Method for measuring a temperature
Номер патента: US20190265110A1
Опубликовано: 29-08-2019
Автор(ы): Heiko Weber
Принадлежит: Applied Materials Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-08-2019
Автор(ы): Heiko Weber
Принадлежит: Applied Materials Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Temperature calibration methods for semiconductor machine
Номер патента: US20220319883A1. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-06.