Probe unit and inspecting apparatus.

Probe unit and inspecting apparatus

Номер патента: TW200745566A
Опубликовано: 16-12-2007
Автор(ы): Kazuyoshi MIURA, Megumi Akahira, Toyokazu Saitoh
Принадлежит: Nihon Micronics Kk

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Номер патента: US20160225300A1. Автор: Chae-Han Hyun,Young-Taeg Jung,Jung-Hun Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Panel inspection apparatus and display panel

Номер патента: US09633588B2. Автор: Qibiao LV,Jehao Hsu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Jig for inspection apparatus, inspection apparatus, and inspection set

Номер патента: US11921151B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-03-05.

Method and inspection device for examining the cathodic protection of a, more particularly ferromagnetic, pipeline

Номер патента: US20240230515A1. Автор: Andrey Danilov,Ben Bosse,Patrik Rosen. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2024-07-11.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Rotation transmission shaft unit, and motor, inverter test bench, and emc test equipment device using said shaft unit

Номер патента: US20240271655A1. Автор: Masaru Nakayama,Koji Kajitani. Владелец: OHTAMA CO Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Reality capture device having roller bearing for supporting a probing unit of it with compensation for increase in preload

Номер патента: EP4261140A1. Автор: Roman Steffen,Matthias Wozasek. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2023-10-18.

Roller bearing for supporting a probing unit of a reality capture device with compensation for increase in preload

Номер патента: US20230332648A1. Автор: Roman Steffen,Matthias Wozasek. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2023-10-19.

Methods, materials and apparatus for cleaning and inspecting girth gear sets

Номер патента: AU2020200115A1. Автор: Jason SHUMKA,Thomas SHUMKA. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-07-23.

Enhanced roadway mark locator, inspection apparatus, and marker

Номер патента: US09784843B2. Автор: Matthew W. Smith,William R. Haller,Douglas D. DOLINAR,Charles C. Stahl. Владелец: Limn Tech LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

Method and apparatus for cleaning and inspecting oil well drilling mud flow lines

Номер патента: US20230330718A1. Автор: Anthony Scott Carter. Владелец: Tri State Environmental LLC. Дата публикации: 2023-10-19.

Method and apparatus for cleaning and inspecting oil well drilling mud flow lines

Номер патента: US11975368B2. Автор: Anthony Scott Carter. Владелец: Tri State Environmental LLC. Дата публикации: 2024-05-07.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: US20240280442A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-08-22.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: US20240328561A1. Автор: Dong Kyu Kim,Jae Jun Kim,Kwang Hyun Yoo,Hong Seok Song,Dae Kwang KIM,Byung Taek Oh,Seung Ung YANG,Hui Ryoung YOO. Владелец: Korea Gas Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Behavior inspection apparatus and behavior inspection method for extensible flexible pipe joint

Номер патента: US20180045499A1. Автор: Yuji Noda,Shintaro Ikeda,Isamu Funakoshi. Владелец: Victaulic Company of Japan Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240265839A1. Автор: Jinyoung Kim,Kyungwoon Jang,Changjoon LEE,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daesuck HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-08.

Protective device and laser raman safety inspection apparatus comprising the same

Номер патента: US09997266B2. Автор: Lin Yang,LI ZHANG,Hongqiu Wang,Yumin Yi,Jianhong Zhang,Huacheng Feng,Shixin Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Diesel fuel quality inspection apparatus and inspection method thereof

Номер патента: US20180073998A1. Автор: Jang-Hyun JUNG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-03-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11761704B2. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Inspection jig and inspection apparatus

Номер патента: US11768226B2. Автор: Kohei Tsumura,Takanori Furukawa,Jyun YAMANOUCHI. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210405089A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Contact probe and probe unit

Номер патента: US20220317155A1. Автор: Kohei Hironaka,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US20220043055A1. Автор: Hiroyuki Nakayama,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Inspection apparatus, inspection method, and inspection system

Номер патента: EP3499211A3. Автор: Takashi Matsuyama,Ikue TAKAGI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

Hairpin type stator inspection apparatus and method for testing the same

Номер патента: US11711000B2. Автор: Seunghwan Lee. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Probe and inspection apparatus including the same

Номер патента: US20240019362A1. Автор: Jaeho Kim,Jongsu Kim,Namil Koo,Suhwan PARK,Sangwoo Bae,Junbum Park,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP4220004A1. Автор: Naoki Hasegawa,Naohisa Niimi,Yoshihiko Shiraishi,Gentaro Masuda,Hiroshi Tanioku. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-08-02.

Methods and systems for providing prompted setup and inspection during non-destructive testing (ndt)

Номер патента: US20190317049A1. Автор: David John FRY,Sakif Bin Ferdous,Emily Newhouse,David M. Geis,Raymond D. Berry, III. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2019-10-17.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Methods for inspecting a turbine engine rotor thru bolt threads and associated thru bold rotor disc cavity and corresponding inspection apparatus

Номер патента: WO2015130871A1. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Joshua DeAscanis,James P. Williams,Clifford HATCHER JR.. Владелец: SIEMENS ENERGY, INC.. Дата публикации: 2015-09-03.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US20150115991A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US9671459B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a thru bolt threads inspection apparatus

Номер патента: US09494487B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09880196B2. Автор: Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Remote inspection apparatus for heating tube of steam generator

Номер патента: US09819842B2. Автор: Sung Ho Park,Kyung Sub Kim,Hong Seok Ryu,Jang Myong WOO. Владелец: Korea Plant Service and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Blade inspection apparatus

Номер патента: US09429526B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Visual inspection apparatus and method of inspecting display panel using the visual inspection apparatus

Номер патента: US7602959B2. Автор: Min-young Won,In-Cheol Song,Il-Ho Lee,Chan-Hyang Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-13.

Inspection apparatus having a contactor for inspecting electrical characteristics of an object, a contactor tip position adjusting unit, and a position adjusting method therefor

Номер патента: US11965911B2. Автор: Satoshi Narita,Jun Shirato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Display panel inspection apparatus

Номер патента: US09940883B2. Автор: Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Jong-Hee NA,Jun-Il PARK,Hyung-Woo Yim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

A sun following sensor unit and a sun following apparatus having the same therewith

Номер патента: EP2191208A1. Автор: Joo-Pyoung Yoon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-02.

Tray unit and semiconductor device inspecting apparatus

Номер патента: WO2012014899A1. Автор: 末晴宮川. Владелец: 合同会社Pleson. Дата публикации: 2012-02-02.

Probe unit

Номер патента: US09702905B2. Автор: Mitsuhiro Kondo,Yoshio Yamada,Makoto Yumino,Satoshi Shoji. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Inspection jig and board inspection apparatus including the same

Номер патента: US11988687B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Inspection jig and circuit board inspection apparatus including the same

Номер патента: US12055579B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Probe unit

Номер патента: US20170299631A1. Автор: Yoshio Yamada,Kohei Hironaka. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

Probe unit and needle thereof

Номер патента: WO2008153238A1. Автор: Tea-Woon Jeon. Владелец: Im Co., Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Probe unit substrate

Номер патента: US7800384B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-21.

Probe unit substrate

Номер патента: US20090128175A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-21.

Electric contact probe unit

Номер патента: MY125717A. Автор: Toshio Kazama. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-30.

Probe unit and holder for a probe unit

Номер патента: US20230333140A1. Автор: Matthias Rudkowski. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2023-10-19.

Probe unit and holder for a probe unit

Номер патента: GB2619795A. Автор: Rudkowski Matthias. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2023-12-20.

Measurement probe unit for metrology applications

Номер патента: US20180172442A1. Автор: Frank Thys. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2018-06-21.

Probe unit

Номер патента: US11782074B2. Автор: Tsuyoshi Inuma,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Probe unit

Номер патента: US11994535B2. Автор: Shuji Takahashi,Tsuyoshi Inuma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Multi probe unit and measuring apparatus comprising thereof

Номер патента: US6420889B1. Автор: Shigeki Terada. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-07-16.

Probe unit for testing panel

Номер патента: WO2010104289A2. Автор: Yi Bin Ihm,Nam Jung Her,Jun Soo Cho. Владелец: Pro-2000 Co. Ltd.. Дата публикации: 2010-09-16.

Probe unit

Номер патента: US20240053380A1. Автор: Hajime Arai,Futa SASAKI,Kazuya Soma. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200064374A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230105201A1. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-04-06.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US11841381B2. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090058446A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Probe unit with a free length cantilever contactor and pedestal

Номер патента: US11860190B2. Автор: Satoshi Narita,Jukiya Fukushi,Shou HARAKO. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933839B2. Автор: Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130321015A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Inspection apparatus

Номер патента: US7791362B2. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240255563A1. Автор: Kyungwoon Jang,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daeseok HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20080238456A1. Автор: Hideo Kamahori. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Electronic device inspection apparatus

Номер патента: US12123906B2. Автор: Masafumi Takeda,Yasuhiro Yamauchi,Yohei Mikami,Tetsuhiro Fukao,Motoyoshi Koyanagi,Kazuya ITOSE. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Probe guide plate and semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09829509B2. Автор: Yuichiro Shimizu,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US09696402B2. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Substrate inspection apparatus

Номер патента: US09678107B2. Автор: Shingo Morita,Michio Murata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09535108B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130222004A1. Автор: Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2013-08-29.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US12075537B2. Автор: Hiroaki Agawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US20220412898A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-12-29.

Conductive particle-disposed film having conductive particles disposed within an elastomer film, method for producing the same, test probe unit, and continuity test method

Номер патента: US12066458B2. Автор: Shinichi Hayashi,Yasushi Akutsu. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Semiconductor Inspection Device and Probe Unit

Номер патента: US20210263075A1. Автор: Masaaki Komori,Katsuo Oki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-08-26.

Inspection circuit for magnetic field detector, and inspection method for the same

Номер патента: US09784800B2. Автор: Yasushi Oikawa. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2014167838A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11940485B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Shigeru Kasai,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927539B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Solar photovoltaic system inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20170310276A1. Автор: Kosuke Morita,Akihiko Sano,Tsuyoshi Takeuchi,Shuichi Misumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20160054366A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2016-02-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230314362A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US11946881B2. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-02.

Semiconductor manufacturing-and-inspection system, and semiconductor device

Номер патента: US20020067182A1. Автор: Osamu Hashimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-06-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Inspection apparatus and inspection method for light emitting device

Номер патента: US20130050691A1. Автор: Syu JIMBO,Norie Yamaguchi,Keita KOYAHARA. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Inspection apparatus, manufacturing method of integrated circuit, and inspection method

Номер патента: US20230298917A1. Автор: Tsung-Fu Tsai,Szu-Wei Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection method and inspection apparatus using electron beam

Номер патента: US20040026633A1. Автор: Ryuichi Funatsu,Mari Nozoe,Yasuhiro Gunji,Yoshikazu Inada,Kenjirou Yamamoto,Taku Ninomya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

Inspection apparatus and inspection method for display device

Номер патента: US20230123595A1. Автор: Sangjun SEOK,Namhyuk Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Printed circuit board and inspected unit

Номер патента: US20070126437A1. Автор: Jae-chun Sul. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-06-07.

Power theft inspection apparatus and method, and recording medium

Номер патента: US09927468B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Power theft inspection apparatus and power theft inspection method

Номер патента: US09476917B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20210043417A1. Автор: Osamu Nagano. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Manufacture defect analyzer with detecting function and inspecting method thereof

Номер патента: US20060221339A1. Автор: Yuan-Chiang Lee. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2006-10-05.

Inspection data output device, display system, and inspection data output method

Номер патента: US11067598B2. Автор: Soichiro Yamamoto,Sakatoshi Machimura,Takuya Hibino,Hikoichi Yonetani,Tatsuya Takaoka. Владелец: Denso Ten Ltd. Дата публикации: 2021-07-20.

Inspection data output device, display system, and inspection data output method

Номер патента: US20200309817A1. Автор: Soichiro Yamamoto,Sakatoshi Machimura,Takuya Hibino,Hikoichi Yonetani,Tatsuya Takaoka. Владелец: Denso Ten Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Connector inspection apparatus

Номер патента: US20020186021A1. Автор: Takao Fujita,Akira Nishino. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-12.

Portable fault location and inspection device for high voltage equipment based on acoustic wave method

Номер патента: AU2021103450A4. Автор: Yi Jiang,Jinbo Zhang,Jiajia SONG. Владелец: CHANGZHOU CAMPUS OF HOHAI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-08-12.

Organic light emitting diode display, and fabricating and inspecting methods thereof

Номер патента: US09547036B2. Автор: Woocheol Jeong,Imkuk KANG,Sungjun YUN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Inspection apparatus and component mounting system having the same

Номер патента: US12108536B2. Автор: Jeongyeob KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US09651607B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US12032012B1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: En Vigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Signal inspection apparatus, signal inspection system, signal inspection method, and non-transitory computer-readable medium encoded with signal inspection program

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Shouhei MIYASHITA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US20240219446A1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: Envigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method

Номер патента: US09874594B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Vision inspection apparatus and method of compensating gamma defect and mura defect thereof

Номер патента: US09576541B2. Автор: Woo-Jin Jung,Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Kang-Hyun Kim,Jong-Hee NA,Jae-Seob CHUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method using the same

Номер патента: US20180061041A1. Автор: Byeong Hwan Jeon,Tae Joong Kim,Jae Chol JOO,Jun Bum Park,Tae Heung AHN,Soo Ryonng Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Inspection apparatus, inspection method, inspection program, and assembled battery system

Номер патента: US12044746B2. Автор: Daisuke Konishi,Kazuyuki Kawamoto,Jun Ikemoto,Hayato Tawa. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Electrical characteristic parameter inspection apparatus, electrical characteristic parameter inspection method, and storage medium

Номер патента: US20230314355A1. Автор: Makoto Takada,Masaru Fuse,Junichi Jono. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US20140311223A1. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US9885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: US11719744B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Workpiece positioning mechanism and workpiece inspection apparatus

Номер патента: US12078673B1. Автор: Shohei Suzuki,Taichi Aranami. Владелец: Takaoka Toko Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Thin film transistor array inspection apparatus

Номер патента: US20050139771A1. Автор: Daisuke Imai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-06-30.

Inspection apparatus

Номер патента: US20080108503A1. Автор: Masahito Yoshizawa,Takayuki Simizu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2008-05-08.

Charge Protocol Inspection Apparatus and Operating Method Thereof

Номер патента: US20240353497A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Circuit board inspecting apparatus

Номер патента: US12055580B2. Автор: Takashi Isa,Toshihide Matsukawa. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US09885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: US09869715B2. Автор: Akira Yamaguchi,Takashi Ishimoto,Takenori Takahashi,Yuji Shigesawa,Takashi Motoyama. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09778311B2. Автор: Kentaro Ikeda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Method for determining set value of pressure for inspection in wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689916B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US09581641B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection apparatus

Номер патента: US09494639B2. Автор: Hiroyasu Watanabe. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Battery inspection apparatus

Номер патента: US09466861B2. Автор: Shinya Saitoh,Tsutomu Kawano,Tetsuo Harii,Sadanori Ishihara. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Casing unit and monitoring instrument comprising said unit

Номер патента: RU2750857C2. Автор: Эндрю КЕЙКБРЕД. Владелец: Ландис+Гир АГ. Дата публикации: 2021-07-05.

Active matrix substrate, liquid crystal panel, liquid crystal display device, liquid crystal display unit and television receiver

Номер патента: RU2452989C1. Автор: Тосихиде ЦУБАТА. Владелец: Шарп Кабусики Кайся. Дата публикации: 2012-06-10.

Drive circuit for pixel unit, and display panel

Номер патента: EP4451254A1. Автор: Renjie Zhou,Haijiang YUAN. Владелец: HKC Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Nondestructive inspection apparatus and inspection system of structure

Номер патента: US09746435B2. Автор: Yoshinori Ogawa,Michinobu Mizumura,Koichi Kajiyama. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US20150062570A1. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Semiconductor inspection apparatus, method of inspecting semiconductor wafer, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240353351A1. Автор: Yasuhiro Kimura,Hirofumi OKI,Shinichiro Katsuki,Takuyo Nakamura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Reel-to-reel inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09671352B2. Автор: Suck-Ha WOO,Je-Youn JEE,Ki-Sang MOON. Владелец: Haesung DS Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Probe unit for test tools and method of manufacturing the same

Номер патента: US09465048B1. Автор: Wei-Chih Wang. Владелец: Inotera Memories Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240288592A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

X-ray inspection apparatus and inspection method of x-ray sensor unit

Номер патента: EP4435418A1. Автор: Keisuke Yoshida,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Method of actively counteracting displacement forces with a probing unit

Номер патента: US09726482B2. Автор: Claudio Iseli,Bernhard Sprenger. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-08-08.

Method of determination, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US20130245979A1. Автор: Hiroya Kakimoto. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2013-09-19.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240248055A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP4396568A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US8670115B2. Автор: Yuji Miyoshi,Kazuhisa Hasumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Apparatus and method for securing the connection of a coaxially arranged tube of a measuring probe unit of a fill-level measuring device to a process connection element

Номер патента: US20130127156A1. Автор: Dirk Osswald. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2013-05-23.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3206020A3. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-08.

Phased array ultrasonic bolt inspection apparatus and method

Номер патента: US09429546B2. Автор: Zafir A. M. Abdo,Jason E. Williams,Thomas F. Quinn,Derrick Marcantel. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230247312A1. Автор: Hiroki Nakajima,Masaru Ishida,Mikio Shibukawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210140898A1. Автор: Tsutomu SAKUYAMA,Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Probe Unit

Номер патента: US09500512B2. Автор: Robert Schmidt,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-11-22.

Inspection apparatus comprising a first imager imaging fluorescence having a wavelength longer than a first wavelength and a second imager imaging fluorescence having a wavelength shorter than a second wavelength and inspection method

Номер патента: US12072289B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: EP3916342A1. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-12-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240361244A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240369502A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210010959A1. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09759656B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection apparatus for thermo-hygrometer based on phase change and methods for controlling and inspecting the same

Номер патента: US09846262B2. Автор: Jong Cheol Kim,Sang Wook Lee,Yong-Gyoo Kim,Byung Il Choi,Sang Bong WOO. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-12-19.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09542737B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09495736B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Image inspection method and inspection region setting method

Номер патента: US09892504B2. Автор: Anh Nguyen,Yasuyo Kotake,Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US7847928B2. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-07.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20130033705A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-02-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US12050302B2. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Body drying and inspection apparatus

Номер патента: US09775474B2. Автор: Ernesto Holguin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230030308A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection system and inspection method

Номер патента: AU2022244737A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090073430A1. Автор: Osamu Iwase. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20240276103A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Probe unit with cleaning means

Номер патента: US20160025617A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Anders DALLAND,Sindre Rognved Hansen,Bjørn Atle ØVERLAND,Øyvind SMITH-JAHNSEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2016-01-28.

Probe unit with cleaning means

Номер патента: EP2946193A1. Автор: Stian Magnussen,Hallvard Tangen,Anders DALLAND,Sindre Rognved Hansen,Bjørn Atle ØVERLAND,Øyvind SMITH-JAHNSEN. Владелец: ProAnalysis AS. Дата публикации: 2015-11-25.

Inspection apparatus, recording medium, and inspection system

Номер патента: US20240192143A1. Автор: Masaru Ohtsuka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Package readying and inspection apparatus

Номер патента: US5337138A. Автор: Akihiko Takeshita,Tetsuji Masai,Kenichi Inada. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Method for inspecting a semiconductor element and inspection apparatus for executing the same

Номер патента: US20220018789A1. Автор: Yueh-Heng Lee,Kuo-Ming Tseng. Владелец: V5 Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4425220A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Liquid crystal modulator for detecting a defective substrate and inspection apparatus having the same

Номер патента: US09581842B2. Автор: Suk Choi,Seunghee Lee,Young Eun Choi,Sung-Mo Gu,Changhyun Ryu,Youngwon Kim,Youngjin Noh,Chi Youn Chung. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chonbuk National University. Дата публикации: 2017-02-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09557277B2. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Device and method for printing and inspecting tablet

Номер патента: US20210387465A1. Автор: Kyung Ho Lee,Byung In Kim. Владелец: ENCLONY INC. Дата публикации: 2021-12-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Light source apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US09696568B2. Автор: Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Probe unit correction method

Номер патента: US11761759B2. Автор: Kohju KASAHARA. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Image capturing unit and inspection system

Номер патента: US12038386B1. Автор: Ryuichi Hirano,Masahiro Arai,Kaoru Kawakita. Владелец: Robit Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230070161A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240302292A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09450536B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US11961222B2. Автор: Taehyun Kim,Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang,BongSuk Kim. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US9134253B2. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-15.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Probe unit, driving method thereof, and scanning device for detecting tunnel current having said probe unit

Номер патента: CA2002187C. Автор: Osamu Takamatsu,Toshimitsu Kawase,Toshihiko Miyazaki,Hiroyasu Nose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1993-09-21.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US9934896B2. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20230324317A1. Автор: Takahiro Ikeda,Takashi Ichikawa,Hiroyuki Tanizaki,Takaki Hashimoto. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011919A1. Автор: Yoichi Karaki,Shinnosuke Ichikawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: EP4206098A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: AU2022291598A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: AU2022291598B2. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Plasma light source and inspection apparatus including the same

Номер патента: US09983144B2. Автор: KOHEI HASHIMOTO,Nobuyuki Kimura,Wook-Rae Kim,Byeong-Hwan Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Focus monitoring arrangement and inspection apparatus including such an arrangement

Номер патента: US09921489B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-03-20.

Pr-containing scintillator single crystal, method of manufacturing the same, radiation detector, and inspection apparatus

Номер патента: US09834858B2. Автор: Tsuguo Fukuda,Kenji Aoki,Akira Yoshikawa,Kei Kamada,Hiraku Ogino. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Probe unit

Номер патента: US20170343407A1. Автор: Robert Schmidt,Armin Wernet,Kaj Uppenkamp,Andreas Krumbholz. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2017-11-30.

Inspection device, inspection results management system, inspection results storage method, and inspection results management method

Номер патента: EP3770587A1. Автор: Yoichiro Abe,Norio Kawanishi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-27.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20240280520A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Takashi Hiroi,Yuko Otani,Yuya Isomae,Masakazu Kanezawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Secondary standard of laser radiation energy unit for calibration and inspection of laser joulemeters

Номер патента: RU2626064C1. Автор: Михаил Владимирович Улановский,Аркадий Михайлович Райцин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ"). Дата публикации: 2017-07-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Inspection device for scanning and inspecting object being inspected

Номер патента: EP4414695A1. Автор: LI ZHANG,XIN Jin,Zhiqiang Chen,Ming Chang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3276419A1. Автор: Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Sander Bas ROOBOL,Nan Lin. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-01-31.

Inspection method of electrical part, inspection apparatus of electric junction box and inspection apparatus of terminal fittings

Номер патента: US7006681B2. Автор: Tatsuya Maeda,Shigenori Miyawaki. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2006-02-28.

Apparatus and method for the drilling and inspecting of holes

Номер патента: US4753555A. Автор: Douglas Thompson,David A. Yousko. Владелец: Yousko David A. Дата публикации: 1988-06-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Inspection apparatus adjustment system and inspection apparatus adjustment method

Номер патента: US11898968B2. Автор: Yuko Sasaki,Taichi Maeda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Inspection apparatus and inspection method for semiconductor substrate

Номер патента: US20230314342A1. Автор: Koji Eguchi,Junichi Uehara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927554B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11921059B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349846A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Processing device and inspection apparatus for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: EP4302315A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11977038B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11971370B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349845A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349841A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349843A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349844A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20230377130A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: EP4280585A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230258606A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20110285989A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Eiji Imai,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Elevator remote monitoring and inspection

Номер патента: RU2735111C2. Автор: Астрид ЗОННЕНМОЗЕР,Рето ЧУППЕРТ,Мартин КУССЕРОВ. Владелец: Инвенцио Аг. Дата публикации: 2020-10-28.

Euv collector inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230108698A1. Автор: Matsuda Yozo,Minseok Choi,Dohyun Jung,Jeonggil KIM,Yoojin JEONG,Donghyub Lee,JongBin PARK,Eunhee Jeang,Wondon Joo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: US11841332B2. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-12-12.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US20150220809A1. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3951844A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akihiro Otaka,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-02-09.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: SG10201804792XA. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: Asm Tech Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Charged particle beam lithography apparatus, inspection apparatus and inspection method of pattern writing data

Номер патента: US20130264478A1. Автор: Yasuo Kato,Shigehiro Hara,Akihito Anpo,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2013-10-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933667B2. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US11991457B2. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210291295A1. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20210018367A1. Автор: Satoshi Oguchi,Masashi Kanai,Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Surface flaw inspection apparatus for convex body

Номер патента: CA1206226A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1986-06-17.

Inspection route generation device and inspection route generation method

Номер патента: US20240042607A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Hiroki Morii,Kaichiro Nishi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection path generation device and inspection path generation method

Номер патента: EP4261530A1. Автор: Nobuaki Nakasu,Hiroki Morii,Kaichiro Nishi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2023-10-18.

A transferring and inspecting unit of a group of elongated elements

Номер патента: EP3475687A2. Автор: Luca Federici,Sergio Morelli,Alberto Casagrande. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2019-05-01.

A transferring and inspecting unit of a group of elongated elements

Номер патента: WO2017221126A3. Автор: Luca Federici,Sergio Morelli,Alberto Casagrande. Владелец: G.D. S.P.A.. Дата публикации: 2018-02-15.

Alignment inspection apparatus for electrode assembly and alignment inspection method for electrode assembly using the same

Номер патента: US11781859B2. Автор: Su Taek Jung,Jung Kwan Pyo,Cha Hun Ku,Tai Jin Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection device and inspection method upon construction of coke oven, and coke oven construction method

Номер патента: EP3922700A1. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-15.

Automated Photography and Inspection Station

Номер патента: US20240319107A1. Автор: Michael INSALAGO,Juan Guevara. Владелец: M & G Jewelers Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and Apparatus for Observing and Inspecting Defects

Номер патента: US20090141264A1. Автор: Kazuo Yamaguchi,Minoru Yoshida,Kenji Watanabe,Shunji Maeda,Yukihiro Shibata,Atsushi Yoshida,Kenji Oka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-06-04.

Device for protecting and inspecting state of optical surfaces in focal plane of lens of optical device

Номер патента: RU2614335C1. Автор: Алексей Павлович Фадеев,Алексей Владимирович Левицкий,Илья Юрьевич Садовников. Владелец: Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" имени С.П. Королева". Дата публикации: 2017-03-24.

Control unit and control method for radiation source and radiation inspection system and method thereof

Номер патента: MY161628A. Автор: Peng Hua,Zhang Li,LIU Yinong,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Yang Guang,Zhang Qingjun,Liu Yaohong,LI Junli,Jia Wei,ZHANG Jinyu,Ruan Ming,LIANG Siyuan,DENG Yanli,Xie Yali,Shangmin. Владелец: Univ Tsinghua. Дата публикации: 2017-04-28.

Imaging and inspection of plugged honeycomb body

Номер патента: US11761908B2. Автор: Xiaotian Zou,Joshua Adam Jamison,Julie Marie Daugherty,Russel Wayne Madara,Duane Otis Sellers,Eric Daniel Treacy. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Inspection system and inspection method

Номер патента: EP4317404A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240169749A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Virtual testing and inspection of a virtual weldment

Номер патента: US09911359B2. Автор: Carl Peters,Matthew Wayne WALLACE. Владелец: Lincoln Global Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Inspection device and inspection program

Номер патента: EP3968249A1. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3690427A1. Автор: Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Infrastructure inspection apparatus, infrastructure inspection method, and infrastructure inspection system

Номер патента: US20170287333A1. Автор: Masahiko Saito,Kazuma Takeuchi,Naoyuki Harada,Yohei Nakata. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2017-10-05.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Virtual testing and inspection of a virtual weldment

Номер патента: US09911360B2. Автор: Carl Peters,Matthew Wayne WALLACE. Владелец: Lincoln Global Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Inspection apparatus for semiconductor packages

Номер патента: US6005965A. Автор: Takashi Kurihara,Yukihiro Tsuda,Takahiro Ueda,Yasuyoshi Suzuki,Tomikazu Tanuki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1999-12-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210164914A1. Автор: Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200250467A1. Автор: Eiji Matsumoto,Masaya Takeda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349879A1. Автор: Yuichi Masuda,Masahito Yahata,Akioki Nakamori,Kazuma Maeda,Tatsuya Kataoka,Nobuhiro NAMIKAWA,Tatsuya IWAMA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US12013349B2. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-18.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20080297779A1. Автор: Koichi Taniguchi,Shuichi Chikamatsu,Masayuki Ochi,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-04.

Food stuff maturity sensing and inspection apparatus

Номер патента: US4423327A. Автор: Richard Alexander. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-12-27.

Inspection method for crack in battery cell by using eddy current, and inspection device

Номер патента: US11761927B2. Автор: Seok jin Kim,Jung Hoon Lee,Sang Hyun KOO,Cha Hun Ku. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Winder registration and inspection system

Номер патента: US09540202B2. Автор: Matthew Robert Wilson,Brett Schoenberg,Mark Gary Dollevoet,Jeffrey George Skarda,Kevin B. Sartain,Gregory Michael Bixler,Daniel Mark Heinz,Vivek Moreshwar Karandikar. Владелец: Kimberly Clark Worldwide Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

X-ray inspection apparatus with sensitivity correction unit and corresponding sensitivity correction method

Номер патента: EP4435416A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4202435A1. Автор: Yuichi Masuda,Masahito Yahata,Akioki Nakamori,Kazuma Maeda,Tatsuya Kataoka,Nobuhiro NAMIKAWA,Tatsuya IWAMA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-06-28.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US11971367B2. Автор: Yasuyuki Nuriya. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

Substrate inspection apparatus, method of calibrating the substrate inspection apparatus, and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20200182777A1. Автор: YOON Sung Bae,Young Hoon Sohn,Yu Sin YANG,Jang Ik PARK,Kwang Rak KIM,Tae Yong Jo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Focus monitoring arrangement and inspection apparatus including such an arragnement

Номер патента: WO2016050453A1. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2016-04-07.

Lighting device and inspection apparatus having the same

Номер патента: US11314073B2. Автор: MASATO Kajinami,YASUHIRO Hidaka,Takayuki Sasaoka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-26.

Inspection device and inspection method for sheet layer

Номер патента: US20230035817A1. Автор: Masataka Koyama,Hiroharu Suzuki,Tomohiro Kinoshita,Shogo KOJIMA,Yuki Hanawa,Motohiro NAKAGAMI,Yusaku ISHIDA. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2023-02-02.

Image sensor, production method therefor, and inspection apparatus

Номер патента: US9324751B2. Автор: Ayumu Taguchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-04-26.

Heat dissipation structure and inspection apparatus

Номер патента: EP4206746A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Hongbin HOU,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Inspection tool and inspection method

Номер патента: US20230358690A1. Автор: Fan Fan,Liang Zhang,Jianyong Mo. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Inspection method and inspection device and computer-readable medium

Номер патента: EP3699579A1. Автор: Tao Liu,QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240073348A1. Автор: Tatsuya Shirasaka. Владелец: Toyo Seikan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Display device and inspection method of bonding resistance

Номер патента: US20190212850A1. Автор: Young Bin Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Portable inspection apparatus for X-ray tomography

Номер патента: US8031833B2. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-10-04.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310301A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Systems and methods for location aware augmented vision aircraft monitoring and inspection

Номер патента: US09842388B2. Автор: Duke Buster,Andrew Fannon Lamkin,Matthew Warpinski. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Device and method for unwinding and inspection of metallic strip coils

Номер патента: US20240299999A1. Автор: Dmytro Lapin,Illya Synelnykov. Владелец: Danieli and C Officine Meccaniche SpA. Дата публикации: 2024-09-12.

Medicine package inspection apparatus

Номер патента: US09731909B2. Автор: Jun Ho Kim. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Real-time digitally enhanced imaging for the prediction, application, and inspection of coatings

Номер патента: US09582899B2. Автор: Michael Paul Yajko. Владелец: Sherwin Williams Co. Дата публикации: 2017-02-28.

Terahertz endoscope suitable for intestinal tract lesion inspection and inspection method thereof

Номер патента: US20180325366A1. Автор: Chen Wang,Aichen Wang,Yibin Ying,Yuxin Huang,Lijuan Xie. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2018-11-15.

Endoscope cleaning and inspection system and method

Номер патента: EP3852603A1. Автор: Mark Jackson,Joshua J. Korth. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2021-07-28.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US11703479B2. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Endoscope cleaning and inspection system and method

Номер патента: US20210386508A1. Автор: Mark Jackson,Joshua J. Korth. Владелец: Mediators Inc. Дата публикации: 2021-12-16.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: US20180364180A1. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2018-12-20.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: MY184397A. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: ASMPT Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Endoscope cleaning and inspection system and method

Номер патента: US20240024068A1. Автор: Mark Jackson,Joshua J. Korth. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Endoscope cleaning and inspection system and method

Номер патента: US20230035411A1. Автор: Mark Jackson,Joshua J Korth. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2023-02-02.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Inspecting apparatus for inspecting a multilayer structure

Номер патента: US09488598B2. Автор: Wal Jun Kim,Seung Young BAECK. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Vessel coating and inspection

Номер патента: EP2674513A2. Автор: Robert S. Abrams,John T. Felts,Thomas E. Fisk. Владелец: SIO2 Medical Products Inc. Дата публикации: 2013-12-18.

Endoscope cleaning and inspection system and method

Номер патента: US11793601B2. Автор: Mark Jackson,Joshua J. Korth. Владелец: Medivators Inc. Дата публикации: 2023-10-24.

Inspection device, processing device and inspection method

Номер патента: US20230054123A1. Автор: Yutaka Nakai,Tomio Ono. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Inspection apparatus

Номер патента: US20170268925A1. Автор: Hiroyuki Hotta. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20210148837A1. Автор: Akihiro Takeda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319117A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4435417A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319118A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20200273158A1. Автор: Hiroshi Oota. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Allophone inspection device and inspection method thereof

Номер патента: US11636717B2. Автор: Seong-Cheol Kim,Joo Hyun Park,Sung Wook Lee,Byeong-Ho Lee,Wanjei Cho. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Virtual testing and inspection of a virtual weldment

Номер патента: US20180190150A1. Автор: Carl Peters,Matthew Wayne WALLACE. Владелец: Lincoln Global Inc. Дата публикации: 2018-07-05.

Substrate processing apparatus including coating film and inspection method of coating film for substrate processing

Номер патента: US20240162012A1. Автор: Sun Il Kim,Ki Ryong Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

Systems and methods for acquiring and inspecting lens images of ophthalmic lenses

Номер патента: US12051191B2. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: CooperVision International Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Acquiring and inspecting images of ophthalmic lenses

Номер патента: EP4352699A1. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: CooperVision International Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Acquiring and inspecting images of ophthalmic lenses

Номер патента: AU2022318275B2. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: CooperVision International Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Operating device preferably for machines for controlling and inspecting containers and/or their contents, and corresponding machine

Номер патента: EP2223413A1. Автор: Massimiliano Zanon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-01.

Operating device preferably for machines for controlling and inspecting containers and/or their contents, and corresponding machine

Номер патента: WO2009069159A9. Автор: Massimiliano Zanon. Владелец: Massimiliano Zanon. Дата публикации: 2010-06-24.

Method of autonomous power line detection, avoidance, navigation, and inspection using aerial crafts

Номер патента: US09964658B2. Автор: David M. Hull,Ross N. Adelman. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 2018-05-08.

Control and inspection complex for inspection of doppler velocity and speed meters

Номер патента: RU2676225C1. Автор: Юрий Александрович Борисов,Николай Сергеевич Наумчук,Виктор Николаевич Ваняев,Вера Леонидовна Гладышева,Юрий Сергеевич Мартенцев,Олег Анатольевич Субботин,Борислав Игоревич Маевский. Владелец: Юрий Александрович Борисов. Дата публикации: 2018-12-26.

Method and device for checking and inspecting thin material

Номер патента: RU2295722C2. Автор: Бернд ВУНДЕРЕР. Владелец: Гизеке Унд Девриент Гмбх. Дата публикации: 2007-03-20.

Method and apparatus for assembly and inspection of optical fiber connectors

Номер патента: CA2073720C. Автор: Kenji Suzuki,Nobuyuki Shibata,Isamu Kinoshita,Toshimitsu Nishiwaki. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 1997-06-24.

Panel inspection device and inspection method of panel

Номер патента: US8023721B2. Автор: Chih-Chiang Lee,Ching-Chun Chien,Hsien-Chang Kao,Kuo-Chang Teng. Владелец: Chunghwa Picture Tubes Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

A metrology and inspection system

Номер патента: GB2623752A. Автор: Nugent Michael,Milroy John,Hodson Andrew. Владелец: Verus Prec Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Remotely Operated Mobile Stand-Off Measurement and Inspection System

Номер патента: US20180067484A1. Автор: Gary E. Georgeson,James J. Troy,Scott W. Lea,William P. Motzer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-03-08.

Acquiring and inspecting images of ophthalmic lenses

Номер патента: AU2024202801A1. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: CooperVision International Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20080063258A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Operating device preferably for machines for controlling and inspecting containers and/or their contents, and corresponding machine

Номер патента: EP2223413B1. Автор: Massimiliano Zanon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-09-21.

Specimen preview and inspection system

Номер патента: US6148096A. Автор: Norman J. Pressman,Richard A. Domanik. Владелец: Accumed International Inc. Дата публикации: 2000-11-14.

Real-time digitally enhanced imaging for the prediction, application, and inspection of coatings

Номер патента: CA2942509C. Автор: Michael Paul Yajko. Владелец: Sherwin Williams Co. Дата публикации: 2018-09-11.

Context sensitive vehicle alignment and inspection system

Номер патента: US5774361A. Автор: Nicholas J. Colarelli, III,Timothy A. Strege,Daniel B. January,Timothy A. Larson. Владелец: Hunter Engineering Co. Дата публикации: 1998-06-30.

Systems and methods for location aware augmented vision aircraft monitoring and inspection

Номер патента: EP3112813A1. Автор: Duke Buster,Andrew Fannon Lamkin,Matthew Warpinski. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-01-04.

A station for the conveying and inspection of a semi-finished product of the tobacco industry

Номер патента: WO2019180540A1. Автор: Eros Stivani,Luca Federici,Massimo Sartoni,Ivan Eusepi,Fausto Mengoli,Eura Trivisonno. Владелец: G.D S.p.A.. Дата публикации: 2019-09-26.

Device for rotating and inspecting tires

Номер патента: US11761857B1. Автор: Mohieddine Rahmouni. Владелец: King Faisal University SA. Дата публикации: 2023-09-19.

Method and apparatus for dimension measurement and inspection of structures utilizing corpuscular beam

Номер патента: US6093512A. Автор: Jürgen Frosien,Akira Kintaka. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2000-07-25.

Method to fixture and inspection contoured aerodynamic surfaces

Номер патента: US20150020396A1. Автор: Daniel J. Kane. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2015-01-22.

A station for the conveying and inspection of a semi-finished product of the tobacco industry

Номер патента: EP3768099A1. Автор: Eros Stivani,Luca Federici,Massimo Sartoni,Ivan Eusepi,Fausto Mengoli,Eura Trivisonno. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-27.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3764088A3. Автор: Atsushi Iwai,Futoshi Yurugi,Hiroaki Maki,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

Radiation failure inspecting method and radiation failure inspecting apparatus

Номер патента: US20120211664A1. Автор: Mikito Nakajima. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Appearance inspection apparatus for terminal

Номер патента: US20200412924A1. Автор: Yuji Takahashi. Владелец: Japan Chain Terminal Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-31.

Inspection apparatus, sensing apparatus, sensitivity control apparatus, inspection method, and program with pixel sensitivity control

Номер патента: US11448586B2. Автор: Hiroshi Mori,Yoshihiro Murakami,Masatoshi Takashima. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-09-20.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Transfer/Inspection Apparatus and Transfer Apparatus

Номер патента: US20070273875A1. Автор: Fow-Lai Poh,Masahiro Yaguchi,Tamaya Ubukata. Владелец: Tsukuba Seiko Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Computer-based formation and inspection of training modes designed for multipoint geostatistical analysis

Номер патента: RU2391686C2. Автор: Петр МИРОВСКИ,Даниэль ТЕЦЛАФФ,Дэвид МАККОРМИК,Ннека УИЛЛЬЯМС,Клод СИНЬЕ. Владелец: Шлюмбергер Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2010-06-10.

Method for fabricating and inspecting coatings

Номер патента: US6165542A. Автор: Mark Jaworowski,Glenn T. Janowsky,Charles H. Weston. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2000-12-26.

Method and apparatus for manufacture and inspection of swatch bearing sheets using a vacuum conveyor

Номер патента: CA2558947C. Автор: Gregory O'brien,Steven B. Winter,Stanley I. Lerner. Владелец: Color Communications Inc. Дата публикации: 2014-09-02.

Optical system for automatic sorting and inspection equipment

Номер патента: US4509081A. Автор: John J. Peyton,Bryan K. Watt. Владелец: Industrial Automation Corp. Дата публикации: 1985-04-02.

Testing and inspecting lens by holographic means

Номер патента: US3953129A. Автор: Bernard P. Hildebrand. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1976-04-27.

Acquiring and inspecting images of ophthalmic lenses

Номер патента: AU2022318275A1. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: CooperVision International Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Method and installation for manufacturing and inspecting metal containers

Номер патента: US20230111242A1. Автор: Unai GOMEZ ZUBICARAY,Xabier UDAETA SAN MARTIN,Eusebio SOLORZANO QUIJANO. Владелец: Tech Pro Packag SL. Дата публикации: 2023-04-13.

Acquiring and inspecting images of ophthalmic lenses

Номер патента: CA3226780A1. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement and inspection device

Номер патента: US10692687B2. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Shinichi Murakami,Minoru Yamazaki,Hajime Kawano,Yuko Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-06-23.

Method and device for producing and inspecting a package

Номер патента: US11845580B2. Автор: Jens Maier,Juergen BITZER,Markus Eppler,Frank Helber. Владелец: Koch Pac Systeme GmbH. Дата публикации: 2023-12-19.

Method and device for producing and inspecting a package

Номер патента: CA3138771A1. Автор: Jens Maier,Juergen BITZER,Markus Eppler,Frank Helber. Владелец: Eppler Markus. Дата публикации: 2022-05-23.

Aerosol-generating article, preparation method, and inspection method

Номер патента: EP4226779A1. Автор: Cheng Liu,XU Wang,Lina GAO. Владелец: Shanghai New Tobacco Products Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection method, x-ray inspection program, and x-ray inspection system

Номер патента: EP2365320A3. Автор: Kiyoshi Murakami,Hironori Kasahara. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2014-03-05.

Methods and apparatus for monitoring a manufacturing process, inspection apparatus, lithographic system, device manufacturing method

Номер патента: US11698346B2. Автор: Maurits van der Schaar,Murat BOZKURT,Alberto DA COSTA ASSAFRAO,Ioana Sorina Barbu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-11.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20220005666A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-01-06.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20200075287A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-03-05.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3201565A1. Автор: Liam Hall. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-08-09.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: EP3274095A1. Автор: Jung-ki MIN,Young-Goun Lee,Jong-Gun Lee,Hyun-ju Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-31.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4434919A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Shape inspection apparatus for metallic body and shape inspection method for metallic body

Номер патента: US09903710B2. Автор: Hironao Yamaji,Yusuke Konno,Toshio Akagi,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a rotor disc cavity inspection apparatus

Номер патента: US09670795B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus

Номер патента: US09601302B2. Автор: Takeshi Murakami,Tsutomu Karimata,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A3. Автор: Yoram Koren,Stephen B Segall. Владелец: Stephen B Segall. Дата публикации: 2005-07-07.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A2. Автор: Yoram Koren,Stephen B. Segall. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF MICHIGAN. Дата публикации: 2005-01-20.

Inspection apparatus for a pressure vessel

Номер патента: US20230123853A1. Автор: Yong Joo Cho,Yong Ho Kim,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US12072181B2. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: US20230306586A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Optical article inspection apparatus and method

Номер патента: EP4423474A1. Автор: Willard BEAMER,Forrest Blackburn,Neil Murphy,Joshua Hazle,Adam CHOROS,Laura ASKEW-CRAWFORD. Владелец: Transitions Optical Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20090244530A1. Автор: Susumu Iida,Shunsaku Kubota. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180038808A1. Автор: DONG Lin,Hong Wang,Bin Hu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Jin Cui,Xianshun Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310302A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4431927A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection apparatus and adjusting method

Номер патента: US09885670B2. Автор: Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, coordinate detection apparatus, coordinate detection method, and wavefront aberration correction method

Номер патента: US09786057B2. Автор: Masafumi Shinoda,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Panel inspecting apparatus and method

Номер патента: US09759665B2. Автор: Jin-woo Ahn,Hyeong-min Ahn,Tae-Yong Jo,Myoung-Ki Ahn,Tae-hyoung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240369356A1. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-07.

Self-propelled, reduced-water, internal non-destructive inspection apparatus

Номер патента: US09423381B2. Автор: Allison Jean Wright,Todd Brian Jaramillo,Kendall Ford Koerner. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20130301041A1. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-14.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US20170112314A1. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-27.

High-resolution terahertz wave concentration module, scattered light detection module, and high-resolution inspection apparatus using terahertz bessel beam

Номер патента: US20210140823A1. Автор: Sung-Wook Choi,Gyeong-sik Ok,Hyun-Joo Chang. Владелец: Korea Food Research Institute KFRI. Дата публикации: 2021-05-13.

Odor sniffing device and vehicle-mounted security inspection apparatus for container

Номер патента: US20230236093A1. Автор: Ge Li,Wei Wang,ZHENG Liang,Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Biao CAO,Weiping Zhu,Shengxi LIU,Nei Yang,Xiulin NI. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US12007523B2. Автор: Jian Wu,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Visual inspection apparatus, visual inspection method, image generation apparatus, and image generation method

Номер патента: US20240153066A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hideaki Onozuka,Takateru Seki,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Inspection apparatus

Номер патента: US12036790B2. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Foreign matter inspection apparatus, foreign matter inspection method, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20220291144A1. Автор: Yuichi Fujita,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-09-15.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A3. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-07-17.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255445A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus, unit selection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium storing an inspection program

Номер патента: US20230222645A1. Автор: Yutaka Kato,Masashi Kurita,Yuki Hasegawa,Yuki HANZAWA,Sakon Yamamoto,Shigenori NAGAE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Masaki Tatsumi,Haruo Takahashi,Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8699017B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8462327B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8169606B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-01.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180180761A1. Автор: Hongqiu Wang,Guohua Wei,Yumin Yi,Hu Tang,Jianhong Zhang,Nei Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

A portable inspection apparatus

Номер патента: EP2802864A1. Автор: Ko Khee Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230260104A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Adjustment method of inspection apparatus focus position, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20240280500A1. Автор: Ryoichi Hirano,Yasuhiro Yamashita,Toshiaki OTAKI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus for thin film transistor substrate

Номер патента: US20060186335A1. Автор: Sergey Antonov,Hyeong-min Ahn,Ho-Seok Choi,Mi-Jeong Song,Jeong-su Ha,Lemiachine Vassili. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-24.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20120194808A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Visual inspection apparatus having light source bank

Номер патента: EP2215512A1. Автор: Thomas W. Karpen,James J. Delmonico,Joshua Lynn Scott,Dennis W. McEnery,Joseph V. Lopez,Marjorie L. Buerkle. Владелец: GE Inspection Technologies LP. Дата публикации: 2010-08-11.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US20040085531A1. Автор: CHENG Chen,Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Kohachi Kawamura,Hsin Chou. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US6977721B2. Автор: Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Cheng Yu Chen,Hsin Tan Chou,Kohachi Kawamura. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255444A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11175239B2. Автор: Akira Yabuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Non-destructive inspection apparatus for containers of liquid foodstuffs

Номер патента: WO2001096842A3. Автор: Marco Pipino. Владелец: Marco Pipino. Дата публикации: 2002-05-16.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Pipe inner surface inspection apparatus

Номер патента: US20110314918A1. Автор: Masayoshi Nakai,Seiichi Kawanami,Masaya Takatsugu,Masaharu Michihashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-29.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US12090754B2. Автор: Dae Sung Kim,Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Method of verifying the detection capability of an x-ray inspection apparatus

Номер патента: WO2024009278A1. Автор: Guido Mahnke,Benedikt HOFFMANN. Владелец: METTLER-TOLEDO, LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

AI-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US12087421B2. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Method for fabricating a semiconductor device using a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20240304501A1. Автор: Ki Hun Kim,Yong Ju Jeon,Jeong-su Ha,Jhong Kwon KIM,Da Young MYOUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Portable visual inspection apparatus and method for inspecting article

Номер патента: US12072296B2. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou,Sonny O Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method

Номер патента: US09904181B2. Автор: Richard Quintanilha. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-02-27.

Wafer image inspection apparatus

Номер патента: US09829441B2. Автор: SEGAL Ram,Tae Hoon Park. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Panel inspection apparatus and method

Номер патента: US09810640B2. Автор: Chao-Yi Yeh,Chih Yuan Liu,Pin-Chuan SU,Shang-Iun YANG. Владелец: Cheng Mei Instrument Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Tire appearance inspection apparatus

Номер патента: US09710904B2. Автор: Yoshitaka Fujisawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection apparatus, and abnormality detection method

Номер патента: US09702754B2. Автор: Satoshi Sone. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Tire appearance inspection apparatus and method

Номер патента: US09677879B2. Автор: Tomoyuki Kaneko,Akinobu Mizutani. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Inspection apparatus

Номер патента: US09599844B2. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection apparatus for article storage facility

Номер патента: US09541534B2. Автор: Hiroshi Otsuka,Shinsuke Kawamura,Tadahiro YOSHIMOTO. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection apparatus using polarized lights

Номер патента: US09541493B2. Автор: Takashi Tsubota,Yoshinori Matsumoto,Akishige Ito,Toyoaki Hamaguchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Sample inspection apparatus and control method thereof

Номер патента: US09476896B2. Автор: Jin Soo Park,Soo Hong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Internal pressure inspection apparatus and method for a sealed container

Номер патента: US09453776B2. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Mounted component inspection apparatus, component mounting machine comprising the mounted component inspection apparatus, and mounted component inspection method

Номер патента: US20100189340A1. Автор: Yoichiro Ueda. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-07-29.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection apparatus with integrated electronics

Номер патента: US20240159712A1. Автор: Tobias Bruch,Benjamin Hoemske,Johannes Buechler. Владелец: Baker Hughes Holdings LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Portable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography

Номер патента: US20110026670A1. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-02-03.

Inspection apparatus with integrated electronics

Номер патента: WO2024102617A1. Автор: Tobias Bruch,Benjamin Hoemske,Johannes Buechler. Владелец: Baker Hughes Holdings LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Multi-electron beam inspection apparatus and adjustment method for the same

Номер патента: US20230080062A1. Автор: Koichi Ishii,Kazuhiko Inoue,Toshikatsu Akiba,Shohei Mikami. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Article inspection apparatus

Номер патента: US20230035626A1. Автор: Takashi Suzuki,Eiji Taniguchi,Shigeo Arai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Image inspecting apparatus, image inspecting method and image inspecting program

Номер патента: US20190272630A1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

X-Ray Transmission Inspection Apparatus

Номер патента: US20150276626A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-01.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219315A1. Автор: LEI Tian,HAO WANG,Seungbeom Park,Hojun Lee,Myungjun Lee,Junho SHIN,Jiabei Zhu,Wookrae Kim,Jangwoon SUNG. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2024-07-04.

Surface inspection apparatus

Номер патента: US20220291137A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-09-15.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Hatching egg inspection apparatus

Номер патента: US20150138537A1. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Mitsuo Yamamoto,Shinichi Fujitani,Takatsugu Tahara,Toyoaki Ohashi. Владелец: YAMAMOTO CORP. Дата публикации: 2015-05-21.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Sensor chip breaking strength inspection apparatus and sensor chip breaking strength inspection method

Номер патента: US20070137310A1. Автор: Yuichi Sakai,Munehito Kumagai,Yoshitatsu Kawama,Yasuyuki Nakaoka,Hideki Yabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Euv photomask inspection apparatus

Номер патента: US20230194845A1. Автор: Changhoon Choi,Taejoong Kim,Jihoon Na,Garam CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20200184631A1. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-06-11.

Automated optical double-sided inspection apparatus

Номер патента: US20230213457A1. Автор: Yu-Hsien Lin,Shih-Kai FAN,Yee Siang GAN,Sze-Teng LIONG,Che-Ming LI. Владелец: FENG CHIA UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-06.

Inspection apparatus and reference image generation method

Номер патента: US20240257300A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus

Номер патента: US20140320860A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Makoto Taya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2014-10-30.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240230933A9. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Inner surface image inspection apparatus

Номер патента: US20210157121A1. Автор: Masatoshi Numatsu. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20140354799A1. Автор: Masafumi Asano,Tomoko Ojima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Inspection apparatus, linearly movable beam displacer, and method

Номер патента: WO2023165823A1. Автор: Ferry Zijp,Douglas C. CAPPELLI,Bram Antonius Gerardus LOMANS,Bastiaan Lambertus Wilhelmus Marinus VAN DE VEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-09-07.

Leak inspection method and leak inspection apparatus

Номер патента: US12046783B2. Автор: Satoshi Oyama,Yutaka Ebato,Takaaki Mitsuoka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20190212464A1. Автор: Noriaki Ikeda,Sachihiro NAKAGAWA. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US20090033925A1. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2009-02-05.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US7872744B2. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2011-01-18.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US20170315070A1. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-02.

Roll object inspection apparatus

Номер патента: US10775161B2. Автор: Akinori TADOKORO. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-09-15.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US20080162065A1. Автор: Hirokazu Ito,Masayoshi Takeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-07-03.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Solid Inspection Apparatus and Method of use

Номер патента: MY196658A. Автор: Dajun Yuan,M Shane Bowen,Joseph Francis PINTO,John Gerhardt Earney,Bala Murali K Venkatesan,Michael S Graige,Arthur Pitera. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Inspection apparatus

Номер патента: US20130271754A1. Автор: Kazuo Takahashi,Hisashi Hatano,Nobuaki Hirose,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-17.

Degree-of-dispersion inspecting apparatus for particles of electricity storage material in electricity storage device

Номер патента: US20150199808A1. Автор: Takashi Matsuura,Koji Nishi,Yukihiro Komatsubara. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2015-07-16.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US10712295B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Inspection apparatus

Номер патента: US20240255437A1. Автор: Akifumi Sangu,Jaemin SON,Se-Kwang Han,Hyeran Ko. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20140168410A1. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20120140211A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-07.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US20120165686A1. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp Japan. Дата публикации: 2012-06-28.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230273169A1. Автор: Akio Imai,Akioki Nakamori,Kiyuki NOTO,Koichi Shimotori. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Wafer visual inspection apparatus and wafer visual inspection method

Номер патента: US20240257336A1. Автор: Tatsuya Osada. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus of wafer

Номер патента: US20210366102A1. Автор: Namil Koo,Jimin CHOI,Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Taeheung AHN,Ikseon Jeon,Kwangjun Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Defect inspection apparatus, sensitivity calibration method for the same, substrate for defect detection sensitivity calibration, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070035725A1. Автор: Naohiro Takahashi,Tamihide Yasumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-02-15.

Method for preparing focus-adjustment data for focusing lens system of optical defect-inspection apparatus, and focus adjustment wafer used in such method

Номер патента: US20070229811A1. Автор: Kenichi Sanada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20180252656A1. Автор: Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US20170343783A1. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20200294223A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20190228521A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US11094051B2. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Secondary battery inspection apparatus and method

Номер патента: US20200350637A1. Автор: Kwangyong YOU,Sunggeun JI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-05.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US20200150050A1. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-05-14.

Roll object inspection apparatus

Номер патента: US20180347972A1. Автор: Akinori TADOKORO. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-12-06.

Belt inspecting apparatus

Номер патента: US20090147249A1. Автор: Ryo Obara,Hiroki Tahira. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: US20010035951A1. Автор: Hisashi Isozaki,Hiroshi Yoshikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Inspection apparatus and method based on coherent diffraction imaging (cdi)

Номер патента: US20210164919A1. Автор: Seungbeom Park,Myungjun Lee,Taewan Kim,Jaehwang Jung,Kyungwon Yun,Jaehyeon Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Baffle inspection apparatus

Номер патента: US20240192071A1. Автор: Kuntack Lee,Jihwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240183804A1. Автор: Osamu Kinoshita. Владелец: Jed Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240068961A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Takashi Kanai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection apparatus for sheet

Номер патента: US20140077101A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2014-03-20.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US20140364729A1. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Battery cell welded part inspection apparatus, and battery cell welded part inspection method using same

Номер патента: EP4414121A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Hyun Min Oh. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection apparatus, method for controlling same, and storage medium

Номер патента: US12107996B2. Автор: Masato Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Optical inspection apparatus, optical inspection method, and non-transitory storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US20240319104A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Weld inspection apparatus

Номер патента: US12053842B2. Автор: Yasushi Kitani,Asato HARA,Syoma MURAKAMI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US12105029B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Nano projection structure inspection apparatus and nano projection structure inspection method

Номер патента: US11815467B2. Автор: Tsuyoshi Asano,Yuki Sato,Syoichi TSUCHIYA,Masataka Asai,Masahiro UCHIMURA,Nozomi TATEYAMA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Extended reach inspection apparatus

Номер патента: US09939411B2. Автор: Gary E. Georgeson,Jeffrey R. Kollgaard,Nathan R. Smith,Paul S. Rutherford. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-04-10.

Can body inspection apparatus and method

Номер патента: US09885667B2. Автор: Masayuki Nakamura,Wataru Ookubo. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US09869650B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

X-ray transmission inspection apparatus

Номер патента: US09863896B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Mobile back scattering imaging security inspection apparatus and method

Номер патента: US09846257B2. Автор: Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Xiao Tang,Guangwei Ding. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices

Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.

Optical inspecting apparatus

Номер патента: US09746430B2. Автор: Chang-Hoon Choi,Byeong-Hwan Jeon,Tae-Joong Kim,Young-Kyu Park,Ki-Jung Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-29.

Inspection apparatus

Номер патента: US09728374B2. Автор: Shinji Yamaguchi,Takehide Hayashi,Masahiro Hatakeyama,Masato Naka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Pinhole inspection apparatus for can bodies

Номер патента: US09702828B2. Автор: Tomoki Seo,Yasuhiro KOUJI,Yuuma ISHII. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Radiation inspecting apparatus

Номер патента: US09606072B2. Автор: Yoshihiro Ueno,Yusuke TAGAWA,Hiroshi Oohara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Non-destructive inspection system for display panel and method, and non-destructive inspection apparatus thereof

Номер патента: US09588060B2. Автор: Jae Young Kim,Ki Wan Kim,Yeong Ri JUNG. Владелец: OZ-TEC Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Defect classifying method and optical inspection apparatus for silicon carbide substrate

Номер патента: US09551672B2. Автор: Yoshihiro Nakano,Hirokazu Seki,Masamichi Shinoda,Toshiyuki TODOROKI,Makoto TORIZAWA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US09551670B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US09545241B2. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp Japan. Дата публикации: 2017-01-17.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09534957B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US09519212B2. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US09518931B2. Автор: Manabu Kido. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Inspecting apparatus of lane departure warning system for vehicle

Номер патента: US09511712B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Hatching egg inspection apparatus with vibration isolation

Номер патента: US09494565B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Gear inspection apparatus

Номер патента: US09482527B2. Автор: Sota Murata. Владелец: Musashi Seimitsu Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: US09446434B2. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Hatching egg inspection apparatus and hatching egg inspecting method using a central and outer light emitter

Номер патента: US09435783B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Breast pump containing an expressing kit, a vacuum unit and a system for evaluating the milk expression

Номер патента: RU2758941C1. Автор: Сюсанна Майке ВАЛСТЕР,Киран Гамильтон Дж. ДЕЛЛИМОР,Анна САНТАГОСТИНО БАРБОНЕ,Дортье ВАН ДЕ ВАУ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2021-11-03.

Unit and methods for high-productive sperm sorting

Номер патента: RU2627379C2. Автор: Джонатан Чарльз ШАРП,Крис БУЧАНАН,Неманя СЕДОГЛАВИЧ,Блэр МОРАД,Дональд Фрэнсиз младший ПЕРРО,Эрин КОКСАЛ. Владелец: Ингуран, Ллк. Дата публикации: 2017-08-08.

Transducer cable unit and flowmeter using such transducer cable unit

Номер патента: RU2627064C1. Автор: Чарльз Роберт АЛЛЕН. Владелец: ДЭНИЕЛ МЕЖЕМЕНТ энд КОНТРОЛ, ИНК.. Дата публикации: 2017-08-03.

Inspection apparatus and method for calibrating inspection apparatus

Номер патента: US20240029236A1. Автор: Shingo Mori,Masakazu Umehara,Naoya Kishimoto. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Pin hole inspection apparatus and method

Номер патента: US11815429B2. Автор: Jin Ho Kang,Chang Rak KIM. Владелец: SK Siltron Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Pin hole inspection apparatus and method

Номер патента: US20230314270A1. Автор: Jin Ho Kang,Chang Rak KIM. Владелец: SK Siltron Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Conditioning unit of the indirect free cooling type, method of operation of such a conditioning unit, and apparatus for carrying out such method

Номер патента: US20160150682A1. Автор: Pierpaolo Barbato. Владелец: Emerson Network Power SRL. Дата публикации: 2016-05-26.

Lamp unit and lamp system

Номер патента: CA3212138A1. Автор: Jing Chen,Liang Shan,Aijun Wang,Zhiyong Wang,Fangru TANG. Владелец: Savant Technologies Inc. Дата публикации: 2024-04-14.

Glass substrate inversion unit and glass substrate inspection apparatus having same

Номер патента: KR20230038864A. Автор: 이동인. Владелец: (주)메가센. Дата публикации: 2023-03-21.

Sensor unit and print state inspection apparatus using the same

Номер патента: EP1582350A1. Автор: Mamoru Sawamura. Владелец: Aan Corp Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-05.

Magnetic characteristic inspecting apparatus and inspecting method using it

Номер патента: US20060132122A1. Автор: Ritsuro Orihashi,Masayoshi Takahashi,Masami Makuuchi,Shinji Homma. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-06-22.

Inspection system, design apparatus, and inspection method that generate correct answer data with design apparatus for production printing

Номер патента: US11470205B1. Автор: Taku Matsuo. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Information processing method, information processing apparatus, computer-readable medium, and inspection system

Номер патента: US20240273460A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240265523A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US12106532B2. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

System and method for producing and inspecting prints having static and variable contents

Номер патента: US20120147413A1. Автор: Berthold Giess. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2012-06-14.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection supporting apparatus and inspection supporting method

Номер патента: US20150261738A1. Автор: Hirofumi Izumi,Shinichi Kawahara,Yoji Morita,Hiroshi Nogawa,Shinichi Egashira,Motoki Dai,Syuichiro SUETSUGU. Владелец: Fujitsu FSAS Inc. Дата публикации: 2015-09-17.

Inspection work assistance apparatus and inspection work assistance method

Номер патента: US20240255955A1. Автор: Shuhei Fujita,Yosuke Nakayama,Hiroe TAKENAGA,Nobutoshi TODOROKI,Ai KOSHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Underwater robotic venting and inspection system

Номер патента: US20120318187A1. Автор: Jamie Hogan,Steve Everett,Nicholas HARTMAN,Cyril Poissonnet,Jeff Condit,Dylan Mora,Brad Lafferty,Kyle Knight. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-20.

Inspecting method and inspecting equipment

Номер патента: US20140011306A1. Автор: Wen-Sen Pan,Jen-Hung Wang,Kai-Wen Tu,Chung-Hsien Chou. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-09.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US8605378B2. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-12-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09530202B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Inspection apparatus, method of controlling the same, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20240029238A1. Автор: Masashi Oya,Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection system, inspection apparatus, and method for controlling the inspection apparatus

Номер патента: US20210397386A1. Автор: Kimio Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: EP4262182A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-18.

Image inspection apparatus and image forming apparatus using reading result of incident light reflected from target both via and not via light guide member

Номер патента: US10999450B2. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-05-04.

Image inspection apparatus and image forming apparatus

Номер патента: US20200389559A1. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-12-10.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: EP4095800A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-30.

Inspection apparatus for inspecting patterns of a substrate

Номер патента: US20100008564A1. Автор: Michio Nakano,Koichi Hayakawa,Hiroshi Miyai,Masaaki Nojiri,Takako Fujisawa,Dai Fujii. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-01-14.

Inspecting apparatus, robot apparatus, inspecting method, and inspecting program

Номер патента: US20130195345A1. Автор: Koichi Hashimoto,Tomohiro Inoue,Takashi NAMMOTO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-08-01.

Inspection apparatus, image forming system, inspection program, and inspection method

Номер патента: US11941305B2. Автор: Shoichi Ayukawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-26.

Inspection apparatus, control method for inspection apparatus, inspection system, control method for inspection system and computer program

Номер патента: EP4379473A1. Автор: Jun Miyajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US20230070196A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection apparatus, control method for inspection apparatus, inspection system, control method for inspection system and storage medium

Номер патента: US20240179247A1. Автор: Jun Miyajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240046450A1. Автор: Makoto Anno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Image forming apparatus, inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240004591A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Multi-level data channel and inspection architectures having data pipes in parallel connections

Номер патента: US20220014458A1. Автор: Manu Kurian,Rajesh Narayanan. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2022-01-13.

Multi-level data channel and inspection architectures having data pipes in parallel connections

Номер патента: US20210044506A1. Автор: Manu Kurian,Rajesh Narayanan. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Inspection apparatus and printing apparatus

Номер патента: US20230256760A1. Автор: Akidi Yoshida. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus and inspection method for magnetic head or magnetic disk and inspection method for magnetic head

Номер патента: US20120075738A1. Автор: Toshiaki Suzuki,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa,Kazuhiko KISHIE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US20180293732A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-10-11.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US10726556B2. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-07-28.

Vehicle information inspecting apparatus

Номер патента: US9424455B2. Автор: Jaehun Song,Jongho Maeng. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-08-23.

Device, method, and program for detecting signs of abnormality in production line, production device, and inspection device

Номер патента: EP4328691A1. Автор: Haruka IKEDA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Dimensional measurement and inspection system of candu fuel bundle in-bay of candu power plant

Номер патента: CA2488318C. Автор: Dae Seo Koo,Ho Chun Suk,Chang Keun Jo,Moon Sung Cho,Kwang June Park,Ji Su Jun,Jong Yeob Jung. Владелец: Korea Hydro and Nuclear Power Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-10.

Mask defect inspecting method, semiconductor device manufacturing method, mask defect inspecting apparatus, defect influence map generating method, and computer program product

Номер патента: US7295304B2. Автор: SATOSHI Tanaka,Shinji Yamaguchi,Soichi Inoue,Mari Inoue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-11-13.

Inspecting method for objective lens driving device and inspecting apparatus for the same

Номер патента: US20090206239A1. Автор: Hiroshi Yoshida,Yasuhiro Muraoka,Shinya Tsukada,Masaharu Sakazume,Yoshimaru Nakane. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-20.

Mounting and inspection data creation device and mounting and inspection data creation method

Номер патента: US09756230B2. Автор: Kenji Sugiyama,Mikio Nakajima,Masafumi Amano. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090207406A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-20.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20100273115A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Antenna inspection system, antenna inspection apparatus and antenna inspection method

Номер патента: US09720405B2. Автор: Hiroyuki Sato,Yoshihisa Kagawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Optical system and inspection apparatus

Номер патента: US20230388612A1. Автор: Hiroto Kano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Inspection device and inspection method for inspecting magnetic disk or magnetic head

Номер патента: US20120250175A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Automated supervision and inspection of assembly process

Номер патента: AU2019210612B2. Автор: Tyler Charles Staudinger,Huafeng Yu,Daniel S. Remine. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-05-16.

System and method for alignment and inspection of ball grid array devices

Номер патента: WO2011056219A1. Автор: Lei Wang,XIAOGUANG WANG. Владелец: Cognex Corporation. Дата публикации: 2011-05-12.

Method and apparatus for enhanced cleaning and inspection

Номер патента: US09889477B2. Автор: Sheng-Chi Chin,Chi-Lun Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Alignment and registration targets for multiple-column charged particle beam lithography and inspection

Номер патента: US09478395B1. Автор: Michael C. Smayling,Kevin M. Monahan,Theodore A. Prescop,David K. Lam. Владелец: Multibeam Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Document identification and inspection system, document identification and inspection method, and document identification and inspection program

Номер патента: US9595071B2. Автор: Hideki Takeda,Masahiro Morimoto,Kazumi Hasuko. Владелец: Ubic Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Personal digital assistant and inspection support system

Номер патента: US11886897B2. Автор: Masaki Honda,Tomohiro Higuchi,Gen Sakashita. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Mask inspection apparatus and image creation method

Номер патента: WO2010089954A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura,Toshimichi Iwai,Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

System for Performance and Inspection of Facility Maintenance and Custodial Processes

Номер патента: US20240236631A9. Автор: Tracy Davis,Manik Arora. Владелец: Trax Analytics LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

System for Performance and Inspection of Facility Maintenance and Custodial Processes

Номер патента: US20240251227A1. Автор: Tracy Davis,Manik Arora. Владелец: Trax Analytics LLC. Дата публикации: 2024-07-25.

Maintaining and inspecting a wellbore

Номер патента: US12054999B2. Автор: Ahmed Al-Mousa. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-08-06.

Automated supervision and inspection of assembly process

Номер патента: EP4439456A2. Автор: Tyler Charles Staudinger,Huafeng Yu,Daniel S. Remine. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-10-02.

Production of an image model and inspection of pixel representation of an image

Номер патента: CA1281125C. Автор: Bruce Kelly. Владелец: Governor and Co of Bank of England. Дата публикации: 1991-03-05.

Integrated system for automatic forming, picking, and inspection of grinding wheel mesh piece and method therefor

Номер патента: US11707817B2. Автор: Ming Gu,Junjie Zhao,Wanyu Pan. Владелец: Jiangsu Amer New Material Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Integrated system for automatic forming, picking, and inspection of grinding wheel mesh piece and method therefor

Номер патента: US20220266423A1. Автор: Ming Gu,Junjie Zhao,Wanyu Pan. Владелец: Jiangsu Zhengwei New Material Co ltd. Дата публикации: 2022-08-25.

Surface preparation end effector for industrial robot system and inspection and repair processes

Номер патента: US20230146701A1. Автор: John Tomblin,Caleb Saathoff,Upul Palliyaguru. Владелец: Wichita State University. Дата публикации: 2023-05-11.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20210256677A1. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

Controlling apparatus and inspection method

Номер патента: US20170344818A1. Автор: Hideki Yoshizumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-11-30.

Maintenance and inspection system and method

Номер патента: US20040260594A1. Автор: Edward Maddox. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2004-12-23.

Method and Apparatus for Enhanced Cleaning and Inspection

Номер патента: US20140007371A1. Автор: Sheng-Chi Chin,Chi-Lun Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-01-09.

DANet-based drone patrol and inspection system for coastline floating garbage

Номер патента: US11195013B2. Автор: Ying Xu,Yikui ZHAI,Cuilin Yu,Yanyang Liang,Junying GAN,Zilu Ying,Junying ZENG,Qirui KE,Yihang ZHI,Wenlve ZHOU,Chaoyun MAI,Chuanbo QIN. Владелец: WUYI UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-12-07.

Automated supervision and inspection of assembly process

Номер патента: AU2019210607B2. Автор: Huafeng Yu,Daniel S. Remine. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-05-23.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: US20240231713A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: EP4400961A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Print system, inspection apparatus, method of controlling inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240311998A1. Автор: Shinya Suzuki,Yuki Nakatani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Lighting apparatus, and optical inspection apparatus and optical microscope using the lighting apparatus

Номер патента: US09594240B2. Автор: MITSUHIRO Togashi,MITSUNORI Numata,Nobuyuki Kimura,Masaki Takada. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-14.

Method and apparatus for monitoring and inspecting strip edge

Номер патента: US5857031A. Автор: Albert R. Zelt, III,Robert M. Klawonn,Paul S. Laskey. Владелец: Asko Inc. Дата публикации: 1999-01-05.

Apparatus for viewing and inspecting a surface area of an object

Номер патента: US6233350B1. Автор: Yogesh Mehrotra,John Nazarian Pike. Владелец: Materials Technologies Corp. Дата публикации: 2001-05-15.

Automated supervision and inspection of assembly process

Номер патента: CA3050966C. Автор: Huafeng Yu,Daniel S. Remine. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-11-07.

System for performance and inspection of facility maintenance and custodial processes

Номер патента: US11696105B2. Автор: Tracy Davis,Manik Arora. Владелец: Trax Analytics LLC. Дата публикации: 2023-07-04.

Agentless system and method for discovering and inspecting applications and services in compute environments

Номер патента: US11860752B2. Автор: Eyal MAMO,Amir SIDIS,Omri IVANIR. Владелец: Bionic Stork Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Spirometer, mouthpiece tube and inspection method thereof

Номер патента: US20180055413A1. Автор: Chia-Hung Chen,Chia-Chi Su,Hsiao-Pao Yen,Liang-Lin Yen. Владелец: Chia-Hung Chen. Дата публикации: 2018-03-01.

Spirometer, mouthpiece tube and inspection method thereof

Номер патента: US10863923B2. Автор: Chia-Hung Chen,Chia-Chi Su,Hsiao-Pao Yen,Liang-Lin Yen. Владелец: Chia-Hung Chen. Дата публикации: 2020-12-15.

Game token money, method of manufacturing game token money, and inspection system

Номер патента: SG10201806369SA. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-27.

System for performance and inspection of facility maintenance and custodial processes

Номер патента: US20220329999A1. Автор: Tracy Davis,Manik Arora. Владелец: Ltech Ventures LLC. Дата публикации: 2022-10-13.

System for Performance and Inspection of Facility Maintenance and Custodial Processes

Номер патента: US20240137742A1. Автор: Tracy Davis,Manik Arora. Владелец: Trax Analytics LLC. Дата публикации: 2024-04-25.

System for performance and inspection of facility maintenance and custodial processes

Номер патента: US11979810B1. Автор: Tracy Davis,Manik Arora. Владелец: Trax Analytics LLC. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20240289944A1. Автор: Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection apparatus that notifies an inspection result of a book in accordance with a sheet inspection result, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US12137195B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-05.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20110129239A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US8448932B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Inspection apparatus

Номер патента: US20210382396A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230004093A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Management and control system for an inspection apparatus

Номер патента: US12067701B2. Автор: Nadav Leshem,Edo Reshef. Владелец: Inspect Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: WO2023278715A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc.. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: CA3223326A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: EP4364034A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Inspection apparatus that inspects image formed by image forming apparatus, and method for controlling image forming system

Номер патента: US20240354034A1. Автор: Ryosuke Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus

Номер патента: US12124176B2. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Manipulating device for photomasks that provides possibilities for cleaning and inspection of photomasks

Номер патента: EP1539386A4. Автор: Jakob Blattner,Rudy Federici. Владелец: Brooks Automation Inc. Дата публикации: 2006-02-22.

Device for cleaning and inspecting reticles

Номер патента: EP1539386B1. Автор: Jakob Blattner,Rudy Federici. Владелец: Brooks Automation Inc. Дата публикации: 2007-01-24.

Manipulating device for photomasks that provides possibilities for cleaning and inspection of photomasks

Номер патента: EP1539386A2. Автор: Jakob Blattner,Rudy Federici. Владелец: Brooks Automation Inc. Дата публикации: 2005-06-15.

Manipulating device for photomasks that provides possibilities for cleaning and inspection of photomasks

Номер патента: AU2003259273A1. Автор: Jakob Blattner,Rudy Federici. Владелец: Brooks Automation Inc. Дата публикации: 2004-02-16.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Stereo x-ray inspection apparatus and method for forming three-dimensional image through volume reconstruction of image acquired from the same

Номер патента: US20120014506A1. Автор: Soon Yong Park,Seung Chan Oh,Nam Ho Lee,Seung Wook Lee,Young Gwan Hwang,Myung Kook Moon,Yong Chil Sec. Владелец: Korea Atomic Energy Research Institute KAERI. Дата публикации: 2012-01-19.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Endoscope Device, Endoscope System and Inspection Method

Номер патента: US20190082943A1. Автор: Osamu Mitsunaga. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Inspecting apparatus, peeling apparatus, and learned model generating method

Номер патента: US20230075359A1. Автор: Yuta Mizumoto. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection system, image inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240165945A1. Автор: Kohta AOYAGI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20220414833A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Aligning method for use in semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20190171328A1. Автор: Chien-Hung Chen,Yung-Chin LIU,Guan-Jhih Liou,Lin-Lin Chih. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230239412A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Optical disk inspecting apparatus and method

Номер патента: US20100091626A1. Автор: Mitsumasa Kubo. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-15.

Particle beam inspection apparatus

Номер патента: US20240258138A1. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Edwin Cornelis KADIJK,Te-Yu Chen,Erheng WANG,Christianus VAN HEUMEN Martijn Petrus,Caspar VAN BANNING Dennis Herman,Henricus Maria JACOBS Johannes Andreas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-01.

Welded portion inspection apparatus of reactor pressure vessel

Номер патента: US20120051483A1. Автор: Satoshi Okada,Kenichi Otani,Ryosuke Kobayashi,Hidetaka Komuro,Yosuke Takatori. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP2093611A3. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-27.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US12125176B2. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09898814B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Imaging inspection apparatus for setting one or more image-capturing positions on a line that connects two taught positions, control device thereof, and method of controlling imaging inspection apparatus

Номер патента: US09774827B2. Автор: Hideki Tanaka,Kazuhiko Kojima,Hiroaki Kitatsuji. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Pellicle inspection apparatus

Номер патента: US09588421B2. Автор: Atsushi Tajima,Kiwamu Takehisa,Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09511831B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-12-06.

Vehicle safety-inspection apparatus

Номер патента: US09478075B1. Автор: Duncan Smith,Grant Toutant,Tristan Money. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-25.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09390493B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-12.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection apparatus for display substrate

Номер патента: US20140168577A1. Автор: Sujin Kim,Suk Choi,Heungshik Park,Hyeokjin Lee,Jihong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240015251A1. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US10578847B2. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-03.

Foreign matter or abnormal unsmoothness inspection apparatus and foreign matter or abnormal unsmoothness inspection method

Номер патента: US7629577B2. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230281796A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12058290B2. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Overprinting inspection apparatus and non-transitory computer readable medium storing overprinting inspection program

Номер патента: US12086482B2. Автор: Kodai Suzuki. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-09-10.

Automatic inspecting apparatus for precharge of data line in memory device

Номер патента: US5291451A. Автор: Young W. Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1994-03-01.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Wafer position status inspection apparatus

Номер патента: US12101559B2. Автор: Daisuke Sasaki,Yu-Hsin Liu,Cheng-Hsiang Lu. Владелец: Jun Fu Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Image inspection apparatus, printing system, and image inspection method

Номер патента: US20240340380A1. Автор: Kazuhiro Ijichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-10.

Inspection apparatus and methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09958791B2. Автор: Markus Gerardus Martinus Maria Van Kraaij,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Stefan Hunsche. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-01.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09776695B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-10-03.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection apparatus

Номер патента: US09607305B2. Автор: Takahisa Nakano,Tsutomu Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09495740B2. Автор: Toshiyuki Watanabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Defect inspection apparatus using images obtained by optical path adjusted

Номер патента: US09460502B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Hiromu Inoue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Developer container, developing device, process unit and image forming apparatus

Номер патента: RU2655618C1. Автор: Манабу ХАМАДА,Йосиюки СИМИДЗУ,Томохиро КУБОТА,Наоки НАКАТАКЕ,Сох ЦУРИТАНИ,Масато ЦУДЗИ,Масанари ФУДЗИТА. Владелец: РИКОХ КОМПАНИ, ЛТД.. Дата публикации: 2018-05-29.

Method and apparatus for encoding intraframe prediction mode for image prediction unit and method and device for decoding intraframe prediction mode for image prediction unit

Номер патента: RU2676234C1. Автор: Сун-Ил ЛИ,Тамми ЛИ,Вадим СЕРЕГИН,Цзяньлэ ЧЕН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-12-26.

Heat-shrinkable tubular unit and adhesive composition for heat-shrinkable tubular unit

Номер патента: RU2666960C2. Автор: Дэнни Уилли Август ВЕРХЕЙДЕН,Лестер Тунгнан ТОЙ,Виджай ДАГА. Владелец: Тайко Электроникс Бельджем Ес Бвба. Дата публикации: 2018-09-13.

Video encoding method using offset adjustment according to classification of pixels by maximum encoding units and apparatus thereof, and video decoding method and apparatus thereof

Номер патента: RU2678480C1. Автор: Елена АЛШИНА,Александр АЛШИН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2019-01-29.

Reference installation of laser radiation power unit and optical fiber guide therefor

Номер патента: RU2658512C1. Автор: Михаил Леонидович Козаченко,Николай Петрович Хатырев,Константин Борисович Савкин,Александр Иванович Глазов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ"). Дата публикации: 2018-06-21.

Method and device for interrelation between piloting bodies, piloting unit and aircraft

Номер патента: RU2693516C2. Автор: Седрик АНТРЕЖЮ. Владелец: Ратье Фижак. Дата публикации: 2019-07-03.

Method for emergency cooling and shutdown of a high-temperature gas-cooled nuclear reactor of a space unit and apparatus for implementation thereof (variants)

Номер патента: RU2771224C1. Автор: Владимир Владимирович Кудинов,Михаил Александрович Петрушин. Владелец: Акционерное Общество "Ордена Ленина Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Энерготехники Имени Н.А. Доллежаля". Дата публикации: 2022-04-28.

Apparatus for image formation which generates a conversion condition of a measuring unit and control method of image forming apparatus

Номер патента: RU2654002C2. Автор: Такахиро НАКАСЕ,Хаято НЕГИСИ,Ацуси ХОРИ,Кейдзо ТАКУРА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-05-15.

Electrophotographic light-sensitive drum unit and method of removing connecting element

Номер патента: RU2510068C2. Автор: Йосиюки БАТОРИ,Нобуйоси ХАРА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2014-03-20.

Method for data transmission in communication system link messages as well as communication module, communication system subscriber unit and communication system for this method implementation

Номер патента: RU2401452C2. Автор: Кристиан ХОРСТ,Франц БАЙЛЕР. Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2010-10-10.

Power supply unit and power supply method for electrically operated device

Номер патента: RU2540803C2. Автор: Маркус ВОЛЬШЛАГЕР. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2015-02-10.

Heat dissipation module, video card unit and electronic device

Номер патента: RU2659089C2. Автор: Шунь-Чи ХУАН,Тай-Чуань МАО,Гуан Бо НИН. Владелец: Гига-Байт Текнолоджи Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-06-28.

Photosensitive body unit and image formation device having said unit

Номер патента: RU2388035C1. Автор: Ин Чеол ДЗЕОН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2010-04-27.

Method, unit and device for processing encryption and decryption

Номер патента: RU2601862C2. Автор: Чжуо СУН. Владелец: Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2016-11-10.

Developing unit and device for formation of image containing such unit

Номер патента: RU2460109C2. Автор: Дзонг-ин КИМ,Миоунг-су БАЕК,Соон-сеок КВОН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2012-08-27.

Support structure of substrate, pressing preparatory unit and unit for lithography

Номер патента: RU2552595C2. Автор: ЙОНГ Хендрик Ян ДЕ. Владелец: МЭППЕР ЛИТОГРАФИ АйПи Б.В.. Дата публикации: 2015-06-10.

Chip and a method of recording its installation, a replaceable unit and an image forming device

Номер патента: RU2736558C1. Автор: Хао Чжан,Айго ИНЬ,Хайсюн ЛИ. Владелец: Чжухай Пантум Электроникс Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-11-18.

Unit and the images forming device

Номер патента: RU2667331C1. Автор: Кохта САКАЯ,Синити АРАСАВА. Владелец: РИКОХ КОМПАНИ, ЛТД.. Дата публикации: 2018-09-18.

Storage and computation unit and chip

Номер патента: EP4044186A1. Автор: Wei Wu,Rui Zhang,Kanwen WANG,Leibin NI,Jianxing Liao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Charging unit and charging method operated by mobile notification

Номер патента: WO2017014701A1. Автор: Ali Ömer İPEKLİOĞLU. Владелец: İpekli̇oğlu Ali Ömer. Дата публикации: 2017-01-26.

Tensor calculation unit and use method, and data processing apparatus and operation method

Номер патента: EP4446870A1. Автор: Hang ZUO. Владелец: Hygon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Decorative panel unit and mounting wall structures using decorative panel units

Номер патента: RU2347045C2. Автор: Такаши ХОНДА. Владелец: НИТИХА КО., ЛТД.. Дата публикации: 2009-02-20.

Connection structure for assembling members of scaffolding and coupling unit and frame thereof

Номер патента: RU2256044C2. Автор: Хельмут КРЕЛЛЕР. Владелец: Вильхельм Лайер Фермегенсфервальтунгс-Гмбх. Дата публикации: 2005-07-10.

Locking element for sealing of steam turbine rotor, corresponding unit and steam turbine

Номер патента: RU2735395C2. Автор: Стивен Себастьян БЕРДЖИК,Шон Кристофер МОРРИССИ,Николас Дэниел ВИСЦИО,Дэвид Брюс КНОРР. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2020-10-30.

Electrical installation parts connection unit and fastening kit for the electrical installation parts connection

Номер патента: RU2660168C2. Автор: Андрей Валентинович Пакулин. Владелец: Андрей Валентинович Пакулин. Дата публикации: 2018-07-05.

Drain and inspection manhole for liquid conduits and manhole section therefor

Номер патента: CA2251529C. Автор: Ralph Peter Hegler. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-09-13.

Autonomous robot for power line vibration control and inspection

Номер патента: US20230332660A1. Автор: Jiamin Wang,Oumar Barry,Paul-Camille KAKOU. Владелец: Virginia Tech Intellectual Properties Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Car declutching bearing fitted by sealing unit and system to influence car clutch

Номер патента: RU2559673C2. Автор: Жюльен БЕРТЬЕ. Владелец: Нтн-Снр Рульман. Дата публикации: 2015-08-10.

Piston compressor unit and method of operation thereof

Номер патента: RU2740389C1. Автор: Сергей Васильевич Федосеев,Олег Витальевич Бычков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Искра-Нефтегаз". Дата публикации: 2021-01-13.

Piston compressor unit and method of operation thereof

Номер патента: RU2740389C9. Автор: Сергей Васильевич Федосеев,Олег Витальевич Бычков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Искра-Нефтегаз Компрессор". Дата публикации: 2021-03-11.

Inspection apparatus

Номер патента: US09982833B2. Автор: Jung Whan Yeum. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Active thrust hydro/air-dynamic bearing unit and method of its characteristics control

Номер патента: RU2714278C1. Автор: Леонид Алексеевич Савин,Николай Васильевич Комаров,Алексей Юрьевич Родичев,Алексей Валерьевич Корнаев,Александр Юрьевич Бабин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "ОРЛОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ имени И.С. ТУРГЕНЕВА" (ОГУ им. И.С. Тургенева). Дата публикации: 2020-02-13.

Electronically controlled knee joint prosthesis, prosthesis unit and method for controlling electronic joint prosthesis rotation

Номер патента: RU2266722C2. Автор: Хью М. ХЕРР,Брюс Даблю ДЕФФЕНБАУХ,Гилл А. ПРАТТ,Майкл Б. УИТТИГ. Владелец: Массачуссеттс Инститьют Оф Текнолоджи. Дата публикации: 2005-12-27.

Filtering unit and vacuum cleaner equipped with such a unit

Номер патента: RU2275838C1. Автор: Дзоо-сеок ДЗЕОНГ. Владелец: Самсунг Гвангджу Электроникс Ко., Лтд.. Дата публикации: 2006-05-10.

Unit and device for control of fluid medium flow

Номер патента: RU2403485C2. Автор: Брэдфорд ХЕЙНЗ. Владелец: Флоусерв Мениджмент Компани. Дата публикации: 2010-11-10.

Method, system and computer program to control motion of self-propelled drilling unit, and self-propelled drilling unit

Номер патента: RU2681177C1. Автор: Эрик АЛДЕН,Фредрик ЭХМАН,Эрик АЛЬСТРЕМ. Владелец: Эпирок Рокк Дриллс Актиеболаг. Дата публикации: 2019-03-04.

Method of performance improvement of new and worn units and machines and equipment units

Номер патента: RU2679331C1. Автор: Яков Петрович Лобачевский,Алексей Семёнович Дорохов,Анатолий Васильевич Дунаев,Дмитрий Николаевич ЛЮБИМОВ,Николай Константинович Вершинин,Александр Сергеевич Саяпин,Игорь Филиппович Пустовой. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение Федеральный научный агроинженерный центр ВИМ (ФГБНУ ФНАЦ ВИМ). Дата публикации: 2019-02-07.

Oil-water separation unit and discharge monitoring system for small ship

Номер патента: US20240059389A1. Автор: Tae Gon YEO. Владелец: Taejin Engineering Co ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Taping unit and electronic component inspection apparatus

Номер патента: MY154043A. Автор: Masato Miyata. Владелец: Ueno Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-27.

Device and method for separating, at least partially drying and inspecting electronic components

Номер патента: SG11201407822VA. Автор: Jurgen Hendrikus Gerhardus Huisstede. Владелец: Besi Netherlands Bv. Дата публикации: 2014-12-30.

Device and method for separating, at least partially drying and inspecting electronic components

Номер патента: WO2014007619A1. Автор: Jurgen Hendrikus Gerhardus Huisstede. Владелец: BESI NETHERLANDS B.V.. Дата публикации: 2014-01-09.

Device and method for separating, at least partially drying and inspecting electronic components

Номер патента: US09435584B2. Автор: Jurgen Hendrikus Gerhardus Huisstede. Владелец: Besi Netherlands Bv. Дата публикации: 2016-09-06.

Manufacturable and inspectable microcircuit cooling for blades

Номер патента: SG130131A1. Автор: Frank Cunha,Edward F Pietraszkiewicz,Om Parkash Sharma. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP4339527A1. Автор: Yasutaka Ochiai,Takahiro HASHIKAWA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20240183564A1. Автор: Yasutaka Ochiai,Takahiro HASHIKAWA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Visual workpiece inspection apparatus and visual workpiece inspection method

Номер патента: MY167683A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,MOCHIZUKI Hiroyuki,Goto Tasuku. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-21.

Operating method of hydropneumatic unit and device for its implementation

Номер патента: RU2736555C1. Автор: Александр Павлович Болштянский,Виктор Евгеньевич Щерба,Евгений Юрьевич Носов,Андрей Владимирович Занин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет" (ОмГТУ). Дата публикации: 2020-11-18.

Segment of casing of steam turbine, steam-turbine unit and steam-turbine plant

Номер патента: RU2601779C2. Автор: Стивен Себастьян БЕРДЖИК,Дэниел Р. ПРЕДМОР. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2016-11-10.

Filter assembly unit and water heater containing such unit

Номер патента: RU2750064C1. Автор: Джун Кю ПАРК,Чхоон Гон ЛИ. Владелец: Кюндон Навьен Ко., Лтд.. Дата публикации: 2021-06-21.

Unit of turbine blade, gas turbine with such unit and assembly procedure for turbine blades

Номер патента: RU2415272C2. Автор: Скотт ЧАРЛЬТОН. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2011-03-27.

Geothermal heat exchange apparatus, geothermal heat unit and method for supplying heat energy to soil

Номер патента: RU2756624C1. Автор: Рами НИЕМИ. Владелец: Квантитатив Хит Ой. Дата публикации: 2021-10-04.

Lifting-rotating device for furnace lid, furnace unit and methods of such furnace unit loading and maintenance

Номер патента: RU2579720C2. Автор: Михаэль ШМИД,Карло ХАЙНЕМАНН,Уве ВИЛЬХЕЛЬМ. Владелец: Прайметалз Текнолоджиз Джермани Гмбх. Дата публикации: 2016-04-10.

Air conditioning unit and method of controlling air conditioner

Номер патента: RU2598867C2. Автор: Сатору ИЧИКИ. Владелец: Мицубиси Электрик Корпорейшн. Дата публикации: 2016-09-27.

Bearing unit and unit of drilling tool transmission

Номер патента: RU2674349C1. Автор: Джон Кейт СЭВИДЖ,Стивен Грэхэм БЕЛЛ. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2018-12-07.

Pump unit and pump incorporating such unit

Номер патента: RU2397365C1. Автор: Хайнц КЮК,Даниель БЕНЦ,Франк ВОЛЬТЕР. Владелец: Хан-Шикард-Гезелльшафт Фюр Ангевандте Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2010-08-20.

Pump unit and control method

Номер патента: RU2696723C1. Автор: Ян ПЛОУГМАНН,Ян Карёе ОРЕСТРУП,КРАГЕЛУНН Клаус ВЕСТЕРГОР. Владелец: Грундфос Холдинг А/С. Дата публикации: 2019-08-05.

Steering unit and steering method

Номер патента: RU2632543C2. Автор: Масаки СИБУЯ,Сого МИЯСАКА. Владелец: Ниссан Мотор Ко., Лтд.. Дата публикации: 2017-10-05.

Filtering elements, air cleaning units and methods of application and assembly

Номер патента: RU2741961C2. Автор: Дэниэл АДАМЕК,Бенни НЕЛЬСОН,Дэвид НЕЛЬСОН,Дейв МАТАЛАМАКИ. Владелец: Дональдсон Компани, Инк.. Дата публикации: 2021-02-01.

Support unit and system for semi-insulated reservoirs

Номер патента: RU2357148C2. Автор: Роберт Д. ГОЛДБАХ,Джозеф Дж. КУНЕО,Роберт Д. ГОЛДБАХ (US),Джозеф Дж. КУНЕО (US). Владелец: Нью Йорк Балк Кэрриерз Инк.. Дата публикации: 2009-05-27.

Cabinet unit for an indoor air conditioner unit and an indoor air conditioner unit

Номер патента: RU2745764C1. Автор: Куньяо ВАН,Тянь ХЕ,Цзелинь ПЭН,Цянь ЮНЬ. Владелец: ДжейДи МИДЕА ЭЙР-КОНДИШЕНИНГ ЭКВИПМЕНТ КО., ЛТД.. Дата публикации: 2021-03-31.

Unit and method for preheating and continuously horizontally supplying raw materials into arc furnace

Номер патента: RU2754561C1. Автор: Вэй ЛИНЬ,Чао ЛЮ,Цимин ХУАН,Цуньчжэнь ТАНЬ,Вэйчжи ШИ,Юйчуань ЧЖАН,Чжань ГАО,Лэй АЙ,Чуньтин ЛЮ. Владелец: СиАйЭсДиАй РИСЕРЧ ЭНД ДИВЕЛОПМЕНТ КО., ЛТД. Дата публикации: 2021-09-03.

Power unit and method of its operation

Номер патента: RU2733120C2. Автор: Владимир Иванович Исаев. Владелец: Владимир Иванович Исаев. Дата публикации: 2020-09-29.

Pistol, pistol locking unit and method for repair

Номер патента: RU2763762C1. Автор: Александр Сергеевич ЛИТОВКИН. Владелец: Александр Сергеевич ЛИТОВКИН. Дата публикации: 2022-01-10.

Blade equipped with cooling system, corresponding guiding nozzle unit and gas turbine engine

Номер патента: RU2715464C2. Автор: Батист АЛЛУЭН,Жан-Люк БРЕЙНИНГ,Дамьен ЛАБЕРНИ. Владелец: Сафран Хеликоптер Энджинз. Дата публикации: 2020-02-28.

Unit and method of producing liquid helium

Номер патента: RU2578508C2. Автор: Жан-Марк БЕРНАР,Давид ГРИЙО,Эрик ФОВ,Вероник ГРАБИ,Мишель БОННЕТОН. Владелец: Л'Эр Ликид, Сосьете Аноним Пур Л'Этюд Э Л'Эксплуатасьон Де Проседе Жорж Клод. Дата публикации: 2016-03-27.

Method and device for connection of fan unit and radiator for vehicle engine and obtained fan unit assembly and radiator

Номер патента: RU2589229C2. Автор: Патрик ДАВИД,Доминик ЛЕКРО. Владелец: Рено С.А.С.. Дата публикации: 2016-07-10.

Systems, tool storage units, and methods for providing electrical power

Номер патента: AU2023203093A1. Автор: Ottoleo Kuter-Arnebeck,Nicholas A. Gabbey. Владелец: Snap On Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Burner comprising a control unit and an ignition and ionization electrode and method of monitoring and igniting the flame of a burner

Номер патента: US20240280263A1. Автор: Sebastian Uchman. Владелец: Truma Geraetetechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-22.

Feeding and exhaust system for internal combustion engine, or thermal unit, and respective method of operation

Номер патента: WO2024161339A1. Автор: Giulio Rossi. Владелец: Rhapis s.r.l.. Дата публикации: 2024-08-08.

Safe streetlights capable of separating lamp unit and rotating arm

Номер патента: US20110051438A1. Автор: Myo In Lee. Владелец: Daseung I&S Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-03.

Air volume correction control method and device for air conditioner indoor unit and multi-split air conditioning unit

Номер патента: EP4438967A1. Автор: Ting Fang,Junzhao Xiao. Владелец: Guangdong Carrier Heating Ventilation And Air Conditioning Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US20100302295A1. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-02.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US8414100B2. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-04-09.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09859096B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Liquid ejecting apparatus and inspection ejection unit designation data generation circuit

Номер патента: US09821551B2. Автор: Motonori Chikamoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Print inspection apparatus, print system, print inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240364820A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-31.

Probe unit

Номер патента: EP4327753A1. Автор: Norihiro Suzuki,Yukio Ueda. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-28.

Image forming system and inspection apparatus

Номер патента: US20230396716A1. Автор: Hiroyuki Eda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Inkjet printing apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US10800165B2. Автор: Noriko Sato,Takahiro Kiuchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-10-13.

Inkjet printing apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US20190299589A1. Автор: Noriko Sato,Takahiro Kiuchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-10-03.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: WO2013001303A9. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

Phase compensated multiple moving head inspection apparatus

Номер патента: US3811553A. Автор: D Riggs. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1974-05-21.

Mobile control unit and method for remotely controlling a lift installation

Номер патента: AU2020376494B2. Автор: Andreas Weier,Reto DUSS,Steve INEICHEN,Roman OTT,David ZUMSTEG. Владелец: INVENTIO AG. Дата публикации: 2024-07-04.

Single facer and inspection method therefor

Номер патента: US20150027617A1. Автор: Takahiro Yamada,Naoki Mori,Hisashi Hayashi. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2015-01-29.

Sensitivity testing method and device and inspection apparatus for a GSM communication terminal

Номер патента: US09414324B2. Автор: Lingliang Meng. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting system having the same apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: US6038018A. Автор: Motosuke Miyoshi,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-03-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20170243716A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Workpiece inspection apparatus and inspection method

Номер патента: MY127007A. Автор: Kobayashi Kenji,Kikawa Kazuhiro. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Network inspection apparatus, network inspection method, and storage medium

Номер патента: US20170163491A1. Автор: Toshio Tonouchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US12023761B2. Автор: Takeshi Sakamoto,Iku Sano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-02.

Multiple energy x-ray source and inspection apparatus employing same

Номер патента: WO2005052977A2. Автор: Paul H. Leek. Владелец: Leek Paul H. Дата публикации: 2005-06-09.

Inspection apparatus, inspection method and storage medium

Номер патента: US20180227463A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

Image inspection apparatus and program product correcting image blur caused by floating paper to increase inspection accuracy of printed image

Номер патента: US11800019B2. Автор: Toru Misaizu. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-10-24.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240114225A1. Автор: Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Hitoshi Katayama,Dai Nozaki,Mitsunori YUMINAMOCHI,Masaoki SAITO. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: CA3207351A1. Автор: Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Hitoshi Katayama,Dai Nozaki,Mitsunori YUMINAMOCHI,Masaoki SAITO. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-30.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230311390A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Method for repairing and inspecting display device

Номер патента: US20240258454A1. Автор: Sunhwa Lee,Seeun Kim,Byunghyun Lee,JongBeom LEE,Soyi Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Automated fleet-connected cleaning and inspection system

Номер патента: US20240336234A1. Автор: Kenneth Ferguson,Jeffrey BRANDON. Владелец: GM Cruise Holdings LLC. Дата публикации: 2024-10-10.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: US20140284255A1. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Device and method for unwinding and inspection of metallic strip coils

Номер патента: EP4259354A1. Автор: Dmytro Lapin,Illya Synelnykov. Владелец: Danieli and C Officine Meccaniche SpA. Дата публикации: 2023-10-18.

System and Method of Cleaning and Inspecting Semiconductor Die Carrier

Номер патента: US20230058682A1. Автор: TAO Hu,Hua Hong Tan,Wing Keung Lam,Zong Xiang Cai,Wei Ming Xian,Yao Hong Wu. Владелец: UTAC Headquarters Pte Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Integrated sheet metal forming, assembly and inspection system

Номер патента: US20070222014A1. Автор: James B. Toeniskoetter. Владелец: Hirotec America Inc. Дата публикации: 2007-09-27.

Methods for calandria tube sheet bore preparation, cleaning, and inspection for use in retubing of a nuclear reactor

Номер патента: CA2766476C. Автор: James Mitchell King,Clair Arthur Cox,Richard Wilfrid Wray,Dragan Grandic,Jamie Dennis Higgs,Andrew Brian Kittmer,Paul Adrien Rochefort,Paul Andrew Joynes. Владелец: Atomic Energy of Canada Ltd AECL. Дата публикации: 2021-07-13.

System and method for applying patterns on articles and inspection thereof

Номер патента: US20220175617A1. Автор: Igor Murokh. Владелец: Tri Star Technologies Inc. Дата публикации: 2022-06-09.

System and method for ring frame cleaning and inspection

Номер патента: US11764097B2. Автор: Hsu-Shui Liu,Jiun-Rong Pai,Shou-Wen Kuo,Chien-Fa LEE,Hsuan Lee,Jian-Hung Cheng,Boris Huang,M. C. Lin,C. C. Chien. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Multi-level data channel and inspection architectures including off-road data diversion paths for limiting bandwidth consumption by the architectures

Номер патента: US20210067425A1. Автор: Manu Kurian,Rajesh Narayanan. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

System and method for ring frame cleaning and inspection

Номер патента: US20190363002A1. Автор: Hsu-Shui Liu,Jiun-Rong Pai,Shou-Wen Kuo,Chien-Fa LEE,Hsuan Lee,Jian-Hung Cheng,M.C. Lin,C.C. Chien,Boris Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Unmanned underwater vehicle and system for the maintenance and inspection of underwater facilities and method of managing a tether to supply power and to control said underwater vehicle

Номер патента: EP4247705A1. Автор: Diego Lazzarin,Giovanni Massari,Alberto Serena. Владелец: Saipem Spa. Дата публикации: 2023-09-27.

Unmanned underwater vehicle and system for the maintenance and inspection of underwater facilities and method of managing a tether to supply power and to control said underwater vehicle

Номер патента: US20230415869A1. Автор: Diego Lazzarin,Giovanni Massari,Alberto Serena. Владелец: Saipem Spa. Дата публикации: 2023-12-28.

Recording head and methods for manufacturing and inspecting the recording head

Номер патента: US7896471B2. Автор: Isao Kobayashi. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-03-01.

Self-retaining medical retractor to facilitate surgical procedures and inspection

Номер патента: US12023012B2. Автор: Shayne Jean-Baptiste,Stephanie Jean-Baptiste. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-02.

Multi-high rolling mill, maintenance and inspection method for multi-high rolling mill, and using method for multi-high rolling mill

Номер патента: EP4417334A1. Автор: Takashi Yoshida. Владелец: Primetals Technologies Japan Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

A machine for opening cigarette packs and inspecting cigarettes

Номер патента: CA2523208C. Автор: Ricardo Villarinho. Владелец: Souza Cruz Sa. Дата публикации: 2009-10-13.

System and method for conveying and inspecting semiconductor package

Номер патента: US20230343620A1. Автор: Juson Dun Lee KHAW,Yoong Fatt CHIANG,Dennis Yong Sheng ONG,Megat Abdullah BIN MEGAT MOHD AZLAN,Tek Pei KANG,Jerrod Sheng Chun FOO,Kai Wen TEE,Jia Xun TAI,Kek Keong Kim,Yik Loong KOK,Siang Loong ONG,Ker Ming KHOR,Chin Lee YEAP,Chuzen LEE. Владелец: Vitrox Technologies Sdn Bhd. Дата публикации: 2023-10-26.

Printed matter and method of manufacturing the same, and inspection method of printing apparatus

Номер патента: US20150051071A1. Автор: Shouichi Yoshidome,Nari Gotou,Ryouta Imanishi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2015-02-19.

Method and arrangement for transporting and inspecting semiconductor substrates

Номер патента: US20030140716A1. Автор: Frank Bernhardt,Andreas Birkner,Knut Hiltawski. Владелец: Leica Microsystems Jena GmbH. Дата публикации: 2003-07-31.

Method for fabricating and inspecting a photovoltaic assembly with partial crosslinking

Номер патента: US11908964B2. Автор: Philippe Voarino,Romain Cariou. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2024-02-20.

System and method of cleaning and inspecting semiconductor die carrier

Номер патента: US11945004B2. Автор: TAO Hu,Hua Hong Tan,Wing Keung Lam,Zong Xiang Cai,Wei Ming Xian,Yao Hong Wu. Владелец: UTAC Headquarters Pte Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Inspection apparatus that inspects image printed on sheet, and image inspection method

Номер патента: US20240357044A1. Автор: Itsuki Akizuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Printing system, printing apparatus, inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US12081708B2. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Unmanned underwater vehicle, system and method for the maintenance and inspection of underwater facilities

Номер патента: AU2017231035B2. Автор: Diego Lazzarin,Paolo Bonel,Giovanni Massari. Владелец: Saipem Spa. Дата публикации: 2021-11-04.

Fuel cell assembly and inspection device

Номер патента: CA2657182C. Автор: Kazuhiro Watanabe. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2011-06-21.

Manned welding and inspection vehicle

Номер патента: US4000701A. Автор: John T. Ostgaard,James M. Doornbos,John E. Bartley,Cor DE Lange. Владелец: Lange Cor De. Дата публикации: 1977-01-04.

Recording head and methods for manufacturing and inspecting the recording head

Номер патента: US20080088672A1. Автор: Isao Kobayashi. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-04-17.

Self-retaining medical retractor to facilitate surgical procedures and inspection

Номер патента: US20240065541A1. Автор: Shayne Jean-Baptiste,Stephanie Jean-Baptiste. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-29.

Unmanned underwater vehicle and system for the maintenance and inspection of underwater facilities and method of managing a tether to supply power and to control said underwater vehicle

Номер патента: AU2021382422A1. Автор: Diego Lazzarin,Giovanni Massari,Alberto Serena. Владелец: Saipem Spa. Дата публикации: 2023-06-22.

Arrangement for the Treatment of Cellulose Pulp in a Washing Apparatus Adapted to Facilitate Service and Inspection of the Apparatus

Номер патента: US20080245497A1. Автор: Johan Bylander,Rickard Andersson,Magnus Henriksson,Jörgen T. Lundberg. Владелец: Metso Paper Oy. Дата публикации: 2008-10-09.

Arrangement for the treatment of cellulose pulp in a washing apparatus adapted to facilitate service and inspection of the apparatus

Номер патента: CA2607813A1. Автор: Johan Bylander,Rickard Andersson,Magnus Henriksson,Jörgen T. Lundberg. Владелец: Jörgen T. Lundberg. Дата публикации: 2006-12-07.

Arrangement for the treatment of cellulose pulp in a washing apparatus adapted to facilitate service and inspection of the apparatus

Номер патента: US7776184B2. Автор: Jorgen Lundberg,Johan Bylander,Rickard Andersson,Magnus Henriksson. Владелец: Metso Paper Oy. Дата публикации: 2010-08-17.

Fuel cell stack including witness marks and inspection method thereof

Номер патента: US20200176805A1. Автор: Arne Ballantine,Raphael Quiazon. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2020-06-04.

Fuel cell stack including witness marks and inspection method thereof

Номер патента: US20210257646A1. Автор: Arne Ballantine,Raphael Quiazon. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Contrast agent for facilitating ocular identification and inspection of lymph nodes

Номер патента: WO2000035490A2. Автор: Christer Busch. Владелец: Christer Busch. Дата публикации: 2000-06-22.

Apparatus for the conveying and inspection of a semi-finished product of the tobacco industry

Номер патента: EP3852557A1. Автор: Massimo Sartoni,Ivan Eusepi,Fausto Mengoli,Mauro Galli,Marco FRASSON,Eura Trivisonno. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-07-28.

Mask inspecting apparatus

Номер патента: US20040004195A1. Автор: Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2004-01-08.

Leak resistance inspection apparatus for fuel element enclosures

Номер патента: RU2349976C1. Автор: Валерий Фёдорович Борисов,Сергей Александрович Гутов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2009-03-20.

Can seam inspection apparatus

Номер патента: WO1993003864A1. Автор: Wun Cheul Chong. Владелец: Wun Cheul Chong. Дата публикации: 1993-03-04.

Inspection apparatus, image forming apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240275888A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Ultrasound inspection apparatus, signal processing method for ultrasound inspection apparatus, and recording medium

Номер патента: US09907532B2. Автор: Tsuyoshi Tanabe,Noriaki Ida,Yasunori Ohta,Shin Nakata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Wafer and dut inspection apparatus and method using thereof

Номер патента: US20180158647A1. Автор: Bao-Hua Niu,Jung-Hsiang Chuang,David Hung-I Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US20190054425A1. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10569228B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10118132B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-11-06.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US20080309705A1. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US7963627B2. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Image inspection apparatus that determines a line width of a test image, and image forming apparatus

Номер патента: US09762763B2. Автор: Toru Yamaguchi,Takahiro Kusunoki,Takashi Harashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-12.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: US09623513B2. Автор: Hiroaki Kishi,Atsushi Kawakita,Shuhei Ogura,Yuta IWAMOTO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09571670B2. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US11838454B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US20230336667A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Contactless sensors unit and contactless switches assembly

Номер патента: RU2711607C2. Автор: Стюарт С. САЛТЕР,Пьетро БУТТОЛО,Махендра Сомасара ДАССАНАЯКЕ,Джеймс Стюарт РАНКИН,Дипанджан ГХОШ. Владелец: ФОРД ГЛОУБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2020-01-17.

Floor-mounted heating convector, convector heating element unit and convector casing

Номер патента: RU2381424C1. Автор: Виталий Иванович Сасин,Владимир Олимпович Решетников. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "СТП-РЕГИОН". Дата публикации: 2010-02-10.

Method for preparing light olefins and btx, using catalytic cracking unit ncc, processing naphtha-type feedstock, catalytic reforming unit and aromatic complex

Номер патента: RU2674016C2. Автор: Александр ПАГО,Абдельаким КУДИЛЬ,Жоана ФЕРНАНДЕС,Бертран ФАНЖЕ,Ромэн КОРРУАЙЕ. Владелец: Ифп Энержи Нувелль. Дата публикации: 2018-12-04.

Electrified rail, in particular, for powering metal shelving units and the way of its production

Номер патента: RU2669309C2. Автор: БОНЦИ Джианкарло,НАННИ Эрос. Владелец: Селфа Сосиета Кооператива. Дата публикации: 2018-10-09.

Multiple glass unit and method of fabricating it

Номер патента: RU2745783C1. Автор: Вальтер Шрайбер,Флориан КАРРЕ,Дирк НЮССЕР. Владелец: СЭН-ГОБЭН ГЛАСС ФРАНС. Дата публикации: 2021-03-31.

Image position inspecting apparatus, computer-readable medium and image forming apparatus

Номер патента: US8801130B2. Автор: Toru Nishida,Takeshi Zengo. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-12.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US20200395191A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US11189459B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-30.

Punch pin hole inspection apparatus and method using punch and die

Номер патента: US12042976B2. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Image inspection apparatus

Номер патента: US10750032B2. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-18.

Inspection apparatus capable of preventing lowering of position matching accuracy, method of controlling same, and storage medium

Номер патента: US11750747B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Method and apparatus for encoding video based on scanning order of hierarchical encoding units, and method and apparatus for decoding video based on scanning order of hierarchical encoding units

Номер патента: RU2582071C2. Автор: Дзунг-Хие МИН,Мин-Су ЧЕОН,Ил-коо КИМ,Хае-Киунг ДЗУНГ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2016-04-20.

Needle unit and device for injections with foldable means of needle protection

Номер патента: RU2564406C2. Автор: Гийом ГРЮНЮ,Фредерик ПЕРО,Адриан ПЛУВЬЕ. Владелец: Бектон Дикинсон Франс. Дата публикации: 2015-09-27.

Onboard experimental-testing unit and method of its operation

Номер патента: RU2739647C1. Автор: Олег Семёнович Цыганков. Владелец: Публичное акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" имени С.П. Королёва". Дата публикации: 2020-12-28.

Method and apparatus for encoding video based on scanning order of hierarchical encoding units, and method and apparatus for decoding video based on scanning order of hierarchical encoding units

Номер патента: RU2597483C2. Автор: Дзунг-Хие МИН,Мин-Су ЧЕОН,Ил-коо КИМ,Хае-Киунг ДЗУНГ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2016-09-10.

Cutting and creasing disk unit and procedure for compressed material cutting and creasing

Номер патента: RU2397859C2. Автор: Никлас ПЕТТЕРССОН. Владелец: Никлас ПЕТТЕРССОН. Дата публикации: 2010-08-27.

Stand-alone hybrid power supply system for electric equipment and system control unit and method

Номер патента: RU2589889C2. Автор: Эрик МУНИЕР,Джин-Мари БУРГЕАС,ДЖЕНТИЛ Марион ДЕ. Владелец: Повидиан. Дата публикации: 2016-07-10.

Method for producing spring lamels from format workpiece with simultaneous obtaining ready finished profile of ribs and device for its implementation with feeding and moving mechanism including pressing system, milling unit and milling disc including method of moving format workpiece, as well as method of milling and cutting

Номер патента: RU2648110C2. Автор: Владислав Борисович Кузнецов,Александр Владимирович Широков,Даниил Германович Блинов. Владелец: Владислав Борисович Кузнецов. Дата публикации: 2018-03-22.

Номер патента: RU2288898C1. Автор: Махач Магомедович Казиев,Арнольд Иосифович Злотопольский,Наиль Абдулович Хайруллин,Мансур Хамзинович Мтиуллин,хетдинов Рушат Ахм тович Мифт,Рушат Ахмятович Мифтяхетдинов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Соларекс". Дата публикации: 2006-12-10.

Hybrid drive transmission unit and method for operation of a hybrid drive vehicle

Номер патента: RU2760040C2. Автор: Томас ЮНГ,Себастиан КОБЛЕР,Бернхард ХОЕСС. Владелец: Байерише Моторен Верке Актиниегезельшафт. Дата публикации: 2021-11-22.

Device for installation of electrical unit in duct for electric cables and wires routing and node containing electrical unit and above unit

Номер патента: RU2485653C2. Автор: Патрис ЖАРРИ. Владелец: Легран Франс. Дата публикации: 2013-06-20.

Interference-resistant transmission system with digital selection unit and automatic matching device on discrete elements

Номер патента: RU2747575C1. Автор: Владимир Александрович Маковий,Сергей Александрович Чупеев,Александр Алексеевич Яблонских. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Созвездие". Дата публикации: 2021-05-11.

Номер патента: RU2715901C1. Автор: Вячеслав Михайлович Андреев,Павел Васильевич Покровский,Дмитрий Андреевич Малевский,Валерий Романович Ларионов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук. Дата публикации: 2020-03-04.

Racing unit with toy vehicles, racing assembly and a system for managing racing units and for statistical data processing and publication, and a method for topping up and depleting an account of a racing unit user

Номер патента: WO2019087019A1. Автор: Mitja KOVAČIČ. Владелец: Kovacic Mitja. Дата публикации: 2019-05-09.

Speaker unit and speaker device

Номер патента: EP3836561A1. Автор: Yongchun Zhang. Владелец: Shenzhen Xinqi Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-16.

Methods, apparatuses and computer programs for providing an x2 interface between a network unit and a remote network in wireless communication systems

Номер патента: US20180352546A1. Автор: Anders Johansson,Tomas Johansson,Peter ÖSTRUP,Patrik Jonasson,Simon BJÖRKLÉN. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2018-12-06.

Two-platform complex of floating means for construction, repair and inspection of sea pipelines and erection in ice conditions

Номер патента: RU2562817C2. Автор: Равиль Исмаилович Кильдеев,Вадим Александрович Кравченко,Анатолий Павлович Илюшкин,Алексей Васильевич Лебедев,Юрий Борисович Могутин,Георгий Васильевич Кравин. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации. Дата публикации: 2015-09-10.

Inspection method and inspection system

Номер патента: RU2512679C1. Автор: Александр Александрович Буклей,Евгений Олегович Блохин,Илья Александрович Паршин,Федор Аркадьевич Пашинцев,Евгений Владимирович Федоровский. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Флэш электроникс". Дата публикации: 2014-04-10.

Method of calibration and inspection of electromagnet flow meters

Номер патента: RU2303767C2. Автор: Иван Дмитриевич Вельт,Юлия Владимировна Михайлова,Надежда Викторовна Терехина,Юли Владимировна Михайлова,Алексей Павлович Овчинников. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт теплоэнергетического приборостроения" ОАО "НИИТеплоприбор". Дата публикации: 2007-07-27.

Device for monitoring contact between heated electrode and inspected workpiece during rejection of metal products

Номер патента: RU2329493C1. Автор: Игорь Алексеевич Солдатов,Сергей Александрович Цехановский. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский политехнический университет. Дата публикации: 2008-07-20.

Module for coin or medal storage and inspection

Номер патента: RU2537279C2. Автор: Владимир Ильич Брызгунов,Наталья Николаевна Базекина. Владелец: Наталья Николаевна Базекина. Дата публикации: 2014-12-27.

Infrared imaging set to test and inspect resistance-welded joints for defects

Номер патента: RU2138057C1. Автор: В.В. Рожков,И.Г. Чапаев,В.И. Батуев,М.Г. Зарубин,П.В. Журавлев,Г.И. Косолапов,К.А. Соловьев. Владелец: Открытое акционерное общество "Новосибирский завод химконцентратов". Дата публикации: 1999-09-20.

ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, METHOD FOR PRODUCING ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, LIQUID CRYSTAL PANEL, METHOD FOR PRODUCING LIQUID CRYSTAL PANEL, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY UNIT, AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120001838A1. Автор: Tsubata Toshihide. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, LIQUID CRYSTAL PANEL, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY UNIT, AND TELEVISION RECEIVER

Номер патента: US20120001839A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: RU2357135C2. Автор: Александр Иванович Вольченко,Дмитрий Александрович Вольченко,Николай Александрович Вольченко,Евстахий Иванович Крыжановский,Виталий Викторович Волощук. Владелец: Ивано-Франковский национальный технический университет нефти и газа. Дата публикации: 2009-05-27.

Radio-electronic unit and method of making said radio-electronic unit

Номер патента: RU2366125C1. Автор: Юрий Евгеньевич Яковлев,Петр Васильевич Смирнов,Максим Александрович Краснов,Владимир Алексеевич Архипов,Андрей Геннадьевич Полутов,Владимир Анатольевич Васильев,Ирина Петровна Михайлова,Ирина Петровна Сладкова,Татьяна Калинниковна Софронова,Николай Васильевич Таймаскин. Владелец: ОАО "Научно-производственный комплекс "ЭЛАРА" имени Г.А. Ильенко" (ОАО "ЭЛАРА"). Дата публикации: 2009-08-27.

Set for assembling monohoneycomb structure frame unit and method of assembling with it

Номер патента: RU2375526C1. Автор: Владимир Валерьевич ШУМОВСКИЙ. Владелец: Владимир Валерьевич ШУМОВСКИЙ. Дата публикации: 2009-12-10.

Method of determining and controlling parameters of plow-bottom surface of working element of plough for operation with different speeds of motion of unit and device for controlling parameters of plow-bottom surface of working element of plough

Номер патента: RU2528042C1. Автор: Василий Васильевич Бледных,Петр Григорьевич Свечников,Фёдор Николаевич Граков,Максим Юрьевич Ройбу. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Челябинская государственная агроинженерная академия". Дата публикации: 2014-09-10.

Turbo-pump unit, and cold, hot and industrial water pumping method

Номер патента: RU2511970C1. Автор: Сергей Георгиевич Валюхов,Николай Павлович Селиванов,Владимир Владимирович Касимцев,Валерий Николаевич Веселов,Станислав Кузьмич Брюнеткин. Владелец: Открытое акционерное общество "ЭНТЕХНО". Дата публикации: 2014-04-10.

Modular container of compressor unit, and method of its installation on foundation

Номер патента: RU2464449C1. Автор: Яхия Зиннатович Гузельбаев,Валерий Адельзянович Залялов,Герман Иванович Сапаркин. Владелец: Закрытое акционерное общество "Научно-исследовательский и конструкторский институт центробежных и роторных компрессоров им. В.Б. Шнеппа". Дата публикации: 2012-10-20.

Technological complex of equipment for hydraulic tests of heat exchange unit elements and heat exchange units of heat exchange device, clamping device for connection of pipes to hydraulic system, hydraulic system for hydraulic tests of device pipes, method of hydraulic system assembly for hydraulic tests of device bent pipes, test bench for hydraulic tests of device bent pipes, method of hydraulic tests of device bent pipes (versions), hydraulic system for hydraulic tests of device heat exchange units and test bench for drying of device heat exchange units (versions)

Номер патента: RU2344394C2. Автор: Николай Павлович Селиванов. Владелец: Николай Павлович Селиванов. Дата публикации: 2009-01-20.

Woven resistor unit and its manufacturing process

Номер патента: RU2294062C2. Автор: Роберт Вардгесович Офицерьян,Андрей Фотиевич Чехин,н Армен Робертович Офицерь,Армен Робертович Офицерьян,н Роберт Вардгесович Офицерь. Владелец: Армен Робертович Офицерьян. Дата публикации: 2007-02-20.

System for data collection, control and diagnostics of helicopter rotor drive units and electronic unit

Номер патента: RU2519583C2. Автор: Владимир Григорьевич Василенко,Виктор Васильевич Голованов,Андрей Александрович Земсков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный институт авиационного моторостроения имени П.И. Баранова". Дата публикации: 2014-06-20.

Water ink, ink-jet recording method, ink cartridge, recording unit, ink-jet recording unit and method of image generation

Номер патента: RU2339668C2. Автор: Микио САНАДА,Масаси ОГАСАВАРА,Томонари ВАТАНАБЕ,Юи КИТАМУРА,Йосихиса ТАКИЗАВА,Такаси ИМАИ,Ясухиро НИТО,Тецу ИВАТА,Синити ХАКАМАДА,Садаюки СУГАМА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2008-11-27.

Facade facing panel fastening set, supporting unit and hanging member for the supporting unit, as well as facade assemblage method

Номер патента: RU2268970C2. Автор: Вячеслав Иванович Полянин,Виктор Николаевич Дрозденко,Вячеслав Викторович Супонов,Сергей Викторович Скачков,Михаил Иванович Чухарев,нин В чеслав Иванович Пол (RU),Виктор Николаевич Дрозденко (RU),В чеслав Викторович Супонов (RU),Сергей Викторович Скачков (RU),Михаил Иванович Чухарев (RU). Владелец: Михаил Иванович Чухарев. Дата публикации: 2006-01-27.

Номер патента: RU2549622C2. Автор: Василий Прокопьевич Чупров,Рамиль Анварович Шайхутдинов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ВНИИГИС-Забойные телеметрические комплексы" (ООО НПФ "ВНИИГИС-ЗТК"). Дата публикации: 2015-04-27.

Electric arc melting furnace, electrode unit and electric arc melting process

Номер патента: RU2184160C1. Автор: В.Н. Аникеев,М.Ю. Докукин,В.И. Хвесюк,П.А. Цыганков. Владелец: Хвесюк Владимир Иванович. Дата публикации: 2002-06-27.

Oil and gas well repair unit and method for running coil tubing in and out by means of this unit

Номер патента: RU2520976C2. Автор: Владимир Александрович Кузнецов,Георгий Александрович Калистратов,Игорь Святославович Чесноков,Андрей Анатольевич Бурмистров,Владимир Александрович Данилин,Виталий Викторович Кукушкин,Александр Владимирович Стефомиров,Борис Дмитриевич Янкин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Сибирские Новые Технологии". Дата публикации: 2014-06-27.

Knurling method with moving bearing units and apparatus for performing the same (variants)

Номер патента: RU2284242C2. Автор: Виталий Матвеевич Сорокин,Александр Николаевич Петровский,Евгений Федорович Сергутов. Владелец: Евгений Федорович Сергутов. Дата публикации: 2006-09-27.

Device for bottom blowing of metal with gas, method of manufacture of blowing monoblock unit and refractory material for manufacture of such monoblock unit

Номер патента: RU2255118C1. Автор: А.М. Чуклай,В.Я. Гущин,О.И. Фролов,С.Н. Клещеногов. Владелец: Гущин Владимир Яковлевич. Дата публикации: 2005-06-27.

Cooler unit and procedure for circulation of cooling fluid medium in it

Номер патента: RU2432531C2. Автор: Маурицио АСКАНИ. Владелец: Анджелантони Индустрие Спа. Дата публикации: 2011-10-27.

Method and apparatus for hybrid switching of distributed multilevel telecommunication system, switching unit and test traffic generator

Номер патента: RU2542906C1. Автор: Павел Александрович Будко,Алексей Михайлович Винограденко,Александр Игоревич Литвинов,Никита Павлович Будко. Владелец: Федеральное государственное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия связи имени маршала Советского Союза С.М. Буденного" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2015-02-27.

Horizontal hydraulic press to press out and press in large-sized assembly units and parts

Номер патента: RU2394684C2. Автор: Виктор Федорович Ищенко,Анатолий Илларионович Гамей,Анатолий Михайлович Ледовский,Игорь Яковлевич Шутов,Сергей Александрович Балюх,Радик Хайдарович Садыков,Асия Салиховна Адигамова,Дмитрий Валерьевич Спасеев,Вадим Витальевич Трофимов. Владелец: Открытое акционерное общество "Магнитогорский металлургический комбинат". Дата публикации: 2010-07-20.

Method of driving cultivator-unit and tractor for its realisation

Номер патента: RU2404561C1. Автор: Юрий Феликсович Черняков. Владелец: Юрий Феликсович Черняков. Дата публикации: 2010-11-27.

Thermal protection of payload arranged in assembly-protective unit and device to this end

Номер патента: RU2564436C1. Автор: Николай Егорович Гребнев,Владимир Сергеевич Солунин,Евгений Александрович Воронин,Сергей Анатольевич Филатов,Юрий Михайлович Иванеко,Сергей Владимирович Леденейкин. Владелец: Акционерное общество "Ракетно-космический центр "Прогресс" (АО "РКЦ "Прогресс"). Дата публикации: 2015-09-27.

Stabilization method of structurally unstable fluid oscillator of booster units and upper stages of carrier rockets

Номер патента: RU2722399C1. Автор: Андрей Александрович Маслов,Владимир Анатольевич Лобанов,Лариса Алексеевна Митягина,Татьяна Александровна Полежаева,Наталья Юрьевна Люсина,Асия Алимжановна Сотниченко. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственный центр автоматики и приборостроения имени академика Н.А. Пилюгина" (ФГУП "НПЦАП"). Дата публикации: 2020-05-29.

Method of making chemical electrically driven pump unit and chemical electrically driven pump unit thus made

Номер патента: RU2505712C1. Автор: Сергей Георгиевич Валюхов,Сергей Владимирович Печкуров,Николай Павлович Селиванов,Владимир Владимирович Касимцев,Наталья Владимировна Косякова. Владелец: Открытое акционерное общество "ЭНТЕХНО". Дата публикации: 2014-01-27.

Method of space refuse withdrawal from payload orbit exploiting carrier rocket separated part and accelerating unit, and device to this end

Номер патента: RU2462399C2. Автор: Юрий Николаевич Макаров,Владимир Юрьевич Куденцов,Валерий Иванович Трушляков,Яков Тимофеевич Шатров. Владелец: Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Омский Государственный Технический Университет". Дата публикации: 2012-09-27.

Heat exchange unit and method for making it

Номер патента: RU2279618C2. Автор: Федор Петрович Митюхин. Владелец: Федор Петрович Митюхин. Дата публикации: 2006-07-10.

Detection of impurities in of working oil and estimation of its fouling for determination of conditions of machine assembly units and parts

Номер патента: RU2519520C1. Автор: Юрий Алексеевич Власов,Николай Терентьевич Тищенко,Роман Юрьевич Таньков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Томский государственный архитектурно-строительный университет" (ТГАСУ). Дата публикации: 2014-06-10.

Integrated technology of operation and production "maxinio" transport facilities: vtol electric aircraft (versions), electric aircraft units and methods of employment electric aircraft and its parts

Номер патента: RU2466908C2. Автор: Николай Иванович Максимов. Владелец: Николай Иванович Максимов. Дата публикации: 2012-11-20.

Method of repair of assembly units and parts

Номер патента: RU2380246C1. Автор: Владимир Александрович Горностаев,Виктор Анатольевич Чечет,Вадим Валерьевич Суворов,Алексей Юрьевич Бойков. Владелец: Вадим Валерьевич Суворов. Дата публикации: 2010-01-27.

Container unit and method for fertilizing, cultivating and transferring an embryo

Номер патента: RU2250757C2. Автор: Клод РАНУ,Фрэнсис Г. младший ГЛИСОН. Владелец: Биофертек Лтд.. Дата публикации: 2005-04-27.

Method for designing mini resource unit and transmission for distributed resource unit in consideration of space frequency block code

Номер патента: RU2438259C1. Автор: Дзин Сам КВАК,Бин Чул ИХМ,Воок Бонг ЛИ,Дзин Соо ЧОИ,Хан Гиу ЧО. Владелец: ЭлДжи ЭЛЕКТРОНИКС ИНК.. Дата публикации: 2011-12-27.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA1153604A. Автор: Donald E. Lorenzi,John J. Flaherty,Edward Schaefer,Donald T. O'connor. Владелец: Magnaflux Corp. Дата публикации: 1983-09-13.

Probe unit and inspecting apparatus

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты