SINGLE CELL ANALYSIS USING SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY
Номер патента: US20190339250A1
Опубликовано: 07-11-2019
Автор(ы): Angelo Robert M., Bendall Sean C., Nolan Garry P.
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-11-2019
Автор(ы): Angelo Robert M., Bendall Sean C., Nolan Garry P.
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Single cell analysis using secondary ion mass spectrometry
Номер патента: US12135300B2. Автор: Garry P. Nolan,Sean C. Bendall,Robert M. ANGELO. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2024-11-05.