Systems and Methods for Short Media Defect Detection Using Multi-Iteration Soft Data Feedback
Номер патента: US20140115407A1
Опубликовано: 24-04-2014
Автор(ы): Fan Zhang, Shaohua Yang, Weijun Tan, Wu Chang
Принадлежит: LSI Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 24-04-2014
Автор(ы): Fan Zhang, Shaohua Yang, Weijun Tan, Wu Chang
Принадлежит: LSI Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Systems and Methods for Short Media Defect Detection Using Multi-Iteration Soft Data Feedback
Номер патента: US20140115407A1. Автор: Wu Chang,Fan Zhang,Weijun Tan,Shaohua Yang. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2014-04-24.