Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

주사 전자 현미경

Номер патента: KR20130135541A
Опубликовано: 11-12-2013
Автор(ы): 박태훈, 박필화
Принадлежит: (주)오로스 테크놀로지
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Scanning electron microscope

Номер патента: US7755045B2. Автор: Shinichi Tomita,Sukehiro Ito,Junichi Katane,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-13.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09466458B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP1290714A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd CUTS. Дата публикации: 2003-03-12.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2001067483A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd.. Дата публикации: 2001-09-13.

Electron detection unit and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010008307A3. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2010-08-19.

Electron detection unit and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010008307A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2010-01-21.

Secondary electron detector unit for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2004093120A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2004-10-28.

Secondary electron detector unit for a scanning electron microscope

Номер патента: US7425708B2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2008-09-16.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: US5362964A. Автор: W. Ralph Knowles,William G. Schultz,Allen E. Armstrong. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1994-11-08.

Ionisationsdetektor für ein environmental scanning electron microscope

Номер патента: ATE535007T1. Автор: Vilem Nedela,Josef Jirak. Владелец: Ustav Pristrojove Techniky Av Cr V V I. Дата публикации: 2011-12-15.

Integrated electron optical/differential pumping/imaging signal detection system for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: EP0330310A2. Автор: George C. Lewis,Gerasimos D. Danilatos. Владелец: Electro Scan Corp. Дата публикации: 1989-08-30.

Scanning electron microscope

Номер патента: US10068746B2. Автор: Jeonghoi KOO. Владелец: Seron Technologies Inc. Дата публикации: 2018-09-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20210391142A1. Автор: Wei He,Sha Liu. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20150243475A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US09431213B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Electron multiplier for scanning electron mircroscopes

Номер патента: US5717206A. Автор: Hiroyuki Watanabe,Hideyuki Suzuki,Masahiko Iguchi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 1998-02-10.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20140117232A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2014-05-01.

Electron microscope and method of operating same

Номер патента: US09685302B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Scanning transmission electron microscope using gas amplification

Номер патента: EP2182546B1. Автор: William Knowles,Milos Toth. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-10-26.

Electron microscope and electron beam detector

Номер патента: US9355815B2. Автор: Yoichi Ose,Shin Imamura,Takashi Ohshima,Kenichi Hirane. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Scanning electron microscope

Номер патента: AU2001237607A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd CUTS. Дата публикации: 2001-09-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB9910896D0. Автор: . Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 1999-07-07.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO1998022971A3. Автор: Pierre Sudraud,Antoine Corbin,Rainer Sailer,David John Bate. Владелец: David John Bate. Дата публикации: 1998-07-23.

Electron Microscope

Номер патента: US20200013582A1. Автор: Jun Yamashita,Yuko Shimizu,Hirofumi Iijima,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Electron microscope

Номер патента: US10741358B2. Автор: Jun Yamashita,Yuko Shimizu,Hirofumi Iijima,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-11.

Phase contrast transmission electron microscope device

Номер патента: US20190122855A1. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Inter University Research Institute Corp National Institute of Natural Sciences. Дата публикации: 2019-04-25.

Scanning Electron Microscope Optical Condition Setting Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20120318977A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-12-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09536703B2. Автор: Hideo Morishita,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Electron microscope device

Номер патента: CA2743374C. Автор: Hirotaka Tanaka,Hisashi Isozaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2014-04-29.

Collection of secondary electrons through the objective lens of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1305816A2. Автор: Robert L. Gerlach,Karel D. van der Mast,Michael R. Scheinfein. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2003-05-02.

Secondary electron detection system for scanning electron microscope

Номер патента: PL359748A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2004-10-18.

System for detection of secondary and backward scattered electrons for use in scanning electron microscope

Номер патента: PL362826A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-04-18.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1673797B1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2009-12-09.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005036583A3. Автор: Witold Slowko. Владелец: Witold Slowko. Дата публикации: 2005-09-09.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1673797A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-06-28.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005036583A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-04-21.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB1432887A. Автор: . Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1976-04-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2008058491B1. Автор: Filip Lopour,Jaroslav Jiruse. Владелец: Tescan S R O. Дата публикации: 2008-08-21.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: US7470915B2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2008-12-30.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: US20060249674A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-11-09.

Detector system for a scanning electron microscope

Номер патента: US3626184A. Автор: Albert V Crewe. Владелец: US Atomic Energy Commission (AEC). Дата публикации: 1971-12-07.

Electron microscope

Номер патента: WO2022199721A1. Автор: Shuai Li,Shizuo QU,Jichuang HU. Владелец: Focus E-Beam Technology Pte. Ltd.. Дата публикации: 2022-09-29.

Transmission electron microscope and method of displaying spectral image

Номер патента: EP2256780A3. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2010-12-29.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20120187293A1. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Wataru Inami. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-07-26.

Transmission electron microscope provided with electronic spectroscope

Номер патента: EP1965407A3. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2010-01-27.

Electron microscope and method of adjusting the same

Номер патента: US8859964B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Electron Microscope and Method of Adjusting the Same

Номер патента: US20130327938A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Method for creating reference images in electron microscopes

Номер патента: US20090080799A1. Автор: Paul E. Mooney. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Transmission Electron Microscope Provided with Electronic Spectroscope

Номер патента: US20080203296A1. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Method and apparatus allowing simultaneous direct observation and electron capture of scintillation images in an electron microscope

Номер патента: WO2009117077A3. Автор: James F. Mancuso,Leo A. Fama. Владелец: Mancuso James F. Дата публикации: 2009-11-12.

Method and apparatus allowing simultaneous direct observation and electron capture of scintillation images in an electron microscope

Номер патента: WO2009117077A2. Автор: James F. Mancuso,Leo A. Fama. Владелец: Mancuso James F. Дата публикации: 2009-09-24.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150014531A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Hideyuki Kazumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-01-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09305745B2. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-04-05.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908658B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150034824A1. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Scanning electron microscope having detachable column, and image acquisition method using the same

Номер патента: US11978610B2. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Scanning electron microscope having detachable column, and image acquisition method using the same

Номер патента: US20220189732A1. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Detachable column unit of scanning electron microscope, and method for providing the same

Номер патента: US20240212978A1. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Electron microscope and measurement method

Номер патента: US09859095B2. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Electron microscope device and imaging method using same

Номер патента: US09824853B2. Автор: Kenji Nakahira,Maki Tanaka,Mitsutoshi Kobayashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Electron Microscope and Measurement Method

Номер патента: US20170025248A1. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Electron microscope and sample observation method

Номер патента: US10083814B2. Автор: Takeshi Sato,Kiyotaka Nakano,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-09-25.

Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20160064183A1. Автор: Takeshi Sato,Kiyotaka Nakano,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Measurement Method and Electron Microscope

Номер патента: US20190088447A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

Gaseous backscattered electron detector for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU1778399A. Автор: Peter D. Smith,Thomas A. Hardt,Ralph Knowles. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 1999-08-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP3766793B2. Автор: 佐藤　　貢,隆一郎 多持,紫 檀. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-04-19.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7057184B1. Автор: Matthew J. Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2006-06-06.

A scanning electron microscope

Номер патента: EP1547121A1. Автор: Matthew James Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2005-06-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20060138324A1. Автор: Matthew Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2006-06-29.

A scanning electron microscope

Номер патента: WO2004030018A1. Автор: Matthew James Kershaw. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 2004-04-08.

Scanning Electron Microscope and Objective Lens

Номер патента: US20230014270A1. Автор: Motohiro Nakamura,Takeyuki Kobayashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1678734A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-07-12.

Scanning electron microscope with reconfigurable aperture means

Номер патента: GB2374723A. Автор: Michael Frank Dean,Giles Adam Edward Martin. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2002-10-23.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005041243A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-05-06.

Low-pressure chamber for scanning electron microscopy in a wet environment

Номер патента: EP1509941A2. Автор: Elisha Moses,Stephan Thiberge. Владелец: Yeda Research and Development Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-02.

Low-pressure chamber for scanning electron microscopy in a wet environment

Номер патента: WO2003104847A3. Автор: Elisha Moses,Stephan Thiberge. Владелец: Stephan Thiberge. Дата публикации: 2004-04-15.

Low-pressure chamber for scanning electron microscopy in a wet environment

Номер патента: WO2003104847A2. Автор: Elisha Moses,Stephan Thiberge. Владелец: Yeda Research and Development Co. Ltd.. Дата публикации: 2003-12-18.

Methods and apparatus for improving resolution and reducing noise in an image detector for an electron microscope

Номер патента: WO1998057350A1. Автор: Paul E. Mooney,John A. Hunt. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 1998-12-17.

Detector for a electron microscope

Номер патента: CA1139457A. Автор: Siegfried Lichtenegger. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1983-01-11.

Electron microscope

Номер патента: US5811803A. Автор: Hiroshi Motoki,Fumio Komatsu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1998-09-22.

Transmission electron microscope and method for observing specimen image with the same

Номер патента: US20110031395A1. Автор: Akira Sugawara,Ken Harada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-02-10.

Electron gun and electron microscope

Номер патента: US20230298847A1. Автор: Masayoshi Nagao,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Edgardo Garcia Berrios,Yinying Xiao-Li,Lavinia Ghirardini. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Electron gun and electron microscope

Номер патента: WO2023177916A1. Автор: Masayoshi Nagao,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Edgardo Garcia Berrios,Yinying Xiao-Li,Lavinia Ghirardini. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-09-21.

Electron microscope comprising an X-ray detector

Номер патента: US4450355A. Автор: Hendricus C. J. Marien,Michael N. Thompson. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1984-05-22.

Gas delivery system for environmental transmission electron microscope

Номер патента: US11837432B1. Автор: John Joseph Nogan,Katherine Leigh Jungjohann,Raymond Vernon Puckett. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2023-12-05.

Method of using a phase plate in a transmission electron microscope

Номер патента: US20140326876A1. Автор: Bart Buijsse,Radostin Stoyanov Danev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-11-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09613781B2. Автор: Masahiro Hayashi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-04.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: EP1642313B1. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-12-22.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: WO2005006384A2. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2005-01-20.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: EP1642313A2. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2006-04-05.

Scanning electron microscope grain imaging

Номер патента: GB2285169A. Автор: Austin Day. Владелец: UK Secretary of State for Trade and Industry. Дата публикации: 1995-06-28.

Scanning electron microscope grain imaging

Номер патента: GB9403815D0. Автор: . Владелец: UK Secretary of State for Trade and Industry. Дата публикации: 1994-04-20.

Scanning electron microscope and image signal processing method

Номер патента: US20070064100A1. Автор: Katsuhiro Sasada,Hiroki Kawada,Atsushi Kobaru. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-22.

Scanning electron microscope and image signal processing method

Номер патента: US8362426B2. Автор: Katsuhiro Sasada,Hiroki Kawada,Atsushi Kobaru. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-01-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: CN105826152B. Автор: 林雅宏. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-05-14.

Electron microscope and elemental mapping image generation method

Номер патента: US09627175B2. Автор: Akira Yasuhara,Masaki Morita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Electron microscope and method of measuring aberrations

Номер патента: US09779911B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Electron microscope for magnetic field measurement and magnetic field measurement method

Номер патента: US20190295817A1. Автор: Akira Sugawara,Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-26.

Control Method for Electron Microscope and Electron Microscope

Номер патента: US20210074506A1. Автор: Mitsuru Koizumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: WO2024002399A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: Delong Instruments A.S.. Дата публикации: 2024-01-04.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: CA3224319A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: DELONG INSTRUMENTS AS. Дата публикации: 2023-12-29.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: EP4364179A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: DELONG INSTRUMENTS AS. Дата публикации: 2024-05-08.

Membrane assembly, examination container and electron microscope

Номер патента: US20200027695A1. Автор: Tsu-Wei Huang,Shih-Yi LIU,Jia-Ling Wu,Maochan Chang. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327A4. Автор: Kenneth H Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2005-12-07.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327B1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2012-02-01.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: WO1999066529A1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 1999-12-23.

Holder assembly for cooperating with a nanoreactor and an electron microscope

Номер патента: US09812285B2. Автор: Pleun Dona,Luigi Mele. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-11-07.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327A1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2001-04-04.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: WO1999066529A9. Автор: Kenneth H Downing. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2000-03-23.

Interferometric electron microscope

Номер патента: EP3699949A1. Автор: Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2020-08-26.

Phase Plate For Phase-Contrast Electron Microscope, Method For Manufacturing the Same and Phase-Contrast Electron Microscope

Номер патента: US20080202918A1. Автор: Kuniaki Nagayama,Radostin Danev. Владелец: Nagayama IP Holdings LLC. Дата публикации: 2008-08-28.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: AU5083299A. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2000-01-05.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: US20060038127A1. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-02-23.

Transmission electron microscope specimen and method of manufacturing the same

Номер патента: US20200027691A1. Автор: Cheng-Lun HSIN,Wen-Wei WU,Wei-Huan TSAI,Jui-Yuan CHEN. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2020-01-23.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A1. Автор: David L. Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-03-12.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A4. Автор: David L Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2007-03-07.

Electron microscope

Номер патента: US20110133084A1. Автор: Toshiaki Tanigaki,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-09.

Method of using an environmental transmission electron microscope

Номер патента: US09570270B2. Автор: Alexander Henstra,Peter Christiaan Tiemeijer,Stan Johan Pieter Konings. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-02-14.

Holder assembly for cooperating with an environmental cell and an electron microscope

Номер патента: US09524850B2. Автор: Pleun Dona,Hendrik Willem Zandbergen,Gerardus Nicolaas Anne Van Veen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-12-20.

Phase contrast electron microscope

Номер патента: US20100181481A1. Автор: Gerd Benner,Marko Matijevic. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-07-22.

Electron microscope

Номер патента: US20200303152A1. Автор: Hiroyuki Minemura,Yoichi Ose,Yumiko Anzai,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Electron microscope electron gun for facilitating position adjustment and electron microscope including same

Номер патента: US20180218874A1. Автор: Bok Lae CHO,In Yong Park. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-08-02.

Method for preparation of transmission electron microscope sample material utilizing sheet mesh

Номер патента: US5440123A. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1995-08-08.

Electron Microscope

Номер патента: US20160225581A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Electron microscope

Номер патента: US9818576B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Interference electron microscope

Номер патента: US20130313432A1. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Yoshio Takahashi,Shinji Aizawa,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2013-11-28.

Interference electron microscope

Номер патента: EP2667400A3. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Yoshio Takahashi,Shinji Aizawa,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2015-01-28.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: EP1628321A3. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-04-19.

Image forming method and electron microscope

Номер патента: US7838834B2. Автор: Ryoichi Ishii,Yoshihiko Nakayama,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-11-23.

Phase plate and electron microscope

Номер патента: US20140224988A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yoshio Takahashi,Hiroto Kasai,Hirokazu Tamaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-08-14.

Image Forming Method and Electron Microscope

Номер патента: US20080224040A1. Автор: Ryoichi Ishii,Yoshihiko Nakayama,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Scanning electron microscope and apparatus for detecting defect

Номер патента: US20070187598A1. Автор: Ichiro Tachibana,Muneyuki Fukuda,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5834774A. Автор: Toshiharu Kobayashi,Tsutomu Negishi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-11-10.

Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1706887A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-10-04.

Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005071710A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-08-04.

Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1706887B1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2012-09-26.

The method and the system designed for directional detection of electrons in the scanning electron microscope

Номер патента: PL364510A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-07-25.

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: WO2000011702A1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2000-03-02.

Electron microscope and image generation method

Номер патента: EP4120316A1. Автор: Motohiro Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-18.

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: EP1110232A1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2001-06-27.

Electron microscope and method of operating the same

Номер патента: EP2674961A3. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2015-01-07.

Electron microscope and method of operating the same

Номер патента: US9772976B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Electron Microscope and Method of Operating the Same

Номер патента: US20130332116A1. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Electron detection device and scanning electron microscope

Номер патента: US20110139984A1. Автор: Tsuguo Kurata. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Method of analysis using energy loss spectrometer and transmission electron microscope equipped therewith

Номер патента: US7459680B2. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-12-02.

Method of analysis using energy loss spectrometer and transmission electron microscope equipped therewith

Номер патента: US20060255271A1. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Collection of secondary electrons through the objective of a scanning electron microscope

Номер патента: JP2003532256A. Автор: エル ジャーラッチ，ロバート,ダー マスト，カレル ディー ヴァン,アール シェインフェイン，マイケル. Владелец: フェイ カンパニ. Дата публикации: 2003-10-28.

Energy-discrimination electron detector and scanning electron microscope in which same is used

Номер патента: EP3203494B1. Автор: Takashi Sekiguchi,Hideo Iwai. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2019-12-18.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20160148782A1. Автор: Agemura Toshihide,Morishita Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20200273665A1. Автор: Agemura Toshihide,Morishita Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-27.

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20180358199A1. Автор: KUMAMOTO Kazuya,Matsuda Sadayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-13.

Parallel radial mirror analyser with an angled zero-volt equipotential exit grid for scanning electron microscopes

Номер патента: US8981292B2. Автор: Hung Quang HOANG,Anjam Khursheed. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2015-03-17.

Scanning electron microscope and a method for overlay monitoring

Номер патента: EP3909066A4. Автор: Itay Asulin,Emil Weisz,Eitam Yitzchak VINEGRAD,Menachem Lapid,Boris Rozensvaig. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2022-11-09.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: DE2436160A1. Автор: Yasushi Kokubo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1975-02-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3367418A2. Автор: Yoshinori Matsuda,Makoto Aoshima,Tatsuru Kuramoto,Yuichiro Ohori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-08-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09472376B2. Автор: Hiroshi Makino,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Toshiyuki Yokosuka,Yoshinori Momonoi,Miki Isawa,Chahn Lee,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Scanning electron microscope and sample observation method

Номер патента: US09991092B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Hiroyuki Shinada,Hikaru Koyama,Osamu Komuro,Zhaohui Cheng. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Autofocus method for a scanning electron microscope

Номер патента: US20210027979A1. Автор: Daisuke Kubota. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

A scanning electron microscope

Номер патента: WO2009051333A1. Автор: Jong-Hyun Kim,In-Kyu Lee,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Sec Co., Ltd.. Дата публикации: 2009-04-23.

Tool-To-Tool Matching Control Method And Its System For Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110278453A1. Автор: Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-11-17.

Method for characterization of a sample surface by using scanning electron microscope and scanning probe microscope

Номер патента: WO2017186198A1. Автор: Jan NEUMAN,Zdenek NOVACEK,Michal PAVERA. Владелец: Nenovision S.R.O.. Дата публикации: 2017-11-02.

Cathodoluminescence electron microscope

Номер патента: EP3966844A2. Автор: Jean Berney. Владелец: Attolight AG. Дата публикации: 2022-03-16.

Sample shape determination by measurement of surface slope with a scanning electron microscope

Номер патента: US6157032A. Автор: Stephen W. Into. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2000-12-05.

Method for focusing a scanning electron microscope, computer program product for focusing a scanning electron microscope, and testing device

Номер патента: TWI730438B. Автор: 博海德 穆勒,庫普利特賽恩 維迪,尼可萊 柯納伯. Владелец: 美商應用材料股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-11.

System of scanning electron microscope sample box and method of opening the same

Номер патента: US20240014001A1. Автор: Ming Li,Hongmin Zhou,Shengquan FU. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2024-01-11.

Electron beam dose control for scanning electron microscopy and critical dimension measurement instruments

Номер патента: US5869833A. Автор: Neil Richardson,Stefano E. Concina,David L. Adler,Farid Askary,Kevin M. Monahan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 1999-02-09.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20170309437A1. Автор: Masashi Sasaki,Daisuke Kobayashi,Shunsuke Sato,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Calibration of a scanning electron microscope

Номер патента: WO2001011656A1. Автор: Weidong Liu,Laurence S. Hordon,Jason C. Yee,David M. Goodstein. Владелец: Kla Tencor Corporation. Дата публикации: 2001-02-15.

Method of measuring the performance of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1415320A1. Автор: Peter Dirksen,Casparus A. H. Juffermans,Rene J. G. Elfrink. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-05-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20100320385A1. Автор: Kazuo Aoki,Mitsugu Sato,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090050805A1. Автор: Kazuo Aoki,Mitsugu Sato,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Charged particle beam apparatus, scanning electron microscope, and method of operating a charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4295385A1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-12-27.

Monitoring of imaging parameters of scanning electron microscopy

Номер патента: WO2024188982A1. Автор: Stephan Nickell. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-09-19.

Electron microscope, multipole element for use therein, and control method for such electron microscope

Номер патента: EP4362055A3. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Method for measuring information transfer limit in transmission electron microscope, and transmission electron microscope using the same

Номер патента: EP1918964A3. Автор: Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-04-16.

Charged Particle Beam Device, Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20170221676A1. Автор: Yasuhira Nagakubo,Takeshi Sunaoshi,Kazutaka Nimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Vacuum tube electron microscope

Номер патента: US09859097B2. Автор: Manu Prakash,R. Fabian W. Pease,Alireza Nojeh,James Stanley CYBULSKI. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2018-01-02.

Electron Microscope, Multipole Element for Use Therein, and Control Method for Such Electron Microscope

Номер патента: US20240145210A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Electron Microscope

Номер патента: US20210066024A1. Автор: Hidekazu Suzuki,Hideki Kikuchi,Tadao Furutsu,Kouichirou Saitou,Ryoji Namekawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Electron microscope, multipole element for use therein, and control method for such electron microscope

Номер патента: EP4362055A2. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Multifunctional ultrafast electron gun of transmission electron microscope

Номер патента: US20160254117A1. Автор: Jianqi Li,Chao Ma,Huanfang TIAN,Gaolong CAO,Huaixin YANG. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2016-09-01.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: US20230298849A1. Автор: Ondrej Shanel,Jiri Benda,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek,Vojtech Dole{hacek over (z)}al,Tomá{hacek over (s)} Trnkócy. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-21.

Liner tube and electron microscope

Номер патента: US09997327B1. Автор: Hidetaka Sawada,Masashi Shimizu,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Multifunctional ultrafast electron gun of transmission electron microscope

Номер патента: US09558909B2. Автор: Jianqi Li,Chao Ma,Huanfang TIAN,Gaolong CAO,Huaixin YANG. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2017-01-31.

Scanning transmission electron microscope and electron energy loss spectroscopy

Номер патента: US20050285037A1. Автор: Shunichi Watanabe,Kuniyasu Nakamura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Electron microscope

Номер патента: US20040188613A1. Автор: Kazutoshi Kaji,Shigeto Isakozawa,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-09-30.

Scanning Transmission Electron Microscope and Aberration Correction Method

Номер патента: US20200266025A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Izuru Chiyo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

Integrated Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20210098227A1. Автор: Katherine L. Jungjohann,Khalid M. Hattar. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2021-04-01.

Scanning transmission electron microscope and aberration correction method

Номер патента: EP3690922A2. Автор: Shigeyuki Morishita,Izuru Chiyo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US6774364B2. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2004-08-10.

Transmission electron microscope and method of adjusting optical system

Номер патента: US11742176B2. Автор: Yoshiki Oyama,Kazuki Yagi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Liquid cell for electron microscope and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240038487A1. Автор: Jungwon Park,Jiwoong YANG,Hyeonjong MA. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-02-01.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: EP4250329A1. Автор: Jiri Benda,Vojtech Dolezal,Tomás Trnkócy,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-27.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US20030193025A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Method of measuring length with scanning type electron microscope

Номер патента: US6653634B1. Автор: Tadashi Otaka,Kouichi Nagai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-11-25.

Electron microscope stage

Номер патента: US20210151281A1. Автор: Albert Visscher. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-05-20.

Apperance inspection apparatus with scanning electron microscope and image data processing method using scanning electron microscope

Номер патента: US20090208092A1. Автор: Hiroshi Miyai,Yasuhiro Gunji,Yusuke Ominami. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Apparatus and method for fabricating semiconductor device by using focused ion beam and scanning electron microscope supported by electron diffraction pattern

Номер патента: US20240203688A1. Автор: Kunsu KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140361167A1. Автор: OHSHIMA Takashi,Ito Sukehiro,Morishita Hideo,Hatano Micho. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

In-the-gas scanning electron microscope

Номер патента: TW201447956A. Автор: Akira Yonezawa,Masayuki Fukumoto,Katsuyuki Takahashi,Norimichi Anazawa,Takafumi KISHIRO,Hiroki Toyoda. Владелец: Holon Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-16.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20220415609A1. Автор: Takumi UEZONO,Tadanobu Toba,Hironori Itabashi,Masato Kamio. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7307253B2. Автор: Kazuo Aoki,Masashi Sakamoto,Kohei Yamaguchi,Seiji Isogai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-12-11.

Scanning electron microscopy (sem) back-scattering electron (bse) focused target and method

Номер патента: WO2024068426A1. Автор: Cyrus Emil TABERY,Benoit Herve GAURY,Jiyou Fu. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-04-04.

Sample Observation Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20080283750A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Method of observing electron microscopic images and an apparatus for carrying out of the same

Номер патента: US5345080A. Автор: Yusuke Yajima,Hiroyuki Shinada,Masakazu Ichikawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-09-06.

Sample Holder and Electron Microscope

Номер патента: US20180374671A1. Автор: Takeo Sasaki,Masashi Shimizu,Ichiro Onishi,Kazuki Yagi,Shuichi YUASA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Sample holder and electron microscope

Номер патента: US10504690B2. Автор: Takeo Sasaki,Masashi Shimizu,Ichiro Onishi,Kazuki Yagi,Shuichi YUASA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-12-10.

Sample observation method and transmission electron microscope

Номер патента: US7705305B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Auger electron microscope and analysis method

Номер патента: US11391682B2. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

Method of operating a scanning electron microscope

Номер патента: US8227752B1. Автор: Hubert Mantz,Jaroslaw Paluszynski. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2012-07-24.

Measuring arrangement for secondary electrons with a secondary electron collector chamber arranged in the primary electron beam path of a scanning electron microscope

Номер патента: DE2607788C2. Автор: George Vasilievič Hopewell Junction N.Y. Lukianoff,Theodore Richard Poughkeepsie N.Y. Touw. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1984-10-25.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ANALYZING SECONDARY ELECTRON SPIN POLARIZATION

Номер патента: US20200402762A1. Автор: Morishita Hideo,KATANE Junichi,Kohashi Teruo. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-24.

Secondary-electron detector arrangement for analysing scanning electron microscope and microprobe samples

Номер патента: GB2082832B. Автор: . Владелец: European Atomic Energy Community Euratom. Дата публикации: 1984-04-11.

Scanning electron microscope and method for measuring current of primary electrons, using same

Номер патента: WO2013047920A1. Автор: 김석,안재형,강순봉. Владелец: 에스엔유프리시젼 주식회사. Дата публикации: 2013-04-04.

System designed to detect electrons in scanning electron microscope

Номер патента: PL363131A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-05-02.

Scanning electron microscope and inspection method using same

Номер патента: US20120286158A1. Автор: Yasunari Sohda,Takeyoshi Ohashi,Keiichiro Hitomi,Kaori Shirahata. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-11-15.

INTERFACE, A METHOD FOR OBSERVING AN OBJECT WITHIN A NON-VACUUM ENVIRONMENT AND A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140361166A1. Автор: Shachal Dov. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB2374723B. Автор: Michael Frank Dean,Giles Adam Edward Martin. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2005-04-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP0474223A2. Автор: Mitsugu Sato. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1992-03-11.

Sample protection device for scanning electron microscopy

Номер патента: US12040156B2. Автор: Xuan TANG,Jingwei SHEN. Владелец: Shanghai Nemor Optoelectronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Sample closure device for scanning electron microscopy

Номер патента: EP3940743A1. Автор: Xuan TANG,Jingwei SHEN. Владелец: Shanghai Nemor Optoelectronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-01-19.

Sample protection device for scanning electron microscopy

Номер патента: US20220216031A1. Автор: Xuan TANG,Jingwei SHEN. Владелец: Shanghai Nemor Optoelectronic Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-07-07.

Specimen holder for an electron microscope and device and method for mounting a specimen in an electron microscope

Номер патента: WO1996020495A3. Автор: Hendrik Willem Zandbergen,Van Voorst Andre Latenstein,Cornelis Westra,Gerardus Hendrikus Hoveling. Владелец: Stichting Tech Wetenschap. Дата публикации: 1996-09-06.

Electron microscope

Номер патента: EP1585165A3. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-03-12.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2023147406A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,Franklin Stampley WALDEN II,David P. Nackashi,Mark Uebel,John DAMIANO JR.,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L MARTHE JR.. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2023-08-03.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2023147406A3. Автор: Daniel Stephen GARDINER,Franklin Stampley WALDEN II,David P. Nackashi,Mark Uebel,John DAMIANO JR.,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L MARTHE JR.. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2023-11-16.

Electron Microscope

Номер патента: US20180301315A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Magnetization device for an electron microscope and method

Номер патента: EP4388573A1. Автор: Helmut Soltner,Michael Schaaf,Amir Hossein Tavabi,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Maximilian KRUTH. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-06-26.

Magnetization device for an electron microscope and method

Номер патента: US20240258064A1. Автор: Helmut Soltner,Michael Schaaf,Amir Hossein Tavabi,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Maximilian KRUTH. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Microreactor for a transmission electron microscope and heating element and method of manufacture thereof

Номер патента: US09548184B2. Автор: Jan Fredrik Creemer,Hendrik Willem Zandbergen,Pasqualina Maria Sarro. Владелец: Stichting voor de Technische Wetenschappen STW. Дата публикации: 2017-01-17.

An electron microscope magnification standard providing precise calibration in the magnification range 5000x-2000,000x

Номер патента: US20050045819A1. Автор: Devendra Sadana,Stephen Bedell,Anthony Domenicucci,John Bruley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-03.

Method of measuring aberration and electron microscope

Номер патента: US11764029B2. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Pre-Cryogenic Electron Microscope Specimen Holder

Номер патента: US20090283696A1. Автор: Chih-Yuan Tang. Владелец: E HONG INSTRUMENTS Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-19.

Method of measuring aberration and electron microscope

Номер патента: EP4030462A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-07-20.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US09666409B2. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US20170025245A1. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-01-26.

Electron Microscope And Electron Beam Inspection System

Номер патента: US20080265161A1. Автор: Masaki Hasegawa,Hideo Todokoro,Hisaya Murakoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Phase plate, method of fabricating same, and electron microscope

Номер патента: US09786467B2. Автор: Hirofumi Iijima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Method of controlling transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: EP3716309A2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-30.

Method of Controlling Transmission Electron Microscope and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200312612A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Method of controlling transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: EP3716309A3. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-16.

Microreactor for a transmission electron microscope and heating element and method for the manufacture thereof

Номер патента: WO2006031104A9. Автор: Jan Fredrik Creemer,Hendrik Willem Zandbergen,Pasqualina Maria Sarro. Владелец: Pasqualina Maria Sarro. Дата публикации: 2006-10-19.

Electron microscope

Номер патента: US10276342B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-04-30.

Cryogenic temperature control and tension/compression attachment stage for an electron microscope

Номер патента: US5355683A. Автор: Dale E. Taylor. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1994-10-18.

Examination container and electron microscope

Номер патента: US20190080881A1. Автор: Tsu-Wei Huang,Shih-Yi LIU,Jia-Ling Wu,Maochan Chang. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Systems and methods for transferring a sample into and out of a vacuum chamber of a transmission electron microscope

Номер патента: EP4345862A1. Автор: Maarten Bischoff,Ondrej Ludmil Shánel. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-03.

Sample holder for transmission electron microscope, sample analysis system including the same, and method for analyzing sample using the same

Номер патента: US20240153734A1. Автор: Donghoon Kwon,Yeoseon CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-09.

Electron microscope

Номер патента: US20040031921A1. Автор: Mitsuhide Matsushita,Yukihito Kondo,Mitsuaki Ohsaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2004-02-19.

Electron microscope and method of controlling same

Номер патента: US10607803B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-03-31.

Method and electron microscope for measuring the similarity of two-dimensional images

Номер патента: US20090268969A1. Автор: Andreas Thust,Juri Barthel. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2009-10-29.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: EP2601669A2. Автор: Stephen E. Mick,David P. Nackashi,Jr. John Damiano. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2013-06-12.

Electron Microscope and Method of Controlling Same

Номер патента: US20190139734A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Method and electron microscope for measuring the similarity of two-dimensional images

Номер патента: US8351710B2. Автор: Andreas Thust,Juri Barthel. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2013-01-08.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US20170278670A1. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Scanning Electron Microscope and Three-Dimensional Shape Measuring Device That Used It

Номер патента: US20080283747A1. Автор: Yoshinobu Hoshino,Shigeru Kawamata,Asako Kaneko. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Scanning Electron Microscope System, Pattern Measurement Method Using Same, and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20160379798A1. Автор: Yamamoto Takuma,Yamada Shinya,Tanaka Maki,Shishido Chie. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-29.

Scanning electron beam device

Номер патента: US5422486A. Автор: Jürgen Frosien,Stefan Lanio,Steffen Beck,Karl H. Herrmann,Hans P. Feuerbaum,Andreas Benez,Gerold Schonecker. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 1995-06-06.

Electron microscope

Номер патента: US09773639B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090032710A1. Автор: Yasuhiko Ozawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-02-05.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP0594084B1. Автор: Tadashi Otaka,Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-05-21.

Control method of scanning electron microscope lens system

Номер патента: DE19703048A1. Автор: Kazuhiro Honda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1997-07-31.

Transmission electron microscope

Номер патента: US20060255273A1. Автор: Hiroto Kasai,Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-11-16.

Transmission electron microscope

Номер патента: US7319225B2. Автор: Hiroto Kasai,Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-01-15.

Electron microscope

Номер патента: US8841615B2. Автор: Tsutomu Nakanishi,Hidefumi Asano,Nobuo Tanaka,Yoshikazu Takeda,Toru Ujihara,Makoto Kuwahara,Koh Saitoh. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2014-09-23.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: EP1314178A1. Автор: Gerasimos Daniel Danilatos. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-28.

Quantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: US4559450A. Автор: Vivian N. E. Robinson,Nicholas G. Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1985-12-17.

Measuring and controlling aberrations in electron microscopes

Номер патента: WO2018211369A1. Автор: Rudolf Maria Tromp. Владелец: Ibm (China) Investment Company Limited. Дата публикации: 2018-11-22.

Measuring and controlling aberrations in electron microscopes

Номер патента: GB2576661A. Автор: Maria Tromp Rudolf. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

High voltage feedthrough assembly, time-resolved transmission electron microscope and method of electrode manipulation in a vacuum environment

Номер патента: EP3186818A2. Автор: Julian Hirscht. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2017-07-05.

High temperature specimen stage and detector for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: EP1003200B1. Автор: Ralph W. Knowles,Thomas A. Hardt. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2004-06-02.

Scanning electron microscope device, evaluation point generating method, and program

Номер патента: US20120104251A1. Автор: Takahiro Kawasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-03.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB9202562D0. Автор: . Владелец: Jeol Technics Co Ltd. Дата публикации: 1992-03-25.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090057555A1. Автор: Kuo-Hsing Teng,Yang-Kuao Kuo. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Tilt-imaging scanning electron microscope

Номер патента: WO2014085406A1. Автор: Ichiro Honjo,Christopher Sears,Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A3. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-02-01.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-10-05.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: US12106933B2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20110139981A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US8487251B2. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-16.

Compact inspection apparatus comprising a scanning electron microscope and an optical microscope

Номер патента: WO2016036250A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Wilhelmus Johannes Adriaan DE PINTH,Gijsbert DE SWART. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-03-10.

Compact inspection apparatus comprising a combination of a Scanning Electron Microscope and an Optical microscope.

Номер патента: NL2013432B1. Автор: Andries Pieter Johan Effting Ir,Johannes Adriaan De Pinth Wilhelmus,De Swart Gijsbert. Владелец: Delmic B V. Дата публикации: 2016-09-28.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20040011959A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2004-01-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5376792A. Автор: Frederick H. Schamber,Raymond E. Turocy. Владелец: RJ Lee Group Inc. Дата публикации: 1994-12-27.

Multi-column scanning electron microscopy system

Номер патента: WO2018226770A1. Автор: Christopher Sears,Robert Haynes,Mehran Nasser-Ghodsi,Tomas Plettner,John Gerling,Aron Welk,Felipe Fuks. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-12-13.

Multi-Column Scanning Electron Microscopy System

Номер патента: US20180358200A1. Автор: Christopher Sears,Robert Haynes,Mehran Nasser-Ghodsi,Tomas Plettner,John Gerling,Aron Welk,Felipe Fuks. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-12-13.

Electron Microscope

Номер патента: US20240242923A1. Автор: Michiko Suzuki,Yudai KUBO. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Sample supporting member for observing scanning electron microscopic image and method for observing scanning electron microscopic image

Номер патента: US09589765B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-03-07.

SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION SYSTEM, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION METHOD

Номер патента: US20160056012A1. Автор: Ogura Toshihiko. Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2016-02-25.

Microtome, scanning electron microscope and method for preparing thin slices from a sample and method for analysing thin slices produced from a sample in a scanning electron microscope and use of a magnetic tape for the purpose of depositing and transporting of thin slices of samples in the field of scanning electron microscopy

Номер патента: EP3529583A1. Автор: Heinrich Horstmann. Владелец: UNIVERSITAET HEIDELBERG. Дата публикации: 2019-08-28.

SAMPLE SUPPORTING MEMBER FOR OBSERVING SCANNING ELECTRON MICROSCOPIC IMAGE AND METHOD FOR OBSERVING SCANNING ELECTRON MICROSCOPIC IMAGE

Номер патента: US20140346352A1. Автор: Ogura Toshihiko. Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2014-11-27.

Charged particle apparatus, scanning electron microscope, and sample inspection method

Номер патента: US20120004879A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Noritsugu Takahashi,Tomoyasu Shojo,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-01-05.

Observation method employing scanning electron microscope, and sample holder for same

Номер патента: EP4167266A4. Автор: Seiji Yamaguchi,Hiroaki Takadama,Seine Shintani. Владелец: CHUBU UNIVERSITY EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2024-07-10.

Method of measuring the performance of a scanning electron microscope

Номер патента: TW571335B. Автор: Peter Dirksen,Rene Johan Gerrit Elfrink,Casparus Anthonius Juffermans. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2004-01-11.

Observation method employing scanning electron microscope, and sample holder for same

Номер патента: EP4167266A1. Автор: Seiji Yamaguchi,Hiroaki Takadama,Seine Shintani. Владелец: CHUBU UNIVERSITY EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2023-04-19.

SCANNING-ELECTRON-MICROSCOPE IMAGE PROCESSING DEVICE AND SCANNING METHOD

Номер патента: US20150002651A1. Автор: KAWANO Hajime,SHIMIZU Kumiko. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

Determining surface inclination at electron beam incident point with scanning electron microscope involves deriving angle from measured emissions using calibrated relationship

Номер патента: DE19951147A1. Автор: Stephen W Into. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2000-05-11.

Methods, systems and computer program products for measuring critical dimensions of fine patterns using scanning electron microscope pictures and secondary electron signal profiles

Номер патента: US7923684B2. Автор: Sung-Joong Kim,Kwang-Sik Kim,Min-Sub Kang,Kyung-Ho Jung,Sang-Kil Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-04-12.

System and method for compressive scanning electron microscopy

Номер патента: EP3061118A1. Автор: Bryan W. Reed. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2016-08-31.

System and method for compressive scanning electron microscopy

Номер патента: CA2921307C. Автор: Bryan W. Reed. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2020-08-25.

AUTOFOCUS METHOD FOR A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20210027979A1. Автор: KUBOTA Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20170162363A1. Автор: Kim Jin Kwan,KIM Jung Soo,YANG Yu Sin,JUN CHUNG SAM,Kim Min Kook. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-08.

Interface, a method for observing an object within a non-vacuum environment and a scanning electron microscope

Номер патента: US20150235806A1. Автор: Dov Shachal. Владелец: Dov Shachal. Дата публикации: 2015-08-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP5663591B2. Автор: 康成 早田,宗行 福田,早田　康成,弘将 山梨,福田　宗行,健良 大橋,修 小室. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR101455944B1. Автор: 야스나리 소다,히로마사 야마나시,무네유끼 후꾸다,다께요시 오아시,오사무 고무로. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈. Дата публикации: 2014-10-28.

Method and scanning electron microscope for measuring dimension of material on sample

Номер патента: US6791084B2. Автор: Shunichi Watanabe,Tadashi Otaka,Hideo Todokoro,Terumichi Nishino,Goroku Shimoma,Tadanori Takahashi,Masanori Gunji,Mitsugu Sato,Masahiro Kawawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-09-14.

Sample dimension measuring method and scanning electron microscope

Номер патента: JP3823117B2. Автор: 正 大高,洋揮 川田,孝 飯泉. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2006-09-20.

Vacuum holding valve and scanning electron microscope using the same

Номер патента: JP5567088B2. Автор: サム イ ヘン,キム ソク,ピョ イ ウィ. Владелец: エス エヌ ユー プレシジョン カンパニー リミテッド. Дата публикации: 2014-08-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7217925B2. Автор: Yoshinori Nakada,Shunsuke Koshihara,Ryuichirou Tamochi,Yayoi Hosoya,Hidetoshi Morokuma. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 2007-05-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20010022346A1. Автор: Masumi Katagami,Miyuki Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2001-09-20.

Automation of beam control in scanning electron microscope systems

Номер патента: EP1037253A3. Автор: LI Xu,Richard Barnard. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2001-08-01.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPWO2012042738A1. Автор: 康成 早田,宗行 福田,早田　康成,弘将 山梨,福田　宗行,健良 大橋,修 小室. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-02-03.

Sample-stage for scanning electron microscope

Номер патента: US6777678B1. Автор: William E. Vanderlinde. Владелец: National Security Agency. Дата публикации: 2004-08-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP4163654B2. Автор: 一雄 青木,宏平 山口,清志 磯貝,雅史 坂本. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-10-08.

Apparatus and method for image optimization of samples in a scanning electron microscope

Номер патента: US20050098724A1. Автор: Neal Sullivan. Владелец: Soluris Inc. Дата публикации: 2005-05-12.

An interface, a method for observing an object within a non-vacuum environment and a scanning electron microscope

Номер патента: EP2080014B1. Автор: Dov Shachal. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-08-31.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: EP4131326A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: US20240212971A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Magnetic lens apparatus for use in high-resolution scanning electron microscopes and lithographic processes

Номер патента: US6410923B1. Автор: Albert V. Crewe. Владелец: Arch Development Corp. Дата публикации: 2002-06-25.

Electron microscope, aberration correction method, and imaging method

Номер патента: EP4415021A1. Автор: Motofumi Saitoh,Ryusuke Sagawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Electron Microscope, Aberration Correction Method, And Imaging Method

Номер патента: US20240274402A1. Автор: Motofumi Saitoh,Ryusuke Sagawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Transmission electron microscope

Номер патента: US09595416B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Electron microscope and method of adjusting same

Номер патента: US09589761B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Electron beam irradiation method and scanning electron microscope

Номер патента: US09640366B2. Автор: Minoru Yamazaki,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Kazutami Tago. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP2179437A1. Автор: Peter Rosenthal,John Berriman. Владелец: Medical Research Council. Дата публикации: 2010-04-28.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP2179437B1. Автор: Peter Rosenthal,John Berriman. Владелец: Medical Research Council. Дата публикации: 2012-05-16.

Modular ultra-high vacuum electron microscope

Номер патента: US20230101644A1. Автор: Rudolf Geurink,Hugo Cornelis VAN LEEUWEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-03-30.

Method and apparatus for measuring displacement between patterns and scanning electron microscope installing unit for measuring displacement between patterns

Номер патента: US20130264479A1. Автор: Atsuko Yamaguchi,Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Yasunari Sohda,Osamu Nasu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-10.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: EP4111484A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin. Дата публикации: 2023-01-04.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: US20230154724A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin. Дата публикации: 2023-05-18.

Electron microscope for examining a specimen

Номер патента: WO2023110862A1. Автор: Moritz Becker,Eugen Foca. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: EP3488459A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2019-05-29.

Electron Microscope and Method of Adjusting Same

Номер патента: US20160071683A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-03-10.

Aberration Correcting Device for an Electron Microscope and an Electron Microscope Comprising Such a Device

Номер патента: US20190228946A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: WO2018016961A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2018-01-25.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: WO2021170762A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: The Provost, Fellows, Scholars and other Members of Board of Trinity College Dublin. Дата публикации: 2021-09-02.

ENERGY DISCRIMINATING ELECTRON DETECTOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME

Номер патента: US20170301512A1. Автор: Sekiguchi Takashi,Iwai Hideo. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2017-10-19.

Electron beam irradiation method and scanning electron microscope

Номер патента: JP5188529B2. Автор: 実 山崎,俊之 横須賀,秀之 数見,一農 田子. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Method and apparatus for monitoring electron beam state of scanning electron microscope

Номер патента: CN103794451A. Автор: 黄怡,蔡博修. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

Method and apparatus for measuring displacement between patterns and scanning electron microscope installing unit for measuring displacement between patterns

Номер патента: US20130264479A1. Автор: Atsuko Yamaguchi,Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Yasunari Sohda,Osamu Nasu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-10.

Charged particle beam device and scanning electron microscope

Номер патента: US10438770B2. Автор: Kazuya Kumamoto,Sadayoshi Matsuda. Владелец: Matsusada Precision Inc. Дата публикации: 2019-10-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP4302316B2. Автор: 秀男 戸所,真 江角,洋一 小瀬,理 山田,友啓 工藤,尚 高見. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2009-07-22.

scanning Electron Microscope

Номер патента: DE69623841T2. Автор: Tadashi Otaka,Tatsuya Maeda,Katsuhiro Sasada,Atsushi Kobaru. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-05-22.

Charged particle line apparatus and scanning electron microscope

Номер патента: CN109585245A. Автор: 熊本和哉,松田定好. Владелец: Song - Ding Precision Co Ltd. Дата публикации: 2019-04-05.

scanning Electron Microscope

Номер патента: DE69807151D1. Автор: Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-09-19.

Scanning electron microscope

Номер патента: US6667476B2. Автор: Osamu Yamada,Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Tomohiro Kudo,Makoto Ezumi,Shou Takami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-12-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20020185599A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20230109853A1. Автор: Daisuke Kubota,Naoya Saitoh. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5646403A. Автор: Hiroshi Hirose,Kazuhiko Fukazawa,Futoshi Mori,Yoshiaki Kohama. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1997-07-08.

Optical spectroscope for scanning electron microscope

Номер патента: GB2079486A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-01-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120061566A1. Автор: Takeshi Mizuno,Akira Ikegami,Minoru Yamazaki,Manabu Yano,Hideyuki Kazumi,Kazunari Asao,Yuki Ojima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-15.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20210272770A1. Автор: Kenji Tanimoto,Yasunari Sohda,Yusuke Abe,Kaori BIZEN. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Electron Microscope

Номер патента: US20230238212A1. Автор: Hiroyasu Shichi,Naomasa Suzuki,Nobuhiro Okai,Masanobu IEDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Sensor module for scanning electron microscopy applications

Номер патента: US20210066035A1. Автор: Marcel Trimpl. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Sensor module for scanning electron microscopy applications

Номер патента: WO2021041356A1. Автор: Marcel Trimpl. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-03-04.

Sensor module for scanning electron microscopy applications

Номер патента: US20230230800A1. Автор: Marcel Trimpl. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Multi-beam electron microscope for electron channeling contrast imaging of semiconductor material

Номер патента: US09741532B1. Автор: Devendra K. Sadana,Stephen W. Bedell,John A. Ott,Brent A. Wacaser,Kunal Mukherjee. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Electron microscope

Номер патента: US20230028903A1. Автор: Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Electron microscope

Номер патента: US09754763B2. Автор: Toshiyuki Oyagi,Takafumi Yotsuji. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Analysis method using electron microscope, and electron microscope

Номер патента: US09748073B2. Автор: Takashi Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Electron microscope, a camera for such an electron microscope, and a method of operating such an electron microscope

Номер патента: US5457317A. Автор: Teiji Katsuta,Isao Matsui,Katsuhisa Yonehara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1995-10-10.

Electron microscope and beam irradiation method

Номер патента: US20200411278A1. Автор: Takamitsu Nagai. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2020-12-31.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: EP4057320A1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-09-14.

Electron microscope

Номер патента: US20240128049A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Junichi Katane,Michio Hatano,Katsura Takaguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: US20230040811A1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2023-02-09.

Analysis method using electron microscope, and electron microscope

Номер патента: US20160365220A1. Автор: Takashi Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-15.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US8022356B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-09-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20100133426A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-03.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20080067337A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US7605364B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-20.

System and method for electromagnetic interference shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US8952330B2. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-02-10.

Scanning electron microscope apparatus and operation method thereof

Номер патента: US20210066034A1. Автор: Taeyong Lee,Sangkyo Lim,Yongmin CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

System and method for electromagnetic interferece shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US20130001419A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-03.

System And Method For Electromagnetic Interference Shielding For Critical Dimension-Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140124667A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: US10796879B2. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-10-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20190103245A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks,Wilhelmus Henrica Cornelis; THEUWS. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2019-04-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2017150977A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom-World Holding B.V.. Дата публикации: 2017-09-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3424069A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2019-01-09.

Scanning Electron Microscope Having Time Constant Measurement Capability

Номер патента: US20100258723A1. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-14.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US8274048B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-25.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US7763852B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-27.

Scanning electron microscope operating in area scan and angle scan modes

Номер патента: US3801784A. Автор: D Wittry. Владелец: Research Corp. Дата публикации: 1974-04-02.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3731257A2. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-10-28.

Scanning electron microscopes

Номер патента: GB1436278A. Автор: . Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1976-05-19.

Scanning electron microscope/energy dispersive spectroscopy sample preparation method and sample produced thereby

Номер патента: US6362475B1. Автор: Catherine Vartuli,Jeffrey B. Bindell,Frederick A. Stevie. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2002-03-26.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20170018394A1. Автор: Takahashi Noritsugu,Sohda Yasunari,Ohashi Takeyoshi,KAWANO Hajime,Miwa Takafumi. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-19.

Method for automatic focusing and astigmatism correction for an electron microscope

Номер патента: EP4441770A1. Автор: Philipp Schubert,Jörgen KORNFELD. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2024-10-09.

Electron microscope equipped with automatic beam alignment

Номер патента: US20200161086A1. Автор: Jung Bum CHUN. Владелец: EMCRAFTS Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: US20100252734A1. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-07.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: WO2009054605A4. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Byung-Chul Jeon. Дата публикации: 2009-06-11.

Method for automatic focusing and astigmatism correction for an electron microscope

Номер патента: WO2023099584A1. Автор: Philipp Schubert,Jörgen KORNFELD. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.. Дата публикации: 2023-06-08.

Electron microscope with plural X-ray detectors for acquiring elemental spectrum

Номер патента: US10002741B2. Автор: Fu-Rong Chen,Tsu-Wei Huang,Chin-Liang Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-06-19.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: WO2019027737A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2019-02-07.

Electron microscope and aberration measurement method

Номер патента: EP4254467A1. Автор: Takeshi Kaneko,Hidetaka Sawada,Shigeyuki Morishita,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Electron Microscope and Aberration Measurement Method

Номер патента: US20230349839A1. Автор: Takeshi Kaneko,Hidetaka Sawada,Shigeyuki Morishita,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Secondary electron detector, especially in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1537595B1. Автор: Filip Lopour,Martin Zadrazil,Marcus Jacka. Владелец: Tescan sro. Дата публикации: 2012-04-11.

Secondary electron detector, especially in a scanning electron microscope

Номер патента: AU2003303138A1. Автор: Filip Lopour,Martin Zadrazil,Marcus Jacka. Владелец: Tescan sro. Дата публикации: 2004-07-22.

ACTIVATION CHAMBER AND KIT USED IN TREATMENT DEVICE FOR LOWERING ELECTRON AFFINITY, TREATMENT DEVICE THAT CONTAINS SAID KIT AND IS USED TO LOWER ELECTRONIC AFFINITY, PHOTOCATHODE ELECTRON-BEAM SOURCE, ELECTRON GUN CONTAINING PHOTOCATHODE ELECTRON-BEAM SOURCE, FREE-ELECTRON LASER ACCELERATOR, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON-BEAM HOLOGRAPHY MICROSCOPE, ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, ELECTRON-BEAM DIFFRACTION DEVICE, AND ELECTRON-BEAM SCANNING DEVICE

Номер патента: US20160172144A1. Автор: Nishitani Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

Activation chamber and kit used in treatment device for lowering electron affinity, treatment device that contains said kit and is used to lower electronic affinity, photocathode electron-beam source, electron gun containing photocathode electron-beam source, free-electron laser accelerator, transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron-beam holography microscope, electron-beam lithography device, electron-beam diffraction device, and electron-beam scanning device

Номер патента: EP3024012B1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2018-02-14.

Auantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: AU558630B2. Автор: Vivian Noel Edward Robinson,Nicholas George Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1987-02-05.

Auantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: AU1741083A. Автор: Vivian Noel Edward Robinson,Nicholas George Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1984-02-09.

Electron microscope

Номер патента: US09543115B2. Автор: Gerd Benner,Marko Matijevic. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2017-01-10.

Electron microscope

Номер патента: US20140103208A1. Автор: Hiroyuki Noda,Mitsuru Onuma,Isao Nagaoki,Shuichi Mamishin. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-17.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: US20030168595A1. Автор: Gerasimos Danilatos. Владелец: DANILATOS Gerasimos Daniel. Дата публикации: 2003-09-11.

Electron microscope and method of controlling same

Номер патента: EP4012743A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-06-15.

Automatic control system for varying a d.c. high voltage for accelerating tube of electron microscope and the like

Номер патента: US3691377A. Автор: Shinjiro Katagiri,Teruo Nakahara,Isao Matsui,Yoshihisa Minamikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1972-09-12.

System and method for eliminating electromagnetic interference in vacuum cavity of scanning electron microscope

Номер патента: NL2030394B1. Автор: Tang Liang,Zhang Yuefei,Zhang Ze,Wang Yongfeng,Zhang Yixu,Liu Ling'en,Chen Jutian. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-11-30.

Electron-beam tube including a thermionic-field emission cathode for a scanning electron microscope

Номер патента: US3809899A. Автор: T Baker,M Balsiger,K Considine,H Litsjo. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1974-05-07.

Method and apparatus for low-energy scanning electron beam lithography

Номер патента: CA1243782A. Автор: Oliver C. Wells. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

Electron emitting element and electron microscope

Номер патента: EP3968352A1. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2022-03-16.

Electron emission device and electron microscope

Номер патента: US12051557B2. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2024-07-30.

Reinforced sample for transmission electron microscope

Номер патента: US09837246B1. Автор: Tomás Vystavel,Remco Theodorus Johannes Petrus Geurts. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-12-05.

Electron microscope

Номер патента: US20130313431A1. Автор: Hideki Tanaka,Tsuyoshi Wakuda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Method and system for aligning images of sample layers obtained using a scanning electron microscope with a focused ion beam

Номер патента: RU2743231C1. Автор: Илья Владимирович Сафонов,Иван Викторович Якимчук,Ирина Анатольевна Реймерс. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2021-02-16.

Method of quantitative three-dimensional reconstruction of a sample surface in a scanning- electron microscope

Номер патента: RU2657000C1. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2018-06-08.

Method for imaging with a scanning electron microscope and scanning electron microscope for carrying out the method

Номер патента: US20240290574A1. Автор: Daniel Fischer,Bernd Schindler,Andreas Schmaunz. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20200402760A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-12-24.

Spin-polarized scanning electron microscope

Номер патента: US20240249911A1. Автор: Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Makoto Kuwahara,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

3d imaging system of scanning electron microscope

Номер патента: LU501201B1. Автор: Liang Tang. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-07-05.

Method and systems for balancing charges on a surface of an object comprising integrated circuit patterns in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024184078A2. Автор: Thomas Korb. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Scanning Electron Microscope Objective Lens Calibration

Номер патента: US20190004298A1. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: EP3635468A1. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Scanning electron microscope and similar apparatus

Номер патента: US20090294665A1. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-12-03.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20040113074A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Toshiro Kubo,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Noriaki Arai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-06-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20030122074A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Toshiro Kubo,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Noriaki Arai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-07-03.

Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization

Номер патента: US11170972B2. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-11-09.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120211654A1. Автор: Toru Iwaya,Haruhiko Hatano,Tomohisa Ohtaki,Sakae Kobori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization

Номер патента: US20200402762A1. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Scanning-electron-microscope image processing device and scanning method

Номер патента: US09978558B2. Автор: Hajime Kawano,Kumiko Shimizu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Processing apparatus and method using a scanning electron microscope

Номер патента: US20150041643A1. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Ryo Kadoi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-12.

Scanning electron microscope and calculation method for three-dimensional structure depth

Номер патента: US20200234916A1. Автор: Makoto Suzuki,Kenji Yasui,Toshiyuki Yokosuka,Yusuke Abe,Daisuke Bizen,Mayuka Osaki,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Scanning electron microscope and sample observation method using scanning electron microscope

Номер патента: US20190348255A1. Автор: Makoto Sakakibara,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Daisuke Bizen. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Inspection system using scanning electron microscope

Номер патента: US8890067B2. Автор: Young-Gil Park,Won-Bong Baek,Ki-Won Oh. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-18.

Method of characterizing a fault in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024028468A3. Автор: Daniel Schwarz,Marion Batz,Gunther Scheunert,Katharina Gries,Daniel Alexander Emmrich,Julian Braun,David Laemmle. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-03-14.

Method of characterizing a fault in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024028468A2. Автор: Daniel Schwarz,Marion Batz,Gunther Scheunert,Katharina Gries,Daniel Alexander Emmrich,Julian Braun,David Laemmle. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-02-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: US11756763B2. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Apparatus for automatically controlling the magnification factor of a scanning electron microscope

Номер патента: CA1282191C. Автор: Glen A. Herriot. Владелец: Vickers Instruments (Canada) Inc. Дата публикации: 1991-03-26.

Reference sample with inclined support base, method for evaluating scanning electron microscope, and method for evaluating sic substrate

Номер патента: US20200279716A1. Автор: Tadaaki Kaneko,Koji Ashida. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-09-03.

Scanning electron microscope

Номер патента: TWI349948B. Автор: Yang Kuao Kuo,Kuo Hsing Teng. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-01.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: US20240272099A1. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-15.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: WO2023072919A3. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: EP4423791A2. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-04.

User interface for an electron microscope

Номер патента: EP2024732A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

User interface for an electron microscope

Номер патента: WO2007143734A3. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Leeuwen Hugo Van,Koen Arnoldus Wilhelm Driessen,Johannes Antonius Hend Persoon. Владелец: Johannes Antonius Hend Persoon. Дата публикации: 2008-05-22.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Johannes A.H.W.G. Persoon,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

User interface for an electron microscope

Номер патента: WO2007143734A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus Gerardus Persoon,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2007-12-13.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: WO2007143737A3. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Leeuwen Hugo Van,Koen Arnoldus Wilhelm Driessen,Johannes Antonius Hend Persoon. Владелец: Johannes Antonius Hend Persoon. Дата публикации: 2008-04-10.

User interface for an electron microscope

Номер патента: US09865427B2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Martinus Petrus Maria Bierhoff,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W. G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-01-09.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908657B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20140246584A1. Автор: Won-Guk SEO,Chang-Hoon Choi,Byeong-Hwan Jeon,Jeong-Woo HYUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-04.

Scanning electron microscope with conversion means to produce a diffraction pattern

Номер патента: US3795809A. Автор: S Takashima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1974-03-05.

Cross sectional depth composition generation utilizing scanning electron microscopy

Номер патента: US09928991B2. Автор: Sarah K. Czaplewski,Eric J. Campbell. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Cross sectional depth composition generation utilizing scanning electron microscopy

Номер патента: US09928990B2. Автор: Sarah K. Czaplewski,Eric J. Campbell. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Cross sectional depth composition generation utilizing scanning electron microscopy

Номер патента: US09625398B1. Автор: Sarah K. Czaplewski,Eric J. Campbell. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Scanning electron microscope scanning system

Номер патента: US3711711A. Автор: J Dao,N Yew. Владелец: ETEC CORP. Дата публикации: 1973-01-16.

Scanning electron microscope and similar apparatus

Номер патента: US20050279937A1. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20080191135A1. Автор: Shuichi Takeuchi,Atsushi Muto,Yasuko Aoki,Tetsuya Sawahata,Mine Araki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W.G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

Scanning Transmission Electron Microscope With An Objective Electromagnetic Lens And A Method Of Use Thereof

Номер патента: US20180269030A1. Автор: Petras Stanislav,Lencova Bohumila,Benner Gerd Ludwig. Владелец: Tescan Tempe LLC. Дата публикации: 2018-09-20.

Portable high resolution scanning electron microscope column using permanent magnet electron lenses

Номер патента: US6320194B1. Автор: Jacob Chee Hong Phang,John Thiam Leong Thong,Anjam Khursheed. Владелец: Institute Of Materials Research And Engineering. Дата публикации: 2001-11-20.

ELECTRON BEAM APPARATUS, AND X-RAY GENERATION APPARATUS AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EACH INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180366294A1. Автор: MIYAOKA Akihiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-12-20.

T shaped electron-beam microcolumn as general purpose scanning electron microscope

Номер патента: IL132660A0. Автор: . Владелец: Etec Systems Inc. Дата публикации: 2001-03-19.

Scanning electron microscope image anchoring to design for array

Номер патента: WO2022040109A1. Автор: Santosh Bhattacharyya,Steve ESBENSHADE. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2022-02-24.

Stereo-scanning electron microscope

Номер патента: US3585382A. Автор: Tadao Suganuma. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1971-06-15.

Systems and methods for hybrid enhancement of scanning electron microscope images

Номер патента: US20230260085A1. Автор: Umesh Adiga. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-17.

Vacuumed device and a scanning electron microscope

Номер патента: US8492716B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B Nano Ltd. Дата публикации: 2013-07-23.

A vacuumed device and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010035265A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO LTD.. Дата публикации: 2010-04-01.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AN INTERFACE AND A METHOD FOR OBSERVING AN OBJECT WITHIN A NON-VACUUM ENVIRONMENT

Номер патента: US20150243475A1. Автор: Shachal Dov,DE PICCIOTTO Rafi. Владелец: B-NANO LTD.. Дата публикации: 2015-08-27.

MULTI-BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20200373115A1. Автор: Henstra Alexander,Mohammadi-Gheidari Ali. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2020-11-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: US6444981B1. Автор: Hideo Todokoro,Makoto Ezumi,Sho Takami. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-09-03.

Scanning electron microscope objective lens system and method for specimen observation

Номер патента: US20210110994A1. Автор: Wei He,Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Scanning electron-beam instrument

Номер патента: US3900734A. Автор: David Kynaston,Peter Irving Tillett,Richard Stephen Paden. Владелец: Cambridge Scientific Instruments Ltd. Дата публикации: 1975-08-19.

Scanning electron device

Номер патента: US4020343A. Автор: Kazuo Ishikawa,Takao Namae,Takashi Shimaya. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1977-04-26.

Scanning electron microscope fiber push-out apparatus and method

Номер патента: US5559329A. Автор: Brian E. Joseph,II Russell P. Stackpole,Everett H. Baker. Владелец: Touchstone Research Laboratory Ltd. Дата публикации: 1996-09-24.

Scanning electron microscope and method of processing the same

Номер патента: US5001344A. Автор: Makoto Kato,Shinobu Otsuka,Koichi Homma,Fuminobu Komura,Toshihiro Furuya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1991-03-19.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: WO2007143736A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus Gerardus Persoon,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2007-12-13.

Scanning electron beam device with focus adjustment based on acceleration voltage and dimension measurement method using same

Номер патента: US09644955B2. Автор: Hajime Kawano,Muneyuki Fukuda,Naomasa Suzuki,Yasunari Sohda,Tasuku Yano,Katsunori Onuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Small-dimension measurement system by scanning electron beam

Номер патента: US4600839A. Автор: Masahide Okumura,Satoru Fukuhara,Mikio Ichihashi,Hisaya Murakoshi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1986-07-15.

Detecting thickness variation and quantitative depth utilizing scanning electron microscopy with a surface profiler

Номер патента: US09372078B1. Автор: Sean P. Leary,Kurt C. Ruthe. Владелец: Western Digital Fremont LLC. Дата публикации: 2016-06-21.

Hybrid scanning electron microscopy and acousto-optic based metrology

Номер патента: US20230326713A1. Автор: Ido Almog,Ori Golani,Guy SHWARTZ,Itamar Shani. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Apparatus and method for correcting arrayed astigmatism in a multi-column scanning electron microscopy system

Номер патента: EP3510623A1. Автор: Alan Brodie. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-07-17.

Multi-column scanning electron microscopy system

Номер патента: US20210090844A1. Автор: Robert Haynes,Tomas Plettner,John Gerling,Mehran Nasser Ghodsi,Aron Welk. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-03-25.

Multi-column scanning electron microscopy system

Номер патента: WO2018144947A1. Автор: Robert Haynes,Mehran Nasser-Ghodsi,Tomas Plettner,John Gerling,Aron Welk. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-08-09.

Multi-Column Scanning Electron Microscopy System

Номер патента: US20180226219A1. Автор: Robert Haynes,Tomas Plettner,John Gerling,Mehran Nasser Ghodsi,Aron Welk. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-08-09.

Ultimate analyzer, scanning transmission electron microscope and ultimate analysis method

Номер патента: US20030085356A1. Автор: Hiroyuki Tanaka,Takashi Aoyama,Kazutoshi Kaji,Shigeto Isakozawa,Shunroku Taya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US09583299B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Electron microscope using artificial intelligence training data

Номер патента: US20220199360A1. Автор: Junhee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Portable electron microscope using micro-column

Номер патента: EP1794773A1. Автор: Ho Seob Kim,Byeng Jin Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-13.

Apparatus of measuring the orientation relationship between neighbouring grains using a gonimeter in a transmission electron microscope and method for revealing the characteristics of grain boundaries

Номер патента: EP2148190A3. Автор: In Soo Kim,Hyun Uk Hong,Baig Gyu Choi,Chang Yong Jo,Young Soo Yoo,Hi Won Jeong,Seong Moon Seo. Владелец: Korea Institute of Machinery and Materials KIMM. Дата публикации: 2011-02-23.

Electron microscope for examining a specimen

Номер патента: US20240302304A1. Автор: Moritz Becker,Eugen Foca. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Electron microscope

Номер патента: US09679738B2. Автор: Takeshi Sato,Hiroaki Matsumoto,Yoshifumi Taniguchi,Ken Harada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Method of Image Acquisition and Electron Microscope

Номер патента: US20180158646A1. Автор: Akiho Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Electron microscope for inspecting and processing of an object with miniaturized structures and method thereof

Номер патента: EP1903596A3. Автор: Johannes Bihr,Tobias Clauss,Michael Budach,Friedhelm Dr. Panteleit. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2011-01-05.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US9773634B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Electron Microscope and Control Method

Номер патента: US20180330917A1. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-11-15.

Bifocal electron microscope

Номер патента: US20240272100A1. Автор: Alexander Henstra,Yuchen Deng,Holger Kohr. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-15.

Electron microscope having a carrier

Номер патента: US09842722B2. Автор: Hsin-Hung Lee,Cheng-Yu Lee,Kun-Chih Tsai,Chun-Lin Chiang,Win-Ti Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-12-12.

Method of imaging defects using an electron microscope

Номер патента: WO2017103575A1. Автор: Atsufumi Hirohata. Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2017-06-22.

Image acquisition method and electron microscope

Номер патента: US11456151B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-09-27.

Image Acquisition Method and Electron Microscope

Номер патента: US20220020561A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Electron microscope

Номер патента: US20040144922A1. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi,Shuuichi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-07-29.

Five-dimensional electron microscope and analysis method therefor

Номер патента: EP4407652A1. Автор: Asuka Nakamura,Takahiro SHIMOJIMA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-07-31.

Electron microscope

Номер патента: US6833550B2. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi,Shuuichi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-21.

Weak signal detection system and electron microscope equipped with same

Номер патента: US09576769B2. Автор: Wen Li,Masami Makuuchi,Hisaaki Kanai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180045755A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: WO2018031602A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek, LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180328960A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-11-15.

Beam Alignment Method and Electron Microscope

Номер патента: US20170301507A1. Автор: Yuko Shimizu,Kazuya Yamazaki,Akira Yasuhara,Fumio Hosokawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

A method of automated data acquisition for a transmission electron microscope

Номер патента: EP4345447A1. Автор: Peter Tiemeijer,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-03.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20240186103A1. Автор: Hideki Kikuchi,Toshie Yaguchi,Akinari Hanawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Electron microscope and method of adjusting focus of electron microscope

Номер патента: US20210384006A1. Автор: Kenji Tanimoto,Hyejin Kim,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Method of automated data acquisition for a transmission electron microscope

Номер патента: US20240128050A1. Автор: Peter Tiemeijer,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-18.

Electron microscope

Номер патента: EP1263019A1. Автор: Eiko Nakazawa,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-04.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: EP3497453A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2019-06-19.

Electronic microscope observation system and observation method

Номер патента: US6822232B1. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-11-23.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: US20190043690A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2019-02-07.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising co-condensers for continuous image resolution tuning

Номер патента: US11295927B1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-05.

Electron microscope having a carrier

Номер патента: US20160172152A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Cheng-Yu Lee,Kun-Chih Tsai,Chun-Lin Chiang,Win-Ti Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-06-16.

Sample preparation system and method for electron microscope observation, and tape feeding mechanism used for sample preparation

Номер патента: US11990314B2. Автор: Shuichi Goto,Shinsuke Shibata,Hideyuki Okano,Tomoko Shindo. Владелец: Sanyu Electron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US11328898B2. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising co-condensers for continuous image resolution tuning

Номер патента: US20220108865A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Light guide assembly for an electron microscope

Номер патента: US20210082659A1. Автор: Marek Uncovský,Michal GERYK,Jan Lásko. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-03-18.

Electron microscope and calibration method

Номер патента: EP4283654A1. Автор: Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Sample chip for electron microscope and its related application

Номер патента: US20190272972A1. Автор: Po Tsung Hsieh,Chung Jen Chung,Shih Wen Tseng,Chiu Hua Huang,Tzu Hsin Chen,Ya Wen Tsai. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-09-05.

Light guide assembly for an electron microscope

Номер патента: US11335536B2. Автор: Marek Uncovský,Michal GERYK,Jan Lásko. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-05-17.

Electron microscope and image capturing method using electron beam

Номер патента: US20140097342A1. Автор: Yoshinobu Kimura,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-10.

Electron Microscope and Calibration Method

Номер патента: US20230386782A1. Автор: Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

주사 전자 현미경(Scannig Electron Microscope, 이하 SEM), SEM을 동작시키는 방법 및 이를 이용한 반도체 소자를 제조하는 방법

Номер патента: KR20230068893A. Автор: 김석,손영훈,안재형,김광은. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2023-05-18.

Electron microscope and image capturing method using electron beam

Номер патента: US8907279B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-12-09.

Method for automatically aligning a scanning transmission electron microscope for precession electron diffraction data mapping

Номер патента: US20190295810A1. Автор: Stanislav Petras,Bohumila Lencova,Jon Karl WEISS,Gerd Ludwig Benner. Владелец: Tescan Tempe LLC. Дата публикации: 2019-09-26.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US20220108867A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Aberration measurement method and electron microscope

Номер патента: US20190066968A1. Автор: Yuji Kohno,Akiho Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US09557253B2. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2017-01-31.

Inspection device using scanning electron microscope

Номер патента: US20040144928A1. Автор: Tadashi Hattori,Tetsuo Abe,Setsuo Norioka,Minoru Takeda,Seiichi Nakagawa,Hironori Fujita,Toshiaki Miyokawa,Naoki Date,Kouki Okawauchi,Yuichi Ak. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-29.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: WO2016013930A1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-01-28.

Scanning electron microscope with a chamber which can be broken down, particularly for observing pieces of relatively large dimensions

Номер патента: US4313056A. Автор: Walter Hotz,Cosimo Gabriele,Francesco Porro. Владелец: Costruzioni Aeronautiche Giovanni Augusta SpA. Дата публикации: 1982-01-26.

Stroboscopic scanning electron microscope

Номер патента: US4733075A. Автор: Masayuki Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1988-03-22.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140084158A1. Автор: Tatsuru Kuramoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-03-27.

A specimen-carrier accessory device for the stereoscopic analysis by scanning electron microscope

Номер патента: EP1111650A3. Автор: Piero Iulita. Владелец: Fiat Auto SpA. Дата публикации: 2001-07-04.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP3931853A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Jr. John Damiano,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20210235021A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-07-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20210112203A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11399138B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-07-26.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US12010430B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20240196094A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2021034569A3. Автор: Daniel Stephen GARDINER,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Jr. John Damiano,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2021-04-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20220408024A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11477388B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-10-18.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US10986279B1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-04-20.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP4414698A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Method and system for electron microscope with multiple cathodes

Номер патента: US09464998B2. Автор: Ahmed H. Zewail,John Spencer Baskin,Haihua Liu. Владелец: California Institute of Technology. Дата публикации: 2016-10-11.

Specimen box for electron microscope capable of observing general specimen and live cell

Номер патента: EP1796133A3. Автор: Chih-Yu Chao,Wen-Jiunn Hsien. Владелец: Lee Bing-Huan. Дата публикации: 2007-09-19.

Electron-microscopic image viewing system

Номер патента: US4866273A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Shoji Kamimura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-09-12.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: US20230207254A1. Автор: Alexander Henstra,Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-06-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20240267628A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L. Marthe, JR.. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Device for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US09818578B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Electron microscope and method for transmission electron microscopy imaging of sample arrays

Номер патента: EP3169986A1. Автор: Claude Dufresne,Holger Eickhoff. Владелец: Scienion GmbH. Дата публикации: 2017-05-24.

Pole piece incorporating optical cavity for improved phase-contrast in electron microscope imaging

Номер патента: EP4391007A1. Автор: Pleun Dona,Bart Buijsse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-26.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11514586B1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Nelson L Marthe, Jr.,Benjamin Bradshaw Larson. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-11-29.

Three-Dimensional Image Reconstruction Method, Image Processor, and Electron Microscope

Номер патента: US20170278669A1. Автор: Isamu Ishikawa,Yoshinori Fujiyoshi,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-28.

Work station including sample holder for cryogenic electron microscope for correlative imaging detection of light microscope and electron microscope, correlative imaging detection apparatus including same, and imaging detection method and imaging system using same

Номер патента: WO2016021745A1. Автор: 정현석,전상미. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2016-02-11.

Transmission electron microscope equipped with energy filter

Номер патента: US6586737B2. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2003-07-01.

Magnetic field generation device, and transmission electron microscope sample holder capable of applying magnetic field

Номер патента: EP4145487A1. Автор: Wei Li,Xin Sun,Tian Bai,Renjie Chen,Aru YAN,Weixing Xia,Jiazhuan QIN. Владелец: Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS. Дата публикации: 2023-03-08.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A8. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh,Tyrrell Chris. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

Transmission electron microscope high-resolution in-situ fluid freezing chip and preparation method therefor

Номер патента: GB2613733A. Автор: DENG JUNXIAN,Liao Honggang,Jiang Youhong. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-06-14.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US6768114B2. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2004-07-27.

Method for safe control of gas delivery to an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180203423A1. Автор: John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,James Rivenbark,Rebecca Thomas,Daniel S. Gardiner,Mark Uebel,Michael Zapata, III. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-07-19.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US20030193026A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Transmission electron microscope

Номер патента: US5350918A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Sadao Terakado,Morioki Kubozoe. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 1994-09-27.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2023-12-13.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: EP3594987A3. Автор: Mr Alexander Henstra,Mr Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Electron Microscope

Номер патента: US20190272971A1. Автор: Takeo Sasaki,Shigeyuki Morishita,Tomohiro NAKAMICHI. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-09-05.

Device and method for measuring correlation between fatigue performance and microstructure of one-dimensional (1d) nanomaterial in situ in transmission electron microscope (tem)

Номер патента: US20240035988A1. Автор: Lihua Wang,Xiaodong Han,Yan Ma. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-02-01.

Method for optimizing fluid flow across a sample within an electron microscope sample holder

Номер патента: US09997330B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Method for safe control of gas delivery to an electron microscope sample holder

Номер патента: US09915926B2. Автор: John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,James Rivenbark,Rebecca Thomas,Daniel S. Gardiner,Mark Uebel,Michael Zapata, III. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Method for optimizing fluid flow across a sample within an electron microscope sample holder

Номер патента: US09466459B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Phase plate for a transmission electron microscope

Номер патента: US09460890B2. Автор: Steffen PATTAI,Patrick KURTH,Joerg Wamser. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-10-04.

Transmission electron microscope micro-grid

Номер патента: US09406481B2. Автор: Yang Wei,Shou-Shan Fan,xiao-yang Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Automatic preliminary irradiation apparatus in transmission electron microscope

Номер патента: US4939365A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akio Mori,Teruo Suzuki,Sadahiko Okamura,Shoji Kamimura. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1990-07-03.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11902665B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Nelson L Marthe, Jr.,Benjamin Bradshaw Larson. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Method for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180068827A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-08.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: US20200013580A1. Автор: Alexander Henstra,Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-01-09.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20220377244A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L. Marthe, JR.. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Wafer sample retainer for an electron microscope

Номер патента: US5923040A. Автор: Lynn J. Carroll. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1999-07-13.

Improvements in and relating to electron microscopes

Номер патента: GB588120A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1947-05-14.

Electron microscope

Номер патента: CA1061477A. Автор: Karel D. van der Mast,Jan B. Le Poole. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1979-08-28.

Improvements in or relating to electron-microscopes

Номер патента: GB634820A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1950-03-29.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4963737A. Автор: Seiichi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1990-10-16.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4429222A. Автор: Akira Yonezawa. Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1984-01-31.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4585942A. Автор: Katsushige Tsuno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1986-04-29.

Automatic electron microscope field counter

Номер патента: US3748468A. Автор: A Hartman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1973-07-24.

Additive composition of defocusing images in an electron microscope

Номер патента: US5466937A. Автор: Pieter Kruit. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1995-11-14.

Pole piece incorporating optical cavity for improved phase-contrast in electron microscope imaging

Номер патента: US20240203685A1. Автор: Pleun Dona,Bart Buijsse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-20.

Transmission electron microscope having energy filter

Номер патента: US6140645A. Автор: Katsushige Tsuno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2000-10-31.

Electron microscope specimen holder

Номер патента: US5367171A. Автор: Yutaka Misawa,Takashi Aoyama,Kazuhiro Ueda,Koji Kimoto,Shigeto Isakozawa,Kishu Hosoi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-11-22.

Electron microscope having a compensation device for compensating the deviation of a diffraction image

Номер патента: US3571590A. Автор: Shinjiro Katagiri,Mamoru Nakano. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1971-03-23.

Electron microscope, device for measuring electron-photon correlation, and method for measuring electron-photon correlation

Номер патента: EP4307336A1. Автор: Hikaru Saito,Takumi Sannomiya,Sotatsu YANAGIMOTO,Keiichirou AKIBA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-01-17.

Packaging unit for liquid sample loading devices applied in electron microscope and packaging method

Номер патента: US20180010988A1. Автор: Shih-Wen Tseng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2018-01-11.

Electron microscope imaging stages and systems

Номер патента: WO2023205466A1. Автор: Eduardo ROSA-MOLINAR. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2023-10-26.

Measurement device for electron microscope

Номер патента: EP1454335A1. Автор: Krister Svensson,Andrey Danilov,Fredrik Althoff,H Kan Olin. Владелец: NANOFACTORY INSTRUMENTS AB. Дата публикации: 2004-09-08.

Liquid chip for electron microscope having excellent bulging resistance

Номер патента: US11747286B2. Автор: Jungjae PARK,Jongmin YUK,Namgyu NOH,Kunmo KOO,Sanghyeon JI. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2023-09-05.

Electron microscope, device for measuring electron-photon correlation, and method for measuring electron-photon correlation

Номер патента: US20240153736A1. Автор: Hikaru Saito,Takumi Sannomiya,Sotatsu YANAGIMOTO,Keiichirou AKIBA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-05-09.

Magnetic electron microscope

Номер патента: US20090078869A1. Автор: Takao Matsumoto,Masanari Koguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Electron beam control device for electron microscopes

Номер патента: US4451737A. Автор: Shigeto Isakozawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-05-29.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: US4801801A. Автор: Tetsuo Oikawa,Junji Miyahara,Yoshiyasu Harada,Nobufumi Mori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-01-31.

Electron microscope

Номер патента: US4810886A. Автор: Tetsuo Oikawa,Junji Miyahara,Yoshiyasu Harada,Nobufumi Mori,Takayuki Katoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-03-07.

Electron microscope method and apparatus for improving image phase contrast

Номер патента: US3566109A. Автор: Robert D Heidenreich. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1971-02-23.

Electron microscope sample holder fluid handling with independent pressure and flow control

Номер патента: WO2019010390A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,Jr. John Damiano. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2019-01-10.

Apparatus for recording and reproducing image produced by an electron microscope including an optical filter and a deflecting element

Номер патента: US4851677A. Автор: Kenji Takahashi,Yuichi Hosoi,Nobufumi Mori. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-25.

Focusing apparatus used in a transmission electron microscope

Номер патента: US4698503A. Автор: Shigeto Isakozawa,Setsuo Nomura,Morioki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-10-06.

Specimen stage for an electron microscope

Номер патента: US3702399A. Автор: Jeffrey Harvey Lucas. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1972-11-07.

Electron microscope sample holder fluid handling with independent pressure and flow control

Номер патента: US11869744B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Transmission electron microscope high-resolution in situ fluid freezing chip and preparation method thereof

Номер патента: US20230326712A1. Автор: Honggang Liao. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-12.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising plasma generator, and method thereof

Номер патента: US20220115204A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Packaging unit for liquid sample loading devices applied in electron microscope and packaging method

Номер патента: US10309878B2. Автор: Shih-Wen Tseng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-06-04.

Method and device for observing a specimen in a field of view of an electron microscope

Номер патента: US20020027199A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Isao Nagaoki,Hiromi Inada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-03-07.

Method and device for observing a specimen in a field of view of an electron microscope

Номер патента: US20040173749A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Isao Nagaoki,Hiromi Inada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-09.

Electron Microscope and Specimen Orientation Alignment Method

Номер патента: US20240087840A1. Автор: Shuji Kawai,Motofumi Saitoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Scanning electron microscope assembly and method for using same

Номер патента: TW200411709A. Автор: DE JONGE Niels,Marinus Josephus Jakobus Dona,Sjoerd Antonius Maria Mentink,Thomas Steffen,Jan Martijn Krans,Bob Someren,Bujsse Bart. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2004-07-01.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120145899A1. Автор: Kenji Matsumoto. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190348255A1. Автор: SAKAKIBARA Makoto,Tsuno Natsuki,Kazumi Hideyuki,Miwa Takafumi,Yokosuka Toshiyuki,Bizen Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Secondary electron probe, secondary electron detector and scanning electron microscope detector

Номер патента: JP7064218B1. Автор: 開利 姜,守善 ▲ハン▼,鵬 柳,科 張,果 陳. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

A new design concept of scanning electron microscope with charged particle source

Номер патента: WO2024133328A1. Автор: Weiming Ren,Xuerang Hu,Oleg Krupin,Yongxin Wang,Zizhou GONG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Secondary electron detector system for scanning electron microscope

Номер патента: GB2071403A. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1981-09-16.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND OPERATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20210066034A1. Автор: Lee Taeyong,CHO Yongmin,LIM Sangkyo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2021-03-04.

Charged particle line apparatus and scanning electron microscope

Номер патента: CN108292580B. Автор: 熊本和哉,松田定好. Владелец: Song - Ding Precision Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-11.

Charge measurement method, focus adjustment method, and scanning electron microscope

Номер патента: JP5075431B2. Автор: 勝弘 笹田,律雄 深谷,達晃 石島. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-11-21.

Charged particle beam apparatus and scanning electron microscope

Номер патента: JP6462729B2. Автор: 和哉 熊本,定好 松田. Владелец: Matsusada Precision Inc. Дата публикации: 2019-01-30.

Electrostatic charge measurement method, focus adjustment method, and scanning electron microscope

Номер патента: US8178836B2. Автор: Katsuhiro Sasada,Ritsuo Fukaya,Tatsuaki Ishijima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-15.

Ultrafast scanning electron microscope system and using method thereof

Номер патента: CN115424912A. Автор: 李俊,杨冬,田源,李建奇,李中文,杨槐馨,田焕芳. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2022-12-02.

scanning Electron Microscope

Номер патента: DE69433937D1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Satoru Fukuhara,Mitsugu Sato,Makoto Ezumi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-09-09.

Analysis electron microscope

Номер патента: US20010045515A1. Автор: Yuji Sato,Shigeto Isakozawa,Wataru Shimoyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-11-29.

Field-emission scanning auger electron microscope

Номер патента: US4698502A. Автор: James K. Gimzewski,Johannes G. Bednorz,Bruno Reihl. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1987-10-06.

Sample holder for scanning electron microscope, scanning electron microscope image observation system, and scanning electron microscope image observation method

Номер патента: US09552959B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-01-24.

Sample holder for scanning electron microscope, scanning electron microscope image observation system, and scanning electron microscope image observation method

Номер патента: EP2985780A4. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2016-12-07.

Back scattered electron detector for scanning electron microscope

Номер патента: KR101458011B1. Автор: 허지호,김주황,배문섭,조양구,이확주. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2014-11-06.

Scanning Electron Microscope Image Anchoring to Design for Array

Номер патента: US20220059316A1. Автор: Bhattacharyya Santosh,Esbenshade Steve. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

Scanning Electron Microscope And Methods Of Inspecting And Reviewing Samples

Номер патента: US20170329025A1. Автор: Brown David L.,Chuang Yung-Ho Alex,Fielden John,Zhang Jingjing,IYER VENKATRAMAN,Contarato Devis,Trimpl Marcel. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

Critical dimension scanning electron microscope

Номер патента: US6770868B1. Автор: Christopher F. Bevis,David E. Clapper. Владелец: KLA Tencor Technologies Corp. Дата публикации: 2004-08-03.

Method and system for observing a specimen using a scanning electron microscope

Номер патента: US20090084953A1. Автор: Minoru Harada,Kenji Obara,Ryo Nakagaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

High-voltage energy-dispersive spectroscopy using a low-voltage scanning electron microscope

Номер патента: US9099276B1. Автор: Ying Wu,Lawrence P. Muray,James P. Spallas,Scott W. Indermuehle,Dimitri Klyachko. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2015-08-04.

Luminescent body, electron beam detector, scanning electron microscope and mass spectrometer using the same

Номер патента: JP4365255B2. Автор: 稔 近藤,実 新垣,昌一 内山,康文 高木,到 水野. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2009-11-18.

Secondary electron detector for scan electron microscope

Номер патента: JPS58219472A. Автор: Shuichi Saito,秀一 斉藤. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1983-12-20.

Luminous body, electron beam detector using the same, scanning electron microscope, and mass analysis device

Номер патента: EP1736524A1. Автор: Shoichi Hamamatsu Photonics K.K. Uchiyama,Yasufumi Hamamatsu Photonics K.K. TAKAGI,Minoru Hamamatsu Photonics K.K. NIIGAKI,Minoru Hamamatsu Photonics K.K. KONDO,Itaru Hamamatsu Photonics K.K. MIZUNO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2006-12-27.

Luminous body, electron beam detector using the same, scanning electron microscope, and mass analysis device

Номер патента: EP1736524A4. Автор: Minoru Kondo,Itaru Mizuno,Shoichi Uchiyama,Yasufumi Takagi,Minoru Niigaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2010-09-29.

A lens for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2001084593A2. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: The National University Of Singapore. Дата публикации: 2001-11-08.

Lens for a scanning electron microscope

Номер патента: US20040084620A1. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2004-05-06.

Method of forming images in a scanning electron microscope

Номер патента: US7105817B2. Автор: Conal Murray,Lynne Gignac,Oliver Wells. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-09-12.

Heated sample table for in-situ imaging in scanning electron microscopes at high temperatures

Номер патента: DE19729526C2. Автор: Frank Siegelin,Hans-Joachim Dr Kleebe. Владелец: KLEEBE HANS JOACHIM DR. Дата публикации: 1999-07-22.

Scanning electron microscopic direct-write lithography system based on a compliant nano servo motion system

Номер патента: US20220291589A1. Автор: Zhen Zhang,Yijie LIU,Juntian QU. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-15.

Scanning electron microscope and sample observation method using the same

Номер патента: US6740877B2. Автор: Mitsugu Sato,Tetsuya Sawahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-05-25.

Method and apparatus for correcting astigmatism in scanning electron microscopes and similar equipment

Номер патента: US4321468A. Автор: Takashi Kimura. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-03-23.

Electron microscope

Номер патента: US4121100A. Автор: Shinjiro Katagiri,Yoshihisa Minamikawa,Morioki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1978-10-17.

Method and apparatus for measuring degree of vacuum in an electron microscope

Номер патента: US4803356A. Автор: Hiroki Kumahora,Eiichi Nishimura,Tsuneyuki Hashimoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-02-07.

Electron microscope observation system and observation method

Номер патента: US6956212B2. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-10-18.

Electron microscopes

Номер патента: US3746855A. Автор: D Hilditch. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1973-07-17.

Electron microscope observation system and observation method

Номер патента: US20050061975A1. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-24.

Objective lens for electron microscope

Номер патента: US4383176A. Автор: Akira Yonezawa,Kohei Shirota. Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1983-05-10.

Electron-beam illuminating system for an electrical apparatus such as an electron microscope or the like

Номер патента: US3862419A. Автор: Lee Veneklasen. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1975-01-21.

Chemically-assisted ion beam milling system for the preparation of transmission electron microscope specimens

Номер патента: US5009743A. Автор: Peter R. Swann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 1991-04-23.

Electron microscope including an electromagnetic electron energy analyzing lens

Номер патента: US3619607A. Автор: Takeo Ichinokawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-11-09.

Device for detecting secondary electron in a scanning electron microscope

Номер патента: KR850001390B1. Автор: 노부아끼 다무라,스스무 다까시마. Владелец: 가세이 다다오. Дата публикации: 1985-09-24.

Electron-beam tube including a thermionic-field emission cathode for a scanning electron microscope

Номер патента: CA1031080A. Автор: Thompson A. Baker,Melvin M. Balsiger,Herbert E. Litsjo,Kevin T. Considine. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1978-05-09.

Scanning electron microscope and methods of inspecting and reviewing samples

Номер патента: US09767986B2. Автор: David L. Brown,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Venkatraman Iyer,Jingjing Zhang,Devis CONTARATO,Marcel Trimpl. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Scanning electron microscope system capable of measuring in-cell overlay offset using high-energy electron beam and method thereof

Номер патента: US09934939B2. Автор: Sang Kil Lee,Chung Sam Jun,Min Kook Kim,Yu Sin YANG,Woo Seok KO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-03.

Specimen observation apparatus including an optical microscope and a scanning electron microscope

Номер патента: US4349242A. Автор: Kazumichi Ogura. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-09-14.

Method and apparatus for non-invasive semiconductor technique for measuring dielectric/semiconductor interface trap density using scanning electron microscope charging

Номер патента: US20240071710A1. Автор: Timothy M. WONG. Владелец: Femtometrics Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: WO2023150026A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-08-10.

Scanning electron microscope image-based pitch walk inspection method and method of manufacturing semiconductor device comprising the inspection method

Номер патента: US20230253179A1. Автор: Dongho Kim,Seunghune YANG,Sung Min NAM,Jaeseung JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-10.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: EP4377682A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Range-based real-time scanning electron microscope non-visual binner

Номер патента: US09947596B2. Автор: Arpit Jain,Arpit YATI,Olivier Moreau,Arun Lobo,Hemanta Kumar Roy. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Compensating for scanning electron microscope beam distortion-induced metrology error using design

Номер патента: WO2019136182A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-11.

Compensating for Scanning Electron Microscope Beam Distortion-Induced Metrology Error Using Design

Номер патента: US20190214223A1. Автор: Hari Pathangi Sriraman. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Method and apparatus for non-invasive semiconductor technique for measuring dielectric/semiconductor interface trap density using scanning electron microscope charging

Номер патента: WO2024015795A1. Автор: Timothy M. WONG. Владелец: Femtometrix, Inc.. Дата публикации: 2024-01-18.

Improved tip for nanoscanning electron microscope

Номер патента: WO2005008707A3. Автор: Conrad W Schneiker,Robert W Gray. Владелец: Robert W Gray. Дата публикации: 2008-06-26.

Scanning electron microscope (sem) measurement method and apparatus

Номер патента: US20240079206A1. Автор: Kihyun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Method for processing scanning electron microscope specimen

Номер патента: US20220397498A1. Автор: Guo Chen,LIN Cong,Ke Zhang,Kai-Li Jiang,Shou-Shan Fan,Xin-Yu Gao. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-15.

Tip for nanoscanning electron microscope

Номер патента: US20040079892A1. Автор: Robert Gray,Conrad Schneiker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-29.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: US20230245933A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Wafer alignment using multi-scanning electron microscopy

Номер патента: WO2021048082A3. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Jagdish Chandra Saraswatula,Philipp HÜTHWOHL,Raghavendra Hanumantha Nayak. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2021-05-20.

Scanning electron microscope system, pattern measurement method using same, and scanning electron microscope

Номер патента: US09852881B2. Автор: Shinya Yamada,Maki Tanaka,Takuma Yamamoto,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Tuning the scanning electron beam computed tomography scanner

Номер патента: US5224137A. Автор: Roy E. Rand,Mark C. Nicely,Susan E. Plomgren,John L. Couch. Владелец: Imatron Inc. Дата публикации: 1993-06-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20010002698A1. Автор: Mitsugu Sato,Yuko Iwabuchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-07.

Electron microscope

Номер патента: US5552602A. Автор: Yasuhiro Mitsui,Katsuhiro Kuroda,Tatsuo Makishima,Hiroshi Kakibayashi,Shigeto Isakozawa,Mikio Ichihashi,Hideo Tadokoro,Kazutaka Tsuji,Masanari Koguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1996-09-03.

MICROTOME, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING THIN SLICES FROM A SAMPLE AND METHOD FOR ANALYSING THIN SLICES PRODUCED FROM A SAMPLE IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND USE OF A MAGNETIC TAPE FOR THE PURPOSE OF DEPOSITING AND TRANSPORTING OF THIN SLICES OF SAMPLES IN THE FIELD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

Номер патента: US20200051778A1. Автор: HORSTMANN Heinrich. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

Electron microscope, and method for observing measurement sample

Номер патента: EP3757558A1. Автор: Toshiyuki Taniuchi,Shik Shin. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2020-12-30.

Method for controlling wien filter for scanning electron microscope and scanning electron microscope having electron beam aligning function

Номер патента: KR101293016B1. Автор: 김석,안재형,금우락. Владелец: 에스엔유 프리시젼 주식회사. Дата публикации: 2013-08-05.

Scanning electron microscope and map display method for absorption edge structure

Номер патента: EP4148422A1. Автор: Hideyuki Takahashi,Takaomi Yokoyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-15.

Scanning electron microscope and method for dimension measuring by using the same

Номер патента: US5594245A. Автор: Satoru Yamada,Fumio Mizuno,Tadashi Otaka,Katsuhiro Kuroda,Hideo Todokoro,Tokuo Kure,Sadao Terakado,Kenji Takamoto,Ken Ninomiya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1997-01-14.

Electron microscope device and inclined hole measurement method using same

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Yuji Takagi,Fumihiko Fukunaga,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Apparatus for protecting membrane of scanning electron microscope and scanning electron microscope having the same

Номер патента: KR101383557B1. Автор: 김주황,배문섭,조양구,이확주. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2014-04-09.

Method for inspecting and measuring sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20140001359A1. Автор: Takahiro Sato,Akira Ikegami,Satoru Iwama,Makoto Ezumi,Junichi Kakuta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-01-02.

Method for inspecting and measuring sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20090084954A1. Автор: Takahiro Sato,Akira Ikegami,Satoru Iwama,Makoto Ezumi,Junichi Kakuta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Method for inspecting and measuring sample and scanning electron microscope

Номер патента: US7960696B2. Автор: Takahiro Sato,Akira Ikegami,Satoru Iwama,Makoto Ezumi,Junichi Kakuta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-14.

Electron microscope, and method for observing measurement sample

Номер патента: US20210140901A1. Автор: Toshiyuki Taniuchi,Shik Shin. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2021-05-13.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140138542A1. Автор: Nakamura Kuniyasu,Inada Hiromi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-22.

Scanning electron microscope universal rotating sample table for fracture analysis and scanning electron microscope

Номер патента: CN110993475B. Автор: 丁宁,郭卫民,刘珑,侯南,李囡. Владелец: Shandong Analysis and Test Center. Дата публикации: 2020-08-28.

Low energy scanning electron microscope system, scanning electron microscope system and sample detection method

Номер патента: CN109300759A. Автор: 何伟,李帅. Владелец: Spotlight Technology (beijing) Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-01.

Low-energy scanning electron microscope system, scanning electron microscope system, and specimen detection method

Номер патента: EP3782182A1. Автор: Wei He,Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

Scanning electron microscope and method of imaging an object by using the scanning electron microscope

Номер патента: US20080310704A1. Автор: Ichiro Tachibana,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-18.

Scanning electron microscope and scanning tunneling electron microscope

Номер патента: WO2013012041A1. Автор: 博実 稲田,邦康 中村. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2013-01-24.

For use in the method method of producing a scanning electron microscope image having reduced distortion and scanning electron microscopes

Номер патента: GB1569299A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-11.

Dissolution stage for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: CA2332319C. Автор: James A. Mitchell,Philip J. Palermo. Владелец: Euro Celtique SA. Дата публикации: 2004-07-13.

Scanning electron microscope and method of electron microscopically imaging the surface of a sample.

Номер патента: JPH0687410B2. Автор: ディー ダニラトス，ジェラシモス. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1994-11-02.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750A4. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Leeuwen Hugo Van,Johannes A H W G Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-04-06.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750B1. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Johannes A.H.W.G. Persoon,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-04-23.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733B1. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W.G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-11-26.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: IL271541B. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2022-04-01.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: SG11201912704YA. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Reference sample with inclined support base, method for evaluating scanning electron microscope, and method for evaluating sic substrate

Номер патента: EP3451362B1. Автор: Tadaaki Kaneko,Koji Ashida. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-12-23.

Judging method for brightness of picture of scanning electron microscope

Номер патента: JPS57176660A. Автор: Seiji Hayashi. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-10-30.

Charged particle beam system and method of measuring sample using scanning electron microscope

Номер патента: US11217422B2. Автор: Akira Abe,Yuta Murakami,Yoshikazu Nemoto,Masatsugu Kawamoto,Takakuni Maeda,Hiroki Mezaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-01-04.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733A4. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Leeuwen Hugo Van,Johannes Antonius Hendricus W G Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-04-06.

Charged particle beam system and method of measuring sample using scanning electron microscope

Номер патента: EP3693989A1. Автор: Akira Abe,Yuta Murakami,Yoshikazu Nemoto,Masatsugu Kawamoto,Takakuni Maeda,Hiroki Mezaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Scanning electron microscope (s e m)

Номер патента: GB2139455A. Автор: Syobu Saito. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-11-07.

Mirror support module, a kit and a scanning electron microscope

Номер патента: US09805906B1. Автор: Natan Schlimoff,Efim Vinnitsky,Samuel Ives Nackash,Shmuel Barak Mizrahi. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Electron-ray scanning system of scanning electron microscope

Номер патента: JPS5810359A. Автор: Hironobu Moriwaki,森脇　弘暢. Владелец: NICHIDENSHI TECHNICS KK. Дата публикации: 1983-01-20.

Scanning Electron Microscope and Map Display Method for Absorption Edge Structure

Номер патента: US20240085357A1. Автор: Hideyuki Takahashi,Takaomi Yokoyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Scanning-electron-microscope image processing device and scanning method

Номер патента: WO2013133021A1. Автор: 源 川野,久美子 清水. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2013-09-12.

Scanning apparatus for scanning electron microscope and similar devices

Номер патента: KR830002860Y1. Автор: 요시히로 히라다,히로시 우찌우미. Владелец: 이세이 다다오. Дата публикации: 1983-12-10.

Electron beam adjustment method, charged particle optical system controller, and scanning electron microscope

Номер патента: JP5392312B2. Автор: 秀男 戸所,真 江角,洋一 小瀬,隆博 佐藤,律雄 深谷,明 池上,達晃 石島,一成 淺尾. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-01-22.

ELECTRON BEAM IRRADIATION METHOD AND SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE

Номер патента: US20130187045A1. Автор: Yokosuka Toshiyuki,LEE Chahn,KOBAYASHI Kinya. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-25.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM CAPABLE OF MEASURING IN-CELL OVERLAY OFFSET USING HIGH-ENERGY ELECTRON BEAM AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20150115154A1. Автор: KO Woo Seok,YANG Yu Sin,JUN CHUNG SAM,LEE SANG KIL,Kim Min Kook. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON TRAJECTORY ADJUSTMENT METHOD THEREFOR

Номер патента: US20170263415A1. Автор: OHTA Hiroya,Morishita Hideo,Hatano Michio,Bizen Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-14.

Method of interacting ion beams with a sample, method of sputtering a sample with ions, method of investigating a sample with an ion beam and an electron beam, combined scanning electron microscope and gas field ion source system.

Номер патента: TWI407475B. Автор: Ulrich Mantz,Raymond Hill,Michael Steigerwald,Billy W Ward,John A Notte Iv,Louis S Farkas Iii,Randall G Percival. Владелец: Carl Zeiss Microscopy LLC. Дата публикации: 2013-09-01.

ELECTRON BEAM DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPES

Номер патента: FR2494904A1. Автор: Yoshio Ishimori,Seiichi Nakagawa,Naoki Date. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-05-28.

Luminescent body, electron beam detector, and scanning electron microscope

Номер патента: JP6857263B1. Автор: 純也 前田,前田　純也,喬吾 金子,邦義 山内. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2021-04-14.

Light emitting body, electron beam detector, and scanning electron microscope

Номер патента: CN114981383A. Автор: 前田纯也,金子乔吾,山内邦义. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-08-30.

Light-emitting body, electron beam detector, and scanning electron microscope

Номер патента: US20220392740A1. Автор: Junya Maeda,Kuniyoshi Yamauchi,Kyogo Kaneko. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-12-08.

Scanning electron microscopy system and the use of its pattern measurement method and scanning electron microscopy

Номер патента: TWI564926B. Автор: 山田慎也,山本琢磨,宍戸千繪,田中麻紀. Владелец: 日立全球先端科技股份有限公司. Дата публикации: 2017-01-01.

Scanning electron microscope device and pattern dimension measuring method using same

Номер патента: US20120098953A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Ryoichi Matsuoka,Go Kotaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-04-26.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20130175447A1. Автор: Komuro Osamu,Fukuda Muneyuki,Sohda Yasunari,Yamanashi Hiromasa,Ohashi Takeyoshi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-07-11.

METHOD OF VERIFYING OPERATION PARAMETER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190006145A1. Автор: KANEKO Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140299769A1. Автор: Wang Zhigang,Sohda Yasunari,Fukaya Ritsuo,Okai Nobuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20200227231A1. Автор: Kuo Tzu-Yi,Tseng Yu-Kuang. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-16.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CALCULATION METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE DEPTH

Номер патента: US20200234916A1. Автор: Yasui Kenji,SUZUKI Makoto,Yokosuka Toshiyuki,ABE Yusuke,Osaki Mayuka,Bizen Daisuke,Kitsuki Hirohiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

REFERENCE SAMPLE WITH INCLINED SUPPORT BASE, METHOD FOR EVALUATING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR EVALUATING SIC SUBSTRATE

Номер патента: US20200279716A1. Автор: Kaneko Tadaaki,Ashida Koji. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-09-03.

Scanning electron microscope with detachable vaccum chamber unit

Номер патента: KR101421090B1. Автор: 최지연,임선종. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2014-07-18.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP4111908B2. Автор: 洋揮 川田,怜 池田,篤 小原. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-07-02.

Monochromator and scanning electron microscope using the same

Номер патента: US7315024B2. Автор: Tadashi Otaka,Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Mitsugu Sato,Shunroku Taya,Makoto Ezumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-01-01.

For the X-ray target assembly in scanning electron microscope

Номер патента: CN108155079B. Автор: 王�琦,姜凯,马小军,孟婕,唐兴,王宗伟,顾倩倩,高党忠,马文朝. Владелец: Laser Fusion Research Center China Academy of Engineering Physics. Дата публикации: 2019-07-05.

How to verify operating parameters of scanning electron microscope

Номер патента: JP6882097B2. Автор: 功次 金子. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2021-06-02.

Scanning electron microscope having multiple detectors and a method for multiple detector based imaging

Номер патента: WO2005017511A1. Автор: Pavel Adamec,Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel, Ltd.. Дата публикации: 2005-02-24.

The method and system of noise decrease in multi beam scanning electron microscope system

Номер патента: CN108027501A. Автор: M·A·麦科德,R·克尼彭迈耶,D·马斯纳盖蒂,R·R·西蒙斯. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-05-11.

Method and means for correcting astigmatism in a scanning electron microscope or the like

Номер патента: GB2011656B. Автор: . Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-06-30.

Scanning electron microscope and imaging method using the same

Номер патента: CN102759540B. Автор: 诸熊秀俊,宫本敦,长友涉,松冈良一. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-04-15.

Monochromator and scanning electron microscope using the same

Номер патента: US20040188607A1. Автор: Tadashi Otaka,Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Mitsugu Sato,Shunroku Taya,Makoto Ezumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-09-30.

High performance inspection scanning electron microscope device and method of operating the same

Номер патента: US10504684B1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2019-12-10.

Dissolution stage for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: IL139743A0. Автор: . Владелец: Euro Celtique SA. Дата публикации: 2002-02-10.

Scanning electron microscope having multiple detectors and a method for multiple detector based imaging

Номер патента: CN1820194A. Автор: 德罗尔·塞梅斯,帕维尔·阿达梅克. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2006-08-16.

Monochromator and scanning electron microscope using it.

Номер патента: NL1025182A1. Автор: Tadashi Otaka,Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Mitsugu Sato,Shunroku Taya,Makoto Ezumi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2004-07-09.

Dissolution stage for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: US6444982B1. Автор: James A. Mitchell,Philip J. Palermo. Владелец: Euro Celtique SA. Дата публикации: 2002-09-03.

Scanning electron microscope device, semiconductor manufacturing device and control method of the same

Номер патента: KR20230037102A. Автор: 이태형,임예니,조윤제,이명준,손수봉. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2023-03-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR970003383A. Автор: 미쯔구 사또우,류우지 호우야,요오이찌 오세. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 세사쿠쇼. Дата публикации: 1997-01-28.

Beam alignment in a lower column of a scanning electron microscope or the like

Номер патента: US6717143B2. Автор: Neal T. Sullivan,Paul J. Duval,Anastasia Y. Tyurina. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2004-04-06.

Charged particle beam device and scanning electron microscope

Номер патента: WO2016121226A1. Автор: 和哉 熊本,定好 松田. Владелец: 松定プレシジョン株式会社. Дата публикации: 2016-08-04.

Stereoscopic scanning electron microscope

Номер патента: JPS59171445A. Автор: Katsuhiro Kuroda,勝広 黒田. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-09-27.

Low-vacuum scanning electron microscope

Номер патента: JP2006260878A. Автор: Ryoichi Ishii,良一 石井,Kenichi Hirane,賢一 平根,智久 大瀧,陽久 高畑,Tomohisa Otaki,Akihisa Takahata. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2006-09-28.

Scanning electron microscope having multiple detectors and a method for multiple detector based imaging

Номер патента: KR101041661B1. Автор: 드로르 쉐메쉬,파벨 아다메취. Владелец: 어플라이드 머티리얼즈 이스라엘 리미티드. Дата публикации: 2011-06-14.

Scanning electron microscope observation method for a sample floating on the surface of a liquid

Номер патента: JP5707082B2. Автор: 正道 塩野,雅子 西村,麻美 許斐,桑畑　進,進 桑畑. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-04-22.

Scanning electron microscope objective lens system and sample detection method

Номер патента: CN111837214A. Автор: 何伟,李帅. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-27.

Scanning electron microscope

Номер патента: DE2902379C2. Автор: Johan Cornelis Eindhoven Tiemeijer. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1985-04-04.

Sample dimension measuring method and scanning electron microscope

Номер патента: IL156419A0. Автор: . Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-01-04.

Scanning electron microscope and imaging method using the same

Номер патента: CN102759540A. Автор: 诸熊秀俊,宫本敦,长友涉,松冈良一. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2012-10-31.

Scanning electron microscope

Номер патента: CN102668013B. Автор: 岩谷彻,高堀荣,大泷智久,波多野治彦. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-05-27.

Enabling scanning electron microscope imaging while preventing sample damage on sensitive layers used in semiconductor manufacturing processes

Номер патента: WO2021262913A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-12-30.

Enabling scanning electron microscope imaging while preventing sample damage on sensitive layers used in semiconductor manufacturing processes

Номер патента: US20210407834A1. Автор: Hari Pathangi Sriraman. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Sample holder for scanning electron microscope and microscope comprising the same

Номер патента: GB202109923D0. Автор: . Владелец: Plymouth University. Дата публикации: 2021-08-25.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: EP3172758B1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-08-21.

Electron-microscopic examination method for examining biosample while keeping said biosample unchanged, and composition for evaporation inhibition under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope for use in said method

Номер патента: EP2755225A1. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2014-07-16.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US20140227734A1. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2014-08-14.

Microtome utilizing a movable knife in a retardation field scanning electron microscope and a retardation field scanning electron microscope including the same

Номер патента: CN103403835A. Автор: 西蒙﹒安德鲁﹒盖洛威. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2013-11-20.

Electrode for use in a scanning electron microscope

Номер патента: AU2266288A. Автор: Jan Andersson,Rolf Nybom. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-03-09.

Sample fixing device for scanning electronic microscope

Номер патента: JPS57202053A. Автор: Tsumoru Suzuki. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 1982-12-10.

Cooling device for the object in a scanning electron microscope

Номер патента: GB1344028A. Автор: . Владелец: Oesterreichische Studiengesellschaft fuer Atomenergie GmbH. Дата публикации: 1974-01-16.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope.

Номер патента: NL2013262B1. Автор: KRUIT Pieter,LIV HAMARAT Nalan,Pieter Hoogenboom Jacob. Владелец: Delmic B V. Дата публикации: 2016-09-09.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: US20170221675A1. Автор: KRUIT Pieter,Hoogenboom Jacob Pieter,LIV HAMARAT Nalan. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2017-08-03.

DEVICE FOR DETECTING SECONDARY ELECTRONS IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: FR2488044A1. Автор: TAKASHIMA Susumu,Tamura Nobuaki. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-02-05.

METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING ELECTRON BEAM CONDITION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140117218A1. Автор: Huang Yi,CAI BOXIU. Владелец: . Дата публикации: 2014-05-01.

METHOD FOR DETECTING ELECTRON BEAM OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOR DETECTING FINE PATTERNS

Номер патента: US20140131563A1. Автор: CAI BOXIU. Владелец: Semiconductor Manufacturing International (Shanghai) Corporation. Дата публикации: 2014-05-15.

Secondary electron signal detection device for scanning electron microscope

Номер патента: JPS59217934A. Автор: 元介 三好,Motosuke Miyoshi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1984-12-08.

Secondary electron probe and high-temperature scanning electron microscope

Номер патента: CN113299529B. Автор: 王飞,唐亮,张泽,王晋,张跃飞,屠金磊,张宜旭,刘陵恩. Владелец: Zhejiang Qiyue Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-07-29.

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME

Номер патента: US20130299699A1. Автор: Yamamoto Jiro,Inoue Osamu,Nakayama Yoshinori,Tase Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-14.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140084158A1. Автор: Kuramoto Tatsuru. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2014-03-27.

TILT-IMAGING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140151552A1. Автор: JIANG Xinrong,HAN Liqun,HONJO Ichiro,SEARS Christopher Malcolm Stanley. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS60200450A. Автор: Kashio Kageyama,Takao Kumada,甲子男 影山,熊田　隆雄. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1985-10-09.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS5960854A. Автор: Minoru Shimizu,実 清水. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-04-06.

Strobo scanning electron microscope

Номер патента: JPS6089050A. Автор: Masayuki Sato,真幸 佐藤. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1985-05-18.

Specimen table in scanning electron microscope

Номер патента: JPS60232654A. Автор: Shinjiro Katagiri,Yoshimasa Unno,Akihisa Takeyumi,片桐　信二郎,海野　義昌,晃久 武弓. Владелец: Hitachi Naka Seiki Ltd. Дата публикации: 1985-11-19.

METHOD AND APPARATUS FOR OBSERVING BIOLOGICAL SAMPLES WITH A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: DE2211423A1. Автор: Yoichi Fuchu Nagasawa Yuji Akishima Tokio Hasegawa (Japan). Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1972-09-21.

Calibration standard member, method for manufacturing the member, and scanning electronic microscope using the member

Номер патента: WO2010052840A1. Автор: 中山義則,田勢隆,山本治朗. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2010-05-14.

SAMPLE HOUSING FOR USE WITH A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: FR3088725A1. Автор: Johann Ravaux,Antoine Candeias,Stephanie Szenknect,Jacques CABANE,Gauthier GONNET,Renaud PODOR,Henri-Pierre BRAU,Johan SALACROUP. Владелец: NEWTEC SCIENT. Дата публикации: 2020-05-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS56126239A. Автор: Kimio Kanda,Yasushi Nakaizumi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1981-10-03.

Deflector mechanism capable of reducing phase difference, and scanning electron microscope

Номер патента: WO2022246884A1. Автор: 蒋俊海,蒋磊,孙伟强,李帅辰,孟庆浪. Владелец: 中科晶源微电子技术（北京）有限公司. Дата публикации: 2022-12-01.

In situ traction machine and specimen for scanning electron microscope.

Номер патента: FR2704649A1. Автор: Chiron Remi,Fryet Jacques,Viaris De Lessegno Patrick. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1994-11-04.

Scanning electron microscope and image processing method

Номер патента: EP3654360A2. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-05-20.

Integrated scanning electron microscopy and optical analysis techniques for advanced process control

Номер патента: WO2019241054A1. Автор: Arun Lobo,Hari Pathangi Sriraman,Sivaprasath MEENAKSHISUNDARAM. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-19.

Scanning Electron Microscope and Image Processing Method

Номер патента: US20200161087A1. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Light-emitting element, optical detection module, manufacturing method for light-emitting element, and scanning electron microscope

Номер патента: US20240063328A1. Автор: Minoru Kondo,Junya Maeda,Takayuki Nakamura,Kuniyoshi Yamauchi,Satoru OKAWARA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS6193537A. Автор: Masao Inoue,雅夫 井上,Katsuyoshi Ueno,上野　勝義. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1986-05-12.

Embedding resin composition for electron microscopey and method for observing sample with electron microscope using the same

Номер патента: US09870894B2. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiryu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2018-01-16.

Embedding resin composition for electron microscope, and method for observing sample on electron microscope using said composition

Номер патента: US20140212913A1. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiyu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2014-07-31.

Automatically correcting astigmatism in a scanning electron microscope

Номер патента: GB2215088A. Автор: Mitsuru Yamada. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-09-13.

Method and device for astigmatism correction of scanning electron microscope and similar device

Номер патента: JPS57176657A. Автор: Masahiro Inoue,Seiichiro Satomura,Mitsuhisa Miyazawa. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-10-30.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20130284923A1. Автор: SUZUKI Hiroyuki,Hatano Haruhiko,Nakayama Yoshihiko. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-10-31.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20130306864A1. Автор: Seoka Masanori,Nakagawa Kazushige. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-21.

Scanning electron microscopic direct-write lithography system based on a compliant nano servo motion system

Номер патента: US20220291589A1. Автор: Zhen Zhang,Yijie LIU,Juntian QU. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-15.

Objective lens for scanning electron microscope

Номер патента: JPS57182955A. Автор: Tadashi Otaka,Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-11-11.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS5676151A. Автор: Yusaku Takano,Katsukage Uehara. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 1981-06-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR830002442B1. Автор: 요시히로 히라다. Владелец: 니혼덴시 가부시끼 가이샤. Дата публикации: 1983-10-26.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: IL311204A. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: Youfei JIANG. Дата публикации: 2024-05-01.

Method for measuring CD using scanning electron microscope

Номер патента: US11740073B2. Автор: Seungjin LEE,Jooho Kim,Dawoon Choi,Donyun Kim,Yunhyoung Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-29.

Humidified imaging with an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU2003291876A8. Автор: Joerg Zimmermann,Lynn C Erickson,Francesco P Orfino. Владелец: Siemens VDO Electric Drives Inc. Дата публикации: 2008-02-28.

Humidified imaging with an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU2003291876A1. Автор: Joerg Zimmermann,Francesco P. Orfino,Lynn C. Erickson. Владелец: Siemens VDO Electric Drives Inc. Дата публикации: 2004-06-30.

Three-dimensional mapping using scanning electron microscope images

Номер патента: US20140074419A1. Автор: Ishai Schwarzband,Yakov Weinberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Three-dimensional mapping using scanning electron microscope images

Номер патента: US20150136960A1. Автор: Ishai Schwarzband,Yakov Weinberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2015-05-21.

Three-dimensional mapping using scanning electron microscope images

Номер патента: US9378923B2. Автор: Ishai Schwarzband,Yakov Weinberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-06-28.

Three-dimensional mapping using scanning electron microscope images

Номер патента: US8946627B2. Автор: Ishai Schwarzband,Yakov Weinberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2015-02-03.

Scanning electron microscope, multi-pixel electron detector, and electron sensor pixel

Номер патента: TWI660392B. Автор: 勇和 艾力克斯 莊,約翰 費爾登,張璟璟,凡卡特曼 伊爾,大衛Ｌ 布朗,馬歇爾 崔伯,迪維斯 康塔多. Владелец: 美商克萊譚克公司. Дата публикации: 2019-05-21.

Scanning electron microscope device capable of measuring in-cell overlay offset using high energy electron beam and methods thereof

Номер патента: KR102234659B1. Автор: 고우석,김민국,양유신,이상길,전충삼. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2021-04-05.

Photo-sensitive target for an electron tube which employs a scanning electron beam in operation

Номер патента: GB1350696A. Автор: . Владелец: Philips Electronic and Associated Industries Ltd. Дата публикации: 1974-04-18.

Three-dimensional mapping using scanning electron microscope images

Номер патента: US20130200255A1. Автор: Ishai Schwarzband,Yakov Weinberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-08-08.

Scanning electron microscope Wien filter instrument assembly pieces support structure having body space support pieces receiving/positioning with moving elements pushed/adapted contacting and pushing pieces plugging support structure.

Номер патента: FR2831988A1. Автор: Paul J Duval,Vladimir Vayner. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2003-05-09.

Range-based real-time scanning electron microscope non-visual binner

Номер патента: TW201713937A. Автор: 爾皮 傑因,亞倫 羅布,羅伊 希曼塔 庫瑪,爾皮 亞提,奧利維亞 摩里. Владелец: 克萊譚克公司. Дата публикации: 2017-04-16.

method for determining the mineral content of a sample, and scanning electron microscope x-ray spectroscopy device

Номер патента: BR112014032415A2. Автор: Buhot Michael,James Owen Michael,Hung Phan Van. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-06-27.

Current regulator for electron microscope power supply

Номер патента: CA1092650A. Автор: Ronald A. Gatten. Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1980-12-30.

Method for predicting a defect location for subsequent scanning by a scanning electron microscope (sem), system for inspection of a wafer, and related computer program product

Номер патента: TWI767163B. Автор: 艾維歐 利伯葛汀,尼拉德里 森,柯恩 塔斯,羅納德 約翰尼斯 吉斯伯特斯 古森. Владелец: 荷蘭商Ａｓｍｌ荷蘭公司. Дата публикации: 2022-06-11.

Defect detection, classification, and process window control using scanning electron microscope metrology

Номер патента: WO2019177800A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-19.

METHOD FOR REDUCING CHARGE IN CRITICAL DIMENSION-SCANNING ELECTRON MICROSCOPE METROLOGY

Номер патента: US20170040228A1. Автор: Montgomery Melvin W.,Montgomery Cecilia A.,Bunday Benjamin D.. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

Process of manufacturing scanning electron microscopic sample and process of analyzing semiconductor device

Номер патента: KR100451604B1. Автор: 엔도테츠오,마수오카후지오,타니가미타쿠지,요코야마타카시,타케우치노보루. Владелец: 후지오 마스오카. Дата публикации: 2004-10-08.

Scanning electron microscope and CD measurement calibration standard specimen

Номер патента: US20050285035A1. Автор: Takeshi Mizuno,Hiroki Kawada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US20220092799A1. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US12062196B2. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Device for obtaining electron microscopic image and local element analysis of radioactive sample by electron microscopy in radiation protection chamber

Номер патента: RU2678504C1. Автор: Андрей Викторович Жуков,Алексей Александрович Соболев,Вячеслав Евгеньевич Кирюхин,Вячеслав Викторович Светухин,Александр Николаевич Фомин,Вячеслав Владимирович Макарычев,Вячеслав Сергеевич Власенко,Александр Георгиевич Ульяненков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет". Дата публикации: 2019-01-29.

Method for preparing the surface of bone tissue samples to study their microstructure using a scanning electron microscope

Номер патента: RU2668879C1. Автор: Семен Александрович Борисов,Михаил Васильевич Гилев,Сергей Михайлович Кутепов,Владимир Сергеевич Кошелев,Яна Евгеньевна Казакова,Мария Юрьевна Измоденова,Дмитрий Викторович Зайцев,Дарья Владимировна Киселева,Пётр Евгеньевич Панфилов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уральский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБОУ ВО УГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2018-10-04.

Scanning electron microscope and a method for evaluating accuracy of repeated measurement using the same

Номер патента: US20050205780A1. Автор: Hiroki Kawada,Ryo Nakagaki,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-09-22.

Method and Apparatus For Measuring Dimension Of Circuit Pattern Formed On Substrate By Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110127429A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Tomofumi Nishiura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Method of measuring an area of micro-objects of arbitrary shape in scanning electron microscope

Номер патента: US20070081742A1. Автор: Arkady Nikitin,Dmitriy Yeremin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-12.

Noise filtering method and scanning electron microscope (sem) equipment alignment method using the same

Номер патента: US20240320804A1. Автор: Nohong KWAK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Scanning electron microscope image distortion correction method, and semiconductor manufacturing method using the correction method

Номер патента: US20240242317A1. Автор: Sungeun Lee,Minsu Kang,Woojin Jung,Kwangeun KIM,Sangho Yun,Janghoon Kim,Seoyoung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for examination of microarrays using scanning electron microscope

Номер патента: WO2004008188A8. Автор: Paul C Ciccolella,Maria A Hozbor. Владелец: Maria A Hozbor. Дата публикации: 2005-04-28.

Method of inspecting thin film magnetic head element using scanning electron microscope, and inspecting holding jig

Номер патента: US7564044B2. Автор: Akira Miyatake,Tomonari Hosaka,Keitaro Kikuchi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2009-07-21.

Training scanning electron microscopy image selection method and sem equipment alignment method using the same

Номер патента: US20240320816A1. Автор: Nohong KWAK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Sediment analysis software along with scanning electron microscope toolbox for image processing

Номер патента: WO2023209421A1. Автор: Mohammad ZARE MANIZANI. Владелец: Zare Manizani Mohammad. Дата публикации: 2023-11-02.

Method for Analyzing Defects by Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: KR100668219B1. Автор: 김정태. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2007-01-11.

Method for eliminating charging of photoresist on specimens during scanning electron microscope examination

Номер патента: US5783366A. Автор: Hsin-Pai Chen,Dong-Shiuh Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1998-07-21.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP4231227A2. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-08-23.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP4231227A3. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-11-15.

Method of preparing biological sample for analysis by scanning electron microscopy

Номер патента: RU2672356C1. Автор: Иван Александрович Новиков,Игорь Викторович Чеботарь,Анастасия Михайловна Суббот,Андрей Валерьевич Ситников,Ольга Александровна Пак,Андрей Игоревич Бурсов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Глаукон". Дата публикации: 2018-11-14.

Using Pyrolysis Data to Correct for the Impact of Soluble Organic Matter-Filled Pores on Property Measurements Using Scanning Electron Microscopy Images of Source Rocks

Номер патента: US20230408429A1. Автор: David Jacobi,Poorna Srinivasan,Shannon L. Eichmann. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2023-12-21.

Modeling critical-dimension (cd) scanning-electron-microscopy (cd-sem) cd extraction

Номер патента: WO2010126698A3. Автор: Qiaolin Zhang. Владелец: Synopsys, Inc.. Дата публикации: 2011-01-13.

Method of preparing biological sample for analysis by scanning electron microscopy

Номер патента: RU2578977C1. Автор: Анатолий Александрович Федоров,Иван Александрович Новиков,Анастасия Михайловна Суббот,Ирина Геннадьевна Грибоедова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский институт глазных болезней". Дата публикации: 2016-03-27.

Image processing method and transmission electron microscope

Номер патента: EP3742386A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-25.

Image Processing Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200371331A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Determination method, elimination method and apparatus for electron microscope aberration

Номер патента: US11971368B2. Автор: FANG Lin,Chen Wang,Qi Zhang. Владелец: SOUTH CHINA AGRICULTURAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-30.

Method of drying cells for scanning electron microscopy

Номер патента: US5552601A. Автор: Hie P. Beall. Владелец: Duke University. Дата публикации: 1996-09-03.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: EP4367495A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2024-05-15.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: WO2023280458A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2023-01-12.

Method of producing test-sample for transmission electron microscope

Номер патента: US11747243B2. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Process for the characterization of an insulator and the corresponding electron microscope

Номер патента: US5635715A. Автор: Hakim Janah,Daniel Acroute,Claude Faure,Claude Le Gressus,Jose Bezille,Guy Blaise,Gerard Moya. Владелец: A L'ENERGIE ATOMIQUE. Дата публикации: 1997-06-03.

Biological specimen of electron microscope

Номер патента: US20100243482A1. Автор: Chih-Yu Chao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-30.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP3968267A1. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY,Gouri Sankar Kar,Victor M. Blanco,Senthil Srinivasan Shanmugam Vadakupudhu Palayam. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2022-03-16.

OLED sample or electron microscope examination and method for making the same

Номер патента: US20040265625A1. Автор: He-Ting Tsai. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2004-12-30.

Device containing sample preparation sites for transmission electron microscopic analysis and processes of formation and use

Номер патента: US6140652A. Автор: Mike G. Shlepr,Jay J. Jeffreys. Владелец: Intersil Corp. Дата публикации: 2000-10-31.

Method of producing test-sample for transmission electron microscope

Номер патента: US20210102872A1. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Method for manufacturing plastic sample for scanning electron microscope

Номер патента: KR100444684B1. Автор: 이상남. Владелец: 현대자동차주식회사. Дата публикации: 2004-08-21.

Reference grating plate for measuring magnification or image size in the depth direction and lateral direction of scanning electron microscope, tunnel scanning microscope, etc.

Номер патента: JP2920990B2. Автор: 勝 小枝. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1999-07-19.

System and method for examination of microarrays using scanning electron microscope

Номер патента: AU2003256536A1. Автор: Maria A. Hozbor,Paul C. Ciccolella. Владелец: Affymetrix Inc. Дата публикации: 2004-02-02.

Control method and control system for image scanning, electronic apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240148343A1. Автор: Kuo-Yue Liu. Владелец: Shanghai United Imaging Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Process for the acquisition of images from a probe with a light scanning electron microscope with linear scanning

Номер патента: US20060013491A1. Автор: Ralf Wolleschensky,Ralf Engelmann,Frank Hecht. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2006-01-19.

Imaging method for realizing zoom scanning of scanning electron microscope

Номер патента: CN114113185A. Автор: 徐涛,徐强,曹峰,季刚,卢志刚,孙飞. Владелец: Institute of Biophysics of CAS. Дата публикации: 2022-03-01.

Scanning image restoration method and system for scanning electron microscope at high temperature

Номер патента: CN110400279B. Автор: 唐亮,张泽,张跃飞,张宜旭. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-08-04.

METHOD AND SYSTEM FOR REGISTERING CIRCUIT DESIGN LAYOUT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, CIRCUIT DESIGN LAYOUT AND IMAGING ERROR CALCULATION METHOD THEREOF, AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20220092799A1. Автор: Li Qiang,YAN Ge. Владелец: SHENZHEN JINGYUAN INFORMATION TECHNOLOGY CO.,LTD. Дата публикации: 2022-03-24.

It is a kind of for measuring the device of scanning electron microscope electron beam current

Номер патента: CN109283377A. Автор: 刘梅. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-01-29.

Laser measurement method for vibration displacement of filament and gun tip of scanning electron microscope electron gun

Номер патента: CN111982266B. Автор: 彭朝琴,孙郑义. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-06-28.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: WO2020154976A1. Автор: 李强,闫歌. Владелец: 深圳晶源信息技术有限公司. Дата публикации: 2020-08-06.

METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE

Номер патента: US20130221217A1. Автор: Kuwabata Susumu,Konomi Mami,Shiono Masamichi,Nishimura Masako. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-29.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND A METHOD FOR IMAGING A SPECIMEN USING THE SAME

Номер патента: US20140145078A1. Автор: Matsuoka Ryoichi,Morokuma Hidetoshi,Miyamoto Atsushi,Nagatomo Wataru. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP6768289B2. Автор: 直樹 小原,小原　直樹,山本　亮,亮 山本. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-10-14.

A kind of fibre bundle scanning electron microscope home position stretch analysis sample preparation apparatus

Номер патента: CN110470532A. Автор: 王占彬,余小斌,范金娟,魏振伟. Владелец: AECC BEIJING INSTITUTE OF AERONAUTICAL MATERIALS. Дата публикации: 2019-11-19.

Preparation method and application of cross-section scanning electron microscope sample of lithium battery material

Номер патента: CN112730490A. Автор: 王明,李长东,陈若葵,巩勤学,谢堂锋,蒋快良,蔡罗蓉. Владелец: Hunan Bangpu Automobile Circulation Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-30.

A method of improving pedotheque scanning electron microscope observation electric conductivity

Номер патента: CN108344885A. Автор: 李娟�,李玲,曹婷婷,葛磊,朱德强,郭航,王荧. Владелец: Shaanxi Land Engineering Technology Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2018-07-31.

The observation method of ordinary optical, fluorescence and scanning electron microscope to same cellular morphology

Номер патента: CN108918518A. Автор: 张鑫,张国云,赵忠,李登武,裴国亮,匡顺,贾智硕,罗美青. Владелец: NORTHWEST A&F UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-11-30.

Method for preparing rice planthopper salivary sheath scanning electron microscope sample

Номер патента: CN109613034B. Автор: 孙洋,刘宝生,方继朝,纪锐,鞠佳菲. Владелец: Jiangsu Academy of Agricultural Sciences. Дата публикации: 2021-06-01.

The method that staphylococcus aureus scanning electron microscope sample is quickly prepared

Номер патента: CN106198135A. Автор: 罗敏,潘超,付杰,童瑶,茆灿泉,宋明珠,程琪森,毕振飞. Владелец: Chengdu University. Дата публикации: 2016-12-07.

Optical zoom system for a light scanning electron microscope

Номер патента: US7488931B2. Автор: Ralf Wolleschensky,Michael Goelles,Joerg Steinert,Kristina Uhlendorf. Владелец: Carl Zeiss Jena GmbH. Дата публикации: 2009-02-10.

Method for observing sample without conducting layer on surface by using scanning electron microscope

Номер патента: CN113758955A. Автор: 刘小梅,杨詠钧,杨培华,谢忠诚,钟红花. Владелец: TPK Touch Solutions Xiamen Inc. Дата публикации: 2021-12-07.

Light/force/electric coupling testing device based on scanning electron microscope in-situ mechanical testing system and testing method thereof

Номер патента: CN108051614B. Автор: 郑学军,董辉,赵为,李升峰,彭金峰. Владелец: XIANGTAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-03-24.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR100478482B1. Автор: 배은한. Владелец: 동부아남반도체 주식회사. Дата публикации: 2005-03-28.

Fatigue loading device for in-situ observation of scanning electron microscope

Номер патента: CN111141766A. Автор: 陈刚,林强,冯少武. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-12.

Quasi-static in-situ biaxial stretching mechanical property testing device under scanning electron microscope

Номер патента: CN113155619B. Автор: 赵宏伟,李伟智,刘长宜,何鑫宇,黄令帅,李鸣鹤,马嵩宁,牟禹安. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2022-06-07.

A kind of mud shale scanning electron microscopic picture hole extracting method and system

Номер патента: CN110211144A. Автор: 王民,薛海涛,卢双舫,曾芳,陈方文,李吉君,赵日新,田善思. Владелец: China University of Petroleum East China. Дата публикации: 2019-09-06.

Method for calibrating critical dimension scanning electron microscope machine

Номер патента: CN112629461A. Автор: 李卫. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2021-04-09.

Method of three-dimensional reconstruction of surface of sample using images obtained using raster electronic microscope

Номер патента: RU2704390C2. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Александр Юрьевич Кузин,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2019-10-28.

Scanning electron microscope

Номер патента: MY128346A. Автор: Sudraud Pierre,Corbin Antoine,Sailer Rainer,Bate David John. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2007-01-31.

Method for tomographic sample analysis in scanning electron microscope

Номер патента: RU2453946C1. Автор: Глеб Сергеевич Жданов. Владелец: Глеб Сергеевич Жданов. Дата публикации: 2012-06-20.

Method to prepare samples of microorganisms biofilms for survey in scanning electronic microscope

Номер патента: RU2484446C1. Автор: Зинаида Степановна Науменко,Руфина Юрьевна Очеретина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова" Министерства здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-06-10.

Method of preparing a cross-sectional sample of a scanning electron microscope

Номер патента: KR960026065A. Автор: 김경수,조경익,남산. Владелец: 재단법인 한국전자통신연구소. Дата публикации: 1996-07-20.

Stero scanning electron microscopy

Номер патента: CA1052011A. Автор: Duane C. Holmes. Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1979-04-03.

Magnetic immersion lens for emission electron microscope

Номер патента: RU2572806C1. Автор: Алексей Алексеевич Исаев. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина"). Дата публикации: 2016-01-20.

Method for preparing blood preparation for electron-microscopic investigation

Номер патента: RU2273027C1. Автор: Людмила Витальевна Астахова,Елена Станиславовна Головнева,Ольга Геннадьевна Бондаренко,Станислав Юрьевич Белоусов. Владелец: Государственное учреждение "Челябинский государственный институт лезерной хирургии". Дата публикации: 2006-03-27.

Apparatus for determining magnification on electron micrographs during electron microscope analysis

Номер патента: RU2482443C2. Автор: Алексей Николаевич Евсеев,Константин Валерьевич Тимофеев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный государственный медицинский университет" Министерство здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-05-20.

Supplement to method and apparatus for extending a scanning electron microscope to an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AUPR522301A0. Автор: . Владелец: Danilatos G D. Дата публикации: 2001-06-14.

Method for adjusting electron beam axis of scanning electron microscope and scanning electron microscope

Номер патента: JP4728173B2. Автор: 良一 石井,賢一 平根,智久 大瀧,陽久 高畑. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-07-20.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PROCESSING AN IMAGE OBTAINED BY THE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120126117A1. Автор: Honda Toshifumi,Miyamoto Atsushi,Nakahira Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

MICROTOME UTILIZING A MOVABLE KNIFE IN A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120223228A1. Автор: Galloway Simon. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2012-09-06.

Scanning Electron Microscope Optical Condition Setting Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20120318977A1. Автор: Wang Zhigang,Fukaya Ritsuo,Okai Nobuhiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-20.

Evaluation method for scanning electron microscope apparatus and evaluation apparatus for scanning electron microscope apparatus

Номер патента: JP6264007B2. Автор: 真也 森▲崎▼. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2018-01-24.

Method and apparatus for extending a scanning electron microscope to an enviornmental scanning electron microscope

Номер патента: AUPR513001A0. Автор: . Владелец: Danilatos G D. Дата публикации: 2001-06-14.

Scanning electron microscope for visualization of wet samples

Номер патента: ZA88194B. Автор: Alan C Nelson,C Nelson Alan. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1988-08-31.

Scanning electron microscopes

Номер патента: GB9326053D0. Автор: . Владелец: UK Secretary of State for Trade and Industry. Дата публикации: 1994-02-23.

High-pressure scanning electron microscope

Номер патента: PL329339A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2000-04-25.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU2001277393A1. Автор: Gerasimos Daniel Danilatos. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-23.

Detector system for a scanning electron microscope

Номер патента: CA917825A. Автор: V. Crewe Albert. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1972-12-26.

Scanning electron microscope for visualization of wet samples

Номер патента: IL85070A0. Автор: . Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1988-06-30.

Semiconductor device testing structure used in detecting image of a scanning electron microscope

Номер патента: TW444315B. Автор: Chuen-Ming Liou. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2001-07-01.

Scanning electron microscope for visualization of wet samples

Номер патента: IL85070A. Автор: . Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1991-09-16.

Scanning vibration estimator for scanning electron microscope

Номер патента: JP2914970B2. Автор: 文伸 古村,弘一 本間,孝 飯泉,晃 加賀美,寿宏 古屋. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-07-05.

Electron Beam Irradiation Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20130009057A1. Автор: . Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-01-10.

High-temperature secondary electronic detector collection assembly and high-temperature scanning electron microscope

Номер патента: CN103594310A. Автор: 孙占峰. Владелец: KYKY TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-19.

Control device and control method for electron gun used in scanning electron microscope and the like

Номер патента: JP4801451B2. Автор: 茂 川俣,浩之 小室. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-10-26.

Scanning electron microscope electron back scattering diffraction in-situ stretching device and measuring method

Номер патента: CN101158629B. Автор: 张泽,张跃飞,韩晓东,毛圣成. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2010-06-02.

Device for registering non-elastically reflected electrons in scanning electrone microscope

Номер патента: SU1265887A1. Автор: Виталий Васильевич Аристов,Вячеслав Васильевич Казьмирук. Владелец: Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов АН СССР. Дата публикации: 1986-10-23.

Scanning electron microscope, emission electron detection value estimation method, SEM image simulation method, and program thereof

Номер патента: JP5289912B2. Автор: 岳志 大塚. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-09-11.

Electron detector for scanning electronic microscope

Номер патента: JPS5517910A. Автор: Masahiko Kuwata. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1980-02-07.

Ring-shaped electron detector and scanning electron microscope

Номер патента: CN217466746U. Автор: 张松涛,李晓昂,杨润潇. Владелец: Huiran Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-09-20.

Multiplier electron collector of scanning electron microscope

Номер патента: SU1056309A1. Автор: Юрий Сергеевич Смирнов,Борис Никитович Васичев,Анатолий Александрович Камунин. Владелец: Предприятие П/Я А-7638. Дата публикации: 1983-11-23.

Electron beam device, and environmental control type scanning electron microscope

Номер патента: JPH11185682A. Автор: Tetsuo Sato,徹郎 佐藤. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1999-07-09.

Automatic position setter for reflective electron beam detector in scanning electronic microscope

Номер патента: JPS5568059A. Автор: Toshiyuki Uemae. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1980-05-22.

Scanning electron microscope and electron beam axis adjusting method therefor

Номер патента: JP2007329034A. Автор: Ryoichi Ishii,良一 石井,Kenichi Hirane,賢一 平根,智久 大瀧,陽久 高畑,Tomohisa Otaki,Akihisa Takahata. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2007-12-20.

Electron beam irradiation apparatus and scanning electron microscope apparatus

Номер патента: JP2003229086A. Автор: Taketoshi Watanabe,Mitsuru Otsuka,満 大塚,壮俊 渡邊. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2003-08-15.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120061566A1. Автор: . Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-15.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, EVALUATION POINT GENERATING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20120104251A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-03.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING DIMENSIONS OF PATTERNS FORMED ON SEMICONDUCTOR DEVICE BY USING THE SYSTEM

Номер патента: US20120112067A1. Автор: Miyamoto Atsushi,Tanaka Maki,Shishido Chie. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-10.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120127299A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120145899A1. Автор: Matsumoto Kenji. Владелец: HONDA MOTOR CO., LTD. Дата публикации: 2012-06-14.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD

Номер патента: US20120153145A1. Автор: Shinada Hiroyuki,Komuro Osamu,Kimura Yoshinobu,Cheng Zhaohui,KOYAMA Hikaru. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-21.

Scanning Electron Microscope and a Method for Imaging a Specimen Using the Same

Номер патента: US20120181426A1. Автор: Matsuoka Ryoichi,Morokuma Hidetoshi,Miyamoto Atsushi,Nagatomo Wataru. Владелец: . Дата публикации: 2012-07-19.

METHOD AND SYSTEM FOR ENHANCING RESOLUTION OF A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120241605A1. Автор: Shemesh Dror. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-27.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120298865A1. Автор: Tanaka Junichi,Hitomi Keiichiro,Nakayama Yoshinori,Omori Seiko. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-29.

SYSTEM AND METHOD FOR ELECTROMAGNETIC INTERFERECE SHIELDING FOR CRITICAL DIMENSION-SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20130001419A1. Автор: Yu Chwen,Tsao Chia-Chi,Jhan Syun-Jie,Shih Yi-Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-01-03.

COMBINE APPARATUS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ENERGY DISPERSIVE X-RAY SPECTROSCOPY

Номер патента: US20130070900A1. Автор: LEE JUN-HEE. Владелец: COXEM CO., LTD.. Дата публикации: 2013-03-21.

Transparent type scanning electronic microscope

Номер патента: JPS52130277A. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-11-01.

Mechanical testing platform for in-situ tension/compression materials under scanning electronic microscope based on quasi-static loading

Номер патента: CN102359912B. Автор: 赵宏伟,黄虎,胡晓利,马志超,李秦超,王开厅,万顺光. Владелец: Jilin University. Дата публикации: 2013-09-18.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP4613405B2. Автор: 直正 鈴木,貢 佐藤,紀明 荒井,俊郎 久保. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-01-19.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP3494152B2. Автор: 秀男 戸所,真 江角. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-02-03.

Scanning electron microscope or similar device

Номер патента: JPS6410556A. Автор: Kimio Kanda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-01-13.

Substrate holder and scanning electron microscope device

Номер патента: JP6994437B2. Автор: 裕貴 鹿山. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-01-14.

Probe in-situ electrical characteristics measuring apparatus for use by scanning electron microscopes

Номер патента: CN2751297Y. Автор: 窦艳,顾长志,郭烈阳. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2006-01-11.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPH11111211A. Автор: Hiroyoshi Kazumori,啓悦 数森. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1999-04-23.

Fixing device for scanning electron microscope test of fibers and test method

Номер патента: CN105158050A. Автор: 陈明,郭伟,韩雪梅,李卫平,杨红伟,刘明虹,孙炳君,胡玉霞,温禹,李兴灵,乔蕊,贾力伟. Владелец: Research Institute of Physical and Chemical Engineering of Nuclear Industry. Дата публикации: 2015-12-16.

Scanning electron microscope specimen grip that can throw light on holds device

Номер патента: CN205303412U. Автор: 陈永生,梁刚,王建永. Владелец: Heilongjiang University of Science and Technology. Дата публикации: 2016-06-08.

Device for reading and adjusting magnification in scanning electrone microscope

Номер патента: SU1042108A1. Автор: Михаил Дмитриевич Давиденко,Виктор Гаврилович Веприк,Вениамин Иосифович Удальцов,Павел Алексеевич Павленко,Владимир Константинович Остапов,Иван Алексеевич Бульба. Владелец: Сумский Завод Электронных Микроскопов Им.50-Летия Влксм. Дата публикации: 1983-09-15.

Device for processing image signals in scanning electron microscope

Номер патента: SU1742897A1. Автор: Александр Александрович Камалягин,Олег Леонидович Куляс,Василий Алексеевич Плешивцев. Владелец: Самарский электротехнический институт связи. Дата публикации: 1992-06-23.

Electric field emission type scanning electron microscope

Номер патента: JPH01186743A. Автор: Noriyuki Okada,則幸 岡田. Владелец: Sanyo Electric Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS5291361A. Автор: Nobuaki Tamura. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1977-08-01.

High-precision method for preparing scanning electron microscope sample

Номер патента: CN103293047B. Автор: 张志清. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2015-07-01.

Method for photorecording of video signal in scanning electron microscope

Номер патента: SU1677733A1. Автор: Михаил Аншелевич Кипнис. Владелец: Предприятие П/Я А-7359. Дата публикации: 1991-09-15.

Scanning electron microscope with monochromator

Номер патента: JP4071473B2. Автор: 秀男 戸所,正 大高,洋一 小瀬,篤 小原,俊陸 田谷. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-04-02.

Image display method in scanning electron microscope

Номер патента: JPH1064469A. Автор: Mitsugi Yamada,貢 山田. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-03-06.

Low-vacuum atmosphere type scanning electron microscope

Номер патента: JPH1040850A. Автор: Hiromasa Suzuki,Mitsuo Akatsu,祐博 伊東,Masuhiro Ito,光男 赤津,Norifumi Yukita,憲史 雪田,宏征 鈴木. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 1998-02-13.

Exposed out-of-focus SEM (Scanning Electron Microscope) detection device and detection method thereof

Номер патента: CN102830594B. Автор: 王剑. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2015-02-11.

Evaluation method and evaluation apparatus for scanning electron microscope apparatus

Номер патента: JP5034570B2. Автор: 勲 米倉. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2012-09-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS54149567A. Автор: Yoshihiro Hirata. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1979-11-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS62186451A. Автор: Mitsugi Sato,貢 佐藤,Yasushi Nakaizumi,泰 中泉. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-08-14.

Scanning electron microscope

Номер патента: CN205209995U. Автор: 张玉祥,崔耀晨. Владелец: Kunshan Guoxian Photoelectric Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-04.

Specimen holder in use for scanning electron microscope

Номер патента: CN100359662C. Автор: 陈强,陈险峰,秦立勇,邹丽君. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2008-01-02.

Scanning electron microscope stores up appearance box

Номер патента: CN204871946U. Автор: 舒卓慧. Владелец: Quzhou Zhuohui Planning And Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP3678910B2. Автор: 篤 山田. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-08-03.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP5075393B2. Автор: 紀明 荒井,智一 島倉,道夫 波田野. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-11-21.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPS62229747A. Автор: Kimio Kanda,神田　公生. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-10-08.

A kind of method for making sample in the micron-size spherical particles section for scanning electron microscopic observation

Номер патента: CN109946330A. Автор: 唐静,郝婷婷,赵秀阁,李金霞,周丽绘,江仟仟. Владелец: EAST CHINA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-06-28.

Cooling holder and scanning electron microscope

Номер патента: JP3926103B2. Автор: 木 武 雄 鈴,部 隆 服. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2007-06-06.

Objective lens for scanning electronic microscope or the like

Номер патента: JPS54122970A. Автор: Masaji Kikuchi,Seiichi Nakagawa. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1979-09-22.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP3494208B2. Автор: 秀男 戸所,正 大高. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-02-09.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP6199333B2. Автор: 輝昭 大野. Владелец: 株式会社 テクネックス工房. Дата публикации: 2017-09-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP4004490B2. Автор: 治郎 等松. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2007-11-07.

Heater for scan electron microscope

Номер патента: JPS55155456A. Автор: Masayoshi Tanaka,Kazuo Kuwabara,Akito Nitsuta,Sadayuki Hakamata. Владелец: INSUTORON JAPAN CO Ltd. Дата публикации: 1980-12-03.

Nano indentation system based on scanning electron microscope

Номер патента: CN101793911A. Автор: 张泽,张跃飞,韩晓东,岳永海. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2010-08-04.

Differential exhaust scanning electron microscope

Номер патента: JP4855135B2. Автор: 良一 石井,賢一 平根,智久 大瀧,陽久 高畑. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-01-18.

Sample fixing method for low vacuum scanning electron microscope and apparatus

Номер патента: JPH1116529A. Автор: Takeo Suzuki,Toru Tagawa,Masao Wada,徹 多川,猛夫 鈴木,正夫 和田. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1999-01-22.

Powder sample preparation device for scanning electron microscope

Номер патента: CN202793870U. Автор: 陈新,朱荣华,陈基伟,朱光明,黄世俊,罗建峰,陈银桂. Владелец: Shaxian Hongsheng Plastic Co Ltd. Дата публикации: 2013-03-13.

Transmittion style scanning electron microscope

Номер патента: JPS5272564A. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-06-17.

Using thermal compound as adhesive and heat-conducting composition when analysing biological samples on scanning electron microscope using freezing attachments

Номер патента: RU2445660C2. Автор: Андрей Сергеевич Рябченко,Александр Валентинович Бабоша. Владелец: Александр Валентинович Бабоша. Дата публикации: 2012-03-20.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPH11317188A. Автор: Tadashi Otaka,Hideo Todokoro,秀男 戸所,正 大高. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-11-16.

Manufacturing method for sample suitable for observation of unconventional oil and gas by ten-thousand-time scanning electron microscope

Номер патента: CN103528869A. Автор: 王磊,柴智,李晓敏,刘乐,张玉广,吴文娟,徐蕾,师永民,秦小双,师锋,郭馨蔚,吴洛菲,熊文涛,师春爱,方媛媛,师翔,师俊峰,师巍锋,盛英帅,杜书恒. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-01-22.

Autofocus method of scanning electron microscope

Номер патента: JP2779048B2. Автор: 貢 山田. Владелец: NIPPON DENSHI KK. Дата публикации: 1998-07-23.

Sample device of scanning electron microscope

Номер патента: JPH10162764A. Автор: Nobuaki Tamura,伸昭 田村. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-06-19.

Nano-wire in-situ stretching device in scanning electron microscope and method therefor

Номер патента: CN100590412C. Автор: 张泽,张跃飞,韩晓东. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2010-02-17.

Level difference measuring method, level difference measuring apparatus, and scanning electron microscope apparatus

Номер патента: JP5458625B2. Автор: 勲 米倉,秀充 波木井. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2014-04-02.

Scanning electron microscope damping sample box

Номер патента: CN204760349U. Автор: 舒卓慧. Владелец: Quzhou Zhuohui Planning And Innovation Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-11.

The scanning electron microscope example disposal route of a kind of insect feeler and appendage

Номер патента: CN103868768B. Автор: 王瑛,李国平,邱峰,黄建荣,高丽娜,田彩红,封洪强,胡永敏. Владелец: Institute of Plant Protection of Henan Academy of Agricultural Sciences. Дата публикации: 2016-03-09.

Test structure for calibrating object tables of scanning electron microscopes in nanometre range

Номер патента: RU2462725C1. Автор: Николай Васильевич Алексеев,Николай Иванович Боргардт,Антон Андреевич Маляров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Национальный исследовательский университет (МИЭТ). Дата публикации: 2012-09-27.

A objective table for among scanning electron microscope detection device

Номер патента: CN205564704U. Автор: 王兵,廖晓玲,陈涛,汪宏,刘延雷. Владелец: Hangzhou Special Equipment Detects Research Institute. Дата публикации: 2016-09-07.

Scanning electron microscope

Номер патента: JPH01134846A. Автор: 長生 宮崎,Osao Miyazaki. Владелец: Nihon Denshi Kogyo KK. Дата публикации: 1989-05-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP2870894B2. Автор: 護 中筋,正平 鈴木,弘泰 清水,智司 今野. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 1999-03-17.

Method for decreasing error measurement in on-line scanning electronic microscope

Номер патента: CN101286467B. Автор: 肖慧敏. Владелец: Shanghai Integrated Circuit Research and Development Center Co Ltd. Дата публикации: 2012-07-04.

Method of measuring fine line width of scanning electron microscope

Номер патента: KR19980078435A. Автор: 양경모. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 1998-11-16.

Biological sample preparation method for scanning electron microscope and biological sample observation method

Номер патента: JP3053731B2. Автор: 武雄 鈴木,正彦 木元. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2000-06-19.

Treatment method of scanning electron microscope samples of insect tentacles and appendages

Номер патента: CN103868768A. Автор: 王瑛,李国平,邱峰,黄建荣,高丽娜,田彩红,封洪强,胡永敏. Владелец: Institute of Plant Protection of Henan Academy of Agricultural Sciences. Дата публикации: 2014-06-18.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.