael James. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-12.

Optical Time Domain Reflectometry (OTDR) Trace Analysis in PON Systems

Номер патента: US20120163800A1. Автор: . Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2012-06-28.

OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETRY FOR MULTIPLE SPATIAL MODE FIBERS

Номер патента: US20130315532A1. Автор: Ryf Roland,Xie Chongjin. Владелец: Alcatel-Lucent USA, Inc.. Дата публикации: 2013-11-28.

Multi-point detection method and device based on optical time-domain reflection technology for refractive index of tapered sensing optical fiber

Номер патента: CN103115895A. Автор: 赵春柳,倪凯,袁剑英. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2013-05-22.

Optical impulse receiving and processing device for optical time domain reflect meter

Номер патента: CN2788167Y. Автор: 徐丙垠,高俊祥,高兴福. Владелец: KEHUI ELECTRICS CO Ltd ZIBO. Дата публикации: 2006-06-14.

Brillouin optical time domain reflection measuring method based on quick fourier transform

Номер патента: CN100504309C. Автор: 王峰,张旭苹,路元刚,窦蓉蓉. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2009-06-24.

Phase sensitive type optical time domain reflection sensing system and method

Номер патента: CN102589593A. Автор: 林彦国. Владелец: HANGZHOU ANYUAN TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-18.

Novel Brillouin optical time domain analyzer

Номер патента: CN101929880B. Автор: 张婕,俞海燕,李浩泉,任尚今. Владелец: NINGBO NUOTCH OPTOELECTRONICS CO Ltd. Дата публикации: 2012-05-30.

Brillouin optical time domain analysis meter capable of locking frequencies of two lasers based on optical phase-locked loop

Номер патента: CN102829812B. Автор: 董永康,吕志伟. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2015-01-07.

High-speed data acquisition and real-time accumulation circuit for light-time domain reflectometer

Номер патента: CN1114286C. Автор: 朱红春. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-09.

Multifrequency probe light time division multiplexing coherent light time domain reflectometer method and apparatus thereof

Номер патента: CN102412894A. Автор: 张旭苹,吕立冬,宋跃江. Владелец: NANJING UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-04-11.

Optical network unit optical assembly with optical time domain reflection function

Номер патента: CN202679371U. Автор: 邹翔,宋琛. Владелец: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-16.

Brillouin optical time domain analyzing and sensing system based on ultra-long annular laser pumping

Номер патента: CN103364106A. Автор: 饶云江,王子南,贾新鸿. Владелец: YANGZHOU SENSING OPTO-ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-23.

Rapid Brillouin optical-time domain analysis type strain measuring device and data processing method

Номер патента: CN105241390A. Автор: 阮圣平,张歆东,董玮,李嘉琪,张有迪. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2016-01-13.

Frequency code optical fiber time domain reflectometer and working method thereof

Номер патента: CN104344945A. Автор: 马麟,刘庆文,杜江兵,何祖源,樊昕昱. Владелец: WUXI LIANHE PHOTON TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-11.

Sensitivity-enhanced optical time domain reflection distributed Michelson interferometer based on two-core optical fiber

Номер патента: CN104180831A. Автор: 苑立波. Владелец: WUXI WANRUN PHOTONIC TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-03.

Wavelength division multiplexing transceiver optical module with optical time domain reflection function

Номер патента: CN218788767U. Автор: 王斐,赵翔,王晨阳,谭先友,武玉谦,邰慧琴. Владелец: Qingdao Xinghang Photoelectric Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-04-04.

Chaotic laser related Brillouin optical time domain analyzer integrated with optical fiber Raman amplifier

Номер патента: CN102322810B. Автор: 金尚忠,王剑锋,金永兴,李裔,余向东,张在宣,龚华平. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2013-05-01.

A kind of phase sensitive optical time domain reflection system based on self-mixing technology

Номер патента: CN105136175B. Автор: 张志勇,罗斌,何海军,潘炜,闫连山,邹喜华,邵理阳. Владелец: Southwest Jiaotong University. Дата публикации: 2017-10-24.

Optical module for light-time domain reflectometer with wide dynamic range

Номер патента: CN1113490C. Автор: 李长春,汪永忠. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-02.

Interference -type light time domain reflectometer

Номер патента: CN101290235A. Автор: 刘永智,欧中华,代志勇,张利勋,彭增寿. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2008-10-22.

Distribution-type fiber vibration sensor system based on phase detection and optical time domain reflection

Номер патента: CN101566497B. Автор: 刘亮,陈宇飞,皋魏,席刚,周正仙,仝芳轩,尚利军,齐龙舟. Владелец: Shanghai Boom Fiber Sensing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-13.

High-speed data acquisition and real-time accumulation circuit for light-time domain reflectometer

Номер патента: CN1330266A. Автор: 朱红春. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2002-01-09.

Optical time domain reflect method based on period on-off key chaos signals

Номер патента: CN104158587A. Автор: 徐航,张明江,赵彤,董翔宇,王云才,王冰洁,王安帮. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2014-11-19.

A kind of system detecting optical time domain reflection analysis meter

Номер патента: CN204481816U. Автор: 朱天全,鲍胜青,颜小华. Владелец: Beijing OPWILL Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-15.

Brillouin optical-time-domain analyzer based on coherence dual-pulse pair sequence technology and method for restraining common-mode noise by utilizing same

Номер патента: CN104019836A. Автор: 董永康,吕志伟,滕雷. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2014-09-03.

PON (passive optical network) monitoring system based on wavelength scanning narrow line width OTDR (optical time domain reflectometry), and PON monitoring method based on wavelength scanning narrow line width OTDR

Номер патента: CN104253644B. Автор: 陈笑,陈根祥,王义全,谢小波,田恺,黄金安,马雪芳. Владелец: Jiangsu Unikit Optical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-15.

Sensor detecting method and device for enhanced coherent optical time domain reflection

Номер патента: CN104296783A. Автор: 王丹,印新达,闫奇众. Владелец: Wuhan Ligong Guangke Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-21.

Method for improving optical fiber OTDR (optical time domain reflectometry) test performance

Номер патента: CN102820921A. Автор: 杨毅,赵福强,仵允贤. Владелец: Source Photonics Chengdu Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-12.

Vibration detection method based on coherent optical time domain reflection

Номер патента: CN104422512A. Автор: 张欣,杨嵩,尤文浩,张金权,刘素杰,杨依光,李香文,刘惟,邸英彬,禹胜阳. Владелец: China Petroleum & Gas Pipeline Telecommunication & Electricity Engineering Corpo. Дата публикации: 2015-03-18.

Optical time domain reflect method based on period on-off key chaos signals

Номер патента: CN104158587B. Автор: 徐航,张明江,赵彤,董翔宇,王云才,王冰洁,王安帮. Владелец: TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-02-15.

Brillouin optical time domain analyzer with high spatial resolution

Номер патента: CN211042527U. Автор: 张春艳,卢海洋,涂勤昌. Владелец: Hangzhou Optosensing Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-07-17.

Pulse coding fiber Brillouin optical time domain analyzer

Номер патента: CN102322885A. Автор: 王剑锋,余向东,张在宣,龚华平. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2012-01-18.

Three-order Raman amplification technology-based Brillouin optical time domain analysis system

Номер патента: CN102506915B. Автор: 饶云江,张伟利,王子南,贾新鸿. Владелец: University of Electronic Science and Technology of China. Дата публикации: 2014-12-10.

Passive optical network and optical time domain detector optical module thereof

Номер патента: CN102957977A. Автор: 张强,张洪铭,赵其圣. Владелец: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-06.

Brillouin optical time domain reflectormeter method and device based on parallel data processing technique

Номер патента: CN103148878A. Автор: 梁云,李炳林,郭经红,吕立冬. Владелец: China Electric Power Research Institute Co Ltd CEPRI. Дата публикации: 2013-06-12.

Optical time domain depolarizer

Номер патента: CN2766258Y. Автор: 刘�文,张璐,罗勇,许远忠,胡强高,肖远. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-22.

Optical network unit three-direction optical assembly with optical time domain signal reflection function

Номер патента: CN203259690U. Автор: 邹翔. Владелец: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-30.

Novel optical fiber Brillouin optical time-domain analyser

Номер патента: CN201233225Y. Автор: 张淑琴,张在宣. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2009-05-06.

Optical time domain reflectometry

Номер патента: GB8914364D0. Автор: . Владелец: British Telecommunications plc. Дата публикации: 1989-08-09.

Stand for accelerated resource tests of jet devices

Номер патента: RU2338096C1. Автор: Александр Макарович Салдаев,Алексей Семенович Овчинников,Виктор Васильевич Вицков,Игорь Владимирович Стрельцов,Александр Макарович Салдаев (RU),Алексей Семёнович Овчинников (RU),Виктор Васильевич Вицков (RU),Игорь Владимирович Стрельцов (RU). Владелец: Федеральное государственное учреждение высшего профессионального образования "Волгоградская государственная сельскохозяйственная академия". Дата публикации: 2008-11-10.

Bench for static tests of rocket engine housing

Номер патента: RU2388926C1. Автор: Сергей Иванович Бурдюгов,Сергей Витальевич Огнев,Олег Юрьевич Трескин. Владелец: Открытое акционерное общество Научно-производственное объединение "Искра". Дата публикации: 2010-05-10.

Bench for impact tests of structure

Номер патента: RU2568409C1. Автор: Ринат Назифович Шакиров,Сергей Николаевич Самохвалов,Сергей Валерьевич Кипушов,Владимир Анатольевич Сафронов,Сергей Евгеньевич Серёдкин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ". Дата публикации: 2015-11-20.

Device for testing of induction electric motors

Номер патента: RU2321012C2. Автор: Павел Алексеевич Кулаков,Светлана Николаевна Никандрова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Самарский государственный технический университет. Дата публикации: 2008-03-27.

Method of and device for hydraulic testing of oil well tubings

Номер патента: RU2192627C1. Автор: В.Г. Самсонов,Ю.И. Баранов,А.А. Давыдов,М.И. Усольцев. Владелец: Научно-производственное предприятие "Техмашконструкция". Дата публикации: 2002-11-10.

Device for breaking test of light conduits

Номер патента: RU2193174C1. Автор: М.Я. Яковлев,А.В. Мильков. Владелец: Мильков Александр Валерьевич. Дата публикации: 2002-11-20.

Method for running full-scale tests of radio electronic systems

Номер патента: RU2137193C1. Автор: Л.Н. Шустов,Ю.М. Шабатура,В.Д. Добыкин,Ф.А. Шапкин. Владелец: Военно-воздушная инженерная академия им.Н.Е.Жуковского. Дата публикации: 1999-09-10.

Device for corrosion tests of specimens under voltage

Номер патента: RU2110785C1. Автор: В.П. Стариков,А.М. Козьмин,Г.П. Коструба,Л.П. Алексеев,Я.Ш. Щукин,Э.П. Маляровский,В.Е. Ясюкевич. Владелец: Акционерное общество открытого типа "Гипронииавиапром". Дата публикации: 1998-05-10.

Method for ultrasonic testing of growing tree bearing capacity

Номер патента: RU2228608C2. Автор: П.М. Мазуркин,С.В. Герасимов. Владелец: Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2004-05-20.

Method for tightness tests of articles

Номер патента: RU2020302C1. Автор: В.В. Бондарик. Владелец: Иркутский филиал Научно-исследовательского института авиационной технологии и организации производства. Дата публикации: 1994-09-30.

Method of nondestructive test of quality of ready reinforced concrete articles

Номер патента: RU2097727C1. Автор: Г.В. Слюсарев,В.И. Коробко. Владелец: Ставропольский государственный технический университет. Дата публикации: 1997-11-27.

Horizontal stand for multi-impact tests of articles

Номер патента: RU2086944C1. Автор: Л.В. Хрусталев. Владелец: Конструкторское бюро "Луч". Дата публикации: 1997-08-10.

Device for bending strength and durability test of gear wheel teeth

Номер патента: RU2086948C1. Автор: А.А. Пономарев,Г.И. Михайлов,А.Н. Апарин. Владелец: Научно-исследовательский институт тепловозов и путевых машин. Дата публикации: 1997-08-10.

Unit for vibration-survival testing of articles

Номер патента: RU2019800C1. Автор: С.Б. Лавринович,В.М. Сурин,В.Г. Назаренко,Б.С. Михалев. Владелец: Минский радиотехнический институт. Дата публикации: 1994-09-15.

Device for testing of pyrotechnical compound

Номер патента: RU2149401C1. Автор: В.Ф. Проскудин. Владелец: Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики. Дата публикации: 2000-05-20.

Method of devices interfacing of distributed control via combined two-wire communication and power line

Номер патента: RU2561454C1. Автор: Юрий Борисович Иванов. Владелец: Государственное казенное образовательное учреждение высшего профессионального образования Академия Федеральной службы охраны Российской Федерации (Академия ФСО России). Дата публикации: 2015-08-27.

Method of testing of equipment for geophysical prospecting by electric means and facilities for processing and interpretation of measured data

Номер патента: RU2073890C1. Автор: А.К. Захаркин,Н.Н. Тарло. Владелец: Сибирский научно-исследовательский институт геологии, геофизики и минерального сырья. Дата публикации: 1997-02-20.

Device for testing of detonators for initiating power

Номер патента: RU2110762C1. Автор: Анатолий Геннадьевич Белявский. Владелец: Анатолий Геннадьевич Белявский. Дата публикации: 1998-05-10.

Testing of cable harnesses

Номер патента: IES79060B2. Автор: Patrick Moore,Patrick Dunne. Владелец: Qualtron R & D Teoranta. Дата публикации: 1998-04-08.

Technological complex of equipment for hydraulic tests of heat exchange unit elements and heat exchange units of heat exchange device, clamping device for connection of pipes to hydraulic system, hydraulic system for hydraulic tests of device pipes, method of hydraulic system assembly for hydraulic tests of device bent pipes, test bench for hydraulic tests of device bent pipes, method of hydraulic tests of device bent pipes (versions), hydraulic system for hydraulic tests of device heat exchange units and test bench for drying of device heat exchange units (versions)

Номер патента: RU2344394C2. Автор: Николай Павлович Селиванов. Владелец: Николай Павлович Селиванов. Дата публикации: 2009-01-20.

Method for thixotropy testing of dental materials and device for implementation thereof

Номер патента: RU2390317C1. Автор: Садулла Ибрагимович Абакаров,Дмитрий Вячеславович Сорокин,Саида Садуллаевна Абакарова,Камиль Султанович Аджиев,Вячеслав Русланович Куликов. Владелец: Дмитрий Вячеславович Сорокин. Дата публикации: 2010-05-27.

Method of compressibility test of porous material environment and device for its implementation

Номер патента: RU2555529C2. Автор: Евгений Николаевич Хрусталев. Владелец: Евгений Николаевич Хрусталев. Дата публикации: 2015-07-10.

Device for automatic control of loading during program endurance tests of mechanical structures

Номер патента: RU2365965C2. Автор: Андрей Яковлевич Стерлин,Алла Анатольевна Галактионова. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ"). Дата публикации: 2009-08-27.

Method of high-intensity shock testing of devices and equipment

Номер патента: RU2335748C1. Автор: Александр Сергеевич Орлов,Сергей Александрович Орлов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное объединение прикладной механики им. академика М.Ф. Решетнева". Дата публикации: 2008-10-10.

Device for test of protective set of high-harmonic filters

Номер патента: RU2066867C1. Автор: А.А. Никитин,Г.И. Иванова,Е.В. Жданов,В.А. Шарлот,Н.М. Зарков,Г.А. Луценко. Владелец: Всероссийский электротехнический институт им.В.И.Ленина. Дата публикации: 1996-09-20.

Device for dynamic tests of electric rail vehicle current collectors

Номер патента: RU2296062C1. Автор: Олег Алексеевич Сидоров,Иван Евгеньевич Чертков,Олег Алексеевич Сидоров (RU),Иван Евгеньевич Чертков (RU). Владелец: Омский государственный университет путей сообщения. Дата публикации: 2007-03-27.

Method and device for laser-acoustic test of solid materials

Номер патента: RU2232983C2. Автор: А.А. Карабутов,В.Л. Шкуратник,Е.Б. Черепецка,Е.Б. Черепецкая. Владелец: Черепецкая Елена Борисовна. Дата публикации: 2004-07-20.

Method of hydraulic tests of pipelines using horizontal directional drilling unit

Номер патента: RU2568415C1. Автор: Игорь Григорьевич Ткаченко,Борис Геннадьевич Шумский,Вадим Георгиевич Гераськин,Алексей Андреевич Кислун,Сергей Николаевич Шабров,Пётр Николаевич Шабров,Сергей Петрович Сусликов. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Газпром Трансгаз Краснодар". Дата публикации: 2015-11-20.

Device to isolate well interval under test

Номер патента: RU2278948C1. Автор: Владимир Николаевич Гусев,Антон Павлович Симанчук. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт им. Г.В. Плеханова (технический университет). Дата публикации: 2006-06-27.

Method of leak-proofness test of flight vehicle systems having gas and hydraulic lines separated by compensator flexible membrane

Номер патента: RU2082135C1. Автор: Н.Г. Панов. Владелец: Ракетно-космическая корпорация "Энергия" им.С.П.Королева. Дата публикации: 1997-06-20.

Device for simulation of faults and in-circuit testing of digital equipment elements

Номер патента: RU2093885C1. Автор: А.Л. Ратанов,А.В. Евженко,И.В. Сопин,А.Н. Чоп. Владелец: Научно-производственное общество "ДИАТОН" (на правах товарищества с ограниченной ответственностью). Дата публикации: 1997-10-20.

Method and device for short-time test of breakdown voltage of liquid dielectric

Номер патента: RU2220427C2. Автор: А.А. Шиляев,В.А. Бербер,Ф.А. Козлов,А.В. Салманов,ев А.А. Шил,Л.С. Якушин. Владелец: Акционерное общество открытого типа "Научно-исследовательский технологический институт". Дата публикации: 2003-12-27.

Device for comparative tests of prostheses of lower limbs by developer having healthy legs

Номер патента: RU2123313C1. Автор: Л.Р. Киракозов,С.С. Кузенков. Владелец: Центральный Научно-Исследовательский Институт Протезирования И Протезостроения. Дата публикации: 1998-12-20.

Method for testing of electric commutator

Номер патента: RU2117309C1. Автор: В.В. Долгих,Е.В. Кириевский,В.Е. Кириевский,П.В. Долгих. Владелец: Научно-производственное объединение "Диатех". Дата публикации: 1998-08-10.

Unit for test of products for influence of external pressure

Номер патента: RU2106613C1. Автор: Н.Н. Катуркин,А.Н. Пауков,В.И. Колотилин. Владелец: Конструкторское бюро приборостроения. Дата публикации: 1998-03-10.

Method of mechanical crack-resistance testing of metal materials

Номер патента: RU2019810C1. Автор: Сергей Алексеевич Фирстов,Сергей Александрович Войницкий. Владелец: Малое предприятие "Альмагест". Дата публикации: 1994-09-15.

Chamber for testing of fire detectors

Номер патента: RU2168214C2. Автор: В.П. Ситников,В.В. Виноградский,В.А. Лукьянов,А.М. Чудаев. Владелец: Закрытое акционерное общество Производственное объединение "Спецавтоматика". Дата публикации: 2001-05-27.

Method of standardization, estimation and correction of loading level of transport facilities under test to provide the conditions of reproducibility of their reliability

Номер патента: RU2090855C1. Автор: В.С. Устименко. Владелец: 21 Научно-исследовательский испытательный институт автомобильной техники МО РФ. Дата публикации: 1997-09-20.

Device for testing of input protective circuit breakers

Номер патента: RU2323446C2. Автор: Георгий Борисович Черников. Владелец: Георгий Борисович Черников. Дата публикации: 2008-04-27.

Installation for fatigue tests of samples of materials at bend

Номер патента: RU2416084C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт имени Г.В. Плеханова (технический университет)". Дата публикации: 2011-04-10.

Stand for conducting life tests of hydraulic cylinders

Номер патента: RU2168074C2. Автор: В.А. Тарасов,Д.Ю. Кобзов,А.А. Трофимов,В.В. Головатюк. Владелец: Братский государственный индустриальный институт. Дата публикации: 2001-05-27.

Method of fatigue testing of turbomachine blades

Номер патента: RU2029269C1. Автор: Н.В. Степанов,М.И. Резник,Е.В. Заставская,Л.П. Мекердичан. Владелец: Предприятие "Мотор СIч". Дата публикации: 1995-02-20.

Method for rejection tests of layout-bearing insulation or semiconductor substrate and electronic devices for external effects

Номер патента: RU2138830C1. Автор: М.Ф. Яфраков,Ю.И. Борисов,А.С. Грошев,Б.Н. Юдин. Владелец: Закрытое акционерное общество Научно-технический центр "Модуль". Дата публикации: 1999-09-27.

Rig for comparative and life tests of tension sprockets

Номер патента: RU2009458C1. Автор: Е.И. Бондарев,Ю.Н. Шарлай,В.Я. Шляховер. Владелец: Производственное объединение "Херсонский комбайновый завод им.Г.И.Петровского". Дата публикации: 1994-03-15.

Method of dynamic tests of members

Номер патента: RU2034256C1. Автор: А.З. Воронков,В.В. Ляхин. Владелец: Вертолетный научно-технический комплекс им.Н.И.Камова. Дата публикации: 1995-04-30.

Blood pressure measuring device under motion activity conditions

Номер патента: RU2534416C2. Автор: Александр Иванович Фесенко,Владимир Михайлович Строев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" ФГБОУ ВПО ТГТУ. Дата публикации: 2014-11-27.

Stand for dynamic tests of specimens

Номер патента: RU2047152C1. Автор: Евгений Васильевич Лодус. Владелец: Евгений Васильевич Лодус. Дата публикации: 1995-10-27.

Display of Devices on an Interface based on a Contextual Event

Номер патента: US20120001723A1. Автор: Hunter Jim. Владелец: MOTOROLA MOBILITY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of indication of failure in section of hydraulic chain under test

Номер патента: RU2052674C1. Автор: Владимир Иванович Глухов,Геннадий Алексеевич Бабкин,Владимир Михайлович Костин,Евгений Алексеевич Шутков,Лев Давидович Юз,Анатолий Антонович Трихлеб. Владелец: Анатолий Антонович Трихлеб. Дата публикации: 1996-01-20.

Device for measuring acoustic resonance frequencies of specimens under test in auto-oscillation mode

Номер патента: RU2054667C1. Автор: Владимир Альбертович Бархатов. Владелец: Владимир Альбертович Бархатов. Дата публикации: 1996-02-20.

Universal insert tool for fixing a bga package under test

Номер патента: SG148909A1. Автор: Ming-Yen Wu. Владелец: Powertech Technology Inc. Дата публикации: 2009-01-29.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.