Method for testing device under test and apparatus using the same
Номер патента: US11320483B2
Опубликовано: 03-05-2022
Автор(ы): Byeong Yun KIM, Byung Kyu Kim
Принадлежит: Phosphil Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-05-2022
Автор(ы): Byeong Yun KIM, Byung Kyu Kim
Принадлежит: Phosphil Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
A built off self test circuit system or a pattern generating system that have look up table and a method for outputting test data for device under test using the system
Номер патента: TW201133009A. Автор: Kyung-Hun Chang,Se-Kyung Oh. Владелец: It & T. Дата публикации: 2011-10-01.