Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • 一体式枕梁、牵引梁中心测量装置及测量方法

一体式枕梁、牵引梁中心测量装置及测量方法

Номер патента: CN107449338A
Опубликовано: 08-12-2017
Автор(ы): 林新, 胡彬, 谢大杰, 陈春跃, 陈鹏宇, 黎蔚文
Принадлежит: CRRC Chengdu Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Cylinder position measuring device and cylinder position measuring method

Номер патента: US20150192152A1. Автор: Masato Kageyama,Yuuki Yokoyama. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2015-07-09.

SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220276037A1. Автор: SEKIMOTO Michihiro. Владелец: Tokyo Seimitsu Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-09-01.

Measuring device i.e. measuring sensor, for coordinate measuring device, has scanning and measuring elements fastened to shaft by pin without forming recess in scanning and measuring elements, where pin is formed on surface of elements

Номер патента: DE102011007681A1. Автор: Dr. Engel Thomas. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2012-10-25.

Sanding nozzle measuring device and sanding nozzle measuring method

Номер патента: CN110081796B. Автор: 韩磊,姚凯,山荣成,孙丰晖,支运龙. Владелец: CRRC Qingdao Sifang Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-07.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

F-p sensor probe, absolute distance measurement device, and absolute distance measurement method

Номер патента: US20240264285A1. Автор: Xiangang Luo,Yanqin WANG,Chengwei ZHAO,Changtao WANG,Tiancheng GONG,Guiyuan JIA,Yanwu CHU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: US20190380634A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2019-12-19.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Inner diameter measuring device and inner diameter measuring method

Номер патента: US09470509B2. Автор: Michiko Baba,Norimasa TAGA,Kouzou HASEGAWA. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Conductor length measurement device and conductor length measurement method

Номер патента: US09335150B2. Автор: Toshiyasu Higuma,Naoyuki Hibara,Tomoaki Gyota. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-05-10.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: US09500078B2. Автор: Toshiyuki Okada. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Three-dimensional measurement device and three-dimensional measurement method

Номер патента: US11927435B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Manabu Okuda. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Wire rope measuring device and wire rope measuring method

Номер патента: EP4276407A2. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2023-11-15.

Wire rope measuring device and wire rope measuring method

Номер патента: EP4276407A3. Автор: Mitsuru Kato,Yusuke Watabe,Ryuji Onoda,Yoshiki NOTA. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-02-21.

Aperture measuring device and an aperture measuring method

Номер патента: US20190017800A1. Автор: Jie Wang,Haifeng Chen,Dingyuan LI,Ruwang Guo. Владелец: Hefei BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

Substrate height measuring device and substrate height measuring method

Номер патента: EP4120814A1. Автор: Tomohiro Yamazaki. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Three-dimensional-measurement device and three-dimensional-measurement method

Номер патента: US20230345142A1. Автор: Fumikazu Warashina. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Tire groove measurement device and tire groove measurement method

Номер патента: US20220343527A1. Автор: Siyi Ren,Takaya MAEKAWA,George Lashkhia. Владелец: Toyo Tire Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Measuring device, measuring system, and measuring method

Номер патента: US20210223029A1. Автор: Hideki Tonaka. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Microscope image measuring device and microscope image measuring method

Номер патента: US11935259B2. Автор: Michinobu Mizumura. Владелец: V Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Sample structure measuring device and sample structure measuring method

Номер патента: US20220196543A1. Автор: Mayumi ODAIRA. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Stress luminescence measurement device and stress luminescence measurement method

Номер патента: US20210356400A1. Автор: Naoya Fujiwara,Hiroaki Tsushima,Momoyo YAMAKAWA,Kenta Adachi,Yusuke Yokoi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Wear amount measuring device and wear amount measuring method

Номер патента: US11162899B2. Автор: Chie Toyoda,Toshiyuki Teshima. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2021-11-02.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Wear amount measuring device and wear amount measuring method

Номер патента: US20200300758A1. Автор: Chie Toyoda,Toshiyuki Teshima. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Steel-sheet meandering amount measurement device, steel-sheet meandering amount measurement method, hot-rolling equipment for hot-rolled steel strip, and hot-rolling method of hot-rolled steel strip

Номер патента: US20240091835A1. Автор: Hideto Yamaguchi,Yukihiro Matsubara,Tomoyoshi OGASAHARA,Hiroto Goto,Mitsutoshi Kemmochi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Measurement device for ring-shaped assembly, measurement method for ring-shaped assembly, and manufacturing method of rotating machine

Номер патента: US9964393B2. Автор: Kenichi Arase,Yugo Tokunaga,Kunihiko Waki. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Displacement measuring device, measuring system and displacement measuring method

Номер патента: US20190094013A1. Автор: Yoshihiro Kanetani,Yuta Suzuki,Tomonori Kondo,Kenichi Matoba. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Contact sensor, gripping device, and slip margin measuring method

Номер патента: JPWO2006030570A1. Автор: 淳 上田,豊 石田,司 小笠原,石田　豊,上田　淳. Владелец: Nara Institute of Science and Technology NUC. Дата публикации: 2008-05-08.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09629577B2. Автор: Eriko Yoshioka,Susumu Tatemoto. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Method for ascertaining and monitoring fill level of a medium in a container by means of a fill-level measuring device using a travel time measuring method

Номер патента: US09442000B2. Автор: Edgar Schmitt,Klaus Feisst,Stefan Gorenflo,Alexey Malinovskiy,Dietmar Spanke. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: US20050092099A1. Автор: Hiroshi Okuda,Akiko Kuse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Spectral sensitivity measurement device and spectral sensitivity measurement method

Номер патента: EP4398591A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20200025604A1. Автор: Takeshi Okamoto,Koji Kawakami,Shigeki Uebayashi. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Spectral sensitivity measuring device and spectral sensitivity measuring method

Номер патента: US20240255350A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Air bubble measurement device and air bubble measurement method

Номер патента: CA3093896C. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-08-22.

Dielectric spectroscopy measuring device and dielectric spectroscopy measuring method

Номер патента: US20240102943A1. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Ultrasonic time measurement device, and ultrasonic time measurement method

Номер патента: US20240264195A1. Автор: Hideo Kanai,Yasuyuki Masunaga,Akira Morita,Kazuhiro Koizumi,Masami Kishiro,Hojun YAMAUCHI,Shiori YAMASHITA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: US09816851B2. Автор: Fumio Koyama. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09804115B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09625442B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Vital information measurement device and vital information measurement method employing same

Номер патента: US09482636B2. Автор: Hiroyuki Tokunaga,Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Molecular concentration measurement device and molecular concentration measurement method

Номер патента: US20140031649A1. Автор: Isamu Nakao. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Electric field measuring device and electric field measuring method

Номер патента: US11828782B2. Автор: Tomohiko YANO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-11-28.

Batch-type multiphase flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20130247684A1. Автор: Kenji Ikeda,Michihiro Kawai,Tomoko Suda. Владелец: Japan Oil Gas and Metals National Corp. Дата публикации: 2013-09-26.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US20180127795A1. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-05-10.

Ion movement measuring device and ion movement measuring method

Номер патента: US20230236148A1. Автор: Hiroshi Sakai,Hideki Sakai,Atsushi Sakurai,Tatsuya Hattori,Yuji Isogai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Biological component measurement device and biological component measurement method

Номер патента: US12044615B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Lightning current measuring device and lightning current measuring method

Номер патента: US09983237B2. Автор: Kiyoshi Kurosawa,Tatsufumi Aoi,Yoichiro Tsumura,Yutaka KIKUCHIHARA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: US09778075B2. Автор: Takashi Fujita,Toru Shimizu,Nobuyuki Osawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US09738916B2. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Vessel speed measurement device and vessel speed measurement method

Номер патента: EP4254010A1. Автор: Satoshi Kawanami,Masahiko Mushiake. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20150153301A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-04.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20170023517A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09410916B2. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Measurement device for antenna and measuring radiation pattern using the same

Номер патента: US20240230739A1. Автор: Sheng-Fuh Chang,Chen-Chao Wang,Sheng-chi Hsieh,Wei-Lun Hsu,Yuan-Chun Lin,Shih-Cheng Lin,Chia-Chan Chang,Kuo-Hung Cheng. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring device, measuring system, and measuring method

Номер патента: EP4417983A1. Автор: Hideyuki Nagai. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Ear model, artificial head, and measurement device using same, and measurement method

Номер патента: US09800974B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Distance measuring device, distance measuring system, distance measuring method, and program

Номер патента: US12013459B2. Автор: Shigeru Saitou,Motonori Ishii,Shinzo Koyama,Masato Takemoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Optical resonance device, force measuring device and method, modulus measuring method and display panel

Номер патента: US20180372565A1. Автор: Dini XIE,Xiaojin Zhang,Chengsheng YU. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Differential pressure measuring device and differential pressure measurement method

Номер патента: US20230408356A1. Автор: Kenji Okita. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Noninvesive arteriovenous pressure measurement device and arteriovenous pressure measurement method using the measurement device

Номер патента: US20180242945A1. Автор: Hiroshi Tomoeda. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2018-08-30.

Magnetic flux measuring device and magnetic flux measuring method for stationary induction electrical apparatus, and synchronous switching controlgear for circuit breaker

Номер патента: CA2666733C. Автор: Minoru Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-07-29.

Air bubble measuring device and air bubble measurement method

Номер патента: AU2024201964A1. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2024-04-11.

Light scattering measurement device and light scattering measurement method

Номер патента: EP4361595A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Light scattering measurement device and light scattering measurement method

Номер патента: US20240077399A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Air bubble measuring device and air bubble measurement method

Номер патента: AU2019242951B2. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2024-04-18.

Microwave resonator magnetic field measuring device and magnetic field measuring method

Номер патента: US11892528B2. Автор: Eckhard Quandt,Reinhard Knoechel,Sebastian Toxvaerd,Lars Thormaehlen. Владелец: Christian Albrechts Universitaet Kiel. Дата публикации: 2024-02-06.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method

Номер патента: CA2962222C. Автор: Yuji Kobayashi,Akinori Matsui. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-06-15.

Carrier concentration measuring device and carrier concentration measuring method

Номер патента: US8446576B2. Автор: Hiromasa Ito,Seigo Ohno,Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-21.

Insulation resistance measurement device and insulation resistance measurement method

Номер патента: EP2447725A1. Автор: Takafumi Ishii,Masanobu Yoshidomi. Владелец: YOSHIDOMI ELECTRIC. Дата публикации: 2012-05-02.

Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method

Номер патента: US11879833B2. Автор: Yoshiro Kondo,Yuichi Miyoshi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Pressure change measurement device, altitude measurement device, and pressure change measurement method

Номер патента: US20170276563A1. Автор: Manabu Oumi,Takeshi Uchiyama,Masayuki Suda,Yoko Shinohara,Ayako Nobe,Yoshiyuki Kaiho. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Component concentration measuring device and component concentration measuring method

Номер патента: US20200292424A1. Автор: Shigenobu Mitsuzawa,Tomoaki Ohashi. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Biological information measurement device, and biological informatoin measurement method using same

Номер патента: US20180128768A1. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-05-10.

Optical characteristics measuring device and optical characteristics measuring method

Номер патента: US11209374B2. Автор: Ken Hoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-12-28.

Phase shift measuring device and phase shift measuring method

Номер патента: US20230366741A1. Автор: Kyung Hyun Park,Dong Woo Park,Il Min LEE,Mugeon KIM,Jun-Hwan SHIN,Eui Su LEE,Da Hye Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-11-16.

Radiation temperature measurement device and radiation temperature measurement method

Номер патента: EP4303547A1. Автор: Koji Tominaga,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Optical concentration measuring device, module for optical concentration measuring device and optical concentration measuring method

Номер патента: US20220307976A1. Автор: Edson Gomes Camargo,Shota ISSHIKI. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Dielectric spectroscopic measurement device and dielectric spectroscopic measurement method

Номер патента: EP4290225A1. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-12-13.

Biological component measurement device and biological component measurement method

Номер патента: US20240151636A1. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Optical characteristics measuring device and optical characteristics measuring method

Номер патента: US20200064279A1. Автор: Ken Hoshino. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Radiation temperature measurement device and radiation temperature measurement method

Номер патента: US20240110834A1. Автор: Koji Tominaga,Sho Fujino. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-04-04.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160061793A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-03.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US10054574B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-08-21.

Liquid viscosity measurement device and liquid viscosity measurement method

Номер патента: US20240027318A1. Автор: Futoshi Hirose,Takeshi Okada,Shinichi Sakurada,Shintaro Kasai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: US20190088351A1. Автор: Shinichi Takarada,Noriyoshi Terashima. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20230400557A1. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Measuring device, measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20090162879A1. Автор: Takahiro Nakaminami,Jin Muraoka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Component concentration measurement device and component concentration measurement method

Номер патента: US11839468B2. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-12-12.

Optical measurement device, catheter kit, and optical measurement method

Номер патента: EP3626197A1. Автор: Hiroyuki Okada,Yoshiyuki Shimizu,Tsuyoshi Kosugi,Yohei TAKATA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-03-25.

Distance-measuring apparatus, mobile object, robot, three-dimensional measuring device, surveillance camera, and distance-measuring method

Номер патента: US20180128919A1. Автор: Hiroaki Tanaka,Masahiro Itoh,Toshishige Fujii,Takeshi Ogawa,Yoichi Ichikawa,Shu Takahashi,Yasuhiro Nihei. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-10.

Distance measuring device, distance measuring system, distance measuring method, and program

Номер патента: US12007478B2. Автор: Hiroshi Koshida,Motonori Ishii,Shinzo Koyama,Shigetaka Kasuga. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Particle measuring device, particle separating and measuring device, and particle separating and measuring apparatus

Номер патента: EP3943913A1. Автор: Yuji Masuda,Masashi YONETA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2022-01-26.

Gas concentration-thickness product measurement device, gas concentration-thickness product measurement method, gas concentration-thickness product measurement program, and computer-readable recording medium having gas concentration-thickness product measurement program recorded thereon

Номер патента: EP3372996A1. Автор: Takashi Morimoto,Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-09-12.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761811B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Measurement device, electronic apparatus and measurement method

Номер патента: US10871446B2. Автор: Hideaki Kasahara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-12-22.

Measurement Device, Electronic Apparatus And Measurement Method

Номер патента: US20200003686A1. Автор: Hideaki Kasahara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Measuring device, electronic apparatus, and measuring method

Номер патента: US20170074723A1. Автор: Masanobu Kobayashi,Danjun ZHAO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Measuring device, electronic apparatus, and measuring method

Номер патента: US10066996B2. Автор: Masanobu Kobayashi,Danjun ZHAO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-09-04.

Distance measuring device, moving system, and distance measurement method

Номер патента: US20170123063A1. Автор: Tadashi Nakamura,Tetsuo Yamashita,Soichiro Yokota,Satoshi Sawaguchi,Fumiko Sakoh,Kiichiroh Saitoh. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-04.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US20240210334A1. Автор: Akira Hamaguchi,Kazuhiro Nojima,Yuki Abe,Takaki Hashimoto,Kaori FUMITA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Measurement Method, Measurement Device, Measurement System, And Measurement Program

Номер патента: US20230001967A1. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-01-05.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11881102B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Electronic device and ultraviolet light measuring method therefor

Номер патента: US20190346306A1. Автор: Jae-Bong Chun,Haebahremahram Suh,In-Jo JEONG,Jung-Su HA. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-11-14.

Particle measuring device, calibration method, and measuring device

Номер патента: US20210348999A1. Автор: Yusuke Matsuura,Hiroshi Tomita,Ayako Nakamura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Hidekazu Hayashi,Takuya TABUCHI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-11-11.

Particle measuring device, calibration method, and measuring device

Номер патента: US11774340B2. Автор: Yusuke Matsuura,Hiroshi Tomita,Ayako Nakamura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Hidekazu Hayashi,Takuya TABUCHI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Dimension measuring device and method

Номер патента: US20190170504A1. Автор: Choong Soo Lim,Hyeong Jun Huh,Sung Joon Kwak. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Light interference measurement device and light interference measurement method

Номер патента: EP3978865A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-04-06.

Light interference measurement device and light interference measurement method

Номер патента: EP3978865A4. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

Surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: EP3438599A4. Автор: Hikaru Masuta. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-27.

Shape measurement device, structure production system, shape measurement method, structure production method, and shape measurement program

Номер патента: US09952038B2. Автор: Kenta Kanto. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A3. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-18.

Displacement measurement device, measurement system, and displacement measurement method

Номер патента: EP3460390B1. Автор: Yuta Suzuki,Tomonori Kondo,Kenichi Matoba. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2023-07-26.

Thz measuring device and thz measuring method for performing a measurement on a corrugated pipe

Номер патента: US20240027182A1. Автор: Arno Neumeister,Jan Hendrik Petermann. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-01-25.

Position measuring device and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US20220194107A1. Автор: Bo Ram Chan Sung,Dong Yun Lee,Eon Seok Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method, as well as film formation system and film formation method

Номер патента: JP2021144022A. Автор: Naoyuki Suzuki,一修 小野,正人 品田,直行 鈴木,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,環 竹山,Tamaki Takeyama,Kazunao Ono,宏昭 千早,Hiroaki Chihaya,アインシュタイン ノエル アバラ,アインシュタイン ノエル アバラ. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-24.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device and membrane thickness measuring method

Номер патента: DE112011103113T5. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-08-08.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method

Номер патента: WO2012036213A1. Автор: 賢一 大塚,中野　哲寿. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2012-03-22.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method

Номер патента: CN103140750A. Автор: 大塚贤一,中野哲寿. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2013-06-05.

Reflectivity measuring device, reflectivity measuring method, membrane thickness measuring device, and membrane thickness measuring method

Номер патента: US8699023B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-04-15.

Device for acquisition and measurement of geometric data of at least one motif associated with a spectacle frame glass and associated method

Номер патента: US09726478B2. Автор: Jean-Jacques Videcoq. Владелец: Luneau Technology Operations SAS. Дата публикации: 2017-08-08.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

Three-dimensional measuring device, electronic component mounting device, and three-dimensional measuring method

Номер патента: JP7215826B2. Автор: 大輔 千賀. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Spectral reflectance measuring device, film thickness measuring device, and spectral reflectance measuring method

Номер патента: JP4323991B2. Автор: 教之 近藤,博己 藤本,栄治 西原. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-02.

Surface shape measuring device, defect determination device, and surface shape measuring method

Номер патента: JP6671938B2. Автор: 正行 西脇. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-03-25.

Reflectivity measurement method, membrane thickness measurement device and membrane thickness measurement method

Номер патента: DE112011103113B4. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-11-10.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Electrode assembly external diameter measurement device and external diameter measurement method

Номер патента: EP4339555A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Strain change measuring device and strain change measuring method

Номер патента: US20230288191A1. Автор: Shingo Ono,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Yoshifumi Wakisaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

CONDUCTOR LENGTH MEASUREMENT DEVICE AND CONDUCTOR LENGTH MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130134991A1. Автор: Gyota Tomoaki,Higuma Toshiyasu,Hibara Naoyuki. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2013-05-30.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20140022564A1. Автор: YAMAMOTO Takeshi,YAMADA Takeo,KAWAI Shingo. Владелец: NIRECO CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

WIRE ROPE MEASURING DEVICE AND WIRE ROPE MEASURING METHOD

Номер патента: US20200003549A1. Автор: Takeuchi Takashi,KATO Mitsuru,Tanaka Hirotomo,Nota Yoshiki,Watabe Yusuke,Onoda Ryuji. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

APERTURE MEASURING DEVICE AND AN APERTURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190017800A1. Автор: WANG JIE,Chen Haifeng,Guo Ruwang,LI Dingyuan. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-17.

SPECTRAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT DEVICE AND SPECTRAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150043001A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180045506A1. Автор: KITAGAWA Katsuichi,OTSUKI Masafumi. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-15.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220082374A1. Автор: Ohyama Tsuyoshi,Sakaida Norihiko,Okuda Manabu. Владелец: CKD CORPORATION. Дата публикации: 2022-03-17.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20160069673A1. Автор: NABESHIMA Atsuo,TAKAYANAGI Jun,OHTAKE Hideyuki,AIKYO Hideyuki,FUJISAWA Yasunari. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-03-10.

Inner Diameter Measuring Device and Inner Diameter Measuring Method

Номер патента: US20150131109A1. Автор: Baba Michiko,Hasegawa Kouzou,Taga Norimasa. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-14.

MICROSCOPE IMAGE MEASURING DEVICE AND MICROSCOPE IMAGE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220284614A1. Автор: MIZUMURA Michinobu. Владелец: V TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2022-09-08.

SURFACE FLATNESS MEASURING DEVICE AND SURFACE FLATNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20200200527A1. Автор: ZHANG Jinpeng. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-06-25.

THREE-DIMENSIONAL MEASURMENT DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL MEASURMENT METHOD

Номер патента: US20150233699A1. Автор: Huang Yung-Sheng. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

DISTANCE IMAGE MEASUREMENT DEVICE AND DISTANCE IMAGE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200278194A1. Автор: Kawahito Shoji. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

SEGMENT ROUNDNESS MEASURING DEVICE AND SEGMENT ROUNDNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20150308268A1. Автор: OKADA Toshiyuki. Владелец: HITACHI ZOSEN CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-29.

OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD

Номер патента: US20200284717A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-09-10.

TOOL SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND TOOL SHAPE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160318145A1. Автор: WATANABE Shintaro,Takahashi Nobuyuki,Domae Yukiyasu,KAWANISHI Ryosuke. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-11-03.

TROLLEY-WIRE MEASUREMENT DEVICE AND TROLLEY-WIRE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180328714A1. Автор: KAMEI Katsuyuki,IRIE Megumi. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2018-11-15.

MEDICAL COORDINATE MEASURING DEVICE AND MEDICAL COORDINATE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180368919A1. Автор: Pfeifer Tobias,Broers Holger. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

BRAIN FUNCTION MEASUREMENT DEVICE AND BRAIN FUNCTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190380634A1. Автор: YAMADA Toru. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-19.

Surface Shape Measurement Device and Surface Shape Measurement Method

Номер патента: US20220349699A1. Автор: Sato Kunihiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-03.

Trolley wire measuring device and trolley wire measuring method

Номер патента: JP6223601B1. Автор: 恵 入江,克之 亀井. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-11-01.

Specimen thickness measuring device and Specimen Thickness Measuring Method

Номер патента: KR102075356B9. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2021-09-17.

Optical image measuring device and optical image measuring method

Номер патента: JP4597744B2. Автор: 康文 福間,キンプイ チャン,正博 秋葉. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-12-15.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: KR102039580B1. Автор: 도시유키 오카다. Владелец: 히다치 조센 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-11-01.

Specimen thickness measuring device and Specimen Thickness Measuring Method

Номер патента: KR102075356B1. Автор: 김학성,박동운,오경환. Владелец: 한양대학교 산학협력단. Дата публикации: 2020-02-10.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: CN104903679A. Автор: 冈田利幸. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2015-09-09.

Optical rotation measuring device and optical rotation measuring method

Номер патента: JPWO2010100766A1. Автор: 博 梶岡,裕作 鳥取. Владелец: GLOBAL FIBEROPTICS,LTD.. Дата публикации: 2012-09-06.

SURFACE PROFILE MEASURING DEVICE AND SURFACE PROFILE MEASURING METHOD

Номер патента: JP7231946B2. Автор: 邦弘 佐藤. Владелец: University of Hyogo. Дата публикации: 2023-03-02.

Tool shape measurement device and tool shape measurement method

Номер патента: WO2015111200A1. Автор: 宣行 高橋,信太郎 渡邉,幸康 堂前,亮輔 川西. Владелец: 三菱電機株式会社. Дата публикации: 2015-07-30.

Circumferential clearance measuring device and circumferential clearance measuring method

Номер патента: CN111336978A. Автор: 刘树林,蔡明元,余江里. Владелец: Nanjing Tops Automation Equipment Co ltd. Дата публикации: 2020-06-26.

Three-dimensional measurement device and three-dimensional measurement method

Номер патента: US7009690B2. Автор: Hiroshi Uchino,Toshio Norita,Koichi Kamon. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2006-03-07.

Conductor length measurement device and conductor length measurement method

Номер патента: CN103069248A. Автор: 樋熊利康,樋原直之,行田知晃. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Optical image measuring device and optical image measuring method

Номер патента: JP4566685B2. Автор: 康文 福間,キンプイ チャン,浩之 大塚,和彦 弓掛,正博 秋葉,央 塚田. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-10-20.

Spectral characteristics measurement device and spectral characteristics measurement method

Номер патента: US9474476B2. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2016-10-25.

A kind of electromagnetic thickness measuring device and its thickness measuring method

Номер патента: CN109253689A. Автор: 李�浩,徐丹,缪斌,陈荣华,张耀丰,瞿峥. Владелец: NANJING JIAYE TESTING ENGINEERING Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-22.

Inside-diameter measurement device and inside-diameter measurement method

Номер патента: WO2013118918A1. Автор: 幸三 長谷川,道子 馬場,宣昌 多賀. Владелец: 株式会社Ihi. Дата публикации: 2013-08-15.

Optical rotation measuring device and optical rotation measuring method

Номер патента: WO2010100766A1. Автор: 鳥取裕作,梶岡博. Владелец: 有限会社グローバルファイバオプティックス. Дата публикации: 2010-09-10.

Structure height measuring device and structure height measuring method

Номер патента: DE102012101391A1. Автор: Tsutomu Murakawa,Isao Yonekura,Hidemitsu Hakii. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US8736851B2. Автор: Takeshi Yamamoto,Takeo Yamada,Shingo Kawai. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2014-05-27.

Surface shape measuring device, and surface shape measuring method

Номер патента: EP2037211A4. Автор: Yasunari Ishikawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-29.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: TW201118334A. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-06-01.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: CN112567199B. Автор: 田端伸章. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-08.

Ultrasonic distance measurement device and ultrasonic distance measurement method

Номер патента: WO2019188661A1. Автор: 米澤　良. Владелец: 株式会社ブイ・テクノロジー. Дата публикации: 2019-10-03.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: WO2022244309A1. Автор: 賢一 大塚,邦彦 土屋,諭 荒野. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2022-11-24.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: US11096609B2. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-08-24.

Overlap amount measurement device and overlap amount measurement method

Номер патента: EP3173731B1. Автор: Takahiro Tsukamoto. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2018-09-12.

Surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: JPWO2020045589A1. Автор: 邦弘 佐藤. Владелец: University of Hyogo. Дата публикации: 2021-08-26.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3243444A4. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2018-09-19.

Deglutition movement measurement device and deglutition movement measurement method

Номер патента: JP2017119100A. Автор: Akira Ishikawa,Akio Yamamoto,Takumi Yamaguchi,Hideo Otaka,秀夫 大高,Takeshi Umehara,雅史 太田,Masafumi Ota,大高　秀夫,健 梅原,朗 石川,Yusuke BESSHO,暁生 山本,侑亮 別所,薫 花家,Kaoru Hanaie,卓巳 山口. Владелец: Kobe University NUC. Дата публикации: 2017-07-06.

Stator diameter measuring device and stator diameter measuring method

Номер патента: CN115046519A. Автор: 田中阳介,道下治郎. Владелец: Nidec Corp. Дата публикации: 2022-09-13.

Swallowing movement measuring device and swallowing movement measuring method

Номер патента: WO2017111058A1. Автор: 雅史 太田,大高　秀夫,健 梅原,朗 石川,暁生 山本,侑亮 別所,薫 花家,卓巳 山口. Владелец: バンドー化学株式会社. Дата публикации: 2017-06-29.

Distortion change measuring device and distortion change measuring method

Номер патента: EP4170281A4. Автор: Shingo Ono,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Yoshifumi Wakisaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-13.

Substrate height measuring device and substrate height measuring method

Номер патента: EP4120814A4. Автор: Tomohiro Yamazaki. Владелец: Fuji Corp. Дата публикации: 2023-03-15.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: EP4067843A4. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-12-20.

SHAPE MEASUREMENT DEVICE, STRUCTURE PRODUCTION SYSTEM, SHAPE MEASUREMENT METHOD, STRUCTURE PRODUCTION METHOD, AND SHAPE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20160054119A1. Автор: KANTO Kenta. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-25.

MEASUREMENT DEVICE FOR RING-SHAPED ASSEMBLY, MEASUREMENT METHOD FOR RING-SHAPED ASSEMBLY, AND MANUFACTURING METHOD OF ROTATING MACHINE

Номер патента: US20160370163A1. Автор: WAKI Kunihiko,ERASE Kenichi,TOKUNAGA Yugo. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems, Ltd.. Дата публикации: 2016-12-22.

Measurement device for ring-shaped assembly, measurement method for ring-shaped assembly, and manufacturing method for dynamo-electric machine

Номер патента: KR101817448B1. Автор: 구니히코 와키,겐이치 아라세,유고 도쿠나가. Владелец: 미츠비시 히타치 파워 시스템즈 가부시키가이샤. Дата публикации: 2018-01-10.

Automatic measuring device for small opening diameter, measuring method for small opening diameter and method for manufacturing shower plate

Номер патента: KR100686602B1. Автор: 다다히로 오미,나카무라오사무,이케다노부카즈,나가세마사아키,도히료스케,니시노코지,우노토미오. Владелец: 가부시키가이샤 후지킨. Дата публикации: 2007-02-23.

Measurement device for ring-shaped assembly, measurement method for ring-shaped assembly, and manufacturing method for dynamo-electric machine

Номер патента: EP3023735A1. Автор: Kenichi Arase,Yugo Tokunaga,Kunihiko Waki. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2016-05-25.

Shape measuring device, structure manufacturing system, shape measuring method, structure manufacturing method, shape measuring program

Номер патента: JP5994787B2. Автор: 洋 青木,青木　洋. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-09-21.

Shape measuring device, structure manufacturing system, shape measuring method, structure manufacturing method, and computer reading medium on which shape measuring program is recorded

Номер патента: TWI640745B. Автор: 神藤建太. Владелец: 日商尼康股份有限公司. Дата публикации: 2018-11-11.

WHEEL ALIGNMENT MEASURING DEVICE FOR VEHICLE AND MEASURING SYSTEM AND MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20150040410A1. Автор: Hwang Tae Mun. Владелец: HYUNDAI MOTOR COMPANY. Дата публикации: 2015-02-12.

DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, MEASURING SYSTEM AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20190094013A1. Автор: Suzuki Yuta,Matoba Kenichi,Kondo Tomonori,KANETANI Yoshihiro. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-03-28.

MEASURING DEVICE, MEASURING SYSTEM, AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20210223029A1. Автор: TONAKA Hideki. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

Wheel alignmaent measuring device for vehicle and measuring system and measuring method using the same

Номер патента: KR101428405B1. Автор: 황태문. Владелец: 현대자동차주식회사. Дата публикации: 2014-08-07.

Multi-shaft interlocked vision, laser combined type non-contact measurement device for measuring and measuring method

Номер патента: CN107289876A. Автор: 张耀,黄文广. Владелец: Zhejiang Institute of Mechanical and Electrical Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Gap measurement device for combustor, and gap measurement method

Номер патента: CN104508381A. Автор: 谷口健太,德永有吾. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-04-08.

Displacement measuring device, measuring system and displacement measuring method

Номер патента: CN109556518B. Автор: 的场贤一,近藤智则,铃木祐太. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-12-22.

Measuring device for crack and measuring method for crack using the same

Номер патента: KR102251393B1. Автор: 이근호,이승헌,이송헌. Владелец: 이송헌. Дата публикации: 2021-05-12.

Displacement measuring device, measuring system and displacement measuring method

Номер патента: KR20190035458A. Автор: 유타 스즈키,겐이치 마토바,도모노리 곤도. Владелец: 오므론 가부시키가이샤. Дата публикации: 2019-04-03.

Hose fitting fitting shape measuring device, hose fitting fitting shape measuring method and hose fitting fitting shape measuring program

Номер патента: JP6933222B2. Автор: 崇之 齋藤. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Micro-nano structure mechanical characteristic parameter measuring device, measuring plate and measuring method

Номер патента: CN112229749B. Автор: 吴晓东,马盛林. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-07-09.

Gap measurement device for combustor, and gap measurement method

Номер патента: WO2014045896A1. Автор: 健太 谷口,有吾 徳永. Владелец: 三菱重工業株式会社. Дата публикации: 2014-03-27.

Load measurement device, load receiving system, load measurement method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: WO2021095281A1. Автор: 洋平 西. Владелец: Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社. Дата публикации: 2021-05-20.

Electron microscope device and inclined hole measurement method using same

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Yuji Takagi,Fumihiko Fukunaga,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Charged Particle Beam Device and Sample Thickness Measurement Method

Номер патента: US20200132448A1. Автор: Sato Takahiro,Nomaguchi Tsunenori. Владелец: . Дата публикации: 2020-04-30.

Charged Particle Beam Device and Overlay Misalignment Measurement Method

Номер патента: US20150287569A1. Автор: Yamamoto Takuma,TANIMOTO Kenji,Funakoshi Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Tread depth sensing device and tread depth measuring method

Номер патента: EP2009389A1. Автор: Robert Edward Lionetti,Joseph Carmine Lettieri,Anthony William Parsons. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2008-12-31.

Laser scanning microscope device and surface profile measuring method thereof

Номер патента: KR101073212B1. Автор: 아끼히로 후지이. Владелец: 올림푸스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-10-12.

Charged particle beam device and overlay misalignment measurement method

Номер патента: KR20150054973A. Автор: 다꾸마 야마모또,도모히로 후나꼬시,겐지 다니모또. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈. Дата публикации: 2015-05-20.

Measuring device, measuring head and measuring head holder

Номер патента: WO2009062641A1. Автор: Martin SCHÖNLEBER,Armin Muth. Владелец: PRECITEC OPTRONIK GMBH. Дата публикации: 2009-05-22.

Force measuring device of fluid and measuring thickness of spray using the same

Номер патента: KR960011399A. Автор: 하문근. Владелец: 경주현. Дата публикации: 1996-04-20.

Sheet-like material unevenness measuring device, and sheet-like material unevenness measuring method

Номер патента: EP4411317A1. Автор: Shohei Hayashi,Hiroki Sugihara,Kyoya TAKEMOTO,Shota Oishi. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-08-07.

Device and method of three-dimensional optic measurement of strongly reflecting or transparent objects

Номер патента: RU2495371C2. Автор: Давид НАБС,Кай ГЕНЗЕККЕ. Владелец: Аймесс Сервисес Гмбх. Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring device and method for measuring multi-grade portable articles for tobacco industry

Номер патента: RU2684388C2. Автор: Роберт СТАНИКОВСКИЙ. Владелец: Интернэшнл Тобакко Машинери Поланд Сп. з о.о.. Дата публикации: 2019-04-08.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Measuring device and method for verifying the cut quality of a sheet using image scanning

Номер патента: US7473920B2. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: ECH Will GmbH and Co. Дата публикации: 2009-01-06.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Planar motor rotor displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: US09766054B2. Автор: Ming Zhang,Zhao Liu,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Kaiming Yang,Wensheng Yin,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Longmin Chen. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Measurement device, method of adjusting measurement device, and measurement method

Номер патента: US20240230382A9. Автор: Yosuke Tanaka,Daiki Saito. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Pattern shape measurement method, pattern shape measurement device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240310167A1. Автор: Kazuki HAGIHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Radar measuring device having a plane-convex lens

Номер патента: RU2769541C2. Автор: Штеффен ВЕЛЬДЕ,Левин ДИТЕРЛЕ. Владелец: Фега Грисхабер Кг. Дата публикации: 2022-04-01.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Sensor, measurement device provided therewith, sensor unit, cell culture analysis device, and liquid sample measurement method

Номер патента: US20230008595A1. Автор: Masaki Yamamoto,Shingo Otani,Seiitirou IKETANI,Masahiro Kouge,Kenta NAKAMAE,Tetsurou Takaoka. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method

Номер патента: EP4343353A1. Автор: Norikazu Mizuochi,Yoshiharu Yoshii,Tsutomu Otsuka,Shingo Hamada,Yuki Takemura. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-03-27.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: US09921312B2. Автор: Haruka Takano. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring device, system and method for measuring a wrapping force

Номер патента: US09891120B2. Автор: Mauro Cere. Владелец: Aetna Group SpA. Дата публикации: 2018-02-13.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: US20240241065A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Distance image measuring device, and distance image measuring method

Номер патента: EP4451006A1. Автор: Shoji Kawahito. Владелец: Shizuoka University NUC. Дата публикации: 2024-10-23.

Noninvasive arteriovenous pressure measurement device and arteriovenous pressure measurement method using measurement device

Номер патента: EP3348203A4. Автор: Hiroshi Tomoeda. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2019-04-24.

Phase difference measurement device, beam output device, and phase difference measurement method

Номер патента: EP4113759A4. Автор: Koichi Hamamoto,Shingo Nishikata,Tomoya Morioka,Hiroyuki Daigo,Noriaki Miyanaga. Владелец: Institute for Laser Technology. Дата публикации: 2023-08-16.

Medical device and oxygen concentration measurement method therefor

Номер патента: EP4425168A1. Автор: Zhiqiang Zheng,Jinglei Liu,Shiming AI,Lijin WU. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: EP4212907A4. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Light amount measuring device and light amount measuring method

Номер патента: TWI480523B. Автор: Manabu Mochizuki,Shoichi Fujimori. Владелец: Pioneer FA Corp. Дата публикации: 2015-04-11.

Optical characteristic measuring device and optical characteristic measuring method

Номер патента: TW201009307A. Автор: Tsutomu Mizuguchi,Hiroyuki Sano,Hisashi Shiraiwa. Владелец: Otsuka Denshi Kk. Дата публикации: 2010-03-01.

Biometric information measurement device and biometric information measurement method using same

Номер патента: EP2860518A4. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-03.

Optical distance-measuring device and optical distance-measuring method

Номер патента: EP4027166B1. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-07.

Light scattering measurement device and light scattering measurement method

Номер патента: EP4361595A4. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method

Номер патента: EP3940368B1. Автор: Yoshiro Kondo,Yuichi Miyoshi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Neutron monitor device and neutron measurement method

Номер патента: US09733369B2. Автор: Toshiharu Takahashi,Isao Murata,Shuhei Kuri,Sachiko Doi,Hiroshi Horiike,Eiji Hoashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Mechatronics Systems Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Vibration pickup device, vibration measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US09596535B2. Автор: Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Vibration pickup device, vibration measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US09591401B2. Автор: Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Vibration pickup device, vibration measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US09462374B2. Автор: Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Raman spectroscopy device and raman spectroscopy measurement method

Номер патента: US20240219236A1. Автор: Katsuya Nozawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Field-deployable multiplexed smapling and monitoring device and bacterial contamination measurement method

Номер патента: EP3589932A2. Автор: Dan E. Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: FLUIDION SAS. Дата публикации: 2020-01-08.

Field-deployable multiplexed smapling and monitoring device and bacterial contamination measurement method

Номер патента: WO2018185566A2. Автор: Dan E. Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: FLUIDION SAS. Дата публикации: 2018-10-11.

Photoacoustic imaging device and oxygen saturation measurement method

Номер патента: US09829479B2. Автор: Chul Hong Kim,Chang Ho Lee,Min Yong Jeon,Jee Hyun Kim,Man-Sik Jeon. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2017-11-28.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP1486763A1. Автор: Motoya Sakano. Владелец: Zixsys Inc. Дата публикации: 2004-12-15.

Semiconductor device and battery voltage measuring method that prevents measurement error caused by parametric capacitance

Номер патента: US09966768B2. Автор: Naoaki Sugimura. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Radio communication device and frequency error measurement method

Номер патента: US09621338B2. Автор: Shin Watanabe,Ryosuke Kobayashi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Measurement device, electronic apparatus, and measurement method

Номер патента: US20190003890A1. Автор: Hideaki Kasahara,Masashi Kanai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Measurement device, electronic apparatus, and measurement method

Номер патента: US10677654B2. Автор: Hideaki Kasahara,Masashi Kanai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-06-09.

Measurement device, electronic apparatus, and measurement method

Номер патента: US10101205B2. Автор: Hideaki Kasahara,Masashi Kanai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-10-16.

Measurement device, electronic apparatus, and measurement method

Номер патента: US20190003889A1. Автор: Hideaki Kasahara,Masashi Kanai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Temperature measurement device, integrated circuit, and temperature measurement method

Номер патента: US09897490B2. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND TEMPERATURE MEASURING METHOD FOR PROVIDING LIGHT SPOT MARKS OF DIFFERENT COLORS

Номер патента: US20230007961A1. Автор: Yung-Chang Chang,Feng-Lien Huang. Владелец: Radiant Innovation Inc. Дата публикации: 2023-01-12.

Displacement measuring device and speed measuring method of drilling traction robot

Номер патента: US11781420B2. Автор: Jianguo Zhao,Guorong Wang,Qingyou Liu,Haiyan ZHU. Владелец: Chengdu Univeristy of Technology. Дата публикации: 2023-10-10.

Speed measurement device and speed measurement method

Номер патента: US20200003887A1. Автор: Takafumi Matsumura,Masayuki Satou. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2020-01-02.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11828882B2. Автор: Keitarou Amagawa,Yusuke Moriyama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Displacement measuring device and speed measuring method of drilling traction robot

Номер патента: US20220307367A1. Автор: Jianguo Zhao,Guorong Wang,Qingyou Liu,Haiyan ZHU. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-29.

Location measurement device for measuring location of target terminal in wireless communication system and location measurement method thereof

Номер патента: US11997559B2. Автор: Hi Chan Moon. Владелец: Infoseize Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: US20240085298A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement device, measurement device control method, and measurement device control program

Номер патента: EP4137823A1. Автор: Tomoyuki Ono,Yasuhiko Inoue. Владелец: Informetis Corp. Дата публикации: 2023-02-22.

Measurement device, measurement device control method, and measurement device control program

Номер патента: US12050238B2. Автор: Tomoyuki Ono,Yasuhiko Inoue. Владелец: Informetis Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING MATERIAL, ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING FILM, ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING DEVICE, AND ELECTRIC CONDUCTIVITY-MEASURING METHOD, AS WELL AS ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING MATERIAL, ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING FILM, ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING DEVICE, AND ELECTRIC RESISTIVITY-MEASURING METHOD

Номер патента: US20200348238A1. Автор: Kikunaga Kazuya,TERASAKI Nao. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-05.

Optical resonance device, force measuring device and method, modulus measuring method and display panel

Номер патента: US20180372565A1. Автор: Dini XIE,Xiaojin Zhang,Chengsheng YU. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Material for measuring electrical conductivity, electrical conductivity measuring film, electrical conductivity measuring device, and electrical conductivity measuring method, and material for measuring electrical resistivity, electrical resistivity measuring film, electrical resistivity measuring device, and electrical resistivity measuring method

Номер патента: EP3705874A1. Автор: Nao Terasaki,Kazuya KIKUNAGA. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-09-09.

Wind speed measuring device and wind speed measuring method

Номер патента: US11835544B2. Автор: Naoya Haneda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-05.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200124514A1. Автор: Yusuke Matsuura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Takuya TABUCHI,Kazuna BANDO. Владелец: Rion Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Distance measuring device and method of measuring distance by using the same

Номер патента: US20190187257A1. Автор: TATSUHIRO Otsuka,Jungwoo Kim,Heesun YOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-20.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method

Номер патента: EP4382943A1. Автор: Norikazu Mizuochi,Yoshiharu Yoshii,Tsutomu Otsuka,Shingo Hamada,Yuki Takemura. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-06-12.

REFLECTIVITY MEASURING DEVICE, REFLECTIVITY MEASURING METHOD, MEMBRANE THICKNESS MEASURING DEVICE, AND MEMBRANE THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20130169968A1. Автор: Ohtsuka Kenichi,Nakano Tetsuhisa. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2013-07-04.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE, FUEL EFFICIENCY MEASUREMENT DEVICE, PROGRAM FOR FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170167372A1. Автор: Akita Masanobu. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2017-06-15.

Component concentration measuring device for developer, component concentration measuring method, developer controlling device, and developer controlling method

Номер патента: JP6713658B2. Автор: 中川　俊元,俊元 中川. Владелец: 株式会社平間理化研究所. Дата публикации: 2020-06-24.

Power consumption measurement system, outlet device, control device, measuring device, and power consumption measuring method

Номер патента: EP2508897B1. Автор: Kazuya Kiuchi,Tadayuki Watanabe,Akinori Iwabuchi,Kaoru Kusafuka,Kazumasa Shichiri. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-10.

Wavefront­aberration measuring device and exposure apparatus including the device, and wavefront - aberration measuring method

Номер патента: KR100817988B1. Автор: 카즈키 야마모토. Владелец: 캐논 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2008-03-31.

Torsional moment measuring device, slip detection device, road friction coefficient measuring device and torsional moment measuring method

Номер патента: DE19514093A1. Автор: Yasuo Naito,Chiaki Fujimoto,Hideki Doi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1996-06-05.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD FOR FLOW RATE CONTROLLER FOR GAS SUPPLY DEVICE

Номер патента: US20140013838A1. Автор: Ikeda Nobukazu,Sawada Yohei,Nagase Masaaki,Nishino Kouji,Dohi Ryousuke. Владелец: FUJIKIN INCORPORATED. Дата публикации: 2014-01-16.

OPTICAL CONCENTRATION MEASURING DEVICE, MODULE FOR OPTICAL CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND OPTICAL CONCENTRATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20220307976A1. Автор: ISSHIKI Shota,CAMARGO Edson Gomes. Владелец: ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-29.

NONINVESIVE ARTERIOVENOUS PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND ARTERIOVENOUS PRESSURE MEASUREMENT METHOD USING THE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20180242945A1. Автор: Tomoeda Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-30.

PRESSURE CHANGE MEASUREMENT DEVICE, ALTITUDE MEASUREMENT DEVICE, AND PRESSURE CHANGE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170276563A1. Автор: OUMI Manabu,UCHIYAMA Takeshi,Shinohara Yoko,SUDA Masayuki,KAIHO Yoshiyuki,NOBE Ayako. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-28.

Physical quantity measuring device and physical quantity measuring method provided integrally with flow measuring device

Номер патента: JP5933782B1. Автор: 有吉　雄二,雄二 有吉,正浩 河合,慎一郎 樋▲高▼,考司 谷本,谷本　考司. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-06-15.

Magnetic flux measuring device and magnetic flux measuring method for stationary induction electrical apparatus, and synchronous switching control gear for circuit breaker

Номер патента: US8344557B2. Автор: Minoru Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-01-01.

Physical size measuring device mounted integrally with a flow rate measuring device and physical size measuring method

Номер патента: DE102015221958A1. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-09-22.

Internal temperature measuring device, wrist-mounted device and internal temperature measuring method

Номер патента: JP6763142B2. Автор: 陽 池田,和弘 西田,興子 清水,西田　和弘. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-09-30.

Phase difference measurement device, beam output device, and phase difference measurement method

Номер патента: WO2021199737A1. Автор: 浩一 濱本,宮永　憲明,伸吾 西方,朋也 森岡,浩之 醍醐. Владелец: 公益財団法人レーザー技術総合研究所. Дата публикации: 2021-10-07.

Ultrasonic measuring device, ultrasound imaging device and ultrasonic wave measuring method

Номер патента: CN104422931B. Автор: 林正树. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-03-08.

Frequency characteristic measuring device, control device, and frequency characteristic measuring method

Номер патента: CN111751616A. Автор: 罗威,中村勉. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-10-09.

Thermal diffusion factor measurement device, thermal diffusion factor measurement method and program

Номер патента: US20190162683A1. Автор: Makoto Sekine,Takahiko Kubota,Ryohei Fujita,Hosei Nagano,Takaaki AWANO,Kimihito Hatori. Владелец: Betel Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Measurement signal generation device, measurement device, measurement signal generation method, measurement method, measurement signal generation program, and measurement program

Номер патента: EP3971559A1. Автор: Shuhei Inoue. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Photostimulation device and methods of using the same

Номер патента: US20240085332A1. Автор: Brian Chow,Jose Avalos,William Benman,Lukasz Bugaj,Saachi Datta,David Gonzalez-Martinez. Владелец: University of Pennsylvania Penn. Дата публикации: 2024-03-14.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: EP3633327A1. Автор: Yoshinori Otsuki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2020-04-08.

Dryness fraction measuring device and dryness fraction measuring method

Номер патента: US20120147375A1. Автор: Giichi Nishino. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

REFRACTIVE INDEX MEASURING DEVICE AND REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD

Номер патента: US20130182245A1. Автор: Ishida Takeshi,YASUNAGA Hirotoshi,Yamabuchi Koji. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-07-18.

CHROMATIC DISPERSION MEASUREMENT DEVICE AND CHROMATIC DISPERSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20130229662A1. Автор: OGAWA Kensuke. Владелец: FUJIKURA LTD.. Дата публикации: 2013-09-05.

BATCH-TYPE MULTIPHASE FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130247684A1. Автор: Ikeda Kenji,Kawai Michihiro,Suda Tomoko. Владелец: JAPAN OIL, GAS AND METALS NATIONAL CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-26.

OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130335740A1. Автор: Ishimaru Ichiro. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-12-19.

MEASUREMENT DEVICE BASED ON ACOUSTIC FLOW MEASUREMENT METHODS IN A PUMP SYSTEM AND METHOD FOR PRODUCING A MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20140076062A1. Автор: BOBER Maciej,ESTERL Stefan,RESZEL Bernward. Владелец: em-tec GmbH. Дата публикации: 2014-03-20.

Air bubble measurement device and air bubble measurement method

Номер патента: US20210010917A1. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2021-01-14.

EYE DIAGRAM MEASUREMENT DEVICE AND EYE DIAGRAM MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200014501A1. Автор: KANG Wen-Juh,CHEN Yu-Chu,KAO Hsun-Wei. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

Environmental Characteristic Measurement Device and Environmental Characteristic Measurement Method

Номер патента: US20210018343A1. Автор: Takahashi Hiroshi,MANABE Tetsuya,TOGE Kunihiro,Oda Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-21.

BODY TEMPERATURE MEASURING PROBE, BODY TEMPERATURE MEASURING DEVICE AND BODY TEMPERATURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220039663A1. Автор: Zhang Xu,Ye Jilun. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20170023517A1. Автор: YOSHIOKA Eriko. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200025604A1. Автор: Okamoto Takeshi,Kawakami Koji,UEBAYASHI Shigeki. Владелец: SATAKE CORPORATION. Дата публикации: 2020-01-23.

EDDY CURRENT MOLD LEVEL MEASURING DEVICE AND MOLD LEVEL MEASURING METHOD

Номер патента: US20160033318A1. Автор: KOYAMA Fumio. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Rotation Angle Measurement Device and Rotation Angle Measurement Method

Номер патента: US20150036144A1. Автор: FUJITA Takashi,Shimizu Toru,Osawa Nobuyuki. Владелец: Tokyo Seimitsu Co., Ltd.. Дата публикации: 2015-02-05.

SORPTION EXOTHERMICITY MEASUREMENT DEVICE AND SORPTION EXOTHERMICITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150037894A1. Автор: SAITO Toshinobu,Kuramoto Kanya. Владелец: Kaken Test Center. Дата публикации: 2015-02-05.

LIGHTNING CURRENT MEASURING DEVICE AND LIGHTNING CURRENT MEASURING METHOD

Номер патента: US20160041205A1. Автор: TSUMURA Yoichiro,Aoi Tatsufumi,KUROSAWA Kiyoshi,KIKUCHIHARA Yutaka. Владелец: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2016-02-11.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US20150059448A1. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Stress Distribution Measurement Device and Stress Distribution Measurement Method

Номер патента: US20210063255A1. Автор: Hisashi Endo,Hiroshi Yoshikawa,Toshihiro Yamada,Masanori KITAOKA,Nobuhiro KAKENO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

OPTICAL PARAMETER MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL PARAMETER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190063992A1. Автор: Li Xing,WU Zhen,Liu Yingying,LIAO Yongjun,MA Huijun. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

COLOR PARAMETER MEASUREMENT DEVICE AND COLOR PARAMETER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190063995A1. Автор: Li Xing,WU Zhen,Liu Yingying,LIAO Yongjun,MA Huijun. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

BATTERY CAPACITY MEASURING DEVICE AND BATTERY CAPACITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20180067169A1. Автор: KOBA Daisuke,NISHI Hiroki,OSAKA Tetsuya. Владелец: PRIMEARTH EV ENERGY CO., LTD.. Дата публикации: 2018-03-08.

OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTICS MEASURING METHOD

Номер патента: US20200064279A1. Автор: Hoshino Ken. Владелец: Toshiba Memory Corporation. Дата публикации: 2020-02-27.

THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE, HEATING DEVICE, THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING METHOD, AND QUALITY ASSURANCE METHOD

Номер патента: US20200080952A1. Автор: Fujikawa Yohei. Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2020-03-12.

Electromagnetic interference measuring device and electromagnetic interference measuring method

Номер патента: US20140167782A1. Автор: Soon Il Yeo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-06-19.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190088351A1. Автор: TERASHIMA Noriyoshi,TAKARADA Shinichi. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220146524A1. Автор: TERASHIMA Noriyoshi,NADAOKA Masataka. Владелец: . Дата публикации: 2022-05-12.

ATTACHMENT FOR LIQUID SAMPLE MEASUREMENT, REFRACTIVE INDEX MEASURING DEVICE AND REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD

Номер патента: US20190094138A1. Автор: Nagai Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-28.

REFRACTIVE INDEX MEASURING DEVICE AND REFRACTIVE INDEX MEASURING METHOD

Номер патента: US20190094139A1. Автор: Nagai Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-28.

Grease property measurement device and grease property measurement method

Номер патента: US20200096427A1. Автор: Hirotaka Yasuda. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US20160108451A1. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-21.

GAMMA-RAY MEASUREMENT DEVICE AND GAMMA-RAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170108591A1. Автор: Horiike Hiroshi,Hoashi Eiji,Murata Isao,KURI Shuhei,TAKAHASHI Toshiharu,DOI Sachiko. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-20.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200103265A1. Автор: Otsuki Yoshinori. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2020-04-02.

Depth map measuring device and depth map measuring method

Номер патента: US20190120966A1. Автор: Katsuhiko Kimura,Naoya Matsuura,Kazuhiro Todori. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2019-04-25.

BLOOD COMPONENT MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD COMPONENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180127795A1. Автор: FUJIWARA Masaki,YAMAMOTO Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE, AND BIOLOGICAL INFORMATOIN MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20180128768A1. Автор: SHINNO Teppei,HIRONAKA Shouko. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

OH RADICAL MEASURING DEVICE AND OH RADICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20210164909A1. Автор: Takahashi Katsumi,KURATA Takao,HAYAKAWA Tsutomu. Владелец: IHI CORPORATION. Дата публикации: 2021-06-03.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20150153301A1. Автор: YOSHIOKA Eriko. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-04.

OPTICAL-CHARACTERISTICS MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL-CHARACTERISTICS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160153903A1. Автор: ONO Shuji. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2016-06-02.

CALORIFIC VALUE MEASURING DEVICE AND CALORIFIC VALUE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180180493A1. Автор: KOJIMA Kenichi,Ishiguro Tomoo. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

SCATTERING ABSORBER MEASUREMENT DEVICE AND SCATTERING ABSORBER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180180539A1. Автор: SUZUKI Hiroaki,Suzuki Toshihiko,Yamaki Etsuko,ODA Motoki,HOMMA Shu. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2018-06-28.

CYLINDER POSITION MEASURING DEVICE AND CYLINDER POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20150192152A1. Автор: Kageyama Masato,Yokoyama Yuuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-09.

Insulation resistance measurement device and insulation resistance measurement method

Номер патента: US20210231719A1. Автор: Ryosuke NAGANO. Владелец: NHK Spring Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-29.

MICROWAVE RESONATOR MAGNETIC FIELD MEASURING DEVICE AND MAGNETIC FIELD MEASURING METHOD

Номер патента: US20210231757A1. Автор: Knoechel Reinhard,Quandt Eckhard,Toxvaerd Sebastian,Thormaehlen Lars. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170219400A1. Автор: TANAKA Katsuhiko,TSUKADA Keisuke,UMEZAWA Shuichi,YOKOSAKA Masaki,MIYAUCHI Ryoji,KAWAGUCHI Tatsuya,KIKURA Hiroshige,TSUZUKI Nobuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

WATER QUALITY MEASUREMENT DEVICE AND WATER QUALITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200207643A1. Автор: YAHATA Masahito,MASUDA Yuichi,KATAOKA Tatsuya. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200209022A1. Автор: Suzuki Hiroshi,Nakaya Mitsuyoshi,Kobata Iwao. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: US20150241564A1. Автор: Haruka Takano. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Rotation Angle Measurement Device and Rotation Angle Measurement Method

Номер патента: US20160238413A1. Автор: FUJITA Takashi,Shimizu Toru,Osawa Nobuyuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-18.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE, AND BIOLOGICAL INFORMATOIN MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20170234824A1. Автор: SHINNO Teppei,HIRONAKA Shouko. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

STRESS LUMINESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND STRESS LUMINESCENCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210356400A1. Автор: Fujiwara Naoya,TSUSHIMA Hiroaki,YOKOI Yusuke,Adachi Kenta,YAMAKAWA Momoyo. Владелец: . Дата публикации: 2021-11-18.

TERMINAL POSITION MEASURING DEVICE AND TERMINAL POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20200267504A1. Автор: KIM Chong Won. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-20.

Ultrasonic Wave Measuring Device And Ultrasonic Wave Measuring Method

Номер патента: US20200271779A1. Автор: ONOGI Tomohide,ARAI Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

OPTICAL DISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Maeda Shunji. Владелец: . Дата публикации: 2021-12-23.

COMPONENT CONCENTRATION MEASURING DEVICE AND COMPONENT CONCENTRATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20200292424A1. Автор: Mitsuzawa Shigenobu,OHASHI Tomoaki. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-17.

OPTICAL RESPONSE MEASURING DEVICE AND OPTICAL RESPONSE MEASURING METHOD

Номер патента: US20170307515A1. Автор: ITO Hiromasa,QI Feng,Minamide Hiroaki,Nawata Kouji,FAN Shuzhen. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

WEAR AMOUNT MEASURING DEVICE AND WEAR AMOUNT MEASURING METHOD

Номер патента: US20200300758A1. Автор: TOYODA Chie,TESHIMA Toshiyuki. Владелец: JTEKT CORPORATION. Дата публикации: 2020-09-24.

FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD THEREBY

Номер патента: US20200309575A1. Автор: PARK Joon Young,Park Jo Anne. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

BALLAST WATER MEASUREMENT DEVICE AND BALLAST WATER MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190359509A1. Автор: YAGI Minoru,FUKUZAWA Kotaro,HARADA Kaname,TSUNODA Kazuhiko. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-28.

THERMAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT DEVICE AND THERMAL CONDUCTIVITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190369038A1. Автор: Nakajima Dai,SANDA Yasuyuki,TADA Haruna. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2019-12-05.

OH RADICAL DETECTION PROBE, OH RADICAL MEASUREMENT DEVICE, AND OH RADICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190376903A1. Автор: Sakamoto Kazuyuki,Takahashi Katsumi,KURATA Takao. Владелец: IHI CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-12.

MAGNETIC FIELD MEASUREMENT DEVICE AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD BASED ON SOLID-STATE SPINS

Номер патента: US20200393522A1. Автор: Rong Xing,Du Jiangfeng,ZHU Yunbin,Dai Yingqiu. Владелец: UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA. Дата публикации: 2020-12-17.

Tire wear measuring device and tire wear measuring method using the same

Номер патента: CN112590465B. Автор: 金珉泰,李浩宗,崔世凡,郑多率,李种协. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-16.

Refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: JP2019060713A. Автор: 徹也 永井,Tetsuya Nagai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-18.

Brain activity measuring device and brain activity measuring method

Номер патента: JP5418952B1. Автор: 博則 西本,隆紀 河内山,育廣 島田,一郎 藤本. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2014-02-19.

Laser ultrasonic measuring device and laser ultrasonic measuring method

Номер патента: KR100994037B1. Автор: 박현철,허형준,임충수,강명구,야수아키 나가타,쇼헤이 하시구찌,나오야 하마다,히로히사 야마다,오기장. Владелец: 니뽄스틸코포레이션. Дата публикации: 2010-11-12.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: JP5108574B2. Автор: 正 千葉. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-26.

Run-time measuring device and run-time measuring method with ambiguity solution in real time

Номер патента: CN106353768A. Автор: J·辛格,J·辛德林,雷托·施图茨,R·沃尔格南特,S·贝斯特勒. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-01-25.

Refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: JPWO2012036075A1. Автор: 浩二 山渕,壮史 石田,博敏 安永,山渕　浩二. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2014-02-03.

Component concentration measurement device and component concentration measurement method

Номер патента: WO2019203110A1. Автор: 昌人 中村,卓郎 田島,倫子 瀬山. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2019-10-24.

Temperature distribution measuring device and temperature distribution measuring method

Номер патента: JPWO2013024525A1. Автор: 文雄 武井,石鍋　稔,稔 石鍋,和史 宇野,丈夫 笠嶋,宇野　和史,恭子 只木,武井　文雄. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Liquid level measuring device and liquid level measuring method for pressure difference type gas storage

Номер патента: CN111380589B. Автор: 刘昶,陈庆,李红斌,胡皓然,杨思谛,余沐阳. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-07-27.

Spherical object position measuring device and launch angle measuring method

Номер патента: JP2626964B2. Автор: 哲司 西山,隆司 寺口. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 1997-07-02.

Physical quantity measurement device and physical quantity measurement method

Номер патента: KR101267163B1. Автор: 도우루 기따무라,노리히꼬 미꼬시바. Владелец: 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2013-05-24.

Attachment for liquid sample measurement, refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: US10393651B2. Автор: Tetsuya Nagai. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Optical characteristic measuring device and optical characteristic measuring method

Номер патента: JP6658517B2. Автор: 克敏 ▲鶴▼谷. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-03-04.

Scattering absorber measurement device and scattering absorber measurement method

Номер патента: EP3315943A1. Автор: Hiroaki Suzuki,Toshihiko Suzuki,Etsuko Yamaki,Shu HOMMA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-05-02.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: CN109579985B. Автор: 森大辅,谷口二郎. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2021-10-22.

Gas volume measuring device and gas volume measuring method

Номер патента: CN108151821B. Автор: 张鹏,张超,鄢志丹,李怀玉,孙合辉,宋长虹. Владелец: China University of Petroleum East China. Дата публикации: 2019-09-13.

Residual stress measuring device and residual stress measuring method

Номер патента: CN107923857B. Автор: 松井彰则,小林祐次. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2020-05-08.

Intracellular reaction measuring device and intracellular reaction measuring method

Номер патента: JP4429577B2. Автор: 義太郎 中野,隆之 菅,祐治 今泉. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-03-10.

Radiation efficiency measuring device and radiation efficiency measuring method

Номер патента: CN101675345A. Автор: 北田浩志. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-17.

Heat conduction measuring device and heat conduction measuring method

Номер патента: EP2418477A1. Автор: Hirokazu Tanaka,Tetsuro Ogushi,Takuya Hirata,Yasutoshi Nakagawa. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2012-02-15.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: WO2014020713A1. Автор: 望月　学,昭一 藤森. Владелец: 株式会社パイオニアＦａ. Дата публикации: 2014-02-06.

Electromagnetic interference measuring device and electromagnetic interference measuring method

Номер патента: US9494633B2. Автор: Soon Il Yeo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2016-11-15.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method thereby

Номер патента: EP3730904A4. Автор: Joon Young Park. Владелец: Yu Hae Soo. Дата публикации: 2021-08-25.

Ultrasonic flow measuring device and ultrasonic flow measuring method

Номер патента: JP4875780B2. Автор: 清 小谷野. Владелец: Izumi Giken KK. Дата публикации: 2012-02-15.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: EP2980538A1. Автор: Fumio Koyama. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-02-03.

Infrared moisture measuring device and infrared moisture measuring method

Номер патента: KR970066557A. Автор: 야스오 사이토,겐지 고니시,스스무 우치다,료이치 이시이. Владелец: 니혼 타바코 산교오 가부시키가이샤. Дата публикации: 1997-10-13.

Residual stress measuring device and residual stress measuring method

Номер патента: JP6394513B2. Автор: 祐次 小林,彰則 松井. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-09-26.

Torque coefficient measuring device and torque coefficient measuring method

Номер патента: CN113533082B. Автор: 费庆国,李彦斌,张培伟,何顶顶. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-06-02.

Material level measuring device and material level measuring method

Номер патента: CN107782403B. Автор: 张建华,林志远,林驰前,张哲平,陈巧娟,苏碧香,罗育敏,李宏桢. Владелец: LONJING ENVIRONMENT TECHNOLOGY CO LTD. Дата публикации: 2020-09-29.

Insulation resistance measurement device and insulation resistance measurement method

Номер патента: WO2010150601A1. Автор: 隆文 石井,政宣 吉富. Владелец: 株式会社Mti. Дата публикации: 2010-12-29.

Radiation efficiency measuring device and radiation efficiency measuring method

Номер патента: WO2008139832A1. Автор: Hiroshi Kitada. Владелец: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.. Дата публикации: 2008-11-20.

Particle size measuring device and particle size measuring method

Номер патента: WO2011045961A1. Автор: 幹也 荒木,晃暢 江端,尊道 井上,聖一 志賀. Владелец: 国立大学法人群馬大学. Дата публикации: 2011-04-21.

Fine particle measuring device and fine particle measuring method

Номер патента: US11378510B2. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2022-07-05.

Lightning current measuring device and lightning current measuring method

Номер патента: EP2980593A1. Автор: Kiyoshi Kurosawa,Tatsufumi Aoi,Yoichiro Tsumura,Yutaka KIKUCHIHARA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2016-02-03.

Ultrasonic wind measuring device and ultrasonic wind measuring method

Номер патента: CN103995146A. Автор: 王晓敬. Владелец: Beijing Ai Xinde Science And Technology Ltd. Дата публикации: 2014-08-20.

Environmental characteristic measuring device and environmental characteristic measuring method

Номер патента: JP6888579B2. Автор: 央 高橋,邦弘 戸毛,哲也 真鍋,真鍋　哲也,友和 小田. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-06-16.

Static pressure measurement device and flow velocity measuring method in a kind of complex flowfield

Номер патента: CN106546374A. Автор: 王迎,张震,闫晓,昝元锋. Владелец: Nuclear Power Institute of China. Дата публикации: 2017-03-29.

Physical amount measuring device and physical amount measuring method

Номер патента: CN101680760A. Автор: 山下昌哉,北村彻. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2010-03-24.

Circular dichroism measurement device and circular dichroism measurement method

Номер патента: US20220155218A1. Автор: Yoshiro Kondo,Yuichi Miyoshi. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2022-05-19.

Vital information measurement device and vital information measurement method employing same

Номер патента: EP2634569A4. Автор: Hiroyuki Tokunaga,Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2014-08-27.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method.

Номер патента: MX2017007480A. Автор: KOBAYASHI Yuji,Matsui Akinori. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2018-03-28.

Quantum efficiency measuring device and quantum efficiency measuring method

Номер патента: EP2315003B1. Автор: Kazuaki Ohkubo. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-29.

Differential pressure measuring device and differential pressure measuring method for limestone wet desulphurization demister

Номер патента: CN110567635A. Автор: 杨保平,张晶勇. Владелец: Beijing Guodian Longyuan Environmental Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-13.

Brain activity measurement device and brain activity measurement method

Номер патента: EP2977002A4. Автор: Yasuhiro Shimada,Hironori Nishimoto,Takanori Kochiyama,Ichirou Fujimoto. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2016-11-09.

Radiation temperature measuring device and radiation temperature measuring method

Номер патента: JP5103835B2. Автор: 達樹 岡本,裕之 河野,和夫 高嶋,利郎 中島. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2012-12-19.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: TW201606270A. Автор: 小山文雄. Владелец: 尼力克股份有限公司. Дата публикации: 2016-02-16.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method

Номер патента: CA2962222A1. Автор: Yuji Kobayashi,Akinori Matsui. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2016-12-22.

Texture material measuring device and texture material measuring method

Номер патента: KR101148750B1. Автор: 미츠히코 사노,카즈히로 오하라,히로유키 이마나리,마사시 츠게노,카즈토시 키타고오. Владелец: 도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-05-22.

Soil body mutual embedding measuring device and mutual embedding measuring method thereof

Номер патента: CN109001105B. Автор: 胡明涛,张福海,王远航,周天宝,施海建,袁明月,段丽军. Владелец: Hohai University HHU. Дата публикации: 2021-05-25.

Rocket engine thrust vector measuring device and thrust vector measuring method

Номер патента: CN114858334A. Автор: 周闯,蔡国飙,俞南嘉,龚昊杰,师浩然,焦博威. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-08-05.

Tire wear measuring device and tire wear measuring method using the same

Номер патента: CN112590465A. Автор: 金珉泰,李浩宗,崔世凡,郑多率,李种协. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-02.

Optical frequency measuring device and optical frequency measuring method

Номер патента: JP4500809B2. Автор: 尚治 仁木. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2010-07-14.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method using the same

Номер патента: CN111492207A. Автор: 朴准永. Владелец: Liu Haishou. Дата публикации: 2020-08-04.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JPWO2004110275A1. Автор: 中山　浩,浩 中山. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2006-07-27.

Frequency selective measuring device and frequency selective measuring method

Номер патента: US8964823B2. Автор: Thomas Lechner. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2015-02-24.

Light amount measurement device and light amount measurement method

Номер патента: US20070081149A1. Автор: Koji Nakajima,Noboru Kobayashi,Hiroyuki Nagahama,Masayuki Hideshima,Riki Ogawa. Владелец: Advanced Mask Inspection Technology Inc. Дата публикации: 2007-04-12.

Wavelength dispersion measuring device and wavelength dispersion measuring method using same

Номер патента: CN103261868A. Автор: 小川宪介. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2013-08-21.

Curing degree measuring device and curing degree measuring method

Номер патента: CN105675552B. Автор: 古贺晶子. Владелец: Nok Corp. Дата публикации: 2020-03-06.

Measuring device and optical parameter measuring method

Номер патента: CN111678677B. Автор: 李潇,张韦韪,朱建雄. Владелец: Shenzhen Huynew Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-08-05.

Refractive index measuring device and refractive index measuring method

Номер патента: US8947650B2. Автор: Takeshi Ishida,Hirotoshi Yasunaga,Koji Yamabuchi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2015-02-03.

Water level measuring device and water level measuring method

Номер патента: WO2008038510A1. Автор: Hideki Matsunaga,Shinji Kumazawa,Katsunori Yazawa,Masayuki Motomura. Владелец: NISSAN DIESEL MOTOR CO., LTD.. Дата публикации: 2008-04-03.

Thermal conductivity measuring device, heating device, thermal conductivity measuring method, and quality assurance method

Номер патента: JP7258272B2. Автор: 陽平 藤川. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-04-17.

Thermal conductivity measuring device and thermal conductivity measuring method

Номер патента: CN110168356B. Автор: 中岛泰,多田晴菜,三田泰之. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-02.

Axle load measuring device and axle load measuring method

Номер патента: CN101900600A. Автор: 川崎洋辅,西田秀志. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2010-12-01.

Biological light measurement device and biological light measurement method using the same

Номер патента: JP5567672B2. Автор: 卓成 桂,雅史 木口,倫行 藤原,司 舟根,洋和 敦森,毅 高寺. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

OH radical detection probe, OH radical measuring device, and OH radical measuring method

Номер патента: JP6816816B2. Автор: 孝男 倉田,和之 坂本,克巳 高橋,坂本　和之,高橋　克巳. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Spectral reflectivity measuring device and spectral reflectivity measuring method

Номер патента: WO2011142295A1. Автор: 直哉 太田. Владелец: 国立大学法人群馬大学. Дата публикации: 2011-11-17.

Thermal characterization measurement device and thermal characterization measurement method using same

Номер патента: EP3557234A4. Автор: Kunio Mori,Nobumasa Kimura,Takeshi Bessho. Владелец: Sulfur Chemical Laboratory Inc. Дата публикации: 2020-04-29.

Magnetic field measuring device and magnetic field measuring method

Номер патента: JP7194327B2. Автор: 憲和 水落,義治 芳井. Владелец: Sumida Corp. Дата публикации: 2022-12-22.

Optical distance-measuring device and optical distance-measuring method

Номер патента: EP4027166A4. Автор: Hidemi Noguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: JP5682802B2. Автор: 徹 清水,隆 藤田,清水　徹,藤田　隆,信之 大澤. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: JP2022043738A. Автор: Hiroyuki Inaba,久生 城所,裕之 稲葉,Hisao Kidokoro. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-03-16.

Fixing force measuring device and fixing force measuring method

Номер патента: JP6066195B2. Автор: 鈴木　啓司,義隆 筒井,信昭 中須,啓司 鈴木,満 小野田,中須　信昭,健五 岩重,靖章 景山,晴政 土屋. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2017-01-25.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method

Номер патента: JP4059511B2. Автор: 正儀 問山,喜久 新美,佳美 斉藤,達也 正井. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2008-03-12.

Residual chlorine measuring device and residual chlorine measuring method

Номер патента: JP6579315B2. Автор: 宏光 八谷,裕子 金野. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2019-09-25.

Physical amount measuring device and physical amount measuring method

Номер патента: CN104081161B. Автор: 御子柴宪彦,北浦崇弘. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2016-02-17.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: US9354088B2. Автор: Takashi Fujita,Toru Shimizu,Nobuyuki Osawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-31.

Thermal capacity measuring device and thermal capacity measuring method

Номер патента: TWI686604B. Автор: 山內悟留. Владелец: 日商愛斯佩克股份有限公司. Дата публикации: 2020-03-01.

Optical constant measurement device and optical constant measurement method

Номер патента: WO2018207488A1. Автор: 拓哉 岸本,岸井　典之. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2018-11-15.

Drying-speed measurement device and drying-speed measurement method

Номер патента: KR102107880B1. Автор: 칸야 쿠라모토,츠네오 타카시마. Владелец: 잇빤자이단호진 카켄테스트센터. Дата публикации: 2020-05-07.

Ballast water measurement device and ballast water measurement method

Номер патента: US11053144B2. Автор: Minoru Yagi,Kaname Harada,Kazuhiko Tsunoda,Kotaro Fukuzawa. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2021-07-06.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: WO2022113438A1. Автор: 恵介 井上,健太郎 西村. Владелец: 北陽電機株式会社. Дата публикации: 2022-06-02.

Liquid level measurement device and liquid level measurement method based on double differential pressure transmitters

Номер патента: CN106352942A. Автор: 陈磊,汉建德,刘建兵,王同尧,严春明,孙海宇,陆本壹. Владелец: Sinopec Ningbo Technology Research Institute. Дата публикации: 2017-01-25.

Dryness distribution measurement device and dryness distribution measurement method

Номер патента: WO2014109228A1. Автор: 康博 五所尾,義一 西野,志功 田邉. Владелец: アズビル株式会社. Дата публикации: 2014-07-17.

Vibration pickup device, vibration measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: EP2980547A1. Автор: Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2016-02-03.

Physical quantity measurement device and physical quantity measurement method

Номер патента: CN102224394A. Автор: 御子柴宪彦,北村彻. Владелец: Asahi Kasei EMD Corp. Дата публикации: 2011-10-19.

Residual stress measurement device and residual stress measurement method

Номер патента: WO2011152123A1. Автор: 悠 澁谷,啓介 丸尾. Владелец: ヤマハ発動機株式会社. Дата публикации: 2011-12-08.

Optoelectronic position measurement device and optoelectronic position measurement method

Номер патента: WO2010089280A2. Автор: Heinz Lippuner. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2010-08-12.

Powder flow measuring device and powder flow measuring method

Номер патента: KR101124093B1. Автор: 마나부 야마구치,와타루 히사다,미츠오 신타니,요시키 아라마츠. Владелец: 신토고교 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-03-20.

Moisture permeability measuring device and moisture permeability measuring method

Номер патента: JPWO2011132391A1. Автор: 村上　　裕彦,智啓 永田,村上　裕彦,庄太 金井. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2013-07-18.

Particle diameter measurement device, and particle diameter measurement method

Номер патента: CN103069265B. Автор: 岩井俊昭. Владелец: AISTHESIS Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-27.

Heat conduction measuring device and heat conduction measuring method

Номер патента: WO2010103784A1. Автор: 大串哲朗,田中浩和,中川泰利,平田拓哉. Владелец: エスペック株式会社. Дата публикации: 2010-09-16.

Organism substance-measuring device and organism substance-measuring method

Номер патента: CN110087544A. Автор: 秋山浩一,小川新平,藤泽大介,榎健太郎,篠原弘介. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-08-02.

Surface temperature measurement device and surface temperature measurement method

Номер патента: CN104583739B. Автор: 植松千寻,若洲丰,本田达朗. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Optoelectronic position measurement device and optoelectronic position measurement method

Номер патента: AU2010211097B2. Автор: Heinz Lippuner. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2012-07-26.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: EP3021112A4. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-29.

Frequency-selective measuring device and frequency-selective measuring method

Номер патента: WO2011009504A1. Автор: Thomas Lechner. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2011-01-27.

Optical pulse measuring device and optical pulse measuring method

Номер патента: TWI672484B. Автор: 劉奕辰,羅志偉,葉恬恬. Владелец: 國立交通大學. Дата публикации: 2019-09-21.

Optical characteristic measurement device and optical characteristic measurement method

Номер патента: JP2015049079A. Автор: Shuji Ono,修司 小野,小野　修司. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-03-16.

Quantum efficiency measuring device and quantum efficiency measuring method

Номер патента: EP2315003A4. Автор: Kazuaki Ohkubo. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-05.

Filter pollution measurement device and filter pollution measurement method

Номер патента: WO2016035975A1. Автор: 이현영,장지웅. Владелец: 레이트론(주). Дата публикации: 2016-03-10.

Ballast water measurement device and ballast water measurement method

Номер патента: TW201830015A. Автор: 八木稔,福澤耕太郎,原田要,角田和彦. Владелец: 日商栗田工業股份有限公司. Дата публикации: 2018-08-16.

Physical quantity measurement device and physical quantity measurement method

Номер патента: WO2010058594A1. Автор: 北村徹,御子柴憲彦. Владелец: 旭化成エレクトロニクス株式会社. Дата публикации: 2010-05-27.

Calibration information setting device, measurement device, calibration information setting method, measurement method, calibration information setting program, and measurement program

Номер патента: WO2020230503A1. Автор: 修平 井上. Владелец: 古野電気株式会社. Дата публикации: 2020-11-19.

High temperature densitometer device and steam quality measurement method and device

Номер патента: WO2016179054A1. Автор: Robert Moore,Brian GLEASON,Robert Peter KERR,Adam OLZICK,Bill DENZEL. Владелец: SCIENTIFIC DRILLING INTERNATIONAL, INC.. Дата публикации: 2016-11-10.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method based on solid-state spins

Номер патента: WO2019223052A1. Автор: 杜江峰,代映秋,朱云彬,荣星. Владелец: 中国科学技术大学. Дата публикации: 2019-11-28.

Magnetic field measurement device and magnetic field measurement method

Номер патента: WO2022244399A1. Автор: 憲和 水落,義治 芳井,努 大塚,真吾 浜田,祐輝 竹村. Владелец: スミダコーポレーション株式会社. Дата публикации: 2022-11-24.

Particle characteristic measuring device and particle characteristic measuring method

Номер патента: JP2007322329A. Автор: 泰久 足立,Yasuhisa Adachi,靖之 日下,Yasuyuki Kusaka. Владелец: University of Tsukuba NUC. Дата публикации: 2007-12-13.

Optical characteristics measuring device, and optical characteristics measuring method

Номер патента: EP4220135A4. Автор: Kenji Konno,Takushi UDA,Yoshitaka Teraoka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-03-06.

High Temperature Densitometer Device and Steam Quality Measurement Method and Device

Номер патента: US20160320280A1. Автор: Robert Moore,Brian GLEASON,Robert Peter KERR,Adam OLZICK,Bill DENZEL. Владелец: Scientific Drilling International Inc. Дата публикации: 2016-11-03.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method thereby

Номер патента: EP3730904C0. Автор: Joon Young Park. Владелец: Robo Asset Grid Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method thereby

Номер патента: EP3730904B1. Автор: Joon Young Park. Владелец: Robo Asset Grid Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Thermal characterization measurement device and thermal characterization measurement method using same

Номер патента: EP3557234B1. Автор: Kunio Mori,Nobumasa Kimura,Takeshi Bessho. Владелец: Sulfur Chemical Laboratory Inc. Дата публикации: 2023-11-08.

Water level measurement device and water level measurement method

Номер патента: EP2071299A4. Автор: Hideki Matsunaga. Владелец: UD Trucks Corp. Дата публикации: 2010-01-13.

Workpiece characteristic measuring device and workpiece characteristic measuring method

Номер патента: TWI453422B. Автор: Shuichi Saito,Tomoyuki Kojima,Takayuki Yamauchi. Владелец: Tokyo Weld Co Ltd. Дата публикации: 2014-09-21.

METHOD FOR ASCERTAINING AND MONITORING FILL LEVEL OF A MEDIUM IN A CONTAINER BY MEANS OF A FILL-LEVEL MEASURING DEVICE USING A TRAVEL TIME MEASURING METHOD

Номер патента: US20130207836A1. Автор: Schmitt Edgar,Spanke Dietmar. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-15.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE, POLISHING APPARATUS, FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND POLISHING METHOD

Номер патента: US20180016676A1. Автор: NAKAMURA Akira. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-18.

DISPERSION MEASURING DEVICE, PULSE LIGHT SOURCE, DISPERSION MEASURING METHOD, AND DISPERSION COMPENSATING METHOD

Номер патента: US20220178752A1. Автор: Inoue Takashi,WATANABE Koyo,SHIGEMATSU Kyohei. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2022-06-09.

STRESS MEASUREMENT DEVICE FOR STRENGTHENED GLASS, STRESS MEASURING METHOD FOR STRENGTHENED GLASS, MANUFACTURING METHOD OF STRENGTHENED GLASS, AND STRENGTHENED GLASS

Номер патента: US20190219463A1. Автор: Inaba Seiji,ORIHARA Shuji,ORIHARA Yoshio,OGAMI Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

Portable test and measurement device with integrated thermal channel

Номер патента: RU2705395C2. Автор: Дэвид ЭЛДЕР,Имон ГИНАН,Джонатан НЕЛЬСОН. Владелец: Лайфскэн Скотлэнд Лимитед. Дата публикации: 2019-11-07.

Dispersion measurement device, pulse light source, dispersion measurement method, and dispersion compensation method

Номер патента: JP7184700B2. Автор: 卓 井上,向陽 渡辺,恭平 重松. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-12-06.

Specimen measurement device, reagent container and specimen measurement method

Номер патента: EP3745137A1. Автор: Tomohiro KUROIWA,Yutaka Kawamoto,Shingo KAIDA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Dispersion measuring device, pulse light source, dispersion measuring method, and dispersion compensating method

Номер патента: US20240003744A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-01-04.

Dispersion measuring device, pulse light source, dispersion measuring method, and dispersion compensating method

Номер патента: US11821793B2. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-11-21.

Wearable device and temperature measurement method

Номер патента: EP4224126A1. Автор: Ning Zhang,Chenlong Li,Chao Yao. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Wearable device and temperature measurement method

Номер патента: US20240172944A1. Автор: Ning Zhang,Chenlong Li,Chao Yao. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR MEASURING METHOD, AND COLOR MEASURING SYSTEM

Номер патента: US20130208289A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku,Honda Ryo. Владелец: . Дата публикации: 2013-08-15.

DEGRADATION MEASUREMENT DEVICE, SECONDARY BATTERY PACK, DEGRADATION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20140009164A1. Автор: Suzuki Shin,Tashiro Yoichiro. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-09.

Measurement Device, Electronic Apparatus And Measurement Method

Номер патента: US20200003686A1. Автор: Kasahara Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

MEASUREMENT DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190003889A1. Автор: KANAI Masashi,Kasahara Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

MEASUREMENT DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190003890A1. Автор: KANAI Masashi,Kasahara Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

DISTANCE MEASURING DEVICE, DISTANCE MEASURING SYSTEM, DISTANCE MEASURING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210033730A1. Автор: SAITOU Shigeru,KOYAMA Shinzo,TAKEMOTO Masato,ISHII Motonori. Владелец: . Дата публикации: 2021-02-04.

MEASURING DEVICE, REACTION CARRIER AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20160061792A1. Автор: HANSMANN Hans-Ullrich,ROSTALSKI Philipp. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

MEASURING DEVICE, REACTION CARRIER AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20160061793A1. Автор: HANSMANN Hans-Ullrich,ROSTALSKI Philipp. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

DISTANCE MEASURING DEVICE, DISTANCE MEASURING SYSTEM, DISTANCE MEASURING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210072380A1. Автор: KOYAMA Shinzo,ISHII Motonori,KASUGA Shigetaka,KOSHIDA Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

MEASURING DEVICE, REACTION CARRIER AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20160077073A1. Автор: HANSMANN Hans-Ullrich,ROSTALSKI Philipp. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

Measuring device, electronic apparatus, and measuring method

Номер патента: US20170074723A1. Автор: Masanobu Kobayashi,Danjun ZHAO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Electrode substrate, measuring device, removal tool, and measuring method

Номер патента: US20220146490A1. Автор: Noriyuki NAKATANI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

DISPLACEMENT MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND DISPLACEMENT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190094368A1. Автор: Suzuki Yuta,Matoba Kenichi,Kondo Tomonori. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2019-03-28.

MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND MEASUREMENT METHOD FOR MEASURING PARTICLE AND GAS

Номер патента: US20170115196A1. Автор: TSUBOI Osamu,Momose Satoru,Ushigome Michio. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-04-27.

MEASUREMENT DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170122807A1. Автор: KANAI Masashi,Kasahara Hideaki. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

DISTANCE MEASURING DEVICE, MOVING SYSTEM, AND DISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170123063A1. Автор: Sawaguchi Satoshi,YOKOTA Soichiro,NAKAMURA Tadashi,YAMASHITA Tetsuo,SAKOH Fumiko,SAITOH Kiichiroh. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-04.

DISTANCE-MEASURING APPARATUS, MOBILE OBJECT, ROBOT, THREE-DIMENSIONAL MEASURING DEVICE, SURVEILLANCE CAMERA, AND DISTANCE-MEASURING METHOD

Номер патента: US20180128919A1. Автор: TANAKA Hiroaki,Takahashi Shu,OGAWA Takeshi,ITOH Masahiro,FUJII Toshishige,NIHEI Yasuhiro,ICHIKAWA Yoichi. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

Measurement Method, Measurement Device, Measurement System, And Measurement Program

Номер патента: US20220276118A1. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-01.

Measurement Method, Measurement Device, Measurement System, And Measurement Program

Номер патента: US20220276119A1. Автор: KOBAYASHI Yoshihiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-01.

Measurement Method, Measurement Device, Measurement System, And Measurement Program

Номер патента: US20220276120A1. Автор: KOBAYASHI Yoshihiro. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-01.

PRESSURE SENSOR, MEASURING DEVICE, REACTION CARRIER AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20160138988A1. Автор: HANSMANN Hans-Ullrich,ROSTALSKI Philipp. Владелец: DRAGER SAFETY AG & CO. KGAA. Дата публикации: 2016-05-19.

ELEVATOR SHAFT INTERNAL CONFIGURATION MEASURING DEVICE, ELEVATOR SHAFT INTERNAL CONFIGURATION MEASUREMENT METHOD, AND NON-TRANSITORY RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20160139269A1. Автор: Nakamura Norihiro,YAMAZAKI Masaki,Seki Akihito. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-19.

Measurement Method, Measurement Device, Measurement System, And Measurement Program

Номер патента: US20220291078A1. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

EAR MODEL, ARTIFICIAL HEAD, AND MEASUREMENT DEVICE USING SAME, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170150265A1. Автор: IKEDA Tomoyoshi. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2017-05-25.

MEASURING DEVICE, MEASURING SYSTEM, AND MEASURING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DIELECTRIC CONSTANT

Номер патента: US20200174050A1. Автор: LU Yongchun. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-04.

TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE, INTEGRATED CIRCUIT, AND TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150276497A1. Автор: Miyazaki Takashi,HAMANO Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

Frequency characteristic measurement device, controller and frequency characteristic measurement method

Номер патента: US20200310485A1. Автор: Tsutomu Nakamura,Wei Luo. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

MOTION MEASURING DEVICE, MOTION MEASURING SYSTEM, MOTION MEASURING METHOD, AND MOTION MEASURING PROGRAM

Номер патента: US20160349282A1. Автор: Gobara Naoki,HAYASHI Akifumi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2016-12-01.

MEASURING DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20180340828A1. Автор: KOBAYASHI Masanobu,ZHAO Danjun. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-29.

Gas Concentration-Thickness Product Measurement Device, Gas Concentration-Thickness Product Measurement Method, Gas Concentration-Thickness Product Measurement Program, And Computer-Readable Recording Medium Having Gas Concentration-Thickness Product Measurement Program Recorded Thereon

Номер патента: US20180364185A1. Автор: Morimoto Takashi,ASANO Motohiro. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-20.

Control and measuring device for the cryogenic system

Номер патента: RU2745295C1. Автор: Грег БРИТТЛС,Роберт СЛЭЙД,Марсель КРУИП,Бас Ван Нюгтерен. Владелец: Токемек Энерджи Лтд. Дата публикации: 2021-03-23.

Measurement device, measurement system, and concentration measurement method

Номер патента: US20100327886A1. Автор: Yoshihiro Ito,Toshifumi Nakamura,Hiroyuki Tokunaga,Eriko Yamanishi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-12-30.

Weight measuring device for vehicle and weight measuring method thereof

Номер патента: KR101104330B1. Автор: 양철호. Владелец: 양철호. Дата публикации: 2012-01-16.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US20220205931A1. Автор: Atsushi Yamada,Sachio Iida,Takuya Ichihara,Toshiyuki Hiroi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Specimen measuring device, reagent container and sample measuring method

Номер патента: JP6959875B2. Автор: 祐峰 川元,知弘 黒岩,信吾 買田. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2021-11-05.

Measuring device, measuring system and measuring method for liquid crystal dielectric constant

Номер патента: CN108490270B. Автор: 卢永春. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-24.

Surface plasmon resonance measuring device, sample cell, and measuring method

Номер патента: US20100284013A1. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

TORQUE MEASURING DEVICE, TORSIOMETRIC FLANGE AND TORQUE MEASURING METHOD

Номер патента: RU2010117731A. Автор: Герберт МОЙТЕР,Михаэль КОСЛОВСКИ,Герберт МОЙТЕР (DE),Михаэль КОСЛОВСКИ (DE). Владелец: ГИФ Гезельшафт фюр Индустрифоршунг МБХ (DE). Дата публикации: 2011-12-20.

Measuring device, measuring system and measuring method

Номер патента: CN111521247A. Автор: 大森启史. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-08-11.

Ear model, artificial head, and measurement device using same, and measurement method

Номер патента: CN105492877A. Автор: 池田智义. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2016-04-13.

Time delay detection method and device, and fluid speed measurement method and system

Номер патента: CN111351958B. Автор: 杨叶飞. Владелец: Shanghai Huahong Jitong Smart System Co ltd. Дата публикации: 2021-11-02.

Measuring device, transport system and measuring method

Номер патента: DE102010017939A1. Автор: Matsuba Inuyama-shi Katsumi. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2010-12-16.

Distance measuring device, electronic equipment and measuring method

Номер патента: CN112731417A. Автор: 陈伟. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-30.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: DE102013006542B4. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-03-23.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: DE102013006543B4. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-03-23.

Distance measuring device, distance measuring system, distance measuring method, and program

Номер патента: CN111902733A. Автор: 春日繁孝,香山信三,越田浩旨,石井基范. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-06.

Measurement device, measurement system, and measurement method for measuring particle and gas

Номер патента: US10018548B2. Автор: Satoru Momose,Osamu Tsuboi,Michio USHIGOME. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-07-10.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: WO2020230702A1. Автор: 山田　篤,幸生 飯田,卓哉 市原,聡幸 廣井. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2020-11-19.

Measuring device, measuring system and measuring method for liquid crystal dielectric constant

Номер патента: CN108872713B. Автор: 卢永春. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-02.

Pressure sensor with membrane whose variable contact surface can be read optically, measuring device, reaction carrier and measuring method with this pressure sensor

Номер патента: DE102013009641B4. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2021-05-06.

Measurement device, electronic apparatus, and measurement method

Номер патента: US10466103B2. Автор: Hideaki Kasahara,Masashi Kanai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-11-05.

Temperature measuring device, integrated circuit and temperature measuring method

Номер патента: DE102015202520B4. Автор: Takashi Miyazaki,Hiroyuki Hamano. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Measurement device, measurement system, and concentration measurement method

Номер патента: CN101918822A. Автор: 德永博之,山西永吏子,伊藤佳洋,中村俊文. Владелец: 松下电器产业株式会社. Дата публикации: 2010-12-15.

Measurement device, measurement device control method, and measurement device control program

Номер патента: EP3730951A1. Автор: Tomoyuki Ono,Yasuhiko Inoue. Владелец: Informetis Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-28.

Ear model, artificial head, and measurement device using same, and measurement method

Номер патента: WO2015029295A1. Автор: 智義 池田. Владелец: 京セラ株式会社. Дата публикации: 2015-03-05.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: WO2020230478A1. Автор: 山田　篤,幸生 飯田,卓哉 市原,聡幸 廣井. Владелец: ソニー株式会社. Дата публикации: 2020-11-19.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: JP2023084855A. Автор: 祥宏 小林,Sachihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-06-20.

Gas concentration-thickness product measurement device, gas concentration-thickness product measurement method, gas concentration-thickness product measurement program, and computer-readable recording medium having gas concentration-thickness product measurement program recorded thereon

Номер патента: WO2017104607A1. Автор: 隆史 森本,基広 浅野. Владелец: コニカミノルタ株式会社. Дата публикации: 2017-06-22.

Electrode substrate, measurement device, removal tool, and measurement method

Номер патента: EP3933026A1. Автор: Noriyuki NAKATANI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Electrode substrate, measurement device, removal tool, and measurement method

Номер патента: EP3933026A4. Автор: Noriyuki NAKATANI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-18.

Electrode substrate, measuring device, removal tool, and measuring method

Номер патента: US20220146490A1. Автор: Noriyuki NAKATANI. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Degradation measurement device, secondary battery pack, degradation measurement method, and program

Номер патента: US20140009164A1. Автор: Shin Suzuki,Yoichiro Tashiro. Владелец: NEC Energy Devices Ltd. Дата публикации: 2014-01-09.

Electrical measurement device for biosample and electrical measurement method for biosample

Номер патента: EP3173777B1. Автор: MarcAurele Brun,Yoichi Katsumoto,Yoshihito Hayashi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-02-28.

Gas concentration-thickness product measurement device, gas concentration-thickness product measurement method, gas concentration-thickness product measurement program, and computer-readable recording medium having gas concentration-thickness product measurement program recorded thereon

Номер патента: EP3372996B1. Автор: Takashi Morimoto,Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-02-14.

Measurement device, measurement device control method, and measurement device control program

Номер патента: EP4137823A4. Автор: Tomoyuki Ono,Yasuhiko Inoue. Владелец: Informetis Corp. Дата публикации: 2024-05-22.

Energy measuring device, energy arithmetic unit, energy measuring method and program

Номер патента: US20230314640A1. Автор: Yoshiharu Hiroshima,Yuichiro Okugawa,Hidenori Iwashita. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Electronic Device and Noise Current Measuring Method

Номер патента: US20120119757A1. Автор: Satoshi Nakamura,Takashi Suga,Yutaka Uetmatsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-05-17.

PHOTOACOUSTIC IMAGING DEVICE AND OXYGEN SATURATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160003801A1. Автор: LEE Chang Ho,Kim Chul Hong,Kim Jee Hyun,JEON Man-Sik,JEON Min Yong. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

DIFFERENTIAL PRESSURE FLOW METER, EXHAUST GAS ANALYSIS DEVICE AND FLOW RATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180164185A1. Автор: FUKAMI Shun. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2018-06-14.

X-RAY DEVICE AND X-RAY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150179293A1. Автор: Mukaide Taihei. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-25.

Semiconductor device and battery voltage measuring method

Номер патента: US20160190832A1. Автор: Naoaki Sugimura. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-30.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND BATTERY VOLTAGE MEASURING METHOD THAT PREVENTS MEASUREMENT ERROR CAUSED BY PARAMETRIC CAPACITANCE

Номер патента: US20180241226A1. Автор: SUGIMURA Naoaki. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

Field-deployable Multiplexed Sampling and Monitoring Device and Bacterial Contamination Measurement Method

Номер патента: US20180251713A1. Автор: Dan E. Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: FLUIDION SAS. Дата публикации: 2018-09-06.

OPTICAL ELEMENT, TRANSMISSION PROBE, SAMPLE CONTAINER, OPTICAL DEVICE, AND IMMERSION TRANSMISSION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160266039A1. Автор: SUZUKI Yasuyuki,Nakamura Yukihiro,Namatame Tetsushi. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2016-09-15.

High Temperature Densitometer Device and Steam Quality Measurement Method and Device

Номер патента: US20160320280A1. Автор: Moore Robert,GLEASON Brian,KERR Robert Peter,OLZICK Adam,DENZEL Bill. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-03.

ELECTRONIC DEVICE AND ULTRAVIOLET LIGHT MEASURING METHOD THEREFOR

Номер патента: US20190346306A1. Автор: CHUN Jae-Bong,HA Jung-su,JEONG In-Jo,SUH Haebahremahram. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND INCLINED HOLE MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Goto Yasunori,Takagi Yuji,FUKUNAGA Fumihiko. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2019-11-28.

A kind of heat exchange pipe head pressure testing device and its pressure-measuring method

Номер патента: CN109163850A. Автор: 李小芹,朱恩荣. Владелец: Jiangsu Jinmen Energy Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-08.

Internet of things MEMS (micro-electromechanical systems) thermal mass gas meter system device and gas flow measuring method

Номер патента: CN110672172A. Автор: 韩怀成,初勇,兰玉明. Владелец: Liaoning Scaler Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-10.

Circumferential magnetization non-contact torque / power detection device and torque / power measurement method using the same

Номер патента: JP2992351B2. Автор: ジェイ．ガーシェリス イヴァン. Владелец: MAGUNA RASUTEITSUKU DEBAISHIIZU Inc. Дата публикации: 1999-12-20.

Calibration procedure for prospective calibration of a measuring device, computer program and measuring device

Номер патента: ES2779349T3. Автор: Nikolaus Schmitt,Gerhard Frisch. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2020-08-14.

Portable optical particle sensor device and corresponding particle measurement method

Номер патента: DE102018214936A1. Автор: Stefan Weiss,Alexander Herrmann,Matthias Michelsburg. Владелец: Trumpf Photonic Components GmbH. Дата публикации: 2020-03-05.

Illumination light path, defect detection device and light intensity measurement method

Номер патента: CN113008798A. Автор: 张雨茜,敖海林. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2021-06-22.

Dew stone runoff collecting device and runoff coefficient measuring method

Номер патента: CN110346363B. Автор: 于洋,秦伟,李柏,殷哲,郭乾坤,单志杰,左长清. Владелец: China Institute of Water Resources and Hydropower Research. Дата публикации: 2020-05-05.

Radar device and position / orientation measurement method

Номер патента: JP6861919B2. Автор: 貴博 橋本,孝行 中西,健矢 清水. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-21.

Optical element, transmission probe, sample container, optical device, and immersion transmission measurement method

Номер патента: EP3067686A1. Автор: Yasuyuki Suzuki,Yukihiro Nakamura,Tetsushi Namatame. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-09-14.

Radar device and target angle measurement method

Номер патента: JPWO2020044442A1. Автор: 聡宏 伊藤. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Electronic device and noise current measuring method

Номер патента: KR101213614B1. Автор: 사토시 나카무라,다카시 스가,유타카 우에마츠. Владелец: 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼. Дата публикации: 2013-01-09.

Ultrasound diagnostic device and shear elasticity measurement method

Номер патента: CN103717144A. Автор: 玉野聪. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2014-04-09.

Photo-acoustic image device and oxygen saturation measurement method

Номер патента: KR101620458B1. Автор: 김지현,이창호,김철홍,전민용,전만식. Владелец: 포항공과대학교 산학협력단. Дата публикации: 2016-05-24.

Field-deployable multiplexed sampling and monitoring device and bacterial contamination measurement method

Номер патента: EP3628999A1. Автор: Dan Angelescu,Andreas Hausot. Владелец: Fluidion. Дата публикации: 2020-04-01.

Electronic device and noise current measuring method

Номер патента: JP5215942B2. Автор: 中村　　聡,卓 須賀,裕 植松. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2013-06-19.

Jitter measuring system in high speed data output device and total jitter measuring method

Номер патента: US20040019458A1. Автор: Jin-mo Jang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-01-29.

Evaporation light detection device and evaporation light measurement method based on same

Номер патента: CN107389615B. Автор: 徐晓东,姚冬. Владелец: Suzhou Telford Scientific Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-24.

Particle measuring device, calibration method, and measuring device

Номер патента: EP3862742A4. Автор: Yusuke Matsuura,Hiroshi Tomita,Ayako Nakamura,Haruhisa Kato,Kaoru Kondo,Hidekazu Hayashi,Takuya TABUCHI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-07-06.

A kind of flow measurement device, metering method and measurement and control integration gate system

Номер патента: CN108775936A. Автор: 薛惠锋. Владелец: China Academy Of Aerospace Systems Science And Engineering. Дата публикации: 2018-11-09.

Measuring device for withdrawing and measuring liquids

Номер патента: DE691444C. Автор: Bernhard Stiel. Владелец: Siemens and Halske AG. Дата публикации: 1940-05-27.

Measurement device for detecting and measuring pain

Номер патента: WO2017183994A1. Автор: Jørund FJØSNE,Tor GJØSÆTER,Aleksander KRZYWINSKI,Martin Lie. Владелец: Bryggen Research As. Дата публикации: 2017-10-26.

Gas's tar concentration measuring device for analyzing and measuring gas pollutants, has body suspended at thermo-gravimetric apparatus and serving as catalyst and support for tar coking, where body is moved in enclosure that canalizes gas

Номер патента: FR2910967A1. Автор: Meryl Brothier,Pierre Estubier,Johann Soyer. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 2008-07-04.

Ultrasonic measuring device and fluid medium flow rate measuring method

Номер патента: RU2545358C2. Автор: Торальф ДИТЦ,Герри ШРЕТЕР,Андреас ГУРР. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2015-03-27.

Device and method of controlling ratio of fuel and air at combustion of coal dust in furnace installation plant

Номер патента: RU2594837C2. Автор: Ханс Георг КОНРАДС,Александр ХАЛЬМ,Мартин БОМ. Владелец: Промекон Процесс-Унд Месстекник Конрадс Гмбх. Дата публикации: 2016-08-20.

Multi-beam current quantity measuring method, multi-charged particle drawing control device, and multi-charged particle beam drawing device

Номер патента: US09734984B2. Автор: Hideyuki Iwata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Dual integration type electro-optical distance measuring device wherein the first integration time is reverse integrated

Номер патента: US5043564A. Автор: Kiyoshi Ikuta. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1991-08-27.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20230009318A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2023-01-12.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Fetal head direction measuring device and method

Номер патента: EP3928711A1. Автор: Kai Wang,Youping WANG,Xiaoxing Lu. Владелец: Guangzhou Lian Med Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20240337572A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-10-10.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: AU2020284965A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2021-12-16.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: CA3141290A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-12-03.

Ear model unit, artificial head, and measurement device and method using said ear model unit and artificial head

Номер патента: US09992594B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring device and measuring method for registering an ambient temperature of a medical machine, and device and method for medical insufflation

Номер патента: US09752939B2. Автор: Manfred Schmidt,Otmar Stillhard,Walter Hauser. Владелец: Storz Endoskop Produktions GmbH Germany. Дата публикации: 2017-09-05.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20060125495A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7009411B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-03-07.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20040256553A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20030020015A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Integrated impedance measurement device and impedance measurement method thereof

Номер патента: US12038463B2. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measurement device, distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US20180100917A1. Автор: Jun Kawai,Takeshi Morikawa,Koichi Tezuka,Koichi Iida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11719791B2. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11747427B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7321232B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-22.

Integrated Impedance Measurement Device and Impedance Measurement Method Thereof

Номер патента: US20240345146A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Bio-signal measuring device and bio-signal measuring method

Номер патента: US12029524B2. Автор: Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Bang Won Lee. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220255542A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220021412A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-01-20.

Blood-pressure measurement device, model setting device, and blood-pressure measurement method

Номер патента: US20220104715A1. Автор: Yoshihisa Adachi,Yoshifumi Iwai,Ryota Tomizawa,Yuki EDO,Rieko Ogawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2022-04-07.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: EP4344276A1. Автор: Yutaka Kawabata. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Eye point measuring device and eye point measuring method

Номер патента: US20180178678A1. Автор: Takuya Ishikawa. Владелец: Toyota Boshoku Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Carry measuring device, hit-ball-direction measuring device, carry measuring system, carry measuring method, hit-ball determining device, hit-ball determining system, hit-ball determining method, and recording medium

Номер патента: US20160175651A1. Автор: Hisao Tanaka,Shoichi Nakajo,Yoichi NATORI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-06-23.

Work state measurement device and work state measurement method

Номер патента: US20160232476A1. Автор: Naoki Ueda,Yusuke Sugahara,Tomohito Nakata,Tetsuya Tamaki,Tsubasa Tomoda,Koko Hanada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-08-11.

Ultrasonic thickness measurement device and ultrasonic thickness measurement method

Номер патента: US20220296217A1. Автор: Masahiro Onoda,Yoshio Arai,Kanechika Kiyose,Mio SASAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Portable electronic device and wound-size measuring method using the same

Номер патента: US20230058754A1. Автор: zhe-yu Lin,Ji-yi Yang,Wen Hsin HU,Hui Chi Hsieh,Yin Chi LIN,Chi Lun HUANG. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Portable electronic device and wound-size measuring method using the same

Номер патента: EP4138033A1. Автор: zhe-yu Lin,Ji-yi Yang,Wen Hsin HU,Hui Chi Hsieh,Yin Chi LIN,Chi Lun HUANG. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2023-02-22.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230346315A1. Автор: Hyeon Jun Lee,Bo Ram CHOI,Gyeong Ub MOON,Jong Yeop AN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Optical disc eccentric amount measurement device and eccentric amount measurement method using the same

Номер патента: TW200409108A. Автор: Katsumi Ichifuji. Владелец: HAMAMATSU METRIX CO Ltd. Дата публикации: 2004-06-01.

Optical disc eccentric amount measurement device and eccentric amount measurement method using the same

Номер патента: AU2003264509A1. Автор: Katsumi Ichifuji. Владелец: HAMAMATSU METRIX CO Ltd. Дата публикации: 2004-06-18.

Work rate measurement device and work rate measurement method

Номер патента: EP4109362A4. Автор: Yutaka MATSUBAYASHI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230414119A1. Автор: Chul Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Carry measuring device, hit-ball-direction measuring device, carry measuring system, carry measuring method, hit-ball determining device, hit-ball determining system, hit-ball determining method, and recording medium

Номер патента: US20160175651A1. Автор: Hisao Tanaka,Shoichi Nakajo,Yoichi NATORI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-06-23.

Ophthalmologic measuring device and and its measuring method

Номер патента: JPS54115596A. Автор: Gurooruman Baanaado. Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1979-09-08.

Blood pressure measurement device, model setting device, and blood pressure measurement method

Номер патента: JP2023060172A. Автор: 佳久 足立,Yoshihisa Adachi,莉絵子 小川,勇樹 江戸,亮太 富澤,Yoshifumi Iwai,敬文 岩井,Ryota Tomizawa,Yuki EDO,Rieko Ogawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2023-04-27.

BIO-SIGNAL MEASURING DEVICE AND BIO-SIGNAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20220095917A1. Автор: LEE Chang Ho,Jeong Jong Ook,LEE Bang Won. Владелец: ATSENS CO., LTD.. Дата публикации: 2022-03-31.

Visual line measuring device and visual line measuring method

Номер патента: US20180089508A1. Автор: Hidetoshi Takeda,Soichi Kimura,Shingo Yamazoe. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

ULTRASONIC THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND ULTRASONIC THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220296217A1. Автор: KIYOSE Kanechika,Onoda Masahiro,ARAI Yoshio,SASAKI Mio. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

EYE POINT MEASURING DEVICE AND EYE POINT MEASURING METHOD

Номер патента: US20180178678A1. Автор: ISHIKAWA Takuya. Владелец: TOYOTA BOSHOKU KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2018-06-28.

WORK STATE MEASUREMENT DEVICE AND WORK STATE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160232476A1. Автор: Ueda Naoki,NAKATA Tomohito,TAMAKI Tetsuya,TOMODA Tsubasa,SUGAHARA Yusuke,HANADA Koko. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2016-08-11.

Blood rheology measurement device and blood rheology measurement method

Номер патента: JP4662543B2. Автор: 正隆 新荻,敬彦 中村,瑞明 鈴木,文雄 木村. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2011-03-30.

Position measuring device and position deviation measuring method

Номер патента: DE102006052015A1. Автор: Shusuke Numazu Yoshitake,Shuichi Numazu Tamamushi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2007-05-24.

Pattern dimension measuring device and pattern area measuring method

Номер патента: KR100933819B1. Автор: 준 마츠모토. Владелец: 주식회사 아도반테스토. Дата публикации: 2009-12-24.

Work rate measurement device and work rate measurement method

Номер патента: US20230068757A1. Автор: Yutaka MATSUBAYASHI. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Clothing amount measuring device and clothing amount measuring method

Номер патента: JP3350721B2. Автор: 陽 吉田,良 井尻,子泉 洪. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2002-11-25.

Warping angle measurement device and warping angle measurement method for optical recording medium

Номер патента: TW200517636A. Автор: Takashi Yamada,Tsuyoshi Komaki. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2005-06-01.

Traffic volume measurement device and traffic volume measurement method

Номер патента: SG11201501581UA. Автор: Yoshiaki Kato,Toru Mabuchi,Yusuke Ogawa. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2015-05-28.

MEASURING DEVICE, MEASURING SYSTEM AND MEASURING METHOD FOR OVER THE AIR POWER MEASUREMENT AND INDICATION

Номер патента: US20180160324A1. Автор: PABST Alexander,Tankielun Adam. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, CATHETER KIT, AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200170706A1. Автор: Okada Hiroyuki,Shimizu Yoshiyuki,TAKATA Yohei,KOSUGI Tsuyoshi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-06-04.

Cell characteristic measuring circuit for a nonvolatile semiconductor memory device and cell characteristic measuring method

Номер патента: US5650961A. Автор: Toshihiko Himeno,Naohiro Matsukawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1997-07-22.

Radio communication device and transmission power measurement method of radio communication device

Номер патента: US20100240324A1. Автор: Kengo Okada. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2010-09-23.

Injection device and corresponding injection measurement method

Номер патента: CN111032127B. Автор: D·比尔,P·特洛伊布纳. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2022-11-01.

Injection device and corresponding injection measurement method

Номер патента: CN111032127A. Автор: D·比尔,P·特洛伊布纳. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-04-17.

Optical monitoring device and light intensity measurement method

Номер патента: WO2022249456A1. Автор: 宜輝 阿部,和典 片山,良 小山. Владелец: 日本電信電話株式会社. Дата публикации: 2022-12-01.

Lithographic apparatus provided with a plurality of position adjustment devices and position adjustment measurement method

Номер патента: JP5571316B2. Автор: ベルナルデュス マリア ファン ビルセン フランシスクス. Владелец: エーエスエムエル ネザーランズ ビー．ブイ．. Дата публикации: 2014-08-13.

Pattern dimensioning device and pattern area measuring method

Номер патента: DE112007000009B4. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

Injection device and corresponding injection measuring method

Номер патента: DE102017215035A1. Автор: Philipp Troebner,David Bill. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2019-02-28.

Image taking apparatus having a distance measuring device

Номер патента: US20030138246A1. Автор: Kenji Nakamura. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-24.

Input/output port mounting unit integrated type display frame for POS equipment

Номер патента: US10891836B2. Автор: Dong Uk Eun. Владелец: POSBANK CO Ltd. Дата публикации: 2021-01-12.

Touch sensor integrated type display device

Номер патента: US09684419B2. Автор: Manhyeop Han,Seungkyeom Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Touch sensor integrated type display device

Номер патента: US09626027B2. Автор: Manhyeop Han,Juhan Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Iot integrated type data processor for interfacing with wired and wireless facilities

Номер патента: US20180225948A1. Автор: Sung Bum Joo,Young Bok KWEON. Владелец: Kdt Co ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US20140107438A1. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-04-17.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US09597020B2. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-03-21.

Blood pressure measurement device, electronic device, and blood pressure measurement method

Номер патента: US09737218B2. Автор: Kazuhiro Nishida,Sumio Utsunomiya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Cardiac potential measuring device and cardiac potential measuring method

Номер патента: US20150374251A1. Автор: Jun Ozawa,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-31.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Wrist-wearable body composition measuring device and body composition measuring method using the same

Номер патента: US20190231216A1. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Myounghoon JUNG,Kunsun EOM,Yeolho LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-01.

Signal quality measurement device and signal quality measurement method

Номер патента: US20180287698A1. Автор: Shoichiro Oda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method using the same

Номер патента: US20180070887A1. Автор: Kwangjin Lee,Jongin Kim,Boreom LEE,Dongrae CHO. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-03-15.

Cardiac potential measuring device and cardiac potential measuring method

Номер патента: US09974456B2. Автор: Jun Ozawa,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: US20240081709A1. Автор: Kazuhiro Yoshida. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Physiological information measurement device and physiological information measurement method

Номер патента: US20240335124A1. Автор: Takahiro Kuroda,Shogo TOTSUKA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Ultrasound elasticity measuring devices and elasticity comparative measuring methods

Номер патента: US12089994B2. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Non-invasive blood component measuring device, non-invasive blood component measuring method, and a computer program product

Номер патента: US20090203976A1. Автор: Toshiyuki Ozawa,Yasuhito Ohnishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2009-08-13.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20240090798A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20220240813A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Brain Function Measurement Device and Brain Function Measurement Method

Номер патента: US20200029819A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-01-30.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3610796A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-02-19.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: US20220160246A1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2022-05-26.

Protocol delay measuring device and protocol delay measuring method

Номер патента: US20100260062A1. Автор: Satoshi Senga,Kazushige Yamada,Ming-Fong Yeh. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-10-14.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP4275613A3. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-12-13.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP4275613A2. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-11-15.

Biological Information Measurement Device And Biological Information Measurement Method

Номер патента: US20240148287A1. Автор: Atsushi Matsuo,Akira Ikeda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Biological Information Measurement Device And Biological Information Measurement Method

Номер патента: US20240148288A1. Автор: Akira Ikeda,Tsukasa Eguchi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Brain wave measuring device and brain wave measuring method

Номер патента: EP4353154A1. Автор: Yoshiatsu ONO. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Cardiac output measurement device and cardiac output measurement method

Номер патента: US20220218212A1. Автор: Xiaowei Lu,Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Eyeball optical measuring device and eyeball optical measuring method

Номер патента: US20180098695A1. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Kouhei YUKAWA. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Brain wave measuring device and brain wave measuring method

Номер патента: US20240225510A1. Автор: Yoshiatsu ONO. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20240081688A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Display device and blood pressure measurement method using the same

Номер патента: US20230320597A1. Автор: Hyeon Jun Lee,Bo Ram CHOI,Gyeong Ub MOON,Jong Yeop AN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Brain wave detection electrode, brain wave measurement device, and brain wave measurement method

Номер патента: EP4406479A1. Автор: Masashi Sawada. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Brain wave detection electrode, brain wave measuring device, and brain wave measuring method

Номер патента: EP4406480A1. Автор: Masashi Sawada. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Communication device and orthogonal error measurement method for communication device

Номер патента: US20180183531A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Ichiro Seto,Shigehito Saigusa,Yousuke Hagiwara,Yuki Fujimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Sphygmomanometer, device, and blood pressure measurement method

Номер патента: US11266349B2. Автор: Hirokazu Tanaka,Shinji Mizuno,Tomoyuki Nishida,Noboru KOHARA. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-03-08.

Wearable device and physiological parameter measurement method

Номер патента: EP4338664A1. Автор: Bin Yang,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jiabing YAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Wearable device and physiological parameter measurement method

Номер патента: EP4338664A4. Автор: Bin Yang,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jiabing YAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Network quality measuring device, transmitting device, receiving device, and network quality measuring method

Номер патента: JP5104549B2. Автор: 靖男 武,一生 水田. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-12-19.

Detachable volume measuring device, tissue expanding device comprising volume measuring device and breast volume measuring method using tissue expanding device

Номер патента: CN112261902A. Автор: 洪顺基,金仁浩,柳宝永,曺永昀. Владелец: CG Bio Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-22.

Crushing efficiency measuring device and Crushing efficiency measuring method and aggregate producing method by use of it

Номер патента: KR101852106B1. Автор: 강수형,민원. Владелец: 민원. Дата публикации: 2018-04-27.

MEASURING DEVICE AND GLUCOSE CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD OF THE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20140107438A1. Автор: SONG Hyun Woo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2014-04-17.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160174854A1. Автор: NISHIDA Kazuhiro,UTSUNOMIYA Sumio. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2016-06-23.

Ion implanting device, beam energy measurement device and beam energy measurement method

Номер патента: KR102272806B1. Автор: 히로유키 가리야,가즈히로 와타나베,하루카 사사키. Владелец: 스미도모쥬기가이 이온 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-07-05.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE, BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: DE112017007320T5. Автор: Kazuyoshi Nishikawa,Shuhei OJIRO. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-01-02.

Biological function measurement device, and biological function measurement method, and program

Номер патента: WO2020166091A1. Автор: 俊徳 加藤. Владелец: 俊徳 加藤. Дата публикации: 2020-08-20.

Measurement of bldy temperature probe and body temperature measuring device and body temperature measurement method

Номер патента: CN109549634A. Автор: 张旭,叶继伦. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-04-02.

Blood pressure measurement device, electronic device, and blood pressure measurement method

Номер патента: EP3033990A1. Автор: Kazuhiro Nishida,Sumio Utsunomiya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-06-22.

Biological function measurement device, and biological function measurement method, and program

Номер патента: GB202111659D0. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-29.

Image quality measurement device and image quality measurement method for color display devices

Номер патента: KR970075837A. Автор: 마사루 후지,사토시 다케모토,도키오 다케우치. Владелец: 이데이 노부유키. Дата публикации: 1997-12-10.

Ion beam measuring device, ion implantation device and ion beam measuring method

Номер патента: TWI626674B. Автор: Kazuhiro Watanabe,Kouji Inada,Noriyasu Ido. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-11.

VITAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND VITAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD EMPLOYING SAME

Номер патента: US20130204108A1. Автор: Tokunaga Hiroyuki,YOSHIOKA Eriko. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2013-08-08.

MOLECULAR CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND MOLECULAR CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140031649A1. Автор: NAKAO ISAMU. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-30.

BRAIN FUNCTION MEASUREMENT DEVICE AND BRAIN FUNCTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220000383A1. Автор: HIWAKI Osamu. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-06.

MYOELECTRIC POTENTIAL MEASUREMENT DEVICE AND MYOELECTRIC POTENTIAL MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160007876A1. Автор: OZAWA Jun,YOSHIOKA Mototaka. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-14.

Brain Function Measurement Device and Brain Function Measurement Method

Номер патента: US20200029819A1. Автор: YAMADA Toru. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-30.

ULTRASONIC BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160038117A1. Автор: TAMADA Natsumi. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: Huang Jui-Yang,Huang I-Chih. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-06.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210068678A1. Автор: ADACHI Yoshihisa,EDO Yuki,OGAWA Rieko,TOMIZAWA Ryota. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160073905A1. Автор: MIZUKAMI Hiromitsu,MURAI Kiyoaki. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20180070887A1. Автор: KIM Jongin,LEE Boreom,LEE Kwangjin,CHO Dongrae. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20150087940A1. Автор: YOSHIOKA Eriko,Tatemoto Susumu. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

WRIST-WEARABLE BODY COMPOSITION MEASURING DEVICE AND BODY COMPOSITION MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20160089053A1. Автор: NAMKOONG Kak,Cho Seongho,LEE Yeolho,EOM Kunsun,JUNG Myounghoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2016-03-31.

EYEBALL OPTICAL MEASURING DEVICE AND EYEBALL OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20180098695A1. Автор: KINOSHITA Taku,TAKEDA Kazutaka,NAKAYAMA Hideo,OZAWA Hideaki,MATSUSHITA Kazuyuki,YUKAWA Kouhei. Владелец: FUJI XEROX CO., LTD.. Дата публикации: 2018-04-12.

BLOOD PRESSURE MEASURING DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20150112214A1. Автор: MIZUKAMI Hiromitsu. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

SKIN GAS MEASUREMENT DEVICE AND SKIN GAS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160120458A1. Автор: Itabashi Keiji,Okubo Tatsuya,TAKEUCHI Shoji,Hiyama Satoshi,Yamada Yuuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-05.

MUSCLE ACTIVITY MEASUREMENT DEVICE AND MUSCLE ACTIVITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190125205A1. Автор: Kawabata Shigenori,USHIO Shuta,OKAWA Shuichi. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-02.

COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210161419A1. Автор: TAJIMA Takuro,Seyama Michiko,Nakamura Masahito. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-03.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20160151007A1. Автор: KAWADA Kenji,Tateda Norihiro,KAMEDA Masanobu. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-02.

Component Concentration Measurement Device and Component Concentration Measurement Method

Номер патента: US20210177310A1. Автор: TAJIMA Takuro,Seyama Michiko,Nakamura Masahito. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2021-06-17.

RECEPTION QUALITY MEASUREMENT DEVICE AND RECEPTION QUALITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140233410A1. Автор: Ishida Kazuhiro,Mikami Satoshi,MIKAMI Junya,Agatsuma Ken. Владелец: . Дата публикации: 2014-08-21.

BREAST THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND BREAST THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160206229A1. Автор: Inoue Tomoki,ARAI Takahisa. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2016-07-21.

BIO INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIO INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210228091A1. Автор: KANG Seung Wan,KIM Dae Keung. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-29.

WRIST-WEARABLE BODY COMPOSITION MEASURING DEVICE AND BODY COMPOSITION MEASURING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190231216A1. Автор: NAMKOONG Kak,Cho Seongho,LEE Yeolho,EOM Kunsun,JUNG Myounghoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2019-08-01.

VIBRATION PICKUP DEVICE, VIBRATION MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150256943A1. Автор: Inagaki Tomohiro. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-10.

VIBRATION PICKUP DEVICE, VIBRATION MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150256944A1. Автор: Inagaki Tomohiro. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-10.

ULTRASOUND ELASTICITY MEASURING DEVICES AND ELASTICITY COMPARATIVE MEASURING METHODS

Номер патента: US20200237343A1. Автор: LI Shuangshuang. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190261865A1. Автор: SAWADO Ayae. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2019-08-29.

VIBRATION PICKUP DEVICE, VIBRATION MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150289053A1. Автор: Inagaki Tomohiro. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-08.

SIGNAL QUALITY MEASUREMENT DEVICE AND SIGNAL QUALITY MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180287698A1. Автор: ODA Shoichiro. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2018-10-04.

Blood pressure measurement device and blood pressure measurement method

Номер патента: US20190307340A1. Автор: Kenji Fujii,Naoki Matsumoto,Yuki Kato. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2019-10-10.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160345930A1. Автор: UEMURA Kazunori,SUGIMACHI Masaru,MIZUKAMI Hiromitsu. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

BIO INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BIO INFORMATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20150351641A1. Автор: KIM Dae Keun,KANG Seung Wan. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-10.

CARDIAC POTENTIAL MEASURING DEVICE AND CARDIAC POTENTIAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20150374251A1. Автор: OZAWA Jun,YOSHIOKA Mototaka. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-31.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP6597410B2. Автор: 彩映 沢渡,雄太 町田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-10-30.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING DEVICE AND BIOLOGICAL INFORMATION MEASURING METHOD

Номер патента: US20220369963A1. Автор: OBA Yoshihiro,Sasaki Toshihide,Kasahara Ryosuke,WADA Yoshio. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-24.

Measuring device, biopsy device, flow velocity measuring method, and pressure measuring method

Номер патента: JP5499939B2. Автор: 次郎 鶴野. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-05-21.

Body composition measuring device and body composition measuring method

Номер патента: JP2009011465A. Автор: Moto Watanabe,素 渡辺. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2009-01-22.

Muscle activity measuring device and muscle activity measuring method

Номер патента: CN109310358B. Автор: 川端茂德,大川秀一,牛尾修太. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2022-08-09.

Optical coherence human eye measuring device and human eye measurement method

Номер патента: CN106725285B. Автор: 王毅,冯亮,马振鹤,周红仙. Владелец: Northeastern University Qinhuangdao Branch. Дата публикации: 2019-01-11.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: JP5471337B2. Автор: 敏彦 横山,邦章 田中,俊信 櫻井. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP2021078536A. Автор: 児玉　美幸,美幸 児玉,Yoshiyuki Kodama,Hiroki Kosaka,弘樹 香坂,克文 上原,Katsufumi Uehara,敏樹 永濱,Toshiki Nagahama,千里 谷田,Chisato Tanida. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2021-05-27.

Bio-signal measuring device and bio-signal measuring method

Номер патента: EP3977932A1. Автор: Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Bang Won Lee. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-06.

Muscle activity measurement device and muscle activity measurement method

Номер патента: EP3469985B1. Автор: Shigenori Kawabata,Shuichi Okawa,Shuta USHIO. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2022-08-17.

Blood glucose measuring device and blood glucose measuring method

Номер патента: CN111956233A. Автор: 冯玉涛,胡炳樑,王荃,高驰,范博昭. Владелец: XiAn Institute of Optics and Precision Mechanics of CAS. Дата публикации: 2020-11-20.

Body temperature measuring probe, body temperature measuring device and body temperature measuring method

Номер патента: CN109549634B. Автор: 张旭,叶继伦. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-05-12.

Iq imbalance measuring device and iq imbalance measuring method for optical receiver

Номер патента: KR20140077734A. Автор: 권용환,김덕준,김종회,최중선,남은수,윤천주. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2014-06-24.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: EP3042602A1. Автор: Kenji Kawada,Masanobu Kameda,Norihiro Tateda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-07-13.

Living organism measuring device and living organism measuring method

Номер патента: CN102368945B. Автор: 五十岚诚,后野和弘. Владелец: OLYMPUS MEDICAL SYSTEMS CORP. Дата публикации: 2014-05-21.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: CN105611876A. Автор: 井上知己,荒井毅久. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-05-25.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: WO2021095759A1. Автор: 児玉　美幸,弘樹 香坂,克文 上原,敏樹 永濱,千里 谷田. Владелец: 株式会社タニタ. Дата публикации: 2021-05-20.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: JP4875051B2. Автор: 浩史 奥田,晶子 久世. Владелец: Espec Corp. Дата публикации: 2012-02-15.

Light quantity measuring device and light quantity measuring method

Номер патента: JP5567223B2. Автор: 望月　　学,昭一 藤森. Владелец: Pioneer FA Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

Gas pressure measuring device and gas pressure measuring method

Номер патента: CN111502641A. Автор: 周伟,马赞,汪峰荣,彭行球,马嘉星,詹绍奇,曹道舜. Владелец: Guizhou Jinsha Longfeng Coal Industry Co ltd. Дата публикации: 2020-08-07.

Brain wave measuring device and brain wave measuring method

Номер патента: WO2022259831A1. Автор: 慈厚 尾野. Владелец: 住友ベークライト株式会社. Дата публикации: 2022-12-15.

Blood rheology measurement device and blood rheology measurement method

Номер патента: JP4767551B2. Автор: 正隆 新荻,敬彦 中村,瑞明 鈴木,文雄 木村. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2011-09-07.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: CN107149469A. Автор: 沢渡彩映,町田雄太. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Wrist-wearable body composition measuring device and body composition measuring method using the same

Номер патента: US10595743B2. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Myounghoon JUNG,Kunsun EOM,Yeolho LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-24.

Automatic blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: JP3716017B2. Автор: ジョン・ブース,リチャード・メデロ. Владелец: ジーイー・メディカル・システムズ・インフォメーション・テクノロジーズ・インコーポレーテッド. Дата публикации: 2005-11-16.

Chewing efficiency measuring device and chewing efficiency measuring method using same

Номер патента: KR100873768B1. Автор: 다까시 노꾸비,가즈노리 이께베. Владелец: 고꾸리쯔 다이가꾸 호우징 오사까 다이가꾸. Дата публикации: 2008-12-15.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP1867276A1. Автор: Yoshiyuki c/o TERUMO KABUSHIKI KAISHA HABU,Kouji c/o TERUMO KABUSHIKI KAISHA HAGI,Hitoshi c/o TERUMO KABUSHIKI KAISHA OZAWA,Shoichi NIPPON TEL. &TELEPHONE Corp. HAYASHIDA,Junichi NIPPON TELEGRAPH & TELEPHONE Corp SHIMADA,Hiroshi NIPPON Telegraph & Tel. Corp. KOIZUMI. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2007-12-19.

Muscle activity measuring device and muscle activity measuring method

Номер патента: JP6857367B2. Автор: 秀一 大川,茂徳 川端,修太 牛尾. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2021-04-14.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP3925529B1. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-10-11.

Blood flow measurement device and blood flow measurement method

Номер патента: EP3925529C0. Автор: Min Kyu Kim,Hong Ki Kim,Deok Hwa HONG,Eun Ha JO,Young Joo Hong,Seung Tae Kim,Guk Bin LIM. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2023-10-11.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3610796A4. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2021-01-13.

Physical quantity measuring device and physical quantity measuring method

Номер патента: TWI451083B. Автор: Masato Hayashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-09-01.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: EP3791793B1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-10-04.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: EP4358572A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076B1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Electronic blood pressure measurement device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP1588660B1. Автор: Yoshihiko SANO,Minoru Taniguchi,Yukiya Sawanoi,Takahide Tanaka,Tomonori Inoue,Takefumi Nakanishi,Hiroya Nakanishi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2015-06-10.

MEASURING DEVICE, CALIBRATION METHOD AND MEASURING METHOD WITH JITTER COMPENSATION

Номер патента: US20200313686A1. Автор: Roth Alexander,Feldhaus Gregor. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

COMPOUND AND ORGANIC ELECTRICAL ELEMENT USING SAME, AND ELECTRONIC DEVICE AND HEAT-RESISTANCE MEASURING METHOD THEREWITH

Номер патента: US20130334518A1. Автор: Kim Kiwon,PARK Junghwan,Park Jungcheol,Jung Hwasoon,Park Yongwook,Mun Soungyun,Ji Heesun,Lee Bumsung,Park Jeongkeun. Владелец: DUKSAN HIGH METAL CO., LTD.. Дата публикации: 2013-12-19.

MEASURING DEVICE, REACTION CARRIER AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20160082431A1. Автор: HANSMANN Hans-Ullrich,SEECK Andreas,MOHRMANN Andreas,ROSTALSKI Philipp,Polzius Rainer,RAHN-MARX Dirk. Владелец: DRAGER SAFETY AG & CO. KGAA. Дата публикации: 2016-03-24.

BATTERY RESISTANCE MEASUREMENT DEVICE, VEHICLE AND BATTERY RESISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20220294029A1. Автор: YOSHIDA Hiroshi,BABA Yuto. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2022-09-15.

EAR MODEL, ARTIFICIAL HEAD, AND MEASUREMENT DEVICE USING SAME, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160212539A1. Автор: IKEDA Tomoyoshi. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-21.

MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT SYSTEM, AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200247392A1. Автор: Omori Keishi. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

A kind of noninvasive blood pressure measuring device by shooting and measuring method based on double pulse waves

Номер патента: CN106725396A. Автор: 杨博,谢蒙,于文彬. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-05-31.

A kind of drilling hyperspectral measurement device in situ and its measurement method

Номер патента: CN109681197A. Автор: 邱骏挺,叶发旺. Владелец: Beijing Research Institute of Uranium Geology. Дата публикации: 2019-04-26.

Interference measurement method and device and timing offset measurement method and storage medium

Номер патента: WO2018126792A1. Автор: 杨玲,赵亚军,徐汉青,李新彩. Владелец: 中兴通讯股份有限公司. Дата публикации: 2018-07-12.

Auditory event-related potential measurement system, auditory event-related potential measurement device, auditory event-related potential measurement method, and computer program therefor

Номер патента: JP5352029B1. Автор: 順 小澤,信夫 足立. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-11-27.

Semiconductor device and semiconductor device measuring method

Номер патента: US9824945B2. Автор: Hiroki Shinkawata. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

In-blood substance concentration measurement device, in-blood substance concentration measurement method, and program

Номер патента: EP4364660A1. Автор: Koichi Yamakawa,Kanade OGAWA,Yoko Yamakawa. Владелец: Light Touch Technology Inc. Дата публикации: 2024-05-08.

Semiconductor device and semiconductor device measuring method

Номер патента: US20180040523A1. Автор: Hiroki Shinkawata. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-02-08.

Train location measurement system, onboard device, ground device, and train location measurement method

Номер патента: US20200164905A1. Автор: Daisuke Koshino. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Scanning electron microscope device and pattern dimension measuring method using same

Номер патента: US20120098953A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Ryoichi Matsuoka,Go Kotaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-04-26.

TRANSMISSION DEVICE AND TRAFFIC AMOUNT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170026264A1. Автор: Ishikawa Takashi,Fujiyoshi Shinichi,SUGIMOTO YOSHINARI,Muramatsu Tatsuyuki,OKU Kentarou. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-01-26.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MEASURING METHOD

Номер патента: US20180040523A1. Автор: Shinkawata Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-08.

BLOOD PRESSURE MEASURING APPARATUS, MODEL SETTING DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220061683A1. Автор: ADACHI Yoshihisa,EDO Yuki,OGAWA Rieko,TOMIZAWA Ryota. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

PORTABLE DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190059751A1. Автор: Li Liang,NI Pan,HUANG Zicheng. Владелец: BOE Technology Group Co., Ltd.. Дата публикации: 2019-02-28.

OPHTHALMOLOGIC DEVICE AND PUPIL STATE MEASURING METHOD

Номер патента: US20190090736A1. Автор: Nakajima Masashi. Владелец: TOPCON CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-28.

TRAIN LOCATION MEASUREMENT SYSTEM, ONBOARD DEVICE, GROUND DEVICE, AND TRAIN LOCATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20200164905A1. Автор: KOSHINO Daisuke. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2020-05-28.

COMMUNICATION DEVICE AND ORTHOGONAL ERROR MEASUREMENT METHOD FOR COMMUNICATION DEVICE

Номер патента: US20180183531A1. Автор: Kobayashi Hiroyuki,SAIGUSA Shigehito,SETO Ichiro,HAGIWARA Yousuke,FUJIMURA Yuki. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

Electronic device and body composition measuring method of electronic device capable of automatically recognizing body part to be measured

Номер патента: US20160249857A1. Автор: Seong-Wook JO,Young-Hyun Kim,Ah-Young CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-01.

WRIST-WORN DEVICE AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD BASED ON THE SAME

Номер патента: US20200245876A1. Автор: Cao Lei,REN Yan,WANG Zifeng. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

INJECTION DEVICE AND CORRESPONDING INJECTION-MEASURING METHOD

Номер патента: US20200246548A1. Автор: Troebner Philipp,Bill David. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-06.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE MEASURING METHOD

Номер патента: US20160293507A1. Автор: Shinkawata Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-06.

RADIO COMMUNICATION DEVICE AND FREQUENCY ERROR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20160337043A1. Автор: Kobayashi Ryosuke,Watanabe Shin. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2016-11-17.

SPHYGMOMANOMETER, DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190328324A1. Автор: Tanaka Hirokazu,Mizuno Shinji,NISHIDA Tomoyuki,KOHARA Noboru. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-31.

Ear-attaching type electronic device and biological information measuring method in ear-attaching type electronic device

Номер патента: US20050141729A1. Автор: Takashi Kanzaki,Masazumi Niimi. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-30.

A wireless network node, a wireless device, and a beam measuring method for deriving cell quality performed therein

Номер патента: KR20200015725A. Автор: 헬카-리나 메에태넨,실바 이카로 엘. 제이. 다,프라디파 라마찬드라. Владелец: 텔레폰악티에볼라겟엘엠에릭슨(펍). Дата публикации: 2020-02-12.

Endoscope device and observation time measuring method

Номер патента: CN112804928A. Автор: 小泉雄吾,广瀬未纱. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-05-14.

Lower embedding type concrete slab no-dig technique measuring thickness device and its thickness measuring method

Номер патента: CN107964990A. Автор: 王颖,李宁,辛伟,沈立,谢永健,陈礼萍. Владелец: Shanghai Geotechnical Investigations and Design Institute Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-27.

Electronic device and biological signal measuring method

Номер патента: JPWO2014184868A1. Автор: 康裕 鹿仁島,隆 須藤. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-02-23.

A2/ O-BAF nitrosation type denitrification dephosphorization device and Process control measures method

Номер патента: CN110104879A. Автор: 黄魁,马艳红,赵智超,陈永志,黄剑明,邵兆伟,安芳娇. Владелец: Lanzhou Jiaotong University. Дата публикации: 2019-08-09.

Tibial osteotomy navigation device and tibial declination measuring method

Номер патента: CN110960290A. Автор: 吴坚,常涛,蔡振,刘子洋,蔡宏,史冬泉,朱奕胜. Владелец: I Join Medical Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-04-07.

User device and signal power measuring method

Номер патента: WO2009057520A1. Автор: Hiroyuki Ishii. Владелец: NTT DOCOMO, INC.. Дата публикации: 2009-05-07.

GAME DEVICE AND MOBILE TIME MEASUREMENT METHOD

Номер патента: JP3403506B2. Автор: 一浩 森. Владелец: Namco Ltd. Дата публикации: 2003-05-06.

Communication device and orthogonal error measurement method for communication device

Номер патента: US10419136B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Ichiro Seto,Shigehito Saigusa,Yousuke Hagiwara,Yuki Fujimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-09-17.

Portable rt-pcr device and rt-pcr measurement method using same

Номер патента: US20230070652A1. Автор: Seong Ho Ryu. Владелец: Gene2us Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Endoscope device and observation time measurement method

Номер патента: WO2020070818A1. Автор: 雄吾 小泉,未紗 廣瀬. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2020-04-09.

Portable rt-pcr device and rt-pcr measurement method using same

Номер патента: EP4129483A4. Автор: Seong Ho Ryu. Владелец: Gene2us Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

mixing and measuring device for mixing and measuring chemicals

Номер патента: BR112014002685A2. Автор: Blum Holger. Владелец: Blum Holger. Дата публикации: 2017-06-13.

Integrated type air conditioning device

Номер патента: US09970668B2. Автор: Shoichi Yamaguchi,Junichi Ohki,Naruhide Kimura. Владелец: Denso Aircool Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Method of measuring characteristics of beams, end device and network device

Номер патента: RU2721787C1. Автор: Хуа СЮЙ,Хай ТАН,Янань ЛИНЬ,Нин ЯН. Владелец: Гуандун Оппо Мобайл Телекоммьюникейшнз Корп., Лтд.. Дата публикации: 2020-05-22.

Calf Stretcher and Measuring Device

Номер патента: US20230240930A1. Автор: Roger Stroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-03.

Motor integrated type fluid machine, vertical take-off and landing aircraft, and design method for motor integrated type fluid machine

Номер патента: US20230048852A1. Автор: Kazuki Ohashi,Naoaki Fujiwara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Motor integrated type fluid machine, vertical take-off and landing aircraft, and design method for motor integrated type fluid machine

Номер патента: US12054247B2. Автор: Kazuki Ohashi,Naoaki Fujiwara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Coil-integrated-type yoke and manufacturing method of the same

Номер патента: US20200066477A1. Автор: Tsutomu Karimata,Keisuke Matsushima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Device and method for on-line measurement of wafer grinding force

Номер патента: US11404329B2. Автор: Pei Chen,Fei Qin,Shuai ZHAO,Tong An,Lixiang ZHANG,Yanwei Dai. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-08-02.

Epidermal electric potential measuring device, epidermal electric potential measuring method, cosmetic method, and probe

Номер патента: US20190090805A1. Автор: Matsuhiko Nishizawa,Kuniaki Nagamine,Kenshi Yamasaki,Yuina ABE. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2019-03-28.

Device And Method For On-line Measurement Of Wafer Grinding Force

Номер патента: US20210407863A1. Автор: Pei Chen,Fei Qin,Shuai ZHAO,Tong An,Lixiang ZHANG,Yanwei Dai. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-12-30.

Integrated-type transformer

Номер патента: US09929640B2. Автор: Dong Hee Kim. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Muffler integrated type gasoline particulate filter

Номер патента: US09771843B2. Автор: Chun Yong Kang. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-09-26.

Electron beam drawing apparatus, deflection amplifier, deflection control device, electron beam drawing method, method of manufacturing semiconductor device, and electron beam drawing program

Номер патента: US20060151721A1. Автор: Hiroyuki Mizuno,Noriaki Sasaki,Takeshi Koshiba,Kazuo Tawarayama,Takumi Ota,Tatsuhiko Higashiki,Tetsuro Nakasugi,Shunko Magoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-07-13.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Infrared moisture measuring device and infrared moisture measuring method

Номер патента: TW201018901A. Автор: Guo-Long Wu,He-Min Chen. Владелец: Chi Mei Materials Technology Corp. Дата публикации: 2010-05-16.

Tritium radioactivity measurement device and method, radioactivity measurement method by tritium of test subject, pair of exhalation bag and tritium collection device

Номер патента: JP6244489B1. Автор: 剣一 加藤,剛士 伊藤,智彦 川上,慶 今成,悦子 古田. Владелец: OCHANOMIZU UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-12-06.

POWER CONSUMPTION MEASUREMENT SYSTEM, OUTLET DEVICE, CONTROL DEVICE, MEASURING DEVICE, AND POWER CONSUMPTION MEASURING METHOD

Номер патента: US20120239959A1. Автор: IWABUCHI Akinori,Kusafuka Kaoru,WATANABE Tadayuki,Kiuchi Kazuya,Shichiri Kazumasa. Владелец: KYOCERA CORPORATION. Дата публикации: 2012-09-20.

Portable field strength measurement device and field strength measurement method based on DSP and FPGA

Номер патента: CN103954848A. Автор: 陈昊,周永荣,孟玮,戴秀嵩. Владелец: Maintenance Branch of State Grid Jiangsu Electric Power Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-30.

Electrostatic capacitance measurement device, dielectric constant measurement device, and dielectric constant measurement method

Номер патента: WO2023095303A1. Автор: 良臣 平永,祐喜 糸矢. Владелец: 国立大学法人東北大学. Дата публикации: 2023-06-01.

Water level measuring device and water level measuring method on basis of surveillance videos and laser identifications

Номер патента: CN102768054B. Автор: 李志华,李刘畅. Владелец: Hohai University HHU. Дата публикации: 2013-12-04.

Coil position measuring device, endoscope insertion shape detecting device, and coil position measuring method

Номер патента: JP3748985B2. Автор: 博一 西村,潤 長谷川,徹緒 野波,克己 平川. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2006-02-22.

Rotor level measurement device and rotor level measurement method, method of adjustment

Номер патента: CN107588758A. Автор: 樊勇,杨长生. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-01-16.

Variable reduction equalizer, loss compensation method using it, error rate measuring device, and error rate measuring method

Номер патента: JP6876735B2. Автор: 昂孝 南. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-05-26.

Pressure change measuring device, altitude measuring device, and pressure change measuring method

Номер патента: JP6685766B2. Автор: 学 大海,正之 須田,武 内山,陽子 篠原,内山　武,大海　学,篠原　陽子,彩子 野邉,須田　正之,克享 海法. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2020-04-22.

Arithmetic device, arithmetic program, surface shape measuring device, and surface shape measuring method

Номер патента: JP5277986B2. Автор: 秀貴 佐々木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2013-08-28.

OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD SUITABLE FOR SPECTRUM MEASUREMENT

Номер патента: US20120075628A1. Автор: Sano Hiroyuki,Ohkubo Kazuaki,MIZUGUCHI Tsutomu,OKAWAUCHI Makoto,OSHIMA Kosei,SHIMA Shiro. Владелец: Otsuka Electronics Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-03-29.

OPTICAL REACTION MEASUREMENT DEVICE AND OPTICAL REACTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120100624A1. Автор: Hara Takuya,Kato Yoichi. Владелец: KOWA COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2012-04-26.

INSULATION RESISTANCE MEASUREMENT DEVICE AND INSULATION RESISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120119755A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-17.

FREQUENCY SELECTIVE MEASURING DEVICE AND FREQUENCY SELECTIVE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120163441A1. Автор: Lechner Thomas. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2012-06-28.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE AND FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20120218561A1. Автор: . Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2012-08-30.

COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT DEVICE AND COMPONENT CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130094025A1. Автор: Shimizu Koichi,NISHIDA Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-18.

Magnetic signal measuring device and magnetic signal measuring method

Номер патента: JP5189825B2. Автор: 塚本　　晃,明彦 神鳥,崇子 溝口. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Vibration frequency measuring device and vibration frequency measuring method

Номер патента: JP5081776B2. Автор: 達也 上野. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2012-11-28.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method for train equipment

Номер патента: JP6699323B2. Автор: 誠 庭川,寛修 深井,庭川　誠. Владелец: Meidensha Corp. Дата публикации: 2020-05-27.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP5376910B2. Автор: 隆一 七海. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-12-25.

Pulse wave measuring device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP6846626B2. Автор: 順 小澤,小澤　順,健太 村上,元貴 吉岡. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

Moisture content measuring device and moisture content measuring method

Номер патента: JP6928352B2. Автор: 浩介 坂本,宏靖 佐野,美郷 秋山,俊夫 久慈,朋裕 北山,圭亨 中村. Владелец: Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Instititute (TIRI). Дата публикации: 2021-09-01.

Online accurate measuring device and online accurate measuring method for fluid flow

Номер патента: CN105181037A. Автор: 夏磊,陈惺,吴春荣,陈福才. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-23.

Sensor sheet, swallowing activity measuring device, and swallowing activity measuring method

Номер патента: JP6073709B2. Автор: 大森　信行,信行 大森,智啓 村澤,淳平 相澤,和文 岡元. Владелец: NAGANO PREFECTURAL GOVERNMENT. Дата публикации: 2017-02-01.

Intracranial pressure measuring device and intracranial pressure measuring method

Номер патента: JP6081278B2. Автор: 建治 降旗,徳男 小池,智志 安本,順 中野. Владелец: ICHIKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2017-02-15.

Lamp mercury measuring device and lamp mercury measuring method

Номер патента: JP3614703B2. Автор: 孝二 本田. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2005-01-26.

Rotary speed measuring device and rotary speed measuring method

Номер патента: CN102590543A. Автор: 杨建军,刘双喜,栗国,于镒隆,牟连嵩. Владелец: China Automotive Technology and Research Center Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-18.

Surface temperature measuring device and surface temperature measuring method

Номер патента: JPH11190670A. Автор: Akira Soga,朗 曽我. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-07-13.

Pipe joint axial force measuring device and axial force measuring method

Номер патента: JP7127760B2. Автор: 崇浩 郡司,篤史 黒澤. Владелец: Sanoh Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-30.

Wireless terminal measuring device and wireless terminal measuring method

Номер патента: JP6975088B2. Автор: 祥浩 黒岩. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-12-01.

Cyan density simple measuring device and cyan density measuring method

Номер патента: JP5565853B2. Автор: 俊彦 大原,和博 砂田,敏子 橋本. Владелец: HIROSHIMA PREFECTURE. Дата публикации: 2014-08-06.

Riveting spot size detection online rapid measurement device and riveting point measuring method

Номер патента: CN105333844B. Автор: 王佳良,苗玉慧. Владелец: Bosch Huayu Steering Systems Yantai Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-30.

Surface current measurement device and surface current measurement method

Номер патента: JP2010047811A. Автор: Kenji Amaya,賢治 天谷. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-03-04.

Buoy type tidal current measuring device and tidal current measuring method

Номер патента: JP6894074B2. Автор: 毅 琴浦,貴一 三國,シバランジャニ ジャヤプラサッド. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Hot displacement measuring device and hot displacement measuring method

Номер патента: JP5683187B2. Автор: 修 吉本,吉本　修. Владелец: Toyo Tanso Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Moving distance measuring device and moving distance measuring method

Номер патента: JP2007078558A. Автор: Tetsuo Nakagawa,Satoshi Okada,Mitsuaki Shimamura,光明 島村,敏 岡田,哲郎 中川. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

End face measuring device and end face measuring method

Номер патента: JP7164058B1. Автор: 茂 大葉. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-01.

A kind of rotation-speed measuring device and rotating speed measurement method

Номер патента: CN104897918B. Автор: 刘鹏,黄胜,郭建,杨广军,周胜洪,魏培平,张玉国,陈晓智,张特,田莉,张龙龙,韩玉章,石璨,姜丽颖,谢庭宣. Владелец: QINGDAO JARI AUTOMATION CO Ltd. Дата публикации: 2018-07-20.

Characteristic measuring device, component mounting device, characteristic measuring method, and component mounting method

Номер патента: JP7142210B2. Автор: 英樹 内田,知朗 浜,英悟 更科,清 冨田. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-27.

Temperature distribution measuring device and temperature distribution measuring method

Номер патента: JP6933613B2. Автор: 義徳 福田,福田　義徳. Владелец: JFE Techno Research Corp. Дата публикации: 2021-09-08.

Height distribution measuring device and height distribution measuring method

Номер патента: JP2022124966A. Автор: 千恵 豊田,Chie Toyoda. Владелец: Toyota Central R&D Labs Inc. Дата публикации: 2022-08-26.

Biological information measuring device and biological information measuring method

Номер патента: JP2016052463A. Автор: Yasuhiro Nakamura,温子 國定,康洋 中村,Atsuko Kunisada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2016-04-14.

Calorific value measuring device and calorific value measuring method

Номер патента: JP7080083B2. Автор: 和伸 小林. Владелец: Osaka Gas Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-03.

Exhaust temperature measuring device and exhaust temperature measuring method

Номер патента: JP4784445B2. Автор: 秀治 門岡. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-05.

Gas permeability measuring device and gas permeability measuring method for film material

Номер патента: JP2010190751A. Автор: Hitoshi Asahina,均 朝比奈. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 2010-09-02.

Foot pressure measuring device and foot pressure measuring method using the same

Номер патента: JP2014045885A. Автор: Masao Mori,政男 森,Yoshimi Takemoto,良美 竹本,Keiichi Kido,恵一 城戸. Владелец: REIF CO Ltd. Дата публикации: 2014-03-17.

Surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: JP2012112706A. Автор: Yutaka Honda,裕 本田. Владелец: Kosaka Laboratory Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Building limit measuring device and building limit measuring method

Номер патента: JP6829747B2. Автор: 清 鈴木,佳文 永田,実 清水,松本　伸也,伸也 松本,匠 小田原,鈴木　清,友峰 森,祐人 岩瀬,智 安中. Владелец: Tokyu Corp. Дата публикации: 2021-02-10.

Wall thickness measuring device and wall thickness measuring method

Номер патента: JP6978398B2. Автор: 忠雄 鈴木,浩二 田中,裕介 中由,雅夫 吉野. Владелец: Futaba Corp. Дата публикации: 2021-12-08.

Laser distance measurement device and laser distance measurement method

Номер патента: JP2019132597A. Автор: Hidetoshi Shimizu,秀利 清水. Владелец: Shinano Kenshi Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-08.

Body weight measuring device and body weight measuring method

Номер патента: JP2007071664A. Автор: Masayuki Nishimura,正幸 西村,Hideyori Sasaoka,英資 笹岡,Itaru Sakabe,Tomoki Sekiguchi,至 坂部,知樹 関口. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2007-03-22.

Balanced voltage measuring device and balanced voltage measuring method

Номер патента: JP3190429B2. Автор: 邦夫 田村. Владелец: アジレント・テクノロジー株式会社. Дата публикации: 2001-07-23.

Electrolytic current measuring device and electrolytic current measuring method

Номер патента: JP4307055B2. Автор: 真一 赤沢,裕子 立松. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2009-08-05.

Photocatalytic performance measuring device and photocatalytic performance measuring method

Номер патента: CN105277651A. Автор: 甘林. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-01-27.

Error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: JP7046883B2. Автор: 弘季 大沼,達也 岩井. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-04-04.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: JP6917039B2. Автор: 泰弘 渡辺,孝 中嶋,渡辺　泰弘,中嶋　孝. Владелец: Technos Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Space temperature measuring device and space temperature measuring method

Номер патента: JP6909604B2. Автор: 重雄 柴田. Владелец: Kyudenko Corp. Дата публикации: 2021-07-28.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method

Номер патента: JP6680248B2. Автор: 克行 山本,隆平 後藤,秀之 中尾,憲一 半田. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Ultrasonic defect height measuring device and defect height measuring method

Номер патента: JP3535417B2. Автор: 晴行 塙,賢治 田山. Владелец: 日立エンジニアリング株式会社. Дата публикации: 2004-06-07.

Water temperature measurement device and water temperature measurement method

Номер патента: JP2020128894A. Автор: Masayoshi Tanaka,Hideki Horiuchi,正吉 田中,秀樹 堀内,田中　正吉. Владелец: Japan Radio Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Laser Doppler speed measuring device and its speed-measuring method based on rotating grating

Номер патента: CN104833816B. Автор: 周健,何鑫,聂晓明,梁文强,樊振方. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-04-10.

Surface shape measurement device and surface shape measurement method

Номер патента: JP2016004011A. Автор: Haruhisa Ito,晴久 伊藤. Владелец: Pulstec Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-12.

Tongue length measuring device for steel strip end, measuring method, and steel strip coil sorting method using the measuring method

Номер патента: JP6007554B2. Автор: 直人 小林,小林　直人,貴夫 内山,貴之 遠藤. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2016-10-12.

Rail displacement measurement device and rail displacement measurement method

Номер патента: JP2022191851A. Автор: Hiroshi Ueno,Hiroshi Tsuchiya,Satoyuki Ishikawa,洋 上野,Kosaku Shiono,幸策 塩野,博 土屋,智行 石川,洋友 坪川,Hirotomo Tsubokawa. Владелец: ACT Electronics Corp. Дата публикации: 2022-12-28.

Biological information measuring sensor, biological information measuring device, and biological information measuring method

Номер патента: JP7220598B2. Автор: 茂信 光澤,智昭 大橋. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-10.

Scanning type surface shape measuring device and surface shape measuring method

Номер патента: JP2005055221A. Автор: Kazuhiko Kawasaki,和彦 川▲崎▼. Владелец: Mitsutoyo Kiko Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-03.

Parasitic component measuring device and parasitic component measuring method

Номер патента: JP2010286453A. Автор: Hiroshi Takahashi,洋 高橋. Владелец: Asahi Kasei Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-24.

Flow rate measuring device and flow rate measuring method

Номер патента: JP3654273B2. Автор: 秀二 安倍,裕治 中林. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2005-06-02.

Jet angle measurement device and jet angle measurement method

Номер патента: JP2003269939A. Автор: Hiroshi Yatabe,祐一 佐々野,良夫 江頭,弘 谷田部,Yoshio Egashira,Yuichi Sasano,Takeo Hirasaki,丈尾 平崎,Kiyobumi Inaba,清文 稲葉. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2003-09-25.

Salinity concentration measuring device and salinity concentration measuring method

Номер патента: CN102495024B. Автор: 中岛吉则,雨宫秀行,松丸正宏,井上正清,岩口义和. Владелец: Atago Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-11.

Pulse wave measuring device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP5866776B2. Автор: 貴記 岩脇. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-02-17.

TILT MEASURING DEVICE AND TILT ANGLE MEASUREMENT METHOD FOR STEEL CYLINDRICAL BODY

Номер патента: JP7235927B1. Автор: 一弘 奥田,浩一郎 梯. Владелец: Penta Ocean Construction Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-08.

Pulse pressure measuring device and pulse pressure measuring method

Номер патента: JP5552984B2. Автор: 満 宮坂. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-07-16.

Inner diameter measuring device and inner diameter measuring method using the same

Номер патента: JP2021051096A. Автор: Satoshi Okabe,聡志 岡部. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Radiation temperature measuring device and radiation temperature measuring method

Номер патента: JP3233329B2. Автор: 誠 甲斐,正孝 小沢. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2001-11-26.

Pulse information measurement device and pulse information measurement method

Номер патента: JP2017051342A. Автор: Yasuhiro Kawabata,康大 川端,Yuki YAMASHITA,祐輝 山下,智信 村井,Toshimichi MURAI. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-03-16.

Electric resistance measuring device and electric resistance measuring method

Номер патента: JP3276267B2. Автор: 潔 木村,大典 山田. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2002-04-22.

Revolving shaft system torsional vibration measuring device and torsional vibration measuring method

Номер патента: JP2019203814A. Автор: Tadashi Yoshida,正 吉田,Shuichi Miura,秀一 三浦,由実 阪森,吉田　正,Yumi Sakamori,本郷和義,Kazuyoshi Hongo,和義 本郷,潤也 井手口,Junya Ideguchi. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Fiber amount measuring device and fiber amount measuring method

Номер патента: JP7208078B2. Автор: 俊文 菊地,亮介 齊藤,圭一 ▲高▼橋. Владелец: Shimizu Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: JP5884256B2. Автор: 敏彦 横山,知典 真野,横山　敏彦. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-03-15.

Gaze measurement device, gaze measurement program, gaze measurement method, and display for gaze measurement device

Номер патента: JP5163982B2. Автор: 隆 長松. Владелец: Kobe University NUC. Дата публикации: 2013-03-13.

Wiring board measuring device and wiring board measuring method

Номер патента: CN103096626A. Автор: 盐泽育夫,阿须贺拓. Владелец: Seiko Precision Inc. Дата публикации: 2013-05-08.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: JP7064465B2. Автор: 孝司 近藤. Владелец: JFE Techno Research Corp. Дата публикации: 2022-05-10.

Construction gauge measuring device and construction gauge measuring method

Номер патента: JP2021011240A. Автор: Kiyoshi Suzuki,清 鈴木,Minoru Shimizu,Yoshifumi Nagata,Shinya Matsumoto,佳文 永田,実 清水,松本　伸也,伸也 松本,匠 小田原,鈴木　清,友峰 森,祐人 岩瀬,智 安中,Takumi Odawara,Yuho Mori,Yuto Iwase,Satoru Yasunaka. Владелец: Shutoko Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

Relative displacement measuring device and relative displacement measuring method

Номер патента: JP6547181B1. Автор: 嘉二郎 渡邊. Владелец: グローバル精工株式会社. Дата публикации: 2019-07-24.

Error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: JP6818056B2. Автор: 恭男 保坂,一浩 山根. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Forward voltage measuring device and forward voltage measuring method

Номер патента: JP5575607B2. Автор: 哲也 中村,貴志 平尾,光章 原. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2014-08-20.

Steam flow measuring device and steam flow measuring method

Номер патента: JP6006605B2. Автор: 康博 五所尾,義一 西野,志功 田邉. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2016-10-12.

Oxygen concentration measuring device and oxygen concentration measuring method

Номер патента: JP6952578B2. Автор: 基茂 柳生,愛実 高橋,幸基 岡崎,元気 田中,大仁 羽生. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2021-10-20.

Pulse wave measuring device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP5471736B2. Автор: 貴記 岩脇. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Coal temperature measuring device and coal temperature measuring method

Номер патента: CN104111116A. Автор: 王翠霞,李成武,刘纪坤. Владелец: Xian University of Science and Technology. Дата публикации: 2014-10-22.

3D shape measuring device and 3D shape measuring method

Номер патента: JP6752468B2. Автор: 亮 古川,洋 川崎. Владелец: Hiroshima City University. Дата публикации: 2020-09-09.

Bottom shape measuring device and bottom shape measuring method

Номер патента: JP7330072B2. Автор: 光男 渋谷. Владелец: Fujita Corp. Дата публикации: 2023-08-21.

Biological signal measuring device and biological signal measuring method for detecting abnormal signal section of electrocardiogram data using cardiac sound data related to electrocardiogram data

Номер патента: JP2022167175A. Автор: 李昌浩,Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,鄭鍾旭. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-04.

Sludge component ratio measuring device and component ratio measuring method

Номер патента: JP3134042B2. Автор: 昭雄 青木,英幸 宮本,修郎 猪川,清 宇山. Владелец: JFE Engineering Corp. Дата публикации: 2001-02-13.

Vehicle length measuring device and vehicle length measuring method

Номер патента: JP6845684B2. Автор: 博之 中山,泰弘 山口,山口　　泰弘,中山　博之,伸行 尾張,直哉 山西. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

Immune reaction measuring carrier, immune reaction measuring device and immune reaction measuring method

Номер патента: JP4806358B2. Автор: 直也 大村,和裕 佐々木. Владелец: CENTRAL RESEARCH INSTITUTE OF ELECTRIC POWER INDUSTRY. Дата публикации: 2011-11-02.

Dielectric property measuring jig, dielectric property measuring device and dielectric property measuring method

Номер патента: JP6941482B2. Автор: 哲 馬路. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Complex permittivity measurement device and complex permittivity measurement method

Номер патента: JP2023095464A. Автор: Naoki Hirayama,直樹 平山. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-07-06.

Surface roughness measuring device and surface roughness measuring method

Номер патента: JPH0660813B2. Автор: 佐藤　　誠,政則 栗田. Владелец: Kyowa Electronic Instruments Co Ltd. Дата публикации: 1994-08-10.

Gas calorific value measuring device, gasifier, gas calorific value measuring method and gasifying method

Номер патента: JP3842982B2. Автор: 祥啓 出口,晋作 土橋. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2006-11-08.

Edge position detecting method and device, and edge distance measuring method and device

Номер патента: JP3478387B2. Автор: 昇 菊地,安幸 床井. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2003-12-15.

Characteristic measurement device, component mounting apparatus, characteristic measurement method, and component mounting method

Номер патента: JP2020064888A. Автор: Hideki Uchida,英樹 内田,内田　英樹,知朗 浜,英悟 更科,清 冨田,Kiyoshi Tomita,Eigo Sarashina,浜　知朗,Tomoaki Hama,更科　英悟. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Steel plate meandering amount measuring device, steel sheet meandering amount measuring method, hot-rolled steel strip hot rolling equipment, and hot-rolled steel strip hot-rolling method

Номер патента: JP7047995B1. Автор: 行宏 松原,寛人 後藤,知義 小笠原,英仁 山口,光俊 剱持. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2022-04-05.

A detecting and measuring device for detecting and measuring display panel

Номер патента: TW200914810A. Автор: hong-xiang Chen,qing-xiang Wang. Владелец: Nian Chinq Co Ltd. Дата публикации: 2009-04-01.

Measuring device, measuring program and measuring method

Номер патента: JP7158919B2. Автор: 力也 塩飽. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2022-10-24.

Measuring method, measuring device, measuring system and measuring program

Номер патента: JP2023006426A. Автор: 祥宏 小林,Sachihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-01-18.

Object number measuring device, program, and object number measuring method

Номер патента: JP6429272B2. Автор: 茂 浅海,力 高木,高木　力,幸生 竹原. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2018-11-28.

Distance measurement device using laser and distance measurement method

Номер патента: JPH0731051B2. Автор: 隆嗣 野間,敏雄 永井,順一 浅野,浩行 安尾. Владелец: Kansai Denryoku KK. Дата публикации: 1995-04-10.

Torque measuring device, torque sensor and torque measuring method using liquid crystal

Номер патента: JP4853849B2. Автор: 知宏 辻,成臣 蝶野. Владелец: Kochi University of Technology. Дата публикации: 2012-01-11.

Gaze measurement device for automatic calibration, Gaze measurement method and Gaze measurement program

Номер патента: JP7168953B2. Автор: 隆 長松,葵 廣江,倫也 山本. Владелец: Kobe University NUC. Дата публикации: 2022-11-10.

Measuring device, measuring system and the measurement method of continuous metering gas flowmeter

Номер патента: CN105258766B. Автор: 刘洋,王军,傅捷,王震,刘刚,刘亮,曾嵘,戴青,杨诚,齐军,罗友高,蔡天舒,唐顺杰,胡火焰,周梓丞. Владелец: Wuhan Haiwang Mechanical & Electrical Engineering Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-23.

Eyeball movement measuring device, calibration system, eyeball movement measuring method, and eyeball movement measuring program

Номер патента: JP2021129663A. Автор: Kiyoshi Hoshino,聖 星野,Yuki Noguchi,勇気 野口. Владелец: University of Tsukuba NUC. Дата публикации: 2021-09-09.

Measuring device, measuring program and measuring method

Номер патента: JP6867070B1. Автор: 希 柿▲崎▼,彰為 伊藤,笑天 楊. Владелец: アイタックソリューションズ株式会社. Дата публикации: 2021-04-28.

Measuring device, measuring system, and measuring method

Номер патента: JP5593062B2. Автор: 哲也 佐藤,宏達 橋爪,雅則 杉本. Владелец: Inter University Research Institute Corp Research Organization of Information and Systems. Дата публикации: 2014-09-17.

Measuring device, measuring system and measuring method

Номер патента: JP6743332B2. Автор: 敦 古木,光弘 薄葉,宗一郎 甲斐,智可良 清水. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2020-08-19.

Coagulation activity measuring device, measuring chip and measuring method

Номер патента: JP5607593B2. Автор: 勉 堀内,倫子 瀬山,鈴代 井上,弦 岩崎,剛 林,恵美 為近. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2014-10-15.

Liquid sample storage device and liquid sample measurement method

Номер патента: JP5140620B2. Автор: 和也 細川,征司 深澤. Владелец: Fujimori Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-06.

Pressure testing device and the pressure-measuring method of pile for prestressed pipe is measured with periphery pile tube component

Номер патента: CN103758161B. Автор: 侯伯贵. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-01-20.

Semiconductor integrated circuit device and clock skew measuring method

Номер патента: JP5018508B2. Автор: 健二 丹羽. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-09-05.

Interferometric high-resolution radar device and terrain height measuring method using high-resolution radar device

Номер патента: JP3301292B2. Автор: 貴彦 藤坂,雅史 岩本. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-07-15.

Phase-shifted projection moire device and body shape measurement method using the same

Номер патента: KR19990080363A. Автор: 오정택,김승우,정문식,정창진,유한길,최이배. Владелец: 주식회사 인텍엔지니어링. Дата публикации: 1999-11-05.

A kind of liquid-cooled suit business device and its flow-measuring method

Номер патента: CN107562155A. Автор: 刚宪秀. Владелец: Zhengzhou Yunhai Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Biological signal detection device and brain wave measurement method

Номер патента: JP2018186934A. Автор: Mitsuo Matsunaga,Hajime Honjo,光央 松永,剛秀 平野,Takehide Hirano,元 本庄,ミン ドンビン,Dong Bin Min. Владелец: SOSO CO Ltd. Дата публикации: 2018-11-29.

Pulse wave sensor, electronic device and pulse wave measuring method

Номер патента: JP7242373B2. Автор: 学 大海,正之 須田,武 内山,陽子 篠原,彩子 野邉. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2023-03-20.

Motor control device and correction value measuring method for suppressing torque ripple used in the same

Номер патента: JP3816725B2. Автор: 英俊 池田,正徳 安江,彰 佐竹,尚徳 山崎. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2006-08-30.

Encoder device and disk concentricity measuring method thereof

Номер патента: JP4775761B2. Автор: 敦文 渡邉. Владелец: Yaskawa Electric Corp. Дата публикации: 2011-09-21.

Solid-state laser device and appropriate temperature measurement method

Номер патента: JP4650090B2. Автор: 憲秀 野田,一智 門倉. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-16.

Gravure cylinder transfer device and gravure cylinder measuring method using the same

Номер патента: JP3418040B2. Автор: 巧 吉田,敬祐 平井,忠司 首藤,善和 松野. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-16.

Photoelectric temperature sensing device and high temperature measuring method based on photoelectric temperature sensing device

Номер патента: CN102661802A. Автор: 李正义,胡承恩. Владелец: ANHUI BOYUAN AUTOMATION INSTRUMENT Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-12.

Target device and hole verticality measurement method

Номер патента: JP6896584B2. Автор: 純一 日比. Владелец: Kajima Corp. Дата публикации: 2021-06-30.

Substrate floating device and substrate floating measuring method

Номер патента: CN103662694B. Автор: 森俊裕,滨川健史,奥田哲也. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-14.

Mobile blood pressure device and blood pressure measurement method

Номер патента: TW201223502A. Автор: Wen-Ching Lee,Chun-Te CHUANG. Владелец: Ind Tech Res Inst. Дата публикации: 2012-06-16.

Communication barrier electromagnetic wave measuring device, measuring element and measuring system

Номер патента: CN202949428U. Автор: 田畑博,岩崎伸一. Владелец: Japan Display East Inc. Дата публикации: 2013-05-22.

Drive-Integrated Type BLDC Fuel Pump Module

Номер патента: US20120000556A1. Автор: . Владелец: COAVIS. Дата публикации: 2012-01-05.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

CUFF FOR BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120004560A1. Автор: KAWANO Atsushi,SANO Yoshihiko,FUJITA Reiji,Nishioka Takanori,Tanaka Takahide. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Device for off-center measurements

Номер патента: RU2552393C2. Автор: Сергей Иванович Чекалин. Владелец: Сергей Иванович Чекалин. Дата публикации: 2015-06-10.

Integrated type air conditioner

Номер патента: MY140744A. Автор: Yutaka Yoshida,Yoshihiro Takada,Nobuaki Arakane,Kazuo Odate,Misao Fujitsuka. Владелец: Hitachi Appliances Inc. Дата публикации: 2010-01-15.

Integral-type air conditioner

Номер патента: MY130495A. Автор: Yutaka Yoshida,Yoshihiro Takada,Yasushi Shigenaga,Nobuaki Arakane,Kazuo Odate,Kazuhiko Kezuka. Владелец: Hitachi Appliances Inc. Дата публикации: 2007-06-29.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.