Apparatus and method for use in monitoring voltage of semiconductor device
Номер патента: KR100655075B1
Опубликовано: 08-12-2006
Автор(ы): 김동민, 이광진, 이병권, 조욱래
Принадлежит: 삼성전자주식회사
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 08-12-2006
Автор(ы): 김동민, 이광진, 이병권, 조욱래
Принадлежит: 삼성전자주식회사
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Storage module and method for using healing effects of a quarantine process
Номер патента: WO2016028376A1. Автор: Abhijeet Manohar,Dana Lee,Henry Chin,Daniel E. Tuers. Владелец: SANDISK TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2016-02-25.