Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Methods for inspection sampling on full patterned wafer using multiple scanning electron beam column array

Methods for inspection sampling on full patterned wafer using multiple scanning electron beam column array

Номер патента: US10395958B2
Опубликовано: 27-08-2019
Автор(ы): Weiwei Xu
Принадлежит: Weiwei Xu
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method and apparatus for inspection of scattered hot spot areas on a manufactured substrate

Номер патента: US20120145894A1. Автор: Kini Vivekanand,Sean X. WU. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2012-06-14.

Scanning electron beam device with focus adjustment based on acceleration voltage and dimension measurement method using same

Номер патента: US09644955B2. Автор: Hajime Kawano,Muneyuki Fukuda,Naomasa Suzuki,Yasunari Sohda,Tasuku Yano,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Scanning electron microscope system, pattern measurement method using same, and scanning electron microscope

Номер патента: US09852881B2. Автор: Shinya Yamada,Maki Tanaka,Takuma Yamamoto,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Test structure for electron beam inspection and method for defect determination using electron beam inspection

Номер патента: US09711326B1. Автор: Shih-Cheng Chen,Chung-Chih Hung,Yung-Teng Tsai,Kuan-Chun Lin,Chih-Chieh Chou,Chi-Hung Chan. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Multi-electron beam inspection apparatus and adjustment method for the same

Номер патента: US20230080062A1. Автор: Koichi Ishii,Kazuhiko Inoue,Toshikatsu Akiba,Shohei Mikami. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Arrangement and method for controlling the displacements of a wafer or like sample in electronic apparatus

Номер патента: GB1275577A. Автор: . Владелец: Compagnie Francaise Thomson Houston SA. Дата публикации: 1972-05-24.

Method for studying a zone of an object so as to determine a mass-thickness and a composition thereof by using an electron beam and measurements of x-ray radiation intensity

Номер патента: US20160169668A1. Автор: Eric Robin. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2016-06-16.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: US20240234085A9. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: WO2024091829A1. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2024-05-02.

Scanning electron microscope and calculation method for three-dimensional structure depth

Номер патента: US20200234916A1. Автор: Makoto Suzuki,Kenji Yasui,Toshiyuki Yokosuka,Yusuke Abe,Daisuke Bizen,Mayuka Osaki,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Method and systems for balancing charges on a surface of an object comprising integrated circuit patterns in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024184078A2. Автор: Thomas Korb. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Reference sample with inclined support base, method for evaluating scanning electron microscope, and method for evaluating sic substrate

Номер патента: US20200279716A1. Автор: Tadaaki Kaneko,Koji Ashida. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-09-03.

Enabling scanning electron microscope imaging while preventing sample damage on sensitive layers used in semiconductor manufacturing processes

Номер патента: US20210407834A1. Автор: Hari Pathangi Sriraman. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Enabling scanning electron microscope imaging while preventing sample damage on sensitive layers used in semiconductor manufacturing processes

Номер патента: WO2021262913A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-12-30.

Multi-electron-beam imaging apparatus with improved performance

Номер патента: US20200090899A1. Автор: Gerard Nicolaas Anne Van Veen,Peter Christiaan Tiemeijer,Erik Rene Kieft,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-03-19.

System and method for high throughput defect inspection in a charged particle system

Номер патента: EP4118675A1. Автор: Long Ma,Zhonghua Dong,Te-Yu Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-18.

Method for imaging with a scanning electron microscope and scanning electron microscope for carrying out the method

Номер патента: US20240290574A1. Автор: Daniel Fischer,Bernd Schindler,Andreas Schmaunz. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for processing semiconductor wafers

Номер патента: US12131924B2. Автор: Peng Chen,Houde Zhou,Liquan Cai. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Method for processing semiconductor wafers

Номер патента: US20220157627A1. Автор: Peng Chen,Houde Zhou,Liquan Cai. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

METHOD FOR STUDYING A ZONE OF AN OBJECT SO AS TO DETERMINE A MASS-THICKNESS AND A COMPOSITION THEREOF BY USING AN ELECTRON BEAM AND MEASUREMENTS OF X-RAY RADIATION INTENSITY

Номер патента: US20160169668A1. Автор: Robin Eric. Владелец: Commissariat A L'Energie Atomique Et Aux Energies Alternatives. Дата публикации: 2016-06-16.

Sample Inspection Apparatus, Inspection System, Thin Piece Sample Fabrication Apparatus, and Method for Inspecting Sample

Номер патента: US20240128047A1. Автор: Norio Sato,Masahiro Yoshida,Junichi Fuse,Hirotsugu KAJIYAMA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20150243475A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US09431213B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

System and method for electromagnetic interference shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US8952330B2. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-02-10.

System and method for electromagnetic interferece shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US20130001419A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-03.

System And Method For Electromagnetic Interference Shielding For Critical Dimension-Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140124667A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Enhanced defect detection in electron beam inspection and review

Номер патента: US09449788B2. Автор: HONG Xiao,Kumar Raja GUVINDAN RAJU,Wade Lenn Jensen,Lorraine Ellen Young,Gary G. FAN. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Method and apparatus for inspection

Номер патента: US11875966B2. Автор: Johannes Catharinus Hubertus Mulkens,Coen Adrianus Verschuren,Bernardo Kastrup,Tamara DRUZHININA,Marinus Aart Van Den Brink,Jozef Petrus Henricus Benschop,Erwin Paul SMAKMAN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-16.

Method and apparatus for inspection

Номер патента: US20240186107A1. Автор: Johannes Catharinus Hubertus Mulkens,Coen Adrianus Verschuren,Bernardo Kastrup,Tamara DRUZHININA,Marinus Aart Van Den Brink,Jozef Petrus Henricus Benschop,Erwin Paul SMAKMAN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-06.

Method for inspecting and measuring sample and scanning electron microscope

Номер патента: US7960696B2. Автор: Takahiro Sato,Akira Ikegami,Satoru Iwama,Makoto Ezumi,Junichi Kakuta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-14.

Method for inspecting and measuring sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20140001359A1. Автор: Takahiro Sato,Akira Ikegami,Satoru Iwama,Makoto Ezumi,Junichi Kakuta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-02.

Patterned substrate imaging using multiple electron beams

Номер патента: WO2018160688A1. Автор: Tao Feng,YAN Zhao,Weiqiang SUN. Владелец: Dongfang Jingyuan Electron Limited. Дата публикации: 2018-09-07.

Method for inspecting and measuring sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20090084954A1. Автор: Takahiro Sato,Akira Ikegami,Satoru Iwama,Makoto Ezumi,Junichi Kakuta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Patterned substrate imaging using multiple electron beams

Номер патента: EP3590127A1. Автор: Tao Feng,YAN Zhao,Weiqiang SUN. Владелец: Dongfang Jingyuan Electron Ltd. Дата публикации: 2020-01-08.

System and method for drift compensation on an electron beam based characterization tool

Номер патента: WO2017165308A1. Автор: Christopher Sears,Frank Laske. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2017-09-28.

System and method for drift compensation on an electron beam based characterization tool

Номер патента: US09892885B2. Автор: Christopher Sears,Frank Laske. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Sample supporting member for observing scanning electron microscopic image and method for observing scanning electron microscopic image

Номер патента: US09589765B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-03-07.

Method and System for Inspecting an EUV Mask

Номер патента: US20150325402A1. Автор: Chiyan Kuan,Chung-Shih Pan,Guochong Weng,Youjin Wang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-11-12.

Method and system for adaptively scanning a sample during electron beam inspection

Номер патента: US09734987B2. Автор: HONG Xiao,Vivekanand Kini,David Chen,Gary Fan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Method for analyzing and/or processing an object as well as a particle beam device for carrying out the method

Номер патента: US09558911B2. Автор: Lorenz Lechner,Josef Biberger,Ralph Pulwey,Michal Postolski,Marcin Janaszewski. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2017-01-31.

Spin-polarized scanning electron microscope

Номер патента: US20240249911A1. Автор: Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Makoto Kuwahara,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Tilt-imaging scanning electron microscope

Номер патента: WO2014085406A1. Автор: Ichiro Honjo,Christopher Sears,Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Particle beam apparatus and method for operating a particle beam apparatus

Номер патента: US09947504B2. Автор: Dirk Preikszas,Michel Aliman,Michael Schnell,Edgar Fichter,Christian Hendrich,Momme MOMMSEN,Klaus Hegele,Kai Schubert. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2018-04-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20230109853A1. Автор: Daisuke Kubota,Naoya Saitoh. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-10-05.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A3. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-02-01.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: US12106933B2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for analyzing an object and a charged particle beam device for carrying out this method

Номер патента: US09905394B1. Автор: Lorenz Lechner,Sreenivas Bhattiprolu. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2018-02-27.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: US09601303B2. Автор: Jürgen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-03-21.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US09557253B2. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2017-01-31.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09536703B2. Автор: Hideo Morishita,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Wafer inspecting method, wafer inspecting instrument, and electron beam apparatus

Номер патента: EP1273907A1. Автор: Toshifumi Kimba,Kenji Watanabe,Tsutomu Karimata,Muneki Hamashima,Mamoru Nakasuji,Masahiro Hatakeyama,Mutsumi Saito,Nobuharu Noji,Tohru Satake,Hirosi Sobukawa,Shoji Yoshikawa,Shin Oowada. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2003-01-08.

Scanning electron microscope apparatus and operation method thereof

Номер патента: US20210066034A1. Автор: Taeyong Lee,Sangkyo Lim,Yongmin CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20140117232A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2014-05-01.

Enhanced defect detection in electron beam inspection and review

Номер патента: WO2015048473A1. Автор: HONG Xiao,Lorraine Young,Kumar Raja GUVINDAN RAJU,Gary Fan,Wade Jensen. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-04-02.

Apparatus and method for fabricating semiconductor device by using focused ion beam and scanning electron microscope supported by electron diffraction pattern

Номер патента: US20240203688A1. Автор: Kunsu KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Method and system for inspecting an EUV mask

Номер патента: US9485846B2. Автор: Chiyan Kuan,Chung-Shih Pan,Guochong Weng,Youjin Wang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Method for operating a plurality of fib-sem systems

Номер патента: US20200027696A1. Автор: Josef Biberger,Ralph Pulwey. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2020-01-23.

Sensor module for scanning electron microscopy applications

Номер патента: US20210066035A1. Автор: Marcel Trimpl. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20220415609A1. Автор: Takumi UEZONO,Tadanobu Toba,Hironori Itabashi,Masato Kamio. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Electron beam inspection apparatus and electron beam inspection method

Номер патента: US10712295B2. Автор: Hideaki Hashimoto,Ryoichi Hirano,Hideo Tsuchiya,Riki Ogawa,Masataka Shiratsuchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-07-14.

Electron beam application device and method for creating detection data in electron beam application device

Номер патента: EP4421842A1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Detection module, inspection system and a method for obtaining multiple sensing results

Номер патента: US09852880B2. Автор: Tal Kuzniz. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Electron beam apparatus

Номер патента: US20140361168A1. Автор: MITSUHIRO Togashi,TAKASHI Ogawa,YASUTSUGU Usami. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-12-11.

Scanning Electron Microscope and Three-Dimensional Shape Measuring Device That Used It

Номер патента: US20080283747A1. Автор: Yoshinobu Hoshino,Shigeru Kawamata,Asako Kaneko. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Systems and methods for hybrid enhancement of scanning electron microscope images

Номер патента: US20230260085A1. Автор: Umesh Adiga. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-17.

Method for structuring an object and associated particle beam system

Номер патента: US09960012B2. Автор: Roland Salzer,Josef Biberger. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2018-05-01.

Sample holder for scanning electron microscope, scanning electron microscope image observation system, and scanning electron microscope image observation method

Номер патента: US09552959B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-01-24.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908657B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Observation method employing scanning electron microscope, and sample holder for same

Номер патента: EP4167266A1. Автор: Seiji Yamaguchi,Hiroaki Takadama,Seine Shintani. Владелец: CHUBU UNIVERSITY EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2023-04-19.

Method of quantitative three-dimensional reconstruction of a sample surface in a scanning- electron microscope

Номер патента: RU2657000C1. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2018-06-08.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: WO2016013930A1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-01-28.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: US20030205669A1. Автор: David Walker,David Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-11-06.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: WO1999023684A9. Автор: David J Walker,David A Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 1999-08-12.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: WO1999023684A1. Автор: David J. Walker,David A. Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 1999-05-14.

Apparatus and method for secondary electron emission microscope

Номер патента: EP1029340A1. Автор: David J. Walker,David A. Adler,Fred Babian,Travis Wolfe. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2000-08-23.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: WO2023150026A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-08-10.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: EP4377682A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Apparatus and method for nanoscale x-ray imaging

Номер патента: US20210151288A1. Автор: Akintunde I. Akinwande,Rajiv Gupta,Richard C. Lanza,George Barbastathis,Berthold Klaus Paul Horn. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2021-05-20.

Scanning Electron Microscope Optical Condition Setting Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20120318977A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-12-20.

Autofocus method for a scanning electron microscope

Номер патента: US20210027979A1. Автор: Daisuke Kubota. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

System and method for use in electron microscopy

Номер патента: WO2016181385A1. Автор: Gal HARARI,Ido KAMINER,Mordechay Segev,Maor MUTZAFI. Владелец: TECHNION RESEARCH & DEVELOPMENT FOUNDATION LIMITED. Дата публикации: 2016-11-17.

System and method for use in electron microscopy

Номер патента: US20180294136A1. Автор: Gal HARARI,Ido KAMINER,Mordechay Segev,Maor MUTZAFI. Владелец: Technion Research and Development Foundation Ltd. Дата публикации: 2018-10-11.

Electron beam device, cold field emitter, and method for regeneration of a cold field emitter

Номер патента: US09847208B1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-12-19.

Systems, devices, and methods for aligning a particle beam and performing a non-contact electrical measurement on a cell and/or non-contact electrical measurement cell vehicle using a registration cell

Номер патента: US20220336187A1. Автор: Stephen Lam,Indranil De,Jeremy Cheng,Yoram Schwarz,Thomas SOKOLLIK,Xumin SHEN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-20.

Systems, devices, and methods for aligning a particle beam and performing a non-contact electrical measurement on a cell and/or non-contact electrical measurement cell vehicle using a registration cell

Номер патента: US20230282444A1. Автор: Stephen Lam,Indranil De,Jeremy Cheng,Yoram Schwarz,Thomas SOKOLLIK,Xumin SHEN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2023-09-07.

Systems, devices, and methods for aligning a particle beam and performing a non-contact electrical measurement on a cell and/or non-contact electrical measurement cell vehicle using a registration cell

Номер патента: US20210098229A1. Автор: Stephen Lam,Indranil De,Jeremy Cheng,Yoram Schwarz,Thomas SOKOLLIK,Xumin SHEN. Владелец: PDF Solutions, Inc.. Дата публикации: 2021-04-01.

Systems, devices, and methods for aligning a particle beam and performing a non-contact electrical measurement on a cell and/or non-contact electrical measurement cell vehicle using a registration cell

Номер патента: US20240304414A1. Автор: Stephen Lam,Indranil De,Jeremy Cheng,Yoram Schwarz,Thomas SOKOLLIK,Xumin SHEN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Systems, devices, and methods for aligning a particle beam and performing a non-contact electrical measurement on a cell and/or non-contact electrical measurement cell vehicle using a registration cell

Номер патента: US12020897B2. Автор: Stephen Lam,Indranil De,Jeremy Cheng,Yoram Schwarz,Thomas SOKOLLIK,Xumin SHEN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: US20230245933A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Cross sectional depth composition generation utilizing scanning electron microscopy

Номер патента: US09928991B2. Автор: Sarah K. Czaplewski,Eric J. Campbell. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Cross sectional depth composition generation utilizing scanning electron microscopy

Номер патента: US09928990B2. Автор: Sarah K. Czaplewski,Eric J. Campbell. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Cross sectional depth composition generation utilizing scanning electron microscopy

Номер патента: US09625398B1. Автор: Sarah K. Czaplewski,Eric J. Campbell. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

System and method for fully integrated microcrystal electron diffraction (microed)

Номер патента: EP4331001A1. Автор: Tamir Gonen. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2024-03-06.

System and method for fully integrated microcrystal electron diffraction (microed)

Номер патента: WO2022231862A1. Автор: Tamir Gonen. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2022-11-03.

Apparatus and method for analysing a sample by means of electrically charged particles

Номер патента: AU2022402277A1. Автор: Johannes Hartgers,Steve Jackson DJEMPE. Владелец: INTEGRATED DYNAMICS ENGINEERING GMBH. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and system for inspecting and grounding an EUV mask

Номер патента: US09859089B2. Автор: Chiyan Kuan,Chung-Shih Pan,Guochong Weng,Youjin Wang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Micro-chamber for inspecting sample material

Номер патента: US09741529B2. Автор: Gerard Nicolaas Anne Van Veen,Pleun Dona,Luigi Mele. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR20130135541A. Автор: 박태훈,박필화. Владелец: (주)오로스 테크놀로지. Дата публикации: 2013-12-11.

Method for creating detection data in electron beam application device, method for synthesizing image of object being irradiated, program, recording medium, and electron beam application device

Номер патента: EP4401109A1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Scanning electron microscope and map display method for absorption edge structure

Номер патента: EP4148422A1. Автор: Hideyuki Takahashi,Takaomi Yokoyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-15.

Emitter for an electron beam, electron beam device and method for producing and operating an electron emitter

Номер патента: US09633815B1. Автор: Pavel Adamec,Harry Kleinschmidt. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-04-25.

Structure electron beam inspection system for inspecting extreme ultraviolet mask and structure for discharging extreme ultraviolet mask

Номер патента: US09572237B2. Автор: You-Jin Wang,Chiyan Kuan,Chung-Shih Pan. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20020185599A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Collection of secondary electrons through the objective lens of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1305816A2. Автор: Robert L. Gerlach,Karel D. van der Mast,Michael R. Scheinfein. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2003-05-02.

Method for fabricating a semiconductor device and apparatus for inspecting a semiconductor

Номер патента: WO2005086211A1. Автор: Yasunobu Tagusa. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2005-09-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20210391142A1. Автор: Wei He,Sha Liu. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150014531A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Hideyuki Kazumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-01-15.

Multi-column scanning electron microscopy system

Номер патента: WO2018226770A1. Автор: Christopher Sears,Robert Haynes,Mehran Nasser-Ghodsi,Tomas Plettner,John Gerling,Aron Welk,Felipe Fuks. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-12-13.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: EP4154291A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-03-29.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: WO2021233584A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2021-11-25.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090057555A1. Автор: Kuo-Hsing Teng,Yang-Kuao Kuo. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Energy dispersive X-ray analyzer and method for energy dispersive X-ray analysis

Номер патента: US9349572B2. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Method for operating a multi-beam particle beam microscope

Номер патента: US20240312759A1. Автор: Dirk Zeidler,Gregor Dellemann,Gunther Scheunert. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-09-19.

Height sensing system for electron beam metrology tool

Номер патента: US20240355579A1. Автор: Peter Lin,Yeishin Tung,Chengping Zhang,Mi ZHANG,Sameet SHRIYAN. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Method for operating a multi-beam particle beam microscope

Номер патента: US12094683B2. Автор: Dirk Zeidler,Gregor Dellemann,Gunther Scheunert. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-09-17.

Height sensing system for electron beam metrology tool

Номер патента: WO2024226248A1. Автор: Peter Lin,Yeishin Tung,Chengping Zhang,Mi ZHANG,Sameet SHRIYAN. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-10-31.

Apparatus and method for correcting arrayed astigmatism in a multi-column scanning electron microscopy system

Номер патента: EP3510623A1. Автор: Alan Brodie. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-07-17.

Apparatus and method for inspecting wafer carriers

Номер патента: US20190067057A1. Автор: Hsu-Shui Liu,Jiun-Rong Pai,Cheng-Kang Hu,Sheng-Hsiang CHUANG,Shau-Wen Kuo. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: US20190096630A1. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2019-03-28.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: WO2016076718A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-05-19.

Apparatus and methods for high-resolution electron beam imaging

Номер патента: US20130256530A1. Автор: Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Method and apparatus for controlling an electron beam with a phase modulator driven by analog multiplexing

Номер патента: WO2023222733A1. Автор: Vincenzo Grillo,Enzo ROTUNNO,Alberto RONCAGLIA,Luca BELSITO. Владелец: CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE. Дата публикации: 2023-11-23.

Arrangement and method for detecting a measured value on the basis of electron holography

Номер патента: US12038720B2. Автор: Michael Lehmann,Tore NIERMANN,Tolga WAGNER. Владелец: TECHNISCHE UNIVERSITAET BERLIN. Дата публикации: 2024-07-16.

System and method for electron cryomicroscopy

Номер патента: US20230135352A1. Автор: Richard Henderson,Christopher J. Russo,Katerina NAYDENOVA,Greg MCMULLAN,Mathew J. PEET. Владелец: United Kingdom Research and Innovation. Дата публикации: 2023-05-04.

Electron gun, electron beam application device, and method for forming multi-electron beam

Номер патента: EP4432328A1. Автор: Hokuto Iijima. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

System and method for electron cryomicroscopy

Номер патента: EP4042465A1. Автор: Richard Henderson,Christopher J Russo,Katerina NAYDENOVA,Greg MCMULLAN,Mathew J PEET. Владелец: United Kingdom Research and Innovation. Дата публикации: 2022-08-17.

System and method for electron cryomicroscopy

Номер патента: WO2021069728A1. Автор: Richard Henderson,Christopher J Russo,Katerina NAYDENOVA,Greg MCMULLAN,Mathew J PEET. Владелец: United Kingdom Research and Innovation. Дата публикации: 2021-04-15.

Method for inspecting a specimen and charged particle multi-beam device

Номер патента: US09922796B1. Автор: Jürgen Frosien,Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Electron beam microscope with improved imaging gas and method of use

Номер патента: US09633816B2. Автор: John Scott,Milos Toth,Toby Shanley. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-25.

Apparatus and method for inspecting a surface of a sample

Номер патента: US09449789B2. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-09-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09305745B2. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-04-05.

System and method for multi-beam electron microscopy using a detector array

Номер патента: US20240194440A1. Автор: Xinrong Jiang,Amir Azordegan,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

System and method for multi-beam electron microscopy using a detector array

Номер патента: WO2024123645A1. Автор: Xinrong Jiang,Amir Azordegan,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-06-13.

Scanning Electron Microscope and Objective Lens

Номер патента: US20230014270A1. Автор: Motohiro Nakamura,Takeyuki Kobayashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Apparatus and Method for Modifying Physical Properties of Nanostructure Using Focused Electron Beam, and Nano-Barcode and Serial-Junction Nanowire Fabricated Thereby

Номер патента: US20110282021A1. Автор: Young Ki Hong,Dong Hyuk Park,Min Ho KOO,Jinsoo Joo,Seong Gi JO. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2011-11-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09472376B2. Автор: Hiroshi Makino,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Toshiyuki Yokosuka,Yoshinori Momonoi,Miki Isawa,Chahn Lee,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Electron beam dose control for scanning electron microscopy and critical dimension measurement instruments

Номер патента: US5869833A. Автор: Neil Richardson,Stefano E. Concina,David L. Adler,Farid Askary,Kevin M. Monahan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 1999-02-09.

Electron microscope for inspecting and processing of an object with miniaturized structures and method thereof

Номер патента: EP1903596A3. Автор: Johannes Bihr,Tobias Clauss,Michael Budach,Friedhelm Dr. Panteleit. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2011-01-05.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20110139981A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US8487251B2. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-16.

Structure electron beam inspection system for inspecting extreme ultraviolet mask and structure for discharging extreme ultraviolet mask

Номер патента: US20150305131A1. Автор: You-Jin Wang,Chiyan Kuan,Chung-Shih Pan. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-10-22.

Method for electrically examining electronic components of an integrated circuit

Номер патента: US12007408B2. Автор: Bert Voigtlaender,Vasily CHEPERANOV. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-06-11.

Apparatus and method for inspecting a surface of a sample

Номер патента: EP2864997A1. Автор: Pieter Kruit,Yan Ren,Ali Mohammadi Gheidari. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2015-04-29.

Autofocus Method for Scanning Charged-Particle Beam Instrument

Номер патента: US20080283766A1. Автор: Masayuki Inokuchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-11-20.

Apparatus and method for inspecting a surface of a sample

Номер патента: US09697985B2. Автор: Pieter Kruit,Yan Ren,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2017-07-04.

Electron multiplier for scanning electron mircroscopes

Номер патента: US5717206A. Автор: Hiroyuki Watanabe,Hideyuki Suzuki,Masahiko Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1998-02-10.

Apparatus and methods for secondary electron emission microscopy with dual beam

Номер патента: EP1183707A1. Автор: David Adler,Lee Veneklasen. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2002-03-06.

Multiple-beam system for high-speed electron-beam inspection

Номер патента: WO2012128967A3. Автор: Xinrong Jiang,Liqun Han,John D. Greene. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-13.

Electron Beam System and Method of Operating the Same

Номер патента: US20080087821A1. Автор: Norihisa Mori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-04-17.

Apparatus and method for large-scale high throughput quantitative characterization and three-dimensional reconstruction of material structure

Номер патента: US20200294760A1. Автор: XING Yu,Lei Zhao,Haizhou Wang,Dongling LI,Xuejing Shen,Weihao WAN,Yuhua LU,Yunhai JIA,Xiaojia Li,Jianqiu LUO. Владелец: NCS TESTING TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-17.

Method for soil treatment

Номер патента: US09539455B2. Автор: Thomas HOELEN,Cesar Ovalles,Deyuan Kong. Владелец: Chevron USA Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Scanning electron microscope and method for dimension measuring by using the same

Номер патента: US5594245A. Автор: Satoru Yamada,Fumio Mizuno,Tadashi Otaka,Katsuhiro Kuroda,Hideo Todokoro,Tokuo Kure,Sadao Terakado,Kenji Takamoto,Ken Ninomiya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1997-01-14.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908658B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US8274048B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-25.

Electron beam apparatus

Номер патента: US11784022B2. Автор: Yoichi Ose,Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Tsunenori Nomaguchi,Tatsuro Ide. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Electron beam processing with condensed ice

Номер патента: WO2012099635A3. Автор: Jene A. Golovchenko,Daniel Branton,Anpan Han. Владелец: President and Fellows of Harvard College. Дата публикации: 2012-12-27.

Carrier, method for coating a carrier, and method for the simultaneous double-side material-removing machining of semiconductor wafers

Номер патента: SG152121A1. Автор: Georg Pietsch,Michael Kerstan. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2009-05-29.

Method for inspecting semiconductor circuit pattern

Номер патента: WO2001067508A1. Автор: Young Il Jang,Willy Eom. Владелец: Sambon Tlg Co., Ltd.. Дата публикации: 2001-09-13.

Adjustment method and electron beam device

Номер патента: US20210012997A1. Автор: Tatsuya Kohama,Kenji Watanabe,Takehide Hayashi,Tsutomu Karimata,Ryo Tajima. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1678734A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-07-12.

Fine alignment system for electron beam exposure system

Номер патента: US20180033593A1. Автор: Yan A. Borodovsky. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Fine alignment system for electron beam exposure system

Номер патента: EP3286778A1. Автор: Yan A. Borodovsky. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-02-28.

Evaluation method, correction method, recording medium and electron beam lithography system

Номер патента: US20180269028A1. Автор: Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-09-20.

Evaluation method, correction method, recording medium and electron beam lithography system

Номер патента: US20170154755A1. Автор: Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-01.

Miniature hybrid electron beam column

Номер патента: EP4427256A1. Автор: James Spallas,Lawrence Muray,Alan Brodie,John Gerling. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Evaluation method, correction method, recording medium and electron beam lithography system

Номер патента: US09997329B2. Автор: Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Scanning electron beam device

Номер патента: US5422486A. Автор: Jürgen Frosien,Stefan Lanio,Steffen Beck,Karl H. Herrmann,Hans P. Feuerbaum,Andreas Benez,Gerold Schonecker. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 1995-06-06.

Apparatus and method for performing microdiffraction analysis

Номер патента: US8890065B2. Автор: Angus Bewick,Peter J. Statham. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2014-11-18.

Method for evaluating thermionic electron emitter in situ

Номер патента: US20240290594A1. Автор: Victor Katsap. Владелец: Nuflare Technology America Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for testing a packaging substrate, and apparatus for testing a packaging substrate

Номер патента: WO2023208350A1. Автор: Bernhard G. Mueller,Nikolai KNAUB,Axel Wenzel,Georg Jost. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-11-02.

Method of metrology on pattern wafer using reflectometry

Номер патента: US20240355683A1. Автор: Khokan C. PAUL. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Systems and methods for rapid electron area masking (ream) lithography

Номер патента: US20190304746A1. Автор: Gary William LEACH,Finlay Charles Henry MACNAB. Владелец: SIMON FRASER UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-10-03.

Device and method for inspection

Номер патента: US20020163342A1. Автор: Shuji Yamaoka,Shogo Ishioka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-07.

Inspecting a wafer using image and design information

Номер патента: US10042974B2. Автор: Menachem Regensburger,Yuri Postolov. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2018-08-07.

Method for efficient dynamic sampling plan generation and accurate probe die loss projection

Номер патента: WO2024213339A1. Автор: Chenxi Lin,Fuming Wang,Zhihuan WANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-10-17.

Method for inspecting pattern and an apparatus for manufacturing a semiconductor device using the same

Номер патента: US09965851B2. Автор: Seunghune YANG,Kiho Yang,Kaiyuan Chi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-08.

Methods and systems for inspecting integrated circuits based on X-rays

Номер патента: US11815349B2. Автор: Andrew George Reid,Hak Chuah Sim,Brennan Lovelace Peterson,Nabil Farah Dawahre Olivieri. Владелец: BRUKER NANO INC. Дата публикации: 2023-11-14.

Methods and systems for inspecting integrated circuits based on x-rays

Номер патента: WO2022031926A1. Автор: Andrew George Reid,Hak Chuah Sim,Brennan Lovelace Peterson,Nabil Farah Dawahre Olivieri. Владелец: SVXR, INC.. Дата публикации: 2022-02-10.

Apparatus and method for inspecting a semiconductor package

Номер патента: US09911666B2. Автор: Ah Kow Chin,Choong Fatt Ho,Soon Wei Wong,Victor Vertoprakhov. Владелец: SAEDGE VISION SOLUTIONS PTE LTD. Дата публикации: 2018-03-06.

X-ray reflectometry measurements on patterned wafers

Номер патента: EP1203200A1. Автор: Jon Opsal,Allan Rosencwaig. Владелец: Therma Wave Inc. Дата публикации: 2002-05-08.

Method for determining contour of semiconductor structure

Номер патента: US12094788B2. Автор: Jo-Lan CHIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Systems and methods for detecting defects on a wafer

Номер патента: US09880107B2. Автор: Lu Chen,Tao Luo,James A. Smith,Mohan Mahadevan,Richard Wallingford,Lisheng Gao,Jason Kirkwood,Junqing (Jenny) Huang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Direct nanolithography or printing method for electron beams in wet environment

Номер патента: US20170075234A1. Автор: Yue Lu,Furong CHEN,Manling Sui. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-03-16.

Manufacturing method for emitter for electron-beam projection lithography

Номер патента: US7091054B2. Автор: Dong-Wook Kim,In-kyeong Yoo,Chang-wook Moon,Soo-Hwan Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-08-15.

Method for inspecting a semiconductor element and inspection apparatus for executing the same

Номер патента: US20220018789A1. Автор: Yueh-Heng Lee,Kuo-Ming Tseng. Владелец: V5 Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

System and method for reducing charged particle contamination

Номер патента: US20040046131A1. Автор: Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2004-03-11.

Diamond like carbon layer formed by an electron beam plasma process

Номер патента: EP3475971A1. Автор: Yang Yang,Chentsau Ying,Srinivas D. Nemani,Jie Zhou,Kartik Ramaswamy,Kenneth S. Collins,Steven Lane,James D. Carducci,Jingjing Liu,Gonzalo MONROY,Lucy Chen. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2019-05-01.

Method for E-beam writing

Номер патента: US5677109A. Автор: Hiroshi Yamashita,Hiroshi Nozue,Junko Morikawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 1997-10-14.

Method for inspecting photoresist pattern

Номер патента: US20100297791A1. Автор: Yi-Chung Sheng,Sheng-Yuan Hsueh,Chia-Chen Sun. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2010-11-25.

Exposure method for correcting dimension variation in electron beam lithography, and recording medium for recording the same

Номер патента: US20030027064A1. Автор: Won-tai Ki. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2003-02-06.

Multiple beam inspection apparatus and sensitivity correction method for multi-detector

Номер патента: US20190214221A1. Автор: Koichi Ishii,Atsushi Ando. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-07-11.

Electron beam lithography process with multiple columns

Номер патента: US09589764B2. Автор: Wen-Chuan Wang,Shy-Jay Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Method for inspecting euv reticle and apparatus thereof

Номер патента: US20120032076A1. Автор: Wei Fang,You-Jin Wang,Chiyan Kuan. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-02-09.

Electron-Beam Lithography Process with Multiple Columns

Номер патента: US20160284504A1. Автор: Wen-Chuan Wang,Shy-Jay Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-29.

Thermal field emitter tip, electron beam device including a thermal field emitter tip and method for operating an electron beam device

Номер патента: US09697983B1. Автор: Stefan Lanio,Aleksandra Kramer,John Breuer. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-07-04.

Electron beam generation method for electron beam treatment of metal materials surface

Номер патента: RU2746265C1. Автор: Тамара Васильевна Коваль,Николай Николаевич Коваль,Павел Владимирович Москвин,Антон Дмитриевич Тересов,Максим Сергеевич Воробьёв,Владислав Игоревич Шин,Сергей Юрьевич Дорошкевич,Елизавета Алексеевна Петрикова,Владислав Викторович Яковлев,Камилла Тахировна Ашурова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт сильноточной электроники Сибирского отделения Российской академии наук (ИСЭ СО РАН). Дата публикации: 2021-04-12.

Automatic electron gun with an anastigmatic device and a method for correcting electron beam astigmatism for an electron gun

Номер патента: RU2769346C1. Автор: Сяодун ХУАН,Бинь Ван,Цян ТАН,Тун Чжан,Шоуци Вэй,Сян Фэй,Найбо Су,Ян Дун,Вэньмин Го,Цзумин Лян,Гохуа Хуан. Владелец: Гуйлинь Тхд Текнолоджи Ко. Лтд. Дата публикации: 2022-03-30.

Raster shaped beam, electron beam exposure strategy using a two dimensional multipixel flash field

Номер патента: EP1070335A1. Автор: Weidong Wang,Lee H. Veneklasen,Stephen A. Rishton,Allan L. Sagle,Jeffrey K. Varner. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2001-01-24.

Electron beam irradiation apparatus and electron beam irradiating method

Номер патента: US20030178581A1. Автор: Hiroshi Kawase,Setsuo Norioka,Masanobu Yamamoto,Yoshihisa Miura,Naoki Date,Yuichi Aki,Mitsuru Koizumi,Gakuo Komatsubara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2003-09-25.

Electron beam irradiation apparatus and method

Номер патента: EP1339084A3. Автор: Setsuo Norioka,Naoki Date,Masanobu C/O Sony Corporation Yamamoto,Yoshihisa c/o Sony Corporation Miura,Yuichi c/o Sony Corporation Aki,Hiroshi c/o Sony Corporation Kawase,Mitsuru Koikumi,Gakuo Komatsubara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2010-05-05.

Device and method for controlling focussed electron beams

Номер патента: WO2002082497A1. Автор: Dieter Winkler,Pavel Adamec. Владелец: Ict, Integrated Circuit Testing Gesellschaft Für Halbleiterprüftechnik Mbh. Дата публикации: 2002-10-17.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: EP4131326A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Method for Focusing Electron Beam in Electron Column

Номер патента: US20090200482A1. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2009-08-13.

Method for focusing electron beam in electron column

Номер патента: WO2007066961A1. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: Cebt Co. Ltd.. Дата публикации: 2007-06-14.

Method for focusing electron beam in electron column

Номер патента: US7902521B2. Автор: Young Chul Kim,Ho Seob Kim,Dae Wook Kim,Seung Joon Ahn. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2011-03-08.

Electron beam depicting method, mother die manufacturing method, mother die, metallic mold manufacturing method, metallic mold and optical element

Номер патента: US20040185354A1. Автор: Osamu Masuda,Kazumi Furuta. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2004-09-23.

Electron gun, electron beam applicator, emission axis verification method for electron beam emitted from photocathode, and emission axis alignment method for electron beam emitted from photocathode

Номер патента: US12080507B2. Автор: Hokuto Iijima. Владелец: Photo Electron Soul Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Systems and methods for coating a substrate

Номер патента: US20210195754A1. Автор: Stephane Etienne,Ronny Franken,Michel VAN DE VIJVER,Marc Knippenberg. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Electron beam exciter for use in chemical analysis in processing systems

Номер патента: US09997325B2. Автор: Matthew J. Goeckner,Jimmy W. Hosch,Andrew Weeks Kueny,Mike Whelan,Kenneth C. Harvey,P.L. Stephan Thamban. Владелец: Verity Instruments Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Method for forming coating layer having plasma resistance

Номер патента: US12139785B2. Автор: Soon Young Kwon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-11-12.

Method for smoothing a component surface region

Номер патента: US12005516B2. Автор: Bernd KIEBACK,Benjamin Graffel,Falk Winckler,Thomas WEISSGÄRBER,Burghardt KLÖDEN,Sven Fritzche. Владелец: Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV. Дата публикации: 2024-06-11.

Method and apparatus for electron beam column assembly with precise alignment using displaced semi-transparent membranes

Номер патента: EP1153411A1. Автор: Lawrence P. Muray,James P. Spallas. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2001-11-14.

Method and apparatus for electron beam column assembly with precise alignment using displaced semi-transparent membranes

Номер патента: WO2001035440A9. Автор: Lawrence P Muray,James P Spallas. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2002-09-12.

Method and apparatus for electron beam column assembly with precise alignment using displaced semi-transparent membranes

Номер патента: WO2001035440A8. Автор: Lawrence P Muray,James P Spallas. Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2003-11-13.

Method for detecting and compensating for positional displacements in photolithographic mask units and apparatus for carrying out the method

Номер патента: US7087910B2. Автор: Jens Schneider,Tarek Lutz. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2006-08-08.

Semiconductor inspection device and method for manufacturing contact probe

Номер патента: US20050156614A1. Автор: Kei Murayama. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-21.

System and method for imaging a sample with an electron beam with a filtered energy spread

Номер патента: US09905391B2. Автор: Xinrong Jiang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Processor and method for processing

Номер патента: US20030042832A1. Автор: Masanori Yamaguchi,Masaki Yoshioka. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2003-03-06.

Combined aperture holder, beam blanker and vacuum feed through for electron beam, ion beam charged particle devices

Номер патента: US20070069149A1. Автор: Earl Weltmer. Владелец: SCANSERVICE Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: EP1314178A1. Автор: Gerasimos Daniel Danilatos. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-28.

Apparatus for inspecting wafer

Номер патента: US09939388B2. Автор: Woo-Jin Jung,Chung-Sam Jun,Choon-Shik LEEM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-10.

Device and method for optimizing diffusion section of electron beam

Номер патента: US09767985B2. Автор: Lei Cao,Kaifeng Liu,CHEN ZUO,Jiang Huang,Jun Yang,Lige ZHANG,Mingwu FAN,Tiaoqin YU,Yongqian XIONG,Gerald F. WU. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-09-19.

Apparatus and methods for electron beam lithography using array cathode

Номер патента: US09715995B1. Автор: Keith Standiford,Alan D. Brodie,Paul F. Petric. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

System and method for pattern correction in e-beam lithography

Номер патента: US09529959B2. Автор: Hsu-Ting Huang,Ru-Gun Liu,Wen-Chun Huang,Hung-Chun Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Substrate treating apparatus and method for inspecting treatment liquid nozzle

Номер патента: US10985007B2. Автор: Kwangsup Kim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Substrate treating apparatus and method for inspecting treatment liquid nozzle

Номер патента: US20190111450A1. Автор: Kwangsup Kim. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-18.

Electron-beam irradiation apparatus and maintenance method for electron-beam irradiation apparatus

Номер патента: US12033828B2. Автор: Masahiro Nagai,Toshio Kimura. Владелец: NHV Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Electron beam vaporizer and method for vaporizing a vaporization material by means of an electron beam

Номер патента: US20190318909A1. Автор: Carsten Deus. Владелец: Von Ardenne Asset GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-10-17.

Apparatus and methods for patterning a reticle blank by electron-beam inscription with reduced exposure of the reticle blank by backscattered electrons

Номер патента: US20020012853A1. Автор: Atsushi Yamada,Hajime Yamamoto,Shohei Suzuki,Sumito Shimizu,Wakako Suganuma. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-01-31.

Electron beam generator device and method for producing the same

Номер патента: US20050212395A1. Автор: Shinsuke Okada,Masaki Hirakata,Miho Watanabe,Taishi Shigematsu,Shigeki Ooma,Chikara Manabe,Hiroyuki Watanabe,Kentaro Kishi,Takashi Isozaki,Kazunori Anazawa. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2005-09-29.

Electron beam shielding apparatus and methods for shielding electron beams

Номер патента: EP1204984A1. Автор: Mark Hall,Leonard C. Ii Hainz,Ingo A. Grosse. Владелец: ATI Properties LLC. Дата публикации: 2002-05-15.

Electron beam shielding apparatus and methods for shielding electron beams

Номер патента: WO2001006537A1. Автор: Mark Hall,Leonard C. Ii Hainz,Ingo A. Grosse. Владелец: ATI PROPERTIES, INC.. Дата публикации: 2001-01-25.

X-ray reference object, x-ray detector, additive manufacturing apparatus and method for calibrating the same

Номер патента: US20220143709A1. Автор: Christian Ekberg. Владелец: ARCAM AB. Дата публикации: 2022-05-12.

System and method for electron beam irradiation

Номер патента: EP1339085A3. Автор: Setsuo Norioka,Toshiaki Miyokawa,Naoki Date,Yoshihisa c/o Sony Corporation Miura,Yuichi c/o Sony Corporation Aki,Jun c/o Sony Corporation Sasaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-08-17.

Apparatus and methods for aberration correction in electron beam based system

Номер патента: US09607802B2. Автор: Christopher F. Bevis. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Dual-mode electron beam column

Номер патента: GB2421630B. Автор: Brian Rafferty. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2006-11-29.

Dual-mode electron beam lithography machine

Номер патента: GB2404783A. Автор: Timothy Groves. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2005-02-09.

Dual-mode electron beam lithography machine

Номер патента: US7053388B2. Автор: Gerhard Schubert,Brian Rafferty,Klaus-Dieter Adam,Nigel Crosland,Timothy Groves,Jeffrey Kristoff. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 2006-05-30.

Scanning electron microscopic direct-write lithography system based on a compliant nano servo motion system

Номер патента: US20220291589A1. Автор: Zhen Zhang,Yijie LIU,Juntian QU. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-15.

Electron beam lithography machine

Номер патента: US5786601A. Автор: Andrew Dean,John Monro Sturrock. Владелец: Vistec Lithography Ltd. Дата публикации: 1998-07-28.

Electron beam lithography machine

Номер патента: WO1996000978A1. Автор: Andrew Dean,John Monro Sturrock. Владелец: Leica Cambridge Ltd.. Дата публикации: 1996-01-11.

Systems and methods for using multiple inductive and capacitive fixtures for applying a variety of plasma conditions to determine a match network model

Номер патента: US20160240356A1. Автор: John C. Valcore, JR.,Arthur M. Howald. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2016-08-18.

Electron beam duplication lithography method and apparatus

Номер патента: US20050121623A1. Автор: Seiichi Iwamatsu. Владелец: Applied Nanotech Holdings Inc. Дата публикации: 2005-06-09.

System and method for eliminating electromagnetic interference in vacuum cavity of scanning electron microscope

Номер патента: NL2030394B1. Автор: Tang Liang,Zhang Yuefei,Zhang Ze,Wang Yongfeng,Zhang Yixu,Liu Ling'en,Chen Jutian. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-11-30.

Method for providing a substantially uniform surface potential on an insulating specimen

Номер патента: EP1219956A3. Автор: Michael A. Kelly,Paul E. Larson. Владелец: Revera Inc. Дата публикации: 2006-05-03.

Method for identifying the genesis of quartz in fine-grained sediments based on petrology and geochemistry collaboration

Номер патента: LU506120B1. Автор: Xiaohong Liu,Mingyou Feng. Владелец: Southwest Petroelum Univ. Дата публикации: 2024-07-16.

Systems and methods for using multiple inductive and capacitive fixtures for applying a variety of plasma conditions to determine a match network model

Номер патента: US09831071B2. Автор: John C. Valcore, JR.,Arthur M. Howald. Владелец: Lam Research Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Method for inspecting a wafer and apparatus for inspecting a wafer

Номер патента: US20040161866A1. Автор: Hyo-cheon Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2004-08-19.

Method for inspecting a wafer and apparatus for inspecting a wafer

Номер патента: US6913939B2. Автор: Hyo-cheon Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-07-05.

Method for inspecting a wafer and apparatus for inspecting a wafer

Номер патента: US20050176159A1. Автор: Hyo-cheon Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-08-11.

Apparatus for manufacturing semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, inspection apparatus for semiconductor device, and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20020158647A1. Автор: Masaaki Sugimoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-10-31.

Apparatus and method for inspecting poly-silicon

Номер патента: US7505155B2. Автор: Hyun-Gue Kim,Keun-Ho Jang. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-17.

Method and apparatus for inspecting defects

Номер патента: US20050094137A1. Автор: Sang-Mun Chon,Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Joung-soo Kim,Moon-kyung Kim,Sun-Yong Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-05-05.

Method for influencing a position of a focal spot in an x-ray radiation source of a computed tomography apparatus, and computed tomography apparatus

Номер патента: US20200085384A1. Автор: Marco Erler. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2020-03-19.

Method for etching the surface of sapphire plates

Номер патента: RU2771457C1. Автор: Владимир Михайлович Каневский,Андрей Викторович Буташин,Арсен Эмирбегович Муслимов,Абубакар Магомедович Исмаилов. Владелец: Федеральное государственное учреждение "Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук". Дата публикации: 2022-05-04.

Control over dislocations and strains in mask-free processes with help of substrate patterning and methods for fabrication of devices

Номер патента: RU2570220C2. Автор: КЕНЕЛЬ Ханс ФОН,Леонида МИЛЬО. Владелец: Пайлгроут Тек С.р.л.. Дата публикации: 2015-12-10.

Method for forming an opening in polymer-based dielectric

Номер патента: US20020177300A1. Автор: Hsueh-Chung Chen,Chih-Chien Liu,Tong-Yu Chen,Chingfu Lin. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2002-11-28.

METHOD FOR р-n JUNCTIONS FORMING IN SILICON

Номер патента: RU2331136C9. Автор: Вячеслав Васильевич Осико,Альберт Евдокимович Лукьянов,В чеслав Васильевич Осико,Александр Николаевич Бузынин,нов Альберт Евдокимович Лукь,Натали Александровна Бутылкина,Наталия Александровна Бутылкина. Владелец: Институт Общей Физики Им. А.М. Прохорова Российской Академии Наук. Дата публикации: 2008-12-27.

Method for forming an opening in polymer-based dielectric

Номер патента: US20030199132A1. Автор: Hsueh-Chung Chen,Chih-Chien Liu,Tong-Yu Chen,Chingfu Lin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-23.

Transistor with pi-gate structure and method for producing the same

Номер патента: US20020063293A1. Автор: Yeon-Sik Chae,Jin-Koo Rhee,Hyun-Sik Park,Dan An. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-30.

Method for polishing silicon wafer with reduced wear on carrier, and polishing liquid used therein

Номер патента: US20230178376A1. Автор: Eiichiro ISHIMIZU,Hayato Yamaguchi,Yusuke Tanatsugu. Владелец: Nissan Chemical Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Predicting and controlling critical dimension issues and pattern defectivity in wafers using interferometry

Номер патента: US09558545B2. Автор: Jaydeep Sinha,Pradeep Vukkadala,Sathish Veeraraghavan,Soham Dey. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US7605364B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20080067337A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Method for manufacturing semiconductor and method for cleaning wafer substrate

Номер патента: US20170125240A1. Автор: Masayoshi Takahashi,Junichi Iida,Tsunejiro Takahashi,Katsumi TATERA. Владелец: Opt Creation Inc. Дата публикации: 2017-05-04.

System and method for inspecting a wafer

Номер патента: US09863889B2. Автор: Ajharali Amanullah,Han Cheng Ge. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Method for manufacturing polycrystalline silicon thin-film solar cells by means method for crystallizing large-area amorphous silicon thin film using linear electron beam

Номер патента: US09680047B2. Автор: Sun Hwa Lee,Ho Sung Kim,Sang Ryu,Chae Hwan Jeong,Seong Jae Boo. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology KITECH. Дата публикации: 2017-06-13.

Inspection method for inspecting display panel and inspection apparatus

Номер патента: US20210333784A1. Автор: Po-Sung Pan. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-28.

Inspection method for inspecting electric characteristics of devices formed on target object

Номер патента: US20110309849A1. Автор: Yasuhito Yamamoto,Isamu Inomata. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-12-22.

Method for inspecting semiconductor device structure

Номер патента: US20190101586A1. Автор: Baohua Niu,Chi-Chun Lin,Chia-Nan Ke. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

System and method for detecting design and process defects on a wafer using process monitoring features

Номер патента: US09710903B2. Автор: Sergio Edelstein,Carl Hess,Zain Saidin,Christophe Fouquet,Savitha Nanjangud. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Method for forming high energy density clumps in electron flow and a drift klystron

Номер патента: RU2654537C1. Автор: Олег Юрьевич Масленников,Игорь Анатольевич Гузилов. Владелец: Демидова Елена Викторовна. Дата публикации: 2018-05-21.

Method for production of nitride light-emitting diode

Номер патента: RU2690036C1. Автор: Ирина Павловна Смирнова,Дмитрий Александрович Закгейм,Лев Константинович Марков,Алексей Сергеевич Павлюченко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук. Дата публикации: 2019-05-30.

Method for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: RU2755774C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Арслан Гасанович Мустафаев,Абдулла Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет". Дата публикации: 2021-09-21.

Technique for multi-stream electron beam generation with different energies and comparable currents from a single cathode potential for high power microwave sources

Номер патента: US20230420212A1. Автор: Edl Schamiloglu,Khandakar Nusrat ISLAM. Владелец: UNM Rainforest Innovations. Дата публикации: 2023-12-28.

Apparatus and method for selectively inspecting component sidewalls

Номер патента: US09816938B2. Автор: Ajharali Amanullah. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Electron beam melting furnace and method for operating same

Номер патента: US09773642B2. Автор: Takashi Oda,Takeshi Shiraki,Hisamune Tanaka. Владелец: Toho Titanium Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Beam imaging sensor and method for using same

Номер патента: US09535100B2. Автор: Jeffrey J. Root,Michael D. Mcaninch. Владелец: BWXT Nuclear Operations Group Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Method and device for cooling window foil of electron beam accelerator

Номер патента: RU2175172C2. Автор: Тацуя НИСИМУРА. Владелец: Ибара Корпорейшн. Дата публикации: 2001-10-20.

Electron beam apparatus for patterned metal reduction and method for the same

Номер патента: US20150259783A1. Автор: Tri-Rung Yew,Pin Chang,Ying-Chan HUNG,Shih-En Lai. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2015-09-17.

Method for inspecting electronic device and electronic device inspection apparatus

Номер патента: US20140139253A1. Автор: Osamu Masuda,Hiroaki Arita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2014-05-22.

Electron emitter assembly and method for adjusting a power level of electron beams

Номер патента: US20060098783A1. Автор: COLIN Wilson,Bruce Dunham,John Price. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2006-05-11.

Overlay Alignment Mark and Method for Measuring Overlay Error

Номер патента: US20210382402A1. Автор: Weimin Ma,Chengcheng Liu,Chunying Han,Shouyan Huang. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Apparatus for inspecting substrate and method for fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US12105027B2. Автор: Myung Jun Lee,Sung Ho Jang,Jang Ryul Park,Kwang Rak KIM,Soon Yang KWON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Forming method for structure of crossing datalines and scanning lines in display device

Номер патента: US09735184B2. Автор: Hong Ding. Владелец: Shanghai Tianma Microelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Device and method for irradiating objects with electron beam

Номер патента: US09675718B2. Автор: Hans Hallstadius,Lars-Ake Naslund,Hakan Mellbin,Fredrik Hansen,Kristoffer BENGTSSON,Marco LAVALLE. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2017-06-13.

Method for inspecting electronic device and electronic device inspection apparatus

Номер патента: US09513313B2. Автор: Osamu Masuda,Hiroaki Arita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2016-12-06.

Chromatic confocal device and method for 2D/3D inspection of an object such as a wafer with variable spatial resolution

Номер патента: US09494529B1. Автор: Philippe Gastaldo,Gilles Fresquet,Alain Courteville. Владелец: Fogale Nanotech SA. Дата публикации: 2016-11-15.

Apparatus and Method for Generating X-Ray Radiation

Номер патента: WO2013014161A1. Автор: Frank Weigand. Владелец: CARL ZEISS MEDITEC AG. Дата публикации: 2013-01-31.

Device and method for pasteurizing and/or sterilizing particulate material

Номер патента: CA3091781A1. Автор: Alasdair Currie. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2019-08-29.

Method for exposing a layout comprising multiple layers on a wafer

Номер патента: US6635395B2. Автор: Peter Hahmann,Eckart Bergmann. Владелец: Vistec Electron Beam GmbH. Дата публикации: 2003-10-21.

Image processing apparatus and method for inspecting defects of enclosures of semiconductor devices

Номер патента: US5568564A. Автор: Takayuki Ozaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1996-10-22.

Apparatus and method for generating x-ray radiation

Номер патента: US20140328467A1. Автор: Frank Weigand. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-11-06.

Apparatus and method for generating x-ray radiation

Номер патента: EP2736598A1. Автор: Frank Weigand. Владелец: CARL ZEISS MEDITEC AG. Дата публикации: 2014-06-04.

Apparatus and method for generating X-ray radiation

Номер патента: US09779909B2. Автор: Frank Weigand. Владелец: CARL ZEISS MEDITEC AG. Дата публикации: 2017-10-03.

Method for verifying characteristics of an electron beam

Номер патента: US09543116B2. Автор: Tomas Lock. Владелец: ARCAM AB. Дата публикации: 2017-01-10.

Method for inspecting solution discharge apparatus and method for producing device

Номер патента: US09449379B2. Автор: Takayuki Miyoshi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: RU2748455C1. Автор: Гасан Абакарович Мустафаев,Асламбек Идрисович Хасанов,Арслан Гасанович Мустафаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет". Дата публикации: 2021-05-25.

Method for producing nitride light-emitting diode

Номер патента: RU2747132C1. Автор: Ирина Павловна Смирнова,Лев Константинович Марков,Алексей Сергеевич Павлюченко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук. Дата публикации: 2021-04-28.

Cathodoluminescence Imaging Method For Monazite

Номер патента: AU2020101160A4. Автор: Yi Chen,Fei Su,Saihong YANG. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2020-07-30.

Method for inspecting via hole of wafer

Номер патента: US20240264091A1. Автор: Dae Hwan Kim,Jae Yeol Lee,Ho Cheol Shin,Seung Gyun Back. Владелец: GOOIL ENGINEERING Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for inspecting a pattern of features on a semiconductor die

Номер патента: US09983154B2. Автор: Sandip Halder,Philippe Leray. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2018-05-29.

Smart subfield method for e-beam lithography

Номер патента: US20130323648A1. Автор: Jeng-Horng Chen,Chia-Chi Lin,Shih-Chi Wang,Cheng-Hung Chen,Hung-Chun Wang,Pei-Shiang Chen,Nian-Fuh Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Smart Subfield Method For E-Beam Lithographny

Номер патента: US20140099582A1. Автор: Jeng-Horng Chen,Chia-Chi Lin,Shih-Chi Wang,Cheng-Hung Chen,Hung-Chun Wang,Pei-Shiang Chen,Nian-Fuh Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-04-10.

Method for Transferring a Predetermined Pattern Reducing Proximity Effects

Номер патента: US20090162789A1. Автор: Laurent Pain,Serdar Manakli,Georges Bervin. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 2009-06-25.

Electron beam-generating apparatus, image-forming apparatus, and driving methods thereof

Номер патента: AU681097B2. Автор: Hidetoshi Suzuki,Ichiro Nomura,Tetsuya Kaneko,Shinya Mishina,Naoto Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1997-08-21.

Method for assembling an electron exit window and an electron exit window assembly

Номер патента: EP2406808A1. Автор: Werner Haag,Lars-Ake Naslund,Anders Kristiansson,Luca Poppi,Kurt Holm,Toni Waber. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2012-01-18.

Deposition apparatus and method for inspecting nozzle using the same

Номер патента: US12085450B2. Автор: Min Woo Kim,Su Hwan Lee,Young Bae KEE,Un Cheol Sung,Byoung Gu AN,Jae Soo HA. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Apparatuses and methods for generating distributed x-rays in a scanning manner

Номер патента: US09991085B2. Автор: Yuanjing Li,Chuanxiang Tang,Huaibi Chen,Yaohong Liu,Huaping Tang,Jinsheng Liu,Xinshui Yan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Scanning electron microscope system capable of measuring in-cell overlay offset using high-energy electron beam and method thereof

Номер патента: US09934939B2. Автор: Sang Kil Lee,Chung Sam Jun,Min Kook Kim,Yu Sin YANG,Woo Seok KO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-03.

Apparatuses and methods for generating distributed x-rays

Номер патента: US09786465B2. Автор: Yuanjing Li,Chuanxiang Tang,Huaibi Chen,Yaohong Liu,Huaping Tang,Jinsheng Liu,Xinshui Yan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

X-ray source and the use thereof and method for producing X-rays

Номер патента: US09761405B2. Автор: Timothy HUGHES,Oliver Heid,Jennifer SIRTL. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-09-12.

Assembly and method for reducing foil wrinkles

Номер патента: US09437389B2. Автор: Ulrika LINNÉ,Urs Hostettler,Andreas Åberg. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2016-09-06.

Method for estimating patterns to be printed on a plate or mask by means of electron-beam lithography and corresponding printing device

Номер патента: US09430597B2. Автор: Jerome Belledent. Владелец: Aselta Nanographics SA. Дата публикации: 2016-08-30.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US8022356B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-09-20.

Microwave tube and method for controlling the same

Номер патента: US11798770B2. Автор: Tetsuo Machida. Владелец: NEC Network and Sensor Systems Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20100133426A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-03.

Microwave tube and method for controlling the same

Номер патента: US20220399178A1. Автор: Tetsuo Machida. Владелец: NEC Network and Sensor Systems Ltd. Дата публикации: 2022-12-15.

Electron Beam Lithography System and Method for Improving Throughput

Номер патента: US20130330670A1. Автор: BURN JENG LIN,Jaw-Jung Shin,Wen-Chuan Wang,Shy-Jay Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Electron beam curable resin composition, resin frame for reflectors, reflector, semiconductor light emitting device, and method for producing molded body

Номер патента: US09975284B2. Автор: Toshiyuki Sakai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2018-05-22.

Electron beam curable resin composition, resin frame for reflectors, reflector, semiconductor light emitting device, and method for producing molded body

Номер патента: US09884441B2. Автор: Toshiyuki Sakai. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Controlling current or mitigating electromagnetic or radiation interference effects using multiple and different semi-conductive channel regions generating structures

Номер патента: US09735769B1. Автор: Jeffrey L. Titus. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2017-08-15.

Controlling current or mitigating electromagnetic or radiation interference effects using multiple and different semi-conductive channel regions generating structures

Номер патента: US09425303B1. Автор: Jeffrey L. Titus. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2016-08-23.

Pattern forming method, electron beam-sensitive or extreme ultraviolet ray-sensitive resin composition, resist film, and method for manufacturing electronic device, and electronic device using the same

Номер патента: US09423690B2. Автор: Shuji Hirano,Hiroo Takizawa,Wataru Nihashi,Natsumi YOKOKAWA. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Method for radiation by electron beams

Номер патента: RU2139753C1. Автор: Саито Муцуми,Йосиока Такеси,Нисимура Тацу,Нисимура Тацуя. Владелец: Ибара Корпорейшн. Дата публикации: 1999-10-20.

System and method for biological tissue identification

Номер патента: RU2558884C2. Автор: ТАКАТС Зольтан. Владелец: Майкромасс Юк Лимитед. Дата публикации: 2015-08-10.

Scanning means and method for a plasma-sac-type gas-discharge image display panel

Номер патента: US4130777A. Автор: Michael C. De Jule. Владелец: Zenith Radio Corp. Дата публикации: 1978-12-19.

Tuning the scanning electron beam computed tomography scanner

Номер патента: US5224137A. Автор: Roy E. Rand,Mark C. Nicely,Susan E. Plomgren,John L. Couch. Владелец: Imatron Inc. Дата публикации: 1993-06-29.

System and method for inspecting outer appearance

Номер патента: CA3241064A1. Автор: Geun Tae Kim. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Method for inspecting nonaqueous electrolyte secondary battery separator, method for producing nonaqueous electrolyte secondary battery separator, device for inspecting nonaqueous electrolyte secondary battery separator, device for producing nonaqueous electrolyte secondary battery separator, and nonaqueous electrolyte secondary battery separator

Номер патента: US20220013858A1. Автор: Yoshinori Sato,Atsuhiro Takata,Yuki YONEGUCHI,Shun Nakazawa. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Method for obtaining ferrite products

Номер патента: RU2664745C2. Автор: Владимир Григорьевич Костишин,Алексей Григорьевич Налогин,Сергей Владиленович Щербаков,Игорь Магомедович Исаев,Владимир Васильевич Коровушкин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2018-08-22.

Method for Manufacturing Battery, Battery Manufactured by The Method, and Method for Inspecting Battery

Номер патента: US20090233174A1. Автор: Kazuya Okabe,Satoshi Yokota,Takahiro Itagaki,Tomonori Kishimoto,Shuichi Izuchi. Владелец: GS Yuasa Corp. Дата публикации: 2009-09-17.

Method for inspecting battery and method for producing battery

Номер патента: US20240204258A1. Автор: Kiwamu Kobayashi,Hideto Mori,Tadashi Teranishi,Toshinori Okura. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

System, method and apparatus for providing electromagnetic variable exciter system for inspection of ferrous material

Номер патента: US12129027B1. Автор: Jacob Lahmann. Владелец: Valmont Industries Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Method and apparatus for inspecting an inductively heatable aerosol-generating article for the presence of a susceptor and a desired article alignment

Номер патента: US12059023B2. Автор: Andreas Loeb,Luca Bosi,Matteo Grosoli. Владелец: PHILIP MORRIS PRODUCTS SA. Дата публикации: 2024-08-13.

Method for elimination of antenna angular orientation error in point-point communication system

Номер патента: RU2665808C1. Автор: Роман Олегович Масленников,Алексей Андреевич Артеменко,Алексей Юрьевич Трушанин,Рашид Равилевич Калимулин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Радио Гигабит". Дата публикации: 2018-09-04.

Method of positioning an anisotropic conductive connector, method of positioning the anisotropic conductive connector and a circuit board for inspection, anisotropic conductive connector, and probe card

Номер патента: US20090015281A1. Автор: Mutsuhiko Yoshioka,Masaya Naoi,Akira Matsuura,Takashi Amemiya,Tomohisa Hoshino,Syuichi Tsukada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-01-15.

Positive electrode for non-aqueous electrolyte secondary battery, method for manufacturing same, and method for inspecting same, and non-aqueous electrolyte secondary battery and method for manufacturing same

Номер патента: EP4235845A1. Автор: Yuta TAKAICHI. Владелец: Maxell Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Method for producing nanoparticles for magnetic fluids by electron-beam evaporation and condensation in vacuum, a magnetic fluid producing method and magnetic fluid produced according to said method

Номер патента: US20110001079A1. Автор: Boris Paton,Boris Movchan,Iurii Kurapov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-01-06.

Apparatus for inspecting antenna and method for inspecting antenna

Номер патента: US20230070750A1. Автор: Han Sub Ryu,Byung Jin Choi,Dong Pil PARK. Владелец: Dongwoo Fine Chem Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Textured sheet of electrical steel and method for production of such sheet

Номер патента: RU2710496C1. Автор: Сигэхиро ТАКАДЗЁ,Хиротака ИНОЭ,Такэси ОМУРА. Владелец: ДжФЕ СТИЛ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2019-12-26.

Method for manufacturing semiconductor laser device and method for inspecting semiconductor laser bar

Номер патента: US20090053838A1. Автор: Keiji Ito,Takayuki Kashima,Kouji Makita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Method and apparatus for inspecting folding portion of pouch type secondary battery

Номер патента: EP4456269A1. Автор: Jun Hee Jung,Seung Won Choi,Sung Yeop Kim,Seung Hyeon Cheon. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Method and apparatus for inspecting folding portion of pouch type secondary battery

Номер патента: US20240362814A1. Автор: Jun Hee Jung,Seung Won Choi,Sung Yeop Kim,Seung Hyeon Cheon. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection apparatus and method for electrode plate-connected structure for secondary cell

Номер патента: US20020076094A1. Автор: Toshiaki Nakanishi,Yugo Nakagawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Device and method for inspecting lithium precipitation in battery cell

Номер патента: US20240280539A1. Автор: Su Hyun Yun,Bum Young JUNG,Hyo Sun An. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Battery module and method for inspecting the battery module

Номер патента: US20240266625A1. Автор: Osamu Kubota,Hirofumi Takahashi,Yoshitaka WATAHIKI. Владелец: Vehicle Energy Japan Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for manufacturing at least one functional area on an electric contact element such as a switching contact or a plug contact

Номер патента: US09667015B2. Автор: Helge Schmidt,Soenke Sachs,Michael Leidner. Владелец: TE Connectivity Germany GmbH. Дата публикации: 2017-05-30.

Method for Fabricating Terminal Electrode of Multilayer Ceramic Capacitor Having Inner Electrodes Printed on Full Area Together with Protective Layers

Номер патента: US20220406529A1. Автор: Wen-Hsi Lee. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2022-12-22.

Method and system for inspecting and separating batteries

Номер патента: EP4391144A1. Автор: Young Ho Jung,Chan Soo AHN,Yeong Kyun KO,Si Won JEON. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Method and apparatus for inspecting battery tab and storage medium

Номер патента: US20230289948A1. Автор: Zhiyu Wang,Can Chen,Qiangwei Huang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Method for inspecting state of welds in battery

Номер патента: US20240319125A1. Автор: Jung Hoon Lee,Su Taek Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Method for forming the diagrams of the direction of a receiving ring digital phase antenna array

Номер патента: RU2662509C1. Автор: Анатолий Антонович Гриднев,Дмитрий Юрьевич Чаркин,Лариса Ивановна Аверина,Жанетта Вячеславовна Шапошникова. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Созвездие". Дата публикации: 2018-07-26.

Sheet of textured electric steel, and method for its production

Номер патента: RU2572636C1. Автор: Сэйдзи ОКАБЭ,Сигехиро ТАКАДЗО. Владелец: ДжФЕ СТИЛ КОРПОРЕЙШН. Дата публикации: 2016-01-20.

Method for inspecting insulation of a secondary battery

Номер патента: US20220043047A1. Автор: Toshinori Okura. Владелец: Prime Planet Energy and Solutions Inc. Дата публикации: 2022-02-10.

Method for influencing a position of a focal spot in an x-ray radiation source of a computed tomography apparatus, and computed tomography apparatus

Номер патента: GB2578814A. Автор: Erler Marco. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2020-05-27.

Carbon nanostructure, capacitor, method for processing carbon nanostructure, and method for producing carbon nanostructure

Номер патента: US9305711B2. Автор: Takeshi Hikata,Soichiro Okubo,Jun-Ichi Fujita,Risa Utsunomiya,Teruaki Matsuba. Владелец: University of Tsukuba NUC. Дата публикации: 2016-04-05.

Apparatuses and methods for pasteurizing and/or sterilizing particulate material and cassette

Номер патента: CA3170299C. Автор: Thomas Scheiwiller,Niklaus SCHÖNENBERGER,Alasdair Currie,Martin Hersche,Nicolas MENESES. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-06-11.

Carbon nanostructure, capacitor, method for processing carbon nanostructure, and method for producing carbon nanostructure

Номер патента: US20130342965A1. Автор: Takeshi Hikata,Soichiro Okubo,Jun-Ichi Fujita,Risa Utsunomiya,Teruaki Matsuba. Владелец: University of Tsukuba NUC. Дата публикации: 2013-12-26.

Methods for making patterned, thick, silicon-containing electrodes

Номер патента: US20180287139A1. Автор: Xingcheng Xiao,Hongliang Wang,Mark W. Verbrugge,Qinglin Zhang. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2018-10-04.

Apparatuses and methods for generating coherent electromagnetic laser radiation

Номер патента: WO2002025785A8. Автор: PETER B SEWELL,Michael R Mross,Thomas H Lowell,Robert A Durant. Владелец: VERMONT PHOTONICS. Дата публикации: 2002-07-04.

Apparatuses and methods for generating coherent electromagnetic laser radiation

Номер патента: WO2002025785A3. Автор: PETER B SEWELL,Michael R Mross,Thomas H Lowell,Robert A Durant. Владелец: VERMONT PHOTONICS. Дата публикации: 2003-07-10.

Method for manufacturing charge dissipative surface layer

Номер патента: RU2655942C2. Автор: Клаус Циммерман,Кристел НЁМАЙР,Зелина ИСКАНДЕРОВА,Якоб КЛЯЙМАН. Владелец: Интегрити Тестинг Лэборэтори Инк.. Дата публикации: 2018-05-30.

Device and method for inspecting welded state for cylindrical secondary battery

Номер патента: US20240310313A1. Автор: Seok jin Kim,Jung Hoon Lee,Min Wook KIM,Ji Hoon Lee,Su Taek Jung,Sang Hyun KOO. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method for locating distribution network circuit fault based on full waveform information

Номер патента: US09851390B2. Автор: Yong Qian,Yadong Liu,Yue Hu,Yun Hu,Jiamei LIU,Gehao SHENG,Xiuchen Jiang,Xiaolei XIE,Jiejie DAI. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-12-26.

System and method for testing radio frequency wireless signal transceivers using wireless test signals

Номер патента: US09774406B2. Автор: Minh-Chau Huynh. Владелец: Litepoint Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

System and method for use with microgrids having inverter-based distributed generators

Номер патента: CA3086377C. Автор: Khaled SALEH,Ali Mehrizi-Sani. Владелец: Canada Minister of Natural Resources. Дата публикации: 2023-08-29.

METHOD FOR LOCATING DISTRIBUTION NETWORK CIRCUIT FAULT BASED ON FULL WAVEFORM INFORMATION

Номер патента: US20160061873A1. Автор: Liu Yadong,SHENG Gehao,DAI Jiejie,LIU Jiamei,HU Yun,XIE Xiaolei,QIAN Yong,HU Yue,JIANG Xiuchen. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

System And Method For Providing a Communications Layer to Enable Full Participation in a Distributed Computing Environment That Uses Multiple Message Types

Номер патента: US20190028414A1. Автор: Holmes James A.,DODGE MATTHEW R.,Walker James David,Martin Franky. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

Device and method for hybridizing double-stranded dna samples on oligomer arrays

Номер патента: AU2149201A. Автор: Alexander Olek. Владелец: EPIGENOMICS AG. Дата публикации: 2001-05-08.

Device and method for hybridizing double-stranded DNA samples on oligomer arrays

Номер патента: AU774249B2. Автор: Alexander Olek. Владелец: EPIGENOMICS AG. Дата публикации: 2004-06-24.

Device for inspecting mask plate, method for inspecting mask plate, and corresponding method for controlling light sources

Номер патента: US20190356835A1. Автор: Xu Liu,Dongwei Li,Chunchieh Huang,De Zhang,Zhiming Lin,Zhiyuan HAO,Xiaolin Xin,Bili Baiyin. Владелец: Ordos Yuansheng Optoelectronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: US20020145549A1. Автор: Sadeg Faris. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-10.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: US20050035889A1. Автор: Sadeg Faris. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-02-17.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: WO2002073809A3. Автор: Sadeg M Faris. Владелец: Reveo Inc. Дата публикации: 2004-03-04.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: WO2002073809A2. Автор: Sadeg M. Faris. Владелец: Reveo, Inc.. Дата публикации: 2002-09-19.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: EP1413056A2. Автор: Sadeg M. Faris. Владелец: Reveo Inc. Дата публикации: 2004-04-28.

Method for inspecting a coated surface for coating defects

Номер патента: CA3191600A1. Автор: Stefan Silber,Claudia Jansen,Oliver Kroehl,Gaetano Blanda,Philipp ISKEN,Claudia Bramlage,Simon Heeg,Udo Gocke. Владелец: EVONIK OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2023-09-22.

Method for inspecting a coated surface for coating defects

Номер патента: US20230304940A1. Автор: Stefan Silber,Claudia Jansen,Oliver Kroehl,Gaetano Blanda,Philipp ISKEN,Claudia Bramlage,Simon Heeg,Udo GOECKE. Владелец: EVONIK OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2023-09-28.

Method for inspecting a coated surface for coating defects

Номер патента: EP4249899A1. Автор: Stefan Silber,Claudia Jansen,Oliver Kroehl,Gaetano Blanda,Philipp ISKEN,Claudia Bramlage,Simon Heeg,Udo Gocke. Владелец: EVONIK OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2023-09-27.

Method for inspecting a vehicle, and inspection system

Номер патента: US20240265711A1. Автор: Thomas Dieckmann,Janik Ricke. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Method for inspecting a vehicle, and inspection system

Номер патента: US12094219B2. Автор: Thomas Dieckmann,Janik Ricke. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-09-17.

Electron beam excited superconducting analog-to-digital converter

Номер патента: US6980142B2. Автор: Sadeg M. Faris. Владелец: Reveo Inc. Дата публикации: 2005-12-27.

Method for inspecting connection bridge in photovoltaic array, and photovoltaic power generation system

Номер патента: AU2021257936A1. Автор: Hui Yan,Wei Li,Lei Wang,Lei Zhang,Yun Hu,Jiapeng ZHU,Yaobang WANG. Владелец: Sunpure Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

System and a method for solder mask inspection

Номер патента: US09661755B2. Автор: Avi Levy,Tomer Segev,Yosi Cherbis,Noam Rozenshtein. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2017-05-23.

Device, system, and method for rapidly and comprehensively inspecting lens actuator

Номер патента: US09639925B2. Автор: Chen Chao,Lin Chi MAK,Kam Chiu LAU,CHI Yuen LAU. Владелец: AP PHOTONICS (SHEN ZHEN) Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Improved device for sterilising flexible bags by electron-beam irradiation and method for sterilising them

Номер патента: AU2020202165B2. Автор: Jordi Boira Bonhora,Daniel Fleta Coit,Carlos ROURA SALIETTI. Владелец: Grifols Engineering SA. Дата публикации: 2024-07-04.

Method and system for inspecting a display device

Номер патента: EP3721407A1. Автор: Marcel Peter Hubert Marie Janssen. Владелец: Admesy BV. Дата публикации: 2020-10-14.

System and method for encrypted disk inspection utilizing disk cloning techniques

Номер патента: US12095912B2. Автор: Yaniv Shaked,Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN,Eyal Moscovici. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Machines and methods for monitoring photovoltaic systems

Номер патента: US12095418B2. Автор: Graham Ryland,John Shepard,Derek CHASE. Владелец: Onsight Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Methods for inspecting pharmaceutical containers for particles and defects

Номер патента: US20240295502A1. Автор: John Watson,Kenneth Wade KELLY,Robert Abrams,Eric S. Holmes,Terry BRASWELL. Владелец: Sio2 Medical Products LLC. Дата публикации: 2024-09-05.

System and method for disk inspection utilizing disk cloning techniques

Номер патента: US20240372720A1. Автор: Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Video inspection method for inspecting welds, structural beams, and underdecks of marine vessels and like structures

Номер патента: US09591269B2. Автор: Michael Stevenson. Владелец: Ultrasonics and Magnetics Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Method for data transmission and receive using based on phase shift of precoding and transceiver to support same

Номер патента: RU2446574C2. Автор: Моон Ил ЛИ,Бин Чул ИХМ,Воок Бонг ЛИ,Дзин Йоунг ЧУН. Владелец: ЭлДжи ЭЛЕКТРОНИКС ИНК.. Дата публикации: 2012-03-27.

Linear device (versions) and method for acceleration of electrons on standing wave

Номер патента: RU2583041C2. Автор: Чуаньсян ТАН,Яохун ЛЮ,Цзяжу ШИ,Цинсю ЦЗИНЬ,Чже ЧЖАН,Хуайби ЧЭН,Веньхуй ХУАН,Шусин ЧЖЭН. Владелец: Нуктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2016-05-10.

Techniques for inspecting managed workloads deployed in a cloud computing environment

Номер патента: US12061925B1. Автор: Yaniv Shaked,Raaz HERZBERG,Niv Roit BEN DAVID,Yarin MIRAN,Amir Lande BLAU. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Systems and methods for preemptive dns resolution

Номер патента: EP2517443A1. Автор: Mark Watson,Lorenzo Vicisano. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2012-10-31.

Systems and methods for preemptive dns resolution

Номер патента: WO2011084820A1. Автор: Mark Watson,Lorenzo Vicisano. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2011-07-14.

Control method for detection system

Номер патента: US20240242354A1. Автор: Yu-Heing Chen. Владелец: Innocare Optoelectronics Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Inspecting device and method for inspecting inspection target

Номер патента: US09838612B2. Автор: Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Method for inspecting flat panel

Номер патента: US09412159B2. Автор: Sang-yoon Lee,Hyun-Min Lee,Ssang-Gun Lim,Min-Gu Kang,Jai-Ho Son. Владелец: Intekplus Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Method for real-time tracking of position of customers in store using multiple communication system

Номер патента: RU2478230C2. Автор: Бретт Брэйсвел БОННЕР,Кристофер Тодд ХЕЛЬМ,Джон Эдвард ОСБОРН,Дион Брент ПЕРКИНС,Артур Титус ДЖОНС. Владелец: Санрайз Р Энд Д Холдингз, Ллс. Дата публикации: 2013-03-27.

Document processing using multiple processing flows

Номер патента: RU2579899C1. Автор: Виталий Георгиевич Балл. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Аби Девелопмент". Дата публикации: 2016-04-10.

Method and apparatus for inspection of compressed data packages

Номер патента: EP2147539A1. Автор: Michael S. Berger,Brian Mortensen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2010-01-27.

Methods For SBFD-UE Reporting On Full-Duplex Hard Constraints

Номер патента: US20240283619A1. Автор: Mohammed S Aleabe Al-Imari,Francesc Boixadera-Espax,Jozsef Gabor Nemeth. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Methods For SBFD-UE Reporting On Full-Duplex Soft Constraints And SINR Loss

Номер патента: US20240284524A1. Автор: Mohammed S Aleabe Al-Imari,Francesc Boixadera-Espax,Jozsef Gabor Nemeth. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Object inspection system and method for inspecting an object

Номер патента: US20240214528A1. Автор: Jacob Nathaniel Allen,Zhipeng Liang,Brandon David See,Frank Damacio Luna. Владелец: Inovision Software Solutions Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Methods for sbfd-ue reporting on full-duplex hard constraints

Номер патента: EP4418595A1. Автор: Mohammed S Aleabe Al-Imari,Francesc Boixadera-Espax,Jozsef Gabor Nemeth. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Methods for sbfd-ue reporting on full-duplex soft constraints and sinr loss

Номер патента: EP4418601A1. Автор: Mohammed S Aleabe Al-Imari,Francesc Boixadera-Espax,Jozsef Gabor Nemeth. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

System and method for upgrading and extending the functionality of published blu-ray disc titles

Номер патента: WO2006109263A3. Автор: Philip S Newton. Владелец: Philip S Newton. Дата публикации: 2007-01-25.

Apparatus and method for determining the location of a mobile device using multiple wireless access points

Номер патента: US09804256B2. Автор: Jie Xiong,Kyle Andrew Jamieson. Владелец: UCL BUSINESS LTD. Дата публикации: 2017-10-31.

Method and apparatus for inspecting laminated iron core

Номер патента: US09709508B2. Автор: Masashi Matsumoto,Yoshitada Yamagishi,Tatsuhiko Mizutani,Tadashi Shibuta. Владелец: Mitsui High Tec Inc. Дата публикации: 2017-07-18.

Adaptive beam control methods for maximisation wireless communication link and decrease in delay dispersion using multiple transmitting and receiving antennas

Номер патента: RU2446575C2. Автор: Карим НАССИРИ-ТУССИ,Джеффри М. ГИЛБЕРТ,Чуен-шен ШУНГ,Дмитрий Михайлович ЧЕРНЯВСКИЙ. Владелец: Сайбим, Инк.. Дата публикации: 2012-03-27.

Filter and method for informed spatial filtration using multiple numerical evaluations of arrival direction

Номер патента: RU2641319C2. Автор: Мая ТАЗЕСКА,Оливер ТИРГАРТ,Эмануэль ХАБЕТС,Себастьян БРАУН. Владелец: Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф.. Дата публикации: 2018-01-17.

A system and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: EP4370795A1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Engineering Sia. Дата публикации: 2024-05-22.

Apparatus and method for providing a common interface for multiple wireless communication protocols

Номер патента: EP3005662A1. Автор: Prasad Samudrala,Alexander Chernoguzov,Norman R. Swanson,Christopher Pulini,William Osei-Bonsu. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-04-13.

System and method for inspecting vehicle lidar sensor

Номер патента: US20220283274A1. Автор: Jin Seok Kim,Changmo YANG. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

A system and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: US20240273700A1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

System and a method for inspection of rotating wind turbine blade

Номер патента: US12073547B1. Автор: Jānis PUTRĀMS. Владелец: Aerones Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Enhanced system and method for fully automated reverse logistics platform

Номер патента: US20190335033A1. Автор: George Huang. Владелец: Future Dial Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

Apparatus for inspecting display panel and method for inspecting surface of display panel

Номер патента: US20230410286A1. Автор: Ja Eun Lee,Jin Seo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Method for uplink multiple transmission reception point operation with uplink coverage enhancement

Номер патента: EP4413805A1. Автор: Wei Zeng,Dawei Zhang,Haitong Sun,Sigen Ye,Yushu Zhang,Chunhai Yao,Oghenekome Oteri. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Method for data transmission and terminal device

Номер патента: US20240349252A1. Автор: Yi Ding,Teng MA,Shichang Zhang,Zhenshan Zhao. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-10-17.

Methods for performing power control in new radio (nr) systems

Номер патента: US20240357510A1. Автор: Janet Stern-Berkowitz,Moon-Il Lee,Afshin Haghighat,Virgil Comsa,Loic CANONNE-VELASQUEZ. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Methods for performing power control in new radio (NR) systems

Номер патента: US12127133B1. Автор: Janet Stern-Berkowitz,Moon-Il Lee,Afshin Haghighat,Virgil Comsa,Loic CANONNE-VELASQUEZ. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2024-10-22.

System and method for individually inspecting objects in a stream of products and a sorting apparatus comprising such system

Номер патента: US09924105B2. Автор: Dirk Adams,Pieter Op De Beeck. Владелец: Visys NV. Дата публикации: 2018-03-20.

Method and apparatus for transmitting uplink data using multiple serving cells

Номер патента: US09769822B2. Автор: Joonkui Ahn,Suckchel Yang,Dongyoun Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-09-19.

Apparatus and method for providing a common interface for multiple wireless communication protocols

Номер патента: US09661079B2. Автор: Prasad Samudrala,Alexander Chernoguzov,Norman R. Swanson,Christopher Pulini,William Osei-Bonsu. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Methods for controlling standing wave accelerator and systems thereof

Номер патента: US09491842B2. Автор: Jianping Cheng,Chuanxiang Tang,Huaibi Chen,Wenhui HUANG,Qingxiu JIN,Shuxin Zheng,Shi Wang,Jiaru Shi,Yuzheng LIN,Dechun TONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Apparatus and method for channel feedback in multiple input multiple output system

Номер патента: US09425876B2. Автор: Hyo-jin Lee,Youn-Sun Kim,Chan-Byoung Chae,Hyoung-Ju JI,Young-Woo Kwak,Hyoung-Youl YU,Min Soo Sim,Yeon-Geun Lim. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2016-08-23.

System and method for signal transmission and receive using multiple frequency bands in wireless communication system

Номер патента: RU2446578C1. Автор: Дзунг-Дзе СОН,Дзае-Хее ЧО,Вон-Ил РОХ,Йеонг-Моон СОН,Хиун-Дзеонг КАНГ,Сунг-Дзин ЛИ,Янг-Бин ЧАНГ,Чанг-Йоон ОХ,Дзае-Хиук ДЗАНГ,Биунг-Воок ДЗУН. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2012-03-27.

System and method for inspecting interior of structure

Номер патента: US20200084420A1. Автор: Naofumi Ito. Владелец: JAL Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-12.

System and method for inspecting interior of structure

Номер патента: EP3620392A1. Автор: Naofumi Ito. Владелец: JAL Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-11.

Device and method for adjusting collision timing between electron beam and laser light

Номер патента: EP2164307A4. Автор: Yasuo Sakai,Hiroyuki Nose,Namio Kaneko,Fumito Sakamoto,Katsuhiro Dobashi,Daisuke Ishida,Mitsuru Uesaka. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2011-08-31.

Method for evenly coating semiconductor laser end faces and frame used in the method

Номер патента: US20020076943A1. Автор: Masayuki Ohta. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-20.

Systems and methods for compact laser wakefield accelerated electrons and x-rays

Номер патента: EP3941353A1. Автор: Toshiki Tajima,Gerard Mourou,Ales NECAS,Dante ROA. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2022-01-26.

Systems and methods for compact laser wakefield accelerated electrons and x-rays

Номер патента: CA3134044A1. Автор: Toshiki Tajima,Gerard Mourou,Ales NECAS,Dante ROA. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

System and method for inspecting a mower

Номер патента: US20060277583A1. Автор: Luis Claudio. Владелец: Sears Brands LLC. Дата публикации: 2006-12-07.

Apparatus and method for providing code timing acquisition in a mobile communication system using multiple antennas

Номер патента: US20050190819A1. Автор: June-Hyeok Im,Chul-Jin Kim,In-Kwon Paik,Yun-Ju Kwon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2005-09-01.

Fan clutch system and method for accessing components of the fan clutch system

Номер патента: US20140209427A1. Автор: Craig M. Swanson,Thomas M. Jagger. Владелец: Kit Masters Inc. Дата публикации: 2014-07-31.

Apparatus and method for detecting signals in a communication system using multiple antennas

Номер патента: US20090086803A1. Автор: Hyo-jin Lee,Jae-Yoel Kim,Hong-Sil Jeong,Sung-Eun Park,Seung-Hoon Choi,Dong-Min Shin,Kyeongcheol Yang. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2009-04-02.

Method and apparatus for transmitting/receiving data using multiple carriers in mobile communication system

Номер патента: US09992773B2. Автор: Soenghun KIM,Youngbum Kim,Kyeongin Jeong. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Apparatus and a method for inspecting a light transmissive optical component

Номер патента: US09970884B1. Автор: Anna Liu,Changli WU,Vladislav NIKITIN. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Fan clutch system and method for accessing components of the fan clutch system

Номер патента: US09853531B2. Автор: Craig M. Swanson,Thomas M. Jagger. Владелец: Kit Masters Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

System and method for multi-threaded OFDM channel equalizer with coprocessor

Номер патента: US09780978B2. Автор: Octavian Valeriu Sarca. Владелец: Redline Communications Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Statistical analytic method for the determination of the risk posed by file based content

Номер патента: US09729564B2. Автор: Samuel Harrison Hutton. Владелец: Glasswall IP Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Method and apparatus for scheduling user equipment on full-duplex cellular network

Номер патента: US09698963B2. Автор: Qing Wang,Xiufeng Wu,Long Luo,Linjun Lv. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Rapid automated infrared thermography for inspecting large composite structures

Номер патента: US09645012B2. Автор: Gary E. Georgeson,Bobby J. Marsh,Jeffrey R. Thompson. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-05-09.

Liquid crystal display panel and black picture insertion method for the panel displayed in 3D mode

Номер патента: US09564093B2. Автор: JIANG Zhu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

System and method for multiple-input multiple-output communication

Номер патента: US09467212B2. Автор: Halim Yanikomeroglu,Ramy GOHARY. Владелец: Huawei Technologies Canada Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Statistical analytic method for the determination of the risk posed by file based content

Номер патента: US09330264B1. Автор: Samuel Harrison Hutton. Владелец: Glasswall IP Ltd. Дата публикации: 2016-05-03.

System and method for personal health monitor data compaction using multiple encoding algorithms

Номер патента: US12039164B2. Автор: Joshua Cooper,Charles Yeomans. Владелец: Atombeam Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Transmission configuration indications for downlink transmissions using multiple transmission and reception points

Номер патента: EP4399803A1. Автор: Yang Zhang,Ling Yang,Bo Gao,Zhaohua Lu,Ke YAO,Wenfeng Liu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-17.

Transmission configuration indications for uplink transmissions using multiple transmission and reception points

Номер патента: US20240260120A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Ke YAO,Xiaolong GUO,Meng MEI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Transmission configuration indications for downlink transmissions using multiple transmission and reception points

Номер патента: US20240259171A1. Автор: Yang Zhang,Ling Yang,Bo Gao,Zhaohua Lu,Ke YAO,Wenfeng Liu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Apparatus and method for image outpainting based on learning of a single input image

Номер патента: US20230169628A1. Автор: Ju-Won Lee,Jung-jae Yu. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-06-01.

System and method for data compaction and security using multiple encoding algorithms with pre-coding and complexity estimation

Номер патента: US20230315288A1. Автор: Aliasghar RIAHI,Mojgan HADDAD,Joshua Cooper,Ryan Kourosh Riahi,Razmin Riahi,Charles Yeomans. Владелец: Atombeam Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

Method for load balancing using multiple interfaces and apparatus therefor

Номер патента: US20150237526A1. Автор: Jung Sik Kim,Sung Back Hong,Geon Tae Park,Pyung Koo Park. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2015-08-20.

Systems and methods for detecting attack vectors to application data

Номер патента: EP4414875A1. Автор: Jeffrey Napper,Marcelo Yannuzzi,Hendrikus Bosch,Mirko RACA. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Transmission configuration indications for uplink transmissions using multiple transmission and reception points

Номер патента: WO2024159463A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Ke YAO,Xiaolong GUO,Meng MEI. Владелец: ZTE CORPORATION. Дата публикации: 2024-08-08.

A method for accelerating pipelined cryptographic implementations

Номер патента: WO2016142330A1. Автор: Andrey Bogdanov,Martin Mehl LAURIDSEN,Elmar Wolfgang TISCHHAUSER. Владелец: DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET. Дата публикации: 2016-09-15.

Multiple access network and method for digital radio systems

Номер патента: WO2002035857A8. Автор: Peter Monsen. Владелец: Peter Monsen. Дата публикации: 2002-10-10.

Systems and Methods for Detecting Attack Vectors to Application Data

Номер патента: US20240273203A1. Автор: Hendrikus G. P. Bosch,Marcelo Yannuzzi,Mirko RACA,Jeffrey M. Napper. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Transmission configuration indications for uplink transmissions using multiple transmission and reception points

Номер патента: EP4434281A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Ke YAO,Xiaolong GUO,Meng MEI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

System and method for transferring a session between multiple clients

Номер патента: EP2272184A1. Автор: Sung-Jin Park,Seung-Yong Lee,Kyung-Tak Lee,Hyeon-Sang Eom. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-01-12.

Systems and methods for interactive program guides with personal video recording features

Номер патента: US09930374B2. Автор: William L. Thomas,Michael D. Ellis,Joseph P. Baumgartner,Danny R. Gaydou,M. Scott Reichardt. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

System and method for transferring a session between multiple clients

Номер патента: US09906603B2. Автор: Sung-Jin Park,Seung-Yong Lee,Kyung-Tak Lee,Hyeon-Sang Eom. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-27.

Method and apparatus for correcting errors in a multiple subcarriers communication system using multiple antennas

Номер патента: US09853776B2. Автор: Bin Chul Ihm,Jin Young Chun,Moon II Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-12-26.

Systems and methods for interactive program guides with personal video recording features

Номер патента: US09648358B2. Автор: William L. Thomas,Michael D. Ellis,Joseph P. Baumgartner,Danny R. Gaydou,M. Scott Reichardt. Владелец: Rovi Guides Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Method for load balancing using multiple interfaces and apparatus therefor

Номер патента: US09622114B2. Автор: Jung Sik Kim,Sung Back Hong,Geon Tae Park,Pyung Koo Park. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-04-11.

Method for dynamic allocation of radio resources in wireless communication system and device therefor

Номер патента: US09549395B2. Автор: Hanbyul Seo,Seungmin Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-17.

Method of inspecting a sample, and multi-electron beam inspection system

Номер патента: EP4136436A1. Автор: Bernhard G. Mueller,Peter Nunan. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-02-22.

Fusing One or More Cross Sections by Electron Beam Powder Bed Fusion

Номер патента: US20240091858A1. Автор: Frank Heinrichsdorff,Jan Drendel,Ruslan Logvinov. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2024-03-21.

System and method for determining a pathway of obtaining data stored in a RAID-type data storage system using multiple pathways for retrieving requested data

Номер патента: TWI291095B. Автор: Steven Robert Hetzler,Daniel Felix Smith. Владелец: Ibm. Дата публикации: 2007-12-11.

Method for Producing Artificial Bone and Artificial Bone Produced by the Method

Номер патента: US20110257744A1. Автор: Nobuo Sasaki,Yuichi Tei,Koichi Amaya,Yukinori Urushizaki,Hideto Matsubara. Владелец: Matsuura Machinery Corp. Дата публикации: 2011-10-20.

Systems and methods for facilitating surgical practice

Номер патента: WO2021263220A1. Автор: Neil Cambronero. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2021-12-30.

METHOD FOR REMOVING NOISE ON RAST IMAGES BASED ON FULL VARIATION

Номер патента: RU2015151623A. Автор: Нгок Хоанг Тхань Данг,Сергей Данилович Двоенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тульский государственный университет" (ТулГУ). Дата публикации: 2017-06-06.

Inspection apparatus, system and method for detecting an inspection sample

Номер патента: JPH11514849A. Автор: スキフィントン，リチャード,ゾーマー，エリーザー. Владелец: チャーム サイエンシズ インコーポレイテッド. Дата публикации: 1999-12-21.

Layout method for semiconductor chip, method of manufacturing semiconductor chip using the same, and computing device

Номер патента: US20230359805A1. Автор: Kihyun Kim,Donyun Kim,Nohong KWAK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-09.

Device and method for collecting and measuring chemical samples on pad surface in CMP

Номер патента: US6605159B2. Автор: Michael J. Joslyn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2003-08-12.

Apparatus and methods for efficient processing of biological samples on slides

Номер патента: US6703247B1. Автор: Wei-Sing Chu. Владелец: American Registry of Pathology. Дата публикации: 2004-03-09.

Container and method for high volume treatment of samples on solid supports

Номер патента: US6503457B1. Автор: Rob Neeper,John Lillig,John Bridwell,Allan Childers. Владелец: Discovery Partners International Inc. Дата публикации: 2003-01-07.

Method for 3D printing of shell sample on disinfection robot

Номер патента: CN113715358A. Автор: 梅自成. Владелец: Guangdong Dongzhi Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-11-30.

Apparatus and methods for efficient processing of biological samples on slides

Номер патента: AU2483700A. Автор: Wei-Sing Chu. Владелец: American Registry of Pathology. Дата публикации: 2000-07-31.

Apparatus and method for measuring reaction result of samples on biosensor

Номер патента: CN1302281C. Автор: 刘珍雅,裴柄宇,李星东,李宪权,金元东,宋汀植. Владелец: Infopia Co Ltd. Дата публикации: 2007-02-28.

Analysis system and method for analysing a bodily fluid sample on an analyte contained therein

Номер патента: EP2062643B1. Автор: Volker Degenhardt. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2012-01-18.

Apparatus and method for measuring reaction result of samples on biosensor

Номер патента: US20060163086A1. Автор: Sung-Dong Lee,Won-Dong Kim,Byung-Woo Bae,Heon-Kwon Lee,Jung-Shik Song,Jin-A Yoo. Владелец: Infopia Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-27.

Inspection system and method for inspecting a sample by using a plurality of spaced apart beams

Номер патента: US20170307539A1. Автор: Ron Naftali,Boris Golberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-26.

Systems, devices, and methods for performing a non-contact electrical measurement on a cell, non-contact electrical measurement cell vehicle, chip, wafer, die, or logic block

Номер патента: US20240329128A1. Автор: Qi Hu,Marian Mankos,Christopher Hess,Indranil De,Dennis Ciplickas,Jeremy Cheng,Balasubramanian MURUGAN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Systems, devices, and methods for performing a non-contact electrical measurement on a cell, non-contact electrical measurement cell vehicle, chip, wafer, die, or logic block

Номер патента: US12038476B2. Автор: Qi Hu,Marian Mankos,Christopher Hess,Indranil De,Dennis Ciplickas,Jeremy Cheng,Balasubramanian MURUGAN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Method for inspection of closed underground mines using unmanned aerial vehicles

Номер патента: RU2708799C1. Автор: Виктор Сергеевич Игнатчик,Феликс Владимирович Кармазинов,Юрий Анатольевич Курганов,Светлана Юрьевна Игнатчик,Денис Михайлович Иванов,Михаил Давидович Пробирский,Наталия Викторовна Кузнецова,Максим Николаевич Клементьев,Вячеслав Борисович Жеребцов. Владелец: Государственное Унитарное Предприятие "Водоканал Санкт-Петербурга". Дата публикации: 2019-12-11.

Method for electron beam surfacing with vertical filler wire supply

Номер патента: RU2753069C1. Автор: Дмитрий Николаевич Трушников,Степан Владимирович Варушкин. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет". Дата публикации: 2021-08-11.

Method for complex strengthening treatment of article from titanium alloy ti-6al-4v produced by additive production method

Номер патента: RU2716926C1. Автор: Сергей Викторович Панин,Дмитрий Геннадьевич Буслович,Алексей Викторович Панин,Сергей Андреевич Мартынов,Марина Сергеевна Казаченок,Елена Александровна Синякова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики прочности и материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук (ИФПМ СО РАН). Дата публикации: 2020-03-17.

Device for sterilization of flexible packages with electron beam irradiation and a method of sterilizing flexible packages

Номер патента: RU2737900C9. Автор: БОНОРА Хорди БОЙРА,КОЙТ Даниэль ФЛЕТА,САЛЬЕТТИ Карлос РОУРА. Владелец: Грифольс Энджиниринг, С.А.. Дата публикации: 2021-01-25.

Method for inspecting shaped product, and method for manufacturing shaped product

Номер патента: EP3940374A1. Автор: Takahisa Aoyama,Hayato Tsuda,Yuuki Kuwajima. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Apparatus for inspecting shoes and method for inspecting shoes using the same

Номер патента: US20230280241A1. Автор: Kyung Hyun Park,Il Min LEE,Mugeon KIM,Eui Su LEE,Da Hye Choi. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-09-07.

Adhering matter inspection equipment and method for inspecting adhering matter

Номер патента: US20110278469A1. Автор: Izumi Waki,Hideo Kashima,Yasuaki Takada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-11-17.

Method, inspection unit and computer program product for inspecting an inner surface of a tire, and tire processing assembly comprising the inspection unit

Номер патента: WO2024175708A1. Автор: Clemens Jozef Anton ELFERINK,Hemmeterius Bernardus Broek,Djorro Frans BLEIJ,Stefan Dick FRIJNTS. Владелец: VMI HOLLAND B.V.. Дата публикации: 2024-08-29.

Method, inspection unit and computer program product for inspecting an inner surface of a tire, and tire processing assembly comprising the inspection unit

Номер патента: NL2034216B1. Автор: Jozef Anton Elferink Clemens,Dick Frijnts Stefan,Frans Bleij Djorro,Bernardus Broek Hemmeterius. Владелец: VMI Holland BV. Дата публикации: 2024-09-05.

System and method for denoising a region of interest of a pattern

Номер патента: US20240362755A1. Автор: Vladislav Kaplan. Владелец: Etrology LLC. Дата публикации: 2024-10-31.

Method for modifying silumins

Номер патента: RU2666817C2. Автор: Денис Анатольевич Романов,Виктор Евгеньевич Громов,Сергей Валерьевич Коновалов,Юрий Федорович Иванов,Елена Владимировна Мартусевич,Крестина Владимировна Аксенова,Луиза Равшановна Бахриева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет". Дата публикации: 2018-09-12.

Method for additive welding and melting manufacture of three-dimensional products and installation for its implementation

Номер патента: RU2674588C2. Автор: Виталий Викторович Биттер,Антон Вячеславович Филатов,Олег Владимирович Кривенко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научный логистический центр". Дата публикации: 2018-12-11.

Method and device for one-handed operation on full screen

Номер патента: RU2654148C2. Автор: Цзюнь ТАО,Аньюй ЛЮ,Гошен ЛИ. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-05-16.

Method and apparatus for inspecting process solution, and sample preparation apparatus in inspection

Номер патента: US20160061695A1. Автор: Chi-Wen Kuo,Tzu-Sou Chuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Tire building machine and method for inspecting a tire component produced in said tire building machine

Номер патента: WO2023090999A1. Автор: Willem Marinus VAN BEEK. Владелец: VMI HOLLAND B.V.. Дата публикации: 2023-05-25.

Systems and methods for generating floorplans from large area scanning

Номер патента: US20240127427A1. Автор: Erkang Wei,James Nathan Swidersky,Claudio Sa. Владелец: Mappedin Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Method for inspecting labeling on bounding box by using deep learning model and apparatus using same

Номер патента: US20220366677A1. Автор: Se Yeob Kim. Владелец: Select Star Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Method for inspecting honeycomb structure

Номер патента: EP2913666A3. Автор: Yosuke Uesaka. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2015-09-23.

Method for inspecting road surface condition, road surface condition inspection device, and road surface condition inspection system

Номер патента: US20230264696A1. Автор: Yoshinori Watanabe,Atsushi Kodama,Atsushi Sone,Nobuhide Kamata,Yuki Okamoto,Taichi Kawanai,Yosuke Hirate,Sho AMAGAI,Kosuke FUTAGAMI. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Systems and methods for auditing image inspection quality

Номер патента: US20240331121A1. Автор: Akira Wakatsuki. Владелец: Woven by Toyota Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Tire building machine and method for inspecting a tire component produced in said tire building machine

Номер патента: EP4433288A1. Автор: Willem Marinus VAN BEEK. Владелец: VMI Holland BV. Дата публикации: 2024-09-25.

Device and method for inspecting containers in a cleaning facility

Номер патента: ZA202300835B. Автор: Jean-Claude Waeldin. Владелец: SIDEL PARTICIPATIONS. Дата публикации: 2024-08-28.

Method and system for inspecting an electrically conductive component for a wind turbine blade

Номер патента: WO2024199662A1. Автор: Aparna Chakrapani Sheila-Vadde,Kumar Koyithitta Meethal Manoj,Prasad Thapa,Mamatha VENUGOPAL,Vikas Kaushik. Владелец: LM WIND POWER A/S. Дата публикации: 2024-10-03.

Method for electron-beam welding of closed spherical and cylindrical vessels and protective device for its implementation

Номер патента: RU2733964C1. Автор: Сергей Викторович Ковалев,Лариса Павловна Шуваева,Сергей Степанович Юхневич,Евгений Владимирович Паничев,Геннадий Иванович Бабичев. Владелец: Акционерное общество "Конструкторское бюро химавтоматики" (АО КБХА). Дата публикации: 2020-10-08.

Method and apparatus for inspecting welding zone, system and method for controlling welding process

Номер патента: RU2312745C2. Автор: Пер ХЕНРИКСОН,Пер ХЕНРИКСОН (SE). Владелец: Вольво Аэро Корпорейшн. Дата публикации: 2007-12-20.

Electron beam sterilised medical device with bioactive coating

Номер патента: RU2591829C2. Автор: Джонатон З. ЧЖАО,Роберт ФАЛОТИКО,Теодор Л. ПАРКЕР,Тай Минх НГУЙЕН,Чэнсюэ ЛИ. Владелец: Кордис Корпорейшн. Дата публикации: 2016-07-20.

System and method for automated design of building utilities

Номер патента: RU2543300C2. Автор: Грегори Р. ШНАККЕЛЬ. Владелец: ЭйИЭй ИНТЕГРЕЙШН. Дата публикации: 2015-02-27.

Method of electron-beam melting lateral surface ingots of heat-resistant alloys

Номер патента: RU2673702C1. Автор: Павел Михайлович Явтушенко,Анатолий Данилович Рябцев,Максим Викторович Клочай,Алексей Иванович Амелин. Владелец: Публичное акционерное общество "Русполимет". Дата публикации: 2018-11-29.

Method for rapid assessment of results of electron-beam thermal action on objects in a vacuum chamber

Номер патента: RU2702537C1. Автор: Михаил Павлович Козочкин,Сергей Вольдемарович Федоров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" (ФГБОУ ВО "МГТУ "СТАНКИН"). Дата публикации: 2019-10-08.

Method for inspecting welds of fuel elements

Номер патента: RU2194313C2. Автор: Е.А. Филиппов,В.В. Рожков,И.Г. Чапаев,А.М. Лузин,В.И. Батуев. Владелец: Открытое акционерное общество "Новосибирский завод химконцентратов". Дата публикации: 2002-12-10.

Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles

Номер патента: US5479252A. Автор: Hans J. Hansen,Ken K. Lee,Christopher R. Fairley,Bruce W. Worster,Dale E. Crane. Владелец: Ultrapointe Corp. Дата публикации: 1995-12-26.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: US12025565B2. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-02.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: EP4242644A1. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-09-13.

Inspection apparatus and method for inspecting a sheet in a press

Номер патента: EP3197615A1. Автор: Stefano Bergami,Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2017-08-02.

Device and method for inspecting an industrial vehicle

Номер патента: EP4288748A1. Автор: Andrea Filippini,Carlo PETRELLI,Daniele PARAZZA,Federico Frontali. Владелец: Kiwitron Srl. Дата публикации: 2023-12-13.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: WO2019010087A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2019-01-10.

Method for inspecting refrigerant pipe and refrigerant pipe

Номер патента: US20220107275A1. Автор: Kunihiro Okada,Yuuji Tanaka,Hideo Ohya,Keisuke IMAZU,Shouhei ARAKI,Sayumi HAMA. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Particle suspensions used as low-contrast standards for inspection of liquids

Номер патента: EP3019850A1. Автор: Gregory L. Kirk,Francisco Kole,Winfred Tee Chow,Johannes G.M. CHRISTIAANSE. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-05-18.

Apparatus and method for inspecting semiconductor

Номер патента: US12025652B2. Автор: Min Kim,Mi-Sol YOUN,Kyoung Woon MIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement tool and methods for euv lithography masks

Номер патента: EP4405754A1. Автор: Yoshihiro Tezuka,Charles Holzwarth,Marieke Ordway. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

Inspection system for yarn bobbins and method for inspecting yarn bobbins

Номер патента: WO2023143740A1. Автор: Hakan Konukoglu,Gökhan Aydin. Владелец: Sanko Tekstil Isletmeleri Sanayi Ve Ticaret Anonim Sirketi Baspinar Subesi. Дата публикации: 2023-08-03.

Intelligent system and method for inspecting offshore oil and gas pipelines

Номер патента: NL2025790B1. Автор: Li Hui,LI Pengxiang. Владелец: Univ Hainan. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for inspecting items of luggage in order to detect objects

Номер патента: US20240242518A1. Автор: Klaus-Dieter Müller,Geert Heilmann,Seyed Mohammad Razavi,Matthias MÜNSTER. Владелец: Smiths Detection Germany GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

Apparatus and method for nondestructively inspecting fiberglass and nonmetallic pipes

Номер патента: EP3649463A1. Автор: Ahmed S. Al-Omari. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2020-05-13.

Optical system and method for inspection and characterization of liquids in vessels

Номер патента: WO2008140473A3. Автор: Ronald H Micheels,Ranganathan Shashidhar,Karen K Carpenter. Владелец: Karen K Carpenter. Дата публикации: 2008-12-31.

Particle suspensions used as low-contrast standards for inspection of liquids

Номер патента: WO2015006532A1. Автор: Gregory L. Kirk,Francisco Kole,Winfred Tee Chow,Johannes G.M. CHRISTIAANSE. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-01-15.

System and method for inspecting poultry slaughter products

Номер патента: US20240276993A1. Автор: Engelbertus Johannes Jacobus TEURLINX,Richard Jozef DE SCHUTTER,Stefan Theodorus Petronella ARTS,Allard Emile Bernardus Martinet. Владелец: Marel Poultry BV. Дата публикации: 2024-08-22.

System and method for hole inspection

Номер патента: US12061169B2. Автор: Neil Goldfine,Todd DUNFORD,Stuart Chaplan. Владелец: Jentek Sensors Inc. Дата публикации: 2024-08-13.

Apparatus for Inspecting a Display Device and Method for Inspecting the Display Device

Номер патента: US20080088337A1. Автор: Jong-Kun Yoo,Se-Chun Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2008-04-17.

System and method for inspecting poultry slaughter products

Номер патента: US20240276995A1. Автор: Engelbertus Johannes Jacobus TEURLINX,Richard Jozef DE SCHUTTER,Stefan Theodorus Petronella ARTS,Allard Emile Bernardus Martinet. Владелец: Marel Poultry BV. Дата публикации: 2024-08-22.

An underfloor wheelset inspection device and a method for probing railway vehicle wheelsets using the underfloor wheelset inspection device

Номер патента: EP4417959A1. Автор: Yu Zhang,Chaoyong PENG,Jianguang GUO,Zhaoyuan Zhang. Владелец: DTEC GmbH. Дата публикации: 2024-08-21.

Parametric and modal work-holding method for automated inspection

Номер патента: EP4436755A1. Автор: Jonathan J. O'hare,Jonathan Dove. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Seam inspection device and seam inspection method for cigarette filter

Номер патента: EP4442131A1. Автор: Kazumasa Arae,Atsuhiro TSUNAKAWA,Takahiro MIYAGISHI. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Inkjet printing apparatus and method for inspecting inkjet head using same

Номер патента: US12109806B2. Автор: Byung Chul Lee,Myung Soo Huh,Cheol Lae Roh,Heung Cheol JEONG,Do Hun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Inspection method and apparatus for inspecting containers to determine whether inspection apparatus is operational

Номер патента: US12130240B2. Автор: Christof Will. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-10-29.

Parametric and modal work-holding method for automated inspection

Номер патента: US12066808B2. Автор: Jonathan J. O'hare,Jonathan Dove. Владелец: Hexagon Metrology Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Apparatus and method for inspecting navigation safety facilities by using flight vehicle

Номер патента: US11996000B2. Автор: Jin Young Hong,Woo Ram Son,Gyu Jin SON,Hyun Bae YANG,Byong Kwang KIM,Su In SIM. Владелец: Korea Airports Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Pipeline inspection device and methods for detecting a defect in a pipeline wall

Номер патента: WO2024099556A1. Автор: Michael Haas,Magne AANES. Владелец: NDT Global Corporate Ltd.. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection system for inspecting an object and inspection method for same

Номер патента: US09964401B2. Автор: Philippe Lambert,Jean-Daniel Deschenes,Nicolas MARTEL-BRISSON,Sebastien Quirion. Владелец: Polyrix Inc. Дата публикации: 2018-05-08.

System and method for inspecting emotion recognition capability using multisensory information, and system and method for training emotion recognition using multisensory information

Номер патента: US09934426B2. Автор: Jiyoung Kim,Hyun Teak KIM,Ji Woon JEONG,Yeseul CHUN. Владелец: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION. Дата публикации: 2018-04-03.

System and method for inspecting misalignment between display panel and film patterned retarder

Номер патента: US09897817B2. Автор: Sunghyun BAE,Hyeyoun AN. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

System and method for inspection of system state during testing

Номер патента: US09747181B2. Автор: Juraj Marko,Dalibor Pospi{hacek over (s)}il. Владелец: Red Hat Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Apparatus and method for inspecting inkjet print head

Номер патента: US09701130B2. Автор: Yoshinori Misumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Method for inspecting an infrastructure, compton scattering inspection device and method of operating thereof

Номер патента: US09599579B2. Автор: Shawn DURETTE. Владелец: Inversa Systems Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Particle suspensions used as low-contrast standards for inspection of liquids

Номер патента: US09562846B2. Автор: Greg Kirk,Francisco Kole,Johannes G. M. Christiaanse,Winfred Tee Chow. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Method for applying a multilayer coating to optical substrates and an installation for implementing the method

Номер патента: RU2771511C1. Автор: Валерий Григорьевич Жупанов,Павел Алексеевич Новиков,Дмитрий Романович Павлышин. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский институт Научно-производственное объединение "ЛУЧ" (АО "НИИ НПО "ЛУЧ"). Дата публикации: 2022-05-05.

Method for production of the actinium-225 and its daughter elements

Номер патента: RU2260217C2. Автор: Скотт ШЕНТЕР,Стэн САТЦ. Владелец: Стэн САТЦ. Дата публикации: 2005-09-10.

Method for tooth crowns manufacture from zirconium dioxide

Номер патента: RU2631104C1. Автор: Геннадий Васильевич Смирнов,Дмитрий Геннадьевич Смирнов,Ирина Анатольевна Екимова,Николай Николаевич Коваль,Юрий Федорович Иванов,Антон Дмитриевич Тересов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. Дата публикации: 2017-09-18.

Method for determining porosity, associated with organic substance, in a well or in a productive strata

Номер патента: RU2679204C1. Автор: Яомин МУ,Джоэл УОЛЛС,Энайела МОРКОУТ,Маркус ГЭНЗ. Владелец: Ингрейн, Инк.. Дата публикации: 2019-02-06.

Method for continuous monitoring of the thickness of ceramics sprayed onto the blades in an electron beam vacuum installation

Номер патента: RU2765136C1. Автор: Николай Васильевич Нестеров,Владимир Геннадьевич Опокин,Ринат Галимчанович Равилов. Владелец: Публичное акционерное общество "ОДК-Уфимское моторостроительное производственное объединение" (ПАО "ОДК-УМПО"). Дата публикации: 2022-01-25.

Method for preparation of sunflower seeds for extraction of oil

Номер патента: RU2602291C1. Автор: Валентин Витальевич Деревенко. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кубанский государственный технологический университет" (ФГБОУ ВО "КубГТУ"). Дата публикации: 2016-11-20.

Method for production of linear alpha-olefins

Номер патента: RU2758057C1. Автор: Валентин Николаевич Пармон,Юрий Дмитриевич Черноусов,Василий Александрович Болотов,Александр Георгиевич Грибовский,Олег Александрович Анисимов,Андрей Владимирович Никитёнок,Владимир Тимурович Шамирзаев,Андрей Александрович Петин. Владелец: Акционерное общество "Газпромнефть - Омский НПЗ" (АО "Газпромнефть-ОНПЗ"). Дата публикации: 2021-10-26.

Luminescent method for determination of the concentration of impurities in crystalline materials

Номер патента: RU2667678C1. Автор: Валентин Иванович Барышников,Ольга Валерьевна Горева,Юлия Александровна Григорьева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Иркутский государственный университет путей сообщения (ФГБОУ ВО ИрГУПС). Дата публикации: 2018-09-24.

Methods and systems for inspection of an entire wafer surface using multiple detection channels

Номер патента: US7130036B1. Автор: Wayne Mcmillan,Lionel Kuhlmann. Владелец: KLA Tencor Technologies Corp. Дата публикации: 2006-10-31.

System and method for automated cosmetic inspection of electronic devices

Номер патента: US20190340741A1. Автор: Brian Morris,Clark Humphrey. Владелец: FedEx Supply Chain Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

System and method for automatic inspection of vehicles

Номер патента: US20240230473A9. Автор: Avihu Meir Gamliel,Ori Yakov DANGUR,David GRUN. Владелец: Spinframe Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for producing isotopes, in particular method for producing radioisotopes by means of gamma-beam irradiation

Номер патента: WO2012022491A1. Автор: Ulli Koster,Dietrich Habs. Владелец: Institut Max Von Laue - Paul Langevin. Дата публикации: 2012-02-23.

System and method for infrastructure inspection

Номер патента: US20230350066A1. Автор: Carlos José BERNABEU GONZALEZ. Владелец: Arborea Intellbird SL. Дата публикации: 2023-11-02.

System and method for infrastructure inspection

Номер патента: EP4191284A1. Автор: Carlos José BERNABEU GONZALEZ. Владелец: Arborea Intellbird SL. Дата публикации: 2023-06-07.

Metal ratio inspection method, method for producing electrically heating catalyst, and method for producing honeycomb structure

Номер патента: US20230302440A1. Автор: Takashi Noro,Takamichi Sato,Rina Yokoi. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Method for inspecting core shroud using remote operated vehicle (rov)

Номер патента: US20210125738A1. Автор: William Aaron Morrison,Vincent Carl Vigliano,Edmund S. Mercier. Владелец: GE HITACHI NUCLEAR ENERGY AMERICAS LLC. Дата публикации: 2021-04-29.

Apparatus for inspecting circuit board and method of inspecting circuit board

Номер патента: US20090153146A1. Автор: Satoshi Suzuki,Kiyoshi Kimura,Sugiro Shimoda,Fujio Hara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-06-18.

Method for inspecting a collection of wooden parts

Номер патента: WO2011155818A1. Автор: Marcel Verweij. Владелец: Multigarant B.V.. Дата публикации: 2011-12-15.

Driving belt inspection device and method for wafer transfer module

Номер патента: US20240132295A1. Автор: Dae Il Kwon,Hee Jae GOO. Владелец: Sungkyunkwan University Research and Business Foundation. Дата публикации: 2024-04-25.

Method for processing a measuring probe for recording surface properties or for modifying surface structures in the sub-micrometer range and measuring probe

Номер патента: US20240241152A1. Автор: Beatriz Roldan Cuenya,Martin Munz,Christopher Seiji KLEY. Владелец: Helmholtz Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for automated cosmetic inspection

Номер патента: US20140267691A1. Автор: Brian Morris,Clark Humphrey. Владелец: ATC Logistics and Electronics Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Method for generating sterile zeugodacus scutellata males by using electron beam irradiation and method for controlling zeugodacus scutellata by using same

Номер патента: US20220400659A1. Автор: Yong Gyun Kim. Владелец: Andong National University Industry Academic Cooperation Foundation. Дата публикации: 2022-12-22.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US20220092799A1. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspecting circuit layout for lcd panel and fabricating method for lcd panel

Номер патента: US20080043198A1. Автор: Meng-Chi Liou,Fu-Yuan Shiau,Chih-Yu Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-02-21.

System and method for calibrating inspection of a feature on a part

Номер патента: US20210255155A1. Автор: Mario Blais,Clement Drouin Laberge. Владелец: Pratt and Whitney Canada Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Electronic equipment having laser component and capability of inspecting leak of laser and inspecting method for inspecting leak of laser thereof

Номер патента: US20110267429A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Hsu-Hung Chen,Yu-Chi Chung. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2011-11-03.

Inspection apparatus and method for inspecting a component

Номер патента: US20240077438A1. Автор: Timothy Hanlon,Richard Didomizio,Henning Schroeder,Eric John Telfeyan,Adarsh SHUKLA,Roald Alberto TAGLE BERDAN,Ramkumar Kashyap Oruganti,Walter Vincent Dixon, Iii,Daniel M. Ruscitto,Michael Christopher Andersen,Wayne Lee Lawrence,Jonathan Rutherford Owens,Gregory Donald Crim,Michael Wylie Krauss,André Dziurla,Sven Martin Joachim Larisch,Falk Reinhardt. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection system for inspection of a lateral surface of a three-dimensional test object

Номер патента: US20210190482A1. Автор: Ulf Porth,Bertram Burkhardt,Oliver Habermann. Владелец: Muehlbauer GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-24.

Method and system for inspecting and measuring installed one-sided fasteners in a structure

Номер патента: EP4425159A1. Автор: Nicholas C. REASONER. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-04.

Transport system for transporting a green tire and method for inspecting a green tire

Номер патента: WO2024215195A1. Автор: Evert Doppenberg,Antonius Willibrordus Joseph Stout. Владелец: VMI HOLLAND B.V.. Дата публикации: 2024-10-17.

Method and inspection apparatus for inspecting containers provided with closures, and method and closure apparatus for closing containers

Номер патента: US20240311992A1. Автор: Thomas Bock,Stefan Poeschl,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus and method for inspecting an object

Номер патента: US12111269B2. Автор: Massimo Balducci. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-10-08.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US12062196B2. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

System and method for providing target threat assessment in a collision avoidance system on a vehicle

Номер патента: US09983306B2. Автор: Wende Zhang,Shuqing Zeng,Mark E. Shields. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2018-05-29.

Apparatus and method for inspecting a laminated structure

Номер патента: US09976988B2. Автор: Jeffrey R. Kollgaard,William J. Tapia. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-05-22.

Datum transfer apparatus and method for inspecting coated components

Номер патента: US09927220B2. Автор: Randall W. Joyner,James R. Murdock,Thomas H. Rogers,Michael A. Morden,Andrew J. Brinks. Владелец: United Technologies Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Method for inspecting photoresist pattern

Номер патента: US09921487B2. Автор: Kyung Jae PARK,Wooseok SHIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-20.

System and method for inspecting and validating flight procedure

Номер патента: US09902503B2. Автор: Tao Chen,WEI SU,Kun Liu,Yachao YU,Gang Wei,Yangting Ou. Владелец: Flight Inspection Center of CAAC. Дата публикации: 2018-02-27.

Method for inspecting touch-panel electrode substrate

Номер патента: US09846512B2. Автор: Shinji Matsumoto,Takenori Maruyama,Shogo Hayashi,Kazuya Yoshimura,Yuhji Yashiro,Kazutoshi Kida,Tsuyoshi Ohmori,Akira Yasuta. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Device and method for inspecting aluminum cables with a steel core (aluminum conductor steel reinforced—ASCR) installed in energized electrical energy lines

Номер патента: US09696280B2. Автор: Celio Fonseca Barbosa,Raphael Nunes De Souza,Flavio Eduardo Nallin. Владелец: Fundacao Cpqd Centro De Pesquisa E Desenvovlvimento Em Telecomunicacoes. Дата публикации: 2017-07-04.

Method for determining set value of pressure for inspection in wafer inspection apparatus

Номер патента: US09689916B2. Автор: Hiroshi Yamada. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

System and method for inspecting turbomachines

Номер патента: US09683460B2. Автор: Lawrence James Moore,Fredrick Levi Fuller,Jason Michael Boss,Bernard Baran Zabek,Gerald Marco Geraci,Michael Richard Pomykai. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-06-20.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and method for inspecting tires

Номер патента: US09658135B2. Автор: Rainer Huber,Marcus Steinbichler,Matthias Prams,Junli Sun,Emanuel Fuchs,Stefan Otte,Tobias Huber,Berndhart Leitner. Владелец: Steinbichler Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2017-05-23.

System and method for decoration inspection on transparent media

Номер патента: US09568436B2. Автор: Gerald WOOTTON. Владелец: ATS Automation Tooling Systems Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Lighting device for inspection and lighting method for inspection

Номер патента: US09494422B2. Автор: Shigeki Masumura. Владелец: CCS Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Method for tooth bridges parts manufacture

Номер патента: RU2624379C1. Автор: Геннадий Васильевич Смирнов,Дмитрий Геннадьевич Смирнов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. Дата публикации: 2017-07-03.

Method for outputting audio information about the technological process of electron-beam action

Номер патента: RU2727339C1. Автор: Михаил Павлович Козочкин,Сергей Вольдемарович Федоров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" (ФГБОУ ВО "МГТУ "СТАНКИН"). Дата публикации: 2020-07-21.

Method for silver proteinate production

Номер патента: RU2646105C1. Автор: Нина Евгеньевна Богданчикова,Василий Александрович Бурмистров,Галина Викторовна Одегова,Алексей Николаевич Пестряков,Илья Васильевич Бурмистров,Антон Васильевич Бурмистров,Александр Васильевич Бурмистров. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственный центр "Вектор-Вита". Дата публикации: 2018-03-01.

Method for determining heat resistance of austenite steels

Номер патента: RU2640317C1. Автор: Владимир Алексеевич Богачев,Татьяна Павловна Пшеченкова,Константин Константинович Крейцер,Галина Алексеевна Урусова,Мария Александровна Шумовская. Владелец: Открытое акционерное общество "Всероссийский дважды ордена Трудового Красного Знамени теплотехнический научно-исследовательский институт". Дата публикации: 2017-12-27.

Reducing molecular weight of polysaccharides by electron beam treatment

Номер патента: RU2323943C2. Автор: Кристиан ПРИУ,Лео Джаоцин ЛЮ,Кристиан ПРИУ (FR),Лео Джаоцин ЛЮ (US). Владелец: Родиа, Инк.. Дата публикации: 2008-05-10.

Device to retain components in method for repair of single-block turbine wheel blade

Номер патента: RU2446931C2. Автор: Жерар ДЕРРЬЕН,Клод Андре Шарль ПАНЬОН,Стефан КЕРНЕИ,СЭН Жак Франсуа ЛЕ. Владелец: Снекма Сервис. Дата публикации: 2012-04-10.

Method for testing a packaging substrate, and apparatus for testing a packaging substrate

Номер патента: WO2023217354A1. Автор: Bernhard G. Mueller. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

System and method for inspecting containers for target material

Номер патента: EP2227709A2. Автор: Joseph Bendahan,Walter Irving Garms,Mengqian Gu. Владелец: Morpho Detection LLC. Дата публикации: 2010-09-15.

Method and apparatus for inspecting vehicle

Номер патента: US20230342905A1. Автор: Jaesik Min,Minhoe Hur,Chan Jin Kang. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Special tooling and method for electron beam welding of cavity body and beam tube of superconducting niobium cavity

Номер патента: US20240227059A9. Автор: Wei Wen,Jia Tao,Zhihong Liu,Jianguo Ma,Nian Liu,Liming Peng,Zhenfei Liu,Jiefeng Wu. Владелец: Huainan New Energy Research Center. Дата публикации: 2024-07-11.

Apparatus, systems, and methods for inspecting tubulars of different sizes

Номер патента: US12031945B1. Автор: Danny Uselton. Владелец: Scan Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

System and Method for X-Ray Imaging Spherical Samples for Quality Inspection

Номер патента: US20210164778A1. Автор: Carlos Valenzuela,Guilherme Cardoso,Griffin Lemaster. Владелец: Creative Electron Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Method and apparatus for inspecting containers filled with liquid

Номер патента: US20240208745A1. Автор: Peter Lindner. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-06-27.

A method for the inspection of bonding patterns of packages for products

Номер патента: EP4144509A1. Автор: Anselmo CICCHITTI. Владелец: Fameccanica Data SpA. Дата публикации: 2023-03-08.

Method for the inspection of bonding patterns of packages for products

Номер патента: US20230077208A1. Автор: Anselmo CICCHITTI. Владелец: Fameccanica Data SpA. Дата публикации: 2023-03-09.

Apparatus and method for inspecting ventilation

Номер патента: US20210148777A1. Автор: Seunghyun Hwang,YoungChul KIM,Dongeon KIM. Владелец: DMC Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-20.

Inspection device for vehicle and method for inspecting the vehicle

Номер патента: US20220301148A1. Автор: Jaesik Min,Minhoe Hur. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Method for inspecting contact between mating gears

Номер патента: US20140239194A1. Автор: Lee Holloway,Thomas M. Sep,Holly A. Giangrande,Ryan M. TREVINO. Владелец: American Axle and Manufacturing Inc. Дата публикации: 2014-08-28.

Method for inspecting contact between mating gears

Номер патента: WO2014130227A1. Автор: Lee Holloway,Thomas M. Sep,Holly A. Giangrande,Ryan M. TREVINO. Владелец: AMERICAN AXLE & MANUFACTURING, INC.. Дата публикации: 2014-08-28.

Method and system for intelligent bid price selection for profit accumulation using multiple software agents and machine learning model

Номер патента: AU2021107109A4. Автор: Gopal Kulkarni,HariKumar Pallathadka,Shahanawaj Ahamad,Omair Mohammed,Anand Rajawat,Rajeshkumar R. Savaliya,Ashish Swami. Владелец: Mohammed Omair Mr. Дата публикации: 2021-12-02.

Repair method for photomask defects

Номер патента: US20240069433A1. Автор: Juan Pablo Oviedo Robles,Raja KATTA. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Systems and methods for automatic visual inspection of defects in ophthalmic lenses

Номер патента: WO2022066474A1. Автор: Jose Alonso Fernandez,Daniel Crespo Vazquez,Eduardo PASCUAL,Juan Antonio QUIROGA MELLADO,Sergio Sampedro. Владелец: Indizen Optical Technologies S.L.. Дата публикации: 2022-03-31.

A method for inspecting an archive

Номер патента: WO2006027775A2. Автор: Yanki Margalit,Dany Margalit,Galit Alon. Владелец: Aladdin Knowledge Systems Ltd.. Дата публикации: 2006-03-16.

Systems and methods for providing illumination of a specimen for inspection

Номер патента: WO2007027803A2. Автор: Andrew V. Hill. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2007-03-08.

Inspection method for a recording head, inspection apparatus for a recording head, and recording apparatus

Номер патента: US20070291069A1. Автор: Makoto Shihoh,Takatsuna Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2007-12-20.

Method for producing isotopes, in particular method for producing radioisotopes by means of gamma-beam irradiation

Номер патента: EP2606489A1. Автор: Ulli Koster,Dietrich Habs. Владелец: Institut Max Von Laue - Paul Langevin. Дата публикации: 2013-06-26.

Use of beam deflection to control an electron beam wire deposition process

Номер патента: WO2012082091A1. Автор: Karen M. Taminger,Robert A. Hafley,William H. Hofmeister. Владелец: United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration. Дата публикации: 2012-06-21.

Method for inspecting and for maintaining an automotive vehicle

Номер патента: US11772475B2. Автор: Jacques Rocher,Jean-Luc Boyer. Владелец: Vitesco Technologies GmbH. Дата публикации: 2023-10-03.

Techniques for inspecting running virtualizations for cybersecurity risks

Номер патента: US20240289437A1. Автор: Yaniv Shaked,Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Raaz HERZBERG,Niv Roit BEN DAVID,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN,Amir Lande BLAU. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Method for inspecting corrosion under insulation

Номер патента: EP2486397A1. Автор: Hidehiko Suetsugu,Toyokazu Tada,Hisakazu Mori,Yuichi Machijima. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-15.

Techniques for inspecting running virtualizations for cybersecurity risks

Номер патента: US12079328B1. Автор: Yaniv Shaked,Yinon COSTICA,Ami LUTTWAK,Roy REZNIK,Raaz HERZBERG,Niv Roit BEN DAVID,Daniel Hershko Shemesh,Yarin MIRAN,Amir Lande BLAU. Владелец: Wiz Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for alignment and inspection of ball grid array devices

Номер патента: WO2011056219A1. Автор: Lei Wang,XIAOGUANG WANG. Владелец: Cognex Corporation. Дата публикации: 2011-05-12.

System and method for vehicle radar inspection

Номер патента: US11009588B2. Автор: Jihoon Park,Haseung SEONG. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-05-18.

Ultrasonic array probe apparatus, system, and method for travelling over holes and off edges of a structure

Номер патента: EP1744156A3. Автор: James C. Kennedy,Clyde T. Uyehara,Mark L. Little. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2010-06-02.

Systems and methods for visual inspection and 3D measurement

Номер патента: US12078574B2. Автор: Xiaotian Zou,Carlo Richard DiRisio,Markus Andreas Rothacker. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Method and apparatus for inspecting display device

Номер патента: US11769430B2. Автор: Tae Joon Kim,Jae Woo Choi,Jun Young Ko,Jun Seong LEE,Eun Sol SEO,Yu Jin SIN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Method and apparatus for inspecting display device

Номер патента: US20230092537A1. Автор: Tae Joon Kim,Jae Woo Choi,Jun Young Ko,Jun Seong LEE,Eun Sol SEO,Yu Jin SIN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

System and method for inspecting a tubular

Номер патента: GB2626556A. Автор: McNay Graeme,Long David,Stander Jan,Biernacki Szymon. Владелец: Aisus Offshore Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Systems and methods for automatic visual inspection of defects in ophthalmic lenses

Номер патента: EP4217704A1. Автор: Jose Alonso Fernandez,Daniel Crespo Vazquez,Eduardo PASCUAL,Juan Antonio QUIROGA MELLADO,Sergio Sampedro. Владелец: Indizen Optical Technologies SL. Дата публикации: 2023-08-02.

Method for inspecting optical information recording medium, inspection apparatus, optical information recording medium and recording method

Номер патента: US20110296447A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yasumori Hino,Kenji Fujiune. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-12-01.

System and method for inspecting goods in mercantile ports

Номер патента: EP4421702A1. Автор: Giacomo GALLETTO. Владелец: La Spezia Port Service Srl. Дата публикации: 2024-08-28.

Coating layer inspection device and method for inspecting coating layer

Номер патента: US20230316519A1. Автор: Yasuo Kurosaki,Yuno Kitagawa. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Methods for electron-beam induced deposition of material inside energetic-beam microscopes

Номер патента: WO2010033420A2. Автор: Thomas Moore,Lyudmila Zaykova-Feldman,Rocky Kruger,Herschel Marchman. Владелец: Omniprobe, Inc.. Дата публикации: 2010-03-25.

Method and system for inspecting and measuring installed one-sided fasteners in a structure

Номер патента: US20240295508A1. Автор: Nicholas C. REASONER. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Robot device, and method for inspection of components of a belt conveyor

Номер патента: AU2019268743B2. Автор: Ramon Romankevicius Costa,Gustavo Medeiros Freitas,Filipe Augusto Santos Rocha,Marcos Paulo Torre,Gabriel Carvalho Garcia,Fernando Cesar Lizarralde,Alex Fernandes Neves,João Carlos Espiúca Monteiro,André Stanzani Franca,Felipe Ribeiro Da Fonseca. Владелец: Universidade Federal do Rio de Janeiro UFRJ. Дата публикации: 2024-08-01.

Systems and methods for inspecting honeycomb ceramic structures using x-ray ct imaging

Номер патента: EP4327281A1. Автор: Robert John Locker,Patrick Garret CIGNO,Jeffrey Thomas DRAKE,Jerry Lee Hepburn,Corey Thomas JANISCH,David John Worthey. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2024-02-28.

Method and inspection apparatus for inspecting containers provided with closures, and method and closure apparatus for closing containers

Номер патента: US20240308833A1. Автор: Thomas Bock,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-09-19.

Method for inspecting the side wall of an object

Номер патента: US20240338805A1. Автор: Marco Casadio,Andrea SAIANI. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-10-10.

System and method for inspecting assembled condition of alternator

Номер патента: US09869721B2. Автор: Dong Chul Lee,Mun Gu KIM,Yeong Il CHOI,Jung Myoung KIM. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-01-16.

Apparatus and methods for gauging parts

Номер патента: US09835431B1. Автор: LIN Huang,Adam Li,Anthony Freakes,Franklin W Agramonte Andujar,Ivan P Nieves Hernandez,Marcelino Montoya Ruiz,Carlos C Reyes. Владелец: Connecting Products Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Method and apparatus for inspecting container closures arranged on containers

Номер патента: US20240370988A1. Автор: Stefan Schober,Anton Niedermeier. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-11-07.

Apparatus and method for inspecting a flexible glass ribbon

Номер патента: US09683945B2. Автор: Kiat Chyai Kang,Richard Sean Priestley. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

Apparatus and methods for inspecting extreme ultra violet reticles

Номер патента: US09679372B2. Автор: Stanley E. Stokowski,Mehdi Vaez-Iravani,Mehran Nasser-Ghodsi. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Method and device for inspecting or correcting a direct print on containers with a relief-like surface contour

Номер патента: US09649856B2. Автор: Frank Winzinger,Peter Lindner,Sabine Grosch. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2017-05-16.

System and method for inspecting a composite part during manufacture

Номер патента: US09645095B2. Автор: Roger W. Engelbart,James W. Fonda,Allen Halbritter. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-05-09.

Apparatus and method for inspecting a turbine blade tip shroud

Номер патента: US09611753B2. Автор: Blake Allen Fulton,Jacob Andrew Salm,Keith Alan Lord. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-04-04.

Method for determining coating thickness

Номер патента: RU2753846C1. Автор: Захар Евгеньевич Игнатьев. Владелец: Публичное Акционерное Общество "Одк-Сатурн". Дата публикации: 2021-08-24.

Method for quantitative calculation of saturation of fractured reservoir with hydrocarbons

Номер патента: RU2523776C2. Автор: Нин ЛИ,Кэвэнь ВАН,Дэсинь ЦЯО,Цинфу ФЭН,Хунлян ВУ. Владелец: Петрочайна Компани Лимитед. Дата публикации: 2014-07-20.

Method for forming of ceramic coat, target for performing the same, and method for manufacturing the target

Номер патента: RU2320772C2. Автор: Бертран СЕН-РАМОН,Андре МАЛИ,Кристоф ШАПЮ,Кирилл ДЕЛАЖ,Изабель ПОРТЕ. Владелец: Снекма Моторс. Дата публикации: 2008-03-27.

Method for electron-beam surfacing

Номер патента: RU2205094C2. Автор: В.А. Клименов,В.Е. Панин,С.И. Белюк,В.П. Самарцев,Н.К. Гальченко,В.Г. Дураков,Г.А. Прибытков. Владелец: Ассоциация учебно-научных организаций "Российский Материаловедческий Центр". Дата публикации: 2003-05-27.

Method for manufacturing products from molybdenum alloys

Номер патента: RU2759282C1. Автор: Дмитрий Владимирович Прохоров,Виктор Иванович Внуков,Алла Игоревна Логачёва,Михаил Иванович Карпов,Константин Всеволодович Григорович,Александр Васильевич Логачев,Борис Абрамович Гнесин,Иван Борисович Гнесин,Ирина Сергеевна Желтякова,Татьяна Сергеевна Строганова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН). Дата публикации: 2021-11-11.

Deconvolving tip artifacts using multiple scanning probes

Номер патента: WO2006102478A3. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2007-10-11.

Method for determining high-density metals in plants

Номер патента: RU2675379C1. Автор: Сарра Абрамовна Бекузарова,Владислав Борисович Заалишвили,Ольга Германовна Бурдзиева,Тамерлан Таймуразович Магкоев,Туган Аланович Дулаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Федеральный научный центр "Владикавказский научный центр Российской академии наук" (ВНЦ РАН). Дата публикации: 2018-12-19.

Methods and devices for inspection of pipelines

Номер патента: EP3411703A1. Автор: Haraprasad KANNAJOSYULA,Anthony Mactutis,Philip Dewayne BONDURANT. Владелец: Quest Integrated LLC. Дата публикации: 2018-12-12.

Methods for inspection of press-hardening steel surfaces prior to spot-welding for improved welding quality

Номер патента: US20240027421A1. Автор: Hassan GHASSEMI-ARMAKI,Jason M. Brown,Blair E. Carlson,Zhenke Teng. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-01-25.

Methods for manufacturing multi-wall carbon nanotubes

Номер патента: US20040086448A1. Автор: Yoshinao Suzuki,Takuya Kondo,Yasushi Yamazawa,Marc Monthioux,Yasunori Sakurabayashi,Mikako Lay. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2004-05-06.

Method for improving electron-beam

Номер патента: US20120115087A1. Автор: Qiuxia Xu,Gaobo Xu. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-05-10.

Machine and method for inspecting ferrule of optical connector

Номер патента: WO2003060594A1. Автор: Heui-Jae Pahk,Il-Hwan Lee,Dong-Sung Lee,Hwa-Kyun Lee. Владелец: Hwa-Kyun Lee. Дата публикации: 2003-07-24.

Device and method for inspecting rechargeable battery connection structure

Номер патента: US20090136115A1. Автор: Sakae SOTOOKA,Fusayoshi NOMURA. Владелец: Panasonic EV Energy Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-28.

Method for inspecting damage in reverse osmosis membrane

Номер патента: US20240159687A1. Автор: Kenji Saito,Hiroo Takabatake,Koji Nakatsuji,Shinya Shimoda. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-05-16.

System and method for monitoring and controlling build quality during electron beam manufacturing

Номер патента: WO2020036630A3. Автор: John Scott Price,Vance Scott Robinson,Vincent Scott Smentkowski,Vladimir Anatolievich Lobastov. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2020-04-23.

Method and assembly for inspecting a plurality of elements of an industrial plant

Номер патента: US20230409017A1. Автор: Adrien RIESGO,Guillaume Pons,Elodie KLIMCZYK. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2023-12-21.

Nondestructive sensing device and method for inspection and measuring the cleanliness of composite surfaces coupled with methods for removing contaminants and activating the composite surfaces

Номер патента: US11933749B2. Автор: Richard Piner,Doyle T. Motes, III,Marcus Keiser. Владелец: Texas Research International Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Systems and methods for inspecting a railroad

Номер патента: AU2020200657A1. Автор: David Ford,Matthew DICK,Zhipeng Liu,Samson YILMA. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2020-08-13.

Systems and methods for inspecting a railroad

Номер патента: US20230071611A1. Автор: David Ford,Matthew DICK,Zhipeng Liu,Samson YILMA. Владелец: Ensco Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for inspecting hollow glass products of glass product material

Номер патента: EP4244574A1. Автор: Joop Dalstra. Владелец: Centrum Voor Technische Informatica Bv. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for inspecting, as they pass, eggs placed in containers

Номер патента: US20240264136A1. Автор: Laura TRUBUIL,Devan Lharidon. Владелец: Egg Chick Automated Technologies SAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Method and apparatus for inspecting full containers

Номер патента: US20240280504A1. Автор: Bernhard Heuft,Jorg Nonnen. Владелец: Heuft Systemtechnik GMBH. Дата публикации: 2024-08-22.

System and method for adjusting measurement position of scanning head

Номер патента: US20160215453A1. Автор: Ronald E. Beselt,Bradley Humble,Michael J. Wardas,Jeffrey D. AUSTIN. Владелец: Honeywell Ltd Canada. Дата публикации: 2016-07-28.

Apparatus and method for viewing and inspecting a circumferential surface area of an object

Номер патента: EP1287340A1. Автор: Yogesh Mehrotra,John Nazarian Pike,Herbert Kaplan. Владелец: Materials Technologies Corp. Дата публикации: 2003-03-05.

Machine and method for filling cartridges for aerosol-generating devices

Номер патента: US11365018B2. Автор: Luca Federici,Luca Lanzarini,Luca Testoni,Catello Sorrentino,Gabriele NEVA,Massimo CAVAGNI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2022-06-21.

Machine and method for filling cartridges for aerosol-generating devices

Номер патента: WO2019142040A1. Автор: Luca Federici,Luca Lanzarini,Luca Testoni,Catello Sorrentino,Gabriele NEVA,Massimo CAVAGNI. Владелец: G.D S.p.A.. Дата публикации: 2019-07-25.

A method for inspecting hollow glass products of glass product material

Номер патента: EP4244575A1. Автор: Joop Dalstra. Владелец: Centrum Voor Technische Informatica Bv. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for inspecting hollow glass products of glass product material

Номер патента: EP4244576A1. Автор: Joop Dalstra. Владелец: Centrum Voor Technische Informatica Bv. Дата публикации: 2023-09-20.

Apparatus and method for inspecting droplet discharge characteristics of ink-jet printer head

Номер патента: WO2008060076A1. Автор: Joon-Hyung Kim. Владелец: LG CHEM, LTD.. Дата публикации: 2008-05-22.

Surface modification method of fluoropolymers by electron beam irradiation and the fabrication of superhydrophobic surfaces using the same

Номер патента: US20120056108A1. Автор: Young-Chang Nho,Chan-Hee Jung,Jae-Hak Choi,In-Tae Hwang,Sung Oh Cho,Eun Je Lee. Владелец: Korea Hydro and Nuclear Power Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-08.

Electron beam melting method for metallic material

Номер патента: US20030084751A1. Автор: Norio Yamamoto,Katsuhiko Sakai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

System and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20010054710A1. Автор: Masahiro Tanaka,Isao Asaka,Shigeru Takada. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2001-12-27.

System and method for inspecting nuclear fuel pellets

Номер патента: US20230395272A1. Автор: Amaury FAYARD,Axel TELLJOHANN. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2023-12-07.

Systems and methods for inspecting multi-mode asset status in communication-denied environments

Номер патента: EP4396640A1. Автор: Anatoly Belkin,Arnold Sheynman. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Method and measuring device for inspecting photomasks, and euv camera

Номер патента: US20240295828A1. Автор: Ulrich Matejka,Lutz Brekerbohm,Senthil Lakshmanan. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-05.

Method for inspecting for surface defects on a cast part made of single-crystal metal and system for implementing same

Номер патента: US20240310294A1. Автор: Franck Michaud. Владелец: Safran SA. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and apparatus for inspecting surfaces

Номер патента: US20240369413A1. Автор: Uwe Sperling. Владелец: BYK Gardner USA Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Device and method for sterlizing packaging containers by electron beam

Номер патента: US09969512B2. Автор: Mats ÅKESSON,Jonas Dickner,Hakan Mellbin,roger LINDGREN,Roy EIDEBAKKEN. Владелец: Tetra Laval Holdings and Finance SA. Дата публикации: 2018-05-15.

Methods for improving processing speed for object inspection

Номер патента: US09880314B2. Автор: Andreas Pfander,Ronald James HUGHES. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Fast density estimation method for defect inspection application

Номер патента: US09846929B2. Автор: Weiwen ZOU. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2017-12-19.

Method for creating a 3d print using organic ice and focused electron beam

Номер патента: WO2024218125A1. Автор: Anpan Han,Affan Kaysa WAAFI,Joachim LYNGHOLM-KJÆRBY. Владелец: Danmarks Tekniske Univresitet. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and device for inspecting the volume and the composition of at least one sample

Номер патента: US09734421B2. Автор: Hans-Peter Schimon,Torsten Matthias,Jens BLECKEN,Markus Wulf. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-15.

Apparatus and method for inspection of substrate defect

Номер патента: US09678020B2. Автор: Yu-Sin Yang,Ji-Young Shin,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun,Joon-Seo SONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-13.

Filling machine and method for monitoring the state of fouling in a vacuum system of a filling machine

Номер патента: US09675087B2. Автор: Bernd Maile,Martin Staudenrausch,Marcel Nusser,Claus-Peter Miller,Guenter Sailer. Владелец: Albert Handtmann Maschinenfabrik GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-06-13.

Apparatus and methods for detecting defects in vertical memory

Номер патента: US09612209B2. Автор: Steven R. Lange. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Method for stabilizing a tool relative to a surface

Номер патента: US09528810B1. Автор: Scott Michael White. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-12-27.

Method for tracking turbine blade creep

Номер патента: US09453430B2. Автор: Stephen Erick Holland,Chad W. Heinrich. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Method for differentiation of helicobacter pylori strains by molecular-genetic typing

Номер патента: RU2688434C1. Автор: Руслан Вячеславович Писанов,Алексей Сергеевич Водопьянов,Владимир Михайлович Сорокин. Владелец: Федеральное казенное учреждение здравоохранения "Ростовский-на-Дону ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский противочумный институт" Федеральной службы по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека. Дата публикации: 2019-05-21.

Method for testing grinding balls for impact resistance

Номер патента: RU2759709C1. Автор: Виталий Юрьевич Рубцов,Константин Николаевич Шведов,Сергей Владимирович Борисов,Павел Анатольевич Зажигаев,Михаил Андреевич Казаковцев,Кирилл Андреевич Улегин. Владелец: Акционерное общество «ЕВРАЗ Нижнетагильский металлургический комбинат» (АО «ЕВРАЗ НТМК»). Дата публикации: 2021-11-17.

Pulse-width control method using multiple pulses

Номер патента: RU2445662C2. Автор: Джонатан А. СЭЧС,Джеймс Л. СЭНФОРД,Говард В. ГОЭТЦ. Владелец: Компаунд Фотоникс Лимитед. Дата публикации: 2012-03-20.

Method for determining of friction coefficient for plastic deformation and device for its implementation

Номер патента: RU2671384C1. Автор: Михаил Леонидович Первов,Анна Сергеевна Скобелева,Людмила Сергеевна Грибкова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рыбинский государственный авиационный технический университет имени П.А. Соловьева". Дата публикации: 2018-10-30.

Method for the determination of francisella tularensis subspecies by multi-primer pcr

Номер патента: RU2765495C1. Автор: Алексей Сергеевич Водопьянов,Владимир Михайлович Сорокин,Наталья Владимировна Павлович,Марина Владимировна Цимбалистова. Владелец: Федеральное казенное учреждение здравоохранения "Ростовский-на-Дону ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский противочумный институт" Федеральной службы по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека. Дата публикации: 2022-01-31.

METHOD FOR APPLICATION OF WEAR-RESISTANT SHELL BASED ON TITANIUM CARBIDE, Cr3C2 AND ALUMINUM ON DIE STEEL

Номер патента: RU2653395C1. Автор: Денис Анатольевич Романов,Виктор Евгеньевич Громов,Елена Владимировна Мартусевич. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный индустриальный университет". Дата публикации: 2018-05-08.

Method for induction melting of metal and apparatus for performing the same

Номер патента: RU2319752C2. Автор: Анатолий Евгеньевич Волков. Владелец: Анатолий Евгеньевич Волков. Дата публикации: 2008-03-20.

Method for preparing the surface of bone tissue samples to study their microstructure using a scanning electron microscope

Номер патента: RU2668879C1. Автор: Семен Александрович Борисов,Михаил Васильевич Гилев,Сергей Михайлович Кутепов,Владимир Сергеевич Кошелев,Яна Евгеньевна Казакова,Мария Юрьевна Измоденова,Дмитрий Викторович Зайцев,Дарья Владимировна Киселева,Пётр Евгеньевич Панфилов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уральский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБОУ ВО УГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2018-10-04.

Method for producing a culture growth supplement based on human platelet lysate

Номер патента: RU2664478C2. Автор: Павел Анатольевич Каралкин,Андрей Дмитриевич Каприн,Ярослав Дмитриевич Шанский,Наталья Сергеевна Сергеева,Ирина Константиновна Свиридова,Валентина Александровна Кирсанова,Сурая Абдулла кызы Ахмедова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный медицинский исследовательский радиологический центр" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "НМИРЦ" Минздрава России). Дата публикации: 2018-08-17.

Method for inspecting integrated circuits or other objects

Номер патента: US4870344A. Автор: Goran Stille. Владелец: Stiftelsen Institutet for Mikrovagsteknik Vid Tekniska Hogskolan. Дата публикации: 1989-09-26.

Semiconductor inspection device and method for inspecting semiconductor sample

Номер патента: US20230273253A1. Автор: Makoto Sakakibara,Satoshi Takada,Yasuhiro Shirasaki,Minami Shouji,Natsuki Tsuno. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

A system and method for inspection of multiple features of patterned objects in the manufacture of electrical circuits

Номер патента: EP4090954A1. Автор: Vered Gatt,Itzhak Saki HAKIM,Chay Goldenberg,Mordehay Amirim. Владелец: Orbotech Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

A system and method for inspection of multiple features of patterned objects in the manufacture of electrical circuits

Номер патента: WO2021161298A1. Автор: Vered Gatt,Itzhak Saki HAKIM,Chay Goldenberg,Mordehay Amirim. Владелец: ORBOTECH LTD.. Дата публикации: 2021-08-19.

Inspection method for imprint lithography and apparatus therefor

Номер патента: US20130120729A1. Автор: Roelof Koole. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2013-05-16.

Sterile product and method for sterilizing and assembling¹such product

Номер патента: IE900834L. Автор: Archie Woodworth,Billy W Minshall,Kailash Purohit,John E Nygard,Kwame Sintimdamoa,Richard Giesler. Владелец: Bradford John Georges. Дата публикации: 1990-09-10.

Method for slot inspection

Номер патента: WO2020193674A1. Автор: Koen DELAERE. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection device and method for inspecting coated transparent component

Номер патента: US20090279078A1. Автор: Chung-Pei Wang. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-12.

Method for inspecting whether a printhead of a printer conforms to a specification

Номер патента: US20060017763A1. Автор: Po-Chin Yang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-26.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: CA3204878A1. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2022-08-04.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: AU2022213545A1. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2023-07-27.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: EP4285092A1. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2023-12-06.

Apparatus and method for making and inspecting pre-fastened articles

Номер патента: EP1483565A1. Автор: Tim G. Dollevoet,Joseph J. Gimenez,Matthew L. Koele,Bradley M. Marohl. Владелец: Kimberly Clark Corp. Дата публикации: 2004-12-08.

Retail produce box and method for selling a variety of produce therein

Номер патента: WO2011040976A1. Автор: Thomas I. Corso. Владелец: Corso Thomas I. Дата публикации: 2011-04-07.

Method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240134217A1. Автор: Akihiko Fujisawa,Masayuki IKARI. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Apparatus and associated method for inspecting containers for bulges

Номер патента: EP1036310A1. Автор: Mark F. Zanella, Sr.,Henry M. Dimmick, Sr.. Владелец: AGR International Inc. Дата публикации: 2000-09-20.

Apparatus and associated method for inspecting containers for bulges

Номер патента: WO1999028728A1. Автор: Mark F. Zanella, Sr.,Henry M. Dimmick, Sr.. Владелец: AGR International, Inc.. Дата публикации: 1999-06-10.

Fusing one or more cross sections by electron beam powder bed fusion

Номер патента: EP4217135A1. Автор: Frank Heinrichsdorff,Jan Drendel,Ruslan Logvinov. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2023-08-02.

Fusing one or more cross sections by electron beam powder bed fusion

Номер патента: WO2022117326A1. Автор: Frank Heinrichsdorff,Jan Drendel,Ruslan Logvinov. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2022-06-09.

Method and system for inspecting smoking articles

Номер патента: EP4401582A2. Автор: Giuliano Gamberini,Dalia COPPI,Riccardo VASUMINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-07-24.

Method for inspection of image sticking

Номер патента: US9164025B2. Автор: Kuan-Ming Lin,Chih-Chun Hsu,Li-Hsin Chang,Min-Ruei Tasi. Владелец: Daxin Materials Corp. Дата публикации: 2015-10-20.

Method for the inspection of an ophthalmic lens for semi-opaque defects

Номер патента: AU2022213545A9. Автор: Vladimir DOVGAL,Sandra Kraus. Владелец: Alcon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for inspection using white light interferometry

Номер патента: US20040227953A1. Автор: Sanjeev Mathur. Владелец: August Technology Corp. Дата публикации: 2004-11-18.

Method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US20240231136A9. Автор: Akihiko Fujisawa,Masayuki IKARI. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and system for inspection of products

Номер патента: US11733178B2. Автор: Asaf Schlezinger. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-08-22.

Method for inspecting textile articles

Номер патента: US20200400561A1. Автор: Wilhelm Bringewatt,Engelbert Heinz. Владелец: Herbert Kannegiesser GmbH and Co. Дата публикации: 2020-12-24.

Systems and methods for inspecting and monitoring a pipeline

Номер патента: EP2872879A1. Автор: Laurence James Abney,Christopher Michael Jones,Robert P. Freese,Ola Tunheim,James Robert MACLENNAN,Thomas Idland. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2015-05-20.

Device and method for transmission inspection of containers having at least one light-emitting diode light source

Номер патента: US20230288343A1. Автор: Laurent Cosneau,Pascal Fillon. Владелец: Tiama SA. Дата публикации: 2023-09-14.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: CA3144218A1. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2021-01-14.

Semiconductor devices and methods for inspecting the same

Номер патента: US20080246554A1. Автор: Yoshihiro Notani,Hitoshi Kurusu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Oil-Based Ink Composition For Ink Jet Recording And Method For Inspecting It

Номер патента: US20090030121A1. Автор: Kazuhiko Hara,Yukio Sugita,Mitsuyoshi Tamura,Mitsuteru Yamada,Fumie Yamazaki,Takashi Kozuchi. Владелец: Inctec Inc. Дата публикации: 2009-01-29.

Security system and method for software to be input to a closed internal network

Номер патента: US20210319096A1. Автор: Hwan-Kuk BAE. Владелец: Softcamp Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Apparatus and method for heating plastics material preforms with inspection of the holding devices

Номер патента: US20240316832A1. Автор: Michael Eifler. Владелец: KRONES AG. Дата публикации: 2024-09-26.

Method and machine for inspecting the packaging of products

Номер патента: EP4434898A1. Автор: Luca Lanzarini,Giampaolo Gianese. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-09-25.

Fast 3D radiography with multiple pulsed X-ray sources by deflecting tube electron beam using electro-magnetic field

Номер патента: US12102469B2. Автор: Jianqiang Liu,Chwen-Yuan Ku,Manat Maolinbay,Linbo Yang. Владелец: Aixscan Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Method and apparatus for inspecting components

Номер патента: EP2176656A1. Автор: Andrew Frank Ferro,Patrick Joseph Howard. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2010-04-21.

A method for electrical interconnection between micro-nanostructured materials

Номер патента: LU506612B1. Автор: Guanghong Yang. Владелец: Univ Henan. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and machine for inspecting the packaging of products

Номер патента: US20240317445A1. Автор: Luca Lanzarini,Giampaolo Gianese. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-09-26.

Systems and methods for controlling electron beam in radiotherapy

Номер патента: EP4090421A1. Автор: Peng Cheng,CHENG Ni,PENG Wang,Shoubo HE,Feichao FU. Владелец: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Device and method for inspecting containers

Номер патента: US12130172B2. Автор: Andrea Biondi,Luca Cerati,Luca Cavazza,Stefano SINIGARDI,Giacomo Noferini,Claudia DE MARIA,Noemi ZORDAN. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-10-29.

Methods and systems for inspecting fastened structures

Номер патента: US12055520B2. Автор: Samuel R. Goertz,David W. Arnold. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-08-06.

Method for deterministic image inspection of printed products of a machine for processing printing substrates

Номер патента: US20210256678A1. Автор: Frank Schumann,Bennet Carstensen,Peter Eisele,Jan Krieger. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2021-08-19.

Sensing method for a counterfeit bill detector

Номер патента: US10083377B2. Автор: Chun-Yen Chen,Che-Chang Hsu,Tien-Lu Hsu,Shin-Nung Lu,Jhih-Cheng SYU. Владелец: Climax Machine Industry Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-25.

Portable small-object holding device and a method for using same

Номер патента: US09915619B2. Автор: Ariel Rosenberg,Adir MUGRABI. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-13.

Apparatus and method for inspecting all-solid battery

Номер патента: US09903918B2. Автор: Norihiro Ose. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Apparatus and method for inspection of an end region supported steering column assembly

Номер патента: US09874529B2. Автор: George Morrison, III,Ty Alan Brown,Timothy Brian Rood. Владелец: NSK Americas Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Circuit and method for inspecting semiconductor device

Номер патента: US09863999B2. Автор: Masanori Miyata,Takafumi Arakawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Method for processing data using computing array and computing system

Номер патента: US20220374280A1. Автор: Zhou Hong,QIN Zheng,ChengPing LUO. Владелец: Shanghai Biren Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Apparatus and method for inspecting a laminated structure

Номер патента: US09797867B2. Автор: Jeffrey R. Kollgaard,William J. Tapia. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-10-24.

Apparatuses, systems, and methods for inspecting a component

Номер патента: US09746447B2. Автор: Barry A. Fetzer,Dennis P. Sarr,Michael J. Duncan,Christopher R. Brown. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-08-29.

System and method for reading patterns using multiple image frames

Номер патента: US09734376B2. Автор: Sateesha Nadabar. Владелец: Cognex Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

System and method for inspecting turbine blades

Номер патента: US09733195B2. Автор: Andrew Joseph Colletti. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-08-15.

Apparatus, optical assembly, method for inspection or measurement of an object and method for manufacturing a structure

Номер патента: US09625368B2. Автор: Alexander Cooper,David Michael Williamson,Michel Pharand,Eric Peter Goodwin,Daniel Gene Smith,Brian L. Stamper,Alec Robertson. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Systems and methods for inspecting wound optical fiber

Номер патента: US09581521B2. Автор: Igor Rafaelyevich Mejouev. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Irradiating method for additive production having a predetermined trajectory

Номер патента: US12138689B2. Автор: Ole Geisen,Omar FERGANI. Владелец: Siemens Energy Global GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-11-12.

Pattern forming method, electron beam-sensitive or extreme ultraviolet-sensitive composition, resist film, method for manufacturing electronic device using the same, and electronic device

Номер патента: US09411230B2. Автор: Kaoru Iwato,Hideaki Tsubaki,Hiroo Takizawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Device and method for improved nanospectroscopic scanning

Номер патента: RU2334958C2. Автор: Владимир ПОПОНИН. Владелец: Интернэшнл Фронтьер Сайенс Организейшн. Дата публикации: 2008-09-27.

Method for determination of parabens in medicinal drugs by glc method

Номер патента: RU2747370C1. Автор: Анна Николаевна Иоутси,Михаил Александрович Сумцов,Дарья Анатольевна Артюшенко,Денис Владимирович Быченков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение «Научный центр экспертизы средств медицинского применения» Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ «НЦЭСМП» Минздрава России). Дата публикации: 2021-05-04.

Pharmaceutical composition (versions) and methods for sterilisation thereof

Номер патента: RU2474425C2. Автор: Джеймс Д. СТОУЗ,Алексис С. СТЭЙТЭМ,Майхэн Т. ТРУОНГ. Владелец: Меда Аб. Дата публикации: 2013-02-10.

Method for producing special copper ingots

Номер патента: RU2762460C1. Автор: Илья Викторович Кабанов,Евгений Владимирович Шильников,Борис Владимирович Троянов,Андрей Александрович Сисев,Владимир Викторович Волков,Александр Евгеньевич Шильников,Алексей Игоревич Ильинский. Владелец: Акционерное общество "Металлургический завод "Электросталь". Дата публикации: 2021-12-21.

Method for processing network traffic datagrams to hide corresponding pairs of subscribers of information and telecommunication systems

Номер патента: RU2763261C1. Автор: Елена Валерьевна Вершенник,Юрий Иванович Стародубцев,Олег Александрович Остроумов,Олег Михайлович Лепешкин,Александр Сергеевич Пермяков,Дмитрий Александрович Клецков,Владимир Владимирович Казанцев. Владелец: Юрий Иванович Стародубцев. Дата публикации: 2021-12-28.

High strength spring, method for its manufacture, steel for high strength spring and method for its manufacture

Номер патента: RU2679288C1. Автор: Мотоки ВАТАНАБЕ,Коки МИНОГУТИ,Хироюки ОИСИ. Владелец: Мицубиси Стил Мфг. Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-02-07.

Methods for detecting servo error, drive error, incline error and methods for recording data on disk and reproduction of data from optical disk

Номер патента: RU2262750C2. Автор: Дзунг-ван КО,Киунг-геун ЛИ,Дзанг-хоон ЙОО,Чонг-сам ЧУНГ,Ин-сик ПАРК,Дзоонг-Еон СЕО,Сеонг-син ДЗОО,Биунг-ин МА. Владелец: Самсунг Электроникс Ко., Лтд. Дата публикации: 2005-10-20.

Method for testing a packaging substrate, and apparatus for testing a packaging substrate

Номер патента: WO2024008309A1. Автор: Bernhard G. Mueller,Edgar Kehrberg,Axel Wenzel. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-01-11.

Methods and systems for inspecting fastened structures

Номер патента: US20230213484A1. Автор: Samuel R. Goertz,David W. Arnold. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-07-06.

Methods for x-ray imaging of a subject using multiple-energy decomposition

Номер патента: US20240225575A1. Автор: Ying Zhao,YongSheng Chao. Владелец: Xenselab LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for creating a diffractive optical effect on a target surface and a transfer foil of a diffractive optical element

Номер патента: WO2010139661A1. Автор: Olli-Heikki Huttunen,Johanna Hiitola-Keinänen. Владелец: Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Дата публикации: 2010-12-09.

Systems and methods for suppressing nyquist ghost for diffusion weighted magnetic resonance imaging

Номер патента: US20210208230A1. Автор: Lei Gao,Xuan Liu,Richard S Hinks,Yongchuan Lai,Juan Gao,Jiabin Yao. Владелец: GE Precision Healthcare LLC. Дата публикации: 2021-07-08.

Method for inspecting and/or handling a component via a robotic arm, and corresponding system and computer-program product

Номер патента: AU2023224434A1. Автор: Giovanni Di Stefano,Nicola LONGO,Simone Panicucci. Владелец: Comau SpA. Дата публикации: 2024-08-01.

System and method for detecting defects

Номер патента: US20230230226A1. Автор: Oh Hun Kwon,Ji Seong JEONG,Seung Eun YU,Hyuck Joon KWON,Chang Hun KO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-20.

A sensor device and a method for detecting fissile material

Номер патента: US20240006088A1. Автор: Markus Roth,Marc Zimmer. Владелец: Focused Energy GmbH. Дата публикации: 2024-01-04.

Using multiple detection algorithms in positioning signal processing

Номер патента: WO2004065980B1. Автор: Robert Lorenz,Andrew Chou,Jesse Stone,Julien Basch. Владелец: Julien Basch. Дата публикации: 2004-10-28.

Production method for disk-like recording medium

Номер патента: US20050202202A1. Автор: Naoki Hayashida,Kazushi Tanaka,Mamoru Usami,Kenji Yoneyama. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2005-09-15.

A method for pre-processing and processing query operation on multiple data chunk on vector enabled architecture

Номер патента: EP2880566A1. Автор: Ami Gal,Kostya Varakin. Владелец: SQREAM TECHNOLOGIES LTD. Дата публикации: 2015-06-10.

Systems and methods for augmented reality-assisted home inspection

Номер патента: US20240053816A1. Автор: Joseph P. Harr,Nathan L. Tofte,Brian M. Fields,Vicki King,Aaron C. Williams. Владелец: State Farm Mutual Automobile Insurance Co. Дата публикации: 2024-02-15.

Method for inspecting authenticity of a hologram

Номер патента: US20240094675A1. Автор: Hsiang-Chen Wang,Arvind MUKUNDAN,Yu-Ming Tsao. Владелец: NATIONAL CHUNG CHENG UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-03-21.

A sensor device and a method for detecting fissile material

Номер патента: EP4300516A1. Автор: Markus Roth,Marc Zimmer. Владелец: Focused Energy GmbH. Дата публикации: 2024-01-03.

System and method for increased signal-to-noise ratio in multi spin-echo pulse imaging

Номер патента: GB2595336A. Автор: H Cunningham Charles,A Stainsby Jeffrey,T Curtis Andrew. Владелец: Synaptive Medical Inc. Дата публикации: 2021-11-24.

Method for inspecting and/or handling a component via a robotic arm, and corresponding system and computer-program product

Номер патента: WO2023161801A1. Автор: Giovanni Di Stefano,Nicola LONGO,Simone Panicucci. Владелец: Comau S.p.A.. Дата публикации: 2023-08-31.

Systems and methods for part identification and assessment using multiple images

Номер патента: CA3201594A1. Автор: Daniela Radakovic,Daniel Joseph Reaume,Daniel Jude Organ. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Systems and methods for part identification and assessment using multiple images

Номер патента: AU2021402858A1. Автор: Daniela Radakovic,Daniel Joseph Reaume,Daniel Jude Organ. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Systems and methods for part identification and assessment using multiple images

Номер патента: EP4264566A1. Автор: Daniela Radakovic,Daniel Joseph Reaume,Daniel Jude Organ. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2023-10-25.

Systems and methods for part identification and assessment using multiple images

Номер патента: WO2022132513A1. Автор: Daniela Radakovic,Daniel Joseph Reaume,Daniel Jude Organ. Владелец: CATERPILLAR INC.. Дата публикации: 2022-06-23.

Springback compensation method for on-line real-time metal sheet roll bending

Номер патента: US20180117653A1. Автор: Chun-Cheng Huang,Chien-Hung Huang,Chien-Sin Huang. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2018-05-03.

Apparatus and method for inspection of a film on a substrate

Номер патента: US20200271591A1. Автор: Thomas C. Mohr,James D. Jogerst,Aaron C. HAVENER,Keith B. Rider. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-27.

Apparatus and method for inspection of a film on a substrate

Номер патента: EP3931535A1. Автор: Thomas C. Mohr,James D. Jogerst,Aaron C. HAVENER,Keith B. Rider. Владелец: BWXT NOG Technologies Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Apparatus and method for inspection of a film on a substrate

Номер патента: CA3130839A1. Автор: Thomas C. Mohr,James D. Jogerst,Aaron C. HAVENER,Keith B. Rider. Владелец: BWXT NOG Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-03.

Method for preparing a scored flexible structure, and method for making a flexible packaging structure having a built-in open and reclose feature

Номер патента: EP2892716A1. Автор: Scott W. Huffer,Rod PETTIS. Владелец: Sonoco Development Inc. Дата публикации: 2015-07-15.

A system and method for inspection

Номер патента: WO2015023231A1. Автор: Ah Kow Chin,Choong Fatt Ho,Soon Wei Wong,Victor Vertoprakhov. Владелец: SAEDGE VISION SOLUTIONS PTE LTD. Дата публикации: 2015-02-19.

Method for forming a high resolution resist pattern on a semiconductor wafer

Номер патента: US20080233494A1. Автор: Thomas Wallow,Harry J. Levinson,Uzodinma Okoroanyanwu,Ryoung Han Kim. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2008-09-25.

Apparatus and methods for scattering-based semiconductor inspection and metrology

Номер патента: US20090050823A1. Автор: Amnon Manassen. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Fire determination method and apparatus using multiple wavelengths

Номер патента: US20240233516A1. Автор: Yong Tae Lee,Hyunseok Kim,Kang Bok Lee,Kyu Won HAN,Kwang-Soo CHO,So Yung Park,Hoe-Sung Yang,Jin Hwa Ryu,Soocheol Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-07-11.

Systems and methods for inspecting photomasks

Номер патента: US20230175839A1. Автор: Chabum Lee. Владелец: TEXAS A&M UNIVERSITY SYSTEM. Дата публикации: 2023-06-08.

High-precision ultrasonic imaging method for internal defect of complex-shaped component based on search-vector imaging condition

Номер патента: US20240288403A1. Автор: Hao Chen,PENG Zhao,Jianzhong Fu,Kaipeng Ji,Chaojie ZHUO. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-08-29.

Construction method for 3d micro/nanostructure

Номер патента: US20240316642A1. Автор: Guanghong Yang,Caihong Jia. Владелец: HENAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-09-26.

Active device array substrate and method for inspecting the same

Номер патента: US20180096664A1. Автор: Ying-Hao Pan. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-04-05.

Machine vision system for inspecting quality of various non-woven materials

Номер патента: EP4449106A1. Автор: David Williams,David Hughes,Harsh Shah,James Brashear,Nicolaie Stelian Vasiu. Владелец: Valco Cincinnati Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Method for synthesizing hyaluronic acid nanoparticles, and hyaluronic acid nanoparticles prepared by method

Номер патента: EP3910008A1. Автор: Woong Hee LEE,Jeong Soo Yoo,Wonchoul PARK. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of KNU. Дата публикации: 2021-11-17.

Method and device for inspecting injection-molded parts, in particular pipette tips

Номер патента: US12122082B2. Автор: Jakob Kammerloher. Владелец: HEKUMA GMBH. Дата публикации: 2024-10-22.

Active device array substrate and method for inspecting the same

Номер патента: US09934741B1. Автор: Ying-Hao Pan. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-04-03.

Apparatuses, methods, and systems for inspecting a composite end portion of a part

Номер патента: US09933393B2. Автор: Gary Georgeson,Barry Fetzer,William Paul Motzer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2018-04-03.

Apparatus and method for inspecting seals of items

Номер патента: US09927372B2. Автор: Heimo Keranen,Karri Niemela. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2018-03-27.

Method for testing through-silicon vias at wafer sort using electron beam deflection

Номер патента: US09903910B2. Автор: Brian D. Erickson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-02-27.

Active device array substrate and method for inspecting the same

Номер патента: US09858877B2. Автор: Ying-Hao Pan. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2018-01-02.

Subsurface imaging system and method for inspecting the condition of a structure

Номер патента: US09851440B1. Автор: II Jackie O. Jordan,Nathan L. Tofte,Patrick H. Boyer. Владелец: State Farm Mutual Automobile Insurance Co. Дата публикации: 2017-12-26.

Method and apparatus for inspecting weld quality

Номер патента: US09618480B2. Автор: Masayoshi Takahashi,Isao Hoda,Hiroki Funato,Hua Zeng. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-04-11.

Millimetre wave three dimensional holographic scan imaging apparatus and method for inspecting a human body or an article

Номер патента: US09599705B2. Автор: LI ZHANG,Yuanjing Li,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Bin Sang,Zongjun Shen,Chenguang Zhu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Mixed media reality recognition using multiple specialized indexes

Номер патента: US09495385B2. Автор: Jonathan J. Hull,Berna Erol,Jorge Moraleda. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

System and method for side-by-side inspection of a device

Номер патента: US09494532B2. Автор: XIANG Gao,Yakup Genc,Binglong Xie. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Method for improving scan time and sensitivity in touch sensitive user interface device

Номер патента: US09482559B2. Автор: Ryan D. Seguine. Владелец: Parade Technologies Ltd USA. Дата публикации: 2016-11-01.

Method for inspecting polysilicon layer

Номер патента: US09464991B2. Автор: Alexander Voronov,Suk-Ho Lee,Gyoo-wan Han,Jae-Seung Yoo,Kyung-Hoe Heo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Data privacy integration services processing using multiple work packages and multiple responder groups

Номер патента: US12147567B2. Автор: Matthias Vogel,Benny Rolle,Girish Sainath,Iwona Luthor. Владелец: SAP SE. Дата публикации: 2024-11-19.

Method for inspecting wye ring

Номер патента: US09411017B2. Автор: Thomas James Batzinger,Francis Alexander Reed,Thomas Earnest Moldenhauer,Michael Charles FREDA. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-08-09.

Method for producing pyrolyzed lenses for x-ray radiation

Номер патента: RU2756103C1. Автор: Маргарита Ильгизовна Шарипова,Александр Кириллович Петров,Андрей Анатольевич Федянин,Владимир Олегович Бессонов,Ксения Александровна Абрашитова,Тигран Григорьевич Балуян. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова» (МГУ). Дата публикации: 2021-09-28.

Method for production of hafnium by vacuum arc remelting

Номер патента: RU2593807C2. Автор: Александр Владимирович Александров,Владимир Владимирович Новиков,Михаил Георгиевич Штуца,Константин Александрович Токарев,Александр Анатольевич Кабанов,Рустам Фанильевич Бекмансуров,Дмитрий Аркадьевич Худяков,Валентина Михайловна Аржакова,Александр Гусманович Зиганшин,Надежда Константиновна Филатова,Андрей Владиславович Андреев. Владелец: Акционерное общество "Высокотехнологический научно-исследовательский институт неорганических материалов имени академика А.А. Бочвара" (АО "ВНИИНМ). Дата публикации: 2016-08-10.

Method for mining on an astronomical object

Номер патента: RU2770502C1. Автор: Игорь Владиленович Минин,Олег Владиленович Минин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий». Дата публикации: 2022-04-18.

Method for assessment of winter wheat selection samples for resistance to fusarial root rot

Номер патента: RU2726066C1. Автор: Анна Петровна Шутко,Людмила Васильевна Тутуржанс,Людмила Алексеевна Михно,Анна Николаевна Шипуля. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет". Дата публикации: 2020-07-08.

Method for obtaining bacteriophage strain, specific strains of bacteriophages and their application

Номер патента: RU2573934C2. Автор: Ярослав ДАСТЫХ,Ярослав ДЗЯДЕК,Эльжбета ГУРЕЦКАЯ,Анна РУМИЕВСКАЯ-ГАЛЕВИЧ,Аркадиуш ВОЙТАСИК,Эвелина ВУЙЦИК. Владелец: Протеон Фармасьютикалз С.А.. Дата публикации: 2016-01-27.

Method for one-stage elimination of class iii gingival recession and vestibuloplasty

Номер патента: RU2732313C1. Автор: Людмила Александровна Ананьева,Галина Сергеевна Рунова. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный медико-стоматологический университет имени А.И. Евдокимова" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБОУ ВО МГМСУ им. А.И. Евдокимова Минздрава России). Дата публикации: 2020-09-15.

Methods for non-invasive prenatal ploidy calling

Номер патента: RU2671980C2. Автор: Джордж ДЖЕМЕЛОС,Бернхард ЗИММЕРМАН,Закари ДЕМКО,Эллисон РАЙАН,Милена БАНДЖЕВИК,Мэтью ХИЛЛ,Йохан БАНЕР,Мэтью РАБИНОВИТЦ. Владелец: Натера, Инк.. Дата публикации: 2018-11-08.

Anti-dynatron coating based on a polymer matrix with the inclusion of carbon nanotubes and a method for its preparation

Номер патента: RU2745976C1. Автор: Екатерина Андреевна Воробьева,Андрей Андреевич Татаринцев,Андрей Александрович Шемухин,Николай Гаврилович Чеченин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова" (МГУ). Дата публикации: 2021-04-05.

Method for multiplex immunological analysis of biological samples from air in automatic mode

Номер патента: RU2717671C1. Автор: Денис Александрович Клейменов,Сергей Анатольевич Долгушин,Павел Владимирович Шалаев,Бахтияр Исраил оглы Вердиев,Евгений Вячеславович Горский,Владимир Алексеевич Гущин,Артем Петрович Ткачук,Александр Леонидович Гинцбург. Владелец: Российская Федерация в лице Мнистерства здравоохранения. Дата публикации: 2020-03-25.

Method for determination of equilibrium wettability of interface between void and solid phase of rock sample

Номер патента: RU2670716C9. Автор: Олег Юрьевич Динариев,Евгений Николаевич Дышлюк,Николай Вячеславович Евсеев,Иван Викторович Якимчук. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2018-11-29.

Coating method for coaxial micro switch elements

Номер патента: RU2769533C1. Автор: Станислав Игоревич Кузюткин,Дмитрий Сергеевич Колесников,Наталия Вячеславович Дмитричкова. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Алмаз" (АО "НПП "Алмаз"). Дата публикации: 2022-04-01.

Agents, application ways and methods for treating synucleopathy

Номер патента: RU2765303C2. Автор: Ибрагим Джон МАЛИК,Пол ПАРРЕН,Эдвард Ван Ден Бринк,Пекка Каллунки,Карина Фог,Луиз Бур ВЕСТЕРЭЙГЕР,Энн-Луиз Бергстром,Флоренс Сотти,Дэвид Сэйтайджн,Рик Рэйдемэйкер,Том Винк,Лилиана Кристина Перейра МОНТЕЗИНХО. Владелец: Х. Лундбекк А/С. Дата публикации: 2022-01-28.

METHOD FOR CATTLE GENOTYPING BY 1401G/T ALLELES lhcgr (ss52050737) GENE BY PCR IN REAL TIME

Номер патента: RU2716116C1. Автор: Ольга Александровна Скачкова,Артём Владимирович Бригида,Светлана Николаевна Ковальчук,Анна Леонидовна Архипова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Центр экспериментальной эмбриологии и репродуктивных биотехнологий" (ФГБНУ ЦЭЭРБ). Дата публикации: 2020-03-05.

Method for cattle genotyping by alleles 878 of scd1 (rs41255693) gene by pcr in real time

Номер патента: RU2744174C1. Автор: Ольга Александровна Скачкова,Евгений Александрович Климов,Светлана Николаевна Ковальчук,Анна Леонидовна Архипова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр животноводства - ВИЖ имени академика Л.К. Эрнста". Дата публикации: 2021-03-03.

Method for medical-psychophysiological rehabilitation of patients after myocardium infarction

Номер патента: RU2611888C1. Автор: Михаил Викторович Соловьев,Александр Волеславович Гордиенко,Николай Васильевич Сорокин,Олег Валентинович Леонтьев,Алексей Иванович Рыжков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования Военно-медицинская академия им. С.М. Кирова Министерства обороны Российской Федерации (ВМедА). Дата публикации: 2017-03-01.

Method for determination of equilibrium wettability of interface between void and solid phase of rock sample

Номер патента: RU2670716C1. Автор: Олег Юрьевич Динариев,Евгений Николаевич Дышлюк,Николай Вячеславович Евсеев,Иван Викторович Якимчук. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2018-10-24.

Molded detergent and a method for manufacture thereof

Номер патента: RU2303052C2. Автор: Бир КАПУР,Самиран МАХАПАТРА,Судхир АЧАР,Велайудхан Наир Гопа КУМАР,Девадата Шивайи ШАНКОЛКАР. Владелец: Унилевер Н.В.. Дата публикации: 2007-07-20.

Method for radiation sterilisation of biodegradable hydrogels based on chitosan

Номер патента: RU2756421C1. Автор: Александр Альбертович Брязгин,Александр Викторович Пестов,Василий Алексеевич Кузнецов,Екатерина Олеговна Землякова,Александр Геннадьевич Самохин,Анастасия Викторовна Корель,Вадим Олегович Ткаченко. Владелец: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "НОВОСИБИРСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ТРАВМАТОЛОГИИ И ОРТОПЕДИИ ИМ. Я.Л.ЦИВЬЯНА" МИНИСТЕРСТВА ЗДРАВООХРАНЕНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ (ФГБУ "ННИИТО им. Я.Л. ЦИВЬЯНА" МИНЗДРАВА РОССИИ). Дата публикации: 2021-09-30.

Method for eliminating charging of photoresist on specimens during scanning electron microscope examination

Номер патента: US5783366A. Автор: Hsin-Pai Chen,Dong-Shiuh Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1998-07-21.

Method and apparatus for particle assessment using multiple scanning beam reflectance

Номер патента: CA2307509A1. Автор: Oliver Hamann. Владелец: Laser Sensor Tech Inc. Дата публикации: 2000-11-04.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: US20060032296A1. Автор: Casey Hare,Andrew Erickson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-16.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: EP1520292A4. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2008-05-21.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: EP1520292A2. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2005-04-06.

Software synchronization of multiple scanning probes

Номер патента: US7444857B2. Автор: Casey Patrick Hare,Andrew Norman Erickson. Владелец: Multiprobe Inc. Дата публикации: 2008-11-04.

System and method for electroforming a component

Номер патента: GB2624539A. Автор: KUO Pei-Hsin,James Nieters Edward. Владелец: Unison Industries LLC. Дата публикации: 2024-05-22.

Method and apparatus for writing imageable material using multiple beams

Номер патента: US11305554B2. Автор: Dirk Ludo Julien DE RAUW,Bart Mark Luc Wattyn. Владелец: Xeikon Prepress NV. Дата публикации: 2022-04-19.

Method and apparatus for writing imageable material using multiple beams

Номер патента: CA3066639C. Автор: Dirk Ludo Julien DE RAUW,Bart Mark Luc Wattyn. Владелец: XSYS Prepress NV. Дата публикации: 2024-06-11.

Apparatus and method for image stitching based on artificial intelligence for inspecting wind turbines

Номер патента: EP4328850A3. Автор: Jong Sik Moon,Seung Ho Back,Hyeok Joon Kwon. Владелец: Nearthlab Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Method and program for generating trained model for inspecting number of objects

Номер патента: US20240153253A1. Автор: Kunimune Komaike. Владелец: Yamaha Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Fluorescent nanodiamond and method for producing same

Номер патента: US12018196B2. Автор: Ming Liu,Masahiro Nishikawa,Yoshihiro Inamoto,Maki Kishimoto. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Method for producing welded article

Номер патента: US20230373025A1. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Method and apparatus for inspecting vanes in a rotary pump

Номер патента: US20020098099A1. Автор: Timothy Henderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-25.

System and method for semiconductor device compact modeling using multiple specialized artificial neural networks for each semiconductor device operation region

Номер патента: US20230385494A1. Автор: Jung Hwan Park,Chan Woo Park. Владелец: Alsemy Inc. Дата публикации: 2023-11-30.

Test assembly for o-rings and method for inspecting o-rings by means of the assembly itself

Номер патента: EP3058330A1. Автор: Roberto Finazzi. Владелец: UTPVision SRL. Дата публикации: 2016-08-24.

System and method for detecting optical power of dry ophthalmic lenses

Номер патента: US12044592B2. Автор: Sy Hieu Dau,Jia Yaw Tan,Hoang Bao Nguyen. Владелец: EMAGE AI PTE LTD. Дата публикации: 2024-07-23.

Sterile product and method for sterilizing and assembling such product

Номер патента: CA2027595A1. Автор: Archie Woodworth,Billy W. Minshall,Kailash Purohit,Richard Giesler,John E. Nygard,Kwame Sintim-Damoa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1990-09-11.

Method and apparatus for inspecting vanes in a rotary pump

Номер патента: US20030012671A1. Автор: Timothy Henderson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-16.

Method and apparatus for automatic detection of features in an image and method for training the apparatus

Номер патента: US9367765B2. Автор: Thomas Dollings DUCKETT. Владелец: UNIVERSITY OF LINCOLN. Дата публикации: 2016-06-14.

Apparatus and method for optical inspecting three or more sides of a component

Номер патента: US20240230552A1. Автор: Ralf Weise,Marco Hug,Katharina SCHMEING,Rudolf Grüter. Владелец: Besi Switzerland AG. Дата публикации: 2024-07-11.

System and methods for multi-robotic multi-product u-shaped disassembly line

Номер патента: US20240165813A1. Автор: MengChu Zhou,Muhyaddin Rawa,Yusuf Al-Turki,Abdullah Abusorrah,Hesham Alhumade,Ahmed ALABDULWAHAB,Aiiad ALBESHRI,Xi Wang GUO,Khaled SEDRAOUI. Владелец: KING ABDULAZIZ UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-05-23.

Apparatus and method for inspecting closures

Номер патента: US5714699A. Автор: Keith West,Francisco Ascascibar. Владелец: CarnaudMetalbox Holdings USA Inc. Дата публикации: 1998-02-03.

Method and apparatus for writing imageable material using multiple beams

Номер патента: US12072634B2. Автор: Dirk Ludo Julien DE RAUW,Bart Mark Luc Wattyn. Владелец: XSYS Prepress NV. Дата публикации: 2024-08-27.

Methods for fabrication of uncultivated genome-probing microarrays by amplifying genome derived from a single microbial cell using multiple displacement amplification

Номер патента: WO2008096923A1. Автор: Kyoung-Ho Kim,Jin-Woo Bae,Young-Do Nam,Jung-Sook Lee,Ho-Won Chang,Youlboong Sung,Seong Woon Roh. Владелец: Korea Research Institute of Bioscience and Biotechnology. Дата публикации: 2008-08-14.

Systems and methods for using multiple libraries with different cell pre-coloring

Номер патента: US20170323046A1. Автор: Wen-Hao Chen,Meng-Kai Hsu,Yuan-Te Hou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-11-09.

Method for producing a high resolution resist pattern on a semiconductor wafer

Номер патента: US20080292996A1. Автор: Thomas Wallow,Uzodinma Okoroanyanwu. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2008-11-27.

Apparatus for inspecting fuel vessel, and system and method for identifying crack density of vessel

Номер патента: US20240255469A1. Автор: Kyung Hwan Kim,Yong Joo Cho,Jung Ryul Lee. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Digital core reconstruction method for shale matrix based on random growth method

Номер патента: GB2626244A. Автор: Yang Ying,Li Jiangtao,Fu Xiaofei,Zhou Xiaofeng,Wei Jianguang,Sui Xinguang,Wang Anlun. Владелец: Northeast Petroleum University. Дата публикации: 2024-07-17.

A method for the production of a matte multilayer surface with an increased haptic effect and a multilayer surface

Номер патента: EP4433310A1. Автор: Jerzy SZEJWIAN,Mateusz NOWAK,Krzysztof KONIECZNY,Micha SMUS. Владелец: Schattdecor Sp zoo. Дата публикации: 2024-09-25.

A detector and method for inspecting a sealed nuclear storage container

Номер патента: WO2008039583A3. Автор: Augustine J Caffrey. Владелец: Battelle Energy Alliance Llc. Дата публикации: 2008-12-04.

Systems and methods for single-object tracking using multiple-object tracking

Номер патента: EP4432226A1. Автор: Peng Lei,Xin Li,Di Wang,Michel Goraczko,Yue Wu,Prasanna Srikhanta,Tong SHEN,Matthew Fedderly,Steven Fackler,Dimitrios Lymperopoulos,Keun Jae Kim,Aleksandr PATSEKIN,Elliot Kang,Rodney LaLonde,Matthew Betten,Ben Radford,Cameron Derwin,Daniel Marasco. Владелец: Palantir Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-18.

Systems and methods for single-object tracking using multiple-object tracking

Номер патента: US20240312027A1. Автор: Peng Lei,Xin Li,Di Wang,Michel Goraczko,Yue Wu,Prasanna Srikhanta,Tong SHEN,Matthew Fedderly,Steven Fackler,Dimitrios Lymperopoulos,Keun Jae Kim,Aleksandr PATSEKIN,Elliot Kang,Rodney LaLonde,Matthew Betten,Ben Radford,Cameron Derwin,Daniel Marasco. Владелец: Palantir Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

System and method for examination of microarrays using scanning electron microscope

Номер патента: WO2004008188A8. Автор: Paul C Ciccolella,Maria A Hozbor. Владелец: Maria A Hozbor. Дата публикации: 2005-04-28.

Systems and methods for multi-path language translation

Номер патента: US09928236B2. Автор: Edward Dixon,Marcin Dziduch,Craig Olinsky. Владелец: McAfee LLC. Дата публикации: 2018-03-27.

Single function using multiple ports

Номер патента: US09910813B1. Автор: Mark Bradley Davis,Asif Khan. Владелец: Amazon Technologies Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

System and method for converting gaseous hydrocarbon mixtures into highly-branched hydrocarbons using electron beam combined with electron beam-sustained non-thermal plasma discharge

Номер патента: US09908094B2. Автор: Jacob G. Appelbaum. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-06.

Three dimensional powder bed fusion additive manufacturing apparatus and method for controlling three dimensional powder bed fusion additive manufacturing apparatus

Номер патента: EP4454790A1. Автор: Shinichi Kitamura,Nari TSUTAGAWA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Systems and methods for automated voxelation of regions of interest for magnetic resonance spectroscopy

Номер патента: US09808177B2. Автор: James C. Peacock, III,Paul H. Kane,John Patrick Claude. Владелец: Nocimed LLC. Дата публикации: 2017-11-07.

Cylinder for conveying printed sheets along a UV or electron beam drier and method for conveying printed sheets

Номер патента: US09796530B2. Автор: Albert Maul,Jens Friedrichs. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2017-10-24.

Fluorocarbon resin composite, cookware, cooker, roller for office automation equipment, belt for office automation equipment, and method for producing them

Номер патента: US09776289B2. Автор: Kazuaki Ikeda,Yoshimasa Suzuki,Nobutaka Matsushita. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC FINE POLYMER INC. Дата публикации: 2017-10-03.

Method for preparing water quality profile, method for inspecting separation membrane module, and water treatment apparatus

Номер патента: US12138593B2. Автор: Hiroshi Hamada,Masahide Taniguchi,Kazunori Tomioka. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-11-12.

Apparatus and method for inspecting printed images

Номер патента: US09719939B2. Автор: Stephan Krebs. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-01.

System and method for inspecting turbomachines

Номер патента: US09708934B2. Автор: Lawrence James Moore,Fredrick Levi Fuller,Jason Michael Boss,Bernard Baran Zabek,Gerald Marco Geraci,Michael Richard Pomykai. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-07-18.

Inspection apparatus and method for liquid discharge head and liquid discharge head

Номер патента: US09555653B2. Автор: Hideo Kanno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Method for testing through-silicon vias at wafer sort using electron beam deflection

Номер патента: US09529041B2. Автор: Brian D. Erickson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-12-27.

Apparatus and method for inspecting pins on a probe card

Номер патента: US09417308B2. Автор: Oscar Beijert. Владелец: Stichting Continuiteit Beijert Engineering. Дата публикации: 2016-08-16.

Method for determination of 3-methoxyhydroxy benzene in biological material

Номер патента: RU2613310C1. Автор: Владимир Камбулатович Шорманов,Мадина Камбулатовна Елизарова,Анна Павловна Асташкина,Максим Александрович Останин. Владелец: Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Курский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2017-03-15.

Method for gas-discharge sputtering of films

Номер патента: RU2607288C2. Автор: Виктор Александрович Панарин,Виктор Федотович Тарасенко,Эдуард Анатольевич Соснин,Михаил Иванович Ломаев,Дмитрий Викторович Белоплотов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт сильноточной электроники Сибирского отделения Российской академии наук (ИСЭ СО РАН). Дата публикации: 2017-01-10.

Apparatus and method for spectrophotometric analysis

Номер патента: RU2437719C2. Автор: Хенрик В. ЮЛ,Хенрик В. ЮЛ (DK). Владелец: ФОСС АНАЛИТИКАЛ А/С. Дата публикации: 2011-12-27.

Composition and method for its production

Номер патента: RU2754454C2. Автор: Тимо НИССИНЕН,Яри КУККОНЕН. Владелец: Палонот Ой. Дата публикации: 2021-09-02.

Method for determination of o-(2,3-dihydro-2,2-dimethyl-7-benzofuranyl)-n-methylcarbamate and o-(2,3-dihydro-2,2-dimethyl-7-benzofuranyl)-n-(dibutylaminosulphenyl)-n-methylcarbamate in biological material

Номер патента: RU2623070C1. Автор: Владимир Камбулатович Шорманов,Евгений Анатольевич Коваленко,Святослав Геннадьевич Галушкин. Владелец: Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Курский государственный медицинский университет Министерства здравоохранения Российской Федерации". Дата публикации: 2017-06-21.

Method for eliminating artifacts in scanning electron beam computed tomographic images due to cone beam geometry

Номер патента: US6130929A. Автор: Partha Saha. Владелец: Imatron Inc. Дата публикации: 2000-10-10.

Microcomplex for application in photoepilation, method for production thereof and composition therewith

Номер патента: RU2681215C2. Автор: МИГЕЛЬ Игнасио ДЕ,Ромен КИДАНТ. Владелец: Институсио Каталана Де Ресерка И Эстудис Авансатс. Дата публикации: 2019-03-06.

Automated laminography system for inspection of electronics

Номер патента: US5081656A. Автор: John A. Adams,Robert L. Corey,Bruce D. Baker,Edward W. Ross. Владелец: Four PI Systems Corp. Дата публикации: 1992-01-14.

Automated laminography system for inspection of electronics

Номер патента: US5097492A. Автор: John A. Adams,Robert L. Corey,Bruce D. Baker,Edward W. Ross. Владелец: Four PI Systems Corp. Дата публикации: 1992-03-17.

Systems, devices, and methods for performing a non-contact electrical measurement on a cell, non-contact electrical measurement cell vehicle, chip, wafer, die, or logic block

Номер патента: US20210096179A1. Автор: Qi Hu,Marian Mankos,Christopher Hess,Indranil De,Dennis Ciplickas,Jeremy Cheng,Balasubramanian MURUGAN. Владелец: PDF Solutions, Inc.. Дата публикации: 2021-04-01.

Systems, devices, and methods for performing a non-contact electrical measurement on a cell, non-contact electrical measurement cell vehicle, chip, wafer, die, or logic block

Номер патента: US20230358804A1. Автор: Qi Hu,Marian Mankos,Christopher Hess,Indranil De,Dennis Ciplickas,Jeremy Cheng,Balasubramanian MURUGAN. Владелец: PDF Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Method for directly and conformally covering graphene film on full surface of substrate with three-dimensional structure

Номер патента: CN104018136A. Автор: 朱鹏,杜春雷,杨俊�,姜浩,张永娜,李占成,黄德萍,史浩飞,魏大鹏,余崇圣. Владелец: Chongqing Institute of Green and Intelligent Technology of CAS. Дата публикации: 2014-09-03.

Method for establishing measuring workpiece coordinate system based on full-automatic picture search

Номер патента: CN103486968A. Автор: 李越,徐昕,杨聪,蔡雄飞. Владелец: SUZHOU TIANHUAI PRECISION TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-01.

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERNS FORMED ON A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002860A1. Автор: Sakai Kaoru,Shibuya Hisae,Maeda Shunji,Nishiyama Hidetoshi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus For Inspecting Defect Of Pattern Formed On Semiconductor Device

Номер патента: US20120002861A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR MAKING HETEROGENOUS CATALYSTS

Номер патента: US20120004468A1. Автор: "Trejo-OReilly Jose Antonio",Tate James. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Preparing Small Volume Reaction Containers

Номер патента: US20120003675A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for Determining an Analyte in a Sample

Номер патента: US20120002207A1. Автор: Lagae Liesbet,De Vlaminck Iwijn,Van Dorpe Pol. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MICROELECTORODE ARRAY, METHODS FOR PREPARING THE SAME AND USES THEREOF

Номер патента: US20120004716A1. Автор: Langhammer Christopher,Firestein-Miller Bonnie L.,Zahn Jeffrey. Владелец: Rutgers, The State University of New Jersey. Дата публикации: 2012-01-05.

LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120002142A1. Автор: Fujiwara Sayuri,Satoh Eiji,Asaoka Yasushi,Deguchi Kazuhiro,Tanimoto Kazunori,MATSUDA TAKAFUMI,MIKUMO KATSUHIRO. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR INSPECTION OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM, MAGNETIC RECORDING MEDIUM, AND MAGNETIC RECORDING/REPRODUCING DEVICE

Номер патента: US20120002323A1. Автор: Kato Junya,Maruyama Yoshihiko. Владелец: SHOWA DENKO K.K.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR IDENTIFYING AND COMPOUNDS USEFUL FOR THE DIAGNOSIS AND TREATMENT OF DISEASES INVOLVING INFLAMMATION

Номер патента: US20120004160A1. Автор: Dickson Marion Catherine,Janssen Richard Antonius Jozef,De Groot Anton,Lekkerkerker Annemarie Nicolette,Meldrum Eric Charles,Thompson Nicola,Ray Keith Paul,Boyce Susan Heather. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus and Method for Viewing an Object

Номер патента: US20120004513A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method for determining formation parameters during inspection of low-debit non-flowing wells

Номер патента: RU2289021C2. Автор: Николай Петрович Кузнецов,Виктор Иванович Колесов,Алик Каюмович Ягафаров,Борис Александрович Ерка,вцев Игорь Анатольевич Кудр,Игорь Анатольевич Кудрявцев,Олег Валерьевич Нагарев,Константин Александрович Ухалов,Максим Дмитриевич Гаммер. Владелец: Закрытое акционерное общество "Тюменский нефтяной научный центр". Дата публикации: 2006-12-10.

METHOD FOR REPAIRING GAS TURBINE BLADES AND GAS TURBINE BLADE

Номер патента: US20120000890A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120002285A1. Автор: Matsuda Manabu. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ASSEMBLY AND METHOD FOR DETECTING AND MEASURING THE FOULING RATEOF FLOW HOLES IN A SECONDARY CIRCUIT OF A PRESSURIZED WATER NUCLEAR REACTOR

Номер патента: US20120002775A1. Автор: . Владелец: AREVA NP. Дата публикации: 2012-01-05.

Large Area Nitride Crystal and Method for Making It

Номер патента: US20120000415A1. Автор: Speck James S.,"DEvelyn Mark P.". Владелец: Soraa, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUSES AND METHODS FOR ATOMIC LAYER DEPOSITION

Номер патента: US20120000422A1. Автор: Zheng Bo,Ai Hua,YU SANG HO,UMOTOY Salvador P.,Lam Hyman,Jackson Michael,Yuan Xiaoxiong (John),Wang Hou Gong. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

TRANSPARENT ELECTRICALLY CONDUCTIVE LAYER AND METHOD FOR FORMING SAME

Номер патента: US20120000519A1. Автор: FREY Jonathan Mack. Владелец: PRIMESTAR SOLAR. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR PREDICTING AUTOIMMUNE DISEASE RISK

Номер патента: US20120003228A1. Автор: Smith Ken,Lyons Paul,McKinney Eoin. Владелец: Cambridge Enterprise Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for Wireless Transfer of Content Between Aircraft

Номер патента: US20120003922A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DIELECTRIC CERAMIC, METHOD FOR PRODUCING DIELECTRIC CERAMIC, AND ELECTRONIC COMPONENT

Номер патента: US20120004090A1. Автор: Nakano Takahiro,SAKURAI Toshio,ARASHI Tomohiro,KOBUKE Hisashi,NAKAMURA Tomoko,MIYAUCHI Yasuharu. Владелец: TDK Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods for Enabling a Scalable Transformation of Diverse Data into Hypotheses, Models and Dynamic Simulations to Drive the Discovery of New Knowledge

Номер патента: US20120004893A1. Автор: Yu Bin,Wang Jijun,VAIDYANATHAN Akhileswar Ganesh,PRIOR Stephen D.. Владелец: QUANTUM LEAP RESEARCH, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for obtaining nanopowder and device for its realisation

Номер патента: RU2353573C2. Автор: Юрий Александрович Котов,Ку Ри Чанг,Сергей Юрьевич Соковнин,Владислав Генрихович Ильвес. Владелец: Институт электрофизики Уральского отделения РАН. Дата публикации: 2009-04-27.

THIN FILM ARTICLE AND METHOD FOR FORMING A REDUCED CONDUCTIVE AREA IN TRANSPARENT CONDUCTIVE FILMS FOR PHOTOVOLTAIC MODULES

Номер патента: US20120000520A1. Автор: Feldman-Peabody Scott Daniel,FREY Jonathan Mack. Владелец: PRIMESTAR SOLAR. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEMS AND METHODS FOR 8-TX CODEBOOK AND FEEDBACK SIGNALING IN 3GPP WIRELESS NETWORKS

Номер патента: US20120003945A1. Автор: . Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

MEDICAL MATERIAL FOR IN VIVO IMPLANTATION CONTAINING SOFTENING AGENT AND/OR MOISTURIZING AGENT, METHOD FOR CONTROLLING CONTENT OF SOFTENING AGENT AND/OR MOISTURIZING AGENT IN THE MEDICAL MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING THE MEDICAL MATERIAL FOR IN VIVO IMPLANTATION

Номер патента: US20120004673A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of electron-beam backfilling with control of filler wire position relative to electron beam (versions)

Номер патента: RU2704682C1. Автор: Дмитрий Николаевич Трушников,Степан Владимирович Варушкин. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет". Дата публикации: 2019-10-30.

Method for inspection and biopsy of scrotum organs

Номер патента: RU2580166C1. Автор: Владимир Леонидович Полуэктов,Дмитрий Геннадьевич Макушин,Владимир Владимирович Полуэктов. Владелец: государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ГБОУ ВПО ОмГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2016-04-10.

OPTICAL FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, ANTIGLARE FILM, POLARIZER WITH OPTICAL LAYER, AND DISPLAY APPARATUS

Номер патента: US20120002282A1. Автор: Suzuki Ryo,Haga Yumi,Nagahama Tsutomu,Matsumura Shinichi. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHODS FOR WIRELESS CHANNEL SOUNDING

Номер патента: US20120002735A1. Автор: McCoy James W.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

UZM-5, UZM-5P, AND UZM-6 CRYSTALLINE ALUMINOSILICATE ZEOLITES AND METHODS FOR PREPARING THE SAME

Номер патента: US20120004485A1. Автор: . Владелец: UOP LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for determination of dielectric parameters of water and its solutions in audio-frequency region with the aid of l-cell

Номер патента: RU2234102C2. Автор: Л.П. Семихина. Владелец: Тюменский государственный университет. Дата публикации: 2004-08-10.

Method for generating medical radioisotopes

Номер патента: RU2500429C2. Автор: Александр Иванович Карев,Валерий Георгиевич Раевский,Леонид Завенович Джилавян. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук (ФИАН). Дата публикации: 2013-12-10.

Method for electron-beam surfacing of multimodal-structure coatings

Номер патента: RU2309827C1. Автор: Борис Федорович Советченко,Сергей Федорович Гнюсов,Василий Григорьевич Дураков,Дмитрий Анатольевич Маков,Константин Сергеевич Гнюсов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский политехнический университет. Дата публикации: 2007-11-10.

Method for generating subnanosecond electron beam

Номер патента: RU2244361C1. Автор: В.Ф. Тарасенко,С.Б. Алексеев,В.М. Орловский. Владелец: Институт сильноточной электроники СО РАН. Дата публикации: 2005-01-10.

Method for nondestructive check for moisture content in under- package space of integrated circuits

Номер патента: RU2263369C2. Автор: А.В. Андреев,М.И. Горлов,Л.П. Ануфриев,Н.А. Золотарева. Владелец: Воронежский государственный технический университет. Дата публикации: 2005-10-27.

STRUCTURE PROVIDED WITH ZEOLITE SEPARATION MEMBRANE, METHOD FOR PRODUCING SAME, METHOD FOR SEPARATING MIXED FLUIDS AND DEVICE FOR SEPARATING MIXED FLUIDS

Номер патента: US20120000358A1. Автор: MORI Nobuhiko,KAWAI Masaaki,SATOH Aya,TOMITA Toshihiro. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for manufacturing thin film capacitor and thin film capacitor obtained by the same

Номер патента: US20120001298A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FORMING SILICON OXIDE FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003842A1. Автор: Tanaka Yoshinobu,Ueda Hirokazu,Ohsawa Yusuke. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICE AND METHOD FOR REPLICATING A USER INTERFACE AT A DISPLAY

Номер патента: US20120004033A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR OBTAINING SOLID MICRO- OR NANOPARTICLES

Номер патента: US20120004308A1. Автор: Ventosa Rul Nora,Veciana Miró Jaume,Cano Sarabia Mary,Sala Vergés Santiago. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

REAGENT AND METHOD FOR PROVIDING COATINGS ON SURFACES

Номер патента: US20120004339A1. Автор: . Владелец: SURMODICS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

NANOPOROUS FILMS AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120000845A1. Автор: Park Han Oh,Kim Jae Ha,JIN Myung Kuk. Владелец: BIONEER CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRICALLY EXTENSIVELY HEATABLE, TRANSPARENT OBJECT, METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF, AND USE THEREOF

Номер патента: US20120000896A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DATA TRANSMISSION METHOD FOR WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM INVOLVING RELAY

Номер патента: US20120002591A1. Автор: NOH Tae Gyun,AHN Jae Young,LEE Hee Soo,LEE Kyoung Seok. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

USING MULTIPLE INPUTS FROM MOBILE DEVICES TO REFINE PRINTING DEVICE LOCATION

Номер патента: US20120002980A1. Автор: Liu Hua,Begole James M.A.,Tse Frances Kapo,Rahgozar Armon. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRODE STRUCTURE, CAPACITOR, BATTERY, AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRODE STRUCTURE

Номер патента: US20120003544A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003821A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

DEVICES AND METHODS FOR CUTTING AND EVACUATING TISSUE

Номер патента: US20120004595A1. Автор: DUBOIS Brian R.,NIELSEN James T.,GORDON Alexander. Владелец: LAURIMED, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for producing cover hexahedral tubes of low-ductile steel

Номер патента: RU2246363C1. Автор: В.П. Борисов,А.В. Сафьянов,нов А.В. Сафь,А.А. Фёдоров,С.Г. Чикалов,В.И. Тазетдинов,И.И. Вольберг,Л.И. Лапин,И.А. Романцов,С.В. Ненахов,В.А. Головинов,нов М.Р. Хамедз,М.Р. Хамедзянов. Владелец: ОАО "Челябинский трубопрокатный завод". Дата публикации: 2005-02-20.

Method for tomographic sample analysis in scanning electron microscope

Номер патента: RU2453946C1. Автор: Глеб Сергеевич Жданов. Владелец: Глеб Сергеевич Жданов. Дата публикации: 2012-06-20.

Method for producing tinned fruits

Номер патента: RU2351142C1. Автор: Татьяна Григорьевна Причко,Александр Петрович Бойко,Людмила Дмитриевна Чалая,Виталий Афанасьевич Грязев,Циала Владимировна Тутбиридзе. Владелец: Государственное научное учреждение Северо-Кавказский зональный научно-исследовательский институт садоводства и виноградарства Россельхозакадемии. Дата публикации: 2009-04-10.

Method for producing zirconium-niobium master alloy

Номер патента: RU2313591C2. Автор: Александр Владимирович Александров,Михаил Георгиевич Штуца,Вадим Витальевич Антипов,Геннадий Сергеевич Черемных,Александр Константинович Шиков,Валентина Михайловна Аржакова,Александр Гусманович Зиганшин,Андрей Владиславович Андреев,Сергей Геннадьевич Ахтонов,Николай Васильевич Родченков,Олег Юрьевич Бессонов. Владелец: Открытое акционерное общество "Чепецкий механический завод" (ОАО ЧМЗ). Дата публикации: 2007-12-27.

WEIGHING APPARATUS AND METHOD FOR WEIGHING VEHICLES

Номер патента: US20120000715A1. Автор: Saigh Fathi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR INDUCING AN IMMUNE RESPONSE

Номер патента: US20120003298A1. Автор: Maj Roberto,Pattarino Franco,Mura Emanuela,Barberis Alcide. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR DETERMINING A BREEDING VALUE BASED ON A PLURALITY OF GENETIC MARKERS

Номер патента: US20120004112A1. Автор: Lund Mogens Sandø,Su Guosheng,Guldbrandtsen Bernt. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Analysis System And Computer Implemented Method For Analyzing Biological Samples

Номер патента: US20120004853A1. Автор: Oeltjen Lars. Владелец: ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for treatment of electrodes in insulating gaps of high-voltage electric vacuum instruments

Номер патента: RU2384911C1. Автор: Григорий Евгеньевич Озур,Владимир Петрович Ротштейн,Дмитрий Ильич Проскуровский,Александр Владимирович Батраков,Григорий Евгеньевич Озур (RU),Дмитрий Ильич Проскуровский (RU),Владимир Петрович Ротштейн (RU),Александр Владимирович Батраков (RU). Владелец: Институт сильноточной электроники СО РАН. Дата публикации: 2010-03-20.

Method for bit wear determination during well drilling or secondary hole predrilling

Номер патента: RU2298080C2. Автор: Вадим Георгиевич Гераськин,Андрей Александрович Захаров,Владимир Федорович Будников,Виктор Николаевич Горбенко,Валерий Павлович Шумаков,Андрей Валерьевич Шостак,Анатолий Михайлович Черненко,Владимир Александрович Мордовин,Виктор Михайлович Стрельцов,Николай Федорович Сычев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Кубаньгазпром" (ООО "Кубаньгазпром"). Дата публикации: 2007-04-27.

Method for inspecting end-winding retaining rings for interference fit on electrical machine rotor barrel

Номер патента: RU2253176C1. Автор: В.Ю. Аврух,В.Ю. Аврух (RU). Владелец: Аврух Владимир Юрьевич. Дата публикации: 2005-05-27.

Method for obtaining ferrite items

Номер патента: RU2548345C1. Автор: Лариса Владимировна Панина,Владимир Григорьевич Костишин,Валерий Георгиевич Андреев,Александр Григорьевич Савченко,Алексей Николаевич Николаев,Ирина Ивановна Канева,Александр Сергеевич Комлев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2015-04-20.

Method for preparing carbine coatings

Номер патента: RU2542207C2. Автор: Александр Петрович Семенов,Ирина Александровна Семенова,Наталья Назаровна Смирнягина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физического материаловедения Сибирского отделения Российской академии наук. Дата публикации: 2015-02-20.

Method for producing beams of fast electrons, ions, atoms, as well as ultraviolet and roentgen rays, ozone, and/or other chemically active molecules in dense gases

Номер патента: RU2274923C2. Автор: Анатолий Николаевич Мальцев. Владелец: Анатолий Николаевич Мальцев. Дата публикации: 2006-04-20.

Method for increasing wear resistance of zirconium-dioxide-based ceramic products

Номер патента: RU2337894C1. Автор: Анатолий Петрович Суржиков,Сергей Анатольевич Гынгазов,Тамара Семеновна Франгульян,Николай Николаевич Коваль,Владимир Николаевич Девятков,Сергей Владимирович Григорьев,Игорь Михайлович Гончаренко,н Тамара Семеновна Франгуль,тков Владимир Николаевич Дев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Томский политехнический университет. Дата публикации: 2008-11-10.

APPARATUSES AND METHODS FOR CUTTING POROUS SUBSTRATES

Номер патента: US20120000330A1. Автор: Griffin Weston Blaine. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS INTEGRATING MICROELECTROMECHANICAL SYSTEM DEVICE WITH CIRCUIT CHIP AND METHODS FOR FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001276A1. Автор: . Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR MAKING IN-PLANE AND OUT-OF-PLANE SENSING MICRO-ELECTRO-MECHANICAL SYSTEMS (MEMS)

Номер патента: US20120001277A1. Автор: Liu Lianjun,Park Woo Tae,Loreck Heinz,KARLIN LISA H.,Desai Hemant D.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR PRODUCING AMORPHOUS METAL ORGANIC MACROMOLECULES, MATERIAL OBTAINED BY SAID METHOD, AND USE THEREOF

Номер патента: US20120003386A1. Автор: . Владелец: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for preparing tube edges for welding

Номер патента: RU2288827C1. Автор: Александр Николаевич Семенов,Владимир Павлович Гордо,Василий Никитович Тюрин,Герман Николаевич Шевелев. Владелец: Федеральное Государственное Унитарное Предприятие "Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Энерготехники Имени Н.А. Доллежаля". Дата публикации: 2006-12-10.

Method for Packaging Electronic Devices and Integrated Circuits

Номер патента: US20120003791A1. Автор: . Владелец: WAFER-LEVEL PACKAGING PORTFOLIO LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for generating soft x-radiation pulses

Номер патента: RU2128411C1. Автор: В.Д. Селемир,Н.Н. Макарова,А.Е. Дубинов. Владелец: Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно- исследовательский институт экспериментальной физики, Министерство Российской Федерации по атомной энергии. Дата публикации: 1999-03-27.

Method for electron-beam materials treatment

Номер патента: RU2025520C1. Автор: В.И. Жаботинский,В.Я. Нерода,В.И. Заренков. Владелец: Институт физико-химических проблем и технологий. Дата публикации: 1994-12-30.

Method for activating non-diffusive gas absorbers of cathode-ray tubes

Номер патента: RU2254637C1. Автор: Е.С. Ильин,н Р.А. Харекс,Р.А. Харексян,Р.А. Максутова,нц Ю.Р. Степань,Ю.Р. Степаньянц,С.П. Бычков. Владелец: Степаньянц Юрий Рубенович. Дата публикации: 2005-06-20.

Method for irradiation of polymer films with electronic beam

Номер патента: RU2119431C1. Автор: Г.А. Виноградов,Г.И. Бацких,С.В. Денисюк,Г.И. Кленов. Владелец: Московский радиотехнический институт РАН. Дата публикации: 1998-09-27.

Method for making articles of oxygen-free copper for molds of billet continuous casting machines

Номер патента: RU2253540C2. Автор: Н.Б. Абрамова,Л.П. Соломин. Владелец: Соломин Леонид Павлович. Дата публикации: 2005-06-10.

Method for converting x-rays to electric signal and cathode-ray tube which implements method

Номер патента: RU2125320C1. Автор: Ю.А. Крутяков,М.И. Плотников,В.Г. Морковин. Владелец: Плотников Михаил Ильич. Дата публикации: 1999-01-20.

Method for spectral analysis of element composition of substance

Номер патента: RU2270994C2. Автор: Владимир Васильевич Осипов,Валерий Федорович Лосев,Владимир Иванович Соломонов,Владимир Егорович Прокопьев. Владелец: Институт сильноточной электроники СО РАН. Дата публикации: 2006-02-27.

Method for treatment of milk and milk whey

Номер патента: RU2361407C1. Автор: Нина Ивановна Хамнаева,Геннадий Ефимович Ремнев,Эмилия Кимовна Данжеева. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Восточно-Сибирский государственный технологический университет. Дата публикации: 2009-07-20.

Method for producing panoramic image in raster electron microscope

Номер патента: RU2181515C2. Автор: В.Н. Филиппов. Владелец: Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения РАН. Дата публикации: 2002-04-20.

Method for testing samples of metallic membranes under voltage and device for realization of said method

Номер патента: RU2296976C2. Автор: Риннат Галеевич Нуруллин,Нух Махмудович Якупов,Самат Нухович Якупов,Ахмет Рашидович Нургалиев. Владелец: Институт механики и машиностроения Казанского научного центра РАН. Дата публикации: 2007-04-10.

Method for electron-beam surfacing

Номер патента: RU2217279C2. Автор: В.Е. Панин,С.И. Белюк,В.Г. Дураков,В.П. Безбородов. Владелец: Российский материаловедческий центр. Дата публикации: 2003-11-27.

Method for obtaining ferritic items by radiation thermal sintering

Номер патента: RU2536022C1. Автор: Александр Тимофеевич Морченко,Владимир Григорьевич Костишин,Валерий Георгиевич Андреев,Лев Васильевич Кожитов,Артем Юрьевич Адамцов,Денис Николаевич Читанов,Александр Сергеевич Комлев. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2014-12-20.

Method for fabrication of structures in microelectronics

Номер патента: RU2145156C1. Автор: В.И. Тригуб,А.В. Плотнов,Н.А. Потатина,А.В. Ободов. Владелец: Ободов Александр Владимирович. Дата публикации: 2000-01-27.

Method for production of titanium having high degree of purity

Номер патента: RU2087570C1. Автор: А.В. Елютин,Л.И. Вороненко,Л.В. Федулаева,Ф.В. Ковалев. Владелец: Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет". Дата публикации: 1997-08-20.

Method for magnetic control and device for realization of said method

Номер патента: RU2245542C2. Автор: Ю.П. Булатов,П.С. Альтман,Н.Н. Бондарюк,В.Ф. Кузеванов. Владелец: Кузеванов Владимир Фёдорович. Дата публикации: 2005-01-27.

Method for investigation of biological compatibility of synthetic material of medical-biological purpose with biological tissues

Номер патента: RU2381485C2. Автор: Ольга Анатольевна Коновалова,Мякзюм Хамимулович Салахов. Владелец: Мякзюм Хамимулович Салахов. Дата публикации: 2010-02-10.

Method for information transmission and device which implements said method

Номер патента: RU2097924C1. Автор: Г.А. Марков,К.В. Горохов,Г.Н. Бочков. Владелец: Нижегородский государственный университет им.Н.И.Лобачевского. Дата публикации: 1997-11-27.

Agent for action on human organism and method for its production

Номер патента: RU2177347C2. Автор: А.В. Семенов,О.А. Пасько,В.Л. Чахлов,Е.В. Лопаткова,В.Н. Кирсанова,М.В. Подоплекин. Владелец: Научно-исследовательский институт кардиологии Томского научного центра СО РАМН. Дата публикации: 2001-12-27.

Method for isolation of nucleic acids

Номер патента: RU2272072C1. Автор: Валентин Викторович Власов,Павел Петрович Лактионов,Елена Юрьевна Рыкова,Светлана Николаевна Тамкович. Владелец: Павел Петрович Лактионов. Дата публикации: 2006-03-20.

Method for determining and evaluating effectiveness of asphalt paraffin deposit solvents

Номер патента: RU2520954C1. Автор: Елена Юрьевна Шиц,Изабелла Карловна Иванова,Людмила Петровна Калачева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем нефти и газа Сибирского отделения Российской академии наук (ИПНГ СО РАН). Дата публикации: 2014-06-27.

METHOD FOR MICROWAVE PLASMA FORMATION OF CUBIC SILICON CARBIDE FILMS ON SILICON (3C-SiC)

Номер патента: RU2538358C1. Автор: Петр Павлович Мальцев,Юрий Владимирович Федоров,Виталий Васильевич Аристов,Сергей Викторович Редькин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники Российской академии наук (ИСВЧПЭ РАН). Дата публикации: 2015-01-10.

Method for determination of ellipsometric parameters

Номер патента: RU2350928C1. Автор: Валентин Васильевич Сальников,Борис Георгиевич Головкин. Владелец: Институт химии твердого тела Уральского Отделения Российской Академии наук. Дата публикации: 2009-03-27.

Synthetic oligonucleotide primers and method for revealing bifidobacterium longum subspecies longum in starter cultures used during cultured milk products manufacture

Номер патента: RU2473698C1. Автор: Владимир Иванович Семенихин,София Антоновна Юрик. Владелец: Государственное научное учреждение Институт экспериментальной ветеринарии Сибири и Дальнего Востока Российской академии сельскохозяйственных наук (ГНУ ИЭВСиДВ Россельхозакадемии). Дата публикации: 2013-01-27.

Method for measuring moisture content of lint-and-plumula raw material

Номер патента: RU2320985C1. Автор: Дмитрий Семенович Лычников,Алла Ионовна Сапожникова,Людмила Константиновна Земцова,Наталь Викторовна Берлова,Наталья Викторовна Берлова. Владелец: Федеральное Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Московская Государственная Академия Ветеринарной Медицины И Биотехнологии Имени К.И. Скрябина". Дата публикации: 2008-03-27.

Method for detection of defatigation in operators

Номер патента: RU2467683C1. Автор: Юрий Николаевич Чернов,Игорь Борисович Ушаков,Наталия Юрьевна Гончарова,Галина Александровна Батищева,Ирина Викторовна Шатунова,Наталья Владимировна Мухортова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежская государственная медицинская академия им. Н.Н. Бурденко" Министерства здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2012-11-27.

Method for processing surfaces of fiber products

Номер патента: RU2023690C1. Автор: А.А. Кравченко,Г.В. Дудко,Л.Г. Магаев,Ю.А. Розэ. Владелец: Таганрогский радиотехнический институт им.В.Д.Калмыкова. Дата публикации: 1994-11-30.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.