Method and apparatus for estimating a fragment count for the display of at least one three-dimensional object
Номер патента: WO2014108733A1
Опубликовано: 17-07-2014
Автор(ы): Laurent EMMERICH, Robert Krutsch
Принадлежит: Freescale Semiconductor, Inc.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 17-07-2014
Автор(ы): Laurent EMMERICH, Robert Krutsch
Принадлежит: Freescale Semiconductor, Inc.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and apparatus for estimating a fragment count for the display of at least one three-dimensional object
Номер патента: US09823889B2. Автор: Robert Krutsch,Laurent EMMERICH. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-11-21.