FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Номер патента: US20140022564A1
Опубликовано: 23-01-2014
Автор(ы): KAWAI Shingo, YAMADA Takeo, YAMAMOTO Takeshi
Принадлежит: NIRECO CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US8885173B2. Автор: Motoyuki Watanabe,Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2014-11-11.

FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING FILM THICKNESS MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20210080250A1. Автор: Ohtsuka Kenichi. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2021-03-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: KR20200105475A. Автор: 겐이치 오츠카. Владелец: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2020-09-07.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TW201930818A. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2019-08-01.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: WO2019138614A1. Автор: 賢一大塚. Владелец: 浜松ホトニクス株式会社. Дата публикации: 2019-07-18.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method, film thickness measurement program, and recording medium for recording film thickness measurement program

Номер патента: TWI766116B. Автор: 大塚賢一. Владелец: 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司. Дата публикации: 2022-06-01.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method, film thickness measuring program, and recording medium for recording film thickness measuring program

Номер патента: JP6487579B1. Автор: 賢一大塚. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-03-20.

Detection device and method for film thickness micro-area imaging

Номер патента: CN112556584A. Автор: 唐涛,李海波,王茂成,胡殷,吕俊波,李赣,谷玥娇,李常茂,郑少涛. Владелец: Institute of Materials of CAEP. Дата публикации: 2021-03-26.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20180045506A1. Автор: Katsuichi Kitagawa,Masafumi Otsuki. Владелец: Toray Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-15.

Method of detecting abnormality in measuring of film thickness of workpiece, optical film-thickness measuring apparatus, and storage medium storing program

Номер патента: US20240102791A1. Автор: Akira Nakamura. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US7321129B2. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2008-01-22.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: US20240271927A1. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2024-08-15.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: WO2023043379A3. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-06-01.

Paint thickness measuring device and computer-implemented method for measuring paint thickness

Номер патента: WO2023043379A2. Автор: LIN Ke,HONG Liu,Nan Zhang,Qing Yang Steve Wu,Chun Yong Andrew NGO,Hai Sheng Leong,Sergey GORELIK. Владелец: AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH. Дата публикации: 2023-03-23.

Thickness measurement device and method for measuring thickness of first layer of plant leaf

Номер патента: US20220282966A1. Автор: Yukihiro Takahashi,Tumendemberel BEGZSUREN. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2022-09-08.

Wavelength determining apparatus, method and program for thin film thickness monitoring light

Номер патента: US20070223008A1. Автор: Takahiro Itoh,You Mimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-27.

Thin film thickness monitor

Номер патента: US4355903A. Автор: John R. Sandercock. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-10-26.

Device for measuring ink film thickness

Номер патента: US4149802A. Автор: Peter Schramm,Alfred Dorn,Klaus Wolf,Gunther Schniggenfittig,Edgar F. Schoneberger. Владелец: Roland Offsetmaschinenfabrik Faber and Schleicher AG. Дата публикации: 1979-04-17.

Method for measuring epitaxial film thickness of multilayer epitaxial wafer

Номер патента: US6025596A. Автор: Toshio Abe,Hiroshi Shirai,Kenji Akai,Katsuyuki Iwata,Chikara Tojima. Владелец: Toshiba Ceramics Co Ltd. Дата публикации: 2000-02-15.

Deposition system and film thickness monitoring device thereof

Номер патента: US20060033057A1. Автор: Sean Chang,Shing-Dar Tang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2006-02-16.

Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method

Номер патента: US8582124B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Sota Okamoto. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-12.

Thickness measuring device

Номер патента: US12055378B2. Автор: Dong Woon Park,Hak Sung Kim,Gyung Hwan OH,Heon Su KIM. Владелец: Actro Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

THIN FILM THICKNESS GAUGING METHOD USING CsI(Tl) SCINTILATOR, INTEGRATED THIN FILM THICKNESS GAUGE AND METHOD FOR THE GAUGE

Номер патента: KR100497715B1. Автор: 박세환,문병수,홍석붕,김용균,김정복,한상효,이우교,정종은. Владелец: 한국원자력연구소. Дата публикации: 2005-06-28.

THz measuring device and method for measuring a measuring object

Номер патента: US12105021B2. Автор: Ralph Klose,Arno Neumeister. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-10-01.

SHEL for measuring film thickness divides displacement measurement method

Номер патента: CN107246844A. Автор: 李洋,刘庆纲,秦自瑞,岳翀,郎垚璞. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-10-13.

A kind of device and method measuring film thickness

Номер патента: CN109341554A. Автор: 刘谆骅. Владелец: Shanghai Integrated Circuit Research and Development Center Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-15.

Thickness measuring device

Номер патента: US20140268182A1. Автор: Cheng-Hsin Tsai. Владелец: JETEAZY SYSTEM CO Ltd. Дата публикации: 2014-09-18.

Thickness measuring device

Номер патента: US8953177B2. Автор: Cheng-Hsin Tsai. Владелец: JETEAZY SYSTEM CO Ltd. Дата публикации: 2015-02-10.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US09841272B2. Автор: Hideyuki Aikyo,Hideyuki Ohtake,Jun Takayanagi,Atsuo Nabeshima,Yasunari Fujisawa. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: EP4343274A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-27.

Device and method for measuring oxide film thickness

Номер патента: US11761752B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Methods and systems for blown film thickness measurement

Номер патента: US12123700B2. Автор: Christopher J. Rother,David L. Hofeldt,Jay M. Krieger,Paul C. Thomas,Thomas J. STREY,Gregory J. McGill. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2024-10-22.

Oxide film thickness measurement device and method

Номер патента: US11852458B2. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Masahiro Inui,Ryota Nakanishi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Film thickness measuring device with signal averaging to compensate for roller eccentricity

Номер патента: US4748331A. Автор: Yoshiaki Ida,Toshishige Nagao,Masayuki Ariki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-05-31.

Development of film thickness measuring device with configuration of ball-on-cup for simulating artificial joint lubrication

Номер патента: NL2029676B1. Автор: Guo Feng,LI Xinming,YANG Shuyan,Song Luping. Владелец: Univ Qingdao Technology. Дата публикации: 2022-10-21.

Film thickness measuring apparatus, film thickness measuring method and wafer polishing system measuring a film thickness in conjunction with a liquid tank

Номер патента: US5657123A. Автор: Osamu Endo,Katsumi Mogi. Владелец: Mitsubishi Materials Corp. Дата публикации: 1997-08-12.

Film thickness measuring apparatus employing microprojector of spectral reflection measurement

Номер патента: US4673294A. Автор: Nobuo Adachi,Yoshihiro Mochida,Ichiro Shirahama. Владелец: Orc Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1987-06-16.

Thin film thickness and optimal focus measuring using reflectivity

Номер патента: US5982496A. Автор: David H. Ziger. Владелец: VLSI Technology Inc. Дата публикации: 1999-11-09.

Method of measuring film thickness

Номер патента: US20200363192A1. Автор: Tatsuji Nagaoka,Hiroyuki Nishinaka,Masahiro Yoshimoto. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2020-11-19.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method

Номер патента: US20210140758A1. Автор: Shiro Kawaguchi,Kazuya Nakajima. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-13.

Device and method for measuring thickness of paint film in non-contacting manner

Номер патента: US20100149520A1. Автор: Yuki Ichikawa,Hideyuki Ohtake. Владелец: Aisin Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2010-06-17.

Use of full-size matrix image sensor for measurement of film thickness in real time on film making equipment

Номер патента: RU2717384C2. Автор: Пол С. БОНИНО,Роберт П. ГЕРЛОСКИ,Джейсон М. ЛЕФЕВР. Владелец: Зирокс Корпорейшн. Дата публикации: 2020-03-23.

Method and apparatus for increasing signal to noise ratio in a photoacoustic film thickness measurement system

Номер патента: EP1417450A4. Автор: Christopher Morath,Robert J Stoner. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2009-06-10.

Wafer thickness measurement device and method for same

Номер патента: EP4431866A1. Автор: Kazuhiko Tahara,Ryo USAKI. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Permittivity measuring device and thickness measuring device

Номер патента: US20230236005A1. Автор: Yukihiro Goto,Hiroyuki Oshida,Masaki Nakamori. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Permittivity measuring device and thickness measuring device

Номер патента: US12117285B2. Автор: Yukihiro Goto,Hiroyuki Oshida,Masaki Nakamori. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Use of a full width array imaging sensor to measure real time film thicknesses on film manufacturing equipment

Номер патента: US09702689B2. Автор: Jason M. LeFevre,Robert P. Herloski,Paul S. Bonino. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Device for measuring frictional force and film thickness of lubricating oil film in different surface velocity directions

Номер патента: US11768149B2. Автор: Feng Guo,Jianjun Zhang,Chenglong LIU,Jiahao Zhang,Qinglun CHE,Hewei LU,Zhaogang JING. Владелец: QINGDAO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-09-26.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Device and method for measuring thickness

Номер патента: US20240159515A1. Автор: Jinho Hyun,Ohjune Kwon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Dielectric film thickness monitoring and control system and method

Номер патента: US3612692A. Автор: Robert W Kruppa,Ernest S Ward. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1971-10-12.

Optical film thickness monitor

Номер патента: US3744916A. Автор: P Bey,R Patten. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1973-07-10.

Apparatus to characterize substrates and films

Номер патента: WO2024020136A1. Автор: Jian Ding,Ju Jin,Nathan UNRUH,Nazar ORISHCHIN. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2024-01-25.

Apparatus to characterize substrates and films

Номер патента: US20240027186A1. Автор: Jian Ding,Ju Jin,Nathan UNRUH,Nazar ORISHCHIN. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Gap measurement device and gap measurement method

Номер патента: EP3370035A1. Автор: Takahiro Kubota,Takuya Goto,Yuichi Sasano,Kei Yoshitomi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Sheet-like material unevenness measuring device, and sheet-like material unevenness measuring method

Номер патента: EP4411317A1. Автор: Shohei Hayashi,Hiroki Sugihara,Kyoya TAKEMOTO,Shota Oishi. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-08-07.

Thin-flim characteristic measuring method using spectroellipsometer

Номер патента: US20040207844A1. Автор: Nataliya Nabatova-Gabain,Yoko Wasai. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2004-10-21.

Electronic component thickness measurement method, method for manufacturing a series of electronic components using the measurement method, a series of electronic components manufactured by the manufacturing method, and electronic component inspection apparatus

Номер патента: US09404732B2. Автор: Yoshinao Nishioka,Masayoshi HARUKI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20170307358A1. Автор: Yoshio MOTOWAKI. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Measuring device and measuring method

Номер патента: WO2024157927A1. Автор: Yasushi Ichizawa. Владелец: YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION. Дата публикации: 2024-08-02.

Coating thickness measuring device and coating device including the same

Номер патента: CA3231328A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Tobacco leaf thickness measurement method and device

Номер патента: LU505074B1. Автор: Ke Zhang,Xiaowei Zhang,Jie Long,Yukui Li,Jiwu Zhang,Ling Xia,Yunfang ZHANG,Xingyi DUAN,Haowei Sun,Da Zong,Yueting Huang,Zhouzhou Li,Xiaolei Gai. Владелец: Yunnan Tobacco Quality Supervision And Testing Station. Дата публикации: 2024-03-11.

Terahertz measuring apparatus and a terahertz measuring method for measuring test objects

Номер патента: CA3068741C. Автор: Marius Thiel. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2022-05-03.

Measuring device, inspection device, and surface mounter

Номер патента: US12031810B2. Автор: Nobuaki Tabata. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Measuring device, measuring mechanism, measuring system and measuring method

Номер патента: EP4303535A1. Автор: Peng Peng,Jianguo He,Zhixiang Peng,Zhouke WANG,Menglin FENG,Wenbin Guo. Владелец: Chengdu Alangtech Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-10.

Measuring device of tire circumference using non contact sensor and measuring method thereof

Номер патента: KR101291167B1. Автор: 김형석,조효승. Владелец: 금호타이어 주식회사. Дата публикации: 2013-08-07.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09733066B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

F-p sensor probe, absolute distance measurement device, and absolute distance measurement method

Номер патента: US20240264285A1. Автор: Xiangang Luo,Yanqin WANG,Chengwei ZHAO,Changtao WANG,Tiancheng GONG,Guiyuan JIA,Yanwu CHU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20210207943A1. Автор: Hikaru Fujiwara,Ken HATSUDA,Shota TEZUKA,Miyu UEDA,Takuya Yasunaga. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-08.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP3859268A1. Автор: Hikaru Fujiwara,Ken HATSUDA,Shota TEZUKA,Miyu UEDA,Takuya Yasunaga. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20240013422A1. Автор: Masamitsu Murase,Ken HATSUDA,Riku Matsumoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Elevator shaft dimensions measurement device and elevator shaft dimensions measurement method

Номер патента: US20180155155A1. Автор: Yuichi Taguchi,Hiroyuki Tsutada,Jay Thornton,Ryosuke Kawanishi,Keisuke SAMBONGI,yu Enomoto. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2018-06-07.

Measurement method, measurement device, and recording medium

Номер патента: US20200265635A1. Автор: Naofumi ENDO. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Method for optically scanning and measuring an environment using a 3D measurement device and near field communication

Номер патента: US12072450B2. Автор: Reinhard Becker,Martin Ossig,Andreas Ditte. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US09605944B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

Measurement device and method for measuring optical elements

Номер патента: EP4302049A1. Автор: Rens Henselmans,Gerard Cornelis Van Den Eijkel. Владелец: Dutch United Instruments BV. Дата публикации: 2024-01-10.

Method for positioning a measuring device emitting and receiving optical radiation for measuring wear in the lining of a container

Номер патента: EP1570233A1. Автор: Hannu E. Jokinen. Владелец: Specialty Minerals Michigan Inc. Дата публикации: 2005-09-07.

Device and method (versions) for slag thickness measuring

Номер патента: RU2604543C2. Автор: Мишель ДЮССЮ,Фабьен ДЕЖАН. Владелец: Авемис С.А.С.. Дата публикации: 2016-12-10.

Image analysis device, analysis device, shape measurement device, image analysis method, measurement condition determination method, shape measurement method, and program

Номер патента: EP3760970A4. Автор: Makoto Kondo,Sumito Nakano. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2021-10-06.

IMAGE ANALYSIS DEVICE, ANALYIS DEVICE, SHAPE MEASUREMENT DEVICE, IMAGE ANALYSIS METHOD, MEASUREMENT CONDITION DETERMINATION METHOD, SHAPE MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20210072019A1. Автор: NAKANO Sumito,KONDO Makoto. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2021-03-11.

Image analysis device, analysis device, shape measurement device, image analysis method, measurement condition determination method, shape measurement method, and program

Номер патента: EP3760970A1. Автор: Makoto Kondo,Sumito Nakano. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2021-01-06.

MEASUREMENT DEVICE THAT MEASURES SHAPE OF OBJECT TO BE MEASURED, MEASUREMENT METHOD, SYSTEM, AND ARTICLE PRODUCTION METHOD

Номер патента: US20160300356A1. Автор: TOKIMITSU Takumi,Kitamura Tsuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-13.

Measuring head and measuring device for measuring an object by means of interferometric measuring methods

Номер патента: DE102016211052B4. Автор: Nicolai BRILL,Ulrich Marx. Владелец: Mabri Vision GmbH. Дата публикации: 2019-10-02.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660B1. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-01.

Multi-physical field measurement device for metal solidification process and housing thereof, and measurement method

Номер патента: US20230314349A1. Автор: Hui Xing,YANG Tang,Ya Zhang,Yue Wu,Qing Dong,Jiao Zhang,Baode Sun,Yanfeng HAN,Yongbing DAI,Chaopeng FU. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2023-10-05.

Dose measuring device for the measurement of a radiation dose and measurement method for determining the radiation dose applied during pasteurization and/or sterilization of particulate material

Номер патента: US20240004089A1. Автор: Georgios AKEPSIMAIDIS. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-01-04.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660A. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-22.

Momentum measurement device, momentum measurement system including the same, and momentum measurement method using the same

Номер патента: US11857840B2. Автор: Sang Chul Lee. Владелец: Avant Solution Inc. Дата публикации: 2024-01-02.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Device and method of three-dimensional optic measurement of strongly reflecting or transparent objects

Номер патента: RU2495371C2. Автор: Давид НАБС,Кай ГЕНЗЕККЕ. Владелец: Аймесс Сервисес Гмбх. Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring device and method for verifying the cut quality of a sheet using image scanning

Номер патента: US7473920B2. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: ECH Will GmbH and Co. Дата публикации: 2009-01-06.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Measurement device, method of adjusting measurement device, and measurement method

Номер патента: US20240230382A9. Автор: Yosuke Tanaka,Daiki Saito. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Device for measuring the angular positions of a rotorcraft blade element relative to a rotor hub, an associated rotor, and a corresponding measurement method

Номер патента: US09784572B2. Автор: Julien HOCQUETTE. Владелец: Airbus Helicopters SAS. Дата публикации: 2017-10-10.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US20150226852A1. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Inner diameter measuring device and inner diameter measuring method

Номер патента: US09470509B2. Автор: Michiko Baba,Norimasa TAGA,Kouzou HASEGAWA. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Stitching-measurement device and stitching-measurement method

Номер патента: US20210278201A1. Автор: Xin JIA,Fuchao Xu,Tingwen Xing,Dachun GAN. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2021-09-09.

Orientation characteristic measurement method, orientation characteristic measurement program, and orientation characteristic measurement device

Номер патента: US11920921B2. Автор: Kiyotada HOSOKAWA,Shigeru EURA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-03-05.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Measuring device and method for performing measurements on a workpiece as well as machining system and welding method

Номер патента: CA3211175A1. Автор: Christian Truckenbrodt,Eckhard Lessmüller. Владелец: Lessmueller Lasertechnik GmbH. Дата публикации: 2024-05-04.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20210285757A1. Автор: Hisataka Sugiyama,Toshimichi Shintani,Hiroshi Ogasawara,Takahiro Komaki. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2021-09-16.

Measuring device and method for performing measurements on a workpiece as well as machining system and welding method

Номер патента: US20240149374A1. Автор: Christian Truckenbrodt,Eckhard Lessmüller. Владелец: Lessmueller Lasertechnik GmbH. Дата публикации: 2024-05-09.

Segment roundness measuring device and segment roundness measuring method

Номер патента: US09500078B2. Автор: Toshiyuki Okada. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Deflection measuring device and deflection measuring method

Номер патента: US09459093B2. Автор: Hidenori Sato,Nobuhiro Komine. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Separation measurement method and separation measurement device

Номер патента: US09714823B2. Автор: Andreas MÜLLER,Peter POLESKY,Katrin TRITSCH,Rolf-Dieter Woitscheck. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-07-25.

Film thickness measuring device and film thickness measuring method

Номер патента: US20240125589A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kenichi Ohtsuka,Kazuya Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-18.

Contact measuring device for determining the dry film thickness of a paint on a plastic substrate

Номер патента: CA2082412A1. Автор: James R. Young,Allan Frohm Falcoff,James A. Baer,Jan H. Kremers. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-11-12.

Oxide film thickness standard reference of semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: KR100252220B1. Автор: 이상길,선정우. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2000-04-15.

Roundness measuring device of coating roll for battery manufacturing and roundness measuring method of the same

Номер патента: KR20220102243A. Автор: 이정용,윤덕중,안우진,이채규,박준선,황구연,성재영,조원학,한진기. Владелец: 주식회사 엘지에너지솔루션. Дата публикации: 2022-07-20.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Film Thickness Measurement Device and Method

Номер патента: US20240044637A1. Автор: Soichi Oka,Azusa Ishii,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Contactless film thickness measuring device for plastic film blowing machine

Номер патента: EP3964347A1. Автор: Jui-Chien Yang. Владелец: Nano Trend Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD, FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE, AND FILM FORMATION SYSTEM

Номер патента: US20230011226A1. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-01-12.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US09879971B2. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: US20050220267A1. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-10-06.

Optical film thickness measuring device and thin film forming apparatus using the optical film thickness measuring device

Номер патента: US20140016139A1. Автор: Kenji Ozawa,Yousong Jiang,Kyokuyo Sai. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-16.

Halfway cutter changing method for large-area microstructure cutting based on in-situation film thickness measurement

Номер патента: US20200023441A1. Автор: Li Jiao,Jia Zhou,Zhiqiang Liang,Zhibing Liu,Lijing Xie,Xibin Wang,Tianfeng ZHOU,Benshuai RUAN,Longlong TANG,Pei YA N. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2020-01-23.

Plating apparatus and film thickness measuring method for substrate

Номер патента: US11906299B2. Автор: Masaki Tomita,Masaya Seki,Shao Hua CHANG. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Film thickness measurement device and method

Номер патента: CA2630129C. Автор: Yoshiyuki Saito,Takehito Yagi,Tsuyoshi Terauchi,Hidetoshi Takimoto. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2011-01-11.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: US12062583B2. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Abnormality detection method for preset spectrum data for use in measuring film thickness, and optical film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20240255440A1. Автор: Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Film-thickness measuring method and film-thickness measuring apparatus

Номер патента: US20230204342A1. Автор: Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20220228995A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Secure semiconductor wafer inspection utilizing film thickness

Номер патента: US20210148834A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2021-05-20.

Apparatus and method of using impedance resonance sensor for thickness measurement

Номер патента: US09528814B2. Автор: Yury Nikolenko,Matthew Fauss. Владелец: NeoVision LLC. Дата публикации: 2016-12-27.

Device for film thickness measurement and method for film thickness measurement

Номер патента: US20170074633A1. Автор: LU Wang,Yujun Zhang,Jinqian Wang. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-16.

Thickness measurement using afm for next generation lithography

Номер патента: EP1269112A1. Автор: Bharath Rangarajan,Bhanwar Singh,Khoi A. Phan. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2003-01-02.

Protective film thickness measuring method

Номер патента: US11892282B2. Автор: Kunimitsu Takahashi,Nobuyasu Kitahara,Hiroto Yoshida,Joel Koerwer,Kuo Wei Wu,Naoki Murazawa. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2024-02-06.

Method and apparatus for film thickness measurement

Номер патента: EP1559993A3. Автор: Akihiro Himeda,Kazuhiko Omote. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-12.

Optical film-thickness measuring apparatus and polishing apparatus

Номер патента: US11951588B2. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Yoshikazu Kato. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Lubrication film thickness measuring system and method

Номер патента: CA1304129C. Автор: Dennis W. Smith. Владелец: Honeywell Inc. Дата публикации: 1992-06-23.

Methods and apparatus for thin metal film thickness measurement

Номер патента: US8128278B2. Автор: Yehiel Gotkis,Mikhail Korolik. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2012-03-06.

Device and Method for Detecting Film Thickness

Номер патента: US20200318941A1. Автор: LI Jiang,Mingfeng SUN,Yonghui LIN,Xiumei QI. Владелец: Weihai Hualing Opto Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Method for calculating film thickness of grain boundary oxide layer, method for determining platability, method for producing plated steel sheet, and apparatus for calculating film thickness

Номер патента: EP4407063A1. Автор: Kazushi Hayashi,Masanori Kobayashi,Koji Sasaki,Masahiro Inui,Koki Fukushima. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Method of producing a model for estimating film thickness of workpiece, method of estimating film thickness of workpiece using such a model, and computer readable storage medium storing program for causing computer to perform the methods

Номер патента: US20220316863A1. Автор: Akira Nakamura,Keita Yagi,Nachiketa Chauhan,Rohit KAWDE. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Optical metrology models for in-line film thickness measurements

Номер патента: WO2022191969A1. Автор: Todd J. Egan,Edward Budiarto,Eric Chin Hong Ng,Sergey STARIK. Владелец: Applied Materials Isreal Ltd.. Дата публикации: 2022-09-15.

Device and method applicable for measuring thickness of ultrathin film on substrate

Номер патента: EP3845893A1. Автор: Chun-Ting Liu,Wen-li Wu,Guo-Dung Chen,Bo-Ching HE,Wei-En FU,Han-Yu CHANG. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-07-07.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US7875468B2. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-01-25.

Body to be plated, method of determining plated film thickness, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20090309200A1. Автор: Yoshiharu Kaneda. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2009-12-17.

Method and system for monitoring the film thickness of a lubricant within a lubricated bearing

Номер патента: US20230251075A1. Автор: Robert Jan Meijer,Pieter Martin Lugt,Jude Asuelimen Osara,Pramod Shetty. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-08-10.

Measuring device and method for measuring multi-grade portable articles for tobacco industry

Номер патента: RU2684388C2. Автор: Роберт СТАНИКОВСКИЙ. Владелец: Интернэшнл Тобакко Машинери Поланд Сп. з о.о.. Дата публикации: 2019-04-08.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US20220307818A1. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for measuring film thickness of semiconductor device

Номер патента: US11867497B2. Автор: Yongshang SHENG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Film forming device and production method for optical member

Номер патента: GB2402741A. Автор: Takayuki Akiyama. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2004-12-15.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: EP1503169A3. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-18.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: US20050023142A1. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Electrodeposition characteristic measuring device, evaluation method, and control method

Номер патента: US20050023143A1. Автор: Kenichi Nobuto,Toyoto Nakaoka. Владелец: Kansai Paint Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-03.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Ultrasonic method and system for simultaneously measuring lubrication film thickness and liner wear of sliding bearing

Номер патента: US20230273158A1. Автор: PENG Zheng,Tonghai WU,Yaguo LEI,Junyi CAO,Wenzhuo ZHAO,Pan DOU,Yaping JIA. Владелец: Xian Jiaotong University. Дата публикации: 2023-08-31.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US11092429B2. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-17.

Film thickness sensor and manufacturing method thereof

Номер патента: US20160252347A1. Автор: Ang Xiao. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-01.

Film thickness test apparatus and method and vapor deposition device

Номер патента: US20190025045A1. Автор: Chihwei SU. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-24.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

Thickness measurement device

Номер патента: US20230218273A1. Автор: Yoshio Arai,Seiji Izuo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-07-13.

Radiometer for determining oil film thickness

Номер патента: US5672007A. Автор: Elliott R. Brown,Gregory G. Hogan,Gerald M. Daniels. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1997-09-30.

Fluid film thickness sensor

Номер патента: GB1471196A. Автор: . Владелец: Multigraphics Inc. Дата публикации: 1977-04-21.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: EP4378786A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Planar motor rotor displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: US09766054B2. Автор: Ming Zhang,Zhao Liu,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Kaiming Yang,Wensheng Yin,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Longmin Chen. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Film thickness gauge

Номер патента: GB2112518A. Автор: Toshiyuki Koga. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1983-07-20.

Estimation apparatus for water film thickness on road surface

Номер патента: US20240175679A1. Автор: Naoki Morita,Yusuke Maeda,Kazuma TOKUDA. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Dimension measuring device and method

Номер патента: US20190170504A1. Автор: Choong Soo Lim,Hyeong Jun Huh,Sung Joon Kwak. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Pattern shape measurement method, pattern shape measurement device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240310167A1. Автор: Kazuki HAGIHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: US09476707B2. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2016-10-25.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: AU5759400A. Автор: Robert Linder,Sergey Borodyansky,Charles E. Bryson Iii,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: Surface Interface Inc. Дата публикации: 2001-01-30.

Method for measuring film thickness distribution of wafer with thin films

Номер патента: US11965730B2. Автор: Philippe Gastaldo,Susumu Kuwabara,Kevin QUINQUINET. Владелец: Unity Semiconductor SAS. Дата публикации: 2024-04-23.

System and method for measuring substrate and film thickness distribution

Номер патента: SG11201906425RA. Автор: Dengpeng Chen,Andrew Zeng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-08-27.

Measurement of film thickness by inelastic electron scattering

Номер патента: EP1192416A1. Автор: Robert Linder,Charles E. Bryson, III,Sergey Borodyansky,Dmitri Ki Yachko,Leonid A. Vasilyev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2002-04-03.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449A1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2022-05-18.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Target measurement apparatus and target measurement method

Номер патента: EP3875988A1. Автор: Masanori Ito. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: EP2734755A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2014-05-28.

Method of determining when a critical film thickness will be reached in a grease-lubricated seal

Номер патента: WO2013011086A1. Автор: Pieter BAART,Piet Lugt,Marco VAN ZOELEN. Владелец: AKTIEBOLAGET SKF. Дата публикации: 2013-01-24.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20240302150A1. Автор: Hirokazu Kobayashi,Shunsuke Tanaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US09513101B2. Автор: Yasuto Kanayama. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: US20190380634A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2019-12-19.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Profile gauge, measuring device equipped with the profile gauge, and measurement method

Номер патента: US09575483B2. Автор: Edgar WEPPELMANN,Juergen Kreschel. Владелец: Gleason Pfauter Maschinenfabrik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement device and measurement method for measuring the thickness of a panel-shaped object

Номер патента: US09528811B2. Автор: Alfred Haselboeck,Thomas Denkmeier,Michael Auzinger. Владелец: Trumpf Maschinen Austria GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-12-27.

Measuring system, measuring device, and measuring method

Номер патента: US20230375371A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Norihiko Amikura,Kimihiro Yokoyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Eddy current multi-parameter measurement device and corresponding measurement method

Номер патента: EP4446692A1. Автор: Luigi Ferrigno,Marco Laracca,Alessandro Sardellitti,Antonello Tamburrino,Salvatore Ventre,Filippo Milano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-16.

Battery cell leak inspection device and battery cell leak inspection method

Номер патента: US11916199B2. Автор: SEUNGJAE LEE,Youngmin Kim,Sukkeun KANG,Kyeongseon YOO. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Measurement method, measurement device, and nontransitory computer-readable medium

Номер патента: US20240241047A1. Автор: Shigeru Nakamura,John Kenji CLARK. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Strength evaluation device and strength evaluation method

Номер патента: US12050188B2. Автор: Yuichi Yamaguchi,Sayo Yamaha,Takahiro Fukumaru. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Deck installation device and a method of using said device

Номер патента: US12084872B2. Автор: Travis M. Krakow. Владелец: Innovative Enterprises Of Princeton LLC. Дата публикации: 2024-09-10.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US12098972B2. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Backlash measurement device and backlash measurement method

Номер патента: US09651451B2. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Transparent samples refraction index distribution measurement device

Номер патента: RU2727783C1. Автор: Геннадий Генрихович Левин,Алексей Дмитриевич Иванов,Владимир Леонидович Минаев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ"). Дата публикации: 2020-07-23.

Fluorescent x-ray film thickness gauge for very small areas

Номер патента: CA1195438A. Автор: Hiroshi Ishijima,Toshiyuki Koga. Владелец: Individual. Дата публикации: 1985-10-15.

Strength evaluation device and strength evaluation method

Номер патента: CA3134851A1. Автор: Yuichi Yamaguchi,Sayo Yamaha,Takahiro Fukumaru. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Multi-degree-of-freedom displacement measuring device and multi-degree-of-freedom displacement measuring method

Номер патента: US20240230378A1. Автор: Yoshiaki Kato,Shunsuke Tanaka,Kimitoshi ONO. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

OCT measuring device and oct measuring method

Номер патента: US11408722B2. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-09.

Real-time preform material thickness measurement

Номер патента: US20240068807A1. Автор: John S. Linck,Samuel Moore,Cameron L. Martinez. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Measuring device and measurement method

Номер патента: US09618336B2. Автор: Kouichirou Kasama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US09521953B2. Автор: Masahiro Toida. Владелец: Saitama Medical University. Дата публикации: 2016-12-20.

Method, device and cartridge for measuring changes in area of transverse section of hair on selected section of head skin

Номер патента: RU2388404C2. Автор: Бернард Х. КОЭН. Владелец: Бернард Коэн Текнолоджи, ЛЛС. Дата публикации: 2010-05-10.

Folding angle measuring device and vehicle composition

Номер патента: RU2748293C2. Автор: Ремо ТРАКСЕЛЬ. Владелец: Шармюллер Гезелльшафт М.Б.Х. Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2021-05-21.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US20230341224A1. Автор: Takeshi Tamura,Tomohiro Kaneko,Munehisa Kodama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US11965735B2. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Connection unit for connecting external device to measurement device

Номер патента: US20200217692A1. Автор: Shuji Hayashida,Keisuke Iori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: EP2277003A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2011-01-26.

Thickness measurer for metal sheet and relative measuring method

Номер патента: WO2009121916A1. Автор: Lorenzo Ciani. Владелец: DANIELI AUTOMATION SPA. Дата публикации: 2009-10-08.

Conductor length measurement device and conductor length measurement method

Номер патента: US09335150B2. Автор: Toshiyasu Higuma,Naoyuki Hibara,Tomoaki Gyota. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-05-10.

Measuring device for determining a distance in a conducting structure

Номер патента: US20220155431A1. Автор: Andre Giere,Sebastian Lüttich. Владелец: Astyx MPS GmbH. Дата публикации: 2022-05-19.

Measuring device for determining a distance in a conducting structure

Номер патента: US20160282459A1. Автор: Andre Giere,Sebastian Lüttich. Владелец: Astyx GmbH. Дата публикации: 2016-09-29.

Roundness measurement device and control method

Номер патента: US09803968B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Size measurement device and size measurement method

Номер патента: US09607406B2. Автор: Yuuji Toyomura,Takahiro Shoji,Ryouta Hata. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Device and method for cooling roller

Номер патента: RU2676363C2. Автор: Торстен МЮЛЛЕР,Йоханнес АЛЬКЕН,Маттиас КИППИНГ,Ральф ЗАЙДЕЛЬ,Магнус ТРОЙДЕ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2018-12-28.

Three-dimensional coordinate measuring device

Номер патента: WO2018064087A1. Автор: Jun Li,Robert E. Bridges,Michael Ferrara,Jacob J. Mertz. Владелец: FARO TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2018-04-05.

Device and method applicable for measuring ultrathin thickness of film on substrate

Номер патента: US20210199428A1. Автор: Chun-Ting Liu,Wen-li Wu,Guo-Dung Chen,Bo-Ching HE,Wei-En FU,Han-Yu CHANG. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-07-01.

Strain measurement device and overall device with such a strain measurement device

Номер патента: US20230258513A1. Автор: Manuela Schmidt,Hubertus Breier,Albert Dorneich,Jonas Holder,Florian Liebgott,Julian Fial,Gunter Huebner,Aakash Grewal. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2023-08-17.

Bearing gap measuring device and method

Номер патента: US20210116329A1. Автор: Yong Sup Kim,Duk Jin Park,Sang Geun YOUN. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-04-22.

Measuring device and a method for measuring the thickness of a layer of a moving strip

Номер патента: EP1749186A1. Автор: Bengt Akerblom. Владелец: Daprox AB. Дата публикации: 2007-02-07.

Inspection system, extraction device, and inspection method

Номер патента: US20230367015A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Film thickness measurement method, epitaxial wafer production process and epitaxial wafer

Номер патента: US20090305021A1. Автор: Kazuhiro Ohkubo. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2009-12-10.

Radar measuring device having a plane-convex lens

Номер патента: RU2769541C2. Автор: Штеффен ВЕЛЬДЕ,Левин ДИТЕРЛЕ. Владелец: Фега Грисхабер Кг. Дата публикации: 2022-04-01.

Multiphase flow slug flow and mixed shape flow liquid film thickness distributed ultrasound measuring device

Номер патента: CN109541607A. Автор: 金宁德,翟路生,任英玉,任卫凯. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-03-29.

Polarization direction measuring device, method of acquiring intensity ratio tables, polarization direction measuring method, and computer-readable storage me

Номер патента: GB2607394A. Автор: Kato Noriyasu. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-12-07.

Polarization direction measuring device, method of acquiring intensity ratio tables, polarization direction measuring method, and computer-readable storage me

Номер патента: GB202203416D0. Автор: . Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-04-27.

Temperature-measuring device of rotary roll, rotary roll therewith, and temperature-measuring method

Номер патента: TW200817167A. Автор: Kenichi Watanabe,Satoshi Ogawa,Masanori Ohashi,Yutaka Shiomi,Yoshiaki Tokuda,Satoko Tohi,Toru Kamo,Kuniyoshi Tamai. Владелец: Sasakura Eng Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-16.

Permeability measurement jig, permeability measurement device, and permeability measurement method

Номер патента: US11782106B2. Автор: Shingo Tamaru. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-10-10.

Measurement method, measurement device, and measurement apparatus for creatinine concentration and measurement method, measurement device, and measurement apparatus for amount of salinity using the same

Номер патента: EP2228645A4. Автор: Atsushi Fukunaga,Takahiro Nakaminami,Kouji Kashiwada. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-26.

Portable soil water content and volume weight measuring device and soil water content and volume weight measuring method

Номер патента: CN109459333B. Автор: 黄珊,李晓鹏,张苏,刘建立,张佳宝,纪景纯. Владелец: Institute of Soil Science of CAS. Дата публикации: 2020-10-02.

Polarization direction measuring device, method of acquiring intensity ratio tables, polarization direction measuring method, and computer-readable storage medium

Номер патента: US11862858B2. Автор: Noriyasu Kato. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Distance measuring device, automatic door system, opening-closing system, and distance measurement method

Номер патента: US20230243927A1. Автор: Hiroyuki Ohba,Kazuhiko Hirai. Владелец: Optex Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Distance measuring device, automatic door system, opening-closing system, and distance measurement method

Номер патента: EP4224207A1. Автор: Hiroyuki Ohba,Kazuhiko Hirai. Владелец: Optex Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Image capturing device, color measuring device, color measuring system, image forming apparatus, and color measuring method

Номер патента: US20130242361A1. Автор: Masato Kobayashi,Yasuyuki Suzuki,Hiroshi Matsumoto,Suguru Yokozawa,Mamoru Yorimoto,Nobuyuki Satoh,Daisaku Horikawa,Yuichi Sakurada,Tatsuhiko Okada,Tomokazu KANZAWA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-19.

TIRE WEAR MEASUREMENT DEVICE USING TIRE BENDING STIFFNESS VARIATION AND TIRE WEAR MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20210101417A1. Автор: LEE Jong Hyup,KIM Min Tae,Lee Ho Jong,Choi Sei Bum,Jeong Da Sol. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-08.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR MEASURING SYSTEM AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180167534A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-14.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR MEASURING SYSTEM AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20190174025A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

The measurement device for change of moisture content in soils and measurement method using the same

Номер патента: KR101431190B1. Автор: 김경수,조용찬,송영석,채병곤. Владелец: 한국지질자원연구원. Дата публикации: 2014-08-18.

Friction force measuring device depending on water holding amount and friction force measuring method depending on water holding amount

Номер патента: CN109313174B. Автор: 仓本干也,井土友香理. Владелец: Kaken Test Center General Incorporated Foundation. Дата публикации: 2021-12-07.

Portable fluorescence measurement device based upon uv-led light source and fluorescence measurement method using uv-led light source

Номер патента: KR101710090B1. Автор: 김상희,정옥현,이서규. Владелец: 서강대학교산학협력단. Дата публикации: 2017-03-08.

Urine discharge amount measuring device, urine discharge amount management system, urine discharge amount measuring method, and program

Номер патента: CN114760922A. Автор: 桥爪宣弥,坂内尚史. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-07-15.

The flow measurement device of a kind of accurate flow control and measuring method

Номер патента: CN106248525A. Автор: 晋刚,黄曦,任水华,贺路,邹伟健. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2016-12-21.

Two-dimensional flicker measuring device, two-dimensional flicker measuring system, two-dimensional flicker measuring method and two-dimensional flicker measuring program

Номер патента: KR102404551B1. Автор: 사토시 마스다. Владелец: 코니카 미놀타 가부시키가이샤. Дата публикации: 2022-05-31.

Image capturing unit, color measuring device, image forming apparatus, color measuring system and color measurement method capturing a subject outside of the image capturing unit

Номер патента: US9516179B2. Автор: Masato Kobayashi,Yasuyuki Suzuki,Suguru Yokozawa,Mamoru Yorimoto,Nobuyuki Satoh,Daisaku Horikawa,Yuichi Sakurada,Tatsuhiko Okada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Portable ultrasonic partial discharge measurement device having ccd camera using gps, and partial discharge measurement method using the same

Номер патента: KR101243184B1. Автор: 이상화,강동식,김광화. Владелец: 한국전기연구원. Дата публикации: 2013-03-15.

Air separation and measurement device in high-pressure engine oil and air content measurement method

Номер патента: CN110207995B. Автор: 杨剑,刘琦,李洋洋,刘敬平,曾海波. Владелец: Hunan University. Дата публикации: 2020-11-27.

Tire wear measurement device using tire bending stiffness variation and tire wear measurement method using same

Номер патента: US11820177B2. Автор: Min Tae Kim,Jong Hyup Lee,Da Sol Jeong,Ho Jong LEE,Sei Bum CHOI. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Tire wear measurement device using tire bending stiffness variation and tire wear measurement method using same

Номер патента: US20210101417A1. Автор: Min Tae Kim,Jong Hyup Lee,Da Sol Jeong,Ho Jong LEE,Sei Bum CHOI. Владелец: Hankook Tire and Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-08.

Rapid adsorption filtering device and method for infrared full-automatic oil measurement method

Номер патента: CN110075606B. Автор: 王新军,郑鹏,张征,张森,许爱华,郭波,胡德栋,隋峰,林振强,刘传荣. Владелец: Shandong Institute of Metrology. Дата публикации: 2021-06-15.

Processing device and processing device in the workpiece temperature measurement method

Номер патента: TWI526563B. Автор: Hirofumi Fujii. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2016-03-21.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Calculation method for local film stress measurements using local film thickness values

Номер патента: US09625823B1. Автор: Leonid Poslavsky,Torsten R. Kaack,Yu Tay. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Paste transfer unit, electronic component mounting device, and transferred film thickness measuring method

Номер патента: US9285204B2. Автор: Masanori Ikeda,Masahiro Taniguchi,Michinori Tomomatsu,Satoshi Furuichi,Yousuke Hassaku. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-15.

Substrate for diaphragm-type resonant mems devices, diaphragm-type resonant mems device and method for manufacturing same

Номер патента: US20160107880A1. Автор: Takahiro Sano,Takayuki Naono. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-04-21.

Substrate for diaphragm-type resonant MEMS devices, diaphragm-type resonant MEMS device and method for manufacturing same

Номер патента: US09688528B2. Автор: Takahiro Sano,Takayuki Naono. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Micromachined device for receiving and retaining at least one liquid droplet, method of making the device and method of using the device

Номер патента: EP1353751A2. Автор: Robert W. Hower,Richard B. Brown. Владелец: University of Michigan. Дата публикации: 2003-10-22.

Oil film state detection method, state detection device, and program

Номер патента: EP4224026A1. Автор: Taisuke Maruyama,Shunsuke IWASE. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2023-08-09.

Bearing device state detecting method, detecting device, and program

Номер патента: US20240255030A1. Автор: Taisuke Maruyama,Faidhi RADZI. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2024-08-01.

Ultrasonic measuring device and fluid medium flow rate measuring method

Номер патента: RU2545358C2. Автор: Торальф ДИТЦ,Герри ШРЕТЕР,Андреас ГУРР. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2015-03-27.

Device and method of controlling ratio of fuel and air at combustion of coal dust in furnace installation plant

Номер патента: RU2594837C2. Автор: Ханс Георг КОНРАДС,Александр ХАЛЬМ,Мартин БОМ. Владелец: Промекон Процесс-Унд Месстекник Конрадс Гмбх. Дата публикации: 2016-08-20.

Cmp apparatus and method for estimating film thickness

Номер патента: US20190157170A1. Автор: Hsun-Chung KUANG,Sheng-Chau Chen,Yu-Min Chen,Chin-Wei Liang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-23.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: SE1951544A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-21.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: CA3165249A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2021-06-24.

Method for determining film thickness, method for producing a film and device for producing a film

Номер патента: EP4077801A1. Автор: Riku Pihko,Otto NYLEN,Ari Jäsberg. Владелец: STORA ENSO OYJ. Дата публикации: 2022-10-26.

Method and smart device to determine the substrate optical constant and the film thickness of absorbing-film-absorbing-substrate systems in an absorbing medium using a closed-form formula and reflection ellipsometry

Номер патента: US20070024851A1. Автор: Yasser Zaghloul,Mervat Zaghloul,A R Zaghloul. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-02-01.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Radiation image detecting device and process for producing the same

Номер патента: US09575187B2. Автор: Takehiko Shoji,Tadashi Arimoto. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement device, measurement system, and measurement method

Номер патента: US20240210334A1. Автор: Akira Hamaguchi,Kazuhiro Nojima,Yuki Abe,Takaki Hashimoto,Kaori FUMITA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20230009318A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2023-01-12.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20240337572A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-10-10.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Fetal head direction measuring device and method

Номер патента: EP3928711A1. Автор: Kai Wang,Youping WANG,Xiaoxing Lu. Владелец: Guangzhou Lian Med Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Oil film state detection method, state detection device, and program

Номер патента: US20230408435A1. Автор: Taisuke Maruyama,Shunsuke IWASE. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2023-12-21.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: AU2020284965A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2021-12-16.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: CA3141290A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-12-03.

Measuring device and measuring method for registering an ambient temperature of a medical machine, and device and method for medical insufflation

Номер патента: US09752939B2. Автор: Manfred Schmidt,Otmar Stillhard,Walter Hauser. Владелец: Storz Endoskop Produktions GmbH Germany. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Acceleration sensor, vibration power generator device, and acceleration sensor manufacturing method

Номер патента: US20120086311A1. Автор: Tsuyoshi Aoki,Kazuaki Kurihara,Shigeyoshi Umemiya. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-04-12.

Ear model unit, artificial head, and measurement device and method using said ear model unit and artificial head

Номер патента: US09992594B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09629577B2. Автор: Eriko Yoshioka,Susumu Tatemoto. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Method for ascertaining and monitoring fill level of a medium in a container by means of a fill-level measuring device using a travel time measuring method

Номер патента: US09442000B2. Автор: Edgar Schmitt,Klaus Feisst,Stefan Gorenflo,Alexey Malinovskiy,Dietmar Spanke. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-09-13.

X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses

Номер патента: CA1086870A. Автор: Dan Maydan,Juan R. Maldonado. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1980-09-30.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20060125495A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7009411B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-03-07.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20040256553A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20030020015A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Integrated impedance measurement device and impedance measurement method thereof

Номер патента: US12038463B2. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11719791B2. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11747427B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7321232B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-22.

Integrated Impedance Measurement Device and Impedance Measurement Method Thereof

Номер патента: US20240345146A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Three-dimensional space measurement device and method for operating same

Номер патента: US09798005B2. Автор: Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Hyerim KIM,Jejong LEE,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha,Soowhan JEOUNG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-10-24.

Battery power measuring method, measuring device and battery-powered equipment

Номер патента: US09645200B2. Автор: Feng Yu,Xiaodong Huang,Hejinsheng Cao. Владелец: Hangzhou Silergy Semiconductor Technology LTD. Дата публикации: 2017-05-09.

Bearing device state detecting method, detecting device, and program

Номер патента: EP4350317A1. Автор: Taisuke Maruyama,Faidhi RADZI. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2024-04-10.

Distance measurement device, distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US20180100917A1. Автор: Jun Kawai,Takeshi Morikawa,Koichi Tezuka,Koichi Iida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: US20050092099A1. Автор: Hiroshi Okuda,Akiko Kuse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Measuring device and measuring method for noise-corrected transmitter performance measurement

Номер патента: US10256924B1. Автор: Edwin Menzel. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-04-09.

Measuring device and method for dynamic characteristics of pressure sensitive paint

Номер патента: US20240118159A1. Автор: Lei Wang,Ning Ge,Bo Ouyang,Limin Gao,Xiangfu Lei. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2024-04-11.

Three-dimensional measuring method and surveying system

Номер патента: US09958268B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09880103B2. Автор: Karsten Hiltawsky,Hans-Ullrich Hansmann,Arne TRÖLLSCH,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-01-30.

Infrared absorption measurement method, infrared absorption measurement device, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20040200963A1. Автор: Isamu Namose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2004-10-14.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: US20210344056A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Fetal head direction measuring device and method

Номер патента: US12059290B2. Автор: Kai Wang,Youping WANG,Xiaoxing Lu. Владелец: Guangzhou Lian Med Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: EP3855551A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US09671289B2. Автор: Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-06.

Spectral sensitivity measurement device and spectral sensitivity measurement method

Номер патента: EP4398591A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Spectral sensitivity measuring device and spectral sensitivity measuring method

Номер патента: US20240255350A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Air bubble measurement device and air bubble measurement method

Номер патента: CA3093896C. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-08-22.

Fluid flow measuring device, valve device and measuring method

Номер патента: US20110314930A1. Автор: Hartmut Sauter,Hartmut Sohla,Moritz Kramer,Holger Christian Schönekess. Владелец: MAHLE International GmbH. Дата публикации: 2011-12-29.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4431953A1. Автор: Tomohiro Yokoyama,Kazuaki Haneda. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B1. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292A. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2023-06-29.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B9. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-02-23.

Measuring system, calibration device and measuring method with uncertainty analysis

Номер патента: US09903932B2. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-27.

Measurement device and purge gas flow rate measuring method

Номер патента: US09645000B2. Автор: Masanao Murata,Takashi Yamaji. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20200025604A1. Автор: Takeshi Okamoto,Koji Kawakami,Shigeki Uebayashi. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20240231244A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Manabu Takakuwa,Kentaro Kasa,Hiroaki Shirakawa,Kiminori Yoshino,Kaori FUMITA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Photoacoustic physical property measuring device and measuring method

Номер патента: EP4368986A1. Автор: Hideaki Doi,Makoto Katagishi,Goichi Ono,Nobuhiro Shiramizu,Naohiro Kohmu. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-15.

Thermal diffusion coefficient measuring device, and deep-body thermometer, deep-body temperature measuring device, and deep-body temperature measuring method using same

Номер патента: US11744469B2. Автор: Masahiko Ishida,Eiji Saitoh,Koichi Terashima,Akihiro Kirihara,Ryohto SAWADA,Ryo Iguchi,Yasuyuki Oikawa,Yuki SHIOMI. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-09-05.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11762070B2. Автор: Yuki Matsui,Franco Zappa,Federica Villa,Ken NAKAMURO,Rudi LUSSANA. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Distance measuring device, imaging device, and distance measuring method

Номер патента: US20240295646A1. Автор: Yuichi Sueyoshi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Distance measuring device, imaging device, and distance measuring method

Номер патента: EP4450922A1. Автор: Yuichi Sueyoshi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Analysis device and recording medium

Номер патента: US20240319243A1. Автор: Kenji Hamachi. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Electric field intensity distribution measurement device and electric field intensity distribution measurement method

Номер патента: US09998240B2. Автор: Hanako Noda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09804115B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09625442B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US11287519B2. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2022-03-29.

Distance measurement system, distance measurement device, and distance measurement method

Номер патента: US20200088863A1. Автор: Takayuki Kato,Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin,Yoshiharu Nito,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Residual gas volume measuring device and residual gas volume measuring method

Номер патента: US20230358590A1. Автор: Shuji Nakai,Nobuaki Watanabe,Takashi Matsuki. Владелец: Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US20120092671A1. Автор: Hitoshi Igarashi,Kenji Hatada,Jun USHIAMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-19.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240241254A1. Автор: Yusuke YATA. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Ultrasonic time measurement device, and ultrasonic time measurement method

Номер патента: US20240264195A1. Автор: Hideo Kanai,Yasuyuki Masunaga,Akira Morita,Kazuhiro Koizumi,Masami Kishiro,Hojun YAMAUCHI,Shiori YAMASHITA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Semiconductor device and temperature measurement method

Номер патента: US20220244111A1. Автор: Shinichi Masuda. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

Particle size distribution measuring device, particle size distribution measuring method, program for particle size distribution measuring device, and kit for particle size distribution measuring device

Номер патента: EP4459259A1. Автор: Yasuhiro Tatewaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: US09816851B2. Автор: Fumio Koyama. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Lens power measurement device and measurement method

Номер патента: US09778136B2. Автор: Hiroaki Suzuki,Atsushi Kobayashi. Владелец: Menicon Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Surface potential distribution measuring device and surface potential distribution measuring method

Номер патента: US09702915B2. Автор: Shinichiro Yamada,Hisatoshi Ikeda,Kunihiko Hidaka,Tetsuo YOSHIMITSU,Yuichi Tsuboi,Akiko Kumada. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Measuring device for determining physical, chemical, biological properties and/or composition of environment, sensitive receiver as component part of measuring device

Номер патента: RU2737723C2. Автор: Маттиас ЛАУ. Владелец: Сентроник Гмбх Гезельшафт Фюр Оптише Мессюстеме. Дата публикации: 2020-12-02.

Molecular concentration measurement device and molecular concentration measurement method

Номер патента: US20140031649A1. Автор: Isamu Nakao. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Electric field measuring device and electric field measuring method

Номер патента: US11828782B2. Автор: Tomohiko YANO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-11-28.

Dielectric spectroscopy measuring device and dielectric spectroscopy measuring method

Номер патента: US20240102943A1. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US20180127795A1. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-05-10.

Ion movement measuring device and ion movement measuring method

Номер патента: US20230236148A1. Автор: Hiroshi Sakai,Hideki Sakai,Atsushi Sakurai,Tatsuya Hattori,Yuji Isogai. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-27.

Biochemistry measurement device and method thereof

Номер патента: US09912926B2. Автор: Hong Ru Guo,Yu Jin Kao,Yang-Li Yang. Владелец: Lite On Electronics Guangzhou Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US09738916B2. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US09494622B2. Автор: Hiroyuki Tsubata. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-11-15.

Vital information measurement device and vital information measurement method employing same

Номер патента: US09482636B2. Автор: Hiroyuki Tokunaga,Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Device and method for identification of fingerprints

Номер патента: RU2683622C2. Автор: Алоис ХОМЕР. Владелец: НОВОМАТИК АГ. Дата публикации: 2019-03-29.

Current measurement device and method

Номер патента: RU2521715C2. Автор: Джеймс Дуглас ЛИНТ,Фусюе ЦЗИНЬ,Франциско МИХЕЛЬ,Виктор АЛЬДАКО. Владелец: Палс Электроникс, Инк.. Дата публикации: 2014-07-10.

Device and method for determining erythrocyte sedimentation rate and other related parameters

Номер патента: RU2753649C1. Автор: Паоло ГАЛЬЯНО. Владелец: Алифакс С.Р.Л.. Дата публикации: 2021-08-19.

Dispersion measurement device and dispersion measurement method

Номер патента: US20240210275A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-27.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200088853A1. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240230899A9. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4130738A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Optical measuring device, optical measuring method, data processing device, and program

Номер патента: US20230033014A1. Автор: Satoshi Masuda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-02-02.

Batch-type multiphase flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20130247684A1. Автор: Kenji Ikeda,Michihiro Kawai,Tomoko Suda. Владелец: Japan Oil Gas and Metals National Corp. Дата публикации: 2013-09-26.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP3872479A1. Автор: Naoki Iwata,Teruo Takeshita,Tomokazu MATSUMURA,Fusanori KONDO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-09-01.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20150003491A1. Автор: Hidenori Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US12078648B2. Автор: Masaki Shiba,Hiroki Kotake,Akihito Kato. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US20240268719A1. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-08-15.

Rayleigh intensity pattern measurement device and rayleigh intensity pattern measurement method

Номер патента: EP4414666A1. Автор: Kinzo Kishida,Kenichi Nishiguchi,Che-Hsien Li,Yahei Koyamada,Daiji AZUMA. Владелец: Neubrex Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US12102430B2. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-10-01.

Optical fiber characteristic measurement device and optical fiber characteristic measurement method

Номер патента: EP4443113A1. Автор: Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka,Masayoshi Honma. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Rayleigh intensity pattern measurement device and rayleigh intensity pattern measurement method

Номер патента: US20240361159A1. Автор: Kinzo Kishida,Kenichi Nishiguchi,Che-Hsien Li,Yahei Koyamada,Daiji AZUMA. Владелец: Neubrex Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Biological component measurement device and biological component measurement method

Номер патента: US12044615B2. Автор: Koichi Akiyama,Yuki Tsuda,Shusaku Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Dielectric constant measurement method, dielectric measurement device and dielectric measurement program

Номер патента: US12025642B2. Автор: Hiroshi Hamada,Hideyuki Nosaka,Teruo Jo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method, measurement device, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20190226941A1. Автор: Fumihiko Ito,Nobuo Kuwaki,Ryo Maruyama. Владелец: Shimane University NUC. Дата публикации: 2019-07-25.

Lightning current measuring device and lightning current measuring method

Номер патента: US09983237B2. Автор: Kiyoshi Kurosawa,Tatsufumi Aoi,Yoichiro Tsumura,Yutaka KIKUCHIHARA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: US09970838B2. Автор: Tomohide Minami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Partial discharge measurement method, partial discharge measurement device, and method of producing insulated wire

Номер патента: US09891263B2. Автор: Hidehito Hanawa. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Test set for a photometric measuring device, and photometric measuring method for a sample liquid

Номер патента: US09804095B2. Автор: Gerhard Bonecker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-31.

Rotation angle measurement device and rotation angle measurement method

Номер патента: US09778075B2. Автор: Takashi Fujita,Toru Shimizu,Nobuyuki Osawa. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US09709502B2. Автор: Tomohiro Endo,Kazuyuki Oguri,Takeshi Muranaka,Yasushi Kondo,Hidenobu Kawada. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2017-07-18.

Phase measurement device and method in microwave tomography system

Номер патента: US09678124B2. Автор: Hyung-Do Choi,Soon-Ik Jeon,Seong-Ho Son,Jong-Moon Lee,Hyuk-Je Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-06-13.

High voltage measuring device

Номер патента: RU2673430C1. Автор: Сергей Григорьевич Попов,Лилия Владимировна Белова. Владелец: Акционерное общество "Ордена Трудового Красного Знамени Всероссийский научно-исследовательский институт радиоаппаратуры" (АО "ВНИИРА"). Дата публикации: 2018-11-26.

Measuring device for multispectral measurement of quality characteristics or defects of products and corresponding method

Номер патента: RU2738327C2. Автор: Вилхелм Ян НЕЙЛАНД. Владелец: Де Греф'С Ваген-, Карроссери- Эн Махинебау Б.В.. Дата публикации: 2020-12-11.

Method for arrangement of modules in measuring device

Номер патента: RU2759246C1. Автор: Алексей Михайлович Бабец. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ФОРМ". Дата публикации: 2021-11-11.

Coupling apparatus for electrical circuit of measuring device

Номер патента: RU2380668C2. Автор: Роберт К. ХЕДКЕ. Владелец: Роузмаунт Инк.. Дата публикации: 2010-01-27.

Device and method of calibrating an under-rail lathe for processing wheel pairs without calibration wheel pair

Номер патента: RU2742863C1. Автор: Джон Оливер НАУМАНН,Марвин ФИШЕР,Кристиан ХЕНК. Владелец: ХЕГЕНШАЙДТ-МФД ГмбХ. Дата публикации: 2021-02-11.

Measuring method of volumetric flow rate of conducting fluids through vessel

Номер патента: RU2488779C2. Автор: Томас КЕЛЕР,Уве ЛАНГ,Колин ХЕНДЕРСОН,Штефан ХОТЕР,Стив БУКБИНДЕР. Владелец: Брита Гмбх. Дата публикации: 2013-07-27.

Optical measuring device for vehicle and appropriate vehicle

Номер патента: RU2600495C2. Автор: Герд РАЙМЕ. Владелец: Герд РАЙМЕ. Дата публикации: 2016-10-20.

Grounding resistance measurement device and onboard charging device for vehicle equipped with such device

Номер патента: RU2603173C2. Автор: Кристоф РИПОЛЬ,Кристоф КОНАТ,Этьенн КЮЙЕР. Владелец: Рено С.А.С.. Дата публикации: 2016-11-20.

Assistance system and method for suspension device, and x-ray imaging system

Номер патента: EP4144297A1. Автор: PENG Zhao,Jie Liu,Jinfeng Wang,Yuqing Li,Chunyu Wang,Chuanfu Zhang. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2023-03-08.

Optical fiber characteristic measurement device and optical fiber characteristic measurement method

Номер патента: EP3640603A1. Автор: Osamu Furukawa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-22.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20230136517A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240011848A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-11.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4303550A1. Автор: Yoshihiro Kumagai,Kazuya Saito,Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka. Владелец: Toyota School Foundation. Дата публикации: 2024-01-10.

Gas measurement device and gas measurement method

Номер патента: US20230079310A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2023-03-16.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A2. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230296773A1. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A3. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-24.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US8892967B2. Автор: Hidefumi Ibe,Hitoshi Taniguchi,Tadanobu Toba,Ken-Ichi Shimbo. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-11-18.

Mode-dependent loss measurement device and mode-dependent loss measuring method

Номер патента: US11754466B2. Автор: Tetsuya Hayashi,Takemi Hasegawa,Yuki Kawaguchi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20150153301A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-04.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20170023517A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240268681A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Devices and methods for determining survey data

Номер патента: WO2024218336A1. Автор: Alan Rock,Eduard Kriegler,Trevor TAPPING. Владелец: 3D Technologies Ltd.. Дата публикации: 2024-10-24.

Measurement device and measurement method with advanced trigger

Номер патента: US12135339B2. Автор: Armin Horn. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-11-05.

Volume measuring device and volume measuring method

Номер патента: US09976892B2. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Measuring device and measuring method for direction finding and direction uncertainty determination

Номер патента: US09958525B2. Автор: Hendrik Bartko. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-05-01.

Method for measuring temperature of biological sample, measuring device, and biosensor system

Номер патента: US09874537B2. Автор: Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Optical measuring device and optical measuring method

Номер патента: US09766174B2. Автор: Gakuji Hashimoto,Suguru Dowaki,Shingo Imanishi,Shunpei Suzuki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Method for determining time differences between signals measured by at least two coupled measuring devices and measurement system and corresponding switching device

Номер патента: US09678153B2. Автор: Kurt Schmidt,Manfred Mueller,Markus Freidhof,Johannes Steffens. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-06-13.

Method for measuring temperature of biological sample, measuring device, and biosensor system

Номер патента: US09664639B2. Автор: Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Device and method for calibrating and balancing a measuring device of a tablet press

Номер патента: US09664582B2. Автор: Ingo Schmidt,Matthias Meier,Ulrich Gathmann. Владелец: FETTE COMPACTING GMBH. Дата публикации: 2017-05-30.

Sensor device for detecting flowable media, a pressure device and a measuring method

Номер патента: US09488617B2. Автор: Matthias Leo Jirgal. Владелец: HYDAC Technology GMBH. Дата публикации: 2016-11-08.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09410916B2. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Method of monitoring and/or determining condition of force-measuring device and force-measuring device

Номер патента: RU2461802C2. Автор: Урс ЛОЕР,Курт ЕНСЕН,Фолькер ЦИБАРТ. Владелец: Меттлер-Толедо Аг. Дата публикации: 2012-09-20.

Levelling device and loading method of furnace chamber of coke battery

Номер патента: RU2480508C2. Автор: Франц-Йозеф ШУКЕР,Петер ТОМАС. Владелец: Тиссенкрупп Уде Гмбх. Дата публикации: 2013-04-27.

Measurement device and method to measure speed of flow of medium flowing via measurement pipe

Номер патента: RU2539839C2. Автор: Герд ШТАНГЕ,Райнер БОЛЛЬМАН,Вольфганг ШТАДЕ,Томас ЦЕЛЕНКА. Владелец: Цилум Бетайлигунгсгезелльшафт Мбх Унд Ко. Патенте Ii Кг. Дата публикации: 2015-01-27.

Measuring electronic device and method of obtaining viscosity of fluid flow at reference temperature

Номер патента: RU2589349C1. Автор: Сяолин ДИГРАЦИЯ,Рут СКОТТ. Владелец: Майкро Моушн, Инк.. Дата публикации: 2016-07-10.

Device and method for identifying obstacles for rail vehicles

Номер патента: RU2660336C2. Автор: Жерар ЗАЛЬЦГЕБЕР. Владелец: Сименс Аг Эстеррайх. Дата публикации: 2018-07-05.

Dispersion measuring device, and dispersion measuring method

Номер патента: US20240201046A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hisanari TAKAHASHI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-06-20.

Self-propelled floor processing device with an optical distance measuring device

Номер патента: US20240111050A1. Автор: Markus Wallentin,Andrej Mosebach,Jascha Bartels. Владелец: Vorwerk and Co Interholding GmbH. Дата публикации: 2024-04-04.

Contact device and character measurer comprising same

Номер патента: EP4286868A1. Автор: Ho Jung Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Measurement method, measurement device, and measurement program

Номер патента: US20150106045A1. Автор: Masahiro Morooka,Jusuke Shimura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US11867628B2. Автор: Takahiro Ando,Sakuichiro Adachi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-01-09.

Optical fiber characteristic measurement device and optical fiber characteristic measurement method

Номер патента: US20200124497A1. Автор: Osamu Furukawa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-04-23.

Saliva assessing method, device, and system

Номер патента: US20240237974A1. Автор: Ryan C. Patterson,Kent F. Beck,Scott D. Miles,James A. Malmstrom,Jeffrey A. Stern,Grant J. Donovan. Владелец: Boka Sciences Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20230417600A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Devices and systems for measuring fluid flow

Номер патента: WO2024094288A1. Автор: Jörg Meier,Alexey Govorukhin,Michael Geier,Dietmar Kröger,Stefan Schaetzl,Markus EWEN,Robert KAMBERGER,Sergej Krutsch,Sibylle Honold,Martin STUMBAUM,Christian VOHBURGER,Moritz BOEHME. Владелец: em-tec GmbH. Дата публикации: 2024-05-10.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4332526A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Vessel speed measurement device and vessel speed measurement method

Номер патента: EP4254010A1. Автор: Satoshi Kawanami,Masahiko Mushiake. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Saliva assessing method, device, and system

Номер патента: US20210007721A1. Автор: Ryan C. Patterson,Kent F. Beck,Scott D. Miles,James A. Malmstrom,Jeffrey A. Stern,Grant J. Donovan. Владелец: Boka Sciences Inc. Дата публикации: 2021-01-14.

Scanner device and method for computed tomography imaging

Номер патента: EP2288290A1. Автор: Oleg Tischenko,Christoph Hoeschen,Matthias Klaften,Martin Hrabe De Angelis. Владелец: Helmholtz Zentrum Muenchen Deutsches Forschungszentrum fuer Gesundheit und Umwelt GmbH. Дата публикации: 2011-03-02.

Saliva assessing method, device, and system

Номер патента: EP3554347A1. Автор: Ryan C. Patterson,Kent F. Beck,Scott D. Miles,James A. Malmstrom,Jeffrey A. Stern,Grant J. Donovan. Владелец: Boka Sciences Inc. Дата публикации: 2019-10-23.

Adapter device for a sensor device, adapter arrangement, adapter system, measuring device having adapter device and sensor device, and method

Номер патента: US20240003725A1. Автор: Robin Hofmann. Владелец: Bausch and Stroebel SE and Co KG. Дата публикации: 2024-01-04.

Pressure measurement method, control method, pressure measurement device, and analyzer

Номер патента: US20240167900A1. Автор: Atsushi Nakamura,Naohide Miyamoto,Eikichi SHIBATA,Kiyomi Seii. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Measuring device for water flow rate of upright section of comb type breakwater in test water channel

Номер патента: NL2029917B1. Автор: Xie Tian,Wang Qing,Wan Xiang,Xie Xiaomin,Zhan Chao,LI Xueyan. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2023-06-15.

Detecting system using spectrum measurement device

Номер патента: US20240319079A1. Автор: Cheng-Hsiung Chen,Hsi-Pin Li,Kuo-Sheng Huang,Fei-Peng Chang. Владелец: Innospectra Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US20240329094A1. Автор: Yusuke Shindo. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Inertial measurement device, method of operating inertial measurement device, imaging device, display device, and program

Номер патента: US20240328790A1. Автор: Tetsuro Sato,Kosei Yamashita,Masato KIMISHIMA. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Measuring device, measuring arrangement and method for determining a measured quantity

Номер патента: US09766103B2. Автор: Michael Daheim. Владелец: Krohne Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-09-19.

Colour measurement device and colour measurement method

Номер патента: US09681012B2. Автор: Yasushi Goto,Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-13.

Dryness fraction distribution measuring device and dryness fraction distribution measuring method

Номер патента: US09625384B2. Автор: Yasuhiro Goshoo,Giichi Nishino,Shiko Tanabe. Владелец: Azbil Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Coriolis direct wellhead measurement devices and methods

Номер патента: RU2655022C1. Автор: Джоэл ВАЙНШТЕЙН,Фредерик Скотт ШОЛЛЕНБЕРГЕР. Владелец: Майкро Моушн, Инк.. Дата публикации: 2018-05-23.

Continuous temperature measuring device and rh apparatus including same

Номер патента: RU2652648C2. Автор: Дзонг-Ан Ю,Кванг-Сун ПАРК,Йеонг-Ин КИМ. Владелец: Воодзин Электро-Ните Инк.. Дата публикации: 2018-04-28.

Measuring device and method for determining the speed of a flow of a fluid environment through the pipeline

Номер патента: RU2659353C1. Автор: Кристиан ШУЛЬЦ,Фолькер ХЕРРМАНН,Эрик СТАРКЕ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2018-06-29.

Measuring Device for a Scanning Probe Microscope and Method for Scanning Probe Microscopy of a Measurement Sample by Means of a Scanning Probe Microscope

Номер патента: US20200400715A1. Автор: Detlef Knebel,Tilo Jankowski,Frederik Büchau. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2020-12-24.

Device and Method for Dispensing Volatile Substances

Номер патента: US20240226360A9. Автор: Teruo Hishiki,David DYCHER,Pedro Quieroz Vieira. Владелец: Ctr, Lda. Дата публикации: 2024-07-11.

Adjustment member for measuring devices

Номер патента: EP3977060A1. Автор: Cyril Baby,David F. Lepine,Michael Benjamin Heise. Владелец: Ashcroft Inc. Дата публикации: 2022-04-06.

Adjustment Member for Measuring Devices

Номер патента: US20200370930A1. Автор: Cyril Baby,David F. Lepine,Michael Benjamin Heise. Владелец: Ashcroft Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

Adjustment member for measuring devices

Номер патента: CA3141493A1. Автор: Cyril Baby,David F. Lepine,Michael Benjamin Heise. Владелец: Ashcroft Inc. Дата публикации: 2020-12-03.

Adjustment member for measuring devices

Номер патента: CA3141493C. Автор: Cyril Baby,David F. Lepine,Michael Benjamin Heise. Владелец: Ashcroft Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Adjustment member for measuring devices

Номер патента: WO2020242846A1. Автор: Cyril Baby,David F. Lepine,Michael Benjamin Heise. Владелец: ASHCROFT, INC.. Дата публикации: 2020-12-03.

Light receiving device and distance measuring device

Номер патента: US20210041540A1. Автор: Yasuhiro SHINOZUKA,Hayato Kamizuru. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Light receiving device and distance measuring device

Номер патента: WO2019176673A1. Автор: Yasuhiro SHINOZUKA,Hayato Kamizuru. Владелец: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-19.

Light receiving device and distance measuring device

Номер патента: EP3765866A1. Автор: Yasuhiro SHINOZUKA,Hayato Kamizuru. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-01-20.

Devices and methods for obtaining dimensions and features of an object

Номер патента: AU2022389715A1. Автор: Alan Rock,Eduard Kriegler. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Particle separation and measurement device, and particle separation and measurement apparatus

Номер патента: EP3932562A1. Автор: Masashi YONETA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2022-01-05.

Apparatus and a method for securing at least one measuring device to an object

Номер патента: US11940296B2. Автор: Arve Martinsen,Thomas Aunvik. Владелец: KAEFER BLU AS. Дата публикации: 2024-03-26.

Measuring device and method for determining an electrical property

Номер патента: EP4127751A1. Автор: Lars Eriksson. Владелец: Leen Consulting AB. Дата публикации: 2023-02-08.

Process for analyzing data of at least one mobile gas measuring device and of a stationary gas measuring device as well as system for monitoring at least one gas concentration

Номер патента: US12038425B2. Автор: Malte Berndt,Christof RODEHORST,Raphael Maas. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2024-07-16.

Devices and methods for obtaining dimensions and features of an object

Номер патента: WO2023089055A1. Автор: Alan Rock,Eduard Kriegler. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Heat measurement device

Номер патента: US20220328892A1. Автор: Hiroyuki Hashimoto,Daisuke Naiki,Kouji TAKUWA. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

Wavefront measurement device and wavefront measurement method

Номер патента: EP4400818A1. Автор: Yoshinori Kato,Takashi Sekine,Satoru Kobayashi,Yuki Ikeya,Takaaki Morita,Takuto IGUCHI,Kazuki Kawai. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-17.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140036956A1. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Devices and methods for obtaining dimensions and features of an object

Номер патента: CA3238350A1. Автор: Alan Rock,Eduard Kriegler. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Pressure measuring device

Номер патента: US20180238758A1. Автор: Holger Blum. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-08-23.

Devices and methods for obtaining dimensions and features of an object

Номер патента: GB2615058A. Автор: George Rock Alan,Kriegler Eduard. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP3904826A1. Автор: Kenichi TAYU. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Vehicle wheel with a measuring device and a monitoring device for vehicles

Номер патента: US20240264014A1. Автор: Ralf Duning,Andrea Maria Davide FINZI,Sunil Kumar MANDEM. Владелец: Maxion Wheels Holding GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Devices and methods for obtaining dimensions and features of an object

Номер патента: EP4433847A1. Автор: Alan Rock,Eduard Kriegler. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Generating insights based on signals from measuring device

Номер патента: US12086818B2. Автор: Nihal Advani. Владелец: Georama Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Generating insights based on signals from measuring device

Номер патента: US12106314B2. Автор: Nihal Advani. Владелец: Georama Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Generating insights based on signals from measuring device

Номер патента: US12112342B2. Автор: Nihal Advani. Владелец: Georama Inc. Дата публикации: 2024-10-08.

Generating insights based on signals from measuring device

Номер патента: US12106313B2. Автор: Nihal Advani. Владелец: Georama Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Abnormal noise reproduction device and abnormal noise reproduction method thereof

Номер патента: US20240302245A1. Автор: Susumu Akutsu,Masayuki Hashimoto,Toshiyuki Ohtsuka,Shogo Iguchi,Naoyuki Otsuka,Katsuji TAMAZAWA,Mikiyasu HAYASHI. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Devices and methods for determining topographic data

Номер патента: GB2629176A. Автор: Rock Alan,Kriegler Eduard,Tapping Trevor. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Devices and methods for setting out features of a construction site

Номер патента: GB2629138A. Автор: Rock Alan,Kriegler Eduard,Tapping Trevor. Владелец: 3D Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Calibration method based on dual-transmitting dual-receiving phase measurement and distance-measuring device thereof

Номер патента: US09945937B2. Автор: Xi Liu,XIN Du,Baiwen Qiao,Xiaoyi Zha. Владелец: JIANGSU LAITZ OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Target object for a laser measuring device and method for identifying the target object

Номер патента: US09921060B2. Автор: Andreas Winter. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring device, system and method for measuring a wrapping force

Номер патента: US09891120B2. Автор: Mauro Cere. Владелец: Aetna Group SpA. Дата публикации: 2018-02-13.

Measurement device for determining angular position

Номер патента: US09880024B2. Автор: Timo Kaufmann,Joerg Franke. Владелец: TDK Micronas GmbH. Дата публикации: 2018-01-30.

Voltage monitoring control system, voltage monitoring control device, measurement device, and voltage monitoring control method

Номер патента: US09843195B2. Автор: Nobuhiko Itaya. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Impedance measuring device and control method for impedance measuring device

Номер патента: US09817075B2. Автор: Masashi Sato,Tetsuya Aoki,Masanobu Sakai,Michihiko Matsumoto,Hidetaka Nishimura. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Positioning device and measuring device

Номер патента: US20140165751A1. Автор: Thomas Musch,Christoph Baer,Sebastian Baer. Владелец: Krohne Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2014-06-19.

Measurement device for electrical installations and related methods

Номер патента: US09716843B2. Автор: Pierre Boulanger,Nicholas Högasten,Michael Fox,Katrin Strandemar,Theodore R. Hoelter,Barbara Sharp,Eric A. Kurth,Mark Nussmeier. Владелец: Flir Systems Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Generating insights based on signals from measuring device

Номер патента: US12141825B2. Автор: Nihal Advani. Владелец: Georama Inc. Дата публикации: 2024-11-12.

Device and method for determining an absolute angular position of a wheel of a vehicle

Номер патента: US09701287B2. Автор: Holger Faisst,Matthias Kretschmann,Takeaki YAJIMA. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2017-07-11.

Optical measuring device

Номер патента: US09588039B2. Автор: Bernd Offenbeck,Louis Willi. Владелец: HAMILTON BONADUZ AG. Дата публикации: 2017-03-07.

Impedance measuring device and control method for impedance measuring device

Номер патента: US09450259B2. Автор: Masanobu Sakai. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Porosity measuring device and porosity measuring method

Номер патента: US09366614B2. Автор: Makoto Kawano,Hitoshi Watarai. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2016-06-14.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US09341519B2. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Tester, testing strap, device and method of measuring concentration

Номер патента: RU2291667C2. Автор: Алан ХЭВИЛЭНД,Вилльям ХАФФОРД,Грегори БЕННЕТТ,Деннис БЕРД,Алан ХЭВИЛЭНД (US),Вилль м ХАФФОРД (US),Грегори БЕННЕТТ (US),Деннис БЕРД (US). Владелец: Лайфскен, Инк.. Дата публикации: 2007-01-20.

Device and method for measuring density of tobacco fabric and system and method for manufacturing tobacco fabric

Номер патента: RU2598278C1. Автор: Сейдзи НАКАГАВА,Кадзухиро ТОКУДА,Каору НАРАЗАКИ,Цутому КАМИСИРАКИ,Ясусиге ЦУТИЯ. Владелец: Джапан Тобакко Инк.. Дата публикации: 2016-09-20.

Valve stem connector with integrated stem force measurement device

Номер патента: RU2673022C2. Автор: Натан МАККОРМИК. Владелец: ФИШЕР КОНТРОЛЗ ИНТЕРНЕШНЕЛ ЛЛС. Дата публикации: 2018-11-21.

Large-signal inductance measuring device and method for performing a measuring operation for measuring an inductance

Номер патента: US20240201239A1. Автор: Bernd Wunder,Johannes Gehring,Raffael Schwanninger. Владелец: Friedrich Alexander Univeritaet Erlangen Nuernberg FAU. Дата публикации: 2024-06-20.

Radar-based fill level measurement device having a security device

Номер патента: US20170219409A1. Автор: Guenter Kech. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2017-08-03.

Illumination device and bio-information measurement device having the same

Номер патента: US20170074797A1. Автор: Shouhei Kousai,Kaita IMAI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Piezoelectric measuring device and method of operating the measuring device

Номер патента: US20240133758A1. Автор: Jochen Schneider. Владелец: KISTLER HOLDING AG. Дата публикации: 2024-04-25.

Battery monitoring system, battery monitoring device, measurement device, battery monitoring method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20240230786A9. Автор: Hiroshi Ohtani,Shogo Shigemori. Владелец: Denso Ten Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Device and Method for Transmitting Data Between a Position-Measuring Device and Sequential Electronics

Номер патента: US20110213586A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Michael Walter,Alexander Kobler,Heik H. Hellmich,Terukiyo Hayashi,Ruedi Schoppmann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2011-09-01.

A thermal comfort sensor device and an anthropomorphic dummy for simulating heat exchange which includes a plurality of such devices

Номер патента: EP1459105A1. Автор: Carloandrea Malvicino,Carlo Canta. Владелец: Centro Ricerche Fiat SCpA. Дата публикации: 2004-09-22.

A thermal comfort sensor device and an anthropomorphic dummy for simulating heat exchange which includes a plurality of such devices

Номер патента: WO2003052461A1. Автор: Carloandrea Malvicino,Carlo Canta. Владелец: C.R.F. Societa Consortile per Azioni. Дата публикации: 2003-06-26.

Locating Device, and Method for Calibrating a Locating Device

Номер патента: US20080148803A1. Автор: Uwe Skultety-Betz,Bjoern Haase,Christoph Wieland,Reiner Krapf,Michael Mahler,Ulli Hoffmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-26.

Apparatus for gas sorption measurement with integrated gas composition measurement device and gas mixing

Номер патента: WO2013126133A1. Автор: Steven Kaye,Justin James Dutton,Kenneth James II. MICKLASH. Владелец: Wildcat Discovery Technologies, Inc.. Дата публикации: 2013-08-29.

Sensor system for monitoring a powder handling device, and a powder handling device comprising such a sensor system

Номер патента: EP4244690A1. Автор: Jon Steffen Larsen,Kristian Ravnborg Nissen,Mads Hjertstedt,Andreas Jauernik Voigt. Владелец: GEA Process Engineering AS. Дата публикации: 2023-09-20.

Piezoelectric measuring device and method of operating the measuring device

Номер патента: US20240230442A9. Автор: Jochen Schneider. Владелец: KISTLER HOLDING AG. Дата публикации: 2024-07-11.

Yarn winding device and automatic winder

Номер патента: EP4397609A1. Автор: Ken Nakao,Kota HASEGAWA,Yasuhito MIYAWAKI. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Online measurement device for crystal size and shape in high-solid-content crystallization process

Номер патента: US12072276B2. Автор: Bing Wu,Baoming Shan,Fangkun Zhang,Zidong AI. Владелец: Qingdao University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-08-27.

Semiconductor device measuring device and method for measuring semiconductor device

Номер патента: US20230101968A1. Автор: Chung Sam Jun,Dong-ryul Lee,Jung Hoon BYUN,Hyun Woo RYOO,Da Hee YOON,Woo Yun LEE,Dong Chul IHM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-30.

Optical measuring device and method

Номер патента: US20240288558A1. Автор: Reiner Windisch. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-08-29.

Smart-Tooth Blood Glucose Measurement Device

Номер патента: US20230293055A1. Автор: Joseph John Parsi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-21.

Optoelectronic distance measuring device and operating method determined therefor

Номер патента: US20010048516A1. Автор: Reinhard Waibel,Manfred Ammann. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2001-12-06.

Main measurement device, secondary measurement device, measurement system and method

Номер патента: US20220231769A1. Автор: Andreas Ziegler,Michael Grimm,Detlef Schlager,Thomas Kuhwald,Andrew Schaefer,Jens Naumann,Sebastian Petzsch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-07-21.

Method for Operating a Gated Camera, Control Device for Carrying Out Such a Method, Viewing Range Measurement Device Having Such a Control Device, and Motor Vehicle Having Such a Viewing Range Measurement Device

Номер патента: US20240281985A1. Автор: Fridtjof Stein. Владелец: Daimler Truck AG. Дата публикации: 2024-08-22.

Temperature measurement device and energy storage device including same

Номер патента: US20240035904A1. Автор: Hyung Suk Choi,Soo Hwan HAN. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Portable co2 measuring device and system

Номер патента: US20230324289A1. Автор: Dmitry Gorilovsky,Oleksandra SYNIACHEVA. Владелец: Woodenshark Llc. Дата публикации: 2023-10-12.

Viscosity measurement device and method for measuring viscosity

Номер патента: US12085493B2. Автор: Long-Tyan Hwang,Chieh-Shun Yang,Tsun-Yu Hsiao. Владелец: Formosa Plastics Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Housing for a flow measuring device, and a flow measuring device having such a housing

Номер патента: US20200088556A1. Автор: Steffen Ziegler,Roland Huber,Frank Voigt. Владелец: Endress and Hauser Flowtec AG. Дата публикации: 2020-03-19.

Extending Programmable Measurement Device Functionality

Номер патента: US20140358469A1. Автор: Dustyn K. Blasig,Duncan G. Hudson, III,Brian K. Odom,Kunal H. Patel,Christopher F. Graf,Ryan P. Verret,Joseph H. DiGiovanni,David E. Klipec,Jeronimo Mota. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2014-12-04.

Semiconductor device and physical quantity measuring device

Номер патента: US20240302294A1. Автор: Kaoru KOHIRA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Information processing device and information processing method that enable simple calibration

Номер патента: US11959775B2. Автор: Tetsuro Sato,Toru Amano,Kosei Yamashita,Masato KIMISHIMA. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Condition monitoring device and condition monitoring method for wind turbine power generating apparatus

Номер патента: US11708816B2. Автор: Minoru Sugiura,Mitsuya Baba,Kazuhiro Tsuyuki,Yasushi Morishita,Hideru Sakata. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Condition monitoring device and condition monitoring method for wind turbine power generating apparatus

Номер патента: US20210332797A1. Автор: Minoru Sugiura,Mitsuya Baba,Kazuhiro Tsuyuki,Yasushi Morishita,Hideru Sakata. Владелец: Mitsubishi Power Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

A novel optimal configuration method for harmonic measurement devices

Номер патента: AU2021100254A4. Автор: Rui Xu,Xiaoyang Ma,Xianyong Xiao,Diwen Zheng. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2021-04-15.

Safety-oriented load switching device and method for operating a safety-oriented load switching device

Номер патента: US09991074B2. Автор: Martin Gehrke,Andreas HERZOG. Владелец: Festo SE and Co KG. Дата публикации: 2018-06-05.

Radar-based fill level measurement device having a security device

Номер патента: US09958311B2. Автор: Guenter Kech. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2018-05-01.

Extending programmable measurement device functionality

Номер патента: US09880030B2. Автор: Dustyn K. Blasig,Duncan G. Hudson, III,Brian K. Odom,Kunal H. Patel,Christopher F. Graf,Ryan P. Verret,Joseph H. DiGiovanni,Jeronimo Mota. Владелец: National Instruments Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Ultrasonic measurement device, head unit, probe, and diagnostic device

Номер патента: US09863918B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Impedance measuring device and control method for impedance measuring device

Номер патента: US09791518B2. Автор: Masashi Sato,Tetsuya Aoki,Masanobu Sakai,Michihiko Matsumoto,Hidetaka Nishimura. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Pressure measurement device with automatic position correction

Номер патента: US09739678B2. Автор: Joern Jacob. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2017-08-22.

Ultrasonic measuring device, program, and method of controlling ultrasonic measuring device

Номер патента: US09687214B2. Автор: Kanechika Kiyose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Radar-based fill level measurement device having a security device

Номер патента: US09653802B2. Автор: Guenter Kech. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2017-05-16.

Measuring device for measuring a measurement object and related method

Номер патента: US09599558B2. Автор: Peter Westphal,Thomas Engel. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-03-21.

Drilling measuring device, exchangeable needle cartridge, exchangeable docking device, and exchangeable tool

Номер патента: US09551641B2. Автор: Erich Hunger,Sebastian Hunger. Владелец: IML Instrumenta Mechanik Labor GmbH. Дата публикации: 2017-01-24.

Calibration device for a force-measuring device, and force-measuring device

Номер патента: US09523604B2. Автор: Martin Heusser,Markus Uster,Ferdinand Schneider,George Fankhauser. Владелец: Mettler Toledo Schweiz GmbH. Дата публикации: 2016-12-20.

Measuring device, a calibration device, a measuring system and a method with a dynamic data sheet

Номер патента: US09454510B2. Автор: Thomas Braunstorfinger. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-09-27.

Mooring chain stopping device and system for the offshore mooring of a buoyant structure into which such a device is built

Номер патента: US09422033B2. Автор: Benoit Dugas,Jean-Claude Lautier. Владелец: CONTROLE MESURE REGULATION. Дата публикации: 2016-08-23.

Device and method for measurement of electric power

Номер патента: RU2407022C2. Автор: Хейкки СЕППЯ. Владелец: Эйдон Ой. Дата публикации: 2010-12-20.

Quick-acting gas flow temperature measurement device

Номер патента: RU2604573C1. Автор: Владимир Дмитриевич Ковшов,Виль Файзулович Галиакбаров,Эмилия Вильевна Галиакбарова,Артур Игоревич Гулин,Жанна Артуровна Сухинец,Марат Сабирович Каримов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2016-12-10.

Device and method for providing a signal color for a fill level measuring device

Номер патента: US12025478B2. Автор: Robert Laun. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement device, method of operating the measurement device and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20240012044A1. Автор: Adam Tankielun,Mert CELIK. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-01-11.

Measuring device and method for measuring a state of wear

Номер патента: US20200067248A1. Автор: Florian Huber,Gottfried Kain. Владелец: Schunk Carbon Technology Gmbh. Дата публикации: 2020-02-27.

Inertial measurement device and unmanned aerial vehicle

Номер патента: US20210095964A1. Автор: Yu Zhang,Shaobin Li,Liangliang YIN,Lianjie GAO. Владелец: Shanghai Topxgun Robotics Co ltd. Дата публикации: 2021-04-01.

Mounting flange for measuring devices

Номер патента: WO2018119099A1. Автор: Tyler Jon Bessette. Владелец: ASHCROFT, INC.. Дата публикации: 2018-06-28.

Method and apparatus for calibrating a display-coupled color measuring device

Номер патента: WO2009073558A1. Автор: Cormic K. Merle,Colman Shannon,Brian Levey,Michael H. Brill. Владелец: Datacolor Holding AG. Дата публикации: 2009-06-11.

Measuring device and method for determining rheological properties of a viscous, polymeric mass

Номер патента: EP3894830A1. Автор: Reinhard Uphus,Martinus Regterschot,Peng CHEA. Владелец: VMI Holland BV. Дата публикации: 2021-10-20.

Liquid crystal device, manufacturing method of liquid crystal device, and electronic apparatus

Номер патента: US20220128853A1. Автор: Masakazu Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-04-28.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, COLOR MEASURING SYSTEM, AND COLOR MEASURING METHOD

Номер патента: US20130242321A1. Автор: SATOH Nobuyuki,MATSUMOTO Hiroshi,KOBAYASHI Masato,KANZAWA Tomokazu,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-19.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, COLOR MEASURING SYSTEM, AND COLOR MEASURING METHOD

Номер патента: US20150109646A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,Suzuki Hideaki,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku,Takei Kazushi,Iwanami Satoshi,Shigemoto Masahiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

Image capturing unit, color measuring device, image forming device, color measuring system, and color measuring method

Номер патента: CN103297643A. Автор: 铃木英明,小林正人,岩波智史,横泽卓,佐藤信行,铃木泰之,樱田裕一,赖本卫,冈田达彦,堀川大作,重本昌洋,武井一史. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-11.

Imaging unit, color measuring device, image forming apparatus, color measuring system, and color measuring method

Номер патента: US20130242319A1. Автор: Masato Kobayashi,Yasuyuki Suzuki,Hiroshi Matsumoto,Suguru Yokozawa,Ryo Honda,Mamoru Yorimoto,Nobuyuki Satoh,Daisaku Horikawa,Yuichi Sakurada,Tatsuhiko Okada,Makoto Moriwaki,Tomokazu KANZAWA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-19.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR MEASURING SYSTEM, AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130242320A1. Автор: SATOH Nobuyuki,MATSUMOTO Hiroshi,KOBAYASHI Masato,KANZAWA Tomokazu,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-19.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR MEASURING SYSTEM AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170034397A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-02.

Magneto-optical storage device and manufacturing method thereof

Номер патента: CA2069056A1. Автор: Akira Takahashi,Junsaku Nakajima,Yoshiteru Murakami,Kenji Ohta. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-11-24.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: WO2022005916A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2022-01-06.

Thin film transistor substrate, display device, and manufacturing method for thin film transistor substrate

Номер патента: US20230120056A1. Автор: Takashi Terauchi,Ryuji Matsumoto,Kazunari Sasaki,Kimihiko HAYASHI. Владелец: Sharp Display Technology Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Transflective type liquid crystal display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US8040487B2. Автор: Masami Hayashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2011-10-18.

Liquid crystal display device and method of manufacturing that

Номер патента: US09804445B2. Автор: Hidehiro Sonoda,Noboru Kunimatsu,Chikae Matsui. Владелец: Panasonic Liquid Crystal Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Polymer film, tubular fixing member, fixing device, and image forming apparatus

Номер патента: EP4450540A1. Автор: Hiroaki Tanaka,Masayuki Seko,Kenji Kajiwara,Tomotake Inagaki,Ryohei Yoshikawa,Taiki NAGAMATSU. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-23.

Polymer film, tubular fixing member, fixing device, and image forming apparatus

Номер патента: US20240353782A1. Автор: Hiroaki Tanaka,Masayuki Seko,Kenji Kajiwara,Tomotake Inagaki,Ryohei Yoshikawa,Taiki NAGAMATSU. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-24.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09977186B2. Автор: Yasutaka Nakashiba,Shinichi Watanuki. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Method and apparatus for scanning exposure having thickness measurements of a film surface

Номер патента: US5744814A. Автор: Takayuki Uchiyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1998-04-28.

Optical element, optical device, and electronic device

Номер патента: US09933552B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-03.

Transparent laminate, capacitance type input device, and image display device

Номер патента: US09632640B2. Автор: Shinichi Kanna,Ryuji Saneto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Transparent laminate, capacitance type input device, and image display device

Номер патента: US09632639B2. Автор: Shinichi Kanna,Ryuji Saneto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09703140B2. Автор: Hajime Kimura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Liquid crystal display device and method of producing the same

Номер патента: US6628350B1. Автор: Hiroshi Miyashita. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2003-09-30.

Method and system relating to flux distribution and film deposition

Номер патента: WO2001040539A3. Автор: Christopher Walton,Claude Montcalm,James A Folta. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2002-02-14.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240332308A1. Автор: Masahiro Watabe,Toshinari Sasaki,Masashi TSUBUKU,Hajime Watakabe,Ryo ONODERA,Takaya Tamaru,Marina Mochizuki. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Wavelength conversion film, wavelength conversion device, light-emitting member, authentication device, wristband-type electronic device and biometric device

Номер патента: US20220185974A1. Автор: Ryo Nakabayashi,Kenichi Tabata,Yasuo Miyata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-06-16.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US20240062364A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11836913B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

System using film thickness estimation from machine learning based processing of substrate images

Номер патента: US11847776B2. Автор: Dominic J. Benvegnu,Jun Qian,Sivakumar Dhandapani,Kiran Lall Shrestha,Arash Alahgholipouromrani. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-19.

Electro-optical device and electronic apparatus

Номер патента: US09772518B2. Автор: Satoshi Ito. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Semiconductor memory device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09595564B1. Автор: Akihito Ikedo. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Liquid crystal display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20170255052A1. Автор: Daisuke Kajita,Ryutaro Oke,Tatsuhito Sakakibara,Daisuke Fuse. Владелец: Panasonic Liquid Crystal Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-07.

Retardation film, and optical compensation layer, optical compensation polarizing plate, liquid crystal display device and organic EL display device each using said retardation film

Номер патента: US09671544B2. Автор: Ryutaro Mukai,Tomohiro Abo. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Array substrate, display device, and method for manufacturing the array substrate

Номер патента: US09645457B2. Автор: Masaru Aoki,Takeshi Shimamura,Yuichi Masutani,Shigeaki Noumi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Method for determining film thickness by white light interferometry

Номер патента: RU2634328C1. Автор: Виктор Владимирович Сысоев,Илья Викторович КИСЕЛЕВ,Егор Ильич Киселев,Екатерина Владимировна Ушакова,Илья Викторович Беляев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2017-10-25.

Liquid crystal display device and method of manufacturing the same

Номер патента: US7609343B2. Автор: Osamu Sukegawa,Hidenori Ikeno,Michiaki Sakamoto. Владелец: NEC LCD Technologies Ltd. Дата публикации: 2009-10-27.

Film forming method,multilayer film reflector manufacturing method, and film forming device

Номер патента: US20030129325A1. Автор: Noriaki Kandaka. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-07-10.

Electro-optic device and electronic apparatus

Номер патента: US9122115B2. Автор: Shotaro Izawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Display device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11640088B2. Автор: Akihiro Hanada,Hajime Watakabe,Ryo ONODERA. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2023-05-02.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: US20240185058A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

Display device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20210240042A1. Автор: Akihiro Hanada,Hajime Watakabe,Ryo ONODERA. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2021-08-05.

Semiconductor film thickness prediction using machine-learning

Номер патента: WO2024123635A1. Автор: Dominic J. Benvegnu,Nojan Motamedi,Kiran L. Shrestha. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-06-13.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US20040019871A1. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2004-01-29.

Method for estimating remaining film thickness distribution, method for designing patterning mask using the method for estimating remaining film thickness distribution, and method for manufacturing semiconductor devices by using patterning mask designed by using the method for estimating remaining film thickness distribution

Номер патента: US6905966B2. Автор: Takeshi Morita. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-06-14.

Semiconductor photodetecting device and method for fabricating the same

Номер патента: US20040145025A1. Автор: Nami Yasuoka,Akito Kuramata,Haruhiko Kuwatsuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-07-29.

Semiconductor device and fabrication method thereof

Номер патента: US20020130363A1. Автор: Shunpei Yamazaki,Jun Koyama,Yurika Satou. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2002-09-19.

Display device and liquid crystal device

Номер патента: US20190146265A1. Автор: Kazu Kobayashi,Mitsutaka Ohori,Naoki Tomikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20170031094A1. Автор: Yasutaka Nakashiba,Shinichi Watanuki. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-02-02.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20180246276A1. Автор: Yasutaka Nakashiba,Shinichi Watanuki. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-08-30.

Organic el element display device, and electronic apparatus

Номер патента: US20220416208A1. Автор: Emiko Kambe,Masato Nakamura,Masatoshi Saito,Shota SAWANO. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-29.

Display device and electronic apparatus

Номер патента: US20210050554A1. Автор: Kazuichiro Itonaga. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2021-02-18.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Organic electroluminescent element, organic electroluminescent display device, and electronic equipment

Номер патента: US20240306417A1. Автор: Yukitoshi Jinde,Takushi Shiomi,Hisato Matsumoto,Yuta Higashino. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor storage device and neural network device

Номер патента: US20220020757A1. Автор: Toshiyuki Kobayashi. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-01-20.

Pattern formation method, imprint device, and computer-readable non-volatile storage medium storing drop recipe adjustment program

Номер патента: US10192793B2. Автор: Yusaku Izawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-01-29.

Pattern formation method, imprint device, and computer-readable non-volatile storage medium storing drop recipe adjustment program

Номер патента: US20180218951A1. Автор: Yusaku Izawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Optical element, optical device, and electronic device

Номер патента: US20150116831A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-04-30.

Photoresist film placing method, semiconductor device manufacturing method, electro-optical device, and electronic device

Номер патента: US9786501B2. Автор: Yoshiki Nakashima,Hiroshi Sera. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Photoresist film placing method, semiconductor device manufacturing method, electro-optical device, and electronic device

Номер патента: US20150294859A1. Автор: Yoshiki Nakashima,Hiroshi Sera. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-10-15.

Optical disk with a uniform film thickness by having different angles of inclination for the side surfaces of grooves

Номер патента: US6108297A. Автор: Masahiro Furuta,Teruyuki Ohta. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-08-22.

Active matrix substrate, display device and television receiver

Номер патента: GB2449403A. Автор: Masanori Takeuchi,Toshihide Tsubata. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2008-11-19.

Display panel, display device, and method for manufacturing display panel

Номер патента: US20100085499A1. Автор: Shinichi Hirato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-08.

Electro-optic device and electronic apparatus

Номер патента: US20170229528A1. Автор: Hitoshi Ota. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-10.

Electro-optic device and electronic apparatus

Номер патента: US9978822B2. Автор: Hitoshi Ota. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Solid-state imaging device and image sensor

Номер патента: US20190165021A1. Автор: Keisuke Nakamura,Masaki Ono,Masatoshi Kodama,Akiko Fujiuchi,Naoyuki Tokida. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Electro-optical device and electronic apparatus

Номер патента: US20160377910A1. Автор: Satoshi Ito. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Measurement method, shaping device, simulator, measurement device, and storage medium

Номер патента: US20240262021A1. Автор: Yoshihiro Shiode. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Semiconductor memory device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20170077183A1. Автор: Akihito Ikedo. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Manufacturing method of quantum dot-containing laminated body, quantum dot-containing laminated body, backlight unit, liquid crystal display device, and quantum dot-containing composition

Номер патента: US20170090248A1. Автор: Hiroyuki Yoneyama,Hideaki Itou,Satoshi Kuniyasu,Tomonari Ogawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Blood sugar level measuring device and blood sugar level measuring method

Номер патента: US20150216482A1. Автор: Hideto Ishiguro,Hirokazu Kasahara,Kimitake Mizobe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Blood sugar level measuring device and blood sugar level measuring method

Номер патента: US09433385B2. Автор: Hideto Ishiguro,Hirokazu Kasahara,Kimitake Mizobe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Liquid crystal display device and manufacturing method thereof

Номер патента: US9910313B2. Автор: Daisuke Kajita,Ryutaro Oke,Tatsuhito Sakakibara,Daisuke Fuse. Владелец: Panasonic Liquid Crystal Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US12039904B2. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US20230054156A1. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Ophthalmological measuring device and measurement method

Номер патента: US20110304822A1. Автор: Christian Rathjen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-15.

Fixation device and image formation apparatus

Номер патента: US20230305462A1. Автор: Tomomi Ootaka. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Bio-signal measuring device and bio-signal measuring method

Номер патента: US12029524B2. Автор: Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Bang Won Lee. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Trajectory measuring device, numerical control device, and trajectory measuring method

Номер патента: US09921568B2. Автор: Masahiro Ozawa,Kotaro Nagaoka,Tomoya Fujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Pipeline temperature control device and pipeline temperature control method

Номер патента: EP4455826A1. Автор: Caifeng HU. Владелец: Beijing Naura Microelectronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Thickness measurement device for sheet-type medium

Номер патента: US09592981B2. Автор: Wenqing Wu,Qi Xie,Xing Hu,Tianrui Li. Владелец: GRG Banking Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Device and method for improving the response time of a temperature control device

Номер патента: US09678517B2. Автор: Sergiu Csonti,Syed Rafat Iqbal. Владелец: GENTHERM CANADA LTD. Дата публикации: 2017-06-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230296991A1. Автор: Masakazu HAMASAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Measurement device, method of measurement, and method of manufacturing devices

Номер патента: WO2024165253A1. Автор: Arend Johannes DONKERBROEK,Ruud Hendrikus Martinus Johannes Bloks,Max Leonardus Petrus DE LANGE. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and apparatus for managing measurement device based on blockchain

Номер патента: US20210248671A1. Автор: Guojun Xie,Jianqiang Yang. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2021-08-12.

Method and device for the definitive assignment of medical measuring devices

Номер патента: US20160188810A1. Автор: Rüdiger LEUNER. Владелец: SECA AG. Дата публикации: 2016-06-30.

Medical measurement device and measurement system

Номер патента: US09877652B2. Автор: Takashi Nakagawa. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Evaluating measurements using information from multiple measuring devices

Номер патента: CA3203693A1. Автор: John Alfred Campin,Martin Grundig,George Hunter PETTIT,Mark Andrew Zielke,Daniil NEKRASSOV. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2022-07-28.

Evaluating measurements using information from multiple measuring devices

Номер патента: AU2022211171A1. Автор: John Alfred Campin,Martin Grundig,George Hunter PETTIT,Mark Andrew Zielke,Daniil NEKRASSOV. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Evaluating measurements using information from multiple measuring devices

Номер патента: EP4280933A1. Автор: John Alfred Campin,Martin Grundig,George Hunter PETTIT,Mark Andrew Zielke,Daniil NEKRASSOV. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2023-11-29.

Method and apparatus for managing measurement device based on blockchain

Номер патента: US12056761B2. Автор: Guojun Xie,Jianqiang Yang. Владелец: Mettler Toledo Measurement Technology Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Method for Evaluating the Installation Position of a Measuring Device in a System, Augmented Reality Device and Method for Installing a Measuring Device

Номер патента: US20210312606A1. Автор: Jan Forster,Martin Krawczyk-Becker. Владелец: Krohne Messtechnik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-10-07.

Evaluating measurements using information from multiple measuring devices

Номер патента: WO2022157606A1. Автор: John Alfred Campin,Martin Grundig,George Hunter PETTIT,Mark Andrew Zielke,Daniil NEKRASSOV. Владелец: ALCON INC.. Дата публикации: 2022-07-28.

Athletic speed and time measurement device and methods of making and using same

Номер патента: US20190030396A1. Автор: Jeffrey J. Karc. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-01-31.

Evaluating measurements using information from multiple measuring devices

Номер патента: AU2022211171A9. Автор: John Alfred Campin,Martin Grundig,George Hunter PETTIT,Mark Andrew Zielke,Daniil NEKRASSOV. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Method for updating software of a measuring device, smart computer and computer readable program product

Номер патента: US09860356B2. Автор: Harald Ripp. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-01-02.

Method for anonymously associating measurement device measurements to a source ID

Номер патента: US09647990B2. Автор: Daniel Almodovar Herraiz,Guillermo Esteve Asensio,Patricia ALONSO DIAZ. Владелец: Vodafone IP Licensing Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Ultrasonic thickness measurement device and ultrasonic thickness measurement method

Номер патента: US20220296217A1. Автор: Masahiro Onoda,Yoshio Arai,Kanechika Kiyose,Mio SASAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Bio signal measuring device and bio signal imaging device and brain imaging based brain disease diagnostic system

Номер патента: US20230056029A1. Автор: Sumin Jang,Yeongbo Sagong. Владелец: SOLETOP CO Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Film forming apparatus and film forming method

Номер патента: US20240117486A1. Автор: Yasunobu Suzuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US20210043483A1. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

Solid-state imaging device, manufacturing method of solid-state imaging device, manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and electronic device

Номер патента: US20160218137A1. Автор: Koji Kikuchi,Kentaro Akiyama,Ikue Mitsuhashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-07-28.

Semiconductor device and electronic device having bonded substrates

Номер патента: US09627429B2. Автор: Koji Kikuchi,Kentaro Akiyama,Ikue Mitsuhashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Solid-state imaging device, manufacturing method of solid-state imaging device, manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and electronic device

Номер патента: US09525004B2. Автор: Koji Kikuchi,Kentaro Akiyama,Ikue Mitsuhashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Apparatus and method for improving film thickness uniformity

Номер патента: US11769679B2. Автор: Xiaoxu KANG,Xiaolan ZHONG. Владелец: Shanghai IC R&D Center Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Semiconductor storage device and method of manufacturing semiconductor storage device

Номер патента: US20230093316A1. Автор: Tatsufumi Hamada,Shinichi Sotome,Yosuke MITSUNO,Tomohiro KUKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Solid-state imaging device, manufacturing method of solid-state imaging device, manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and electronic device

Номер патента: US20170338268A1. Автор: Koji Kikuchi,Kentaro Akiyama,Ikue Mitsuhashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-11-23.

Measurement method, device, and storage medium

Номер патента: EP4266735A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2023-10-25.

Measurement method, device and storage medium

Номер патента: US20240056860A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-02-15.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus involving thickness measurements

Номер патента: US11424168B2. Автор: Kazuaki Mikami,Kazunori Kanada,Haruhiko Minamitake. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-08-23.

Acoustic correction device, acoustic measurement device, acoustic reproduction device, acoustic correction method, and acoustic measurement method

Номер патента: JP4786701B2. Автор: 康裕鹿仁島,繁保岩田,恭之福田,規勝千葉,豊大木,敏文山本,和行斉藤. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-10-05.

Body-wearable measurement device, meal assistance device, meal assistance system, computer program, measurement method, and meal assistance method

Номер патента: WO2016117477A1. Автор: 信杉山,晶藤原,石川　淳,基樹谷村,田中　慎一,豪小塩,亮惣中澤,頌太井上,絋太仲村,綾香遠藤,圭司坂,宏樹旗田,信仁青野. Владелец: シャープ株式会社. Дата публикации: 2016-07-28.

Pattern Dimension Measurement Method, Pattern Dimension Measurement Device, Program for Causing Computer to Execute Pattern Dimension Measurement Method, and Recording Medium Having Same Recorded Thereon

Номер патента: US20130120551A1. Автор: Yamada Shinya,Takagi Yuji. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-16.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING DEVICE, COLOR MEASURING SYSTEM, AND COLOR MEASURING METHOD

Номер патента: US20130229671A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,Suzuki Hideaki,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku,Takei Kazushi,Iwanami Satoshi,Shigemoto Masahiro. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-05.

Physiological sample collection devices and methods of using the same

Номер патента: CA2428365C. Автор: Devin V. Mcallister,Lorin Olson,Koon-Wah Leong,Maria Teodorczyk,Ernest Kiser,Vadim V. Yuzhakov. Владелец: Lifescan Inc. Дата публикации: 2011-10-25.

Channel measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: EP3852444A1. Автор: Xueming PAN,Kai Wu,Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-21.

IMAGE CAPTURING UNIT, COLOR MEASURING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, COLOR MEASURING SYSTEM AND COLOR MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130135484A1. Автор: SATOH Nobuyuki,KOBAYASHI Masato,SUZUKI Yasuyuki,Yorimoto Mamoru,Yokozawa Suguru,Sakurada Yuichi,Okada Tatsuhiko,Horikawa Daisaku. Владелец: . Дата публикации: 2013-05-30.

TWO-DIMENSIONAL FLICKER MEASUREMENT DEVICE, TWO-DIMENSIONAL FLICKER MEASUREMENT SYSTEM, TWO-DIMENSIONAL FLICKER MEASUREMENT METHOD, AND TWO-DIMENSIONAL FLICKER MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20200267301A1. Автор: Masuda Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-20.

Real-time blood pressure measurement device using two sensors and real-time blood pressure measurement method using the same

Номер патента: KR102347155B1. Автор: 김선칠. Владелец: 계명대학교 산학협력단. Дата публикации: 2022-01-06.

Ink remaining amount measuring device, ink-jet recorder comprising same, ink remaining amount measuring method, and ink cartridge

Номер патента: CN1655940A. Автор: 西原雄一. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-08-17.

Measuring device for thermal error of machine tool space and measuring method

Номер патента: CN105817953A. Автор: 蔡翔,张大卫,高卫国,张济良,张伟展. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2016-08-03.

Calibration device and calibration method for VR synchronous sampling measurement method

Номер патента: CN115120883A. Автор: 赵海波,梁亮,曾德华,李晓虹,范培蕾,肖鹊,冯金玲,仇倩,李云闯. Владелец: BEIJING Institute OF METROLOGY. Дата публикации: 2022-09-30.

Light intensity adjustment method for optical film thickness measuring device and polishing apparatus

Номер патента: US20240207997A1. Автор: Masaki Kinoshita. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Manufacturing device of display device and manufacturing method of display device

Номер патента: US20240284772A1. Автор: Masaru Takayama. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Device for controlling film formation, film forming device, and film forming method

Номер патента: EP4431632A1. Автор: Takeshi Yamaguchi,Mitsuhiro Miyauchi,Takayuki Matsudaira,Yoshiyuki OHTAKI. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20140232011A1. Автор: Kazumichi Tsumura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Film forming position misalignment correction method and film forming system

Номер патента: US20240011148A1. Автор: Atsushi Gomi,Atsushi Takeuchi,Kanto Nakamura,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Semiconductor device and method for manufacturing thereof

Номер патента: US09515081B2. Автор: Yukio Hayakawa,Yukihiro Utsuno. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Axis determination apparatus, film-thickness measurement apparatus, deposition apparatus, axis determination method, and film-thickness measurement method

Номер патента: US20020071129A1. Автор: Kai Chen,Shizuo Nakamura,Fumihiko Omura,Akihito Minamitsu. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2002-06-13.

Method of manufacturing semiconductor apparatus including measuring a film thickness of an SOG film

Номер патента: US11037840B2. Автор: Yuji Kawasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-06-15.

Film-forming method, film-forming device, and crystalline oxide film

Номер патента: EP4407660A1. Автор: Takenori Watabe,Hiroshi Hashigami,Takahiro Sakatsume. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Solid-state imaging device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20140210033A1. Автор: Shigeru Suzuki,Hisashi Yano,Tetsuya Nakamura,Motonari Katsuno,Gen Okazaki,Akira OODAIRA. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-07-31.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20150380541A1. Автор: Koichi Arai,Kenichi Hisada,Yasuaki Kagotoshi,Masaki HAMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2015-12-31.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20160225892A1. Автор: Koichi Arai,Kenichi Hisada,Yasuaki Kagotoshi,Masaki HAMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US9570602B2. Автор: Koichi Arai,Kenichi Hisada,Yasuaki Kagotoshi,Masaki HAMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US9337327B2. Автор: Koichi Arai,Kenichi Hisada,Yasuaki Kagotoshi,Masaki HAMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-05-10.

Semiconductor integrated circuit device and process for manufacturing the same

Номер патента: US20020160566A1. Автор: Satoshi Yamamoto,Shinpei Iijima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-31.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US09570602B2. Автор: Koichi Arai,Kenichi Hisada,Yasuaki Kagotoshi,Masaki HAMA. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Method of controlling the film thickness of flat films produced in flat film extruder installations

Номер патента: US4426239A. Автор: Hartmut Upmeier. Владелец: Windmoeller and Hoelscher KG. Дата публикации: 1984-01-17.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20040056274A1. Автор: Toshihiro Wakabayashi,Hidekazu Sato. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-03-25.

Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20170229448A1. Автор: Hiroyuki Tanaka. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Silicon carbide semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20240313057A1. Автор: Takeru Suto,Tomoka Suematsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20240243019A1. Автор: Masanori Nakayama,Hiroki Kishimoto,Hiroto Igawa,Yuki Yamakado,Yuichiro Takeshima,Yasutoshi Tsubota. Владелец: Kokusai Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09530891B2. Автор: Chika Tanaka,Masumi SAITOH,Toshinori Numata,Kensuke Ota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Electronic component mounting machine including a film thickness gauge

Номер патента: US09961818B2. Автор: Yoshinori Nagata. Владелец: Fuji Machine Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Film thickness signal processing apparatus, polishing apparatus, film thickness signal processing method, and polishing method

Номер патента: US09555517B2. Автор: Akira Nakamura,Hidetaka Nakao,Taro Takahashi. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Electron emitting device and method of manufacturing the same and display apparatus using the same

Номер патента: WO2003049132A1. Автор: Takashi Yamada,Takamasa Yoshikawa,Kiyohide Ogasawara,Kazuto Sakemura,Nobuyasu Negishi,Takuya Hata,Shingo Iwasaki,Takashi Chuman,Hideo Satoh. Владелец: PIONEER CORPORATION. Дата публикации: 2003-06-12.

Film thickness regulator and manufacturing method thereof, film thickness regulating method and evaporation apparatus

Номер патента: US09930787B2. Автор: Zhongyuan Sun,Xiaohu Li. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Semiconductor storage device and method for manufacturing the same

Номер патента: US12048157B2. Автор: Masaki Noguchi,Tatsunori Isogai,Shunsuke Okada. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Electron emitting device and method of manufacturing the same and display apparatus using the same

Piezoelectric bulk wave device, and method of manufacturing the piezoelectric bulk wave device

Номер патента: US20140175945A1. Автор: Hajime Kando. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-26.

Photovoltaic device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20130240038A1. Автор: Hiroyuki Ueno,Mitsuoki Hishida. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-19.

Film deposition device and manufacturing method

Номер патента: EP4417732A1. Автор: Takahiro Sakatsume. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Piezoelectric bulk wave device, and method of manufacturing the piezoelectric bulk wave device

Номер патента: US09837598B2. Автор: Hajime Kando. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20030160285A1. Автор: Mika Shiiki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-08-28.

Composition for treatment of metal surface, method of surface treatment of metals using it, and film obtained by surface treatment of metals using it

Номер патента: RU2496925C2. Автор: Ресуке КАВАГОСИ,Косеи ЯБЕ. Владелец: Нихон Паркерайзинг Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-10-27.

Semiconductor device and method of manufacturing same

Номер патента: US7977183B2. Автор: Yuki KOIDE. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-07-12.

Semiconductor device and method of manufacturing same

Номер патента: US20110260256A1. Автор: Yuki KOIDE. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-10-27.

Semiconductor device and method of manufacturing same

Номер патента: US8779522B2. Автор: Yuki KOIDE. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2014-07-15.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Therefor

Номер патента: US20070117325A1. Автор: Yuko Ohgishi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-05-24.

Semiconductor device and manufacturing method therefor

Номер патента: US20040238898A1. Автор: Yuko Ohgishi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2004-12-02.

Polishing apparatus, polishing method and method for outputting visualization information of film thickness distribution on substrate

Номер патента: US12083646B2. Автор: Taro Takahashi,Toshiki Miyakawa,Hiroaki Shibue. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Semiconductor element, semiconductor device and methods for manufacturing thereof

Номер патента: US20120238085A1. Автор: Akira Ishikawa. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-20.

Non-volatile semiconductor memory device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20100176439A1. Автор: Yoshiki Yonamoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2010-07-15.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20200258854A1. Автор: Masao Kikuchi,Kaori Sato,Tatsunori YANAGIMOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Vacuum deposition device and method of manufacturing organic EL device

Номер патента: US09496527B2. Автор: Shuhei Kako. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2016-11-15.

Electroluminescence device and method for producing same

Номер патента: US20180261787A1. Автор: Mamoru Ishida,Takashi Ochi,Tetsuya Okamoto,Takeshi Hirase,Tohru Sonoda,Tohru Senoo. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Semiconductor device and fabrication process thereof

Номер патента: US20070066043A1. Автор: Tetsuo Yoshimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-03-22.

Semiconductor device and fabrication process thereof

Номер патента: US20050282386A1. Автор: Tetsuo Yoshimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-12-22.

Method of cleaning an optical film-thickness measuring system

Номер патента: US11919048B2. Автор: Nobuyuki Takahashi,Toru Maruyama,Taichi Yokoyama,Zhongxin WEN. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-03-05.

Ceramic element, method for producing ceramic element, display device, relay device, and capacitor

Номер патента: US20010022487A1. Автор: Nobuo Takahashi,Yukihisa Takeuchi,Toshikatsu Kashiwaya. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2001-09-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240145553A1. Автор: Yasutaka Nakashiba,Tohru Kawai,Makoto Koshimizu. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Film-forming method, manufacturing method of electronic device, and plasma atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US20200013593A1. Автор: Tatsuya Matsumoto,Keisuke Washio,Junichi Shida,Masao Nakata. Владелец: Japan Steel Works Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Electron-emitting device and image display apparatus

Номер патента: EP2120247A3. Автор: Takeo Tsukamoto,Eiji Takeuchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-08-04.

Semiconductor device and manufacturing method for the same

Номер патента: US09461122B2. Автор: Hisashi Saito,Masahiko Kuraguchi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09685462B2. Автор: Kiwamu Sakuma,Daisuke Matsushita,Chika Tanaka,Masumi SAITOH,Kensuke Ota. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Film forming method and film forming apparatus

Номер патента: US20200058504A1. Автор: Hiroyuki Hayashi,Rui KANEMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230317812A1. Автор: Takashi Yoshimura,Motoyoshi KUBOUCHI,Makoto Shimosawa,Misaki Uchida. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Semiconductor device and process for producing the same

Номер патента: US20020105085A1. Автор: Noriyuki Sakuma,Kenji Hinode,Takeshi Furusawa,Daisuke Ryuzaki,Shuntaro Machida,Ryou Yoneyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-08-08.

Semiconductor memory device and method for manufacturing same

Номер патента: US20160268274A1. Автор: Hideaki Aochi,Yoshiaki Fukuzumi,Tomoya Kawai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-15.

Silicon carbide semiconductor device and manufacturing method therefor

Номер патента: US20100258816A1. Автор: Yoshitaka Sugawara,Tomonori Nakamura,Isaho Kamata,Hidekazu Tsuchida,Katsunori Asano,Joji Nakayama,Toshiyuki Miyanagi. Владелец: Kansai Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2010-10-14.

Semiconductor memory device and method for manufacturing same

Номер патента: US09960178B2. Автор: Hideaki Aochi,Yoshiaki Fukuzumi,Tomoya Kawai. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Solid state imaging device and manufacturing method thereof

Номер патента: US6392261B1. Автор: Keisuke Hatano. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-05-21.

Method of depositing a film, recording medium, and film deposition apparatus

Номер патента: US09777369B2. Автор: Hitoshi Kato,Masahiro Murata,Shigehiro Miura,Kentaro Oshimo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Interconnect Structure, Printed Circuit Board, Semiconductor Device, and Manufacturing Method for Interconnect Structure

Номер патента: US20170263560A1. Автор: Naoki HAYASHI,Hiroaki Matsubara,Toshihiro Iwasaki,Tomoshige Chikai. Владелец: J Devices Corp. Дата публикации: 2017-09-14.

Interconnect structure, printed circuit board, semiconductor device, and manufacturing method for interconnect structure

Номер патента: US09922931B2. Автор: Naoki HAYASHI,Hiroaki Matsubara,Toshihiro Iwasaki,Tomoshige Chikai. Владелец: J Devices Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Selective epitaxial growth method and film forming apparatus

Номер патента: US09797067B2. Автор: Daisuke Suzuki,Satoshi Onodera,Akinobu Kakimoto. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Method of measuring characteristics of beams, end device and network device

Номер патента: RU2721787C1. Автор: Хуа СЮЙ,Хай ТАН,Янань ЛИНЬ,Нин ЯН. Владелец: Гуандун Оппо Мобайл Телекоммьюникейшнз Корп., Лтд.. Дата публикации: 2020-05-22.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09793344B2. Автор: Hideaki Ninomiya,Naoya Yoshimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Manufacturing device of display device and manufacturing method of display device

Номер патента: US20240099110A1. Автор: Masaru Takayama,Kaichi Fukuda,Takanobu Takenaka,Hirofumi Mizukoshi. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Method of manufacturing a semiconductor device and designing a mask pattern

Номер патента: US20020197567A1. Автор: Akira Matsumoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-12-26.

Method of manufacturing a semiconductor device and designing a mask pattern

Номер патента: US6815148B2. Автор: Akira Matsumoto. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2004-11-09.

Test pattern group and a method of measuring an insulation film thickness utilizing the same

Номер патента: US5801538A. Автор: Oh Jung Kwon. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 1998-09-01.

Substrate treatment apparatus, method of manufacturing semiconductor device and workpiece substrate

Номер патента: US10804221B2. Автор: Yasuhito Yoshimizu,Fuyuma ITO,Hakuba KITAGAWA. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Thin film photoelectric conversion device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20110061715A1. Автор: Toshiaki Sasaki,Yuko Tawada,Takashi Fujibayashi. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2011-03-17.

Slurry application device and slurry application method

Номер патента: US20170282206A1. Автор: Yushi Harada,Hirokazu Kobayashi. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20050082655A1. Автор: Naoto Kusumoto,Hidekazu Takahashi,Hiroki Adachi,Kazuo Nishi,Yuusuke Sugawara,Daiki Yamada,Yoshikazu Hiura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2005-04-21.

Method of producing semiconductor device and processing conditions setting device

Номер патента: US20030119322A1. Автор: Hideaki Hayakawa,Toshiya Hirai,Yasuaki Yamamichi,Akihisa Sakamoto,Masahiro Makita,Noboru Yokoo. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-06-26.

Method for producing gallium oxide semiconductor film and film formation device

Номер патента: EP4180557A1. Автор: Takenori Watabe. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20230275133A1. Автор: Takuichiro SHITOMI,Manabu Yoshino,Toshihiro Imasaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Multimodal polyethylene composition and film including it

Номер патента: RU2759997C2. Автор: Варахад КЛОМКАМОЛ,Ватчари ЧИВАСРИРУНГРЫАНГ,Саранья ТРАЙСИЛАНУН,Арунсри МАТТАЯН. Владелец: ЭсСиДжи КЕМИКАЛЗ КО., ЛТД.. Дата публикации: 2021-11-22.

Acoustic wave devices, and antenna duplexers, modules, and communication devices using same

Номер патента: WO2016006189A1. Автор: Hiroyuki Nakamura,Hidekazu Nakanishi,Toru Yamaji,Mitsunori Miyanari,Yosuke Hamaoka. Владелец: Skyworks Panasonic Filter Solutions Japan Co., Ltd.. Дата публикации: 2016-01-14.

Semiconductor device and method for fabricating semiconductor device

Номер патента: US20150249156A1. Автор: Hisayo Momose,Tatsuya Ohguro,Tetsu Morooka,Kazuya FUKASE. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-09-03.

Calf Stretcher and Measuring Device

Номер патента: US20230240930A1. Автор: Roger Stroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-03.

An electron beam evaporator with prolonged inter-maintenance periods and greater film thickness monitoring stability

Номер патента: GB201117595D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2011-11-23.

Light-emitting device and electronic apparatus

Номер патента: US09647238B2. Автор: Shinichi Iwata,Ryoichi Nozawa,Akio Fukase,Atsushi Amano,Takeshi Koshihara. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US5929528A. Автор: Masaaki Kinugawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1999-07-27.

Film forming method and film forming apparatus

Номер патента: US20240052483A1. Автор: Junya Suzuki,Yoshihiro Kato,Kazuki Goto,Yuji Otsuki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20190123000A1. Автор: Naoto Ando. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US10811371B2. Автор: Naoto Ando. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-10-20.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20170207183A1. Автор: Naoto Ando. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-07-20.

Method and apparatus for film thickness adjustment

Номер патента: US20090236312A1. Автор: Sergey Mishin. Владелец: Advanced Modular System Inc. Дата публикации: 2009-09-24.

Top emission organic electroluminescent element, organic electroluminescent light emitting device, and electronic device

Номер патента: US20210013439A1. Автор: Emiko Kambe,Takayasu Sado,Yoshiaki Takahashi,Tetsuya Masuda. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-14.

Surface acoustic wave device and electronic device using the same

Номер патента: US20020171513A1. Автор: Koji Fujimoto,Michio Kadota,Takeshi Nakao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-21.

Semiconductor device and imaging device

Номер патента: US20240297196A1. Автор: Yuriko YAMANO. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor memory device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09613979B2. Автор: Toshihiko Iinuma. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Polyethylene composition and film having high stiffness, outstanding sealability and high permeability

Номер патента: WO2020012300A3. Автор: Peter Zoricak,XiaoChuan Wang,Qinyan Wang,Norman AUBEE,Brian Molloy,Lawrence VanAsseldonk. Владелец: NOVA CHEMICALS (INTERNATIONAL) S.A.. Дата публикации: 2020-04-30.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: EP4222291A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2023-08-09.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20190164918A1. Автор: Masanori Shindo. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-30.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11742305B2. Автор: Masanori Shindo. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20210233878A1. Автор: Masanori Shindo. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-29.

Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US11004813B2. Автор: Masanori Shindo. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-11.

System and method for controlling film thickness, and film deposition system and method using same

Номер патента: CA3188407A1. Автор: Andrew Campbell,Paul Clarke,Mike Miller,Erik Smith,Timothy Brenner,Jonathan Boulanger,David PITTS,Craig Reynolds. Владелец: Angstrom Engineering Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US7485918B2. Автор: Yoshio Ozawa,Akihito Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-02-03.

Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and program

Номер патента: EP4060077A2. Автор: Taketoshi Sato,Makoto Sambu,Hideharu Itatani. Владелец: Kokusai Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-21.

Device and method for on-line measurement of wafer grinding force

Номер патента: US11404329B2. Автор: Pei Chen,Fei Qin,Shuai ZHAO,Tong An,Lixiang ZHANG,Yanwei Dai. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2022-08-02.

Device And Method For On-line Measurement Of Wafer Grinding Force

Номер патента: US20210407863A1. Автор: Pei Chen,Fei Qin,Shuai ZHAO,Tong An,Lixiang ZHANG,Yanwei Dai. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2021-12-30.

Organic electroluminescent element, organic electroluminescent display device, and electronic device

Номер патента: US20240349528A1. Автор: Emiko Kambe,Masato Nakamura,Kazuki Nishimura,Yusuke Takahashi,Tasuku Haketa,Tetsuya Masuda,Satomi TASAKI,Keitaro Yamada. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Organic EL device and manufacturing method thereof

Номер патента: US8357997B2. Автор: Hirofumi Kubota. Владелец: Japan Display Central Inc. Дата публикации: 2013-01-22.

Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20210134838A1. Автор: Daisaku Okamoto,Yuji Ibusuki. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: US20220028656A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-01-27.

Film thickness uniformity improvement using edge ring and bias electrode geometry

Номер патента: EP4189723A1. Автор: WEI Liu,JACOB Abraham,Kin Pong Lo,Theresa Kramer Guarini,Malcolm J. Bevan,Vladimir Nagorny,Bernard L. Hwang,Swayambhu Prasad BEHERA. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-06-07.

Epidermal electric potential measuring device, epidermal electric potential measuring method, cosmetic method, and probe

Номер патента: US20190090805A1. Автор: Matsuhiko Nishizawa,Kuniaki Nagamine,Kenshi Yamasaki,Yuina ABE. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2019-03-28.

Web adhesive application device and adhesive application method as well as cardboard sheet manufacturing device

Номер патента: US09833966B2. Автор: Kazuki Mizushima,Toshihide Kato,Kazuhito Ohira. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Printing and Packaging Machinery Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Compound semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09691890B2. Автор: Atsushi Yamada,Norikazu Nakamura,Junji Kotani. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Semiconductor integrated circuit device and its manufacturing method

Номер патента: US20020056907A1. Автор: Shinji Miyano,Osamu Wada,Tomoaki Yabe,Ryo Haga. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-16.

Substrate, electro-optical device, electronic apparatus, method of forming substrate, method of forming electro-optical device, and method of forming electronic apparatus

Номер патента: US7413978B2. Автор: Hideki Tanaka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-08-19.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Method for manufacturing semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US09698569B2. Автор: Isao Watanabe,Satoshi Ae,Tetsuro Okuda,Shoutarou KITAMURA,Suguru Kato. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Film formation apparatus and film formation method

Номер патента: EP3396016A1. Автор: Ryoji Matsuda,Hidetaka Jidai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2018-10-31.

Electronic device and manufacturing method of electronic device

Номер патента: US20180040802A1. Автор: Yoshikazu Akiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-08.

Semiconductor device and method of fabricating semiconductor device using oxidation

Номер патента: US7365362B2. Автор: Kiyotaka Miyano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-04-29.

Semiconductor wafer, semiconductor device, and method for producing semiconductor device

Номер патента: US20200144053A1. Автор: Takashi Kanazawa,Yasuhiro Kimura,Masashi Sakai,Kenichi Hamano,Yoichiro Mitani,Akihito Ohno,Takuma Mizobe. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20050161709A1. Автор: Tsutomu Imai,Tetsuya Miwa,Takayuki Kaida,Seiji Kai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-07-28.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Electronic device and manufacturing method of electronic device

Номер патента: US20150145377A1. Автор: Yoshikazu Akiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-05-28.

Semiconductor device having electrode film in which film thickness of periphery is thinner than film thickness of center

Номер патента: US20090057836A1. Автор: Tadahiro Okazaki. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2009-03-05.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Method of manufacturing electron-emitting device and method of manufacturing image display apparatus

Номер патента: US7850502B2. Автор: Takahiro Sato,Tamaki Kobayashi,Yusuke Miyamoto,Eiji Takeuchi,Takuto Moriguchi,Yuu Nishimura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-12-14.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20060197150A1. Автор: Masato Kijima,Naohiro Ueda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2006-09-07.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Process for electrophoretic film deposition achieving increased film thickness

Номер патента: CA1212352A. Автор: Rene J. Al,John W. Krise, Jr.. Владелец: Dresser Industries Inc. Дата публикации: 1986-10-07.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20050236678A1. Автор: Kazuhiro Eguchi,Akio Kaneko,Katsuyuki Sekine,Motoyuki Sato,Seiji Inumiya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-27.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20090068811A1. Автор: Masato Kijima,Naohiro Ueda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-12.

Semiconductor device and fabrication process thereof

Номер патента: US7161195B2. Автор: Tetsuo Yoshimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-01-09.

Display device and method of manufacturing display device

Номер патента: US20190206975A1. Автор: Masato Hiramatsu. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2019-07-04.

Semiconductor device and transistor

Номер патента: US20090001454A1. Автор: Keizo Kawakita. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2009-01-01.

Semiconductor laminate, semiconductor device, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20230245883A1. Автор: Hiroshi Hashigami. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Vacuum Deposition Device and Method of Manufacturing Organic EL Device

Номер патента: US20150221897A1. Автор: Shuhei Kako. Владелец: Kaneka Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US7871867B2. Автор: Masato Kijima,Naohiro Ueda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2011-01-18.

Imaging device and manufacturing method therefor

Номер патента: US20170062505A1. Автор: Fumitoshi Takahashi. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Animal urinary function measuring device and animal urinary function measuring method

Номер патента: US09877460B2. Автор: Hiroaki Fukuda,Ryoji Mizumachi. Владелец: LSI Medience Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Measurement device and measuring method using simulated uplink fading

Номер патента: US09634778B2. Автор: Ingo Gruber. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-25.

Wafer boat and film formation method

Номер патента: US6156121A. Автор: Kazuhide Hasebe,Kenji Tago,Atsumi Ito. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2000-12-05.

Solid state imaging device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20050200711A1. Автор: Masahiro Oda,Kazuhiro Sasada,Ryu Shimizu. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 2005-09-15.

Perovskite oxide film and ferroelectric film using the same, ferroelectric device, and method for manufacturing perovskite oxide film

Номер патента: US20130234564A1. Автор: Minoru Kurosawa,Mutsuo Ishikawa,Hiroshi Funakubo,Takahisa Shiraishi,Yukio Sakashita,Hiro EINISHI. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2013-09-12.

Perovskite oxide film and ferroelectric film using the same, ferroelectric device, and method for manufacturing perovskite oxide film

Номер патента: US8872413B2. Автор: Minoru Kurosawa,Mutsuo Ishikawa,Hiroshi Funakubo,Takahisa Shiraishi,Yukio Sakashita,Hiro EINISHI. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2014-10-28.

Semiconductor device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20100219499A1. Автор: Masayasu Tanaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2010-09-02.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US20140107438A1. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-04-17.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190175034A1. Автор: Asao Hirano. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Measuring device and measuring method retroactively checking preconditions

Номер патента: US09763125B2. Автор: Jonas Baehr. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-09-12.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US09597020B2. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-03-21.

Measuring device and measuring method for dynamically measuring carrier aggregation signals

Номер патента: US09577772B2. Автор: Stefan Russ,Wolfgang BLEICHNER,Anne STEPHAN. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Transistor manufacturing method, electro-optic device and electronic instrument

Номер патента: US20050020000A1. Автор: Ichio Yudasaka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-01-27.

Film forming method for forming metal film and film forming apparatus for forming metal film

Номер патента: US11718923B2. Автор: Yuki Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20070034974A1. Автор: Ichiro Mizushima,Katsuyuki Sekine,Seiji Inumiya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-02-15.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20070296041A1. Автор: Hiroaki Hazama,Susumu TAMON. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-12-27.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US11081491B2. Автор: Hiraku Chakihara. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2021-08-03.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20180182631A1. Автор: Katsuyoshi Kogure,Kazuyuki Ozeki,Seiji KUMAGAE. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Film-forming method, manufacturing method of electronic device, and plasma atomic layer deposition apparatus

Номер патента: US12009183B2. Автор: Tatsuya Matsumoto,Keisuke Washio,Junichi Shida,Masao Nakata. Владелец: Japan Steel Works Ltd. Дата публикации: 2024-06-11.

Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20210091021A1. Автор: Hiroaki Takahashi. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Measuring device and measuring method for threshold of flicker

Номер патента: US20110157261A1. Автор: Nobuyoshi Harada,Sunao Iwaki. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2011-06-30.

Test-software-supported measuring system and measuring method

Номер патента: US09843493B2. Автор: Ingo Gruber,Uwe Baeder,Holger Jauch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-12-12.

Measuring device and a measuring method for testing mobile-radio relay stations

Номер патента: US09642025B2. Автор: Christina Gessner,Juergen Schlienz. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-02.

Battery with improved cycle characteristics, battery pack, electronic apparatus, electrically driven vehicle, electrical storage device, and power system

Номер патента: CA2894233C. Автор: Tomohiro Abe,Kentaro Takagi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-24.

Film forming method for forming metal film and film forming apparatus for forming metal film

Номер патента: US20220380923A1. Автор: Yuki Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Blood pressure measurement device, electronic device, and blood pressure measurement method

Номер патента: US09737218B2. Автор: Kazuhiro Nishida,Sumio Utsunomiya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Electron emission device and display device using the same

Номер патента: US6147443A. Автор: Hiroshi Ito,Takamasa Yoshikawa,Kiyohide Ogasawara,Nobuyasu Negishi,Shingo Iwasaki,Takashi Chuman. Владелец: Pioneer Electronic Corp. Дата публикации: 2000-11-14.

Display device and method for producing display device

Номер патента: US20210020689A1. Автор: Akira Inoue,Shinji Ichikawa,Yoshihiro Nakada,Koji Tanimura,Shinsuke Saida,Tohru Okabe,Hiroki Taniyama,Ryosuke GUNJI,Hiroharu JINMURA,Yoshihiro Kohara,Kohji Ariga. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

Cardiac potential measuring device and cardiac potential measuring method

Номер патента: US20150374251A1. Автор: Jun Ozawa,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-31.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

A measurement device and a method for recording the positions of teeth

Номер патента: WO2018156038A1. Автор: Adam STACHURA,Blazej SZCZERBANIEWICZ. Владелец: SZCZERBANIEWICZ, Joanna. Дата публикации: 2018-08-30.

Wrist-wearable body composition measuring device and body composition measuring method using the same

Номер патента: US20190231216A1. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Myounghoon JUNG,Kunsun EOM,Yeolho LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-01.

Cardiac potential measuring device and cardiac potential measuring method

Номер патента: US09974456B2. Автор: Jun Ozawa,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Pulse wave velocity measuring device and pulse wave velocity measurement method

Номер патента: US09445731B2. Автор: Osamu Nishimura,Michiko Hara,Takehiko Suzuki,Hideaki Fukuzawa,Yoshihiko Fuji. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Control device for parking display device and method of displaying

Номер патента: RU2468944C2. Автор: Клеменс ГЮНТЕР,Вольфганг КРАУТТЕР,Михаэль ШЕРЛЬ,Маттиас ХАУГ. Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2012-12-10.

Semiconductor device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20090045470A1. Автор: Yoshinobu Kimura,Masao Kondo,Nobuyuki Sugii. Владелец: Nobuyuki Sugii. Дата публикации: 2009-02-19.

Devices for measuring and controlling fluid film thickness of a hydrostatic or hydrodynamic bearing

Номер патента: EP2113055A1. Автор: Johan Larsson,Anna Lind. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2009-11-04.

Film forming apparatus and film forming method

Номер патента: US20100236918A1. Автор: Hiroki Yamamoto,Shinya Nakamura,Tadashi Morita,Naoki Morimoto,Kenichi Imakita,Ayao Nabeya. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2010-09-23.

Signal quality measurement device and signal quality measurement method

Номер патента: US20180287698A1. Автор: Shoichiro Oda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Stop member having panel thickness measuring device for use with positioning conveyor which horizontally aligns panels

Номер патента: US6430837B1. Автор: Wilfried Strothmann. Владелец: Wilfried Strothmann GmbH and Co KG Maschinenbau und Handhabungstechnik. Дата публикации: 2002-08-13.

Measuring device and measuring method for high resolution time synchronization in ofdm systems

Номер патента: WO2014139554A1. Автор: Stefan Schmidt. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2014-09-18.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method using the same

Номер патента: US20180070887A1. Автор: Kwangjin Lee,Jongin Kim,Boreom LEE,Dongrae CHO. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-03-15.

Non-invasive method of measuring physiological parameter using confocal spectroscopic measuring device

Номер патента: RU2712034C2. Автор: Сильвен ЗОРМАН,Пьер-Ив ФРУЕН. Владелец: Биосеренити. Дата публикации: 2020-01-24.

Device and method for reduction of content of hydrogen peroxide and peracetic acid in water flow

Номер патента: RU2579383C2. Автор: Франк Дитер КУН,Вальтер АДАМИ,Хуберт АНГЕРТ,Бернхард КЁНИГ,Штеффен КРЮК,Мартин ЛИТЦЕНМАЙЕР,Эгон ВАЛЬЦЕР,Коринна ШМИДТ,Нобухиро МУРАОКА. Владелец: Катаяма Кемикл, Инк.. Дата публикации: 2016-04-10.

Thickness measuring method and device

Номер патента: EP4344614A1. Автор: Jae Seung Oh,Seon Hwan Choi. Владелец: Huvitz Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Respiratory Measurement Method, Respiratory Measurement Device, and Respiratory Measurement System

Номер патента: US20240237914A1. Автор: Shinji Imai,Koichi Murata,Masafumi Furuta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Device and method for measuring human arterial pressure value

Номер патента: RU2601697C2. Автор: Александр Иванович Кузнецов,Алексей Анатольевич Харин,Александр Николаевич Савицкий,Александр Сергеевич Парфенов,Юрий Павлович Зобнин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ХЕЛФИ-СТИЛЬ". Дата публикации: 2016-11-10.

MIS semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US7001818B2. Автор: Ryuta Tsuchiya,Masatada Horiuchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-02-21.

Cuff of blood pressure measuring device, and blood pressure measuring device provided with such cuff

Номер патента: RU2505265C2. Автор: Йосихиде ОНИСИ,Йосихико САНО,Тисато УЕСАКА,Такахиде ТАНАКА,Хироясу АРИГА. Владелец: Омрон Хэлткэа Ко., Лтд.. Дата публикации: 2014-01-27.

Method of manufacturing a semiconductor device and a semiconductor manufacture system

Номер патента: US20040007185A1. Автор: Atsushi Moriya,Yasuhiro Inokuchi,Yasuo Kunii,Junichi Murota. Владелец: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC. Дата публикации: 2004-01-15.

Method of manufacturing a semiconductor device and a semiconductor manufacture system

Номер патента: US6949474B2. Автор: Atsushi Moriya,Yasuhiro Inokuchi,Yasuo Kunii,Junichi Murota. Владелец: HITACHI KOKUSAI ELECTRIC INC. Дата публикации: 2005-09-27.

Coating device and coating method

Номер патента: US20110165317A1. Автор: Ichiro Shibata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2011-07-07.

Slaughtering device and measuring device as applicable therein

Номер патента: EP1419695B1. Автор: Leo Antonius Bernardus Casper Meinders. Владелец: Foodvision BV. Дата публикации: 2008-04-16.

Device and method for carrying out a welding process

Номер патента: US20240316676A1. Автор: Dominik Söllinger,Peter LATTNER,Daniel Itzenberger. Владелец: FRONIUS INTERNATIONAL GMBH. Дата публикации: 2024-09-26.

Roll press device and control device

Номер патента: US12128466B2. Автор: Yoshihiro Miyoshi,Naoyuki Koide,Fumihiro Terasawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Common-rail system, internal combustion engine and device and method for controlling and/or regulating an internal combustion engine

Номер патента: US09617962B2. Автор: Michael Walder,Robby Gerbeth,Ralf Speetzen,Gerald Fast,Jörg Remele,Manuel Boog. Владелец: MTU Friedrichshafen GmbH. Дата публикации: 2017-04-11.

Blood pressure measurement device to be used on wrist of patient

Номер патента: US09474485B2. Автор: Toshihiko Ogura,Kenji Fujii,Hironori Sato,Tatsuya Kobayashi,Yukiya Sawanoi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2016-10-25.

Device and method of normalizing thermal expansion of a cylinder of a steam turbine

Номер патента: RU2711886C1. Автор: Георг Давидович Авруцкий,Михаил Васильевич Лазарев,Анатолий Евгеньевич Захаров. Владелец: Открытое акционерное общество "Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени теплотехнический научно-исследовательский институт" (ОАО "ВТИ"). Дата публикации: 2020-01-23.

Anti-theft system and method for vehicle with communication device and working equipment

Номер патента: RU2580067C2. Автор: Хайбинь ЯН,Лян ШАНЬ,Ган Сюй,Бинь ХЕ,Цзя ХЭ,Баобао ЛЯН,Канкан ЧЖАН. Владелец: КЕЙТЕРПИЛЛАР ИНК.. Дата публикации: 2016-04-10.

Voltage measurement device at the active AC sectioning post

Номер патента: RU210055U1. Автор: Олег Алексеевич Сидоров,Владислав Леонидович Незевак,Святослав Сергеевич Самолинов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный университет путей сообщения". Дата публикации: 2022-03-25.

Mobile device and system comprising a loudspeaker and an amplifier

Номер патента: US20180091912A1. Автор: Friedrich Reining. Владелец: Sound Solutions International Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-29.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: US20240081709A1. Автор: Kazuhiro Yoshida. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Handling system, control device, and control method

Номер патента: US20240190667A1. Автор: Akihito Ogawa,Yoshifumi Oka,Seiji Tokura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

System and method for predicting the viability of a body tissue in a patient, and measuring device used therein

Номер патента: CA2839838C. Автор: Alexander Arnold Frederik Adriaan VEENHOF,Miguel Angel CUESTA VALENTIN. Владелец: Veenhof Medical Devices BV. Дата публикации: 2021-05-25.

Roll press device and roll press system

Номер патента: EP4353373A1. Автор: Yong Wang,Huan CHE,Yalong QING. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Cadence measurement device and cadence measurement method

Номер патента: US20230047257A1. Автор: Takayuki Ito,Jouichi ITOH. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Vehicle information control device and vehicle information control method

Номер патента: EP3705340A1. Автор: Atsushi Oda,Kazuo TOKUYAMA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-09-09.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4385412A1. Автор: Takanori Ishikawa,Yukinojo KITAKAMI. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-06-19.

System and method for predicting the viability of a body tissue in a patient, and measuring device used therein

Номер патента: EP2729055A1. Автор: Alexander Arnold Frederik Adriaan VEENHOF,Miguel Angel CUESTA VALENTIN. Владелец: Veenhof Medical Devices BV. Дата публикации: 2014-05-14.

Device and method for pulse diagnosis measurement

Номер патента: AU2024201192A1. Автор: Yu-Cheng Kuo. Владелец: Kuo Yu Cheng. Дата публикации: 2024-09-12.

Blood pressure measuring device and electronic device

Номер патента: EP4393384A1. Автор: Lei Zhang,Zhao Zeng,Sulin Yang,Zhongwei Lin,Junye Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Atomizing device and microwave heating assembly

Номер патента: EP4458179A1. Автор: FENG LIANG,Jing Du,Zhiwen Cheng,Guihua BU. Владелец: Shenzhen Merit Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Method for operating a plant having at least one open- and/or closed-loop heating control device, open- and/or closed-loop heating control device, and plant

Номер патента: US09980319B2. Автор: Reinhard Schneider,Bernhard Schmidt,Klaus Indefrey,Christine BACH,Juergen STOLL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-05-22.

Physiological information measurement device and physiological information measurement method

Номер патента: US20240335124A1. Автор: Takahiro Kuroda,Shogo TOTSUKA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Communication method, device and system

Номер патента: RU2546065C2. Автор: Эндрю Пол ДОНАХИ,БЛАНК Девид Виктор Октэйв ЛЕ. Владелец: Фристайл Текнолоджи Пти Лтд. Дата публикации: 2015-04-10.

Device and method for cutting crabs

Номер патента: RU2654626C1. Автор: Роберт Д. КАРИДЖ,Торир ЭЙНАРССОН,Клинтон Р. СМИТ. Владелец: Нордишер Машиненбау Руд. Баадер ГмбХ + Ко. КГ. Дата публикации: 2018-05-21.

Uv stable polyetherester copolymer composition and film therefrom

Номер патента: CA2333462A1. Автор: Pieter Gijsman,Krijn Dijkstra. Владелец: Krijn Dijkstra. Дата публикации: 1999-12-09.

Device and method for processing anode plate for electrolysis

Номер патента: CA2856527C. Автор: Aimin Deng,Xiaoguang SHAO,Zhiyan YU. Владелец: Jiangxi Nerin Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

A timber-working device and method of operation

Номер патента: WO2015084186A3. Автор: Paul Gamble,Francis COLLIER. Владелец: Waratah NZ Limited. Дата публикации: 2015-07-30.

Biological signal measurement device, biological state inference device, and biological state inference system

Номер патента: AU2019364073A1. Автор: Etsunori Fujita,Shigehiko Kaneko,Masahiro Horikawa,Shinichiro Maeda,Yumi Ogura,Masao Yoshizumi,Kanako NAKASHIMA. Владелец: Delta Tooling Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-27.

Ems training device, and method for protecting an ems training device

Номер патента: US20170252559A1. Автор: Hansjürgen Horter,Jürgen DECKER. Владелец: MIHA BODYTEC GMBH. Дата публикации: 2017-09-07.

Device and method for controlling the position for working devices of mobile machines

Номер патента: US20020173900A1. Автор: Michael Brand,Reinhard Vonnoe. Владелец: Brueninghaus Hydromatik GmbH. Дата публикации: 2002-11-21.

HARVESTING DEVICE FOR IoT MEASURING DEVICE

Номер патента: WO2022268282A1. Автор: Golam Reza Wöhlk SADEGHNIA. Владелец: OKTO Acoustics ApS. Дата публикации: 2022-12-29.

Power conversion device and method of controlling power conversion device

Номер патента: US20240006975A1. Автор: Katsumi Ikegaya,Yoichiro Kobayashi. Владелец: Hitachi Astemo Ltd. Дата публикации: 2024-01-04.

Device and method for automatically cleaning the surface of at least one measuring device used in solar installations

Номер патента: US20240291424A1. Автор: Camilo Emmanuel FLORES GARRIDO,Camilo Antonio CONTRERAS HERRERA,Carlos Alberto GARCIA ACEVEDO,Vincent LE COSTAOUEC,Luis Robinson MARABOLÍ CONTARDO. Владелец: Inti Tech SpA. Дата публикации: 2024-08-29.

Ultrasound elasticity measuring devices and elasticity comparative measuring methods

Номер патента: US12089994B2. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Device and method for automatically cleaning the surface of at least one measuring device used in solar installations

Номер патента: EP4404457A1. Автор: Camilo Emmanuel FLORES GARRIDO,Camilo Antonio CONTRERAS HERRERA,Carlos Alberto GARCIA ACEVEDO,Vincent LE COSTAOUEC,Luis Robinson MARABOLÍ CONTARDO. Владелец: Inti Tech SpA. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement method and device, information interchange method and device, and residence method and device

Номер патента: US09967765B2. Автор: BO Lin,Hao Bi,Jie Shi,Yajuan LI,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Safe driving management system, sleep shortage determination device, sleep data measurement device, user identification information input device, control method and storage medium

Номер патента: US09878617B2. Автор: Kei MOCHIZUKI. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Device and method for automatically laterally storing a motor vehicle in a storing device

Номер патента: US09702159B2. Автор: Rupert Koch,Leopold Meirer,Tomas Cary Bellaflor. Владелец: SERVA TRANSPORT SYSTEMS GMBH. Дата публикации: 2017-07-11.

Polishing device and polishing method

Номер патента: US09550269B2. Автор: Yoichi Kobayashi,Keita Yagi,Yoichi Shiokawa. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Measuring device and method for indicating level of fatigue

Номер патента: WO2013140030A1. Автор: Katriina Otsamo,Timo MATALALAMPI. Владелец: Juno Medical LLC. Дата публикации: 2013-09-26.

Biological signal measurement device, biological state inference device, and biological state inference system

Номер патента: EP3871593A1. Автор: Etsunori Fujita,Shigehiko Kaneko,Masahiro Horikawa,Shinichiro Maeda,Yumi Ogura,Masao Yoshizumi,Kanako NAKASHIMA. Владелец: Delta Tooling Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-01.

Biological signal measurement device, biological state inference device, and biological state inference system

Номер патента: US20210378544A1. Автор: Etsunori Fujita,Shigehiko Kaneko,Masahiro Horikawa,Shinichiro Maeda,Yumi Ogura,Masao Yoshizumi,Kanako NAKASHIMA. Владелец: Delta Tooling Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Biological information measurement system, biological information measurement recording medium, and biological information measurement device

Номер патента: US20240081659A1. Автор: Kentaro Mori,Takeshi Kubo,Yasuo Asano,Yoshihide Tokko. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2024-03-14.

Liquid Crystal Display Device And Method Of Manufacturing That

Номер патента: US20120004453A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

A kind of non-conductive medium film thickness on-line measuring device of coplanar capacitance sensor

Номер патента: CN102997834B. Автор: 郑媛,李红民,马玉真. Владелец: Yamin Automatic Instrument Co ltd. Дата публикации: 2016-05-25.

Gas-liquid/oil-gas-water multiphase flow liquid film thickness distributed conductivity measurement method

Номер патента: CN109708564B. Автор: 金宁德,王大阳,翟路生,任英玉. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-11-06.

Measuring device for optical membrane width on production line and measuring method thereof

Номер патента: TW201020508A. Автор: guo-rui Wu,jun-han Wang. Владелец: Chi Mei Materials Technology Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Thickness measurement data management method for nuclear power plant piping, its thickness measurement data management device, and nuclear power plant

Номер патента: JP4438952B2. Автор: 真子森,浩志阪田. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2010-03-24.

Optical fiber electric field distribution nondestructive measuring device and optical fiber electric field distribution nondestructive measuring method

Номер патента: JP6747998B2. Автор: 央高橋,邦弘戸毛,哲也真鍋,真鍋　哲也,友和小田. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2020-08-26.

Image moment sensor, image moment measurement device, image moment sensor calculation method, and image moment measurement method

Номер патента: JP4565122B2. Автор: 正俊石川,孝小室,慎吾鏡. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2010-10-20.

Three-dimensional shape measuring device using optical cutting method, and three-dimensional shape measuring method

Номер патента: JP2007108002A. Автор: Masahiro Moriya,Masatoshi Kawada,正敏川田,雅弘守屋. Владелец: Moritex Corp. Дата публикации: 2007-04-26.

Environmental simulation measuring device of wound covering material of skin, and its measuring method

Номер патента: JP2008089465A. Автор: Makoto Takahashi,Takashi Kamakura,誠高橋,千子稲本,Shigeyuki Inamoto,Kazuko Inamoto,武彦大浦,Takehiko Oura,高志鎌倉,重幸稲本. Владелец: Teikoku Seiyaku Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-17.

Measurement device, inter-facility distance measuring system, inter-facility distance measuring method, and measurement program

Номер патента: JP2023034845A. Автор: Mitsunobu Yoshida,光伸吉田,健一須合,Kenichi Suai. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-03-13.

Air measuring device with rotation speed automatic control function and air measuring method

Номер патента: CN101086475B. Автор: 张伟,武志刚,周慧玲. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-30.

High-accuracy failure wave-recording device and its transmission line combined failure distance-measuring method

Номер патента: CN1367392A. Автор: 董新洲. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2002-09-04.

Twin-lens low-light stereoscopic full views imaging device and its ultra-large vision field distance measuring method

Номер патента: CN108401551B. Автор: 张振海,李科杰. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2015-02-04.

TRANSFLECTIVE TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001188A1. Автор: HAYASHI Masami. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREFOR

Номер патента: US20120001244A1. Автор: Yamazaki Shunpei,KOYAMA Jun,MURAKAMI Satoshi,Tanaka Yukio,KITAKADO Hidehito. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME

Номер патента: US20120001321A1. Автор: IMAMURA Tomomi,Natsuda Tetsuo,Nishijo Yoshinosuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOSENSITIVE COMPOSITION, PATTERN FORMING MATERIAL, AND PHOTOSENSITIVE FILM, PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FILM, LOW REFRACTIVE INDEX FILM, OPTICAL DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING DEVICE EACH USING THE SAME

Номер патента: US20120003436A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Manufacturing Method of Semiconductor Film, Manufacturing Method of Semiconductor Device, and Manufacturing Method of Photoelectric Conversion Device

Номер патента: US20120003787A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro,KATO Erika. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: RU2384826C1. Автор: Акоп Айрапетович Казарян,Василий Васильевич Петроневич,Николай Андреевич Езеев. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2010-03-20.

Номер патента: RU2359220C1. Автор: Валентин Иванович Козинцев,Ольга Алексеевна Смирнова,Михаил Леонидович Белов,Виктор Александрович Городничев,Юрий Викторович Федотов. Владелец: ООО "НИИ Радиоэлектроники и лазерной техники". Дата публикации: 2009-06-20.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

Optical method to measure instantaneous field of transparent film thickness

Номер патента: RU2506537C2. Автор: Владимир Генриевич Меледин,Игорь Владимирович Наумов,Виталий Владиславович Рахманов,Сергей Владимирович Двойнишников,Иван Константинович Кабардин,Иван Алексеевич Елисеев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт теплофизики им. С.С. Кутателадзе Сибирского отделения Российской академии наук (ИТ СО РАН). Дата публикации: 2014-02-10.

CUFF FOR BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120004560A1. Автор: KAWANO Atsushi,SANO Yoshihiko,FUJITA Reiji,Nishioka Takanori,Tanaka Takahide. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Device for non-destructive measurement of dielectric and semiconductor film thickness

Номер патента: RU2411448C1. Автор: Алексей Сергеевич Иванов,Александр Борисович Федорцов,Юрий Валентинович Чуркин,Василий Владимирович Манухов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Северо-западный государственный заочный технический университет (СЗТУ). Дата публикации: 2011-02-10.

Номер патента: RU2562149C2. Автор: Борис Михайлович Петров. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет). Дата публикации: 2015-09-10.

Method of integrating quartz crystal oscillator into synchronisation device and synchronisation device enabling reduction of requirements for said oscillator

Номер патента: RU2382491C1. Автор: Стефан Милчев Панталеев,Каринэ Анастасовна Панталеева. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Леди Эл". Дата публикации: 2010-02-20.

Номер патента: RU2478924C1. Автор: Роберт Андреевич Палазьян,Валерий Юрьевич Рябых,Сергей Юрьевич Теплухин,Борис Иванович Страхов. Владелец: Федеральное казенное предприятие "Научно-испытательный центр ракетно-космической промышленности". Дата публикации: 2013-04-10.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for determining the metrological characteristics of measuring device for speed measuring in terms of video frames

Номер патента: RU2442173C1. Автор: Лев Васильевич Юров,Юрий Леонидович Зарубин,Николай Витальевич Убоженко,Дмитрий Анатольевич Стукалов,Максим Анатольевич Вовк. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Технологии Распознавания". Дата публикации: 2012-02-10.

Substitute currency for gaming, inspection device, and manufacturing method of substitute currency for gaming, and management system for table games

Номер патента: NZ735237A. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-21.

Temperature measuring device

Номер патента: RU2451913C1. Автор: Александр Иванович Фесенко,Константин Александрович Набатов,Игорь Николаевич Ищук,Дмитрий Юрьевич Хохлов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" (ГОУ ВПО "ТГТУ"). Дата публикации: 2012-05-27.

Номер патента: RU2494408C1. Автор: Александр Карпович Балыко,Александр Николаевич Королев,Виталий Юрьевич Мякиньков,Елена Олеговна Сафонова,Елена Васильевна Бувайлик. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Исток" (ФГУП НПП "Исток"). Дата публикации: 2013-09-27.

Human height and weight measuring device with measurement of the feet size, footprint shape and feet arches lowering

Номер патента: RS20090531A. Автор: Velimir Grujicic. Владелец: Velimir Grujicic. Дата публикации: 2011-08-31.

FILM THICKNESS MEASURING DEVICE AND FILM THICKNESS MEASURING METHOD

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты