• Главная
  • Measuring device, measuring method, and measuring program

Measuring device, measuring method, and measuring program

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Dispersion measuring device, and dispersion measuring method

Номер патента: US20240201046A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-20.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20240210275A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-27.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: EP4325194A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-21.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20240192082A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-13.

Dispersion measuring device, and dispersion measuring method

Номер патента: EP4303548A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-01-10.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240011848A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4303550A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-10.

Optoelectronic position measurement device and position measurement method

Номер патента: CA2747075C. Автор: Werner Amann. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2013-12-24.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20170097267A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: US20140218751A1. Автор: QI Wu,Koji Omichi,Hideki Soejima,Yoji Okabe,Ryujiro NOMURA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2014-08-07.

Stitching-measurement device and stitching-measurement method

Номер патента: US20210278201A1. Автор: Xin JIA,Fuchao Xu,Tingwen Xing,Dachun GAN. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2021-09-09.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: EP4325193A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-21.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: EP4446717A1. Автор: Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-16.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US12098972B2. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Volume measuring device and volume measuring method

Номер патента: US09976892B2. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Backlash measurement device and backlash measurement method

Номер патента: US09651451B2. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Measuring method, measuring system, and measuring device

Номер патента: US20240077339A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Kimihiro Yokoyama,Ryoma KOBAYASHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A3. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-18.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US20230016943A1. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140036956A1. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US09341519B2. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20150003491A1. Автор: Hidenori Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP1486763A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Zixsys Inc. Дата публикации: 2004-12-15.

Temperature sensor, temperature measuring device, and temperature measuring method

Номер патента: US11867458B2. Автор: Manabu NAKAGAWASAI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-09.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: EP3627120A1. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Threaded shaft measuring device, threaded shaft measuring method, and adjustment jig

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Yoshiyuki Omori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449A1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2022-05-18.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US20200386537A1. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2020-12-10.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US11156451B2. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2021-10-26.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US09513101B2. Автор: Yasuto Kanayama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US20120092671A1. Автор: Hitoshi Igarashi,Kenji Hatada,Jun USHIAMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-19.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US09671289B2. Автор: Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-06.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11762070B2. Автор: Yuki Matsui,Franco Zappa,Federica Villa,Ken NAKAMURO,Rudi LUSSANA. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US09494622B2. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-11-15.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4130738A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US20240268719A1. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-08-15.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US20240329094A1. Автор: Yusuke Shindo. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240230899A9. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

OCT measuring device and oct measuring method

Номер патента: US11408722B2. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP3904826A1. Автор: Kenichi TAYU. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11719791B2. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240268681A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US12102430B2. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-10-01.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: US09970838B2. Автор: Tomohide Minami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Porosity measuring device and porosity measuring method

Номер патента: US09366614B2. Автор: Makoto Kawano,Hitoshi Watarai. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2016-06-14.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200088853A1. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11747427B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20230136517A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4332526A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20230417600A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240241254A1. Автор: Yusuke YATA. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Colour measurement device and colour measurement method

Номер патента: US09681012B2. Автор: Yasushi Goto,Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-13.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US12078648B2. Автор: Masaki Shiba,Hiroki Kotake,Akihito Kato. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Size measurement device and size measurement method

Номер патента: US09607406B2. Автор: Yuuji Toyomura,Takahiro Shoji,Ryouta Hata. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A2. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230296773A1. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A3. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-24.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230079310A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-16.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: US09766174B2. Автор: Gakuji Hashimoto,Suguru Dowaki,Shingo Imanishi,Shunpei Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US11867628B2. Автор: Takahiro Ando,Sakuichiro Adachi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP3872479A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-09-01.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US20150226852A1. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Test set for a photometric measuring device, and photometric measuring method for a sample liquid

Номер патента: US09804095B2. Автор: Gerhard Bonecker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US09605944B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Deflection measuring device and deflection measuring method

Номер патента: US09459093B2. Автор: Hidenori Sato,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program

Номер патента: EP2017572A3. Автор: Hiroyuki Hidaka,Tsukasa Kojima. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2009-03-18.

Surface shape measurement device, surface shape measurement method, and conveyor belt management method

Номер патента: EP4354080A1. Автор: Yoshihiro Akechi,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method, and program

Номер патента: US20100286961A1. Автор: Tsukasa Kojima. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP3370035A1. Автор: Takahiro Kubota,Takuya Goto,Yuichi Sasano,Kei Yoshitomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: US20240085298A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

A measuring device and a measurement method thereof

Номер патента: EP4340718A1. Автор: Jihad Ali Mustapha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-27.

Speed measurement device and speed measurement method

Номер патента: US20200003887A1. Автор: Takafumi Matsumura,Masayuki Satou. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2020-01-02.

Measuring device and a measurement method thereof

Номер патента: US11920926B2. Автор: Jihad Ali Mustapha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-05.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11828882B2. Автор: Keitarou Amagawa,Yusuke Moriyama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Bubble measurement device and bubble measurement method

Номер патента: AU2021230183A1. Автор: Shintaro Ishikawa,Yoshihiko NAKAO. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2022-09-08.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10704899B2. Автор: Shinya Takahashi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-07-07.

Bubble measurement device and bubble measurement method

Номер патента: US20230228663A1. Автор: Yoshihiko NAKAO. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-07-20.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20170307358A1. Автор: Yoshio MOTOWAKI. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Target measurement device and target measurement method

Номер патента: EP3951431A1. Автор: Masanori Ito. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Thz measuring device and thz measurement method for measuring test objects, in particular pipes

Номер патента: US20230314315A1. Автор: Ralph Klose,Jörg Klever. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-10-05.

Component measurement device and component measurement method

Номер патента: US20240122503A1. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: EP4354079A1. Автор: Shinji Sato. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: US20150377732A1. Автор: Tomohide Minami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-12-31.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: CA3190342A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-03-29.

Thz measuring device and thz measuring method for determining a layer thickness or a distance of a measurement object

Номер патента: US20220146251A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2022-05-12.

Oct measuring device and oct measuring method

Номер патента: US20210381818A1. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US12007479B2. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

THz measuring device and THz measuring method for determining a layer thickness or a distance of a measurement object

Номер патента: US11988499B2. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-05-21.

Fish measuring device and fish measuring method

Номер патента: EP4292430A1. Автор: Satoshi Nakamura,Wataru Sato,Atsushi Ikegami. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US20230341224A1. Автор: Takeshi Tamura,Tomohiro Kaneko,Munehisa Kodama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200124514A1. Автор: Yusuke Matsuura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Takuya TABUCHI,Kazuna BANDO. Владелец: Rion Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240134045A1. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Surface measuring device and surface measuring method

Номер патента: US20200158502A1. Автор: Cheng-Ting Tsai,Lan-Sheng Yang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2020-05-21.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4123292A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-01-25.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20180267155A1. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: US20210181024A1. Автор: Norio Hasegawa. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: US11391630B2. Автор: Norio Hasegawa. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

Colour measurement device and colour measurement method

Номер патента: US20170078505A1. Автор: Yasushi Goto,Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-03-16.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20220244558A1. Автор: Makio KURASHIGE,Shumpei NISHIO,Kazutoshi Ishida. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2022-08-04.

Gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: EP4293344A1. Автор: Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada,Manase Mizutani. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-12-20.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US11960101B2. Автор: Makio KURASHIGE,Shumpei NISHIO,Kazutoshi Ishida. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2024-04-16.

Gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: US20230408400A1. Автор: Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada,Manase Mizutani. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-12-21.

Fish measuring device and fish measuring method

Номер патента: EP4292431A1. Автор: Satoshi Nakamura,Wataru Sato,Atsushi Ikegami. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200284888A1. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Odor measuring device and odor measuring method

Номер патента: US20240210355A1. Автор: Junji Oshita. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2024-06-27.

Battery measurement device and battery measurement method

Номер патента: US20240125863A1. Автор: Masaaki Kitagawa,Isao Ishibe. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US11846632B2. Автор: Masaki Shiba,Hironori KATSUMI,Tsuyoshi Fukuzaki. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: EP4101810A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2022-12-14.

Angle measuring device and angle measuring method

Номер патента: US20230072262A1. Автор: Daisuke Takai,Mitsunobu Inoue,Naoya SHIMADA,Taiki Igarashi. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230078944A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-16.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240103166A1. Автор: Shoji Ichiki. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Noise measuring device and noise measuring method

Номер патента: EP4332590A1. Автор: Toshiaki Makino,Yoshio Kubota. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

pH measuring device and pH measuring method

Номер патента: US11802848B2. Автор: Toshiyuki Shiokawa. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-31.

Distance measuring device and distance measurement method

Номер патента: US20240159876A1. Автор: Yoshinao Kawai,Masaki Kanemaru,Toshiaki Hiraoka. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-05-16.

Spectroscopic measurement device and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20140009761A1. Автор: Teruyuki Nishimura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-01-09.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160116305A1. Автор: MIYAZAWA Fuyuki,HAMAMOTO Takaki,Oyama Katsuhiro,HAGIWARA Yasuhito. Владелец: TAIYO YUDEN CO., LTD.. Дата публикации: 2016-04-28.

Clearance measurement device and clearance measurement method for combustor

Номер патента: US9618333B2. Автор: Kenta Taniguchi,Yugo Tokunaga. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10746539B2. Автор: Masaki Fujiwara,Tsuyoshi Suenaga. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2020-08-18.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: EP3699573A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Kazuhiro Sasaki. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2020-08-26.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240125932A1. Автор: Tomohito Nagata. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-04-18.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US9395178B2. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-07-19.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: EP4102212A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2022-12-14.

Velocity measuring device and velocity measuring method using the same

Номер патента: US20210374983A1. Автор: Jian-An Chen. Владелец: ICatch Technology Inc. Дата публикации: 2021-12-02.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: EP4365546A1. Автор: Tomohito Nagata. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-05-08.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230096909A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-30.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: EP4086619A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2022-11-09.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20170097267A1. Автор: Hiroyuki Fukuda,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Takahiro Arioka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-06.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: JP5502963B2. Автор: 勝弘 小山. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2014-05-28.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: CN101283242A. Автор: 山本义典,坂部至,屉冈英资. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2008-10-08.

Optoelectronic position measurement device and position measurement method

Номер патента: CN102246007B. Автор: W·阿曼. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2014-07-02.

Wavefront measurement device and wavefront measurement method

Номер патента: EP4242621A1. Автор: Toshiyuki Ando,Takao Endo,Akihiro FUJIE,Yoshichika MIWA. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

DIVERGENCE ANGLE MEASUREMENT DEVICE, DIVERGENCE ANGLE MEASUREMENT METHOD, LASER APPARATUS, AND LASER SYSTEM

Номер патента: US20200033188A1. Автор: Hidaka Hikaru. Владелец: FUJIKURA LTD.. Дата публикации: 2020-01-30.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US20180364021A1. Автор: Yuki Takahashi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-12-20.

Angle measuring device and angle measuring method for scanning device of laser radar

Номер патента: EP4318024A4. Автор: Shaoqing Xiang,Yongfeng Gao. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: US09851224B2. Автор: Satoshi Adachi,Toshihiro Hasegawa,Youhei TOKU. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Angle measuring device and angle measuring method for scanning device of laser radar

Номер патента: EP4318024A1. Автор: Shaoqing Xiang,Yongfeng Gao. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Angle measuring device and angle measuring method for scanning device of laser radar

Номер патента: US20240061093A1. Автор: Shaoqing Xiang,Yongfeng Gao. Владелец: Hesai Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Measurement system, measurement device, and measurement method to detect a direction in which fluid flows

Номер патента: US11927463B2. Автор: Yutaka Yano,Makoto Saitoh,Eitaro MISUMI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Measuring device and measuring method for continuous physical quantity

Номер патента: CA2767586C. Автор: Yushan Hao. Владелец: Baoding Sanchuan Electric Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-07.

Measuring device and measuring method for continuous physical quantity

Номер патента: US20120109586A1. Автор: Yushan Hao. Владелец: Baoding Sanchuan Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

Displacement amount measuring device, displacement amount measuring method, and recording medium

Номер патента: US11846498B2. Автор: Hiroshi Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Electromagnetic wave measuring device, electromagnetic wave measuring method, and programs therefor

Номер патента: US20170097262A1. Автор: Akira Oide,Atsushi Shoji,Hiroki Nagashima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-04-06.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: WO2023105856A1. Автор: 基広 浅野. Владелец: コニカミノルタ株式会社. Дата публикации: 2023-06-15.

Spread angle measurement device, spread angle measurement method, laser device, and laser system

Номер патента: EP3605039A1. Автор: Hikaru Hidaka. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2020-02-05.

Spread angle measurement device, spread angle measurement method, laser device, and laser system

Номер патента: JP2018163014A. Автор: 輝 日高,Teru Hidaka. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP3736540C0. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-19.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP3736540B1. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-19.

PRESSURE-MEASURING DEVICE AND PRESSURE-MEASURING METHOD FOR A TURBOMACHINE

Номер патента: US20130139578A1. Автор: Schroer Frank,HOEHNE Peter. Владелец: ROLLS-ROYCE DEUTSCHLAND LTD & CO KG. Дата публикации: 2013-06-06.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD WITH COUPLED DISPLAY

Номер патента: US20140095116A1. Автор: Keller Matthias. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-03.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND SPEED MEASURING METHOD OF DRILLING TRACTION ROBOT

Номер патента: US20220307367A1. Автор: Liu Qingyou,Zhao Jianguo,ZHU Haiyan,WANG Guorong. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20160209242A1. Автор: ADACHI Satoshi,HASEGAWA Toshihiro,TOKU Youhei. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-21.

ACCELERATOR PLAY MEASUREMENT DEVICE, ACCELERATOR PLAY MEASUREMENT METHOD, PROGRAM, AND MEDIUM

Номер патента: US20210247272A1. Автор: WATANABE Kenji,SHIMIZU Tsuyoshi,KODAMA Akihiko. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

Backlash measurement device and backlash measurement method

Номер патента: US20150260608A1. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-17.

Velocity Measurement Device and Velocity Measurement Method

Номер патента: US20150331006A1. Автор: Urata Jyunichi,Inaba Masayuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-19.

Pressure measurement device and pressure measuring method for a turbomachinery

Номер патента: EP2600130B1. Автор: Frank Schröer,Peter HÖHNE. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2016-02-03.

Backlash measuring device and backlash measuring method

Номер патента: JP5903498B2. Автор: 英夫 鈴木,一成 稲森,田中 進,進 田中,誠一郎 中,祐二 瀬崎. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-13.

Plastics weldment airtightness measurement device and its measurement method

Номер патента: CN110285938A. Автор: 朱立华,章富贵,段聪军. Владелец: Roechling Automotive Parts (kunshan) Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-27.

Game measuring device and game measuring method

Номер патента: DE112013005357T5. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-23.

Temperature measuring probe, temperature measuring device, and temperature measuring method

Номер патента: JP5455781B2. Автор: 薫 小嶋. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-03-26.

Temperature measurement probe, temperature measurement device, and temperature measurement method

Номер патента: JP2011242287A. Автор: 薫 小嶋,Kaoru Kojima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-01.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140036956A1. Автор: GOTO Kenji. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20150003491A1. Автор: MATSUMOTO Hidenori. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2015-01-01.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220170800A1. Автор: Seyama Michiko,Tanaka Yujiro,Matsunaga Daichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-02.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140278201A1. Автор: Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-09-18.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20140343887A1. Автор: SHIMIZU Sakiko. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-20.

PROGRESSIVE WAVE MOTOR PROVIDED WITH A TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: FR2769149A1. Автор: Walter Huber,Michael Schreiner. Владелец: Daimler Benz AG. Дата публикации: 1999-04-02.

Temperature measuring device and temperature measuring method of integrated chip

Номер патента: CN112945418A. Автор: 邴春秋. Владелец: SG Micro Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-11.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: WO2021220396A1. Автор: 倫子 瀬山,雄次郎 田中,大地 松永. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2021-11-04.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: JP7151607B2. Автор: 倫子 瀬山,雄次郎 田中,大地 松永. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-10-12.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: WO2003078948A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Fec Inc.. Дата публикации: 2003-09-25.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Shape measuring device, shape measuring method, and shape measuring program

Номер патента: US8743374B2. Автор: Takashi Nakatsukasa. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2014-06-03.

Surface measurement device and surface measurement method

Номер патента: EP3951315A1. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200371050A1. Автор: Tomihiro Hashizume,Masatoshi Yasutake,Tsunenori Nomaguchi,Takafumi Miwa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-11-26.

Time measurement device, fluorescence lifetime measurement device, and time measurement method

Номер патента: EP4174588A4. Автор: Fuminori NIIKURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-17.

Dust measurement device and dust measurement method

Номер патента: EP3862744A1. Автор: Atsushi Ueno,Hidehiko Nakagawa,Shigetomo SUZUKI,Taro Matsuda,Yasuko Yamazaki. Владелец: Akebono Brake Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Method and Means for Detecting the Activity of Osteoclasts

Номер патента: US20120003684A1. Автор: Peter Dieter,Ute Hempel,Anne-Helen Lutter. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2012-01-05.

Light source device, distance measuring device, and distance measuring method

Номер патента: US20240337730A1. Автор: Takuya Yokoyama,Shunpei Suzuki. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: US09700248B2. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-11.

Molecule Measuring Device and Molecule Measuring Method

Номер патента: US20080289404A1. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: NATIONAL UNVIERSITY Corp HOKKAIDO UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-11-27.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4455722A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Biological sample measurement device

Номер патента: US09625441B2. Автор: Takahiro Watanabe,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Biological sample measurement device

Номер патента: US09933410B2. Автор: Takahiro Watanabe,Masumi Aono. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: US20200333250A1. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-22.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240118418A1. Автор: Kazuki CHIDA. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Light measuring device and light measuring method

Номер патента: US09625389B2. Автор: Masataka Shirai,Koichi Watanabe,Manabu Shiozawa,Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method and surface texture measuring program

Номер патента: EP2017572B1. Автор: Hiroyuki Hidaka,Tsukasa Kojima. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-03-09.

Flow rate measuring device, flow rate measuring method, and flow rate measuring program

Номер патента: JP6493235B2. Автор: 克行 山本,隆平 後藤,秀之 中尾,憲一 半田. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-04-03.

Surface-shape measuring device, surface-shape measuring method and surface-shape measuring program

Номер патента: EP3346232B1. Автор: Takashi Miyawaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Magnetization measurement device and magnetization measurement method

Номер патента: EP4033265A4. Автор: Tatsunori SHINO. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-11-09.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: EP4194840A4. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449B1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2023-09-13.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: EP4365546A4. Автор: Tomohito Nagata. Владелец: Nuvoton Technology Corp Japan. Дата публикации: 2024-09-18.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: EP3299781B1. Автор: Hisashi Isozaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A4. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Ultrasonic flowmeter, flow velocity measurement method, and flow velocity measurement program

Номер патента: US09618371B2. Автор: Koji Muraki. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Distance measuring device, distance measuring method, and program

Номер патента: US20240004072A1. Автор: Haruhiko Terada. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Sample measuring method, cartridge, and sample measuring device

Номер патента: EP4212881A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Kohei Oda,Hironori KATSUMI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20240085348A1. Автор: Atsushi Yamada,TAKAHIRO Oishi,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement device, detection device, and measurement method

Номер патента: EP4091540A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Measuring device and measuring method

Номер патента: EP4283283A1. Автор: Atsushi Yamada,TAKAHIRO Oishi,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Aperture measuring device and an aperture measuring method

Номер патента: US20190017800A1. Автор: Jie Wang,Haifeng Chen,Dingyuan LI,Ruwang Guo. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Method and device for optical gear measurement

Номер патента: US20220187060A1. Автор: Markus Finkeldey,Jonas Stefer,Jan Merkert. Владелец: Klingelnberg GmbH. Дата публикации: 2022-06-16.

Thz measuring device and thz measuring method for determining defects in measuring objects

Номер патента: US20220057333A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2022-02-24.

Bubble measurement device and bubble measurement method

Номер патента: AU2021375031A1. Автор: Yoshihiko NAKAO. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-03-30.

THz measuring device and THz measuring method for determining defects in measuring objects

Номер патента: US11835467B2. Автор: Ralph Klose. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2023-12-05.

Laser Range Measuring Device, Laser Range Measuring Method and Laser Range Measuring Device

Номер патента: KR20230004200A. Автор: 신웅철. Владелец: 주식회사 맥파이테크. Дата публикации: 2023-01-06.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20240110866A1. Автор: Katsuya Watanabe,Takuma Yokoyama. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-04-04.

Measuring Sensor, Measuring Device, Detection Module, Measuring Method and Calibration Method

Номер патента: US20200309823A1. Автор: Beiner Dirk,Wun Tommy,Lo Benson. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US11796468B2. Автор: Kazune Mano. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Spectroscopic measurement device and spectrometry system

Номер патента: US20190277696A1. Автор: Makoto Kono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-09-12.

CONTACTLESS INTERNAL MEASUREMENT DEVICE, CONTACTLESS INTERNAL MEASUREMENT METHOD, AND INTERNAL MEASUREMENT RESULT DISPLAY SYSTEM

Номер патента: US20200243211A1. Автор: TANAKA Yukinobu. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE, THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING METHOD AND VACUUM EVALUATION DEVICE

Номер патента: US20190360953A1. Автор: Goto Yukihiro,HASEGAWA Toshikazu,CHIBA Isamu. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20230333007A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-10-19.

X-ray measuring device, X-ray measuring method and machine learning method

Номер патента: JP7200193B2. Автор: 孝訓 村野,文徳 植松. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-06.

THz MEASURING DEVICE AND THz MEASURING METHOD FOR MEASURING A TRANSPORTED MEASURING OBJECT

Номер патента: US20230095853A1. Автор: Marius Thiel. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-03-30.

Molecule measuring device and molecule measuring method

Номер патента: EP1780529A4. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2011-11-09.

Electrical measurement cartridge, electrical measurement device, and electrical measurement method

Номер патента: US20190353638A1. Автор: Isao Hidaka,Daisuke Terakado. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2019-11-21.

LIQUID SAMPLE MEASUREMENT DEVICE, LIQUID SAMPLE MEASUREMENT METHOD, AND BIOSENSOR

Номер патента: US20160025674A1. Автор: FUJIWARA Masaki,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-28.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD ESPECIALLY FOR THE MEASUREMENT OF FMCW SIGNALS

Номер патента: US20160033624A1. Автор: Cirillo Luke,Lagler Andreas,Lohmer Clemens. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

THZ MEASURING DEVICE AND THZ MEASURING METHOD FOR DETERMINING DEFECTS IN MEASURING OBJECTS

Номер патента: US20220057333A1. Автор: KLOSE Ralph. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

THREADED SHAFT MEASURING DEVICE, THREADED SHAFT MEASURING METHOD, AND ADJUSTMENT JIG

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Omori Yoshiyuki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-14.

THZ MEASURING DEVICE AND THZ MEASURING METHOD FOR DETERMINING A LAYER THICKNESS OR A DISTANCE OF A MEASUREMENT OBJECT

Номер патента: US20220146251A1. Автор: BÖHM Roland. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

PERMEABILITY MEASUREMENT JIG, PERMEABILITY MEASUREMENT DEVICE, AND PERMEABILITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220171002A1. Автор: TAMARU Shingo. Владелец: . Дата публикации: 2022-06-02.

WIND SPEED MEASURING DEVICE, WIND SPEED MEASURING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210181230A1. Автор: HANEDA NAOYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-17.

MEASUREMENT DEVICE AND FEATURE MEASUREMENT METHOD OF OBJECT TO BE MEASURED EMPLOYING SAME

Номер патента: US20140252235A1. Автор: Kamba Seiji,Kondo Takashi. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2014-09-11.

Temperature Measuring Device and Temperature Measuring Method for Measuring Temperature of Molten Metals

Номер патента: US20200158575A1. Автор: Sun Jie,Liang Bin,XIE Qixian,Zhang Jiu,Mei Guohui. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

DISPLACEMENT AMOUNT MEASURING DEVICE, DISPLACEMENT AMOUNT MEASURING METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20210239458A1. Автор: Imai Hiroshi. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2021-08-05.

LIQUID SAMPLE MEASUREMENT DEVICE, LIQUID SAMPLE MEASUREMENT METHOD, AND BIOSENSOR

Номер патента: US20190250119A1. Автор: FUJIWARA Masaki,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-15.

MEASURING METHOD, MEASURING ARRANGEMENT AND MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190277768A1. Автор: MÄNTYLÄ Markku. Владелец: VALMET AUTOMATION OY. Дата публикации: 2019-09-12.

DISTANCE-MEASURING SYSTEM, DISTANCE-MEASURING DEVICE AND DISTANCE-MEASURING METHOD

Номер патента: US20200309941A1. Автор: YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Makari Hiroo. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

ELECTRICAL MEASUREMENT CARTRIDGE, ELECTRICAL MEASUREMENT DEVICE, AND ELECTRICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190353638A1. Автор: Hidaka Isao,Terakado Daisuke. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-21.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE, THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20200386537A1. Автор: NISHIYAMA Akira. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc.. Дата публикации: 2020-12-10.

3D shape measuring device, 3D shape measuring method and program

Номер патента: JP6994165B2. Автор: 静生 坂本. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-01-14.

Measuring method, measuring arrangement and measuring device

Номер патента: US10969343B2. Автор: Markku Mantyla. Владелец: VALMET AUTOMATION OY. Дата публикации: 2021-04-06.

Transmission characteristic measuring device, transmission characteristic measuring method, and amplifier

Номер патента: EP1501334A1. Автор: Michiaki SONY CORPORATION YONEDA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-01-26.

Three-dimensional measuring device, three-dimensional measuring method, and program

Номер патента: JP2016080393A. Автор: Toshihiro Kobayashi,俊広 小林,小林 俊広. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-16.

Outside dimension measuring device, outside dimension measuring method, and computer program product

Номер патента: DE102015009471B4. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Resistance measurement circuit, measurement device and resistance measurement method

Номер патента: DE102020004075A1. Автор: Stefan Nickl. Владелец: Diehl Metering GmbH. Дата публикации: 2022-01-13.

Thickness measuring probe, thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: CN115077401B. Автор: 杨灏,金少峰,王三宏. Владелец: Shenzhen Sincevision Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-02.

Waveguide mode measuring device, waveguide mode measuring method, and waveguide system

Номер патента: JP7186932B2. Автор: 秀憲 湯川,伸一 山本,宏昌 中嶋. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-12-09.

Measurement device and feature measurement method of object to be measured employing same

Номер патента: EP2755017A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-16.

Three-dimensional measuring device, three-dimensional measuring method, and storage medium

Номер патента: CN109751973B. Автор: 诹访正树,付星斗. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-12-11.

Transmission characteristic measuring device transmission characteristic measuring method, and amplifier

Номер патента: US20060100809A1. Автор: Michiaki Yoneda. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2006-05-11.

3D shape measuring device, 3D shape measuring method and program

Номер патента: KR20190103270A. Автор: 다카시 시미즈,야스히로 오니시. Владелец: 오므론 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-09-04.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE, DISTANCE MEASURING DEVICE, AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220057490A1. Автор: ISHII Motonori,KASUGA Shigetaka. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

SOLID-STATE IMAGING DEVICE, DISTANCE MEASUREMENT DEVICE, AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180246214A1. Автор: SAITOU Shigeru,KOYAMA Shinzo,TAKEMOTO Masato,ISHII Motonori. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-30.

Solid state imaging device, distance measuring device, and distance measuring method

Номер патента: US9148595B2. Автор: Shiroshi Kanemitsu,Tatsuji Ashitani,Miho IIZUKA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-29.

Measuring method, support device and measuring device

Номер патента: WO2006097319A2. Автор: Klaus Michael Lass,Carlos Machado. Владелец: L.M.F. Fahrzeugtechnik Gmbh. Дата публикации: 2006-09-21.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP4382858A1. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Light measurement device and light measurement method

Номер патента: EP3745114A1. Автор: Kengo Suzuki,Kazuya Iguchi,Shigeru EURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-12-02.

Measuring device, measuring coordinate setting method and measuring coordinate number calculating method

Номер патента: JP5450180B2. Автор: 眞 小野. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-03-26.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20130194572A1. Автор: Kenji Goto,Hideaki Yamada. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2013-08-01.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20130222577A1. Автор: YAMANAKA Yuji,MASUDA Kensuke. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-29.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130342849A1. Автор: Shioda Tatsutoshi. Владелец: National University Corporation Nagaoka University of Technology. Дата публикации: 2013-12-26.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140009761A1. Автор: Nishimura Teruyuki. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220003849A1. Автор: Tayu Kenichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-06.

SPEED MEASUREMENT DEVICE AND SPEED MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200003887A1. Автор: MATSUMURA Takafumi,SATOU Masayuki. Владелец: Hitachi Automotive Systems, Ltd.. Дата публикации: 2020-01-02.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150006107A1. Автор: GOTO Kenji,YAMADA Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

MICROCHIP, MICROPARTICLE MEASURING DEVICE, AND MICROPARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210018424A1. Автор: Kajihara Junji,Okamoto Yoshiki. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2021-01-21.

DISTANCE MEASURING DEVICE, AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210026012A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: US20170029002A1. Автор: Takashi Iwamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-02-02.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190033067A1. Автор: Yamagami Tsuyoshi,Shimodaira Masato. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-01-31.

GLITCH MEASUREMENT DEVICE AND GLITCH MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200033406A1. Автор: Wang Ting-Hao,LEE Po-Chen. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

FRET MEASUREMENT DEVICE AND FRET MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150044690A1. Автор: Doi Kyouji,Asano Yumi,Ohba Yusuke,Nakada Shigeyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

FRET MEASUREMENT DEVICE AND FRET MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150044763A1. Автор: Doi Kyouji,Asano Yumi,Ohba Yusuke,Nakada Shigeyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220057203A1. Автор: Tayu Kenichi. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20180045571A1. Автор: Masataka Shirai,Koichi Watanabe,Manabu Shiozawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-02-15.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220066033A1. Автор: Kondo Tomonori,KAJII Yosuke. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2022-03-03.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210055160A1. Автор: ZHUANG TUO. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

LOAD MEASURING DEVICE AND LOAD MEASURING METHOD

Номер патента: US20210055193A1. Автор: NAGASAWA Kaoru,NUKUI Kotaro,SHIGENO Suguru. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-25.

COLOR MEASUREMENT DEVICE AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170052068A1. Автор: Nagai Yoshiroh. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2017-02-23.

Portable noise measuring device and noise measuring method

Номер патента: US20180054674A1. Автор: Sung Uk CHOI,Young Key Kim,Sung Gyoo CHOI,Se Min MOON,Ki Ho JANG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-02-22.

CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND CURRENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150061642A1. Автор: TSUBATA Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220075062A1. Автор: TAKASHIMA Jun,KANETANI Yoshihiro. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2022-03-10.

ENVIRONMENT MEASURING DEVICE AND ENVIRONMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20160061777A1. Автор: Takasu Ryozo. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2016-03-03.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220082694A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu,Katagiri Hisaaki. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2022-03-17.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200064451A1. Автор: MATSUI Yuki,NAKAMURO Ken,Zappa Franco,VILLA Federica,LUSSANA Rudi. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-27.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180073928A1. Автор: TSUE Mitsuhiro,NAKAYA Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220091253A1. Автор: YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Oshiro Masayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-24.

COLOUR MEASUREMENT DEVICE AND COLOUR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170078505A1. Автор: GOTO Yasushi,Nagai Yoshiroh. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2017-03-16.

Color Measuring Device And Color Measuring Method

Номер патента: US20180080829A1. Автор: TANIMURA YASUTAKA,BANDO Ryoji. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-22.

ELECTROOPTICAL DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160084651A1. Автор: HINDERLING Jürg,SINGER Julien. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-24.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200081088A1. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-12.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210088646A1. Автор: Kato Takayuki,YOSHIDA Hiroshi,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,Nishikawa Masaki,Nito Yoshiharu,Oshiro Masayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210088660A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180087968A1. Автор: Isozaki Hisashi. Владелец: TOPCON CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-29.

POROSITY MEASURING DEVICE AND POROSITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20140174157A1. Автор: KAWANO Makoto,Watarai Hitoshi. Владелец: OSAKA UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-06-26.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200088853A1. Автор: Kubota Hiroshi,MATSUMOTO Nobu. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200088854A1. Автор: Keitarou Amagawa,Yusuke Moriyama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210104032A1. Автор: IMAGAWA Taro,Maruyama Yuki,NODA Akihiro,KUSAKA Hiroya. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-08.

Milk level measurement device and related measurement method

Номер патента: US20150114105A1. Автор: Carlo Carbonini,Fabian Dietschi,Alain Erismann. Владелец: Rancilio Group Spa. Дата публикации: 2015-04-30.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150116707A1. Автор: TATSUDA Tetsuo. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

DYE MEASUREMENT DEVICE AND DYE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180128684A1. Автор: KAWANO Yoshihiro. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2018-05-10.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180128918A1. Автор: Kubota Hiroshi,OTA Yutaka,Hirono Masatoshi,MATSUMOTO Nobu,UCHIYAMA Mineharu,OHTSUKA Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200124514A1. Автор: KATO Haruhisa,Matsuura Yusuke,TABUCHI Takuya,KONDO Kaoru,BANDO Kazuna. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-23.

BIOLOGICAL MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160143589A1. Автор: Oikaze Hirotoshi,Kabetani Yasuhiro,TAKECHI YOHEI,FURUTA TOMOTAKA. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220291371A1. Автор: Nakano Hiroaki,TANAKA Masayuki,Omae Uichiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-15.

Spectrum measuring device and spectrum measuring method

Номер патента: US20210181024A1. Автор: Norio Hasegawa. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

LOAD MEASURING DEVICE AND LOAD MEASURING METHOD

Номер патента: US20190154528A1. Автор: Kawaguchi Koji,NARITA Junichi,SUGIHARA Kohei. Владелец: FUJI CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-23.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190154815A1. Автор: OOHATA TOYOHARU. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-23.

SURFACE MEASURING DEVICE AND SURFACE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200158502A1. Автор: Yang Lan-Sheng,Tsai Cheng-Ting. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

FREQUENCY MEASUREMENT DEVICE AND FREQUENCY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150177295A1. Автор: HO Tzong-Hsien. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2015-06-25.

Size measurement device and size measurement method

Номер патента: US20150187091A1. Автор: Yuuji Toyomura,Takahiro Shoji,Ryouta Hata. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200182723A1. Автор: NAKAGAWA Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

CLEARANCE MEASUREMENT DEVICE AND CLEARANCE MEASUREMENT METHOD FOR COMBUSTOR

Номер патента: US20150204656A1. Автор: Taniguchi Kenta,TOKUNAGA Yugo. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-23.

THICKNESS MEASURING DEVICE AND THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20150211844A1. Автор: Cretin Dorian. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-30.

OPTICAL MEASURING DEVICE AND OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20140293273A1. Автор: Dowaki Suguru,Suzuki Shunpei,Hashimoto Gakuji,Imanishi Shingo. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-10-02.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160209200A1. Автор: KANAYAMA Yasuto. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-07-21.

MICROPARTICLE MEASURING DEVICE AND MICROPARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190195772A1. Автор: Tahara Katsutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-27.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170212047A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru,IKEMURA Kenichiro. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2017-07-27.

LEVELNESS MEASURING DEVICE AND LEVELNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20190204061A1. Автор: YANG WEI-DA,LV XIAO-MING,JIANG SHU-FA,WU GUO-HUA. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190204304A1. Автор: Katsumi Hironori,Fukuzaki Tsuyoshi,SHIBA Masaki. Владелец: SYSMEX CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-04.

VOLUME MEASURING DEVICE AND VOLUME MEASURING METHOD

Номер патента: US20150226593A1. Автор: Ikeda Yuji. Владелец: IMAGINEERING, INC.. Дата публикации: 2015-08-13.

POSITION MEASURING DEVICE AND POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20150226852A1. Автор: TAKAI Toshihisa,MIYAZAKI Masahito. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2015-08-13.

Deflection measuring device and deflection measuring method

Номер патента: US20150233706A1. Автор: Hidenori Sato,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190219695A1. Автор: Matoba Kenichi,Kondo Tomonori,KAJII Yosuke. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-07-18.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190227141A1. Автор: Nishikawa Masaki. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

GAS MEASUREMENT DEVICE AND GAS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210262929A1. Автор: Mano Kazune. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180239022A1. Автор: LENG Yao-Shih,Lee Yung-Shen. Владелец: MSI Computer (Shenzhen) Co., Ltd. Дата публикации: 2018-08-23.

STITCHING-MEASUREMENT DEVICE AND STITCHING-MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210278201A1. Автор: Jia Xin,XING Tingwen,Xu Fuchao,GAN Dachun. Владелец: . Дата публикации: 2021-09-09.

SCINTILLATOR UNIT, RADIATION MEASURING DEVICE, AND RADIATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20200241153A1. Автор: KATO Yuka,Ogata Yoshimune,Minowa Haruka. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2020-07-30.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170258381A1. Автор: Suzuki Susumu,Ozaki Takeo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-14.

CAPACITANCE MEASURING DEVICE AND CAPACITANCE MEASUREMENT METHOD FOR DIELECTRIC ELASTOMER

Номер патента: US20170268939A1. Автор: Orita Atsuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180267155A1. Автор: Shimizu Yutaka,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,SETO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-20.

Test Set for a Photometric Measuring Device, and Photometric Measuring Method for a Sample Liquid

Номер патента: US20150285741A1. Автор: Bonecker Gerhard. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20170276772A1. Автор: TOKUDA Yoshikatsu. Владелец: TOPCON CORPORATION. Дата публикации: 2017-09-28.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210356548A1. Автор: Nishikawa Masaki. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-18.

WEIGHT MEASURING DEVICE AND THE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180274966A1. Автор: Jurík Tomás,Urban Frantisek,Helán Radek. Владелец: . Дата публикации: 2018-09-27.

OCT MEASURING DEVICE AND OCT MEASURING METHOD

Номер патента: US20210381818A1. Автор: YOKOYAMA Jun,TAKECHI YOHEI. Владелец: . Дата публикации: 2021-12-09.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170284788A1. Автор: MATSUOKA Hideki,KANNAKA Masato,TAHARA Kazuhiko,MORIOKA Noritaka,TSUNAKI Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-05.

TEMPERATURE MEASUREING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210389185A1. Автор: Lee Ching-Feng,HU JA-SON. Владелец: . Дата публикации: 2021-12-16.

SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200271585A1. Автор: YAMAMOTO Takeshi,Sasaki Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND CURRENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150301088A1. Автор: Takei Fumio,SONEDA Hiromitsu. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-22.

Light Measuring Device and Light Measuring Method

Номер патента: US20160299080A1. Автор: WATANABE Koichi,OSAWA Kentaro,SHIOZAWA Manabu,SHIRAI Masataka. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-13.

Pattern Measurement Device and Pattern Measurement Method

Номер патента: US20200278615A1. Автор: Yamamoto Takuma,Nojiri Masaaki,OHTA Hiroya,TANIMOTO Kenji,ABE Yusuke,TAMORI Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190285400A1. Автор: TAKASHIMA Jun,Kondo Tomonori. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-09-19.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200284888A1. Автор: Shimizu Yutaka,OOTAKA Shoji,Nonin Katsuya,SETO Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-10.

Pattern Measurement Device and Pattern Measurement Method

Номер патента: US20200292308A1. Автор: Yamamoto Takuma,OHTA Hiroya,TANIMOTO Kenji,TAMORI Tomohiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-17.

THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170307358A1. Автор: Motowaki Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

SPECTROSCOPE, WAVELENGTH MEASURING DEVICE, AND SPECTRUM MEASURING METHOD

Номер патента: US20190301938A1. Автор: Konishi Tsuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-03.

SAMPLE MEASUREMENT DEVICE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200309801A1. Автор: SHIBA Masaki,KOTAKE Hiroki,KATO Akihito. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20170329009A1. Автор: LIU Tze-An,HSU PO-ER,Lee Hau-Wei,Liou Huay-Chung,Pan Shan-Peng. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

OPTICAL MEASURING DEVICE AND OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20200318948A1. Автор: Imaizumi Ryoichi,TANIGUCHI Ichiro. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2020-10-08.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190323829A1. Автор: FUJIWARA Masaki,Suenaga Tsuyoshi. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190323830A1. Автор: Takahashi Shinya. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

Shape Measuring Device And Shape Measuring Method

Номер патента: US20190323831A1. Автор: FUJIWARA Masaki,Natori Kazuki. Владелец: KEYENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-24.

FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200333250A1. Автор: Yamauchi Toyohiko,YAMADA Hidenao. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-10-22.

GAP MEASUREMENT DEVICE AND GAP MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180347973A1. Автор: Kubota Takahiro,Sasano Yuichi,GOTO Takuya,Yoshitomi Kei. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

LIGHT MEASUREMENT DEVICE AND LIGHT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200340862A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-10-29.

LIGHT MEASUREMENT DEVICE AND LIGHT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200348178A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-11-05.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20150377732A1. Автор: Minami Tomohide. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2015-12-31.

SPECTRUM MEASURING DEVICE AND SPECTRUM MEASURING METHOD

Номер патента: US20150377770A1. Автор: Suzuki Kengo,IGUCHI Kazuya,EURA Shigeru,IKEMURA Kenichiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190353754A1. Автор: Moriyama Yusuke,Namba Kazuhide. Владелец: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-21.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190361124A1. Автор: Ogawa Riki,NAGAHAMA Hiroyuki,SAITO Michiyo. Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2019-11-28.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200371050A1. Автор: Nomaguchi Tsunenori,Miwa Takafumi,HASHIZUME Tomihiro,YASUTAKE Masatoshi. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-26.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200386973A1. Автор: Tabata Seiichiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190391237A1. Автор: IKEZAWA KATSUYA. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-26.

Displacement difference solution density measuring device and its measuring method

Номер патента: CN105675437B. Автор: 唐勇,张昊,朱宗铭,梁亮,庞佑霞,唐壮,许焰. Владелец: Changsha University. Дата публикации: 2018-07-03.

Scattering measurement device and scattering measurement method

Номер патента: CN113124751B. Автор: 周钰颖. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-29.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: DE102005028570B4. Автор: Dr. Barenz Joachim,Dr. Tholl Hans Dieter. Владелец: Diehl BGT Defence GmbH and Co KG. Дата публикации: 2012-12-13.

Vehicle distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3669524B2. Автор: 正一 田中,宏司 藤岡,雅平 赤須. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2005-07-06.

Level measuring device and a measuring method

Номер патента: KR101448435B1. Автор: 신언호,신동성,송성석. Владелец: 송성석. Дата публикации: 2014-10-21.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP6880513B2. Автор: 潤 ▲高▼嶋,智則 近藤. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-06-02.

Antenna measuring device and antenna measuring method

Номер патента: JPH071290B2. Автор: 実 田島,孝至 片木,正人 井上,晋啓 折目. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1995-01-11.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: JP4734398B2. Автор: 勝 赤松,康秀 中井,英久 橋爪. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2011-07-27.

Integrated lancing and measurement device and analyte measuring methods

Номер патента: US6607658B1. Автор: Adam Heller,James Say,Mark S. Vreeke,Benjamin J. Feldman. Владелец: Therasense Inc. Дата публикации: 2003-08-19.

Liquid turbidity measuring device and its measurement method

Номер патента: CN106645036B. Автор: 崔莉,黄希,孙明亮. Владелец: Institute of Computing Technology of CAS. Дата публикации: 2019-06-18.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102265178A. Автор: 大石政裕,德田义克. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2011-11-30.

A kind of water paint fluidity measurement device and its measuring method

Номер патента: CN108827826A. Автор: 王辉,沈恒,冉东升. Владелец: XIANYANG DONGFANG YUHONG BUILDING MATERIAL Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-16.

Current measuring device and current measuring method based on current divider

Номер патента: CN109633255A. Автор: 阳威,杨锡旺. Владелец: Changzhou Suo Wei Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-16.

Roundness measuring device and roundness measurement method

Номер патента: CN107167062A. Автор: 张剑,张燕,尹峰,魏颖颖,巩鹏,蒋超友,柏进财. Владелец: Shandong Iron and Steel Group Co Ltd SISG. Дата публикации: 2017-09-15.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP7064167B2. Автор: 智則 近藤,陽介 梶井,賢一 的場. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2022-05-10.

Inclination measuring device and inclination measuring method based on shape sensor

Номер патента: CN110686612A. Автор: 任亮,尤润州. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2020-01-14.

Pressure signal flow measurement device and flow measurement method

Номер патента: CN104766513A. Автор: 毛欣炜,毛根海. Владелец: HANGZHOU YUANLIU TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-08.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: WO2011086913A1. Автор: 成幸 中田,一輝 星島. Владелец: 三井造船株式会社. Дата публикации: 2011-07-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN114258500A. Автор: 田中正幸,中野裕章,大前宇一郎. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-29.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: DE112015006288T5. Автор: Masataka Shirai,Koichi Watanabe,Manabu Shiozawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2017-11-30.

RETAINING CLIP FOR GAME MEASURING DEVICE AND GAME MEASURING METHOD

Номер патента: FR2518669B1. Автор: Bruce Walker Stowe,Joseph Clefton Young,Jerome Perry Clark. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1987-01-30.

Shape measurement device and shape measurement method

Номер патента: WO2012029809A3. Автор: 塩田達俊. Владелец: 国立大学法人 長岡技術科学大学. Дата публикации: 2012-05-10.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: CN107037437B. Автор: 丰田一贵,泽村义巳. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-18.

Position measuring device and position measuring method by means of gps

Номер патента: WO2010035384A1. Автор: 三宅寿英,吉田晴彦,阿部知宏. Владелец: 日立造船株式会社. Дата публикации: 2010-04-01.

Differential surface plasmon resonance measuring device and its measuring method

Номер патента: EP1617203A1. Автор: Toshihiko Imato,Yasukazu Asano. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2006-01-18.

Road measuring device and road measuring method

Номер патента: JP5100845B2. Автор: 秀明 黒須,正憲 岸田. Владелец: Pasco Corp. Дата публикации: 2012-12-19.

Battery measuring device and battery measuring method

Номер патента: JP2023005756A. Автор: Masaaki Kitagawa,昌明 北川,功 石部,Isao Ishibe. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: EP2848946A1. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Fuji Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2015-03-18.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN114966724B. Автор: 杨灏,金少峰,王三宏. Владелец: Shenzhen Sincevision Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-02.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP3264055A1. Автор: Shinji NAKAYA,Mitsuhiro TSUE. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2018-01-03.

Azimuth measurement device and azimuth measurement method

Номер патента: KR100735494B1. Автор: 최성우,권경수,강진용. Владелец: 삼성전기주식회사. Дата публикации: 2007-07-04.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: WO2022162922A1. Автор: 一輝 千田. Владелец: 株式会社ニコンビジョン. Дата публикации: 2022-08-04.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102384736A. Автор: 陈信嘉,古人豪,黄森煌,杨恕先. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2012-03-21.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP6402272B1. Автор: 薫 秋山,晃一 森本,勇貴 佐々木. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-10.

Range measuring device and range measuring method

Номер патента: DE102013211240B4. Автор: Yuichiro Hirota,Hisayoshi Furihata,Yusuke Nakazato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-29.

Road measuring device and road measuring method

Номер патента: JPWO2010050162A1. Автор: 秀明 黒須,正憲 岸田. Владелец: Pasco Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Load measuring device and load measuring method

Номер патента: CN108353531A. Автор: 杉原康平,河口浩二,成田纯,成田纯一. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-31.

Torque measurement device and torque measurement method

Номер патента: EP2072984B1. Автор: Robert J White,Timothy J Kilworth. Владелец: Deere and Co. Дата публикации: 2019-03-20.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: WO2020079776A1. Автор: 栄実 野口. Владелец: 日本電気株式会社. Дата публикации: 2020-04-23.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: KR20130072213A. Автор: 히로시 아오키. Владелец: 가부시키가이샤 니콘. Дата публикации: 2013-07-01.

Exempt from the image measuring device and its measurement method to positive axle center

Номер патента: CN108534713B. Автор: 林明慧. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-08-06.

Acceleration measuring device and acceleration measuring method of the same

Номер патента: US20210325423A1. Автор: Hong Wang,Changlin Leng. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP7027403B2. Автор: 和秀 難波. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Ac magnetic susceptibility measuring device and its measurement method

Номер патента: CN109655771A. Автор: 王云平,宋小会,苏少奎,米振宇. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2019-04-19.

Headlamp air flow measurement device and a measurement method

Номер патента: KR101609204B1. Автор: 김두현,김철숙. Владелец: 주식회사 티제이에스리써치. Дата публикации: 2016-04-21.

Measuring device and a measurement method thereof

Номер патента: US20220364841A1. Автор: Jihad Ali Mustapha. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-11-17.

Optical measuring device and its measuring method

Номер патента: KR0131526B1. Автор: 데루오 아사에다,도쿠이치 이나가키. Владелец: 도소쿠가가부시키가이샤. Дата публикации: 1998-04-11.

Integrated Lancing And Measurement Device And Analyte Measuring Methods

Номер патента: US20080194990A1. Автор: Adam Heller,James Say,Benjamin J. Feldman. Владелец: Abbott Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2008-08-14.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: WO2021186910A1. Автор: 恭隆 増田. Владелец: 横浜ゴム株式会社. Дата публикации: 2021-09-23.

Milk level measurement device and related measurement method

Номер патента: US9709432B2. Автор: Carlo Carbonini,Fabian Dietschi,Alain Erismann. Владелец: Rancilio Group Spa. Дата публикации: 2017-07-18.

Color measuring device and color measuring method

Номер патента: JP6558435B2. Автор: 聡 横田,横田 聡,孝仁 原田. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-08-14.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: EP3092950A1. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2016-11-16.

Propagation measuring device and propagation measuring method

Номер патента: JP3828111B2. Автор: 尚治 仁木,隆 城戸. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2006-10-04.

Height measuring device and height measuring method for vehicle body

Номер патента: CN114812472A. Автор: 张艳平,赵钺. Владелец: BAIC Group ORV Co ltd. Дата публикации: 2022-07-29.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: CN111771117A. Автор: 田端诚一郎. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: US10190873B1. Автор: Tsuyoshi Yamagami,Masato Shimodaira. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2019-01-29.

Measuring device for state of charging of battery and measuring method the same

Номер патента: KR101966062B1. Автор: 모경구. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2019-04-05.

State measuring device and state measuring method

Номер патента: JP5358822B2. Автор: 真 大川内,都一 田口. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-04.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: WO2018051832A1. Автор: 鎌田 毅. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2018-03-22.

Paraxial laser distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN115308755A. Автор: 李杨,宋小亮. Владелец: Chengdu Liangxin Integrated Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: CN113137929A. Автор: 田口都一,入江优. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-20.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: DE112020003930T5. Автор: Masayuki Tanaka,Hiroaki Nakano,Uichiro Omae. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-05-19.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102575930A. Автор: 川真田进也,船山龙士,佐鸟新,青柳贤英,小松田忠良. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2012-07-11.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN115315635A. Автор: 竹中博一. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Motion scan tunnel drift section and volume measurement device and its measurement method

Номер патента: CN105698714B. Автор: 余新明,石零. Владелец: Jianghan University. Дата публикации: 2018-09-25.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: TWI793321B. Автор: 井上展幸,新家俊輝,川口史朗. Владелец: 日商大塚電子股份有限公司. Дата публикации: 2023-02-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP4830096B2. Автор: 典彦 西澤,俊夫 後藤. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2011-12-07.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: JP2013169280A. Автор: Susumu Suzuki,進 鈴木,Takeo Ozaki,健夫 尾崎. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-09-02.

Sample measures device and sample measures method

Номер патента: CN109975570A. Автор: 胜见宏则,福崎刚,芝正树,渡边雄治. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-07-05.

Width measuring device and width measuring method

Номер патента: JPWO2015045781A1. Автор: 秀美 高橋,晃寛 奈良. Владелец: Yamaha Fine Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-09.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: TW202004121A. Автор: 井上展幸,新家俊輝,川口史朗. Владелец: 日商大塚電子股份有限公司. Дата публикации: 2020-01-16.

Spherical object velocity measuring device and velocity measuring method

Номер патента: JP2686706B2. Автор: 哲司 西山,隆司 寺口. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 1997-12-08.

Color measuring device and color measuring method

Номер патента: JPWO2016076165A1. Автор: 亮二 板東,康隆 谷村,孝仁 原田,谷村 康隆,板東 亮二. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-08-17.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: US8804130B2. Автор: Terutake Hayashi,Yasuhiro Takaya,Masaki Michihata. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2014-08-12.

Ultrasonic measurement device and ultrasonic measurement method

Номер патента: KR101218473B1. Автор: 하지메 다카다,다카후미 오제키. Владелец: 제이에프이 스틸 가부시키가이샤. Дата публикации: 2013-01-04.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: EP2818110B1. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2016-08-17.

Resistance measuring device and resistance measuring method

Номер патента: TWI761398B. Автор: 山下宗寛. Владелец: 日商日本電產理德股份有限公司. Дата публикации: 2022-04-21.

Particulate measurement device and particulate measurement method

Номер патента: WO2009128233A1. Автор: 田中稔之,濱田了,稲口哲也. Владелец: パナソニック株式会社. Дата публикации: 2009-10-22.

A kind of double indirection point distance-measuring devices and its measuring method

Номер патента: CN108267115A. Автор: 董梁,程波,王若飞. Владелец: United Engineers Ltd In China. Дата публикации: 2018-07-10.

Shape measurement device and shape measurement method

Номер патента: EP2634558A2. Автор: Tatsutoshi Shioda. Владелец: Nagaoka University of Technology. Дата публикации: 2013-09-04.

Wavelength measurement device and wavelength measurement method

Номер патента: WO2021185301A1. Автор: 李裔,秦华强. Владелец: 华为技术有限公司. Дата публикации: 2021-09-23.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11105880B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-08-31.

Microparticle measurement device and microparticle measurement method

Номер патента: EP3521807A4. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2019-12-18.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP7068054B2. Автор: 孝 井田,賢造 五十川,淳 松村. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-05-16.

Jitter measurement device and jitter measurement method

Номер патента: US20060064258A1. Автор: Ken Mochizuki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2006-03-23.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP3514484A1. Автор: Tomonori Kondo,Kenichi Matoba,Yosuke Kajii. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2019-07-24.

Battery measurement device and battery measurement method

Номер патента: WO2023276577A1. Автор: 昌明 北川,功 石部. Владелец: 株式会社デンソー. Дата публикации: 2023-01-05.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: EP3141879A1. Автор: Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-03-15.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: WO2014038569A1. Автор: ドリアン クレタン. Владелец: 古野電気株式会社. Дата публикации: 2014-03-13.

Wear measurement device and wear measurement method

Номер патента: WO2020129368A1. Автор: 勇介 渡部,亀山 悟. Владелец: 株式会社明電舎. Дата публикации: 2020-06-25.

Microparticle measurement device and microparticle measurement method

Номер патента: WO2018047441A1. Автор: 克俊 田原. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2018-03-15.

Gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: JP5125544B2. Автор: 直樹 小田. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-01-23.

Microparticle measurement device and microparticle measurement method

Номер патента: WO2018047442A1. Автор: 克俊 田原. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2018-03-15.

Position measuring device and position measuring method using GPS

Номер патента: DE112009002148A5. Автор: Toshihide Miyake,Tomohiro Abe,Haruhiko Yoshida. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2011-12-08.

Infrared optical gas measuring device and gas measuring method

Номер патента: DE10005923C2. Автор: Burkhard Stock. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2002-06-27.

Scintillator unit, radiation measuring device, and radiation measuring method

Номер патента: US11092700B2. Автор: Yuka Kato,Yoshimune Ogata,Haruka Minowa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-08-17.

Multifunctional spectrum emissivity measurement device and its measurement method

Номер патента: CN106404181B. Автор: 刘玉芳,李龙飞,刘栋,张凯华,于坤,张飞麟. Владелец: Henan Normal University. Дата публикации: 2019-03-12.

Light measurement device and light measurement method

Номер патента: CN111630373A. Автор: 铃木健吾,井口和也,江浦茂. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-09-04.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: WO2021166523A1. Автор: 宏明 西森. Владелец: ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社. Дата публикации: 2021-08-26.

Distance measuring device and distance measuring method thereof

Номер патента: CN107356928B. Автор: 李浩玮,刘子安,刘惠中,潘善鹏,许博尔. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-11-13.

Azimuth measuring device and azimuth measuring method

Номер патента: EP1519148B1. Автор: Koichi Hikida,Masaya Yamashita. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

Weight measuring device and the measuring method

Номер патента: PL3350553T3. Автор: Tomás JURÍK,Frantisek Urban,Radek HELÁN. Владелец: Network Group, S.R.O.. Дата публикации: 2022-08-16.

Levelness measuring device and levelness measuring method

Номер патента: US10677578B2. Автор: Wei-Da Yang,Xiao-Ming Lv,Shu-Fa Jiang,Guo-Hua Wu. Владелец: Fu Tai Hua Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-09.

Contactless water surface wave speed measuring device and speed-measuring method

Номер патента: CN108627671A. Автор: 杨慧,夏超群,甄莉. Владелец: Jiangsu Dqu Automation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-09.

PRESSURE MEASURING DEVICE AND PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: DE112018005152T5. Автор: Shinya Nakagawa. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2020-09-03.

A kind of pressure signal flow measurement device and flow-measuring method

Номер патента: CN104766513B. Автор: 毛欣炜,毛根海. Владелец: HANGZHOU YUANLIU TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Levelness measuring device and levelness measuring method

Номер патента: CN111595298A. Автор: 唐立伟,杨晓斌,周庆一,宋金杨,蔡叶林. Владелец: Shanghai Waigaoqiao Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-28.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: JP6462432B2. Автор: 峯邑 浩行,浩行 峯邑,賢太郎 大澤. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2019-01-30.

Laser measurement device and laser measurement method

Номер патента: US20090161116A1. Автор: Tadashi Sasakawa,Yoshifumi Natsume,Nobuyasu Teraoka,Toshikazu Asanuma. Владелец: Pasco Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Test set for a photometric measuring device, and photometric measuring method for a sample liquid.

Номер патента: MX2015005616A. Автор: Gerhard Bonecker. Владелец: Gerhard Bonecker. Дата публикации: 2016-02-03.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: JP7097718B2. Автор: 誠一郎 田端. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2022-07-08.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: JP2021148630A. Автор: 恭隆 増田,Yasutaka Masuda. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-27.

Distance measurement device and distance measuring method thereof

Номер патента: TWI595252B. Автор: 劉子安,李浩瑋,劉惠中,潘善鵬,許博爾. Владелец: 財團法人工業技術研究院. Дата публикации: 2017-08-11.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: WO2016143084A1. Автор: 正敬 白井,康一 渡辺,学 塩澤. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2016-09-15.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: CN102695939B. Автор: 木村雅之. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-17.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US12039904B2. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US20230054156A1. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Absorbed calorie measuring device, absorbed calorie measuring method, and absorbed calorie measuring program

Номер патента: EP3904863A1. Автор: Kazuya Iinaga. Владелец: Medical Photonics Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-03.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE, BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20180228383A1. Автор: Fukui Rui,WARISAWA Shinichi,SANUKI Haruyuki. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-16.

EYE MOVEMENT MEASUREMENT DEVICE, EYE MOVEMENT MEASUREMENT METHOD, AND EYE MOVEMENT MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210264618A1. Автор: Hoshino Kiyoshi,Ono Nayuta. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

3d-shape measurement device, 3d-shape measurement method, and 3d-shape measurement program

Номер патента: EP3067658A4. Автор: Tatsuya Ishii,Hiroki Unten. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-21.

3d-shape measurement device, 3d-shape measurement method, and 3d-shape measurement program

Номер патента: WO2015068470A1. Автор: 弘樹 運天,石井 達也. Владелец: 凸版印刷株式会社. Дата публикации: 2015-05-14.

3D-shape measurement device, 3D-shape measurement method, and 3D-shape measurement program

Номер патента: CN105705903A. Автор: 石井达也,运天弘树. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-22.

3d-shape measurement device, 3d-shape measurement method, and 3d-shape measurement program

Номер патента: EP3067658B1. Автор: Tatsuya Ishii,Hiroki Unten. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-02.

Absorbed calorie measuring device, absorbed calorie measuring method, and absorbed calorie measuring program

Номер патента: EP3904863A4. Автор: Kazuya Iinaga. Владелец: Medical Photonics Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-07.

DEFOCUS AMOUNT MEASURING DEVICE, DEFOCUS AMOUNT MEASURING METHOD, DEFOCUS AMOUNT MEASURING PROGRAM, AND DISCRIMINATOR

Номер патента: US20200404186A1. Автор: Wakui Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Image projection device, image protection method, distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20120200832A1. Автор: Hiroshi Imai. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-08-09.

Mark position detection device, mark position detection method, overlay measurement device, and overlay measurement method

Номер патента: JP4178875B2. Автор: 洋 青木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-11-12.

Image projection device, image protection method, distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: CN102648431A. Автор: 今井浩. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-08-22.

INTELLECTUAL PRODUCTIVITY MEASUREMENT DEVICE, INTELLECTUAL PRODUCTIVITY MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20130080215A1. Автор: KAWAI Hideki. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2013-03-28.

Measuring device and a measuring method for the synchronisation of measurement procedures

Номер патента: US20160018802A1. Автор: STROHMEIER Anton. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-21.

PULSE WAVE MEASURING DEVICE, PULSE WAVE MEASURING METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180055391A1. Автор: OZAWA Jun,YOSHIOKA Mototaka,MURAKAMI KENTA. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

ERROR MEASURMENT DEVICE AND ERROR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130282328A1. Автор: Ono Shunro,Iuchi Yukihiro,Sato Ryuta. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2013-10-24.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150045640A1. Автор: Suzuki Susumu,Ozaki Takeo. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20210074015A1. Автор: Miyamoto Ken. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2021-03-11.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180165815A1. Автор: MURASHITA Kimitaka,OKADA Yasutaka. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-06-14.

DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190182430A1. Автор: Nakamura Yusuke,Yamaguchi Keita. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-13.

INFLUENCE MEASUREMENT DEVICE AND INFLUENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180225704A1. Автор: Kobayashi Jun,ANAMI Shinichi. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2018-08-09.

IMAGE MEASUREMENT DEVICE AND IMAGE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150262384A1. Автор: Sato Yoshikuni,MOTOMURA Hideto,ADACHI Yasuhiko. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

Image measurement device and image measurement method

Номер патента: US9767578B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato,Yasuhiko ADACHI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Wrinkle Measuring Device and Wrinkle Measuring Method

Номер патента: KR102262307B1. Автор: 김은주,이해광,연영민,장수임. Владелец: (주)아모레퍼시픽. Дата публикации: 2021-06-09.

Stress measuring device and stress measuring method

Номер патента: TWI716183B. Автор: 李正中,江奕宏,柯宏憲,潘正達,葉文勇. Владелец: 財團法人工業技術研究院. Дата публикации: 2021-01-11.

Measuring device and a measuring method for testing mobile-radio relay stations

Номер патента: US09642025B2. Автор: Christina Gessner,Juergen Schlienz. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-02.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: US20230047257A1. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Measuring device and a measuring method for determining an active channel

Номер патента: US09877326B2. Автор: Stefan Schmidt. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-01-23.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: EP4137213A1. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-22.

Biological data measurement device, biological data measurement method, and program

Номер патента: EP3949852A1. Автор: Masayoshi Takahashi. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US09808189B2. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2017-11-07.

Vital sign measuring device, vital sign measuring method, and vital sign measuring program

Номер патента: JP6737261B2. Автор: 靖和 田中,安川 徹,徹 安川. Владелец: Noritsu Precision Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Workpiece measuring device and workpiece measuring method

Номер патента: TWI537564B. Автор: Hiroaki Abe,Tomoyuki Kojima,Seiji Yoshizawa. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-11.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: EP4137213A4. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Beam measurement method and beam measurement device

Номер патента: EP4075849A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190306046A1. Автор: Yoshitaka Kihara,Takahiro KASAGI,Custodio Jean-Elaine GARCIA,Yuichi TSUIKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US10855571B2. Автор: Yoshitaka Kihara,Takahiro KASAGI,Custodio Jean-Elaine GARCIA,Yuichi TSUIKI. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-12-01.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190290142A1. Автор: ISHIHARA Daisuke,KAWABATA Yasuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190307336A1. Автор: Fujii Kenji,Matsumoto Naoki,Mori Kentaro. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-10.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US10660551B2. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2020-05-26.

Ultrasonic measuring device and ultrasonic measuring method using ultrasonic measuring device

Номер патента: WO2018168363A1. Автор: 中嶋健,笹谷信哉. Владелец: 株式会社リリアム大塚. Дата публикации: 2018-09-20.

TRANSMISSION LOSS MEASUREMENT DEVICE, TRANSMISSION LOSS MEASUREMENT METHOD, AND OPTICAL TRANSMISSION SYSTEM

Номер патента: US20170005727A1. Автор: KACHITA Yoshito. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-01-05.

Contrast sensitivity measuring device, contrast sensitivity measuring method, and program

Номер патента: WO2021044455A1. Автор: 和史 丸谷,研知 細川. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2021-03-11.

Optical measuring device and optical measuring method for a stereoscopic display device

Номер патента: DE102010061535A1. Автор: Jae Hong Kim,Kyong Ho Lim,Don Gyou Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-03.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130215428A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-08-22.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US20140058233A1. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2014-02-27.

CONCENTRATION-MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION-MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180020959A1. Автор: Suzuki Susumu,Koyama Yasuaki,Ozaki Takeo. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150051464A1. Автор: Suzuki Susumu,Ozaki Takeo. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2015-02-19.

PATTERN MEASUREMENT DEVICE AND PATTERN MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140224986A1. Автор: Shindo Hiroyuki,SHIBAHARA Takuma,OIKAWA Michio,SUGAHARA Hitoshi,Hojo Yutaka. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-14.

ULTRASONIC PROBE, BIOINFORMATION MEASUREMENT DEVICE, AND BIOINFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140296714A1. Автор: Yamashita Shiro,Kuroki Shigehiro. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-02.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160249813A1. Автор: ZHANG Kailiang. Владелец: BOE Technology. Дата публикации: 2016-09-01.

CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190274605A1. Автор: Kamada Tsuyoshi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2019-09-12.

BIOLOGICAL MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190282104A1. Автор: Kawakami Ken,FUJINAMI Takashi,Iguchi Akira. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-19.

STANDALONE ON-BOARD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, AND PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200290411A1. Автор: FANTON Nicolas,COUTURIER Emmanuel,BICKARD Thierry. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

A MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD FOR DETERMINING AN ACTIVE CHANNEL

Номер патента: US20150351097A1. Автор: SCHMIDT Stefan. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2015-12-03.

Distance measuring device and distance measuring method capable of estimating weather conditions

Номер патента: JP3273530B2. Автор: 渉 石尾,眞人 吉田,吉朗 田坂. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2002-04-08.

Stress measurement device and Stress measurement method

Номер патента: KR102290279B1. Автор: 김상규,조성호,이준형. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-08-17.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: EP3895611A4. Автор: Takeo Ozaki,Tsuyoshi Kamada,Wataru KAMO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-17.

Cutter parameter measuring device and its measuring method based on CCD

Номер патента: CN105666246B. Автор: 李楠,孙杰,国凯,姜振喜,侯秋林. Владелец: Shandong University. Дата публикации: 2017-11-10.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: CN1657873A. Автор: 冈部浩史,福井浩,本城琢也,古泽拓一. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2005-08-24.

Sir measuring device and sir measuring method

Номер патента: KR100408352B1. Автор: 미요시겐이치,히라마츠가츠히코. Владелец: 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2003-12-03.

Movement measurement device and movement measurement method

Номер патента: JP7255110B2. Автор: 翔 釣谷. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: CN115295906B. Автор: 王军. Владелец: Yancheng Junle Da Electrical Appliance Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-12-20.

Method and Means for Detecting the Activity of Osteoclasts

Номер патента: US20120003684A1. Автор: Dieter Peter,Lutter Anne-Helen,Hempel Ute. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET DRESDEN. Дата публикации: 2012-01-05.

Surface texture measuring device, surface texture measuring method, and surface texture measuring program

Номер патента: JP4199450B2. Автор: 洋一 斎藤,文宏 竹村. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2008-12-17.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP4382858A4. Автор: Fenglin Zhang,Jianlin Liu,Shaoteng Ren,Siyuan Qi,Zhimeng SHI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Joint gripping line measuring device and its measuring method

Номер патента: TWI580403B. Автор: Dong-Ying Li,Ying-Jian Cai,Qun-Yao Zheng. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-01.

Area-specific-resistance measuring method of metal and measuring device thereof

Номер патента: TW200905209A. Автор: Wei-Jia Xiong. Владелец: Atomic Energy Council. Дата публикации: 2009-02-01.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: TW201224392A. Автор: Shingo Matsumoto,Yoshiharu Morimoto,Motoharu Fujigaki,Akihiro Masaya. Владелец: Akihiro Masaya. Дата публикации: 2012-06-16.

WEAR AMOUNT MEASURING DEVICE, WEAR AMOUNT MEASURING METHOD, WEAR AMOUNT MEASURING PROGRAM AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120306916A1. Автор: . Владелец: KOMATSU LTD.. Дата публикации: 2012-12-06.

Wafer thickness measuring device, wafer thickness measuring method, and wafer polishing device

Номер патента: JP3218881B2. Автор: 修 遠藤,克己 茂木. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 2001-10-15.

Mark position detection device, mark position detection method, overlay measurement device, and overlay measurement method

Номер патента: JP4300802B2. Автор: 洋 青木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-07-22.

TONER ADHESION MEASURING DEVICE, TONER ADHESION MEASURING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS

Номер патента: US20120106997A1. Автор: Aoki Kunitoshi. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-05-03.

Flow rate measuring device, flow rate measuring method, and computer program

Номер патента: JP4953001B2. Автор: 治嗣 森,英昭 手塚,陽 中城. Владелец: Tokyo Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2012-06-13.

Multiphase flow measuring device, multiphase flow measuring method and program

Номер патента: JP6952952B2. Автор: 季子 小林,壮一郎 勝島,賢志 小林. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-10-27.

Comparison heat measuring device for measuring loss of magnetic element and measurement method thereof

Номер патента: CN104914299A. Автор: 陈为,陈开宝,汪晶慧. Владелец: FUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-09-16.

Measurement point coordinate measuring device and coordinate measuring method

Номер патента: JP3444984B2. Автор: 江 尹. Владелец: 株式会社ソキア. Дата публикации: 2003-09-08.

Boom length measuring device, boom length measuring method and telescopic boom

Номер патента: CN102735172A. Автор: 李胜华,袁喻华. Владелец: Sany Heavy Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-17.

Belt tension measuring device, belt tension measuring method, and program

Номер патента: JP4846283B2. Автор: 清 大倉,研二 梶川. Владелец: Mitsuboshi Belting Ltd. Дата публикации: 2011-12-28.

Refractive index measuring device, refractive index measuring method and program

Номер патента: JP7205851B2. Автор: 智宏 雨宮,滋久 荒井,響 各務. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2023-01-17.

Stage device, coordinate measuring device, and position measuring method

Номер патента: JP3772444B2. Автор: 至晴 大久保. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-05-10.

Broadband pulse light source device, spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: JP2020159972A. Автор: 寿一 長島,Juichi Nagashima. Владелец: Ushio Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Armature resistance measuring device and resistance measuring method using the device

Номер патента: JPH0752204B2. Автор: 旭 佐藤. Владелец: Odawara Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1995-06-05.

IMAGE MEASURING DEVICE AND IMAGE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120056999A1. Автор: Handa Hirohisa. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-08.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20120068066A1. Автор: . Владелец: OSAKA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-03-22.

COLOR MEASUREMENT DEVICE AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120092671A1. Автор: USHIAMA Jun,Igarashi Hitoshi,HATADA Kenji. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-19.

DISTANCE MEASURING DEVICE AND DISTANCE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120093372A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120109572A1. Автор: SHIMIZU Sakiko. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-05-03.

TEST SET FOR A PHOTOMETRIC MEASURING DEVICE AND PHOTOMETRIC MEASURING METHOD FOR A SAMPLE LIQUID

Номер патента: US20120214251A1. Автор: Bonecker Gerhard. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-23.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120232840A1. Автор: . Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-09-13.

STRESS MEASUREMENT DEVICE AND STRESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120250001A1. Автор: . Владелец: National University Corporation Kyoto Institute of Technology. Дата публикации: 2012-10-04.

FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120281204A1. Автор: Hoshishima Kazuteru,Nakada Shigeyuki. Владелец: MITSUI ENGINEERING & SHIPBUILDING CO.,LTD.. Дата публикации: 2012-11-08.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD FOR TESTING MOBILE-RADIO RELAY STATIONS

Номер патента: US20120282856A1. Автор: Gessner Christina,Schlienz Juergen. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2012-11-08.

MEASURING DEVICE AND A MEASURING METHOD WITH HISTOGRAM FORMATION

Номер патента: US20120287738A1. Автор: . Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2012-11-15.

VISCOSITY MEASURING DEVICE AND VISCOSITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20120291528A1. Автор: . Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-11-22.

PARTICLE MEASURING DEVICE AND PARTICLE MEASURING METHOD

Номер патента: US20130027540A1. Автор: Ito Nobuaki. Владелец: NIPPON STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-31.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE, AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130070247A1. Автор: FUNAMOTO Tatsuaki. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2013-03-21.

Dimension measurement device and dimension measurement method using it

Номер патента: JPH1038525A. Автор: Takaaki Kishida,任晤 岸田,Atsushi Naito,敦之 内藤. Владелец: Tokai Rika Co Ltd. Дата публикации: 1998-02-13.

Friction measuring device and friction measuring method

Номер патента: CN104913870B. Автор: 来新民,易培云,彭林法,何俊艺. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-05-24.

Displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: JP7024524B2. Автор: 哲也 天野,禎明 境. Владелец: JFE Engineering Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Light measuring device and light measuring method

Номер патента: JP6867320B2. Автор: 憲志 福満,諭 山本,山本 諭,福満 憲志. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-04-28.

Viscosity measuring device and viscosity measuring method

Номер патента: JP6704331B2. Автор: 明彦 神鳥,崇子 溝口,龍三 川畑,神鳥 明彦. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-06-03.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3651412B2. Автор: 公一 中村. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2005-05-25.

Stride measuring device and stride measuring method

Номер патента: JP4102119B2. Автор: 剛弘 黒野,崇宏 村越. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2008-06-18.

Spectral measuring device and spectroscopic measuring method

Номер патента: JP6763995B2. Автор: 鈴木 健吾,健吾 鈴木,和也 井口. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-09-30.

Lens-chromatism spectrum measurement device and spectrum measurement method

Номер патента: CN104792697A. Автор: 胡恩德,郑仲翔,陈敬修. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2015-07-22.

A kind of on-line measurement device and its measurement method

Номер патента: CN105300888B. Автор: 夏玮,戚飞,吉永强. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-08-28.

Measuring device and its measuring method for circular dichroism

Номер патента: CN100451610C. Автор: 陶卫东,潘雪丰,白贵儒. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2009-01-14.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: JP3590341B2. Автор: 和彦 伊藤,之典 片岡,成昭 飯田,栄一 磧本. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-11-17.

Concentration measuring device and concentration measuring method

Номер патента: JP4365086B2. Автор: 真一 赤沢,裕子 立松. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2009-11-18.

Strontium 90 radioactivity measuring device and its measuring method

Номер патента: JP7148916B2. Автор: 慶造 石井. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-10-06.

Ultrasonic measuring device and ultrasonic measuring method

Номер патента: JP5686030B2. Автор: 博光 水上. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-03-18.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: JP6686557B2. Автор: 雄二 松添,毅 井上,井上 毅,松添 雄二,直己 佐藤,裕丈 久間. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-22.

Step measuring device and step measuring method

Номер патента: JP2004028635A. Автор: Takehiro Kurono,Takahiro Murakoshi,村越 崇宏,黒野 剛弘. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2004-01-29.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: JP4994058B2. Автор: 直樹 高橋,奉之 村田,亨 奥野. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2012-08-08.

Distance measuring device and distance measuring method using it

Номер патента: JP6973821B1. Автор: 貴應 服部,晋吾 山田,窓 長谷川. Владелец: 株式会社エヌエステイー. Дата публикации: 2021-12-01.

Bottle thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP3625443B2. Автор: 育見 森田. Владелец: Nihon Yamamura Glass Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-02.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3200261B2. Автор: 潤 長谷川. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-20.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: JP5133108B2. Автор: 弘行 高松,隆 古保里,浩司 井上,吉人 福本. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2013-01-30.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP6079017B2. Автор: 憲介 増田,祐治 山中. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-15.

Power measuring device and power measuring method

Номер патента: JP6656009B2. Автор: 正裕 石原,正明 矢部,矢部 正明. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-03-04.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP6494067B2. Автор: 智浩 青戸. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-03.

Lens-chromatism spectrum measurement device and spectrum measurement method

Номер патента: TWI472725B. Автор: Chung Hsiang Cheng,Ching Hsiu Chen,En Te Hwu. Владелец: Academia Sinica. Дата публикации: 2015-02-11.

Optical measuring device and orientation measuring method

Номер патента: JP7077199B2. Автор: 洋平 ▲濱▼地,貴之 佐野. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-05-30.

Tension measuring device and tension measuring method using the same

Номер патента: JP3603277B2. Автор: 真一 竹崎,正人 高畑,武久 渡辺,保行 村角,一容 小栗. Владелец: Taisei Corp. Дата публикации: 2004-12-22.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3956890B2. Автор: 国法 中村,一成 吉村,達也 本田. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 2007-08-08.

Sample measuring device and sample measuring method

Номер патента: JP2749912B2. Автор: 良行 東家,勇二 伊藤,厚志 斉藤,達也 川▲崎▼. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1998-05-13.

Work accuracy measuring device and accuracy measuring method

Номер патента: JP4093111B2. Автор: 直樹 堀. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2008-06-04.

Capacity measuring device and capacity measuring method

Номер патента: JP4664199B2. Автор: 和浩 伴. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2011-04-06.

Fish quality measuring device and quality measuring method

Номер патента: JP5595865B2. Автор: 修一 岡部,健司 三田尾,武好 長尾. Владелец: Yamato Scale Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-24.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: JP5289383B2. Автор: 和彦 田原,将人 甘中,英毅 松岡,卓哉 厚見. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2013-09-11.

Material measuring device and material measuring method

Номер патента: TWI653434B. Автор: 藍泓運. Владелец: 藍泓運. Дата публикации: 2019-03-11.

Ground displacement measuring device and displacement measuring method

Номер патента: JP6418519B2. Автор: 淳也 土田. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-07.

Cylindrical measuring device and cylindrical measuring method using the same

Номер патента: JP4443305B2. Автор: 直哉 鶴巻. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2010-03-31.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: JP2015148498A. Автор: 基広 浅野,Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2015-08-20.

Shape measuring device and shape measuring method

Номер патента: JP7233508B2. Автор: 真達 下平,毅 山上. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2023-03-06.

A kind of laser melting coating molten bath defocus measuring device and its measuring method

Номер патента: CN103983203B. Автор: 王涛,孙承峰,石世宏. Владелец: SUZHOU UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-12-15.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP7098971B2. Автор: 清史 松尾. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-07-12.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP7277239B2. Автор: 政徳 丸山. Владелец: Lintec Corp. Дата публикации: 2023-05-18.

Height measurement device and height measurement method

Номер патента: CN103529650A. Автор: 孙刚,段立峰,李术新. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-22.

Angle measuring device and angle measuring method

Номер патента: JP3681986B2. Автор: 敦 岡村,高志 関口. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2005-08-10.

Spectral measuring device and spectroscopic measuring method

Номер патента: JP6917824B2. Автор: 鈴太郎 高橋. Владелец: Citizen Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Biological measuring device and biological measuring method

Номер патента: JP4630194B2. Автор: 政雄 近江. Владелец: Kanazawa Institute of Technology (KIT). Дата публикации: 2011-02-09.

pH measuring device and pH measuring method

Номер патента: JP4625946B2. Автор: 通宏 中村,聡 毛利,壽一郎 清水,文彦 梶谷. Владелец: 国立大学法人 岡山大学. Дата публикации: 2011-02-02.

Coral measuring device and coral measuring method

Номер патента: CN102379261B. Автор: 黄晖,张成龙,张浴阳,杨剑辉,黄洁英,尤丰. Владелец: South China Sea Institute of Oceanology of CAS. Дата публикации: 2014-12-17.

Insulator fouling measuring device and its measuring method

Номер патента: JP2574031B2. Автор: 裕幸 勝川,克郎 篠田,元三 木村. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1997-01-22.

Ultrasonic measuring device and ultrasonic measuring method

Номер патента: JP2015223321A. Автор: 知典 真野,tomonori Mano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-12-14.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: JP3579524B2. Автор: 勝彦 松下. Владелец: Seiko Precision Inc. Дата публикации: 2004-10-20.

Leakage measuring device and leak measuring method

Номер патента: JP6753723B2. Автор: 剣一 水野,陽一 森屋,昇 本山,本山 昇. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-09.

Impedance measuring device and impedance measuring method

Номер патента: JP6778514B2. Автор: 秀明 田中,北村 直也,直也 北村,田中 秀明. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2020-11-04.

Angle measurement device and angle measurement method

Номер патента: JP2014010110A. Автор: Kazumi Sagawa,一美 佐川. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2014-01-20.

Angle measuring device and angle measuring method

Номер патента: JP3703567B2. Автор: 豊 成瀬,健二郎 山屋,芳明 丸茂. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2005-10-05.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: JP4690183B2. Автор: 正紘 上田,敏秋 松本. Владелец: University of Fukui. Дата публикации: 2011-06-01.

Measuring device and its measuring method for circular dichroism

Номер патента: CN1945281A. Автор: 陶卫东,潘雪丰,白贵儒. Владелец: Ningbo University. Дата публикации: 2007-04-11.

Gear measuring device and gear measuring method

Номер патента: JP4708575B2. Автор: 進 加藤,誠 浅田. Владелец: Aisin AW Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-22.

Electrochemical measurement device and electrochemical measurement method

Номер патента: JP2022114416A. Автор: 和宏 宮村,Kazuhiro Miyamura. Владелец: Horiba Advanced Techno Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-05.