Methods and apparatus to perform mask-based depth enhancement for multi-view systems
Номер патента: US20240289929A1
Опубликовано: 29-08-2024
Автор(ы): Hua Zhang, Jianhui DAI, Kin-Hang Cheung, Qingfeng Li, Yanying Sun, Yesheng Xu
Принадлежит: Intel Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-08-2024
Автор(ы): Hua Zhang, Jianhui DAI, Kin-Hang Cheung, Qingfeng Li, Yanying Sun, Yesheng Xu
Принадлежит: Intel Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
3d calibration method and apparatus for multi-view phase shift profilometry
Номер патента: EP4372310A1. Автор: Min Hyuk KIM,Hyeongjun CHO. Владелец: Mirtec Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.