Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Sample inspection apparatus

Номер патента: US20060255290A1
Опубликовано: 16-11-2006
Автор(ы): Daniel Turner, Ian Barkshire, Santokh Bhadare
Принадлежит: Oxford Instruments Analytical Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method and system for fine focusing secondary beam spots on detector for multi-beam inspection apparatus

Номер патента: WO2024013145A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Oleg Krupin,Xiaoyu JI,Zizhou GONG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-01-18.

Electron beam inspection apparatus

Номер патента: US20230113062A1. Автор: Atsushi Ando,Takahiro Murata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting system having the same apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: US6038018A. Автор: Motosuke Miyoshi,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-03-14.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US20200395191A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Multibeam inspection apparatus

Номер патента: US11189459B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-30.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908658B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20110249108A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-10-13.

Mask inspecting apparatus

Номер патента: US20040004195A1. Автор: Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2004-01-08.

Wafer and dut inspection apparatus and method using thereof

Номер патента: US20180158647A1. Автор: Bao-Hua Niu,Jung-Hsiang Chuang,David Hung-I Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Compact inspection apparatus comprising a combination of a Scanning Electron Microscope and an Optical microscope.

Номер патента: NL2013432B1. Автор: Andries Pieter Johan Effting Ir,Johannes Adriaan De Pinth Wilhelmus,De Swart Gijsbert. Владелец: Delmic B V. Дата публикации: 2016-09-28.

Compact inspection apparatus comprising a scanning electron microscope and an optical microscope

Номер патента: WO2016036250A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Wilhelmus Johannes Adriaan DE PINTH,Gijsbert DE SWART. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-03-10.

Charged particle beam inspection apparatus and method

Номер патента: WO2024132808A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI,Xuechen ZHU,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US11270866B2. Автор: Atsushi Ando,Takahiro Murata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-03-08.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Sample inspection apparatus, sample inspection method, and sample inspection system

Номер патента: EP1936363A2. Автор: Hidetoshi Nishiyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-06-25.

Sample Inspection Apparatus, Inspection System, Thin Piece Sample Fabrication Apparatus, and Method for Inspecting Sample

Номер патента: US20240128047A1. Автор: Norio Sato,Masahiro Yoshida,Junichi Fuse,Hirotsugu KAJIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: EP3734641A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-11-04.

Sample inspection device and sample inspection method

Номер патента: US20200080949A1. Автор: Atsushi Koizumi,Tomohiro Nishitani,Haruka Shikano. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2020-03-12.

Inspection apparatus

Номер патента: US09601302B2. Автор: Takeshi Murakami,Tsutomu Karimata,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US12072181B2. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240369356A1. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-07.

Multi-electron beam inspection apparatus and adjustment method for the same

Номер патента: US20230080062A1. Автор: Koichi Ishii,Kazuhiko Inoue,Toshikatsu Akiba,Shohei Mikami. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US20170315070A1. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210010959A1. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US10712295B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20080063258A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Thin film transistor array inspection apparatus

Номер патента: US20050139771A1. Автор: Daisuke Imai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2005-06-30.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US09869650B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09859096B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09728373B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US12142453B2. Автор: Qian Zhang,Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-12.

Pattern inspection apparatus and method

Номер патента: US8045785B2. Автор: Tadashi Kitamura,Masahiro Yamamoto,Kazufumi Kubota,Shinichi Nakazawa,Neeti Vohra,Toshiaki Hasebe. Владелец: NGR Inc. Дата публикации: 2011-10-25.

Multi-beam inspection apparatus with single-beam mode

Номер патента: WO2020200745A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Zhong-Wei Chen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2020-10-08.

System and method for aligning electron beams in multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20230280293A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi,Xinan LUO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-07.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method using the same

Номер патента: US20230197402A1. Автор: Suyoung LEE,Janghee Lee,Chungsam Jun,Jonghyuk KANG,Yujin Cho,Inhye Park,Hongche Noh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908657B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection method and inspection apparatus using electron beam

Номер патента: US20040026633A1. Автор: Ryuichi Funatsu,Mari Nozoe,Yasuhiro Gunji,Yoshikazu Inada,Kenjirou Yamamoto,Taku Ninomya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

Inspection apparatus

Номер патента: US20140319345A1. Автор: Yasushi Toma,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2014-10-30.

Semiconductor inspection apparatus, semiconductor inspection method, and recording medium

Номер патента: US20160169819A1. Автор: Satoshi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-06-16.

System and method for scanning a sample using multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20210217582A1. Автор: Joost Jeroen Ottens,Long Ma,Xuedong Liu,Weihua Yin,Youfei JIANG,Maria Johannes MAASSEN Martinus Gerardus,Wei-Te LI. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2021-07-15.

System and method for scanning a sample using multi-beam inspection apparatus

Номер патента: US20230274906A1. Автор: Joost Jeroen Ottens,Long Ma,Xuedong Liu,Weihua Yin,Youfei JIANG,Maria Johannes MAASSEN Martinus Gerardus,Wei-Te LI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection apparatus

Номер патента: US20220299456A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20220005666A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-01-06.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20200075287A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-03-05.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Foreign matter or abnormal unsmoothness inspection apparatus and foreign matter or abnormal unsmoothness inspection method

Номер патента: US7629577B2. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Inspection apparatus

Номер патента: US09728374B2. Автор: Shinji Yamaguchi,Takehide Hayashi,Masahiro Hatakeyama,Masato Naka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240369502A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Semiconductor manufacturing apparatus having a built-in inspection apparatus and a device manufacturing method using said manufacturing apparatus

Номер патента: US20040248329A1. Автор: Nobuharu Noji,Tohru Satake. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Inspection apparatus adjustment system and inspection apparatus adjustment method

Номер патента: US11898968B2. Автор: Yuko Sasaki,Taichi Maeda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Nondestructive inspection apparatus

Номер патента: US6600809B1. Автор: Yutaka Ochiai. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2003-07-29.

X-ray inspection apparatus and deterioration determination method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20220151050A1. Автор: Bunta MATSUHANA,Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927554B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11921059B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349846A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Panel inspection apparatus

Номер патента: US20030027479A1. Автор: Akira Sawamori. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-02-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11977038B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11971370B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349845A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349841A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349843A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349844A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Sem inspection apparatus and pattern matching method

Номер патента: US20190080445A1. Автор: Atsushi Onishi,Kazuhiro Nojima. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20230402249A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA,Toshinori Yamauchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Transfer/Inspection Apparatus and Transfer Apparatus

Номер патента: US20070273875A1. Автор: Fow-Lai Poh,Masahiro Yaguchi,Tamaya Ubukata. Владелец: Tsukuba Seiko Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Methods and apparatus for monitoring a manufacturing process, inspection apparatus, lithographic system, device manufacturing method

Номер патента: US11698346B2. Автор: Maurits van der Schaar,Murat BOZKURT,Alberto DA COSTA ASSAFRAO,Ioana Sorina Barbu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-11.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Light source apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US09696568B2. Автор: Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US20150115991A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US9671459B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus comprising a first imager imaging fluorescence having a wavelength longer than a first wavelength and a second imager imaging fluorescence having a wavelength shorter than a second wavelength and inspection method

Номер патента: US12072289B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US8670115B2. Автор: Yuji Miyoshi,Kazuhisa Hasumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240361244A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20130301041A1. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-14.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US12032012B1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: En Vigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3206020A3. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-08.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Foreign matter inspection apparatus, foreign matter inspection method, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20220291144A1. Автор: Yuichi Fujita,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-09-15.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US20240219446A1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: Envigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspecting apparatus, peeling apparatus, and learned model generating method

Номер патента: US20230075359A1. Автор: Yuta Mizumoto. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A3. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-07-17.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US20190054425A1. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Connector inspection apparatus

Номер патента: US20020186021A1. Автор: Takao Fujita,Akira Nishino. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10569228B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10118132B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-11-06.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255444A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Substrate inspection apparatus, method of calibrating the substrate inspection apparatus, and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20200182777A1. Автор: YOON Sung Bae,Young Hoon Sohn,Yu Sin YANG,Jang Ik PARK,Kwang Rak KIM,Tae Yong Jo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Particle beam inspection apparatus

Номер патента: US20240258138A1. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Edwin Cornelis KADIJK,Te-Yu Chen,Erheng WANG,Christianus VAN HEUMEN Martijn Petrus,Caspar VAN BANNING Dennis Herman,Henricus Maria JACOBS Johannes Andreas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-01.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for fabricating a semiconductor device using a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20240304501A1. Автор: Ki Hun Kim,Yong Ju Jeon,Jeong-su Ha,Jhong Kwon KIM,Da Young MYOUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Wafer image inspection apparatus

Номер патента: US09829441B2. Автор: SEGAL Ram,Tae Hoon Park. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Inspection apparatus for article storage facility

Номер патента: US09541534B2. Автор: Hiroshi Otsuka,Shinsuke Kawamura,Tadahiro YOSHIMOTO. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method using the same

Номер патента: US20180061041A1. Автор: Byeong Hwan Jeon,Tae Joong Kim,Jae Chol JOO,Jun Bum Park,Tae Heung AHN,Soo Ryonng Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US20220412898A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-12-29.

Punch pin hole inspection apparatus and method using punch and die

Номер патента: US12042976B2. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus, inspection method, inspection program, and assembled battery system

Номер патента: US12044746B2. Автор: Daisuke Konishi,Kazuyuki Kawamoto,Jun Ikemoto,Hayato Tawa. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus and reference image generation method

Номер патента: US20240257300A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240230933A9. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Leak inspection method and leak inspection apparatus

Номер патента: US12046783B2. Автор: Satoshi Oyama,Yutaka Ebato,Takaaki Mitsuoka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Degree-of-dispersion inspecting apparatus for particles of electricity storage material in electricity storage device

Номер патента: US20150199808A1. Автор: Takashi Matsuura,Koji Nishi,Yukihiro Komatsubara. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2015-07-16.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US20140311223A1. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US9885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20140168410A1. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Workpiece positioning mechanism and workpiece inspection apparatus

Номер патента: US12078673B1. Автор: Shohei Suzuki,Taichi Aranami. Владелец: Takaoka Toko Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Method for inspecting a semiconductor element and inspection apparatus for executing the same

Номер патента: US20220018789A1. Автор: Yueh-Heng Lee,Kuo-Ming Tseng. Владелец: V5 Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Wafer visual inspection apparatus and wafer visual inspection method

Номер патента: US20240257336A1. Автор: Tatsuya Osada. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240265839A1. Автор: Jinyoung Kim,Kyungwoon Jang,Changjoon LEE,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daesuck HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus

Номер патента: US7791362B2. Автор: Junichi Hagihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

Inspection apparatus of wafer

Номер патента: US20210366102A1. Автор: Namil Koo,Jimin CHOI,Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Taeheung AHN,Ikseon Jeon,Kwangjun Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-11-25.

Secondary battery inspection apparatus and method

Номер патента: US20200350637A1. Автор: Kwangyong YOU,Sunggeun JI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11761704B2. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20080238456A1. Автор: Hideo Kamahori. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Baffle inspection apparatus

Номер патента: US20240192071A1. Автор: Kuntack Lee,Jihwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Battery cell welded part inspection apparatus, and battery cell welded part inspection method using same

Номер патента: EP4414121A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Hyun Min Oh. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Charge Protocol Inspection Apparatus and Operating Method Thereof

Номер патента: US20240353497A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Semiconductor inspection apparatus, method of inspecting semiconductor wafer, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20240353351A1. Автор: Yasuhiro Kimura,Hirofumi OKI,Shinichiro Katsuki,Takuyo Nakamura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US12105029B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Plasma light source and inspection apparatus including the same

Номер патента: US09983144B2. Автор: KOHEI HASHIMOTO,Nobuyuki Kimura,Wook-Rae Kim,Byeong-Hwan Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-29.

Inspection apparatus and methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09958791B2. Автор: Markus Gerardus Martinus Maria Van Kraaij,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Stefan Hunsche. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-01.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US09885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: US09869715B2. Автор: Akira Yamaguchi,Takashi Ishimoto,Takenori Takahashi,Yuji Shigesawa,Takashi Motoyama. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09778311B2. Автор: Kentaro Ikeda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09759656B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US09519212B2. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Battery inspection apparatus

Номер патента: US09466861B2. Автор: Shinya Saitoh,Tsutomu Kawano,Tetsuo Harii,Sadanori Ishihara. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Substrate-holder inspection apparatus, plating apparatus including the same, and appearance inspection apparatus

Номер патента: WO2018008343A1. Автор: Masaaki Kimura,Toshio Yokoyama,Kunio Oishi,Jumpei Fujikata,Yoshitaka Mukaiyama. Владелец: EBARA CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-11.

Service method, service system and manufacturing / inspection apparatus

Номер патента: US20040260660A1. Автор: Hiroyoshi Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-23.

Substrate inspection apparatus and substrate treatment system including the same

Номер патента: US20240142389A1. Автор: Dong Min Park,Jeong Hoon Han,Jun Hyun LIM,Oh Yeol KWON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspecting Apparatus And Processing Apparatus Including The Same

Номер патента: MY195430A. Автор: SUGIYAMA Tomoaki,Kozai Hirohiko,MORIKAWA Naoki. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-01-20.

Light-source apparatus, inspection apparatus, and adjustment method

Номер патента: US20230417684A1. Автор: Jun Sakuma,Ryotaro MORI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20210325528A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240071795A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Battery inspection apparatus

Номер патента: US11977122B2. Автор: Chan-Hee Lee,Sun-Woo Lee,Chang-Sin YEO,Young-Seo KIM. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Sensitivity adjusting method for pattern inspection apparatus

Номер патента: US6740896B2. Автор: Yoshikazu Nagamura. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2004-05-25.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20190293570A1. Автор: Kenichi Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-09-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011919A1. Автор: Yoichi Karaki,Shinnosuke Ichikawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Welding inspection apparatus

Номер патента: CA3237559A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-11.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240133682A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Substrate inspecting apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240192144A1. Автор: Yong Jun Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using the same

Номер патента: US20240210293A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Inspection apparatus and cleaning method of inspection apparatus

Номер патента: US11181573B2. Автор: Tomoya Endo,Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-11-23.

Electrically conductive contact pin, inspection apparatus, and molded product

Номер патента: US20230384346A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Electrically conductive contact pin, method for manufacturing same, inspection apparatus, method for manufacturing molded product, and molded product manufactured thereby

Номер патента: EP4231468A1. Автор: Seung Ho Park,Bum Mo Ahn,Sung Hyun BYUN. Владелец: Point Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Inspection apparatus and manufacturing method for semiconductor device

Номер патента: US20210199596A1. Автор: Yoshiyuki Nakagawa,Takehiro Toyoda,Hideki Ina,Yasushi Matsuno,Tomoyuki Tezuka,Kosuke Asano,Yasushi Ohta,Junya Tamaki,Masao Ishioka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

Semiconductor device inspection apparatus, semiconductor device inspection method, program thereof, semiconductor apparatus, and manufacturing method therefor

Номер патента: US20190064248A1. Автор: Akira Kano,Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Spectrometer optical system, semiconductor inspection apparatus including the same and method of manufacturing semiconductor device using the apparatus

Номер патента: US20200149961A1. Автор: YASUHIRO Hidaka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-05-14.

Probe and inspection apparatus including the same

Номер патента: US20240019362A1. Автор: Jaeho Kim,Jongsu Kim,Namil Koo,Suhwan PARK,Sangwoo Bae,Junbum Park,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection apparatus and control method for inspection apparatus

Номер патента: EP3940403A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

X-ray thin film inspection apparatus and thin film inspection apparatus and method for patterned wafer

Номер патента: US7258485B2. Автор: Asao Nakano,Takao Kinefuchi,Hiroshi Motono,Atsunori Kiku. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2007-08-21.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20060192953A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-08-31.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US20230341438A1. Автор: Hyoung Sik Kim. Владелец: ENGION Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927539B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using same

Номер патента: EP4310986A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Cleaning method in inspection apparatus, and the inspection apparatus

Номер патента: US20200286728A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-09-10.

Inspection apparatus for inspecting semiconductor devices using charged particles

Номер патента: US11754517B2. Автор: Suyoung LEE,Jongmin Kim,Chungsam Jun,Kwangil SHIN,Ilsuk PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-12.

Substrate inspection apparatus, substrate processing apparatus, substrate inspection method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11823922B2. Автор: Masato Hosaka,Tadashi Nishiyama,Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Battery module inspection apparatus having positionally adjustable coupling portion

Номер патента: US20230366934A1. Автор: Ki Young Seo. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Connector visual inspection apparatus

Номер патента: US11761882B2. Автор: An Yang,Lvhai Hu,Roberto Francisco-Yi Lu,Zouheir Atif. Владелец: Te Connectiyity Solutions GmbH. Дата публикации: 2023-09-19.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20210033541A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11940485B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Shigeru Kasai,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Welding inspection apparatus for battery modules

Номер патента: US20240142398A1. Автор: Chang Hui Lee,Jin Woo KU,Dae Hee SON. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Particle beam inspection apparatus

Номер патента: US11942340B2. Автор: Martijn Petrus Christianus VAN HEUMEN,Jeroen Gerard Gosen,Edwin Cornelis KADIJK,Te-Yu Chen,Dennis Herman Caspar Van Banning,Erheng WANG,Johannes Andreas Henricus Maria JACOBS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-03-26.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-04-17.

Inspection apparatus and control method for inspection apparatus

Номер патента: US11874319B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Inspection apparatus and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20180144998A1. Автор: Kwang Soo Kim,Sung-Won Park,Sangbong Park,Jeong-su Ha,Byeong Kyu CHA. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-24.

Inspection apparatus

Номер патента: US9018627B2. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-04-28.

X-ray inspection apparatus and method of inspection with x-rays

Номер патента: US20230384247A1. Автор: Tsuneo Sato,Kazuya Iwata,Satoshi Matsubara,Toshiyuki Takahara,Yuta Seki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Inspection Apparatus for Article Storage Facility

Номер патента: US20150000372A1. Автор: Hiroshi Otsuka,Shinsuke Kawamura,Tadahiro YOSHIMOTO. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Pin hole inspection apparatus and method

Номер патента: US11815429B2. Автор: Jin Ho Kang,Chang Rak KIM. Владелец: SK Siltron Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Pin hole inspection apparatus and method

Номер патента: US20230314270A1. Автор: Jin Ho Kang,Chang Rak KIM. Владелец: SK Siltron Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US12000866B2. Автор: Hyoung Sik Kim. Владелец: Envigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Inspection apparatus for semiconductor process and semiconductor process device

Номер патента: US20190323973A1. Автор: Jong Su Kim,Chang Hoon Choi,Jeong Su Ha,Myung Ho Jung,Sung Chai KIM,Young Su RYU,Won Guk Seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-10-24.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US20220043055A1. Автор: Hiroyuki Nakayama,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-02-10.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US5717485A. Автор: Tatsuo Nagasaki,Kanji Nishii,Masami Ito,Kenji Takamoto,Ken Shimono. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-10.

Surface inspection apparatus, processing system, and method of manufacturing article

Номер патента: US11749546B2. Автор: Kenichi Kobayashi,Kohei Suzuki,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Transfer conveyor system for semiconductor inspecting apparatus using moving magnet

Номер патента: US20230230866A1. Автор: Hong Youn KIM. Владелец: Zeus Tech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Defect inspection apparatus, method for inspecting defect, and method for manufacturing photomask blank

Номер патента: US11940391B2. Автор: Tsuneo Terasawa,Takumi Yoshino,Ryusei TERASHIMA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US20240060908A1. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-22.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US11821846B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-11-21.

Pressurizing short-circuit inspection apparatus for detecting low-voltage defective pouch-type secondary battery cell

Номер патента: US11959974B2. Автор: Cha-Hun Ku,Jin-Gon Kim,Su-Taek Jung,Jung-Kwan PYO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Punch Pin Hole Inspection Apparatus and Method Using Punch and Die

Номер патента: US20230182370A1. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Wafer inspection apparatus and system including the same

Номер патента: US11823927B2. Автор: Youngjoo Lee,Taehyun Kim,Jungchul Lee,Sangwoo Bae,Ingi KIM,Kyunghun Han,Seulgi Lee,Minhwan Seo,Myeongock Ko. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-21.

Substrate inspecting apparatus and method of inspecting substrate

Номер патента: US20230215013A1. Автор: Donghoon Lee,Taejun KIM,Jihoon SEO,Jiyong Jung,Myoungchul KIM,Eonpil Shin,Moonkyoung Yong. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Semiconductor inspection apparatus, semiconductor inspection system including the same, and semiconductor inspection method using the same

Номер патента: US20230197485A1. Автор: Jin Hee Han,Soonkyu HWANG,Jinyeol Yang,Haegu LEE,Jae-Min Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Inspection apparatus and substrate transfer method

Номер патента: US20220011676A1. Автор: Takashi Murakami,Takuya Tani,Toru TOKIMATSU. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Solar photovoltaic system inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20170310276A1. Автор: Kosuke Morita,Akihiko Sano,Tsuyoshi Takeuchi,Shuichi Misumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Inspection apparatus and inspection method for light emitting device

Номер патента: US20130050691A1. Автор: Syu JIMBO,Norie Yamaguchi,Keita KOYAHARA. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Alignment inspection apparatus for electrode assembly and alignment inspection method for electrode assembly using the same

Номер патента: US11781859B2. Автор: Su Taek Jung,Jung Kwan Pyo,Cha Hun Ku,Tai Jin Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US20150123694A1. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US9379029B2. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-06-28.

Semiconductor laser inspection apparatus

Номер патента: US20230273241A1. Автор: Yohei Mikami,Tetsuhiro Fukao. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20190346769A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Image sensor, production method therefor, and inspection apparatus

Номер патента: US9324751B2. Автор: Ayumu Taguchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-04-26.

Workpiece inspection apparatus

Номер патента: US11915955B1. Автор: Mitsuhiro Ishihara. Владелец: Takaoka Toko Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Pressurizing short-circuit inspection apparatus for detecting low-voltage defective pouch-type secondary battery cell

Номер патента: US20220065948A1. Автор: Cha-Hun Ku,Jin-Gon Kim,Su-Taek Jung,Jung-Kwan PYO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Inspection apparatus, manufacturing method of integrated circuit, and inspection method

Номер патента: US20230298917A1. Автор: Tsung-Fu Tsai,Szu-Wei Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection apparatus and method of inspecting wafer

Номер патента: US20230204503A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Inkeun BAEK,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-29.

Inspection apparatus

Номер патента: US20220018898A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Inspecting apparatus for organic electronic device, and method of inspecting organic electronic device

Номер патента: US20190252617A1. Автор: Mitsutoshi Akatsu. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20110285989A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Eiji Imai,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

High resolution object inspection apparatus using terahertz wave

Номер патента: US20150041658A1. Автор: Sung-Wook Choi,Gyeong-sik Ok,Hyang-Sook Chun,Hyun-Joo Chang,Na-Ri LEE. Владелец: Korea Food Research Institute KFRI. Дата публикации: 2015-02-12.

Punch pin hole inspection apparatus using punch and die, and punch pin hole inspection method using same

Номер патента: EP4112271A1. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090058446A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Welding inspection apparatus including thermal imaging camera

Номер патента: US20240151589A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection apparatus that inspects image printed on sheet, and image inspection method

Номер патента: US20240357044A1. Автор: Itsuki Akizuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Printing system, printing apparatus, inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US12081708B2. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Inspection apparatus and component mounting system having the same

Номер патента: US12108536B2. Автор: Jeongyeob KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20240289944A1. Автор: Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection apparatus that notifies an inspection result of a book in accordance with a sheet inspection result, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US12137195B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-05.

Power theft inspection apparatus and method, and recording medium

Номер патента: US09927468B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection method, x-ray inspection program, and x-ray inspection system

Номер патента: EP2365320A3. Автор: Kiyoshi Murakami,Hironori Kasahara. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2014-03-05.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Management and control system for an inspection apparatus

Номер патента: US12067701B2. Автор: Nadav Leshem,Edo Reshef. Владелец: Inspect Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Shape inspection apparatus for metallic body and shape inspection method for metallic body

Номер патента: US09903710B2. Автор: Hironao Yamaji,Yusuke Konno,Toshio Akagi,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Power theft inspection apparatus and power theft inspection method

Номер патента: US09476917B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230247312A1. Автор: Hiroki Nakajima,Masaru Ishida,Mikio Shibukawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Methods for inspecting a turbine engine rotor thru bolt threads and associated thru bold rotor disc cavity and corresponding inspection apparatus

Номер патента: WO2015130871A1. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Joshua DeAscanis,James P. Williams,Clifford HATCHER JR.. Владелец: SIEMENS ENERGY, INC.. Дата публикации: 2015-09-03.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: US20230306586A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240265523A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus, image forming apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240275888A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection apparatus, coordinate detection apparatus, coordinate detection method, and wavefront aberration correction method

Номер патента: US09786057B2. Автор: Masafumi Shinoda,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US09651607B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a thru bolt threads inspection apparatus

Номер патента: US09494487B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130222004A1. Автор: Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2013-08-29.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Masaki Tatsumi,Haruo Takahashi,Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Visual inspection apparatus having light source bank

Номер патента: EP2215512A1. Автор: Thomas W. Karpen,James J. Delmonico,Joshua Lynn Scott,Dennis W. McEnery,Joseph V. Lopez,Marjorie L. Buerkle. Владелец: GE Inspection Technologies LP. Дата публикации: 2010-08-11.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230239412A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US12075537B2. Автор: Hiroaki Agawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09898814B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method

Номер патента: US09874594B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Remote inspection apparatus for heating tube of steam generator

Номер патента: US09819842B2. Автор: Sung Ho Park,Kyung Sub Kim,Hong Seok Ryu,Jang Myong WOO. Владелец: Korea Plant Service and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Imaging inspection apparatus for setting one or more image-capturing positions on a line that connects two taught positions, control device thereof, and method of controlling imaging inspection apparatus

Номер патента: US09774827B2. Автор: Hideki Tanaka,Kazuhiko Kojima,Hiroaki Kitatsuji. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Image inspection apparatus that determines a line width of a test image, and image forming apparatus

Номер патента: US09762763B2. Автор: Toru Yamaguchi,Takahiro Kusunoki,Takashi Harashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-12.

Medicine package inspection apparatus

Номер патента: US09731909B2. Автор: Jun Ho Kim. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Reel-to-reel inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09671352B2. Автор: Suck-Ha WOO,Je-Youn JEE,Ki-Sang MOON. Владелец: Haesung DS Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09571670B2. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09535108B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09390493B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-12.

Image inspecting apparatus, image inspecting method and image inspecting program

Номер патента: US20190272630A1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240015251A1. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230070161A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US20090033925A1. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2009-02-05.

Visual inspection apparatus for flexible printed circuit boards

Номер патента: US7872744B2. Автор: Yin-Kui Zhu,Ching-Hung Pi,Lian-Da Tong,Cheng-Ta Tu. Владелец: Foxconn Advanced Technology Inc. Дата публикации: 2011-01-18.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US10578847B2. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-03.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Roll object inspection apparatus

Номер патента: US10775161B2. Автор: Akinori TADOKORO. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-09-15.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230281796A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Image inspection apparatus

Номер патента: US10750032B2. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-08-18.

Inspection apparatus capable of preventing lowering of position matching accuracy, method of controlling same, and storage medium

Номер патента: US11750747B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230030308A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12058290B2. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US20170343783A1. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20200294223A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20190228521A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US11094051B2. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US20200150050A1. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-05-14.

Roll object inspection apparatus

Номер патента: US20180347972A1. Автор: Akinori TADOKORO. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-12-06.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20240276103A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Overprinting inspection apparatus and non-transitory computer readable medium storing overprinting inspection program

Номер патента: US12086482B2. Автор: Kodai Suzuki. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection apparatus, method for controlling same, and storage medium

Номер патента: US12107996B2. Автор: Masato Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US12106532B2. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Wafer position status inspection apparatus

Номер патента: US12101559B2. Автор: Daisuke Sasaki,Yu-Hsin Liu,Cheng-Hsiang Lu. Владелец: Jun Fu Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Inspection apparatus for inspecting image on sheet and image forming system that inspects printed image on sheet

Номер патента: US20240357042A1. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Image inspection apparatus, printing system, and image inspection method

Номер патента: US20240340380A1. Автор: Kazuhiro Ijichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-10.

Print inspection apparatus, print system, print inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240364820A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-31.

Circuit board inspecting apparatus

Номер патента: US12055580B2. Автор: Takashi Isa,Toshihide Matsukawa. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Weld inspection apparatus

Номер патента: US12053842B2. Автор: Yasushi Kitani,Asato HARA,Syoma MURAKAMI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US09607305B2. Автор: Takahisa Nakano,Tsutomu Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09542737B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09534957B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspecting apparatus of lane departure warning system for vehicle

Номер патента: US09511712B2. Автор: Sinkuk Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-12-06.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09495740B2. Автор: Toshiyuki Watanabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09495736B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09450536B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Sensitivity testing method and device and inspection apparatus for a GSM communication terminal

Номер патента: US09414324B2. Автор: Lingliang Meng. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Welding facility inspecting apparatus

Номер патента: US9976965B2. Автор: Bokdeok SEO,Seongrae NHO,Jimyeon SONG. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Image forming system and inspection apparatus

Номер патента: US20230396716A1. Автор: Hiroyuki Eda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Inspection system to register image data in inspection apparatus and execution of an inspection job, printing apparatus, method for controlling inspection system

Номер патента: US11838455B2. Автор: Hideshi Ichimi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20240114096A1. Автор: Takeshi Okada,Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection system, inspection apparatus, and method for controlling the inspection apparatus

Номер патента: US20210397386A1. Автор: Kimio Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Object inspection apparatus and object inspection method using same

Номер патента: US11908123B2. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Choung Min JUNG,Han Rim KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection apparatus that coverts a result of sheet inspection into an inspection result of each book including a plurality of sheets, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US11812000B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US20240031504A1. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection apparatus and method

Номер патента: NL2017928A. Автор: Michiel Witte Stefan,Sijbrand Eduard Eikema Kjeld. Владелец: Univ Amsterdam. Дата публикации: 2017-06-28.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230401695A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US11838454B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240106935A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US20230336667A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4346196A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

Inspection apparatus method and apparatus comprising motion responsive control

Номер патента: US20080152210A1. Автор: Clark A. Bendall. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2008-06-26.

Inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: US20230273755A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection apparatus, control method thereof, inspection system, and storage medium

Номер патента: US11829669B2. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Method for inspecting insertion states of pins inserted into substrate, and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20200348367A1. Автор: Yong Kim,Dae Sung Koo,Woo Young Lim. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2020-11-05.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230314338A1. Автор: Keiko Inoue. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: EP4280585A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-22.

Inspection apparatus, image reading apparatus, image forming apparatus, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200009860A1. Автор: Takuji Kamada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Inspection apparatus, control method thereof, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20230122294A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection apparatus, inspection method, and inverter apparatus

Номер патента: US20190288596A1. Автор: Shinji Takakura,Shigen YASUNAKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20230377130A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Image inspection apparatus and image inspection apparatus control program

Номер патента: US10529069B2. Автор: Masao Nakamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-01-07.

Inspection apparatus, inspection system, control method for inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20230064686A1. Автор: Toru Shinnae. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Inspection system, inspection apparatus, and control method of inspection apparatus

Номер патента: EP4262182A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-18.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US20150015297A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-15.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: EP4250704A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-27.

Image inspection apparatus and image forming apparatus

Номер патента: US20160301811A1. Автор: Toru Yamaguchi,Takahiro Kusunoki,Takashi Harashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-10-13.

Image inspection apparatus, image forming system, and image compression method

Номер патента: US20180262626A1. Автор: Daisuke Genda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-09-13.

Image inspection apparatus, image inspection method, and non-transitory computer-readable medium for indicating areas to be inspected and areas exempt from inspection

Номер патента: US20220321705A1. Автор: Tetsu Kawasaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-10-06.

Color negative inspection apparatus

Номер патента: US4797712A. Автор: Takaaki Terashita,Kiichiro Sakamoto,Ryoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1989-01-10.

Inspection apparatus having illumination assembly

Номер патента: WO2008082913A3. Автор: Bradford Morse,James Jonathan Delmonico,Thomas W Karpen. Владелец: Thomas W Karpen. Дата публикации: 2008-12-11.

Image inspection apparatus, image inspection method, and non-transitory computer-readable medium used for image inspection

Номер патента: US20200336605A1. Автор: Tetsu Kawasaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-22.

Hairpin type stator inspection apparatus and method for testing the same

Номер патента: US11711000B2. Автор: Seunghwan Lee. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Image inspection apparatus, image inspection system, and method for determining image position

Номер патента: US20180198937A1. Автор: Masanori YOSHIZAWA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20130148143A1. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-13.

Image forming apparatus, inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240004591A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Image inspection apparatus and image forming apparatus using reading result of incident light reflected from target both via and not via light guide member

Номер патента: US10999450B2. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-05-04.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US20160275664A1. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-22.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US20140079293A1. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-20.

Inspection apparatus, image forming apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20150131116A1. Автор: Yoshinori SOCHI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-14.

Inspection apparatus, control method therefor, storage medium storing control program therefor, and image processing system

Номер патента: US20230386019A1. Автор: Yoshiaki Tani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Inspection system, inspection apparatus, control method of inspection system, and control method of inspection apparatus

Номер патента: US20230328186A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Image inspection apparatus, image inspection method, and non-transitory computer-readable medium used for image inspection

Номер патента: US20230344943A1. Автор: Tetsu Kawasaki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-26.

Inspecting apparatus based on hyperspectral imaging

Номер патента: US20200184624A1. Автор: Yu-Sin Yang,YASUHIRO Hidaka,Young-Kyu Park,Sung-Ho Jang,Ye-eun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Image inspection apparatus to detect a defect in a read image

Номер патента: US9131187B2. Автор: Takako SHIJOH. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-08.

Image inspection apparatus and image forming apparatus

Номер патента: US20200389559A1. Автор: Akira Yamamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-12-10.

Inspection apparatus, control method for inspection apparatus, inspection system, control method for inspection system and storage medium

Номер патента: US20240179247A1. Автор: Jun Miyajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection apparatus, control method for inspection apparatus, inspection system, control method for inspection system and computer program

Номер патента: EP4379473A1. Автор: Jun Miyajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

Image inspection apparatus, image recording apparatus, and image inspection method

Номер патента: US20130057886A1. Автор: Takuya Yasuda. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-07.

Image position inspecting apparatus, computer-readable medium and image forming apparatus

Номер патента: US8801130B2. Автор: Toru Nishida,Takeshi Zengo. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-12.

One dimensional x-ray image sensor with a correction filter and x-ray inspecting apparatus using the same

Номер патента: US5177776A. Автор: Hiroshi Tsutsui,Kouichi Ohmori,Tetsuro Ohtsuchi,Sueki Baba. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1993-01-05.

Substrate inspection apparatus and method of determining fault type of screen printer

Номер патента: US20210357693A1. Автор: Seung Jae Lee,Jong Hwan Kim,Juyoun PARK,Ye Won HWANG,Jin Man PARK,Tae Min CHOI,Yong Ho Yoo,Duk Young LEE. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2021-11-18.

Color negative inspection apparatus for displaying and sequentially shifting N color positive images corresponding to N color negative frames

Номер патента: US4782390A. Автор: Tsutomu Kimura,Ryoichi Hayashi. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1988-11-01.

Photovoltaic devices inspection apparatus and method of determining defects in photovoltaic device

Номер патента: US20100002932A1. Автор: Toshio Shibuya,Masato Kasahara. Владелец: Nisshinbo Holdings Inc. Дата публикации: 2010-01-07.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US11041813B2. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2021-06-22.

Multiple energy x-ray source and inspection apparatus employing same

Номер патента: WO2005052977A2. Автор: Paul H. Leek. Владелец: Leek Paul H. Дата публикации: 2005-06-09.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US20230070196A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Image inspection apparatus and image forming system

Номер патента: US10121242B2. Автор: Hiroaki Yago. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-11-06.

Image inspection apparatus and computer-readable recording medium storing a program

Номер патента: US20190109954A1. Автор: Yasushi Tsue. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-04-11.

Image inspection apparatus and image forming system

Номер патента: US20180130192A1. Автор: Hiroaki Yago. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-05-10.

Inspection apparatus, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4307222A1. Автор: Yukichika Ichihashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-17.

Vision inspection apparatus and a method of driving the same

Номер патента: US11435231B2. Автор: Juneyoung Lee,Hyungwoo YIM,Hoi Sik MOON,Jae-Seob CHUNG,Minyup CHAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-06.

Inspection apparatus, inspection method and storage medium

Номер патента: US20180227463A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

Graphic user interface for a three dimensional board inspection apparatus

Номер патента: US20160224718A1. Автор: Joongki JEONG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-08-04.

Image inspection apparatus and program product correcting image blur caused by floating paper to increase inspection accuracy of printed image

Номер патента: US11800019B2. Автор: Toru Misaizu. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-10-24.

Optical system and inspection apparatus

Номер патента: US20230388612A1. Автор: Hiroto Kano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20210407068A1. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-12-30.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US20180293732A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-10-11.

Product-inspection apparatus, product-inspection method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20220148144A1. Автор: Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-05-12.

Inspection apparatus, method for controlling same, and storage medium

Номер патента: US20230336668A1. Автор: Masato Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Image Inspection Apparatus, Image Inspection Method, Image Inspection Program, Computer-Readable Recording Medium And Recording Device

Номер патента: US20170186152A1. Автор: Zhuoli Sun. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US10139350B2. Автор: Zhuoli Sun. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-11-27.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US9632036B2. Автор: Zhuoli Sun. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US10648921B2. Автор: Zhuoli Sun. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-05-12.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US10726556B2. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-07-28.

Image inspecting apparatus, display method, and computer product displaying pseudo defect image at position different from printing error

Номер патента: US11303762B2. Автор: Hiroshi Takayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-12.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US20150220809A1. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: EP2895848A1. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-22.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: WO2014042280A1. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: RICOH COMPANY, LIMITED. Дата публикации: 2014-03-20.

Product-inspection apparatus, product-inspection method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11972555B2. Автор: Shoji Yachida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230258606A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Visual inspection apparatus and visual inspection methods

Номер патента: US20240013370A1. Автор: Hiroshi Yamashita,Masahiro Ibe,Kojiro Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US11074683B2. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2021-07-27.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240114225A1. Автор: Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Hitoshi Katayama,Dai Nozaki,Mitsunori YUMINAMOCHI,Masaoki SAITO. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Optical inspection apparatus, processing device, optical inspection method, and non-transitory storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US20230324309A1. Автор: Hiroshi Ohno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-12.

Circular scratch inspection apparatus

Номер патента: US10565698B2. Автор: Kenji Kasahara,Osamu Ohji,Shogo KOJIMA,Shuhei SEGAWA,Yuuki HANAWA. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2020-02-18.

Image inspection apparatus, system, method, and program product that combines a trial print and an area designated in a recording medium

Номер патента: US11936819B2. Автор: Yasumasa Tsukamoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-19.

Heat dissipation structure and inspection apparatus

Номер патента: EP4206746A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Hongbin HOU,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Method for inspecting mounting state of component, printed circuit board inspection apparatus, and computer readable recording medium

Номер патента: US20210042910A1. Автор: Jung Ho Son,Joong Ki Jeong,Jin Man KANG,Se Rin LEE,Min Cheol YOON. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-02-11.

Method for inspecting mounting state of component, printed circuit board inspection apparatus, and computer readable recording medium

Номер патента: US20210049753A1. Автор: Jung Ho Son,Joong Ki Jeong,Jin Man KANG,Se Rin LEE,Min Cheol YOON. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-02-18.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20200111199A1. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-04-09.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335587A1. Автор: Yuichiro Hama,Nobuyuki Kurihara,Keisuke Fukuta. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Electronic component inspection apparatus and electronic component inspection method

Номер патента: US11821843B2. Автор: Junji Morita,Daichi GEMBA. Владелец: Sumida Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection apparatus and its focus adjustment method

Номер патента: US20170256045A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-09-07.

Inspection apparatus, image forming system, inspection program, and inspection method

Номер патента: US11941305B2. Автор: Shoichi Ayukawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-26.

Vision inspection apparatus and a method of driving the same

Номер патента: US20210102843A1. Автор: Juneyoung Lee,Hyungwoo YIM,Hoi Sik MOON,Jae-Seob CHUNG,Minyup CHAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Image inspection apparatus

Номер патента: US20190238686A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-08-01.

Method for inspecting mounting state of component, printed circuit board inspection apparatus, and computer readable recording medium

Номер патента: EP3761772A1. Автор: Jung Ho Son,Joong Ki Jeong,Jin Man KANG,Se Rin LEE,Min Cheol YOON. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2021-01-06.

Cable Inspection Apparatus

Номер патента: US20210148997A1. Автор: Dandan Zhang,Lvhai Hu,Roberto Francisco-Yi Lu,Zongjie Tao,Hongze Li,Yuhang Shang. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Optical inspection apparatus

Номер патента: US20210239959A1. Автор: Yong Woon Lim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-05.

Inspection apparatus capable of preventing lowering of position matching accuracy, method of controlling same, and storage medium

Номер патента: US20230065425A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: EP4095800A1. Автор: Makoto Oki. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-30.

Inspection apparatus, method for controlling same, and storage medium

Номер патента: EP4266660A1. Автор: Masato Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-25.

Malware inspection apparatus and malware inspection method

Номер патента: US20190207952A1. Автор: Toru Shimanaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-07-04.

Sample inspection apparatus and control method thereof

Номер патента: US09476896B2. Автор: Jin Soo Park,Soo Hong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Sample inspection automation system and sample transfer method

Номер патента: US09952239B2. Автор: Kenichi Takahashi,Shigeru Yano,Masashi Akutsu,Kenichi Yasuzawa,Koji Kamoshida. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Tray assembly for optical inspection apparatus

Номер патента: WO2004109339A3. Автор: David A Brock,Gary H Krauth,Jack L Zuidema,Donald R Hesser,David L Boger,Kevin J Sheldrake. Владелец: Kevin J Sheldrake. Дата публикации: 2005-06-16.

Crystallized sample inspection apparatus

Номер патента: US20140307080A1. Автор: Ki-Hyun Kim,Young-Gil Park,Ki-Won Oh,Shang-U KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-16.

A sample inspection system

Номер патента: GB2592684A. Автор: Dicken Anthony. Владелец: Halo X Ray Tech Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Sample inspection plan management device, sample inspection plan management system, sample inspection plan management method, and program

Номер патента: US20210005313A1. Автор: Yasuhisa Kaneko. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-01-07.

Sample inspection apparatus employing a diffraction detector

Номер патента: US20210199605A1. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-07-01.

Sample inspection device for detecting fluorescence of sample

Номер патента: US20230213449A1. Автор: Neon Cheol JUNG,Alexey DAN CHIN YU,Keunchang Cho. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Systems and methods for sample inspection and review

Номер патента: US09939386B2. Автор: Isabella T. Lewis,Yakov Bobrov. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Sample inspection system and operating method for management server thereof

Номер патента: EP2237044A3. Автор: Takashi Noguchi,Tatsuya Tokunaga,Masaki Takano,Naomi Ishii,Yayoi Shitara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Sample inspection automation system

Номер патента: US09645161B2. Автор: Masashi Akutsu,Kenichi Yasuzawa,Koji Kamoshida. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

A sample inspection system

Номер патента: EP3997719A1. Автор: Paul Evans. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-05-18.

A sample inspection system

Номер патента: WO2021005320A1. Автор: Paul Evans. Владелец: The Nottingham Trent University. Дата публикации: 2021-01-14.

Sample inspection apparatus

Номер патента: US20210063309A1. Автор: Shoichi Kanayama,Takeshi Yamauchi,Isao Nawata. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Sample Inspection Apparatus and Sample Inspection Method

Номер патента: US20080149848A1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Masahiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-06-26.

Gate system for sample detection and method of sample inspection

Номер патента: US11215626B2. Автор: Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Yaohong Liu,Qiufeng Ma,Biao CAO,Weiping Zhu,Lili Yan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-04.

Gate system for sample detection and method of sample inspection

Номер патента: US20190346472A1. Автор: Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Yaohong Liu,Qiufeng Ma,Biao CAO,Weiping Zhu,Lili Yan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Sample inspection system

Номер патента: US11703466B2. Автор: Anthony DICKEN. Владелец: Halo X Ray Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Device for sampling inspection

Номер патента: US3878726A. Автор: Touru Hamatani. Владелец: Individual. Дата публикации: 1975-04-22.

Sample inspection system comprising a beam former to project a polygonal shell beam

Номер патента: US11971371B2. Автор: Paul Evans. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-30.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: US20240231713A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: EP4400961A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Inspection apparatus, sensing apparatus, sensitivity control apparatus, inspection method, and program with pixel sensitivity control

Номер патента: US11448586B2. Автор: Hiroshi Mori,Yoshihiro Murakami,Masatoshi Takashima. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-09-20.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Method of determination, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US20130245979A1. Автор: Hiroya Kakimoto. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2013-09-19.

Print system, inspection apparatus, method of controlling inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240311998A1. Автор: Shinya Suzuki,Yuki Nakatani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Enhanced roadway mark locator, inspection apparatus, and marker

Номер патента: US09784843B2. Автор: Matthew W. Smith,William R. Haller,Douglas D. DOLINAR,Charles C. Stahl. Владелец: Limn Tech LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

Lighting apparatus, and optical inspection apparatus and optical microscope using the lighting apparatus

Номер патента: US09594240B2. Автор: MITSUHIRO Togashi,MITSUNORI Numata,Nobuyuki Kimura,Masaki Takada. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-14.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US20100302295A1. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-02.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US8414100B2. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-04-09.

Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Номер патента: US20160225300A1. Автор: Chae-Han Hyun,Young-Taeg Jung,Jung-Hun Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20110129239A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US8448932B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3201565A1. Автор: Liam Hall. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-08-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20210382396A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230004093A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: EP3274095A1. Автор: Jung-ki MIN,Young-Goun Lee,Jong-Gun Lee,Hyun-ju Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-31.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: WO2023278715A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc.. Дата публикации: 2023-01-05.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4434919A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: CA3223326A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: EP4364034A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Inspection apparatus that inspects image formed by image forming apparatus, and method for controlling image forming system

Номер патента: US20240354034A1. Автор: Ryosuke Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus

Номер патента: US12124176B2. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Nondestructive inspection apparatus and inspection system of structure

Номер патента: US09746435B2. Автор: Yoshinori Ogawa,Michinobu Mizumura,Koichi Kajiyama. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a rotor disc cavity inspection apparatus

Номер патента: US09670795B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Panel inspection apparatus and display panel

Номер патента: US09633588B2. Автор: Qibiao LV,Jehao Hsu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Leak resistance inspection apparatus for fuel element enclosures

Номер патента: RU2349976C1. Автор: Валерий Фёдорович Борисов,Сергей Александрович Гутов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2009-03-20.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Visual workpiece inspection apparatus and visual workpiece inspection method

Номер патента: MY167683A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,MOCHIZUKI Hiroyuki,Goto Tasuku. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-21.

Stereo x-ray inspection apparatus and method for forming three-dimensional image through volume reconstruction of image acquired from the same

Номер патента: US20120014506A1. Автор: Soon Yong Park,Seung Chan Oh,Nam Ho Lee,Seung Wook Lee,Young Gwan Hwang,Myung Kook Moon,Yong Chil Sec. Владелец: Korea Atomic Energy Research Institute KAERI. Дата публикации: 2012-01-19.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A3. Автор: Yoram Koren,Stephen B Segall. Владелец: Stephen B Segall. Дата публикации: 2005-07-07.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A2. Автор: Yoram Koren,Stephen B. Segall. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF MICHIGAN. Дата публикации: 2005-01-20.

Inspection apparatus for a pressure vessel

Номер патента: US20230123853A1. Автор: Yong Joo Cho,Yong Ho Kim,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Can seam inspection apparatus

Номер патента: WO1993003864A1. Автор: Wun Cheul Chong. Владелец: Wun Cheul Chong. Дата публикации: 1993-03-04.

Portable inspection apparatus for X-ray tomography

Номер патента: US8031833B2. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-10-04.

Optical article inspection apparatus and method

Номер патента: EP4423474A1. Автор: Willard BEAMER,Forrest Blackburn,Neil Murphy,Joshua Hazle,Adam CHOROS,Laura ASKEW-CRAWFORD. Владелец: Transitions Optical Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20090244530A1. Автор: Susumu Iida,Shunsaku Kubota. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180038808A1. Автор: DONG Lin,Hong Wang,Bin Hu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Jin Cui,Xianshun Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310302A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210140898A1. Автор: Tsutomu SAKUYAMA,Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4431927A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

X-ray inspection apparatus with sensitivity correction unit and corresponding sensitivity correction method

Номер патента: EP4435416A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Ultrasound inspection apparatus, signal processing method for ultrasound inspection apparatus, and recording medium

Номер патента: US09907532B2. Автор: Tsuyoshi Tanabe,Noriaki Ida,Yasunori Ohta,Shin Nakata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Inspection apparatus and adjusting method

Номер патента: US09885670B2. Автор: Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Panel inspecting apparatus and method

Номер патента: US09759665B2. Автор: Jin-woo Ahn,Hyeong-min Ahn,Tae-Yong Jo,Myoung-Ki Ahn,Tae-hyoung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Phased array ultrasonic bolt inspection apparatus and method

Номер патента: US09429546B2. Автор: Zafir A. M. Abdo,Jason E. Williams,Thomas F. Quinn,Derrick Marcantel. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Self-propelled, reduced-water, internal non-destructive inspection apparatus

Номер патента: US09423381B2. Автор: Allison Jean Wright,Todd Brian Jaramillo,Kendall Ford Koerner. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US20170112314A1. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-27.

High-resolution terahertz wave concentration module, scattered light detection module, and high-resolution inspection apparatus using terahertz bessel beam

Номер патента: US20210140823A1. Автор: Sung-Wook Choi,Gyeong-sik Ok,Hyun-Joo Chang. Владелец: Korea Food Research Institute KFRI. Дата публикации: 2021-05-13.

Odor sniffing device and vehicle-mounted security inspection apparatus for container

Номер патента: US20230236093A1. Автор: Ge Li,Wei Wang,ZHENG Liang,Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Biao CAO,Weiping Zhu,Shengxi LIU,Nei Yang,Xiulin NI. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US12007523B2. Автор: Jian Wu,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Visual inspection apparatus, visual inspection method, image generation apparatus, and image generation method

Номер патента: US20240153066A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hideaki Onozuka,Takateru Seki,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US12036790B2. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Signal inspection apparatus, signal inspection system, signal inspection method, and non-transitory computer-readable medium encoded with signal inspection program

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Shouhei MIYASHITA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: WO2013001303A9. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255445A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus, unit selection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium storing an inspection program

Номер патента: US20230222645A1. Автор: Yutaka Kato,Masashi Kurita,Yuki Hasegawa,Yuki HANZAWA,Sakon Yamamoto,Shigenori NAGAE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8699017B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8462327B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8169606B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-01.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180180761A1. Автор: Hongqiu Wang,Guohua Wei,Yumin Yi,Hu Tang,Jianhong Zhang,Nei Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

A portable inspection apparatus

Номер патента: EP2802864A1. Автор: Ko Khee Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230260104A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection system, image inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240165945A1. Автор: Kohta AOYAGI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20220414833A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Adjustment method of inspection apparatus focus position, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20240280500A1. Автор: Ryoichi Hirano,Yasuhiro Yamashita,Toshiaki OTAKI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus for thin film transistor substrate

Номер патента: US20060186335A1. Автор: Sergey Antonov,Hyeong-min Ahn,Ho-Seok Choi,Mi-Jeong Song,Jeong-su Ha,Lemiachine Vassili. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-24.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20120194808A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Aligning method for use in semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20190171328A1. Автор: Chien-Hung Chen,Yung-Chin LIU,Guan-Jhih Liou,Lin-Lin Chih. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US20040085531A1. Автор: CHENG Chen,Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Kohachi Kawamura,Hsin Chou. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US6977721B2. Автор: Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Cheng Yu Chen,Hsin Tan Chou,Kohachi Kawamura. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: EP3916342A1. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-12-01.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11175239B2. Автор: Akira Yabuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Optical disk inspecting apparatus and method

Номер патента: US20100091626A1. Автор: Mitsumasa Kubo. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-15.

Non-destructive inspection apparatus for containers of liquid foodstuffs

Номер патента: WO2001096842A3. Автор: Marco Pipino. Владелец: Marco Pipino. Дата публикации: 2002-05-16.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US20080309705A1. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090207406A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-20.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20100273115A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Pipe inner surface inspection apparatus

Номер патента: US20110314918A1. Автор: Masayoshi Nakai,Seiichi Kawanami,Masaya Takatsugu,Masaharu Michihashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-29.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: US20240280442A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-08-22.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US12090754B2. Автор: Dae Sung Kim,Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Welded portion inspection apparatus of reactor pressure vessel

Номер патента: US20120051483A1. Автор: Satoshi Okada,Kenichi Otani,Ryosuke Kobayashi,Hidetaka Komuro,Yosuke Takatori. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Method of verifying the detection capability of an x-ray inspection apparatus

Номер патента: WO2024009278A1. Автор: Guido Mahnke,Benedikt HOFFMANN. Владелец: METTLER-TOLEDO, LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US7963627B2. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP2093611A3. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-27.

AI-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US12087421B2. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310301A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US12125176B2. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: US20240328561A1. Автор: Dong Kyu Kim,Jae Jun Kim,Kwang Hyun Yoo,Hong Seok Song,Dae Kwang KIM,Byung Taek Oh,Seung Ung YANG,Hui Ryoung YOO. Владелец: Korea Gas Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Portable visual inspection apparatus and method for inspecting article

Номер патента: US12072296B2. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou,Sonny O Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method

Номер патента: US09904181B2. Автор: Richard Quintanilha. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-02-27.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09880196B2. Автор: Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Panel inspection apparatus and method

Номер патента: US09810640B2. Автор: Chao-Yi Yeh,Chih Yuan Liu,Pin-Chuan SU,Shang-Iun YANG. Владелец: Cheng Mei Instrument Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Body drying and inspection apparatus

Номер патента: US09775474B2. Автор: Ernesto Holguin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Tire appearance inspection apparatus

Номер патента: US09710904B2. Автор: Yoshitaka Fujisawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection apparatus, and abnormality detection method

Номер патента: US09702754B2. Автор: Satoshi Sone. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Tire appearance inspection apparatus and method

Номер патента: US09677879B2. Автор: Tomoyuki Kaneko,Akinobu Mizutani. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: US09623513B2. Автор: Hiroaki Kishi,Atsushi Kawakita,Shuhei Ogura,Yuta IWAMOTO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection apparatus

Номер патента: US09599844B2. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Pellicle inspection apparatus

Номер патента: US09588421B2. Автор: Atsushi Tajima,Kiwamu Takehisa,Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Liquid crystal modulator for detecting a defective substrate and inspection apparatus having the same

Номер патента: US09581842B2. Автор: Suk Choi,Seunghee Lee,Young Eun Choi,Sung-Mo Gu,Changhyun Ryu,Youngwon Kim,Youngjin Noh,Chi Youn Chung. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chonbuk National University. Дата публикации: 2017-02-28.

Vision inspection apparatus and method of compensating gamma defect and mura defect thereof

Номер патента: US09576541B2. Автор: Woo-Jin Jung,Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Kang-Hyun Kim,Jong-Hee NA,Jae-Seob CHUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Inspection apparatus using polarized lights

Номер патента: US09541493B2. Автор: Takashi Tsubota,Yoshinori Matsumoto,Akishige Ito,Toyoaki Hamaguchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09511831B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-12-06.

Vehicle safety-inspection apparatus

Номер патента: US09478075B1. Автор: Duncan Smith,Grant Toutant,Tristan Money. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-25.

Internal pressure inspection apparatus and method for a sealed container

Номер патента: US09453776B2. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Blade inspection apparatus

Номер патента: US09429526B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: EP4206098A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Article inspection apparatus

Номер патента: US20230035626A1. Автор: Takashi Suzuki,Eiji Taniguchi,Shigeo Arai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US20150062570A1. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3764088A3. Автор: Atsushi Iwai,Futoshi Yurugi,Hiroaki Maki,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

X-Ray Transmission Inspection Apparatus

Номер патента: US20150276626A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-01.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection apparatus, recording medium, and inspection system

Номер патента: US20240192143A1. Автор: Masaru Ohtsuka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219315A1. Автор: LEI Tian,HAO WANG,Seungbeom Park,Hojun Lee,Myungjun Lee,Junho SHIN,Jiabei Zhu,Wookrae Kim,Jangwoon SUNG. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2024-07-04.

Inspection apparatus for display substrate

Номер патента: US20140168577A1. Автор: Sujin Kim,Suk Choi,Heungshik Park,Hyeokjin Lee,Jihong BAE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Surface inspection apparatus

Номер патента: US20220291137A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2022-09-15.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Hatching egg inspection apparatus

Номер патента: US20150138537A1. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Mitsuo Yamamoto,Shinichi Fujitani,Takatsugu Tahara,Toyoaki Ohashi. Владелец: YAMAMOTO CORP. Дата публикации: 2015-05-21.

Mask inspection apparatus and image creation method

Номер патента: WO2010089954A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura,Toshimichi Iwai,Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: AU2022291598A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Transfer device and inspection apparatus

Номер патента: AU2022291598B2. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Sensor chip breaking strength inspection apparatus and sensor chip breaking strength inspection method

Номер патента: US20070137310A1. Автор: Yuichi Sakai,Munehito Kumagai,Yoshitatsu Kawama,Yasuyuki Nakaoka,Hideki Yabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Euv photomask inspection apparatus

Номер патента: US20230194845A1. Автор: Changhoon Choi,Taejoong Kim,Jihoon Na,Garam CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20200184631A1. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-06-11.

Automated optical double-sided inspection apparatus

Номер патента: US20230213457A1. Автор: Yu-Hsien Lin,Shih-Kai FAN,Yee Siang GAN,Sze-Teng LIONG,Che-Ming LI. Владелец: FENG CHIA UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-07-06.

Inspection apparatus

Номер патента: US20140320860A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Makoto Taya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2014-10-30.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Electrical characteristic parameter inspection apparatus, electrical characteristic parameter inspection method, and storage medium

Номер патента: US20230314355A1. Автор: Makoto Takada,Masaru Fuse,Junichi Jono. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-05.

Package readying and inspection apparatus

Номер патента: US5337138A. Автор: Akihiko Takeshita,Tetsuji Masai,Kenichi Inada. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 1994-08-09.

Inner surface image inspection apparatus

Номер патента: US20210157121A1. Автор: Masatoshi Numatsu. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Electroluminescence inspection apparatus

Номер патента: US20240255563A1. Автор: Kyungwoon Jang,Sungyong Min,Changkyu CHUNG,Daeseok HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20140354799A1. Автор: Masafumi Asano,Tomoko Ojima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Inspection apparatus, linearly movable beam displacer, and method

Номер патента: WO2023165823A1. Автор: Ferry Zijp,Douglas C. CAPPELLI,Bram Antonius Gerardus LOMANS,Bastiaan Lambertus Wilhelmus Marinus VAN DE VEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-09-07.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20190212464A1. Автор: Noriaki Ikeda,Sachihiro NAKAGAWA. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240248055A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Inspection jig and inspection apparatus

Номер патента: US11768226B2. Автор: Kohei Tsumura,Takanori Furukawa,Jyun YAMANOUCHI. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2023-09-26.

Pattern inspection apparatus

Номер патента: US20080162065A1. Автор: Hirokazu Ito,Masayoshi Takeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-07-03.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Solid Inspection Apparatus and Method of use

Номер патента: MY196658A. Автор: Dajun Yuan,M Shane Bowen,Joseph Francis PINTO,John Gerhardt Earney,Bala Murali K Venkatesan,Michael S Graige,Arthur Pitera. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Inspection apparatus

Номер патента: US20130271754A1. Автор: Kazuo Takahashi,Hisashi Hatano,Nobuaki Hirose,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-17.

Behavior inspection apparatus and behavior inspection method for extensible flexible pipe joint

Номер патента: US20180045499A1. Автор: Yuji Noda,Shintaro Ikeda,Isamu Funakoshi. Владелец: Victaulic Company of Japan Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Inspection jig and circuit board inspection apparatus including the same

Номер патента: US12055579B2. Автор: Kohei Tsumura. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240288592A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection apparatus

Номер патента: US20240255437A1. Автор: Akifumi Sangu,Jaemin SON,Se-Kwang Han,Hyeran Ko. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: US11719744B2. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-08.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US12050302B2. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20120140211A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-07.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US20120165686A1. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp Japan. Дата публикации: 2012-06-28.

Inspection apparatus

Номер патента: US20170268925A1. Автор: Hiroyuki Hotta. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230273169A1. Автор: Akio Imai,Akioki Nakamori,Kiyuki NOTO,Koichi Shimotori. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20210256677A1. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20210148837A1. Автор: Akihiro Takeda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Defect inspection apparatus, sensitivity calibration method for the same, substrate for defect detection sensitivity calibration, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070035725A1. Автор: Naohiro Takahashi,Tamihide Yasumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-02-15.

Method for preparing focus-adjustment data for focusing lens system of optical defect-inspection apparatus, and focus adjustment wafer used in such method

Номер патента: US20070229811A1. Автор: Kenichi Sanada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20180252656A1. Автор: Goro Kambe. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-09-06.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP4396568A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Magnetic characteristic inspecting apparatus and inspecting method using it

Номер патента: US20060132122A1. Автор: Ritsuro Orihashi,Masayoshi Takahashi,Masami Makuuchi,Shinji Homma. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-06-22.

Inspection apparatus

Номер патента: US20080108503A1. Автор: Masahito Yoshizawa,Takayuki Simizu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2008-05-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090073430A1. Автор: Osamu Iwase. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Belt inspecting apparatus

Номер патента: US20090147249A1. Автор: Ryo Obara,Hiroki Tahira. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: US20010035951A1. Автор: Hisashi Isozaki,Hiroshi Yoshikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Inspection apparatus and method based on coherent diffraction imaging (cdi)

Номер патента: US20210164919A1. Автор: Seungbeom Park,Myungjun Lee,Taewan Kim,Jaehwang Jung,Kyungwon Yun,Jaehyeon Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210405089A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240183804A1. Автор: Osamu Kinoshita. Владелец: Jed Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240068961A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Takashi Kanai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319117A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4425220A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Atsushi Yamakawa,Futoshi Yurugi,Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240302292A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection apparatus for sheet

Номер патента: US20140077101A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2014-03-20.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US20140364729A1. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp. Дата публикации: 2014-12-11.

Automatic inspecting apparatus for precharge of data line in memory device

Номер патента: US5291451A. Автор: Young W. Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 1994-03-01.

X-ray inspection apparatus and inspection method of x-ray sensor unit

Номер патента: EP4435418A1. Автор: Keisuke Yoshida,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4435417A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240319118A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Optical inspection apparatus, optical inspection method, and non-transitory storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US20240319104A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Electronic device inspection apparatus

Номер патента: US12123906B2. Автор: Masafumi Takeda,Yasuhiro Yamauchi,Yohei Mikami,Tetsuhiro Fukao,Motoyoshi Koyanagi,Kazuya ITOSE. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Nano projection structure inspection apparatus and nano projection structure inspection method

Номер патента: US11815467B2. Автор: Tsuyoshi Asano,Yuki Sato,Syoichi TSUCHIYA,Masataka Asai,Masahiro UCHIMURA,Nozomi TATEYAMA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Protective device and laser raman safety inspection apparatus comprising the same

Номер патента: US09997266B2. Автор: Lin Yang,LI ZHANG,Hongqiu Wang,Yumin Yi,Jianhong Zhang,Huacheng Feng,Shixin Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspection apparatus

Номер патента: US09982833B2. Автор: Jung Whan Yeum. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Vascular endothelial function inspection apparatus

Номер патента: US09962094B2. Автор: Yoshinobu Ono,Tsuneo TAKAYANAGI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Display panel inspection apparatus

Номер патента: US09940883B2. Автор: Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Jong-Hee NA,Jun-Il PARK,Hyung-Woo Yim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Extended reach inspection apparatus

Номер патента: US09939411B2. Автор: Gary E. Georgeson,Jeffrey R. Kollgaard,Nathan R. Smith,Paul S. Rutherford. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-04-10.

Focus monitoring arrangement and inspection apparatus including such an arrangement

Номер патента: US09921489B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-03-20.

Can body inspection apparatus and method

Номер патента: US09885667B2. Автор: Masayuki Nakamura,Wataru Ookubo. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

X-ray transmission inspection apparatus

Номер патента: US09863896B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Inspection apparatus for thermo-hygrometer based on phase change and methods for controlling and inspecting the same

Номер патента: US09846262B2. Автор: Jong Cheol Kim,Sang Wook Lee,Yong-Gyoo Kim,Byung Il Choi,Sang Bong WOO. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-12-19.

Mobile back scattering imaging security inspection apparatus and method

Номер патента: US09846257B2. Автор: Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Xiao Tang,Guangwei Ding. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Pr-containing scintillator single crystal, method of manufacturing the same, radiation detector, and inspection apparatus

Номер патента: US09834858B2. Автор: Tsuguo Fukuda,Kenji Aoki,Akira Yoshikawa,Kei Kamada,Hiraku Ogino. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Probe guide plate and semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US09829509B2. Автор: Yuichiro Shimizu,Kosuke FUJIHARA. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09776695B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices

Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.

Optical inspecting apparatus

Номер патента: US09746430B2. Автор: Chang-Hoon Choi,Byeong-Hwan Jeon,Tae-Joong Kim,Young-Kyu Park,Ki-Jung Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-29.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Pinhole inspection apparatus for can bodies

Номер патента: US09702828B2. Автор: Tomoki Seo,Yasuhiro KOUJI,Yuuma ISHII. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US09696402B2. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Method for determining set value of pressure for inspection in wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689916B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Substrate inspection apparatus

Номер патента: US09678107B2. Автор: Shingo Morita,Michio Murata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Radiation inspecting apparatus

Номер патента: US09606072B2. Автор: Yoshihiro Ueno,Yusuke TAGAWA,Hiroshi Oohara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Non-destructive inspection system for display panel and method, and non-destructive inspection apparatus thereof

Номер патента: US09588060B2. Автор: Jae Young Kim,Ki Wan Kim,Yeong Ri JUNG. Владелец: OZ-TEC Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US09581641B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09557277B2. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Defect classifying method and optical inspection apparatus for silicon carbide substrate

Номер патента: US09551672B2. Автор: Yoshihiro Nakano,Hirokazu Seki,Masamichi Shinoda,Toshiyuki TODOROKI,Makoto TORIZAWA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US09551670B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US09545241B2. Автор: Hiroshi Masuda,Hidenori Suzuki,Chikao Harada. Владелец: Unex Corp Japan. Дата публикации: 2017-01-17.

Fundus inspection apparatus

Номер патента: US09538916B2. Автор: Kenji Muto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09530202B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US09518931B2. Автор: Manabu Kido. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Inspection apparatus

Номер патента: US09494639B2. Автор: Hiroyasu Watanabe. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Hatching egg inspection apparatus with vibration isolation

Номер патента: US09494565B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Inspecting apparatus for inspecting a multilayer structure

Номер патента: US09488598B2. Автор: Wal Jun Kim,Seung Young BAECK. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Gear inspection apparatus

Номер патента: US09482527B2. Автор: Sota Murata. Владелец: Musashi Seimitsu Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Defect inspection apparatus using images obtained by optical path adjusted

Номер патента: US09460502B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Hiromu Inoue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: US09446434B2. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Hatching egg inspection apparatus and hatching egg inspecting method using a central and outer light emitter

Номер патента: US09435783B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Directional-deviation correction device and method for mobile-type radiation inspection apparatus

Номер патента: GB2610515A. Автор: HU YU,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,MENG Defang,WANG Yongming,GAO Yuxia,RAN Zhansen,Jiang Ruixin,Yu Yanwei. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-08.

Release mechanism for high-magnetization magnetic inspection apparatus for use in inspecting storage tank bottoms

Номер патента: US5514956A. Автор: Bruce W. Maxfield,Pamela C. Fitzgerald. Владелец: Industrial Sensors and Actuators. Дата публикации: 1996-05-07.

Outgoing email check system, check data providing apparatus, check data inspecting apparatus, and outgoing email check method

Номер патента: US8997183B2. Автор: Hiroshi Tsuda,Masayoshi Okamoto,Shinichi Mochizuki,Yoshinori Katayama,Fumihiko Kozakura,Kiyoshi Kurashige,Ryota Fukasawa,Aya Higashizono,Natsu Hashisaka. Владелец: Fujitsu Social Science Labs Ltd. Дата публикации: 2015-03-31.

Electrical inspecting apparatus with ventilation system

Номер патента: US5910727A. Автор: Motohiro Kuji,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1999-06-08.

Non-destructive inspection apparatus having an ergonomic grip and associated method

Номер патента: CA2792703C. Автор: James W. Fonda,Christopher S. Huskamp. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-10-09.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA2821100C. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Positioning means for circumferentially locating inspection apparatus in a nuclear reactor vessel

Номер патента: CA1090010A. Автор: David C. Burns. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1980-11-18.

Inspection apparatus lithographic apparatus measurement method

Номер патента: US11914307B2. Автор: Johannes Hendrik Everhardus Aldegonda MUIJDERMAN,Benjamin Cunnegonda Henricus SMEETS,Bas Johannes Petrus ROSET. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-02-27.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: GB2616274A. Автор: CHENG QIN,Roeton Adrian,Whyman Stuart. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Inspection system, inspection apparatus, and method of controlling these

Номер патента: US20240078400A1. Автор: Yoshitaka Oba. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: US20230280287A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-07.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: EP4239322A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Phase compensated multiple moving head inspection apparatus

Номер патента: US3811553A. Автор: D Riggs. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1974-05-21.

Visual inspection apparatus and method of inspecting display panel using the visual inspection apparatus

Номер патента: US7602959B2. Автор: Min-young Won,In-Cheol Song,Il-Ho Lee,Chan-Hyang Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-13.

Positioning calibration apparatus for transducers employed in nuclear reactor vessel inspection apparatus

Номер патента: CA1096057A. Автор: Hans J. Elsner. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1981-02-17.

Improvements in or relating to tire inspection apparatus

Номер патента: GB539304A. Автор: . Владелец: Firestone Tire and Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1941-09-04.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: CA2700220C. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Portable terahertz security inspection apparatus

Номер патента: US11733422B2. Автор: MENG CHEN,Ziran Zhao,Yingxin Wang,Xuming MA. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Jig for inspection apparatus, inspection apparatus, and inspection set

Номер патента: US11921151B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-03-05.

Transfer apparatus for inspection apparatus, inspection apparatus, and object inspection method using same

Номер патента: US11867747B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-01-09.

Stand-alone inspection apparatus for use in a manufacturing facility

Номер патента: US11879751B2. Автор: Sam Hoff,Raj Sohmshetty,Scott Mayberry,Vikas Rajendra. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2024-01-23.

Inspection apparatus, method of controlling the same, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20240029238A1. Автор: Masashi Oya,Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: US20230356213A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Inspection apparatus, control method, and program

Номер патента: US11906441B2. Автор: Kyota Higa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Steam turbine inlet sleeve inspection apparatus and method

Номер патента: EP1322952A2. Автор: James A. Bauer,George F. Dailey,Michael J. Metala,Charles C. Moore. Владелец: Siemens Westinghouse Power Corp. Дата публикации: 2003-07-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20120228372A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-09-13.

Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3276419A1. Автор: Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Sander Bas ROOBOL,Nan Lin. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-01-31.

Millimetre-range inspection apparatus

Номер патента: RU2521781C1. Автор: Ли ЧЖАН,Чжицян ЧЭНЬ,Юаньцзинь ЛИ,Инун ЛЮ,Цзыжань ЧЖАО,Ваньлун У,Дун ЛИНЬ,Цзунцзюнь ШЭНЬ,Силэй ЛО,Чжиминь ЧЖЭН,Инкан ЦЗИНЬ,Шо ЦАО,Бинь САН. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2014-07-10.

Inspection method, inspection apparatus and method of production of semiconductor device using them

Номер патента: US5936726A. Автор: Kazuo Takeda,Atsushi Hiraiwa,Hidetsugu Ishida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-08-10.

Pellet lenght and end squareness inspection apparatus

Номер патента: CA1075458A. Автор: Robert S. Wilks. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1980-04-15.

Inspection method of electrical part, inspection apparatus of electric junction box and inspection apparatus of terminal fittings

Номер патента: US7006681B2. Автор: Tatsuya Maeda,Shigenori Miyawaki. Владелец: Yazaki Corp. Дата публикации: 2006-02-28.

Particle inspection apparatus and method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US7388659B2. Автор: Yoichiro Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-17.

Inspection apparatus

Номер патента: US20030028836A1. Автор: Jaime Maeda,Agemilson Da Silva,Fabio Cabral,Luis Pinheiro,Odiletil Silva,Cesar Peres. Владелец: Sony da Amazonia Ltda. Дата публикации: 2003-02-06.

Baggage inspection apparatus and method for determining the presence of explosives

Номер патента: CA1207835A. Автор: Armando De Los Santos,James D. King,William L. Rollwitz,George A. Matzkanin,Phillip A. Hornung. Владелец: Southwest Research Institute SwRI. Дата публикации: 1986-07-15.

Inspection apparatus and method for hot glass containers

Номер патента: CA1051538A. Автор: James R. Sager. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1979-03-27.

Food stuff maturity sensing and inspection apparatus

Номер патента: US4423327A. Автор: Richard Alexander. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-12-27.

Remote operation system, communication apparatus remote control system and document inspection apparatus

Номер патента: WO2005041029A3. Автор: Tomofumi Nakayama,Yasuyuki Numata,Keizou Satou,Masako Yoshimura. Владелец: Masako Yoshimura. Дата публикации: 2005-08-18.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US11788892B2. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US20220090967A1. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Inspection apparatus for osseointegration of implants

Номер патента: US10390919B2. Автор: Min-Chun Pan,Jhao-Ming Yu,Chin-Sung Chen,Shih-Yao Wang,Shiou-Bair Lin. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2019-08-27.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: US11841332B2. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-12-12.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US8917903B2. Автор: Shinji Yamakawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-23.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20130136314A1. Автор: Shinji Yamakawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-30.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2620045A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nutech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: US20040263855A1. Автор: Yoram Koren,Stephen Segall. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2004-12-30.

Inspection apparatus for a packaging machine and packaging machine having an inspection apparatus

Номер патента: EP4303573A1. Автор: Stefano FLORE,Stefano Rossi,Antonio Melandri,Paolo Scarabelli,Massimo Viola,Giorgio PICCININI. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2024-01-10.

Portable Inspection Apparatus For X-Ray Tomography

Номер патента: US20110026670A1. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-02-03.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240177296A1. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: EP3970980A2. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Inspecting apparatus, and an inkjet printing apparatus having the same

Номер патента: US20230408338A1. Автор: Shinji Hayashi,Makoto Shiomi,Shinsuke Yamashita,Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Inspection apparatus for a packaging machine and packaging machine having an inspection apparatus

Номер патента: WO2024008474A1. Автор: Stefano FLORE,Stefano Rossi,Antonio Melandri,Paolo Scarabelli,Massimo Viola,Giorgio PICCININI. Владелец: TETRA LAVAL HOLDINGS & FINANCE S.A.. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection apparatus for osseointegration of implants

Номер патента: US20180064517A1. Автор: Min-Chun Pan,Jhao-Ming Yu,Chin-Sung Chen,Shih-Yao Wang,Shiou-Bair Lin. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2018-03-08.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: WO2024094298A1. Автор: Victor Alvarez. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2024-05-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200064374A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Inspection apparatus for optical disk having phase modulated wobble tracks and optical disk apparatus for driving the optical disk

Номер патента: US20060092791A1. Автор: Akira Mashimo,Keishi Ueno. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2006-05-04.

Inspection apparatus for optical disk having phase modulated wobble tracks and optical disk apparatus for driving the optical disk

Номер патента: US7697405B2. Автор: Akira Mashimo,Keishi Ueno. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-13.

Ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: GB2064117A. Автор: . Владелец: Huntleigh Medical Ltd. Дата публикации: 1981-06-10.

Container inspecting apparatus

Номер патента: US5880359A. Автор: Masaji Nishimura,Tadahisa Kono,Kunihiko Kubota,Yasuo Miwa. Владелец: Kirin Techno System Co Ltd. Дата публикации: 1999-03-09.

X-ray inspection apparatus and method of inspection with x-rays

Номер патента: US20230384246A1. Автор: Tsuneo Sato,Kazuya Iwata,Satoshi Matsubara,Toshiyuki Takahara,Yuta Seki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Rail diagnostic inspection apparatus

Номер патента: WO2023152613A1. Автор: Silvestro DI GIOIA,Gaetano MARINELLI,Francesco TRISTANO,Luigi DIPALO. Владелец: TESMEC S.P.A.. Дата публикации: 2023-08-17.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20080024765A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-01-31.

Euv collector inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230108698A1. Автор: Matsuda Yozo,Minseok Choi,Dohyun Jung,Jeonggil KIM,Yoojin JEONG,Donghyub Lee,JongBin PARK,Eunhee Jeang,Wondon Joo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspecting apparatus, robot apparatus, inspecting method, and inspecting program

Номер патента: US20130195345A1. Автор: Koichi Hashimoto,Tomohiro Inoue,Takashi NAMMOTO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-08-01.

Inspection apparatus, method of manufacturing template, and method of inspecting templates for nano imprint lithography

Номер патента: EP4296656A1. Автор: Keisuke Chiba,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

Electronic component inspection apparatus

Номер патента: US20130154661A1. Автор: Jeong Ho Shin,Hae Man Lee,Ik Hyun Shin. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-20.

Inspection apparatus, system and method for use in assessing the integrity of a pipe assembly

Номер патента: WO2022090732A1. Автор: David Sutherland PHIN. Владелец: Paragon Inspection Limited. Дата публикации: 2022-05-05.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Apparatus

Номер патента: US20100271627A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Kenji Aiko,Minori Noguchi,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection system, image management method and program

Номер патента: US20230046611A1. Автор: Hironori Kasahara. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-02-16.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: EP4355509A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-04-24.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: WO2021097558A1. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc.. Дата публикации: 2021-05-27.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20090244529A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Inspection apparatus and method for calibrating inspection apparatus

Номер патента: US20240029236A1. Автор: Shingo Mori,Masakazu Umehara,Naoya Kishimoto. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection apparatus

Номер патента: AU2022291582B2. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240192142A1. Автор: Tae-Jin Hwang,Seonghyeon CHEON,Jaemin SON,Se-Kwang Han. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: CA2716419C. Автор: Hideo Isobe,Hirokazu Karasawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-02-18.

Sheet material inspection apparatus

Номер патента: CA1150184A. Автор: Jacques F. Demers,Gilles J. Brown. Владелец: Cygene Inc. Дата публикации: 1983-07-19.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: US7423745B2. Автор: Hideyuki Moribe,Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Optical focus sensor, an inspection apparatus and a lithographic apparatus

Номер патента: IL194698A. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2013-10-31.

Three-dimensional ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: CA2782198C. Автор: Takahiro Ikeda,Shin Matsumoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Defect inspecting apparatus

Номер патента: US20060087330A1. Автор: Tsutomu Saito,Osamu Yamada,Eiichi Hazaki,Yasuhiko Nara,Yoshikazu Inada,Hirofumi Sato,Yoshinori Numata. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-04-27.

Mounted component inspection apparatus, component mounting machine comprising the mounted component inspection apparatus, and mounted component inspection method

Номер патента: US20100189340A1. Автор: Yoichiro Ueda. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-07-29.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: CA2849139C. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: Alstom Technology AG. Дата публикации: 2016-06-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Modular microchip inspection apparatus

Номер патента: EP1946831A1. Автор: Mitsuharu Kitamura,Yushi Nobumoto. Владелец: Konica Minolta Medical and Graphic Inc. Дата публикации: 2008-07-23.

Pipeline inspection apparatus and method using two different ultrasound wavemodes

Номер патента: CA2711894C. Автор: David Paige. Владелец: PII Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Foreign matter inspection method and foreign matter inspection apparatus

Номер патента: US20070201019A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Mamoru Kobayashi,Yoshio Morishige,Hideki Fukushima,Eiji Imai,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-30.

Rapid prototype integrated matrix ultrasonic transducer array inspection apparatus, systems, and methods

Номер патента: US7430913B2. Автор: Dennis P. Sarr. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2008-10-07.

Inspection apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240070841A1. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: WO2022264026A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA S.P.A.. Дата публикации: 2022-12-22.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2619661A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-13.

Fluid inspection apparatus

Номер патента: GB2620475A. Автор: Patel Kavita,Singh Bath Charanjit. Владелец: Innovative Heating Solutions Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method

Номер патента: US20190162756A1. Автор: Masato Utsumi. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Inspection apparatus for gas sensor

Номер патента: US10520468B2. Автор: Naoya Saito,Kazuki TAKEGAWA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2019-12-31.

Inspection apparatus for gas sensor

Номер патента: US20170284960A1. Автор: Naoya Saito,Kazuki TAKEGAWA. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2017-10-05.

Millimeter wave security inspection apparatus and method for inspecting human or article

Номер патента: US20200249373A1. Автор: Ming Xu,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Yingkang Jin,Lingbo QIAO,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-06.

Inspection apparatus and printing apparatus

Номер патента: US20230256760A1. Автор: Akidi Yoshida. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20160054366A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2016-02-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2014167838A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: US20140284255A1. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: CA3158695C. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc. Дата публикации: 2023-07-18.

Eye Fundus Inspection Apparatus

Номер патента: US20200205658A1. Автор: Irene Mogentale,Andrei Plaian. Владелец: Centervue SpA. Дата публикации: 2020-07-02.

Eye fundus inspection apparatus

Номер патента: EP3644831A1. Автор: Irene Mogentale,Andrei Plaian. Владелец: Centervue SpA. Дата публикации: 2020-05-06.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20230366838A1. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Vehicle noise inspection apparatus

Номер патента: US11978292B2. Автор: Masato Nakano,Daiki Sato,Hiroki Onuma. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Document relationship inspection apparatus, translation process apparatus, document relationship inspection method, translation process method, and document relationship inspection program

Номер патента: US20040243403A1. Автор: Toshiki Murata,Toshihiko Matsunaga,Mihoko Kitamura. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-12-02.

Tobacco filter inspection apparatus

Номер патента: EP4275521A1. Автор: Hitoshi Ichikawa,Manabu Ichimura. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20230401688A1. Автор: Takashi Tanaka,Hiroshi Horikawa,Satoru Sugimoto,Masashi Hayakawa,Hirofumi Okamoto,Takahide Hatahori,Naoto Mishina. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230314362A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspecting apparatus for glass substrate

Номер патента: US7630071B2. Автор: Jungho Park,Sooyoun Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-08.

Seam inspection apparatus

Номер патента: US20190378266A1. Автор: Kenji Takahashi. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, and control method

Номер патента: US20220179349A1. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-06-09.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Visual inspection apparatus and system associated therewith

Номер патента: AU2020387044A1. Автор: Patrick Lamontagne,Norman BÉDARD. Владелец: Rinnovision Inc. Дата публикации: 2022-07-14.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20130242293A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-09-19.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US7773210B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-08-10.

Image inspecting apparatus and image forming system

Номер патента: US20200286218A1. Автор: Makoto Ikeda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-09-10.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US9833093B2. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-12-05.

Inspection apparatus having a contactor for inspecting electrical characteristics of an object, a contactor tip position adjusting unit, and a position adjusting method therefor

Номер патента: US11965911B2. Автор: Satoshi Narita,Jun Shirato. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Inspection apparatus, method of manufacturing template, and method of inspecting template

Номер патента: US20230410283A1. Автор: Keisuke Chiba,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Radiographic inspection apparatus and method for inspecting target

Номер патента: GB2619858A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,LIANG Jinning,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Portable Visual Inspection Apparatus And Method for Inspecting Article

Номер патента: US20220341852A1. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Matthew ORLOWSKI,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Inspection apparatus

Номер патента: US20190325606A1. Автор: Shouta Takizawa,Yuusuke Oota. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2019-10-24.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240151661A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Ai-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US20240112781A1. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection apparatus

Номер патента: US20150130488A1. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-14.

Inspection apparatus

Номер патента: US20100289514A1. Автор: Kenichi Washio,Katsuo Yasuta,Toshikazu Oshima,Takehiko Hirai. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-18.

Object inspection apparatus

Номер патента: GB2616783A. Автор: LIU Lei,HU YU,Xu Guangming,ZHAI Xingliang,Wang Weizhen,Sun Shangmin,Du Long,ZONG Chunguang,SONG Quanwei,ZHU Xinbo,Ma: Yuan,Gong Lingjun,Hou Lina. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Inspection apparatus

Номер патента: EP4227897A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20210080399A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Micro light emitting device inspection apparatus

Номер патента: US20240183708A1. Автор: Cheng-Cian Lin. Владелец: PlayNitride Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection apparatus and method adapted to a scanning technique employing a rolling wire probe

Номер патента: US20030006757A1. Автор: Tak Eun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-09.

Inspection apparatus for inspecting patterns of a substrate

Номер патента: US20100008564A1. Автор: Michio Nakano,Koichi Hayakawa,Hiroshi Miyai,Masaaki Nojiri,Takako Fujisawa,Dai Fujii. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-01-14.

Medical inspection apparatus and medical inspection system

Номер патента: US20180055360A1. Автор: Takashi Sakai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-03-01.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240192151A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, and control method

Номер патента: US11556084B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-17.

Focus monitoring arrangement and inspection apparatus including such an arragnement

Номер патента: WO2016050453A1. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2016-04-07.

Inspection apparatus for measuring properties of a target structure, methods of operating an optical system, method of manufacturing devices.

Номер патента: NL2016509A. Автор: Gerard Feijen Kim,Wilhelmus Maria Van Buel Henricus,Joseph Kok Martinus. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-10-10.

Inspection apparatus for semiconductor packages

Номер патента: US6005965A. Автор: Takashi Kurihara,Yukihiro Tsuda,Takahiro Ueda,Yasuyoshi Suzuki,Tomikazu Tanuki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 1999-12-21.

Optical member inspecting apparatus and method of inspection thereof

Номер патента: US6148097A. Автор: Atsushi Kida,Masayuki Sugiura,Masato Hara,Toshihiro Nakayama. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2000-11-14.

Surface inspection apparatus

Номер патента: CA1228136A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1987-10-13.

Surface flaw inspection apparatus for convex body

Номер патента: CA1206226A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1986-06-17.

Container inspecting apparatus

Номер патента: CA1316687C. Автор: Takashi Ohtsuki,Shin Ichi Taniguchi. Владелец: Takeda Chemical Industries Ltd. Дата публикации: 1993-04-27.

Pipe outer surface inspection apparatus

Номер патента: CA2906711A1. Автор: Rick R. Kimpel, Jr.,Randall L. Perkins,Bryan KARASEK. Владелец: COMMERCIAL COATING SERVICES INTERNATIONAL LLC. Дата публикации: 2014-09-18.

Glove inspection apparatus

Номер патента: US3820383A. Автор: Deventer A Van,D Poland. Владелец: Dart Industries Inc. Дата публикации: 1974-06-28.

Semiconductor inspection apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20060139042A1. Автор: Susumu Kasukabe. Владелец: Renesas Technology Corp. Дата публикации: 2006-06-29.

Roll mark inspection apparatus

Номер патента: US4958307A. Автор: Seikichi Nishimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1990-09-18.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: WO2022183338A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems (Suzhou) Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-09-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US4246606A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1981-01-20.

Optical inspection apparatus

Номер патента: US4777567A. Автор: Ken Smith,Robert H. Welker. Владелец: WELKEE ENGR Co. Дата публикации: 1988-10-11.

Transfer machine in a surface inspection apparatus

Номер патента: US4787800A. Автор: Katsuya Okumura,Kazuyoshi Sone,Kanji Ikegaya,Tomio Nakajima. Владелец: Tokyo Kogaku Kikai KK. Дата публикации: 1988-11-29.

Video image compensator for inspection apparatus

Номер патента: CA1183939A. Автор: Amir R. Novini,Lawrence F. Berridge, Jr.. Владелец: Inspection Technology Inc. Дата публикации: 1985-03-12.

Inspection apparatus for determining the contours of sheet material

Номер патента: CA1133090A. Автор: Robert J. Ii Bobel,Richard H. Blausey, Jr.,Donald B. Hopings,Edward D. Floyd,Andrew W. Rudolph,Russell C. Retzloff. Владелец: Libbey Owens Ford Co. Дата публикации: 1982-10-05.

Bottle inspection apparatus

Номер патента: US4061014A. Автор: Gerald J. Bott,William C. Porter,Terrance M. Nowak. Владелец: Individual. Дата публикации: 1977-12-06.

Surface inspection apparatus

Номер патента: US4696572A. Автор: Akira Ono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1987-09-29.

Surface undulation inspection apparatus

Номер патента: US5309222A. Автор: Mitsuhito Kamei,Mikio Tachibana. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1994-05-03.

Bottle bottom inspection apparatus

Номер патента: US4943713A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1990-07-24.

Inspecting apparatus for measuring sensors mounted on train

Номер патента: US4817019A. Автор: Kenji Morihara. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-03-28.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: CA1134937A. Автор: Geoffrey C. Braithwaite. Владелец: British Gas Corp. Дата публикации: 1982-11-02.

Blood vessel function inspecting apparatus

Номер патента: US8500640B2. Автор: Hiroshi Masuda,Naotaka Nitta. Владелец: Unex Corp Japan. Дата публикации: 2013-08-06.

Inspection apparatus

Номер патента: US5497234A. Автор: Kazumi Haga. Владелец: Haga; Kazumi. Дата публикации: 1996-03-05.

Raman spectrum inspection apparatus

Номер патента: EP3435072A1. Автор: LI ZHANG,Hongqiu Wang,Jianhong Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Visual inspection apparatus

Номер патента: US4207974A. Автор: Peter Dragotta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-17.

Lighting device and inspection apparatus having the same

Номер патента: US11314073B2. Автор: MASATO Kajinami,YASUHIRO Hidaka,Takayuki Sasaoka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-04-26.

Spot welding inspecting apparatus

Номер патента: US5191720A. Автор: Masaaki Miura,Yoshimi Miura. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-03-09.

Pattern inspecting apparatus

Номер патента: US4942619A. Автор: Makoto Takagi,Norio Fujii,Yoshihiko Fujimori. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1990-07-17.

Prepreg pasting state inspection apparatus

Номер патента: CA2803568C. Автор: Shoji Abe,Katsuo Tokida. Владелец: Sanyo Machine Works Ltd. Дата публикации: 2019-08-20.

Inspection apparatus with refractor for illuminating can flange

Номер патента: US5822056A. Автор: William T. Waters,Grover C. Edmonds. Владелец: Reynolds Metals Co. Дата публикации: 1998-10-13.

Ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US4096755A. Автор: Leroy Robert Hause,Clarence William Coplin. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1978-06-27.

Radioactive source pigtail inspection apparatus and method

Номер патента: CA1182587A. Автор: Donald J. Olcott. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-02-12.

Bottle inspection apparatus

Номер патента: CA1118525A. Автор: Antis N. Pantelides,Geoffrey E. Ford. Владелец: Ti Fords Ltd. Дата публикации: 1982-02-16.

Optical arrangement for an inspection apparatus

Номер патента: NL2021628A. Автор: Lloyd Kreuzer Justin,Vinayak Kelkar Parag. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2019-04-03.

Inspection apparatus for defects on patterns

Номер патента: CA1126854A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-29.

Defect inspection apparatus for bottles made of transparent material

Номер патента: CA1252539A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1989-04-11.

Inspection apparatus, inspection method, and inspection system

Номер патента: EP3499211A3. Автор: Takashi Matsuyama,Ikue TAKAGI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

Emergency disconnect means for the manipulator arm of a nuclear reactor vessel inspection apparatus

Номер патента: CA1090011A. Автор: Arthur F. Jacobs,Duane W. Morris. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1980-11-18.

Distortion inspecting apparatus and distortion inspecting method

Номер патента: US20100182423A1. Автор: Kikuhito Kawasue. Владелец: University of Miyazaki NUC. Дата публикации: 2010-07-22.

Surface inspection apparatus

Номер патента: CA1283964C. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1991-05-07.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US7242016B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-07-10.

Automatic inspection apparatus

Номер патента: US4036373A. Автор: Igarashi Taenzi,Tsubota Toshio. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1977-07-19.

Cylindrical body inspection apparatus utilizing displacement information and reflected light information

Номер патента: US5652432A. Автор: Yoshitaka Yaginuma. Владелец: Mitsubishi Nuclear Fuel Co Ltd. Дата публикации: 1997-07-29.

Vehicle information inspecting apparatus

Номер патента: US9424455B2. Автор: Jaehun Song,Jongho Maeng. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-08-23.

Powder and granule inspection apparatus

Номер патента: GB2248197A. Автор: Katsumi Tokoyama. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1992-04-01.

Transmissivity inspection apparatus

Номер патента: US4730932A. Автор: Yoshio Yamaguchi,Masahiko Iga,Yoshihiro Yamato. Владелец: Toyo Glass Co Ltd. Дата публикации: 1988-03-15.

Wrapping paper defect inspection apparatus for a cigarette manufacturing machine

Номер патента: US6130438A. Автор: Hiroyuki Torai. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2000-10-10.

Mask defect inspection apparatus

Номер патента: US20050213083A1. Автор: Toshiyuki Watanabe,Akihiko Sekine,Shinji Sugihara,Ikunao Isomura,Riki Ogawa. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2005-09-29.

Foreign particle inspection apparatus

Номер патента: US5623340A. Автор: Kenji Yamamoto,Hideyuki Tashiro,Tsuneyuki Hagiwara,Fuminori Hayano. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1997-04-22.

Method of processing body inspection image and body inspection apparatus

Номер патента: CA2775757C. Автор: MING Chen,Xuewu Wang,Yumin Yi,Yunda Sun,Lian Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-22.

Inspection apparatus

Номер патента: CA3011787C. Автор: Timothy Kelf,Benedict Deefholts. Владелец: Buehler UK Ltd. Дата публикации: 2023-01-31.

Inspection apparatus for liquid crystal display device

Номер патента: US20020085198A1. Автор: Seong Sohn. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2002-07-04.

Dual beam laser inspection apparatus

Номер патента: US4643569A. Автор: Sean Sullivan,Glenn E. Stutz. Владелец: Lincoln Laser Co. Дата публикации: 1987-02-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210164914A1. Автор: Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Method and system of overlay measurement using charged-particle inspection apparatus

Номер патента: WO2024012965A1. Автор: Antoine Gaston Marie Kiers,Benoit Herve GAURY,Thomas Jarik Huisman. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-01-18.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933839B2. Автор: Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US11940393B2. Автор: Hiroshi Hori. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Method for configuring a field of view of an inspection apparatus

Номер патента: WO2024046691A1. Автор: Roy ANUNCIADO,Vahid BASTANI,Stefan Cornelis Theodorus VAN DER SANDEN,Konstantin Sergeevich NECHAEV. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection apparatus

Номер патента: US20200309717A1. Автор: Kazumi Yamagata,Tatsuo Kawashima. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: EP4302070A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Photomask inspection apparatus and method of inspecting photomask using the same

Номер патента: US20240044741A1. Автор: Tae Joon Kim,Jeongmin Park,Chanhyeong Cho,Hyeonguk Yeo,Juil KIM,Daehoon Min. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Macro inspection apparatus and microscopic inspection method

Номер патента: US20090147248A1. Автор: Mitsuru Uda,Atsushi Kohayase. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200250467A1. Автор: Eiji Matsumoto,Masaya Takeda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: US20140264024A1. Автор: Hitoshi Nakayama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-09-18.

Inspection apparatus capable of preventing unnecessary abnormality determination on printed matter, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US11822840B2. Автор: Ryo Fujita. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US11887389B2. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Dual function non-destructive inspection apparatus and method

Номер патента: US20200003734A1. Автор: Daniel J. Wright,James J. Troy,Scott W. Lea,Gary Ernest Georgeson. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-01-02.

Method and system of overlay measurement using charged-particle inspection apparatus

Номер патента: WO2023213503A1. Автор: Antoine Gaston Marie Kiers. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Diesel fuel quality inspection apparatus and inspection method thereof

Номер патента: US20180073998A1. Автор: Jang-Hyun JUNG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-03-15.

Surface characteristics inspection method and surface characteristics inspection apparatus for steel product

Номер патента: US20180209939A1. Автор: Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-07-26.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11790513B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

X-ray inspection apparatus and article handling system

Номер патента: EP4242645A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Kazuyuki Sugimoto,Momoko FUJIOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US20210275144A1. Автор: Yhuko OGATA. Владелец: Melody International Ltd. Дата публикации: 2021-09-09.

Water inspection apparatus

Номер патента: US20170131201A1. Автор: Jinsung Kim,Yunho Kim,Seojeong LIM,Sueryeon KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: US20140157069A1. Автор: Masami Nishizono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-06-05.

Image inspection apparatus, image inspection method, and image inspection program

Номер патента: US20190066285A1. Автор: Hiroki Shibuya. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230105201A1. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-04-06.

Inspection apparatus and method for inspecting a printed material

Номер патента: US11842094B2. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170352140A1. Автор: Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-07.

Inspection apparatus for display module

Номер патента: US20220252521A1. Автор: Seongmo Hwang,Jeong-Hwan Shin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Inspection apparatus

Номер патента: US20140015554A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2014-01-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130321015A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Inspection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20130148863A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-13.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: US20140252231A1. Автор: Satoshi Takenaka,Hiroto TOMIOKA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

Image inspection method, image inspection apparatus, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20130250319A1. Автор: Hitomi Kaneko,Hiroyuki Kawamoto,Keiichi Miyamoto,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US20240035986A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hiroki Morii,Takahiro Fujioka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: EP2454028A1. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2012-05-23.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: CA3208450A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Processing device, inspection apparatus and system for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: US20240142386A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspection apparatus for display module including a seat part having recess part

Номер патента: US11898965B2. Автор: Seongmo Hwang,Jeong-Hwan Shin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-13.

X-ray inspection apparatus and adjustment method thereof

Номер патента: EP4242646A1. Автор: Keisuke Yoshida,Ken IWAKAWA,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Solid inspection apparatus and method of use

Номер патента: CA3166392C. Автор: M. Shane Bowen,Dajun Yuan,Joseph Francis PINTO,Bala Murali K. VENKATESAN,John Gerhardt Earney,Arthur Pitera,Michael S. Graige. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-10-31.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11815493B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US11748925B2. Автор: Kazuya Fukunaga,Yoshitaka Kuwada,Miho Uno. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-09-05.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US11892416B2. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-02-06.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US11941795B2. Автор: Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-03-26.

Shape inspection apparatus, shape inspection method and computer readable medium

Номер патента: US20090129662A1. Автор: Masaaki Hagiwara,Hiroaki Nakazato,Toshihiro Numauchi,Katsumi Takezaki. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-21.

Sound inspection apparatus and sound inspection method

Номер патента: US20230266277A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

X-ray inspection apparatus and article handling system

Номер патента: US20230288347A1. Автор: Yoshiaki Sakagami,Kazuyuki Sugimoto,Momoko FUJIOKA. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Fixed state inspection apparatus, fixed state inspection system, fixed state inspection method, and a non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11954911B2. Автор: Rina YAKUWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20230175978A1. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hisaaki Kanai,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Surface defect inspecting apparatus with defect detection optical system and defect-detected image processing

Номер патента: US20090237669A1. Автор: Minoru Yoshida,Shigeru Serikawa,Tatsuo Hariyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Contactless inspection apparatus of heat pipe and method thereof

Номер патента: US11774385B2. Автор: zhi-sheng Wang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Inspection apparatuses and methods for segmenting an image of a vehicle

Номер патента: US20180260959A1. Автор: QIANG LI,Ziran Zhao,Yaohong Liu,Jianping Gu,Chuanhong Huang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20110058160A1. Автор: Xiaodi Tan. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-03-10.

Inspection apparatus

Номер патента: EP4206748A1. Автор: Qingping Huang,Mingzhi Hong,Liguo Zhang,Zinan Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US20230375508A1. Автор: Akihiro Kariya,Yousuke Nagano. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Defect inspecting apparatus and defect inspecting method

Номер патента: US20130208270A1. Автор: Hideki Fukushima,Nobuaki Hirose. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Scintillator array, and radiation detector and radiation inspection apparatus using the same

Номер патента: US20240045083A1. Автор: Hiroyasu Kondo,Makoto Hayashi,Kazumitsu Morimoto. Владелец: Toshiba Materials Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Probe card inspection apparatus

Номер патента: US20150168528A1. Автор: Jung-Woo Kim,Shin-Ho Kang,Joon-Su Ji. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-06-18.

Defect inspecting apparatus

Номер патента: US20060082782A1. Автор: Toru Tojo,Munehiro Ogasawara,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-20.

Backdoor inspection apparatus, backdoor inspection method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20220292191A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Image inspection apparatus, image forming system, and image inspection method

Номер патента: US20150063889A1. Автор: Keiji Kojima. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

X-ray inspection apparatus and adjustment method thereof

Номер патента: US20230284991A1. Автор: Keisuke Yoshida,Ken IWAKAWA,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20230258581A1. Автор: Akihiro Maenaka,Ken IWAKAWA,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection apparatus

Номер патента: US20200302590A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: US20100150308A1. Автор: Koji Katayama,Shinya Yamamoto,Yasuhiro Yamamoto,Yasuji Yamamoto,Kiyoshi Miyazaki,Tetsuji Matsumura,Masao Tsuno. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933667B2. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: EP4036589A1. Автор: Hiroyuki Nakayama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-08-03.

Processing device and inspection apparatus for optical inspection and corresponding methods

Номер патента: EP4302315A1. Автор: Wei Zhao,Fei Zhang,Linqi JIAO,Chunxin YANG,Yuanping Zhou,Minquan LI,Shengwei FENG. Владелец: Leica Microsystems Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and carrier means

Номер патента: EP3974816A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Electrical characteristic parameter inspection apparatus, electrical characteristic parameter inspection method, and program

Номер патента: EP4253948A1. Автор: Makoto Takada,Masaru Fuse,Junichi Jono. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-04.

Optical inspection apparatus

Номер патента: US11867612B2. Автор: BASRUR Veidhes,Jong Won Lee,Dae Hyun Kim,Je Won YOO,Hyun Min Cho,Joo Yeol Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Thermographic inspection apparatus and method

Номер патента: EP4160197A1. Автор: Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Workpiece inspection apparatus and inspection method

Номер патента: MY127007A. Автор: Kobayashi Kenji,Kikawa Kazuhiro. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Surface inspecting apparatus

Номер патента: US7190448B2. Автор: Takahiro Miura,Tatsushi Takahashi,Katsuhiro Natsume,Kouji Ohsawa. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-13.

Discharge Inspection Apparatus and Discharge Inspection Method

Номер патента: US20110084998A1. Автор: Shinya Komatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Defect inspection apparatus, defect inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200089131A1. Автор: Kouta Kameishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US11238578B2. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-02-01.

Wafer inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US11841381B2. Автор: Tsun-I Wang,I-Shih Tseng,Min-Hung Chang,Tzu-Tu CHAO. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Mask inspection apparatus, switching method, and mask inspection method

Номер патента: US20200182803A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Takayuki Ishida,Tetsuya Sendoda. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Sensor unit and print state inspection apparatus using the same

Номер патента: EP1582350A1. Автор: Mamoru Sawamura. Владелец: Aan Corp Co Ltd. Дата публикации: 2005-10-05.

Inspection apparatus and inspection method for magnetic head or magnetic disk and inspection method for magnetic head

Номер патента: US20120075738A1. Автор: Toshiaki Suzuki,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa,Kazuhiko KISHIE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: EP4275792A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Linear-scan ultrasonic inspection apparatus and linear-scan ultrasonic inspection method

Номер патента: US20190064120A1. Автор: Masaru Otsuka,Azusa Sugawara,Setsu Yamamoto,Jun Semboshi,Kentaro Tsuchihashi. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Automatic watermelon inspection apparatus

Номер патента: US20230304986A1. Автор: Ming Li,Liang Zhang,Zhiwei Wang,Ting Zou,Jingjing Huang,Hao XIONG,Wenting Zhou,Sihui Dai,Yongwei Xu,Heming Hu,Hongduo Zhang,Jinqi Huang,Yunong Zhou,Siping Yu,Xiongwei Gong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-28.

Defect inspection apparatus, method and program

Номер патента: US20220084185A1. Автор: Ryusuke Hirai,Yukinobu Sakata,Akiyuki Tanizawa,Kyoka Sugiura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Security inspection apparatus, security inspection method, and program

Номер патента: US20230134937A1. Автор: Kentaro Sonoda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-05-04.

Surface inspecting apparatus

Номер патента: US20040160609A1. Автор: Takahiro Miura,Tatsushi Takahashi,Katsuhiro Natsume,Kouji Ohsawa. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2004-08-19.

Inspection apparatus

Номер патента: US8264679B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Optical inspection apparatus, optical inspection system, optical inspection method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20240094114A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240046450A1. Автор: Makoto Anno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection apparatus and non-transitory recording medium storing inspection program

Номер патента: US11933745B2. Автор: Kenichi Shimoyama,Masanori Sato,Yuka Watanabe,Takuma Akagi. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection apparatus and method of tone wheel for vehicle

Номер патента: WO2008143450A1. Автор: Jin Hur,Jaehwan Song. Владелец: Yusung Ft. Дата публикации: 2008-11-27.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20240027895A1. Автор: Ming-Sheng Chen. Владелец: Stek Co ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Inspection apparatus, image forming system, misalignment measurement method and storage medium

Номер патента: US20220335629A1. Автор: Takahiro Koyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Image inspecting apparatus, image inspecting method, and computer-readable recording medium storing image inspecting program

Номер патента: US20220051386A1. Автор: Shinichi Asai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-02-17.

Inspection apparatus, inspection method, and computer readable recording medium storing inspection program

Номер патента: US20190287233A1. Автор: Toshiyuki Yoshitake,Mitsuhiro Makita,Atsunori Moteki,Ayu Karasudani. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-09-19.

Material property inspection apparatus

Номер патента: US20200158565A1. Автор: Masaaki Fuse,Hideyuki Sakamoto,Takao Tanimoto,Ken Shioiri. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-05-21.

Optical inspection apparatus

Номер патента: US20240102921A1. Автор: BASRUR Veidhes,Jong Won Lee,Dae Hyun Kim,Je Won YOO,Hyun Min Cho,Joo Yeol Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Wafer defect inspection apparatus

Номер патента: US20240175826A1. Автор: Ching-Liang Lin,Yi-Chia Hwang. Владелец: PlayNitride Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Medical X-ray inspection apparatus

Номер патента: US4483014A. Автор: Keiichi Kawasaki,Naoki Yuguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1984-11-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20110063621A1. Автор: Yusaku Konno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Cutting tool inspection apparatus and method

Номер патента: US20240033874A1. Автор: Hiroshi Ishiyama,Kenichi Yamagata,Yoshinori Monaka. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Endoscope leak inspection apparatus

Номер патента: US20160081531A1. Автор: Michifumi Yoshie. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-03-24.

Inspection apparatus and storage medium storing computer program

Номер патента: US20240078658A1. Автор: Shoji Onoto. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Method of manufacturing an inspection apparatus for inspecting an electronic device

Номер патента: WO2009054670A1. Автор: Woo-Chang Choi,Jung-Min Ha,Ji-Hee Hwang,Yong-Ji Lee,Sung-Jae Oh. Владелец: Phicom Corporation. Дата публикации: 2009-04-30.

Powder granule sample inspection apparatus

Номер патента: CA2022556A1. Автор: Katsumi Tokoyama. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1992-02-03.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308B. Автор: Hideo Ueno. Владелец: SANFREUND CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-02.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308A. Автор: Hideo Ueno. Владелец: Sanfreund Corp. Дата публикации: 2014-05-30.

Bearing inspection apparatus

Номер патента: RU2343444C2. Автор: Александр Константинович Явленский,Алексей Александрович Мельников,Александр Антонович Белоусов,Тать на Николаевна Евдокимова,Татьяна Николаевна Евдокимова,нов Антон Александрович Севасть,Антон Александрович Севастьянов,Александр Исаакович Эльперин. Владелец: Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет кино и телевидения" ("СПбГУКиТ"). Дата публикации: 2009-01-10.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA1153604A. Автор: Donald E. Lorenzi,John J. Flaherty,Edward Schaefer,Donald T. O'connor. Владелец: Magnaflux Corp. Дата публикации: 1983-09-13.

Magnetic inspection apparatus for thin steel strip

Номер патента: CA2054718C. Автор: Kenichi Iwanaga,Takato Furukawa,Seigo Ando,Masaki Takenaka,Atsuhisa Takekoshi. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 1996-08-20.

Inspection apparatus for handrail of passenger conveyer and maintenance method of passenger conveyer

Номер патента: SG177844A1. Автор: YAMAGUCHI Yukihiro,TAKAHASHI Kazuya,TAKEMOTO Keisuke,Kodaira Norimi,Ohnishi Tomoharu,Sakai Syouhei. Владелец: Hitachi Building Sys Co Ltd. Дата публикации: 2012-02-28.

Passenger conveyor handrail inspection apparatus, passenger conveyor handrail inspection method, and passenger conveyor handrail inspection program

Номер патента: SG185232A1. Автор: BABA Rika,Kodaira Norimi,Oonishi Tomoharu. Владелец: Hitachi Building Sys Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-29.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.