Test mode control circuit, semiconductor apparatus and system, and method thereof
Номер патента: US20240159828A1
Опубликовано: 16-05-2024
Автор(ы): Bok Rim KO, Jae Heung Kim, Jin Suk OH, Min Wook Oh, Young Jae An
Принадлежит: SK hynix Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 16-05-2024
Автор(ы): Bok Rim KO, Jae Heung Kim, Jin Suk OH, Min Wook Oh, Young Jae An
Принадлежит: SK hynix Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Test mode control circuit of semiconductor apparatus and control method thereof
Номер патента: US09360520B2. Автор: Tae Sik Yun,Jong Chern Lee. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-06-07.