Hub of a memory module and method of testing a memory module using the hub
Номер патента: DE102005025216B4
Опубликовано: 26-02-2009
Автор(ы): Byung-Se Sungnam So, Seung-Jin Suwon Seo, Seung-Man Suwon Shin, You-Keun Yongin Han
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 26-02-2009
Автор(ы): Byung-Se Sungnam So, Seung-Jin Suwon Seo, Seung-Man Suwon Shin, You-Keun Yongin Han
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and apparatus for testing a fully buffered memory module
Номер патента: US20070140025A1. Автор: Hong Chan,ALLEN Lawrence,Joseph Klein,Sunny Chang,Bosco Lai. Владелец: King Tiger Tech Inc. Дата публикации: 2007-06-21.