Cell-to-cell comparison method
Номер патента: US20240029235A1
Опубликовано: 25-01-2024
Автор(ы): Ehud GABAI, Ella MENDELSON, Eyal Shamur, Junhee Jeong, RAM Segal, Tae Hoon Park
Принадлежит: Nextin Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 25-01-2024
Автор(ы): Ehud GABAI, Ella MENDELSON, Eyal Shamur, Junhee Jeong, RAM Segal, Tae Hoon Park
Принадлежит: Nextin Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Defect distribution pattern comparison method and system
Номер патента: US8131057B2. Автор: Yoshiyuki Hanada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-03-06.