Measurement of representative charge loss in a block to determine charge loss state
Номер патента: US20240004567A1
Опубликовано: 04-01-2024
Автор(ы): Mustafa N. Kaynak, Patrick R. KHAYAT, Sivagnanam Parthasarathy, Steven Michael Kientz, Vamsi Pavan Rayaprolu
Принадлежит: Micron Technology Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-01-2024
Автор(ы): Mustafa N. Kaynak, Patrick R. KHAYAT, Sivagnanam Parthasarathy, Steven Michael Kientz, Vamsi Pavan Rayaprolu
Принадлежит: Micron Technology Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Measurement of representative charge loss in a block to determine charge loss state
Номер патента: US11797205B2. Автор: Steven Michael Kientz,Vamsi Pavan Rayaprolu,Mustafa N. Kaynak,Sivagnanam Parthasarathy,Patrick R. KHAYAT. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-24.