Method for testing a multi-chip system or a single chip and system thereof
Номер патента: US20150048855A1
Опубликовано: 19-02-2015
Автор(ы): Gan Wen
Принадлежит: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-02-2015
Автор(ы): Gan Wen
Принадлежит: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for testing a multi-chip system or a single chip and system thereof
Номер патента: US9753087B2. Автор: Gan Wen. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2017-09-05.