Diffractometry-Based Analysis Method And Associated Diffractometer, Particularly Suitable For Samples Comprising Multiple Layers Of Materials
Номер патента: US20160033427A1
Опубликовано: 04-02-2016
Автор(ы): Ghammraoui Bahaa, PAULUS Caroline, TABARY Joachim
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-02-2016
Автор(ы): Ghammraoui Bahaa, PAULUS Caroline, TABARY Joachim
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Diffractometry-based analysis method and associated diffractometer, particularly suitable for samples comprising multiple layers of materials
Номер патента: US09599580B2. Автор: Joachim Tabary,Caroline Paulus,Bahaa Ghammraoui. Владелец: Mozido Inc. Дата публикации: 2017-03-21.