Apparatus and method for testing electric conductivity of circuit path ways on circuit board
Номер патента: US6316949B1
Опубликовано: 13-11-2001
Автор(ы): Munehiro Yamashita
Принадлежит: Nidec Read Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 13-11-2001
Автор(ы): Munehiro Yamashita
Принадлежит: Nidec Read Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Probe card for semiconductor wafers and method and system for testing wafers
Номер патента: US6060891A. Автор: Salman Akram,David R. Hembree,Alan G. Wood,Warren M. Farnworth,C. Patrick Doherty,Andrew J. Krivy. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-05-09.