• Главная
  • Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Defect inspection device, defect inspection method, and adjustment substrate

Номер патента: US20240133824A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09778206B2. Автор: Toshifumi Honda,Hidetoshi Nishiyama,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Defect inspection method and device therefor

Номер патента: US8711347B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshiyuki Nakao,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-29.

Method and apparatus for the inspection of defects

Номер патента: US5293538A. Автор: Hisafumi Iwata,Hitoshi Kubota,Yukio Matsuyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-03-08.

CERAMIC BODY DEFECT INSPECTING APPARATUS AND CERAMIC BODY DEFECT INSPECTING METHOD

Номер патента: US20210018446A1. Автор: TERAHAI Takafumi,Mizutani Akihiro. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2021-01-21.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20240027361A1. Автор: Kazuhide Sato,Masami Makuuchi,Yukihisa Mohara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Ceramic body defect inspecting apparatus and ceramic body defect inspecting method

Номер патента: US20210018446A1. Автор: Akihiro Mizutani,Takafumi TERAHAI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Ceramic body defect inspecting apparatus and ceramic body defect inspecting method

Номер патента: US11243171B2. Автор: Akihiro Mizutani,Takafumi TERAHAI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2022-02-08.

INSPECTION DEVICE OF DISPLAY DEVICE AND INSPECTION METHOD OF DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20160187262A1. Автор: RYU CHANGHYUN,Kim Wal Jun,RYU JoongYoung,BAECK Seung-Young,LIM Deok joo. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-30.

Wafer surface defect inspection method and apparatus thereof

Номер патента: US12044631B2. Автор: Chia-Chi Tsai,I-Ching Li,Shang-Chi WANG,Miao-Pei Chen,Han-Zong Wu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Defect inspection device and inspection method, and optical module

Номер патента: US12025569B2. Автор: Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Defect inspection device

Номер патента: US20240280483A1. Автор: Toshifumi Honda,Kenshiro Ohtsubo,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Defect inspection method and its device

Номер патента: US09976966B2. Автор: Yukihiro Shibata,Sachio Uto,Toshifumi Honda,Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09645094B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Defect inspection method and its device

Номер патента: US09513228B2. Автор: Yukihiro Shibata,Sachio Uto,Toshifumi Honda,Kei Shimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20240272089A1. Автор: Minsu Kim,Jeongho Ahn,Seungryeol Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-15.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20160216217A1. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-07-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9568439B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US9329136B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Akira Hamamatsu,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Wafer defect inspection apparatus

Номер патента: US20240175826A1. Автор: Ching-Liang Lin,Yi-Chia Hwang. Владелец: PlayNitride Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Mask defect inspection apparatus

Номер патента: US20050213083A1. Автор: Toshiyuki Watanabe,Akihiko Sekine,Shinji Sugihara,Ikunao Isomura,Riki Ogawa. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2005-09-29.

Welded portion inspection device and welded portion inspection method

Номер патента: US20240077427A1. Автор: Satoshi Fukui,Tomokatsu Nishiyama. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

CYLINDRICAL BODY SURFACE INSPECTION DEVICE AND CYLINDRICAL BODY SURFACE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200116648A1. Автор: Sugihara Hiroki. Владелец: Toray Industries, Inc.. Дата публикации: 2020-04-16.

Cylindrical body surface inspection device and cylindrical body surface inspection method

Номер патента: US10955354B2. Автор: Hiroki Sugihara. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2021-03-23.

Cylindrical Body Surface Inspection Device and Cylindrical Body Surface Inspection Method

Номер патента: MY195515A. Автор: Sugihara Hiroki. Владелец: Toray Industries. Дата публикации: 2023-01-29.

Defect inspecting method and defect inspecting apparatus

Номер патента: US09841384B2. Автор: Toshiyuki Nakao,Shigenobu Maruyama,Yuta Urano,Akira Hamamatsu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Defect inspection method, low light detecting method and low light detector

Номер патента: US09588054B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240337603A1. Автор: Yoshito Ozaki,Shota FUJIKI. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Defect inspection device and method for inspecting defect

Номер патента: US20240060904A1. Автор: Dae Hong Kim,Jeong Moon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11788973B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Mark inspection device, mark inspection method and article inspection device

Номер патента: EP3832539A1. Автор: Shun NAITO. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-09.

Surface inspection device, surface inspection method, and program

Номер патента: US09885668B2. Автор: Wataru Yamaguchi,Yoshihisa Abe,Takafumi Komatsu,Yosuke Takebe. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US12039716B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Defect inspection method

Номер патента: US20240265524A1. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Defect inspection method and apparatus therefor

Номер патента: US09897555B2. Автор: Junichi Matsumoto. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Defect inspection system and semiconductor fabrication apparatus including a defect inspection apparatus using the same

Номер патента: US12073556B2. Автор: Jeong Ok PARK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20220301136A1. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Defect inspection method

Номер патента: US11995817B2. Автор: Ryoichi Hirano. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US20190285980A1. Автор: Ryoji Yoshikawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20210080399A1. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Defect inspection system using 3d measuring machine

Номер патента: US20230358687A1. Автор: Young Han LIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-09.

Print inspection device, print inspection method, and program

Номер патента: EP4148664A1. Автор: Hideki Ota,Masaki Nagase,Kunimitsu Toyoshima,Shenglan Li,Kazumi Banno. Владелец: TOHOSHOJI KK. Дата публикации: 2023-03-15.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US12086976B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Defect inspection system for specimen and defect inspection method for specimen

Номер патента: US20200151862A1. Автор: Seong-Keun HA. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Inspection device, PTP packaging machine and inspection method

Номер патента: US11981469B2. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-05-14.

INSPECTION DEVICE, PTP PACKAGING MACHINE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200369422A1. Автор: Taguchi Yukihiro. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2020-11-26.

Template defect inspection method

Номер патента: US09927376B2. Автор: Seiji Morita,Ryosuke Yamamoto,Shinobu Sugimura,Tomoaki Sawabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Defect Inspection Method

Номер патента: US20110128534A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Yuta Urano. Дата публикации: 2011-06-02.

Defect inspection method and apparatus

Номер патента: US8115915B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-02-14.

Defect Inspection Method

Номер патента: US20120133926A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-05-31.

Inspection device for display device and inspecting method thereof

Номер патента: KR100994305B1. Автор: 장원규,이건희,김문준,전승화. Владелец: 엘지디스플레이 주식회사. Дата публикации: 2010-11-12.

Method and inspection device for optically inspecting a surface

Номер патента: CA3179520A1. Автор: Koichi Harada,Stefan Leute. Владелец: Isra Vision GmbH. Дата публикации: 2021-10-14.

Inspection device for photoelectric defect inspection apparatus

Номер патента: JPS5249879A. Автор: Kenji Ogino,Katsuumi Koyanagi. Владелец: Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 1977-04-21.

Defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection computer program product

Номер патента: US20240020821A1. Автор: Akira Moriya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Reticle defect inspection device and reticle defect inspection method

Номер патента: JP2009300426A. Автор: Toshiyuki Watanabe,英雄 土屋,利之 渡辺,Hideo Tsuchiya. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-12-24.

Defect inspection system having human-machine interaction function

Номер патента: US20230117656A1. Автор: Feng-Tso Sun,Yi-Ting Yeh,Feng-Yu Sun,Jyun-Tang Huang,Po-Han Chou. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection device, ptp packaging machine, and inspection method

Номер патента: EP3779413B1. Автор: Yukihiro Taguchi. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2023-11-15.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Apparatus

Номер патента: US20100271627A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Kenji Aiko,Minori Noguchi,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-28.

Surface defect inspection method and apparatus

Номер патента: US7710557B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Shigeru Matsui. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-05-04.

Inspection device, packaging machine, and package inspection method

Номер патента: US11933742B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takamasa Ohtani. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US09606071B2. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Defect inspection method and device using same

Номер патента: US20160011123A1. Автор: Yukihiro Shibata,Hideki Fukushima,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US12044627B2. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Masami Makuuchi,Nobuhiro Obara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Inspection method, method for producing composition, and method for verifying composition

Номер патента: US20230266675A1. Автор: Takashi Nakamura,Shinichi Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US12078599B2. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Defect inspection device and defect inspection method

Номер патента: US09523648B2. Автор: Yukihiro Shibata,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Inspection apparatus, inspection method, and manufacturing method of pattern substrate

Номер патента: US20080192238A1. Автор: Haruhiko Kusunose,Tomoya Tamura. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Method and Its Apparatus For Inspecting Defects

Номер патента: US20110080578A1. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-07.

Method and its apparatus for inspecting defects

Номер патента: US7965386B2. Автор: Yoshimasa Oshima,Toshiyuki Nakao,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-21.

Defect inspection device

Номер патента: US20220092765A1. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Cognex Ireland Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Defect inspection device, display device, and defect classification device

Номер патента: US09964500B2. Автор: Mamoru Kobayashi,Hisashi Hatano,Koichi Nagoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Surface-defect inspection device

Номер патента: US20120147363A1. Автор: Katsuya Suzuki,Takahiro Jingu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Defect analyzing method and defect analyzing apparatus

Номер патента: US8965551B2. Автор: Yoshiyuki Shioyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-02-24.

Defect analyzing method and defect analyzing apparatus

Номер патента: US20120046778A1. Автор: Yoshiyuki Shioyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-02-23.

Defect inspection device

Номер патента: US09683947B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Masatoshi Hirono,Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Substrate inspection method, computer storage medium and substrate inspection apparatus

Номер патента: US20180156739A1. Автор: Makoto Hayakawa,Takuya Mori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Linear defect inspection device

Номер патента: US20230252619A1. Автор: Jae Hyun Park,Myoung Gon YANG,Kyung Do LEE,Young Woo KO. Владелец: Coss Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Methods and systems for selecting recipe for defect inspection

Номер патента: WO2017136215A1. Автор: Robert Danen,Alfonso Sun,Thomas BOATWRIGHT. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-10.

Defect inspecting device, defect inspecting method, and storage medium

Номер патента: US11830174B2. Автор: Masashi Kurita,Yasuyuki Ikeda. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Defect inspection method, defect inspection system, and computer readable storage medium

Номер патента: US8139107B2. Автор: Hiroshi Tomita,Makoto Hayakawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-03-20.

Defect inspection apparatus and defect inspection program

Номер патента: US12112963B2. Автор: Nobuaki Hirose,Takashi Hiroi,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Defect inspecting apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20060087649A1. Автор: Toru Tojo,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-27.

Defect inspection method and defect inspection system

Номер патента: US20090180109A1. Автор: Tomohiro Funakoshi,Shigeaki Hijikata,Masami Ikota. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-07-16.

Method and apparatus for inspecting defects

Номер патента: US09678021B2. Автор: Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Die division method and inspection apparatus for avoiding defects locations on silicon carbide wafers

Номер патента: US20220199470A1. Автор: Min Park,Jongho YOON. Владелец: Etamax Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Inspection apparatus and inspection method

Номер патента: US20090262339A1. Автор: Shuichi Chikamatsu,Takahiko Suzuki,Seiji Otani,Tadashi Suga,Masayuki Ochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-22.

Appearance inspection device and defect inspection method

Номер патента: US11936985B2. Автор: Shingo Hayashi,Daisuke Konishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection method based on edge field and deep learning

Номер патента: US20210318252A1. Автор: Jongkwan Park,Hunmin CHO,Jonggyu Im. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2021-10-14.

Defect inspection method for sensor package structure

Номер патента: US20210150689A1. Автор: Han-Hsing Chen,Yi-Cheng Juan. Владелец: Kingpak Technology Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

Defect inspection method for sensor package structure

Номер патента: US11094056B2. Автор: Han-Hsing Chen,Yi-Cheng Juan. Владелец: Kingpak Technology Inc. Дата публикации: 2021-08-17.

Device and method for defect inspection based on explainable artificial intelligence

Номер патента: US20220300805A1. Автор: Tae Hyun Kim,Jung Kyu Kim. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-22.

Defect Inspection Device

Номер патента: US20190079025A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11815493B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-14.

Method and System for High Speed Height Control of a Substrate Surface Within a Wafer Inspection System

Номер патента: US20150055141A1. Автор: Zhongping Cai,Jingyi Xiong. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

Methods of defect inspection for photomasks

Номер патента: US09739723B1. Автор: Goo Min Jeong,Mun Sik Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Defect inspection device

Номер патента: US20220084176A1. Автор: Hironobu Tamura. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240054633A1. Автор: Shinji Sugihara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

Defect inspection system

Номер патента: CA1126855A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-29.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20230401688A1. Автор: Takashi Tanaka,Hiroshi Horikawa,Satoru Sugimoto,Masashi Hayakawa,Hirofumi Okamoto,Takahide Hatahori,Naoto Mishina. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Defect inspection system

Номер патента: CA1158743A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1983-12-13.

Defect inspection method, defect inspection system, and computer readable storage medium

Номер патента: US20070182814A1. Автор: Hiroshi Tomita,Makoto Hayakawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2007-08-09.

Defect inspection device

Номер патента: US11790512B2. Автор: Kiyoung Song,Hunmin CHO. Владелец: Sualab Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-17.

Cascade defect inspection

Номер патента: US11861818B2. Автор: Wei Fang,Zhichao Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-02.

Methods of defect inspection for photomasks

Номер патента: US20170241917A1. Автор: Goo Min Jeong,Mun Sik Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Method for defect inspection

Номер патента: US11953448B2. Автор: Cheng-Ming Lin,Hao-Ming Chang,Sheng-Chang Hsu,Tsun-Cheng Tang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Multi-spectral defect inspection for 3d wafers

Номер патента: WO2014081899A1. Автор: Steven Lange. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-30.

Multi-Spectral Defect Inspection for 3D Wafers

Номер патента: US20140139822A1. Автор: Steven R. Lange. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2014-05-22.

Method and apparatus for recording of images and study of surfaces

Номер патента: EP2013570A1. Автор: Torbjörn Sandström. Владелец: Micronic Laser Systems AB. Дата публикации: 2009-01-14.

Welding portion inspection device and inspection method therefor

Номер патента: RU2663672C2. Автор: Хирооми КОБАЯСИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2018-08-08.

Methods and systems for nondestructive testing with accurate position

Номер патента: US09857311B2. Автор: Robert W. VIREN. Владелец: GE HITACHI NUCLEAR ENERGY AMERICAS LLC. Дата публикации: 2018-01-02.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240233106A9. Автор: Byungkyu Son. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Surface inspection method and surface inspection device for display panel

Номер патента: US20240135521A1. Автор: Byungkyu Son. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2024-04-25.

Defect inspecting apparatus and defect inspecting method

Номер патента: US20130208270A1. Автор: Hideki Fukushima,Nobuaki Hirose. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

INSPECTION DEVICE FOR SHEET OBJECT, AND INSPECTION METHOD FOR SHEET OBJECT

Номер патента: US20190033229A1. Автор: IKEDA Keita,Sugihara Hiroki,Nakata Kazuki. Владелец: Toray Industries, Inc.. Дата публикации: 2019-01-31.

INSPECTION DEVICE, PTP PACKAGING MACHINE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200400557A1. Автор: Taguchi Yukihiro. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2020-12-24.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09865046B2. Автор: Toshifumi Honda,Takahiro Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Defect inspection apparatus for phase shift mask

Номер патента: US20020036772A1. Автор: Yasuhiro Koizumi,Shigeru Noguchi,Katsuhide Tsuchiya,Shiaki Murai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2002-03-28.

Pattern inspection method and apparatus

Номер патента: US20110262027A1. Автор: Akiharu Miyanaga,Tatsuji Nishijima,Teppei Oguni. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-27.

Defect Inspection Method and Defect Inspection Device

Номер патента: US20200292466A1. Автор: Masaki Hasegawa,Tomohiko Ogata,Hisaya Murakoshi,Noriyuki Kaneoka,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20080063258A1. Автор: Toshifumi Kimba. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2008-03-13.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060098863A1. Автор: SHINJI Ueyama,Akio Ishikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-05-11.

Method and Apparatus for Inspecting Defects on Mask

Номер патента: US20080186497A1. Автор: Yong Kyoo Choi,Sung Hyun Oh,Byung Sup Cho. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2008-08-07.

Defect inspecting method and defect inspecting apparatus

Номер патента: US8040504B2. Автор: Teruyuki Hayashi,Kaoru Fujiwara,Misako Saito. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-10-18.

Defect inspection system

Номер патента: CA1126856A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-29.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20010025924A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-10-04.

Ultraviolet laser-generating device and defect inspection apparatus and method therefor

Номер патента: US20040240493A1. Автор: Minoru Yoshida,Shunji Maeda,Sachio Uto,Toshihiko Nakata. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-02.

Defect inspecting apparatus

Номер патента: US20060082782A1. Автор: Toru Tojo,Munehiro Ogasawara,Riki Ogawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-20.

Signal process method and apparatus for defect inspection

Номер патента: US5796475A. Автор: Toyoki Kanzaki,Dainichiro Kinoshita. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1998-08-18.

Method and apparatus for training a convolutional neural network to detect defects

Номер патента: US20210334587A1. Автор: Tingting Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Method and apparatus for training a convolutional neural network to detect defects

Номер патента: EP3847444A1. Автор: Tingting Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-14.

Surface inspection device and shape measurement software

Номер патента: US20240159520A1. Автор: Toshifumi Honda,Takeru Utsugi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Method and apparatus for aligning and inspecting electronic components

Номер патента: SG10201804792XA. Автор: Chi Wah Cheng,Kai Fung Lau,Hoi Shuen TANG. Владелец: Asm Tech Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2019-01-30.

Pattern defect inspection device and pattern defect inspection method

Номер патента: US20240193755A1. Автор: Noyoung CHUNG,Jungkee CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Defect inspection device, defect inspection method and program, printing device, and printed matter production method

Номер патента: EP4169721A1. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-26.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20240230601A1. Автор: Hiroshi Horikawa,Takahide Hatahori,Kenji Takubo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US20110058160A1. Автор: Xiaodi Tan. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-03-10.

Wrapping paper defect inspection apparatus for a cigarette manufacturing machine

Номер патента: US6130438A. Автор: Hiroyuki Torai. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2000-10-10.

Defect inspection apparatus for bottles made of transparent material

Номер патента: CA1252539A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1989-04-11.

Optically scanning apparatus and defect inspection system

Номер патента: US20020162979A1. Автор: Haruhiko Kusunose. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2002-11-07.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US09797955B2. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Insulation inspection device for motors and insulation inspection method for motors

Номер патента: US20150247901A1. Автор: Hiroki Shiota,Shinichi Okada,Hirotaka Muto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Inspection device, inkjet printing device, and inspection method

Номер патента: EP3753743A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-23.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US11913838B2. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection device, inkjet printing apparatus, and inspection method

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Yoshikazu Ichioka. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Inspection device for display apparatus and inspection method for display apparatus

Номер патента: US20240094246A1. Автор: Daewon Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Weld inspection device, welding system, and weld inspection method

Номер патента: US20230330784A1. Автор: Satoru Asai,Keiji Kadota,Tetsuo Era,Kazufumi Nomura. Владелец: Daihen Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Specimen inspection device and processing power information generation device, method and control system

Номер патента: CN102313800A. Автор: 黒野浩司,山登隆司,中塚恆. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2012-01-11.

INSPECTION DEVICE, PACKAGING MACHINE, AND PACKAGE INSPECTION METHOD

Номер патента: US20220050066A1. Автор: Ohyama Tsuyoshi,Ohtani Takamasa,Sakaida Norihiko. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2022-02-17.

Pipe ultrasonic wave inspection device and pipe ultrasonic wave inspection method

Номер патента: WO2012124731A1. Автор: 雅史 小畠. Владелец: 株式会社アイ・ディー・シー. Дата публикации: 2012-09-20.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: CA2647004A1. Автор: Hiroaki Hatanaka,Minoru Tagami,Nobukazu Ido. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-10-04.

Defect inspection device of steel plate

Номер патента: US09417212B2. Автор: Ju-Seung Lee,Se-Ho Choi,Sang-Woo Choi,Jong-Pil Yun,Shin-Hwan Kang,Ki-Jang Oh. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Semiconductor defect inspection apparatus and semiconductor defect inspection method

Номер патента: US20200271600A1. Автор: Kiminori Yoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Defect inspection device and inspecting method thereof

Номер патента: US20060226356A1. Автор: Henry Huang,YongSeng Tan. Владелец: UMCI Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Defect inspection device

Номер патента: US20070257695A1. Автор: Henry Huang,Yong Seng Tan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2007-11-08.

Method and system for fast inspecting defects

Номер патента: US09541824B1. Автор: Wei Fang,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Method and system for fast inspecting defects

Номер патента: US09494856B1. Автор: Wei Fang,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Defect inspection method

Номер патента: US20170102285A1. Автор: Akira Tanaka,Mayumi Naito,Satoru Yasui,Masaya Hirashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-13.

Wafer defect inspection apparatus and method for inspecting a wafer defect

Номер патента: US09786045B2. Автор: Masashi Hayashi. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Inspection method, program, inspection device, and printing device

Номер патента: US11776107B2. Автор: Masaki Seki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US11890581B2. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Welding failure inspection method

Номер патента: US12025578B2. Автор: Seok jin Kim,Jung Hoon Lee,Ji Hoon Lee,Su Taek Jung,Sang Hyun KOO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US11790513B2. Автор: Takahide Hatahori,Kenji Takubo,Koki Yoshida. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Defect inspection apparatus

Номер патента: US20230402249A1. Автор: Yasuhiro Yoshida,Hiroyuki Shindo,Masayoshi Ishikawa,Kosuke FUKUDA,Toshinori Yamauchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Defect inspection method

Номер патента: US9658128B2. Автор: Akira Tanaka,Mayumi Naito,Satoru Yasui,Masaya Hirashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Defect inspection device

Номер патента: US20240096667A1. Автор: Masaya Yamamoto,Shunichi Matsumoto,Toshifumi Honda,Yuta Urano,Eiji Arima,Hiromichi YAMAKAWA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Defect inspection apparatus, program, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20050230618A1. Автор: Atsushi Onishi,Yuichiro Yamazaki,Ichirota Nagahama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-20.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US20160329578A1. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-11-10.

System for inspecting quality of membrane-electrode assembly of fuel cell and quality inspection method thereof

Номер патента: US09742013B2. Автор: Sun Ho Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Inspection device, learned model generation method, and inspection method

Номер патента: US20230252621A1. Автор: Takeshi Yamazaki,Koetsu Tsunoda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Tire inspection method and device therefor

Номер патента: US09953409B2. Автор: Hirotaro Tada. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Autonomous metal-plate inspection apparatus, inspection method, and method for manufacturing metal plate

Номер патента: US12050453B2. Автор: Yuji Ohara,Fumihiko Takahama. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

X-ray inspection device and X-ray inspection method

Номер патента: US8422630B2. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2013-04-16.

Unnevenness level inspecting device, unevenness level inspecting method, and program

Номер патента: EP4159379A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Inspection method and device

Номер патента: US09841387B2. Автор: Hao-Kai CHOU,Chia-Ho YEN,Meng-Kun Lee,Liang-Pin Yu,Chun-Ti Chen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Inspection method and inspecting device

Номер патента: US20240272125A1. Автор: Hiroki Katayama,Akihiro Nara. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

X-ray inspection device, inspection method, and X-ray detector

Номер патента: US09506876B2. Автор: Yasuko Aoki,Toshifumi Honda,Yuta Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Method and device for balancing CT gantry

Номер патента: US09664587B2. Автор: Shanshan Lou,Junfang MA. Владелец: Neusoft Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Inspection system, control device, control method and recording medium

Номер патента: CA3022518C. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-20.

Method and means for tracking corrosion-related plant operation costs

Номер патента: WO2009155470A2. Автор: Russell D. Kane,Yohki Kajiyama. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2009-12-23.

Systems, methods and apparatus for in-service tank inspections

Номер патента: US12066403B2. Автор: Jerome Vaganay,Eric Levitt,William O'Halloran. Владелец: Square Robot Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Ultrasonic inspection method, ultrasonic test method and ultrasonic inspection apparatus

Номер патента: US09423380B2. Автор: Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Electron beam inspection equipment and inspection method

Номер патента: EP4403909A1. Автор: Yang Wang,Jie Zeng,Xiaoshan Shi,Guizhen Xin,Yanzhong HAO,Qitao LIU,Taotao GUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and device for manufacturing plated wire

Номер патента: EP3678143A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Sumitomo Electric Toyama Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-08.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US11916199B2. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection device for circuit board and inspection method for circuit board

Номер патента: TW200604548A. Автор: Satoshi Suzuki,Kiyoshi Kimura,Sugiro Shimoda. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-02-01.

Charging and discharging inspection device and charging and discharging inspection method for thin secondary battery

Номер патента: US09847559B2. Автор: Yoshikazu Niwa. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US20240162502A1. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

BATTERY CELL LEAK INSPECTION DEVICE AND BATTERY CELL LEAK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210020997A1. Автор: KIM Youngmin,Lee Seungjae,KANG Sukkeun,YOO Kyeongseon. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

INSPECTION DEVICE, INKJET PRINTING APPARATUS, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20210033463A1. Автор: Ichioka Yoshikazu. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

CHARGING AND DISCHARGING INSPECTION DEVICE AND CHARGING AND DISCHARGING INSPECTION METHOD FOR THIN SECONDARY BATTERY

Номер патента: US20160079635A1. Автор: Niwa Yoshikazu. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

INSPECTION DEVICE FOR DISPLACEMENT SENSOR AND INSPECTION METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20170261389A1. Автор: Yamada Ryota. Владелец: KYB Corporation. Дата публикации: 2017-09-14.

PROBE CARD WITH TEMPERATURE CONTROL FUNCTION, INSPECTION DEVICE USING THE SAME, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20170363680A1. Автор: SAITO Yuki,Fukami Yoshiyuki,KIYOFUJI Hidehiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-21.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: WO2019177288A1. Автор: 김영민,이승재,강석근,류경선. Владелец: 삼성에스디아이주식회사. Дата публикации: 2019-09-19.

Charging and discharging inspection device and charging and discharging inspection method for thin secondary battery

Номер патента: CN105190986A. Автор: 丹羽良和. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-23.

Narrow-side substrate inspection device and narrow-side substrate inspection method

Номер патента: CN110095708B. Автор: 李俊华,何幼峰. Владелец: Nidec Read Machine Apparatus Zhejiang Co ltd. Дата публикации: 2020-05-01.

Inspection device for displacement sensor and inspection method of the same

Номер патента: CA2961534A1. Автор: Ryota Yamada. Владелец: KYB Corp. Дата публикации: 2016-03-24.

Probe card, inspection device using the same, and inspection method

Номер патента: TW201804548A. Автор: 深見美行,清藤英博,齊藤祐貴. Владелец: 日本麥克隆尼股份有限公司. Дата публикации: 2018-02-01.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: EP3895790A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US20220023802A1. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2022-01-27.

Reticle defect inspection method and system

Номер патента: US11988575B2. Автор: Lihua HOU,Wen-Hao Hsu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-05-21.

Membrane defect inspection method and membrane defect inspection device

Номер патента: US11986773B2. Автор: FANG Zhao,Akira Matsunaga,Shintaro Nishimoto,Tetsuya Uenaka,Keishi WATANABE. Владелец: Kubota Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Method and device of inspecting three-dimensional shape defect

Номер патента: US6072899A. Автор: Hideaki Doi,Mineo Nomoto,Hiroya Koshishiba,Yoko Irie. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2000-06-06.

System and method for calibrating electron beam defect inspection tool

Номер патента: US6589860B1. Автор: Boon Yong Ang,Kenneth Roy Harris,Samantha Lee. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-07-08.

Defect inspecting apparatus

Номер патента: US20060087330A1. Автор: Tsutomu Saito,Osamu Yamada,Eiichi Hazaki,Yasuhiko Nara,Yoshikazu Inada,Hirofumi Sato,Yoshinori Numata. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-04-27.

Capacitive load driving unit and method and apparatus for inspecting the same

Номер патента: US6462433B1. Автор: Jun Takamura,Noboru Nitta,Shunichi Ono. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2002-10-08.

Method and device for measuring wheel alignment of car

Номер патента: EP1512941A4. Автор: Katsuhiro Yamaguchi,Kiyonobu Hara. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-06-03.

Threaded shaft measuring device, threaded shaft measuring method, and adjustment jig

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Yoshiyuki Omori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Semiconductor device inspection method and semiconductor device inspection device

Номер патента: US20230184825A1. Автор: Tomonori Nakamura,Akira Shimase,Norimichi Chinone. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-06-15.

Aerial vehicle heading control method and apparatus and electronic device

Номер патента: US11221635B2. Автор: Yinhua FENG. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-11.

Method and apparatus for adjusting optical centre

Номер патента: US20150036036A1. Автор: Yuan Gao,Shuo Zhang,Shibo Li. Владелец: Xiaomi Inc. Дата публикации: 2015-02-05.

Method and apparatus for adjusting transmission power of terminal as well as the terminal

Номер патента: US09655056B2. Автор: Tao Zhong,Zhiqiang Hou,Yanbo Hao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Method and apparatus for adjusting optical centre

Номер патента: US09549117B2. Автор: Yuan Gao,Shuo Zhang,Shibo Li. Владелец: Xiaomi Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Method and device for adjusting parameters of LiDAR, and LiDAR

Номер патента: US11768293B2. Автор: Xiangguang CHEN. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Method and device for adjusting parameters of LiDAR, and LiDAR

Номер патента: US12055635B2. Автор: Xiangguang CHEN. Владелец: Suteng Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Method and device for monitoring of a heap of material

Номер патента: EP4296967A1. Автор: Thomas Winzell,Jesper Bengtsson,Ann-Sofie Rase,Tuong Lam. Владелец: AXIS AB. Дата публикации: 2023-12-27.

Method and system for adjusting a reference section of an oct system

Номер патента: US20240271923A1. Автор: Martin Stambke,Stefan Braun,Jan-Patrick Hermani. Владелец: Trumpf Laser Gmbh. Дата публикации: 2024-08-15.

Product inspection device, product inspection method, and computer program

Номер патента: US09870343B2. Автор: Teruhisa Tsuru. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US20150168267A1. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2015-06-18.

Image brightness adjusting method, object tracking method and object tracking apparatus

Номер патента: US09799107B2. Автор: Yu-Chia Lin,Yu-Hsiang Huang,Chih-Hsin Lin. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Tire shape inspection method and tire shape inspection device

Номер патента: US09638606B2. Автор: Eiji Takahashi,Toshiyuki Tsuji,Masato Kannaka. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Method and system for adjusting electric field intensity

Номер патента: US09494630B2. Автор: QI Li,Guang Yang. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Method and system for a roboust color matching and adjustment process of effect colors

Номер патента: AU2020324520A1. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2022-02-24.

Method and system for a roboust color matching and adjustment process of effect colors

Номер патента: EP4010670A1. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2022-06-15.

Method and system for a roboust color matching and adjustment process of effect colors

Номер патента: WO2021023683A1. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2021-02-11.

Beam Alignment Method and Related Device

Номер патента: US20240230816A1. Автор: Bao Zhang,Shipeng WANG,Xihe You. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Dynamic sampling method and device for analog sensor

Номер патента: EP4332515A1. Автор: Hongyong YU. Владелец: Shenzhen Guli Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Method and system for a roboust color matching and adjustment process of effect colors

Номер патента: AU2020324520B2. Автор: Guido Bischoff. Владелец: BASF COATINGS GMBH. Дата публикации: 2023-07-13.

Method and apparatus for analyzing subsurfaces of a target material

Номер патента: US20130342826A1. Автор: Ervin Goldfain,Raymond A. Lia. Владелец: Welch Allyn Inc. Дата публикации: 2013-12-26.

Method and appartatus for design placement for earthmoving applications

Номер патента: US20030069679A1. Автор: Craig Koehrsen,Claude Keefer. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2003-04-10.

Method and system for adjusting brightness

Номер патента: US09404793B2. Автор: Jer-Nan Juang,Chao-Yang Lee,Chu-Sing Yang. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2016-08-02.

Method and system for drawing brain functional atlas

Номер патента: US20220414979A1. Автор: Haiyang Li,Coach Kecheng WEI,Qingyu HU. Владелец: Beijing Neural Galaxy Technologies Ltd. Дата публикации: 2022-12-29.

Method and system for drawing brain functional atlas

Номер патента: US12079930B2. Автор: Haiyang Li,Coach Kecheng WEI,Qingyu HU. Владелец: Beijing Galaxy Circumference Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Method and apparatus for modeling time relationships between clocks

Номер патента: US09810766B2. Автор: Robert W. Boyd. Владелец: ZIH Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Method and system for selecting parameters of a seismic source array

Номер патента: WO2009077762A8. Автор: Julian Edward Kragh,Jon-Fredrik Hopperstad,Robert Montgomery Laws. Владелец: Geco Technology B.V.. Дата публикации: 2009-08-27.

Systems, methods, and apparatus for living object protection in wireless power transfer applications

Номер патента: US09983300B2. Автор: Lukas Sieber,Swagat CHOPRA. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Method and system for selecting parameters of a seismic source array

Номер патента: US09645265B2. Автор: Julian Edward Kragh,Jon-Fredrik Hopperstad,Robert Montgomery Laws. Владелец: WESTERNGECO LLC. Дата публикации: 2017-05-09.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09541380B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Inspection device and inspection method

Номер патента: US20120092038A1. Автор: Shuichiro Fujimoto. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Method and device for controlling variable-light transmittance glass

Номер патента: EP4375099A1. Автор: Yi Wang,Minghui Zheng,Peizhi WANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Pellet defect inspection system using multi color tone control and method for controlling the same

Номер патента: US12121935B2. Автор: Hyun Tae Kim,Worl Yong Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Pellet Defect Inspection System Using Multi Color Tone Control And Method For Controlling The Same

Номер патента: US20240017295A1. Автор: Hyun Tae Kim,Worl Yong Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

DEFECT INSPECTION SYSTEM FOR SPECIMEN AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR SPECIMEN

Номер патента: US20200151862A1. Автор: HA Seong-Keun. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-14.

System, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230229783A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, IMAGE INSPECTION METHOD AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20210073966A1. Автор: TESHIMA Katsunori,TSUE Yasushi. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2021-03-11.

Backdoor inspection device, user device, system, method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20220277083A1. Автор: Takayuki Sasaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234091A1. Автор: OKI Makoto,ITOU Jun. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234422A1. Автор: OKI Makoto,Esumi Yoshihiro. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20200234456A1. Автор: Mita Mieko. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2020-07-23.

Image inspection device, image forming system, image inspection method, and program

Номер патента: CN111464714B. Автор: 大木亮,江角祯宏. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-04-19.

INSPECTION DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200058115A1. Автор: OKI Makoto,Mimura Yusuke. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-20.

Runway illumination lamp inspection device and runway illumination lamp inspection method

Номер патента: WO2017061286A1. Автор: 憲政 溝邊. Владелец: Necライティング株式会社. Дата публикации: 2017-04-13.

Defect inspection device for display panel and method for the same

Номер патента: US20150187064A1. Автор: Haibo Huang. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Defect inspection method and defect inspection device

Номер патента: US09922414B2. Автор: Yuji Takagi,Masashi Sakamoto,Minoru Harada,Takehiro Hirai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Defect inspection method and its system

Номер патента: US20090206252A1. Автор: Shinji Okazaki,Yoshinori Nakayama,Yasunari Sohda,Shoji Hotta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Defect inspection method and disk drive using same

Номер патента: US20090252012A1. Автор: Se-Hyun Kim,Seung-youl Jeong,Jae-Deog Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-10-08.

Method and System for Defect Prediction of Integrated Circuits

Номер патента: US20180218096A1. Автор: Jie Lin,Zhaoli Zhang,Zongchang Yu. Владелец: Dongfang Jingyuan Electron Ltd. Дата публикации: 2018-08-02.

Method and apparatus to facilitate auto-alignment of images for defect inspection and defect analysis

Номер патента: US20030152260A1. Автор: Lynn Cai. Владелец: Numerical Technologies Inc. Дата публикации: 2003-08-14.

Defect inspection method

Номер патента: US09430841B2. Автор: Yoshihiko Yokoyama. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Pattern forming method and phase shift mask manufacturing method

Номер патента: US20070187361A1. Автор: Hideki Suda. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Semiconductor device defect inspection method and system thereof

Номер патента: US9153020B2. Автор: Yuji Takagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-10-06.

Defect inspection method and defect inspection apparatus

Номер патента: US20010055416A1. Автор: Kyoji Yamashita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

Image defect inspection method, image defect inspection apparatus, and appearance inspection apparatus

Номер патента: US20060159333A1. Автор: Akio Ishikawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-20.

Method and Apparatus for Inspecting Pattern Collapse Defects

Номер патента: US20220138921A1. Автор: Ivan Maleev,Shin-Yee Lu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-05-05.

Method and apparatus for inspecting pattern collapse defects

Номер патента: US20230274413A1. Автор: Ivan Maleev,Shin-Yee Lu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-31.

Method and apparatus for inspecting pattern collapse defects

Номер патента: US11989876B2. Автор: Ivan Maleev,Shin-Yee Lu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Defect inspection apparatus and defect inspection method

Номер патента: US8290242B2. Автор: Tadashi Mitsui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-10-16.

Transient defect inspection using an inspection image

Номер патента: WO2024012966A1. Автор: Liang Tang,Xuechen ZHU,Datong ZHANG,Chih-Yu Jen,Shengcheng JIN,Hsiang Ting YEH. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-01-18.

Defect inspection apparatus, defect inspection method, and recording medium

Номер патента: US20200089131A1. Автор: Kouta Kameishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Defect inspection apparatus using images obtained by optical path adjusted

Номер патента: US09460502B2. Автор: Takeshi Fujiwara,Hiromu Inoue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Method and system for determining overlap process windows in semiconductors by inspection techniques

Номер патента: US20140065734A1. Автор: Lothar Bauch. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

Defect inspection apparatus, method and program

Номер патента: US20220084185A1. Автор: Ryusuke Hirai,Yukinobu Sakata,Akiyuki Tanizawa,Kyoka Sugiura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Defect inspection apparatus, method and program

Номер патента: US12020468B2. Автор: Ryusuke Hirai,Yukinobu Sakata,Akiyuki Tanizawa,Kyoka Sugiura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Method of building model of defect inspection for LED display

Номер патента: US11790509B2. Автор: Yi-Sheng Lin. Владелец: Macroblock Inc. Дата публикации: 2023-10-17.

Two-dimensional scatter plot technique for defect inspection

Номер патента: EP1190390A1. Автор: Hamid K. Aghajan. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2002-03-27.

Memory adjustment method and adjustment system, and semiconductor device

Номер патента: EP4102505A1. Автор: Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Shu-Liang NING. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-12-14.

Method and system for adjusting memory, and semiconductor device

Номер патента: US11928357B2. Автор: Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Shu-Liang NING. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-12.

Method and system for adjusting memory, and semiconductor device

Номер патента: US20220137872A1. Автор: Jun He,Zhan Ying,Jie Liu,Shu-Liang NING. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-05-05.

Methods and systems for a casino and/or sports betting gaming product

Номер патента: US20240233481A9. Автор: Nicholas R. Corlett. Владелец: Wagerwheel LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

User interface adjustment method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US20230214086A1. Автор: Weijian Liao,Bowen Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-06.

Method and device for setting the luminosity

Номер патента: RU2669208C2. Автор: Эньсин ХОУ,Вэйгуан ЦЗЯ,Тянь ЖЭНЬ. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-10-09.

Method and apparatus for closed-loop neurostimulation with patient control

Номер патента: US20240285950A1. Автор: Tianhe ZHANG,Andrew James Haddock. Владелец: Boston Scientific Neuromodulation Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Dynamic brightness adjusting method and projector

Номер патента: US20180307130A1. Автор: Li-Wei Liang,Chih-Wei Cho. Владелец: Qisda Corp. Дата публикации: 2018-10-25.

Inspecting method and inspecting device

Номер патента: US20240320849A1. Автор: Shinya Nakashima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Display terminal adjustment method and display terminal

Номер патента: US12125458B2. Автор: Yang Li,HONGWEI Li. Владелец: TCL Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Audio signal processing method and device

Номер патента: RU2450440C1. Автор: Йанг Вон ДЗУНГ,Хиен-О ОХ. Владелец: ЭлДжи ЭЛЕКТРОНИКС ИНК.. Дата публикации: 2012-05-10.

Screen brightness adjustment method and electronic device

Номер патента: EP4087224A1. Автор: Xiufeng Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-09.

Methods and apparatus for co-viewing adjustment

Номер патента: US12041304B2. Автор: Balachander Shankar,Joshua Zinzer,Jonathan Ouegnin,Lauren Howard,Michelle Gelman. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and Apparatus for Adjusting Inner Loop Value, Storage Medium and Electronic Device

Номер патента: US20230422220A1. Автор: Jianguo Li,Qiaoyan Liu,Kai Mao,Wangwang JI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Image brightness adjustment method and device, storage medium and electronic device

Номер патента: EP3968268A1. Автор: Huai-Che Lee,Jui Hsiang CHAO. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-16.

Method and apparatus for adjusting characteristics of multi electron source

Номер патента: EP1288894A3. Автор: Takahiro Oguchi,Shuji Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2005-02-02.

Display screen adjustment method and apparatus, and device

Номер патента: US12087201B2. Автор: Hu He,Ruhai Fu,Chiaching Chu,Shipeng CHI,Zhongyu He,Chaorong LIANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Display screen display parameter adjustment method and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: GB2611144A. Автор: Mo Zhijian,Xian Dayang. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2023-03-29.

Method and device for adjusting phase of bidirectional data strobe (dqs) signal

Номер патента: US20240355373A1. Автор: JIN Zhang,WEI Ding,Rushang Huang. Владелец: Shenzhen Pango Microsystems Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and apparatus for image processing

Номер патента: US20210256655A1. Автор: Miaomiao CUI. Владелец: Alibaba Group Holding Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

Information processing method and electronic device

Номер патента: US09986362B2. Автор: Lixin Gao. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Methods and systems for adjusting webpage layout

Номер патента: US09886519B2. Автор: Jie Liang. Владелец: Guangzhou UCWeb Computer Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Energy balance adjustment control method and adjustment control device

Номер патента: US12026792B2. Автор: Masato Hanada. Владелец: TMEIC Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Method and arrangement for adjusting a camera lens in relation to a camera sensor

Номер патента: SE2230373A1. Автор: Lars Wase,Carl GRUBBSTROM. Владелец: Topgolf Sweden AB. Дата публикации: 2024-05-18.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: US20050190484A1. Автор: Michio Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-09-01.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: US20060238913A1. Автор: Michio Yamamoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-26.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: US7280309B2. Автор: Michio Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-10-09.

Access performance adjusting method and storage apparatus

Номер патента: EP1569205A3. Автор: Michio c/o Fujitsu Limited Yamamoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-12-20.

Device management method and apparatus

Номер патента: US20220337447A1. Автор: Jun Zhang,Zhao RU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-10-20.

Method and apparatus for controlling virtual object, device, storage medium, and program product

Номер патента: US12048878B2. Автор: Jiaqi PAN,Zefeng YANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection method and inspection device

Номер патента: US09793016B2. Автор: Tomonori Shichida,Naoto Kawase,Kazushige Namba. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection Device, Inspection Method, And Recording Medium

Номер патента: US20200311896A1. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Solder parameter adjustment method and apparatus and computer device

Номер патента: WO2024145881A1. Автор: Jian Kang,Qing Gang QIAO. Владелец: Siemens Ltd., China. Дата публикации: 2024-07-11.

Data processing method and device

Номер патента: US20170302484A1. Автор: Xinyuan Wang,Tongtong Wang,Wenbin Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

Inspection device, inspection method, and recording medium

Номер патента: US11544840B2. Автор: Kazuki HARADA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-01-03.

Adaptive rearview mirror adjustment method and apparatus

Номер патента: US12049170B2. Автор: Wei Huang,Junhao ZHANG,Wenkang Xu,Yanshan He. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Method and device for adjusting object attribute information

Номер патента: US20170192589A1. Автор: Junqi Liu. Владелец: Baidu Online Network Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-06.

Camera adjusting focus using rotating method and object processing apparatus using the same

Номер патента: US20180324349A1. Автор: Hoyon KIM. Владелец: Gachisoft Inc. Дата публикации: 2018-11-08.

Adjustment method and apparatus for rendering hierarchy order

Номер патента: US12100084B2. Автор: Chuyu Ruan,Hanqi ZHENG. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method and apparatus for adjusting image luminance, storage medium, and electronic device

Номер патента: US12062350B2. Автор: Huai-Che Lee,Juihsiang CHAO. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Image inspection device, image inspection method and image inspection program

Номер патента: US09959451B2. Автор: Shinya Takahashi,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Method and apparatus for adjusting volume of user terminal, and terminal

Номер патента: US09866707B2. Автор: Dong Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Method and apparatus for processing lost frame

Номер патента: US09852738B2. Автор: Bin Wang,LEI Miao,Zexin LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Method and apparatus for adjusting photography parameters

Номер патента: US09843716B2. Автор: Tao Chen,Mingyong Tang,Huayijun Liu. Владелец: Xiaomi Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Brightness adjustment method and device and electronic device

Номер патента: US09772760B2. Автор: Yonghao Luo. Владелец: Smartisan Digital Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Method and apparatus for adjusting camera gain, and scanning system

Номер патента: EP4210317A1. Автор: SONG Shen. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-12.

Interface adjustment method and terminal

Номер патента: US20170011707A1. Автор: Baike LIN,Beixia HUANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-12.

Interface adjustment method and terminal

Номер патента: WO2015144071A1. Автор: Baike LIN,Beixia HUANG. Владелец: TENCENT TECHNOLOGY (SHENZHEN) COMPANY LIMITED. Дата публикации: 2015-10-01.

Method and apparatus for trimming die-to-die variation of an on-chip generated voltage reference

Номер патента: EP2489042A1. Автор: Martin L. Voogel,Leon L. Nguyen. Владелец: Xilinx Inc. Дата публикации: 2012-08-22.

Method and apparatus for trimming die-to-die variation of an on-chip generated voltage reference

Номер патента: WO2011046702A1. Автор: Martin L. Voogel,Leon L. Nguyen. Владелец: XILINX, INC.. Дата публикации: 2011-04-21.

Method and Device for Adjusting Dental Model

Номер патента: US20240115362A1. Автор: Xiaojun Chen,Maozhen SHAO,Yanming JIA. Владелец: Shining 3D Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Auto White Balance Adjusting Method and Auto White Balance Adjusting System

Номер патента: US20230289921A1. Автор: Te-Wei Hsu,Chun-Ying LI,Hsuan-Ying CHEN. Владелец: Weltrend Semiconductor Inc. Дата публикации: 2023-09-14.

Methods and Systems for Defining Slices

Номер патента: US20140289651A1. Автор: Anant Gilra,Eugene Jude,S. Monikandan. Владелец: Adobe Systems Inc. Дата публикации: 2014-09-25.

Method and system for determining an optimum plan for retirement income

Номер патента: US09830659B2. Автор: Daniel Santner,Jeffrey P. Feinendegen. Владелец: Retireup Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Method and device for image taking brightness control and computer readable storage medium

Номер патента: US09591235B2. Автор: Biao Zhou,Bing Li,Changsheng Zhou,Sanfeng Yan. Владелец: Hisense USA Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Method and apparatus for adjusting drive values for dual modulation displays

Номер патента: US09548028B2. Автор: Robin Atkins,Neil W. Messmer. Владелец: Dolby Laboratories Licensing Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Method and apparatus for adjusting artificial intelligence chip, chip, and storage medium

Номер патента: EP4462271A1. Автор: Bin Zhang. Владелец: Beijing Horizon Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-13.

Method and system for inserting contents into video presentations

Номер патента: US09432703B2. Автор: Jia He,CHEN Huang,Haohong Wang. Владелец: TCL Research America Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Dual color matching feedback control method and system for hiding infrared markings and other information

Номер патента: US20120314231A1. Автор: Martin Edward Hoover. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2012-12-13.

Camera focusing method and system

Номер патента: US20240223896A1. Автор: Wei Zhang,Min Xu,Rui Yin. Владелец: Shanghai IC Manufacturing Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Noise control method and device

Номер патента: WO2015135364A1. Автор: Jia Liu. Владелец: BEIJING ZHIGU RUI TUO TECH CO., LTD. Дата публикации: 2015-09-17.

Method and host for adjusting audio of speakers, and computer readable medium

Номер патента: US11765537B2. Автор: Chien-Hung Lin,Li-Hsun Chang,Yen-Chieh Wang,Sung Jen Wang. Владелец: HTC Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Camera shooting parameter adjustment method and apparatus, and electronic device

Номер патента: US20240273909A1. Автор: Mingzheng Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Noise control method and device

Номер патента: US20160379613A1. Автор: Jia Liu. Владелец: Beijing Zhigu Ruituo Technology Services Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-29.

Apparatus and method for on-line binder laylength measurement and adjustment

Номер патента: EP1223449B1. Автор: Michael T. Rossi. Владелец: Alcatel SA. Дата публикации: 2005-08-24.

Camera photographing parameter adjustment method and apparatus and electronic device

Номер патента: EP4425433A1. Автор: Mingzheng Li. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Sound effect playback method and apparatus

Номер патента: WO2015180584A1. Автор: Longfeng Wei,Baipeng GONG. Владелец: TENCENT TECHNOLOGY (SHENZHEN) COMPANY LIMITED. Дата публикации: 2015-12-03.

Masking sound adjustment method and masking sound adjustment device

Номер патента: US20240274110A1. Автор: Shinichi Kato. Владелец: Yamaha Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Camera focusing method and system

Номер патента: US12101553B2. Автор: Wei Zhang,Min Xu,Rui Yin. Владелец: Shanghai IC Manufacturing Innovation Center Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Optical computing apparatus, method, and system

Номер патента: US20240345616A1. Автор: JIANG Xu,Yajie LI,Yuxiang Fu,Chengeng LI,Jiaxu ZHANG,Yinyi LIU,Tongyu WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Optical computing device, method and system

Номер патента: EP4432043A1. Автор: JIANG Xu,Yajie LI,Yuxiang Fu,Chengeng LI,Jiaxu ZHANG,Yinyi LIU,Tongyu WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Method and apparatus for adjusting a photo-taking direction, mobile terminal

Номер патента: US09948856B2. Автор: Jun Zhang,Hui Sun,Qing Mu. Владелец: Hisense USA Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Noise control method and device

Номер патента: US09905215B2. Автор: Jia Liu. Владелец: Beijing Zhigu Ruituo Technology Services Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and device for adjusting playback progress of video file

Номер патента: US09799375B2. Автор: Peng Zhou. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Information processing method and electronic device

Номер патента: US09798437B2. Автор: Chao Wang,Guizhen Wang. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and an apparatus for processing an audio signal

Номер патента: US09787266B2. Автор: Yang Won Jung,Hyen O Oh. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-10-10.

Method and system for adjusting display unit

Номер патента: US09779689B2. Автор: Zhenhua Zhang,Ke Shang,Zhiqiang He. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Inter-lens adjusting method and photoelectric hybrid substrate

Номер патента: US09726826B2. Автор: Michihiro Takamatsu,Takahiro OOI. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Effect processing method and apparatus, electronic device and storage medium

Номер патента: US20240378769A1. Автор: Jiaxin Ma,Shuaijie YANG. Владелец: Beijing Zitiao Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-14.

Computerized method and system for dynamically creating and updating a user interface

Номер патента: US09639891B2. Автор: Nir Golan,David Stein,Nicholas Rosenthal,Robert ARBITTIER. Владелец: Peeractive Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Image processing device, image processing method and permanent computer-readable medium

Номер патента: US09621794B2. Автор: Hirotsugu Shirakawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Signal gain control method and electronic device

Номер патента: US20200021261A1. Автор: Jia-Ren Chang,Ming-Chun Yu,Kuei-Ting Tai. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2020-01-16.

User emotion detection method and associated handwriting input electronic device

Номер патента: US8885927B2. Автор: Chien-Hang Chen. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2014-11-11.

Method and apparatus for locating and correcting sound overload

Номер патента: US20070135954A1. Автор: Nikhil Bhatt,Curt Bianchi,Christopher Moulios. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2007-06-14.

Method and apparatus for adjusting sizes of split-screen windows

Номер патента: US12045450B2. Автор: Lu Cheng,Kaipeng FU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Method and apparatus for adjusting scan depth of three-dimensional scanner

Номер патента: US20240289954A1. Автор: Dong Hoon Lee. Владелец: Medit Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

A method and system of automatic delay detection and receiver adjustment for synchronous bus interface

Номер патента: EP1374077A2. Автор: Jonathan Yang Chen. Владелец: Compagnie IBM France SAS. Дата публикации: 2004-01-02.

A method and system of automatic delay detection and receiver adjustment for synchronous bus interface

Номер патента: EP1374077B1. Автор: Jonathan Yang Chen. Владелец: Compagnie IBM France SAS. Дата публикации: 2005-02-02.

Optical system radial deformation adjustment method and system

Номер патента: US20050024735A1. Автор: Takeshi Uehara. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2005-02-03.

Print quality maintenance method and system

Номер патента: US20070292148A1. Автор: Scott T. Slattery,Rodney R. Bucks,Richard G. Allen. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2007-12-20.

Devices, methods, and systems for calibrating a read voltage used for reading memory cells

Номер патента: US20240265959A1. Автор: Stefano Sivero,Alessandro Palludo. Владелец: Ferroelectric Memory GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Method and device for adjusting indoor brightness and smart home control system

Номер патента: US20160255701A1. Автор: Hong Wang,Xingxing Zhao,Zhenpeng GUO. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Method and device for adjusting indoor brightness and smart home control system

Номер патента: US09723690B2. Автор: Hong Wang,Xingxing Zhao,Zhenpeng GUO. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Speech translation method and apparatus utilizing prosodic information

Номер патента: US09342509B2. Автор: Yong Qin,Shi Lei Zhang,Fan Ping Meng,Zhi Wei Shuang. Владелец: Nuance Communications Inc. Дата публикации: 2016-05-17.

Method and apparatus for tracking moving target and unmanned aerial vehicle

Номер патента: US12007794B2. Автор: Xin Huang,Yuanyuan Du. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Process recipe, method and system for generating same, and semiconductor manufacturing method

Номер патента: US20230221702A1. Автор: Shaowen QIU. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Reactant concentration control method and apparatus for precipitation reactions

Номер патента: WO1992003772A1. Автор: Norman F. Jerome. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 1992-03-05.

Parameter adjustment method and electronic device

Номер патента: EP4064030A1. Автор: Lei Liang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-28.

Simulation system, method and computer program for human augmentation devices

Номер патента: EP1306792A3. Автор: Victor Ng-Thow-Hing,Behzad Dariush,Darryl Gerard Thelen. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2009-12-30.

Image Processing Method and Apparatus, and Storage Medium

Номер патента: US20240273699A1. Автор: Yi Zhang,Guangyao Qin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and electronic device for detecting finger-on or finger-off

Номер патента: US20180196983A1. Автор: Yuan-Lin Chiang,Jun-Chao Lu,Chun-Ching Tseng. Владелец: Egis Technology Inc. Дата публикации: 2018-07-12.

Inspection device, inspection method and program

Номер патента: US20230070333A1. Автор: Yuta Tsubaki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Text error correction method and system, electronic device, and medium

Номер патента: US20240281709A1. Автор: Shaohua Zhang,Yuchen Zhang,Hongqiu Wu. Владелец: Beijing Youzhuju Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Image processing method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4415378A1. Автор: Yi Zhang,Guangyao Qin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Target image generation method and apparatus, server, and storage medium

Номер патента: US12131436B2. Автор: Shu Liu,Jiaya Jia,Liying LU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and system for achieving self-adaptive surround sound

Номер патента: US09807536B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Method and apparatus for beam control with optical MEMS beam waveguide

Номер патента: US09442254B2. Автор: Perry H. Pelley. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2016-09-13.

Chip power supply method and chip

Номер патента: US10037072B2. Автор: Zixian CHEN,Qinghua XUE,Xueping ZHOU. Владелец: Capital Microelectronics Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-31.

Methods and apparatus to measure market statistics

Номер патента: EP2382723A1. Автор: Shi Lu,Albert Perez,Michael F. Younge. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2011-11-02.

Cognitive enhancement training method and system based on neural regulation

Номер патента: US20230260605A1. Автор: SHA Li,Xiaoyi Wang,Zhujiang MA. Владелец: Beijing Wispirit Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Method and system for double-sided printing

Номер патента: EP3858626A1. Автор: HUI Wang,JIAN Liang. Владелец: Shenyang Sky Air Ship Digital Printing Equipment Co ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Shooting control method and electronic device

Номер патента: US20220319467A1. Автор: Yonghang XIANG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Laparoscopic image manipulation method and system

Номер патента: US20240249487A1. Автор: Sascha Jaskola. Владелец: OLYMPUS Winter and Ibe GmbH. Дата публикации: 2024-07-25.

Laparoscopic image manipulation method and system

Номер патента: EP4407564A1. Автор: Sascha Jaskola. Владелец: OLYMPUS Winter and Ibe GmbH. Дата публикации: 2024-07-31.

Method and apparatus for processing image and medium

Номер патента: EP4428807A1. Автор: Yuelei LIU,Wanqi Li. Владелец: Shanghai X Ring Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Database management method and apparatus based on lookup table

Номер патента: US12118037B2. Автор: Hongfeng Gao,Guihai YAN,Lutang WANG. Владелец: Yusur Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Devices, Methods, and Systems for Reducing the Occlusion Effect

Номер патента: US20240348969A1. Автор: GUOHUA Sun,Jae Lee. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2024-10-17.

Methods and apparatuses for detecting a change in an area of interest

Номер патента: US12039771B2. Автор: Jose Araujo,Alfredo Fanghella,Manish SONAL. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2024-07-16.

Method and system for mobile device splash mode operation and transition thereto

Номер патента: US09916037B2. Автор: James Wu,Ramesh Mantha,Robert BEGHIAN,Trevor HUNTER. Владелец: Rakuten Kobo Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Audio signal processing device, audio signal processing method, and recording medium storing a program

Номер патента: US09847097B2. Автор: Naoshi Matsuo. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Makeup virtual try on methods and apparatus

Номер патента: US20240221061A1. Автор: Edmund Phung. Владелец: LOreal SA. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and circuit for adjusting a self-refresh rate to maintain dynamic data at low supply voltages

Номер патента: US20100262769A1. Автор: Leel S. Janzen. Владелец: Round Rock Research LLC. Дата публикации: 2010-10-14.

Scaling method and apparatus, device and medium

Номер патента: EP3846117A1. Автор: Di Wu. Владелец: Shanghai Lilith Technology Corp. Дата публикации: 2021-07-07.

Method and system for adjusting exposure parameter of airborne camera

Номер патента: LU102475B1. Автор: Yong He,Liwen He,Liyuan Zheng,Bingquan CHU. Владелец: Univ Zhejiang. Дата публикации: 2021-08-04.

Method and system for configuring an alarm system

Номер патента: US20210160637A1. Автор: Alexandre Gouin. Владелец: Johnson Controls Fire Protection LP. Дата публикации: 2021-05-27.

Cargo container butting method and apparatus, robot, and storage medium

Номер патента: US20200348683A1. Автор: Bin Hu. Владелец: Beijing Geekplus Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Method and device for adjusting split point in wireless communication system

Номер патента: US20240086743A1. Автор: Kyung Ho Lee,JaYeong KIM,Sangrim LEE,Tae Hyun Lee,Ikjoo JUNG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-03-14.

Makeup virtual try on methods and apparatus

Номер патента: WO2024141513A1. Автор: Edmund PHUNG. Владелец: L'oreal. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and circuit for adjusting a self-refresh rate to maintain dynamic data at low supply voltages

Номер патента: US7747815B2. Автор: Leel S. Janzen. Владелец: Round Rock Research LLC. Дата публикации: 2010-06-29.

Method and apparatus with contrast adjustment

Номер патента: EP4207055A1. Автор: Sangwon Lee,Hyong Euk Lee,Nahyup KANG,Kinam Kwon,Junsang YU. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-05.

Method and apparatus for managing advertising insertion requests from multiple sources

Номер патента: US11259097B1. Автор: Scott Crawford,Sonya Herrera. Владелец: Xandr Inc. Дата публикации: 2022-02-22.

Methods and systems for operating a lighting device

Номер патента: US20210153383A1. Автор: Collin Dailey. Владелец: Phoseon Technology Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

Method and apparatus for processing image, electronic device, chip and medium

Номер патента: US20240303791A1. Автор: Yuelei LIU,Wangqi Li. Владелец: Shanghai X Ring Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Method and device for picture-based barcode encoding and decoding

Номер патента: US09860415B2. Автор: Yi-Chong Zeng. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2018-01-02.

Projection method and electronic device

Номер патента: US09848175B2. Автор: Yanjiang Hu. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Storage management device, performance adjustment method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US09734048B2. Автор: Toshiharu Makida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Method and apparatus for displaying content

Номер патента: US09697797B2. Автор: Lin Du,Jianping Song,Wenjuan Song. Владелец: Thomson Licensing SAS. Дата публикации: 2017-07-04.

Inspection apparatus, inspection method and program

Номер патента: US12130949B2. Автор: Yoshihide Nakagawa. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and apparatus for reference voltage calibration in a single-ended receiver

Номер патента: US09496012B2. Автор: David Lin,Scott E. Meninger,Omer O. Yildirim. Владелец: Cavium LLC. Дата публикации: 2016-11-15.

Method and apparatus for camera autofocus based on Wi-Fi ranging technique

Номер патента: US09423669B2. Автор: Feng Guo,Xinzhou Wu,Ning Bi,Ruiduo Yang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Method and apparatus for enabling power management of a flat-panel display

Номер патента: EP1399913A1. Автор: Ying Cui. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2004-03-24.

Backlight control method and electronic device

Номер патента: US20170345380A1. Автор: Yue Wang,Shuxian ZHANG,Shan Qiao,Zhaolin TENG,Zhilu YIN. Владелец: Lenovo Beijing Ltd. Дата публикации: 2017-11-30.

Method and system for management of synchronization of a mobile electronic device

Номер патента: US09479582B2. Автор: Raymond Lee Canton,Roy Robert George Wilson,Ashish Kaila. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and device for managing memory of user device

Номер патента: US09465661B2. Автор: Dongho Kim,Junha Kim,Jaeho JU. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-10-11.

Method and apparatus for reducing eye fatigue

Номер патента: US20050094098A1. Автор: Steve Fors,Mark Morita,Charles Brackett. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Method and apparatus for hybrid chip-level voltage scaling

Номер патента: US09933827B2. Автор: Rajesh Joshi,Madan Krishnappa,Ajay Cheriyan. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Method and an apparatus for automatic volume leveling of audio signals

Номер патента: US09509267B2. Автор: Pushkar Prasad Patwardhan,Ravi Shenoy. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2016-11-29.

Guaranteed physical delivery futures contract and method and system of consolidating same

Номер патента: WO2004068384A1. Автор: Kirk P. Kinnear. Владелец: Hess Energy Trading Company LLC. Дата публикации: 2004-08-12.

Guaranteed physical delivery futures contract and method and system of consolidating same

Номер патента: EP1593062A4. Автор: Kirk P Kinnear. Владелец: Hess Energy Trading Company LLC. Дата публикации: 2007-11-07.

Interactive dynamic fluid effect processing method and device, and electronic device

Номер патента: US20230368422A1. Автор: QI Li,Xiaoqi Li,Jinglei Wang. Владелец: Douyin Vision Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Methods and systems for inline mixing of hydrocarbon liquids based on density or gravity

Номер патента: US11774990B2. Автор: Kyle E. Miller. Владелец: Marathon Petroleum Co LP. Дата публикации: 2023-10-03.

Image processing method and image inspecting method

Номер патента: US20100128923A1. Автор: Toshiaki Kakii,Yoichi Hata,Kiyoshi Nishikawa,Yoshimitsu Goto,Hitoshi Kiya,Masaaki Fujiyoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-27.

Method and system for detecting defects on a substrate

Номер патента: WO2017147275A1. Автор: Premchandra M. Shankar,Ashok VARADARAJAN. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-31.

Method And System For Sampling Rate Mismatch Correction Of Transmitting And Receiving Terminals

Номер патента: US20140233723A1. Автор: Bo Li,Shasha Lou,Xiaojie WU. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2014-08-21.

Methods and systems for inline mixing of hydrocarbon liquids based on density or gravity

Номер патента: US12066843B2. Автор: Kyle E. Miller. Владелец: Marathon Petroleum Co LP. Дата публикации: 2024-08-20.

Silicon controlled rectifier soaking control method and apparatus, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240255923A1. Автор: Qingfeng ZHUO,Shulu ZHENG. Владелец: Vertiv Tech Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Method and apparatus for training parameter estimation models, device, and storage medium

Номер патента: US20240296624A1. Автор: Xiaowei Zhang,Zhongyuan Hu,Gengdai LIU. Владелец: Bigo Technology Pte Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

DEFECT INSPECTION AND REPAIRING METHOD AND ASSOCIATED SYSTEM AND NON-TRANSITORY COMPUTER READABLE MEDIUM

Номер патента: US20180019166A1. Автор: Yang Chi-Ming,CHENG Nai-Han. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-18.

IMAGE INSPECTION DEVICE, IMAGE INSPECTION SYSTEM, IMAGE INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20130301083A1. Автор: Kaneda Kanako. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Inspection device of solder bonding, and inspection method of solder bonding

Номер патента: JP2010267864A. Автор: Taku Shinohara,卓 篠原. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-25.

Method and apparatus for communicating images, data, or other information in a defect source identifier

Номер патента: EP1247296A2. Автор: Amos Dor,Maya Radzinski. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-10-09.

Method and apparatus for communicating images, data, or other information in a defect source identifier

Номер патента: WO2002030173A2. Автор: Amos Dor,Maya Radzinski. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2002-04-18.

Method and compound system for inspecting and reviewing defects

Номер патента: US09437395B2. Автор: Shuai Li. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Simulated defective wafer and pattern defect inspection recipe preparing method

Номер патента: US20020006497A1. Автор: Tomonobu Noda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-01-17.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US20130208042A1. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-08-15.

Image recording apparatus and recording defect inspection method for same

Номер патента: US8936342B2. Автор: Masashi Ueshima. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-20.

System and method for defect inspection using voltage contrast in a charged particle system

Номер патента: WO2021123075A1. Автор: Wei Fang,Lingling Pu,Zhengwei Zhou. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-06-24.

Defect inspecting method

Номер патента: US20100323460A1. Автор: Kuniharu Nagashima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-12-23.

Defect inspecting method

Номер патента: US7947515B2. Автор: Kuniharu Nagashima. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Electrical inspection method for solar cells

Номер патента: US20180069506A1. Автор: Zun-Hao Shih,Hwen-Fen Hong,Chun-Yi Chen,Yueh-Mu Lee. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2018-03-08.

Cooktop, cooktop system, control method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4022225A1. Автор: YE Lu,Lei Zhang,Tong Xie,Mingzhi Wang. Владелец: BSH HAUSGERAETE GMBH. Дата публикации: 2022-07-06.

Cooktop, cooktop system, control method and apparatus, and storage medium

Номер патента: WO2021037821A1. Автор: YE Lu,Lei Zhang,Tong Xie,Mingzhi Wang. Владелец: BSH HAUSGERÄTE GMBH. Дата публикации: 2021-03-04.

Temperature regulation method and temperature regulation system for vehicle-mounted battery

Номер патента: EP3678257A1. Автор: Xingchi WU,Hongjun Wang,Jigang TAN. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-08.

Liquid-cooled jacket manufacturing method and friction stir welding method

Номер патента: EP3878593A1. Автор: Hisashi Hori,Nobushiro Seo. Владелец: Nippon Light Metal Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

Electron-beam lithography method and apparatus, and program thereof

Номер патента: US20080001103A1. Автор: Takashi Sugimura. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2008-01-03.

Valve, tire pressure adjustment method, and tire pressure adjustment apparatus

Номер патента: US20240142017A1. Автор: Qingxue CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Monitoring behavior adjustment method and apparatus, and terminal

Номер патента: EP4221300A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Contention window adjustment method and device, storage medium and electronic device

Номер патента: AU2019351324B2. Автор: Yajun Zhao,Xincai LI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Contention window adjustment method and device, storage medium and electronic device

Номер патента: EP4443796A2. Автор: Yajun Zhao,Xincai LI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Terminal communication mode adjustment method and apparatus, terminal and storage medium

Номер патента: EP4408073A9. Автор: Shaowu Shen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Terminal communication mode adjustment method and apparatus, terminal and storage medium

Номер патента: EP4408073A1. Автор: Shaowu Shen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Method and system for engine throttle control

Номер патента: RU2770365C1. Автор: Вэнься ВАН,Ши ЦАО,Голян СУН. Владелец: Вэйчай Пауэр Ко., Лтд. Дата публикации: 2022-04-15.

Method and node for adjusting line interface rate

Номер патента: US9877092B2. Автор: WEI SU,Limin Dong,Qiuyou Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Bandwidth adjusting method and communication node

Номер патента: US20120224857A1. Автор: WEI SU,Xi Huang,Chiwu Ding,Huaping Qing. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-06.

Method and node for adjusting line interface rate

Номер патента: US09877092B2. Автор: WEI SU,Limin Dong,Qiuyou Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Method and apparatus for adjusting mobility parameter

Номер патента: US09801104B2. Автор: Sangsoo JEONG,Sung Hwan Won,Sangbum Kim,Songyean CHO,Hanna Lim,Beomsik Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and apparatus for adjusting mobility parameter

Номер патента: US09706455B2. Автор: Sangsoo JEONG,Sung Hwan Won,Sangbum Kim,Songyean CHO,Hanna Lim,Beomsik Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-07-11.

Holdover mode device, method and measurement and adjustment module

Номер патента: US20240297726A1. Автор: Yu-Lun LO,Che-Cheng Kung. Владелец: Fiber Logic Communications Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Method and device for adjusting call volume, and mobile terminal

Номер патента: US09584654B2. Автор: Shanhe WANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Random access method and apparatus

Номер патента: EP4383758A2. Автор: Lei Chen,Hong Wang,Bingzhao Li,Bin Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Methods and systems for correction of carrier frequency offset (cfo) in wireless transceivers

Номер патента: US20180183642A1. Автор: Farooq Khan,Khurram Muhammad,Robert Clark Daniels. Владелец: Phazr Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

Method and apparatus for adjusting quantization parameter for adaptive quantization

Номер патента: GB2602521A. Автор: DING Wenpeng,LIN Ke. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-06.

Wireless bandwidth adjustment method and apparatus, terminal and storage medium

Номер патента: US12127043B2. Автор: SHU YANG,Jie Tang,Hongwei Xu,Fan XUE. Владелец: Zhuhai Lianyun Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Random access method and apparatus

Номер патента: EP4383758A3. Автор: Lei Chen,Hong Wang,Bingzhao Li,Bin Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Modular and adjustable recessed light fixture

Номер патента: US20240369209A1. Автор: Bryan Ortega,Victor M. Menendez. Владелец: Crestron Electronics Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Method and apparatus for adjusting mobility parameter

Номер патента: US09686725B2. Автор: Sangsoo JEONG,Sung Hwan Won,Sangbum Kim,Songyean CHO,Hanna Lim,Beomsik Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-20.

Method and device for adjusting and processing ringtone

Номер патента: US09485639B2. Автор: Guolin Teng,Zhongbo Han,Shaohua Wu,Xin Chi,Chunfan Ji. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Method and device for adjusting operating data

Номер патента: RU2649299C2. Автор: И Ван,Цзюнь Су,Юнфэн СЯ,Мэннань ВАН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-03-30.

Method and device for metal strip coiling

Номер патента: RU2467817C2. Автор: Рольф ФРАНЦ,Маттиас КИППИНГ. Владелец: Смс Зимаг Аг. Дата публикации: 2012-11-27.

Data transmission method and device, power state adjustment method and device, computer readable storage medium, and electronic device

Номер патента: CA3240549A1. Автор: Yan Li. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Method and device for adjusting position of seat in vehicle

Номер патента: US11230206B2. Автор: Yue Liu,Yuen YIN,Wenwei JIA. Владелец: Beijing Automotive Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-25.

Method and device for adjusting position of seat in vehicle

Номер патента: US20190389330A1. Автор: Yue Liu,Yuen YIN,Wenwei JIA. Владелец: Beijing Automotive Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-26.

Method and device for adjusting network quality of service strategies

Номер патента: US20170019806A1. Автор: Qixin HUANG. Владелец: Le Holdings Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-19.

Object control method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240261687A1. Автор: Xiongfei HUANG. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Uplink synchronization adjustment method, and related device and system

Номер патента: EP4408085A1. Автор: Bingzhao Li,Bin Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Automatic adjustment method and device for color wheel

Номер патента: US20170041578A1. Автор: Jichen XIAO. Владелец: Hisense USA Corp. Дата публикации: 2017-02-09.

Contention window adjustment method and apparatus and communication system

Номер патента: US12114352B2. Автор: Lei Zhang,Qinyan Jiang,Guoyu Zhang. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Method and apparatus for dynamic resource adjustment based on network sharing

Номер патента: US09930534B2. Автор: Shuo Wang,Yijun Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Adjustable filling and sealing method and apparatus therefor

Номер патента: US09783326B2. Автор: Daniel Py,Benoit Adamo,John Guthy. Владелец: Medinstill Development LLC. Дата публикации: 2017-10-10.

Method and apparatus for adjusting ejection angle position of sub-nozzle in an air jet loom

Номер патента: EP2514861A3. Автор: Yutaka Matsuyama,Kouichi Kita. Владелец: Tsudakoma Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-21.

Method and system for providing lower body weight training fitness

Номер патента: CA3204525A1. Автор: Paul Jackson,Evan Gubera. Владелец: Animalhouse Ventures Inc. Дата публикации: 2023-12-23.

Method and system for providing lower body weight training fitness

Номер патента: EP4295924A1. Автор: Paul Jackson,Evan Gubera. Владелец: Animalhouse Ventures Inc. Дата публикации: 2023-12-27.

Method and device for dynamically adjusting fluorescent imaging

Номер патента: US20190350461A1. Автор: Kai-Ju Cheng,Chin-Yuan Ting,Hsin-Lun Hsieh,Tsung-Hsin Lu. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2019-11-21.

Flippable board method and system

Номер патента: US20170182835A1. Автор: Dony Dawson,Robert Dilling. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-06-29.

Prediction timescale determination and adjustment

Номер патента: WO2024178349A1. Автор: Brian Martin,Alain Mourad,Milind Kulkarni,Filipe Conceicao,Ognen OGNENOKSI. Владелец: INTERDIGITAL PATENT HOLDINGS, INC.. Дата публикации: 2024-08-29.

Image-forming system, control method, and information processing apparatus

Номер патента: US20240297947A1. Автор: Keisuke Kitajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Printing apparatus, printing method, and carrier means

Номер патента: EP3670198A1. Автор: Tomomi Ishimi,Tomohiro Yamashita,Shohta Kobashigawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-24.

Method and apparatus for monitoring and adjusting a laser welding process

Номер патента: WO2003022509A9. Автор: . Владелец: Fraunhofer USA Inc. Дата публикации: 2003-05-08.

Method and apparatus for monitoring and adjusting a laser welding process

Номер патента: WO2003022509A1. Автор: . Владелец: Fraunhofer USA, Inc.. Дата публикации: 2003-03-20.

Data transmission method and device, power state adjustment method and device, computer readable storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4432726A1. Автор: Yan Li. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Video signal processing method and apparatus

Номер патента: US12120473B2. Автор: Hu Chen,Xiaodong Xu,Weiwei Xu,Quanhe YU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Method and terminal device for reducing image distortion

Номер патента: US09991994B1. Автор: HONG Jiang,Zhihang Zhang,Wael Al-Qaq,Eric Sung. Владелец: FutureWei Technologies Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

Methods and system for adjusting engine water injection

Номер патента: US09945310B1. Автор: Daniel A. Makled,Michael McQuillen,Gopichandra Surnilla,Mohannad Hakeem. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2018-04-17.

Method and apparatus for adjusting a bandwidth of a sigma delta converter

Номер патента: US09793917B2. Автор: Joshua E. Dorevitch. Владелец: Motorola Solutions Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Flippable board method and system

Номер патента: US09718299B2. Автор: Dony Dawson,Robert Dilling. Владелец: Clarus Glassboards LLC. Дата публикации: 2017-08-01.

Methods and systems for improving wireless network capacity

Номер патента: US09668213B2. Автор: Yang Yang,Keith Stanley,Omar Salvador. Владелец: Alcatel Lucent USA Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Method and apparatus for controlling an electric motor

Номер патента: US20190111804A1. Автор: Richard Hellinga,Jason Wiseman,Howard Slater,Chris Pearce. Владелец: Sevcon Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

Method and calibration aparatus for calibrating computer monitors used in the printing and textile industries

Номер патента: WO1995017071A1. Автор: Michael F. Feasey. Владелец: Feasey Michael F. Дата публикации: 1995-06-22.

Self-heating control method and self-heating control system of charging and discharging battery

Номер патента: US20240128537A1. Автор: Na Chen,Ke Zhang,Yi Pan,Zizhu Guo,Jiannian LI. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Collision avoidance method and system for a vehicle

Номер патента: US11738743B2. Автор: Ananda PANDY,Christopher L. Tharp. Владелец: ZF FRIEDRICHSHAFEN AG. Дата публикации: 2023-08-29.

Data stream processing method and network element device

Номер патента: US20200366405A1. Автор: Qiwen Zhong,Rixin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-19.

Discharge position adjusting method and droplet ejecting apparatus

Номер патента: US20160279927A1. Автор: Toru Miyamoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-09-29.

Antenna alignment method and device

Номер патента: US10096886B2. Автор: Minghui Xu,Jia He,Lingwen XIAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-09.

Hardware loading adjusting method and related electronic device

Номер патента: US10142408B2. Автор: Chong Zhang. Владелец: Winstron Corp. Дата публикации: 2018-11-27.

Method and apparatus for adjusting heights of objects

Номер патента: US20080087777A1. Автор: Steven Lee Christian,Michael S. Maize. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-04-17.

Method and apparatus for adjusting network slice

Номер патента: EP4447525A1. Автор: Xiaoqian JIA,Zijian SU,Xiaocheng XING. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Power matching method and apparatus for wireless charging, and wireless charging apparatus

Номер патента: US12119666B2. Автор: Shiming WAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-10-15.

Operation mode adjustment method and apparatus, and storage medium and electronic apparatus

Номер патента: EP4429332A1. Автор: Yan Li. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

White balance adjustment method and imaging device for medical instrument

Номер патента: US09900484B2. Автор: Takayuki Sato,Kazuaki Kojima,Takashi Tanimoto. Владелец: Kochi University NUC. Дата публикации: 2018-02-20.

Discharge position adjusting method and droplet ejecting apparatus

Номер патента: US09827794B2. Автор: Toru Miyamoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Method and apparatus for programming charge recovery in neurostimulation waveform

Номер патента: US09737714B2. Автор: Dennis ZOTTOLA. Владелец: Boston Scientific Neuromodulation Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and system for auditing and correcting cellular antenna coverage patterns

Номер патента: US09698897B2. Автор: Jeffrey Paul Harrang,David James Ryan. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2017-07-04.

Method and apparatus for adjusting IP network load

Номер патента: US09525633B2. Автор: Haoze Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Configuration parameter update method and apparatus

Номер патента: EP4380288A1. Автор: Jun Li,Xueru Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Method and Means of Injecting Fluids Into Food Products

Номер патента: CA2180772A1. Автор: David W. Smith. Владелец: Marel Meat Processing Inc. Дата публикации: 1997-01-18.

Methods and apparatus for enabling distributed frequency synchronization

Номер патента: WO2014078715A2. Автор: Junyi Li,Thomas J. Richardson,Saurabh R. Tavildar. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2014-05-22.

Method and device for adjusting downtilt angle of antenna

Номер патента: EP3618484A1. Автор: Bo Cheng,Meijuan Xie,Honglong Zhang,Guotai CHEN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Methods and apparatus for adjusting wireless communication structure

Номер патента: EP3744036A1. Автор: Juan Montojo,Junyi Li,Chong Li. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2020-12-02.

Method and system for adjustable coating using magnetron sputtering systems

Номер патента: US12062531B2. Автор: Dominik Wagner. Владелец: Interpane Entwicklungs und Beratungsgesellschaft Mbh. Дата публикации: 2024-08-13.

Methods and apparatus for enabling distributed frequency synchronization

Номер патента: US20150110101A1. Автор: Junyi Li,Saurabha Rangrao Tavildar,Thomas Joseph Richardson. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2015-04-23.

Methods and apparatus for suspension adjustment

Номер патента: US20240318703A1. Автор: Joseph Franklin,Andrew Laird,Robert C. Fox,Mario Galasso. Владелец: Fox Factory Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and apparatus for adjusting device-to-device timing in wireless communication system

Номер патента: US09848286B2. Автор: Youngdae Lee,Sunghoon Jung. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and apparatus for changing the gain of a radio frequency signal

Номер патента: US09755596B2. Автор: Paulius Mosinskis,Omkar Joshi. Владелец: MaxLinear Asia Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Image processing method and image processing device

Номер патента: US09743009B2. Автор: HENDRIK Hendrik,Yi-Chi Cheng,Hsiu-Jui KUO,Guan-De Lee. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Methods and apparatus for enabling distributed frequency synchronization

Номер патента: US09621289B2. Автор: Junyi Li,Saurabha Rangrao Tavildar,Thomas Joseph Richardson. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-04-11.

Method and apparatus for controlling a power adjustment to a lighting device

Номер патента: US09392654B2. Автор: Hao Peng,Wanfeng Zhang,Jinho Choi,Tuyen DOAN. Владелец: MARVELL WORLD TRADE LTD. Дата публикации: 2016-07-12.

Method and device for adjusting router signal power

Номер патента: RU2619596C2. Автор: Цзялинь ФАНЬ,Хэн ЦЮЙ,Юнфэн СЯ,Цючжи ХУАН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2017-05-17.

Cell search method and communications apparatus

Номер патента: US20210076314A1. Автор: Qi Wang,YONG Cheng,Wei Huang,Pengfei Xia,Ping Fang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Method and device for adjusting scheduling in wireless communication system

Номер патента: WO2024071856A1. Автор: Sangjun Moon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2024-04-04.

Method and base station of adjusting uplink load variance due to uplink beam direction change

Номер патента: EP2681852A1. Автор: Zhang Zhang,Jinhua Liu. Владелец: Ericsson China Communications Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-08.

Linkage control method and apparatus for indoor and outdoor units of precision air conditioner

Номер патента: EP3228958A3. Автор: Chao Zhang,Haibo He,Malin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-01.

Control method and circuit for feedforward distortion compensation amplifier

Номер патента: US20030016081A1. Автор: Yuji Saito,Kaoru Ishida,Toshimitsu Matsuyoshi,Naoki Takachi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-23.

Method and apparatus for encoding video, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4135325A1. Автор: Zhao Wan. Владелец: Beijing Baidu Netcom Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Steam generator control method and device, steam generator and steam oven

Номер патента: EP4245194A1. Автор: Min Liu,Yongjun Chen,ZhiWen MAI,Zhangpeng LIN. Владелец: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai. Дата публикации: 2023-09-20.

Photographing method and apparatus, device and storage medium

Номер патента: EP4418668A1. Автор: Rui Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Adjustment method and arrangement for a printing machine

Номер патента: US09895873B2. Автор: Mauro Chiari,Daniel Tapis,Nicolas MOSETTI,Daniel Tatti. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2018-02-20.

Method and operating device for operating an air conditioning system of a vehicle

Номер патента: US09889721B2. Автор: Christian Wall,Matthias Wunderlich. Владелец: Audi AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Load control method and apparatus for wind turbine generator system

Номер патента: AU2021335744B2. Автор: Pengfei Zhang,Weixin KANG,Guilin ZHOU,Xiaofang HUANG. Владелец: GOLDWIND SCIENCE & TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-06-13.

Wavelength Control Method And Apparatus

Номер патента: US20180359046A1. Автор: WEI Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-13.

Methods and system for diagnosing fuel injectors of an engine

Номер патента: US20210054804A1. Автор: Pradheepram Ottikkutti,Shailesh Nair. Владелец: Transportation IP Holdings LLC. Дата публикации: 2021-02-25.

Ink transfer member position adjusting method and apparatus of rotary stencil printing press

Номер патента: US20080178755A1. Автор: Hiromitsu Numauchi,Isao Komuro,Akehiro Kusaka. Владелец: Komori Corp. Дата публикации: 2008-07-31.

Methods and devices for adjustment of transmission parameters

Номер патента: WO2006066844A1. Автор: Johan Nilsson,Bengt Lindoff. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2006-06-29.

Liquid crystal emulsification method and liquid crystal emulsion

Номер патента: US20220403246A1. Автор: Kenji Igarashi,Shinichi Araki,Yoko Hori. Владелец: Wacker Chemie AG. Дата публикации: 2022-12-22.

Method and apparatus for temporarily varying a parameter in an implantable medical device

Номер патента: US20070016259A1. Автор: H. Markowitz,William Combs,Earl Bakken,Rebecca Bergman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-18.

User releasable and adjustable blood pressure cuff and method

Номер патента: US20020103440A1. Автор: Alireza Sadritabrizi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-01.

Load control method and apparatus for wind turbine generator system

Номер патента: AU2021335744C1. Автор: Pengfei Zhang,Weixin KANG,Guilin ZHOU,Xiaofang HUANG. Владелец: GOLDWIND SCIENCE & TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-10-03.

Method and systems for EGR control

Номер патента: US09903289B2. Автор: Luke Michael Henry,David Zielinski. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and apparatus for demand-based cable upstream channel assignment

Номер патента: US09900406B1. Автор: Jeffrey Joseph Howe,William Turner Hanks. Владелец: ARRIS Enterprises LLC. Дата публикации: 2018-02-20.

Methods and devices for locating and adjusting an implantable valve

Номер патента: US09872972B2. Автор: ALAN DEXTRADEUR,Alyssa Trigger,Brian Soares. Владелец: INTEGRA LIFESCIENCES SWITZERLAND SÀRL. Дата публикации: 2018-01-23.

Humidity monitoring and adjustment system

Номер патента: US09709291B2. Автор: Axel Dostmann. Владелец: La Crosse Tech Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Binocular camera resetting method and binocular camera resetting apparatus

Номер патента: US09706188B2. Автор: Rui Wang,Shuda YU. Владелец: SuperD Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and systems for dynamic allocation of network resources

Номер патента: US09647956B2. Автор: Rohan DWARKHA,Alan Bugos. Владелец: Vonage America LLC. Дата публикации: 2017-05-09.

Control method and control device for inverter system

Номер патента: US09634575B2. Автор: Cheng Lu,Jiamin Zhang,Hongyang Wu,Jianhong Zhou. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Method and apparatus for connection establishment

Номер патента: US09462053B2. Автор: Xuesong Yan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-04.

Antenna direction adjustment method and OFDM reception device

Номер патента: US09444671B2. Автор: Tatsuhiro Nakada,Mikio Fujikura. Владелец: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC. Дата публикации: 2016-09-13.

Image pick-up and display system, image pick-up device, image pick-up method, and computer readable storage device

Номер патента: US09414001B2. Автор: Masaharu Yanagidate. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Method and device for controlling transmission power

Номер патента: RU2609149C2. Автор: Пэнфэй ЧЖАН,Юн Чэнь,Тецзюнь ЛЮ,Идун ВАН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2017-01-30.

Method and control device for current differential protection

Номер патента: EP3408910A1. Автор: Ivo Brncic,Zhanpeng Shi,Sören Forsman. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2018-12-05.

Semiconductor deposition method and semiconductor deposition system

Номер патента: US20230054190A1. Автор: Lixia Zhang,Lifeng Qiu. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-02-23.

Method and system for solid object manufacturing

Номер патента: US20160114534A1. Автор: Li Li,Li Yu,Shih-Kuang Tsai. Владелец: Inventec Appliances Pudong Corp. Дата публикации: 2016-04-28.

Manufacturing method and apparatus

Номер патента: IES66229B2. Автор: Patrick Hackett. Владелец: Lancastria Ltd. Дата публикации: 1995-12-13.

Method and apparatus for adjusting center frequency of filter

Номер патента: US20090147147A1. Автор: Jeng-Shiann Jiang. Владелец: Himax Technologies Ltd. Дата публикации: 2009-06-11.

Neural stimulation device, control method, and neural stimulation system

Номер патента: US20240278019A1. Автор: Xiaoyi Min,Jiangshan WEI. Владелец: Amygdala Neuro Technologies Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Data exchange method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20200261802A1. Автор: Qi Jian ZHUANG,Jian Tong LI. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Method and Apparatus for Estimating and Adjusting the Frequency Response of Telecommunications Channels

Номер патента: CA2149604A1. Автор: Vasu Iyengar,Rafi Rabipour. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-12-10.

Apparatus, method, and computer program

Номер патента: US20220141105A1. Автор: Anatoly Andrianov,Jing Ping,Janne Tapio ALI-TOLPPA,Jürgen Goerge. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2022-05-05.

Method and apparatuses for adjusting bandwidth allocation during a collaboration session

Номер патента: EP2147531A1. Автор: Sihai Xiao,Yanghua Liu. Владелец: Webex Communications Inc. Дата публикации: 2010-01-27.

Apparatus, method, and computer program

Номер патента: US12120009B2. Автор: Anatoly Andrianov,Jing Ping,Janne Tapio ALI-TOLPPA,Jürgen Goerge. Владелец: NOKIA SOLUTIONS AND NETWORKS OY. Дата публикации: 2024-10-15.

Pulse and bias synchronization methods and systems

Номер патента: US12131884B2. Автор: Michael Kirk,Aaron Radomski,Aaron Burry,Mariusz OLDZIEJ. Владелец: MKS Instruments Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and system for solid object manufacturing

Номер патента: US09844916B2. Автор: Li Li,Li Yu,Shih-Kuang Tsai. Владелец: Inventec Appliances Pudong Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Sound effect control method and apparatus

Номер патента: US09832582B2. Автор: Jianwei Zhu,Yanhui REN,Fushun Chen. Владелец: Huawei Device Dongguan Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Digital-analog conversion method and device

Номер патента: US09774338B2. Автор: Jongwoo LEE,Thomas Byunghak Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-26.

Method and apparatus for conditioning polishing pad

Номер патента: US09731401B2. Автор: Nobuyuki Takahashi,Toru Maruyama. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Method and device for adjusting transmission power

Номер патента: US09693322B2. Автор: Yong Chen,Pengfei Zhang,Yidong Wang,Tiejun Liu. Владелец: Xiaomi Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Methods and systems for a particulate matter sensor

Номер патента: US09617899B2. Автор: William Russell Goodwin. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2017-04-11.

Method and base station of adjusting uplink load variance due to uplink beam direction change

Номер патента: US09585055B2. Автор: Zhang Zhang,Jinhua Liu. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2017-02-28.

Power control method and terminal equipment

Номер патента: US09532321B2. Автор: Yi Wang,Haibo Xu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and LED apparatus for lighting with LED lighting controller

Номер патента: US09510402B2. Автор: Klaus BOLLMAN. Владелец: Ringdale Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Method and apparatus for the alignment of a 60 GHz endfire antenna

Номер патента: US09478873B2. Автор: Thaddeus John Gabara,Joel Abe Balbien,HungYu David Yang. Владелец: Tensorcom Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Data flow control method and apparatus

Номер патента: US09450701B2. Автор: Roger Chen,Manh H. Do. Владелец: Orbital Multi Media Holdings Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Method and apparatus for prevention of atrial tachyarrhythmias

Номер патента: WO2007127553A1. Автор: Bernard Devries. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2007-11-08.

Methods and apparatus for scheduling of content delivery over a distribution network

Номер патента: EP1861988A1. Автор: An Mei Chen,Ravinder Paul Chandhok. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2007-12-05.

Method and apparatus for three-dimensional beamforming

Номер патента: WO2013181850A9. Автор: Ming Lei,Yu Zhang. Владелец: NEC(CHINA) CO., LTD.. Дата публикации: 2014-11-06.

Method and apparatus for presenting media content

Номер патента: US20130128018A1. Автор: Nadia Morris,William A. Brown,James Carlton Bedingfield, Sr.,Troy Meuninck. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2013-05-23.

Method and apparatus for presenting media content

Номер патента: WO2011159402A1. Автор: William Brown,Nadia Morris,James Carlton Bedingfield,Troy Meuninck. Владелец: AT& T INTELLECTUAL PROPERTY I, L.P.. Дата публикации: 2011-12-22.

User access processing method and related device

Номер патента: EP4307631A1. Автор: Yan Guo,Hongguo CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Method and apparatus for prevention of atrial tachyarrhythmias

Номер патента: EP2015837A1. Автор: Bernard Devries. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2009-01-21.

Method and apparatus for presenting media content

Номер патента: US20110310221A1. Автор: William Brown,Nadia Morris,James Carlton Bedingfield, Sr.,Troy Meuninck. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2011-12-22.

Method and device for transmitter calibration

Номер патента: US8706046B2. Автор: Heinz Mellein. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2014-04-22.

Method and Device for Transmitter Calibration

Номер патента: US20090110041A1. Автор: Heinz Mellein. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2009-04-30.

Method and system for navigating in real time in three-dimensional medical image model

Номер патента: EP1671221A1. Автор: John Koivukangas,Vesa Pentikäinen. Владелец: Onesys Oy. Дата публикации: 2006-06-21.

Methods And Apparatus For Reducing Signal Interference In A Wireless Receiver Based On Signal-To- Interference Ratio

Номер патента: US20080009254A1. Автор: XIN Jin. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2008-01-10.

Beamforming methods and apparatus

Номер патента: WO2008095760A1. Автор: Jae Son. Владелец: Nokia Corporation. Дата публикации: 2008-08-14.

Methods and imaging systems for harvesting

Номер патента: ZA202202108B. Автор: Jason Stoller,Todd Swanson,Aaron HERRMANN. Владелец: Prec Planting Llc. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and apparatus for three-dimensional beamforming

Номер патента: US09730083B2. Автор: Ming Lei,Yu Zhang. Владелец: NEC China Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Method and apparatus for presenting media content

Номер патента: US09479764B2. Автор: Nadia Morris,William A. Brown,James Carlton Bedingfield, Sr.,Troy Meuninck. Владелец: AT&T INTELLECTUAL PROPERTY I LP. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and apparatus for band tuning in a communication device

Номер патента: US09769826B2. Автор: Carsten Hoirup. Владелец: BlackBerry Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Method and device for splicing electric cables

Номер патента: CA2577179A1. Автор: Ubaldo Vallauri,Francesco Portas. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-23.

Wind-up power control method and apparatus in mobile communications system

Номер патента: US20060160557A1. Автор: Seok-ll Chang. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2006-07-20.

Charged particle beam device and inspection method

Номер патента: US12057288B2. Автор: Makoto Sakakibara,Hajime Kawano,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Ergosterol-rich agaricus bisporus and cultivation method and uses thereof

Номер патента: US20210289721A1. Автор: Yun Liang,Sheng CAO,Shenjian WANG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-23.

Fossil fuel thermodynamic system and carbon dioxide emission reduction method and device thereof

Номер патента: GB2625453A. Автор: Peng Sigan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-19.

Near-infrared photothermal catalyst and preparation method and use thereof

Номер патента: US20230076330A1. Автор: BAO Li,Xiaofei Chen,Lixin Wu. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2023-03-09.

Wireless charging control method, and wireless charging transmitter and system

Номер патента: US12088188B2. Автор: Zhixian Wu,Xiaosheng ZENG,Yunhe MAO,Shuangquan Chen. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Self-Adaptive Wave Band Amplification Method And Amplifier

Номер патента: US20210021096A1. Автор: Xiao Cai,Zhenyu Yu,Qinlian Bu,Rui Lei,Chengpeng Fu,Fuxing Deng. Владелец: Accelink Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-21.

Method and device for on-grid and off-grid dispatch, and energy storage air-conditioning system

Номер патента: US12119645B2. Автор: Songru HUANG. Владелец: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai. Дата публикации: 2024-10-15.

Method and telephone

Номер патента: EP2215817A1. Автор: Torbjorn Karlsson,Jonas Aronsson. Владелец: Konftel Ab. Дата публикации: 2010-08-11.

Control method and control apparatus for network node, network node and base station

Номер патента: US20240357486A1. Автор: YONG Li,Yuxin Wang,Yijian Chen,Zhaohua Lu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Adaptive equalization method and apparatus for probabilistic shaping system, and readable storage medium

Номер патента: EP4412109A1. Автор: Liangjun ZHANG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-07.

Idle stroke inspection device of rotation axis and inspection method thereof

Номер патента: TW201012364A. Автор: wei-zhong Chen,hua-feng Xu. Владелец: Jarllytec Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-16.

Mounting circuit board inspection device and mounting circuit board inspection method

Номер патента: JP6924504B2. Автор: 公男 吉住. Владелец: Iwasaki Electric Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-25.

Copper foil surface inspection device and copper foil surface inspection method

Номер патента: JP2003222597A. Автор: Jun Fujiwara,Keiei Shu,慶衛 周,順 藤原. Владелец: Kokusai Gijutsu Kaihatsu Co Ltd. Дата публикации: 2003-08-08.

Pipe network equipment inspection device and pipe network equipment inspection method

Номер патента: CN109767513B. Автор: 刘彬,施飞,郝靖仕,甄广雷. Владелец: Beijing Jas Technical Service Co ltd. Дата публикации: 2021-03-16.

Inspection device for molding and its inspection method

Номер патента: JP2000314610A. Автор: Tetsuo Hiraguchi,哲夫 平口. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2000-11-14.

Paint film strength inspection device and paint film strength inspection method

Номер патента: JP2003083876A. Автор: Makoto Hirota,真 廣田. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2003-03-19.

Appearance inspection device for workpiece and appearance inspection method for workpiece

Номер патента: TW201140035A. Автор: Hiroyuki Mochizuki,Katsuyoshi Kodera,Tasuku Goto. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERNS FORMED ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002860A1. Автор: Sakai Kaoru,Shibuya Hisae,Maeda Shunji,Nishiyama Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ARTICLE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD

Номер патента: US20120002788A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PLAYBACK DEVICE, PLAYBACK METHOD AND PROGRAM

Номер патента: US20120002518A1. Автор: Yonezawa Takeshi,Sagara Seiichi,Uemura Kamon. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND APPARATUS FOR RADIO FREQUENCY (RF) PLASMA PROCESSING

Номер патента: US20120000888A1. Автор: . Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM OF CONTROLLING AIR TRAFFIC

Номер патента: US20120004837A1. Автор: MCDONALD GREG. Владелец: AIRSERVICES AUSTRALIA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND APPARATUS FOR APPLYING METALLIC CLADDING TO INTERIOR SURFACES OF PIPE ELBOWS

Номер патента: US20120000966A1. Автор: GREENWALL Norman Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR CALCULATING A POWER CONSUMPTION SEGMENT AND DISPLAYING A POWER CONSUMPTION INDICATOR

Номер патента: US20120001883A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR REDUCING POWER CONSUMPTION USED IN COMMUNICATION SYSTEM HAVING TIME SLOTS

Номер патента: US20120002561A1. Автор: Su Wei-Kun,Huang Po-Chun,Chen Yuan. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR MULTI-LAYER RATE CONTROL FOR A MULTI-CODEC SYSTEM

Номер патента: US20120002721A1. Автор: CHEN Xuemin,Berbecel Gheorghe. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ENCODING DEVICE AND METHOD AND MULTIMEDIA APPARATUS INCLUDING THE ENCODING DEVICE

Номер патента: US20120002724A1. Автор: KIim Seong Hee. Владелец: CORE LOGIC INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND SYSTEMS FOR DETERMINING AN ENHANCED RANK ORDER VALUE OF A DATA SET

Номер патента: US20120002876A1. Автор: WILLIAMS DARIN S.. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2012-01-05.

CONTROL DEVICE, CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM

Номер патента: US20120002522A1. Автор: Yamamoto Masaaki. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Device For Controlling an Internal Combustion Engine

Номер патента: US20120004822A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID FUEL PRODUCING METHOD AND LIQUID FUEL PRODUCING SYSTEM

Номер патента: US20120004329A1. Автор: Iwama Marie. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for rail joint thermal treatment

Номер патента: RU2411295C2. Автор: Лионел ВИНИАР. Владелец: РЕЙЛТЕК ИНТЕРНЕЙШНЕЛ. Дата публикации: 2011-02-10.

METHOD AND APPARATUS FOR STORING LIQUEFIED NATURAL GAS

Номер патента: US20120000242A1. Автор: Baudat Ned P.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR TRANSMITTING DATA ON RELAY COMMUNICATION SYSTEM

Номер патента: US20120002598A1. Автор: Kim Byoung-Hoon,Seo Han-Byul. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Improved Methods and Means for Carburetting Air and Enriching Gas for Illumination, Heating and Power Purposes.

Номер патента: GB190101173A. Автор: James Hills Hartridge. Владелец: Individual. Дата публикации: 1901-12-31.

METHOD AND APPARATUS FOR SEPARATING AND COMPOSING SEISMIC WAVES

Номер патента: US20120002505A1. Автор: . Владелец: Institue of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING ENCODED CONTENT USING DYNAMICALLY OPTIMIZED CONVERSION

Номер патента: US20120002716A1. Автор: Gasparri Massimiliano,Antonellis Darcy. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.