열화상 이미지의 태양광 모듈 단위 데이터 학습을 통한 딥러닝 기반 결함 검출 시스템 및 방법
Номер патента: KR20220055082A
Опубликовано: 03-05-2022
Автор(ы): 곽희규, 허철균
Принадлежит: (주)메타파스
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-05-2022
Автор(ы): 곽희규, 허철균
Принадлежит: (주)메타파스
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
METHOD FOR ASSESSING AESTHETIC QUALITY OF NATURAL IMAGE BASED ON MULTI-TASK DEEP LEARNING
Номер патента: US20190026884A1. Автор: Tan Tieniu,Huang Kaiqi,KAO Yueying,He Ran. Владелец: Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences. Дата публикации: 2019-01-24.