Measurement gaps for li measurements
Номер патента: WO2023070040A1
Опубликовано: 27-04-2023
Автор(ы): Changhwan Park, Jing Lei, Muhammad Nazmul ISLAM, Prashant Sharma
Принадлежит: QUALCOMM INCORPORATED
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 27-04-2023
Автор(ы): Changhwan Park, Jing Lei, Muhammad Nazmul ISLAM, Prashant Sharma
Принадлежит: QUALCOMM INCORPORATED
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Measurement gaps for li measurements
Номер патента: EP4420394A1. Автор: Jing Lei,Prashant Sharma,Changhwan Park,Muhammad Nazmul ISLAM. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-08-28.