Method for evaluating of the digital electronics elements stability to the effects of failures from the single particles influence
Номер патента: RU2657327C1
Опубликовано: 13-06-2018
Автор(ы): Владимир Константинович Киселев, Максим Михайлович Венедиктов, Сергей Владимирович Оболенский
Принадлежит: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"), Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ")
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 13-06-2018
Автор(ы): Владимир Константинович Киселев, Максим Михайлович Венедиктов, Сергей Владимирович Оболенский
Принадлежит: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"), Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ")
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Inspection method and wiring current observation method for semiconductor device and apparatus of the same
Номер патента: US6160407A. Автор: Kiyoshi Nikawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-12-12.