一种基于状态监测的mmc模块电压测量和故障定位方法
Номер патента: CN105675957B
Опубликовано: 20-07-2018
Автор(ы): 季振东, 李东野, 苏嘉彬, 赵剑锋, 陈璐瑶
Принадлежит: SOUTHEAST UNIVERSITY
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-07-2018
Автор(ы): 季振东, 李东野, 苏嘉彬, 赵剑锋, 陈璐瑶
Принадлежит: SOUTHEAST UNIVERSITY
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of measuring transient photovoltage of semiconductor photoelectric materials under induction of electric field or magnetic field
Номер патента: NL2031362B1. Автор: ZHANG KAI,Wang Dejun,Meng Dedong,Xie Tengfeng. Владелец: Univ Jilin. Дата публикации: 2023-03-31.