Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Magnetic probe unit

Номер патента: JPS5587061A
Опубликовано: 01-07-1980
Автор(ы): Akihisa Kameari, Akio Kozaki, Masao Yamada
Принадлежит: Japan Atomic Energy Research Institute, Mitsubishi Atomic Power Industries Inc

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Magnetic probe apparatus

Номер патента: US12092708B2. Автор: Simon Richard Hattersley. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2024-09-17.

Reality capture device having roller bearing for supporting a probing unit of it with compensation for increase in preload

Номер патента: EP4261140A1. Автор: Roman Steffen,Matthias Wozasek. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2023-10-18.

Roller bearing for supporting a probing unit of a reality capture device with compensation for increase in preload

Номер патента: US20230332648A1. Автор: Roman Steffen,Matthias Wozasek. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2023-10-19.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: AU2010326366A1. Автор: Simon Richard Hattersley,Quentin Andrew Parkhurst. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2012-06-07.

Probe unit, driving method thereof, and scanning device for detecting tunnel current having said probe unit

Номер патента: CA2002187C. Автор: Osamu Takamatsu,Toshimitsu Kawase,Toshihiko Miyazaki,Hiroyasu Nose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1993-09-21.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: US09427186B2. Автор: Simon Richard Hattersley,Quentin Andrew Pankhurst. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2016-08-30.

Apparatus and method for securing the connection of a coaxially arranged tube of a measuring probe unit of a fill-level measuring device to a process connection element

Номер патента: US20130127156A1. Автор: Dirk Osswald. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2013-05-23.

Probe unit for test tools and method of manufacturing the same

Номер патента: US09465048B1. Автор: Wei-Chih Wang. Владелец: Inotera Memories Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Probe unit with cleaning means

Номер патента: US20160025617A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Anders DALLAND,Sindre Rognved Hansen,Bjørn Atle ØVERLAND,Øyvind SMITH-JAHNSEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2016-01-28.

Probe unit with cleaning means

Номер патента: EP2946193A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Anders DALLAND,Sindre Rognved Hansen,Bjørn Atle ØVERLAND,Øyvind SMITH-JAHNSEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2015-11-25.

Probe unit

Номер патента: US20170299631A1. Автор: Yoshio Yamada,Kohei Hironaka. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

Probe unit

Номер патента: US20240053380A1. Автор: Hajime Arai,Futa SASAKI,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: Masaaki Komori,Katsuo Oki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Conductive particle-disposed film having conductive particles disposed within an elastomer film, method for producing the same, test probe unit, and continuity test method

Номер патента: US12066458B2. Автор: Shinichi Hayashi,Yasushi Akutsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Probe unit

Номер патента: US11782074B2. Автор: Tsuyoshi Inuma,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Probe unit

Номер патента: US11994535B2. Автор: Shuji Takahashi,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Probe unit

Номер патента: EP4327753A1. Автор: Norihiro Suzuki,Yukio Ueda. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-28.

Distance compensation in magnetic probe testing systems wherein object to probe spacing is employed as an exponent in excitings probes or processing probe outputs

Номер патента: US4843318A. Автор: Stanley Greenblatt,Richard H. Colman,Edward D. Spierer. Владелец: Magnetic Analysis Corp. Дата публикации: 1989-06-27.

Magnetic probing device

Номер патента: EP4152055A1. Автор: Keiji Igarashi,Yoshiteru Kyooka. Владелец: Kyooka Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Magnetic probing device

Номер патента: US20230168108A1. Автор: Keiji Igarashi,Yoshiteru Kyooka. Владелец: Kyooka Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Magnetic probing device

Номер патента: CA3177619A1. Автор: Keiji Igarashi,Yoshiteru Kyooka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-11-18.

Magnetic probing device

Номер патента: US11982545B2. Автор: Keiji Igarashi,Yoshiteru Kyooka. Владелец: Kyooka Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Systems, devices and methods related to near-field electric and magnetic probes

Номер патента: US10041987B2. Автор: Guohao Zhang,Dinhphuoc Vu Hoang. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2018-08-07.

Magnetic probe

Номер патента: US4268771A. Автор: Melvin A. Lace. Владелец: Individual. Дата публикации: 1981-05-19.

Probe unit

Номер патента: US20170343407A1. Автор: Robert Schmidt,Armin Wernet,Kaj Uppenkamp,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2017-11-30.

Method of actively counteracting displacement forces with a probing unit

Номер патента: US09726482B2. Автор: Claudio Iseli,Bernhard Sprenger. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-08-08.

Probe unit

Номер патента: US09702905B2. Автор: Mitsuhiro Kondo,Yoshio Yamada,Makoto Yumino,Satoshi Shoji. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Electric contact probe unit

Номер патента: MY125717A. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-30.

Probe Unit

Номер патента: US09500512B2. Автор: Robert Schmidt,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-11-22.

Probe unit substrate

Номер патента: US7800384B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-21.

Probe unit substrate

Номер патента: US20090128175A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-21.

Probe unit and holder for a probe unit

Номер патента: US20230333140A1. Автор: Matthias Rudkowski. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2023-10-19.

Measurement probe unit for metrology applications

Номер патента: US20180172442A1. Автор: Frank Thys. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-06-21.

Probe unit and holder for a probe unit

Номер патента: GB2619795A. Автор: Rudkowski Matthias. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2023-12-20.

Probe unit and needle thereof

Номер патента: WO2008153238A1. Автор: Tea-Woon Jeon. Владелец: Im Co., Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Probe unit correction method

Номер патента: US11761759B2. Автор: Kohju KASAHARA. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Probe unit for testing panel

Номер патента: WO2010104289A2. Автор: Yi Bin Ihm,Nam Jung Her,Jun Soo Cho. Владелец: Pro-2000 Co. Ltd.. Дата публикации: 2010-09-16.

Multi probe unit and measuring apparatus comprising thereof

Номер патента: US6420889B1. Автор: Shigeki Terada. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-07-16.

Probe unit with a free length cantilever contactor and pedestal

Номер патента: US11860190B2. Автор: Satoshi Narita,Jukiya Fukushi,Shou HARAKO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20220317155A1. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Wire material for spring, contact probe, and probe unit

Номер патента: TW201043969A. Автор: Toshio Kazama,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-16.

Spring wire, contact probe, and probe unit

Номер патента: EP2418495A4. Автор: Toshio Kazama,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-26.

Magnetic Probe Apparatus

Номер патента: US20200256935A1. Автор: Hattersley Simon Richard. Владелец: Endomagnetics Ltd.. Дата публикации: 2020-08-13.

Magnetic probe apparatus

Номер патента: US10634741B2. Автор: Simon Richard Hattersley. Владелец: ENDOMAGNETICS LTD. Дата публикации: 2020-04-28.

Probe, method of manifacturing the probe, probe unit, and information recording/reproducing apparatus using the probe unit

Номер патента: EP0785410A2. Автор: Takayuki Yagi,Yasuhiro Shimada,Tsutomu Ikeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1997-07-23.

Probe unit and manufacturing method thereof

Номер патента: JP4382593B2. Автор: 邦夫 樋山,正浩 杉浦,進 萩野. Владелец: Yamaichi Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-16.

PULL PROBE UNIT

Номер патента: BR122020015930B1. Автор: Philip Nott,Christopher Gray,John Mcnab,Ashley Clack. Владелец: Baker Hughes Energy Technology UK Limited. Дата публикации: 2022-07-05.

Method for improved sticking of magnetic particles out of biological liquids to magnetic probe, method for their isolation out of biological liquids due to magnetic probe and method for purification of biological liquids

Номер патента: RU2239192C2. Автор: Хелена СЕППЯНЕН,Пекка ПАЛОМЯКИ,Юкка ТУУНАНЕН,Тимо КЯРМИНИЕМИ. Владелец: Термо Электрон Ой. Дата публикации: 2004-10-27.

Magnetic probes for in vivo capture and detection of extracellular vesicles

Номер патента: US10492709B2. Автор: Mark Audeh,Joshua Simon KLEIN,Anthony M Giannetti,Stephen Morton,James Michael Higbie. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2019-12-03.

Measuring device, probe unit and connection cable

Номер патента: JP6082027B2. Автор: 潔 立石,立石　潔. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2017-02-15.

Probe Unit and Inspection Apparatus

Номер патента: KR100965195B1. Автор: 토모아키 쿠가. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2010-06-24.

Probe seat for testing lcd panel and probe unit having the same and method for manufacturing probe seat for testing lcd panel

Номер патента: KR101114824B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2012-02-15.

Probe sheet for LCD panel inspection, a probe unit comprising the probe sheet, and a method of manufacturing the probe sheet for LCD panel inspection

Номер патента: CN102859371B. Автор: 任利彬,许南重,赵濬秀. Владелец: PRO 2000 CO Ltd. Дата публикации: 2014-12-17.

Probe sheet for lcd panel inspection, a probe unit comprising the probe sheet, and a method of manufacturing the probe sheet for lcd panel inspection

Номер патента: WO2011129557A3. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2012-01-26.

Probe unit and inspection apparatus

Номер патента: TW200909815A. Автор: Tomoaki Kuga. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2009-03-01.

Probe unit and inspecting apparatus

Номер патента: TW200745566A. Автор: Kazuyoshi MIURA,Toyokazu Saitoh,Megumi Akahira. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2007-12-16.

Multilayer board, probe unit, and ultrasonic endoscope

Номер патента: JP7271790B2. Автор: 智之 畠山. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-05-11.

Multilayer board, probe unit, and ultrasound endoscope

Номер патента: US20230052510A1. Автор: Tomoyuki Hatakeyama. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Medical magnetic positioning system and method for determining the position of a magnetic probe

Номер патента: US5762064A. Автор: Donald G. Polvani. Владелец: Northrop Grumman Corp. Дата публикации: 1998-06-09.

Magnetic Probe Device

Номер патента: US20200053861A1. Автор: Zhao Kai,LIU Yongxin,WANG Younian. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2020-02-13.

Magnetic probe device

Номер патента: CN109031166B. Автор: 赵凯,刘永新,王友年. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2019-12-27.

Contact probe and probe unit

Номер патента: TW201213813A. Автор: Akihiro Matsui,Toshio Kazama,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-01.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US9404941B2. Автор: Akihiro Matsui,Toshio Kazama,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Magnetic probe for the measurement of the high frequency magnetic fluctuation under the high temperature, ultra-vacuum and high magnetic field environments

Номер патента: KR100854069B1. Автор: 이상곤,박준교. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2008-08-25.

PROBE UNIT FOR TEST TOOLS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20160282385A1. Автор: Wang Wei-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-29.

Probe unit for test tools and method of manufacturing the same

Номер патента: CN106018884A. Автор: 王威智. Владелец: Inotera Memories Inc. Дата публикации: 2016-10-12.

Apparatus and method for securing the attachment of the tube, which is coaxially arranged around the measurement probe, of a measurement probe unit of the fill level meter to a process connection element

Номер патента: CN103069257A. Автор: 迪尔克·奥斯瓦尔德. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2013-04-24.

Device and method for securing the attachment of a tube, arranged coaxially around a measuring probe, of a measuring probe unit of a fill level measuring device to a process connection element

Номер патента: DE102010038732B4. Автор: Dirk Osswald. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2023-07-27.

Acoustic matching material supply device, ultrasonic probe unit, ultrasonic measurement apparatus, and ultrasonic image display

Номер патента: US20170287459A1. Автор: Yusuke Nakazawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE DISTANCE OF A MAGNETIC PROBE TO A CONDUCTIVE REACTION RAIL

Номер патента: FR2542865B1. Автор: Jürgen MEINS,Gerhard Holzinger,Helmut Grosser. Владелец: Thyssen Industrie AG. Дата публикации: 1988-07-29.

Toroidal probe unit for nuclear magnetic resonance

Номер патента: US7339378B2. Автор: OC Hee Han,Kee Sung Han. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2008-03-04.

ULTRASOUND PROBE UNIT AND ULTRASOUND DIAGNOSTIC APPARATUS

Номер патента: US20180164257A1. Автор: Suginouchi Takehiko,HONGO Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-14.

PHOTOACOUSTIC MEASUREMENT PROBE AND PROBE UNIT AND PHOTOACOUSTIC MEASUREMENT APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20170296063A1. Автор: OSAWA Atsushi,Hashimoto Atsushi,IRISAWA Kaku. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2017-10-19.

Probe for photoacoustic measurement, probe unit comprising same, and photoacoustic measuring device

Номер патента: EP3243443A1. Автор: Atsushi Osawa,Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-11-15.

Photoacoustic imaging apparatus and probe unit used therefor

Номер патента: JP5559081B2. Автор: 覚 入澤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-07-23.

Ultrasound probe unit and ultrasound diagnostic apparatus

Номер патента: US20180164257A1. Автор: Takehiko Suginouchi,Hideo Hongo. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-06-14.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: EP4405662A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander NICOLAISEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2024-07-31.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: US20240353314A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander Nikolaisen. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2024-10-24.

CONTACTLESS MAGNETIC PROBE SENSING AND IMPEDANCE IMAGING OF LIQUID AND SOLID EXCREMENT IN DIAPERS AND OTHER UNDERCLOTHING

Номер патента: US20180000659A1. Автор: Sarhan Sameh,Zuckerman Lawrence Herbert,Naja Jihad. Владелец: Xtrava, Inc.. Дата публикации: 2018-01-04.

Ultrasound probe unit and ultrasound diagnostic apparatus

Номер патента: US20180196130A1. Автор: Eiichi Okawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-07-12.

PROBE UNIT WITH CLEANING MEANS

Номер патента: US20160025617A1. Автор: MAGNUSSEN Stian,TANGEN Hallvard,DALLAND Anders,ØVERLAND Bjørn Atle,HANSEN Sindre Rognved,SMITH-JAHNSEN Øyvind. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2016-01-28.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: NO347663B1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander Nikolaisen. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2024-02-12.

Probe unit with cleaning means

Номер патента: DK2946193T3. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Anders DALLAND,Sindre Rognved Hansen,Bjørn Atle ØVERLAND,Øyvind SMITH-JAHNSEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2017-02-20.

Probe unit with cleaning means

Номер патента: EP2946193B1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Anders DALLAND,Sindre Rognved Hansen,Bjørn Atle ØVERLAND,Øyvind SMITH-JAHNSEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2016-11-30.

Cleaning system for probe unit

Номер патента: CA3232430A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Gunnar Alfheim,Alexander Nikolaisen. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2023-03-30.

Probe unit for testing OLED array glass

Номер патента: KR102216326B1. Автор: 김오범. Владелец: 주식회사 케이에스디. Дата публикации: 2021-02-17.

Oled panel probe unit more changing device

Номер патента: CN107958645A. Автор: 李相斌,曹范尚,金铉谦. Владелец: Yong Friend Dsp Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Base member for probe unit, and probe unit

Номер патента: EP2360482A4. Автор: Mitsuhiro Kondo,Osamu Ito,Toshio Kazama,Kohei Hironaka. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-28.

Base member for probe unit, and probe unit

Номер патента: EP2360482A1. Автор: Mitsuhiro Kondo,Osamu Ito,Toshio Kazama,Kohei Hironaka. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-24.

Sensor sounting structure and probe unit including the sensor mounting structure

Номер патента: KR101539315B1. Автор: 이만업,김효상,유진태. Владелец: 우진 일렉트로나이트(주). Дата публикации: 2015-07-24.

Apparatus for sorting electronic parts and probe unit thereof

Номер патента: KR20110128577A. Автор: 김윤기,박준모. Владелец: 주식회사 탑 엔지니어링. Дата публикации: 2011-11-30.

Preparation method of base film complex for lcd panel test, base film complex, probe block, probe unit comprising the same

Номер патента: KR101454816B1. Автор: 차상훈,전진국. Владелец: 주식회사 나노리퀴드디바이시스코리아. Дата публикации: 2014-11-03.

Chip mounting tape inspection method and probe unit used for inspection

Номер патента: JPWO2004074858A1. Автор: 重樹 石川,崇 仁平. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2006-06-01.

Test system and indexing mechanism with a probe unit

Номер патента: CN106847723A. Автор: 布莱恩·J·鲁特,威廉·A·芬克,约翰·L·戴克李. Владелец: Caladon Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Probe block and probe and the probe unit with this probe block

Номер патента: CN103091520B. Автор: 小笠原崇,山口宪荣. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

Probe unit and its manufacturing method

Номер патента: TWI244551B. Автор: Masahiro Sugiura,Shuichi Sawada,Toshitaka Yoshino. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2005-12-01.

Probe unit, information processing device and information processing method by use thereof

Номер патента: CA2035995A1. Автор: Kunihiro Sakai,Toshimitsu Kawase,Hiroyasu Nose,Akihiko Yamano,Ryo Kuroda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1991-08-09.

Rotatable cylindrical container comprising a rheological probe unit

Номер патента: EP2486385B8. Автор: Jerome Chapdelaine,Denis Beaupre,Frederic Chapdelaine. Владелец: Command Alkon Dutch Tech Bv. Дата публикации: 2016-10-19.

Base member for probe unit, probe holder, probe unit, method for manufacturing base member for probe unit, and layered structure for probe unit

Номер патента: WO2014123235A1. Автор: 風間　俊男,浩平 広中,朋弘 瓦林. Владелец: 日本発條株式会社. Дата публикации: 2014-08-14.

Blade type probe unit

Номер патента: KR100963824B1. Автор: 홍석용. Владелец: 참앤씨(주). Дата публикации: 2010-06-16.

Probe element and probe unit

Номер патента: US12085586B2. Автор: Jun Toda,Kiyoto Araki. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: KOMORI Masaaki,OKI Katsuo. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

Method of fabricating array substrate, array substrate, display apparatus, and probe unit

Номер патента: US20220319937A1. Автор: HAO LIU,Yu AI,Xuewu XIE,Bowen Liu,Yubao Kong,Shi Sun,Ameng Zhang. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Probe unit

Номер патента: US20220018877A1. Автор: Shuji Takahashi,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

PROBE UNIT

Номер патента: US20200225265A1. Автор: Takahashi Shuji,Inuma Tsuyoshi,Hironaka Kohei. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-16.

CONDUCTIVE PARTICLE-DISPOSED FILM, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, TEST PROBE UNIT, AND CONTINUITY TEST METHOD

Номер патента: US20190293683A1. Автор: HAYASHI Shinichi,AKUTSU Yasushi. Владелец: DEXERIALS CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

Contact probe and probe unit

Номер патента: CN102782507A. Автор: 石川浩嗣,茂木孝浩,松井晓洋. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-14.

Probe unit

Номер патента: JP6756946B1. Автор: 毅 井沼,一也 相馬. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-16.

Conductive particle arrangement film, its manufacturing method, inspection probe unit, continuity inspection method

Номер патента: KR102282081B1. Автор: 신이치 하야시,야스시 아쿠츠. Владелец: 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-07-27.

Probe unit

Номер патента: CN113167815A. Автор: 井沼毅,高桥秀志. Владелец: Japan Clockwork Co ltd. Дата публикации: 2021-07-23.

Contact probe and probe unit

Номер патента: TW201042264A. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-01.

Probe unit for testing lcd panel

Номер патента: KR101043818B1. Автор: 박종현,조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2011-06-22.

Film type probe unit

Номер патента: KR101039336B1. Автор: 박상현,이광원,김태현. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2011-06-08.

Probe unit for testing chip on glass panel

Номер патента: KR101177515B1. Автор: 전상민,이광원,최순철. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2012-08-27.

Probe unit and method for fabricating the same

Номер патента: KR101133092B1. Автор: 서수정,박재문. Владелец: 성균관대학교산학협력단. Дата публикации: 2012-04-04.

Probe unit and method for fabricating the same

Номер патента: KR20120012161A. Автор: 서수정,박재문. Владелец: 성균관대학교산학협력단. Дата публикации: 2012-02-09.

Probe unit for testing flat panel display

Номер патента: KR101057594B1. Автор: 전상민,이광원,최순철. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2011-08-18.

Method of manufacturing probe unit

Номер патента: JP2615381B2. Автор: 宣宏 原,重夫 服部,正和 中尾,邦彦 西岡,登明 柚鳥,政彦 内村,俊明 奥村. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1997-05-28.

A kind of probe unit

Номер патента: CN107525953A. Автор: 单剑锋. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-29.

Probe unit for inspecting liquid crytal display panel

Номер патента: KR20060108426A. Автор: 안재일. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2006-10-18.

Magnetic probe

Номер патента: US3664327A. Автор: Ivan H Brown,Reuben H Gordon. Владелец: Individual. Дата публикации: 1972-05-23.

Traffic data collection utilizing a cellular communication network and probe units

Номер патента: US20080242315A1. Автор: Martin A. Ferman. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2008-10-02.

Bed type magnetic field therapy device having magnetic probe controllable driving trajectories and patterns

Номер патента: KR101428526B1. Автор: 김동수. Владелец: 김동수. Дата публикации: 2014-08-11.

Magnetic probes for in vivo capture and detection of extracellular vesicles

Номер патента: US20170143233A1. Автор: Higbie James Michael,KLEIN Joshua Simon,Morton Stephen,Audeh Mark,Giannetti Anthony M.. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

Magnetic probe system and how to use it

Номер патента: JP6875469B2. Автор: キンシオ，マグナス,エバートソン，マリア,ヤンソン，トマス,ドゥーベルベー パーソン，ハンス,オルソン，フレデリック,フレデリクソン，サラ. Владелец: エヌケーアイジェイ エンジニアリング エービー. Дата публикации: 2021-05-26.

Electro-magnetic probe

Номер патента: FR72185E. Автор: Jacques Meriot,Albert Ritter. Владелец: . Дата публикации: 1960-08-05.

Probe unit for measuring at least one state variable of the organism of a farm animal and method for their commissioning

Номер патента: AT517847B1. Автор: Wutte Matthias,Frech Manuel,Stefan Rosenkranz Dr. Владелец: Smaxtec Animal Care Sales Gmbh. Дата публикации: 2017-05-15.

Probe unit for measuring at least one state variable of the organism of a farm animal and method for their commissioning

Номер патента: AT517847A4. Автор: Wutte Matthias,Frech Manuel,Stefan Rosenkranz Dr. Владелец: Smaxtec Animal Care Sales Gmbh. Дата публикации: 2017-05-15.

Method for measuring magnetic field based on electro-optic probing technique and measuring electric field based on magnetic probing technique

Номер патента: US20030173960A1. Автор: Kuen-Wey Shieh. Владелец: Precision Instrument Development Center. Дата публикации: 2003-09-18.

TREATMENT INSTRUMENT, DISTAL SIDE PROBE UNIT, AND PROXIMAL SIDE PROBE UNIT

Номер патента: US20180289986A1. Автор: Kimura Kenichi,SANAI Hideo. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-10-11.

Treatment instrument, distal side probe unit, and proximal side probe unit

Номер патента: US9993665B2. Автор: Kenichi Kimura,Hideo Sanai. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Treatment tool, distal probe unit and proximal probe unit

Номер патента: JP5933874B1. Автор: 健一 木村,木村　健一,秀男 佐内. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-06-15.

Treatment tool, distal side probe unit, and base end side probe unit

Номер патента: CN106028989A. Автор: 佐内秀男,木村健一,木村健. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-10-12.

Current transformer with correction of asymmetries, for use in earth leakage relays, uses magnetic probes to detect asymmetries, and removal of material or addition of magnetic paint to correct them

Номер патента: FR2802016A1. Автор: Jerome Johnson Tiemann,Richard Dudley Baerisch. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2001-06-08.

TREATMENT INSTRUMENT, DISTAL SIDE PROBE UNIT, AND PROXIMAL SIDE PROBE UNIT

Номер патента: US20170021199A1. Автор: Kimura Kenichi,SANAI Hideo. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2017-01-26.

PROBE UNIT, TREATMENT INSTRUMENT, AND TREATMENT SYSTEM

Номер патента: US20180070975A1. Автор: ISHIKAWA MANABU,ONUMA Chie,TOKUNAGA Koki. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-15.

Probe unit, treatment instrument, and treatment system

Номер патента: US9775637B2. Автор: Manabu Ishikawa,Chie Onuma,Koki TOKUNAGA. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Puncture adapter, ultrasonic probe, and ultrasonic probe unit

Номер патента: US20220313212A1. Автор: Tomohiro Sato,Yusuke Kobayashi,Hiroyuki Shikata. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Probe unit, treatment tool, and treatment system

Номер патента: EP3050528A4. Автор: Manabu Ishikawa,Chie Yachi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-06-21.

Adjusting device for magnetic probes

Номер патента: US4063159A. Автор: Peter Häberlein. Владелец: Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG. Дата публикации: 1977-12-13.

Puncture adapter, ultrasonic probe, and ultrasonic probe unit for needle guide attachment

Номер патента: US11779305B2. Автор: Tomohiro Sato,Yusuke Kobayashi,Hiroyuki Shikata. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC PROBE UNIT FOR ARTHROSCOPIC SURGERY

Номер патента: US20180206879A1. Автор: YOSHIMINE Hideto. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-07-26.

PROBE UNIT AND ACOUSTIC WAVE RECEIVING SYSTEM

Номер патента: US20200164219A1. Автор: Fukutani Kazuhiko,Ito Nobuhiro,Hashizume Yohei,Hosoda Masaki. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-28.

PHOTOACOUSTIC MEASUREMENT APPARATUS AND PROBE UNIT FOR USE THEREWITH

Номер патента: US20140051966A1. Автор: IRISAWA Kaku. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2014-02-20.

PHOTOACOUSTIC MEASUREMENT APPARATUS AND PROBE UNIT FOR USE THEREWITH, AND ENDOSCOPE

Номер патента: US20140051967A1. Автор: IRISAWA Kaku. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2014-02-20.

PHOTOACOUSTIC IMAGING SYSTEM AND APPARATUS, AND PROBE UNIT USED THEREWITH

Номер патента: US20140121505A1. Автор: IRISAWA Kaku. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2014-05-01.

ULTRASONIC PROBE UNIT, ULTRASONIC PROBE, AND ULTRASONIC APPARATUS

Номер патента: US20170156695A1. Автор: KIYOSE Kanechika,NAKAMURA Tomoaki. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

PHOTOACOUSTIC MEASUREMENT PROBE AND PROBE UNIT AND PHOTOACOUSTIC MEASUREMENT APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180199820A1. Автор: OSAWA Atsushi,Hashimoto Atsushi,IRISAWA Kaku. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2018-07-19.

Photoacoustic imaging system and device, and probe unit used therein

Номер патента: CN103732153A. Автор: 入泽觉. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Photoacoustic measurement device, probe unit used in same, and endoscope

Номер патента: CN103501707B. Автор: 入泽觉. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-07-15.

HANDS-FREE ultrasonic probe UnIT and ultrasonic diagnostic apparatus comprising the same

Номер патента: KR100968308B1. Автор: 현동규,안미정,안준영. Владелец: (주)메디슨. Дата публикации: 2010-07-08.

Probe unit and optical imaging apparatus therewith and controlling method thereof

Номер патента: KR101944760B1. Автор: 최두환,서성기,배동진. Владелец: 주식회사 모멘텀컨설팅. Дата публикации: 2019-04-17.

Photoacoustic measurement probe and probe unit and photoacoustic measurement apparatus including the same

Номер патента: US11103136B2. Автор: Atsushi Osawa,Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-08-31.

A kind of PET probe unit and pet detector

Номер патента: CN109223019A. Автор: 邵凯,吴光河,许方杰. Владелец: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-18.

ULTRASONIC TREATMENT DEVICE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20130226041A1. Автор: AKAGANE Tsunetaka. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP.. Дата публикации: 2013-08-29.

NON-INVASIVE DEVICE AND METHOD FOR STIMULATING VULVAR TISSUES AND PELVIC FLOOR MUSCLES FOR TREATING AND IMPROVING DYSFUNCTION OR DISORDERS AND PROBE UNIT USED THEREFOR

Номер патента: US20180050201A1. Автор: TAM Pui Ling. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

PROBE UNIT, TREATMENT INSTRUMENT, AND TREATMENT SYSTEM

Номер патента: US20160151647A1. Автор: ISHIKAWA MANABU,ONUMA Chie,TOKUNAGA Koki. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2016-06-02.

The non-invasive device and method and its probe unit used of dysfunction or disorder are treated and improved for stimulating pelvic diaphragm muscle

Номер патента: CN109562255A. Автор: 谭佩玲. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-04-02.

Hand-held probe unit

Номер патента: GB9713907D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1997-09-03.

Magnetic probing device

Номер патента: EP4152055A4. Автор: Keiji Igarashi,Yoshiteru Kyooka. Владелец: Kyooka Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Scanning magnetic probe, magnetic measurement system and magnetic imaging device based on optical fiber and micron diamond

Номер патента: CN111198344A. Автор: 郭彦召,刘刚钦,潘新宇,商延兴,卢亚男,俞永宏. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2020-05-26.

Magnetic probe apparatus and method for providing a wireless connection to a detection device

Номер патента: CA2654401C. Автор: Edmund O. Schweitzer,Laurence Virgil Feight,Witold R. Teller,Donald C. Hicks. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2013-01-08.

Film-type probe unit, method for manufacturing the same, and method for inspecting object being tested

Номер патента: JP2011075554A. Автор: Hun Min Kim,ミン キム，フン. Владелец: Kodi S Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-14.

Magnetic thickness gauges calibration - uses nickel test plate of known thickness providing calibration reading for permanent magnet probe

Номер патента: FR2336658A1. Автор: . Владелец: NIX STEINGROEVE ELEKTRO PHYSIK. Дата публикации: 1977-07-22.

A kind of high frequency magnetic probe diagnostic system for being used to measure radio frequency wave property

Номер патента: CN107896412A. Автор: 张新军,袁帅,王健华,秦成明,赵燕平,毛玉周,刘鲁南. Владелец: Hefei Institutes of Physical Science of CAS. Дата публикации: 2018-04-10.

Method and apparatus for measuring material properties and lift-off components of an object using a magnetic probe

Номер патента: AU2002329471A1. Автор: David John Buttle. Владелец: AEA Technology PLC. Дата публикации: 2003-04-28.

Magnetic probe mounting and adjusting device

Номер патента: CN112798027B. Автор: 郭栋,陈博,刘敏胜,陶仁义,杨圆明,白仁华. Владелец: ENN Science and Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-24.

Method and apparatus for measuring material properties and lift-off components of an object using a magnetic probe

Номер патента: WO2003034054A3. Автор: David John Buttle. Владелец: David John Buttle. Дата публикации: 2003-09-12.

Magnetic probe

Номер патента: DE69729534T2. Автор: Nicholas F. Busch,Joel D. Stolfus,Scott L. Hunter. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 2005-07-14.

Magnetic probe apparatus and method for providing a wireless connection to a detection device

Номер патента: US7746241B2. Автор: Edmund O. Schweitzer, Iii,Laurence Virgil Feight,Donald C. Hicks,Witold R. Tellor. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2010-06-29.

Magnetic probe apparatus and method for providing a wireless connection to a detection device

Номер патента: AU2007253736A1. Автор: Edmund O. Schweitzer,Laurence Virgil Feight,Witold R. Teller,Donald C. Hicks. Владелец: Schweitzer Engineering Laboratories Inc. Дата публикации: 2007-11-29.

SYSTEMS, DEVICES AND METHODS RELATED TO NEAR-FIELD ELECTRIC AND MAGNETIC PROBES

Номер патента: US20140091972A1. Автор: Zhang Guohao,Hoang Dinhphuoc Vu. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-03.

MAGNETIC PROBE CABLE ANCHOR WITH METAL MARKER BANDS

Номер патента: US20160169964A1. Автор: Jr. James H.,MCGRATH. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

Magnetic probe amplitude-frequency and phase-frequency calibration system and method based on Helmholtz coil

Номер патента: CN114184989A. Автор: 陈明,钱金平,陈力行,陈大龙,沈飊. Владелец: Hefei Institutes of Physical Science of CAS. Дата публикации: 2022-03-15.

Magnetic probe

Номер патента: EP0135933A2. Автор: Peer Dr. Ing. Thilo,Reinhard Kappeller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1985-04-03.

Resonance suppression structure of a wideband near-field magnetic probe and a construction method thereof

Номер патента: US20170212146A1. Автор: ZHANG Wei,Wang Jianwei,Su Donglin,Yan Zhaowen. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

Resonance suppression structure of a wideband near-field magnetic probe and a construction method thereof

Номер патента: US10234479B2. Автор: Wei Zhang,Jianwei Wang,Zhaowen Yan,Donglin Su. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-03-19.

Method and systems for three-dimensional motion control and tracking of a mechanically unattached magnetic probe

Номер патента: US20040244470A1. Автор: Richard Superfine,Leandra Vicci. Владелец: University of North Carolina System. Дата публикации: 2004-12-09.

Adjustable magnetic probe for efficient near field scanning

Номер патента: US20150084623A1. Автор: Dong Wook Kim,Kyu-Pyung Hwang,Changhan Hobie Yun,Young K. SONG. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2015-03-26.

MAGNETIC PROBE WITH MOUNTING TUBE

Номер патента: FR2579769B1. Автор: Gerhard Vallon. Владелец: VALLON GMBH. Дата публикации: 1988-11-04.

Magnetic probe with a tube for assembly

Номер патента: FR2579769A1. Автор: Gerhard Vallon. Владелец: VALLON GMBH. Дата публикации: 1986-10-03.

Magnetic probe signal calibration system

Номер патента: JPS57125364A. Автор: Iwao Nemoto. Владелец: Hitachi Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1982-08-04.

Magnetic probe-based current measurement device, and measurement method

Номер патента: EP4130758A4. Автор: Songsheng Xue,Huijuan Wang,Pin QU,Zongxin LIU. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Probe positioning method, movable probe unit mecha

Номер патента: TWI356173B. Автор: Takeshi Saito,Masayuki Anzai. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2012-01-11.

Probe unit for flat display panel tester

Номер патента: TWI318310B. Автор: Oh-Bum Kim. Владелец: De & T Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-11.

Probe unit for flat display panel tester

Номер патента: TW200622374A. Автор: Oh-Bum Kim. Владелец: DE&T Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-01.

Probe unit

Номер патента: KR100784235B1. Автор: 송형천. Владелец: 송형천. Дата публикации: 2007-12-11.

Probe unit

Номер патента: US20170343407A1. Автор: Robert Schmidt,Armin Wernet,Kaj Uppenkamp,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2017-11-30.

Probe unit of micro pitch array and probe apparatus using the probe unit

Номер патента: KR100715492B1. Автор: 안재일. Владелец: (주)엠씨티코리아. Дата публикации: 2007-05-07.

Manufacturing method of micro probe guide, micro probe unit using micro probe guide and zigzaged arrangement type micro probe unit

Номер патента: TW200741211A. Автор: Seiki Fuchiyama,Tsutomu Ogai,Soo-Ryong Byun,Ji-Hong Lee. Владелец: Tokyo Cathode Lab. Дата публикации: 2007-11-01.

Panel pusher for making a flat display panel horizontal and probe unit having the same

Номер патента: KR100828950B1. Автор: 오현미,권오률. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2008-05-13.

Probe unit and inspection apparatus

Номер патента: TW200928373A. Автор: Hiroki Saito,Toshio Fukushi,Yasuaki Osanai. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2009-07-01.

Probe unit for inspecting display panel

Номер патента: TWM375884U. Автор: Dong-Won Lee,Dong-Won Shin,Yeon-Hae Kim. Владелец: Taiwan Micronics & Total Solution Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-11.

Probe holder and probe unit

Номер патента: TWI319484B. Автор: Koji Ishikawa,Jun Tominaga,Taiichi Rikimaru. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-11.

Probe unit for investigating fluids

Номер патента: WO1992009885A2. Автор: John Robert Saffell. Владелец: Solomat Limited. Дата публикации: 1992-06-11.

Probe unit for investigating fluids

Номер патента: AU8934891A. Автор: John Robert Saffell. Владелец: Solomat Ltd. Дата публикации: 1992-06-25.

Probe unit

Номер патента: EP2765427A4. Автор: Takashi Mori,Akihiro Matsui. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-22.

Objective arrangement for e.g. performing Raman measurement, has near field probe unit fastened to refractive objective via adjustment unit for performing relative movement of probe unit towards objective

Номер патента: DE102008057093A1. Автор: Oliver Dr. Schmidt,Martin Dr. Peschka,Christian Dr. Thomas,Lutz Dr. Höring,Alexander Dr. Thesen. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2010-05-27.

Probe unit for testing flat display panel

Номер патента: KR100602154B1. Автор: 이광재,김학선,안재일,김학송. Владелец: (주)엠씨티코리아. Дата публикации: 2006-07-19.

Probe unit for inspecting display panel

Номер патента: KR101271216B1. Автор: 신동원,황정연,김연해. Владелец: 주식회사 디에스케이. Дата публикации: 2013-06-07.

Probe unit for testing panel

Номер патента: CN102348990A. Автор: 任利彬,许南重,赵濬秀. Владелец: PRO 2000 CO Ltd. Дата публикации: 2012-02-08.

OLED Moving probe unit for testing OLED panel

Номер патента: KR102121887B9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: KR100773732B1. Автор: 김석중,신동원,문광훈. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2007-11-09.

Probe unit for testing panel

Номер патента: KR101029322B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2011-04-13.

Vertical type probe unit block

Номер патента: KR101519529B1. Автор: 안윤태,김태현,김석중. Владелец: (주) 루켄테크놀러지스. Дата публикации: 2015-05-13.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: TWI333071B. Автор: Dong-Won Shin,Suk-Joong Kim. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

Moving probe unit for testing OLED panel

Номер патента: KR102121887B1. Автор: 이광희,김오범. Владелец: 주식회사 케이에스디. Дата публикации: 2020-06-11.

Low cost lcd inspection system of probe unit

Номер патента: KR100883269B1. Автор: 안성권. Владелец: (주) 루켄테크놀러지스. Дата публикации: 2009-02-10.

Probe unit for electrical inspection, electrical inspection device, and lighting inspection device

Номер патента: JP5156970B2. Автор: 智昭 久我. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-06.

Probe unit for inspectinon of flat display pannel

Номер патента: KR101380375B1. Автор: 성정임. Владелец: 성정임. Дата публикации: 2014-04-02.

Probe block and probe unit for display panel check

Номер патента: CN102236183A. Автор: 安圣权,金章铉. Владелец: DPRAUB Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-09.

Apparatus for changing automatic probe unit for lcd checking device

Номер патента: KR101035570B1. Автор: 박현상,오승희,이보라. Владелец: (주)유비프리시젼. Дата публикации: 2011-05-19.

Film Type Probe Unit

Номер патента: KR101063187B1. Автор: 김헌민. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2011-09-07.

Probe block for examining display panel and probe unit including thereor

Номер патента: KR101152181B1. Автор: 김장현,안성권. Владелец: 주식회사디아이. Дата публикации: 2012-06-15.

Probe holder and probe unit

Номер патента: TW200734646A. Автор: Koji Ishikawa,Jun Tominaga,Taiichi Rikimaru. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-16.

Probe unit and inspection apparatus

Номер патента: TW201020552A. Автор: Hiroki Saito,Masayuki Anzai,Kazuyoshi MIURA,Yasuaki Osanai. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2010-06-01.

Probe unit and inspection apparatus

Номер патента: TW200837355A. Автор: Kazuyoshi MIURA,Yoshimi Nakayama. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2008-09-16.

Probe unit and inspection apparatus

Номер патента: TWI354104B. Автор: Kazuyoshi MIURA,Yoshimi Nakayama. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2011-12-11.

Polarizing Film Supporting Module, Probe Unit For Inspecting Display Panel and Display Panel Inspection Apparatus

Номер патента: KR101475377B1. Автор: 황병욱. Владелец: 주식회사 티이씨씨. Дата публикации: 2014-12-22.

Probe unit for investigating fluids.

Номер патента: EP0672908A3. Автор: John Robert Saffell. Владелец: Solomat Ltd. Дата публикации: 1996-01-03.

Probe unit for investigating fluids

Номер патента: WO1992009885A3. Автор: John Robert Saffell. Владелец: Solomat Ltd. Дата публикации: 1992-10-15.

PROBE UNIT, METHOD OF MANUFACTURING PROBE UNIT, AND TESTING METHOD

Номер патента: US20160033552A1. Автор: Kobayashi Masashi,OGAWARA Takahiro. Владелец: HIOKI DENKI KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-02-04.

Manufacturing method of probe unit and probe and probe unit

Номер патента: KR101086006B1. Автор: 양희성. Владелец: 양희성. Дата публикации: 2011-11-23.

Geometrical data measuring device for use in measuring the characteristics of surfaces, has receiving and processing units and modulation interferometer that are constructed such that probe units can operate with the same platform

Номер патента: FR2859016A1. Автор: Michael Lindner,Bernd Schmidtke. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2005-02-25.

Probe unit, substrate inspection device, and method for assembling probe unit

Номер патента: KR20150115728A. Автор: 마사시 고바야시. Владелец: 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2015-10-14.

Probe unit, circuit board inspection device, and manufacturing method for probe units

Номер патента: CN104508498A. Автор: 小林昌史. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2015-04-08.

Contact membranes and manufacture method thereof and probe unit and LCD pick-up unit

Номер патента: CN103134960B. Автор: 丘璜燮,李奎汉,千圣武,李钟翰,李勈九,林寿彬. Владелец: GigaLane Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-23.

A probe unit, a substrate inspection apparatus, and a probe unit manufacturing method

Номер патента: TWI591347B. Автор: Masashi Kobayashi. Владелец: Hioki Electric Works. Дата публикации: 2017-07-11.

Probe unit, probe unit manufacturing method and detection method

Номер патента: TWI645193B. Автор: 小林昌史,小川原崇裕. Владелец: 日商日置電機股份有限公司. Дата публикации: 2018-12-21.

Probe unit, base board checking device and probe unit manufacture method

Номер патента: CN104508498B. Автор: 小林昌史. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Wiring fixing method of probe unit and probe unit

Номер патента: TW200827729A. Автор: Shigeki Ishikawa,Shogo Imuta,Takashi Nidaira. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-01.

Pogo Probe unit and Repair Apparatus For Flat Panel Display by the same

Номер патента: KR100879456B1. Автор: 김현정,홍석용. Владелец: 참앤씨(주). Дата публикации: 2009-01-23.

The fine-pitch probe unit for inspection display panel

Номер патента: KR200408653Y1. Автор: 유병운,최상수. Владелец: 마이크로하이테크 주식회사. Дата публикации: 2006-02-10.

Probe unit for inspecting display panel

Номер патента: KR100940505B1. Автор: 신동원,황정연,김연해. Владелец: 주식회사 디엠엔티. Дата публикации: 2010-02-10.

Probe unit with easy maintenance

Номер патента: KR101000456B1. Автор: 이지홍,변수룡. Владелец: 주식회사 크라또. Дата публикации: 2010-12-13.

Probe unit

Номер патента: KR101123887B1. Автор: 최준호,장현진,김유성. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2012-03-23.

Probe unit

Номер патента: TW200942826A. Автор: Toshio Kazama,Kohei Hironaka,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-16.

Probe apparatus and probe unit

Номер патента: TW201243342A. Автор: Yuki Saitoh,Yoshimi Nakayama,Toyokazu Saitoh,Megumi Akahira. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2012-11-01.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US11422156B2. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-23.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20240264200A1. Автор: Hajime Arai,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Electric contact probe unit

Номер патента: IL125320A0. Автор: . Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 1999-03-12.

PROBE UNIT

Номер патента: US20210123785A1. Автор: Schmidt Robert,Ferraro Franco,Bechtel Gerd,Liniger Jeannette,Huwyler Willy. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

Magnetic probe

Номер патента: JP4039578B2. Автор: 和廣 山川,和明 田畑. Владелец: 株式会社アヅマシステムズ. Дата публикации: 2008-01-30.

Probe unit and its manufacture

Номер патента: TW200307814A. Автор: Shuichi Sawada,Atsuo Hattori,Yoshiki Terada. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2003-12-16.

Contact probe and probe unit

Номер патента: TW201229519A. Автор: Toshio Kazama,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-16.

Contact probe and probe unit

Номер патента: SG11202000654VA. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Spininess group probe unit

Номер патента: CN208753573U. Автор: 曹政,曹骥,蔡清源. Владелец: Zhejiang Hangke Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-16.

sample gas sampleing probe unit for reducing water-inflow

Номер патента: KR101692995B1. Автор: 배영선,배영복. Владелец: 서원환경기술주식회사. Дата публикации: 2017-01-06.

Exhaust gas analyzer and probe unit

Номер патента: CN101900702A. Автор: 外村繁幸. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2010-12-01.

A kind of system and its probe unit and assay method for being used to determine prepreg viscosity

Номер патента: CN107478572A. Автор: 徐强,朱伟东,柯臻铮,柯映林,齐德胜. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2017-12-15.

Probe unit and method for flow measurement

Номер патента: CN108663290A. Автор: J.柴可夫斯基,T.法布里蒂乌斯,P.基努宁. Владелец: Oulu University of. Дата публикации: 2018-10-16.

probe unit for gathering sample gas having hydrargyrum

Номер патента: KR101466969B1. Автор: 배영선. Владелец: 서원환경기술주식회사. Дата публикации: 2014-12-03.

Ultrasonic probe unit

Номер патента: JPS59176666A. Автор: Hisashi Matsumoto,Masayuki Uchiyama,Shuji Kobayashi,Tomokichi Ibe,Akihiko Koga,修二 小林,Jinichi Kimura,Yasunori Maruyama,内山　昌幸,古賀　昭彦,井辺　智吉,丸山　靖則,松元　久志,木村　仁一. Владелец: Shikoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 1984-10-06.

Probe unit of a fluid flow rate measuring apparatus

Номер патента: GB2061511A. Автор: . Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 1981-05-13.

Apparatus and method for securing the connection of a coaxially arranged tube of a measuring probe unit of a fill-level measuring device to a process connection element

Номер патента: US20130127156A1. Автор: Osswald Dirk. Владелец: ENDRESS + HAUSER GMBH + CO KG. Дата публикации: 2013-05-23.

Probe Unit

Номер патента: US20130333466A1. Автор: Schmidt Robert,Krumbholz Andreas. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

Probe unit of fluid flow rate measuring apparatus

Номер патента: US4257276A. Автор: Hiroshi Kobayashi,Toru Kita,Takeshi Fujishiro. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 1981-03-24.

A probe unit with at least sectionally coaxial construction

Номер патента: CA2828403A1. Автор: Robert Schmidt,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2012-09-07.

Measurement probe unit for metrology applications

Номер патента: US20180172442A1. Автор: Frank Thys. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-06-21.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20130099814A1. Автор: MATSUI Akihiro,Kazama Toshio,Souma Kazuya. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2013-04-25.

PROBE HOLDER AND PROBE UNIT

Номер патента: US20200033380A1. Автор: Souma Kazuya,Sakaguchi Tsukasa. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2020-01-30.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20210156887A1. Автор: Soma Kazuya,Hironaka Kohei. Владелец: . Дата публикации: 2021-05-27.

PROBE UNIT

Номер патента: US20140247065A1. Автор: Yamada Yoshio,Shoji Satoshi,Yumino Makoto,Kondo Mitsuhiro. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2014-09-04.

METHOD OF ACTIVELY COUNTERACTING DISPLACEMENT FORCES WITH A PROBING UNIT

Номер патента: US20160178362A1. Автор: Iseli Claudio,SPRENGER Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

PROBE UNIT AND MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20200166336A1. Автор: Saito Akinori,Koga Satoshi,KANAMORI Hiroyuki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2020-05-28.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20210223287A1. Автор: Souma Kazuya,Sakaguchi Tsukasa. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

PROBE UNIT

Номер патента: US20150285840A1. Автор: MORI Takashi,MATSUI Akihiro. Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2015-10-08.

PROBE UNIT

Номер патента: US20170299631A1. Автор: Yamada Yoshio,Hironaka Kohei. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-19.

Probe unit for testing plat display panel

Номер патента: KR100600700B1. Автор: 유명자,한규삼. Владелец: 유명자. Дата публикации: 2006-07-19.

Probe unit for testing plat display panel

Номер патента: KR100600701B1. Автор: 유명자,한규삼. Владелец: 유명자. Дата публикации: 2006-07-19.

Probe unit for testing a display panel

Номер патента: KR101309620B1. Автор: 이동규,신상호,지정희. Владелец: 주식회사 케이피에스. Дата публикации: 2013-09-17.

Method of manufacturing probe unit for bonding probe

Номер патента: KR100977213B1. Автор: 한정섭. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2010-08-20.

Probe unit and probe apparatus having the same

Номер патента: KR100793637B1. Автор: 김석중,주영훈,신동원. Владелец: 주식회사 파이컴. Дата публикации: 2008-01-10.

Probe unit for testing a display panel

Номер патента: KR101309621B1. Автор: 이동규,신상호,지정희. Владелец: 주식회사 케이피에스. Дата публикации: 2013-09-17.

Probe unit and probe card having the same

Номер патента: KR101010666B1. Автор: 박종현,주영훈,전병일,최유권,권혁랑. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2011-01-24.

Probe unit and measurement system

Номер патента: JP6738883B2. Автор: 古賀　聡,聡 古賀,齋藤　章憲,章憲 齋藤,宏之 金森. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-08-12.

Probe Unit

Номер патента: KR200444681Y1. Автор: 전태운. Владелец: 주식회사 아이엠. Дата публикации: 2009-05-28.

Probe unit with adjustable measuring position

Номер патента: KR200293350Y1. Автор: 이육래. Владелец: 삼성전자 주식회사. Дата публикации: 2003-01-14.

Probe pin and probe unit provided with the same

Номер патента: JP6531438B2. Автор: 宏真 寺西,貴浩 酒井,的場　正人,正人 的場. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-06-19.

Probe Unit and Inspection Device

Номер патента: KR101055343B1. Автор: 슈지 나라오카. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2011-08-08.

Auto Probe Unit

Номер патента: KR101525443B1. Автор: 이근호. Владелец: 주식회사 기찬하이테크. Дата публикации: 2015-06-03.

Probe unit and inspection device

Номер патента: JP5364240B2. Автор: 智昭 久我,修治 奈良岡. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-11.

Probe unit for contacting planar microwave circuits

Номер патента: DE19641880A1. Автор: Holger Dr Ing Heuermann. Владелец: Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 1998-04-16.

Microcontactor probe and electric probe unit

Номер патента: AU2001264297A1. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2001-12-24.

Contact probe and probe unit

Номер патента: WO2010095520A1. Автор: 浩嗣 石川,才司 上津原. Владелец: 日本発條株式会社. Дата публикации: 2010-08-26.

Contact probe unit

Номер патента: US6323667B1. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2001-11-27.

Microcontactor probe with reduced number of sliding contacts for Conduction, and electric probe unit

Номер патента: US7969170B2. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-28.

Probe unit with burn in test

Номер патента: KR940006238A. Автор: 신지 이이노,이타루 이이다. Владелец: 도오교오 에레구토론 야마나시 가부시끼가이샤. Дата публикации: 1994-03-23.

Contact probe unit

Номер патента: EP0950191A1. Автор: Toshio NHK Spring Co. Ltd. KAZAMA. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 1999-10-20.

Probe unit

Номер патента: WO2015122472A1. Автор: 浩平 広中,山田　佳男,一也 相馬,雅宏 高橋. Владелец: 日本発條株式会社. Дата публикации: 2015-08-20.

Probe unit for a flat display panel having fine pitch-pattern

Номер патента: KR100610889B1. Автор: 안재일. Владелец: (주)엠씨티코리아. Дата публикации: 2006-08-08.

Movable Probe Unit and Inspecting Apparatus

Номер патента: KR100906728B1. Автор: 토시오 후쿠시,카즈요시 미우라,히로키 사이토. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2009-07-07.

A kind of paperback probe unit for High Speed Flow Field Plasma parameter diagnosis

Номер патента: CN107817085A. Автор: 刘宇,徐亮,曹金祥,余鹏程,张逍,张仲凯. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2018-03-20.

Needle type probe pin and needle type probe unit and needle type pin board using the same

Номер патента: KR101380618B1. Автор: 박종현,이용관,조준수. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2014-04-10.

Probe unit with extremely fine pitch

Номер патента: KR101063186B1. Автор: 김헌민. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2011-09-07.

Probe unit and testing apparatus of thin film pattern using the same

Номер патента: KR20120066418A. Автор: 박선영,박두식,김기석,노민호,조훈희,조인관,서종학. Владелец: 엘지디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2012-06-22.

Probe unit and its manufacturing method

Номер патента: KR100593778B1. Автор: 하또리아쯔오,사와다슈우이찌. Владелец: 야마하 가부시키가이샤. Дата публикации: 2006-06-30.

Probe unit

Номер патента: TW201312124A. Автор: Mitsuhiro Kondo,Yoshio Yamada,Makoto Yumino,Satoshi Shoji. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-16.

Manufacture of probe unit having lead probes extending beyond edge of substrate

Номер патента: US6946375B2. Автор: Masahiro Sugiura,Atsuo Hattori,Tetsutsugu Hamano,Toshitaka Yoshino. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2005-09-20.

Probe unit and method of manufacturing the same

Номер патента: KR101712124B1. Автор: 장동준,황지희. Владелец: 폭스브레인 주식회사. Дата публикации: 2017-03-03.

Probe unit for inspection of flat display devices

Номер патента: KR200396580Y1. Автор: 이광원. Владелец: 주식회사 코디에스. Дата публикации: 2005-09-26.

Probe holder and probe unit

Номер патента: JPWO2009028708A1. Автор: 重樹 石川,崇 仁平,正吾 藺牟田. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-09.

Contact film, method for generating the film, probe unit and lcd pannel tester

Номер патента: TWI461696B. Автор: Kyu-han Lee,Yong-Goo Lee,Sung-Moo Chun,Jong-Han Lee,Hwang-Sub Koo. Владелец: GigaLane Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-21.

Probe unit and measuring system

Номер патента: EP3660446B1. Автор: Hiroyuki Kanamori,Satoshi Koga,Akinori Saito. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-01-11.

PROBE UNIT FOR INFRARED THERMOMETER

Номер патента: DE68925732T2. Автор: Thomas Gregory,Kerry Banke,Edward Suszynski. Владелец: Diatek Instr Inc. Дата публикации: 1996-07-04.

Cleaner for probe unit

Номер патента: KR101354956B1. Автор: 강철,정희진,권현수. Владелец: (주)유비프리시젼. Дата публикации: 2014-01-23.

Probe unit

Номер патента: KR100784197B1. Автор: 박인재,김형익,이건범. Владелец: 한국폴리텍Iv대학 산학협력단. Дата публикации: 2007-12-13.

Probe unit capable of adjusting flatness

Номер патента: KR100821996B1. Автор: 김용균. Владелец: 윌테크놀러지(주). Дата публикации: 2008-04-15.

Probe film for flat panel display test, probe block and probe unit comprising the same and method for fabricating the same

Номер патента: KR101681652B1. Автор: 김태현,박영소. Владелец: 주식회사 나노리퀴드디바이시스코리아. Дата публикации: 2016-12-01.

Probe Unit Replacement Device

Номер патента: KR101545844B1. Автор: 천영민,안균호. Владелец: 주식회사 디이엔티. Дата публикации: 2015-08-20.

Probe unit and its rectangular probe

Номер патента: CN109581006A. Автор: 谢智鹏,苏伟志. Владелец: CHINA FINE MEASURING TECHNOLOGY STOCK Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-05.

Probe holder and probe unit

Номер патента: TW200914839A. Автор: Shigeki Ishikawa,Shogo Imuta,Takashi Nidaira. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-01.

Movable probe unit and inspecting apparatus

Номер патента: TW200736636A. Автор: Toshio Fukushi,Kazuyoshi MIURA,Hiroki Saitoh. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2007-10-01.

Probe unit, inspection device, inspection system, inspection method, and method for manufacturing semiconductor laser device

Номер патента: WO2023157900A1. Автор: 幸典 山下,茂生 林,佳和 田村,忍 駿河. Владелец: ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社. Дата публикации: 2023-08-24.

Probe unit clamping device for inspecting display panel

Номер патента: KR200485752Y1. Автор: 박금성,김현겸. Владелец: (주)영우디에스피. Дата публикации: 2018-02-19.

Probe unit

Номер патента: EP2239587A1. Автор: Toshio Kazama,Kohei Hironaka,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-13.

probe unit

Номер патента: KR20220136403A. Автор: 다카시 니다이라,슈지 다카하시,츠요시 이누마,가즈야 소마,유야 히로나카. Владелец: 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤. Дата публикации: 2022-10-07.

Probe Unit and Inspection Apparatus

Номер патента: KR100986640B1. Автор: 토시오 후쿠시,카즈요시 미우라,히로키 사이토,야수아키 오사나이. Владелец: 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스. Дата публикации: 2010-10-08.

Probe holder and probe unit

Номер патента: PH12019502218A1. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-06.

Probe holder and probe unit

Номер патента: US20240019460A1. Автор: Osamu Ito,Hajime Arai,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Probe holder and probe unit

Номер патента: US20200033380A1. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Probe unit and inspection apparatus

Номер патента: TW200902988A. Автор: Hiroki Saito,Toshio Fukushi,Kazuyoshi MIURA,Yasuaki Osanai. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2009-01-16.

Probe unit

Номер патента: TW200938847A. Автор: Toshio Kazama,Kohei Hironaka,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-16.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US11874300B2. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Press contact structure of probe unit

Номер патента: TW559666B. Автор: Toshio Okuno,Toshio Kokuzo. Владелец: SOUSHIYOU TEC KK. Дата публикации: 2003-11-01.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20210223287A1. Автор: Tsukasa Sakaguchi,Kazuya Souma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Contact probe, probe holder and probe unit

Номер патента: US20230251286A1. Автор: Hajime Arai,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Probe unit

Номер патента: TW200914837A. Автор: Shigeki Ishikawa,Shogo Imuta,Takashi Nidaira. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-01.

Probe unit

Номер патента: TW201226914A. Автор: Koji Ishikawa,Takahiro Motegi. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-01.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20210156887A1. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-27.

Method and apparatus for testing liquid crystal display using probe unit reduced the number of connecter pads

Номер патента: US7834650B2. Автор: Bong Chul Kim,Dong Woo Kang,Ki Soub Yang,Soung Yeoul Eom. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-16.

Probe seat for testing lcd panel and probe unit having the same and method for manufacturing probe seat for testing lcd panel

Номер патента: KR101088857B1. Автор: 조준수,임이빈,허남중. Владелец: 주식회사 프로이천. Дата публикации: 2011-12-06.

Probe seat for testing LCD panel, probe unit having the same and method for manufacturing probe seat for testing LCD panel

Номер патента: TW201234015A. Автор: Nam-Jung Her,Yi-Bin Ihm,Jun-Soo Cho. Владелец: PRO 2000 CO Ltd. Дата публикации: 2012-08-16.

Base film for lcd panel test, probe block, probe unit comprising the same

Номер патента: KR101449728B1. Автор: 차상훈. Владелец: 주식회사 나노리퀴드디바이시스코리아. Дата публикации: 2014-10-17.

Probe unit more changing device

Номер патента: CN106873195A. Автор: 李尚文,裵东镇. Владелец: DE&T Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Method of creating skyrmions and their arrays in a magnetic medium using a scanning microscope probe

Номер патента: RU2702810C1. Автор: Алексей Вячеславович Огнев,Александр Сергеевич Самардак,Александр Геннадьевич Колесников. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Дальневосточный федеральный университет" (ДВФУ). Дата публикации: 2019-10-11.

Apparatus and system for adaptively scheduling ultrasound system actions

Номер патента: US09773496B2. Автор: Bicheng WU,Richard Tobias,Ashish Parikh. Владелец: WHITE EAGLE SONIC TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Ultra-precision timing clock method and apparatus

Номер патента: US20240115222A1. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-11.

Method for non-contact angle measurement

Номер патента: EP4283248A3. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-07.

Method for non-contact angle measurement

Номер патента: EP4283248A2. Автор: Weng-Dah Ken,Fang-Chi KAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-29.

Method and apparatus for determining physiological parameter

Номер патента: US20240315557A1. Автор: Lauri Kangas,Gosta Ehnholm,Mika Salkola,Teemu HERRANEN,Viktor Honkanen,Matti RAUDASOJA. Владелец: Icare Findland Oy. Дата публикации: 2024-09-26.

A probe arrangement for exchanging in a controllable way liquids with micro-sized samples of material like biological cells

Номер патента: EP2318137A1. Автор: Janos VÖRÖS,Tomaso Zambelli,Michael Gabi,Pascal Behr. Владелец: Eidgenoessische Technische Hochschule Zurich ETHZ. Дата публикации: 2011-05-11.

Air particle separator

Номер патента: GB1201096A. Автор: . Владелец: United Aircraft Corp. Дата публикации: 1970-08-05.

Method for detecting escherichia coli by using a magnetic nano probe

Номер патента: AU2021101786A4. Автор: Ming Liu,Haixu Xu. Владелец: Xuzhou University of Technology. Дата публикации: 2021-05-27.

Treating liquids with electromagnetic fields

Номер патента: US09670078B2. Автор: Patrick J. Hughes,Desmond A. Fraser,Hossein Ghaffari Nik,Richard B. Mcmurray,Shelley Marie Grandy,Akrem Hassen Adem Aberra. Владелец: Reverse Ionizer Systems LLC. Дата публикации: 2017-06-06.

Treating liquids with electromagnetic fields

Номер патента: US09481588B2. Автор: Patrick J. Hughes,Desmond A. Fraser,Hossein Ghaffari Nik,Richard B. Mcmurray,Shelley Marie Grandy,Akrem Hassen Adem Aberra. Владелец: Reverse Ionizer Systems LLC. Дата публикации: 2016-11-01.

Devices, systems and methods for conserving resources by treating liquids with electromagnetic fields

Номер патента: US09416032B2. Автор: Patrick J. Hughes,Desmond A. Fraser,Hossein Ghaffari Nik,Richard B. Mcmurray,Shelley Marie Grandy,Akrem Hassen Adem Aberra. Владелец: Reverse Ionizer Systems LLC. Дата публикации: 2016-08-16.

A probe arrangement for exchanging in a controllable way liquids with micro-sized samples of material like biological cells

Номер патента: WO2010012423A8. Автор: Janos VÖRÖS,Tomaso Zambelli,Michael Gabi,Pascal Behr. Владелец: ETH Zurich. Дата публикации: 2011-03-03.

Probe card and manufacturing method

Номер патента: US09671431B2. Автор: Young Geun Park. Владелец: M2N Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Devices, Systems And Methods For Conserving Resources By Treating Liquids With Electromagnetic Fields

Номер патента: US20160107905A1. Автор: Patrick J. Hughes,Desmond A. Fraser,Hossein Ghaffari Nik,Richard B. Mcmurray,Shelley Marie Grandy,Akrem Hassen Adem Aberra. Владелец: Reverse Ionizer Systems LLC. Дата публикации: 2016-04-21.

Devices systems and methods for conserving resources by treating liquids with electromagnetic fields

Номер патента: US20190218118A1. Автор: Patrick J. Hughes,Desmond A. Fraser,Hossein Ghaffari Nik,Richard B. Mcmurray,Shelley Marie Grandy,Akrem Hassen Adem Aberra. Владелец: Reverse Ionizer Systems LLC. Дата публикации: 2019-07-18.

Crispr-cas14a response photoelectrochemical sensing detection method and kit for detecting t2 toxin

Номер патента: US20230295744A1. Автор: YUAN PENG,Yu Wang,Shuang Li,Zhixian Gao,Dianpeng Han,Kang QIN,Shuyue Ren,Huanying Zhou. Владелец: Tianjin Institute Of Environmental And Operational Medicine. Дата публикации: 2023-09-21.

Device and method for nuclear magnet resonance spectroscopy

Номер патента: US20210318402A1. Автор: Andreas Greiser,Peter Speier,Adrian Mark Thomas,Andre De Oliveira. Владелец: Siemens Healthcare GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

System and method for remote temperature measurements in a harsh environment

Номер патента: US09816865B2. Автор: Ando Feyh,Gary O'brien,Nikhil Ravi,Joel Oudart. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-11-14.

Display panel and method for preparing same and display device

Номер патента: US20230205015A1. Автор: Shixin Zhou. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Display panel and method for preparing same and display device

Номер патента: US11868010B2. Автор: Shixin Zhou. Владелец: TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Digital color matching and dyeing methods, and digital color matching and dyeing systems

Номер патента: EP4303357A1. Автор: Junjie Chen,Ce Li,Yiteng LI,Xiongfei MI. Владелец: Zhejiang Shanyu Group Co ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Magnetic platelet probes to detect circulating tumor cells

Номер патента: WO2020219557A1. Автор: Donald E. Ingber,Anne-Laure PAPA,Kenise Monet MORRIS. Владелец: The George Washington University. Дата публикации: 2020-10-29.

Non-destructive readout magnetic memory

Номер патента: GB1062180A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1967-03-15.

Method and Device for Detecting Bed Bugs

Номер патента: US20200274996A1. Автор: Brian Virag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-27.

Method and Device for Wireless Bed Bug Detection

Номер патента: US20200267962A1. Автор: Brian Virag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-27.

Mobile Application for Bed Bug Detection

Номер патента: US20200267961A1. Автор: Brian Virag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-27.

Battery probing module

Номер патента: US20230288449A1. Автор: Chun-Nan Ou,Chiang-Cheng FAN,Chen-Chou WEN,Shih-Ching TAN,Tzu-Fu Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-14.

Apparatus and method for measuring property of eye

Номер патента: WO2023089229A1. Автор: Mika Salkola,Viktor Honkanen. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2023-05-25.

Apparatus and method for measuring property of eye

Номер патента: FI20216186A1. Автор: Mika Salkola,Viktor Honkanen. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2023-03-14.

Devices and methods for enhanced detection and identification of diseases

Номер патента: CA2879399C. Автор: Chang Yu,Xuedong Du. Владелец: Shanghai Xinshenpai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-26.

High-throughput gene cloning and phenotypic screening

Номер патента: WO2000056872A3. Автор: Sarita K Jain. Владелец: Pangene Corporation. Дата публикации: 2000-12-28.

Cryosurgical instrument

Номер патента: US5275595A. Автор: John D. Dobak, III. Владелец: Individual. Дата публикации: 1994-01-04.

Apparatus for and method for aligning dipoles and method of fabricating display device

Номер патента: US20230386878A1. Автор: Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im,Buem Joon Kim,Chung Sic CHOI. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Apparatus for and method for aligning dipoles and method of fabricating display device

Номер патента: US20220005719A1. Автор: Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im,Buem Joon Kim,Chung Sic CHOI. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Apparatus for and method for aligning dipoles and method of fabricating display device

Номер патента: US11728196B2. Автор: Jong Hyuk KANG,Won Ho Lee,Hyun Deok Im,Buem Joon Kim,Chung Sic CHOI. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-15.

Method of determining underwater cable laying depth

Номер патента: RU2326343C2. Автор: Владимир Александрович Бурдин,Антон Владимирович Бурдин,Владимир Александрович Андреев,Юрий Михайлович Сподобаев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие СвязьАвтоматикаМонтаж" (ООО НПП САМ). Дата публикации: 2008-06-10.

Automatic injection system

Номер патента: US3720211A. Автор: G Kyrias. Владелец: Individual. Дата публикации: 1973-03-13.

Fluxgate current sensor and current measurement method

Номер патента: US20230408559A1. Автор: LIANG Liu,Wei Fu,Xinliang Tian,Zhouyang WAN,Yongliang DING,Baichi YAO,Chuncai YE. Владелец: Shenzhen Hangzhi Precision Electronics Co ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

System and method for scanning for a second object within a first object using an adaptive scheduler

Номер патента: US20200113548A1. Автор: Bicheng WU,Richard Tobias,Ashish Parikh. Владелец: WHITE EAGLE SONIC TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2020-04-16.

Vacuum sponge drainage

Номер патента: US11937777B2. Автор: Gunnar Loske,Tobias Schorsch. Владелец: Lohmann and Rauscher GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-03-26.

Flexible neural probe for magnetic insertion

Номер патента: EP2369985A1. Автор: David Benjamin Jaroch,Jenna Leigh Rickus,Pedro Irazoqui. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2011-10-05.

Sensor unit for continuous blood glucose measurement

Номер патента: NZ775061B2. Автор: Young Jea Kang,Su Jin Lee,Seok Won Lee,In Seok Jeong,Su Min Gwak. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Sensor unit for continuous blood glucose measurement

Номер патента: NZ775061A. Автор: Young Jea Kang,Su Jin Lee,Seok Won Lee,In Seok Jeong,Su Min Gwak. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2023-10-27.

Device and method for controlled emission of radiation

Номер патента: US11874100B2. Автор: Anupam LAVANIA,Shilpa MALIK. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-16.

Device and method for controlled emission of radiation

Номер патента: WO2020053810A1. Автор: Anupam LAVANIA,Shilpa MALIK. Владелец: Shilpa MALIK. Дата публикации: 2020-03-19.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11125587B2. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-09-21.

Position Control Device, Position Control Method, and Ultrasonic Imaging System

Номер патента: US20200000431A1. Автор: Kazuyoshi Kurosawa,Masakatsu Murai,Naofumi Yamatoya,Katsuhiko Oonuki,Toshimasa Gou. Владелец: Hitachi Power Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-02.

Apparatus for determining and/or monitoring a process variable

Номер патента: US09395226B2. Автор: Armin Wernet,Roland Dieterle. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-07-19.

Device for acquiring deep information by using high-performance transient electromagnetic sensor

Номер патента: AU2021100787A4. Автор: Guoqiang Xue,Nannan Zhou,Weiying Chen. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2021-05-13.

Film crack detecting apparatus and film forming apparatus

Номер патента: US20140020626A1. Автор: Kazuhide Hasebe,Yudo Sugawara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Method and apparatus for determining physiological parameter

Номер патента: AU2022323762A1. Автор: Lauri Kangas,Gosta Ehnholm,Mika Salkola,Teemu HERRANEN,Viktor Honkanen,Matti RAUDASOJA. Владелец: Icare Findland Oy. Дата публикации: 2024-02-01.

Method and apparatus for determining physiological parameter

Номер патента: WO2023012402A1. Автор: Lauri Kangas,Mika Salkola,Teemu HERRANEN,Viktor Honkanen,Matti RAUDASOJA,Gösta Ehlholm. Владелец: Icare Finland Oy. Дата публикации: 2023-02-09.

Method and apparatus for determining physiological parameter

Номер патента: EP4380426A1. Автор: Lauri Kangas,Gosta Ehnholm,Mika Salkola,Teemu HERRANEN,Viktor Honkanen,Matti RAUDASOJA. Владелец: Icare Findland Oy. Дата публикации: 2024-06-12.

Microscope comprising a magnetic micromanipulator

Номер патента: US20240102906A1. Автор: Juho Pokki-Riikonen. Владелец: Aalto Korkeakoulusäätiö sr. Дата публикации: 2024-03-28.

Therapeutic Tooth Bud Ablation

Номер патента: US20230414318A1. Автор: Leigh E. Colby. Владелец: Triagenics Inc. Дата публикации: 2023-12-28.

Inspection jig and board inspection apparatus including the same

Номер патента: US11988687B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

System and method for scanning for a second object within a first object using an adaptive scheduler

Номер патента: US20240115244A1. Автор: Bicheng WU,Richard Tobias,Ashish Parikh. Владелец: WHITE EAGLE SONIC TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

System and method for scanning for a second object within a first object using an adaptive scheduler

Номер патента: US11883242B2. Автор: Bicheng WU,Richard Tobias,Ashish Parikh. Владелец: WHITE EAGLE SONIC TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Ultrasonic diagnostic system

Номер патента: US4434661A. Автор: Takaki Shimura,Hirohide Miwa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1984-03-06.

Defect detection using thermal laser stimulation and atomic force microscopy

Номер патента: US20240069095A1. Автор: Seung Hwan Lee,Gavin CORCORAN,Jungwon Kim,Huei Hao Yap,Mark GRUIDL,Karthik KALAIAZHAGAN,Youren XU. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Load detecting probe

Номер патента: US4342233A. Автор: Richard Edmondson,Dale A. Wisebaker. Владелец: National Machinery Co. Дата публикации: 1982-08-03.

Rotary ultrasonic testing apparatus

Номер патента: GB1376538A. Автор: . Владелец: British Steel Corp. Дата публикации: 1974-12-04.

Probe assembly and method of manufacture

Номер патента: WO2024081384A1. Автор: Euisik Yoon,Dongxiao YAN. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF MICHIGAN. Дата публикации: 2024-04-18.

Device for transfer of light emitting elements, method for transferring light emitting elements, and method of manufacturing the transfer device

Номер патента: US20220310569A1. Автор: Yung-Fu Lin,Po-Liang Chen,Jung-Hua Lee,Huihsien Tien. Владелец: Century Technology Shenzhen Corp Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US20190285440A1. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-09-19.

Spectrometer system for diagnosis of skin disease

Номер патента: US6008889A. Автор: Branko Palcic,Calum Macaulay,Haishan Zeng,Harvey Lui,David I. McLean. Владелец: Derma Technologies Inc. Дата публикации: 1999-12-28.

Apparatus and methods relating to optical systems for diagnosis of skin diseases

Номер патента: US6069689A. Автор: Branko Palcic,Calum Macaulay,Haishan Zeng,Harvey Lui,David I. McLean. Владелец: Derma Technologies Inc. Дата публикации: 2000-05-30.

Probe card

Номер патента: WO2009025427A1. Автор: Yong Goo Lee,Maeng Youl Lee. Владелец: Gigalane Co.Ltd. Дата публикации: 2009-02-26.

Test probing structure

Номер патента: US09817029B2. Автор: Chin-Chou Liu,Yun-Han Lee,Sandeep Kumar Goel,Mill-Jer Wang,Hung-Chih Lin,Ching-Fang Chen,Chung-Sheng Yuan,Chao-Yang Yeh. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

System and apparatus having an application programming interface for flexible control of execution ultrasound actions

Номер патента: US20140165069A1. Автор: Bicheng WU,Richard Tobias,Ashish Parikh. Владелец: WHITE EAGLE SONIC TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2014-06-12.

System and apparatus having an application programming interface for flexible control of execution ultrasound actions

Номер патента: US09529080B2. Автор: Bicheng WU,Richard Tobias,Ashish Parikh. Владелец: WHITE EAGLE SONIC TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Apparatus for determining and/or monitoring a process variable

Номер патента: CA2672794C. Автор: Armin Wernet,Roland Dieterle. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2014-01-07.

Method and apparatus for imaging three-dimensional structure

Номер патента: IL125659A. Автор: Isaia Glaser-Inbari,Noam Babayof. Владелец: Cadent Ltd. Дата публикации: 2002-09-12.

Article testing apparatus

Номер патента: US3664195A. Автор: Daniel Fournier,Urho A Strang. Владелец: Dan Bee Corp. Дата публикации: 1972-05-23.

Method and system for quantifying hepatic fat in humans

Номер патента: US09772388B2. Автор: Thomas Perkins. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2017-09-26.

Probe Device

Номер патента: US20240288472A1. Автор: Yasuhiko Nara,Naoki SAMURA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Diesel engine timing apparatus and method

Номер патента: US4918980A. Автор: Theos E. Theofanous. Владелец: Individual. Дата публикации: 1990-04-24.

Diesel engine timing apparatus and method

Номер патента: CA2002887C. Автор: Theos E. Theofanous. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-10-31.

Test probing structure

Номер патента: US20180038894A1. Автор: Chin-Chou Liu,Yun-Han Lee,Sandeep Kumar Goel,Mill-Jer Wang,Hung-Chih Lin,Ching-Fang Chen,Chung-Sheng Yuan,Chao-Yang Yeh. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

Probe resistance measurement method and semiconductor device with pads for probe resistance measurement

Номер патента: US20090008641A1. Автор: Masayuki Yanagisawa,Shigetomi Michimata,Kazumasa KUROYANAGI. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-01-08.

Probe resistance measurement method and semiconductor device with pads for probe resistance measurement

Номер патента: US20130001551A1. Автор: Masayuki Yanagisawa,Shigetomi Michimata,Kazumasa KUROYANAGI. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2013-01-03.

Surface plasmon resonance sensors and methods for detecting samples using the same

Номер патента: EP1977220A1. Автор: Chinlon Lin,Ho Pui Ho,Shu Yuen Wu,Siu Kai Kong. Владелец: Chinese University of Hong Kong CUHK. Дата публикации: 2008-10-08.

Super sensitive eddy-current system and method

Номер патента: CA2342647C. Автор: Tian-He Ou-Yang. Владелец: INNOVATVE MATERIALS TESTNG TECHNOLOGIES. Дата публикации: 2009-03-03.

Apparatus for measuring oxygen within molten substance

Номер патента: US5894082A. Автор: Keiichi Mori,Toyohiko Torii,Tetsumi Murata,Hisao Ikawa. Владелец: Kawaso Electric Ind Co Inc. Дата публикации: 1999-04-13.

Method and apparatus for measuring the flow speed and the gas volume proportion of a liquid metal stream

Номер патента: US4145924A. Автор: Stefan Müller. Владелец: Gesellschaft fuer Kernforschung mbH. Дата публикации: 1979-03-27.

Automated inspection for internal corrosion

Номер патента: US20200393524A1. Автор: Andrew Debiccari,Zhong Ouyang. Владелец: Raytheon Technologies Corp. Дата публикации: 2020-12-17.

Automated inspection for internal corrosion

Номер патента: US20230273277A1. Автор: Andrew Debiccari,Zhong Ouyang. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Supersonic fault detection apparatus

Номер патента: US4205554A. Автор: Yoshishige Sakurai,Kuniharu Uchida. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1980-06-03.

Automated inspection for internal corrosion

Номер патента: EP3961187A1. Автор: Andrew Debiccari,Zhong Ouyang. Владелец: Raytheon Technologies Corp. Дата публикации: 2022-03-02.

Systems and methods related to near-field electromagnetic scanners

Номер патента: US09506968B2. Автор: Hoang Mong Nguyen,Guohao Zhang,Dinhphuoc Vu Hoang,Howard E. CHEN,Dean Kazuo ENOMOTO. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Electronic air filtering apparatus

Номер патента: US4507131A. Автор: James M. Fowler, Jr.,George H. Fathauer,Edward J. Rylicki,Edwin E. Mason. Владелец: Masco Corp of Indiana. Дата публикации: 1985-03-26.

Probe device and method of controlling the same

Номер патента: CA2503957C. Автор: Takuya Matsumoto,Tomoji Kawai,Yoichi Otsuka,Yasuhisa Naitoh. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2010-07-06.

Pressing mechanism with variable distance position and equal dividing for charging and discharging of the square battery

Номер патента: US20240170715A1. Автор: ZHENG Cao,Ji CAO,Yuzhang Shao,Chunfei SHOU. Владелец: Zhejiang Hangke Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

System and method for detecting anomalies in a component

Номер патента: US20180114307A1. Автор: Michael Colan MOSCINSKI,Nathaniel Benedict Hawes,Sara Saxton Underwood,Jonas Patrik Richard Gustavsson. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-04-26.

A method and device for bed bug and pest detection

Номер патента: EP3698627A1. Автор: Brian Jeffrey Virag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-26.

A method and device for bed bug and pest detection

Номер патента: AU2020201217A1. Автор: Brian Virag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-09-10.

A method and device for bed bug and pest detection

Номер патента: CA3072684A1. Автор: Brian Virag. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-21.

Device for measuring parameters of weak magnetic field in low-temperature magnetoactive plasma

Номер патента: RU2700287C1. Автор: Алексей Александрович Тренькин,Сергей Владимирович Воеводин,Андрей Викторович Лимонов,Александр Борисович Буянов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"). Дата публикации: 2019-09-16.

Integrated system of standby devices

Номер патента: RU2734278C2. Автор: Антон Павлович Скирда,Денис Викторович Свяжин. Владелец: Публичное акционерное общество Арзамасское научно-производственное предприятие "ТЕМП-АВИА". Дата публикации: 2020-10-14.

Mechanical vibration machining apparatus and mechanical vibration machining method

Номер патента: US20210187655A1. Автор: Shigeru Sato. Владелец: Ultex Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Ultrasonic vibration treatment device

Номер патента: US09662513B2. Автор: Hideo Sanai,Yuki Kawaguchi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-05-30.

Body attachable unit for continuous blood glucose measurement

Номер патента: NZ772743A. Автор: Hyun Ho CHOI,Kyung Chul CHAE,Goang Yel RYU,Ji Hoon WANG,Young Jea Kang. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2023-09-29.

Devices, systems, and methods for the detection of a target analyte using magnetic focus lateral flow immunoassay techniques

Номер патента: US20240003877A1. Автор: Wen Ren,Joseph MK Irudayaraj. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-01-04.

Devices, systems, and methods for the detection of a target analyte using magnetic focus lateral flow immunoassay techniques

Номер патента: US11761958B2. Автор: Wen Ren,Joseph M K Irudayaraj. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2023-09-19.

Devices systems, and methods for the detection of a target analyte using magnetic focus lateral flow immunoassay techniques

Номер патента: WO2018013697A9. Автор: Wen Ren,Joseph MK Irudayaraj. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2018-08-16.

Integrated system of standby devices

Номер патента: RU2690029C1. Автор: Антон Павлович Скирда,Артем Андреевич Второв. Владелец: Публичное акционерное общество Арзамасское научно-производственное предприятие "ТЕМП-АВИА". Дата публикации: 2019-05-30.

Ultrasonic device and method

Номер патента: WO2023067393A1. Автор: Robert Andrew DEKKER,Robert Jeffrey MARTIN,Mitchel Lucas WEST. Владелец: Bwxt Canada Ltd.. Дата публикации: 2023-04-27.

Ultrasonic device and method

Номер патента: CA3235834A1. Автор: Robert Andrew DEKKER,Robert Jeffrey MARTIN,Mitchel Lucas WEST. Владелец: BWXT Canada Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Ultrasonic device and method

Номер патента: AU2022369110A1. Автор: Robert Andrew DEKKER,Robert Jeffrey MARTIN,Mitchel Lucas WEST. Владелец: BWXT Canada Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Maxillary sinus puncture apparatus

Номер патента: US20230255464A1. Автор: Seong Ho Yun,Seong Jin YUN,Yeong Seok Yun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-17.

Integrated system of backup devices

Номер патента: RU2606712C2. Автор: Денис Викторович Свяжин. Владелец: Открытое акционерное общество Арзамасское научно-производственное предприятие "ТЕМП-АВИА" (ОАО АНПП "ТЕМП-АВИА"). Дата публикации: 2017-01-10.

System and method for endoscope propulsion and lumen evacuation

Номер патента: WO2021156862A1. Автор: Yoav Lichtenstein. Владелец: OTTek Ltd.. Дата публикации: 2021-08-12.

Method for detecting carpal tunnel using an ultrasonic detection device

Номер патента: US20230293092A1. Автор: Hsueh -Chih Yu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-21.

Body attachable unit for continuous blood glucose measurement

Номер патента: NZ772743B2. Автор: Hyun Ho CHOI,Kyung Chul CHAE,Goang Yel RYU,Ji Hoon WANG,Young Jea Kang. Владелец: I Sens Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Ultrasound probe positioning system and method of hands-free controlling the pressure applied by an ultrasound probe to an external object

Номер патента: US11583250B2. Автор: Aaldert Jan Elevelt,Wilhelmus Josephus Box,Jacek Lukasz KUSTRA,Jacobus Sigbertus Marie Geraats,Antonius Maria Rijken,Saskia Maria CAMPS,Antonius Leonardus Johannes VAN NOORT. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2023-02-21.

Ultrasound probe positioning system

Номер патента: WO2019229099A1. Автор: Aaldert Jan Elevelt,Wilhelmus Josephus Box,Jacek Lukasz KUSTRA,Jacobus Sigbertus Marie Geraats,Antonius Maria Rijken,Saskia Maria CAMPS,Antonius Leonardus Johannes VAN NOORT. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.. Дата публикации: 2019-12-05.

Ultrasound probe positioning system

Номер патента: EP3801278A1. Автор: Aaldert Jan Elevelt,Wilhelmus Josephus Box,Jacek Lukasz KUSTRA,Jacobus Sigbertus Marie Geraats,Antonius Maria Rijken,Saskia Maria CAMPS,Antonius Leonardus Johannes VAN NOORT. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2021-04-14.

Ultrasound probe positioning system

Номер патента: US20210298719A1. Автор: Aaldert Jan Elevelt,Wilhelmus Josephus Box,Jacek Lukasz KUSTRA,Jacobus Sigbertus Marie Geraats,Antonius Maria Rijken,Saskia Maria CAMPS,Antonius Leonardus Johannes VAN NOORT. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2021-09-30.

Ultrasound probe positioning system

Номер патента: US20230157664A1. Автор: Aaldert Jan Elevelt,Wilhelmus Josephus Box,Jacek Lukasz KUSTRA,Jacobus Sigbertus Marie Geraats,Antonius Maria Rijken,Saskia Maria CAMPS,Antonius Leonardus Johannes VAN NOORT. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2023-05-25.

Endoscope having separable probe

Номер патента: US11826022B2. Автор: Kyong Min Shin,Sung Hwan Park,Hyun Soo Ji. Владелец: Taewoong Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Material hardness distribution display system and material hardness distribution display method

Номер патента: US20110213575A1. Автор: Yoshinobu Murayama,Sadao Omata. Владелец: NIHON UNIVERSITY. Дата публикации: 2011-09-01.

Plant energy instrument

Номер патента: US20070219603A1. Автор: Gensheng Liu,Willis Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-20.

Probe device detachably coupled to endoscope

Номер патента: US11998171B2. Автор: Kyong Min Shin,Sung Hwan Park,Hyun Soo Ji. Владелец: Taewoong Medical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Oximetry probe with tissue depth analysis

Номер патента: US11707214B2. Автор: Kate Leeann Bechtel,Scott Coleridge,Jennifer Elizabeth KEATING. Владелец: ViOptix Inc. Дата публикации: 2023-07-25.

System and method for endoscope propulsion and lumen evacuation

Номер патента: US20230062769A1. Автор: Yoav Lichtenstein. Владелец: Ottek Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Method and arrangement for evaluating a defect signal by comparing the ratio of maximum signal rise and maximum signal magnitude to a predetermined value

Номер патента: US4445088A. Автор: Winfried Schubel. Владелец: Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG. Дата публикации: 1984-04-24.

Control system of electric motors for winding equipment

Номер патента: GB1147835A. Автор: Artem Abramovic Belotserkovsky,Nikolai Vasilievich Shapochka,Viktor Nikolaevich Mits,Avil Titovich Knyazev,Anatoly Ivanovich Vinnik,Alexandr Fedorovich Kirei,Mikhail Andreevich Storozhenko. Владелец: DO G MASHINOSTROITELNY ZD IM 1. Дата публикации: 1969-04-10.

Subject information acquiring apparatus

Номер патента: US20130225970A1. Автор: Takaaki Nakabayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-08-29.

Subject information acquiring apparatus

Номер патента: US8971987B2. Автор: Takaaki Nakabayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-03.

System and method for transducing, sensing, or affecting vaginal or body conditions, and/or stimulating perineal musculature and nerves using 2-way wireless communications

Номер патента: CA2463450C. Автор: Joel S. Hochman,George Sarkis. Владелец: Athena Feminine Technologies Inc. Дата публикации: 2011-06-07.

Oximeter Device with Replaceable Probe Tip

Номер патента: US20230371854A1. Автор: Sophia Elizabeth Berger,Joseph Heanue,Scott E. Coleridge. Владелец: ViOptix Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Oximetry Probe with Tissue Depth Analysis

Номер патента: US20230371853A1. Автор: Kate Leeann Bechtel,Jennifer Elizabeth KEATING,Scott E. Coleridge. Владелец: ViOptix Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Handheld oximeter probe with replaceable probe tip

Номер патента: WO2017184908A3. Автор: Scott Coleridge,Sophia Elizabeth Berger,Joseph Heanue. Владелец: VIOPTIX, INC.. Дата публикации: 2017-11-30.

플레이트 가공기

Номер патента: KR20160063731A. Автор: 이정목,최우각,오대명. Владелец: (주)대성하이텍. Дата публикации: 2016-06-07.

Analysis of target molecules within a sample via hybridization chain reaction

Номер патента: EP4114969A2. Автор: Niles A. Pierce,Harry Ming Tak Choi. Владелец: Molecular Instruments Inc. Дата публикации: 2023-01-11.

Analysis of target molecules within a sample via hybridization chain reaction

Номер патента: WO2021221789A2. Автор: Niles A. Pierce,Harry Ming Tak Choi. Владелец: Molecular Instruments, Inc.. Дата публикации: 2021-11-04.

Testing apparatus for integrated circuit

Номер патента: US20110001506A1. Автор: Masashi Hasegawa,Kenichi Washio. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-06.

Device and method for intra-ocular pressure measurement

Номер патента: WO2006087715A2. Автор: Abraham Livne,Ilan Ron. Владелец: A.T.I. - Advanced Medical Technologies Ltd.. Дата публикации: 2006-08-24.

Device and method for intra-ocular pressure measurement

Номер патента: EP1850729A2. Автор: Abraham Livne,Ilan Ron. Владелец: Ati - Advanced Medical Technologies Ltd. Дата публикации: 2007-11-07.

Integrated system for electro-blotting

Номер патента: US20160377574A1. Автор: Mahesh Bhat,Urban Jonsson Axelsson,Lars Erik HAMMARSTRAND,Girish Kittur,Shekar AMBEPU,Bharath SUBRAHMANYA,Kalyana Duggirala Chakravarthy. Владелец: GE Healthcare Bio Sciences AB. Дата публикации: 2016-12-29.

Integrated system for electro-blotting

Номер патента: US09945810B2. Автор: Mahesh Bhat,Urban Jonsson Axelsson,Lars Erik HAMMARSTRAND,Girish Kittur,Shekar AMBEPU,Bharath SUBRAHMANYA,Kalyana Chakravarthy DUGGIRALA. Владелец: GE Healthcare Bio Sciences AB. Дата публикации: 2018-04-17.

Electronic thermometer

Номер патента: US09726549B2. Автор: Tseng Lung Lin,Shao-Yun Yu. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Prober having linkage portion, method for manufacturing the prober and method of testing circuit boards using the prober

Номер патента: US9772352B2. Автор: Masashi Kobayashi,Takahiro Ogawara. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Prober having linkage portion, method for manufacturing the prober and method of testing circuit boards using the prober

Номер патента: US09772352B2. Автор: Masashi Kobayashi,Takahiro Ogawara. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Measurement system and method for operating a measurement system

Номер патента: US11674978B2. Автор: Bernhard Sterzbach. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-06-13.

Coordinate measuring apparatus

Номер патента: US09410786B2. Автор: Chih-Kuang Chang,Sheng-Qiang Shen,Jun-Song Xu,Jun-Hua Li. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Circuit probing structures and methods for probing the same

Номер патента: US09754847B2. Автор: Hao Chen,Mill-Jer Wang,Ching-Nen Peng,Hung-Chih Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Cardiac probe enabling use of personal computer for monitoring heart activity or the like

Номер патента: CA1326884C. Автор: William J. Sanders. Владелец: ITH Inc. Дата публикации: 1994-02-08.

Spin state readout device of quantum sensor and spin state readout method

Номер патента: US20240069127A1. Автор: Yan Liu,Renfu YANG. Владелец: Beijing Academy Of Quantum Information Sciences. Дата публикации: 2024-02-29.

Display panel manufacturing apparatus and display panel manufacturing method using the same

Номер патента: US20230125730A1. Автор: Dae Hong Kim,Byung Kyu SON. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Non-destructive testing

Номер патента: GB1488833A. Автор: . Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1977-10-12.

Neural capacitance: neural network selection via edge dynamics

Номер патента: US20230401435A1. Автор: Bo Wu,Pin-Yu Chen,Chuang GAN,Tejaswini Pedapati,Chunheng Jiang,Jianxi Gao. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Multifunctional helicopter radioelectronic system

Номер патента: RU2736344C1. Автор: Виктор Иванович Дикарев,Владимир Александрович Мельников,Александр Сергеевич Рябов,Владимир Васильевич Ефимов. Владелец: Открытое акционерное общество "Авангард". Дата публикации: 2020-11-16.

Apparatus for capacitive ascertaining and/or monitoring of fill level

Номер патента: CA2614052C. Автор: Armin Wernet,Kaj Uppenkamp,Roland Dieterle. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2012-07-10.

Portable apparatus for analyzing metals by X-ray fluorescence

Номер патента: US4429409A. Автор: Peter F. Berry,Wendell D. Miller,John L. Nethery, Jr.. Владелец: RAMSEY ENGR Co. Дата публикации: 1984-01-31.

Apparatus for determining and/or monitoring a process variable

Номер патента: CA2677775C. Автор: Armin Wernet,Roland Dieterle,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2013-02-05.

Apparatus for detecting defect and method for detecting defect using the same

Номер патента: CA2998245C. Автор: Dong Hwan Shin,Ye Ji Shin,Seung Eun Cha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-04-06.

Measurement system and method of operating a measurement system

Номер патента: US11789040B2. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-10-17.

Measurement system and method of operating a measurement system

Номер патента: US20210382089A1. Автор: Markus GALLHAUSER,Nino VOSS,Werner Perndl,Christian Benisch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-12-09.

Probe station for the simultaneous measurement of thermal and electrical characteristics of thermoelectric module

Номер патента: US09696370B2. Автор: Jinyong Choi,Sangsig Kim,Kyoungah Cho,Jonggoo Lee. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2017-07-04.

Magnetic resonance imaging apparatus

Номер патента: US20100117649A1. Автор: Takahiro Sekiguchi,Hideo Kasami,Koji Akita,Toshiyuki Nakanishi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-13.

Inspection jig and circuit board inspection apparatus including the same

Номер патента: US12055579B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Wafer testing probe card

Номер патента: US09823272B2. Автор: Tsung-Yi Chen,Ming-Chi Chen,Tien-Chia LI,Dai-Jin YEH,Chien-Kuei WANG. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Magnetic field value measuring device and method for measuring magnetic field value

Номер патента: US09482692B2. Автор: Ryoichi Nakatani,Hitoshi Saito,Satoru Yoshimura,Hikaru Nomura,Yukinori Kinoshita. Владелец: Akita University NUC. Дата публикации: 2016-11-01.

Laser-radar type distance measuring equipment

Номер патента: US5266955A. Автор: Masao Izumi,Shigeki Hata,Katsuyuki Fukuda,Tomonari Ishikawa. Владелец: Kansei Corp. Дата публикации: 1993-11-30.

Radon measuring apparatus and method

Номер патента: US11719833B2. Автор: Sang In Kim,Hyun Keun Lim,Eun Jung Yun. Владелец: Arim Science Co. Дата публикации: 2023-08-08.

Buried Cable Break Detector and Method

Номер патента: US20220074983A1. Автор: David J. MELBOURNE. Владелец: Robin Autopilot Holdings LLC. Дата публикации: 2022-03-10.

Radon measuring apparatus and method

Номер патента: EP4057033A1. Автор: Sang In Kim,Hyun Keun Lim,Eun Jung Yun. Владелец: Arim Science Co. Дата публикации: 2022-09-14.

Display Panel

Номер патента: US20180150162A1. Автор: Sangbin LEE,Sudong KIM,Jongseok Kim,Jinho LIM. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Vertical probe arrays and improved methods for making using temporary or permanent alignment structures for setting or maintaining probe-to-probe relationships

Номер патента: US11828775B1. Автор: Dennis R. Smalley,Michael S. Lockard,Uri Frodis. Владелец: Microfabrica Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Electrical measurement system and method for establishing a desired total offset

Номер патента: US10545175B2. Автор: Andreas Ziegler,Alexander Kunze,Roland Krimmer,Mirko Soellner,Gottfried Czech. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-01-28.

Vertical probe arrays and improved methods for making using temporary or permanent alignment structures for setting or maintaining probe-to-probe relationships

Номер патента: US20240061017A1. Автор: Dennis R. Smalley,Michael S. Lockard,Uri Frodis. Владелец: Microfabrica Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Apparatus and method for inspecting liquid crystal display

Номер патента: US20070046318A1. Автор: Bong Kim,Ki Yang,Dong Kang,Soung Eom. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-01.

Ultraviolet alignment illumination system and detection device for same

Номер патента: US20200166785A1. Автор: Hung-Yu Chen,Yuntao TANG. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

반도체 검사용 소자 및 이의 제조방법

Номер патента: KR20020066791A. Автор: 조수제. Владелец: 조수제. Дата публикации: 2002-08-21.

Measurement system and method for obtaining information about a sample

Номер патента: WO2021160244A1. Автор: Ventsislav Lavchiev. Владелец: Lavchieff Analytics Gmbh. Дата публикации: 2021-08-19.

Measurement system and method for obtaining information about a sample

Номер патента: EP4103930A1. Автор: Ventsislav Lavchiev. Владелец: Lavchieff Analytics Gmbh. Дата публикации: 2022-12-21.

Impedance measuring device for printed wiring board

Номер патента: US6856152B2. Автор: Yorio Hidehira. Владелец: MicroCraft KK. Дата публикации: 2005-02-15.

Probe tester for electrical connector assembly

Номер патента: US5458500A. Автор: Jiro Aikawa. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 1995-10-17.

Radon sensor device using polyhedral-shaped ionization chamber

Номер патента: US11169281B2. Автор: Jae Jun Ko,Young Gweon Kim. Владелец: Ftlab Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-09.

Radon sensor device using polyhedral-shaped ionization chamber

Номер патента: US20210247527A1. Автор: Jae Jun Ko,Young Gweon Kim. Владелец: Ftlab Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Substrate Testing apparatus and substrate testing method

Номер патента: US20020190736A1. Автор: Hiromitsu Sugimoto,Tsuyoshi Kanao. Владелец: Renesas Semiconductor Engineering Corp. Дата публикации: 2002-12-19.

Voltage detection apparatus

Номер патента: US5703491A. Автор: Takuya Nakamura,Isuke Hirano,Hironori Takahashi,Shinichiro Aoshima,Tsuneyuki Urakami. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1997-12-30.

프로브 유닛

Номер патента: KR20000047410A. Автор: 오쿠노도시오. Владелец: 가부시키가이샤 소쇼텟쿠. Дата публикации: 2000-07-25.

Eddy-optic sensor for object inspection

Номер патента: US6608495B2. Автор: Jaim Nulman,Moshe Sarfaty,Ramaswamy Sreenivasan. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Improvements in or relating to ultrasonic testing apparatus

Номер патента: GB1137301A. Автор: Raymond Ford Hanstock. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1968-12-18.

Method for radar probing and differential radar which implements said method

Номер патента: RU2148842C1. Автор: Леонид Абрамович Лозовский,Владимир Николаевич Шершаков,И.Г. Дядькин,Ф.А. Хохлушкина,дькин И.Г.(RU) Д,Ян Павлович Мелентьев,Ф.А.(RU) Хохлушкина. Владелец: Ян Павлович Мелентьев. Дата публикации: 2000-05-10.

Strain gage

Номер патента: US3599479A. Автор: Ali Umit Kutsay. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-08-17.

Device to determine formation characteristics (versions)

Номер патента: RU2378511C2. Автор: Эдвард ХЭРРИГАН,Трой ФИЛДЗ,Ойвинд БРОКМЕЙЕР,Бункер ХИЛЛ,Чарльз ФЕНСКИ,Али АГБАЛИ,КАМПО Кристофер ДЕЛ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Бв. Дата публикации: 2010-01-10.

Mobile paving machine

Номер патента: US20120063847A1. Автор: Johann Owegeser. Владелец: SMG SPORTPLATZMASCHINENBAU GMBH. Дата публикации: 2012-03-15.

Magnetic probe for measuring weak magnetic fields

Номер патента: SU117957A1. Автор: Н.Н. Греков,А.П. Рябов,бов А.П. Р. Владелец: бов А.П. Р. Дата публикации: 1958-11-30.

Magnetic probe for locked intramedullary nail

Номер патента: CN2698283Y. Автор: 孙德修,王建然. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-11.

Measuring uhf magnetic probe

Номер патента: SU1095073A1. Автор: Владимир Николаевич Топольницкий,Геннадий Юрьевич Кобзарев. Владелец: Предприятие П/Я В-2645. Дата публикации: 1984-05-30.

Magnetic probe

Номер патента: SU1277174A1. Автор: Петр Григорьевич Саенко. Владелец: Saenko Petr G. Дата публикации: 1986-12-15.

Magnetic probe

Номер патента: SU1323096A1. Автор: Самвел Григорьевич Меликсетян,Гектор Гришаевич Арутюнян. Владелец: Ереванский Зоотехническо-Ветеринарный Институт. Дата публикации: 1987-07-15.

Magnetic probe

Номер патента: SU538312A1. Автор: Владимир Александрович Соловьев,Юрий Васильевич Кубарев,Михаил Александрович Красненков. Владелец: Предприятие П/Я В-2572. Дата публикации: 1976-12-05.

MAGNETIC PROBE

Номер патента: SU397864A1. Автор: А. И. Токарев П. Г. Иванов ООНД витель ПТБ В. М. Плужников. Владелец: Московский ордена Трудового Красного Знамени инженерно физический институт. Дата публикации: 1973-09-17.

Magnetic probe

Номер патента: CN104931590A. Автор: 王钲清. Владелец: Co Ltd Of Normal Selectron Of Changzhou Research Institute. Дата публикации: 2015-09-23.

Method for balancing dual cores of magnetic probes

Номер патента: SU130550A1. Автор: Е.С. Калина. Владелец: Е.С. Калина. Дата публикации: 1959-11-30.

Magnetic probe

Номер патента: CA918241A. Автор: I. Shaw Jeffery,W. Rigby Ronald. Владелец: Joseph Lucas Industries Ltd. Дата публикации: 1973-01-02.

Magnetic probe for extracting foreign ferromagnetic objects from rumens of cattle

Номер патента: SU843974A1. Автор: Олег Константинович Фролов,Александр Наумович Герберг,Геннадий Михайлович Баринов,Анатолий Михайлович Пойманов,Александр Васильевич Коробов,Евгений Дмитриевич Савков,Александр Сергеевич Белановский. Владелец: Московская Ордена Трудового Красногознамени Ветеринарная Академия Им.Скрябина. Дата публикации: 1981-07-07.

Remote control caterpillar telescopic traction magnetic probe car

Номер патента: CN101716959A. Автор: 黄志雄,高勇,王胜军,赵晓文,张大庆,辛涛,侯忠明,刘心昊,侯宝科. Владелец: Architectural Engineering Institute of General Logistics Department of PLA. Дата публикации: 2010-06-02.

Magnetic probe for reducing stray area of lead loop

Номер патента: CN214151016U. Автор: 张小辉,李春华,叶扬,孔德峰,兰涛,赵志豪,齐美彬,文斐,董期龙,张寿彪. Владелец: Institute of Energy of Hefei Comprehensive National Science Center. Дата публикации: 2021-09-07.

FLOATING MAGNET PROBE FOR CELL ISOLATION

Номер патента: US20120252088A1. Автор: Zhang Jie,Deng Glenn Y.,Tien Fang. Владелец: . Дата публикации: 2012-10-04.

Cantilever-type displacement element unit, cantilever-type probe unit using the same, and information processing apparatus using the same

Номер патента: JP3168359B2. Автор: 正剛 赤池,春紀 河田,義勇 鈴木,岳彦 川崎,敬介 山本. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2001-05-21.

Probing unit, burn-in screening system using the probing unit, and burn-in screening method

Номер патента: JP5528617B1. Автор: 克己 菊川,一也 名取,公生 高島. Владелец: Wing Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-25.

Probe unit and manufacturing method thereof

Номер патента: TW201224461A. Автор: Jun-Liang Lai,zhao-ping Xie,Guo-Meng Xu,ya-yun Zheng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2012-06-16.

Probe unit gender of LCD inspection system

Номер патента: TW201142301A. Автор: Yun-Tae An. Владелец: LUKEN TECHNOLOGIES. Дата публикации: 2011-12-01.

Probe unit

Номер патента: TW201027079A. Автор: Koji Ishikawa,Jun Tominaga,Ryohei Shigematsu,Takahiro Motegi,Shigeo Kiyota,Tomoyasu Kikuchi. Владелец: Kiyota Mfg Co. Дата публикации: 2010-07-16.

SPRING WIRE ROD, CONTACT PROBE, AND PROBE UNIT

Номер патента: US20120019277A1. Автор: . Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-26.

MULTI PROBE UNIT FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION APPARATUS

Номер патента: US20120192651A1. Автор: Kim Young Gil,Lee Seung Seok,Kim Ki Bok,Shin Hyun Jae,Jang You Hyun. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-02.

CONTACT PROBE AND PROBE UNIT

Номер патента: US20130002281A1. Автор: . Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2013-01-03.

Soil static probing unit

Номер патента: SU708009A1. Автор: Самуил Саневич Бруфман,Леонард Иванович Галкин,Владимир Иванович Чекалов,Андрей Александрович Солодовников,Сергей Степанович Рыбаков. Владелец: Государственный институт по проектированию оснований и фундаментов "Фундаментпроект". Дата публикации: 1980-01-05.

Probe unit and inspection device

Номер патента: JP5193506B2. Автор: 恵 赤平,忍 船水. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-08.

Clamping chuck for pressing-in and withdrawing sondes of static probing unit

Номер патента: SU1472628A1. Автор: Вячеслав Васильевич Ильичев,Александр Иванович Черников. Владелец: Всесоюзный Государственный Проектно-Изыскательский И Научно-Исследовательский Институт Энергетических Систем И Электрических Сетей "Энергосетьпроект". Дата публикации: 1989-04-15.

Semiconductor device and probe unit

Номер патента: JP3132465B2. Автор: 謙一 情野. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-02-05.

Double difference dynamic formula pulse eddy current probe unit, array probe and detection device

Номер патента: CN207396406U. Автор: 王晓东,叶波,黄国勇,吴建德,范玉刚,邹金慧,冯早,包俊. Владелец: KUNMING UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-05-22.

Ultrasonic probe unit and ultrasonic diagnostic apparatus

Номер патента: JP2019122450A. Автор: 英男 本郷,杉ノ内　剛彦,Takehiko Suginouchi,剛彦 杉ノ内,Hideo Hongo. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-25.

Line switch probing unit

Номер патента: SU813817A1. Автор: Турвен Яанович Ребане. Владелец: Rebane Turven Ya. Дата публикации: 1981-03-15.

Device for pressing-in the probe and tightening the anchor of a soil static probing unit

Номер патента: SU567999A1. Автор: Вячеслав Васильевич Ильичев,Анатолий Григорьевич Елисаветский. Владелец: Ордена Октябрьской Революции Всесоюзный Государственный Проектно-Изыскательский И Научно-Исследовательский Институт Энергетических Систем И Электрических Сетей Энергосетьпроект. Дата публикации: 1977-08-05.

Measure with two cable probe unit and its application process

Номер патента: CN104251923B. Автор: 王星,翟学涛,杨朝辉,高云峰,黄俊华,谭艳萍,陈百强. Владелец: Shenzhen Hans CNC Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-30.

Ultrasonic probe, ultrasonic probe unit, ultrasonic image inspection device

Номер патента: JP4660752B2. Автор: 和人 小林. Владелец: Honda Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-30.

Method of manufacturing probe unit

Номер патента: JP3118676B2. Автор: 康弘 島田,隆行 八木,修 高松,優 中山. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2000-12-18.

Probe unit and inspection head using the same

Номер патента: JPH10160760A. Автор: Yoshie Hasegawa,義栄 長谷川. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 1998-06-19.

Weight type intelligent charge level probe unit

Номер патента: CN2293054Y. Автор: 王树林,周秀华,马鹏祥,能昌信,赵春记,苗永先. Владелец: CHINESE COAL ECONOMICS COLLEGE. Дата публикации: 1998-09-30.

LCD panel auto gripping apparatus and method for use in a panel carrier for an automatic probe unit

Номер патента: TWI231964B. Автор: Hee-Juong Cho. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2005-05-01.

Conductive contactor and electric probe unit

Номер патента: CN1267733C. Автор: 风间俊男,石川重树. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-02.

The crystal grain point measurement machine of probe unit and adjust automatically probe pressure

Номер патента: CN207851234U. Автор: 邓朝旭. Владелец: SHENZHEN ZHAO YANG GUANG TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-11.

Anchorage device for mobile soil-probing unit

Номер патента: SU1650878A1. Автор: Владимир Ильич Островский. Владелец: Всесоюзный проектно-изыскательский и научно-исследовательский институт "Гидропроект" им.С.Я.Жука. Дата публикации: 1991-05-23.

Intraductal speculum probe unit of power plant boiler path

Номер патента: CN205026309U. Автор: 刘云龙,龙毅,彭碧草. Владелец: State Grid Hunan Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-10.

Great earthquake impending earthquake sound monitoring probe unit structure based on piezoelectric cable sensor and circuit module structure

Номер патента: CN105759308A. Автор: 王新安,林科,雍珊珊,韩朝相,曾敬武. Владелец: Peking University Shenzhen Graduate School. Дата публикации: 2016-07-13.

Probe unit and inspection device

Номер патента: JP5179301B2. Автор: 伸治 荻原. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Probe unit for inspecting flat specimen

Номер патента: JPH10123173A. Автор: Isao Tanabe,功 田辺. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-15.

Probe unit for medical scanning apparatus

Номер патента: AU319680S. Автор: . Владелец: Signostics Ltd. Дата публикации: 2008-05-29.

Probe unit

Номер патента: GB8323631D0. Автор: . Владелец: SUNDERLAND MACHINE INSTALLATIO. Дата публикации: 1983-10-05.

Optical probe unit

Номер патента: JPS62283684A. Автор: Takeshi Kato,Kenichi Mizuishi,猛 加藤,賢一 水石. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-12-09.

Near-by magnetic field probe, near-by magnetic field probe unit, near-by magnetic field probe array, and magnetic field measuring system

Номер патента: JPH11202009A. Автор: Taikou Kou,太好 高. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 1999-07-30.

A kind of flexible fluid injection probe unit

Номер патента: CN207123347U. Автор: 李鑫,汤建泉,欧元庆. Владелец: Sdust Zhongtian Safety Control Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Vacuum hydro-static sampling probe unit

Номер патента: SU1700420A1. Автор: Исмаил Викторович Равилов,Владислав Адольфович Русанов,Олег Анатольевич Ерофеев,Александр Николаевич Рудковский. Владелец: Донецкий политехнический институт. Дата публикации: 1991-12-23.

A kind of paperback probe unit for High Speed Flow Field Plasma parameter diagnosis

Номер патента: CN207816558U. Автор: 刘宇,徐亮,曹金祥,余鹏程,张逍,张仲凯. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2018-09-04.

Probe unit

Номер патента: JP2020095002A. Автор: Isao Kimoto,軍生 木本. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-06-18.

Static probing unit

Номер патента: RU2566518C1. Автор: Олег Павлович Архангельский. Владелец: Олег Павлович Архангельский. Дата публикации: 2015-10-27.

Probe unit, board inspection apparatus and board inspection system

Номер патента: JP5278763B2. Автор: 徹 長谷川. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-04.

Probe assembly and probe unit

Номер патента: JP7049157B2. Автор: 恵 赤平,洋二 清野,恒 山口. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-06.

Measuring probe unit for electrical measurement

Номер патента: JP4413372B2. Автор: 健二 小林,英樹 冨山. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2010-02-10.

Probe unit and probe card using it

Номер патента: JPH1183900A. Автор: Noriyuki Nakamura,紀之 中村. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 1999-03-26.

Probe drive and probe unit

Номер патента: JP3588209B2. Автор: 弘高 石川. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2004-11-10.

A kind of PCB transmission line insertion loss method of testing and probe unit

Номер патента: CN104569611B. Автор: 王恩东,胡雷钧,林楷智,张柯柯,李鹏翀,邹定国. Владелец: Inspur Beijing Electronic Information Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

For testing the probe unit of the panel with micro- pitch arrays

Номер патента: CN104422800B. Автор: 郑熙锡,丘璜燮,金铉济,金暎昊,朴钟君,千圣武,李圭汉,孟根英,高明用. Владелец: Yu Demansi Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Photoacoustic imaging apparatus, probe unit used therefor, and method of operating photoacoustic imaging apparatus

Номер патента: JP5564449B2. Автор: 直史 笠松,和弘 広田,覚 入澤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-07-30.

Impedance detection's probe unit

Номер патента: CN205898897U. Автор: 赵凌云. Владелец: Nanjing Xie Chen Electronic Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-18.

Probe unit

Номер патента: CN102435927B. Автор: 丸山真生,新井信久,星诚. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-09.

A kind of high stability scanning probe unit being applied in electron microscope

Номер патента: CN104122414B. Автор: 潘明虎. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-28.

Inspection probe and probe unit

Номер патента: JP2022188805A. Автор: Masatoshi Tsuchiya,昌俊 土屋. Владелец: Shin Etsu Polymer Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Probe unit

Номер патента: JP2003185676A. Автор: 邦夫 樋山,Kunio Hiyama. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2003-07-03.

Probe unit and detection device thereof

Номер патента: TW201107759A. Автор: Tomoaki Kuga,Hideki Hirota. Владелец: Nihon Micronics Kk. Дата публикации: 2011-03-01.

Probe unit

Номер патента: TW201031927A. Автор: Koji Ishikawa,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-01.

Contactor probe and electric probe unit

Номер патента: MY139505A. Автор: Toshio Kazama,Shigeki Ishikawa. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-30.

Vertical probe unit and its supporting structure and supporting structure

Номер патента: TWI428606B. Автор: . Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2014-03-01.

Film type probe unit and method of manufacturing the same

Номер патента: TW201142306A. Автор: Hun-Min Kim. Владелец: Kodi S Co Ltd. Дата публикации: 2011-12-01.

ULTRASENSITIVE MAGNETIC SENSOR BASED ON GIANT FARADAY ROTATION

Номер патента: US20120001625A1. Автор: Yamada Hitoshi,SHINTANI Kazuhiro,Sato Norio,FUJII Akinobu,Peyghambarian Nasser,Verbiest Thierry,PERSOONS Andre,POLYNKIN Pavel. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for monitoring combustion conditions in gas-turbine power unit

Номер патента: RU2245491C2. Автор: Н.М. Пушкин,Ю.П. Щуров,Э.М. Юлдашев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие Научно-производственное объединение измерительной техники. Дата публикации: 2005-01-27.

Airplane and helicopter integrated standby equipment system

Номер патента: RU2337315C2. Автор: Николай Николаевич Макаров,Олег Николаевич Новоселов,Виктор Иванович Кожевников,Владимир Кузьмич Козицин. Владелец: ОАО "Ульяновское конструкторское бюро приборостроения" (ОАО "УКБП"). Дата публикации: 2008-10-27.

Contactless electromagnetic sensor for measuring time derivative of magnetic field induction of electromagnetic pulse

Номер патента: RU2444021C1. Автор: Виктор Дмитриевич Селемир,Борис Глебович Птицын,Владимир Александрович Терёхин. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"). Дата публикации: 2012-02-27.

Method of geological monitoring

Номер патента: RU2568986C1. Автор: Владимир Петрович Колесников. Владелец: Владимир Петрович Колесников. Дата публикации: 2015-11-20.

Method of bacterial cell isolation and identification

Номер патента: RU2330292C2. Автор: Анатолий Александрович Кузнецов,Олег Анатольевич Кузнецов,Сергей Федорович Билецкий,Наталь Ивановна Билецка,Наталья Ивановна Билецкая. Владелец: Закрытое акционерное общество "Опытно-конструкторское бюро медико-биологического приборостроения". Дата публикации: 2008-07-27.

Method and apparatus for generating magnetic field localised in nanosized region of space

Номер патента: RU2447527C1. Автор: Владимир Александрович Скиданов,Андрей Александрович Назаров,Петр Михайлович Ветошко,Виктор Рудольфович Новак,Александр Леонидович Стемпковский,Владимир Александрович Скиданов (RU),Андрей Александрович Назаров (RU),Петр Михайлович Ветошко (RU),Виктор Рудольфович Новак (RU),Александр Леонидович Стемпковский (RU). Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН. Дата публикации: 2012-04-10.

CHEMICAL SENSING WITH COHERENT DETECTION OF OPTICAL SIGNAL

Номер патента: US20120002211A1. Автор: Cho Pak Shing,Harston Geoffrey. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method, apparatus and system for local acting upon meteorological processes in earth atmosphere

Номер патента: RU2297758C1. Автор: Михаил Андраникович Шахраманьян,н Михаил Андраникович Шахрамань,Юрий Викторович Подрезов,Михаил Юрьевич Подрезов,н Андрей Михаилович Шахрамань,Андрей Михаилович Шахраманьян. Владелец: Андрей Михаилович Шахраманьян. Дата публикации: 2007-04-27.

System determining parameters of prospecting holes

Номер патента: RU2109942C1. Автор: А.В. Мельников,П.К. Плотников,В.Б. Никишин. Владелец: Саратовский государственный технический университет. Дата публикации: 1998-04-27.

Device measuring viscosity and density of liquid

Номер патента: RU2082153C1. Автор: Л.П. Грузнов,Е.Л. Грузнов,М.Л. Грузнов,В.П. Подживотов,В.П. Жердев,Л.С. Орлов. Владелец: Ивановский Инженерно-Строительный Институт. Дата публикации: 1997-06-20.

Method of measuring moisture content of three-component mixtures from producing oil wells using permittivity and electroconductivity and device for realising said method

Номер патента: RU2397482C1. Автор: Борис Иванович Андрейчиков,Леонид Степанович Милютин,Валерий Витальевич Котлов,Елена Борисовна Печерская,Игорь Сергеевич Попов,Александр Леонидович Юников,Тамара Алексеевна Гебель,Сергей Геннадьевич Никулин. Владелец: Борис Иванович Андрейчиков. Дата публикации: 2010-08-20.

Method and device for measuring three-phase fluid flow rate

Номер патента: RU2247947C1. Автор: . Владелец: Недосеков Николай Семенович. Дата публикации: 2005-03-10.

Spatial fire-extinguishing system

Номер патента: RU2140311C1. Автор: О.Л. Дубрава,Ю.Н. Бакуновский,В.Л. Румянцев. Владелец: Открытое акционерное общество "Гранит-Саламандра". Дата публикации: 1999-10-27.

Meter of corrosion parameters

Номер патента: RU2225594C1. Автор: В.А. Блохин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно производственное предприятие "СОНАР". Дата публикации: 2004-03-10.

Method of measurement of component-by-component flow of three-component gas-and-liquid flow and device for its implementation

Номер патента: RU2063615C1. Автор: Л.Г. Рафиков,А.М. Шубладзе,Б.И. Андрейчиков,И.А. Стасевич. Владелец: Андрейчиков Борис Иванович. Дата публикации: 1996-07-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.