Temperature control for bottom emitting wafer-level vertical cavity surface emitting laser testing
Номер патента: US20220283220A1
Опубликовано: 08-09-2022
Автор(ы): Eric R. Hegblom
Принадлежит: Lumentum Operations LLC
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 08-09-2022
Автор(ы): Eric R. Hegblom
Принадлежит: Lumentum Operations LLC
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Temperature control for bottom-emitting wafer-level vertical cavity surface emitting laser testing
Номер патента: US11340290B2. Автор: Eric R. Hegblom. Владелец: Lumentum Operations LLC. Дата публикации: 2022-05-24.