Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Analysis electron microscope

Номер патента: US20010045515A1
Опубликовано: 29-11-2001
Автор(ы): Shigeto Isakozawa, Wataru Shimoyama, Yuji Sato
Принадлежит: HITACHI LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: WO2000011702A1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2000-03-02.

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: EP1110232A1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2001-06-27.

Automated set up of an energy filtering transmission electron microscope

Номер патента: EP1110232B1. Автор: John Andrew Hunt,Henri Adriaan Brink,Michael Karl Kundmann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2009-11-25.

Analytical electron microscope

Номер патента: GB8812709D0. Автор: . Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1988-06-29.

Field-emission scanning auger electron microscope

Номер патента: US4698502A. Автор: James K. Gimzewski,Johannes G. Bednorz,Bruno Reihl. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1987-10-06.

Quantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: US4559450A. Автор: Vivian N. E. Robinson,Nicholas G. Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1985-12-17.

Method and system for aligning images of sample layers obtained using a scanning electron microscope with a focused ion beam

Номер патента: RU2743231C1. Автор: Илья Владимирович Сафонов,Иван Викторович Якимчук,Ирина Анатольевна Реймерс. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2021-02-16.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US09557253B2. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2017-01-31.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP3931853A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Jr. John Damiano,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-01-05.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20210235021A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-07-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20210112203A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-04-15.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11399138B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-07-26.

Multi-beam electron microscope for electron channeling contrast imaging of semiconductor material

Номер патента: US09741532B1. Автор: Devendra K. Sadana,Stephen W. Bedell,John A. Ott,Brent A. Wacaser,Kunal Mukherjee. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US12010430B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20240196094A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2021034569A3. Автор: Daniel Stephen GARDINER,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Jr. John Damiano,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2021-04-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20220408024A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-12-22.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11477388B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-10-18.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US10986279B1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2021-04-20.

Electron microscope and elemental mapping image generation method

Номер патента: US09627175B2. Автор: Akira Yasuhara,Masaki Morita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP4414698A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-08-14.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7057184B1. Автор: Matthew J. Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2006-06-06.

Electron microscope, aberration correction method, and imaging method

Номер патента: EP4415021A1. Автор: Motofumi Saitoh,Ryusuke Sagawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Electron Microscope, Aberration Correction Method, And Imaging Method

Номер патента: US20240274402A1. Автор: Motofumi Saitoh,Ryusuke Sagawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Method of quantitative three-dimensional reconstruction of a sample surface in a scanning- electron microscope

Номер патента: RU2657000C1. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2018-06-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20200402760A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-12-24.

A scanning electron microscope

Номер патента: EP1547121A1. Автор: Matthew James Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2005-06-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20060138324A1. Автор: Matthew Kershaw. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 2006-06-29.

A scanning electron microscope

Номер патента: WO2004030018A1. Автор: Matthew James Kershaw. Владелец: EASTMAN KODAK COMPANY. Дата публикации: 2004-04-08.

Electron microscope and method of measuring aberrations

Номер патента: US09779911B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Electron microscope

Номер патента: US09773639B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Method and system for electron microscope with multiple cathodes

Номер патента: US09464998B2. Автор: Ahmed H. Zewail,John Spencer Baskin,Haihua Liu. Владелец: California Institute of Technology. Дата публикации: 2016-10-11.

Method for imaging with a scanning electron microscope and scanning electron microscope for carrying out the method

Номер патента: US20240290574A1. Автор: Daniel Fischer,Bernd Schindler,Andreas Schmaunz. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-29.

Scanning Electron Microscope Objective Lens Calibration

Номер патента: US20190004298A1. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: EP3635468A1. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Electron detection unit and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010008307A3. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2010-08-19.

Inspection device using scanning electron microscope

Номер патента: US20040144928A1. Автор: Tadashi Hattori,Tetsuo Abe,Setsuo Norioka,Minoru Takeda,Seiichi Nakagawa,Hironori Fujita,Toshiaki Miyokawa,Naoki Date,Kouki Okawauchi,Yuichi Ak. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-29.

Electron microscope, multipole element for use therein, and control method for such electron microscope

Номер патента: EP4362055A3. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327A4. Автор: Kenneth H Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2005-12-07.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327B1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2012-02-01.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: WO1999066529A1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 1999-12-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20210391142A1. Автор: Wei He,Sha Liu. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: WO2016013930A1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-01-28.

3d imaging system of scanning electron microscope

Номер патента: LU501201B1. Автор: Liang Tang. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-07-05.

Electron detection unit and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010008307A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2010-01-21.

Electron microscope equipped with automatic beam alignment

Номер патента: US20200161086A1. Автор: Jung Bum CHUN. Владелец: EMCRAFTS Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Method for measuring information transfer limit in transmission electron microscope, and transmission electron microscope using the same

Номер патента: EP1918964A3. Автор: Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-04-16.

Ultimate analyzer, scanning transmission electron microscope and ultimate analysis method

Номер патента: US20030085356A1. Автор: Hiroyuki Tanaka,Takashi Aoyama,Kazutoshi Kaji,Shigeto Isakozawa,Shunroku Taya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-08.

Holder assembly for cooperating with a nanoreactor and an electron microscope

Номер патента: US09812285B2. Автор: Pleun Dona,Luigi Mele. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-11-07.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US09583299B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09472376B2. Автор: Hiroshi Makino,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Toshiyuki Yokosuka,Yoshinori Momonoi,Miki Isawa,Chahn Lee,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Specimen holder for an electron microscope and device and method for mounting a specimen in an electron microscope

Номер патента: WO1996020495A3. Автор: Hendrik Willem Zandbergen,Van Voorst Andre Latenstein,Cornelis Westra,Gerardus Hendrikus Hoveling. Владелец: Stichting Tech Wetenschap. Дата публикации: 1996-09-06.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: EP1088327A1. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2001-04-04.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: WO1999066529A9. Автор: Kenneth H Downing. Владелец: Univ California. Дата публикации: 2000-03-23.

Electron microscope

Номер патента: EP1585165A3. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-03-12.

Electron microscope using artificial intelligence training data

Номер патента: US20220199360A1. Автор: Junhee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

Scanning Electron Microscope Optical Condition Setting Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20120318977A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-12-20.

Specimen box for electron microscope capable of observing general specimen and live cell

Номер патента: EP1796133A3. Автор: Chih-Yu Chao,Wen-Jiunn Hsien. Владелец: Lee Bing-Huan. Дата публикации: 2007-09-19.

Tool-To-Tool Matching Control Method And Its System For Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110278453A1. Автор: Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-11-17.

Electron microscope device

Номер патента: CA2743374C. Автор: Hirotaka Tanaka,Hisashi Isozaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2014-04-29.

Spin-polarized scanning electron microscope

Номер патента: US20240249911A1. Автор: Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Makoto Kuwahara,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2023147406A2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,Franklin Stampley WALDEN II,David P. Nackashi,Mark Uebel,John DAMIANO JR.,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L MARTHE JR.. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2023-08-03.

Electron microscope

Номер патента: WO2022199721A1. Автор: Shuai Li,Shizuo QU,Jichuang HU. Владелец: Focus E-Beam Technology Pte. Ltd.. Дата публикации: 2022-09-29.

Electron-microscopic image viewing system

Номер патента: US4866273A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Shoji Kamimura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-09-12.

User interface for an electron microscope

Номер патента: EP2024732A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

User interface for an electron microscope

Номер патента: WO2007143734A3. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Leeuwen Hugo Van,Koen Arnoldus Wilhelm Driessen,Johannes Antonius Hend Persoon. Владелец: Johannes Antonius Hend Persoon. Дата публикации: 2008-05-22.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Johannes A.H.W.G. Persoon,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

User interface for an electron microscope

Номер патента: WO2007143734A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus Gerardus Persoon,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2007-12-13.

A scanning electron microscope

Номер патента: WO2009051333A1. Автор: Jong-Hyun Kim,In-Kyu Lee,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Sec Co., Ltd.. Дата публикации: 2009-04-23.

Interferometric electron microscope

Номер патента: EP3699949A1. Автор: Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2020-08-26.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: WO2007143737A3. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Leeuwen Hugo Van,Koen Arnoldus Wilhelm Driessen,Johannes Antonius Hend Persoon. Владелец: Johannes Antonius Hend Persoon. Дата публикации: 2008-04-10.

Transmission electron microscope and method of displaying spectral image

Номер патента: EP2256780A3. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2010-12-29.

Electron microscope

Номер патента: US20230028903A1. Автор: Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-26.

Charged Particle Beam Device, Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20170221676A1. Автор: Yasuhira Nagakubo,Takeshi Sunaoshi,Kazutaka Nimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: WO2023147406A3. Автор: Daniel Stephen GARDINER,Franklin Stampley WALDEN II,David P. Nackashi,Mark Uebel,John DAMIANO JR.,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L MARTHE JR.. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2023-11-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20230109853A1. Автор: Daisuke Kubota,Naoya Saitoh. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Scanning electron microscope and similar apparatus

Номер патента: US20090294665A1. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-12-03.

Electron Microscope

Номер патента: US20180301315A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-10-18.

Scanning electron microscope and calculation method for three-dimensional structure depth

Номер патента: US20200234916A1. Автор: Makoto Suzuki,Kenji Yasui,Toshiyuki Yokosuka,Yusuke Abe,Daisuke Bizen,Mayuka Osaki,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-07-23.

Magnetization device for an electron microscope and method

Номер патента: EP4388573A1. Автор: Helmut Soltner,Michael Schaaf,Amir Hossein Tavabi,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Maximilian KRUTH. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-06-26.

Magnetization device for an electron microscope and method

Номер патента: US20240258064A1. Автор: Helmut Soltner,Michael Schaaf,Amir Hossein Tavabi,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Maximilian KRUTH. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7755045B2. Автор: Shinichi Tomita,Sukehiro Ito,Junichi Katane,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-13.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150014531A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Hideyuki Kazumi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-01-15.

Electron microscope for magnetic field measurement and magnetic field measurement method

Номер патента: US20190295817A1. Автор: Akira Sugawara,Tetsuya Akashi,Toshiaki Tanigaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-26.

Electron microscope and image generation method

Номер патента: EP4120316A1. Автор: Motohiro Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-18.

Scanning Electron Microscope and Objective Lens

Номер патента: US20230014270A1. Автор: Motohiro Nakamura,Takeyuki Kobayashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20120187293A1. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Wataru Inami. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-07-26.

Scanning electron microscope and apparatus for detecting defect

Номер патента: US20070187598A1. Автор: Ichiro Tachibana,Muneyuki Fukuda,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Portable electron microscope using micro-column

Номер патента: EP1794773A1. Автор: Ho Seob Kim,Byeng Jin Kim. Владелец: CEBT Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-13.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090057555A1. Автор: Kuo-Hsing Teng,Yang-Kuao Kuo. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-05.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP1290714A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd CUTS. Дата публикации: 2003-03-12.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2001067483A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd.. Дата публикации: 2001-09-13.

Control Method for Electron Microscope and Electron Microscope

Номер патента: US20210074506A1. Автор: Mitsuru Koizumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: US20230207254A1. Автор: Alexander Henstra,Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-06-29.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: US20240272099A1. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-15.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: EP4423791A2. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-04.

Transmission electron microscope provided with electronic spectroscope

Номер патента: EP1965407A3. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2010-01-27.

Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization

Номер патента: US11170972B2. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-11-09.

Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization

Номер патента: US20200402762A1. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: US20100252734A1. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: SEC Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-07.

Power supply for electron gun and electron microscope having the same

Номер патента: WO2009054605A4. Автор: Jong-Hyun Kim,Heung-Bok Kim,Kyeong-Il Kwak,Byung-Chul Jeon. Владелец: Byung-Chul Jeon. Дата публикации: 2009-06-11.

Apparatus of measuring the orientation relationship between neighbouring grains using a gonimeter in a transmission electron microscope and method for revealing the characteristics of grain boundaries

Номер патента: EP2148190A3. Автор: In Soo Kim,Hyun Uk Hong,Baig Gyu Choi,Chang Yong Jo,Young Soo Yoo,Hi Won Jeong,Seong Moon Seo. Владелец: Korea Institute of Machinery and Materials KIMM. Дата публикации: 2011-02-23.

Transmission electron microscope

Номер патента: US20060255273A1. Автор: Hiroto Kasai,Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-11-16.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20240267628A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L. Marthe, JR.. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Electron microscope for examining a specimen

Номер патента: US20240302304A1. Автор: Moritz Becker,Eugen Foca. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Scanning electron microscope and sample observation method

Номер патента: US09991092B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Hiroyuki Shinada,Hikaru Koyama,Osamu Komuro,Zhaohui Cheng. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

User interface for an electron microscope

Номер патента: US09865427B2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Martinus Petrus Maria Bierhoff,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W. G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-01-09.

Vacuum tube electron microscope

Номер патента: US09859097B2. Автор: Manu Prakash,R. Fabian W. Pease,Alireza Nojeh,James Stanley CYBULSKI. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2018-01-02.

Electron microscope and measurement method

Номер патента: US09859095B2. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Device for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US09818578B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Electron microscope and method of operating same

Номер патента: US09685302B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

Electron microscope

Номер патента: US09679738B2. Автор: Takeshi Sato,Hiroaki Matsumoto,Yoshifumi Taniguchi,Ken Harada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Transmission electron microscope

Номер патента: US09595416B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Electron microscope and method of adjusting same

Номер патента: US09589761B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Microreactor for a transmission electron microscope and heating element and method of manufacture thereof

Номер патента: US09548184B2. Автор: Jan Fredrik Creemer,Hendrik Willem Zandbergen,Pasqualina Maria Sarro. Владелец: Stichting voor de Technische Wetenschappen STW. Дата публикации: 2017-01-17.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09536703B2. Автор: Hideo Morishita,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09305745B2. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-04-05.

Electron microscope and method for transmission electron microscopy imaging of sample arrays

Номер патента: EP3169986A1. Автор: Claude Dufresne,Holger Eickhoff. Владелец: Scienion GmbH. Дата публикации: 2017-05-24.

Autofocus method for a scanning electron microscope

Номер патента: US20210027979A1. Автор: Daisuke Kubota. Владелец: Tasmit Inc. Дата публикации: 2021-01-28.

Pole piece incorporating optical cavity for improved phase-contrast in electron microscope imaging

Номер патента: EP4391007A1. Автор: Pleun Dona,Bart Buijsse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-26.

Sample Observation Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20080283750A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

High resolution, low energy electron microscope for providing topography information and method of mask inspection

Номер патента: WO2023072919A3. Автор: Daniel Schwarz,Michael Schnell,Nicole Auth. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

Electron Microscope

Номер патента: US20240242923A1. Автор: Michiko Suzuki,Yudai KUBO. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20020185599A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120211654A1. Автор: Toru Iwaya,Haruhiko Hatano,Tomohisa Ohtaki,Sakae Kobori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-08-23.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11514586B1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Nelson L Marthe, Jr.,Benjamin Bradshaw Larson. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-11-29.

Transmission electron microscope

Номер патента: US7319225B2. Автор: Hiroto Kasai,Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-01-15.

Method and systems for balancing charges on a surface of an object comprising integrated circuit patterns in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024184078A2. Автор: Thomas Korb. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Electron microscope

Номер патента: US09754763B2. Автор: Toshiyuki Oyagi,Takafumi Yotsuji. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Analysis method using electron microscope, and electron microscope

Номер патента: US09748073B2. Автор: Takashi Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09466458B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection system using scanning electron microscope

Номер патента: US8890067B2. Автор: Young-Gil Park,Won-Bong Baek,Ki-Won Oh. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-18.

Method for characterization of a sample surface by using scanning electron microscope and scanning probe microscope

Номер патента: WO2017186198A1. Автор: Jan NEUMAN,Zdenek NOVACEK,Michal PAVERA. Владелец: Nenovision S.R.O.. Дата публикации: 2017-11-02.

Processing apparatus and method using a scanning electron microscope

Номер патента: US20150041643A1. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Ryo Kadoi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-12.

An electron microscope magnification standard providing precise calibration in the magnification range 5000x-2000,000x

Номер патента: US20050045819A1. Автор: Devendra Sadana,Stephen Bedell,Anthony Domenicucci,John Bruley. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-03-03.

Three-Dimensional Image Reconstruction Method, Image Processor, and Electron Microscope

Номер патента: US20170278669A1. Автор: Isamu Ishikawa,Yoshinori Fujiyoshi,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-28.

Method of characterizing a fault in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024028468A3. Автор: Daniel Schwarz,Marion Batz,Gunther Scheunert,Katharina Gries,Daniel Alexander Emmrich,Julian Braun,David Laemmle. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-03-14.

Method of characterizing a fault in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2024028468A2. Автор: Daniel Schwarz,Marion Batz,Gunther Scheunert,Katharina Gries,Daniel Alexander Emmrich,Julian Braun,David Laemmle. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-02-08.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP2179437A1. Автор: Peter Rosenthal,John Berriman. Владелец: Medical Research Council. Дата публикации: 2010-04-28.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP2179437B1. Автор: Peter Rosenthal,John Berriman. Владелец: Medical Research Council. Дата публикации: 2012-05-16.

Phase Plate For Phase-Contrast Electron Microscope, Method For Manufacturing the Same and Phase-Contrast Electron Microscope

Номер патента: US20080202918A1. Автор: Kuniaki Nagayama,Radostin Danev. Владелец: Nagayama IP Holdings LLC. Дата публикации: 2008-08-28.

Method of observing electron microscopic images and an apparatus for carrying out of the same

Номер патента: US5345080A. Автор: Yusuke Yajima,Hiroyuki Shinada,Masakazu Ichikawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-09-06.

Electron microscope, a camera for such an electron microscope, and a method of operating such an electron microscope

Номер патента: US5457317A. Автор: Teiji Katsuta,Isao Matsui,Katsuhisa Yonehara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1995-10-10.

Compact inspection apparatus comprising a scanning electron microscope and an optical microscope

Номер патента: WO2016036250A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Wilhelmus Johannes Adriaan DE PINTH,Gijsbert DE SWART. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2016-03-10.

Compact inspection apparatus comprising a combination of a Scanning Electron Microscope and an Optical microscope.

Номер патента: NL2013432B1. Автор: Andries Pieter Johan Effting Ir,Johannes Adriaan De Pinth Wilhelmus,De Swart Gijsbert. Владелец: Delmic B V. Дата публикации: 2016-09-28.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120061566A1. Автор: Takeshi Mizuno,Akira Ikegami,Minoru Yamazaki,Manabu Yano,Hideyuki Kazumi,Kazunari Asao,Yuki Ojima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-15.

Method of Image Acquisition and Electron Microscope

Номер патента: US20180158646A1. Автор: Akiho Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-06-07.

Scanning electron microscope and sample observation method using scanning electron microscope

Номер патента: US20190348255A1. Автор: Makoto Sakakibara,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Daisuke Bizen. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Electron Microscope

Номер патента: US20230238212A1. Автор: Hiroyasu Shichi,Naomasa Suzuki,Nobuhiro Okai,Masanobu IEDA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Work station including sample holder for cryogenic electron microscope for correlative imaging detection of light microscope and electron microscope, correlative imaging detection apparatus including same, and imaging detection method and imaging system using same

Номер патента: WO2016021745A1. Автор: 정현석,전상미. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2016-02-11.

Scanning electron microscope with conversion means to produce a diffraction pattern

Номер патента: US3795809A. Автор: S Takashima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1974-03-05.

Method of measuring aberration and electron microscope

Номер патента: US11764029B2. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: WO2024002399A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: Delong Instruments A.S.. Дата публикации: 2024-01-04.

Electron Microscope, Multipole Element for Use Therein, and Control Method for Such Electron Microscope

Номер патента: US20240145210A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Pre-Cryogenic Electron Microscope Specimen Holder

Номер патента: US20090283696A1. Автор: Chih-Yuan Tang. Владелец: E HONG INSTRUMENTS Co Ltd. Дата публикации: 2009-11-19.

Method of measuring aberration and electron microscope

Номер патента: EP4030462A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-07-20.

Electron Microscope

Номер патента: US20200013582A1. Автор: Jun Yamashita,Yuko Shimizu,Hirofumi Iijima,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-01-09.

Electron Microscope

Номер патента: US20210066024A1. Автор: Hidekazu Suzuki,Hideki Kikuchi,Tadao Furutsu,Kouichirou Saitou,Ryoji Namekawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: US10796879B2. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-10-06.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20190103245A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks,Wilhelmus Henrica Cornelis; THEUWS. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2019-04-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2017150977A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom-World Holding B.V.. Дата публикации: 2017-09-08.

Transmission electron microscope ccd camera

Номер патента: AU5083299A. Автор: Kenneth H. Downing. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2000-01-05.

Transmission electron microscope equipped with energy filter

Номер патента: US6586737B2. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2003-07-01.

Apparatus for automatically controlling the magnification factor of a scanning electron microscope

Номер патента: CA1282191C. Автор: Glen A. Herriot. Владелец: Vickers Instruments (Canada) Inc. Дата публикации: 1991-03-26.

Electron microscope with plural X-ray detectors for acquiring elemental spectrum

Номер патента: US10002741B2. Автор: Fu-Rong Chen,Tsu-Wei Huang,Chin-Liang Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-06-19.

Electron microscope for inspecting and processing of an object with miniaturized structures and method thereof

Номер патента: EP1903596A3. Автор: Johannes Bihr,Tobias Clauss,Michael Budach,Friedhelm Dr. Panteleit. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2011-01-05.

Scanning electron microscope with reconfigurable aperture means

Номер патента: GB2374723A. Автор: Michael Frank Dean,Giles Adam Edward Martin. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2002-10-23.

Iridium tip, gas field ion source, focused ion beam apparatus, electron source, electron microscope, electron beam applied analysis apparatus, ion-electron multi-beam apparatus, scanning probe microscope, and mask repair apparatus

Номер патента: US9773634B2. Автор: Hiroshi Oba,Osamu Matsuda,Anto Yasaka,Fumio Aramaki,Yasuhiko Sugiyama,Tomokazu Kozakai,Kazuo Aita. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Electron microscope

Номер патента: US10741358B2. Автор: Jun Yamashita,Yuko Shimizu,Hirofumi Iijima,Naoki Hosogi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-11.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: CA3224319A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: DELONG INSTRUMENTS AS. Дата публикации: 2023-12-29.

Electron microscope and method of adjusting the same

Номер патента: US8859964B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Electron microscope

Номер патента: US8841615B2. Автор: Tsutomu Nakanishi,Hidefumi Asano,Nobuo Tanaka,Yoshikazu Takeda,Toru Ujihara,Makoto Kuwahara,Koh Saitoh. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2014-09-23.

Magnetic field generation device, and transmission electron microscope sample holder capable of applying magnetic field

Номер патента: EP4145487A1. Автор: Wei Li,Xin Sun,Tian Bai,Renjie Chen,Aru YAN,Weixing Xia,Jiazhuan QIN. Владелец: Ningbo Institute of Material Technology and Engineering of CAS. Дата публикации: 2023-03-08.

Electron Microscope and Control Method

Номер патента: US20180330917A1. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-11-15.

A multi-mode low-voltage electron microscope

Номер патента: EP4364179A1. Автор: Tomas Bejdak,Eva Coufalova,Petr Stepan. Владелец: DELONG INSTRUMENTS AS. Дата публикации: 2024-05-08.

Electron microscope and method of operating the same

Номер патента: EP2674961A3. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2015-01-07.

Electron Microscope and Method of Adjusting the Same

Номер патента: US20130327938A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3424069A1. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2019-01-09.

Electron microscope, multipole element for use therein, and control method for such electron microscope

Номер патента: EP4362055A2. Автор: Shigeyuki Morishita,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

System and method for electromagnetic interference shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US8952330B2. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-02-10.

Electron microscope and beam irradiation method

Номер патента: US20200411278A1. Автор: Takamitsu Nagai. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2020-12-31.

Bifocal electron microscope

Номер патента: US20240272100A1. Автор: Alexander Henstra,Yuchen Deng,Holger Kohr. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-15.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A8. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh,Tyrrell Chris. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

Transmission electron microscope high-resolution in-situ fluid freezing chip and preparation method therefor

Номер патента: GB2613733A. Автор: DENG JUNXIAN,Liao Honggang,Jiang Youhong. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-06-14.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US6768114B2. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2004-07-27.

Secondary electron detector unit for a scanning electron microscope

Номер патента: US7425708B2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2008-09-16.

Scanning-electron-microscope image processing device and scanning method

Номер патента: US09978558B2. Автор: Hajime Kawano,Kumiko Shimizu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Electron microscope having a carrier

Номер патента: US09842722B2. Автор: Hsin-Hung Lee,Cheng-Yu Lee,Kun-Chih Tsai,Chun-Lin Chiang,Win-Ti Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-12-12.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US09666409B2. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US20170025245A1. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-01-26.

Method of imaging defects using an electron microscope

Номер патента: WO2017103575A1. Автор: Atsufumi Hirohata. Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2017-06-22.

Method for safe control of gas delivery to an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180203423A1. Автор: John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,James Rivenbark,Rebecca Thomas,Daniel S. Gardiner,Mark Uebel,Michael Zapata, III. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-07-19.

Image acquisition method and electron microscope

Номер патента: US11456151B2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-09-27.

Image Acquisition Method and Electron Microscope

Номер патента: US20220020561A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: US20060038127A1. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-02-23.

Transmission electron microscope specimen and method of manufacturing the same

Номер патента: US20200027691A1. Автор: Cheng-Lun HSIN,Wen-Wei WU,Wei-Huan TSAI,Jui-Yuan CHEN. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2020-01-23.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-10-05.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: EP4068332A3. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-02-01.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO1998022971A3. Автор: Pierre Sudraud,Antoine Corbin,Rainer Sailer,David John Bate. Владелец: David John Bate. Дата публикации: 1998-07-23.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1678734A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-07-12.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: EP4111484A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin. Дата публикации: 2023-01-04.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: US20230154724A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin. Дата публикации: 2023-05-18.

Methods and apparatus for improving resolution and reducing noise in an image detector for an electron microscope

Номер патента: WO1998057350A1. Автор: Paul E. Mooney,John A. Hunt. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 1998-12-17.

System and method for electromagnetic interferece shielding for critical dimension-scanning electron microscope

Номер патента: US20130001419A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-01-03.

System And Method For Electromagnetic Interference Shielding For Critical Dimension-Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140124667A1. Автор: Yi-Cheng Shih,Chwen Yu,Chia-Chi TSAO,Syun-Jie Jhan. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-05-08.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US20030193026A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W.G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2009-02-18.

Multifunctional ultrafast electron gun of transmission electron microscope

Номер патента: US20160254117A1. Автор: Jianqi Li,Chao Ma,Huanfang TIAN,Gaolong CAO,Huaixin YANG. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2016-09-01.

High voltage feedthrough assembly, time-resolved transmission electron microscope and method of electrode manipulation in a vacuum environment

Номер патента: EP3186818A2. Автор: Julian Hirscht. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2017-07-05.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20220415609A1. Автор: Takumi UEZONO,Tadanobu Toba,Hironori Itabashi,Masato Kamio. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20150243475A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2015-08-27.

Reference sample with inclined support base, method for evaluating scanning electron microscope, and method for evaluating sic substrate

Номер патента: US20200279716A1. Автор: Tadaaki Kaneko,Koji Ashida. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-09-03.

Transmission electron microscope

Номер патента: US5350918A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Sadao Terakado,Morioki Kubozoe. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 1994-09-27.

Tilt-imaging scanning electron microscope

Номер патента: WO2014085406A1. Автор: Ichiro Honjo,Christopher Sears,Xinrong Jiang,Liqun Han. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Secondary electron detector unit for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2004093120A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2004-10-28.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2023-12-13.

Cathodoluminescence electron microscope

Номер патента: EP3966844A2. Автор: Jean Berney. Владелец: Attolight AG. Дата публикации: 2022-03-16.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB9910896D0. Автор: . Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 1999-07-07.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: EP3594987A3. Автор: Mr Alexander Henstra,Mr Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Electron Microscope

Номер патента: US20190272971A1. Автор: Takeo Sasaki,Shigeyuki Morishita,Tomohiro NAKAMICHI. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-09-05.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: US20230298849A1. Автор: Ondrej Shanel,Jiri Benda,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek,Vojtech Dole{hacek over (z)}al,Tomá{hacek over (s)} Trnkócy. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-21.

Scanning electron microscope with a chamber which can be broken down, particularly for observing pieces of relatively large dimensions

Номер патента: US4313056A. Автор: Walter Hotz,Cosimo Gabriele,Francesco Porro. Владелец: Costruzioni Aeronautiche Giovanni Augusta SpA. Дата публикации: 1982-01-26.

Collection of secondary electrons through the objective lens of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1305816A2. Автор: Robert L. Gerlach,Karel D. van der Mast,Michael R. Scheinfein. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2003-05-02.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A1. Автор: David L. Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-03-12.

Apparatus for inspection of semiconductor wafers and masks using a low energy electron microscope with two illuminating beams

Номер патента: EP1290430A4. Автор: David L Adler,Lee Veneklasen,Matthew Marcus. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2007-03-07.

Scanning electron microscope

Номер патента: US11756763B2. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Electron microscope

Номер патента: US20110133084A1. Автор: Toshiaki Tanigaki,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-09.

Electron microscope

Номер патента: US20040144922A1. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi,Shuuichi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-07-29.

Electron Microscope And Electron Beam Inspection System

Номер патента: US20080265161A1. Автор: Masaki Hasegawa,Hideo Todokoro,Hisaya Murakoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-30.

Method for creating reference images in electron microscopes

Номер патента: US20090080799A1. Автор: Paul E. Mooney. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Device and method for measuring correlation between fatigue performance and microstructure of one-dimensional (1d) nanomaterial in situ in transmission electron microscope (tem)

Номер патента: US20240035988A1. Автор: Lihua Wang,Xiaodong Han,Yan Ma. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-02-01.

Membrane assembly, examination container and electron microscope

Номер патента: US20200027695A1. Автор: Tsu-Wei Huang,Shih-Yi LIU,Jia-Ling Wu,Maochan Chang. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Five-dimensional electron microscope and analysis method therefor

Номер патента: EP4407652A1. Автор: Asuka Nakamura,Takahiro SHIMOJIMA. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2024-07-31.

Electron microscope

Номер патента: US6833550B2. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi,Shuuichi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-12-21.

Scanning electron microscope apparatus and operation method thereof

Номер патента: US20210066034A1. Автор: Taeyong Lee,Sangkyo Lim,Yongmin CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-03-04.

Method to correct first order astigmatism and first order distortion in multi-beam scanning electron microscopes

Номер патента: US12106933B2. Автор: Bohuslav Sed'a,Jan Stopka. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-10-01.

Method for optimizing fluid flow across a sample within an electron microscope sample holder

Номер патента: US09997330B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Liner tube and electron microscope

Номер патента: US09997327B1. Автор: Hidetaka Sawada,Masashi Shimizu,Yu Jimbo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Method for safe control of gas delivery to an electron microscope sample holder

Номер патента: US09915926B2. Автор: John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,James Rivenbark,Rebecca Thomas,Daniel S. Gardiner,Mark Uebel,Michael Zapata, III. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Electron microscope device and imaging method using same

Номер патента: US09824853B2. Автор: Kenji Nakahira,Maki Tanaka,Mitsutoshi Kobayashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Phase plate, method of fabricating same, and electron microscope

Номер патента: US09786467B2. Автор: Hirofumi Iijima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-10.

Weak signal detection system and electron microscope equipped with same

Номер патента: US09576769B2. Автор: Wen Li,Masami Makuuchi,Hisaaki Kanai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Method of using an environmental transmission electron microscope

Номер патента: US09570270B2. Автор: Alexander Henstra,Peter Christiaan Tiemeijer,Stan Johan Pieter Konings. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-02-14.

Multifunctional ultrafast electron gun of transmission electron microscope

Номер патента: US09558909B2. Автор: Jianqi Li,Chao Ma,Huanfang TIAN,Gaolong CAO,Huaixin YANG. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2017-01-31.

Electron microscope

Номер патента: US09543115B2. Автор: Gerd Benner,Marko Matijevic. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2017-01-10.

Holder assembly for cooperating with an environmental cell and an electron microscope

Номер патента: US09524850B2. Автор: Pleun Dona,Hendrik Willem Zandbergen,Gerardus Nicolaas Anne Van Veen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-12-20.

Method for optimizing fluid flow across a sample within an electron microscope sample holder

Номер патента: US09466459B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Phase plate for a transmission electron microscope

Номер патента: US09460890B2. Автор: Steffen PATTAI,Patrick KURTH,Joerg Wamser. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-10-04.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US09431213B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Transmission electron microscope micro-grid

Номер патента: US09406481B2. Автор: Yang Wei,Shou-Shan Fan,xiao-yang Lin. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5834774A. Автор: Toshiharu Kobayashi,Tsutomu Negishi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1998-11-10.

Phase contrast electron microscope

Номер патента: US20100181481A1. Автор: Gerd Benner,Marko Matijevic. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-07-22.

Automatic preliminary irradiation apparatus in transmission electron microscope

Номер патента: US4939365A. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akio Mori,Teruo Suzuki,Sadahiko Okamura,Shoji Kamimura. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1990-07-03.

Method for focusing a scanning electron microscope, computer program product for focusing a scanning electron microscope, and testing device

Номер патента: TWI730438B. Автор: 博海德 穆勒,庫普利特賽恩 維迪,尼可萊 柯納伯. Владелец: 美商應用材料股份有限公司. Дата публикации: 2021-06-11.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US11902665B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Nelson L Marthe, Jr.,Benjamin Bradshaw Larson. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

System of scanning electron microscope sample box and method of opening the same

Номер патента: US20240014001A1. Автор: Ming Li,Hongmin Zhou,Shengquan FU. Владелец: University of Science and Technology of China USTC. Дата публикации: 2024-01-11.

Electron Microscope and Measurement Method

Номер патента: US20170025248A1. Автор: Hidetaka Sawada,Naoya Shibata,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180045755A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: WO2018031602A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek, LLC. Дата публикации: 2018-02-15.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20180328960A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2018-11-15.

Method of controlling transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: EP3716309A2. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-30.

Method of Controlling Transmission Electron Microscope and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200312612A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Scanning electron microscope having detachable column, and image acquisition method using the same

Номер патента: US20220189732A1. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Scanning electron microscope image anchoring to design for array

Номер патента: WO2022040109A1. Автор: Santosh Bhattacharyya,Steve ESBENSHADE. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2022-02-24.

Electron microscope and method of operating the same

Номер патента: US9772976B2. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20150034824A1. Автор: Hiroyuki Ito,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-05.

Method for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180068827A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20140246584A1. Автор: Won-Guk SEO,Chang-Hoon Choi,Byeong-Hwan Jeon,Jeong-Woo HYUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-09-04.

Beam Alignment Method and Electron Microscope

Номер патента: US20170301507A1. Автор: Yuko Shimizu,Kazuya Yamazaki,Akira Yasuhara,Fumio Hosokawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

Electron microscope with improved imaging resolution

Номер патента: US20200013580A1. Автор: Alexander Henstra,Pleun Dona. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-01-09.

Method of controlling transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: EP3716309A3. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-16.

Electron microscope

Номер патента: US20140103208A1. Автор: Hiroyuki Noda,Mitsuru Onuma,Isao Nagaoki,Shuichi Mamishin. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-17.

Scanning transmission electron microscope and electron energy loss spectroscopy

Номер патента: US20050285037A1. Автор: Shunichi Watanabe,Kuniyasu Nakamura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: US20220377244A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Joshua Brian Friend,Katherine Elizabeth Marusak,Benjamin Bradshaw Larson,Nelson L. Marthe, JR.. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Electron microscope

Номер патента: US20040188613A1. Автор: Kazutoshi Kaji,Shigeto Isakozawa,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-09-30.

Scanning electron microscope having detachable column, and image acquisition method using the same

Номер патента: US11978610B2. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Transmission Electron Microscope Provided with Electronic Spectroscope

Номер патента: US20080203296A1. Автор: Shohei Terada,Yoshifumi Taniguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: EP4057320A1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-09-14.

Scanning Transmission Electron Microscope and Aberration Correction Method

Номер патента: US20200266025A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Izuru Chiyo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-20.

A method of automated data acquisition for a transmission electron microscope

Номер патента: EP4345447A1. Автор: Peter Tiemeijer,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-03.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: EP3488459A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2019-05-29.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20240186103A1. Автор: Hideki Kikuchi,Toshie Yaguchi,Akinari Hanawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Sample Holder and Electron Microscope

Номер патента: US20180374671A1. Автор: Takeo Sasaki,Masashi Shimizu,Ichiro Onishi,Kazuki Yagi,Shuichi YUASA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-12-27.

Sample holder and electron microscope

Номер патента: US10504690B2. Автор: Takeo Sasaki,Masashi Shimizu,Ichiro Onishi,Kazuki Yagi,Shuichi YUASA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-12-10.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US8487251B2. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-07-16.

Electron microscope

Номер патента: US20200303152A1. Автор: Hiroyuki Minemura,Yoichi Ose,Yumiko Anzai,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Electron microscope and method of adjusting focus of electron microscope

Номер патента: US20210384006A1. Автор: Kenji Tanimoto,Hyejin Kim,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20080191135A1. Автор: Shuichi Takeuchi,Atsushi Muto,Yasuko Aoki,Tetsuya Sawahata,Mine Araki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Method of automated data acquisition for a transmission electron microscope

Номер патента: US20240128050A1. Автор: Peter Tiemeijer,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-18.

Integrated Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20210098227A1. Автор: Katherine L. Jungjohann,Khalid M. Hattar. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2021-04-01.

Wafer sample retainer for an electron microscope

Номер патента: US5923040A. Автор: Lynn J. Carroll. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1999-07-13.

Improvements in and relating to electron microscopes

Номер патента: GB588120A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1947-05-14.

Electron microscope

Номер патента: EP1263019A1. Автор: Eiko Nakazawa,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi Science Systems Ltd. Дата публикации: 2002-12-04.

Electron microscope

Номер патента: CA1061477A. Автор: Karel D. van der Mast,Jan B. Le Poole. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1979-08-28.

Improvements in or relating to electron-microscopes

Номер патента: GB634820A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1950-03-29.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4963737A. Автор: Seiichi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1990-10-16.

Detector for a electron microscope

Номер патента: CA1139457A. Автор: Siegfried Lichtenegger. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1983-01-11.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4429222A. Автор: Akira Yonezawa. Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1984-01-31.

Transmission electron microscope

Номер патента: US4585942A. Автор: Katsushige Tsuno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1986-04-29.

Microreactor for a transmission electron microscope and heating element and method for the manufacture thereof

Номер патента: WO2006031104A9. Автор: Jan Fredrik Creemer,Hendrik Willem Zandbergen,Pasqualina Maria Sarro. Владелец: Pasqualina Maria Sarro. Дата публикации: 2006-10-19.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB1432887A. Автор: . Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1976-04-22.

Automatic electron microscope field counter

Номер патента: US3748468A. Автор: A Hartman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1973-07-24.

Method and apparatus allowing simultaneous direct observation and electron capture of scintillation images in an electron microscope

Номер патента: WO2009117077A3. Автор: James F. Mancuso,Leo A. Fama. Владелец: Mancuso James F. Дата публикации: 2009-11-12.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908658B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Scanning electron microscope device and electron beam inspection apparatus

Номер патента: US11908657B2. Автор: Weiqiang SUN,Qinglang MENG. Владелец: Zhongke Jingyuan Microelectronic Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: EP3497453A1. Автор: Gregory S. Girolami,Joseph W. Lyding,Scott P. Lockledge,Jinju Lee. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2019-06-19.

Electron microscope and method of controlling same

Номер патента: EP4012743A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-06-15.

Electron microscope and sample observation method

Номер патента: US10083814B2. Автор: Takeshi Sato,Kiyotaka Nakano,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-09-25.

Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20160064183A1. Автор: Takeshi Sato,Kiyotaka Nakano,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Electron Microscope and Method of Operating the Same

Номер патента: US20130332116A1. Автор: Takashi Suzuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2013-12-12.

Phase contrast transmission electron microscope device

Номер патента: US20190122855A1. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Inter University Research Institute Corp National Institute of Natural Sciences. Дата публикации: 2019-04-25.

Method for controlling charging of sample and scanning electron microscope

Номер патента: US20110139981A1. Автор: Zhigang Wang,Nobuhiro Okai,Ritsuo Fukaya,Koki Miyahara. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Electronic microscope observation system and observation method

Номер патента: US6822232B1. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-11-23.

Additive composition of defocusing images in an electron microscope

Номер патента: US5466937A. Автор: Pieter Kruit. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1995-11-14.

Scanning transmission electron microscope and aberration correction method

Номер патента: EP3690922A2. Автор: Shigeyuki Morishita,Izuru Chiyo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-05.

Calibration of a scanning electron microscope

Номер патента: WO2001011656A1. Автор: Weidong Liu,Laurence S. Hordon,Jason C. Yee,David M. Goodstein. Владелец: Kla Tencor Corporation. Дата публикации: 2001-02-15.

Method and apparatus allowing simultaneous direct observation and electron capture of scintillation images in an electron microscope

Номер патента: WO2009117077A2. Автор: James F. Mancuso,Leo A. Fama. Владелец: Mancuso James F. Дата публикации: 2009-09-24.

Electron microscope

Номер патента: US20240128049A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Toshihide Agemura,Junichi Katane,Michio Hatano,Katsura Takaguchi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Electron Microscope and Method of Adjusting Same

Номер патента: US20160071683A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-03-10.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: US20230040811A1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2023-02-09.

Measurement Method and Electron Microscope

Номер патента: US20190088447A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

Analysis method using electron microscope, and electron microscope

Номер патента: US20160365220A1. Автор: Takashi Yamazaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-12-15.

Electron microscope electron gun for facilitating position adjustment and electron microscope including same

Номер патента: US20180218874A1. Автор: Bok Lae CHO,In Yong Park. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-08-02.

Scanning Transmission Electron Microscope With An Objective Electromagnetic Lens And A Method Of Use Thereof

Номер патента: US20180269030A1. Автор: Petras Stanislav,Lencova Bohumila,Benner Gerd Ludwig. Владелец: Tescan Tempe LLC. Дата публикации: 2018-09-20.

Scanning electron microscope and similar apparatus

Номер патента: US20050279937A1. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2005-12-22.

Pole piece incorporating optical cavity for improved phase-contrast in electron microscope imaging

Номер патента: US20240203685A1. Автор: Pleun Dona,Bart Buijsse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-20.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20210272770A1. Автор: Kenji Tanimoto,Yasunari Sohda,Yusuke Abe,Kaori BIZEN. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Aberration Correcting Device for an Electron Microscope and an Electron Microscope Comprising Such a Device

Номер патента: US20190228946A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: WO2018016961A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2018-01-25.

Sample observation method and transmission electron microscope

Номер патента: US7705305B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Electron microscope

Номер патента: US10276342B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-04-30.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR20130135541A. Автор: 박태훈,박필화. Владелец: (주)오로스 테크놀로지. Дата публикации: 2013-12-11.

Transmission electron microscope having energy filter

Номер патента: US6140645A. Автор: Katsushige Tsuno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2000-10-31.

Scanning electron microscopes

Номер патента: GB1436278A. Автор: . Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1976-05-19.

Stroboscopic scanning electron microscope

Номер патента: US4733075A. Автор: Masayuki Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1988-03-22.

Electron microscope specimen holder

Номер патента: US5367171A. Автор: Yutaka Misawa,Takashi Aoyama,Kazuhiro Ueda,Koji Kimoto,Shigeto Isakozawa,Kishu Hosoi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1994-11-22.

Method for preparation of transmission electron microscope sample material utilizing sheet mesh

Номер патента: US5440123A. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1995-08-08.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: US5362964A. Автор: W. Ralph Knowles,William G. Schultz,Allen E. Armstrong. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1994-11-08.

Electron microscope

Номер патента: US5811803A. Автор: Hiroshi Motoki,Fumio Komatsu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1998-09-22.

Detector system for a scanning electron microscope

Номер патента: US3626184A. Автор: Albert V Crewe. Владелец: US Atomic Energy Commission (AEC). Дата публикации: 1971-12-07.

Scanning electron microscope scanning system

Номер патента: US3711711A. Автор: J Dao,N Yew. Владелец: ETEC CORP. Дата публикации: 1973-01-16.

Automatic control system for varying a d.c. high voltage for accelerating tube of electron microscope and the like

Номер патента: US3691377A. Автор: Shinjiro Katagiri,Teruo Nakahara,Isao Matsui,Yoshihisa Minamikawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1972-09-12.

Electron microscope having a compensation device for compensating the deviation of a diffraction image

Номер патента: US3571590A. Автор: Shinjiro Katagiri,Mamoru Nakano. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1971-03-23.

Scanning transmission electron microscope using gas amplification

Номер патента: EP2182546B1. Автор: William Knowles,Milos Toth. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-10-26.

Cryogenic temperature control and tension/compression attachment stage for an electron microscope

Номер патента: US5355683A. Автор: Dale E. Taylor. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1994-10-18.

Scanning electron microscope operating in area scan and angle scan modes

Номер патента: US3801784A. Автор: D Wittry. Владелец: Research Corp. Дата публикации: 1974-04-02.

Scanning electron microscope fiber push-out apparatus and method

Номер патента: US5559329A. Автор: Brian E. Joseph,II Russell P. Stackpole,Everett H. Baker. Владелец: Touchstone Research Laboratory Ltd. Дата публикации: 1996-09-24.

Scanning electron microscope and method of processing the same

Номер патента: US5001344A. Автор: Makoto Kato,Shinobu Otsuka,Koichi Homma,Fuminobu Komura,Toshihiro Furuya. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1991-03-19.

Scanning electron microscope objective lens system and method for specimen observation

Номер патента: US20210110994A1. Автор: Wei He,Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-15.

Electron microscope, device for measuring electron-photon correlation, and method for measuring electron-photon correlation

Номер патента: EP4307336A1. Автор: Hikaru Saito,Takumi Sannomiya,Sotatsu YANAGIMOTO,Keiichirou AKIBA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-01-17.

Electron Microscope

Номер патента: US20160225581A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Electron microscope

Номер патента: US9818576B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Packaging unit for liquid sample loading devices applied in electron microscope and packaging method

Номер патента: US20180010988A1. Автор: Shih-Wen Tseng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2018-01-11.

Examination container and electron microscope

Номер патента: US20190080881A1. Автор: Tsu-Wei Huang,Shih-Yi LIU,Jia-Ling Wu,Maochan Chang. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: US20190043690A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2019-02-07.

Interference electron microscope

Номер патента: US20130313432A1. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Yoshio Takahashi,Shinji Aizawa,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2013-11-28.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: WO2019027737A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE. Дата публикации: 2019-02-07.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising co-condensers for continuous image resolution tuning

Номер патента: US11295927B1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-05.

Interference electron microscope

Номер патента: EP2667400A3. Автор: Tsuyoshi Matsuda,Yoshio Takahashi,Shinji Aizawa,Toshiaki Tanigaki,Ken Harada. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2015-01-28.

Electron microscope imaging stages and systems

Номер патента: WO2023205466A1. Автор: Eduardo ROSA-MOLINAR. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2023-10-26.

Transmission electron microscope and method for observing specimen image with the same

Номер патента: US20110031395A1. Автор: Akira Sugawara,Ken Harada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-02-10.

Measurement device for electron microscope

Номер патента: EP1454335A1. Автор: Krister Svensson,Andrey Danilov,Fredrik Althoff,H Kan Olin. Владелец: NANOFACTORY INSTRUMENTS AB. Дата публикации: 2004-09-08.

Liquid chip for electron microscope having excellent bulging resistance

Номер патента: US11747286B2. Автор: Jungjae PARK,Jongmin YUK,Namgyu NOH,Kunmo KOO,Sanghyeon JI. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2023-09-05.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US6774364B2. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2004-08-10.

Electron microscope and aberration measurement method

Номер патента: EP4254467A1. Автор: Takeshi Kaneko,Hidetaka Sawada,Shigeyuki Morishita,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20100320385A1. Автор: Kazuo Aoki,Mitsugu Sato,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-12-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20090050805A1. Автор: Kazuo Aoki,Mitsugu Sato,Hirohiko Kitsuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-02-26.

Electron microscope having a carrier

Номер патента: US20160172152A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Cheng-Yu Lee,Kun-Chih Tsai,Chun-Lin Chiang,Win-Ti Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-06-16.

Electron microscope, device for measuring electron-photon correlation, and method for measuring electron-photon correlation

Номер патента: US20240153736A1. Автор: Hikaru Saito,Takumi Sannomiya,Sotatsu YANAGIMOTO,Keiichirou AKIBA. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-05-09.

Electron gun and electron microscope

Номер патента: US20230298847A1. Автор: Masayoshi Nagao,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Edgardo Garcia Berrios,Yinying Xiao-Li,Lavinia Ghirardini. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Secondary electron detector, especially in a scanning electron microscope

Номер патента: AU2003303138A1. Автор: Filip Lopour,Martin Zadrazil,Marcus Jacka. Владелец: Tescan sro. Дата публикации: 2004-07-22.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: WO2007143736A2. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus Gerardus Persoon,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2007-12-13.

Scanning Electron Microscope Having Time Constant Measurement Capability

Номер патента: US20100258723A1. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-10-14.

Sample preparation system and method for electron microscope observation, and tape feeding mechanism used for sample preparation

Номер патента: US11990314B2. Автор: Shuichi Goto,Shinsuke Shibata,Hideyuki Okano,Tomoko Shindo. Владелец: Sanyu Electron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Transmission electron microscope and method of adjusting optical system

Номер патента: US11742176B2. Автор: Yoshiki Oyama,Kazuki Yagi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Systems and methods for transferring a sample into and out of a vacuum chamber of a transmission electron microscope

Номер патента: EP4345862A1. Автор: Maarten Bischoff,Ondrej Ludmil Shánel. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-03.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20140084158A1. Автор: Tatsuru Kuramoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2014-03-27.

Scanning electron microscope

Номер патента: WO2008058491B1. Автор: Filip Lopour,Jaroslav Jiruse. Владелец: Tescan S R O. Дата публикации: 2008-08-21.

Charged particle beam apparatus, scanning electron microscope, and method of operating a charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4295385A1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-12-27.

Electron gun and electron microscope

Номер патента: WO2023177916A1. Автор: Masayoshi Nagao,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Edgardo Garcia Berrios,Yinying Xiao-Li,Lavinia Ghirardini. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-09-21.

Liquid cell for electron microscope and manufacturing method thereof

Номер патента: US20240038487A1. Автор: Jungwon Park,Jiwoong YANG,Hyeonjong MA. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-02-01.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US11328898B2. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising co-condensers for continuous image resolution tuning

Номер патента: US20220108865A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Light guide assembly for an electron microscope

Номер патента: US20210082659A1. Автор: Marek Uncovský,Michal GERYK,Jan Lásko. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-03-18.

Electron Microscope and Aberration Measurement Method

Номер патента: US20230349839A1. Автор: Takeshi Kaneko,Hidetaka Sawada,Shigeyuki Morishita,Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Electron detection system for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005041243A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-05-06.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: EP1628321A3. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-04-19.

A specimen-carrier accessory device for the stereoscopic analysis by scanning electron microscope

Номер патента: EP1111650A3. Автор: Piero Iulita. Владелец: Fiat Auto SpA. Дата публикации: 2001-07-04.

Magnetic electron microscope

Номер патента: US20090078869A1. Автор: Takao Matsumoto,Masanari Koguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-03-26.

Method of measuring the performance of a scanning electron microscope

Номер патента: EP1415320A1. Автор: Peter Dirksen,Casparus A. H. Juffermans,Rene J. G. Elfrink. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2004-05-06.

Image forming method and electron microscope

Номер патента: US7838834B2. Автор: Ryoichi Ishii,Yoshihiko Nakayama,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-11-23.

Electron beam control device for electron microscopes

Номер патента: US4451737A. Автор: Shigeto Isakozawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-05-29.

Vacuumed device and a scanning electron microscope

Номер патента: US8492716B2. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B Nano Ltd. Дата публикации: 2013-07-23.

Auger electron microscope and analysis method

Номер патента: US11391682B2. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-07-19.

Sample shape determination by measurement of surface slope with a scanning electron microscope

Номер патента: US6157032A. Автор: Stephen W. Into. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2000-12-05.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: US4801801A. Автор: Tetsuo Oikawa,Junji Miyahara,Yoshiyasu Harada,Nobufumi Mori. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-01-31.

A vacuumed device and a scanning electron microscope

Номер патента: WO2010035265A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO LTD.. Дата публикации: 2010-04-01.

Electron microscope

Номер патента: US4810886A. Автор: Tetsuo Oikawa,Junji Miyahara,Yoshiyasu Harada,Nobufumi Mori,Takayuki Katoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-03-07.

Stereo-scanning electron microscope

Номер патента: US3585382A. Автор: Tadao Suganuma. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1971-06-15.

Scanning electron microscope

Номер патента: US5376792A. Автор: Frederick H. Schamber,Raymond E. Turocy. Владелец: RJ Lee Group Inc. Дата публикации: 1994-12-27.

Electron microscope method and apparatus for improving image phase contrast

Номер патента: US3566109A. Автор: Robert D Heidenreich. Владелец: Bell Telephone Laboratories Inc. Дата публикации: 1971-02-23.

Electron microscope sample holder fluid handling with independent pressure and flow control

Номер патента: WO2019010390A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter,Jr. John Damiano. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2019-01-10.

Electron microscope comprising an X-ray detector

Номер патента: US4450355A. Автор: Hendricus C. J. Marien,Michael N. Thompson. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1984-05-22.

Apparatus for recording and reproducing image produced by an electron microscope including an optical filter and a deflecting element

Номер патента: US4851677A. Автор: Kenji Takahashi,Yuichi Hosoi,Nobufumi Mori. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-25.

Focusing apparatus used in a transmission electron microscope

Номер патента: US4698503A. Автор: Shigeto Isakozawa,Setsuo Nomura,Morioki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-10-06.

Specimen stage for an electron microscope

Номер патента: US3702399A. Автор: Jeffrey Harvey Lucas. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1972-11-07.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: EP4250329A1. Автор: Jiri Benda,Vojtech Dolezal,Tomás Trnkócy,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-27.

Method of analysis using energy loss spectrometer and transmission electron microscope equipped therewith

Номер патента: US7459680B2. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-12-02.

Electron microscope and calibration method

Номер патента: EP4283654A1. Автор: Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US8274048B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-09-25.

Scanning electron microscope, an interface and a method for observing an object within a non-vacuum environment

Номер патента: US20140117232A1. Автор: Dov Shachal,Rafi De Picciotto. Владелец: B-NANO Ltd. Дата публикации: 2014-05-01.

Electron microscope sample holder fluid handling with independent pressure and flow control

Номер патента: US11869744B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-01-09.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20170309437A1. Автор: Masashi Sasaki,Daisuke Kobayashi,Shunsuke Sato,Toshihide Agemura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-26.

Transmission electron microscope high-resolution in situ fluid freezing chip and preparation method thereof

Номер патента: US20230326712A1. Автор: Honggang Liao. Владелец: XIAMEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-10-12.

Sample chip for electron microscope and its related application

Номер патента: US20190272972A1. Автор: Po Tsung Hsieh,Chung Jen Chung,Shih Wen Tseng,Chiu Hua Huang,Tzu Hsin Chen,Ya Wen Tsai. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-09-05.

Scanning electron microscope

Номер патента: EP3731257A2. Автор: Karel Diederick VAN DER Mast,Wilhelmus Henrica Cornelis Theuws,Adrianus Franciscus Johannes HAMMEN,Sander Richard Marie Stoks. Владелец: Phenom World Holding BV. Дата публикации: 2020-10-28.

Gas delivery system for environmental transmission electron microscope

Номер патента: US11837432B1. Автор: John Joseph Nogan,Katherine Leigh Jungjohann,Raymond Vernon Puckett. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2023-12-05.

Light guide assembly for an electron microscope

Номер патента: US11335536B2. Автор: Marek Uncovský,Michal GERYK,Jan Lásko. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-05-17.

Secondary electron detector, especially in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1537595B1. Автор: Filip Lopour,Martin Zadrazil,Marcus Jacka. Владелец: Tescan sro. Дата публикации: 2012-04-11.

Electron microscope, method for operating the same, and computer-readable medium

Номер патента: US20030193025A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Electron microscope and image capturing method using electron beam

Номер патента: US20140097342A1. Автор: Yoshinobu Kimura,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-04-10.

Method of measuring length with scanning type electron microscope

Номер патента: US6653634B1. Автор: Tadashi Otaka,Kouichi Nagai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-11-25.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising plasma generator, and method thereof

Номер патента: US20220115204A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Packaging unit for liquid sample loading devices applied in electron microscope and packaging method

Номер патента: US10309878B2. Автор: Shih-Wen Tseng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-06-04.

Electron Microscope and Calibration Method

Номер патента: US20230386782A1. Автор: Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Sample holder for transmission electron microscope, sample analysis system including the same, and method for analyzing sample using the same

Номер патента: US20240153734A1. Автор: Donghoon Kwon,Yeoseon CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-09.

Electron microscope

Номер патента: US20040031921A1. Автор: Mitsuhide Matsushita,Yukihito Kondo,Mitsuaki Ohsaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2004-02-19.

Electron microscope and method of controlling same

Номер патента: US10607803B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-03-31.

Method and device for observing a specimen in a field of view of an electron microscope

Номер патента: US20020027199A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Isao Nagaoki,Hiromi Inada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-03-07.

Method and electron microscope for measuring the similarity of two-dimensional images

Номер патента: US20090268969A1. Автор: Andreas Thust,Juri Barthel. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2009-10-29.

Scanning electron microscope

Номер патента: US7307253B2. Автор: Kazuo Aoki,Masashi Sakamoto,Kohei Yamaguchi,Seiji Isogai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-12-11.

주사 전자 현미경(Scannig Electron Microscope, 이하 SEM), SEM을 동작시키는 방법 및 이를 이용한 반도체 소자를 제조하는 방법

Номер патента: KR20230068893A. Автор: 김석,손영훈,안재형,김광은. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2023-05-18.

Scanning electron microscope having time constant measurement capability

Номер патента: US7763852B2. Автор: Koichiro Takeuchi,Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Atsushi Kobaru,Seiko Oomori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-07-27.

Method of analysis using energy loss spectrometer and transmission electron microscope equipped therewith

Номер патента: US20060255271A1. Автор: Toshikatsu Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Electron microscope and image capturing method using electron beam

Номер патента: US8907279B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Natsuki Tsuno,Takafumi Miwa,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-12-09.

Method for automatically aligning a scanning transmission electron microscope for precession electron diffraction data mapping

Номер патента: US20190295810A1. Автор: Stanislav Petras,Bohumila Lencova,Jon Karl WEISS,Gerd Ludwig Benner. Владелец: Tescan Tempe LLC. Дата публикации: 2019-09-26.

Electron microscope and electron beam detector

Номер патента: US9355815B2. Автор: Yoichi Ose,Shin Imamura,Takashi Ohshima,Kenichi Hirane. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US20220108867A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: EP2601669A2. Автор: Stephen E. Mick,David P. Nackashi,Jr. John Damiano. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2013-06-12.

Phase plate and electron microscope

Номер патента: US20140224988A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yoshio Takahashi,Hiroto Kasai,Hirokazu Tamaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-08-14.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20040011959A1. Автор: Kouji Kimura,Hirotami Koike. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2004-01-22.

Electron microscope stage

Номер патента: US20210151281A1. Автор: Albert Visscher. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-05-20.

Method of using a phase plate in a transmission electron microscope

Номер патента: US20140326876A1. Автор: Bart Buijsse,Radostin Stoyanov Danev. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-11-06.

Method and device for observing a specimen in a field of view of an electron microscope

Номер патента: US20040173749A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Isao Nagaoki,Hiromi Inada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-09.

Image Forming Method and Electron Microscope

Номер патента: US20080224040A1. Автор: Ryoichi Ishii,Yoshihiko Nakayama,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-09-18.

Electron Microscope and Method of Controlling Same

Номер патента: US20190139734A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Pole piece for a transmission electron microscope

Номер патента: WO2021170762A1. Автор: David O'Mahony,Lewys Jones. Владелец: The Provost, Fellows, Scholars and other Members of Board of Trinity College Dublin. Дата публикации: 2021-09-02.

Method and electron microscope for measuring the similarity of two-dimensional images

Номер патента: US8351710B2. Автор: Andreas Thust,Juri Barthel. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2013-01-08.

Detachable column unit of scanning electron microscope, and method for providing the same

Номер патента: US20240212978A1. Автор: Jun Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Electron Microscope and Specimen Orientation Alignment Method

Номер патента: US20240087840A1. Автор: Shuji Kawai,Motofumi Saitoh. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Aberration measurement method and electron microscope

Номер патента: US20190066968A1. Автор: Yuji Kohno,Akiho Nakamura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices

Номер патента: US20170278670A1. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Auantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: AU558630B2. Автор: Vivian Noel Edward Robinson,Nicholas George Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1987-02-05.

Auantitative compositional analyser for use with scanning electron microscopes

Номер патента: AU1741083A. Автор: Vivian Noel Edward Robinson,Nicholas George Cutmore. Владелец: Unisearch Ltd. Дата публикации: 1984-02-09.

Method and apparatus for measuring degree of vacuum in an electron microscope

Номер патента: US4803356A. Автор: Hiroki Kumahora,Eiichi Nishimura,Tsuneyuki Hashimoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1989-02-07.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: EP4131326A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2023-02-08.

Measuring and controlling aberrations in electron microscopes

Номер патента: WO2018211369A1. Автор: Rudolf Maria Tromp. Владелец: Ibm (China) Investment Company Limited. Дата публикации: 2018-11-22.

Measuring and controlling aberrations in electron microscopes

Номер патента: GB2576661A. Автор: Maria Tromp Rudolf. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-02-26.

Electron microscope observation system and observation method

Номер патента: US6956212B2. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-10-18.

System and method for eliminating electromagnetic interference in vacuum cavity of scanning electron microscope

Номер патента: NL2030394B1. Автор: Tang Liang,Zhang Yuefei,Zhang Ze,Wang Yongfeng,Zhang Yixu,Liu Ling'en,Chen Jutian. Владелец: Univ Guilin Electronic Tech. Дата публикации: 2022-11-30.

Modular ultra-high vacuum electron microscope

Номер патента: US20230101644A1. Автор: Rudolf Geurink,Hugo Cornelis VAN LEEUWEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-03-30.

Electron emitting element and electron microscope

Номер патента: EP3968352A1. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2022-03-16.

Electron emission device and electron microscope

Номер патента: US12051557B2. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2024-07-30.

Lens for a scanning electron microscope

Номер патента: US20040084620A1. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2004-05-06.

A lens for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2001084593A2. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: The National University Of Singapore. Дата публикации: 2001-11-08.

Reinforced sample for transmission electron microscope

Номер патента: US09837246B1. Автор: Tomás Vystavel,Remco Theodorus Johannes Petrus Geurts. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-12-05.

Electron microscopes

Номер патента: US3746855A. Автор: D Hilditch. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1973-07-17.

Electron microscope for examining a specimen

Номер патента: WO2023110862A1. Автор: Moritz Becker,Eugen Foca. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2023-06-22.

Method and apparatus for correcting astigmatism in scanning electron microscopes and similar equipment

Номер патента: US4321468A. Автор: Takashi Kimura. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-03-23.

Scanning electron microscope and sample observation method using the same

Номер патента: US6740877B2. Автор: Mitsugu Sato,Tetsuya Sawahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-05-25.

Electron microscope

Номер патента: US4121100A. Автор: Shinjiro Katagiri,Yoshihisa Minamikawa,Morioki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1978-10-17.

Electron microscope

Номер патента: US20130313431A1. Автор: Hideki Tanaka,Tsuyoshi Wakuda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-11-28.

Electron microscope observation system and observation method

Номер патента: US20050061975A1. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-24.

Electron gun chamber for scanning electron microscope, electron gun containing same, and scanning electron microscope

Номер патента: US20240212971A1. Автор: Yoshihiro Arai,Yasushi Yamauchi,Han Zhang. Владелец: Terabase Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Objective lens for electron microscope

Номер патента: US4383176A. Автор: Akira Yonezawa,Kohei Shirota. Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1983-05-10.

Electron-beam illuminating system for an electrical apparatus such as an electron microscope or the like

Номер патента: US3862419A. Автор: Lee Veneklasen. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1975-01-21.

Scanning electron microscopic direct-write lithography system based on a compliant nano servo motion system

Номер патента: US20220291589A1. Автор: Zhen Zhang,Yijie LIU,Juntian QU. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-15.

Chemically-assisted ion beam milling system for the preparation of transmission electron microscope specimens

Номер патента: US5009743A. Автор: Peter R. Swann. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 1991-04-23.

Magnetic lens apparatus for use in high-resolution scanning electron microscopes and lithographic processes

Номер патента: US6410923B1. Автор: Albert V. Crewe. Владелец: Arch Development Corp. Дата публикации: 2002-06-25.

Electron-beam tube including a thermionic-field emission cathode for a scanning electron microscope

Номер патента: US3809899A. Автор: T Baker,M Balsiger,K Considine,H Litsjo. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1974-05-07.

Electron microscope including an electromagnetic electron energy analyzing lens

Номер патента: US3619607A. Автор: Takeo Ichinokawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-11-09.

Sample holder for scanning electron microscope, scanning electron microscope image observation system, and scanning electron microscope image observation method

Номер патента: US09552959B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-01-24.

Dissolution stage for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: CA2332319C. Автор: James A. Mitchell,Philip J. Palermo. Владелец: Euro Celtique SA. Дата публикации: 2004-07-13.

Method of operating a scanning electron microscope

Номер патента: US8227752B1. Автор: Hubert Mantz,Jaroslaw Paluszynski. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2012-07-24.

Sample holder for scanning electron microscope and microscope comprising the same

Номер патента: GB202109923D0. Автор: . Владелец: Plymouth University. Дата публикации: 2021-08-25.

Electron beam detection element, electron microscope, and transmission electron microscope

Номер патента: US20190139737A1. Автор: Yukihiro Kuroda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

Sample supporting member for observing scanning electron microscopic image and method for observing scanning electron microscopic image

Номер патента: US09589765B2. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-03-07.

Electron beam detection element, electron microscope, and transmission electron microscope

Номер патента: US20190139749A1. Автор: Hidekazu Takahashi,Mizuki Nagasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-09.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: EP3172758B1. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan LIV HAMARAT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-08-21.

Method for measuring information transfer limit in transmission electron microscope, and transmission electron microscope using the same

Номер патента: EP1918964B1. Автор: Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-10-14.

Method for observing surface of sample, method for observing surface of sample by electron microscope, electron microscope, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: AU4874401A. Автор: Toru Takagi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2001-10-30.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: EP4057320B1. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-07-24.

Scanning electron microscope system, pattern measurement method using same, and scanning electron microscope

Номер патента: US09852881B2. Автор: Shinya Yamada,Maki Tanaka,Takuma Yamamoto,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Electron microscope, and method for adjusting optical axis of electron microscope

Номер патента: EP2573792A4. Автор: Isao Nagaoki,Toshiyuki Oyagi,Takafumi Yotsuji,Yasuyuki Nodera. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2015-09-23.

Electron microscopic observation method for observing biological sample in shape as it is, and composition for evaporation suppression under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope used in the method

Номер патента: US20140227734A1. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2014-08-14.

PROTECTIVE AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION OF BIOLOGICAL SAMPLE IN WATER-CONTAINING STATE, KIT FOR ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION, METHODS FOR OBSERVATION, DIAGNOSIS, EVALUATION, AND QUANTIFICATION BY ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE STAGE

Номер патента: US20160343539A1. Автор: Suzuki Hiroshi,Ishii Daisuke,HIRAKAWA Satoshi,HARIYAMA Takahiko,Ohta Isao,KAWASAKI Hideaki,Shimomura Masatsugu,Muranaka Yoshinori,TAKAKU Yasuharu. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2016-11-24.

Protective agent for electron microscopic observation of biological sample in water-containing state, kit for electron microscopic observation, methods for observation, diagnosis, evaluation, and quantification by electron microscope, and sample stage

Номер патента: US10128078B2. Автор: Hiroshi Suzuki,Satoshi Hirakawa,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Hideaki Kawasaki,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2018-11-13.

Detachable Sample Chamber having Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) Function for Electron Microscope and Electron Microscope Comprising The Same

Номер патента: KR101983029B1. Автор: 조복래. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2019-05-29.

Specimen holder for an electron microscope, assembly of a specimen holder and an electron microscope and method for reducing thermal drift in an electron microscope.

Номер патента: NL1020936C2. Автор: Hendrik Willem Zandbergen. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2003-12-30.

Device for adjusting the position and the orientation around an axis of a sample holder for an electron microscope

Номер патента: US4405865A. Автор: Roger Valle,Alain Marraud,Bernard Genty. Владелец: Office National dEtudes et de Recherches Aerospatiales ONERA. Дата публикации: 1983-09-20.

Electron microscope, sample actuator for an electron microscope and method for observing microscopic images

Номер патента: DE69128104T2. Автор: Ryo Suzuki,Masatoshi Takeshita,Yusuke Yajima,Masakazu Ichikawa,Mikio Ichihashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-04-09.

Electron-microscopic examination method for examining biosample while keeping said biosample unchanged, and composition for evaporation inhibition under vacuum, scanning electron microscope, and transmission electron microscope for use in said method

Номер патента: EP2755225A1. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2014-07-16.

ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON-MICROSCOPE IMAGE-RECONSTRUCTION SYSTEM AND ELECTRON-MICROSCOPE IMAGE-RECONSTRUCTION METHOD

Номер патента: US20130234024A1. Автор: Kobayashi Hiroyuki,Kubo Takashi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-12.

ELECTRONIC MICROSCOPE, SETTING METHOD OF OBSERVATION CONDITION OF ELECTRONIC MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD USING ELECTRONIC MICROSCOPE

Номер патента: US20150041644A1. Автор: KAWANO Hajime,Tsuno Natsuki,Kazumi Hideyuki,Miwa Takafumi,Kimura Yoshinobu. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION SYSTEM, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION METHOD

Номер патента: US20160056012A1. Автор: Ogura Toshihiko. Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2016-02-25.

Sample holder for scanning electron microscope, scanning electron microscope image observation system, and scanning electron microscope image observation method

Номер патента: EP2985780A4. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2016-12-07.

Sample holding apparatus for electron microscope, and electron microscope apparatus

Номер патента: US20140042318A1. Автор: Akira Watabe,Yusuke Ominami,Toshie Yaguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-02-13.

Iridium Tip, Gas Field Ion Source, Focused Ion Beam Apparatus, Electron Source, Electron Microscope, Electron Beam Applied Analysis Apparatus, Ion-Electron Multi-Beam Apparatus, Scanning Probe Microscope, and Mask Repair Apparatus

Номер патента: US20150047079A1. Автор: SUGIYAMA Yasuhiko,OBA Hiroshi,AITA Kazuo,ARAMAKI Fumio,KOZAKAI Tomokazu,MATSUDA Osamu,YASAKA Anto. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-12.

Method for monitoring environmental states of a microscope sample with an electron microscope sample holder

Номер патента: US20180068827A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2018-03-08.

EMBEDDING RESIN COMPOSITION FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVING SAMPLE ON ELECTRON MICROSCOPE USING SAID COMPOSITION

Номер патента: US20140212913A1. Автор: Ohta Keisuke,Kiyu Toshiyuki. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2014-07-31.

Aberration Correcting Device for an Electron Microscope and an Electron Microscope Comprising Such a Device

Номер патента: US20190228946A1. Автор: KRUIT Pieter. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-25.

SAMPLE SUPPORTING MEMBER FOR OBSERVING SCANNING ELECTRON MICROSCOPIC IMAGE AND METHOD FOR OBSERVING SCANNING ELECTRON MICROSCOPIC IMAGE

Номер патента: US20140346352A1. Автор: Ogura Toshihiko. Владелец: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2014-11-27.

Raman microscope and electron microscope analytical system

Номер патента: US20150279616A1. Автор: HOLLRICHER Olaf,Jiruse Jaroslav,Hanicinec Martin. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

Distortion Measurement Method for Electron Microscope Image, Electron Microscope, Distortion Measurement Specimen, and Method of Manufacturing Distortion Measurement Specimen

Номер патента: US20180342370A1. Автор: Sawada Hidetaka,Konyuba Yuji,Omoto Kazuya. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-29.

Scanning Electron Microscope System, Pattern Measurement Method Using Same, and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20160379798A1. Автор: Yamamoto Takuma,Yamada Shinya,Tanaka Maki,Shishido Chie. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-29.

Electron microscope control apparatus and method for calibration of magnifications of electron microscope

Номер патента: KR101085166B1. Автор: 임충혁. Владелец: (주)컨벡스. Дата публикации: 2011-11-18.

Mapping electron microscope, electron microscope, sample surface observation method, and microdevice manufacturing method

Номер патента: JPWO2005069346A1. Автор: 兼松　えりか,えりか 兼松. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2007-09-06.

Scanning electron microscope universal rotating sample table for fracture analysis and scanning electron microscope

Номер патента: CN110993475B. Автор: 丁宁,郭卫民,刘珑,侯南,李囡. Владелец: Shandong Analysis and Test Center. Дата публикации: 2020-08-28.

IRIDIUM TIP, FIELD ION SOURCE, FOCUSED ION BEAM SETUP, ELECTRON SOURCE, ELECTRON MICROSCOPE, EQUIPMENT FOR ANALYSIS USING AN ELECTRON BEAM, ION ELECTRON MULTIPLE BEAM INSTALLATION, ABUTATING TAPE MICROSCOPE AND MASK REPAIRING DEVICE

Номер патента: DE102014111372A1. Автор: c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE Kozakai Tomokazu,c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE Matsuda Osamu,c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE Sugiyama Yasuhiko,c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE COR Aita Kazuo,c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE COR Aramaki Fumio,c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORP Yasaka Anto,c/o HITACHI HIGH-TECH SCIENCE Oba Hiroshi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-02-12.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: EP1642313B1. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-12-22.

BODY BEAM MICROSCOPE, IN PARTICULAR ELECTRON MICROSCOPE, WITH ADJUSTMENT DEVICES TO CHANGE THE POSITION OF THE OBJECT TO BE IMAGED

Номер патента: DE2529735A1. Автор: Walter Prof Dr Hoppe. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 1977-01-20.

Electron microscope and specimen stage positioning control method for the electron microscope

Номер патента: US20070057196A1. Автор: Masaru Matsushima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-03-15.

BODY BEAM MICROSCOPE, IN PARTICULAR ELECTRON MICROSCOPE, WITH ADJUSTMENT DEVICES FOR CHANGING THE POSITION OF THE OBJECT TO BE IMAGED AND PROCEDURES FOR OPERATING

Номер патента: DE2529735B2. Автор: Walter Prof Dr 8033 Martinsned Hoppe. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 1977-10-06.

Electron microscope and method of operating electron microscope

Номер патента: JP6486670B2. Автор: 隆志 鈴木,鈴木　隆志. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-03-20.

Scanning electron microscope and method of electron microscopically imaging the surface of a sample.

Номер патента: JPH0687410B2. Автор: ディー ダニラトス，ジェラシモス. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1994-11-02.

Method for controlling wien filter for scanning electron microscope and scanning electron microscope having electron beam aligning function

Номер патента: KR101293016B1. Автор: 김석,안재형,금우락. Владелец: 에스엔유 프리시젼 주식회사. Дата публикации: 2013-08-05.

Transmission electron microscope and inspection method using transmission electron microscope

Номер патента: WO2020217456A1. Автор: 圭司 田村,大海 三瀬,矢口　紀恵,康行 野寺,亜希子 和久井,五十嵐　啓介. Владелец: 株式会社日立ハイテク. Дата публикации: 2020-10-29.

Apparatus for protecting membrane of scanning electron microscope and scanning electron microscope having the same

Номер патента: KR101383557B1. Автор: 김주황,배문섭,조양구,이확주. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2014-04-09.

The slicing machine of movable blades is adopted in a kind of decelerating field sweep electron microscope and decelerating field sweep electron microscope

Номер патента: CN103403835B. Автор: 西蒙·安德鲁·盖洛威. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2016-04-13.

Electron beam detection element, electron microscope, and transmission electron microscope

Номер патента: JP6961465B2. Автор: 享裕 黒田. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-11-05.

Microtome, scanning electron microscope and method for preparing thin slices from a sample and method for analysing thin slices produced from a sample in a scanning electron microscope and use of a magnetic tape for the purpose of depositing and transporting of thin slices of samples in the field of scanning electron microscopy

Номер патента: EP3529583A1. Автор: Heinrich Horstmann. Владелец: UNIVERSITAET HEIDELBERG. Дата публикации: 2019-08-28.

Electron microscope and electron microscope control method

Номер патента: JP5977200B2. Автор: 徹 安藤,健二 北川,勉 齋藤,晶 田中,安藤　徹,齋藤　勉. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-24.

Electron microscopic method and electron microscope

Номер патента: DE112012004204B4. Автор: c/o Hitachi Ltd. Miwa Takefumi,c/o Hitachi High-Techno. Corp. Ose Yoichi,c/o Hitachi High-Technologies Corp Nakazawa Eiko,c/o Hitachi High-Techno. Corp. Konomi Mami,c/o Hitachi High-Techno. Corp. Watanabe Shunya,c/o Hitachi Ltd. Kimura Yoshinobu,c/o Hitachi Ltd. Tsuno Natsuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Apperance inspection apparatus with scanning electron microscope and image data processing method using scanning electron microscope

Номер патента: US20090208092A1. Автор: Hiroshi Miyai,Yasuhiro Gunji,Yusuke Ominami. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-08-20.

Method of preparing a transmission electron microscope sample and a sample piece for a transmission electron microscope

Номер патента: US20090119807A1. Автор: Kouji Iwasaki,Tatsuya Asahata,Xin Man. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2009-05-07.

Pattern dimension measurement method using electron microscope, pattern dimension measurement system, and method for monitoring changes in electron microscope equipment over time

Номер патента: US9671223B2. Автор: Maki Tanaka,Katsuhiro Sasada,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Electron microscope with interchangeable multi-aperture arrangement and method for operating the elecetron microscope

Номер патента: EP3671803B1. Автор: Dieter Winkler,Thomas Jasinski. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-03-06.

Raman microscope and electron microscope analytical system

Номер патента: EP2924707B1. Автор: Olaf Hollricher,Jaroslav Jiruse,Martin Hanicinec. Владелец: Witec GmbH. Дата публикации: 2024-02-28.

System for fabricating sample for electron microscope observation, method for fabricating sample for electron microscope observation, and plasma processing device, sputtering device, and tape transfer mechanism used therefor

Номер патента: EP3904858A4. Автор: Shuichi Goto,Shinsuke Shibata,Hideyuki Okano,Tomoko Shindo. Владелец: Sanyu Electron Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-09.

Electron microscope charge-up prevention method and electron microscope

Номер патента: US20030193024A1. Автор: Shigenori Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2003-10-16.

Aberration correcting device for an electron microscope and an electron microscope comprising such a device

Номер патента: EP3488459B1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-03-10.

Electron microscope charge-up prevention method and electron microscope

Номер патента: EP1353356A3. Автор: Shigenori Keyence Corporation Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2005-07-20.

For use in the method method of producing a scanning electron microscope image having reduced distortion and scanning electron microscopes

Номер патента: GB1569299A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1980-06-11.

Transmission Electron Microscope and Method of Operating a Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20130092836A1. Автор: Fober Joerg. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2013-04-18.

Pattern Dimension Measurement Method Using Electron Microscope, Pattern Dimension Measurement System, and Method for Monitoring Changes in Electron Microscope Equipment Over Time

Номер патента: US20130166240A1. Автор: Maki Tanaka,Katsuhiro Sasada,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

MICROTOME, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING THIN SLICES FROM A SAMPLE AND METHOD FOR ANALYSING THIN SLICES PRODUCED FROM A SAMPLE IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND USE OF A MAGNETIC TAPE FOR THE PURPOSE OF DEPOSITING AND TRANSPORTING OF THIN SLICES OF SAMPLES IN THE FIELD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

Номер патента: US20200051778A1. Автор: HORSTMANN Heinrich. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140138542A1. Автор: Nakamura Kuniyasu,Inada Hiromi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-05-22.

Control Method for Electron Microscope and Electron Microscope

Номер патента: US20210074506A1. Автор: Koizumi Mitsuru. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-11.

ELECTRON BEAM DETECTION ELEMENT, ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190139737A1. Автор: Kuroda Yukihiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

ELECTRON BEAM DETECTION ELEMENT, ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190139749A1. Автор: TAKAHASHI Hidekazu,Nagasaki Mizuki. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

Iridium Tip, Gas Field Ion Source, Focused Ion Beam Apparatus, Electron Source, Electron Microscope, Electron Beam Applied Analysis Apparatus, Ion-Electron Multi-Beam Apparatus, Scanning Probe Microscope, and Mask Repair Apparatus

Номер патента: US20170148603A1. Автор: SUGIYAMA Yasuhiko,OBA Hiroshi,AITA Kazuo,ARAMAKI Fumio,KOZAKAI Tomokazu,MATSUDA Osamu,YASAKA Anto. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-25.

Sample chamber device for electron microscope, and electron microscope comprising same

Номер патента: US20180158645A1. Автор: Bok Lae CHO,Sang Jung Ahn,Inho SUL. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-06-07.

Electron microscope and electron microscope sample retaining device

Номер патента: US20150179396A1. Автор: Yasuhira Nagakubo,Toshie Yaguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-06-25.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope

Номер патента: US20170221675A1. Автор: KRUIT Pieter,Hoogenboom Jacob Pieter,LIV HAMARAT Nalan. Владелец: DELMIC B.V.. Дата публикации: 2017-08-03.

ELECTRON MICROSCOPE ELECTRON GUN FOR FACILITATING POSITION ADJUSTMENT AND ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING SAME

Номер патента: US20180218874A1. Автор: PARK In Yong,CHO Bok Lae. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science. Дата публикации: 2018-08-02.

METHOD FOR MONITORING ENVIRONMENTAL STATES OF A MICROSCOPE SAMPLE WITH AN ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER

Номер патента: US20150235805A1. Автор: JR. John,Nackashi David P.,Damiano,Gardiner Daniel Stephen,Carpenter William Bradford,Walden,II Franklin Stampley. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Method of Controlling Transmission Electron Microscope and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200312612A1. Автор: Yuji Kohno. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

ANALYSIS METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20160365220A1. Автор: YAMAZAKI Takashi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2016-12-15.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190348255A1. Автор: SAKAKIBARA Makoto,Tsuno Natsuki,Kazumi Hideyuki,Miwa Takafumi,Yokosuka Toshiyuki,Bizen Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2019-11-14.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: WO2005006384A2. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2005-01-20.

Detector system for a scanning electron microscope and scanning electron microscope with a corresponding detector system

Номер патента: EP1642313A2. Автор: Johannes Bihr,Heiner Jaksch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2006-04-05.

Electron microscopic method and electron microscope using the same

Номер патента: JPWO2005114693A1. Автор: 一寿 郷原. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2008-03-27.

Photographing method of microscope image on electron microscope

Номер патента: JPS56130066A. Автор: Yoshiyasu Harada,Yukihisa Ishida. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1981-10-12.

Microtome utilizing a movable knife in a retardation field scanning electron microscope and a retardation field scanning electron microscope including the same

Номер патента: CN103403835A. Автор: 西蒙﹒安德鲁﹒盖洛威. Владелец: Gatan Inc. Дата публикации: 2013-11-20.

Low energy scanning electron microscope system, scanning electron microscope system and sample detection method

Номер патента: CN109300759A. Автор: 何伟,李帅. Владелец: Spotlight Technology (beijing) Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-01.

Method for image reconstruction in a high-resolution electron microscope, and electon microscope suitable for use of such a method

Номер патента: EP0597538B1. Автор: Willem Marie Julia Marcel Coene. Владелец: Philips Electronics NV. Дата публикации: 1997-04-16.

Low-energy scanning electron microscope system, scanning electron microscope system, and specimen detection method

Номер патента: EP3782182A1. Автор: Wei He,Shuai Li. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

Scanning electron microscope and method of imaging an object by using the scanning electron microscope

Номер патента: US20080310704A1. Автор: Ichiro Tachibana,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-12-18.

Distortion measurement method for electron microscope image, electron microscope, distortion measurement specimen, and method of manufacturing distortion measurement specimen

Номер патента: EP3410461A1. Автор: Hidetaka Sawada,Kazuya Omoto,Yuji Konyuba. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-12-05.

Control method of transmission electron microscope and transmission electron microscope

Номер патента: JP6995103B2. Автор: 寛文 飯島. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-01-14.

Luminescence system for electron microscope, has parabolic revolution mirror, wave extractor for extraction of signal from electron microscope, and emptiness lens, support and adaptable monochromator utilized for partial analysis of signal

Номер патента: ES2253118A1. Автор: Daniel Araujo Gay,David Mendez Martin,Antonio Juan Garcia Fuentes,Frco. Javier Navas Pineda. Владелец: Universidad de Cadiz. Дата публикации: 2006-05-16.

PARTICLE BEAM MICROSCOPE, MORE PARTICULARLY ELECTRON MICROSCOPE, WITH ADJUSTMENT DEVICES FOR CHANGING THE POSITION OF THE OBJECT TO BE IMAGED.

Номер патента: NL7607280A. Автор: . Владелец: Max Planck Gesellschaft. Дата публикации: 1977-01-04.

Transmission electron microscope for reconstructing a three-dimensional structure and transmission electron microscope image reconstruction method

Номер патента: EP2648206B1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Takashi Kubo. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2019-03-20.

Electron microscope having a goniometer controlled from the image frame of reference

Номер патента: US5481111A. Автор: Karen I. Trovato,Thomas P. H. Warmerdam,Leendert Dorst,Madeleine E. Rosar. Владелец: Philips Electronics North America Corp. Дата публикации: 1996-01-02.

Method for measuring information transfer limit in transmission electron microscope, and transmission electron microscope using the same

Номер патента: US20080099677A1. Автор: Takaho Yoshida. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-05-01.

Scanning electron microscope and scanning tunneling electron microscope

Номер патента: WO2013012041A1. Автор: 博実 稲田,邦康 中村. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2013-01-24.

Method for inspecting a sample using an assembly comprising a scanning electron microscope and a light microscope.

Номер патента: NL2013262B1. Автор: KRUIT Pieter,LIV HAMARAT Nalan,Pieter Hoogenboom Jacob. Владелец: Delmic B V. Дата публикации: 2016-09-09.

Electron microscope and electron microscope sample holder

Номер патента: DE112013003328B4. Автор: c/o Hitachi High-Technologies Co Yaguchi Toshie,c/o Hitachi High-Technologies Nagakubo Yasuhira. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Sample cooling device and sample cooling method for linked image detection through optical microscope and electron microscope

Номер патента: WO2016125924A1. Автор: 정현석,전상미. Владелец: 한국기초과학지원연구원. Дата публикации: 2016-08-11.

System for fabricating sample for electron microscope observation, method for fabricating sample for electron microscope observation, and plasma processing device, sputtering device, and tape transfer mechanism used therefor

Номер патента: WO2020138297A1. Автор: 岡野　栄之,修一 後藤,晋介 芝田,知子 信藤. Владелец: サンユー電子株式会社. Дата публикации: 2020-07-02.

Electron microscope charge elimination method and electron microscope

Номер патента: EP1353356B1. Автор: Shigenori Keyence Corporation Takagi. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2007-08-01.

Observation method by means of scanning transmission electron microscope, scanning transmission electron microscope system, and program

Номер патента: EP4057320A4. Автор: Naoya Shibata,Yuichi Ikuhara,Takehito Seki,Kousuke Ooe. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2023-12-13.

Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1706887A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-10-04.

Electron microscopes

Номер патента: AU4438179A. Автор: Leslie Arthur Bursill,Alan Edwin Charles Spargo,Desmond Wentworth. Владелец: University of Melbourne. Дата публикации: 1979-08-30.

Charged particle apparatus, scanning electron microscope, and sample inspection method

Номер патента: US20120004879A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Noritsugu Takahashi,Tomoyasu Shojo,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-01-05.

Scanning probe and electron microscope probes and their manufacture

Номер патента: EP3497453C0. Автор: Joseph W Lyding,Jinju Lee,Scott P Lockledge,Gregory S Girolami. Владелец: Tiptek LLC. Дата публикации: 2024-03-20.

User interface for an electron microscope

Номер патента: EP2024732A4. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Leeuwen Hugo Van,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus G Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-03-30.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750A4. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Leeuwen Hugo Van,Johannes A H W G Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-04-06.

User interface for an electron microscope

Номер патента: EP2024732B1. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus Wilhelmus G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2012-11-28.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024750B1. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Johannes A.H.W.G. Persoon,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-04-23.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733B1. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Hugo Van Leeuwen,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Johannes Antonius Hendricus W.G. Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-11-26.

Scanning Electron Microscope and Three-Dimensional Shape Measuring Device That Used It

Номер патента: US20080283747A1. Автор: Yoshinobu Hoshino,Shigeru Kawamata,Asako Kaneko. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Sample preparation system and method for electron microscope observation and use of the sample preparation system

Номер патента: EP3904858B1. Автор: Shuichi Goto,Shinsuke Shibata,Hideyuki Okano,Tomoko Shindo. Владелец: Sanyu Electron Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Enabling scanning electron microscope imaging while preventing sample damage on sensitive layers used in semiconductor manufacturing processes

Номер патента: US20210407834A1. Автор: Hari Pathangi Sriraman. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2021-12-30.

Enabling scanning electron microscope imaging while preventing sample damage on sensitive layers used in semiconductor manufacturing processes

Номер патента: WO2021262913A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-12-30.

Method of imaging defects using an electron microscope

Номер патента: GB2561112B. Автор: Hirohata Atsufumi. Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2021-06-16.

Charged particle beam system and method of measuring sample using scanning electron microscope

Номер патента: US11217422B2. Автор: Akira Abe,Yuta Murakami,Yoshikazu Nemoto,Masatsugu Kawamoto,Takakuni Maeda,Hiroki Mezaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-01-04.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: IL271541B. Автор: . Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2022-04-01.

Scanning electron microscope device, evaluation point generating method, and program

Номер патента: US20120104251A1. Автор: Takahiro Kawasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-05-03.

Transmission electron microscope sample alignment system and method

Номер патента: EP3616230A1. Автор: YU Han,Kun Li,Yihan ZHU,Daliang ZHANG. Владелец: King Abdullah University of Science and Technology KAUST. Дата публикации: 2020-03-04.

Electron microscope adapted to introduce an arbitrary aberration

Номер патента: EP3537470B1. Автор: Takeo Sasaki,Shigeyuki Morishita,Tomohiro NAKAMICHI. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-09.

Electron microscope

Номер патента: EP3389079B1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Method of mosaicing electron microscope images on a single photographic plate and apparatus therefor

Номер патента: GB2037480B. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1983-01-19.

Electron microscope attachment

Номер патента: US2857521A. Автор: Moscatelli Felix. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1958-10-21.

Ionisationsdetektor für ein environmental scanning electron microscope

Номер патента: ATE535007T1. Автор: Vilem Nedela,Josef Jirak. Владелец: Ustav Pristrojove Techniky Av Cr V V I. Дата публикации: 2011-12-15.

Estimation Model Generation Method and Electron Microscope

Номер патента: US20220262595A1. Автор: Shigeyuki Morishita,Ryusuke Sagawa,Fuminori Uematsu,Tomohiro NAKAMICHI,Keito Aibara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-08-18.

Improved x-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: WO2023203354A1. Автор: Santokh Bhadare,Haithem MANSOUR,Chris TYRRELL. Владелец: Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited. Дата публикации: 2023-10-26.

Electron microscope focusing system

Номер патента: US2856534A. Автор: Harold T Meryman. Владелец: Canal Industrial Corp. Дата публикации: 1958-10-14.

Observation method employing scanning electron microscope, and sample holder for same

Номер патента: EP4167266A4. Автор: Seiji Yamaguchi,Hiroaki Takadama,Seine Shintani. Владелец: CHUBU UNIVERSITY EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2024-07-10.

Sample holder and method for observing electron microscopic image

Номер патента: US20150214003A1. Автор: Toshihiko Ogura. Владелец: LIFESEM Inc. Дата публикации: 2015-07-30.

Secondary electron detection system for scanning electron microscope

Номер патента: PL359748A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2004-10-18.

Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005071710A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-08-04.

Method of three-dimensional image reconstruction and transmission electron microscope

Номер патента: EP1628321B1. Автор: Hiromitsu Furukawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-12-09.

Scanning electron microscope

Номер патента: TWI349948B. Автор: Yang Kuao Kuo,Kuo Hsing Teng. Владелец: VisEra Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-01.

Photographing shutter and fluorescent plate structure for electron microscopes

Номер патента: US3452194A. Автор: Hiroshi Akahori. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1969-06-24.

Scanning electron microscope

Номер патента: AU2001237607A1. Автор: John Craven,Francis Baker. Владелец: Cambridge University Technical Services Ltd CUTS. Дата публикации: 2001-09-17.

Linear motor, movable stage and electron microscope

Номер патента: US9093890B2. Автор: Hideki Tanaka,Masahiro Koyama,Hiroshi Tsuji,Masaki Mizuochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-07-28.

Sample fixing device for scanning electronic microscope

Номер патента: JPS57202053A. Автор: Tsumoru Suzuki. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 1982-12-10.

Control system using external computer for electron microscope

Номер патента: GB8806430D0. Автор: . Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1988-04-20.

Controlling an electron microscope

Номер патента: GB2215947A. Автор: Keisuke Suzuki,Seiichiro Mori,Yasushi Kokubo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-09-27.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20240096588A1. Автор: Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Transmission electron microscope

Номер патента: EP4339994A1. Автор: Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Mechanism for tilting specimens in electron microscopes and electron diffraction cameras

Номер патента: US3488493A. Автор: John C Mills. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 1970-01-06.

Method of measuring the performance of a scanning electron microscope

Номер патента: TW571335B. Автор: Peter Dirksen,Rene Johan Gerrit Elfrink,Casparus Anthonius Juffermans. Владелец: Koninkl Philips Electronics Nv. Дата публикации: 2004-01-11.

Voltage divider for variable magnification electron microscopes

Номер патента: US2568112A. Автор: Bruck Henri. Владелец: CSF Compagnie Generale de Telegraphie sans Fil SA. Дата публикации: 1951-09-18.

Variable rate scanning in an electron microscope

Номер патента: TW201013736A. Автор: Alon Litman,Benzion Sender,Amir Shoham. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2010-04-01.

Scanning electron microscope and map display method for absorption edge structure

Номер патента: EP4148422A1. Автор: Hideyuki Takahashi,Takaomi Yokoyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-15.

Gaseous backscattered electron detector for an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU1778399A. Автор: Peter D. Smith,Thomas A. Hardt,Ralph Knowles. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 1999-08-16.

Electron microscope

Номер патента: US2268539A. Автор: Ruska Ernst,Borries Bodo Von. Владелец: Fides Gesellschaft fuer die Verwaltung und Verwertung von Gewerblichen Schutzrechten mbH. Дата публикации: 1941-12-30.

Spherical aberration adjustment cathode lens, spherical aberration correction electrostatic lens, electron spectroscope, and photoemission electron microscope

Номер патента: EP4075475A4. Автор: Hiroyuki Matsuda,Fumihiko MATSUI. Владелец: Inter University Research Institute Corp National Institute of Natural Sciences. Дата публикации: 2024-07-24.

Scanning electron microscope objective lens calibration

Номер патента: SG11201912704YA. Автор: Huina XU,Ichiro Honjo,Christopher Sears,Jianwei Wang,Hedong Yang,Thanh Ha. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Driver of sample holder for electron microscope and stage comprising same

Номер патента: EP3531105A4. Автор: Cheolsu Han,Sang-Chul Lee,Jin-Gyu Kim,Jongman Jeong. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2020-07-01.

Desktop electron microscope and combined round-multipole magnetic lens thereof

Номер патента: US20160042911A1. Автор: Fu-Rong Chen,Tsu-Wei Huang,Wei-Yu Chang,Te-Hui Lee. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2016-02-11.

Compact scanning electron microscope

Номер патента: EP2024733A4. Автор: Hendrik Gezinus Tappel,Steven Berger,Colin August Sanford,Bart Buijsse,Cornelis Sander Kooijman,Sander Richard Marie Stoks,Mart Petrus Maria Bierhoff,Ben Jacobus Marie Bormans,Koen Arnoldus Wilhelmus Driessen,Leeuwen Hugo Van,Johannes Antonius Hendricus W G Persoon. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-04-06.

Method of imaging defects using an electron microscope

Номер патента: GB201621062D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2017-01-25.

Method of imaging defects using an electron microscope

Номер патента: GB201809532D0. Автор: . Владелец: UNIVERSITY OF YORK. Дата публикации: 2018-07-25.

Electron-microscopic examination method for examining a living biological sample

Номер патента: EP2755225B1. Автор: Hiroshi Suzuki,Masatsugu Shimomura,Takahiko Hariyama,Yasuharu Takaku,Daisuke Ishii,Isao Ohta,Yoshinori Muranaka. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2017-05-10.

Detector system for transmission electron microscope

Номер патента: EP2423942B1. Автор: Uwe Luecken,Remco Schoenmakers,Frank Schuurmans. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-01-13.

Improvements in electron microscopes

Номер патента: GB511204A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1939-08-15.

Apparatus for positioning specimens in electron microscopes or electron diffraction cameras

Номер патента: AU1354266A. Автор: Cunningham Mills John. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 1969-07-10.

Tiltable specimen holder for electron microscopes with electrical deflecting means to wobble the electron beam image

Номер патента: US3308294A. Автор: Ozasa Susumu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1967-03-07.

Reference sample with inclined support base, method for evaluating scanning electron microscope, and method for evaluating sic substrate

Номер патента: EP3451362B1. Автор: Tadaaki Kaneko,Koji Ashida. Владелец: KWANSEI GAKUIN EDUCATIONAL FOUNDATION. Дата публикации: 2020-12-23.

Specimen device for electron microscope

Номер патента: JPS56132755A. Автор: Yoshinori Aoki. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1981-10-17.

X-ray detector for transmission electron microscope

Номер патента: EP2197019B1. Автор: Pleun Dona,Bert Freitag,Hanno Von Harrach. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-03-23.

Improved x-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB202305920D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2023-06-07.

Systems and methods for in situ high temperature x-ray spectroscopy in electron microscopes

Номер патента: US20190242836A1. Автор: Patrick Paul Camus. Владелец: Edax Inc. Дата публикации: 2019-08-08.

Improved x-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB202205827D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2022-06-08.

Scanning electron microscope

Номер патента: GB9202562D0. Автор: . Владелец: Jeol Technics Co Ltd. Дата публикации: 1992-03-25.

Cover for an electron microscope

Номер патента: USD708245S1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Toshiyuki Moriya,Naoki Sakamoto,Kosuke Matoba,Hirofumi Sato. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-07-01.

Systems and methods for hybrid enhancement of scanning electron microscope images

Номер патента: US20230260085A1. Автор: Umesh Adiga. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-17.

Method of focusing electron microscopes

Номер патента: US2256171A. Автор: Ruska Helmut. Владелец: Fides Gesellschaft fuer die Verwaltung und Verwertung von Gewerblichen Schutzrechten mbH. Дата публикации: 1941-09-16.

Electron microscope

Номер патента: EP3608940B1. Автор: Shuho YOSHIDA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-02-24.

The method and the system designed for directional detection of electrons in the scanning electron microscope

Номер патента: PL364510A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-07-25.

Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Номер патента: EP1706887B1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2012-09-26.

Scanning transmission electron microscope and axial adjustment method thereof

Номер патента: EP2600379A4. Автор: Kuniyasu Nakamura,Hiromi Inada. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2014-07-30.

Electron microscope and image acquisition method

Номер патента: EP3258477B1. Автор: Ryusuke Sagawa,Yukihito Kondo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-04-03.

Specimen anticontamination device for use in an electron microscope

Номер патента: GB2000901A. Автор: . Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1979-01-17.

Electron microscope for dark-field illumination

Номер патента: CA1002209A. Автор: Karel J. Van Oostrum. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1976-12-21.

Method and apparatus for measuring displacement between patterns and scanning electron microscope installing unit for measuring displacement between patterns

Номер патента: US20130264479A1. Автор: Atsuko Yamaguchi,Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Yasunari Sohda,Osamu Nasu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-10.

Scanning electron microscope grain imaging

Номер патента: GB9403815D0. Автор: . Владелец: UK Secretary of State for Trade and Industry. Дата публикации: 1994-04-20.

Charged particle beam reflector device and electron microscope

Номер патента: EP2048690A3. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-12-15.

Electrode for use in a scanning electron microscope

Номер патента: AU2266288A. Автор: Jan Andersson,Rolf Nybom. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-03-09.

Judging method for brightness of picture of scanning electron microscope

Номер патента: JPS57176660A. Автор: Seiji Hayashi. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1982-10-30.

Method of mosaicing electron microscope images on a single photographic plate and apparatus therefor

Номер патента: GB2037480A. Автор: . Владелец: INTERNATIONAL PRECISION Inc. Дата публикации: 1980-07-09.

Time-resolved photoemission electron microscope device and method for acquiring carrier dynamics image using said device

Номер патента: EP3591388A4. Автор: Shinya Koshihara,Keiki Fukumoto. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2021-03-31.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20010002698A1. Автор: Mitsugu Sato,Yuko Iwabuchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-06-07.

Charged particle beam system and method of measuring sample using scanning electron microscope

Номер патента: EP3693989A1. Автор: Akira Abe,Yuta Murakami,Yoshikazu Nemoto,Masatsugu Kawamoto,Takakuni Maeda,Hiroki Mezaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Top insertion transmissive electron microscope

Номер патента: JPS5476059A. Автор: Nikoraebuichi Boburof Gennadei,Isaebuichi Shiishikofu Mihairu,Ibuanobuichi Kujin Gennadei,Gurigoriebuichi Ibuan Ebugenii,Mihairobuichi Akimofu Igoru. Владелец: Sp K Byuro Biolog Priborostr. Дата публикации: 1979-06-18.

System for detection of secondary and backward scattered electrons for use in scanning electron microscope

Номер патента: PL362826A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-04-18.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005036583A3. Автор: Witold Slowko. Владелец: Witold Slowko. Дата публикации: 2005-09-09.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1673797A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2006-06-28.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: EP1673797B1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2009-12-09.

Detector system of secondary and backscattered electrons for a scanning electron microscope

Номер патента: WO2005036583A2. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2005-04-21.

Electron beam generation for transmission electron microscope

Номер патента: EP3365910B1. Автор: Otger Jan Luiten. Владелец: Eindhoven Technical University. Дата публикации: 2019-09-04.

Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20090159797A1. Автор: Kurio Fukushima. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-06-25.

Liquid chip for electron microscope having excellent bulging resistance

Номер патента: US20200240933A1. Автор: Jungjae PARK,Jongmin YUK,Namgyu NOH,Kunmo KOO,Sanghyeon JI. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2020-07-30.

Cooling device for the object in a scanning electron microscope

Номер патента: GB1344028A. Автор: . Владелец: Oesterreichische Studiengesellschaft fuer Atomenergie GmbH. Дата публикации: 1974-01-16.

Improvements in electron microscopes

Номер патента: GB511206A. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1939-08-15.

Measuring method, data processing apparatus and electron microscope using same

Номер патента: US20140246585A1. Автор: Junichi Tanaka,Tomoko Sekiguchi,Hiroki Kawada,Takeyoshi Ohashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-09-04.

A measurement method, a data processing device, and an electron microscope using the method and apparatus

Номер патента: TWI476367B. Автор: 田中潤一,川田洋揮,大橋健良,關口智子. Владелец: 日立全球先端科技股份有限公司. Дата публикации: 2015-03-11.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20030122074A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Toshiro Kubo,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Noriaki Arai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-07-03.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20040113074A1. Автор: Yoichi Ose,Hideo Todokoro,Toshiro Kubo,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki,Noriaki Arai. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-06-17.

Sample Carrier and Electron Microscope

Номер патента: US20200051775A1. Автор: Shuho YOSHIDA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-02-13.

Scanning type electron microscope having capability of indicating a plurality of sample images and its similar apparatus

Номер патента: JPS57132658A. Автор: Masahiro Inoue,Shigetomo Yamazaki,Akira Onoguchi,Mitsuhisa Miyazawa. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-08-17.

Scanning transmission electron microscopes

Номер патента: GB1556724A. Автор: . Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1979-11-28.

Scanning electron microscope (s e m)

Номер патента: GB2139455A. Автор: Syobu Saito. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1984-11-07.

Electron microscope

Номер патента: TW200414265A. Автор: Shuichi Suzuki,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Kishifu Hidaka,Hisaaki Horiuchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2004-08-01.

Electron microscope

Номер патента: TWI231519B. Автор: Kishio Hidaka,Yoshimichi Numata,Tadashi Fujieda,Mitsuo Hayashibara,Toshiaki Horiuchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-04-21.

Electronic microscope

Номер патента: US2356551A. Автор: Ruska Ernst,Borries Bodo Von,Muller Heinz Otto. Владелец: Individual. Дата публикации: 1944-08-22.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: GB2161018B. Автор: Yoshiyasu Harada,Takeshi Tomita,Kimio Ohi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-06-01.

Automated application of drift correction to sample studied under electron microscope

Номер патента: EP3931853C0. Автор: Daniel Stephen GARDINER,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,David P Nackashi,Benjamin Jacobs,Alan Philip Franks,Jr John Damiano. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2024-06-19.

Transmission-type electron microscope

Номер патента: GB8509681D0. Автор: . Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1985-05-22.

Method for forming an electrical connection to a sample support in an electron microscope holder

Номер патента: US09837746B2. Автор: John Damiano, Jr.,Stephen E. Mick,David P. Nackashi. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Mirror support module, a kit and a scanning electron microscope

Номер патента: US09805906B1. Автор: Natan Schlimoff,Efim Vinnitsky,Samuel Ives Nackash,Shmuel Barak Mizrahi. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Electron beam irradiation method and scanning electron microscope

Номер патента: US09640366B2. Автор: Minoru Yamazaki,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Kazutami Tago. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Scanning electron microscope

Номер патента: US09613781B2. Автор: Masahiro Hayashi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-04-04.

Scanning transmission electron microscope having multiple beams and post-detection image correction

Номер патента: US09607804B2. Автор: Rudolf M. Tromp. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Scanning transmission electron microscope having multiple beams and post-detection image correction

Номер патента: US09552961B2. Автор: Rudolf M. Tromp. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Apparatus for cutting transmission electron microscope micro-grids

Номер патента: US09522823B2. Автор: Chen Feng,Xue-Wei Guo. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-20.

Method for forming an electrical connection to an sample support in an electron microscope holder

Номер патента: US09437393B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,William Bradford Carpenter. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Transmission electron microscope cells for use with liquid samples

Номер патента: US09412556B2. Автор: A. Paul Alivisatos,Alexander K. Zettl,Waqas KHALID. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2016-08-09.

Scanning electron microscope and inspection method using same

Номер патента: US20120286158A1. Автор: Yasunari Sohda,Takeyoshi Ohashi,Keiichiro Hitomi,Kaori Shirahata. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-11-15.

Specimen box for electron microscope

Номер патента: US20130009071A1. Автор: Chih Chen,King-Ning Tu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-10.

Double Tilt Transmission Electron Microscope Sample Holder for In-Situ Measurement of Microstructures

Номер патента: US20130105706A1. Автор: Wang Xiaodong,Liu Pan,Han Xiaodong,Yue Yonghai,Zhang Yuefei,Zheng Kun,Zhang Ze. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2013-05-02.

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND AXIAL ADJUSTMENT METHOD THEREOF

Номер патента: US20130112875A1. Автор: Nakamura Kuniyasu,Inada Hiromi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-05-09.

Method and apparatus for measuring displacement between patterns and scanning electron microscope installing unit for measuring displacement between patterns

Номер патента: US20130264479A1. Автор: Atsuko Yamaguchi,Tatsuya Maeda,Hiroki Kawada,Yasunari Sohda,Osamu Nasu. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-10.

Electron Microscope and Method of Operating the Same

Номер патента: US20130332116A1. Автор: Suzuki Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-12.

COORDINATE CORRECTING METHOD, DEFECT IMAGE ACQUIRING METHOD AND ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140061456A1. Автор: KAMEISHI Kouta. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2014-03-06.

METHOD OF VERIFYING OPERATION PARAMETER OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190006145A1. Автор: KANEKO Koji. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-03.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20170018394A1. Автор: Takahashi Noritsugu,Sohda Yasunari,Ohashi Takeyoshi,KAWANO Hajime,Miwa Takafumi. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-19.

ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER FOR FORMING A GAS OR LIQUID CELL WITH TWO SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20170025245A1. Автор: JR. John,Nackashi David P.,Damiano,Mick Stephen E.. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

AUTOFOCUS METHOD FOR A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20210027979A1. Автор: KUBOTA Daisuke. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Scanning Electron Microscope Image Anchoring to Design for Array

Номер патента: US20220059316A1. Автор: Bhattacharyya Santosh,Esbenshade Steve. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

Optimized sub-sampling in an electron microscope

Номер патента: US20190043690A1. Автор: Libor Kovarik,Andrew J. Stevens,Andrey V. Liyu,Nigel D. Browning. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2019-02-07.

METHOD FOR FORMING AN ELECTRICAL CONNECTION TO A SAMPLE SUPPORT IN AN ELECTRON MICROSCOPE HOLDER

Номер патента: US20170054239A1. Автор: JR. John,Nackashi David P.,Damiano,Gardiner Daniel Stephen,Carpenter William Bradford,Walden,II Franklin Stampley. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-23.

Electron Microscope and Sample Observation Method

Номер патента: US20160064183A1. Автор: MATSUMOTO Hiroaki,Nagaoki Isao,NAKANO Kiyotaka,Sato Takeshi,Oyagi Toshiyuki,Nagakubo Yasuhira. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

Vacuum tube electron microscope

Номер патента: US20170062179A1. Автор: Prakash Manu,Pease R. Fabian W.,Cybulski James Stanley. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND OPERATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20210066034A1. Автор: Lee Taeyong,CHO Yongmin,LIM Sangkyo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2021-03-04.

Electron Microscope and Method of Adjusting Monochromator

Номер патента: US20160079030A1. Автор: MUKAI Masaki. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-17.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20160148782A1. Автор: Agemura Toshihide,Morishita Hideo. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-26.

ELECTRONIC MICROSCOPE DEVICE

Номер патента: US20210225608A1. Автор: Sun Wei,Yamamoto Takuma,Osaki Mayuka,Nishihata Takahiro. Владелец: Hitachi High-Tech Corporation. Дата публикации: 2021-07-22.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140299769A1. Автор: Wang Zhigang,Sohda Yasunari,Fukaya Ritsuo,Okai Nobuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-09.

Holder device for electron microscope

Номер патента: US20150235802A1. Автор: Sung Dae Kim,Young Woon Kim. Владелец: SNU R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2015-08-20.

Scanning Probe and Electron Microscope Probes and Their Manufacture

Номер патента: US20190219611A1. Автор: Lockledge Scott P.,GIROLAMI Gregory S.,LYDING JOSEPH W.,Lee Jinju. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

Electron Microscope and Sample Movement Device

Номер патента: US20150243472A1. Автор: Kikuchi Hideki,Ueda Kota,Saitou Kouichirou. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-27.

Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20200227231A1. Автор: Kuo Tzu-Yi,Tseng Yu-Kuang. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-16.

Electron Microscope

Номер патента: US20180240643A1. Автор: Aoki Kazuo,Suzuki Naomasa,Takada Satoshi,HOSHINO Takayuki,KONNO Takehiko. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-23.

Measurement Method and Electron Microscope

Номер патента: US20160254118A1. Автор: Kohno Yuji. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CALCULATION METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE DEPTH

Номер патента: US20200234916A1. Автор: Yasui Kenji,SUZUKI Makoto,Yokosuka Toshiyuki,ABE Yusuke,Osaki Mayuka,Bizen Daisuke,Kitsuki Hirohiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-23.

Scanning Transmission Electron Microscope and Aberration Correction Method

Номер патента: US20200266025A1. Автор: Morishita Shigeyuki,Chiyo Izuru. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-20.

ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20200303152A1. Автор: Minemura Hiroyuki,OHSHIMA Takashi,Agemura Toshihide,Ose Yoichi,ENYAMA Momoyo,ANZAI Yumiko. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

USER INTERFACE FOR AN ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20150332891A1. Автор: Kooijman Cornelis Sander,Stoks Sander Richard Marie,Buijsse Bart,BERGER STEVEN,BIERHOFF MART PETRUS MARIA,VAN LEEUWEN HUGO,TAPPEL HENDRIK GEZINUS,SANFORD COLIN AUGUST,BORMANS BEN JACOBUS MARIE,DRIESSEN KOEN ARNOLDUS WILHELMUS,PERSOON JOHANNES ANTONIUS HENDRICUS W. G.. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2015-11-19.

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD

Номер патента: US20170323762A1. Автор: Nagaoki Isao,Yotsuji Takafumi,OOYAGI Toshiyuki. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2017-11-09.

METHOD FOR ENABLING MODULAR PART REPLACEMENT WITHIN AN ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER

Номер патента: US20180330915A1. Автор: JR. John,Damiano,Gardiner Daniel Stephen,Walden,II Franklin Stampley. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-15.

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20180358199A1. Автор: KUMAMOTO Kazuya,Matsuda Sadayoshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-13.

ELECTRONIC MICROSCOPE AND SPECTROSCOPIC SYSTEM

Номер патента: DE69937531D1. Автор: Robert Bennett,John C C Day. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2007-12-27.

Scanning electron microscope with detachable vaccum chamber unit

Номер патента: KR101421090B1. Автор: 최지연,임선종. Владелец: 한국기계연구원. Дата публикации: 2014-07-18.

Scanning electron microscope

Номер патента: KR101455944B1. Автор: 야스나리 소다,히로마사 야마나시,무네유끼 후꾸다,다께요시 오아시,오사무 고무로. Владелец: 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈. Дата публикации: 2014-10-28.

Check system of apparatus in electron microscope

Номер патента: JPS6134842A. Автор: Wataru Hayashida,林田　渉. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1986-02-19.

Charged particle beam device and scanning electron microscope

Номер патента: US10438770B2. Автор: Kazuya Kumamoto,Sadayoshi Matsuda. Владелец: Matsusada Precision Inc. Дата публикации: 2019-10-08.

Electron lens spherical aberration adjusting device, electron lens device and electron microscope system

Номер патента: CN113517167B. Автор: 唐传祥,陈怀璧,李任恺,黄鹏玮,查皓,杜应超,黄文会. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-09-23.

Scanning electron microscope

Номер патента: JP4111908B2. Автор: 洋揮 川田,怜 池田,篤 小原. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-07-02.

TEM (transmission electron microscope) micro-grid

Номер патента: CN105185679A. Автор: 范守善,魏洋,林晓阳. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-23.

Spatially-resolved analysis of electron spin polarization in beam path of parallel-focusing electron microscope, by displaying lateral distribution of degree of spin polarization of electrons on image detector

Номер патента: DE102005045622A1. Автор: . Владелец: Gst Gesellschaft fur Systembezogene Technologieentwicklung Mbh. Дата публикации: 2007-04-05.

ELECTRONIC MICROSCOPE FOR FORMING A PHASE IMAGE THAT IS NOT DEDUCTED FROM DIFFERENCE IMAGES

Номер патента: FR2423860A1. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1979-11-16.

DEVICE FOR DETECTING SECONDARY ELECTRONS IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: FR2488044A1. Автор: TAKASHIMA Susumu,Tamura Nobuaki. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-02-05.

Determining surface inclination at electron beam incident point with scanning electron microscope involves deriving angle from measured emissions using calibrated relationship

Номер патента: DE19951147A1. Автор: Stephen W Into. Владелец: Schlumberger Technologies Inc. Дата публикации: 2000-05-11.

Scanning transmission electron microscope and method of aberration correction therefor

Номер патента: EP2101343A2. Автор: Hidetaka Sawada. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-09-16.

Particle optical corrector free of axial errors of sixth order and electron microscope with corrector

Номер патента: EP3780064A1. Автор: Dr. Stephan Uhlemann. Владелец: CEOS Corrected Electron Optical Systems GmbH. Дата публикации: 2021-02-17.

Electron detector including an intimately-coupled scintillator-photomultiplier combination, and electron microscope and x-ray detector employing same

Номер патента: EP2599103A2. Автор: Nicholas C. Barbi,Felip Lopour,Claudio Piedmonte,Richard B. Mott. Владелец: Pulsetor LLC. Дата публикации: 2013-06-05.

Method of forming images in a scanning electron microscope

Номер патента: US7105817B2. Автор: Conal Murray,Lynne Gignac,Oliver Wells. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2006-09-12.

scanning Electron Microscope

Номер патента: DE69623841T2. Автор: Tadashi Otaka,Tatsuya Maeda,Katsuhiro Sasada,Atsushi Kobaru. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-05-22.

Compact Electron Microscope

Номер патента: KR101623949B1. Автор: 이준희,김용주,이영노. Владелец: (주)코셈. Дата публикации: 2016-05-25.

Electron microscope with a phase plate

Номер патента: EP2159818B1. Автор: Bastian Barton,Rasmus R. Schröder. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2015-03-18.

Scanning electron microscope having multiple detectors and a method for multiple detector based imaging

Номер патента: WO2005017511A1. Автор: Pavel Adamec,Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel, Ltd.. Дата публикации: 2005-02-24.

The method and system of noise decrease in multi beam scanning electron microscope system

Номер патента: CN108027501A. Автор: M·A·麦科德,R·克尼彭迈耶,D·马斯纳盖蒂,R·R·西蒙斯. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-05-11.

Methods, systems and computer program products for measuring critical dimensions of fine patterns using scanning electron microscope pictures and secondary electron signal profiles

Номер патента: US7923684B2. Автор: Sung-Joong Kim,Kwang-Sik Kim,Min-Sub Kang,Kyung-Ho Jung,Sang-Kil Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-04-12.

Electron microscope

Номер патента: CN107192730A. Автор: 陈志玮,徐金良,陈福荣,黄钰珊,黄祖纬,刘铈谊,陈宜君,曾英硕,林信余,方建闵,杨丽巧. Владелец: Taiwan Electron Microscope Instrument Corp. Дата публикации: 2017-09-22.

Calibration standard member, method for manufacturing the member, and scanning electronic microscope using the member

Номер патента: WO2010052840A1. Автор: 中山義則,田勢隆,山本治朗. Владелец: 株式会社日立ハイテクノロジーズ. Дата публикации: 2010-05-14.

Portable high resolution scanning electron microscope column using permanent magnet electron lenses

Номер патента: US6320194B1. Автор: Jacob Chee Hong Phang,John Thiam Leong Thong,Anjam Khursheed. Владелец: Institute Of Materials Research And Engineering. Дата публикации: 2001-11-20.

Measuring arrangement for secondary electrons with a secondary electron collector chamber arranged in the primary electron beam path of a scanning electron microscope

Номер патента: DE2607788C2. Автор: George Vasilievič Hopewell Junction N.Y. Lukianoff,Theodore Richard Poughkeepsie N.Y. Touw. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1984-10-25.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US8022356B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-09-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20100133426A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-06-03.

Method for automatic focusing and astigmatism correction for an electron microscope

Номер патента: EP4441770A1. Автор: Philipp Schubert,Jörgen KORNFELD. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2024-10-09.

Specimen observation apparatus including an optical microscope and a scanning electron microscope

Номер патента: US4349242A. Автор: Kazumichi Ogura. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1982-09-14.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US7605364B2. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-10-20.

Sample and method for evaluating resolution of scanning electron microscope, and electron scanning microscope

Номер патента: US20080067337A1. Автор: Maki Tanaka,Hiroki Kawada,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Scanning electron microscope and methods of inspecting and reviewing samples

Номер патента: US09767986B2. Автор: David L. Brown,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,Venkatraman Iyer,Jingjing Zhang,Devis CONTARATO,Marcel Trimpl. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Electron microscope

Номер патента: US5552602A. Автор: Yasuhiro Mitsui,Katsuhiro Kuroda,Tatsuo Makishima,Hiroshi Kakibayashi,Shigeto Isakozawa,Mikio Ichihashi,Hideo Tadokoro,Kazutaka Tsuji,Masanari Koguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1996-09-03.

Method for automatic focusing and astigmatism correction for an electron microscope

Номер патента: WO2023099584A1. Автор: Philipp Schubert,Jörgen KORNFELD. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.. Дата публикации: 2023-06-08.

Scanning electron microscope system capable of measuring in-cell overlay offset using high-energy electron beam and method thereof

Номер патента: US09934939B2. Автор: Sang Kil Lee,Chung Sam Jun,Min Kook Kim,Yu Sin YANG,Woo Seok KO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-03.

Method and apparatus for non-invasive semiconductor technique for measuring dielectric/semiconductor interface trap density using scanning electron microscope charging

Номер патента: US20240071710A1. Автор: Timothy M. WONG. Владелец: Femtometrics Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Scanning electron microscope image-based pitch walk inspection method and method of manufacturing semiconductor device comprising the inspection method

Номер патента: US20230253179A1. Автор: Dongho Kim,Seunghune YANG,Sung Min NAM,Jaeseung JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-10.

Range-based real-time scanning electron microscope non-visual binner

Номер патента: US09947596B2. Автор: Arpit Jain,Arpit YATI,Olivier Moreau,Arun Lobo,Hemanta Kumar Roy. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Electron microscope, and method for observing measurement sample

Номер патента: EP3757558A1. Автор: Toshiyuki Taniuchi,Shik Shin. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2020-12-30.

Scanning electron microscope/energy dispersive spectroscopy sample preparation method and sample produced thereby

Номер патента: US6362475B1. Автор: Catherine Vartuli,Jeffrey B. Bindell,Frederick A. Stevie. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2002-03-26.

Method and apparatus for non-invasive semiconductor technique for measuring dielectric/semiconductor interface trap density using scanning electron microscope charging

Номер патента: WO2024015795A1. Автор: Timothy M. WONG. Владелец: Femtometrix, Inc.. Дата публикации: 2024-01-18.

Improved tip for nanoscanning electron microscope

Номер патента: WO2005008707A3. Автор: Conrad W Schneiker,Robert W Gray. Владелец: Robert W Gray. Дата публикации: 2008-06-26.

Method for processing scanning electron microscope specimen

Номер патента: US20220397498A1. Автор: Guo Chen,LIN Cong,Ke Zhang,Kai-Li Jiang,Shou-Shan Fan,Xin-Yu Gao. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-15.

Electron microscope device and inclined hole measurement method using same

Номер патента: US20190362933A1. Автор: Yuji Takagi,Fumihiko Fukunaga,Yasunori Goto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Tip for nanoscanning electron microscope

Номер патента: US20040079892A1. Автор: Robert Gray,Conrad Schneiker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-04-29.

Compensating for scanning electron microscope beam distortion-induced metrology error using design

Номер патента: WO2019136182A1. Автор: Hari Sriraman PATHANGI. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-11.

Scanning electron microscope (sem) measurement method and apparatus

Номер патента: US20240079206A1. Автор: Kihyun Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Electron microscope, and method for observing measurement sample

Номер патента: US20210140901A1. Автор: Toshiyuki Taniuchi,Shik Shin. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2021-05-13.

Compensating for Scanning Electron Microscope Beam Distortion-Induced Metrology Error Using Design

Номер патента: US20190214223A1. Автор: Hari Pathangi Sriraman. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

ACTIVATION CHAMBER AND KIT USED IN TREATMENT DEVICE FOR LOWERING ELECTRON AFFINITY, TREATMENT DEVICE THAT CONTAINS SAID KIT AND IS USED TO LOWER ELECTRONIC AFFINITY, PHOTOCATHODE ELECTRON-BEAM SOURCE, ELECTRON GUN CONTAINING PHOTOCATHODE ELECTRON-BEAM SOURCE, FREE-ELECTRON LASER ACCELERATOR, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON-BEAM HOLOGRAPHY MICROSCOPE, ELECTRON-BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, ELECTRON-BEAM DIFFRACTION DEVICE, AND ELECTRON-BEAM SCANNING DEVICE

Номер патента: US20160172144A1. Автор: Nishitani Tomohiro. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-16.

Activation chamber and kit used in treatment device for lowering electron affinity, treatment device that contains said kit and is used to lower electronic affinity, photocathode electron-beam source, electron gun containing photocathode electron-beam source, free-electron laser accelerator, transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron-beam holography microscope, electron-beam lithography device, electron-beam diffraction device, and electron-beam scanning device

Номер патента: EP3024012B1. Автор: Tomohiro Nishitani. Владелец: Nagoya University NUC. Дата публикации: 2018-02-14.

MICROSCOPE WORKING WITH CORPUSCULAR RAYS, ESPECIALLY AN ELECTRON MICROSCOPE.

Номер патента: NL7605955A. Автор: . Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1977-03-11.

Objective lens for electron microscope system and electron microscope system

Номер патента: JP5395118B2. Автор: デュルク プライクスツァース,ミヒャエル シュタイガーヴァルト,ペーター ホフロッゲ,ペーター グナウク. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2014-01-22.

Method and device for astigmatism correction of scanning electron microscope and similar device

Номер патента: JPS57176657A. Автор: Masahiro Inoue,Seiichiro Satomura,Mitsuhisa Miyazawa. Владелец: Akashi Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-10-30.

Scanning electron microscope assembly and method for using same

Номер патента: TW200411709A. Автор: DE JONGE Niels,Marinus Josephus Jakobus Dona,Sjoerd Antonius Maria Mentink,Thomas Steffen,Jan Martijn Krans,Bob Someren,Bujsse Bart. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2004-07-01.

Electron emitting element and electron microscope

Номер патента: EP3968352A4. Автор: Masayoshi Nagao,Katsuhisa Murakami. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2023-01-04.

Scanning electron microscope

Номер патента: US20120145899A1. Автор: Kenji Matsumoto. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2012-06-14.

Energy-analyzing electron microscope

Номер патента: GB1592273A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1981-07-01.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: EP1314178A1. Автор: Gerasimos Daniel Danilatos. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-05-28.

Electronic microscope

Номер патента: US2301975A. Автор: Ruska Ernst. Владелец: Individual. Дата публикации: 1942-11-17.

Oxidative cleaning method and apparatus for electron microscopes using uv excitation in an oxygen radical source

Номер патента: US20120260936A1. Автор: Ronald A. Vane. Владелец: Vane Ronald A. Дата публикации: 2012-10-18.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20130306864A1. Автор: Seoka Masanori,Nakagawa Kazushige. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-21.

CHROMATIC ABERRATION CORRECTOR AND ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20140158901A1. Автор: Sawada Hidetaka,Hosokawa Fumio. Владелец: JEOL LTD.. Дата публикации: 2014-06-12.

Omega energy filter and electron microscope incorporating the filter

Номер патента: JP3400284B2. Автор: 勝重 津野. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2003-04-28.

Preparation method for cross-section specimen for transmission electron microscope

Номер патента: JP3058394B2. Автор: 文利 安尾. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2000-07-04.

Method for cleaning diaphragm of transmission electron microscope by focused ion beam

Номер патента: CN111266368B. Автор: 张宝友,杜青,邹永纯,魏大庆,来忠红,郭舒. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2020-09-22.

Objective lens for scanning electron microscope

Номер патента: JPS57182955A. Автор: Tadashi Otaka,Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1982-11-11.

Embedding resin composition for electron microscopey and method for observing sample with electron microscope using the same

Номер патента: US09870894B2. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiryu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2018-01-16.

Scanning electron microscope and image processing method

Номер патента: EP3654360A2. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-05-20.

Embedding resin composition for electron microscope, and method for observing sample on electron microscope using said composition

Номер патента: US20140212913A1. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiyu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2014-07-31.

Scanning Electron Microscope and Image Processing Method

Номер патента: US20200161087A1. Автор: Akira Abe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-05-21.

Light-emitting element, optical detection module, manufacturing method for light-emitting element, and scanning electron microscope

Номер патента: US20240063328A1. Автор: Minoru Kondo,Junya Maeda,Takayuki Nakamura,Kuniyoshi Yamauchi,Satoru OKAWARA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-22.

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, INSPECTION SYSTEM USING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND INSPECTION METHOD USING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS

Номер патента: US20210012998A1. Автор: IIDA Yusuke,Yamamoto Takuma,Hamaguchi Akira,Ida Chihiro,Osaki Mayuka,Nishihata Takahiro. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-14.

Electron microscope apparatus, inspection system using electron microscope apparatus, and inspection method using electron microscope apparatus

Номер патента: KR102444526B1. Автор: 유스케 이이다,다쿠마 야마모토,다카히로 니시하타,마유카 오사키,아키라 하마구치,치히로 이다. Владелец: 주식회사 히타치하이테크. Дата публикации: 2022-09-20.

Microscopic system equipt with an electron microscope and a scanning probe microscope

Номер патента: US6242737B1. Автор: Hideaki Ohnishi,Yukihito Kondo,Kunio Takayanagi. Владелец: Japan Science and Technology Corp. Дата публикации: 2001-06-05.

Electron microscope device and electron microscope method

Номер патента: JP3287858B2. Автор: 秀男 戸所,勝広 黒田,博司 柿林,▲泰▼裕 三井. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2002-06-04.

Observation method, image processing device, and electron microscope

Номер патента: EP3699668B1. Автор: Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-09-07.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: WO2023150026A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2023-08-10.

Method for measuring CD using scanning electron microscope

Номер патента: US11740073B2. Автор: Seungjin LEE,Jooho Kim,Dawoon Choi,Donyun Kim,Yunhyoung Nam. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-29.

Humidified imaging with an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU2003291876A8. Автор: Joerg Zimmermann,Lynn C Erickson,Francesco P Orfino. Владелец: Siemens VDO Electric Drives Inc. Дата публикации: 2008-02-28.

Humidified imaging with an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU2003291876A1. Автор: Joerg Zimmermann,Francesco P. Orfino,Lynn C. Erickson. Владелец: Siemens VDO Electric Drives Inc. Дата публикации: 2004-06-30.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: IL311204A. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: Youfei JIANG. Дата публикации: 2024-05-01.

Combining focused ion beam milling and scanning electron microscope imaging

Номер патента: EP4377682A1. Автор: Michael Steigerwald,Christopher Sears,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-06-05.

Power supply for electron microscopes

Номер патента: US2355191A. Автор: Arthur W Vance. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1944-08-08.

Scintillator, measuring device, mass spectrometer, and electron microscope

Номер патента: US12072454B2. Автор: Yoshifumi Sekiguchi,Shin Imamura,Eri Takahashi,Takayuki Kanda,Toshiaki Kusunoki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

EELS DETECTION TECHNIQUE IN AN ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20190341243A1. Автор: Freitag Bert Henning,Lazar Sorin,Tiemeijer Peter Christiaan,van Veen Gerard Nicolaas Anne,Kuijper Maarten,Kujawa Stephan,McCormack Jamie. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2019-11-07.

Scintillator, measuring apparatus, mass spectrometer, and electron microscope

Номер патента: CN114787959A. Автор: 今村伸,关口好文,楠敏明,高桥惠理,神田隆之. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2022-07-22.

System and method for measuring and improving overlay using electronic microscopic imaging and digital processing

Номер патента: US9793183B1. Автор: Cheng-Ming Ho,Po Shun Lin,Venkata Sripathi Sasanka Pratapa,Yi-Ju Wang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Scanning tunneling microscope installed in an electron microscope

Номер патента: GB9014054D0. Автор: . Владелец: Research Development Corp of Japan. Дата публикации: 1990-08-15.

Embedding resin composition for electron microscope, and method for observing sample on electron microscope using said composition

Номер патента: EP2754693A4. Автор: Keisuke Ohta,Toshiyuki Kiryu. Владелец: Kurume University. Дата публикации: 2015-05-13.

Connecting structure device between analysis electronics and probe in cylinder systems

Номер патента: WO2020025609A1. Автор: Andre Giere,Sebastian MANN,Manuel Wolf,Sebastian LUETTICH. Владелец: Astyx GmbH. Дата публикации: 2020-02-06.

METHOD FOR REDUCING CHARGE IN CRITICAL DIMENSION-SCANNING ELECTRON MICROSCOPE METROLOGY

Номер патента: US20170040228A1. Автор: Montgomery Melvin W.,Montgomery Cecilia A.,Bunday Benjamin D.. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

Current regulator for electron microscope power supply

Номер патента: CA1092650A. Автор: Ronald A. Gatten. Владелец: American Optical Corp. Дата публикации: 1980-12-30.

Method for data analysis, electronic device, and computer readable medium

Номер патента: US20210024080A1. Автор: Xin Liu. Владелец: Shenzhen Launch Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-28.

Method for data analysis, electronic device, and computer readable medium

Номер патента: US11945457B2. Автор: Xin Liu. Владелец: Shenzhen Launch Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Tridimensional display method and device for an electron microscope

Номер патента: CA1173178A. Автор: Alain R.P. Marraud,Maurice G.Q. Bonnet. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1984-08-21.

METHOD FOR DATA ANALYSIS, ELECTRONIC DEVICE, AND COMPUTER READABLE MEDIUM

Номер патента: US20210024080A1. Автор: Liu Xin. Владелец: . Дата публикации: 2021-01-28.

Method for manufacturing plastic sample for scanning electron microscope

Номер патента: KR100444684B1. Автор: 이상남. Владелец: 현대자동차주식회사. Дата публикации: 2004-08-21.

Device for obtaining electron microscopic image and local element analysis of radioactive sample by electron microscopy in radiation protection chamber

Номер патента: RU2678504C1. Автор: Андрей Викторович Жуков,Алексей Александрович Соболев,Вячеслав Евгеньевич Кирюхин,Вячеслав Викторович Светухин,Александр Николаевич Фомин,Вячеслав Владимирович Макарычев,Вячеслав Сергеевич Власенко,Александр Георгиевич Ульяненков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет". Дата публикации: 2019-01-29.

Image processing method and transmission electron microscope

Номер патента: EP3742386A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-25.

Image Processing Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200371331A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US20220092799A1. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-24.

Method and system for registering circuit design layout and scanning electron microscope image, circuit design layout and imaging error calculation method thereof, and electronic device

Номер патента: US12062196B2. Автор: GE Yan,QIANG LI. Владелец: Shenzhen Jingyuan Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Method for preparing the surface of bone tissue samples to study their microstructure using a scanning electron microscope

Номер патента: RU2668879C1. Автор: Семен Александрович Борисов,Михаил Васильевич Гилев,Сергей Михайлович Кутепов,Владимир Сергеевич Кошелев,Яна Евгеньевна Казакова,Мария Юрьевна Измоденова,Дмитрий Викторович Зайцев,Дарья Владимировна Киселева,Пётр Евгеньевич Панфилов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уральский государственный медицинский университет" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБОУ ВО УГМУ Минздрава России). Дата публикации: 2018-10-04.

Determination method, elimination method and apparatus for electron microscope aberration

Номер патента: US11971368B2. Автор: FANG Lin,Chen Wang,Qi Zhang. Владелец: SOUTH CHINA AGRICULTURAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-04-30.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: EP4367495A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2024-05-15.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: WO2023280458A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2023-01-12.

Scanning electron microscope and a method for evaluating accuracy of repeated measurement using the same

Номер патента: US20050205780A1. Автор: Hiroki Kawada,Ryo Nakagaki,Chie Shishido,Mayuka Oosaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-09-22.

Method and Apparatus For Measuring Dimension Of Circuit Pattern Formed On Substrate By Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110127429A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Tomofumi Nishiura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Method of measuring an area of micro-objects of arbitrary shape in scanning electron microscope

Номер патента: US20070081742A1. Автор: Arkady Nikitin,Dmitriy Yeremin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-12.

Scanning electron microscope image distortion correction method, and semiconductor manufacturing method using the correction method

Номер патента: US20240242317A1. Автор: Sungeun Lee,Minsu Kang,Woojin Jung,Kwangeun KIM,Sangho Yun,Janghoon Kim,Seoyoung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

System and method for examination of microarrays using scanning electron microscope

Номер патента: WO2004008188A8. Автор: Paul C Ciccolella,Maria A Hozbor. Владелец: Maria A Hozbor. Дата публикации: 2005-04-28.

Method of producing test-sample for transmission electron microscope

Номер патента: US11747243B2. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Process for the characterization of an insulator and the corresponding electron microscope

Номер патента: US5635715A. Автор: Hakim Janah,Daniel Acroute,Claude Faure,Claude Le Gressus,Jose Bezille,Guy Blaise,Gerard Moya. Владелец: A L'ENERGIE ATOMIQUE. Дата публикации: 1997-06-03.

Noise filtering method and scanning electron microscope (sem) equipment alignment method using the same

Номер патента: US20240320804A1. Автор: Nohong KWAK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Biological specimen of electron microscope

Номер патента: US20100243482A1. Автор: Chih-Yu Chao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-30.

Method of inspecting thin film magnetic head element using scanning electron microscope, and inspecting holding jig

Номер патента: US7564044B2. Автор: Akira Miyatake,Tomonari Hosaka,Keitaro Kikuchi. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2009-07-21.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP4231227A2. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-08-23.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP4231227A3. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-11-15.

Method for Analyzing Defects by Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: KR100668219B1. Автор: 김정태. Владелец: 동부일렉트로닉스 주식회사. Дата публикации: 2007-01-11.

Method for denoising an electron microscope image

Номер патента: EP3968267A1. Автор: Sandip Halder,Bappaditya DEY,Gouri Sankar Kar,Victor M. Blanco,Senthil Srinivasan Shanmugam Vadakupudhu Palayam. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2022-03-16.

OLED sample or electron microscope examination and method for making the same

Номер патента: US20040265625A1. Автор: He-Ting Tsai. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2004-12-30.

Method for eliminating charging of photoresist on specimens during scanning electron microscope examination

Номер патента: US5783366A. Автор: Hsin-Pai Chen,Dong-Shiuh Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 1998-07-21.

Device containing sample preparation sites for transmission electron microscopic analysis and processes of formation and use

Номер патента: US6140652A. Автор: Mike G. Shlepr,Jay J. Jeffreys. Владелец: Intersil Corp. Дата публикации: 2000-10-31.

Sediment analysis software along with scanning electron microscope toolbox for image processing

Номер патента: WO2023209421A1. Автор: Mohammad ZARE MANIZANI. Владелец: Zare Manizani Mohammad. Дата публикации: 2023-11-02.

Method of producing test-sample for transmission electron microscope

Номер патента: US20210102872A1. Автор: Hajime Sasaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Method and apparatus for text analysis, electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: US20240095451A1. Автор: Zejun Ma,Yuxiang ZOU. Владелец: Beijing Youzhuju Network Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Method for producing a section ribbon from a sample block using a microtome, method for preparing a microscopic sample for examination in an electron microscope, microtome and embedding mould for use therein

Номер патента: US20240328904A1. Автор: Michael Zimmermann,Robert Ranner,Peer Oliver Kellermann. Владелец: LEICA MIKROSYSTEME GMBH. Дата публикации: 2024-10-03.

REFRIGERATION CHAMBER FOR PROCESSING OBJECTS FOR MICROSCOPIC OR ELECTRON MICROSCOPIC EXAMINATIONS

Номер патента: DE3517518A1. Автор: Dietrich 7082 Oberkochen Hoffmeister. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1986-11-20.

Reference grating plate for measuring magnification or image size in the depth direction and lateral direction of scanning electron microscope, tunnel scanning microscope, etc.

Номер патента: JP2920990B2. Автор: 勝 小枝. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1999-07-19.

DEVICE FOR IMAGING ELECTRON MICROSCOPE ENVIRONMENTAL SAMPLE SUPPORTS IN A MICROFLUIDIC OR ELECTROCHEMICAL CHAMBER WITH AN OPTICAL MICROSCOPE

Номер патента: US20140268321A1. Автор: JR. John,Damiano,Gardiner Daniel Stephen,Carpenter William Bradford,Walden,II Franklin Stampley,Nackashi David,DUKES Madeline,BUDD Steven. Владелец: PROTOCHIPS, INC.. Дата публикации: 2014-09-18.

Scanning tunneling microscope for reflex type electron microscope

Номер патента: JPH01130457A. Автор: Keiji Yamazaki,啓司 山崎. Владелец: Showa Aluminum Corp. Дата публикации: 1989-05-23.

Sample rod for transmission electron microscope system and corresponding transmission electron microscope system

Номер патента: CN111856078B. Автор: 刘畅,刘开辉,马超杰,王恩哥,白雪冬. Владелец: Institute of Physics of CAS. Дата публикации: 2022-05-24.

Distance measuring device, electron microscope and microscope object distance adjusting method

Номер патента: CN110849260B. Автор: 张鹏宇,郑宇�,马鸣,张志龙,孙宝亮,郭灵犀,潘红九,商学谦. Владелец: Beijing Institute of Near Space Vehicles System Engineering. Дата публикации: 2021-07-13.

Process and device for making microscope, especially electron-microscope, preparations for preparing sections

Номер патента: WO1994005994A1. Автор: Ludwig Edelmann,Hellmuth Sitte. Владелец: LEICA AG. Дата публикации: 1994-03-17.

REFRIGERATION CHAMBER FOR PROCESSING OBJECTS FOR MICROSCOPIC OR ELECTRON MICROSCOPIC EXAMINATIONS.

Номер патента: DE3683315D1. Автор: Dietrich Hoffmeister. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 1992-02-20.

METHOD AND APPARATUS FOR BEHAVIOR ANALYSIS, ELECTRONIC APPARATUS, STORAGE MEDIUM, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20220092881A1. Автор: HUANG Xiaoying,LI Xiaotong,Li Weilin. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-24.

VEHICLE DAMAGE DETECTION METHOD BASED ON IMAGE ANALYSIS, ELECTRONIC DEVICE AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20210192264A1. Автор: ZHANG Hao,Li Kun,HAN Mei,Lin Ruei-Sung. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

Kit to conduct analysis, electronic device, analytical device, method to control cycle state, method to detect fertile period (variants), device to control cycle, kit to control cycle and kit of disposable instruments (variants)

Номер патента: RU95106504A. Автор: Gb],Кэтт Майкл,Коли Джон,Джеймс Дейвис Пол. Владелец: Унилевер Н.В. (NL). Дата публикации: 1997-02-10.

Hemispherical resonator gyroscope (HRG) or other vibrating sensor has analysis electronics that enable the second harmonic to be eliminated allowing more precise measurements to be made

Номер патента: FR2800869A1. Автор: John C Baker,Daniel T Zaida,Gregory M Johnson. Владелец: Litton Systems Inc. Дата публикации: 2001-05-11.

Bus scheduling method based on bottleneck analysis, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN115409295A. Автор: 刘恒,刘晓玲,张晓春,陈伦,刘诗昆,丘建栋,郭家颖,唐易. Владелец: Shenzhen Urban Transport Planning Center Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-29.

Data updating method and device based on SQL analysis, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN111651468A. Автор: 聂志. Владелец: Ping An Property and Casualty Insurance Company of China Ltd. Дата публикации: 2020-09-11.

Matching method and device based on behavior analysis, electronic equipment and storage medium

Номер патента: CN111553657A. Автор: 袁彬,付奥,许燕松. Владелец: Beike Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-18.

Vehicle damage detection method based on image analysis, electronic device and storage medium

Номер патента: US11120308B2. Автор: HAO Zhang,Mei Han,Kun Li,Ruei-Sung Lin. Владелец: Ping An Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-14.

Data tampering monitoring and identifying method and device based on multi-dimensional analysis, electronic equipment and storage medium thereof

Номер патента: CN111967063A. Автор: 汪敏,裴非,严妍,肖国泉,肖克,彭祖剑,邵罗树,尹娜. Владелец: Cape Cloud Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-11-20.

Ultrasonic measurement system for determining fluid level or mass flow through a pipe or in a container has integral control and analysis electronics together with a mounting and positioning system for flexible positioning

Номер патента: DE10147175A1. Автор: Manfred Mueller,Wolfgang Schabbach,Joerg Rupp. Владелец: SCHABBACH W. Дата публикации: 2003-04-03.

Systems and methods of metadata and image management for reviewing data from transmission electron microscope (tem) sessions

Номер патента: US20220327156A1. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Alan Philip Franks,Katherine Elizabeth Marusak,Joshua Friend. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

Method of transmission electron microscope foil preparation using laser

Номер патента: WO2023224558A1. Автор: Wei Zhou. Владелец: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-11-23.

Electron microscope specimen

Номер патента: US2417110A. Автор: Hillier James. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1947-03-11.

Systems and methods of metadata and image management for reviewing data from transmission electron microscope (TEM) sessions

Номер патента: US11755639B2. Автор: Daniel Stephen GARDINER,John Damiano, Jr.,David P. Nackashi,II Franklin Stampley WALDEN,Mark Uebel,Alan Philip Franks,Katherine Elizabeth Marusak,Joshua Friend. Владелец: Protochips Inc. Дата публикации: 2023-09-12.

Calibration standards for electron microscopes and electron column tools

Номер патента: US20100308221A1. Автор: John MASTOVICH. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-12-09.

Transmission electron microscope method for measuring low-angle grain boundary orientation difference

Номер патента: ZA202210708B. Автор: Yang Li,Wenlong Chen,Mingjun Zhou,Xiaoling Xiao,Changliang Shi. Владелец: Ind Analysis And Testing Center Of Guangdong Academy Of Sciences. Дата публикации: 2023-02-22.

Calibration standards for electron microscopes and electron column tools

Номер патента: US8138470B2. Автор: John MASTOVICH. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-03-20.

System and method for examination of microarrays using scanning electron microscope

Номер патента: AU2003256536A1. Автор: Maria A. Hozbor,Paul C. Ciccolella. Владелец: Affymetrix Inc. Дата публикации: 2004-02-02.

METHOD FOR DE-NOISING AN ELECTRON MICROSCOPE IMAGE

Номер патента: US20220076383A1. Автор: Kar Gouri Sankar,Dey Bappaditya,Halder Sandip,Blanco Victor M.,Vadakupudhu Palayam Senthil Srinivasan Shanmugam. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-10.

LIQUID CHIP FOR ELECTRON MICROSCOPE HAVING EXCELLENT BULGING RESISTANCE

Номер патента: US20200240933A1. Автор: PARK Jungjae,YUK Jongmin,NOH Namgyu,KOO Kunmo,JI Sanghyeon. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-30.

Image Processing Method and Transmission Electron Microscope

Номер патента: US20200371331A1. Автор: Katsunori Ichikawa,Yuji Konyuba,Tomohiro Haruta,Yuta IKEDA,Tomohisa Fukuda. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Preparation method and application of cross-section scanning electron microscope sample of lithium battery material

Номер патента: CN112730490A. Автор: 王明,李长东,陈若葵,巩勤学,谢堂锋,蒋快良,蔡罗蓉. Владелец: Hunan Bangpu Automobile Circulation Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-30.

Specimen preparation method for preparing a specimen for electron microscope examinations places a specimen with a substrate in a vacuum chamber to apply a coating and ion beam

Номер патента: DE10344643A1. Автор: Claus Burkhardt,Wilfried Nisch. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2005-04-21.

A kind of electron microscope novel optical fiber coupling in-situ liquid sample system and application method

Номер патента: CN108375598A. Автор: 陈新,柯凯,李唱,周王帆. Владелец: Nantong Li Si Yi Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-07.

Preparation of replica sample for transmission electron microscope

Номер патента: JPS5934132A. Автор: Junichi Shimomura,拓一 今中,Takuichi Imanaka,Kazuya Oshiba,押場　和也,下村　順一. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1984-02-24.

The observation method of ordinary optical, fluorescence and scanning electron microscope to same cellular morphology

Номер патента: CN108918518A. Автор: 张鑫,张国云,赵忠,李登武,裴国亮,匡顺,贾智硕,罗美青. Владелец: NORTHWEST A&F UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-11-30.

Method of three-dimensional reconstruction of surface of sample using images obtained using raster electronic microscope

Номер патента: RU2704390C2. Автор: Михаил Николаевич Филиппов,Николай Анатольевич Иванов,Александр Юрьевич Кузин,Павел Андреевич Тодуа,Виталий Борисович Митюхляев,Сергей Андреевич Дарзнек,Дмитрий Александрович Карабанов. Владелец: Акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (АО "НИЦПВ"). Дата публикации: 2019-10-28.

Magnetic immersion lens for emission electron microscope

Номер патента: RU2572806C1. Автор: Алексей Алексеевич Исаев. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина" (АО "НПП "Исток" им. Шокина"). Дата публикации: 2016-01-20.

Method for preparing blood preparation for electron-microscopic investigation

Номер патента: RU2273027C1. Автор: Людмила Витальевна Астахова,Елена Станиславовна Головнева,Ольга Геннадьевна Бондаренко,Станислав Юрьевич Белоусов. Владелец: Государственное учреждение "Челябинский государственный институт лезерной хирургии". Дата публикации: 2006-03-27.

Method to prepare samples of microorganisms biofilms for survey in scanning electronic microscope

Номер патента: RU2484446C1. Автор: Зинаида Степановна Науменко,Руфина Юрьевна Очеретина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова" Министерства здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-06-10.

Scanning electron microscope

Номер патента: MY128346A. Автор: Sudraud Pierre,Corbin Antoine,Sailer Rainer,Bate David John. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2007-01-31.

Method for tomographic sample analysis in scanning electron microscope

Номер патента: RU2453946C1. Автор: Глеб Сергеевич Жданов. Владелец: Глеб Сергеевич Жданов. Дата публикации: 2012-06-20.

Apparatus for determining magnification on electron micrographs during electron microscope analysis

Номер патента: RU2482443C2. Автор: Алексей Николаевич Евсеев,Константин Валерьевич Тимофеев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный государственный медицинский университет" Министерство здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2013-05-20.

Method of preparing a cross-sectional sample of a scanning electron microscope

Номер патента: KR960026065A. Автор: 김경수,조경익,남산. Владелец: 재단법인 한국전자통신연구소. Дата публикации: 1996-07-20.

Imaging method and imaging apparatus for transmission electron microscope or electron energy loss analysis electron microscope

Номер патента: JP2887361B2. Автор: 俊陸 田谷,利幸 大橋. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-04-26.

Method for producing panoramic image in raster electron microscope

Номер патента: RU2181515C2. Автор: В.Н. Филиппов. Владелец: Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения РАН. Дата публикации: 2002-04-20.

Improvements in or relating to electron microscopes provided with object diaphragms for use in electron microscopes

Номер патента: AU3292363A. Автор: Pietariwilska Alvar. Владелец: PHILLIPS ELECTRONICS AND PHARMACEUTICAL INDUSTRIES Corp. Дата публикации: 1965-01-14.

Supplement to method and apparatus for extending a scanning electron microscope to an environmental scanning electron microscope

Номер патента: AUPR522301A0. Автор: . Владелец: Danilatos G D. Дата публикации: 2001-06-14.

Transmission electron microscope observation base sample, transmission electron microscope measurement method, and transmission electron microscope apparatus

Номер патента: JP3735614B2. Автор: 島 章 高,田 善 己 鎌. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-01-18.

Electron beam detection method, electron beam detection method for scanning type electron microscope, dimension calibration method for scanning type electron microscope, and dimension calibration device for electron beam detection device and scanning type electron microscope

Номер патента: JPH10144248A. Автор: Toshio Onodera,登 内田,Noboru Uchida,和幸 桑原,Kazuyuki Kuwabara,俊雄 小野寺. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 1998-05-29.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PROCESSING AN IMAGE OBTAINED BY THE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120126117A1. Автор: Honda Toshifumi,Miyamoto Atsushi,Nakahira Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

MICROTOME UTILIZING A MOVABLE KNIFE IN A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND A RETARDATION FIELD SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20120223228A1. Автор: Galloway Simon. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2012-09-06.

Scanning Electron Microscope Optical Condition Setting Method and Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20120318977A1. Автор: Wang Zhigang,Fukaya Ritsuo,Okai Nobuhiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-12-20.

A method of making preparations for examining the structure of opaque materials, such as metals, in an electron microscope and adapting to an optical microscope to implement this method

Номер патента: SU85111A1. Автор: Д.С. Шрайбер. Владелец: Д.С. Шрайбер. Дата публикации: 1949-11-30.

Sample table for scanning type electron microscope, and method for locating sample on scanning type electron microscope

Номер патента: JP2013235778A. Автор: Akira Taniyama,明 谷山,Masato Hamanaka,真人 浜中. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2013-11-21.

Scanning tunneling microscope for reflection electron microscope

Номер патента: JPH0624110B2. Автор: 公郎 大井,嘉晏 原田. Владелец: NIPPON ELECTRON OPTICS LAB. Дата публикации: 1994-03-30.

Sample preparation method for electron microscope observation and sample for electron microscope observation

Номер патента: JP2012078096A. Автор: Satoru Takahashi,悟 高橋. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2012-04-19.

Sensor of electromechanical performance and microscopic structure for transmission electronic microscope and manufacturing method thereof

Номер патента: CN101694829B. Автор: 张泽,刘攀,韩晓东. Владелец: BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2011-04-20.

Method for adjusting electron beam axis of scanning electron microscope and scanning electron microscope

Номер патента: JP4728173B2. Автор: 良一 石井,賢一 平根,智久 大瀧,陽久 高畑. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-07-20.

Method and apparatus for extending a scanning electron microscope to an enviornmental scanning electron microscope

Номер патента: AUPR513001A0. Автор: . Владелец: Danilatos G D. Дата публикации: 2001-06-14.

ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD FOR ADJUSTNG OPTICAL AXIS OF ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20130062519A1. Автор: Nagaoki Isao,Oyagi Toshiyuki,Yotsuji Takafumi,Nodera Yasuyuki. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-14.

Electron microscope sample preparation method and electron microscope sample preparation instrument

Номер патента: JPH0721442B2. Автор: 幸一 藤原,弘子 水谷. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 1995-03-08.

Electrode ring, electron microscope, manufacturing method of electrode ring, and manufacturing method of electron microscope

Номер патента: JP2007242359A. Автор: Yoshihisa Miura,佳久 三浦,Koichi Muto,浩一 武藤. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2007-09-20.

Evaluation method for scanning electron microscope apparatus and evaluation apparatus for scanning electron microscope apparatus

Номер патента: JP6264007B2. Автор: 真也 森▲崎▼. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2018-01-24.

Scanning type electron microscope

Номер патента: CA434082A. Автор: Richard L. Snyder, Jr.. Владелец: Radio Corporation of America. Дата публикации: 1946-04-09.

Electron microscope

Номер патента: CA442089A. Автор: Hillier James. Владелец: Radio Corporation of America. Дата публикации: 1947-06-10.

Column for electron microscopes

Номер патента: AU3255863A. Автор: Pietariwelska Alvar. Владелец: Philips Electronics and Pharmaceutical Industries Corp. Дата публикации: 1965-01-07.

Scanning electron microscopes

Номер патента: GB9326053D0. Автор: . Владелец: UK Secretary of State for Trade and Industry. Дата публикации: 1994-02-23.

Specimen injector for electron microscopes

Номер патента: AU403763B2. Автор: and BRUCE FRANK MELONI ONNI JOHN RIDER FAIRBANKS. Владелец: Bca Corp. Дата публикации: 1968-02-01.

Mechanism for tilting specimens in electron microscopes and electron diffraction cameras

Номер патента: AU567366A. Автор: Cunningham Mills John. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 1968-11-21.

High-pressure scanning electron microscope

Номер патента: PL329339A1. Автор: Witold Slowko. Владелец: Politechnika Wrocławska. Дата публикации: 2000-04-25.

DEVICE FOR DETERMINING AN INCREASE ON ELECTRONIC MICROPHOTOGRAPHIES AT ELECTRON MICROSCOPIC RESEARCH

Номер патента: RU2011122195A. Автор: Алексей Николаевич Евсеев,Константин Валерьевич Тимофеев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Дальневосточный государственный медицинский университет" Министерство здравоохранения и социального развития Российской Федерации. Дата публикации: 2012-12-10.

Electron microscope

Номер патента: CA418400A. Автор: Ramo Simon. Владелец: Canadian General Electric Co Ltd. Дата публикации: 1944-02-15.

Electron microscope power supply

Номер патента: CA442085A. Автор: William Vance Arthur. Владелец: Radio Corporation of America. Дата публикации: 1947-06-10.

Electron microscope focusing method

Номер патента: CA442086A. Автор: Aleksander Rajchman Jan. Владелец: Radio Corporation of America. Дата публикации: 1947-06-10.

Focusing aid for electron microscopes

Номер патента: CA501472A. Автор: S. Page Richard. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1954-04-13.

Scan type electron microscope

Номер патента: JPS52115162A. Автор: Kimio Kanda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-09-27.

Electron microscope

Номер патента: USD663337S1. Автор: Yu-Jen Chen,Yi-Chia Chan,Po-Song Li,Jiun-Ching Ruan. Владелец: Microlinks Technology Corp. Дата публикации: 2012-07-10.

Improvements in or relating to electron microscopes

Номер патента: AU2573367A. Автор: Johannes Rakel Christiaan. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1969-02-13.

Improvements in or relating to electron microscopes

Номер патента: AU416415B2. Автор: Johannes Rakel Christiaan. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1969-02-13.

Sample case for an electron microscope

Номер патента: USD651226S1. Автор: Katsuji Itou,Yasuhira Nagakubo,Toshiaki Tanigaki,Hideki Hirota,Takayuki Asakawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-12-27.

An electron microscope having an improved viewing window

Номер патента: AU3255563A. Автор: . Владелец: PHILLIPS ELECTRONICS AND PHARMACEUTICAL INDUSTRIES Corp. Дата публикации: 1965-01-07.

An electron microscope having an improved viewing window

Номер патента: AU276597B2. Автор: . Владелец: PHILLIPS ELECTRONICS AND PHARMACEUTICAL INDUSTRIES Corp. Дата публикации: 1965-01-07.

Electron microscope

Номер патента: USD638046S1. Автор: Hiroyuki Noda,Akira Omachi,Masahiro Nemoto,Mitsuru Oonuma,Kiyoshi Sasagawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-05-17.

Composite type electronic microscope

Номер патента: JPS52155961A. Автор: Toshio Kochi,Yoshihisa Namikawa,Shinjiro Katagiri,Moriki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-12-24.

Composite electronic microscope

Номер патента: JPS52115656A. Автор: Yoshihisa Namikawa,Shinjiro Katagiri,Moriki Kubozoe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-09-28.

Scanning electron microscope for visualization of wet samples

Номер патента: ZA88194B. Автор: Alan C Nelson,C Nelson Alan. Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1988-08-31.

Mechanism for tilting specimens in electron microscopes and electron diffraction cameras

Номер патента: AU291412B2. Автор: Cunningham Mills John. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 1968-11-21.

Improvements in or relating to arrangements and devices for adjusting the excitation ofa stigmator in electron-microscopes

Номер патента: AU224865B2. Автор: Kramer Johannes. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1958-07-03.

Projection lens for electron microscope

Номер патента: CA434081A. Автор: Hillier James. Владелец: Radio Corporation of America. Дата публикации: 1946-04-09.

Portion of a cover for an electron microscope

Номер патента: USD711950S1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Toshiyuki Moriya,Naoki Sakamoto,Kosuke Matoba,Hirofumi Sato. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-08-26.

Improvements relating to electron microscopes

Номер патента: AU1989753A. Автор: . Владелец: Metropolitan Vickers Electrical Co Ltd. Дата публикации: 1953-09-17.

Improvements relating to electron microscopes

Номер патента: AU162702B2. Автор: . Владелец: Metropolitan Vickers Electrical Co Ltd. Дата публикации: 1953-09-17.

Method and device for adjusting the excitation of a stigmator in electron-microscopes

Номер патента: CA601621A. Автор: Kramer Johannes. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1960-07-12.

Sample shifting device for electronic microscope

Номер патента: JPS54114171A. Автор: Yoshihiro Hirata. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1979-09-06.

Base of a thin membrane holder for an electron microscope

Номер патента: USD730962S1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Masahiko Ajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-06-02.

Iris diaphragm for electronic microscope

Номер патента: JPS51126753A. Автор: Tsutomu Kimura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1976-11-05.

Electron microscope

Номер патента: JPS51144172A. Автор: Takayuki Asai,Takatoshi Fukuoka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1976-12-10.

Electron microscope

Номер патента: JPS51114859A. Автор: Shinjiro Katagiri,Teiji Katsuta. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1976-10-08.

Portion of an electron microscope

Номер патента: USD635167S1. Автор: Akira Omachi,Masahiko Ajima,Mitsuru Oonuma,Tomohisa Ohtaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-03-29.

Portion of an electron microscope

Номер патента: USD635168S1. Автор: Akira Omachi,Masahiko Ajima,Mitsuru Oonuma,Tomohisa Ohtaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-03-29.

Electronic microscope

Номер патента: USD332616S. Автор: Minoru Shimizu,Tadashi Otaka,Kazunori Hashimoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1993-01-19.

Scanning electron microscope for visualization of wet samples

Номер патента: IL85070A0. Автор: . Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1988-06-30.

Specimen injector for electron microscopes

Номер патента: AU884266A. Автор: and BRUCE FRANK MELONI ONNI JOHN RIDER FAIRBANKS. Владелец: Bca Corp. Дата публикации: 1968-02-01.

Secondary electron detecting device for scan-type electron microscope or its analogous device

Номер патента: JPS54154260A. Автор: Tadashi Otaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1979-12-05.

Improvements in or relating to arrangements and devices for adjusting the excitation ofa stigmator in electron-microscopes

Номер патента: AU3422458A. Автор: Kramer Johannes. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1958-07-03.

Improvements in or relating to electron microscopes

Номер патента: AU1056652A. Автор: . Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1952-08-14.

Semiconductor device testing structure used in detecting image of a scanning electron microscope

Номер патента: TW444315B. Автор: Chuen-Ming Liou. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2001-07-01.

The apparatus for connection of two parts of electron microscope

Номер патента: CS926287A1. Автор: Jiri Ing Petr. Владелец: Petr Jiri. Дата публикации: 1989-01-12.

Environmental scanning electron microscope

Номер патента: AU2001277393A1. Автор: Gerasimos Daniel Danilatos. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-23.

Detector system for a scanning electron microscope

Номер патента: CA917825A. Автор: V. Crewe Albert. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1972-12-26.

Scanning electron microscope for visualization of wet samples

Номер патента: IL85070A. Автор: . Владелец: ElectroScan Corp. Дата публикации: 1991-09-16.

Electron microscope object stage electric clamping structures

Номер патента: CA759571A. Автор: C. Van Dorsten Adrianus. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1967-05-23.

X-ray shielding plate of electron microscope or unit similar to it

Номер патента: JPS52147057A. Автор: Masahiro Tomita,Yoshihisa Namikawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-12-07.

Measurement device for electron microscope

Номер патента: AU2002349843A1. Автор: Krister Svensson,Andrey Danilov,Håkan OLIN,Fredrik Althoff. Владелец: NANOFACTORY INSTRUMENTS AB. Дата публикации: 2003-05-26.

Connection for the control of the photographic apparatus obturator particularly for the screen electron microscopes

Номер патента: CS191738B1. Автор: Jaromir Uhde. Владелец: Jaromir Uhde. Дата публикации: 1979-07-31.

Sample chamber device for an electron microscope

Номер патента: AU2002354600A1. Автор: Krister Svensson,Andrey Danilov,Paul Bengtsson,Håkan OLIN,Fredrik Althoff,Martin Hospers. Владелец: NANOFACTORY INSTRUMENTS AB. Дата публикации: 2003-01-29.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120127299A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

Transmission Electron Microscope Sample Holder with Optical Features

Номер патента: US20120145897A1. Автор: Zhu Yimei,Rameau Jonathan David,Milas Mirko. Владелец: Brookhaven Science Associates, LLC. Дата публикации: 2012-06-14.

METHOD AND SYSTEM FOR ENHANCING RESOLUTION OF A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120241605A1. Автор: Shemesh Dror. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-27.

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Номер патента: US20120298865A1. Автор: Tanaka Junichi,Hitomi Keiichiro,Nakayama Yoshinori,Omori Seiko. Владелец: . Дата публикации: 2012-11-29.

Transparent type scanning electronic microscope

Номер патента: JPS52130277A. Автор: Hideo Todokoro. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-11-01.

High-spatial-resolution photoemission electron microscope (PEEM) with ultraviolet or deep ultraviolet laser light source

Номер патента: CN102479652A. Автор: 傅强,包信和,金立,谭大力,慕仁涛. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2012-05-30.

Sample cooling device for electron microscope

Номер патента: JP2000208083A. Автор: Isamu Ishikawa,勇 石川. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2000-07-28.

Device for visualizing object in electron microscope

Номер патента: SU565337A1. Автор: Евгений Петрович Бочаров,Владимир Юрьевич Юдицкий. Владелец: Предприятие П/Я А-7638. Дата публикации: 1977-07-15.

Electron microscope image recording / reproducing method

Номер патента: JPH0616396B2. Автор: 健治 高橋,雄一 細井,信文 森. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 1994-03-02.

Electronic microscope image forming unit with the possibility of electron energy change

Номер патента: SU597030A1. Автор: Виктор Николаевич Верцнер,Юрий Федорович Щетнев. Владелец: Shchetnev Yurij F. Дата публикации: 1978-03-05.

Object stage for electron microscope

Номер патента: SU1458904A1. Автор: Ренгений Александрович Гришин. Владелец: Сумское Производственное Объединение "Электрон". Дата публикации: 1989-02-15.

Device for investigating specimens in electron microscope

Номер патента: SU1718010A1. Автор: Александр Иванович Никифоров,Сергей Дмитриевич Прокошкин,Татьяна Владимировна Морозова,Виктор Гаврилович Веприк,Виктор Григорьевич Копылов,Александр Иванович Феклистов. Владелец: Сумское Производственное Объединение "Электрон". Дата публикации: 1992-03-07.

Method of fixing samples when investigating in raster electronic microscope

Номер патента: SU1608531A1. Автор: Василий Николаевич Филиппов. Владелец: Коми Научный Центр Уральского Отделения Ан Ссср. Дата публикации: 1990-11-23.

Probe current controlling method for electron microscope and device thereof

Номер патента: JPS62110241A. Автор: Hiroshi Fujioka,Susumu Takashima,Katsumi Ura,弘 藤岡,Koji Nakamae,進 高嶋,裏　克己,中前　幸治. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1987-05-21.

ELECTRONIC MICROSCOPE ANALYZER

Номер патента: SU399937A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1973-10-03.

Scanning transmission electron microscope

Номер патента: JP4895525B2. Автор: 邦康 中村,泰介 中村. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-03-14.

Method for preparatory treatment of biological tissue for electron-microscopic examination

Номер патента: SU1642301A1. Автор: Алексей Иосифович Неворотин,Наталья Дмитриевна Бармина,Леонид Максимович Григорьев. Владелец: 1-Й Ленинградский Медицинский Институт Им.Акад.И.П.Павлова. Дата публикации: 1991-04-15.

Electron microscope and inspection method

Номер патента: JP4021084B2. Автор: 康彦 小沢,英花 馬場. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-12-12.

High-precision method for preparing scanning electron microscope sample

Номер патента: CN103293047B. Автор: 张志清. Владелец: Chongqing University. Дата публикации: 2015-07-01.

Method for photorecording of video signal in scanning electron microscope

Номер патента: SU1677733A1. Автор: Михаил Аншелевич Кипнис. Владелец: Предприятие П/Я А-7359. Дата публикации: 1991-09-15.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.