Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Defect inspection apparatus and defect inspection method

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20200089838A1
Опубликовано: 19-03-2020
Автор(ы): Akira Hamaguchi, Atsushi Onishi, Kazuhiro Nojima, Kazuhiro Yamada, Shigeki Nojima, Tomohide TEZUKA
Принадлежит: Toshiba Memory Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Defect inspection method for sensor package structure

Номер патента: US20210150689A1. Автор: Han-Hsing Chen,Yi-Cheng Juan. Владелец: Kingpak Technology Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

Defect inspection method for sensor package structure

Номер патента: US11094056B2. Автор: Han-Hsing Chen,Yi-Cheng Juan. Владелец: Kingpak Technology Inc. Дата публикации: 2021-08-17.

Defect inspection system and semiconductor fabrication apparatus including a defect inspection apparatus using the same

Номер патента: US12073556B2. Автор: Jeong Ok PARK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240054633A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

Methods and systems for selecting recipe for defect inspection

Номер патента: WO2017136215A1. Автор: Robert Danen,Alfonso Sun,Thomas BOATWRIGHT. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-10.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20190079025A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Wafer visual inspection apparatus and wafer visual inspection method

Номер патента: US20240257336A1. Автор: Tatsuya Osada. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US20160098828A1. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Substrate inspection apparatus and substrate treatment system including the same

Номер патента: US20240142389A1. Автор: Dong Min Park,Jeong Hoon Han,Jun Hyun LIM,Oh Yeol KWON. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Automated wafer defect inspection system and a process of performing such inspection

Номер патента: US09464992B2. Автор: Cory Watkins,Mark Harless,Thomas Verburgt,Jeffrey L. O'Dell. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Method for defect inspection

Номер патента: US11953448B2. Автор: Cheng-Ming Lin,Hao-Ming Chang,Sheng-Chang Hsu,Tsun-Cheng Tang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240361244A1. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection apparatus comprising a first imager imaging fluorescence having a wavelength longer than a first wavelength and a second imager imaging fluorescence having a wavelength shorter than a second wavelength and inspection method

Номер патента: US12072289B2. Автор: Tomonori Nakamura. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and reference image generation method

Номер патента: US20240257300A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Apparatus and method for defect inspection of wafer

Номер патента: KR101214806B1. Автор: 마사시 하야시. Владелец: 가부시키가이샤 사무코. Дата публикации: 2012-12-24.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Methods of defect inspection

Номер патента: US20190064675A1. Автор: Te-Chih Huang,Shu-Hao Chang,Shih-Che Wang,Ta-Ching Yu,Yi-Hao Chen,Chen-Yen KAO,Yuan-Fu HSU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20210080404A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Wafer inspection method and wafer inspection apparatus

Номер патента: US09953407B2. Автор: Hirohide Yano,Yusaku Ito,Tomoyuki Yaguchi. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Polarized image acquisition apparatus, pattern inspection apparatus, polarized image acquisition method, and pattern inspection method

Номер патента: US20180114306A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-04-26.

The shape inspection apparatus of metallic object and the shape inspection method of metallic object

Номер патента: CN107003115B. Автор: 今野雄介,赤木俊夫,山地宏尚,梅村纯. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-08-09.

Wafer defect inspection apparatus and method for inspecting a wafer defect

Номер патента: US09786045B2. Автор: Masashi Hayashi. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Defect inspection device

Номер патента: US20240096667A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US12046445B2. Автор: Takuro Nagao. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20200294223A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US20190228521A1. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Print quality inspection apparatus and print quality inspection method

Номер патента: US11094051B2. Автор: Kentaro Ohama. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2021-08-17.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US12045975B2. Автор: Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus, injection molding system, and inspection method

Номер патента: US20230070161A1. Автор: Itta Nozawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Visual inspection apparatus and visual inspection methods

Номер патента: US20240013370A1. Автор: Hiroshi Yamashita,Masahiro Ibe,Kojiro Tanimura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-01-11.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20190346769A1. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335587A1. Автор: Yuichiro Hama,Nobuyuki Kurihara,Keisuke Fukuta. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor manufacturing apparatus

Номер патента: US20240071795A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Epitaxial wafer back surface inspection apparatus and epitaxial wafer back surface inspection method using the same

Номер патента: JP6601119B2. Автор: 達弥 長田,秀明 金原,雅彦 江頭. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2019-11-06.

An epitaxial wafer backside inspection apparatus and an epitaxial wafer backside inspection method using the same

Номер патента: KR20180050369A. Автор: 타츠야 오사다,마사히코 에가시라,히데아키 긴바라. Владелец: 가부시키가이샤 사무코. Дата публикации: 2018-05-14.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20230402249A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA,Toshinori Yamauchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Lighting for defect inspection of sheet-shaped objects, defect inspection apparatus for sheet-shaped objects, and method of defect inspection of sheet-shaped objects

Номер патента: US20210358109A1. Автор: Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-11-18.

Defect inspection device

Номер патента: US11790512B2. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Sualab Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Wafer inspection apparatus and wafer inspection method using the same

Номер патента: US20180061041A1. Автор: Byeong Hwan Jeon,Tae Joong Kim,Jae Chol JOO,Jun Bum Park,Tae Heung AHN,Soo Ryonng Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-01.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09542586B2. Автор: Eiji Matsumoto,Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Shape inspection apparatus for metallic body and shape inspection method for metallic body

Номер патента: US09903710B2. Автор: Hironao Yamaji,Yusuke Konno,Toshio Akagi,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Inspecting Apparatus And Processing Apparatus Including The Same

Номер патента: MY195430A. Автор: SUGIYAMA Tomoaki,Kozai Hirohiko,MORIKAWA Naoki. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-01-20.

Battery cell welded part inspection apparatus, and battery cell welded part inspection method using same

Номер патента: EP4414121A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Hyun Min Oh. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Defect inspecting method and defect inspecting apparatus

Номер патента: US09841384B2. Автор: Toshiyuki Nakao,Shigenobu Maruyama,Yuta Urano,Akira Hamamatsu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20220005666A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-01-06.

Time-dependent defect inspection apparatus

Номер патента: US20200075287A1. Автор: Jun Jiang,Long Ma,Yongjun WANG,Chih-Yu Jen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-03-05.

Defect inspection method, low light detecting method and low light detector

Номер патента: US09588054B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect inspection apparatus, method for inspecting defect, and method for manufacturing photomask blank

Номер патента: US11940391B2. Автор: Tsuneo Terasawa,Takumi Yoshino,Ryusei TERASHIMA. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Foreign matter inspection apparatus, foreign matter inspection method, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20220291144A1. Автор: Yuichi Fujita,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-09-15.

Inspecting apparatus and inspecting method for display device

Номер патента: US20240274047A1. Автор: Joon-Geol KIM,Yongchae Im,Heeyeon LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Substrate inspection apparatus, method of calibrating the substrate inspection apparatus, and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US20200182777A1. Автор: YOON Sung Bae,Young Hoon Sohn,Yu Sin YANG,Jang Ik PARK,Kwang Rak KIM,Tae Yong Jo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-06-11.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: US09816938B2. Автор: Ajharali Amanullah. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: EP4354081A3. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-07-17.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20140168410A1. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-19.

Focus-less inspection apparatus and method

Номер патента: US12105029B2. Автор: Moon Young Jeon,Jung Hur,Chan Kwon Lee,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Mask inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US09519212B2. Автор: Hun-Jung Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Substrate inspection method and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20200025692A1. Автор: Akiko Kiyotomi,Kazuya HISANO. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011919A1. Автор: Yoichi Karaki,Shinnosuke Ichikawa. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Substrate inspection system, substrate inspection method and recording medium

Номер патента: US20200386538A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Toyohisa Tsuruda,Yasuaki Noda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-10.

Methods and apparatus for monitoring a manufacturing process, inspection apparatus, lithographic system, device manufacturing method

Номер патента: US11698346B2. Автор: Maurits van der Schaar,Murat BOZKURT,Alberto DA COSTA ASSAFRAO,Ioana Sorina Barbu. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-07-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927539B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-12.

Substrate-holder inspection apparatus, plating apparatus including the same, and appearance inspection apparatus

Номер патента: WO2018008343A1. Автор: Masaaki Kimura,Toshio Yokoyama,Kunio Oishi,Jumpei Fujikata,Yoshitaka Mukaiyama. Владелец: EBARA CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-11.

Method for fabricating a semiconductor device using a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20240304501A1. Автор: Ki Hun Kim,Yong Ju Jeon,Jeong-su Ha,Jhong Kwon KIM,Da Young MYOUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-12.

Wafer image inspection apparatus

Номер патента: US09829441B2. Автор: SEGAL Ram,Tae Hoon Park. Владелец: Nextin Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Inspection apparatus, manufacturing method of integrated circuit, and inspection method

Номер патента: US20230298917A1. Автор: Tsung-Fu Tsai,Szu-Wei Lu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll

Номер патента: US20180149602A1. Автор: Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-31.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Roller, spot inspection method and apparatus, coiled-material conveying method and apparatus, and device and medium

Номер патента: EP4397610A1. Автор: Ping Jiang,Zhipeng Zhang,Hongyuan LI,Yuyang Mao. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Roller, inspection method and apparatus, coil conveying method and apparatus, device and medium

Номер патента: US20240166460A1. Автор: Ping Jiang,Zhipeng Zhang,Hongyuan LI,Yuyang Mao. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Ceramic body defect inspecting apparatus and ceramic body defect inspecting method

Номер патента: US20210018446A1. Автор: Akihiro Mizutani,Takafumi TERAHAI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Ceramic body defect inspecting apparatus and ceramic body defect inspecting method

Номер патента: US11243171B2. Автор: Akihiro Mizutani,Takafumi TERAHAI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2022-02-08.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Mask inspection apparatus and mask inspection method using the same

Номер патента: US11961222B2. Автор: Taehyun Kim,Mihye Kwon,Ilha Song,Jimin Woo,Sangdon Hwang,BongSuk Kim. Владелец: HIMS CO Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Inspection system, inspection apparatus, control method therefor, and storage medium

Номер патента: US20230306586A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09542737B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Image inspecting apparatus and image inspecting program

Номер патента: US09495736B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Image inspection method and inspection region setting method

Номер патента: US09892504B2. Автор: Anh Nguyen,Yasuyo Kotake,Yoshihisa Minato,Yukiko Yanagawa. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Inspection apparatus, coordinate detection apparatus, coordinate detection method, and wavefront aberration correction method

Номер патента: US09786057B2. Автор: Masafumi Shinoda,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Foreign substance/defect inspection apparatus, image forming device in foreign substance/defect inspection apparatus, and foreign substance/defect inspection method

Номер патента: JP2022032193A. Автор: Osamu Iwasaki,修 岩崎,幸大 香川,Yukihiro Kagawa. Владелец: Vienex Corp. Дата публикации: 2022-02-25.

Inspection apparatus, image forming system, inspection program, and inspection method

Номер патента: US11941305B2. Автор: Shoichi Ayukawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-26.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Defect classification equipment for silicon carbide substrate using single incident light-based photoluminescence and defect classification method using the same

Номер патента: US20230113093A1. Автор: Min-Jung Lee,Huyndon JUNG. Владелец: Etamax Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20230030308A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-02.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20240276103A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Medicine package inspection apparatus

Номер патента: US09731909B2. Автор: Jun Ho Kim. Владелец: JVM Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Tire appearance inspection apparatus

Номер патента: US09710904B2. Автор: Yoshitaka Fujisawa. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255444A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus, image reading apparatus, image forming apparatus, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200009860A1. Автор: Takuji Kamada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

MULTIPLE CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION APPARATUS AND MULTIPLE CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION METHOD

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Ogawa Riki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2019-11-28.

Defect inspection method

Номер патента: US20240265524A1. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Substrate inspection method, computer storage medium and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20180156739A1. Автор: Makoto Hayakawa,Takuya Mori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Defect detection apparatus and storage medium readable by computer

Номер патента: US20030178588A1. Автор: Yoshinari Ota. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-25.

Defect inspection method and apparatus therefor

Номер патента: US09897555B2. Автор: Junichi Matsumoto. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Defect inspection method

Номер патента: US11995817B2. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09470640B2. Автор: Atsushi Taniguchi,Yukihiro Shibata,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method

Номер патента: US20190107498A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Yasuhiro Yoshitake,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Apparatus and method for inspecting pattern defect

Номер патента: US20120268742A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Hisashi Hatano,Hidetoshi Nishiyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20230401688A1. Автор: Takashi Tanaka,Hiroshi Horikawa,Satoru Sugimoto,Masashi Hayakawa,Hirofumi Okamoto,Takahide Hatahori,Naoto Mishina. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Defect inspection method and defect inspection system

Номер патента: US20090180109A1. Автор: Tomohiro Funakoshi,Shigeaki Hijikata,Masami Ikota. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-07-16.

Defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection computer program product

Номер патента: US20240020821A1. Автор: Akira Moriya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20210080399A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Defect analyzing method and defect analyzing apparatus

Номер патента: US8965551B2. Автор: Yoshiyuki Shioyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-02-24.

Defect analyzing method and defect analyzing apparatus

Номер патента: US20120046778A1. Автор: Yoshiyuki Shioyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-02-23.

Defect inspecting device, defect inspecting method, and storage medium

Номер патента: US11830174B2. Автор: Masashi Kurita,Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Defect detection apparatus and storage medium readable by computer

Номер патента: US6753542B2. Автор: Yoshinari Ota. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2004-06-22.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US20210318252A1. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2021-10-14.

Die division method and inspection apparatus for avoiding defects locations on silicon carbide wafers

Номер патента: US20220199470A1. Автор: Min Park,Jongho YOON. Владелец: Etamax Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20190285980A1. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Apparatus and method for testing defects

Номер патента: US20060030059A1. Автор: Tetsuya Watanabe,Takanori Ninomiya,Yoshio Morishige,Shuichi Chikamatsu,Keiji Sakai,Shunichi Matsumoto,Hisato Nakamura,Minori Noguchi,Yoshimasa Ohshima,Yukio Kembo,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Jingu,Ryouji Matsunaga. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-09.

Defect inspection system having human-machine interaction function

Номер патента: US20230117656A1. Автор: Feng-Tso Sun,Yi-Ting Yeh,Feng-Yu Sun,Jyun-Tang Huang,Po-Han Chou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-04-20.

Device and method for defect inspection based on explainable artificial intelligence

Номер патента: US20220300805A1. Автор: Tae Hyun Kim,Jung Kyu Kim. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-22.

Defect inspection system using 3d measuring machine

Номер патента: US20230358687A1. Автор: Young Han LIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-09.

Inspection method and apparatus, substrates for use therein and device manufacturing method

Номер патента: US09835954B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Erik Willem BOGAART. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-12-05.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20100225906A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20130100448A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-04-25.

Coloring inspection apparatus and coloring inspection method

Номер патента: US09984307B2. Автор: Makoto Kato. Владелец: PaPaLab Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Visual inspection apparatus, visual inspection method, image generation apparatus, and image generation method

Номер патента: US20240153066A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hideaki Onozuka,Takateru Seki,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US20220412898A1. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-12-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3206020A3. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09759656B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Katsuhiko Shirasawa,Hidetaka Takato,Toshimitsu Mochizuki. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: WO2019010087A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-01-10.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: EP3649463A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-05-13.

Apparatus and method for inspecting poly-silicon

Номер патента: US7505155B2. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-17.

AI-based product surface inspecting apparatus and method

Номер патента: US12087421B2. Автор: Jeong Hyun PARK,Jung Ywn PARK,Ha Il JUNG. Владелец: Inter X Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US12038389B2. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20220236198A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-07-28.

Wafer inspection apparatus and method

Номер патента: US20240319109A1. Автор: Chung-Pin CHOU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US8670115B2. Автор: Yuji Miyoshi,Kazuhisa Hasumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-03-11.

Electronic component inspection apparatus and method

Номер патента: US09541602B2. Автор: Hiroshi Kurosawa,Kiyokazu Moriizumi,Masayuki Itoh. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Image inspecting apparatus, image inspecting method and image inspecting program

Номер патента: US20190272630A1. Автор: Yutaka Kato,Shingo Inazumi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Image inspection apparatus, image inspection method, image inspection program, computer-readable recording medium and recording device

Номер патента: US09518931B2. Автор: Manabu Kido. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Optical inspection method, optical inspection program, processing device, and optical inspection apparatus

Номер патента: EP4249897A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Hiroya Kano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-27.

Inspection method and inspection apparatus for performing the same

Номер патента: US20230194437A1. Автор: Alexander Voronov,Kihun KIM,Jekil Ryu,Jooseob Ahn,Hyeongmin Ahn,Hyeonsuk Guak. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Appearance inspecting device, welding system, shape data correcting method, and welding location appearance inspecting method

Номер патента: EP4455645A1. Автор: Masashi Yoshida,Toru Sakai,Michio Sakurai,Daichi Higashi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Object inspection apparatus and object inspection method using same

Номер патента: US11908123B2. Автор: Ho Jun Lee,Nam Kyu Park,Choung Min JUNG,Han Rim KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US9970885B2. Автор: Hiroto Nozawa,Kuniaki TAKEDA,Kenshi ISHIWATARI,Takamasa Tsubouchi,Ryoichiro SATOH. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Surface inspection apparatus and surface inspection method

Номер патента: US20060192953A1. Автор: Koichiro Komatsu,Takeo Oomori,Kazuhiko Fukazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-08-31.

Apparatus and method for detecting a dust particle having high purity inert gas atmosphere

Номер патента: US5574276A. Автор: Toshiyuki Ishimaru. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1996-11-12.

Inspection apparatus and inspection method for semiconductor substrate

Номер патента: US20230314342A1. Автор: Koji Eguchi,Junichi Uehara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Image inspection apparatus and image inspection method

Номер патента: US20220335588A1. Автор: Di He. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2022-10-20.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20130301041A1. Автор: Masatoshi Watanabe,Hiroshi Mukai,Kazuyuki Sugimura,Yuichirou IIJIMA,Nobuhiro KANDA,Katsuyasu Inagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-14.

Inspection method, classification method, management method, steel material production method, learning model generation method, learning model, inspection device, and steel material production equipment

Номер патента: US20240282098A1. Автор: Hiroaki Ono,Hiroaki Komatsubara,Miwa Ohashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20110285989A1. Автор: Hiroyuki Yamashita,Eiji Imai,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-11-24.

Inspection apparatus and inspection method using same

Номер патента: US11946881B2. Автор: Jongmin Yoon,Suhwan PARK,Kwangrak Kim,Junbum Park,Wonki Lee,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Martin Priwisch. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-02.

Visual inspection apparatus and method of inspecting display panel using the visual inspection apparatus

Номер патента: US7602959B2. Автор: Min-young Won,In-Cheol Song,Il-Ho Lee,Chan-Hyang Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-13.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US20240035986A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Hiroki Morii,Takahiro Fujioka,Takamasa IMAIZUMI. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Substrate inspecting apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240192144A1. Автор: Yong Jun Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20080063258A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Defect inspection and repairing method and associated system and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09929045B2. Автор: Chi-Ming Yang,Nai-Han Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Substrate processing apparatus and substrate processing method

Номер патента: US20030133086A1. Автор: Akira Miyata,Norio Senba. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2003-07-17.

Defect inspection device, defect inspection method, and method for producing separator roll

Номер патента: US20180159102A1. Автор: Yasuyuki Kondo,Koji Kashu,Yoshitaka Shinomiya. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Coating quality inspection method, inspection apparatus and inspection system, and storage medium

Номер патента: EP4411358A1. Автор: Ming Zhang,Weitao YANG,Zhiyong He,Changsheng LUO. Владелец: Jiangsu Contemporary Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Transfer/Inspection Apparatus and Transfer Apparatus

Номер патента: US20070273875A1. Автор: Fow-Lai Poh,Masahiro Yaguchi,Tamaya Ubukata. Владелец: Tsukuba Seiko Ltd. Дата публикации: 2007-11-29.

Light source apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US09696568B2. Автор: Jun Sakuma. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Multi-electron beam inspection apparatus and adjustment method for the same

Номер патента: US20230080062A1. Автор: Koichi Ishii,Kazuhiko Inoue,Toshikatsu Akiba,Shohei Mikami. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Semiconductor ingot inspecting method and apparatus, and laser processing apparatus

Номер патента: MY197791A. Автор: YAMAMOTO RYOHEI,Hirata Kazuya,Takahashi Kunimitsu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-07-14.

Pattern inspection method, pattern formation control method, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US9433967B2. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US11709094B2. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Sound inspection method and inspection apparatus for display device including sound generator

Номер патента: US20210048339A1. Автор: Kee Yong Kim,Han Su Cho,Jung Hun Sin,Chang Yeob Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-18.

Inspection Device and Inspection Method

Номер патента: US20240280520A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Takashi Hiroi,Yuko Otani,Yuya Isomae,Masakazu Kanezawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection apparatus

Номер патента: US09601302B2. Автор: Takeshi Murakami,Tsutomu Karimata,Masahiro Hatakeyama,Shoji Yoshikawa,Kiwamu Tsukamoto. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230247312A1. Автор: Hiroki Nakajima,Masaru Ishida,Mikio Shibukawa. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Welding facility inspecting apparatus

Номер патента: US9976965B2. Автор: Bokdeok SEO,Seongrae NHO,Jimyeon SONG. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Charged particle beam inspection apparatus and charged particle beam inspection method

Номер патента: US20210202206A1. Автор: Hidekazu Takekoshi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-07-01.

Electron beam type substrate inspecting apparatus

Номер патента: US20110204230A1. Автор: Daiji Fujiwara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-25.

Visual inspection apparatus having light source bank

Номер патента: EP2215512A1. Автор: Thomas W. Karpen,James J. Delmonico,Joshua Lynn Scott,Dennis W. McEnery,Joseph V. Lopez,Marjorie L. Buerkle. Владелец: GE Inspection Technologies LP. Дата публикации: 2010-08-11.

Inspection apparatus for article storage facility

Номер патента: US09541534B2. Автор: Hiroshi Otsuka,Shinsuke Kawamura,Tadahiro YOSHIMOTO. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Electronic component inspection apparatus and electronic component inspection method

Номер патента: US11821843B2. Автор: Junji Morita,Daichi GEMBA. Владелец: Sumida Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Light-source apparatus, inspection apparatus, and adjustment method

Номер патента: US20230417684A1. Автор: Jun Sakuma,Ryotaro MORI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Defect inspection method and its system

Номер патента: US20090206252A1. Автор: Shinji Okazaki,Yoshinori Nakayama,Yasunari Sohda,Shoji Hotta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Defect inspection method and system for solar cell

Номер патента: US20190173423A1. Автор: Yu-Ting Yen,Yean-San Long,Ren-Chin Shr,En-Yun Wang,Hsiang-Ying Cheng. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2019-06-06.

Semiconductor device defect inspection method and system thereof

Номер патента: US9153020B2. Автор: Yuji Takagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-10-06.

Defect inspection apparatus, program, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20050230618A1. Автор: Atsushi Onishi,Yuichiro Yamazaki,Ichirota Nagahama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-20.

Welding failure inspection method

Номер патента: US12025578B2. Автор: Seok jin Kim,Jung Hoon Lee,Ji Hoon Lee,Su Taek Jung,Sang Hyun KOO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Method, image processing system and computer-readable recording medium for item defect inspection

Номер патента: US09811899B2. Автор: Hao-Yu Chien,Chan-Hao Hsu,Tzung-Hua Ying. Владелец: Powerchip Technology Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240230324A9. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210010959A1. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240369502A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Foreign matter or abnormal unsmoothness inspection apparatus and foreign matter or abnormal unsmoothness inspection method

Номер патента: US7629577B2. Автор: Hideto Yokoi,Kazuhiro Jindai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-12-08.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US9894271B2. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20160275365A1. Автор: Takashi Hirano,Seiji Morita,Tatsuhiko Higashiki,Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US10712295B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US12072181B2. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspecting apparatus, peeling apparatus, and learned model generating method

Номер патента: US20230075359A1. Автор: Yuta Mizumoto. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Inspection apparatus and method

Номер патента: US20240369356A1. Автор: Jian Zhang,Yan Wang,Yixiang Wang,Zhiwen Kang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-07.

Secondary battery inspection apparatus and method

Номер патента: US20200350637A1. Автор: Kwangyong YOU,Sunggeun JI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-11-05.

Method for inspecting solution discharge apparatus and method for producing device

Номер патента: US09449379B2. Автор: Takayuki Miyoshi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Gap inspection apparatus and gap inspection method

Номер патента: US20240133682A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using the same

Номер патента: US20240210293A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Bonding state inspection apparatus and bonding state inspection method using same

Номер патента: EP4310986A1. Автор: Seok Won Jeung,Choon Kwon Kang,Geon Tae Park,Hyun Min Oh,Hyun Jin Ji. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-24.

Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus

Номер патента: CA3029218C. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus

Номер патента: MY193069A. Автор: Kenzo YASUE. Владелец: Yoshino Gypsum Co. Дата публикации: 2022-09-26.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method using the same

Номер патента: US20230197402A1. Автор: Suyoung LEE,Janghee Lee,Chungsam Jun,Jonghyuk KANG,Yujin Cho,Inhye Park,Hongche Noh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Charged particle beam lithography apparatus, inspection apparatus and inspection method of pattern writing data

Номер патента: US20130264478A1. Автор: Yasuo Kato,Shigehiro Hara,Akihito Anpo,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2013-10-10.

Welding inspection apparatus

Номер патента: CA3237559A1. Автор: Junoh LEE,Kyuhun Shim,Gilyoung Lee. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-11.

Sample Inspection Apparatus

Номер патента: US20240255556A1. Автор: Akira Kageyama,Junichi Fuse,Yasuhiko Nara,Tomoko SHIMAMORI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11927554B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11921059B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349846A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11977038B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11971370B2. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349845A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349841A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349843A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349844A1. Автор: Takeo Tsukamoto. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20200160496A1. Автор: Hiroteru Akiyama,Kazuhiro Nakashima,Manabu Isobe,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

Defect inspection device, defect inspection method, and program, and printing device and method of manufacturing printed matter

Номер патента: US20230103391A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-06.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

System and method for calibrating electron beam defect inspection tool

Номер патента: US6589860B1. Автор: Boon Yong Ang,Kenneth Roy Harris,Samantha Lee. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-07-08.

Hole Inspection Apparatus and Hole Inspection Method using the Same

Номер патента: US20090152461A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-18.

Reel-to-reel inspection apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09671352B2. Автор: Suck-Ha WOO,Je-Youn JEE,Ki-Sang MOON. Владелец: Haesung DS Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Semiconductor wafer inspection apparatus and semiconductor wafer inspection method

Номер патента: US09869715B2. Автор: Akira Yamaguchi,Takashi Ishimoto,Takenori Takahashi,Yuji Shigesawa,Takashi Motoyama. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11761704B2. Автор: Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US20150115991A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2015-04-30.

Maintenance carriage for wafer inspection apparatus and maintenance method for wafer inspection apparatus

Номер патента: US9671459B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Probe card transfer assist apparatus and inspection equipment using same

Номер патента: US20070126441A1. Автор: Munetoshi Nagasaka,Chiaki Mochizuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US12032012B1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: En Vigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Detection unit, semiconductor film layer inspection apparatus including the same, and semiconductor film layer inspection method using the same

Номер патента: US20240219446A1. Автор: Kook Chul Moon. Владелец: Envigth Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Failure analysis method, apparatus, and program for semiconductor integrated circuit

Номер патента: US20100241374A1. Автор: Masafumi Nikaido. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Battery cell electrode sheet inspection method and apparatus, and electronic device

Номер патента: EP4401034A1. Автор: Zhihong Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Substrate inspection apparatus and substrate temperature control method

Номер патента: US09885747B2. Автор: Dai Kobayashi,Yutaka Akaike. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Semiconductor device inspection apparatus, semiconductor device inspection method, program thereof, semiconductor apparatus, and manufacturing method therefor

Номер патента: US20190064248A1. Автор: Akira Kano,Mitsuaki Kato,Kenji Hirohata,Akihiro Goryu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: EP2002473A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-17.

Hole inspection apparatus and hole inspection method using the same

Номер патента: WO2007114642A1. Автор: Ho Seob Kim. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-10-11.

Inspection apparatus and inspection method for light emitting device

Номер патента: US20130050691A1. Автор: Syu JIMBO,Norie Yamaguchi,Keita KOYAHARA. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Evaluation apparatus and probe position inspection method

Номер патента: US9804197B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Norihiro Takesako. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Service method, service system and manufacturing / inspection apparatus

Номер патента: US20040260660A1. Автор: Hiroyoshi Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11940485B2. Автор: Hiroyuki Nakayama,Susumu Saito,Shigeru Kasai,Naoki Akiyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090058446A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200168481A1. Автор: Shuji Akiyama,Hiroki Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-05-28.

INSPECTION APPARATUS, IMAGE FORMING SYSTEM, INSPECTION PROGRAM, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200233618A1. Автор: Ayukawa Shoichi. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

Sensor chip breaking strength inspection apparatus and sensor chip breaking strength inspection method

Номер патента: US20070137310A1. Автор: Yuichi Sakai,Munehito Kumagai,Yoshitatsu Kawama,Yasuyuki Nakaoka,Hideki Yabe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Pattern inspection method and apparatus

Номер патента: US20110262027A1. Автор: Akiharu Miyanaga,Tatsuji Nishijima,Teppei Oguni. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-27.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11790513B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Optical surface defect inspection apparatus and optical surface defect inspection method

Номер патента: US20120075625A1. Автор: Hiroshi Nakajima,Masanori Fukawa,Kenichi Shitara,Ayumu ISHIHARA,Shintaro Tamura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

CERAMIC BODY DEFECT INSPECTING APPARATUS AND CERAMIC BODY DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20210018446A1. Автор: TERAHAI Takafumi,Mizutani Akihiro. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2021-01-21.

Optical surface defect inspection apparatus and optical surface defect inspection method

Номер патента: JP5655045B2. Автор: 滋 芹川,聖岳 堀江,優 谷中,ビンアブドルラーシッド ファリズ. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-01-14.

Defect inspection system for specimen and defect inspection method for specimen

Номер патента: US20200151862A1. Автор: Seong-Keun HA. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Cascade defect inspection

Номер патента: US11861818B2. Автор: Wei Fang,Zhichao Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-02.

Defect inspection device

Номер патента: US20220084176A1. Автор: Hironobu Tamura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Apparatus and method for defect inspection

Номер патента: US20060262297A1. Автор: Masaaki Ito,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-11-23.

Fixed state inspection apparatus, fixed state inspection system, fixed state inspection method, and a non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11954911B2. Автор: Rina YAKUWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Leak inspection apparatus and leak inspection method

Номер патента: US20240288333A1. Автор: Yoshihiro Yamashita,Satoshi Hasegawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection program for disk-shaped graduation plate

Номер патента: US20240212126A1. Автор: Masaoki Yamagata,Jota Miyakura,Hiroaki Kawata,Kasumi Kondo. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US09922415B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hiroteru Akiyama,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Tire appearance inspection apparatus and method

Номер патента: US09677879B2. Автор: Tomoyuki Kaneko,Akinobu Mizutani. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US11916199B2. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Charge Protocol Inspection Apparatus and Operating Method Thereof

Номер патента: US20240353497A1. Автор: Yeo Kyung YOON,Yong Jun Kim,Jeong In Yu. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Leak inspection method and leak inspection apparatus

Номер патента: US12046783B2. Автор: Satoshi Oyama,Yutaka Ebato,Takaaki Mitsuoka. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Pouch cell deformation inspection device and deformation inspection method using same

Номер патента: EP4439776A1. Автор: In Jae Jang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Inspection apparatus, image reading apparatus, image forming apparatus, inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200009860A1. Автор: Takuji Kamada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Inspection apparatus, inspection method, inspection program, and assembled battery system

Номер патента: US12044746B2. Автор: Daisuke Konishi,Kazuyuki Kawamoto,Jun Ikemoto,Hayato Tawa. Владелец: GS YUASA INTERNATIONAL LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US20140311223A1. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-10-23.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US9885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Inspection apparatus, inspection method, and battery-inspecting chamber

Номер патента: US09885629B2. Автор: Takeshi Sato,Mamoru Baba,Masaaki Kitaura. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

TUBULAR BODY INNER SURFACE INSPECTION APPARATUS AND TUBULAR BODY INNER SURFACE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210208085A1. Автор: YAMANO Masaki,AKAGI Toshio,YAMAJI Hironao,NAKATA Takeo. Владелец: NIPPON STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2021-07-08.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US09535015B2. Автор: Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Apparatus and non-uniform film thickness inspection method

Номер патента: KR20230011414A. Автор: 미츠지 요시바야시. Владелец: 후지필름 가부시키가이샤. Дата публикации: 2023-01-20.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200250467A1. Автор: Eiji Matsumoto,Masaya Takeda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-06.

Connector inspection apparatus

Номер патента: US20020186021A1. Автор: Takao Fujita,Akira Nishino. Владелец: Sumitomo Wiring Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-12.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20210325528A1. Автор: Kai Wang,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Sample Inspection Apparatus, Inspection System, Thin Piece Sample Fabrication Apparatus, and Method for Inspecting Sample

Номер патента: US20240128047A1. Автор: Norio Sato,Masahiro Yoshida,Junichi Fuse,Hirotsugu KAJIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: EP3916342A1. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-12-01.

Article inspection apparatus and article inspection method

Номер патента: US20230122223A1. Автор: Shinya Waki,Osamu Takata. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130222004A1. Автор: Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2013-08-29.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09450536B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Inertial sensor apparatus and method for creating an NDI image with hand scanning

Номер патента: US09465046B1. Автор: Gary E. Georgeson,William Paul Motzer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection apparatus, unit selection apparatus, inspection method, and computer-readable storage medium storing an inspection program

Номер патента: US20230222645A1. Автор: Yutaka Kato,Masashi Kurita,Yuki Hasegawa,Yuki HANZAWA,Sakon Yamamoto,Shigenori NAGAE. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Inspection method and manufacturing method for structure and inspection apparatus and manufacturing apparatus for structure

Номер патента: US11841332B2. Автор: Takahiro Tanino,Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2023-12-12.

Remote inspection apparatus for heating tube of steam generator

Номер патента: US09819842B2. Автор: Sung Ho Park,Kyung Sub Kim,Hong Seok Ryu,Jang Myong WOO. Владелец: Korea Plant Service and Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Copper foil inspection apparatus, copper foil inspection process, defect inspection apparatus, and defect inspection process

Номер патента: TWI241404B. Автор: Jun Fujiwara,Koji Yamabe,Ayumu Inoue,Qing-Wei Zhou. Владелец: Kokusai Gijutsu Kaihatsu Kk. Дата публикации: 2005-10-11.

Copper foil inspection apparatus, copper foil inspection process, defect inspection apparatus, and defect inspection process

Номер патента: TW200306414A. Автор: Jun Fujiwara,Koji Yamabe,Ayumu Inoue,Qing-Wei Zhou. Владелец: Kokusai Gijutsu Kaihatsu Kk. Дата публикации: 2003-11-16.

Image data processing apparatus and method for defect inspection, defect inspecting apparatus and method using the image data processing apparatus and method, board-like body manufacturing method using the defect inspecting apparatus and method, and recording medium

Номер патента: KR101609007B1. Автор: 마꼬또 구루미사와. Владелец: 아사히 가라스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2016-04-04.

Image data processing apparatus and method for defect inspection, defect inspecting apparatus and method using the image data processing apparatus and method, board-like body manufacturing method using the defect inspecting apparatus and method, and storage medium

Номер патента: CN102099672A. Автор: 楜泽信. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-15.

Image data processing apparatus and method for defect inspection, defect inspection apparatus and method using them, plate-like body manufacturing method using them, and recording medium

Номер патента: JP5263291B2. Автор: 信 楜澤. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-14.

Quantity-of-light unevenness inspection apparatus, and quantity-of-light unevenness inspection method

Номер патента: US20040026637A9. Автор: Etsuro Saito,Yuuichi Motomura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2004-02-12.

Quantity-of-light unevenness inspection apparatus, and quantity-of-light unevenness inspection method

Номер патента: US20020121616A1. Автор: Etsuro Saito,Yuuichi Motomura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-09-05.

Uneven light intensity distribution inspecting apparatus and uneven light intensity distribution inspecting method

Номер патента: AU6948001A. Автор: Etsuro Saito,Yuuichi Motomura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-01-21.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US11890581B2. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20200284738A1. Автор: Masaki Tatsumi,Haruo Takahashi,Isao Yagi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Visual inspection apparatus and visual inspection method

Номер патента: US09933371B2. Автор: Yoshikuni Suzuki. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Inspection system, design apparatus, and inspection method that generate correct answer data with design apparatus for production printing

Номер патента: US11470205B1. Автор: Taku Matsuo. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US09823460B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Apparatus and method for automatically inspecting machine components

Номер патента: EP4341660A1. Автор: Andrea Russo,Mirco Innocenti,Andrea Giorgetti,Remo Ribichini. Владелец: Nuovo Pignone Technologie Srl. Дата публикации: 2024-03-27.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection method, x-ray inspection program, and x-ray inspection system

Номер патента: EP2365320A3. Автор: Kiyoshi Murakami,Hironori Kasahara. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2014-03-05.

Overprinting inspection apparatus and non-transitory computer readable medium storing overprinting inspection program

Номер патента: US12086482B2. Автор: Kodai Suzuki. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-09-10.

Construction inspection method, apparatus, and system

Номер патента: US20240104714A1. Автор: Lan Jiang,Qi Wang,Quan Gan. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Inspection system, inspection apparatus, and method for controlling the inspection apparatus

Номер патента: US20210397386A1. Автор: Kimio Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US20210398262A1. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US11830181B2. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230258606A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Wafer surface defect inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12044631B2. Автор: Chia-Chi Tsai,I-Ching Li,Shang-Chi WANG,Miao-Pei Chen,Han-Zong Wu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus and method for inspection of substrate defect

Номер патента: US09678020B2. Автор: Yu-Sin Yang,Ji-Young Shin,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun,Joon-Seo SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-13.

Surface inspection apparatus and method thereof

Номер патента: US09551670B2. Автор: Hirofumi Tsuchiyama,Yoshikazu Tanabe,Kenji Watanabe,Ichiro Moriyama,Minori Noguchi,Yasuo Yatsugake,Ichiro Ishimaru,Yukio Kenbou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11815493B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same

Номер патента: US09759666B2. Автор: Masahiro Watanabe,Shunichi Matsumoto,Takehiro TACHIZAKI,Yuko Otani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Defect inspection method and its device

Номер патента: US09976966B2. Автор: Yukihiro Shibata,Sachio Uto,Toshifumi Honda,Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Defect inspection method and its device

Номер патента: US09513228B2. Автор: Yukihiro Shibata,Sachio Uto,Toshifumi Honda,Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Pellet defect inspection system using multi color tone control and method for controlling the same

Номер патента: US12121935B2. Автор: Hyun Tae Kim,Worl Yong Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240230551A9. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20230175978A1. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hisaaki Kanai,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Surface defect inspecting apparatus with defect detection optical system and defect-detected image processing

Номер патента: US20090237669A1. Автор: Minoru Yoshida,Shigeru Serikawa,Tatsuo Hariyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-09-24.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Defect inspection method and device therefor

Номер патента: US8711347B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshiyuki Nakao,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-29.

Pellet Defect Inspection System Using Multi Color Tone Control And Method For Controlling The Same

Номер патента: US20240017295A1. Автор: Hyun Tae Kim,Worl Yong Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Wafer defect inspection apparatus

Номер патента: US20240175826A1. Автор: Ching-Liang Lin,Yi-Chia Hwang. Владелец: PlayNitride Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Defect inspection system

Номер патента: CA1126855A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-29.

Defect inspection system

Номер патента: CA1158743A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1983-12-13.

Mask defect inspection apparatus

Номер патента: US20050213083A1. Автор: Toshiyuki Watanabe,Akihiko Sekine,Shinji Sugihara,Ikunao Isomura,Riki Ogawa. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2005-09-29.

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240133824A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US12090754B2. Автор: Dae Sung Kim,Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240241040A1. Автор: Yasuyuki Sato,Kentaro Sawada. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20170235031A1. Автор: Kiwamu Takehisa,Hiroki MIYAI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210140898A1. Автор: Tsutomu SAKUYAMA,Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09753075B2. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219315A1. Автор: LEI Tian,HAO WANG,Seungbeom Park,Hojun Lee,Myungjun Lee,Junho SHIN,Jiabei Zhu,Wookrae Kim,Jangwoon SUNG. Владелец: Boston University. Дата публикации: 2024-07-04.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09495740B2. Автор: Toshiyuki Watanabe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Hatching egg inspection apparatus and hatching egg inspecting method using a central and outer light emitter

Номер патента: US09435783B2. Автор: Kenji Yasuda,Kunio Nambu,Toyoaki Ohashi,Hiroshige IGUCHI. Владелец: Nabel Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240302292A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-09-12.

Pill inspection apparatus and pill inspection method

Номер патента: US09958400B2. Автор: Hitoshi Yamashita,Takanobu Tanimoto,Hiroshi EHARA. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Nano projection structure inspection apparatus and nano projection structure inspection method

Номер патента: US11815467B2. Автор: Tsuyoshi Asano,Yuki Sato,Syoichi TSUCHIYA,Masataka Asai,Masahiro UCHIMURA,Nozomi TATEYAMA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Board inspection apparatus and method

Номер патента: US09470752B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Seung-Jun Lee,Bong-Ha HWANG,Yu-jin Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-10-18.

Management and control system for an inspection apparatus

Номер патента: US12067701B2. Автор: Nadav Leshem,Edo Reshef. Владелец: Inspect Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Inspection apparatus and method for controlling inspection apparatus

Номер патента: US20240289944A1. Автор: Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Wafer Inspection Apparatus Using Three-Dimensional Image

Номер патента: US20160261786A1. Автор: Yu-Sin Yang,Woo-Seok Ko,Jeong-Ho Ahn,Yun-Jung Jee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-08.

Enhanced roadway mark locator, inspection apparatus, and marker

Номер патента: US09784843B2. Автор: Matthew W. Smith,William R. Haller,Douglas D. DOLINAR,Charles C. Stahl. Владелец: Limn Tech LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

Panel inspecting apparatus and method

Номер патента: US09759665B2. Автор: Jin-woo Ahn,Hyeong-min Ahn,Tae-Yong Jo,Myoung-Ki Ahn,Tae-hyoung LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240233115A9. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4358504A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240135528A1. Автор: Takeshi Shinya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Portable visual inspection apparatus and method for inspecting article

Номер патента: US12072296B2. Автор: Roberto Francisco-Yi Lu,Mark Andrew Ondo,Huabin Du,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Yun (Shanghai) Liu,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou,Sonny O Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Panel inspection apparatus and method

Номер патента: US09810640B2. Автор: Chao-Yi Yeh,Chih Yuan Liu,Pin-Chuan SU,Shang-Iun YANG. Владелец: Cheng Mei Instrument Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Adapter piece quality inspection method and apparatus, adapter piece production method, adapter piece production device, and medium

Номер патента: EP4428488A1. Автор: Zhongyang Wang,Zhongbao HUANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Video quality inspection method and apparatus, computer device and storage medium

Номер патента: EP3876549A1. Автор: Shuting FU. Владелец: OneConnect Smart Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240265523A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09898814B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Image inspection apparatus, image inspection method, and control program of image inspection apparatus

Номер патента: US09390493B2. Автор: Noritaka Masuda,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-12.

Inspection apparatus and method using pattern recognition

Номер патента: US09446434B2. Автор: Gabriel Hamid,Charles Dean Mallah. Владелец: Buhler Sortex Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Surface inspection apparatus, non-transitory computer readable medium storing program, and surface inspection method

Номер патента: US20230089064A1. Автор: Hiroko Onuki,Takashi Hiramatsu,Hirokazu Ichikawa,Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Miho Uno,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-03-23.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230281796A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

System, apparatus, and method for inspecting an aircraft window

Номер патента: US12037140B2. Автор: Arif Zaman,Jeff Siegmeth. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-16.

System, Apparatus, and Method for Inspecting an Aircraft Window

Номер патента: US20240166374A1. Автор: Arif Zaman,Jeff Siegmeth. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-05-23.

Optical inspection apparatus, optical inspection method, and non-transitory storage medium storing optical inspection program

Номер патента: US20240319104A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Image inspection apparatus, printing system, and image inspection method

Номер патента: US20240340380A1. Автор: Kazuhiro Ijichi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-10.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Crankshaft shape inspection method, arithmetic unit, program, and shape inspection apparatus

Номер патента: US20240144504A1. Автор: Shinya Ikeda,Kousuke Sakai,Yoshito Isei,Yuki USUTANI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Surface inspection method and surface inspection apparatus

Номер патента: US20130194568A1. Автор: Teruyoshi Shimizu,Motonobu HATSUDA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2013-08-01.

Optical inspection method, optical inspection program, and optical inspection apparatus

Номер патента: EP4435412A1. Автор: Yoshiaki Takagi,Hiroki Ohno,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Akifumi Ohno,Sayuri SUZUKI,Hiroya Kano,Chisa Hirakawa. Владелец: Toshiba Information Systems Japan Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Optical inspection method, non-transitory storage medium, and optical inspection apparatus

Номер патента: US20240319078A1. Автор: Hiroshi Ohno,Yoshiaki Takagi,Hideaki Okano,Takahiro Kamikawa,Akifumi Ohno,Sayuri SUZUKI,Hiroya Kano,Chisa Hirakawa. Владелец: Toshiba Information Systems Japan Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection method, inspection apparatus and method of production of semiconductor device using them

Номер патента: US5936726A. Автор: Kazuo Takeda,Atsushi Hiraiwa,Hidetsugu Ishida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-08-10.

Inspection apparatus that notifies an inspection result of a book in accordance with a sheet inspection result, method for controlling the same, and image forming system

Номер патента: US12137195B2. Автор: Koichiro Manabe. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-05.

Transfer apparatus for inspection apparatus, inspection apparatus, and object inspection method using same

Номер патента: US11867747B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-01-09.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20160054366A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2016-02-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: WO2014167838A1. Автор: Tadashi Takahashi. Владелец: NIDEC-READ CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-16.

Specimen inspection apparatus and specimen inspection method

Номер патента: US11781981B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240011915A1. Автор: Hark Ryong KIM. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A3. Автор: Yoram Koren,Stephen B Segall. Владелец: Stephen B Segall. Дата публикации: 2005-07-07.

Reconfigurable surface finish inspection apparatus for cylinder bores and other surfaces

Номер патента: WO2005005994A2. Автор: Yoram Koren,Stephen B. Segall. Владелец: THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF MICHIGAN. Дата публикации: 2005-01-20.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210164914A1. Автор: Shohei OTSUKI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Print system, printing apparatus, method of controlling the printing apparatus, and storage medium

Номер патента: US11947853B2. Автор: Masahiro Mutsuno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-02.

Inspection system to register image data in inspection apparatus and execution of an inspection job, printing apparatus, method for controlling inspection system

Номер патента: US11838455B2. Автор: Hideshi Ichimi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US20240114096A1. Автор: Takeshi Okada,Seijiro Imai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-04.

Image inspection apparatus, image recording apparatus, and image inspection method

Номер патента: US20130057886A1. Автор: Takuya Yasuda. Владелец: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-07.

High-resolution terahertz wave concentration module, scattered light detection module, and high-resolution inspection apparatus using terahertz bessel beam

Номер патента: US20210140823A1. Автор: Sung-Wook Choi,Gyeong-sik Ok,Hyun-Joo Chang. Владелец: Korea Food Research Institute KFRI. Дата публикации: 2021-05-13.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8699017B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8462327B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-11.

Appearance inspection apparatus

Номер патента: US8169606B2. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-01.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230260104A1. Автор: Keisuke Yoshida,Yuki Tanaka,Shoichiro SAKO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Adjustment method of inspection apparatus focus position, and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20240280500A1. Автор: Ryoichi Hirano,Yasuhiro Yamashita,Toshiaki OTAKI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Appearance Inspection Apparatus

Номер патента: US20120194808A1. Автор: Kenji Oka,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230239412A1. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Inspection apparatus

Номер патента: US09599844B2. Автор: Takayoshi Kudo. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Liquid crystal modulator for detecting a defective substrate and inspection apparatus having the same

Номер патента: US09581842B2. Автор: Suk Choi,Seunghee Lee,Young Eun Choi,Sung-Mo Gu,Changhyun Ryu,Youngwon Kim,Youngjin Noh,Chi Youn Chung. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chonbuk National University. Дата публикации: 2017-02-28.

Inspection apparatus using polarized lights

Номер патента: US09541493B2. Автор: Takashi Tsubota,Yoshinori Matsumoto,Akishige Ito,Toyoaki Hamaguchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Lithographic apparatus and method for performing a measurement

Номер патента: NL2017945A. Автор: LIN Nan,Jeffrey Den Boef Arie,Gijsbert Josephus Mathijssen Simon,Bas Roobol Sander. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-06-28.

Macro inspection apparatus and microscopic inspection method

Номер патента: US20090147248A1. Автор: Mitsuru Uda,Atsushi Kohayase. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Semiconductor inspection apparatus and semiconductor inspection method

Номер патента: US20140157069A1. Автор: Masami Nishizono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-06-05.

Malware inspection apparatus and malware inspection method

Номер патента: US20190207952A1. Автор: Toru Shimanaka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-07-04.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US12013349B2. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichiro IKEMURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-18.

Inspection apparatus and inspection method for display device

Номер патента: US20230123595A1. Автор: Sangjun SEOK,Namhyuk Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: US5090804A. Автор: Andrew K. Wong,Mohamed S. Kamel,John T. King. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-25.

Apparatus and method for inspection of surface quality of smooth surfaces

Номер патента: CA1295707C. Автор: John Thomas King,Mohamed Salem Kamel,Andrew Ka-Ching Wong. Владелец: Virtek Vision Intelligence Robotics Technologies Corp. Дата публикации: 1992-02-11.

Jig for inspection apparatus, inspection apparatus, and inspection set

Номер патента: US11921151B2. Автор: Myong Kang,Kang Jo HWANG,Choung Min JUNG. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-03-05.

Inspection apparatus, control method thereof, inspection system, and storage medium

Номер патента: US11829669B2. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Inspection apparatus, control method thereof, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20230122294A1. Автор: Hirotomo Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240106935A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Image inspection apparatus and image inspection apparatus control program

Номер патента: US10529069B2. Автор: Masao Nakamura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-01-07.

Inspection apparatus, inspection system, control method for inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20230064686A1. Автор: Toru Shinnae. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4346196A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

Image processing method and image inspecting method

Номер патента: US20100128923A1. Автор: Toshiaki Kakii,Yoichi Hata,Kiyoshi Nishikawa,Yoshimitsu Goto,Hitoshi Kiya,Masaaki Fujiyoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-27.

Method for testing the reliability of error detection of an image inspection method

Номер патента: US09731500B2. Автор: Frank Schumann,Frank Soltwedel,Daniel Blatt. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2017-08-15.

OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20130286386A1. Автор: Serikawa Shigeru,SUGITA Toshiaki,KATO Keiji,ABDULRASHID Fariz bin. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-31.

OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD

Номер патента: US20140071442A1. Автор: Yanaka Yu,Serikawa Shigeru,Horie Kiyotaka,ABDULRASHID Farizbin. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-03-13.

Defect inspecting device for sample surface and defect detection method therefor

Номер патента: US7719673B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-05-18.

Inspection Apparatus, Lithographic Apparatus, Lithographic Processing Cell and Inspection Method

Номер патента: US20140211185A1. Автор: Kiers Antoine Gaston Marie,Pellemans Henricus Petrus Maria,Cramer Hugo Augustinus Joseph. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2014-07-31.

Inspection apparatus, lithographic apparatus, lithographic processing cell and inspection method

Номер патента: US9128065B2. Автор: Antoine Gaston Marie Kiers,Henricus Petrus Maria Pellemans,Hugo Augustinus Joseph Cramer. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2015-09-08.

Inspection apparatus, lithographic apparatus, lithographic processing cell and inspection method

Номер патента: US8705007B2. Автор: Antoine Gaston Marie Kiers,Henricus Petrus Maria Pellemans,Hugo Augustinus Joseph Cramer. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2014-04-22.

Power theft inspection apparatus and power theft inspection method

Номер патента: US09476917B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Insulation inspection method and insulation inspection apparatus

Номер патента: US09606162B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09535108B2. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method

Номер патента: US09874594B2. Автор: Munehiro Yamashita. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US09651607B2. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09995630B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: SATURN LICENSING LLC. Дата публикации: 2018-06-12.

Unevenness inspection apparatus and unevenness inspection method

Номер патента: US09534957B2. Автор: Satoshi Tomioka,Kunihiko Nagamine. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Power theft inspection apparatus and method, and recording medium

Номер патента: US09927468B2. Автор: Yuji Tawaragi. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Methods for inspecting a turbine engine rotor thru bolt threads and associated thru bold rotor disc cavity and corresponding inspection apparatus

Номер патента: WO2015130871A1. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Joshua DeAscanis,James P. Williams,Clifford HATCHER JR.. Владелец: SIEMENS ENERGY, INC.. Дата публикации: 2015-09-03.

Inspection apparatus and component mounting system having the same

Номер патента: US12108536B2. Автор: Jeongyeob KIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a thru bolt threads inspection apparatus

Номер патента: US09494487B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Control method of inspection apparatus and inspection apparatus

Номер патента: US12075537B2. Автор: Hiroaki Agawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus, control method, and inspection method

Номер патента: US12106532B2. Автор: Reiji Misawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Image inspection method and apparatus, and ink jet printing apparatus

Номер патента: US09792514B2. Автор: Masayuki UKISHIMA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Mounting accuracy inspection method and inspection apparatus using the inspection method

Номер патента: US8797388B2. Автор: Koji Shigemura,Kazunori Masumura. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2014-08-05.

Photo device inspection apparatus and photo device inspection method

Номер патента: US20150015297A1. Автор: Akira Ito,Hidetoshi Nakanishi,Masayoshi Tonouchi,Iwao KAWAYAMA. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-01-15.

Apparatus and method for checking whether table is at tilt

Номер патента: US20180164095A1. Автор: Jong Won Kim,Yong Woo HAN. Владелец: Ismedia Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-14.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255443A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

X-ray transmission inspection apparatus and x-ray transmission inspection method

Номер патента: US20240255445A1. Автор: Satoshi Matsubara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

APPARATUS AND METHOD OF DEFECTS INSPECTION

Номер патента: US20150308980A1. Автор: LI Jing,BITTAR Michael S.. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

Apparatus and method of defects inspection.

Номер патента: MX366755B. Автор: LI Jing,S Bittar Michael. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2019-07-23.

Apparatus and method for defect inspection based on laser ultrasound using piezoelectric line sensor

Номер патента: KR102418772B1. Автор: 강상현,강래형,황문영,한대현. Владелец: 전북대학교산학협력단. Дата публикации: 2022-07-08.

Inspection apparatus and method by magnetic resonance inspection method including elliptical algorithm

Номер патента: KR102434224B1. Автор: 이성호,이민성,윤태영,서동만,박익기. Владелец: (주)글로스코. Дата публикации: 2022-08-19.

Inspection apparatus, apparatus and method for manufacturing plate-like object, and method for manufacturing plate-like object

Номер патента: CN112074726A. Автор: 安江健造. Владелец: Yoshino Gypsum Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-11.

A defect device automatic inspection apparatus using an ultrasonic probe and an inspection method using the same

Номер патента: KR102399076B1. Автор: 최종명. Владелец: 주식회사 엠아이티. Дата публикации: 2022-05-17.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Mask defect inspecting method, semiconductor device manufacturing method, mask defect inspecting apparatus, defect influence map generating method, and computer program product

Номер патента: US7295304B2. Автор: SATOSHI Tanaka,Shinji Yamaguchi,Soichi Inoue,Mari Inoue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-11-13.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20110058160A1. Автор: Xiaodi Tan. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-03-10.

Wrapping paper defect inspection apparatus for a cigarette manufacturing machine

Номер патента: US6130438A. Автор: Hiroyuki Torai. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2000-10-10.

Optically scanning apparatus and defect inspection system

Номер патента: US20020162979A1. Автор: Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2002-11-07.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240219170A1. Автор: Oh June Kwon,Seung Yeon Chae,Hyo Jeong Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Shape inspection apparatus and shape inspection method

Номер патента: US20200386541A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-10.

Method of manufacturing organic el display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US20160247734A1. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-08-25.

Method of manufacturing organic EL display apparatus, and inspection apparatus

Номер патента: US09524914B2. Автор: Toshiyuki Kato,Miki Fukushima,Yasunori Negoro,Kazushi Sugiyama. Владелец: Joled Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Magnetic transfer apparatus and magnetic recording medium

Номер патента: MY131410A. Автор: Masaki Kondo,Mitsuo Kobayashi,Eiichi Fujisawa. Владелец: Fuji Elec Device Tech Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Particle beam inspection apparatus

Номер патента: US20240258138A1. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Edwin Cornelis KADIJK,Te-Yu Chen,Erheng WANG,Christianus VAN HEUMEN Martijn Petrus,Caspar VAN BANNING Dennis Herman,Henricus Maria JACOBS Johannes Andreas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection apparatus and methods, substrates having metrology targets, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: US09958791B2. Автор: Markus Gerardus Martinus Maria Van Kraaij,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Stefan Hunsche. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-01.

Can body inspection apparatus and method

Номер патента: US09885667B2. Автор: Masayuki Nakamura,Wataru Ookubo. Владелец: Toyo Seikan Group Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Surface inspection method and surface inspection apparatus for steel sheet coated with resin

Номер патента: US09389169B2. Автор: Kaoru Tanaka,Jun Sakai,Akira Kazama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Shape inspecting device and shape inspecting method

Номер патента: EP3719442A1. Автор: Takayuki Sonoda,Nobuhiro FURUYA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-10-07.

Semiconductor manufacturing apparatus having a built-in inspection apparatus and a device manufacturing method using said manufacturing apparatus

Номер патента: US20040248329A1. Автор: Nobuharu Noji,Tohru Satake. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2004-12-09.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US20040085531A1. Автор: CHENG Chen,Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Kohachi Kawamura,Hsin Chou. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-06.

Foreign substance inspection apparatus

Номер патента: US6977721B2. Автор: Taizo Yamamoto,Noboru Hoshi,Cheng Yu Chen,Hsin Tan Chou,Kohachi Kawamura. Владелец: Mingtai Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2005-12-20.

POLARIZED IMAGE ACQUISITION APPARATUS, PATTERN INSPECTION APPARATUS, POLARIZED IMAGE ACQUISITION METHOD, AND PATTERN INSPECTION METHOD

Номер патента: US20180364472A1. Автор: Ogawa Riki. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2018-12-20.

FIXED STATE INSPECTION APPARATUS, FIXED STATE INSPECTION SYSTEM, FIXED STATE INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210397850A1. Автор: YAKUWA Rina. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2021-12-23.

Mask inspection apparatus, mask inspection method, and electron beam exposure system

Номер патента: US20060076491A1. Автор: HIROSHI Yasuda,Takeshi Haraguchi. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US20110249108A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-10-13.

Signal inspection apparatus, signal inspection system, signal inspection method, and non-transitory computer-readable medium encoded with signal inspection program

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Shouhei MIYASHITA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Method for preparing focus-adjustment data for focusing lens system of optical defect-inspection apparatus, and focus adjustment wafer used in such method

Номер патента: US20070229811A1. Автор: Kenichi Sanada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2007-10-04.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060098863A1. Автор: SHINJI Ueyama,Akio Ishikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-11.

Defect inspection apparatus, sensitivity calibration method for the same, substrate for defect detection sensitivity calibration, and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070035725A1. Автор: Naohiro Takahashi,Tamihide Yasumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-02-15.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Apparatus

Номер патента: US20100271627A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Kenji Aiko,Minori Noguchi,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Defect inspection method, defect inspection system, and computer readable storage medium

Номер патента: US8139107B2. Автор: Hiroshi Tomita,Makoto Hayakawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-03-20.

Defect inspecting apparatus and defect inspecting method

Номер патента: US20130208270A1. Автор: Hideki Fukushima,Nobuaki Hirose. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Template defect inspection method

Номер патента: US09927376B2. Автор: Seiji Morita,Ryosuke Yamamoto,Shinobu Sugimura,Tomoaki Sawabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Surface defect inspection method and apparatus

Номер патента: US7710557B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-05-04.

Defect inspection apparatus for bottles made of transparent material

Номер патента: CA1252539A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1989-04-11.

Defect inspecting apparatus

Номер патента: US20060082782A1. Автор: Toru Tojo,Munehiro Ogasawara,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-20.

Methods of defect inspection for photomasks

Номер патента: US09739723B1. Автор: Goo Min Jeong,Mun Sik Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Defect Inspection Device and Defect Inspection Method

Номер патента: US20220317058A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Surface defect inspection method and apparatus

Номер патента: US20130027693A1. Автор: Hitoshi Nakajima,Kenichi Shitara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-31.

Surface defect inspection method and apparatus

Номер патента: US20130027694A1. Автор: Hitoshi Nakajima,Kenichi Shitara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-31.

Surface defect inspection method and apparatus

Номер патента: US20110075148A1. Автор: Hiroshi Nakajima,Kenichi Shitara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Defect Inspection Method

Номер патента: US20110128534A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Yuta Urano. Дата публикации: 2011-06-02.

Defect inspection method and apparatus

Номер патента: US8115915B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-02-14.

Defect Inspection Method

Номер патента: US20120133926A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-05-31.

Defect inspection method, defect inspection system, and computer readable storage medium

Номер патента: US20070182814A1. Автор: Hiroshi Tomita,Makoto Hayakawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-08-09.

Defect inspection system

Номер патента: CA1126856A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-29.

Methods of defect inspection for photomasks

Номер патента: US20170241917A1. Автор: Goo Min Jeong,Mun Sik Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Multi-spectral defect inspection for 3d wafers

Номер патента: WO2014081899A1. Автор: Steven Lange. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-30.

Multi-Spectral Defect Inspection for 3D Wafers

Номер патента: US20140139822A1. Автор: Steven R. Lange. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2014-05-22.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180180761A1. Автор: Hongqiu Wang,Guohua Wei,Yumin Yi,Hu Tang,Jianhong Zhang,Nei Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Wafer surface inspection apparatus and wafer surface inspection method

Номер патента: US7420668B2. Автор: Kazuhiro Zama,Masayuki Hachiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-09-02.

Wafer surface inspection apparatus and wafer surface inspection method

Номер патента: US20070182957A1. Автор: Kazuhiro Zama,Masayuki Hachiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-09.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US20150062570A1. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09557277B2. Автор: Riki Ogawa,Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090073430A1. Автор: Osamu Iwase. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-03-19.

Inspection methods and apparatuses for liquids

Номер патента: US09746404B2. Автор: Rui Fan,Hongqiu Wang,Yumin Yi,Huacheng Feng. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Inspection apparatus and adjusting method

Номер патента: US09885670B2. Автор: Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Substrate inspecting apparatus and control method thereof

Номер патента: US20060044378A1. Автор: Dae-jung Kim,Sang-jin Choi,Jong-Han Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-03-02.

Foreign substance inspection apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11175239B2. Автор: Akira Yabuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-16.

Surface inspection apparatus and method

Номер патента: US20010035951A1. Автор: Hisashi Isozaki,Hiroshi Yoshikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-11-01.

Inspection apparatus and method, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method

Номер патента: US09904181B2. Автор: Richard Quintanilha. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-02-27.

Inspection Apparatus

Номер патента: US20120140211A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-06-07.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20020093719A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-07-18.

Optical reticle substrate inspection apparatus and beam scanning method of the same

Номер патента: US20030117683A1. Автор: Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Inspection apparatus and method based on coherent diffraction imaging (cdi)

Номер патента: US20210164919A1. Автор: Seungbeom Park,Myungjun Lee,Taewan Kim,Jaehwang Jung,Kyungwon Yun,Jaehyeon Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: WO2000009271A1. Автор: Steven A. Bresnahan,Kenneth A. Welchman,Henry J. Conaty, Jr.. Владелец: ACUSHNET COMPANY. Дата публикации: 2000-02-24.

Apparatus and method for automated game ball inspection

Номер патента: US20030090659A1. Автор: Henry Conaty,Steven Bresnahan,Kenneth Welchman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-15.

Inspection apparatus for detecting defects in transparent substrates

Номер патента: EP1599722A2. Автор: Jason Hiltner,Kevin Gahagan. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2005-11-30.

Hole inspection method and apparatus

Номер патента: US09874436B2. Автор: Victor Vertoprakhov,Tian Poh Yew. Владелец: VISIONXTREME PTE LTD. Дата публикации: 2018-01-23.

Inspection apparatus and methods, methods of manufacturing devices

Номер патента: US09753379B2. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Patrick Warnaar,Amandev SINGH. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-09-05.

Pattern inspection method and pattern inspection apparatus

Номер патента: US20140354799A1. Автор: Masafumi Asano,Tomoko Ojima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Solid Inspection Apparatus and Method of use

Номер патента: MY196658A. Автор: Dajun Yuan,M Shane Bowen,Joseph Francis PINTO,John Gerhardt Earney,Bala Murali K Venkatesan,Michael S Graige,Arthur Pitera. Владелец: Illumina Inc. Дата публикации: 2023-04-27.

Apparatus and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240077424A1. Автор: Hidong Kwak,Jeongho Ahn,Seulji SONG,Hyunwoo RYOO,Minji Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection method and apparatus and lithographic apparatus

Номер патента: US09952518B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-24.

Apparatus and method for inspecting material of an object

Номер патента: US09897540B2. Автор: Ning Duan,Chao-Hung Ma,zhi-ling Chen,Shen-Kang Li. Владелец: Futaihua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Inspection apparatus

Номер патента: US09506872B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Calibration Method, Inspection Method and Apparatus, Lithographic Apparatus, and Lithographic Processing Cell

Номер патента: US20110292365A1. Автор: Hugo Augustinus Joseph Cramer,Maurits van der Schaar. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-12-01.

Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3276419A1. Автор: Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Sander Bas ROOBOL,Nan Lin. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-01-31.

Mounted component inspection apparatus, component mounting machine comprising the mounted component inspection apparatus, and mounted component inspection method

Номер патента: US20100189340A1. Автор: Yoichiro Ueda. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-07-29.

Mask inspection apparatus

Номер патента: US20090244530A1. Автор: Susumu Iida,Shunsaku Kubota. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Optical inspection apparatus and optical inspection method

Номер патента: US7423745B2. Автор: Hideyuki Moribe,Motonari Tateno. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-09.

Euv collector inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230108698A1. Автор: Matsuda Yozo,Minseok Choi,Dohyun Jung,Jeonggil KIM,Yoojin JEONG,Donghyub Lee,JongBin PARK,Eunhee Jeang,Wondon Joo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-04-06.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20110063621A1. Автор: Yusaku Konno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Inspection apparatus

Номер патента: US12036790B2. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Blade inspection apparatus

Номер патента: US09429526B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-08-30.

Inspecting apparatus and inspecting method

Номер патента: US9134253B2. Автор: Masaru Suzuki,Hiroyuki Mizuno. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-15.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Defect inspection method

Номер патента: US20170102285A1. Автор: Akira Tanaka,Mayumi Naito,Satoru Yasui,Masaya Hirashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-13.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Efficient defect localization/segmentation for surface defect inspection

Номер патента: US20200160083A1. Автор: PENG Ji,Jun Zhu,Guo Qiang HU,Jing Chang Huang,Sheng Nan Zhu. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-05-21.

Defect inspection method

Номер патента: US9658128B2. Автор: Akira Tanaka,Mayumi Naito,Satoru Yasui,Masaya Hirashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Method of building model of defect inspection for LED display

Номер патента: US11790509B2. Автор: Yi-Sheng Lin. Владелец: Macroblock Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US09940075B2. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20240248055A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-25.

Thermographic inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP4396568A1. Автор: Makoto Hirakawa,Koji Masuda,Makoto Hino. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Blade inspection apparatus and blade inspection method

Номер патента: US20150036150A1. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09530202B2. Автор: Nobutaka Kikuiri. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20210148837A1. Автор: Akihiro Takeda. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

X-ray inspection apparatus and inspection method of x-ray sensor unit

Номер патента: EP4435418A1. Автор: Keisuke Yoshida,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: US20240231713A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Information processing apparatus, inspection apparatus, and control method

Номер патента: EP4400961A1. Автор: Yukio Kanakubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Inspection apparatus, sensing apparatus, sensitivity control apparatus, inspection method, and program with pixel sensitivity control

Номер патента: US11448586B2. Автор: Hiroshi Mori,Yoshihiro Murakami,Masatoshi Takashima. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-09-20.

Security inspection apparatus and method

Номер патента: US20180038808A1. Автор: DONG Lin,Hong Wang,Bin Hu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Jin Cui,Xianshun Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-08.

Nondestructive inspection apparatus and inspection system of structure

Номер патента: US09746435B2. Автор: Yoshinori Ogawa,Michinobu Mizumura,Koichi Kajiyama. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Phased array ultrasonic bolt inspection apparatus and method

Номер патента: US09429546B2. Автор: Zafir A. M. Abdo,Jason E. Williams,Thomas F. Quinn,Derrick Marcantel. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Self-propelled, reduced-water, internal non-destructive inspection apparatus

Номер патента: US09423381B2. Автор: Allison Jean Wright,Todd Brian Jaramillo,Kendall Ford Koerner. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310302A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4431927A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Inspection apparatus that inspects image formed by image forming apparatus, and method for controlling image forming system

Номер патента: US20240354034A1. Автор: Ryosuke Yamazaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Component inspection apparatus and method

Номер патента: US09964522B2. Автор: Christopher Udell,Vijayendra Munikoti,Dirk Tscharntke,Remy Schmid,David Thomas Clarke. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2018-05-08.

Sample inspection apparatus and control method thereof

Номер патента: US09476896B2. Автор: Jin Soo Park,Soo Hong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline by means of a superconducting magnet

Номер патента: WO2013098729A1. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Alessandro BAILINI. Владелец: ENI S.P.A.. Дата публикации: 2013-07-04.

Apparatus and method

Номер патента: GB2606534A. Автор: Aretos Anastasios,David Hall Liam,Conner Mclean Calum. Владелец: Nsonify Ltd. Дата публикации: 2022-11-16.

Portable inspection apparatus for X-ray tomography

Номер патента: US8031833B2. Автор: Joe-Air Jiang,Ta-Te Lin,En-Cheng Yang,Wan-Lin Hu,Cheng-Shiou Ouyang,Man-Miao Yang. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2011-10-04.

X-ray inspection apparatus and sensitivity correction method for x-ray inspection apparatus

Номер патента: US20240310301A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline

Номер патента: US09733216B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Aldo Canova. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-08-15.

Apparatus and method for monitoring the structural integrity of a pipeline by means of a superconducting magnet

Номер патента: US09535037B2. Автор: Alberto Giulio Di Lullo,Giordano PINARELLO,Alessandro BAILINI. Владелец: Eni Spa. Дата публикации: 2017-01-03.

Inspection apparatus and methods for precision vibration-isolation tabletops

Номер патента: GB2587498A. Автор: B V Moutafis Alexander,Owens Robitaille Luc. Владелец: Technical Manufacturing Corp. Дата публикации: 2021-03-31.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Vial grabber inspection apparatus

Номер патента: US20210325416A1. Автор: Mitchell Olin Setzer, SR.,Mitchell Olin Setzer, JR.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-21.

Mobile back scattering imaging security inspection apparatus and method

Номер патента: US09846257B2. Автор: Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Xiao Tang,Guangwei Ding. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection apparatus and inspection program

Номер патента: US12050302B2. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Ultrasonic inspection method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US11630085B2. Автор: Sou Kitazawa,Kazuya Ehara,Junichiro Naganuma,Yasuhiro NIDAIRA. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2023-04-18.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210256676A1. Автор: Hideaki Okano,Takeshi Morino,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Method, apparatus and system for inspecting a workpiece having a curved surface

Номер патента: WO2008157665A1. Автор: Hien T. Bui,Barry A. Fetzer. Владелец: The Boeing Company. Дата публикации: 2008-12-24.

Electrical characteristic parameter inspection apparatus, electrical characteristic parameter inspection method, and storage medium

Номер патента: US20230314355A1. Автор: Makoto Takada,Masaru Fuse,Junichi Jono. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-05.

Inspection apparatus, inspection method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20210256677A1. Автор: Kazufumi Kobashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-19.

Non-Destructive Inspection Methods, Systems and Apparatuses Using Focusable X-Ray Backscatter Detectors

Номер патента: US20200371049A1. Автор: Morteza Safai. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-11-26.

Non-destructive inspection methods, systems and apparatuses using focusable x-ray backscatter detectors

Номер патента: EP3742156A1. Автор: Morteza Safai. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2020-11-25.

Inspection method for bearing part and inspection apparatus for bearing part

Номер патента: US09702834B2. Автор: Toshihiko Sasaki,Kazuhiro Yagita,Takumi Fujita,Youichi Maruyama. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Radiation inspection apparatus comprising a radiation inspection device and wheels and radiation inspection method

Номер патента: US11822043B2. Автор: LI ZHANG,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Quanwei Song,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Hejun Zhou,Bing Fu,Jinguo CAO. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: EP3671202A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-24.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200191751A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Ultrasonic inspection apparatus, ultrasonic probe apparatus used for ultrasonic inspection apparatus, and ultrasonic inspection method

Номер патента: CA2700220C. Автор: Takahiro Ikeda,Hideo Isobe,Ryoichi Arai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Inspection apparatus

Номер патента: EP3201565A1. Автор: Liam Hall. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2017-08-09.

Specimen inspection apparatus

Номер патента: EP3274095A1. Автор: Jung-ki MIN,Young-Goun Lee,Jong-Gun Lee,Hyun-ju Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-31.

X-ray inspection apparatus

Номер патента: EP4434919A1. Автор: Kota Tominaga. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Print inspection apparatus and print inspection method

Номер патента: US20150363138A1. Автор: Tsutomu Inose. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Inspection apparatus for a pressure vessel

Номер патента: US20230123853A1. Автор: Yong Joo Cho,Yong Ho Kim,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

X-ray inspection apparatus with sensitivity correction unit and corresponding sensitivity correction method

Номер патента: EP4435416A1. Автор: Keisuke Yoshida,Kazuyuki Sugimoto,Osamu Hirose,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20230366838A1. Автор: Masaru Ishida. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230314362A1. Автор: Shinjiro Watanabe. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method using the same

Номер патента: US20240192154A1. Автор: Sungeun Lee,Sewon Kim,Jeongho Ahn,Kwangeun KIM,Huisoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

X-ray inspection apparatus and x-ray inspection method

Номер патента: US20170356859A1. Автор: Yuji Umemoto,Shinji Sugita,Takako Onishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Odor sniffing device and vehicle-mounted security inspection apparatus for container

Номер патента: US20230236093A1. Автор: Ge Li,Wei Wang,ZHENG Liang,Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Biao CAO,Weiping Zhu,Shengxi LIU,Nei Yang,Xiulin NI. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Inspection apparatus for thin film transistor substrate

Номер патента: US20060186335A1. Автор: Sergey Antonov,Hyeong-min Ahn,Ho-Seok Choi,Mi-Jeong Song,Jeong-su Ha,Lemiachine Vassili. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-24.

Aligning method for use in semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20190171328A1. Автор: Chien-Hung Chen,Yung-Chin LIU,Guan-Jhih Liou,Lin-Lin Chih. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

Non-destructive inspection apparatus for containers of liquid foodstuffs

Номер патента: WO2001096842A3. Автор: Marco Pipino. Владелец: Marco Pipino. Дата публикации: 2002-05-16.

Pipe inner surface inspection apparatus

Номер патента: US20110314918A1. Автор: Masayoshi Nakai,Seiichi Kawanami,Masaya Takatsugu,Masaharu Michihashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2011-12-29.

Method of verifying the detection capability of an x-ray inspection apparatus

Номер патента: WO2024009278A1. Автор: Guido Mahnke,Benedikt HOFFMANN. Владелец: METTLER-TOLEDO, LLC. Дата публикации: 2024-01-11.

Pipe inspection apparatus

Номер патента: US20240328561A1. Автор: Dong Kyu Kim,Jae Jun Kim,Kwang Hyun Yoo,Hong Seok Song,Dae Kwang KIM,Byung Taek Oh,Seung Ung YANG,Hui Ryoung YOO. Владелец: Korea Gas Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Sonic substrate crack inspecting method, sonic substrate crack inspection apparatus, and solar battery module manufacturing method using the sonic substrate crack inspecting method

Номер патента: EP1548430A1. Автор: Yoshikazu Kawagoe,Katsuyuki Yagi,Hiroshi Kanishi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2005-06-29.

Diesel fuel quality inspection apparatus and inspection method thereof

Номер патента: US20180073998A1. Автор: Jang-Hyun JUNG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-03-15.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: GB2616274A. Автор: CHENG QIN,Roeton Adrian,Whyman Stuart. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Sound inspection apparatus and sound inspection method

Номер патента: US20230266277A1. Автор: Osamu Nishimura,Akihiko Enamito,Tatsuhiko Goto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Linear-scan ultrasonic inspection apparatus and linear-scan ultrasonic inspection method

Номер патента: US20190064120A1. Автор: Masaru Otsuka,Azusa Sugawara,Setsu Yamamoto,Jun Semboshi,Kentaro Tsuchihashi. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: US20230280287A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-07.

X-ray inspection apparatus and method

Номер патента: EP4239322A1. Автор: QIN Cheng,Adrian ROETON,Stuart WHYMAN. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2023-09-06.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20230349879A1. Автор: Yuichi Masuda,Masahito Yahata,Akioki Nakamori,Kazuma Maeda,Tatsuya Kataoka,Nobuhiro NAMIKAWA,Tatsuya IWAMA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Human body back scattering inspection method and system

Номер патента: RU2602749C2. Автор: Юаньцзин ЛИ,Цзыжань ЧЖАО,Ваньлун У,Чжицян ЧЖЭНЬ,Ли ЧЗАН,Чжэньгуан ЧЖУ,Мин РУАН,Йинкан ЦЗИНЬ,Ле ТАН,Ксианли ДИН. Владелец: Цзинхуа Юниверсити. Дата публикации: 2016-11-20.

Particle inspection apparatus and method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US7388659B2. Автор: Yoichiro Kobayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-17.

Information management apparatus and information management program

Номер патента: US20220092533A1. Автор: Masaya Maeda,Akihisa TAKADA. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: GB2620045A. Автор: Zhang Li,Chen Zhiqiang,Cheng Yi,Huang Qingping,Zhang Yao,Zheng Lei,HONG Mingzhi,Qiu Minghua,Yang Jianxue. Владелец: Nutech Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Steam turbine inlet sleeve inspection apparatus and method

Номер патента: EP1322952A2. Автор: James A. Bauer,George F. Dailey,Michael J. Metala,Charles C. Moore. Владелец: Siemens Westinghouse Power Corp. Дата публикации: 2003-07-02.

Apparatus and method of determining filtering properties of metal filters on molten mixture of halogenides of alkali metals

Номер патента: RU2716793C1. Автор: Юрий Павлович Зайков,Виктор Александрович Иванов,Александр Николаевич Черепанов,Андрей Салаватович Мухамадеев,Илья Борисович Половов,Вадим Анатольевич Ковров,Вячеслав Игоревич Еременко,Андрей Николаевич Тарарков. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2020-03-16.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Defect inspection apparatus using images obtained by optical path adjusted

Номер патента: US09460502B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Hiromu Inoue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Defect inspection method

Номер патента: US09430841B2. Автор: Yoshihiko Yokoyama. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060159333A1. Автор: Akio Ishikawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-20.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US8290242B2. Автор: Tadashi Mitsui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-10-16.

Defect inspection method and defect inspection apparatus

Номер патента: US20010055416A1. Автор: Kyoji Yamashita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Defect inspection apparatus, defect inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200089131A1. Автор: Kouta Kameishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Method and apparatus to facilitate auto-alignment of images for defect inspection and defect analysis

Номер патента: US20030152260A1. Автор: Lynn Cai. Владелец: Numerical Technologies Inc. Дата публикации: 2003-08-14.

Defect inspection apparatus, method and program

Номер патента: US20220084185A1. Автор: Ryusuke Hirai,Yukinobu Sakata,Akiyuki Tanizawa,Kyoka Sugiura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Defect inspection apparatus, method and program

Номер патента: US12020468B2. Автор: Ryusuke Hirai,Yukinobu Sakata,Akiyuki Tanizawa,Kyoka Sugiura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Transient defect inspection using an inspection image

Номер патента: WO2024012966A1. Автор: Liang Tang,Xuechen ZHU,Datong ZHANG,Chih-Yu Jen,Shengcheng JIN,Hsiang Ting YEH. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-01-18.

Method and apparatus for determining defect detection sensitivity data, control method of defect detection apparatus, and method and apparatus for detecting defect of semiconductor devices

Номер патента: US20040151362A1. Автор: Akira Hamaguchi,Takamitsu Nagai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-08-05.

Display apparatus and method for inspecting the same

Номер патента: US20150029202A1. Автор: Hirokuni YANAGIDA. Владелец: NLT Technologeies Ltd. Дата публикации: 2015-01-29.

Wiring inspection apparatus and wiring inspection method

Номер патента: US20140289696A1. Автор: Akiko Furuya,Koji Migita,Masato Oota,Nobuaki Kawasoe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-25.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09710905B2. Автор: Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Mask inspection apparatus and mask inspection method

Номер патента: US09626755B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideo Tsuchiya,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170178314A1. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hideki Nukada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-22.

Drug inspection apparatus and drug inspection method

Номер патента: US20240289933A1. Автор: Yoshiki Hayashi,Daisuke Hosokawa,Riichi Katou,Eiji Makimoto,Makoto Katsuchi. Владелец: Hitachi Channel Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection program for disk-shaped graduation plate

Номер патента: US20240212129A1. Автор: Masaoki Yamagata,Jota Miyakura,Hiroaki Kawata,Kasumi Kondo. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Print system, inspection apparatus, method of controlling inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240311998A1. Автор: Shinya Suzuki,Yuki Nakatani. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Stereo x-ray inspection apparatus and method for forming three-dimensional image through volume reconstruction of image acquired from the same

Номер патента: US20120014506A1. Автор: Soon Yong Park,Seung Chan Oh,Nam Ho Lee,Seung Wook Lee,Young Gwan Hwang,Myung Kook Moon,Yong Chil Sec. Владелец: Korea Atomic Energy Research Institute KAERI. Дата публикации: 2012-01-19.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20220414833A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Inspection apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US12125176B2. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US09767547B2. Автор: Masaya Takeda,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Pattern inspection method and its apparatus

Номер патента: US20090169093A1. Автор: Shunji Maeda,Kaoru Sakai,Takafumi Okabe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-07-02.

Apparatus and method to automatically distinguish between contamination and degradation of an article

Номер патента: US09508139B2. Автор: Michael Moore,Timothy Duffy,Kevin Patrick McCormick,Jeremy W. Sheaffer,Maksim Bobrov,Myra A. Torres,Abhijit Bhoite,Nikhil Beke. Владелец: Sikorsky Aircraft Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US20180293724A1. Автор: Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-10-11.

Inspection method and inspection apparatus

Номер патента: US09846928B2. Автор: Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Image inspection apparatus, image forming apparatus, image inspection system, image inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240165945A1. Автор: Kohta AOYAGI. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Inspection apparatus, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20210272256A1. Автор: Hideaki Okano,Yoshinori Honguh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Pattern inspection method and apparatus using linear predictive model-based image correction technique

Номер патента: US20070064996A1. Автор: Yuichi Nakatani,Shinji Sugihara,Junji Oaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-03-22.

Welding mark inspection method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US12134144B2. Автор: Xiaoyi Chen,Fei Chen,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Hong Kong Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Software inspection apparatus

Номер патента: US20170364432A1. Автор: Masataka Nishi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-12-21.

Inspection apparatus, method of controlling the same, inspection system, and storage medium

Номер патента: US20240029238A1. Автор: Masashi Oya,Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US20170352140A1. Автор: Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-07.

Image inspection method, image inspection apparatus, and recording medium storing image inspection control program

Номер патента: US20130250319A1. Автор: Hitomi Kaneko,Hiroyuki Kawamoto,Keiichi Miyamoto,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Reticle defect inspection method and system

Номер патента: US11988575B2. Автор: Lihua HOU,Wen-Hao Hsu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-21.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US11986773B2. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Defect inspecting apparatus

Номер патента: US20060087330A1. Автор: Tsutomu Saito,Osamu Yamada,Eiichi Hazaki,Yasuhiko Nara,Yoshikazu Inada,Hirofumi Sato,Yoshinori Numata. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-04-27.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US09880196B2. Автор: Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Semiconductor device inspection apparatus and semiconductor device inspection method

Номер патента: US20190271734A1. Автор: Toru Matsumoto,Akira Shimase. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-05.

Behavior inspection apparatus and behavior inspection method for extensible flexible pipe joint

Номер патента: US20180045499A1. Автор: Yuji Noda,Shintaro Ikeda,Isamu Funakoshi. Владелец: Victaulic Company of Japan Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Nozzle inspection method, nozzle inspection apparatus, and substrate processing device

Номер патента: US20240262116A1. Автор: Yong Tak Hyun,Sang Uk Son. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210405089A1. Автор: Masahito Kobayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-12-30.

Nozzle inspection apparatus and nozzle inspection method

Номер патента: US20190275542A1. Автор: Yoshiteru Kawamori,Toyoaki MITSUE,Tomio Sawasaki. Владелец: Sugino Machine Ltd. Дата публикации: 2019-09-12.

Vehicle inspection apparatus and vehicle inspection method that detects abnormal noise

Номер патента: US11668627B2. Автор: Susumu Akutsu,Toshinori Inagawa. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-06.

Substrate inspection apparatus and substrate inspection method

Номер патента: US20240175915A1. Автор: Suyoung LEE,Jinwoo Lee,Chungsam Jun,Hyeongcheol Lee,Sekye Jeon,Jongcheon Sun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-30.

Insulation inspection apparatus and insulation inspection method

Номер патента: US09606166B2. Автор: Jun Kasai. Владелец: Nidec Read Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Номер патента: US20160225300A1. Автор: Chae-Han Hyun,Young-Taeg Jung,Jung-Hun Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-04.

Wavefront analysis inspection apparatus and method

Номер патента: EP2403396A1. Автор: Elie Meimoun. Владелец: Meimoun Elie. Дата публикации: 2012-01-11.

Panel inspection apparatus and display panel

Номер патента: US09633588B2. Автор: Qibiao LV,Jehao Hsu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Method of determination, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US20130245979A1. Автор: Hiroya Kakimoto. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2013-09-19.

Security inspection apparatus and method of controlling the same

Номер патента: US12007523B2. Автор: Jian Wu,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xuming MA,Yan YOU. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Drinking consumption inspection apparatus and method

Номер патента: US20170112314A1. Автор: Shay Pinhasov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-04-27.

Internal pressure inspection apparatus and method for a sealed container

Номер патента: US09453776B2. Автор: Tetsuya Takatomi,Taichi Ijuin,Norihiko Ozaku. Владелец: Daiwa Can Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: EP3622263A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-03-18.

Apparatus and method for smart material analysis

Номер патента: WO2018209048A1. Автор: Enrico Bovero. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2018-11-15.

Inspection apparatus, and abnormality detection method

Номер патента: US09702754B2. Автор: Satoshi Sone. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US10578847B2. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-03-03.

Optical article inspection apparatus and method

Номер патента: EP4423474A1. Автор: Willard BEAMER,Forrest Blackburn,Neil Murphy,Joshua Hazle,Adam CHOROS,Laura ASKEW-CRAWFORD. Владелец: Transitions Optical Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Fiber optic connection inspection apparatus and method

Номер патента: US20170343783A1. Автор: Edward John Forrest, Jr.. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-11-30.

Apparatus and methods for gauging parts

Номер патента: US09835431B1. Автор: LIN Huang,Adam Li,Anthony Freakes,Franklin W Agramonte Andujar,Ivan P Nieves Hernandez,Marcelino Montoya Ruiz,Carlos C Reyes. Владелец: Connecting Products Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Pr-containing scintillator single crystal, method of manufacturing the same, radiation detector, and inspection apparatus

Номер патента: US09834858B2. Автор: Tsuguo Fukuda,Kenji Aoki,Akira Yoshikawa,Kei Kamada,Hiraku Ogino. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Substrate inspection apparatus and probe card transferring method

Номер патента: US09671452B2. Автор: Takashi Amemiya. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Manufacture defect analyzer with detecting function and inspecting method thereof

Номер патента: US20060221339A1. Автор: Yuan-Chiang Lee. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2006-10-05.

Inspection method and apparatus using nuclear magnetic resonance

Номер патента: US5754047A. Автор: Yo Taniguchi,Etsuji Yamamoto,Hiroyuki Itagaki,Yukari Onodera. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 1998-05-19.

Rotary member inspection method and rotary member inspection apparatus

Номер патента: US20230408352A1. Автор: Masazumi MIYAGO. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Radiation failure inspecting method and radiation failure inspecting apparatus

Номер патента: US20120211664A1. Автор: Mikito Nakajima. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Inspection apparatus and method adapted to a scanning technique employing a rolling wire probe

Номер патента: US20030006757A1. Автор: Tak Eun. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-09.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: WO2023278715A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc.. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: CA3223326A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus for optical inspection of a card insertion slot of a card reader

Номер патента: EP4364034A1. Автор: Ronan Loheac,Silviu Gheorghita. Владелец: Ingenico Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Multifunctional substrate inspection apparatus and multifunctional substrate inspection method

Номер патента: US20190162756A1. Автор: Masato Utsumi. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20200064374A1. Автор: Yoshiyuki Fukami. Владелец: Micronics Japan Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: US09810595B2. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Pipeline inspection apparatus

Номер патента: CA2821100C. Автор: Chris Jay,Jonathan Thursby,Shaun Peck. Владелец: Ev Offshore Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20130321015A1. Автор: Kinya Yamashita,Akira Okada,Hajime Akiyama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Device inspection apparatus and device inspection method

Номер патента: US20240192257A1. Автор: Shinya Kurebayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

A portable inspection apparatus

Номер патента: EP2802864A1. Автор: Ko Khee Tay. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-19.

Systems and methods for calibrating a wafer inspection apparatus

Номер патента: US20200088829A1. Автор: Douglas Michael Baney. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-19.

Die test/inspection apparatus

Номер патента: US20240280442A1. Автор: Alberto CURATOLI. Владелец: CORRADA SpA. Дата публикации: 2024-08-22.

Body drying and inspection apparatus

Номер патента: US09775474B2. Автор: Ernesto Holguin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Imaging inspection apparatus for setting one or more image-capturing positions on a line that connects two taught positions, control device thereof, and method of controlling imaging inspection apparatus

Номер патента: US09774827B2. Автор: Hideki Tanaka,Kazuhiko Kojima,Hiroaki Kitatsuji. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-09-26.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

Distortion inspecting apparatus and distortion inspecting method

Номер патента: US20100182423A1. Автор: Kikuhito Kawasue. Владелец: University of Miyazaki NUC. Дата публикации: 2010-07-22.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933839B2. Автор: Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection system, inspection apparatus, and method of controlling these

Номер патента: US20240078400A1. Автор: Yoshitaka Oba. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US11933667B2. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Sample Inspection Apparatus and Sample Inspection Method

Номер патента: US20080149848A1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Masahiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-06-26.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20210291295A1. Автор: Hiroshi Morikazu. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Outgoing email check system, check data providing apparatus, check data inspecting apparatus, and outgoing email check method

Номер патента: US8997183B2. Автор: Hiroshi Tsuda,Masayoshi Okamoto,Shinichi Mochizuki,Yoshinori Katayama,Fumihiko Kozakura,Kiyoshi Kurashige,Ryota Fukasawa,Aya Higashizono,Natsu Hashisaka. Владелец: Fujitsu Social Science Labs Ltd. Дата публикации: 2015-03-31.

Baggage inspection apparatus and method for determining the presence of explosives

Номер патента: CA1207835A. Автор: Armando De Los Santos,James D. King,William L. Rollwitz,George A. Matzkanin,Phillip A. Hornung. Владелец: Southwest Research Institute SwRI. Дата публикации: 1986-07-15.

Apparatus and method implementing improved consepts for tcx ltp

Номер патента: RU2665279C2. Автор: Жереми ЛЕКОНТ,Михаэль ШНАБЕЛЬ,Горан МАРКОВИЧ,Кристиан ХЕЛЬМРИХ,Ральф ШПЕРШНАЙДЕР. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2018-08-28.

Image stabilisation apparatus, control method therefor, optical apparatus and image forming apparatus

Номер патента: RU2536323C2. Автор: Хитоси МИЯДЗАВА. Владелец: Кэнон Кабусики Кайся. Дата публикации: 2014-12-20.

Apparatus and method for storing and reading file, having media data storage and metadata storage

Номер патента: RU2492587C2. Автор: Стефан КРАЙГЕЛОХ,Харальд ФУКС,Стефан ДОЕХЛА,Николаус ФАЕРБЕР. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2013-09-10.

Apparatus and method for multisector estimation of velocity and doppler shift of mobile station of synchronous communication systems

Номер патента: RU2451949C1. Автор: Мин-Чан ЦАЙ,Джигнешкумар П. ШАХ,Пиллаппаккам Б. СРИНИВАС. Владелец: Квэлкомм Инкорпорейтед. Дата публикации: 2012-05-27.

Signal processing method, signal processing apparatus and coriolis flow meter

Номер патента: RU2460974C2. Автор: Хирокацу КИТАМИ,Хидеки СИМАДА. Владелец: Овал Корпорейшн. Дата публикации: 2012-09-10.

Apparatus and method for defect inspection of display panel

Номер патента: US20230316968A1. Автор: Hyun-Wook Cho,Taejoon KIM,Min-Hong Kim,Jungmok PARK,Bogeun Yuk. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Wafer and dut inspection apparatus and method using thereof

Номер патента: US20180158647A1. Автор: Bao-Hua Niu,Jung-Hsiang Chuang,David Hung-I Su. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Multi Charged Particle Beam Inspection Apparatus, and Multi Charged Particle Beam Inspection Method

Номер патента: US20180286630A1. Автор: TAKEKOSHI Hidekazu. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2018-10-04.

Defect inspection method and disk drive using same

Номер патента: US20090252012A1. Автор: Se-Hyun Kim,Seung-youl Jeong,Jae-Deog Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-08.

Substrate reference image creation method, substrate defect inspection method, substrate reference image creation apparatus, substrate defect inspection unit and non-transitory computer storage medium

Номер патента: US20140160451A1. Автор: Hiroshi Tomita,Tadashi Nishiyama,Izumi Hasegawa,Shuji Iwanaga. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-06-12.

Defect repair device and defect repair method

Номер патента: WO2006006635A3. Автор: Yoshiaki Ikuta,Toshiyuki Uno. Владелец: Toshiyuki Uno. Дата публикации: 2006-05-26.

Defect repair device and defect repair method

Номер патента: EP1771773A2. Автор: Yoshiaki Ikuta,Toshiyuki Uno. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-11.

Defect repair device and defect repair method

Номер патента: WO2006006635A2. Автор: Yoshiaki Ikuta,Toshiyuki Uno. Владелец: Asahi Glass Company, Limited. Дата публикации: 2006-01-19.

Magnetic characteristic inspecting apparatus and inspecting method using it

Номер патента: US20060132122A1. Автор: Ritsuro Orihashi,Masayoshi Takahashi,Masami Makuuchi,Shinji Homma. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-06-22.

Inspection method for lithography

Номер патента: US09494872B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Marcus Adrianus Van De Kerkhof,Maurits van der Schaar,Kaustuve Bhattacharyya. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-11-15.

Lighting apparatus, and optical inspection apparatus and optical microscope using the lighting apparatus

Номер патента: US09594240B2. Автор: MITSUHIRO Togashi,MITSUNORI Numata,Nobuyuki Kimura,Masaki Takada. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-14.

Method for inspecting a turbine engine rotor with a rotor disc cavity inspection apparatus

Номер патента: US09670795B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Optical disk inspecting apparatus and method

Номер патента: US20100091626A1. Автор: Mitsumasa Kubo. Владелец: Teac Corp. Дата публикации: 2010-04-15.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090207406A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-08-20.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20100273115A1. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-10-28.

Particle inspection apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP2093611A3. Автор: Atsushi Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-27.

Vision inspection apparatus and method of compensating gamma defect and mura defect thereof

Номер патента: US09576541B2. Автор: Woo-Jin Jung,Jung-Suk Han,Hoi-Sik Moon,Kang-Hyun Kim,Jong-Hee NA,Jae-Seob CHUNG. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09511831B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-12-06.

Mask inspection apparatus and image creation method

Номер патента: WO2010089954A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura,Toshimichi Iwai,Tsutomu Murakawa,Yoshiaki Ogiso. Владелец: ADVANTEST CORPORATION. Дата публикации: 2010-08-12.

Underwater mobile inspection apparatus and underwater inspection equipment

Номер патента: US09776695B2. Автор: Akira Kimura,Masayuki Enomoto,Tetsuya Kubota,Hiroaki Kagaya,Minehiko MUKAIDA,Noriyuki OKAYA,Kazuya SUMINO,Masanori Hamamatsu,Akiyoshi Saiki. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2017-10-03.

Inspection method and apparatus for piping

Номер патента: US20020090048A1. Автор: Fuminobu Takahashi,Masakazu Hisatsune,Makiko Miyauchi,Yuuichirou Mizumachi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-07-11.

Photomask inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US20240361684A1. Автор: Hsin-fu Tseng,Chien-Lin Chen,Chih-Wei Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Photomask inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12072621B2. Автор: Hsin-fu Tseng,Chien-Lin Chen,Chih-Wei Wen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection apparatus and inspection method for magnetic head or magnetic disk and inspection method for magnetic head

Номер патента: US20120075738A1. Автор: Toshiaki Suzuki,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa,Kazuhiko KISHIE. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20110129239A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-02.

Inspection apparatus, method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US8448932B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-28.

Inspection apparatus

Номер патента: US20210382396A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection apparatus

Номер патента: US20230004093A1. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Inspection apparatus

Номер патента: US12124176B2. Автор: Derk Servatius Gertruda Brouns,Pawel SAFINOWSKI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Welded portion inspection apparatus of reactor pressure vessel

Номер патента: US20120051483A1. Автор: Satoshi Okada,Kenichi Otani,Ryosuke Kobayashi,Hidetaka Komuro,Yosuke Takatori. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Pellicle inspection apparatus

Номер патента: US09588421B2. Автор: Atsushi Tajima,Kiwamu Takehisa,Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Vehicle safety-inspection apparatus

Номер патента: US09478075B1. Автор: Duncan Smith,Grant Toutant,Tristan Money. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-25.

Magnetic head inspection apparatus and magnetic head inspection method

Номер патента: US20130135769A1. Автор: Yukio Yamamoto,Yoshihiro Sakurai,Kunihito Higa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-05-30.

Apparatus and method for generating synthesis audio signal and for encoding audio signal

Номер патента: RU2501097C2. Автор: Джереми ЛЕКОМТЕ,Гильом ФУХС,Маркус МУЛТРУС,Фредерик НАГЕЛЬ,Йоханнес ХИЛПЕРТ,Стефан БАЙЕР,Жульен РОБИЛЛАРД. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт цур Фёрдерунг дер ангевандтен. Дата публикации: 2013-12-10.

Apparatus and method for selecting and emptying of capsule for preparing of beverage

Номер патента: RU2306839C2. Автор: Ален ЦУРХЕР,Пьер ПИЙО. Владелец: Сосьете де Продюи Нестле С.А.. Дата публикации: 2007-09-27.

Simulated defective wafer and pattern defect inspection recipe preparing method

Номер патента: US20020006497A1. Автор: Tomonobu Noda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-01-17.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Defect inspecting method

Номер патента: US20100323460A1. Автор: Kuniharu Nagashima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-12-23.

Defect inspecting method

Номер патента: US7947515B2. Автор: Kuniharu Nagashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Wafer for manufacturing image sensors, test key layout for defects inspection, and methods for manufacturing image sensors and for forming test key

Номер патента: US20070246639A1. Автор: Cheng-Hung Yu. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-10-25.

Solar power generation system inspection apparatus and solar power generation system inspection method

Номер патента: JP6405807B2. Автор: 彰彦 佐野,修一 三角,康介 森田,誠 井手. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-10-17.

Electrical inspection method for solar cells

Номер патента: US20180069506A1. Автор: Zun-Hao Shih,Hwen-Fen Hong,Chun-Yi Chen,Yueh-Mu Lee. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2018-03-08.

Charged particle apparatus, scanning electron microscope, and sample inspection method

Номер патента: US20120004879A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Noritsugu Takahashi,Tomoyasu Shojo,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-01-05.

System and method for defect inspection using voltage contrast in a charged particle system

Номер патента: WO2021123075A1. Автор: Wei Fang,Lingling Pu,Zhengwei Zhou. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-06-24.

Electron-beam lithography method and apparatus, and program thereof

Номер патента: US20080001103A1. Автор: Takashi Sugimura. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2008-01-03.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US09859096B2. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Pattern inspection apparatus and pattern inspection method

Номер патента: US09728373B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP3942590A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-01-26.

Punch pin hole inspection apparatus and method using punch and die

Номер патента: US12042976B2. Автор: Ho June Chi,Jeong Oh Moon,Jin Yong Park,Hang June Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting system having the same apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: US6038018A. Автор: Motosuke Miyoshi,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-03-14.

Mask inspecting apparatus

Номер патента: US20040004195A1. Автор: Takao Utsumi. Владелец: LEEPL Corp. Дата публикации: 2004-01-08.

Inspection method, inspection apparatus, and plasma processing apparatus

Номер патента: US20210296091A1. Автор: Chishio Koshimizu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US20190054425A1. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10569228B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Inspection apparatus of electrolyte membrane

Номер патента: US10118132B2. Автор: Jae Jun Ko,Kwi Seong Jeong,Hyun Young Pi. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-11-06.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US11270866B2. Автор: Atsushi Ando,Takahiro Murata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-03-08.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20170243716A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Printing system, printing apparatus, inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US12081708B2. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Inspection apparatus that inspects image printed on sheet, and image inspection method

Номер патента: US20240357044A1. Автор: Itsuki Akizuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection apparatus, image forming apparatus, control method of inspection apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240275888A1. Автор: Ryo Kazumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Image inspection apparatus and misalignment measurement method

Номер патента: US11700341B2. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-07-11.

Inspection apparatus, inspection method, inspection system, and computer-readable storage medium

Номер патента: US09571670B2. Автор: Maho Ooyanagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US20080309705A1. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2008-12-18.

Liquid droplet jetting-inspection apparatus and liquid droplet jetting-inspection method

Номер патента: US7963627B2. Автор: Masaharu Ito. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-21.

Print inspection apparatus, print system, print inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20240364820A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-31.

Apparatus and method for insepecting cream solder printed on a substrate

Номер патента: WO2004012491A1. Автор: Takashi Katsuki,Minoru Murakami,Yuji Otake,Takahiro Fukagawa,Kimiyuki Yamasaki. Владелец: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.. Дата публикации: 2004-02-05.

Image forming system and inspection apparatus

Номер патента: US20230396716A1. Автор: Hiroyuki Eda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Image inspection apparatus that determines a line width of a test image, and image forming apparatus

Номер патента: US09762763B2. Автор: Toru Yamaguchi,Takahiro Kusunoki,Takashi Harashima. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US11838454B2. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Inspection apparatus, control method thereof, and storage medium

Номер патента: US20230336667A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-10-19.

Apparatus and method of calculating control parameters of echo suppression filter and apparatus and method of calculating delay value

Номер патента: RU2495506C2. Автор: Фабиан КЮХ,Кристоф ФАЛЛЕР,Маркус КАЛЛИНГЕР,Алексис ФАВРОТ. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2013-10-10.

Apparatus and method for centre signal scaling and stereophonic enhancement based on signal-to-downmix ratio

Номер патента: RU2663345C2. Автор: Кристиан УЛЕ,Петер ПРОКАЙН,Оливер ХЕЛЛЬМУТ,Себастьян ШАРРЕР,Эмануэль ХАБЕТС. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2018-08-03.

Secondary battery connection structure inspection apparatus and secondary battery connection structure inspection method

Номер патента: JP5702355B2. Автор: 兼之 牧野,義敬 清水. Владелец: Primearth EV Energy Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-15.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US20130208042A1. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US8936342B2. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-20.

Visual workpiece inspection apparatus and visual workpiece inspection method

Номер патента: MY167683A. Автор: Kodera Katsuyoshi,Mizukami Hirofumi,MOCHIZUKI Hiroyuki,Goto Tasuku. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-21.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US20100302295A1. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-12-02.

Inspection apparatus and method for inspecting a sheet in a press

Номер патента: EP3197615A1. Автор: Stefano Bergami,Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2017-08-02.

Liquid ejecting head inspection apparatus, liquid ejecting apparatus, and inspection method of liquid ejecting head inspection apparatus

Номер патента: US8414100B2. Автор: Eiichiro Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-04-09.

Laser welding inspection apparatus and laser welding inspection method

Номер патента: US09623513B2. Автор: Hiroaki Kishi,Atsushi Kawakita,Shuhei Ogura,Yuta IWAMOTO. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Welding System, Welding Condition Calculation Apparatus,and Welding Condition Calculation Method

Номер патента: US20240100615A1. Автор: Seunghwan Park,Naoki Morihira,Makoto Ogata,Kazutoshi SUGIE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Hose preparation apparatus and method therefor

Номер патента: US20010003860A1. Автор: Thomas R. Clark. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-21.

Ultrasound inspection apparatus, signal processing method for ultrasound inspection apparatus, and recording medium

Номер патента: US09907532B2. Автор: Tsuyoshi Tanabe,Noriaki Ida,Yasunori Ohta,Shin Nakata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Sorting and inspection apparatus and method with determination of product velocity

Номер патента: WO2013001303A9. Автор: Anthony Hug. Владелец: Buhler Sortex Ltd.. Дата публикации: 2013-02-14.

Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus

Номер патента: US11975410B2. Автор: Koji Funami. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus

Номер патента: US20240261907A1. Автор: Koji Funami. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Refrigeration cycle apparatus and leakage inspection method for refrigerant piping of refrigeration cycle apparatus

Номер патента: US20240310098A1. Автор: Kaoru Matsushita,Kazushi Takeuchi,Junichi Wakasugi. Владелец: Toshiba Carrier Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: US20230356213A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Leak resistance inspection apparatus for fuel element enclosures

Номер патента: RU2349976C1. Автор: Валерий Фёдорович Борисов,Сергей Александрович Гутов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2009-03-20.

Can seam inspection apparatus

Номер патента: WO1993003864A1. Автор: Wun Cheul Chong. Владелец: Wun Cheul Chong. Дата публикации: 1993-03-04.

Discharge Inspection Apparatus and Discharge Inspection Method

Номер патента: US20110084998A1. Автор: Shinya Komatsu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-04-14.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: EP4275792A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Analyte inspection apparatus and analyte inspection method using same

Номер патента: CA3208450A1. Автор: Ghun KOH,Neoncheol Jung. Владелец: Aligned Genetics Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Phase compensated multiple moving head inspection apparatus

Номер патента: US3811553A. Автор: D Riggs. Владелец: Owens Illinois Inc. Дата публикации: 1974-05-21.

Anti-aircraft missiles and missile launchers inspection method

Номер патента: RU2674453C1. Автор: Владимир Вячеславович Громов,Сергей Михайлович Мосалёв,Игорь Семенович Рыбкин,Эдуард Борисович Парфенов,Лев Геннадьевич Жокин,Владимир Александрович Кисарин. Владелец: Открытое акционерное общество "Завод им. В.А. Дегтярева". Дата публикации: 2018-12-10.

Apparatus and method for handling an ophthalmic lens

Номер патента: CA2549855A1. Автор: Trevor O'neill,Fraser Wardrop. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-07.

Workpiece inspection apparatus and inspection method

Номер патента: MY127007A. Автор: Kobayashi Kenji,Kikawa Kazuhiro. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2006-11-30.

Apparatus and method for synthesis of paraxylol and combined synthesis of light olefins from methanol and/or dimethyl ether and benzene

Номер патента: RU2742576C1. Автор: Чжунминь Лю,Мао Е,Тао Чжан,Цзиньлин ЧЖАН,Иньфэн ЧЖАО,Чэн ЧЖАН,Хуа ЛИ,Хайлун ТАН,Цзиньмин ЦЗЯ,Чанцин ХЭ,Сяньгао ВАН,Чэнгун ЛИ. Владелец: Далянь Инститьют Оф Кемикал Физикс, Чайниз Академи Оф Сайенсиз. Дата публикации: 2021-02-08.

Ion-generating apparatus and method for sterilization and for removing smog

Номер патента: RU2657754C1. Автор: Хуэй ВАН,Фан ЦЗЯН,Тимин ЯО,Цинцзе ЦЗЭН,Цзиньхуа ТАН,Иньхуа ТАН. Владелец: Люфтмед Гмбх. Дата публикации: 2018-06-15.

Eco-black soil and concentrated soil solution, apparatus and preparation method thereof

Номер патента: RU2433109C2. Автор: Валерий Абрамович Шапиро. Владелец: Валерий Абрамович Шапиро. Дата публикации: 2011-11-10.

Apparatus and method for synthesis of paraxylol and combined synthesis of light olefins from methanol and/or dimethyl ether and toluene

Номер патента: RU2744214C1. Автор: Чжунминь Лю,Мао Е,Тао Чжан,Цзиньлин ЧЖАН,Иньфэн ЧЖАО,Чэн ЧЖАН,Хуа ЛИ,Хайлун ТАН,Цзиньмин ЦЗЯ,Чанцин ХЭ,Сяньгао ВАН,Чэнгун ЛИ. Владелец: Далянь Инститьют Оф Кемикал Физикс, Чайниз Академи Оф Сайенсиз. Дата публикации: 2021-03-03.

Transporter-launcher container for underwater apparatus and method of underwater vehicle control

Номер патента: RU2679756C1. Автор: Александр Владимирович Новиков,Олег Эдуардович Рогульский,Святослав Анатольевич Фалий,Геннадий Николаевич Корнеев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Крыловский государственный научный центр". Дата публикации: 2019-02-12.

Apparatus and method for composting with the use of vermiculite culture

Номер патента: RU2244698C1. Автор: Ю.М. Лужков. Владелец: Лужков Юрий Михайлович. Дата публикации: 2005-01-20.

Chain stabilisation device for hyperthermic therapeutic apparatus and method of using thereof

Номер патента: RU2413481C2. Автор: Бюнг Вон ЧОЙ,Хюн Сик ЧУНГ,Кеун Янг ПАЕК. Владелец: Керагем Ко., Лтд. Дата публикации: 2011-03-10.

Metal tube defect inspection method, metal tube manufacturing method, metal tube defect inspection apparatus, and metal tube defect inspection program

Номер патента: JP6286795B2. Автор: 英治 作山,友樹 大澤,寿己 木村,俊造 森. Владелец: J Power Systems Corp. Дата публикации: 2018-03-07.

Defect inspection device for steel plate and defect inspection method for steel plate.

Номер патента: MX2019001420A. Автор: Koshihara Takahiro,Ehashi Tatsuya,SAWAMURA Koji,Itagaki Takahiko. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-11-21.

Apparatus and method for defect inspection of printed circuit board

Номер патента: KR19980014922A. Автор: 한상욱. Владелец: 대덕산업 주식회사. Дата публикации: 1998-05-25.

Liquid crystal display panel inspection apparatus and liquid crystal display panel inspection method

Номер патента: JP3533946B2. Автор: 信一 岩田,広明 宮下. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2004-06-07.

Glass substrate surface state inspection apparatus and glass substrate surface state inspection method

Номер патента: JP2014160026A. Автор: Kimitaka Tanaka,公貴 田中. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-04.

System For Monitoring Foreign Particles, Process Processing Apparatus And Method Of Electronic Commerce

Номер патента: US20120002196A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, RADIOLOGICAL IMAGING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING SOLID-STATE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20120001081A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308B. Автор: Hideo Ueno. Владелец: SANFREUND CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-02.

Inside-wall soundness inspection apparatus

Номер патента: NZ599308A. Автор: Hideo Ueno. Владелец: Sanfreund Corp. Дата публикации: 2014-05-30.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

BODY CONDITION EVALUATION APPARATUS, CONDITION ESTIMATION APPARATUS, STRIDE ESTIMATION APPARATUS, AND HEALTH MANAGEMENT SYSTEM

Номер патента: US20120000300A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUSES AND METHODS FOR ATOMIC LAYER DEPOSITION

Номер патента: US20120000422A1. Автор: Zheng Bo,Ai Hua,YU SANG HO,UMOTOY Salvador P.,Lam Hyman,Jackson Michael,Yuan Xiaoxiong (John),Wang Hou Gong. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS, APPARATUSES AND COMPUTER PROGRAM PRODUCTS FOR AUTOMATICALLY GENERATING SUGGESTED INFORMATION LAYERS IN AUGMENTED REALITY

Номер патента: US20120001939A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MAINTAINING HEAD

Номер патента: US20120001976A1. Автор: . Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR RECORDING AND PLAYING A MEDIA FILE, AND A RECORDING MEDIUM THEREFOR

Номер патента: US20120002947A1. Автор: RHYU Sung-Ryeul,HWANG Seo-Young,SONG Jae-Yeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE TRANSFER METHOD ADOPTED IN SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS

Номер патента: US20120004753A1. Автор: . Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Magnetic powder inspection method

Номер патента: RU2474815C1. Автор: Александр Иванович Пашагин,Виталий Евгеньевич Щербинин. Владелец: Учреждение Российской академии наук Ордена Трудового Красного Знамени Институт физики металлов Уральского отделения РАН (ИФМ УрО РАН). Дата публикации: 2013-02-10.

Flaw inspection method for silicon-on-insulator films

Номер патента: RU2256256C1. Автор: В.Д. Скупов,В.К. Смолин,А.Ю. Малков. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство Российской Федерации по Атомной Энергии. Дата публикации: 2005-07-10.

ADVERTISING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120000102A1. Автор: Bruce Shad E.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ISOLATING A VIEWPORT

Номер патента: US20120000301A1. Автор: LITTLE Edwin Jackson,PAVOL Mark J.. Владелец: PRIMESTAR SOLAR. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUSES AND METHODS FOR CUTTING POROUS SUBSTRATES

Номер патента: US20120000330A1. Автор: Griffin Weston Blaine. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

SINGLE CRYSTAL COOLING APPARATUS AND SINGLE CRYSTAL GROWER INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120000416A1. Автор: Wang Hak-Eui,Na Gwang-Ha. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

NEBULIZER APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120000461A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHODS FOR ADMINISTRATION OF POSITIVE AIRWAY PRESSURE THERAPIES

Номер патента: US20120000463A1. Автор: Bordewick Steven S.,Bowman Bruce,Baser Joseph A.. Владелец: SOMNETICS GLOBAL PTE. LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

WET BENCH APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120000494A1. Автор: PAULMAN Jason,Smith Bruce Kenneth,Sohn Raymond. Владелец: ATS AUTOMATION TOOLING SYSTEM INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

MASS FLOW CONTROL SYSTEM, PLASMA PROCESSING APPARATUS, AND FLOW CONTROL METHOD

Номер патента: US20120000607A1. Автор: ETO Hideo,Ito Atsushi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

Laser Beam Irradiation Apparatus and Substrate Sealing Apparatus Including the Same

Номер патента: US20120000611A1. Автор: . Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SUBSTRATE STAGE, SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING SYSTEM

Номер патента: US20120000612A1. Автор: Muraki Yusuke,ODAGIRI Masaya,FUJIHARA Jin. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

PAPER MACHINE BELT CONDITIONING SYSTEM, APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120000622A1. Автор: WEINSTEIN David I.,Perry Peter E.,Rivard James P.,Cirocki Pawel. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus And Methods For Producing Oil and Plugging Blowouts

Номер патента: US20120000656A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

WEIGHING APPARATUS AND METHOD FOR WEIGHING VEHICLES

Номер патента: US20120000715A1. Автор: Saigh Fathi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FEEDING APPARATUS AND METHOD FOR A PYROLYTIC REACTOR

Номер патента: US20120000761A1. Автор: Bronshtein Alexander P.,Skop Menachem L.,Weiss Moshe,Jakobowitch David Shalom. Владелец: T.D.E. RECOVERY TECHNOLOGIES LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Deposition Apparatus And Methods To Reduce Deposition Asymmetry

Номер патента: US20120000772A1. Автор: Cox Michael S.,RITCHIE ALAN. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

PLASMA-ARC-THROUGH APPARATUS AND PROCESS FOR SUBMERGED ELECTRIC ARCS

Номер патента: US20120000787A1. Автор: . Владелец: MAGNEGAS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR DISINFECTING WATER

Номер патента: US20120000862A1. Автор: Belluati Mario,Colombi Giorgio,Danesi Enrico,Donnini Nicola,Petrucci Giuseppe,Rosellini Massimiliano,Giuseppina Peri. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VARIABLE CONFIGURATION SHELVING APPARATUS AND METHODS

Номер патента: US20120000873A1. Автор: . Владелец: Edsal Manufacturing Co., Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120000886A1. Автор: NISHINO Masaru,HONDA Masanobu,Kubota Kazuhiro,Ooya Yoshinobu. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

PLASMA TREATMENT APPARATUS AND PLASMA TREATMENT METHOD

Номер патента: US20120000887A1. Автор: Saito Makoto,SUZUKI Keiji,ETO Hideo,Nishiyama Nobuyasu. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

CODE READING APPARATUS AND CODE READING METHOD

Номер патента: US20120000980A1. Автор: . Владелец: TOSHIBA TEC KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

CANISTER FOR DEPOSITION APPARATUS AND DEPOSITION APPARATUS USING SAME

Номер патента: US20120000986A1. Автор: LEE Dong-Hyun,CHUNG Yun-Mo,PARK Jong-Ryuk,SEO Jin-Wook,Lee Kil-Won,Chang Seok-Rak,PARK Byoung-Keon,YANG Tae-Hoon,Na Heung-Yeol,LEE Ki-Yong,CHOI Bo-Kyung,JEONG Min-Jae,Hong Jong-Won,Kang Eu-Gene,Soo Byung-Soo,Baek Won-Bong,Maidanchuk Ivan,Jung Jae-Wan. Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

EQUIPMENT MOUNTING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120001033A1. Автор: Foster John,Wilde Gary P.,Billingsley Bryan,Sovic Matthew,Bond Dean,Desmond Aaron,Wilde Joshua. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SOLID-STATE IMAGING APPARATUS AND IMAGING APPARATUS

Номер патента: US20120001057A1. Автор: Yamagata Yuuki,Koseki Ken,Kikuchi Masaru,Inada Yoshiaki,Inutsuka Junichi,Tajima Akari. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHODS FOR USE IN FLASH DETECTION

Номер патента: US20120001071A1. Автор: SNIDER Robin Terry,MCGEE Jeffrey Dykes,PERRY Michael Dale. Владелец: General Atomics. Дата публикации: 2012-01-05.

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001097A1. Автор: . Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR EXTRACTION OR ADDITION OF SUBSTANCES FROM OR TO A BODY OF LIQUID

Номер патента: US20120001112A1. Автор: Alkemade Patrick William,Shellcot Brent. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Polishing method, polishing apparatus and GaN wafer

Номер патента: US20120001193A1. Автор: YAMAUCHI Kazuto,Sano Yasuhisa,MURATA Junji,YAGI Keita,Sadakuni Shun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SHEET CONVEYING APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001384A1. Автор: Koyanagi Noriaki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SHEET STACKING APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120001385A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

MANUFACTURING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD FOR SPARK PLUGS

Номер патента: US20120001532A1. Автор: Kyuno Jiro,Kure Keisuke. Владелец: NGK SPARK PLUG CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING OPERATION THEREOF

Номер патента: US20120001551A1. Автор: Abe Hirohisa,Hong Cheng. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

MOTOR CONTROL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS AND MOTOR CONTROL METHOD

Номер патента: US20120001579A1. Автор: Mori Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CONTROL APPARATUS AND CONTROL METHOD FOR AC ELECTRIC MOTOR

Номер патента: US20120001581A1. Автор: Maeda Daisuke,Tobari Kazuaki,NOTOHARA Yasuo,SUMITA Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING METHOD OF CONTROLLING IMAGE CONTRAST

Номер патента: US20120001632A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING METHOD

Номер патента: US20120001635A1. Автор: Ookawa Masashi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

GAS SENSOR CONTROL APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120001641A1. Автор: . Владелец: NGK SPARK PLUG CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUSES AND METHODS TO REDUCE POWER CONSUMPTION IN DIGITAL CIRCUITS

Номер патента: US20120001682A1. Автор: VENKATA HARISH N.. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

RECEIVING APPARATUS AND AUTO GAIN CONTROL METHOD

Номер патента: US20120001687A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING RADIATION

Номер патента: US20120001761A1. Автор: Voutilainen Martti,Pasanen Pirjo. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION APPARATUS AND PLANAR ANTENNA THEREOF

Номер патента: US20120001820A1. Автор: . Владелец: ARCADYAN TECHNOLOGY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

MEDICAL IMAGE DISPLAY APPARATUS AND MEDICAL IMAGE MANAGEMENT APPARATUS

Номер патента: US20120001853A1. Автор: TANAKA Sho. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR PROVIDING 3D AUGMENTED REALITY

Номер патента: US20120001901A1. Автор: PARK Sun-Hyung. Владелец: Pantech Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and method for bidirectionally inpainting occlusion area based on predicted volume

Номер патента: US20120001902A1. Автор: Lim Hwa Sup,Lee Kee Chang,Lee Seung Kyu,Kim Do Kyoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

INFORMATION PROCESSING SYSTEM, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND INFORMATION PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120001937A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS, APPARATUSES AND COMPUTER PROGRAM PRODUCTS FOR PROVIDING A CONSTANT LEVEL OF INFORMATION IN AUGMENTED REALITY

Номер патента: US20120001938A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RGBW DISPLAY APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001947A1. Автор: Cheng Sheng-Wen,CHU-KE Hui. Владелец: AU OPTRONICS CORP.. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING APPARATUS AND PRINTING POSITION ADJUSTING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001972A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

MIST COLLECTING APPARATUS, LIQUID EJECTING APPARATUS, AND METHOD OF CONTROLLING MIST COLLECTING APPARATUS

Номер патента: US20120001985A1. Автор: . Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001994A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001997A1. Автор: TAKADA Kazumasa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND VIDEO SIGNAL PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120002009A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

VIDEO PROCESSING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002013A1. Автор: Asanuma Tomoya. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE DISPLAY APPARATUS AND METHOD FOR OPERATING THE SAME

Номер патента: US20120002024A1. Автор: Sung Jaewon,Jeon Byeongmoon,KIM Dongseok,HWANG Junghwan,CHOI Tacksung,YOON Sungyong,LEE HYUNKOOK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

MONITORING CAMERA SYSTEM, VIDEO RECORDING APPARATUS AND VIDEO RECORDING METHOD

Номер патента: US20120002054A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ACTIVELY TRACKING MULTIPLE MOVING OBJECTS USING A MONITORING CAMERA

Номер патента: US20120002056A1. Автор: HONG Sang-Jin,NAM Yun-Young,CHO Shung-Han,KIM Yang-Weon,CHO We-Duke,HWANG Yong-Hyeon. Владелец: Ajou University Industry-Academic Corporation Foundation. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120002065A1. Автор: PARK Wan Je,Seung Jung Ah. Владелец: Samsung Electronics Co., Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PROCESSING APPARATUS, SIGNAL PROCESSING APPARATUS, AND PROGRAM

Номер патента: US20120002074A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND IMAGE FILE MANAGEMENT METHOD

Номер патента: US20120002077A1. Автор: Inagaki Kensuke. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE RECORDING APPARATUS AND IMAGE RECORDING METHOD

Номер патента: US20120002078A1. Автор: NAKAMURA Satoshi,Watanabe Mikio. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEMS, APPARATUS, AND METHODS FOR DIGITAL IMAGE CAPTURE WITH VARIABLE DENSITY DISPLAY AND HIGH RESOLUTION ELECTRONIC ZOOM

Номер патента: US20120002084A1. Автор: . Владелец: TRUE VISION SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE PROCESSING APPARATUS AND IMAGE PROCESSING METHOD

Номер патента: US20120002085A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

OPHTHALMOLOGIC APPARATUS AND OPHTHALMOLOGIC SYSTEM

Номер патента: US20120002166A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT SOURCE APPARATUS AND PROJECTION DISPLAY APPARATUS

Номер патента: US20120002172A1. Автор: . Владелец: SANYO ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Lithographic Apparatus and Method

Номер патента: US20120002182A1. Автор: NIENHUYS Han-Kwang,HUIJBERTS Alexander Marinus Arnoldus,Jonkers Peter Gerardus. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, AND EXPOSURE METHOD

Номер патента: US20120002186A1. Автор: Omura Yasuhiro,Okada Takaya,Nagasaka Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL TOMOGRAPHIC IMAGING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120002214A1. Автор: Utsunomiya Norihiko,Miyata Kazuhide. Владелец: CANON LABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

COORDINATE INPUT APPARATUS, LIGHT RECEIVING APPARATUS OF THE COORDINATE INPUT APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120002217A1. Автор: Kobayashi Katsuyuki,Yoshimura Yuichiro. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE READING APPARATUS, AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002235A1. Автор: Hinaga Keiichi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF ALLOCATING IP ADDRESS OF IMAGE FORMING APPARATUS USING DHCP, IMAGE FORMING APPARATUS AND SYSTEM OF ALLOCATING IP ADDRESS USING DHCP

Номер патента: US20120002240A1. Автор: MIN Ju-won. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE SCANNING APPARATUS AND CONTROL METHOD OF DOCUMENT SIZE DETECTION LIGHT SOURCE

Номер патента: US20120002247A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND LIGHT AMOUNT ADJUSTING METHOD

Номер патента: US20120002253A1. Автор: KOSEKI Naoya,HATANO Mitsuru,UENO Sueo,SHIRAISHI Hiroyuki,HASHIZUME Yusuke,NAGAMOCHI Katsuya,Shimokawa Koji. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLOGRAM RECORDING MEDIUM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, HOLOGRAM REPRODUCTION APPARATUS, AND HOLOGRAM REPRODUCTION METHOD

Номер патента: US20120002257A1. Автор: Shirakura Akira,Baba Shigeyuki,Arai Toshiyuki,Higashihara Teruaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL SCANNING APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120002260A1. Автор: . Владелец: KYOCERA MITA CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL ELEMENT SWITCHING APPARATUS AND MICROSCOPE SYSTEM

Номер патента: US20120002275A1. Автор: Hayashi Kunihiko,Hirono Yu. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

INTEGRATED CROSSFLOW BLOWER MOTOR APPARATUS AND SYSTEM

Номер патента: US20120002368A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

NONVOLATILE MEMORY APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING CONFIGURATION INFORMATION THEREOF

Номер патента: US20120002486A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

NONVOLATILE MEMORY APPARATUS AND METHOD FOR PROCESSING CONFIGURATION INFORMATION THEREOF

Номер патента: US20120002487A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

VARIABLE DELAY CIRCUIT, RECORDING APPARATUS, AND DELAY AMOUNT CALIBRATION METHOD

Номер патента: US20120002528A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING TRANSMISSION POWER OF TERMINAL HAVING HETEROGENEROUS MODEM CHIPS

Номер патента: US20120002559A1. Автор: KIM Pilsang. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR SELECTING AP IN CONSIDERATION OF NETWORK PERFORMANCE

Номер патента: US20120002560A1. Автор: . Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING SAME

Номер патента: US20120002562A1. Автор: Kawade Takahisa. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR TRANSMITTING AND RECEIVING MBS DATA

Номер патента: US20120002582A1. Автор: . Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

INFORMATION DOWNLOADING APPARATUS AND MOBILE TERMINAL

Номер патента: US20120002585A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, BASE STATION APPARATUS, MOBILE STATION APPARATUS, AND COMMUNICATION METHOD

Номер патента: US20120002602A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

MOBILE COMMUNICATION SYSTEM, BASE STATION APPARATUS, USER APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120002613A1. Автор: Kishiyama Yoshihisa,Higuchi Kenichi,Sawahashi Mamoru. Владелец: NTT DOCOMO, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

BASE STATION APPARATUS AND METHOD IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM

Номер патента: US20120002616A1. Автор: Kiyoshima Kohei,Okubo Naoto,Ishii Hiroyuki. Владелец: NTT DOCOMO, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS PACKET TRANSMISSION APPARATUS AND PACKET PRIORITY CONTROL SCHEDULING METHOD

Номер патента: US20120002618A1. Автор: Nakagawa Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION APPARATUS, AND FREQUENCY ALLOCATION METHOD

Номер патента: US20120002633A1. Автор: Higashinaka Masatsugu,Nakajima Akinori. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD, APPARATUS AND SYSTEM FOR ALLOCATING DOWNLINK POWER

Номер патента: US20120002636A1. Автор: XIAO Dengkun,Li Qiang. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

RADIO TRANSMISSION APPARATUS AND RADIO TRANSMISSION METHOD

Номер патента: US20120002645A1. Автор: SUGAYA Shigeru. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

RADIO COMMUNICATION SYSTEM, MOBILE STATION APPARATUS, BASE STATION APPARATUS, AND RADIO COMMUNICATION METHOD IN RADIO COMMUNICATION SYSTEM

Номер патента: US20120002657A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

Telephone Exchange Apparatus and Telephone Terminal and a Control Method Used for a Telephone System

Номер патента: US20120002665A1. Автор: KIMURA Shingo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

STEREO VIDEO CODING APPARATUS AND STEREO VIDEO CODING METHOD

Номер патента: US20120002723A1. Автор: Abe Kiyofumi,Kobayashi Yuki,Maruyama Yuki,ARAKAWA Hiroshi,OHGOSE Hideyuki,URANO Katsuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSMISSION APPARATUS, RADIO COMMUNICATION APPARATUS, AND TRANSMISSION METHOD

Номер патента: US20120002754A1. Автор: Matsuura Toru. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

X-RAY CT APPARATUS AND TOMOGRAPHY METHOD

Номер патента: US20120002782A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Radiographic image capturing apparatus and radiographic image capturing system

Номер патента: US20120002784A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ACOUSTIC CORRECTION APPARATUS, AUDIO OUTPUT APPARATUS, AND ACOUSTIC CORRECTION METHOD

Номер патента: US20120002823A1. Автор: KANISHIMA Yasuhiro,Mukaide Takanobu,Yamamoto Toshifumi. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING DEPTH SIGNAL

Номер патента: US20120002862A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Depth image encoding apparatus and depth image decoding apparatus using loop-filter, method and medium

Номер патента: US20120002863A1. Автор: WEY Ho Cheon,LIM Il Soon,OH Byung Tae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR SHIFT INVARIANT DIFFERENTIAL (SID) IMAGE DATA INTERPOLATION IN FULLY POPULATED SHIFT INVARIANT MATRIX

Номер патента: US20120002874A1. Автор: Dosluoglu Taner. Владелец: YOULIZA, GEHTS B.V. LIMITED LIABILITY COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

Non-transitory computer readable storage medium, marker creating apparatus, restoration apparatus, and marker creating method

Номер патента: US20120002877A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR DECODING DATA FOR PROVIDING BROWSABLE SLIDE SHOW, AND DATA STORAGE MEDIUM THEREFOR

Номер патента: US20120002942A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20120002982A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND DEVELOPING DEVICE

Номер патента: US20120002983A1. Автор: . Владелец: Konica Minolta Business Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120002987A1. Автор: ODANI Makoto. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20120002990A1. Автор: TAKEUCHI Toshifumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE QUALITY CONTROL METHOD

Номер патента: US20120002991A1. Автор: Sakai Tetsuro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTOCONDUCTOR, IMAGE FORMING METHOD, IMAGE FORMING APPARATUS AND PROCESS CARTRIDGE

Номер патента: US20120003007A1. Автор: . Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

PRINTING APPARATUS, CONTROL METHOD OF PRINTING APPARATUS, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120003023A1. Автор: Igarashi Hiroya. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SHEET CONVEYING APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120003024A1. Автор: . Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

UNDERWATER PIPE-LAYING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120003047A1. Автор: Signaroldi Teresio,Giovannini Umberto. Владелец: SAIPEM S.p.A.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ATOMIC LAYER DEPOSITION

Номер патента: US20120003396A1. Автор: . Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurweten schappelijk onderzoek TNO. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR EXPOSING A SUBSTRATE TO UV RADIATION USING A REFLECTOR HAVING BOTH ELLIPTICAL AND PARABOLIC REFLECTIVE SECTIONS

Номер патента: US20120003398A1. Автор: . Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

HOLLOW MEMBER AND AN APPARATUS AND METHOD FOR ITS MANUFACTURE

Номер патента: US20120003496A1. Автор: Tomizawa Atsushi,Kubota Hiroaki. Владелец: Sumitomo Metal Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

STROBO THIN FILM CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS AND ASSAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003659A1. Автор: Yoo Jae Chern. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPORATION APPARATUS AND METHODS

Номер патента: US20120003740A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHODS OF FORMING A CONDUCTIVE TRANSPARENT OXIDE FILM LAYER FOR USE IN A CADMIUM TELLURIDE BASED THIN FILM PHOTOVOLTAIC DEVICE

Номер патента: US20120003772A1. Автор: . Владелец: PRIMESTAR SOLAR, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEAT CONDITIONING HOOD APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120003909A1. Автор: . Владелец: W.E.T. AUTOMOTIVE SYSTEMS AG. Дата публикации: 2012-01-05.

Method, Apparatus, and Terminal for Determining Transmission Mode

Номер патента: US20120003941A1. Автор: . Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method, Apparatus, and Network Device for Power Control

Номер патента: US20120004007A1. Автор: ZHOU Mingyu,Wan Lei,Ren Xiaotao,Zhao Yajun. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, TERMINAL APPARATUS, BASE STATION APPARATUS, AND WIRELESS COMMUNICATION METHOD

Номер патента: US20120004010A1. Автор: AOYAMA Takahisa,Tamura Takashi,Hirano Jun. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and Method for Playing Poker-Style Games Involving a Draw

Номер патента: US20120004022A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR DEVICES FOR IMAGING STRUCTURES IN OR AT ONE OR MORE LUMINAL ORGANS

Номер патента: US20120004506A1. Автор: Tearney Guillermo J.,Bouma Brett E.,Shishkov Milen,SUTER Melissa,Gora Michalina,Yoo Hongki. Владелец: The General Hospital Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SURGICAL ACCESS APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120004510A1. Автор: Brustad John R.,Hilal Nabil,Ewers Richard C.,Pingleton Edward D.,Dulak Gary R.,Adlparvar Payam,Bowes Robert R.. Владелец: APPLIED MEDICAL RESOURCES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and Method for Viewing an Object

Номер патента: US20120004513A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Ultrasonic diagnosis apparatus and ultrasonic diagnosis method

Номер патента: US20120004550A1. Автор: KATSUYAMA Kimito. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Ultrasonic diagnosis apparatus and ultrasonic diagnosis method

Номер патента: US20120004551A1. Автор: KATSUYAMA Kimito. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120004553A1. Автор: Kamiyama Naohisa,KANAYAMA Yuko. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Generating a Trigger Signal by an EKG Signal as Well as an EKG Measuring Apparatus and a Magnetic Resonance Device

Номер патента: US20120004569A1. Автор: Frank Michael,Rößler Jürgen. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR STIMULATION OF BIOLOGICAL TISSUE

Номер патента: US20120004580A1. Автор: Wagner Timothy Andrew,Eden Uri Tzvi. Владелец: HIGHLAND INSTRUMENTS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and process for producing CO2 enriched medical foam

Номер патента: US20120004598A1. Автор: Levy Frank. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

WOUND DRESSING APPARATUS AND METHOD OF USE

Номер патента: US20120004628A1. Автор: . Владелец: Smith & Nephew PLC. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHODS FOR DELIVERING A STENT INTO AN OSTIUM

Номер патента: US20120004717A1. Автор: KROLIK Jeff,Khosravi Fred,Sanati Arashmidos,Kim Elliot. Владелец: INCEPT LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR OPTIMIZING MAINTENANCE AND OTHER OPERATIONS OF FIELD DEVICES IN A PROCESS CONTROL SYSTEM USING USER-DEFINED DEVICE CONFIGURATIONS

Номер патента: US20120004743A1. Автор: . Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEEDING APPARATUS AND METHOD OF DETERMINING A SEED SPACING VARIABILITY VALUE

Номер патента: US20120004768A1. Автор: Walter Jason D.,Peterson James R.,Schweitzer John M.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ROBOT APPARATUS AND GRIPPING METHOD FOR USE IN ROBOT APPARATUS

Номер патента: US20120004774A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA YASKAWA DENKI. Дата публикации: 2012-01-05.

ROBOT APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREFOR

Номер патента: US20120004775A1. Автор: . Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ENERGY MANAGEMENT

Номер патента: US20120004784A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ENERGY CONTROL APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120004785A1. Автор: OH Jung Hwan,Park Jae Seong,SON Dong Min. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ENERGY MANAGEMENT OF ELECTRIC DEVICES

Номер патента: US20120004872A1. Автор: OH Jung Hwan,Park Jae Seong,SON Dong Min. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHOD FOR ESTIMATING WALKING STATUS FOR STEP LENGTH ESTIMATION USING PORTABLE TERMINAL

Номер патента: US20120004881A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Movable massaging apparatus and method for giving massage with use thereof

Номер патента: RU2551939C1. Автор: Сергей Николаевич Саяпин,Мария Сергеевна Саяпина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт машиноведения им. А.А. Благонравова Российской академии наук (ИМАШ РАН). Дата публикации: 2015-06-10.

Apparatus and method for aseptic processing of perishable product without using preservatives

Номер патента: RU2276499C2. Автор: Алехандро МЕНДЕС. Владелец: Алехандро МЕНДЕС. Дата публикации: 2006-05-20.

Pneumatic percussion apparatus and method for controlling air distribution in such apparatus

Номер патента: RU2253562C1. Автор: В.А. Григоращенко,С.К. Тупицын,С.Ю. Фетисов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Сибирская проектно-инжиниринговая компания". Дата публикации: 2005-06-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.