Test device and method for circuit device and manufacturing method for the same
Номер патента: US20070088996A1
Опубликовано: 19-04-2007
Автор(ы): Takeshi Onodera
Принадлежит: Sony Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-04-2007
Автор(ы): Takeshi Onodera
Принадлежит: Sony Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Self test device and self test method for reconfigurable device mounted board
Номер патента: US7487416B2. Автор: Yoshiyuki Oota. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-02-03.