Method of imaging a specimen using ptychography
Номер патента: US20180019098A1
Опубликовано: 18-01-2018
Автор(ы): Bart Jozef Janssen, Eric Gerardus Theodoor Bosch
Принадлежит: FEI Co
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-01-2018
Автор(ы): Bart Jozef Janssen, Eric Gerardus Theodoor Bosch
Принадлежит: FEI Co
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of electron beam imaging of a specimen by combining images of an image sequence
Номер патента: US20140239176A1. Автор: Liang Jin,Benjamin Eugene BAMMES. Владелец: Direct Electron LP. Дата публикации: 2014-08-28.