Overlapping measurement gaps in layer one and layer three measurements
Номер патента: WO2024092482A1
Опубликовано: 10-05-2024
Автор(ы): Changhwan Park, Fang Yuan, Tao Luo, Yan Zhou
Принадлежит: QUALCOMM INCORPORATED
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 10-05-2024
Автор(ы): Changhwan Park, Fang Yuan, Tao Luo, Yan Zhou
Принадлежит: QUALCOMM INCORPORATED
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Concurrent or overlapping measurement gaps for layer one and layer three measurements
Номер патента: WO2024093983A1. Автор: Tao Luo,Fang Yuan,Yan Zhou,Changhwan Park. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-05-10.