适用于运载火箭电子设备μA级微小电流测试方法
Номер патента: CN106645910B
Опубликовано: 29-03-2019
Автор(ы): 张利芬, 徐标, 施华君, 郭利民
Принадлежит: No32 Research Institute Of China Electronics Technology Group Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-03-2019
Автор(ы): 张利芬, 徐标, 施华君, 郭利民
Принадлежит: No32 Research Institute Of China Electronics Technology Group Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
The photoelectric current test macro and method of magnetic anisotropy in ferromagnetic semiconductor plane
Номер патента: CN105717467B. Автор: 李�远,黄威,陈涌海,刘雨,邬庆. Владелец: Institute of Semiconductors of CAS. Дата публикации: 2019-03-29.