• Главная
  • Inspection apparatus, inspection method and storage medium

Inspection apparatus, inspection method and storage medium

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Inspection apparatus, image forming apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20150131116A1. Автор: Yoshinori SOCHI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-14.

INSPECTION APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20150131116A1. Автор: SOCHI Yoshinori. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2015-05-14.

Color separation condition determining apparatus, method and non-transitory storage medium

Номер патента: US09767397B2. Автор: Takahiro Okamoto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Color separation condition determining apparatus, method and non-transitory storage medium

Номер патента: US20140125998A1. Автор: Takahiro Okamoto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-05-08.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240106935A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4346196A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

Management apparatus, management system, object management method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09521293B2. Автор: Kaname Kurokawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Time-lapse photographing control method and apparatus, readable storage medium, and camera

Номер патента: US10623689B2. Автор: Li Jin,Xuewu Zhang. Владелец: Shanghai Xiaoyi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

System, method, and computer-readable storage medium for transmitting a map and an image of a device

Номер патента: US20150254027A1. Автор: Tom Haapanen,Matt Cecile. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-10.

Time-lapse photographing control method and apparatus, readable storage medium, and camera

Номер патента: US20190110019A1. Автор: Li Jin,Xuewu Zhang. Владелец: Shanghai Xiaoyi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-11.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09534957B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09495740B2. Автор: Toshiyuki Watanabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09542586B2. Автор: Eiji Matsumoto,Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Object inspection apparatus and object inspection method using same

Номер патента: US11908123B2. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Choung Min JUNG,Han Rim KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-20.

Visual inspection apparatus and visual inspection methods

Номер патента: US20240013370A1. Автор: Hiroshi Yamashita,Masahiro Ibe,Kojiro Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335587A1. Автор: Yuichiro Hama,Nobuyuki Kurihara,Keisuke Fukuta. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Video processing method and apparatus, device, storage medium, and computer program product

Номер патента: EP4207783A1. Автор: Linlin Wang,Xinjing YE. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Face image and iris image acquisition method and device, readable storage medium, and apparatus

Номер патента: US20230024829A1. Автор: Cheng Peng,Jun Zhou. Владелец: Eyecool Shenzhen Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Audio data processing method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: EP4456064A1. Автор: Feng Bao,Yuepeng Li,Daiyu HUANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Live streaming picture data processing method and apparatus, device, storage medium, and program

Номер патента: US20240373085A1. Автор: Zhiliang ZHEN. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Face image and iris image acquisition method and device, readable storage medium, and apparatus

Номер патента: US12137290B2. Автор: Cheng Peng,Jun Zhou. Владелец: Eyecool Shenzhen Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Live streaming page display method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: AU2023296433A1. Автор: Ruyu JIANG. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method and computer readable storage medium for agent matching in remote interview signature

Номер патента: US20210279667A1. Автор: Hua NIU. Владелец: Ping An Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-09.

Data processing system, data processing method, and computer readable storage medium

Номер патента: US12114067B2. Автор: Tun-Han Yao,Bo-Xun Wang. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Information processing device, processing method and computer-readable storage medium

Номер патента: RU2526761C2. Автор: Такеси НОДА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2014-08-27.

Information processing device, processing method and computer-readable storage medium

Номер патента: RU2480821C2. Автор: Такеси НОДА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2013-04-27.

Sample image capturing system and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11796787B2. Автор: Bin Jiang. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Video generation method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: EP4354885A1. Автор: Xinwei Li. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Data processing system, data processing method, and computer readable storage medium

Номер патента: US20230217101A1. Автор: Tun-Han Yao,Bo-Xun Wang. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Image capture device, control method and machine readable storage medium

Номер патента: US20210105394A1. Автор: Guoping Zhang,Weimin Ma. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Video processing method and apparatus, device, storage medium and computer program product

Номер патента: US12003884B2. Автор: Linlin Wang,Xinjing YE. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Drive control system, control method and computer readable storage medium

Номер патента: US11895430B2. Автор: Weiguo LI,Tianyue ZHAO,Zhusong YI. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Image capture device, control method, and machine readable storage medium

Номер патента: EP3806448A1. Автор: Guoping Zhang,Weimin Ma. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-14.

Image filtering method and apparatus, device, storage medium and program product

Номер патента: EP4390833A1. Автор: Liqiang Wang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Data processing system, data processing method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4210340A1. Автор: Tun-Han Yao,Bo-Xun Wang. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2023-07-12.

Control apparatus, control method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20190349508A1. Автор: Yusuke Kazami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory storage medium

Номер патента: CN115733931A. Автор: 中村峻. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-03.

Information processing system, information processing method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20170364367A1. Автор: Tadashi Nagata,Keisuke IWASA,Yoh Masuyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-21.

Malware inspection apparatus and malware inspection method

Номер патента: US20190207952A1. Автор: Toru Shimanaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-07-04.

Identity authentication method and apparatus, terminal, storage medium and program product

Номер патента: EP4462286A1. Автор: Yan Li. Владелец: Bigo Technology Pte Ltd. Дата публикации: 2024-11-13.

Electronic device, wireless communication method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230362780A1. Автор: Chen Sun,JIAN Li,Tao CUI. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230299894A1. Автор: Chen Sun,Zhikun WU. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

User devices, wireless communication methods, and computer readable storage medium

Номер патента: US12149368B2. Автор: Chen Sun,Xin Guo. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Call handling method and apparatus, server, storage medium, and system

Номер патента: EP3739860A1. Автор: Guofeng Mao,Rongguo CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-18.

Communication method and apparatus, chip, storage medium, and program product

Номер патента: EP4236539A1. Автор: LAN Peng,Xueru Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Model training method and apparatus, system, prediction method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP3985562A1. Автор: Jianwei Wang,Bingtao HAN,Zongying SUN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-04-20.

Communication method and apparatus, system, storage medium, and program product

Номер патента: EP4412287A1. Автор: Rong Li,Jun Wang,Jian Wang,Gongzheng ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Grip gesture recognition method and apparatus, device, storage medium, and chip

Номер патента: EP4447426A1. Автор: Wenjun Gao,Rumeng Wang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Customer terminal device, position detection method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4287728A1. Автор: Rui MAO,Quan Sun,Yun'an ZHANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

System, method, and computer-readable storage medium for telecom billing outsourcing

Номер патента: US20140185782A1. Автор: Sylvie Bouchard,Pascal Montes,Michel Decarie. Владелец: ITXC IP Holdings Sarl. Дата публикации: 2014-07-03.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240244589A1. Автор: Chen Sun,Xiaoxue Wang. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Audio data processing method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: EP4283617A1. Автор: Muyong CAO. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Signal processing method and apparatus, node, storage medium and system

Номер патента: US20240243783A1. Автор: Zhen He,Yijian Chen,Zhaohua Lu,Guanghui Yu,Shujuan Zhang,Xinquan YE. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Online pairing method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240314866A1. Автор: Cheng Feng Li,Jian Chang CHENG,Ying Jui LEE. Владелец: Ezmira Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Congestion control method and apparatus, computer storage medium and terminal

Номер патента: US12120502B2. Автор: Dongyan YU. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Data transmission method and devices thereof, storage medium, and program product

Номер патента: AU2023238025A1. Автор: Feng Xie,Fei Wang,Yan Xue,Hanchao LIU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-17.

Information display method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240323273A1. Автор: Haihong Zhang,Dongmei Ma. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US12136976B2. Автор: Wendong LIU,Jianfei CAO,Zhaocheng Wang,Ke Ma. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-11-05.

Electronic device, communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240171522A1. Автор: Chen Sun,Lantao Li. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Data transmission method and apparatus, readable storage medium, terminal, and base station

Номер патента: US20240214143A1. Автор: Lifeng Han. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Communication device, voltage measurement method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4403940A1. Автор: Han Li,Zheng Liu,Chao Lin,Dian Xu,Quan HU,Lingui XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Session processing method and device, computer storage medium

Номер патента: US20210014756A1. Автор: Jianhua Liu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2021-01-14.

Information processing apparatus, information processing method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240251218A1. Автор: Linghao SHEN. Владелец: Sony China Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Apparatus, method, and computer-readable storage medium for compensating for latency in musical collaboration

Номер патента: US09812105B2. Автор: Yakov Vorobyev. Владелец: MIXED IN KEY LLC. Дата публикации: 2017-11-07.

User device, base station device, communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230180272A1. Автор: Chen Sun,Wei Xu,Zhikun WU,Shuhan ZHU. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Calling method and device, computer storage medium, and terminal

Номер патента: US20190104079A1. Автор: Fengling Wang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Electronic apparatus, wireless communication method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4024734A1. Автор: Chen Sun,Min Liu. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

Electronic device, radio communication method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4329237A3. Автор: Tao CUI. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

Electronic device, wireless communication method and computer-readable storage medium

Номер патента: US11946759B2. Автор: Chen Sun,Yi Liu,Tao CUI,Rui Lu. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-04-02.

Electronic apparatus, method and computer-readable storage medium for wireless communication system

Номер патента: CA3076268A1. Автор: Yuan Zhang,Wenbo Zhang,Pen-Shun LU. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Electronic apparatus, method and computer-readable storage medium for wireless communication system

Номер патента: AU2018336384A1. Автор: Wenbo Zhang,Pen-Shun LU. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-04-16.

Electronic apparatus, method and computer-readable storage medium for wireless communication system

Номер патента: US20200245340A1. Автор: Yuan Zhang,Penshun LU,Wenbo Zhang. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-07-30.

Electronic device, user equipment, method and computer readable storage medium

Номер патента: US20220103331A1. Автор: Wei Xu,Penshun LU,Wenbo Zhang,Yucheng Wang. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-03-31.

Electronic device, user equipment, method and computer readable storage medium

Номер патента: US11831581B2. Автор: Wei Xu,Penshun LU,Wenbo Zhang,Yucheng Wang. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Electronic device, user equipment, method and computer readable storage medium

Номер патента: US11239979B2. Автор: Wei Xu,Penshun LU,Wenbo Zhang,Yucheng Wang. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2022-02-01.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240155647A1. Автор: Chen Sun,Tingting FAN. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230042177A1. Автор: Chen Sun,ZHONG Tian,Youping Zhao,Yifei LIANG. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-02-09.

Electronic device, radio communication method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4329237A2. Автор: Tao CUI. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Electronic apparatus, wireless communication method, and computer readable storage medium

Номер патента: US11902944B2. Автор: Xiaodong Xu,Wenbo Zhang,Mengying SUN,Guanyu Chen,Yingting YUAN. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Electronic device, wireless communication method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4016000A1. Автор: Chen Sun,Yi Liu,Tao CUI,Rui Lu. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-06-22.

Electronic device in wireless communication system, method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP3709530A1. Автор: Pingping Xu,Penshun LU,Wenbo Zhang,Bin SHENG. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2020-09-16.

Calling method and device, computer storage medium, and terminal

Номер патента: EP3490199A1. Автор: Junbin LIANG,Fengling Wang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-29.

Apparatuses, methods, and computer readable storage medium for resource control

Номер патента: EP4258782A2. Автор: Chen Qian,Bin Yu,Jingxing FU,Feifei SUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-11.

Apparatus, method, and computer readable storage medium for resource control

Номер патента: US20240049222A1. Автор: Chen Qian,Bin Yu,Jingxing FU,Feifei SUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-08.

Wireless communication electronic device and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11856427B2. Автор: Lei Gao,Min Zhu,Xin Guo,Yanzhao HOU,Xiaofeng Tao,Zhaoqi PENG. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Data processing method and device, readable storage medium and program product

Номер патента: US20230291783A1. Автор: Zhuoyun ZHANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240015659A1. Автор: Min Liu,Mingtuo ZHOU. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4351059A1. Автор: Chen Sun,Xiaoxue Wang. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Image data processing method and apparatus, device, storage medium, and product

Номер патента: EP4113371A1. Автор: Shaoming WANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Signal processing method and apparatus, node, storage medium and system

Номер патента: EP4354752A1. Автор: Zhen He,Yijian Chen,Zhaohua Lu,Guanghui Yu,Shujuan Zhang,Xinquan YE. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230284146A1. Автор: Min Liu,Mingtuo ZHOU. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Customer terminal device, position detection method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240111038A1. Автор: Rui MAO,Quan Sun,Yun'an ZHANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Data transmission method and apparatus, terminal, storage medium, and system

Номер патента: US20220172731A1. Автор: Junbin LIANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Compensating circuit, information processing apparatus, compensation method, and computer readable storage medium

Номер патента: US20150312059A1. Автор: Takashi Kato. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2015-10-29.

Electronic device, wireless communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230239020A1. Автор: Wendong LIU,Jianfei CAO,Zhaocheng Wang,Ke Ma. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Signal demodulation method and apparatus, computer storage medium and device

Номер патента: EP4181527A1. Автор: Zhi Yang,Cuihong Zhang,Weidong Ma. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Electronic device, communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4319416A1. Автор: Chen Sun,Lantao Li. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

Apparatuses, methods, and computer readable storage medium for resource control

Номер патента: EP4258782A3. Автор: Chen Qian,Bin Yu,Jingxing FU,Feifei SUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-03.

Signal demodulation method and apparatus, computer storage medium and device

Номер патента: US20230275673A1. Автор: Zhi Yang,Cuihong Zhang,Weidong Ma. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Electronic badge, control method and apparatus therefor, storage medium, and attendance management system

Номер патента: EP3951639A1. Автор: Xinyi CHENG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Apparatus control method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4159554A1. Автор: Mi Zhou,Jingjing Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Devices, methods, and computer readable storage medium for communication

Номер патента: WO2024093057A1. Автор: Haiming Wang,Jianfeng Wang,Bingchao LIU,Tingnan BAO. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2024-05-10.

Information transmission processing method and device, node, storage medium and processor

Номер патента: US20200389904A1. Автор: Ling Yang,JUAN Liu,Yajun Zhao,Xincai LI,Hanqing Xu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Call processing method and apparatus, server, storage medium, and system

Номер патента: US20200382634A1. Автор: Guofeng Mao,Rongguo CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

System, method, and computer-readable storage medium for telecom billing outsourcing

Номер патента: US20150195415A1. Автор: Sylvie Bouchard,Pascal Montes,Michel Decarie. Владелец: ITXC IP Holdings Sarl. Дата публикации: 2015-07-09.

Data transmission method and device, readable storage medium, and chip system

Номер патента: EP4387162A1. Автор: Li Ding,Desheng Sun,Hongjun Bi. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Model training method and apparatus, system, prediction method, and computer readable storage medium

Номер патента: US20220253678A1. Автор: Jianwei Wang,Bingtao HAN,Zongying SUN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Electronic device, radio communication method, and computer readable storage medium

Номер патента: US11849443B2. Автор: Tao CUI. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Electronic device for use in wireless communication, method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230370149A1. Автор: Min Liu. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

System, method, and computer readable storage medium for controlling an in car communication system

Номер патента: US20210092522A1. Автор: Andrew Draper,Aaron KUBAT. Владелец: PEIKER acustic GmbH. Дата публикации: 2021-03-25.

Information feedback method and apparatus, computer storage medium

Номер патента: US20200328860A1. Автор: Hai Tang,Huei-Ming Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-10-15.

Information feedback method and device, computer storage medium

Номер патента: EP3734882A1. Автор: Hai Tang,Huei-Ming Lin. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-11-04.

Communication method and apparatus, readable storage medium, and system

Номер патента: US20230308925A1. Автор: Xudong Yang,Tingting GENG,Dawid Koziol,Xingxing HU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Antenna inspection system, antenna inspection apparatus and antenna inspection method

Номер патента: US09720405B2. Автор: Hiroyuki Sato,Yoshihisa Kagawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and storage medium

Номер патента: US8780378B2. Автор: Naohiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-07-15.

Three-dimensional point cloud data processing method and apparatus, and storage medium and electronic apparatus

Номер патента: EP4276764A1. Автор: Cheng Huang,Yaxian BAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-15.

Broadcast-directing control method and apparatus, and storage medium and computer program product

Номер патента: EP4404580A1. Автор: Lei Zhang,Zhihui Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: TW201229563A. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: Lt Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-16.

Camera linkage method and computer storage medium

Номер патента: EP3700200A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Gosuncn Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-26.

Optical imaging apparatus, optical inspection apparatus, and optical inspection method

Номер патента: US11774369B2. Автор: Hiroshi Ohno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

ANTENNA INSPECTION SYSTEM, ANTENNA INSPECTION APPARATUS AND ANTENNA INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150018997A1. Автор: Sato Hiroyuki,Kagawa Yoshihisa. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2015-01-15.

Point cloud data processing method and apparatus, and storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20230360304A1. Автор: Cheng Huang,Yaxian BAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Point cloud data processing method and apparatus, and storage medium and electronic apparatus

Номер патента: EP4224871A1. Автор: Cheng Huang,Yaxian BAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-08-09.

Video processing system, method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: EP3905667A1. Автор: Minghui Bao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

OPTICAL IMAGING APPARATUS, OPTICAL INSPECTION APPARATUS, AND OPTICAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220146435A1. Автор: Ohno Hiroshi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2022-05-12.

Image processing method and system, storage medium and moving system

Номер патента: US20190256159A1. Автор: Li Zhou,Kailiang Zhang,Xuan HE,Jingang KANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-22.

Image processing method and system, storage medium, and moving system

Номер патента: EP3648053A1. Автор: Li Zhou,Kailiang Zhang,Xuan HE,Jingang KANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-06.

Image processing method and system, storage medium and moving system

Номер патента: US10933931B2. Автор: Li Zhou,Kailiang Zhang,Xuan HE,Jingang KANG. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-02.

Network livestreaming method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240205507A1. Автор: Linxing LI,Yaxi XU. Владелец: Beijing ByteDance Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Image sensor, global shutter control method and computer storage medium

Номер патента: US12022202B2. Автор: YANG Pan,Dan Li. Владелец: Shanghai Juyou Smart Intelligence Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

MASK INSPECTION APPARATUS AND MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160019689A1. Автор: INOUE Takafumi. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2016-01-21.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US20150022672A1. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-01-22.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170032507A1. Автор: Ogawa Riki,OTAKI Toshiaki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2017-02-02.

BLADE INSPECTION APPARATUS AND BLADE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150035969A1. Автор: KONOMURA Yutaka,KOBAYASHI Eiichi,HORI Fumio. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-05.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220051390A1. Автор: Yoshida Koki,Takubo Kenji,HATAHORI Takahide. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-17.

Appearance Inspection Apparatus and Appearance Inspection Method

Номер патента: US20180047152A1. Автор: UMEHARA Jiro. Владелец: JTEKT CORPORATION. Дата публикации: 2018-02-15.

WAFER INSPECTION APPARATUS AND WAFER INSPECTION METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20180061041A1. Автор: KIM Tae Joong,Park Jun Bum,JEON Byeong Hwan,AHN Tae Heung,Kim Soo Ryonng,Joo Jae Chol. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

UNEVENNESS INSPECTION APPARATUS AND UNEVENNESS INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170074724A1. Автор: Tomioka Satoshi,NAGAMINE KUNIHIKO. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2017-03-16.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US20160140734A1. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-19.

MASK INSPECTION APPARATUS AND MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150221075A1. Автор: Watanabe Toshiyuki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2015-08-06.

OBJECT INSPECTION APPARATUS AND OBJECT INSPECTION METHOD USING SAME

Номер патента: US20210279859A1. Автор: LEE Ho Jun,Park Nam Kyu,JUNG Choung Min,KIM Han Rim. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2021-09-09.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190244336A1. Автор: NAGANO Osamu,Wakisaka Kenji. Владелец: Toshiba Memory Corporation. Дата публикации: 2019-08-08.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Morita Seiji,Hirano Takashi,YOSHIKAWA Ryoji,Higashiki Tatsuhiko. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

Image Inspection Apparatus And Image Inspection Method

Номер патента: US20180348144A1. Автор: Ando Daisuke. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2018-12-06.

Image Inspection Apparatus And Image Inspection Method

Номер патента: US20180352163A1. Автор: Daisuke Ando. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-12-06.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: CN102842276A. Автор: 富冈聪,长岭邦彦. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2012-12-26.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: CN109642848B. Автор: 铃木诚,石本学,森野诚治. Владелец: QD Laser Inc. Дата публикации: 2021-08-31.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: US10803572B2. Автор: Jiro Umehara. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: EP2141912B1. Автор: Hiroyuki Adachi,Makoto Ochiai,Yoshinori Satoh,Tetsuro Aikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-03-11.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method

Номер патента: US11342211B2. Автор: Akira Doi,Masaki Hasegawa,Hironori Ogawa,Tomohiko Ogata,Yuko Okada,Minoru Sasaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-05-24.

Positioning method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4436218A1. Автор: Xin Gao,Jianghua Liu,Jianfeng Li,Mengting LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Cell handover method and apparatus, and storage medium, user equipment and base station device

Номер патента: US20240196280A1. Автор: Yun Deng. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Communication method and apparatus, and storage medium and program

Номер патента: EP4358548A1. Автор: MIAO Yang,Qiang Liu,Jianqin Liu,Wenkai FEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Spectrum sensing method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4422095A1. Автор: Peng Liu,Xun Yang,Jiajun Luo,Ziyang Guo. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Data transmission method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: US20240356710A1. Автор: Wei Si,Feng Wu,Wanchun Zhang,Gaopeng Du. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Order payment method and apparatus, and storage medium, device and system

Номер патента: US20240362613A1. Автор: Cheng Wang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Frequency-domain data merging method and apparatus, and storage medium and electronic apparatus

Номер патента: EP4460043A1. Автор: Dawei Chen,Junqiang Li,Shijun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-11-06.

Resource indication method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240072974A1. Автор: Yanping Xing,Xuejuan Gao,Yongqiang FEI. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Resource indication method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4280746A1. Автор: Yanping Xing,Xuejuan Gao,Yongqiang FEI. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Call connection method and apparatus, storage medium, and terminal

Номер патента: EP4093004A1. Автор: Junjie Deng. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-11-23.

Method, system, and storage medium for secure communication utilizing social networking sites

Номер патента: US8495709B1. Автор: Cameron Blair Cooper,Christopher Lee Richter. Владелец: Socialware Inc. Дата публикации: 2013-07-23.

Data coding processing method and apparatus, and storage medium and electronic apparatus

Номер патента: EP4318992A1. Автор: Xingang Huang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-02-07.

System, device, method and storage medium for plc connection

Номер патента: WO2023050219A1. Автор: Zhenhua Zhou,Haifeng Wang,Wenchao ZOU. Владелец: Siemens Ltd., China. Дата публикации: 2023-04-06.

System, method and storage medium for production system automatic control

Номер патента: WO2023028881A1. Автор: JI Li,Ye Hu,Shun Jie Fan,Zi Jian WANG. Владелец: Siemens Ltd., China. Дата публикации: 2023-03-09.

Time domainresource determination method, apparatus and storage medium.

Номер патента: EP4274147A3. Автор: Peng Hao,Xing Liu,Feng Bi,Yachao LIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-22.

Time domainresource determination method, apparatus and storage medium.

Номер патента: EP4274147A2. Автор: Peng Hao,Xing Liu,Feng Bi,Yachao LIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-08.

System, device, method and storage medium for plc connection

Номер патента: EP4381699A1. Автор: Zhenhua Zhou,Haifeng Wang,Wenchao ZOU. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-06-12.

System, method and storage medium for production system automatic control

Номер патента: EP4367564A1. Автор: JI Li,Ye Hu,Shunjie Fan,Zi Jian WANG. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-05-15.

Order payment method and apparatus, and storage medium, device and system

Номер патента: EP4380296A1. Автор: Cheng Wang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Communication method and apparatus, storage medium, and computer program

Номер патента: EP4391665A1. Автор: Jian Yu,Yunbo Li,Yuchen Guo. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Addressing processing method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: EP4243521A1. Автор: Lei Gao,Wanpeng FAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

Multicast feedback resource determination method and apparatus, storage medium and user equipment

Номер патента: EP3998798A1. Автор: Yun Deng. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-18.

Subframe position determination method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: EP3952545A1. Автор: Huben Han. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Signal filtering method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: EP4332962A1. Автор: KE PENG,Jiali Li,Huaming Chen,Chunhua Qin,Yannan Sun. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Optical fiber connection method and device, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20230408780A1. Автор: Ningfeng TANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Network slice connection method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: EP4247050A1. Автор: Cheng Wang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Ro indication and determination method and device, storage medium, base station and terminal

Номер патента: EP3846557A1. Автор: Xiangxin Gu. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-07.

Path computation method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240297841A1. Автор: Quan XIONG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Signal filtering method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240267675A1. Автор: KE PENG,Jiali Li,Huaming Chen,Chunhua Qin,Yannan Sun. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Road User Recognition Method and Device, Storage Medium, and Electronic Device

Номер патента: US20240241270A1. Автор: Bo Zhang,Yazhu Ke,Shaojiang WANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Wireless Data Communication Method and Device, Storage Medium and Electronic Device

Номер патента: US20220006565A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Jianfeng Lv. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-01-06.

Data transmission method and apparatus, storage medium, and device

Номер патента: US20220231792A1. Автор: JIAN Li,Peng Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-21.

Data transmission method, apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: EP4429375A1. Автор: Lei KONG,Pin Wu,Jun Chu. Владелец: New H3C Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Communication method and device, storage medium, and computer program product

Номер патента: EP4451593A1. Автор: Jing Yao,Rong Wang,Zichen XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Method and device for determining and detecting time domain resource, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12133239B2. Автор: Peng Hao,Xing Liu,Feng Bi,Yachao LIANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Session transmission method, apparatus, and storage medium

Номер патента: EP3633930A1. Автор: Haisheng Wu,Weibao WANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2020-04-08.

Session transmission method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20210152425A1. Автор: Haisheng Wu,Weibao WANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Call control method and apparatus, storage medium, and chip

Номер патента: EP4387215A1. Автор: Lei Chen,Tangcan ZHU,Tengteng ZHOU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Authentication processing method and device, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12021867B2. Автор: Jin Peng,Zhenhua Xie,Shilin You,Wantao Yu,Zhaoji Lin,Yongqing QIU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Network configuration sending method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20230362053A1. Автор: Yong Chen,Guangping Huang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-11-09.

Addressing processing method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: US20240007432A1. Автор: Lei Gao,Wanpeng FAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Data repetition transmission method and apparatus, storage medium, terminal and base station

Номер патента: US20230388053A1. Автор: Zhenzhu LEI. Владелец: Spreadtrum Semiconductor Nanjing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Audio signal post-processing method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4050861A1. Автор: Yang Yu,YU Chen. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Device, method, and computer readable medium for large scale electronic processing

Номер патента: WO2019241366A1. Автор: John Evans,Warren PENNINGTON,Ryan LOVELL. Владелец: The Vanguard Group, Inc.. Дата публикации: 2019-12-19.

Bandwidth adjustment method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240259128A1. Автор: Dong Wang,Jinyin Zhu,Yuanbin Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Cleaning robot control method and device, storage medium and cleaning robot

Номер патента: EP4129143A1. Автор: SONG Peng. Владелец: Beijing Rockrobo Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Data push method and device, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20190212939A1. Автор: Jianxiang HUANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-11.

Data transmission method and apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: EP4408113A1. Автор: MAO Yang,Yunbo Li,Zhongjiang YAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Flow signaling sending method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4207826A1. Автор: Wei Zhang,Xiaxiang Yuan. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-07-05.

Multi-cell configuration method and apparatus, storage medium, terminal and base station

Номер патента: EP3965455A1. Автор: Lifeng Han. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Arrival reminding method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: EP4071753A1. Автор: Zhe Chen. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-10-12.

Access resource determination method and device, storage medium, and terminal

Номер патента: US12052203B2. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou,Hualei WANG. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Access resource determination method and device, storage medium and terminal

Номер патента: EP4017178A1. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-22.

Access resource determination method and device, storage medium and terminal

Номер патента: US20220330242A1. Автор: Zhengang Pan,Huayu Zhou. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-13.

Terminal positioning method, terminal positioning system, storage medium and electronic device

Номер патента: EP4228292A1. Автор: Dongyan YU. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-16.

Data forwarding method and apparatus, storage medium, and electronic apparatus

Номер патента: US20240305501A1. Автор: Zheng Zhang,Benchong Xu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Data processing method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240314074A1. Автор: Tao ZOU,Peilei Wang,Ruyun Zhang,Peilong HUANG,Lincheng XU,Xinbai DU. Владелец: Zhejiang Lab. Дата публикации: 2024-09-19.

Deterministic routing calculation method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4422144A1. Автор: Quan XIONG,Shaofu Peng. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Communication method and apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: EP4429166A1. Автор: Yang Wang,Xueqiang Yan,Shaoyun Wu,Mingyu ZHAO,Weijun XING. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Information verification method and device, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240338490A1. Автор: Yao Liu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Contention window adjustment method and device, storage medium and electronic device

Номер патента: EP4443796A2. Автор: Yajun Zhao,Xincai LI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Energy-saving control method and apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: EP4440203A1. Автор: Zhiyong Zhao,Xuehong WANG,Susheng YU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Communication method and device, storage medium and computer program product

Номер патента: EP4440184A1. Автор: Qinghai Zeng,Tingting GENG,Wuyang ZHENG,Fanfan WANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Energy-saving control method and device, storage medium, and program product

Номер патента: EP4440202A1. Автор: Zhiyong Zhao,Zhiji TIAN,Susheng YU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Communication method and apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: US20240320473A1. Автор: Yang Wang,Xueqiang Yan,Shaoyun Wu,Mingyu ZHAO,Weijun XING. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Intra-frequency intra-system measurement method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240323792A1. Автор: Xiaoxin HU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Calibration method, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US12132813B2. Автор: Chun-Yu Chen,Ling-Wei Ke,Yu-Chieh Hsu,Hong-Yun Wei. Владелец: Jadard Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Data sending method and apparatus, storage medium, processor, and ap terminal

Номер патента: EP4451766A1. Автор: Di TONG,Wanyi LI. Владелец: TP Link Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Doa determining method and device, storage medium and electronic device

Номер патента: AU2023263038A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

BT offline data download system and method, and computer storage medium

Номер патента: US09560165B2. Автор: Gang Liu,Chenyuan Zhu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Range information encoding and matching method, and computer storage medium

Номер патента: EP3958267A1. Автор: Siyu Wang,Fengsong LIU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-23.

Method for communication, device, storage medium, and program product

Номер патента: EP4351249A1. Автор: Jian Yu,Bo Gong,Ming GAN,Chenchen LIU,Yuxin Lu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Communication method and device, storage medium, and program product

Номер патента: US20240129099A1. Автор: Jian Yu,Bo Gong,Ming GAN,Chenchen LIU,Yuxin Lu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Emergency call method and apparatus, storage medium, and terminal

Номер патента: US20230309191A1. Автор: Liu Li,Bin Cheng. Владелец: Yulong Computer Telecommunication Scientific Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Deterministic flow forwarding method and apparatus, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240314065A1. Автор: Yao Liu,Quan XIONG,Haisheng Wu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Channel configuration method and terminal, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4376346A3. Автор: Peng Hao,Zhisong Zuo,Wei Gou,Ting Fu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Model updating method and apparatus, storage medium, terminal and network device

Номер патента: US20240323717A1. Автор: Xiaoyu Chen,Lifeng Han. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Packet matching method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240323120A1. Автор: Zhihua Zhu,Siyu Wang,Hengqi Liu,Fengsong LIU. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement relaxation method and device/storage medium/apparatus

Номер патента: EP4462887A1. Автор: Yanhua Li,Ziquan HU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-13.

ACOUSTIC INSPECTION APPARATUS AND ACOUSTIC INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220150620A1. Автор: Nishimura Osamu,Enamito Akihiko,GOTO Tatsuhiko. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2022-05-12.

MALWARE INSPECTION APPARATUS AND MALWARE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190207952A1. Автор: SHIMANAKA TORU. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2019-07-04.

Acoustic inspection apparatus and acoustic inspection method

Номер патента: JP2022077684A. Автор: Osamu Nishimura,達彦 後藤,明彦 江波戸,Akihiko Ebato,修 西村,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-05-24.

Acoustic inspection apparatus and acoustic inspection method

Номер патента: CN114487097A. Автор: 江波户明彦,西村修,后藤达彦. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-05-13.

Acoustic inspection apparatus and acoustic inspection method

Номер патента: US11570545B2. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Communication device, information processing device, communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240297731A1. Автор: Hirohiko Inohiza. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Apparatus, method and computer-readable storage medium for registering user identities

Номер патента: WO2009083888A3. Автор: Markku Tuohino,Jari Mutikainen,Miikka Poikselka. Владелец: Nokia Inc.. Дата публикации: 2009-08-27.

System, method, and computer readable storage media for managing and processing golf data

Номер патента: US09811596B2. Автор: Paul G. SHORTHOSE,Gilbert Kerr. Владелец: GKPS LLC. Дата публикации: 2017-11-07.

Apparatus, method and computer-readable storage medium for registering user identities

Номер патента: US09538360B2. Автор: Markku Tuohino,Jari Mutikainen,Miikka Poikselka. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2017-01-03.

System, method, and computer readable storage media for managing and processing golf data

Номер патента: US09524479B2. Автор: Gilbert A. KERR,Paul G. SHORTHOSE. Владелец: GKPS LLC. Дата публикации: 2016-12-20.

Communication apparatus, wireless communication system, communication method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240235749A9. Автор: Shohei Ueda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Information processing device, mobile object, information processing method, and computer readable storage medium

Номер патента: US20220322279A1. Автор: Masaru Otaka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09728373B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US12045975B2. Автор: Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US11961222B2. Автор: Taehyun Kim,Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang,BongSuk Kim. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240133682A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20060192953A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-08-31.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20200160496A1. Автор: Hiroteru Akiyama,Kazuhiro Nakashima,Manabu Isobe,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20190346769A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240054633A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20110249108A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-10-13.

Aerosol generation apparatus, control method, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4399988A1. Автор: Xingfu Zhang,Qiaoshi LIN. Владелец: Shenzhen Merit Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Substrate processing apparatus, editing apparatus and method and non-transitory storage medium

Номер патента: US20150220136A1. Автор: Kunihiko Fujimoto,Seiichiro YUASA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Substrate defect inspection apparatus, substrate defect inspection method, and storage medium

Номер патента: US20190220972A1. Автор: Shuji Iwanaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-07-18.

Substrate defect inspection apparatus, substrate defect inspection method, and storage medium

Номер патента: US10818004B2. Автор: Shuji Iwanaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Substrate defect inspection apparatus, substrate defect inspection method, and storage medium

Номер патента: US20220101517A1. Автор: Shuji Iwanaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Hole Inspection Apparatus and Hole Inspection Method using the Same

Номер патента: US20090152461A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Substrate defect inspection apparatus, substrate defect inspection method, and storage medium

Номер патента: US20200402225A1. Автор: Shuji Iwanaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: EP2002473A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-17.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: WO2007114642A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-10-11.

Inspection apparatus and inspection method for light emitting device

Номер патента: US20130050691A1. Автор: Syu JIMBO,Norie Yamaguchi,Keita KOYAHARA. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Flow-rate monitoring device, flow-rate monitoring method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240280391A1. Автор: Yasuhito NAKAMURA. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Ion beam inspection apparatus, ion beam inspecting method, semiconductor manufacturing apparatus, and ion source apparatus

Номер патента: TW200908062A. Автор: Masaaki Itoh. Владелец: Seiko Instr Inc. Дата публикации: 2009-02-16.

Probe device, electrical inspection apparatus, and electrical inspection method

Номер патента: US20200166564A1. Автор: Fumihiko Matsuda,Shoji Takano,Yoshihiko Narisawa. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2020-05-28.

Laser frequency modulation method and device, storage medium, and laser device

Номер патента: US20220200230A1. Автор: Yixiong HE. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Power supply, power supply method, and computer storage medium

Номер патента: EP4228134A1. Автор: Chen Tian,Jialiang Zhang,Julu Sun,Weiwei Lu,Juanjuan Sun,Jingpeng ZHU. Владелец: Powerland Technology Inc. Дата публикации: 2023-08-16.

PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT, DEFECT INSPECTING APPARATUS, AND DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20130161490A1. Автор: KAWAGUCHI Hiroshi,Jingu Takahiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-27.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130248705A1. Автор: Hayashi Hiroyuki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2013-09-26.

MEASURING/INSPECTING APPARATUS AND MEASURING/INSPECTING METHOD

Номер патента: US20140008534A1. Автор: Takahashi Hiroyuki,Li Wen,IMURA Hisafumi,KAWANO Hajime. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

MATERIAL INSPECTION APPARATUS AND MATERIAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150048244A1. Автор: AKUTSU Haruko. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2015-02-19.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160093465A1. Автор: NAGANO Osamu,Onishi Atsushi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2016-03-31.

ANISOTROPIC CONDUCTIVE SHEET, ELECTRICAL INSPECTION APPARATUS, AND ELECTRICAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220151069A1. Автор: Yamada Daisuke,Koyama Taichi,NISHIURA Katsunori. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170125208A1. Автор: Kikuiri Nobutaka,ISOMURA lkunao. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2017-05-04.

PROBE DEVICE, ELECTRICAL INSPECTION APPARATUS, AND ELECTRICAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200166564A1. Автор: Matsuda Fumihiko,Narisawa Yoshihiko,TAKANO Shoji. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-28.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20140312225A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Isao Yonekura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

BOARD INSPECTING APPARATUS AND BOARD INSPECTING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190335633A1. Автор: Jung Seung Won,CHOI Jong Jin. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2019-10-31.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190346769A1. Автор: Shiratsuchi Masataka,Ogawa Riki,Hirano Ryoichi,HASHIMOTO Hideaki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2019-11-14.

Board inspection apparatus and board inspection method using the same

Номер патента: KR101893831B1. Автор: 정승원,최종진. Владелец: 주식회사 고영테크놀러지. Дата публикации: 2018-08-31.

Reticle inspection apparatus and reticle inspection method

Номер патента: JP4767665B2. Автор: 勉 堀江,裕一 徳丸. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2011-09-07.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: KR102185186B1. Автор: 마사타카 시라츠치. Владелец: 가부시키가이샤 뉴플레어 테크놀로지. Дата публикации: 2020-12-01.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP5769572B2. Автор: 和隆 谷口,泰剛 中島,邦夫 上田. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-26.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method using charged particle beam

Номер патента: JP3973372B2. Автор: 真理 野副,都 松井,敦子 高藤. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-09-12.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: JP5576469B2. Автор: 総一 信太,龍一 荻野,祥明 小木曽. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2014-08-20.

A inspecting apparatus and a inspecting method for a semi-conductor chip bonder

Номер патента: KR100718973B1. Автор: 김종현. Владелец: 주식회사 쎄크. Дата публикации: 2007-05-17.

Surface inspecting apparatus and surface inspecting method

Номер патента: TW200938829A. Автор: Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: WO2016166807A1. Автор: 伸章 田端. Владелец: ヤマハ発動機株式会社. Дата публикации: 2016-10-20.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP4803195B2. Автор: 和英 永尾,昇 東,義明 粟田,健一 戒田,英樹 角. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-10-26.

Disconnection inspection apparatus and disconnection inspection method

Номер патента: JP4147263B2. Автор: 和之 深町,克己 武石,敬太 関根,チーク ジョン. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2008-09-10.

Substrate Inspection Apparatus and Substrate Inspection Method

Номер патента: KR20140085066A. Автор: 김동기,손영락. Владелец: 삼성전기주식회사. Дата публикации: 2014-07-07.

Wafer inspecting apparatus and wafer inspecting method

Номер патента: KR20220159597A. Автор: 이혁주. Владелец: 세메스 주식회사. Дата публикации: 2022-12-05.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: JP4693074B2. Автор: 義浩 佐々木,政彦 長尾. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-06-01.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: TW200741199A. Автор: Hideo Hirose,Kazuhiko Fukazawa,Tekeo Oomori. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2007-11-01.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: WO2007069457A1. Автор: Hideo Hirose,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2007-06-21.

Pattern inspecting apparatus and pattern inspecting method

Номер патента: US20110298915A1. Автор: Takashi Hiroi,Masaaki Nojiri,Takeyuki Yoshida. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-08.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CN1940540A. Автор: 石川雄大,山口升. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2007-04-04.

DEVICE INSPECTION APPARATUS AND DEVICE INSPECTION METHOD

Номер патента: JP7241978B1. Автор: 哲宏 深尾,崇之 大仲. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-03-17.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20130148863A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-13.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: US7423745B2. Автор: Hideyuki Moribe,Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US20240035986A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hiroki Morii,Takahiro Fujioka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Macro inspection apparatus and microscopic inspection method

Номер патента: US20090147248A1. Автор: Mitsuru Uda,Atsushi Kohayase. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US8290242B2. Автор: Tadashi Mitsui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-10-16.

Distortion inspecting apparatus and distortion inspecting method

Номер патента: US20100182423A1. Автор: Kikuhito Kawasue. Владелец: University of Miyazaki NUC. Дата публикации: 2010-07-22.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: US20230356213A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Discharge Inspection Apparatus and Discharge Inspection Method

Номер патента: US20110084998A1. Автор: Shinya Komatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11790513B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11815493B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Sound inspection apparatus and sound inspection method

Номер патента: US20230266277A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Defect inspecting apparatus and defect inspecting method

Номер патента: US20130208270A1. Автор: Hideki Fukushima,Nobuaki Hirose. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Device inspection apparatus and device inspection method

Номер патента: US20240192257A1. Автор: Shinya Kurebayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335588A1. Автор: Di He. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: US20140157069A1. Автор: Masami Nishizono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-06-05.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170352140A1. Автор: Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-07.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: CA3208450A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20110058160A1. Автор: Xiaodi Tan. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-03-10.

Sample Inspection Apparatus and Sample Inspection Method

Номер патента: US20080149848A1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Masahiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-06-26.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: EP4275792A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20110063621A1. Автор: Yusaku Konno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method using the same

Номер патента: US20240192154A1. Автор: Sungeun Lee,Sewon Kim,Jeongho Ahn,Kwangeun KIM,Huisoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Electronic device, list deduplication method and computer-readable storage medium

Номер патента: SG11201901800VA. Автор: Gang Wang,Xun Zhang,Yi Shen. Владелец: Ping An Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-29.

Industrial data integration device, method and computer readable storage medium

Номер патента: EP4370984A1. Автор: Qi Yu,LU Wang,Zhiqiang Yu,Wenqing Qiu,Zhanbin YANG. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-05-22.

Information processing apparatus, information processing method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US12067677B2. Автор: Daisuke Tahara. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Encoding and decoding methods and apparatus, device, storage medium, and computer program

Номер патента: EP4398242A1. Автор: Yuan Gao,Bin Wang,Zhe Wang,Shuai LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Equipment, system, method and computer-readable storage medium for filling and bleeding brake fluid

Номер патента: US20240042986A1. Автор: Yongxing JIN,Jiangliu Su. Владелец: Volvo Car Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Equipment, system, method and computer-readable storage medium for filling and bleeding brake fluid

Номер патента: EP4321400A1. Автор: Yongxing JIN,Jiangliu Su. Владелец: Volvo Car Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Data exchange method and apparatus, readable storage medium, and data exchange system

Номер патента: US12056146B2. Автор: Yingkai XIE. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Memory check pin processing method and apparatus, device, storage medium, and computer program product

Номер патента: EP4411739A1. Автор: Peng Qiang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Radio frequency chip, algorithm reconstruction method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP4428702A1. Автор: Zhengjian Dai,Zuofeng Zhang,Chao WAN,Chuang ZHENG,Jiangli LEI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Action recognition method and related device, storage medium

Номер патента: WO2022012239A1. Автор: Jiawei Chen,Chiuman HO,Jenhao Hsiao. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP., LTD.. Дата публикации: 2022-01-20.

Magnetic resonance imaging system and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US12044760B2. Автор: Hua Li,Lei Gao,Xuan Liu,Yongchuan Lai,Jiabin Yao. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2024-07-23.

Data processing method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: US20240289208A1. Автор: CHEN Cao. Владелец: Tencent Holdings Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Electronic Device, List Deduplication Method and Computer-Readable Storage Medium

Номер патента: US20210081380A1. Автор: Gang Wang,Xun Zhang,Yi Shen. Владелец: Ping An Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Image processing method and apparatus, device, storage medium and program product

Номер патента: EP4425423A1. Автор: Wei Wen,Ligeng ZHONG,Yunquan ZHU,Wenran LIU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Wake-on-voice method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: EP4379712A1. Автор: Wei Jiang,Yue Lang,Xiaojian Li,Jinhui Sheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Magnetic resonance imaging system and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US12105170B2. Автор: Lei Gao,Yongchuan Lai. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2024-10-01.

Autonomous mobile device and obstacle overcoming method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240338034A1. Автор: Sichen XU. Владелец: Qfeeltech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Vehicle control device, vehicle control method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20220135031A1. Автор: Yoshihiro Oniwa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Apparatus, method and computer readable storage medium for changing brake mode using brake pedal

Номер патента: US20240262321A1. Автор: Sang Bum KOH. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Apparatus, method and computer readable storage medium for cleaning of brake disc

Номер патента: US20240190409A1. Автор: Sung Min Park,Sung Keun Song. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Infusion Device, Control Method, and Computer-Readable Storage Medium

Номер патента: US20240299656A1. Автор: Ping Li,Shengping Li,Yazhou TANG,Longyu WU. Владелец: Medcaptain Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Vehicle control device, vehicle control method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US12077155B2. Автор: Yoshihiro Oniwa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Apparatus, method and computer-readable storage medium for transforming digital images

Номер патента: US09626476B2. Автор: Mahmoud Ramze Rezaee. Владелец: Change Healthcare LLC. Дата публикации: 2017-04-18.

Apparatus, method, and computer-readable storage medium for determining a rotation angle of text

Номер патента: US09552527B1. Автор: Moe Daher,Waseem Shadid. Владелец: Lead Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Image reassembly system, method and computer-readable storage medium applied to magnetic resonance imaging

Номер патента: US20240273680A1. Автор: Feng-Mao Chiu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-15.

Navigation method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4350289A1. Автор: Christian Pausinger. Владелец: Airbus Defence and Space GmbH. Дата публикации: 2024-04-10.

Information processing apparatus, route navigator, information processing method, and computer program storage medium

Номер патента: US20140005940A1. Автор: Toshikazu Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-01-02.

Information processing apparatus, route navigator, information processing method, and computer program storage medium

Номер патента: US09631937B2. Автор: Toshikazu Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Information processing apparatus, device management method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20090195808A1. Автор: Takahiro Onsen. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-06.

Smart tablet, channel switching method, and computer readable storage medium

Номер патента: EP3767479A1. Автор: Yanxiong MU,Zhangyue SU,Minqiang Huang. Владелец: Guangzhou Shirui Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-20.

Self-moving device, moving trajectory adjusting method, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4328698A1. Автор: Paolo Andriolo. Владелец: Positec Power Tools Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-28.

Information processing device, information processing method and computer readable storage medium

Номер патента: US11829875B2. Автор: Fei Cao,Shuangfei ZHOU. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Apparatus, method and computer readable storage medium for collecting doobers in an electronic game

Номер патента: US20130172083A1. Автор: Seth John Sivak. Владелец: Zynga Inc. Дата публикации: 2013-07-04.

Apparatus, Method and Computer Readable Storage Medium for Collecting Doobers in an Electronic Game

Номер патента: US20150251096A1. Автор: Seth John Trinh. Владелец: Zynga Inc. Дата публикации: 2015-09-10.

Apparatus, method and computer readable storage medium for collecting doobers in an electronic game

Номер патента: US9707483B2. Автор: Seth John Sivak. Владелец: Zynga Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Print driving control method and apparatus thereof, storage medium, and program product

Номер патента: US20220283751A1. Автор: Aosong WANG. Владелец: Zhuhai Pantum Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-08.

Print driving control method and apparatus thereof, storage medium, and program product

Номер патента: US11762607B2. Автор: Aosong WANG. Владелец: Zhuhai Pantum Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Vehicle control device, vehicle control method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US11891118B2. Автор: Yoshihiro Oniwa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-06.

Pickup robot, pickup method, and computer-readable storage medium

Номер патента: AU2020414142B2. Автор: CHAO Chen,Yingchun Wang,Xiaoli Guo. Владелец: Beijing Geekplus Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Humanoid robot and its control method and computer readable storage medium

Номер патента: US20210197367A1. Автор: Youjun Xiong,Yan XIE,Mingguo Zhao,Xiaozhu Ju. Владелец: Ubtech Robotics Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Industrial data modeling device, method and computer readable storage medium

Номер патента: WO2023028886A1. Автор: LU Wang,Zhiqiang Yu. Владелец: Siemens Ltd., China. Дата публикации: 2023-03-09.

Display panel, code reading method and computer readable storage medium

Номер патента: US20220036806A1. Автор: Wei Li,Yunchuan Hu. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-03.

Traveling path boundary determination method and device, vehicle, storage medium, and terminal

Номер патента: EP4335710A1. Автор: XU Ran,Bin Wang,Rui Wang,Si Liu. Владелец: Momenta Suzhou Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-13.

Child lock control method and apparatus, robot, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4316329A1. Автор: Yiming CONG,Fujian XIAO. Владелец: Beijing Roborock Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Product recommendation method and apparatus, computer storage medium, and system

Номер патента: AU2021385976A1. Автор: Qianjin DING. Владелец: China Mobile Suzhou Software Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-13.

Product recommendation method and apparatus, computer storage medium, and system

Номер патента: US20240013280A1. Автор: Qianjin DING. Владелец: China Mobile Suzhou Software Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Data exchange method and apparatus, readable storage medium, and data exchange system

Номер патента: US20240012831A1. Автор: Yingkai XIE. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Automatic screen state detection robot, method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20200167907A1. Автор: Jing Xiao,Bao ZHOU,Hairui Yan. Владелец: Ping An Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

Pusher, sample loading mechanism and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4063868A1. Автор: JIN Teng,Yinming Liu. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-28.

Game object control system and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11872483B2. Автор: Yifan Mao. Владелец: Shanghai Lilith Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Vehicle control method and apparatus, vehicle, storage medium and chip

Номер патента: EP4286184A1. Автор: Feng Tao. Владелец: Xiaomi Ev Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Game data processing method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: US20240009571A1. Автор: JIN Ye. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Navigation path determining method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: US20230356084A1. Автор: Tao Gu,Mo Xie. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Virtual skill control method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: US20230285858A1. Автор: CHEN ZHU,Jingjing Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Vehicle control method and device, computer storage medium and vehicle

Номер патента: WO2022078670A1. Автор: YE Wu,Shouyu Wang. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2022-04-21.

Chassis simulation method and apparatus, server, storage medium and program product

Номер патента: EP3982268A3. Автор: Ji Ma. Владелец: Apollo Intelligent Connectivity Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-03.

Chassis simulation method and apparatus, server, storage medium and program product

Номер патента: US20220126847A1. Автор: Ji Ma. Владелец: Apollo Intelligent Connectivity Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-28.

Digital work generating device, method and computer-readable storage medium

Номер патента: US20200104795A1. Автор: Ken Wen. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Vehicle drift control method and apparatus, vehicle, storage medium and chip

Номер патента: EP4378729A1. Автор: Xingchen ZHOU. Владелец: Xiaomi Ev Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Battery positioning method and apparatus, device, storage medium, and battery swap station

Номер патента: EP4375614A1. Автор: Yong Yang,Jie Liu,Lulu Zhang. Владелец: Sany Lithium Energy Co ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Scanning Control Method and Apparatus, System, Storage Medium, and Processor

Номер патента: US20220326007A1. Автор: Zhongwei Lin. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-13.

Scanning control method and apparatus, system, storage medium, and processor

Номер патента: US11988500B2. Автор: Zhongwei Lin. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Magnetic resonance imaging system and method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230168324A1. Автор: Lei Gao,Yongchuan Lai. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2023-06-01.

Cutting speed planning system and method and non-transitory storage medium

Номер патента: US11656604B1. Автор: Yu-Yen Chen,Wei-Fan Chen,Wei-Li Chuang. Владелец: Adlink Technology Inc. Дата публикации: 2023-05-23.

Device, method and computer readable storage medium for quantitative phase imaging

Номер патента: WO2023083042A1. Автор: Renjie Zhou,Rui Sun,Mengxuan NIU. Владелец: Bay Jay Ray Technology Limited. Дата публикации: 2023-05-19.

Ranging method and apparatus thereof, storage medium, and terminal device

Номер патента: US11914813B2. Автор: Yan GONG,Bin Song,Junting Liu,Hailong Chen. Владелец: Huizhou TCL Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

System, information processing method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20220327417A1. Автор: Shota Nagayama. Владелец: Mercari Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

Cleaning robot, cleaning method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240041291A1. Автор: Xin Wu. Владелец: Qfeeltech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Content sharing methods and apparatus, terminal, storage medium

Номер патента: US20230297209A1. Автор: Boyu MO. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-21.

Aircraft, Aircraft Control Method, and Computer Readable Storage Medium

Номер патента: US20230350430A1. Автор: Jing Liu,Yingjian Liu. Владелец: HANWANG TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2023-11-02.

System of quantum processors, information processing method, and non-transitory storage medium thereof

Номер патента: US11928555B2. Автор: Shota Nagayama. Владелец: Mercari Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Systems, methods and computer readable storage mediums storing instructions for segmentation of medical images

Номер патента: WO2012109658A3. Автор: Hamed AKBARI,Baowei Fei. Владелец: EMORY UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-10-18.

Patrol inspection method, device and computer-readable storage medium

Номер патента: US20230315095A1. Автор: FAN YANG,Shuting HUANG,Zepei FAN. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Blockchain-based block processing method and apparatus, device, storage medium, and program product

Номер патента: US20230360046A1. Автор: Gengliang Zhu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Model training method and apparatus, device, storage medium and program product

Номер патента: US20230316078A1. Автор: Tao Huang,Ruipeng Li. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

System, method, and computer readable storage medium storing a program for generating geometric patterns

Номер патента: US20150302618A1. Автор: Mohammad Ali YAGHAN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-10-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Disk transfer mechanism, and disk inspection apparatus and disk inspection method using the same

Номер патента: US20080056711A1. Автор: Tsutomu Nakadai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-03-06.

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION APPARATUS, SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20220101517A1. Автор: IWANAGA Shuji. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-31.

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION APPARATUS, SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20190220972A1. Автор: IWANAGA Shuji. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

Special effect optimization method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4434596A1. Автор: TING Li,Zhibo Zhang,Liangcheng XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Signal processing method and apparatus, and storage medium and vehicle

Номер патента: EP4418261A1. Автор: HAO WANG,Sheng Wu,Xiaojun Qiu,Haishan ZOU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Immersion probe, flaw inspection apparatus, and flaw inspection method

Номер патента: US20230314380A1. Автор: Daisuke Nagahama,Motoki Okuno,Yasuyuki Tanimura. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: US20230162345A1. Автор: Yasuhisa Ikushima,Kyosuke Tawara. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Equipment inspection apparatus and equipment inspection method

Номер патента: US09886603B2. Автор: Tsuyahiko Shimada. Владелец: Fujitsu Frontech Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Unevenness inspecting apparatus and unevenness inspecting method

Номер патента: TW200806975A. Автор: Hiroshi Sueki,Kichiji Azai. Владелец: Dainippon Screen Mfg. Дата публикации: 2008-02-01.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: EP2799848B1. Автор: Tetsuya Sukegawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2019-03-06.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: AU3434102A. Автор: Ryoichi Sawada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2002-11-21.

Ultrasonic pipe inspecting apparatus and pipe inspecting method

Номер патента: EP3009834B1. Автор: Keiichi Sasaki,Daisuke Asakura,Tetsuo Endoh,Shohei Matsumoto,Hiroaki Cho. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-07-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Item inspection apparatus and item inspection method

Номер патента: EP3369683B1. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Joo Hyuk KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2020-11-25.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: EP3537126B1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2020-05-13.

Inspection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20130148863A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-13.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20130148987A1. Автор: Arakawa Junya. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-06-13.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, AND NON-VOLATILE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20200279359A1. Автор: KIMURA Masaki,TSUNODA Hiroaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

ARTICLE INSPECTION APPARATUS, ARTICLE INSPECTION SYSTEM, AND NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM STORING COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20190376912A1. Автор: TAKATA Osamu. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-12.

Printing control device, printing control method, and computer-readable storage medium for gloss control during post-processing

Номер патента: US09417590B2. Автор: Yuichi Habu. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Circuit board inspection apparatus, circuit board inspection method and circuit board inspection tool

Номер патента: US20140354317A1. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Substrate inspection probe, substrate inspection apparatus, and substrate inspection method using them

Номер патента: JP6233947B1. Автор: 正人 内海. Владелец: WIT CO., LTD.. Дата публикации: 2017-11-22.

Wafer inspection probe card, wafer inspection apparatus and wafer inspection method

Номер патента: JPWO2007029766A1. Автор: 潔 木村,杉郎 下田,富士雄 原,木村 潔. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-03-19.

Information processing method and apparatus, and storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4177726A1. Автор: Fanxiu Kong. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-05-10.

Speech wakeup method and apparatus, and storage medium and system

Номер патента: EP4310838A1. Автор: Wenjie Li,Chao Peng,Longshuai Xiao,Yinan Zhen,Zhanlei Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Intelligent driving method and apparatus, and storage medium and computer program

Номер патента: EP4296133A1. Автор: XU Wang,Xiaoqi Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

A device, system, method and storage medium for ai application deployment

Номер патента: EP4359908A1. Автор: Hongyang Zhang,Bingchao Tang. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-05-01.

Image processing method and apparatus, and storage medium and device

Номер патента: US20240169476A1. Автор: SHAOHUI Jiao,Jing Cheng. Владелец: Beijing ByteDance Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Application processing method and apparatus and storage medium

Номер патента: US20190361737A1. Автор: Kai Li,Haojun HU,Shangtao LIANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Lane change method and system, storage medium, and vehicle

Номер патента: EP4173917A1. Автор: Ping Zhou,Sichen SUN. Владелец: NIO Technology Anhui Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-03.

Interference point determining method and apparatus, storage medium, and multi-channel lidar

Номер патента: EP4206728A1. Автор: Yan Song. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Three-dimensional scanning device, method and apparatus, storage medium and processor

Номер патента: EP4272697A1. Автор: Chao Ma,Xiaobo ZHAO. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Language interoperation method and apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: EP4361796A1. Автор: Jian Yuan,Jiazhen XUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Document processing method and apparatus and medium

Номер патента: EP4116859A2. Автор: Yingqi SUN. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Abnormal field of view recognition method and device, storage medium and mems lidar

Номер патента: US20230112106A1. Автор: Zhaohui Shi. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Human behavior recognition method, apparatus, storage medium and program product

Номер патента: EP3955217A2. Автор: TAO Hu,Xiangbo Su. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-16.

Image brightness adjustment method and device, storage medium and electronic device

Номер патента: EP3968268A1. Автор: Huai-Che Lee,Jui Hsiang CHAO. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-16.

Language interoperation method and apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: US20240264814A1. Автор: Jian Yuan,Jiazhen XUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Upper limb training system and method and readable storage medium

Номер патента: US20220211317A1. Автор: Lipeng ZHANG,Yuxia HU,Tongda Shen,Shaoting Yan. Владелец: ZHENGZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-07-07.

LiDAR anti-interference method and apparatus, storage medium, and LiDAR

Номер патента: US12092760B2. Автор: Shengqiang PAN,Yajun DU. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Vehicle power control system, method and apparatus, storage medium, and vehicle

Номер патента: EP4446170A1. Автор: Yue Meng,Yunpeng NING. Владелец: Beijing Co Wheels Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Motor torque control method and apparatus, storage medium and motor controller

Номер патента: EP4420919A1. Автор: Xiaogang Feng,Lipin CHENG. Владелец: Great Wall Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Feature map generation method and apparatus, storage medium, and computer device

Номер патента: EP4455875A1. Автор: Changsong Yu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Methods and systems for formatting storage volumes

Номер патента: US09471241B2. Автор: Matthew Sanchez,Brian D. HATFIELD,Ellen J. GRUSY,Kurt A. Lovrien. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Circuit pattern inspection apparatus, circuit pattern inspection method, and recording medium

Номер патента: JP4450143B2. Автор: 秀嗣 山岡,聖悟 石岡. Владелец: OHT Inc. Дата публикации: 2010-04-14.

Image generating apparatus, defect inspection apparatus, and defect inspection method

Номер патента: JP6191627B2. Автор: 麻耶 尾崎. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-06.

Printed matter inspection apparatus, printed matter inspection method and program

Номер патента: JP6613214B2. Автор: 善朗 山崎. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-27.

Map generation method and device, storage medium and processor

Номер патента: AU2020444025A1. Автор: Xiang Li,Qing Yuan,Xiang Zeng,Mianli LIU. Владелец: Guangdong Bozhilin Robot Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-15.

Map generation method and device, storage medium and processor

Номер патента: GB2609849A. Автор: Li Xiang,YUAN QING,Zeng Xiang,Liu Mianli. Владелец: Guangdong Bozhilin Robot Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Apparatus, method, and computer-readable medium for generating musical pieces

Номер патента: US20240233692A9. Автор: Yakov Vorobyev,Louis Ng,Michael Cupino,Matthew Donner,John Batka. Владелец: MIXED IN KEY LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Object control method and device, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12023589B2. Автор: Chuang Han,Jie Tang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Navigation method and apparatus, storage medium, and device

Номер патента: US20240175702A1. Автор: Lei Li,Tao Kong,Taozheng YANG. Владелец: Beijing Youzhuju Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Three-dimensional Scanning Device, Method and Apparatus, Storage Medium and Processor

Номер патента: US20240058106A1. Автор: Chao Ma,Xiaobo ZHAO. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Image display method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12042737B2. Автор: Zhihong Liu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Attribute value restoration method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240252928A1. Автор: Fan Yu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Automatic question answering method and apparatus, storage medium and server

Номер патента: US20210026899A1. Автор: Bingqian WANG,Jianbo Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-28.

Radar calibration method, apparatus, storage medium, and program product

Номер патента: EP3936885A3. Автор: Guangqi YI. Владелец: Apollo Intelligent Connectivity Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-08.

Object control method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240261687A1. Автор: Xiongfei HUANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Virtual Character Control Method and Apparatus, Storage Medium, and Electronic Device

Номер патента: US20240293747A1. Автор: Fudong Liu,Yingting Zhu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical apparatus, optical inspection method and non-transitory storage medium

Номер патента: US12123703B2. Автор: Hiroshi Ohno,Takashi Usui,Hideaki Okano,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Audio channel selection method and apparatus, storage medium and vehicle

Номер патента: EP4414827A1. Автор: Jiaqi Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Game system, controlling method and non transitory computer-readable storage medium for game system

Номер патента: US09789404B2. Автор: Atsushi Fukushima,Jirou Taoka,Hideaki Moine. Владелец: Capcom Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Liquid discharge apparatus, control method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220111651A1. Автор: Kei Kosaka,Tetsuya Narazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-04-14.

Liquid discharge apparatus, control method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240239105A1. Автор: Kei Kosaka,Tetsuya Narazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

In-game display control method and apparatus, storage medium, processor, and terminal

Номер патента: US11717751B2. Автор: ZHENG Jin,Kun Shao. Владелец: Netease Hangzhou Network CoLtd. Дата публикации: 2023-08-08.

Image display method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP3998113A1. Автор: Zhihong Liu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-18.

Apparatus, method, and computer-readable medium for cue point generation

Номер патента: US20170371961A1. Автор: Martin Douglas. Владелец: MIXED IN KEY LLC. Дата публикации: 2017-12-28.

Image display method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240286047A1. Автор: Zhihong Liu. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Resist pattern calculation method and calculation program storage medium

Номер патента: US09448495B2. Автор: Hiroyuki Ishii,Koji Mikami,Ryo Nakayama,Kouichirou Tsujita. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Display control device, method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US09449518B2. Автор: Makoto Mochizuki,Koichi Emura. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20120241645A1. Автор: Shinji Yamaguchi,Hiroyuki Kashiwagi,Masamitsu Itoh,Masato Naka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-09-27.

SURFACE INSPECTION APPARATUS AND SURFACE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130100448A1. Автор: FUKAZAWA Kazuhiko,KOMATSU Koichiro,OOMORI Takeo. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2013-04-25.

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20130188184A1. Автор: Shibata Yukihiro,Taniguchi Atsushi,Ueno Taketo,Matsumoto Shunichi. Владелец: . Дата публикации: 2013-07-25.

LEAKAGE INSPECTION APPARATUS AND LEAKAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130199274A1. Автор: Yamamoto Setsuo,Kurisu Hiroki,Takada Naoki,Nakagawa Mitsugu,Tsuge Katsushi,Ishikawa Yukihiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-08.

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20130208270A1. Автор: FUKUSHIMA Hideki,Hirose Nobuaki. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-15.

SURFACE INSPECTING APPARATUS AND SURFACE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20140009756A1. Автор: MATSUI Shigeru. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

Defect Inspection Apparatus And Defect Inspection Method

Номер патента: US20140042332A1. Автор: Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150002847A1. Автор: SUKEGAWA Tetsuya. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS AND NONDESTRUCTIVE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200003702A1. Автор: Nakamura Wataru,FUJIWARA Takeshi,Tomiyasu Kazuhide,MIYOSHI Hiroaki. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

NEURAL NETWORK-TYPE IMAGE PROCESSING DEVICE, APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210004954A1. Автор: IJIRI Yoshihisa. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2021-01-07.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220026396A1. Автор: Yoshida Koki,Takubo Kenji,HATAHORI Takahide. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-01-27.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190026596A1. Автор: Shiratsuchi Masataka. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2019-01-24.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20210025829A1. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Masami Makuuchi,Keiko Oka. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

BLADE INSPECTION APPARATUS AND BLADE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150036150A1. Автор: KONOMURA Yutaka,KOBAYASHI Eiichi,HORI Fumio. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-05.

GEAR INSPECTION APPARATUS AND GEAR INSPECTION METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20200033110A1. Автор: Choi Hyun,SHIN Sang Jong. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

MASK INSPECTION APPARATUS AND MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160042505A1. Автор: Isomura Ikunao,Kikuiri Nobutaka,Tsuchiya Hideo. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2016-02-11.

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180045652A1. Автор: UMEHARA Jiro. Владелец: JTEKT CORPORATION. Дата публикации: 2018-02-15.

EQUIPMENT INSPECTION APPARATUS AND EQUIPMENT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170046543A1. Автор: Shimada Tsuyahiko. Владелец: FUJITSU FRONTECH LIMITED. Дата публикации: 2017-02-16.

SURFACE INSPECTION APPARATUS AND SURFACE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160054235A1. Автор: KIM Hyun Woo,Ko Jeong Hwan,CHUNG Eui Seung. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

INSULATION INSPECTION APPARATUS AND INSULATION INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160054373A1. Автор: Kasai Jun. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2016-02-25.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150062581A1. Автор: Honda Toshifumi,Hamamatsu Akira,Urano Yuta,Ueno Taketo. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

SEMICONDUCTOR INSPECTION APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140157069A1. Автор: Nishizono Masami. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2014-06-05.

Defect Inspection Apparatus and Defect Inspection Method

Номер патента: US20150102229A1. Автор: SHIMURA Kei. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-16.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US20160109385A1. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-21.

PIPE INSPECTING APPARATUS AND PIPE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20160109410A1. Автор: Endoh Tetsuo,MATSUMOTO Shohei,Sasaki Keiichi,CHO Hiroaki,ASAKURA Daisuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2016-04-21.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220180500A1. Автор: Yoshida Koki,Takubo Kenji,HATAHORI Takahide. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-09.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210142457A1. Автор: Sugihara Shinji. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2021-05-13.

WEAR INSPECTION APPARATUS AND WEAR INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190120722A1. Автор: WAKASUGI Kazuyuki. Владелец: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES ENGINEERING, LTD.. Дата публикации: 2019-04-25.

WAFER INSPECTION APPARATUS AND WAFER INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170131219A1. Автор: FUJIKURA Hajime. Владелец: Sumitomo Chemical Company, Limited. Дата публикации: 2017-05-11.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200160496A1. Автор: NAKASHIMA Kazuhiro,INOUE Takafumi,ISOBE Manabu,AKIYAMA Hiroteru. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2020-05-21.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170178314A1. Автор: NUKADA Hideki,Kikuiri Nobutaka. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2017-06-22.

IMAGE-INSPECTION APPARATUS AND IMAGE-INSPECTION METHOD FOR WELDED PORTION

Номер патента: US20150202708A1. Автор: MASUGI Yutaka,AOKI Takehiro,FUJIKI Seiya. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289689A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

WIRING INSPECTION APPARATUS AND WIRING INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140289696A1. Автор: FURUYA Akiko,MIGITA Koji,Kawasoe Nobuaki,OOTA Masato. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2014-09-25.

VEHICLE INSPECTION APPARATUS AND VEHICLE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210239573A1. Автор: Akutsu Susumu,Inagawa Toshinori. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

SURFACE INSPECTION APPARATUS AND SURFACE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190212275A1. Автор: Ichikawa Yukio,TAKAYAMA Munehiro,TODA Masataka,Nozawa Jin,Kuno Yasuyuki. Владелец: AISIN SEIKI KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-07-11.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140314304A1. Автор: Tsuchiya Hideo,INOUE Takafumi. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2014-10-23.

INSPECTION APPARATUS AND AN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140319351A1. Автор: YAMADA Eiichiro,KIMURA Akinori. Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2014-10-30.

MASK INSPECTION APPARATUS AND MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170235031A1. Автор: TAKEHISA Kiwamu,MIYAI Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

IMAGE INSPECTION APPARATUS AND IMAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150254827A1. Автор: KOBAYASHI Takumi. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

ULTRASONIC INSPECTION APPARATUS AND ULTRASONIC INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190242858A1. Автор: Sugawara Azusa,YAMAMOTO Setsu,SEMBOSHI Jun,TSUCHIHASHI Kentaro,OTSUKA Masaru. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-08.

MASK INSPECTION APPARATUS AND MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160267648A1. Автор: Ogawa Riki,Yamashita Yasuhiro. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2016-09-15.

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20140353505A1. Автор: Oshima Kiyomi,Saito Hiromi,NISHIYAMA Jun,TAKEI Shuichi,Sada Tetsuya,Konta Yu. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

IMAGE INSPECTION APPARATUS AND IMAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190265170A1. Автор: Inazumi Shingo,KATO Yutaka. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-08-29.

IMAGE INSPECTION APPARATUS AND IMAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190265171A1. Автор: Inazumi Shingo,KATO Yutaka. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-08-29.

CERAMIC BODY DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20190265172A1. Автор: TERAHAI Takafumi,Mizutani Akihiro,Koseki Anna. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2019-08-29.

NOZZLE INSPECTION APPARATUS AND NOZZLE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190275542A1. Автор: MITSUE Toyoaki,KAWAMORI Yoshiteru,SAWASAKI Tomio. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-12.

SHAPE INSPECTION APPARATUS AND SHAPE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200292465A1. Автор: KONNO Yusuke,FURUYA Nobuhiro,SONODA Takayuki. Владелец: NIPPON STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-17.

VISUAL INSPECTION APPARATUS AND VISUAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20160320314A1. Автор: Suzuki Yoshikuni. Владелец: YAMAHA HATSUDOKI KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-11-03.

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS AND APPEARANCE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200333260A1. Автор: Yamada Eiji. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-22.

PRINT INSPECTION APPARATUS AND PRINT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Inose Tsutomu. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-17.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170352140A1. Автор: Isomura Ikunao. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2017-12-07.

SHAPE INSPECTION APPARATUS AND SHAPE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200386541A1. Автор: FURUYA Nobuhiro,SONODA Takayuki. Владелец: NIPPON STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2020-12-10.

OPTICAL INSPECTION APPARATUS AND OPTICAL INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200386588A1. Автор: LEE Kunyuan. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4625716B2. Автор: 繁 松井,昌昭 伊東. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-02-02.

Withstanding voltage inspection apparatus and automatic inspection method

Номер патента: KR100207994B1. Автор: 임종수. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1999-07-15.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: JP4988000B2. Автор: 亮一 平野,育直 磯村,信孝 菊入. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-08-01.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CN101034069A. Автор: 冈部浩史,金谷义宏,松本俊彦. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2007-09-12.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: JP5557368B2. Автор: 健二 五味. Владелец: Tokyo Denki University. Дата публикации: 2014-07-23.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: KR100451537B1. Автор: 사와다료이치. Владелец: 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼. Дата публикации: 2004-10-06.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JPWO2014034526A1. Автор: 麻耶 尾崎. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-08.

Surface inspecting apparatus and surface inspecting method

Номер патента: US8493557B2. Автор: Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-23.

Surface inspecting apparatus and surface inspecting method

Номер патента: US9046499B2. Автор: Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-06-02.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20050121612A1. Автор: Yuji Takagi,Toshifumi Honda,Hirohito Okuda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-06-09.

Scan inspection apparatus and scan inspection method for glass edge

Номер патента: KR101282757B1. Автор: 이유정,추연성. Владелец: (주)유텍시스템. Дата публикации: 2013-07-05.

Mobile inspection apparatus and mobile inspection method

Номер патента: CN114167509A. Автор: 杨洋,宋全伟,孟辉,樊旭平,史俊平,何远. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-11.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US8921798B2. Автор: Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-12-30.

Substrate inspecting apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: CN101454680A. Автор: 角田晴美. Владелец: Nidec Corp. Дата публикации: 2009-06-10.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP3630624B2. Автор: 実 吉田,俊二 前田,俊彦 中田,篤 下田,幸雄 宇都. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-03-16.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: WO2012124521A1. Автор: 松井 美和. Владелец: シャープ株式会社. Дата публикации: 2012-09-20.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method for substrate surface

Номер патента: JP5350012B2. Автор: 正浩 渡辺,実 吉田,俊彦 中田,康裕 吉武,秀明 笹澤. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-11-27.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20070211242A1. Автор: Hiroshi Okabe,Toshihiko Matsumoto,Yoshihiro Kanetani. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2007-09-13.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US9194795B2. Автор: Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-11-24.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method using the same

Номер патента: KR101080142B1. Автор: 양재민. Владелец: 주식회사 에이치앤씨. Дата публикации: 2011-11-07.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: CN115398474A. Автор: 峯泽彰,冈原浩平. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-25.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9202270B2. Автор: Hideo Tsuchiya,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-12-01.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US11461889B2. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-10-04.

Defect inspection apparatus and defect inspection method for plugged honeycomb structure

Номер патента: JP6595708B2. Автор: 彰宏 水谷,杏菜 小瀬木,貴史 寺拝. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2019-10-23.

Nondestructive inspection apparatus and nondestructive inspection method using guided wave

Номер патента: CN100394174C. Автор: 永岛良昭,小池正浩,松井哲也. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-06-11.

Radiation inspection apparatus and radiation inspection method

Номер патента: JP3841358B2. Автор: 啓司 小橋,雄一郎 上野,崇章 石津,健介 雨宮,進一 小嶋. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-11-01.

LED inspection apparatus and LED inspection method using the same

Номер патента: US8068661B2. Автор: Grigory Onushkin,Joong Kon Son,Jong Hoon Lim,Sang Su Hong. Владелец: Samsung LED Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-29.

Container inspection apparatus and container inspection method

Номер патента: JPWO2018198248A1. Автор: 岳 鈴木,貴也 細野. Владелец: Toyo Glass Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-05.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US6337488B1. Автор: Kouki Okawauchi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-01-08.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: WO2017002468A1. Автор: 巧 吉田. Владелец: 株式会社Screenホールディングス. Дата публикации: 2017-01-05.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US11688058B2. Автор: Takafumi Inoue,Makoto Yabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-06-27.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US7706597B2. Автор: Takashi Yoneyama,Eriko Tsuji. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US9588055B2. Автор: TAKETO UENO,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JPWO2005064322A1. Автор: 健雄 大森,和彦 深澤,大森 健雄. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2007-07-19.

Implant inspection apparatus and implant inspection method

Номер патента: KR102048971B1. Автор: 박태성,이남식. Владелец: (주)두드림. Дата публикации: 2019-11-27.

Nondestructive inspection apparatus and nondestructive inspection method using guide wave

Номер патента: JP3747921B2. Автор: 正浩 小池,良昭 永島,哲也 松井. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-02-22.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JPWO2016067709A1. Автор: 正 高橋,睦博 本田,高橋 正,俊寿 ▲ひばり▼野. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

Wear inspection apparatus and wear inspection method

Номер патента: JP6647122B2. Автор: 一幸 若杉. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Engineering Ltd. Дата публикации: 2020-02-14.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: JP5370155B2. Автор: 祐司 工藤. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-12-18.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: KR101588937B1. Автор: 나리아키 후지와라. Владелец: 가부시키가이샤 스크린 홀딩스. Дата публикации: 2016-01-26.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4821848B2. Автор: 宏明 畠中,稔 田上,伸和 井戸. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: JP5132866B2. Автор: ダニエル・エル.・カバン. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2013-01-30.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20050175233A1. Автор: Takashi Yoneyama,Eriko Tsuji. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2005-08-11.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US10654060B2. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2020-05-19.

Adhesion inspection apparatus and adhesion inspection method using the same

Номер патента: EP2062027A1. Автор: Hideyuki Kawabe,Katsushige Mori. Владелец: Suntory Ltd. Дата публикации: 2009-05-27.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US8669522B2. Автор: Shinji Yamaguchi,Hiroyuki Kashiwagi,Masamitsu Itoh,Masato Naka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Adhesion inspection apparatus and adhesion inspection method using the same

Номер патента: CN101113948B. Автор: 川边秀幸,森胜繁. Владелец: Suntory Holdings Ltd. Дата публикации: 2012-08-22.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CN113227781A. Автор: 畠堀贵秀,田窪健二,吉田康纪. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-06.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: JPWO2009099122A1. Автор: 源洋 中川,雅基 田子,義男 亀田,田子 雅基,宏一朗 野口. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-05-26.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: TW201447286A. Автор: Nariaki Fujiwara. Владелец: Dainippon Screen Mfg. Дата публикации: 2014-12-16.

Reticle inspection apparatus and reticle inspection method

Номер патента: JP4991499B2. Автор: 康成 早田,義則 中山,信次 岡崎,信裕 岡井. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-01.

Defect Inspection Apparatus and Defect Inspection Method

Номер патента: US20230175979A1. Автор: Takanori Kondo,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP5050394B2. Автор: 宗寛 山下,理夫 戒田. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2012-10-17.

Surface defect inspecting apparatus and the inspecting method using the same

Номер патента: KR102314469B1. Автор: 박수진,김희창. Владелец: 삼성디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2021-10-20.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CN102012376B. Автор: 谭小地. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2013-01-09.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: CN109557448B. Автор: 椹木雅也. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Ultrasonic inspection apparatus and ultrasonic inspection method

Номер патента: WO2023282126A1. Автор: 茂 大野,薫 酒井. Владелец: 株式会社日立パワーソリューションズ. Дата публикации: 2023-01-12.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: JP4898713B2. Автор: 知弘 船越,勇治 見吉. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-21.

Vision inspection apparatus and vision inspection method

Номер патента: KR20170049266A. Автор: 김묵현. Владелец: 주식회사 화인스텍. Дата публикации: 2017-05-10.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20090105967A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2009-04-23.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: TW200822260A. Автор: Atsutoshi Yokota. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2008-05-16.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: EP3531116B1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2024-05-01.

Unevenness inspecting apparatus and unevenness inspecting method

Номер патента: TW200710367A. Автор: Kazuhiro Yoshihara,Kazutaka Taniguchi,Kunio Ueta. Владелец: Dainippon Screen Mfg. Дата публикации: 2007-03-16.

Control device, electronic timepiece, processing control method and computer readable storage medium

Номер патента: US20180088806A1. Автор: Naoto Toda,Tatsuya SEKITSUKA. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Trajectory prediction method and device

Номер патента: AU2021240237A1. Автор: Hao He,Naiyan Wang. Владелец: Beijing Tusen Weilai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-27.

Game system, and control method and computer readable storage medium used therefor

Номер патента: US10424165B2. Автор: Takayuki HOSOKAWA. Владелец: Konami Digital Entertainment Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-24.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, INSPECTION SYSTEM, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120321327A1. Автор: Umeda Yoshinobu. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-12-20.

INSPECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD, INSPECTION SYSTEM, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20130114102A1. Автор: Yamamoto Naohiro. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-05-09.

MOUNTING ACCURACY INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS USING THE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120050487A1. Автор: SHIGEMURA Koji,MASUMURA Kazunori. Владелец: NEC LCD TECHNOLOGIES, LTD.. Дата публикации: 2012-03-01.

X-ray inspection apparatus, X-ray inspection method, and X-ray inspection program

Номер патента: JP4477980B2. Автор: 篤司 寺本,恭行 荒川. Владелец: Nagoya Electric Works Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-09.

Printed matter inspection apparatus, printed matter inspection method, and printed matter inspection program

Номер патента: JP6369072B2. Автор: 義典 祖地. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-08.

CLEANLINESS INSPECTION APPARATUS AND CLEANLINESS INSPECTION METHOD FOR OBJECT TO BE INSPECTED

Номер патента: US20120024049A1. Автор: . Владелец: NHK SPRING CO., LTD.. Дата публикации: 2012-02-02.

End inspection apparatus and end inspection method for inspection object

Номер патента: JP5067049B2. Автор: 直史 坂口,貴志 渡部. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-11-07.

A manufacturing method of a display panel, an inspection apparatus, and a inspection method thereof

Номер патента: TWI583940B. Автор: Shinya Tsuchida. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2017-05-21.

SURFACE INSPECTING APPARATUS AND SURFACE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20120044505A1. Автор: MATSUI Shigeru. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-23.

WORKPIECE INSPECTING APPARATUS AND WORKPIECE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20120069173A1. Автор: . Владелец: HONDA MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2012-03-22.

SURFACE INSPECTING APPARATUS AND SURFACE INSPECTING METHOD

Номер патента: US20120069335A1. Автор: FUKAZAWA Kazuhiko. Владелец: . Дата публикации: 2012-03-22.

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20120105092A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-05-03.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120212605A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-23.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120314205A1. Автор: YANG Yu-Sin,LEE Sang-Kil,SOHN Young-Hoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-12-13.

UNEVENNESS INSPECTION APPARATUS AND UNEVENNESS INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120327399A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-27.

SURFACE INSPECTION APPARATUS AND SURFACE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120327403A1. Автор: . Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-27.

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120327415A1. Автор: . Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-27.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130044205A1. Автор: Kikuiri Nobutaka,Tsuchiya Hideo,Matsumoto Eiji. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2013-02-21.

TABLET INSPECTION APPARATUS AND TABLET INSPECTION METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20130058550A1. Автор: Tanimoto Takanobu,Gotou Makoto,Matsukawa Yoshihiko,Yamashita Hitoshi. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-07.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20130068947A1. Автор: Nakamura Takayuki,MURAKAWA Tsutomu. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-21.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130083318A1. Автор: Ogawa Riki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2013-04-04.

SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130114074A1. Автор: Nakajima Taigo,Ueta Kunio,Taniguchi Kazutaka. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-09.

Ultrasonic inspection apparatus and ultrasonic inspection method

Номер патента: JP5075850B2. Автор: 直哉 川上,貴久 丸山. Владелец: Hitachi Engineering and Services Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-21.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: JP4981703B2. Автор: 敦俊 横田. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2012-07-25.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: JP4970569B2. Автор: 真児 杉原. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-07-11.

Inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4674382B1. Автор: 治彦 楠瀬,寛和 関,朋広 矢地,将行 中島. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2011-04-20.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: JP4665004B2. Автор: 耕太 原田. Владелец: KYB Corp. Дата публикации: 2011-04-06.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method using charged particle beam

Номер патента: JP4728361B2. Автор: 真理 野副,都 松井,郭子 高藤. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-07-20.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method for aluminum extruded profile

Номер патента: JP4108402B2. Автор: 裕志 蒲田,幸雄 松井. Владелец: 新日軽株式会社. Дата публикации: 2008-06-25.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: JPH1152546A. Автор: Mitsuo Tabata,育直 磯村,光雄 田畑,Yasunao Isomura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-02-26.

Overlay inspection apparatus and overlay inspection method

Номер патента: JP4096715B2. Автор: 秀夫 高橋,啓之 阿部. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-06-04.

Printing inspection apparatus and printing inspection method

Номер патента: JP4735593B2. Автор: 稔 村上,隆 香月,裕治 大武,貴弘 深川. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-07-27.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: JP4716827B2. Автор: 俊行 田中,一郎 河村,祥平 山崎,五郎 薗部,中裕 原田. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-06.

Photomask inspection apparatus and photomask inspection method

Номер патента: JP3067142B2. Автор: 龍治 前田,考男 古川. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2000-07-17.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP4808162B2. Автор: 勇一 下田. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-11-02.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4617970B2. Автор: 暢彦 向井. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-01-26.

Assembly inspection apparatus and assembly inspection method

Номер патента: JP4737449B2. Автор: 篤典 服部. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2011-08-03.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP6519979B2. Автор: 真司 山田,友樹 丸山. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2019-05-29.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: TW201923335A. Автор: 鄒嘉駿,江宏偉,賴憲平. Владелец: 由田新技股份有限公司. Дата публикации: 2019-06-16.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4445563B2. Автор: 信一郎 谷口,隆広 佐々木. Владелец: Futec Inc. Дата публикации: 2010-04-07.

PATTERN INSPECTION APPARATUS AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: JP7222671B2. Автор: 和弘 中島,貴文 井上,学 礒部,裕照 秋山. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-02-15.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: JP4922381B2. Автор: 亮一 平野,育直 磯村,信孝 菊入. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-04-25.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: JP6546079B2. Автор: 渉 藤原. Владелец: Shindengen Electric Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-17.

Gloss inspection apparatus and gloss inspection method for fruits and vegetables

Номер патента: JP4019008B2. Автор: 敏広 山下,隆行 東. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2007-12-05.

Stereo camera misalignment inspection apparatus and misalignment inspection method

Номер патента: JP4018950B2. Автор: 勉 丹沢. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 2007-12-05.

Appearance inspection apparatus and appearance inspection method

Номер патента: JP6078286B2. Автор: 啓二 中川,啓史 松尾,中川 啓二. Владелец: Ricoh Elemex Corp. Дата публикации: 2017-02-08.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP4365603B2. Автор: 誠 西澤. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2009-11-18.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: JP4862765B2. Автор: 靖則 山岸. Владелец: Kanto Auto Works Ltd. Дата публикации: 2012-01-25.

Chip inspection apparatus and chip inspection method

Номер патента: JP4886981B2. Автор: 英樹 添田. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-02-29.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP4820731B2. Автор: 清 沼田. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method

Номер патента: JP3312748B2. Автор: 清昭 蔦. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-12.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4632777B2. Автор: 勝行 橋本,新安 趙. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2011-02-16.

Circuit board insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: JP3546046B2. Автор: 正 ▲高▼橋,宗寛 山下. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2004-07-21.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: JP6649130B2. Автор: 信孝 菊入,貴文 井上,菊入 信孝. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-02-19.

Comparative inspection apparatus and comparative inspection method

Номер патента: JP3722073B2. Автор: 公英 小野. Владелец: 独立行政法人 国立印刷局. Дата публикации: 2005-11-30.

Surface contamination inspection apparatus and its inspection method

Номер патента: JP2008051649A. Автор: Katsuhiko Sato,勝彦 佐藤. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-03-06.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: JP4962763B2. Автор: 直道 千田,卓人 岸,一晃 上畠. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2012-06-27.

Sample inspection apparatus and sample inspection method

Номер патента: JP4664996B2. Автор: 育直 磯村. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-04-06.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP4679282B2. Автор: 昇 加藤,進 岩井. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-04-27.

Lighting inspection apparatus and lighting inspection method for flat display panel

Номер патента: JP4639947B2. Автор: 俊哉 大谷,敬夫 脇谷,亮 戸島,竜一 井上. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-02-23.

Line flow fan shape inspection apparatus and shape inspection method thereof

Номер патента: JP3743476B2. Автор: 浩之 笹井,裕久 西野. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2006-02-08.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: JP5466811B2. Автор: 義明 菅. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2014-04-09.

Submerged inspection apparatus and submerged inspection method

Номер патента: JP6145728B1. Автор: 武史 島本,信昭 中村. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-14.

Hologram inspection apparatus and hologram inspection method

Номер патента: JP3735034B2. Автор: 宗郷 熊谷. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2006-01-11.

Projector inspection apparatus and projector inspection method

Номер патента: JP4100075B2. Автор: 雅志 北林. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-06-11.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: JP5367292B2. Автор: 賢吾 田中,泰志 林,浩一 曾根. Владелец: Furukawa Sky Aluminum Corp. Дата публикации: 2013-12-11.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: JP5274346B2. Автор: 俊繁 永尾. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-08-28.

Plate inspection apparatus and plate inspection method

Номер патента: JP3875169B2. Автор: 晋一 前田,至 古川,節夫 大原. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2007-01-31.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: TW201028680A. Автор: Shang-Chieh CHOU,Ya-Wen Chiang. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2010-08-01.