PHYSICAL PROPERTY VALUE MEASUREMENT DEVICE, PHYSICAL PROPERTY VALUE MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM
Номер патента: US20210080415A1
Опубликовано: 18-03-2021
Автор(ы): BABA Takahiro, BABA Tetsuya
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 18-03-2021
Автор(ы): BABA Takahiro, BABA Tetsuya
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Multi-physical field measurement device for metal solidification process and housing thereof, and measurement method
Номер патента: US20230314349A1. Автор: Hui Xing,YANG Tang,Ya Zhang,Yue Wu,Qing Dong,Jiao Zhang,Baode Sun,Yanfeng HAN,Yongbing DAI,Chaopeng FU. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2023-10-05.