CLASSIFICATION, SEARCH AND RETRIEVAL OF SEMICONDUCTOR PROCESSING METROLOGY IMAGES USING DEEP LEARNING/CONVOLUTIONAL NEURAL NETWORKS
Номер патента: US20190005357A1
Опубликовано: 03-01-2019
Автор(ы): BHAVIRIPUDI Sreekar, GAYAKA Shreekant
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-01-2019
Автор(ы): BHAVIRIPUDI Sreekar, GAYAKA Shreekant
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Classification, search and retrieval of semiconductor processing metrology images using deep learning/convolutional neural networks
Номер патента: US10504006B2. Автор: Sreekar Bhaviripudi,Shreekant Gayaka. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2019-12-10.