Inspection apparatus and inspection method.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011919A1
Опубликовано: 11-01-2024
Автор(ы): Shinnosuke Ichikawa, Yoichi Karaki
Принадлежит: Shin Etsu Handotai Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

SUBSTRATE DAMAGE INSPECTION APPARATUS, PRODUCTION SYSTEM AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170038306A1. Автор: WANG Zhiqiang,Wu Bin,LI GUANGZHI,Yu Xuequan,LIU Jiajia,Yue Xing. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

Substrate damage inspection apparatus, production system and inspection method

Номер патента: US9709506B2. Автор: Bin Wu,XING Yue,Guangzhi Li,Zhiqiang Wang,Xuequan Yu,Jiajia Liu. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Wafer visual inspection apparatus and wafer visual inspection method

Номер патента: US20240257336A1. Автор: Tatsuya Osada. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Method for inspecting a semiconductor element and inspection apparatus for executing the same

Номер патента: US20220018789A1. Автор: Yueh-Heng Lee,Kuo-Ming Tseng. Владелец: V5 Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: US09869715B2. Автор: Akira Yamaguchi,Takashi Ishimoto,Takenori Takahashi,Yuji Shigesawa,Takashi Motoyama. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Learning apparatus, inspection apparatus, learning method and inspection method

Номер патента: KR102529354B1. Автор: 준이치 시오미. Владелец: 가부시키가이샤 스크린 홀딩스. Дата публикации: 2023-05-04.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20110285989A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Eiji Imai,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Tray handling apparatus and semiconductor device inspecting method using the same

Номер патента: US20100032262A1. Автор: Sang-Yun Lee,Youn-Soo Kim,Ssang-geun Im,Seung-gyu Ko. Владелец: Intekplus Co Ltd. Дата публикации: 2010-02-11.

Foreign matter inspection apparatus, foreign matter inspection method, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20220291144A1. Автор: Yuichi Fujita,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-09-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240361244A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-10-31.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: US09816938B2. Автор: Ajharali Amanullah. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Substrate inspection apparatus, method of calibrating the substrate inspection apparatus, and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20200182777A1. Автор: YOON Sung Bae,Young Hoon Sohn,Yu Sin YANG,Jang Ik PARK,Kwang Rak KIM,Tae Yong Jo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Inspection apparatus comprising a first imager imaging fluorescence having a wavelength longer than a first wavelength and a second imager imaging fluorescence having a wavelength shorter than a second wavelength and inspection method

Номер патента: US12072289B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-27.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20220005666A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-01-06.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20200075287A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-03-05.

Defect inspecting method and defect inspecting apparatus

Номер патента: US09841384B2. Автор: Toshiyuki Nakao,Shigenobu Maruyama,Yuta Urano,Akira Hamamatsu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Substrate inspection method and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20200025692A1. Автор: Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A3. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-07-17.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US20160098828A1. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Method for fabricating a semiconductor device using a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20240304501A1. Автор: Ki Hun Kim,Yong Ju Jeon,Jeong-su Ha,Jhong Kwon KIM,Da Young MYOUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection apparatus and reference image generation method

Номер патента: US20240257300A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20140168410A1. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US12105029B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Methods and apparatus for monitoring a manufacturing process, inspection apparatus, lithographic system, device manufacturing method

Номер патента: US11698346B2. Автор: Maurits van der Schaar,Murat BOZKURT,Alberto DA COSTA ASSAFRAO,Ioana Sorina Barbu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-11.

Wafer image inspection apparatus

Номер патента: US09829441B2. Автор: SEGAL Ram,Tae Hoon Park. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927539B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Substrate-holder inspection apparatus, plating apparatus including the same, and appearance inspection apparatus

Номер патента: WO2018008343A1. Автор: Masaaki Kimura,Toshio Yokoyama,Kunio Oishi,Jumpei Fujikata,Yoshitaka Mukaiyama. Владелец: EBARA CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-11.

Substrate inspection apparatus and substrate treatment system including the same

Номер патента: US20240142389A1. Автор: Dong Min Park,Jeong Hoon Han,Jun Hyun LIM,Oh Yeol KWON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US20180190170A1. Автор: Jeong-Bok Yang. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-05.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240054633A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: MY176794A. Автор: AMANULLAH Ajharali. Владелец: Semiconductor Tech & Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2020-08-21.

Plasma light source and inspection apparatus including the same

Номер патента: US09983144B2. Автор: KOHEI HASHIMOTO,Nobuyuki Kimura,Wook-Rae Kim,Byeong-Hwan Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Sensitivity adjusting method for pattern inspection apparatus

Номер патента: US6740896B2. Автор: Yoshikazu Nagamura. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2004-05-25.

Semiconductor Wafer Inspection Apparatus And Semiconductor Wafer Inspection Method

Номер патента: US20170010323A1. Автор: YAMAGUCHI Akira,Motoyama Takashi,ISHIMOTO Takashi,SHIGESAWA Yuji,TAKAHASHI Takenori. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-12.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: WO2016098375A1. Автор: 隆石本,崇元山,祐治重澤,山口　晃,武孝高橋. Владелец: 株式会社東京精密. Дата публикации: 2016-06-23.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus adjustment system and inspection apparatus adjustment method

Номер патента: US11898968B2. Автор: Yuko Sasaki,Taichi Maeda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20190228521A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US11094051B2. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20200294223A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Electronic component inspection apparatus and electronic component inspection method

Номер патента: US11821843B2. Автор: Junji Morita,Daichi GEMBA. Владелец: Sumida Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US9671459B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Inspection apparatus

Номер патента: US09728374B2. Автор: Shinji Yamaguchi,Takehide Hayashi,Masahiro Hatakeyama,Masato Naka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Electrode assembly alignment inspection device and electrode assembly alignment inspection method using same

Номер патента: EP3627143A1. Автор: Su Taek Jung,Jung Kwan Pyo,Cha Hun Ku,Tai Jin Jung. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-03-25.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US9934896B2. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2018-04-03.

Baffle inspection apparatus

Номер патента: US20240192071A1. Автор: Kuntack Lee,Jihwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US10712295B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using the same

Номер патента: US20240210293A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using same

Номер патента: EP4310986A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Evaluation apparatus and probe position inspection method

Номер патента: US9804197B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Norihiro Takesako. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Reference wafer for calibration of dark-field inspection apparatus,method of manufacturing reference wafer for calibration of dark-field inspection apparatus, method of calibrating dark-field inspection apparatus, dark-field inspection apparatus, and a wafer inspection method

Номер патента: US20110276299A1. Автор: Hideo Ota,Kazunori Nemoto,Kenji Oka,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-11-10.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20060192953A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-08-31.

Substrate surface inspecting apparatus and substrate surface inspecting method

Номер патента: CN101883979A. Автор: 森秀树,小野洋子,若叶博之,林义典,宫园浩一,川崎祥三. Владелец: Shibaura Engineering Works Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-10.

Substrate surface inspection apparatus and substrate surface inspection method

Номер патента: JP5128920B2. Автор: 義典林,秀樹森,博之若葉,洋子小野,浩一宮園,祥三川崎. Владелец: Shibaura Mechatronics Corp . Дата публикации: 2013-01-23.

Substrate surface inspecting apparatus and substrate surface inspecting method

Номер патента: WO2009072389A1. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Shozo Kawasaki,Yoko Ono,Hiroshi Wakaba,Koichi Miyazono. Владелец: SHIBAURA MECHATRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2009-06-11.

Apparatus and method for detecting a dust particle having high purity inert gas atmosphere

Номер патента: US5574276A. Автор: Toshiyuki Ishimaru. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1996-11-12.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Inspection Apparatus Adjustment System and Inspection Apparatus Adjustment Method

Номер патента: US20220252525A1. Автор: Yuko Sasaki,Taichi Maeda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US20150115991A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Workpiece positioning mechanism and workpiece inspection apparatus

Номер патента: US12078673B1. Автор: Shohei Suzuki,Taichi Aranami. Владелец: Takaoka Toko Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Rotation-type display panel inspecting apparatus and display panel inspecting method using the inspecting apparatus

Номер патента: TWI295731B. Автор: Yun-Kwang Cheon. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-04-11.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: EP3517300B1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-25.

Rotation-type display panel inspecting apparatus and display panel inspecting method using the inspecting apparatus

Номер патента: TW200643420A. Автор: Yun-Kwang Cheon. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2006-12-16.

PRINT QUALITY INSPECTION APPARATUS AND PRINT QUALITY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190228521A1. Автор: OHAMA Kentaro. Владелец: KOMORI CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-25.

SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS, SUBSTRATE INSPECTION METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200285156A1. Автор: Hisano Kazuya,Nishiyama Tadashi,Kiyotomi Akiko,Hosaka Masato. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-10.

PRINT QUALITY INSPECTION APPARATUS AND PRINT QUALITY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200294223A1. Автор: OHAMA Kentaro. Владелец: KOMORI CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3206020A3. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-08.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US20220412898A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-12-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09759656B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection method and apparatus, substrates for use therein and device manufacturing method

Номер патента: US09835954B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Erik Willem BOGAART. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-12-05.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US8670115B2. Автор: Yuji Miyoshi,Kazuhisa Hasumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Apparatus and method for inspecting poly-silicon

Номер патента: US7505155B2. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-17.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US09953407B2. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Semiconductor inspection apparatus, method of inspecting semiconductor wafer, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240353351A1. Автор: Yasuhiro Kimura,Hirofumi OKI,Shinichiro Katsuki,Takuyo Nakamura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US11946881B2. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-02.

Inspection apparatus and manufacturing method for semiconductor device

Номер патента: US20210199596A1. Автор: Yoshiyuki Nakagawa,Takehiro Toyoda,Hideki Ina,Yasushi Matsuno,Tomoyuki Tezuka,Kosuke Asano,Yasushi Ohta,Junya Tamaki,Masao Ishioka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

Inspection apparatus for inspecting semiconductor devices using charged particles

Номер патента: US11754517B2. Автор: Suyoung LEE,Jongmin Kim,Chungsam Jun,Kwangil SHIN,Ilsuk PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-12.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20130301041A1. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-14.

Inspection apparatus and inspection method for semiconductor substrate

Номер патента: US20230314342A1. Автор: Koji Eguchi,Junichi Uehara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Substrate inspecting apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240192144A1. Автор: Yong Jun Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Apparatus and method for inspecting pattern defect

Номер патента: US20120268742A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Hisashi Hatano,Hidetoshi Nishiyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Inspection apparatus and substrate transfer method

Номер патента: US20220011676A1. Автор: Takashi Murakami,Takuya Tani,Toru TOKIMATSU. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection apparatus of wafer

Номер патента: US20210366102A1. Автор: Namil Koo,Jimin CHOI,Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Taeheung AHN,Ikseon Jeon,Kwangjun Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Inspection device and inspection method

Номер патента: EP3951844A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akihiro Otaka,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-02-09.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20210018367A1. Автор: Satoshi Oguchi,Masashi Kanai,Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

Mask inspection apparatus, switching method, and mask inspection method

Номер патента: US20200182803A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Takayuki Ishida,Tetsuya Sendoda. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Optical inspection apparatus, optical inspection system, optical inspection method, and optical inspection program

Номер патента: EP4343315A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

Optical inspection apparatus, optical inspection system, optical inspection method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20240094114A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230247312A1. Автор: Hiroki Nakajima,Masaru Ishida,Mikio Shibukawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US20200150050A1. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-05-14.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240133682A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Welding inspection apparatus

Номер патента: CA3237559A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-11.

Micro structure inspection apparatus and micro structure inspection method

Номер патента: JPWO2007125756A1. Автор: 直樹池内,正巳八壁,八壁　正巳,池内　直樹,明子上郡. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-09-10.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US20190277782A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-09-12.

Electron Beam Inspection Apparatus and Electron Beam Inspection Method

Номер патента: US20190369035A1. Автор: Shiratsuchi Masataka,Ogawa Riki,Hirano Ryoichi,Tsuchiya Hideo,HASHIMOTO Hideaki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2019-12-05.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Masaki Tatsumi,Haruo Takahashi,Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Inspection apparatus, recording medium, and inspection system

Номер патента: US20240192143A1. Автор: Masaru Ohtsuka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Substrate inspection apparatus, substrate processing apparatus, substrate inspection method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11823922B2. Автор: Masato Hosaka,Tadashi Nishiyama,Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Transfer/Inspection Apparatus and Transfer Apparatus

Номер патента: US20070273875A1. Автор: Fow-Lai Poh,Masahiro Yaguchi,Tamaya Ubukata. Владелец: Tsukuba Seiko Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method using the same

Номер патента: US20180061041A1. Автор: Byeong Hwan Jeon,Tae Joong Kim,Jae Chol JOO,Jun Bum Park,Tae Heung AHN,Soo Ryonng Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Multi-electron beam inspection apparatus and adjustment method for the same

Номер патента: US20230080062A1. Автор: Koichi Ishii,Kazuhiko Inoue,Toshikatsu Akiba,Shohei Mikami. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Pattern inspection method, pattern formation control method, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US9433967B2. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20240280520A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Takashi Hiroi,Yuko Otani,Yuya Isomae,Masakazu Kanezawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20190346769A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240071795A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspecting Apparatus And Processing Apparatus Including The Same

Номер патента: MY195430A. Автор: SUGIYAMA Tomoaki,Kozai Hirohiko,MORIKAWA Naoki. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-01-20.

X-ray thin film inspection apparatus and thin film inspection apparatus and method for patterned wafer

Номер патента: US7258485B2. Автор: Asao Nakano,Takao Kinefuchi,Hiroshi Motono,Atsunori Kiku. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2007-08-21.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240230933A9. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US20170315070A1. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-02.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US09869650B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Sem inspection apparatus and pattern matching method

Номер патента: US20190080445A1. Автор: Atsushi Onishi,Kazuhiro Nojima. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Coating quality inspection method, inspection apparatus and inspection system, and storage medium

Номер патента: EP4411358A1. Автор: Ming Zhang,Weitao YANG,Zhiyong He,Changsheng LUO. Владелец: Jiangsu Contemporary Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US12045975B2. Автор: Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Shape inspection apparatus for metallic body and shape inspection method for metallic body

Номер патента: US09903710B2. Автор: Hironao Yamaji,Yusuke Konno,Toshio Akagi,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Particle beam inspection apparatus

Номер патента: US20240258138A1. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Edwin Cornelis KADIJK,Te-Yu Chen,Erheng WANG,Christianus VAN HEUMEN Martijn Petrus,Caspar VAN BANNING Dennis Herman,Henricus Maria JACOBS Johannes Andreas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-01.

Light source apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US09696568B2. Автор: Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Inspection apparatus

Номер патента: US09601302B2. Автор: Takeshi Murakami,Tsutomu Karimata,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230070161A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US20090033925A1. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2009-02-05.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US7872744B2. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2011-01-18.

Inspection apparatus, method for controlling same, and storage medium

Номер патента: US12107996B2. Автор: Masato Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20080063258A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Visual inspection apparatus having light source bank

Номер патента: EP2215512A1. Автор: Thomas W. Karpen,James J. Delmonico,Joshua Lynn Scott,Dennis W. McEnery,Joseph V. Lopez,Marjorie L. Buerkle. Владелец: GE Inspection Technologies LP. Дата публикации: 2010-08-11.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: EP4280585A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-22.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20230377130A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Hairpin type stator inspection apparatus and method for testing the same

Номер патента: US11711000B2. Автор: Seunghwan Lee. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Weld inspection apparatus

Номер патента: US12053842B2. Автор: Yasushi Kitani,Asato HARA,Syoma MURAKAMI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Charged particle beam inspection apparatus and charged particle beam inspection method

Номер патента: US20210202206A1. Автор: Hidekazu Takekoshi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

System and method for aligning electron beams in multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20230280293A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi,Xinan LUO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-07.

Visual inspection apparatus and visual inspection methods

Номер патента: US20240013370A1. Автор: Hiroshi Yamashita,Masahiro Ibe,Kojiro Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Photoresist inspection apparatus, photoresist inspection method using the same, and electron beam exposure apparatus

Номер патента: US20230042743A1. Автор: Johan Hofkens,Sukjong Bae,Haifeng Yuan,Flip de Jong. Владелец: Katholieke Universiteit Leuven. Дата публикации: 2023-02-09.

Inspecting apparatus based on hyperspectral imaging

Номер патента: US20200184624A1. Автор: Yu-Sin Yang,YASUHIRO Hidaka,Young-Kyu Park,Sung-Ho Jang,Ye-eun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335587A1. Автор: Yuichiro Hama,Nobuyuki Kurihara,Keisuke Fukuta. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method

Номер патента: US09874594B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US09651607B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US20150015297A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-15.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255444A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Hole Inspection Apparatus and Hole Inspection Method using the Same

Номер патента: US20090152461A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11761704B2. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Battery cell welded part inspection apparatus, and battery cell welded part inspection method using same

Номер патента: EP4414121A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Hyun Min Oh. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210010959A1. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US12072181B2. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240369356A1. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-07.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US12032012B1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: En Vigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US20240219446A1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: Envigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Secondary battery inspection apparatus and method

Номер патента: US20200350637A1. Автор: Kwangyong YOU,Sunggeun JI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-05.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Failure analysis method, apparatus, and program for semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20100241374A1. Автор: Masafumi Nikaido. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11940485B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Shigeru Kasai,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349846A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: EP2002473A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-17.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: WO2007114642A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-10-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11977038B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11971370B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349841A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349843A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927554B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11921059B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349845A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349844A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method using the same

Номер патента: US20230197402A1. Автор: Suyoung LEE,Janghee Lee,Chungsam Jun,Jonghyuk KANG,Yujin Cho,Inhye Park,Hongche Noh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Charged particle beam lithography apparatus, inspection apparatus and inspection method of pattern writing data

Номер патента: US20130264478A1. Автор: Yasuo Kato,Shigehiro Hara,Akihito Anpo,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2013-10-10.

Inspection apparatus and inspection method for light emitting device

Номер патента: US20130050691A1. Автор: Syu JIMBO,Norie Yamaguchi,Keita KOYAHARA. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US20220043055A1. Автор: Hiroyuki Nakayama,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Sample inspection apparatus, sample inspection method, and sample inspection system

Номер патента: EP1936363A2. Автор: Hidetoshi Nishiyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-06-25.

Cleaning method in inspection apparatus, and the inspection apparatus

Номер патента: US20200286728A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Semiconductor device inspection apparatus, semiconductor device inspection method, program thereof, semiconductor apparatus, and manufacturing method therefor

Номер патента: US20190064248A1. Автор: Akira Kano,Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US20150123694A1. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US9379029B2. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-06-28.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US11978195B2. Автор: Keisuke Chiba,Ryoji Yoshikawa,Masato Naka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and control method for inspection apparatus

Номер патента: EP3940403A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090058446A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

X-ray inspection apparatus and method of inspection with x-rays

Номер патента: US20230384247A1. Автор: Tsuneo Sato,Kazuya Iwata,Satoshi Matsubara,Toshiyuki Takahara,Yuta Seki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Inspection apparatus and control method for inspection apparatus

Номер патента: US11874319B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Wafer inspecting method, wafer inspecting instrument, and electron beam apparatus

Номер патента: EP1273907A1. Автор: Toshifumi Kimba,Kenji Watanabe,Tsutomu Karimata,Muneki Hamashima,Mamoru Nakasuji,Masahiro Hatakeyama,Mutsumi Saito,Nobuharu Noji,Tohru Satake,Hirosi Sobukawa,Shoji Yoshikawa,Shin Oowada. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2003-01-08.

Inspection apparatus and cleaning method of inspection apparatus

Номер патента: US11181573B2. Автор: Tomoya Endo,Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-11-23.

Degree-of-dispersion inspecting apparatus for particles of electricity storage material in electricity storage device

Номер патента: US20150199808A1. Автор: Takashi Matsuura,Koji Nishi,Yukihiro Komatsubara. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2015-07-16.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240265839A1. Автор: Jinyoung Kim,Kyungwoon Jang,Changjoon LEE,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daesuck HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-08.

Semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20080238456A1. Автор: Hideo Kamahori. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Thin film transistor array inspection apparatus

Номер патента: US20050139771A1. Автор: Daisuke Imai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-06-30.

Semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09778311B2. Автор: Kentaro Ikeda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Semiconductor inspection apparatus, semiconductor inspection system including the same, and semiconductor inspection method using the same

Номер патента: US20230197485A1. Автор: Jin Hee Han,Soonkyu HWANG,Jinyeol Yang,Haegu LEE,Jae-Min Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Solar photovoltaic system inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20170310276A1. Автор: Kosuke Morita,Akihiko Sano,Tsuyoshi Takeuchi,Shuichi Misumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Inspection apparatus

Номер патента: US7791362B2. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

RAMAN SPECTRUM INSPECTION APPARATUS, AND SAMPLE SECURITY INSPECTING METHOD FOR RAMAN SPECTRUM INSPECTION

Номер патента: US20200319111A1. Автор: Wang Hongqiu,ZHANG Jianhong,LIU Haihui,Zuo Jiaqian. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-08.

Unevenness inspecting apparatus, image display apparatus, unevenness inspecting method, and image display method

Номер патента: KR20080004346A. Автор: 기치지 아자이. Владелец: 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤. Дата публикации: 2008-01-09.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210018367A1. Автор: KANAI Masashi,Oguchi Satoshi,KURI Ryohei. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Hino Makoto,KISHI Hidenobu. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2022-03-31.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190271593A1. Автор: KANAI Masashi,Oguchi Satoshi,KURI Ryohei. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3534151B1. Автор: Satoshi Oguchi,Masashi Kanai,Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-02-23.

Confocal optical inspection apparatus and confocal optical inspection method

Номер патента: US20140152797A1. Автор: Togashi Mitsuhiro,NUMATA Mitsunori,UEYAMA Shinji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-06-05.

HATCHING EGG INSPECTION APPARATUS AND HATCHING EGG INSPECTING METHOD

Номер патента: US20150308963A1. Автор: Yasuda Kenji,Ohashi Toyoaki,NAMBU Kunio,IGUCHI Hiroshige. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

Melt the surface defect inspection apparatus and surface defect inspection method of coated steel sheet

Номер патента: CN107533012A. Автор: 福井圭太,志贺骏介. Владелец: Nisshin Steel Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

MASK INSPECTION APPARATUS, SWITCHING METHOD, AND MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200182803A1. Автор: ISHIDA Takayuki,TAKEHISA Kiwamu,SENDODA Tetsuya. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

Reel-to-reel inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09671352B2. Автор: Suck-Ha WOO,Je-Youn JEE,Ki-Sang MOON. Владелец: Haesung DS Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Wafer surface inspection apparatus and wafer surface inspection method

Номер патента: US7420668B2. Автор: Kazuhiro Zama,Masayuki Hachiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-09-02.

Wafer surface inspection apparatus and wafer surface inspection method

Номер патента: US20070182957A1. Автор: Kazuhiro Zama,Masayuki Hachiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-09.

Mounted component inspection apparatus, component mounting machine comprising the mounted component inspection apparatus, and mounted component inspection method

Номер патента: US20100189340A1. Автор: Yoichiro Ueda. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-07-29.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Leak inspection method and leak inspection apparatus

Номер патента: US12046783B2. Автор: Satoshi Oyama,Yutaka Ebato,Takaaki Mitsuoka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus, inspection method, inspection program, and assembled battery system

Номер патента: US12044746B2. Автор: Daisuke Konishi,Kazuyuki Kawamoto,Jun Ikemoto,Hayato Tawa. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US09885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US20140311223A1. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US9885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Connector inspection apparatus

Номер патента: US20020186021A1. Автор: Takao Fujita,Akira Nishino. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-12.

Charge Protocol Inspection Apparatus and Operating Method Thereof

Номер патента: US20240353497A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Roller, spot inspection method and apparatus, coiled-material conveying method and apparatus, and device and medium

Номер патента: EP4397610A1. Автор: Ping Jiang,Zhipeng Zhang,Hongyuan LI,Yuyang Mao. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20210325528A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Sample Inspection Apparatus, Inspection System, Thin Piece Sample Fabrication Apparatus, and Method for Inspecting Sample

Номер патента: US20240128047A1. Автор: Norio Sato,Masahiro Yoshida,Junichi Fuse,Hirotsugu KAJIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Roller, inspection method and apparatus, coil conveying method and apparatus, device and medium

Номер патента: US20240166460A1. Автор: Ping Jiang,Zhipeng Zhang,Hongyuan LI,Yuyang Mao. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection method and inspection apparatus using electron beam

Номер патента: US20040026633A1. Автор: Ryuichi Funatsu,Mari Nozoe,Yasuhiro Gunji,Yoshikazu Inada,Kenjirou Yamamoto,Taku Ninomya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Circuit pattern inspection apparatus, management system including circuit pattern inspection apparatus, and circuit pattern inspection method

Номер патента: JP5396061B2. Автор: 弘之高橋,康弘郡司,博一伊藤. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: EP3361231A1. Автор: Satoshi Uchida,Yoshikazu Wakizaka,Eiko Kato,Takaharu Enjoji,Masayo TAKANO. Владелец: Afi Corp. Дата публикации: 2018-08-15.

Substrate inspection apparatus, substrate processing apparatus, substrate inspection method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20230197480A1. Автор: Masato Hosaka,Tadashi Nishiyama,Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

X-RAY INSPECTION APPARATUS AND X-RAY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Takahashi Haruo,TATSUMI Masaki,YAGI Isao. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-10.

Printed matter inspection apparatus and printed matter inspection method

Номер патента: EP3493146A4. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-06-05.

Optical fiber inspection apparatus and optical fiber inspection method using the same

Номер патента: KR102555715B1. Автор: 이용수,이강인,김상인,정예지,정민완. Владелец: 한화에어로스페이스 주식회사. Дата публикации: 2023-07-13.

Semiconductor package inspection apparatus and semiconductor package inspection method

Номер патента: KR20230094087A. Автор: 최영훈,박종성,정창부. Владелец: 세메스 주식회사. Дата публикации: 2023-06-27.

Optical fiber inspection apparatus and optical fiber inspection method using the same

Номер патента: KR20220124938A. Автор: 이용수,이강인,김재인,김상인,정예지,정민완. Владелец: 주식회사 한화. Дата публикации: 2022-09-14.

Appearance inspection apparatus, surface processing system, appearance inspection method, program and method for determining replacement of projecting material

Номер патента: TW201808536A. Автор: 寺岡成憲. Владелец: 斯庫林集團股份有限公司. Дата публикации: 2018-03-16.

Surface inspection apparatus for case, and surface inspection method using the same

Номер патента: KR100957130B1. Автор: 오주환,김문룡. Владелец: 주식회사 와이즈드림. Дата публикации: 2010-05-11.

Surface condition inspection device, exposure apparatus, and surface condition inspection method

Номер патента: JP3101290B2. Автор: 道生河野. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2000-10-23.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20210148837A1. Автор: Akihiro Takeda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20230366838A1. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20170356859A1. Автор: Yuji Umemoto,Shinji Sugita,Takako Onishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US12106532B2. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240265523A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Image inspection apparatus, printing system, and image inspection method

Номер патента: US20240340380A1. Автор: Kazuhiro Ijichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-10.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US20230070196A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Image forming apparatus, inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240004591A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210140898A1. Автор: Tsutomu SAKUYAMA,Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Nano projection structure inspection apparatus and nano projection structure inspection method

Номер патента: US11815467B2. Автор: Tsuyoshi Asano,Yuki Sato,Syoichi TSUCHIYA,Masataka Asai,Masahiro UCHIMURA,Nozomi TATEYAMA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130222004A1. Автор: Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2013-08-29.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US11961222B2. Автор: Taehyun Kim,Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang,BongSuk Kim. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219315A1. Автор: LEI Tian,HAO WANG,Seungbeom Park,Hojun Lee,Myungjun Lee,Junho SHIN,Jiabei Zhu,Wookrae Kim,Jangwoon SUNG. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2024-07-04.

Portable visual inspection apparatus and method for inspecting article

Номер патента: US12072296B2. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou,Sonny O Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Panel inspecting apparatus and method

Номер патента: US09759665B2. Автор: Jin-woo Ahn,Hyeong-min Ahn,Tae-Yong Jo,Myoung-Ki Ahn,Tae-hyoung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240302292A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-12.

Panel inspection apparatus and method

Номер патента: US09810640B2. Автор: Chao-Yi Yeh,Chih Yuan Liu,Pin-Chuan SU,Shang-Iun YANG. Владелец: Cheng Mei Instrument Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Image inspection method and inspection region setting method

Номер патента: US09892504B2. Автор: Anh Nguyen,Yasuyo Kotake,Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Apparatus and method for inspection of substrate defect

Номер патента: US09678020B2. Автор: Yu-Sin Yang,Ji-Young Shin,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun,Joon-Seo SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-13.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Optical inspection apparatus, optical inspection method, and non-transitory storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US20240319104A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Optical inspection method, optical inspection program, and optical inspection apparatus

Номер патента: EP4435412A1. Автор: Yoshiaki Takagi,Hiroki Ohno,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Akifumi Ohno,Sayuri SUZUKI,Hiroya Kano,Chisa Hirakawa. Владелец: Toshiba Information Systems Japan Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Optical inspection method, non-transitory storage medium, and optical inspection apparatus

Номер патента: US20240319078A1. Автор: Hiroshi Ohno,Yoshiaki Takagi,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Akifumi Ohno,Sayuri SUZUKI,Hiroya Kano,Chisa Hirakawa. Владелец: Toshiba Information Systems Japan Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

High-resolution terahertz wave concentration module, scattered light detection module, and high-resolution inspection apparatus using terahertz bessel beam

Номер патента: US20210140823A1. Автор: Sung-Wook Choi,Gyeong-sik Ok,Hyun-Joo Chang. Владелец: Korea Food Research Institute KFRI. Дата публикации: 2021-05-13.

Inspection apparatus

Номер патента: US20240255437A1. Автор: Akifumi Sangu,Jaemin SON,Se-Kwang Han,Hyeran Ko. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Article inspection apparatus

Номер патента: US20230035626A1. Автор: Takashi Suzuki,Eiji Taniguchi,Shigeo Arai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A3. Автор: Yoram Koren,Stephen B Segall. Владелец: Stephen B Segall. Дата публикации: 2005-07-07.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A2. Автор: Yoram Koren,Stephen B. Segall. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF MICHIGAN. Дата публикации: 2005-01-20.

Adjustment method of inspection apparatus focus position, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20240280500A1. Автор: Ryoichi Hirano,Yasuhiro Yamashita,Toshiaki OTAKI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Medicine package inspection apparatus

Номер патента: US09731909B2. Автор: Jun Ho Kim. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Surface inspection apparatus

Номер патента: US20220291137A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-09-15.

Inspection apparatus

Номер патента: US20170268925A1. Автор: Hiroyuki Hotta. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Remote inspection apparatus for heating tube of steam generator

Номер патента: US09819842B2. Автор: Sung Ho Park,Kyung Sub Kim,Hong Seok Ryu,Jang Myong WOO. Владелец: Korea Plant Service and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Service method, service system and manufacturing / inspection apparatus

Номер патента: US20040260660A1. Автор: Hiroyoshi Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US20240035986A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hiroki Morii,Takahiro Fujioka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Macro inspection apparatus and microscopic inspection method

Номер патента: US20090147248A1. Автор: Mitsuru Uda,Atsushi Kohayase. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: CA3158695C. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc. Дата публикации: 2023-07-18.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: WO2021097558A1. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc.. Дата публикации: 2021-05-27.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: AU2020387044A1. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc. Дата публикации: 2022-07-14.

Inspection apparatus, coordinate detection apparatus, coordinate detection method, and wavefront aberration correction method

Номер патента: US09786057B2. Автор: Masafumi Shinoda,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240192142A1. Автор: Tae-Jin Hwang,Seonghyeon CHEON,Jaemin SON,Se-Kwang Han. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Portable Visual Inspection Apparatus And Method for Inspecting Article

Номер патента: US20220341852A1. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Matthew ORLOWSKI,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Photomask inspection apparatus and method of inspecting photomask using the same

Номер патента: US20240044741A1. Автор: Tae Joon Kim,Jeongmin Park,Chanhyeong Cho,Hyeonguk Yeo,Juil KIM,Daehoon Min. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection device, inspection method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: EP3943922A1. Автор: Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-01-26.

Apparatus and methods of inspecting a wire segment

Номер патента: US11933736B2. Автор: Brian J. Tillotson,Robert Paul Higgins,Andrej Martin Savol. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection apparatus and inspection method for display device

Номер патента: US20230123595A1. Автор: Sangjun SEOK,Namhyuk Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and carrier means

Номер патента: EP3974816A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Apparatus and Method for 3D Surface Inspection

Номер патента: US20180195971A1. Автор: Fan Wang,Pengli Zhang. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device, inspection method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: EP3951369A1. Автор: Keiko Inoue. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210164914A1. Автор: Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20230175978A1. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hisaaki Kanai,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US12013349B2. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-18.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09880196B2. Автор: Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Signal inspection apparatus, signal inspection system, signal inspection method, and non-transitory computer-readable medium encoded with signal inspection program

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Shouhei MIYASHITA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method

Номер патента: WO2014174852A1. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-30.

POWER THEFT INSPECTION APPARATUS AND POWER THEFT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150035558A1. Автор: TAWARAGI Yuji. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-05.

ELECTRON BEAM INSPECTION APPARATUS AND ELECTRON BEAM INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220270845A1. Автор: NAGAO Takuro. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2022-08-25.

Optical element inspection apparatus and optical element inspection method

Номер патента: JP3931605B2. Автор: 雅志北林,雄二 ▲高▼戸. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-06-20.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US11270866B2. Автор: Atsushi Ando,Takahiro Murata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-03-08.

Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method

Номер патента: US20190162756A1. Автор: Masato Utsumi. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Sensing unit, nozzle inspecting apparatus having thereof and nozzle inspecting method

Номер патента: KR101998965B1. Автор: 강종훈. Владелец: 주식회사 포스코. Дата публикации: 2019-07-10.

Sensing unit, nozzle inspecting apparatus having thereof and nozzle inspecting method

Номер патента: KR20190049282A. Автор: 강종훈. Владелец: 주식회사 포스코. Дата публикации: 2019-05-09.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US12090754B2. Автор: Dae Sung Kim,Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Visual inspection apparatus, visual inspection method, image generation apparatus, and image generation method

Номер патента: US20240153066A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hideaki Onozuka,Takateru Seki,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection method, x-ray inspection program, and x-ray inspection system

Номер патента: EP2365320A3. Автор: Kiyoshi Murakami,Hironori Kasahara. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2014-03-05.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: US20230306586A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: WO2019010087A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-01-10.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: EP3649463A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-05-13.

Foreign matter or abnormal unsmoothness inspection apparatus and foreign matter or abnormal unsmoothness inspection method

Номер патента: US7629577B2. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Defect inspection method

Номер патента: US20240265524A1. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09495736B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

AI-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US12087421B2. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Image inspecting apparatus, image inspecting method and image inspecting program

Номер патента: US20190272630A1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Inspecting apparatus, peeling apparatus, and learned model generating method

Номер патента: US20230075359A1. Автор: Yuta Mizumoto. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Surface inspection method and surface inspection apparatus

Номер патента: US20130194568A1. Автор: Teruyoshi Shimizu,Motonobu HATSUDA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2013-08-01.

Wafer surface defect inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12044631B2. Автор: Chia-Chi Tsai,I-Ching Li,Shang-Chi WANG,Miao-Pei Chen,Han-Zong Wu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection method and inspection apparatus for performing the same

Номер патента: US20230194437A1. Автор: Alexander Voronov,Kihun KIM,Jekil Ryu,Jooseob Ahn,Hyeongmin Ahn,Hyeonsuk Guak. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230030308A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20240276103A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Optical inspection method, optical inspection program, processing device, and optical inspection apparatus

Номер патента: EP4249897A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-27.

Inspection apparatus and methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09958791B2. Автор: Markus Gerardus Martinus Maria Van Kraaij,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Stefan Hunsche. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-01.

Appearance inspecting device, welding system, shape data correcting method, and welding location appearance inspecting method

Номер патента: EP4455645A1. Автор: Masashi Yoshida,Toru Sakai,Michio Sakurai,Daichi Higashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Tire appearance inspection apparatus

Номер патента: US09710904B2. Автор: Yoshitaka Fujisawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Method of manufacturing organic el display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US20160247734A1. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-08-25.

Defect inspection method and apparatus therefor

Номер патента: US09897555B2. Автор: Junichi Matsumoto. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Inspection apparatus

Номер патента: US09599844B2. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection method, inspection apparatus and method of production of semiconductor device using them

Номер патента: US5936726A. Автор: Kazuo Takeda,Atsushi Hiraiwa,Hidetsugu Ishida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-08-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8699017B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8462327B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8169606B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-01.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20120194808A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Object inspection apparatus and object inspection method using same

Номер патента: US11908123B2. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Choung Min JUNG,Han Rim KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-20.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20200160496A1. Автор: Hiroteru Akiyama,Kazuhiro Nakashima,Manabu Isobe,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

Jig for inspection apparatus, inspection apparatus, and inspection set

Номер патента: US11921151B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230258606A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: US5090804A. Автор: Andrew K. Wong,Mohamed S. Kamel,John T. King. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-25.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: CA1295707C. Автор: John Thomas King,Mohamed Salem Kamel,Andrew Ka-Ching Wong. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-11.

Transfer apparatus for inspection apparatus, inspection apparatus, and object inspection method using same

Номер патента: US11867747B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-01-09.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: EP4250704A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-27.

Visual inspection apparatus and method of inspecting display panel using the visual inspection apparatus

Номер патента: US7602959B2. Автор: Min-young Won,In-Cheol Song,Il-Ho Lee,Chan-Hyang Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-13.

Defect inspection method

Номер патента: US11995817B2. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335588A1. Автор: Di He. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Inspection method of electrical part, inspection apparatus of electric junction box and inspection apparatus of terminal fittings

Номер патента: US7006681B2. Автор: Tatsuya Maeda,Shigenori Miyawaki. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2006-02-28.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: WO2022183338A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems (Suzhou) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-09-09.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: EP4302070A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11815493B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US20150220809A1. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Inspection apparatus, control method, and program

Номер патента: US11906441B2. Автор: Kyota Higa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection device, inspection method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: EP3943921A1. Автор: Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-01-26.

Euv photomask inspection apparatus

Номер патента: US20230194845A1. Автор: Changhoon Choi,Taejoong Kim,Jihoon Na,Garam CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Automated optical double-sided inspection apparatus

Номер патента: US20230213457A1. Автор: Yu-Hsien Lin,Shih-Kai FAN,Yee Siang GAN,Sze-Teng LIONG,Che-Ming LI. Владелец: FENG CHIA UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-06.

Roll object inspection apparatus

Номер патента: US10775161B2. Автор: Akinori TADOKORO. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-09-15.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US20080162065A1. Автор: Hirokazu Ito,Masayoshi Takeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-07-03.

Roll object inspection apparatus

Номер патента: US20180347972A1. Автор: Akinori TADOKORO. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-12-06.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: US20240142386A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Surface inspection method and surface inspection apparatus

Номер патента: MY182409A. Автор: HATSUDA Motonobu,SHIMIZU Teruyoshi. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2021-01-25.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20210407068A1. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-12-30.

Product-inspection apparatus, product-inspection method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11972555B2. Автор: Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US11074683B2. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-07-27.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20200111199A1. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-04-09.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240046449A1. Автор: Takashi Watanabe,Toshiyuki Ono,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Product-inspection apparatus, product-inspection method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20220148144A1. Автор: Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Wiring inspecting method, wiring inspecting apparatus, wiring inspecting program, and recording medium

Номер патента: US20140204199A1. Автор: Eiji Yamada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-07-24.

Appearance inspection method and appearance inspection apparatus

Номер патента: EP3789959A1. Автор: Kazuya Fujiwara. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2021-03-10.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US7242016B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-07-10.

Fluid inspection apparatus

Номер патента: GB2620475A. Автор: Patel Kavita,Singh Bath Charanjit. Владелец: Innovative Heating Solutions Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Graphic user interface for a three dimensional board inspection apparatus

Номер патента: US20160224718A1. Автор: Joongki JEONG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-08-04.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180180761A1. Автор: Hongqiu Wang,Guohua Wei,Yumin Yi,Hu Tang,Jianhong Zhang,Nei Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Semiconductor element inspection apparatus and semiconductor element inspection method

Номер патента: TWI595227B. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-08-11.

Mounted component inspection apparatus, component mounting machine comprising the mounted component inspection apparatus, and mounted component inspection method

Номер патента: CN101806858B. Автор: 上田阳一郎. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-27.

SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Motonaga Ikuo. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-18.

Pattern defect inspection apparatus and pattern defect inspection method

Номер патента: JP4351522B2. Автор: 松井　　繁,克弥鈴木. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-28.

Foreign matter inspection apparatus and foreign matter inspection method

Номер патента: JP5006005B2. Автор: 良雄番場,雅恭越智,茂久野澤. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-22.

Foreign matter inspection apparatus and foreign matter inspection method

Номер патента: US7589833B2. Автор: Masayuki Ochi,Yoshio BAMBA,Shigehisa NOZAWA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-09-15.

Reticle defect inspection apparatus and reticle defect inspection method

Номер патента: US20080239290A1. Автор: Toshiyuki Watanabe,Riki Ogawa. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2008-10-02.

Reticle defect inspection apparatus and reticle defect inspection method

Номер патента: US8355044B2. Автор: Toshiyuki Watanabe,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2013-01-15.

Food quality inspection apparatus and food quality inspection method

Номер патента: JPWO2011122584A1. Автор: 田村　守,守田村. Владелец: System Brain Co Ltd. Дата публикации: 2013-07-08.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Leak inspection apparatus of bottle and vision inspection method using the same

Номер патента: KR102386682B1. Автор: 박원재. Владелец: 피엔에스테크놀러지(주). Дата публикации: 2022-04-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09535108B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Methods for inspecting a turbine engine rotor thru bolt threads and associated thru bold rotor disc cavity and corresponding inspection apparatus

Номер патента: WO2015130871A1. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Joshua DeAscanis,James P. Williams,Clifford HATCHER JR.. Владелец: SIEMENS ENERGY, INC.. Дата публикации: 2015-09-03.

Insulation inspection method and insulation inspection apparatus

Номер патента: US09606162B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Power theft inspection apparatus and method, and recording medium

Номер патента: US09927468B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Inspection apparatus and component mounting system having the same

Номер патента: US12108536B2. Автор: Jeongyeob KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US12075537B2. Автор: Hiroaki Agawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US11709094B2. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US20210048339A1. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Circuit pattern detecting apparatus and circuit pattern inspecting method

Номер патента: US20030094938A1. Автор: Takayuki Yanagisawa. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-22.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Inspecting apparatus of lane departure warning system for vehicle

Номер патента: US09511712B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Pattern inspection apparatus and method

Номер патента: US8045785B2. Автор: Tadashi Kitamura,Masahiro Yamamoto,Kazufumi Kubota,Shinichi Nakazawa,Neeti Vohra,Toshiaki Hasebe. Владелец: NGR Inc. Дата публикации: 2011-10-25.

Circuit board inspecting apparatus

Номер патента: US12055580B2. Автор: Takashi Isa,Toshihide Matsukawa. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20110249108A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-10-13.

Apparatus and method for checking whether table is at tilt

Номер патента: US20180164095A1. Автор: Jong Won Kim,Yong Woo HAN. Владелец: Ismedia Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Inspection apparatus, inspection method, and inverter apparatus

Номер патента: US20190288596A1. Автор: Shinji Takakura,Shigen YASUNAKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Magnetic transfer apparatus and magnetic recording medium

Номер патента: MY131410A. Автор: Masaki Kondo,Mitsuo Kobayashi,Eiichi Fujisawa. Владелец: Fuji Elec Device Tech Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Can body inspection apparatus and method

Номер патента: US09885667B2. Автор: Masayuki Nakamura,Wataru Ookubo. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Shape inspecting device and shape inspecting method

Номер патента: EP3719442A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-10-07.

Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus

Номер патента: MY193069A. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co. Дата публикации: 2022-09-26.

Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus

Номер патента: CA3029218C. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US6977721B2. Автор: Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Cheng Yu Chen,Hsin Tan Chou,Kohachi Kawamura. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

Package readying and inspection apparatus

Номер патента: US5337138A. Автор: Akihiko Takeshita,Tetsuji Masai,Kenichi Inada. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US20040085531A1. Автор: CHENG Chen,Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Kohachi Kawamura,Hsin Chou. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Inspection apparatus for sheet

Номер патента: US20140077101A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2014-03-20.

Pinhole inspection apparatus for can bodies

Номер патента: US09702828B2. Автор: Tomoki Seo,Yasuhiro KOUJI,Yuuma ISHII. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20110058160A1. Автор: Xiaodi Tan. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-03-10.

Magnetic head inspection apparatus and magnetic head inspection method

Номер патента: US20130135769A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-05-30.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20180238818A1. Автор: Kenichi Inoue,Masayuki Inaba,Hiroyasu YAMASAKI. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2018-08-23.

X-ray inspection apparatus and X-ray inspection method

Номер патента: US10024807B2. Автор: Tsutomu Yamakawa,Masashi Yamazaki,Shuichiro Yamamoto. Владелец: Job Corp. Дата публикации: 2018-07-17.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: EP3364175A1. Автор: Kenichi Inoue,Masayuki Inaba,Hiroyasu YAMASAKI. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2018-08-22.

ELECTRON BEAM INSPECTION APPARATUS AND ELECTRON BEAM INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180024082A1. Автор: Ando Atsushi. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2018-01-25.

X-RAY INSPECTION APPARATUS AND X-RAY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180292332A1. Автор: Yamazaki Masashi,YAMAKAWA Tsutomu,Yamamoto Shuichiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-11.

X-RAY INSPECTION APPARATUS AND X-RAY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160349192A1. Автор: Yamazaki Masashi,YAMAKAWA Tsutomu,Yamamoto Shuichiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

X-RAY INSPECTION APPARATUS AND X-RAY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170356859A1. Автор: SUGITA SHINJI,Onishi Takako,UMEMOTO Yuji. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2017-12-14.

Magnetic Body Inspection Apparatus and Magnetic Body Inspection Method

Номер патента: US20190360965A1. Автор: IIJIMA Kenji. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-28.

Sealing status inspecting apparatus and sealing status inspecting method

Номер патента: WO2007072729A1. Автор: Shigehiro Kinoshita. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2007-06-28.

X-ray inspecting apparatus and X-ray inspecting method

Номер патента: US8391581B2. Автор: Yasushi Sasaki,Noriyuki Kato,Masayuki Masuda,Shinji Sugita,Tsuyoshi Matsunami. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2013-03-05.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: KR20160009046A. Автор: 츠토무 야마카와,슈이치로 야마모토,마사시 야마자키. Владелец: 가부시키가이샤 죠부. Дата публикации: 2016-01-25.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20110243299A1. Автор: Noriyuki Kato,Masayuki Masuda,Shinji Sugita,Tsuyoshi Matsunami. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2011-10-06.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20110222647A1. Автор: Kiyoshi Murakami,Masayuki Masuda,Shinji Sugita. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2011-09-15.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: KR101278920B1. Автор: 아츠시 마츠다,고타 스즈키,요시하루 후지이,가오루 오타,쇼사쿠 나카타,겐 오카무라. Владелец: 가부시키가이샤 츄부 메디칼. Дата публикации: 2013-06-26.

Piezocomposite damage detecting sensor, non-destructive inspection apparatus and non-destructive inspection method

Номер патента: KR102310053B1. Автор: 조정호. Владелец: 한국세라믹기술원. Дата публикации: 2021-10-08.

X-ray inspecting apparatus, x-ray thin film inspecting method and rocking curve measurement method

Номер патента: TWI755409B. Автор: 尾形潔,表和彥,吉原正,伊藤義泰,本野寬,高橋秀明,杵渕隆男,樋口明房,梅垣志朗,淺野繁松,山口僚太郎,洞田克隆,神戶亮,立財姜,鮑里斯韋爾曼. Владелец: 日商理學股份有限公司. Дата публикации: 2022-02-21.

Pressure-resistance inspection apparatus for valves and its inspection method, and hydrogen gas detection unit

Номер патента: US20190302045A1. Автор: Naoki Kira,Takeshi Uematsu. Владелец: Kitz Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Inspection apparatus, apparatus and method for manufacturing plate-like object, and method for manufacturing plate-like object

Номер патента: CN112074726A. Автор: 安江健造. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-11.

Printed image inspecting apparatus and printed image inspecting method

Номер патента: US20150002887A1. Автор: Toshihiro Sato,Shiro Koike,Atsushi Imamura,Tomotaka KATO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Printed image inspection apparatus and printed image inspection method

Номер патента: EP2810782B1. Автор: Toshihiro Sato,Shiro Koike,Atsushi Imamura,Tomotaka KATO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-13.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection method, and program

Номер патента: US20210067649A1. Автор: Ryousuke Okajima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-03-04.

Product identity digital identification apparatus, inspection apparatus, product and anti-counterfeiting inspection method

Номер патента: EP2474936A4. Автор: Kaisheng Li. Владелец: SHENZHEN JOINL TECHNOLOGY CO Ltd. Дата публикации: 2013-01-02.

Product identity digital identification apparatus, inspection apparatus, product and anti-fake inspection method

Номер патента: CN101504715A. Автор: 李开盛. Владелец: JOINL TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-12.

Image defect inspecting apparatus and image defect inspecting method

Номер патента: CN1297943C. Автор: 安川薰,中川英悟,足立康二,山田纪一,上床弘毅,里永哲一. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-31.

Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting system having the same apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: US6038018A. Автор: Motosuke Miyoshi,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-03-14.

PROBE POSITION INSPECTION APPARATUS, SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170102410A1. Автор: Okada Akira,NOGUCHI Takaya,TAKESAKO Norihiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2017-04-13.

SIGNAL INSPECTION APPARATUS, SIGNAL INSPECTION SYSTEM, SIGNAL INSPECTION METHOD, AND NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE MEDIUM ENCODED WITH SIGNAL INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Miyashita Shouhei. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-24.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140043051A1. Автор: IWATSU Haruo,FUJISAWA Yoshinori. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-02-13.

ELECTRON BEAM INSPECTION APPARATUS AND ELECTRON BEAM INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210142978A1. Автор: Ando Atsushi,Murata Takahiro. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2021-05-13.

CIRCUIT PATTERN INSPECTION APPARATUS AND CIRCUIT PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130082177A1. Автор: Hiroi Takashi,Nozoe Mari,Yamamoto Takuma,Nojiri Masaaki,Okamura Mitsuru. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-04.

PHOTO DEVICE INSPECTION APPARATUS AND PHOTO DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150015297A1. Автор: ITO Akira,NAKANISHI Hidetoshi,TONOUCHI Masayoshi,KAWAYAMA Iwao. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

MULTIFUNCTIONAL SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS AND MULTIFUNCTIONAL SUBSTRATE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190162756A1. Автор: UTSUMI Masato. Владелец: WIT CO., LTD.. Дата публикации: 2019-05-30.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170205442A1. Автор: Okada Akira,AKIYAMA Hajime. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2017-07-20.

ELECTRON BEAM INSPECTION APPARATUS AND ELECTRON BEAM INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180261424A1. Автор: Tsuchiya Hideo. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2018-09-13.

SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190271734A1. Автор: MATSUMOTO Toru,SHIMASE Akira. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2019-09-05.

CIRCUIT BOARD INSPECTING APPARATUS AND CIRCUIT BOARD INSPECTING METHOD

Номер патента: US20150346268A1. Автор: Yamashita Munehiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-03.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: JP3235594B2. Автор: 雅仁中野. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-12-04.

Inspection apparatus and magnetic sensor inspection method

Номер патента: JP2023072501A. Автор: 啓平林,司也渡部,Hiroshi Hirabayashi,Moriya Watabe. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2023-05-24.

Display panel inspection apparatus and display panel inspection method

Номер патента: JPWO2012108262A1. Автор: 吉弘西村. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-07-03.

Metal element inspection apparatus and metal element inspection method

Номер патента: JP4003974B2. Автор: 博明黒田,英一郎村松. Владелец: JATCO Ltd. Дата публикации: 2007-11-07.

Exterior inspection apparatus for workpieces and exterior inspection method

Номер патента: KR100537803B1. Автор: 하라다쿠야,이시이도루,이토다케시. Владелец: 야마하 파인 테크 가부시키가이샤. Дата публикации: 2005-12-19.

EVALUATION APPARATUS AND PROBE POSITION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170199225A1. Автор: Okada Akira,NOGUCHI Takaya,TAKESAKO Norihiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2017-07-13.

Blood purification apparatus and liquid leakage inspection method thereof

Номер патента: JPWO2012017959A1. Автор: 智洋古橋,和也坂本. Владелец: Nikkiso Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-03.

Distribution conduction check apparatus and distribution conduction inspection method

Номер патента: CN102754101B. Автор: 佐佐木宪明,望月保弘,大石弘太. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2015-08-12.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US20150062570A1. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection program for disk-shaped graduation plate

Номер патента: US20240212126A1. Автор: Masaoki Yamagata,Jota Miyakura,Hiroaki Kawata,Kasumi Kondo. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US09922415B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hiroteru Akiyama,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Inspection methods and apparatuses for liquids

Номер патента: US09746404B2. Автор: Rui Fan,Hongqiu Wang,Yumin Yi,Huacheng Feng. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09557277B2. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090073430A1. Автор: Osamu Iwase. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: US20010035951A1. Автор: Hisashi Isozaki,Hiroshi Yoshikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20120140211A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-07.

Inspection apparatus and method based on coherent diffraction imaging (cdi)

Номер патента: US20210164919A1. Автор: Seungbeom Park,Myungjun Lee,Taewan Kim,Jaehwang Jung,Kyungwon Yun,Jaehyeon Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Inspection apparatus and adjusting method

Номер патента: US09885670B2. Автор: Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Hole inspection method and apparatus

Номер патента: US09874436B2. Автор: Victor Vertoprakhov,Tian Poh Yew. Владелец: VISIONXTREME PTE LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: WO2000009271A1. Автор: Steven A. Bresnahan,Kenneth A. Welchman,Henry J. Conaty, Jr.. Владелец: ACUSHNET COMPANY. Дата публикации: 2000-02-24.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: US20030090659A1. Автор: Henry Conaty,Steven Bresnahan,Kenneth Welchman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-15.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20140354799A1. Автор: Masafumi Asano,Tomoko Ojima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Tire appearance inspection apparatus and method

Номер патента: US09677879B2. Автор: Tomoyuki Kaneko,Akinobu Mizutani. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method

Номер патента: US09904181B2. Автор: Richard Quintanilha. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-02-27.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11175239B2. Автор: Akira Yabuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Apparatus and method for inspecting material of an object

Номер патента: US09897540B2. Автор: Ning Duan,Chao-Hung Ma,zhi-ling Chen,Shen-Kang Li. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Method for preparing focus-adjustment data for focusing lens system of optical defect-inspection apparatus, and focus adjustment wafer used in such method

Номер патента: US20070229811A1. Автор: Kenichi Sanada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20090244530A1. Автор: Susumu Iida,Shunsaku Kubota. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices

Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20200184631A1. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-06-11.

Solid Inspection Apparatus and Method of use

Номер патента: MY196658A. Автор: Dajun Yuan,M Shane Bowen,Joseph Francis PINTO,John Gerhardt Earney,Bala Murali K Venkatesan,Michael S Graige,Arthur Pitera. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Apparatus and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240077424A1. Автор: Hidong Kwak,Jeongho Ahn,Seulji SONG,Hyunwoo RYOO,Minji Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection apparatus

Номер патента: US20140320860A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Makoto Taya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2014-10-30.

Inspection apparatus

Номер патента: US09506872B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Inspection apparatus

Номер патента: US20130271754A1. Автор: Kazuo Takahashi,Hisashi Hatano,Nobuaki Hirose,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-17.

Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3276419A1. Автор: Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Sander Bas ROOBOL,Nan Lin. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-01-31.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: US7423745B2. Автор: Hideyuki Moribe,Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Hatching egg inspection apparatus

Номер патента: US20150138537A1. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Mitsuo Yamamoto,Shinichi Fujitani,Takatsugu Tahara,Toyoaki Ohashi. Владелец: YAMAMOTO CORP. Дата публикации: 2015-05-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US12036790B2. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Defect classifying method and optical inspection apparatus for silicon carbide substrate

Номер патента: US09551672B2. Автор: Yoshihiro Nakano,Hirokazu Seki,Masamichi Shinoda,Toshiyuki TODOROKI,Makoto TORIZAWA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060098863A1. Автор: SHINJI Ueyama,Akio Ishikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-11.

Inspection apparatus for detecting defects in transparent substrates

Номер патента: EP1599722A2. Автор: Jason Hiltner,Kevin Gahagan. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2005-11-30.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US9134253B2. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-15.

Inner surface image inspection apparatus

Номер патента: US20210157121A1. Автор: Masatoshi Numatsu. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Euv collector inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230108698A1. Автор: Matsuda Yozo,Minseok Choi,Dohyun Jung,Jeonggil KIM,Yoojin JEONG,Donghyub Lee,JongBin PARK,Eunhee Jeang,Wondon Joo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus

Номер патента: US20070201019A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Mamoru Kobayashi,Yoshio Morishige,Hideki Fukushima,Eiji Imai,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-30.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Apparatus

Номер патента: US20100271627A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Kenji Aiko,Minori Noguchi,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Imaging and inspection of plugged honeycomb body

Номер патента: US11761908B2. Автор: Xiaotian Zou,Joshua Adam Jamison,Julie Marie Daugherty,Russel Wayne Madara,Duane Otis Sellers,Eric Daniel Treacy. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Method and apparatus for inspecting image, image forming apparatus, and computer-readable recording medium storing image inspecting program

Номер патента: US20110273732A1. Автор: Hitoshi Itoh,Keiji Kojima,Fumihiro Nakashige. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-10.

Defect inspecting apparatus and defect inspecting method

Номер патента: US20130208270A1. Автор: Hideki Fukushima,Nobuaki Hirose. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Pipe outer surface inspection apparatus

Номер патента: CA2906711A1. Автор: Rick R. Kimpel, Jr.,Randall L. Perkins,Bryan KARASEK. Владелец: COMMERCIAL COATING SERVICES INTERNATIONAL LLC. Дата публикации: 2014-09-18.

Calibration Method, Inspection Method and Apparatus, Lithographic Apparatus, and Lithographic Processing Cell

Номер патента: US20110292365A1. Автор: Hugo Augustinus Joseph Cramer,Maurits van der Schaar. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-12-01.

Optical inspection device and optical inspection method

Номер патента: EP4317968A1. Автор: Takashi Ono,Masahiro Ihara,Satoshi Matsuoka,Hiromasa Maruno,Yusuke KOGA,Eri MATSUTANI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Optical inspection device and optical inspection method

Номер патента: US20230417662A1. Автор: Takashi Ono,Masahiro Ihara,Satoshi Matsuoka,Hiromasa Maruno,Yusuke KOGA,Eri MATSUTANI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Inspection apparatus for a packaging machine and packaging machine having an inspection apparatus

Номер патента: WO2024008474A1. Автор: Stefano FLORE,Stefano Rossi,Antonio Melandri,Paolo Scarabelli,Massimo Viola,Giorgio PICCININI. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus, ptp packaging machine, and inspection method

Номер патента: EP3767279A1. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Inspection apparatus, linearly movable beam displacer, and method

Номер патента: WO2023165823A1. Автор: Ferry Zijp,Douglas C. CAPPELLI,Bram Antonius Gerardus LOMANS,Bastiaan Lambertus Wilhelmus Marinus VAN DE VEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-09-07.

Extended reach inspection apparatus

Номер патента: US09939411B2. Автор: Gary E. Georgeson,Jeffrey R. Kollgaard,Nathan R. Smith,Paul S. Rutherford. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-04-10.

Focus monitoring arrangement and inspection apparatus including such an arrangement

Номер патента: US09921489B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-03-20.

Optical inspecting apparatus

Номер патента: US09746430B2. Автор: Chang-Hoon Choi,Byeong-Hwan Jeon,Tae-Joong Kim,Young-Kyu Park,Ki-Jung Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-29.

Apparatus and method for non-destructive inspection

Номер патента: CA2411224C. Автор: Shogo Tanaka. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2008-01-15.

Inspection apparatus, inspection method, and inspection system

Номер патента: EP3499211A3. Автор: Takashi Matsuyama,Ikue TAKAGI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200250467A1. Автор: Eiji Matsumoto,Masaya Takeda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

Inspection apparatus for a packaging machine and packaging machine having an inspection apparatus

Номер патента: EP4303573A1. Автор: Stefano FLORE,Stefano Rossi,Antonio Melandri,Paolo Scarabelli,Massimo Viola,Giorgio PICCININI. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2024-01-10.

Inspection apparatus

Номер патента: US8264679B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20110063621A1. Автор: Yusaku Konno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Defect inspection apparatus, sensitivity calibration method for the same, substrate for defect detection sensitivity calibration, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070035725A1. Автор: Naohiro Takahashi,Tamihide Yasumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-02-15.

Portable terahertz security inspection apparatus

Номер патента: US11733422B2. Автор: MENG CHEN,Ziran Zhao,Yingxin Wang,Xuming MA. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Inspection apparatus and method for calibrating inspection apparatus

Номер патента: US20240029236A1. Автор: Shingo Mori,Masakazu Umehara,Naoya Kishimoto. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Stand-alone inspection apparatus for use in a manufacturing facility

Номер патента: US11879751B2. Автор: Sam Hoff,Raj Sohmshetty,Scott Mayberry,Vikas Rajendra. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2024-01-23.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: EP3916342A1. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-12-01.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255445A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection apparatus, sensing apparatus, sensitivity control apparatus, inspection method, and program with pixel sensitivity control

Номер патента: US11448586B2. Автор: Hiroshi Mori,Yoshihiro Murakami,Masatoshi Takashima. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-09-20.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180038808A1. Автор: DONG Lin,Hong Wang,Bin Hu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Jin Cui,Xianshun Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Nondestructive inspection apparatus and inspection system of structure

Номер патента: US09746435B2. Автор: Yoshinori Ogawa,Michinobu Mizumura,Koichi Kajiyama. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

X-ray inspection apparatus and inspection method of x-ray sensor unit

Номер патента: EP4435418A1. Автор: Keisuke Yoshida,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Sensor chip breaking strength inspection apparatus and sensor chip breaking strength inspection method

Номер патента: US20070137310A1. Автор: Yuichi Sakai,Munehito Kumagai,Yoshitatsu Kawama,Yasuyuki Nakaoka,Hideki Yabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240248055A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP4396568A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310302A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4431927A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310301A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection apparatus and methods for precision vibration-isolation tabletops

Номер патента: GB2587498A. Автор: B V Moutafis Alexander,Owens Robitaille Luc. Владелец: Technical Manufacturing Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Portable inspection apparatus for X-ray tomography

Номер патента: US8031833B2. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-10-04.

Mobile back scattering imaging security inspection apparatus and method

Номер патента: US09846257B2. Автор: Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Xiao Tang,Guangwei Ding. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US12050302B2. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline by means of a superconducting magnet

Номер патента: WO2013098729A1. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Alessandro BAILINI. Владелец: ENI S.P.A.. Дата публикации: 2013-07-04.

Apparatus and method

Номер патента: GB2606534A. Автор: Aretos Anastasios,David Hall Liam,Conner Mclean Calum. Владелец: Nsonify Ltd. Дата публикации: 2022-11-16.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline

Номер патента: US09733216B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Aldo Canova. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-08-15.

Inspection apparatus, unit selection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium storing an inspection program

Номер патента: US20230222645A1. Автор: Yutaka Kato,Masashi Kurita,Yuki Hasegawa,Yuki HANZAWA,Sakon Yamamoto,Shigenori NAGAE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Vial grabber inspection apparatus

Номер патента: US20210325416A1. Автор: Mitchell Olin Setzer, SR.,Mitchell Olin Setzer, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-21.

Ultrasonic inspection method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US11630085B2. Автор: Sou Kitazawa,Kazuya Ehara,Junichiro Naganuma,Yasuhiro NIDAIRA. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2023-04-18.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection method for bearing part and inspection apparatus for bearing part

Номер патента: US09702834B2. Автор: Toshihiko Sasaki,Kazuhiro Yagita,Takumi Fujita,Youichi Maruyama. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Electrical characteristic parameter inspection apparatus, electrical characteristic parameter inspection method, and storage medium

Номер патента: US20230314355A1. Автор: Makoto Takada,Masaru Fuse,Junichi Jono. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-05.

X-ray inspection apparatus with sensitivity correction unit and corresponding sensitivity correction method

Номер патента: EP4435416A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3201565A1. Автор: Liam Hall. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-08-09.

Pipe inner surface inspection apparatus

Номер патента: US20110314918A1. Автор: Masayoshi Nakai,Seiichi Kawanami,Masaya Takatsugu,Masaharu Michihashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-29.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4434919A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Odor sniffing device and vehicle-mounted security inspection apparatus for container

Номер патента: US20230236093A1. Автор: Ge Li,Wei Wang,ZHENG Liang,Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Biao CAO,Weiping Zhu,Shengxi LIU,Nei Yang,Xiulin NI. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240068961A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Takashi Kanai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Inspection apparatus for thin film transistor substrate

Номер патента: US20060186335A1. Автор: Sergey Antonov,Hyeong-min Ahn,Ho-Seok Choi,Mi-Jeong Song,Jeong-su Ha,Lemiachine Vassili. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-24.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: EP3274095A1. Автор: Jung-ki MIN,Young-Goun Lee,Jong-Gun Lee,Hyun-ju Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-31.

Method of verifying the detection capability of an x-ray inspection apparatus

Номер патента: WO2024009278A1. Автор: Guido Mahnke,Benedikt HOFFMANN. Владелец: METTLER-TOLEDO, LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Inspection apparatus for a pressure vessel

Номер патента: US20230123853A1. Автор: Yong Joo Cho,Yong Ho Kim,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240183804A1. Автор: Osamu Kinoshita. Владелец: Jed Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4435417A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: US20240328561A1. Автор: Dong Kyu Kim,Jae Jun Kim,Kwang Hyun Yoo,Hong Seok Song,Dae Kwang KIM,Byung Taek Oh,Seung Ung YANG,Hui Ryoung YOO. Владелец: Korea Gas Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: CA2700220C. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20190212464A1. Автор: Noriaki Ikeda,Sachihiro NAKAGAWA. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240288592A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Non-destructive inspection apparatus for containers of liquid foodstuffs

Номер патента: WO2001096842A3. Автор: Marco Pipino. Владелец: Marco Pipino. Дата публикации: 2002-05-16.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319117A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4425220A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319118A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: US11841332B2. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-12-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230314362A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20180252656A1. Автор: Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

Radiographic inspection apparatus and method for inspecting target

Номер патента: GB2619858A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Radiation inspection apparatus and inspection method for object security inspection

Номер патента: CA2774605A1. Автор: MING Chen,Jianmin Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Lan Zhang,Xuewu Wang,Yumin Yi,Jinyu Zhang,Yongming Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-31.

Diesel fuel quality inspection apparatus and inspection method thereof

Номер патента: US20180073998A1. Автор: Jang-Hyun JUNG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-03-15.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2620045A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nutech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Nondestructive inspection method and apparatus for a surface processed by shot peening

Номер патента: US20080001609A1. Автор: Takashi Kojima,Shozo Ishibashi,Masao Kumagai,Kiyoshi Hoshikawa. Владелец: Fuji Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2008-01-03.

X-ray inspection apparatus and method of inspection with x-rays

Номер патента: US20230384246A1. Автор: Tsuneo Sato,Kazuya Iwata,Satoshi Matsubara,Toshiyuki Takahara,Yuta Seki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Particle inspection apparatus and method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US7388659B2. Автор: Yoichiro Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-17.

Sonic substrate crack inspecting method, sonic substrate crack inspection apparatus, and solar battery module manufacturing method using the sonic substrate crack inspecting method

Номер патента: EP1548430A1. Автор: Yoshikazu Kawagoe,Katsuyuki Yagi,Hiroshi Kanishi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2005-06-29.

Nondestructive inspection method and apparatus comprising a neutron source and a gamma-ray detection device for determining a depth of a target component in an inspection target

Номер патента: US11841335B2. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2023-12-12.

Sound inspection apparatus and sound inspection method

Номер патента: US20230266277A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Inspection apparatus for osseointegration of implants

Номер патента: US20180064517A1. Автор: Min-Chun Pan,Jhao-Ming Yu,Chin-Sung Chen,Shih-Yao Wang,Shiou-Bair Lin. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2018-03-08.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: CA2849139C. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: Alstom Technology AG. Дата публикации: 2016-06-07.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2619661A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-13.

Surface characteristics inspection method and surface characteristics inspection apparatus for steel product

Номер патента: US20180209939A1. Автор: Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-07-26.

Inspection apparatus for osseointegration of implants

Номер патента: US10390919B2. Автор: Min-Chun Pan,Jhao-Ming Yu,Chin-Sung Chen,Shih-Yao Wang,Shiou-Bair Lin. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2019-08-27.

Steam turbine inlet sleeve inspection apparatus and method

Номер патента: EP1322952A2. Автор: James A. Bauer,George F. Dailey,Michael J. Metala,Charles C. Moore. Владелец: Siemens Westinghouse Power Corp. Дата публикации: 2003-07-02.

Nondestructive inspection method and apparatus

Номер патента: EP3779419A1. Автор: Yujiro Ikeda,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2021-02-17.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240192151A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: EP4206098A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3764088A3. Автор: Atsushi Iwai,Futoshi Yurugi,Hiroaki Maki,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

X-Ray Transmission Inspection Apparatus

Номер патента: US20150276626A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-01.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: AU2022291598A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: AU2022291598B2. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230273169A1. Автор: Akio Imai,Akioki Nakamori,Kiyuki NOTO,Koichi Shimotori. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Protective device and laser raman safety inspection apparatus comprising the same

Номер патента: US09997266B2. Автор: Lin Yang,LI ZHANG,Hongqiu Wang,Yumin Yi,Jianhong Zhang,Huacheng Feng,Shixin Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

X-ray transmission inspection apparatus

Номер патента: US09863896B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Radiation inspecting apparatus

Номер патента: US09606072B2. Автор: Yoshihiro Ueno,Yusuke TAGAWA,Hiroshi Oohara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Non-destructive inspection apparatus having an ergonomic grip and associated method

Номер патента: CA2792703C. Автор: James W. Fonda,Christopher S. Huskamp. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-10-09.

Release mechanism for high-magnetization magnetic inspection apparatus for use in inspecting storage tank bottoms

Номер патента: US5514956A. Автор: Bruce W. Maxfield,Pamela C. Fitzgerald. Владелец: Industrial Sensors and Actuators. Дата публикации: 1996-05-07.

Inspection apparatus and methods for precision vibration-isolation tabletops

Номер патента: US11898926B2. Автор: Alexander B. V. Moutafis,Luc Owens Robitaille. Владелец: Technical Manufacturing Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Dual function non-destructive inspection apparatus and method

Номер патента: US20200003734A1. Автор: Daniel J. Wright,James J. Troy,Scott W. Lea,Gary Ernest Georgeson. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-01-02.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11790513B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240151661A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method using the same

Номер патента: US20240192154A1. Автор: Sungeun Lee,Sewon Kim,Jeongho Ahn,Kwangeun KIM,Huisoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Remote environment inspection apparatus and method

Номер патента: CA2815623C. Автор: Andreas Boenisch. Владелец: Innospection Group Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: GB2616274A. Автор: CHENG QIN,Roeton Adrian,Whyman Stuart. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Portable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography

Номер патента: US20110026670A1. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-02-03.

Linear-scan ultrasonic inspection apparatus and linear-scan ultrasonic inspection method

Номер патента: US20190064120A1. Автор: Masaru Otsuka,Azusa Sugawara,Setsu Yamamoto,Jun Semboshi,Kentaro Tsuchihashi. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: US20230280287A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349879A1. Автор: Yuichi Masuda,Masahito Yahata,Akioki Nakamori,Kazuma Maeda,Tatsuya Kataoka,Nobuhiro NAMIKAWA,Tatsuya IWAMA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus

Номер патента: AU2022291582B2. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Surface inspection apparatus

Номер патента: CA1228136A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1987-10-13.

Apparatus and method for nondestructive inspection

Номер патента: CA2743588C. Автор: Kunihiko Shinoda,Hidetaka Hattori,Hideki Horizono,Shigeyuki Matsubara,Masayuki Kanemasu,Hirotoshi Hujigaki,Susumu Ryuuou. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Directional-deviation correction device and method for mobile-type radiation inspection apparatus

Номер патента: GB2610515A. Автор: HU YU,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,MENG Defang,WANG Yongming,GAO Yuxia,RAN Zhansen,Jiang Ruixin,Yu Yanwei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-08.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: EP4239322A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Rapid prototype integrated matrix ultrasonic transducer array inspection apparatus, systems, and methods

Номер патента: US7430913B2. Автор: Dennis P. Sarr. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2008-10-07.

Inspection apparatus for gas sensor

Номер патента: US10520468B2. Автор: Naoya Saito,Kazuki TAKEGAWA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

Inspection apparatus for gas sensor

Номер патента: US20170284960A1. Автор: Naoya Saito,Kazuki TAKEGAWA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2017-10-05.

Inspection system, design apparatus, and inspection method that generate correct answer data with design apparatus for production printing

Номер патента: US11470205B1. Автор: Taku Matsuo. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing device

Номер патента: US20240262116A1. Автор: Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Management and control system for an inspection apparatus

Номер патента: US12067701B2. Автор: Nadav Leshem,Edo Reshef. Владелец: Inspect Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20240289944A1. Автор: Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09898814B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US10578847B2. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-03.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US20170343783A1. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Inspection apparatus that notifies an inspection result of a book in accordance with a sheet inspection result, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US12137195B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-05.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230281796A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Overprinting inspection apparatus and non-transitory computer readable medium storing overprinting inspection program

Номер патента: US12086482B2. Автор: Kodai Suzuki. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-09-10.

Imaging inspection apparatus for setting one or more image-capturing positions on a line that connects two taught positions, control device thereof, and method of controlling imaging inspection apparatus

Номер патента: US09774827B2. Автор: Hideki Tanaka,Kazuhiko Kojima,Hiroaki Kitatsuji. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Inspection system to register image data in inspection apparatus and execution of an inspection job, printing apparatus, method for controlling inspection system

Номер патента: US11838455B2. Автор: Hideshi Ichimi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240015251A1. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12058290B2. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230239412A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Wafer position status inspection apparatus

Номер патента: US12101559B2. Автор: Daisuke Sasaki,Yu-Hsin Liu,Cheng-Hsiang Lu. Владелец: Jun Fu Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240106935A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4346196A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

Print system, printing apparatus, method of controlling the printing apparatus, and storage medium

Номер патента: US11947853B2. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Image inspection apparatus, image recording apparatus, and image inspection method

Номер патента: US20130057886A1. Автор: Takuya Yasuda. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-07.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20240114096A1. Автор: Takeshi Okada,Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection system, inspection apparatus, and method for controlling the inspection apparatus

Номер патента: US20210397386A1. Автор: Kimio Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection apparatus, control method thereof, inspection system, and storage medium

Номер патента: US11829669B2. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Image inspection apparatus and image forming apparatus using reading result of incident light reflected from target both via and not via light guide member

Номер патента: US10999450B2. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-05-04.

Inspection apparatus, control method thereof, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20230122294A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection system, inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: EP4262182A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-18.

Image inspection apparatus and image forming apparatus

Номер патента: US20200389559A1. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-12-10.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US20160275664A1. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-22.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US20140079293A1. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-20.

Inspection apparatus, inspection system, control method for inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20230064686A1. Автор: Toru Shinnae. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: US20230273755A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US20210398262A1. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US11830181B2. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection apparatus, image reading apparatus, image forming apparatus, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200009860A1. Автор: Takuji Kamada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Inspection apparatus that coverts a result of sheet inspection into an inspection result of each book including a plurality of sheets, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US11812000B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Inspection apparatus, image forming system, inspection program, and inspection method

Номер патента: US11941305B2. Автор: Shoichi Ayukawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-26.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US20240031504A1. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection apparatus

Номер патента: US09607305B2. Автор: Takahisa Nakano,Tsutomu Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Inspection system, inspection apparatus, control method of inspection system, and control method of inspection apparatus

Номер патента: US20230328186A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230401695A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: EP4095800A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-30.

Malware inspection apparatus and malware inspection method

Номер патента: US20190207952A1. Автор: Toru Shimanaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-07-04.

Visual workpiece inspection apparatus and visual workpiece inspection method

Номер патента: MY167683A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,MOCHIZUKI Hiroyuki,Goto Tasuku. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-21.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: US09623513B2. Автор: Hiroaki Kishi,Atsushi Kawakita,Shuhei Ogura,Yuta IWAMOTO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US8917903B2. Автор: Shinji Yamakawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-23.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20130136314A1. Автор: Shinji Yamakawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-30.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US8936342B2. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-20.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US20130208042A1. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Wafer and dut inspection apparatus and method using thereof

Номер патента: US20180158647A1. Автор: Bao-Hua Niu,Jung-Hsiang Chuang,David Hung-I Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09859096B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210405089A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Method of determination, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US20130245979A1. Автор: Hiroya Kakimoto. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2013-09-19.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09728373B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Номер патента: US20160225300A1. Автор: Chae-Han Hyun,Young-Taeg Jung,Jung-Hun Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Behavior inspection apparatus and behavior inspection method for extensible flexible pipe joint

Номер патента: US20180045499A1. Автор: Yuji Noda,Shintaro Ikeda,Isamu Funakoshi. Владелец: Victaulic Company of Japan Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Panel inspection apparatus and display panel

Номер патента: US09633588B2. Автор: Qibiao LV,Jehao Hsu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Optical article inspection apparatus and method

Номер патента: EP4423474A1. Автор: Willard BEAMER,Forrest Blackburn,Neil Murphy,Joshua Hazle,Adam CHOROS,Laura ASKEW-CRAWFORD. Владелец: Transitions Optical Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240175915A1. Автор: Suyoung LEE,Jinwoo Lee,Chungsam Jun,Hyeongcheol Lee,Sekye Jeon,Jongcheon Sun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-30.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US12007523B2. Автор: Jian Wu,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Enhanced roadway mark locator, inspection apparatus, and marker

Номер патента: US09784843B2. Автор: Matthew W. Smith,William R. Haller,Douglas D. DOLINAR,Charles C. Stahl. Владелец: Limn Tech LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: EP4341660A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Nuovo Pignone Technologie Srl. Дата публикации: 2024-03-27.

Inspection apparatus, and abnormality detection method

Номер патента: US09702754B2. Автор: Satoshi Sone. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: EP3622263A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-03-18.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: WO2018209048A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2018-11-15.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US20170112314A1. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-27.

Wavefront analysis inspection apparatus and method

Номер патента: EP2403396A1. Автор: Elie Meimoun. Владелец: Meimoun Elie. Дата публикации: 2012-01-11.

Apparatus and methods for gauging parts

Номер патента: US09835431B1. Автор: LIN Huang,Adam Li,Anthony Freakes,Franklin W Agramonte Andujar,Ivan P Nieves Hernandez,Marcelino Montoya Ruiz,Carlos C Reyes. Владелец: Connecting Products Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP3942590A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-01-26.

Rotary member inspection method and rotary member inspection apparatus

Номер патента: US20230408352A1. Автор: Masazumi MIYAGO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

A portable inspection apparatus

Номер патента: EP2802864A1. Автор: Ko Khee Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-19.

Punch pin hole inspection apparatus and method using punch and die

Номер патента: US12042976B2. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230260104A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Mask inspecting apparatus

Номер патента: US20040004195A1. Автор: Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2004-01-08.

Pr-containing scintillator single crystal, method of manufacturing the same, radiation detector, and inspection apparatus

Номер патента: US09834858B2. Автор: Tsuguo Fukuda,Kenji Aoki,Akira Yoshikawa,Kei Kamada,Hiraku Ogino. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Crankshaft shape inspection method, arithmetic unit, program, and shape inspection apparatus

Номер патента: US20240144504A1. Автор: Shinya Ikeda,Kousuke Sakai,Yoshito Isei,Yuki USUTANI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Radiation failure inspecting method and radiation failure inspecting apparatus

Номер патента: US20120211664A1. Автор: Mikito Nakajima. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Inspection jig and circuit board inspection apparatus including the same

Номер патента: US12055579B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US20200395191A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US11189459B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-30.

Inspection apparatus for thermo-hygrometer based on phase change and methods for controlling and inspecting the same

Номер патента: US09846262B2. Автор: Jong Cheol Kim,Sang Wook Lee,Yong-Gyoo Kim,Byung Il Choi,Sang Bong WOO. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: US11719744B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Inspection method and apparatus using nuclear magnetic resonance

Номер патента: US5754047A. Автор: Yo Taniguchi,Etsuji Yamamoto,Hiroyuki Itagaki,Yukari Onodera. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 1998-05-19.

Body drying and inspection apparatus

Номер патента: US09775474B2. Автор: Ernesto Holguin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection jig and inspection apparatus

Номер патента: US11768226B2. Автор: Kohei Tsumura,Takanori Furukawa,Jyun YAMANOUCHI. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2014167838A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

Construction inspection method, apparatus, and system

Номер патента: US20240104714A1. Автор: Lan Jiang,Qi Wang,Quan Gan. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200064374A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Inspection apparatus and method adapted to a scanning technique employing a rolling wire probe

Номер патента: US20030006757A1. Автор: Tak Eun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-09.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Electronic device inspection apparatus

Номер патента: US12123906B2. Автор: Masafumi Takeda,Yasuhiro Yamauchi,Yohei Mikami,Tetsuhiro Fukao,Motoyoshi Koyanagi,Kazuya ITOSE. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Method for determining set value of pressure for inspection in wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689916B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Substrate inspection apparatus

Номер патента: US09678107B2. Автор: Shingo Morita,Michio Murata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Inspection method, inspection apparatus, and plasma processing apparatus

Номер патента: US20210296091A1. Автор: Chishio Koshimizu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20160054366A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2016-02-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20170243716A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240255563A1. Автор: Kyungwoon Jang,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daeseok HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Probe guide plate and semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09829509B2. Автор: Yuichiro Shimizu,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA2821100C. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Distortion inspecting apparatus and distortion inspecting method

Номер патента: US20100182423A1. Автор: Kikuhito Kawasue. Владелец: University of Miyazaki NUC. Дата публикации: 2010-07-22.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230105201A1. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US20190054425A1. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10569228B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10118132B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-11-06.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: US20240280442A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-08-22.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US11841381B2. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Apparatus and method for the drilling and inspecting of holes

Номер патента: US4753555A. Автор: Douglas Thompson,David A. Yousko. Владелец: Yousko David A. Дата публикации: 1988-06-28.

Device inspection apparatus and device inspection method

Номер патента: US20240192257A1. Автор: Shinya Kurebayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Circuit pattern inspection instrument and pattern inspection method

Номер патента: US20060055413A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka,Hiroshi Hamori. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-16.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US11788892B2. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US20220090967A1. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: EP3970980A2. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US20230408338A1. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US20030028836A1. Автор: Jaime Maeda,Agemilson Da Silva,Fabio Cabral,Luis Pinheiro,Odiletil Silva,Cesar Peres. Владелец: Sony da Amazonia Ltda. Дата публикации: 2003-02-06.

Baggage inspection apparatus and method for determining the presence of explosives

Номер патента: CA1207835A. Автор: Armando De Los Santos,James D. King,William L. Rollwitz,George A. Matzkanin,Phillip A. Hornung. Владелец: Southwest Research Institute SwRI. Дата публикации: 1986-07-15.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: US20180328722A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2018-11-15.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: CA3218543A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-24.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: AU2022275971A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Nuovo Pignone Technologie Srl. Дата публикации: 2023-11-30.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US20120165686A1. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp Japan. Дата публикации: 2012-06-28.

Sample inspection apparatus

Номер патента: US20060255290A1. Автор: Daniel Turner,Santokh Bhadare,Ian Barkshire. Владелец: Oxford Instruments Analytical Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Inspection apparatus

Номер патента: US20080108503A1. Автор: Masahito Yoshizawa,Takayuki Simizu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2008-05-08.

Belt inspecting apparatus

Номер патента: US20090147249A1. Автор: Ryo Obara,Hiroki Tahira. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US20140364729A1. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US09696402B2. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US12142453B2. Автор: Qian Zhang,Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-12.

Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof

Номер патента: US6148097A. Автор: Atsushi Kida,Masayuki Sugiura,Masato Hara,Toshihiro Nakayama. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2000-11-14.

Electrical inspecting apparatus with ventilation system

Номер патента: US5910727A. Автор: Motohiro Kuji,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-06-08.

Millimeter wave security inspection apparatus and method for inspecting human or article

Номер патента: US20200249373A1. Автор: Ming Xu,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Yingkang Jin,Lingbo QIAO,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130321015A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933839B2. Автор: Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Sample Inspection Apparatus and Sample Inspection Method

Номер патента: US20080149848A1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Masahiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-06-26.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US9833093B2. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-12-05.

Semiconductor manufacturing-and-inspection system, and semiconductor device

Номер патента: US20020067182A1. Автор: Osamu Hashimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-06-06.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: US20140157069A1. Автор: Masami Nishizono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-06-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933667B2. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US20190325606A1. Автор: Shouta Takizawa,Yuusuke Oota. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2019-10-24.

Inspection apparatus

Номер патента: EP4227897A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210291295A1. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Inspection apparatus and method for hot glass containers

Номер патента: CA1051538A. Автор: James R. Sager. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1979-03-27.

Apparatus and method for insepecting cream solder printed on a substrate

Номер патента: WO2004012491A1. Автор: Takashi Katsuki,Minoru Murakami,Yuji Otake,Takahiro Fukagawa,Kimiyuki Yamasaki. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2004-02-05.

IMAGE INSPECTION APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE INSPECTION METHOD, AND IMAGE INSPECTION PROGRAM

Номер патента: US20130136315A1. Автор: Kawamoto Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-30.

Robot apparatus, inspection apparatus, inspection program, and inspection method

Номер патента: JP5799516B2. Автор: 浩一橋本,智博井上,橋本　浩一,井上　智博,高志南本. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-10-28.

Stereoscopic image inspection apparatus, stereoscopic image processing apparatus, and stereoscopic image inspection method

Номер патента: JP5493055B2. Автор: 健太郎松本,康伸小倉,悠樹丸山,裕樹小林. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170076516A1. Автор: Hakuta Keisuke,MORITA Nobuyoshi,Owada Toru,KAYASHIMA Makoto. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-16.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190180431A1. Автор: KANEKO Hitomi. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2019-06-13.

ENDOSCOPE INSPECTION SYSTEM, ENDOSCOPE INSPECTION APPARATUS, ENDOSCOPE PACKAGE, AND ENDOSCOPE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200322598A1. Автор: NIWA Hiroshi. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-08.

TFT substrate inspection apparatus and tft substrate inspection method

Номер патента: CN102667507A. Автор: 今井大辅. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2012-09-12.

MAGNETIC HEAD INSPECTION APPARATUS AND MAGNETIC HEAD INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130135769A1. Автор: Higa Kunihito,Sakurai Yoshihiro,YAMAMOTO Yukio. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-30.

PRINTED IMAGE INSPECTING APPARATUS AND PRINTED IMAGE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20150002887A1. Автор: Sato Toshihiro,Imamura Atsushi,KATO Tomotaka,Koike Shiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

Camera unit inspection apparatus and camera unit inspection method

Номер патента: JPWO2008084548A1. Автор: 芳紀飯島,明間野,秀穂三宅. Владелец: Pioneer FA Corp. Дата публикации: 2010-04-30.

APPEARANCE INSPECTING APPARATUS FOR ARTICLE AND APPEARANCE INSPECTING METHOD FOR ARTICLE USING THE SAME

Номер патента: US20190147575A1. Автор: LEE Bok Yeo. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2019-05-16.

INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND OPTICAL FIBER INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190379452A1. Автор: Miki Atsushi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2019-12-12.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Printing system, printing apparatus, inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US12081708B2. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Inspection apparatus that inspects image printed on sheet, and image inspection method

Номер патента: US20240357044A1. Автор: Itsuki Akizuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus that inspects image formed by image forming apparatus, and method for controlling image forming system

Номер патента: US20240354034A1. Автор: Ryosuke Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a rotor disc cavity inspection apparatus

Номер патента: US09670795B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus, image forming apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240275888A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Print system, inspection apparatus, method of controlling inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240311998A1. Автор: Shinya Suzuki,Yuki Nakatani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: US20240231713A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: EP4400961A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20220414833A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Magnetic characteristic inspecting apparatus and inspecting method using it

Номер патента: US20060132122A1. Автор: Ritsuro Orihashi,Masayoshi Takahashi,Masami Makuuchi,Shinji Homma. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-06-22.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US12125176B2. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09776695B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection program for disk-shaped graduation plate

Номер патента: US20240212129A1. Автор: Masaoki Yamagata,Jota Miyakura,Hiroaki Kawata,Kasumi Kondo. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Information processing method, information processing apparatus, computer-readable medium, and inspection system

Номер патента: US20240273460A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP2093611A3. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-27.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090207406A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-20.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20100273115A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Pattern inspection method and its apparatus

Номер патента: US20090169093A1. Автор: Shunji Maeda,Kaoru Sakai,Takafumi Okabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-02.

Underwater robotic venting and inspection system

Номер патента: US20120318187A1. Автор: Jamie Hogan,Steve Everett,Nicholas HARTMAN,Cyril Poissonnet,Jeff Condit,Dylan Mora,Brad Lafferty,Kyle Knight. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-20.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US09767547B2. Автор: Masaya Takeda,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Optical disk inspecting apparatus and method

Номер патента: US20100091626A1. Автор: Mitsumasa Kubo. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-15.

Inspection method and apparatus for piping

Номер патента: US20020090048A1. Автор: Fuminobu Takahashi,Masakazu Hisatsune,Makiko Miyauchi,Yuuichirou Mizumachi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-07-11.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20180293724A1. Автор: Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-10-11.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US09846928B2. Автор: Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Stereo x-ray inspection apparatus and method for forming three-dimensional image through volume reconstruction of image acquired from the same

Номер патента: US20120014506A1. Автор: Soon Yong Park,Seung Chan Oh,Nam Ho Lee,Seung Wook Lee,Young Gwan Hwang,Myung Kook Moon,Yong Chil Sec. Владелец: Korea Atomic Energy Research Institute KAERI. Дата публикации: 2012-01-19.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection system, image inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240165945A1. Автор: Kohta AOYAGI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Photomask inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US20240361684A1. Автор: Hsin-fu Tseng,Chien-Lin Chen,Chih-Wei Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Print inspection apparatus, print system, print inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240364820A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20210256677A1. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Mask inspection apparatus and image creation method

Номер патента: WO2010089954A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura,Toshimichi Iwai,Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: WO2023278715A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc.. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: CA3223326A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: EP4364034A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Photomask inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12072621B2. Автор: Hsin-fu Tseng,Chien-Lin Chen,Chih-Wei Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Pattern inspection method and apparatus using linear predictive model-based image correction technique

Номер патента: US20070064996A1. Автор: Yuichi Nakatani,Shinji Sugihara,Junji Oaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-22.

Software inspection apparatus

Номер патента: US20170364432A1. Автор: Masataka Nishi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US20210382396A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230004093A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus

Номер патента: US12124176B2. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspection apparatus for inspecting image on sheet and image forming system that inspects printed image on sheet

Номер патента: US20240357042A1. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Welded portion inspection apparatus of reactor pressure vessel

Номер патента: US20120051483A1. Автор: Satoshi Okada,Kenichi Otani,Ryosuke Kobayashi,Hidetaka Komuro,Yosuke Takatori. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Image forming system and inspection apparatus

Номер патента: US20230396716A1. Автор: Hiroyuki Eda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Aligning method for use in semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20190171328A1. Автор: Chien-Hung Chen,Yung-Chin LIU,Guan-Jhih Liou,Lin-Lin Chih. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Inspection apparatus, method of controlling the same, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20240029238A1. Автор: Masashi Oya,Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Inspection apparatus and inspection method for magnetic head or magnetic disk and inspection method for magnetic head

Номер патента: US20120075738A1. Автор: Toshiaki Suzuki,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa,Kazuhiko KISHIE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20110129239A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US8448932B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060159333A1. Автор: Akio Ishikawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-20.

Inspection apparatus capable of preventing lowering of position matching accuracy, method of controlling same, and storage medium

Номер патента: US11750747B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Image inspection method, image inspection apparatus, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20130250319A1. Автор: Hitomi Kaneko,Hiroyuki Kawamoto,Keiichi Miyamoto,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US8290242B2. Автор: Tadashi Mitsui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-10-16.

Image inspection apparatus that determines a line width of a test image, and image forming apparatus

Номер патента: US09762763B2. Автор: Toru Yamaguchi,Takahiro Kusunoki,Takashi Harashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-12.

Image inspection apparatus, image inspection method, and non-transitory computer-readable medium used for image inspection

Номер патента: US20200336605A1. Автор: Tetsu Kawasaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-22.

Image inspection apparatus, image inspection method, and non-transitory computer-readable medium for indicating areas to be inspected and areas exempt from inspection

Номер патента: US20220321705A1. Автор: Tetsu Kawasaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-10-06.

Inspection apparatus and method for inspecting a printed material

Номер патента: US11842094B2. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Image inspection apparatus, image inspection method, and non-transitory computer-readable medium used for image inspection

Номер патента: US20230344943A1. Автор: Tetsu Kawasaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-26.

Inspecting apparatus, robot apparatus, inspecting method, and inspecting program

Номер патента: US20130195345A1. Автор: Koichi Hashimoto,Tomohiro Inoue,Takashi NAMMOTO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-08-01.

Information management apparatus and information management program

Номер патента: US20220092533A1. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US11838454B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US20230336667A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Medical inspection apparatus and medical inspection system

Номер патента: US20180055360A1. Автор: Takashi Sakai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-03-01.

Inspection apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240070841A1. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Document relationship inspection apparatus, translation process apparatus, document relationship inspection method, translation process method, and document relationship inspection program

Номер патента: US20040243403A1. Автор: Toshiki Murata,Toshihiko Matsunaga,Mihoko Kitamura. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-12-02.

Inspection system, inspection apparatus, and method of controlling these

Номер патента: US20240078400A1. Автор: Yoshitaka Oba. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Outgoing email check system, check data providing apparatus, check data inspecting apparatus, and outgoing email check method

Номер патента: US8997183B2. Автор: Hiroshi Tsuda,Masayoshi Okamoto,Shinichi Mochizuki,Yoshinori Katayama,Fumihiko Kozakura,Kiyoshi Kurashige,Ryota Fukasawa,Aya Higashizono,Natsu Hashisaka. Владелец: Fujitsu Social Science Labs Ltd. Дата публикации: 2015-03-31.

Inspection apparatus for display substrate

Номер патента: US20140168577A1. Автор: Sujin Kim,Suk Choi,Heungshik Park,Hyeokjin Lee,Jihong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Image inspection apparatus

Номер патента: US10750032B2. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-18.

Automatic inspecting apparatus for precharge of data line in memory device

Номер патента: US5291451A. Автор: Young W. Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1994-03-01.

Display panel inspection apparatus

Номер патента: US09940883B2. Автор: Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Jong-Hee NA,Jun-Il PARK,Hyung-Woo Yim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Apparatus and method for inspecting surface state

Номер патента: US8615125B2. Автор: Shree Nayar,Daisuke Mitsumoto,Yasuhiro Ohnishi,Yasumoto Mori. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2013-12-24.

Defect inspection method and defect inspection apparatus

Номер патента: US20010055416A1. Автор: Kyoji Yamashita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Security inspection apparatus, security inspection method, and program

Номер патента: US20230134937A1. Автор: Kentaro Sonoda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-05-04.

Cutting tool inspection apparatus and method

Номер патента: US20240033874A1. Автор: Hiroshi Ishiyama,Kenichi Yamagata,Yoshinori Monaka. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Positioning means for circumferentially locating inspection apparatus in a nuclear reactor vessel

Номер патента: CA1090010A. Автор: David C. Burns. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1980-11-18.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20130148143A1. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170352140A1. Автор: Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-07.

Image inspection apparatus, image forming system, and image inspection method

Номер патента: US20150063889A1. Автор: Keiji Kojima. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240046450A1. Автор: Makoto Anno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Method of utilizing information on shape of frequency distribution of inspection result in a pattern inspection apparatus

Номер патента: US10354375B2. Автор: Yoshishige Sato. Владелец: NGR Inc. Дата публикации: 2019-07-16.

Inspection apparatus and printing apparatus

Номер патента: US20230256760A1. Автор: Akidi Yoshida. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus for inspecting patterns of a substrate

Номер патента: US20100008564A1. Автор: Michio Nakano,Koichi Hayakawa,Hiroshi Miyai,Masaaki Nojiri,Takako Fujisawa,Dai Fujii. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-01-14.

Network inspection apparatus, network inspection method, and storage medium

Номер патента: US20170163491A1. Автор: Toshio Tonouchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

Pattern inspection method and apparatus with high-accuracy pattern image correction capability

Номер патента: US20070064994A1. Автор: Junji Oaki,Nobuyuki Harabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-22.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20130136314A1. Автор: Shinji Yamakawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-30.

Print head inspection apparatus, printing apparatus, print head inspection method and program thereof

Номер патента: JP4935056B2. Автор: 誠治泉尾. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-05-23.

HATCHING EGG INSPECTION APPARATUS AND HATCHING EGG INSPECTING METHOD

Номер патента: US20160255820A1. Автор: Yasuda Kenji,Ohashi Toyoaki,NAMBU Kunio,IGUCHI Hiroshige. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-08.

LASER WELDING INSPECTION APPARATUS AND LASER WELDING INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150266131A1. Автор: Kawakita Atsushi,OGURA Shuhei,KISHI Hiroaki,IWAMOTO Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-24.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: JP6003934B2. Автор: 修平小倉,篤史川喜田,弘朗岸,雄太岩本. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-10-05.

In-pipe inspection apparatus and in-pipe inspection method

Номер патента: JP3816763B2. Автор: 耕司芦田,弘次藤原,郁司星野. Владелец: 住友金属パイプエンジ株式会社. Дата публикации: 2006-08-30.

Short-circuit inspection apparatus and short-circuit inspection method

Номер патента: JP6459850B2. Автор: 完江村,英世家藤. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS, SURFACE TREATMENT SYSTEM, APPEARANCE INSPECTION METHOD, PROGRAM AND SHOT MATERIAL REPLACEMENT DETERMINATION METHOD

Номер патента: US20190308300A1. Автор: TERAOKA Shigenori. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-10.

Refrigeration cycle apparatus and leakage inspection method for refrigerant piping of refrigeration cycle apparatus

Номер патента: US20240310098A1. Автор: Kaoru Matsushita,Kazushi Takeuchi,Junichi Wakasugi. Владелец: Toshiba Carrier Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Welding apparatus and welding quality inspection method

Номер патента: US20180099356A1. Автор: Masanori Miyagi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-04-12.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: EP2626210B1. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-03-25.

Refrigeration cycle device and leak inspection method for refrigerant pipe of refrigeration cycle device

Номер патента: EP4343234A1. Автор: Kaoru Matsushita,Kazushi Takeuchi,Junichi Wakasugi. Владелец: Toshiba Carrier Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

IMAGE RECORDING APPARATUS AND RECORDING DEFECT INSPECTION METHOD FOR SAME

Номер патента: US20130208042A1. Автор: UESHIMA Masashi. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2013-08-15.

WELDING APPARATUS AND WELDING QUALITY INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180099356A1. Автор: MIYAGI Masanori. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2018-04-12.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US20080309705A1. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US7963627B2. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US20100302295A1. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-02.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US8414100B2. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-04-09.

Inspection apparatus and method for inspecting a sheet in a press

Номер патента: EP3197615A1. Автор: Stefano Bergami,Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2017-08-02.

Ultrasound inspection apparatus, signal processing method for ultrasound inspection apparatus, and recording medium

Номер патента: US09907532B2. Автор: Tsuyoshi Tanabe,Noriaki Ida,Yasunori Ohta,Shin Nakata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Welding System, Welding Condition Calculation Apparatus,and Welding Condition Calculation Method

Номер патента: US20240100615A1. Автор: Seunghwan Park,Naoki Morihira,Makoto Ogata,Kazutoshi SUGIE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: WO2013001303A9. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus

Номер патента: US11975410B2. Автор: Koji Funami. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus

Номер патента: US20240261907A1. Автор: Koji Funami. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Leak resistance inspection apparatus for fuel element enclosures

Номер патента: RU2349976C1. Автор: Валерий Фёдорович Борисов,Сергей Александрович Гутов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2009-03-20.

Hose preparation apparatus and method therefor

Номер патента: US20010003860A1. Автор: Thomas R. Clark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US09982833B2. Автор: Jung Whan Yeum. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Can seam inspection apparatus

Номер патента: WO1993003864A1. Автор: Wun Cheul Chong. Владелец: Wun Cheul Chong. Дата публикации: 1993-03-04.

Phase compensated multiple moving head inspection apparatus

Номер патента: US3811553A. Автор: D Riggs. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1974-05-21.

Discharge Inspection Apparatus and Discharge Inspection Method

Номер патента: US20110084998A1. Автор: Shinya Komatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Workpiece inspection apparatus and inspection method

Номер патента: MY127007A. Автор: Kobayashi Kenji,Kikawa Kazuhiro. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: US20230356213A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Vascular endothelial function inspection apparatus

Номер патента: US09962094B2. Автор: Yoshinobu Ono,Tsuneo TAKAYANAGI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Single facer and inspection method therefor

Номер патента: US20150027617A1. Автор: Takahiro Yamada,Naoki Mori,Hisashi Hayashi. Владелец: Isowa KK. Дата публикации: 2015-01-29.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: CA3208450A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: EP4275792A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Image printing apparatus, printing result inspection apparatus, and printing result inspection method

Номер патента: JP4556563B2. Автор: 公彦佐々木,丈晴永井,敬一伊藤,賢治表木,耕田邊,理夫菊地. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-06.

Piping leak inspection apparatus and piping leak inspection method using this apparatus

Номер патента: JP2873175B2. Автор: 忠昭鈴木. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-03-24.

Film defect inspection apparatus, defect inspection system, defect inspection method, and method for manufacturing film having birefringence characteristics

Номер патента: JP4440485B2. Автор: 一弘下田,文男後藤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-03-24.

Номер патента: JP2014070973A. Автор: Hiroshi Yamaguchi,Shigehiro Takagi,山口　　広,Kazuhiro Hanazawa,和浩花澤,Yasunari Koga,泰成古賀,Junichi Yotsutsuji,淳一四辻,友彦伊藤,Junichi Saiki,Tomohiko Ito,重宏高城,順一齋木. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2014-04-21.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, RADIOLOGICAL IMAGING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001081A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308B. Автор: Hideo Ueno. Владелец: SANFREUND CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-02.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308A. Автор: Hideo Ueno. Владелец: Sanfreund Corp. Дата публикации: 2014-05-30.

Passenger conveyor handrail inspection apparatus, passenger conveyor handrail inspection method, and passenger conveyor handrail inspection program

Номер патента: SG185232A1. Автор: BABA Rika,Kodaira Norimi,Oonishi Tomoharu. Владелец: Hitachi Building Sys Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-29.

Bearing inspection apparatus

Номер патента: RU2343444C2. Автор: Александр Константинович Явленский,Алексей Александрович Мельников,Александр Антонович Белоусов,Тать на Николаевна Евдокимова,Татьяна Николаевна Евдокимова,нов Антон Александрович Севасть,Антон Александрович Севастьянов,Александр Исаакович Эльперин. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет кино и телевидения" ("СПбГУКиТ"). Дата публикации: 2009-01-10.

Inspection apparatus and inspection method

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты