Probing apparatus and probing method for electronic device
Номер патента: JP5706501B1
Опубликовано: 22-04-2015
Автор(ы): 小澤 裕一, 徹夫 吉田, 潤三 小塩, 裕一 小澤
Принадлежит: Tokyo Seimitsu Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 22-04-2015
Автор(ы): 小澤 裕一, 徹夫 吉田, 潤三 小塩, 裕一 小澤
Принадлежит: Tokyo Seimitsu Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Apparatus and method for authentication of electronic device test stations
Номер патента: US20190317174A1. Автор: Chi Wah Cheng,Yu Sze Cheung. Владелец: ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD. Дата публикации: 2019-10-17.